JP4338720B2 - Bit synchronization circuit - Google Patents
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Description
本発明は、高速シリアル通信技術に用いられるビット同期回路及びそれが内蔵された半導体装置に関する。 The present invention relates to a bit synchronization circuit used in high-speed serial communication technology and a semiconductor device incorporating the bit synchronization circuit.
周知の通り、高速シリアル通信技術では、一般的に、送信側と受信側で同じ周波数の基準クロックを用いて、お互いに予め決められた送信及び受信速度でデータが送受信される。送信側から送られたデータを受信側で正確に受信するためには、送信側と受信側とが互いに同期して動作する必要がある。1つの方法としては、データ信号とともに同期するためのクロック信号を送信側及び受信側に供給する方法もあるが、近年の数百MHz〜数十GHzという高速なシリアル通信においては、波形の歪み,反射,ケーブル及びボード上の信号の干渉等の問題があることから、通信に使うクロック信号をデータ信号と別に送る代わりに、送信側でデータ信号に冗長なデータビットを付加して、一定時間にデータ信号の遷移が保証されるような符号化が行われ、データ信号が送信される。通常、受信側では、送信側から送られてきたデータがタイミング情報を含んでいることから、データがサンプリングされ、サンプリング後、余分なビットが復号化される。 As is well known, in the high-speed serial communication technology, data is generally transmitted and received at a transmission and reception speed determined in advance by using a reference clock having the same frequency on the transmission side and the reception side. In order for the receiving side to correctly receive data sent from the transmitting side, the transmitting side and the receiving side need to operate in synchronization with each other. As one method, there is a method of supplying a clock signal for synchronizing with a data signal to the transmission side and the reception side. However, in recent high-speed serial communication of several hundred MHz to several tens GHz, waveform distortion, Because there are problems such as reflection, interference of cables and signals on the board, instead of sending the clock signal used for communication separately from the data signal, a redundant data bit is added to the data signal on the transmission side, and at a fixed time. Encoding is performed to ensure the transition of the data signal, and the data signal is transmitted. Usually, on the receiving side, since the data sent from the transmitting side includes timing information, the data is sampled, and after the sampling, extra bits are decoded.
例えば、送信側でNRZ(Non‐Return to Zero)コーディングされたデータを受信側で正確に受信するためには、ビット同期回路を用いることにより、データに対して、データのサンプリング用同期クロックを生成する必要がある。そのため、通信速度に対してより周波数の高いクロックをビット同期回路に入力し、通常、クロックがデータの中央の位置に合うような同期クロックが生成されるよう回路が構成される。近年では、シリアル通信インターフェイスの通信速度が数百Mbps〜数Gbpsまで高速化されており、高速且つ信頼性の高い通信を実現すべく、ビット同期回路に関係して、より高性能,高信頼性の回路が要求されている。 For example, in order to accurately receive NRZ (Non-Return to Zero) coded data on the transmission side, a synchronous clock for sampling data is generated for the data by using a bit synchronization circuit. There is a need to. For this reason, a circuit having a higher frequency than the communication speed is input to the bit synchronization circuit, and the circuit is usually configured so that a synchronization clock is generated so that the clock matches the center position of the data. In recent years, the communication speed of the serial communication interface has been increased from several hundred Mbps to several Gbps, and in order to realize high-speed and highly reliable communication, higher performance and higher reliability in relation to the bit synchronization circuit. Circuit is required.
図10に、高速シリアル通信技術に用いられる従来のビット同期回路を示す。このビット同期回路100では、データ入力信号SDINとともに基準クロック信号REFCLKが入力され、位相比較クロック生成回路110において、その基準クロック信号REFCLKから、通信速度に対応した周波数のビット動作クロック信号(図10には示さず)が生成され、更に、そのビット動作クロック信号に基づき位相の異なる計8つのクロック信号CLK1〜CLK8が生成される。
FIG. 10 shows a conventional bit synchronization circuit used in high-speed serial communication technology. In the bit synchronization circuit 100, the reference clock signal REFCLK is input together with the data input signal SDIN. In the phase comparison
図11に、基準クロック信号,ビット動作クロック信号、及び、ビット動作クロック信号に基づき生成されるクロック信号のタイミングチャートを示す。CLK1〜CLK8は、それぞれ、隣接するクロック信号に対して1/8サイクルずつずれた位相を有している。これらクロック信号CLK1〜CLK8は、それぞれ、別個のライン経由で、入力データエッジ検出部120及びクロック選択部140へ入力される。
FIG. 11 shows a timing chart of a reference clock signal, a bit operation clock signal, and a clock signal generated based on the bit operation clock signal. CLK1 to CLK8 each have a phase shifted by 1/8 cycle with respect to the adjacent clock signal. These clock signals CLK1 to CLK8 are respectively input to the input data
入力データエッジ検出部120では、位相の異なるクロック信号CLK1〜CLK8とともに、データ入力信号SDINが入力される結果、エッジ信号EDGE1〜EDGE8が検出される。これらエッジ信号EDGE1〜EDGE8は、クロック判定部130に入力される。クロック判定部130では、エッジ信号EDGE1〜EDGE8に基づき認識されるエッジ位置から、クロック選択信号CKSLが生成される。このクロック選択信号CKSLは、クロック信号CLK1〜CLK8とともに、クロック選択部140に入力される。
クロック選択部140では、入力されたクロック信号CLK1〜CLK8及びクロック選択信号CKSLに基づき、緩衝バッファ150に対するデータサンプリング用のクロック信号である書込み用クロック信号WRCKが生成される。
In the input data
The
緩衝バッファ150は、単一ビットのフリップフロップで構成されるバッファ又は多ビットのFIFOであり、送信側と受信側とで予め決められた周波数に対しての偏差やクロックジッタを吸収すべく用いられる。シリアル通信においては、一般的に、1ビット幅で深さが数ビット〜数十ビットの非同期FIFOが用いられる。緩衝バッファ150から出力される同期化されたデータSDOUTは、それ以降の回路で読み出され、受信データとして処理される。
The
図12に、入力データエッジ検出部120の構成を示す。この入力データエッジ検出部120は、位相の異なる8つのクロック信号CLK1〜CLK8にそれぞれ対応したデータ・フリップフロップ(以下、フリップフロップと呼ぶ)121a〜121hと、フリップフロップ121a〜121hと同数の排他的論理和(EXOR)ゲート122a〜122hとを有している。各フリップフロップ121a〜121hには、それに対応するクロック信号CLK1〜CLK8と、シリアルのデータ入力信号SDINとが入力される。また、各フリップフロップ121a〜121hからの出力信号DFF1〜DFF8は、それぞれ、異なる2つのEXORゲートに入力される。例えば、フリップフロップ121bの出力は、EXORゲート122a及び122bに入力され、また、フリップフロップ121cの出力は、EXORゲート122c及び122bに入力され、更に、フリップフロップ121hの出力は、EXORゲート122h及び122aに入力される。
FIG. 12 shows the configuration of the input data
各EXORゲート122a〜122hから出力される信号は、入力される2つのクロック信号の位相差のタイミングでデータ入力信号SDINが変化した場合に「HIGH」となり、エッジ位置を示す信号(以下、エッジ信号という)EDGE12,EDGE23,EDGE34,EDGE45,EDGE56,EDGE67,EDGE78,EDGE89として出力される。例えば、EXORゲート122aから出力される信号は、CLK1とCLK2の位相差のタイミングでデータ入力信号が変化した場合に「HIGH」レベルとなる。EXORゲート122a〜122hから出力されるエッジ信号EDGE12〜EDGE89は、別個のライン経由で、クロック判定部130へ供給される。
A signal output from each of the
なお、この入力データエッジ検出部120では、位相が異なるクロック信号を供給する8本のラインを使用している例を挙げているが、これ以外の本数で、若しくは、位相が異なるのではなく通信速度に対してより周波数の高いクロックでエッジ検出を行う方法も考えられる。
In this example, the input data
図13に、緩衝バッファ150への書込み用のクロック信号WRCKの出力タイミングに関係する各種信号のタイミングチャートを示す。この図13から分かるように、データ入力信号SDINの最初のエッジ(立上りエッジ)は、クロック信号CLK1のエッジ(立上りエッジ)とCLK2のエッジ(立上りエッジ)との間に位置し、データ入力信号SDINの2番目のエッジ(立下りエッジ)は、クロック信号CLK2のエッジ(立上りエッジ)とCLK3のエッジ(立上りエッジ)との間に位置し、また、データ入力信号SDINの3番目のエッジは、クロック信号CLK3のエッジ(立上りエッジ)とCLK4のエッジ(立上りエッジ)との間に位置し、更に、データ入力信号SDINの最後のエッジ(立下りエッジ)は、クロック信号CLK2のエッジ(立上りエッジ)とCLK3のエッジ(立上りエッジ)との間に位置している。
FIG. 13 shows a timing chart of various signals related to the output timing of the clock signal WRCK for writing to the
データ入力信号SDINのエッジが検出されれば、EDGE12〜EDGE89の対応する信号において、長い期間の検出パルスが出力されることになる。かかる長い検出パルスに基づき、EDGE12に対して、位相が約半サイクル遅れた、すなわち、入力データの中央でサンプリングするためのCLK5が、また、EDGE23に対してはCLK6が、更に、EDGE34に対してはCLK7が、同期タイミング信号として出力され、この同期タイミング信号とそのサイクルにエッジの遷移がなければ、前サイクルと同じクロックが出力される。最終的には、緩衝バッファ150へ出力される書込み用のクロック信号WRCKが生成される。
If an edge of the data input signal SDIN is detected, a detection pulse of a long period is output in the signals corresponding to the EDGE12 to EDGE89. Based on such a long detection pulse, the phase is delayed by about a half cycle with respect to EDGE 12, that is, CLK5 for sampling at the center of the input data, CLK6 for EDGE23, and further for EDGE34. CLK7 is output as a synchronization timing signal. If there is no edge transition in this synchronization timing signal and its cycle, the same clock as the previous cycle is output. Finally, a write clock signal WRCK output to the
なお、図12に示す入力データエッジ検出部120以降の構成、すなわち、クロック判定部130,クロック選択部140のタイミングによる動作は公知技術であるため、ここでの説明を省略する。
The configuration after the input data
次に、図14を参照して、従来のビット同期回路100において起こる可能性のある問題について説明する。まず、フリップフロップ121a〜121hを正常に動作させるには、クロックの前後で、ある期間入力データを一定に保つ必要があるが、この所定期間中に入力データが一定値でなかった場合には、フリップフロップ121a〜121hからの出力信号DFF1〜DFF8が1でも0でもない不安定な値を示す可能性があり、このような現象は「メタスタビリティ」と呼ばれる。図14に示す符号A”が付された箇所では、本来、フリップフロップ121bからの出力信号DFF2は「HIGH」レベルになるはずであるが、データ入力信号SDINの遷移がフリップフロップ121bのセットアップホールドのタイミング要求を満たしていないことから、その出力信号DFF2が、メタスタビリティを伴うメタステーブル状態になっている。ここでは、一例として、メタステーブル状態である出力信号DFF2が、太字の実線で示すように、出力変化している場合を示す。
Next, a problem that may occur in the conventional bit synchronization circuit 100 will be described with reference to FIG. First, in order for the flip-
また、図14に示す符号B”が付された箇所では、本来、フリップフロップ121fからの出力信号DFF6が「LOW」レベルになるはずであるが、フリップフロップ121fへのデータ入力が、例えば半導体装置の製造上の問題により、フリップフリップ121fにおけるSDIN入力側の抵抗値が異常に高くなること、若しくは、フリップフロップ121fに関わる信号ラインのクロストーク、半導体装置の製造上のタイミングバラツキ等の原因によって遅くなることから、出力信号DFF6が「HIGH」レベルとなっている。 In addition, in the part to which the symbol B ″ shown in FIG. 14 is attached, the output signal DFF6 from the flip-flop 121f should be at the “LOW” level originally, but the data input to the flip-flop 121f is, for example, a semiconductor device Due to the manufacturing problem of the flip-flop 121f, the resistance value on the SDIN input side of the flip-flop 121f becomes abnormally high, or the signal line crosstalk related to the flip-flop 121f, the timing variation in manufacturing the semiconductor device, etc. Therefore, the output signal DFF6 is at the “HIGH” level.
符号A及びBにて示されるフリップフロップからの出力信号の不具合が生じた場合、緩衝バッファ150への書込み用のクロック信号WRCKの生成においては、回路の構成にも依存するものの、本来のタイミングで出力されず、データを緩衝バッファ150でサンプリングする際にタイミングエラーが生じて正常なサンプリングができなかったり、WRCKが出力されずデータが抜けたり、WRCKが1サイクルに複数回発生し、データを余分に取り込んでしまったりする等の問題が起こる。この場合、同期タイミング信号及びクロック信号WRCKは、図14に示す符号C”及びD”が付された箇所で不具合を生じる。これにより、シリアルデータのパケットデータの受信抜け、受信データのエラー等が生じ、正常な受信ができないことになる。
When a problem occurs in the output signal from the flip-flops indicated by the symbols A and B, the generation of the clock signal WRCK for writing to the
一般的に、ビット同期回路の信頼性を低下させる問題としては、ビット同期回路内にある入力データエッジ検出部で用いられるフリップフロップの製造上の問題等よる特性のバラツキやフリップフロップの故障に関する問題に加え、前述したようなメタスタビリティの問題が知られている。メタスタビリティは回路の誤動作を生じるため、回路の信頼性を向上させるには、それが生じる確率を低下させること、若しくは、メタスタビリティに対しても誤動作を起こらないビット同期回路を供給することが必要である。 Generally, problems that reduce the reliability of the bit synchronization circuit include variations in characteristics due to manufacturing problems of flip-flops used in the input data edge detection unit in the bit synchronization circuit, and problems related to failure of the flip-flops. In addition, the above-mentioned metastability problem is known. Since metastability causes malfunction of the circuit, to improve the reliability of the circuit, it is necessary to reduce the probability of occurrence or to provide a bit synchronization circuit that does not cause malfunction even for metastability. It is.
また、ビット同期回路が半導体装置に内蔵された場合、装置の良否を判定するテスト方法としては、通常、LSIテスタを用いて、装置に対してあるタイミングに同期した入力を加え、実際の出力とその期待値を測定・比較し、期待値と同様の出力値が得られれば、その装置を良品とし、期待値と異なれば、不良品と判定する方法が用いられる。しかし、高速に且つシリアルデータに対して非同期に動作するビット同期回路では、LSIテスタ上で、システムクロックに対して非同期の入力パターンをいくつも用意する必要があり、また、その非同期の入力パターンを、受信データの期待値でテストする際には、良品である場合にも、受信データの期待値が非同期の入力により期待値のサイクルがずれることがある。更に、そのずれ方は、半導体装置の製造のバラツキにより個々に異なる場合も想定されるため、製品の良否を正確に選別可能なテストプログラムを作成するには、プログラムのデバッグ(バグ等の障害を取り除く作業)に相当の時間を要するという問題がある。従来、この問題に対処し得る技術が求められている。 In addition, when a bit synchronization circuit is built in a semiconductor device, as a test method for judging the quality of the device, an LSI tester is usually used to add an input synchronized with a certain timing to the device, and an actual output If the expected value is measured and compared, and if an output value similar to the expected value is obtained, the device is determined to be a non-defective product. However, in a bit synchronous circuit that operates at high speed and asynchronously with serial data, it is necessary to prepare a number of asynchronous input patterns with respect to the system clock on the LSI tester. When testing with the expected value of the received data, the expected value cycle may be shifted due to the asynchronous input of the expected value of the received data even if it is a non-defective product. Furthermore, the method of deviation may vary from one device to another due to variations in the manufacturing of semiconductor devices. Therefore, in order to create a test program that can accurately determine the quality of a product, debugging the program (such as bugs) There is a problem that it takes a considerable amount of time for the removal operation. Conventionally, a technique capable of dealing with this problem has been demanded.
なお、従来、ビット同期回路として、次のようなものが知られている。例えば、特許第2595887号公報には、完全デジタルで構成され、カウンタを用いず高速化対応可能なビット同期回路が開示されている。一般的なクロック多層化回路やDフリップフロップを用いる点は、本発明と類似しているが、エッジ検出部は1つしかもたないため、ビット同期回路内のフリップフロップがメタステーブル状態になった場合には、動作上の不具合を起こす可能性があり、信頼性に欠けるという問題がある。 Conventionally, the following bit synchronization circuits are known. For example, Japanese Patent No. 2595887 discloses a bit synchronization circuit that is configured completely digitally and can cope with high speed without using a counter. The use of a general clock multi-layer circuit or D flip-flop is similar to the present invention. However, since there is only one edge detection unit, the flip-flop in the bit synchronization circuit is in a metastable state. In some cases, there is a possibility of causing a malfunction in operation, and there is a problem of lack of reliability.
また、特開平9−36849号公報には、入力信号をサンプリングしn系列の信号とするデータサンプル部と、サンプリングされたn系列信号の中から受信バースト信号に同期した信号を選択する選択出力部とを備え、データサンプル部からの信号の立上り及び立下り検出を行い、入力データのデューティの変動に対して、最適なサンプリングを行うことができるビット同期回路及びビット同期方式が開示されている。しかしながら、このビット同期方式では、データ変化点の両エッジが用いられるため、サンプリング手段が高速に追従しないという問題がある。また、エッジ検出に対しては1つの回路しか使用されないため、ビット同期回路内のフリップフロップがメタステーブル状態になった場合には、動作上の不具合を起こす可能性があり、信頼性に欠けるという問題がある。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-36849 discloses a data sampling unit that samples an input signal to obtain an n-sequence signal, and a selection output unit that selects a signal synchronized with the received burst signal from the sampled n-sequence signal. And a bit synchronization circuit and a bit synchronization system that detect the rising and falling of a signal from a data sampling unit and can perform optimum sampling with respect to fluctuations in duty of input data. However, in this bit synchronization method, since both edges of the data change point are used, there is a problem that the sampling means does not follow at high speed. Also, since only one circuit is used for edge detection, if the flip-flop in the bit synchronization circuit is in a metastable state, there is a possibility of causing a malfunction in operation, which is not reliable. There's a problem.
更に、特開平10−247903号公報には、受信データ速度を上回る高速クロックを使用せずに、受信データが散発的に発生しかつ入力タイミングが不定な高速バースト信号に対応し、かつ、位相変動に良好な追従性をもつビット同期回路が開示されている。位相比較回路が1つしか使用されないため、信頼性に欠けるという問題がある。
本発明は、上記技術的課題に鑑みてなされたもので、高速な通信速度に対応可能で信頼性の高い、かつ、テストが容易であるビット同期回路を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above technical problem, and an object of the present invention is to provide a bit synchronization circuit that can cope with a high communication speed, has high reliability, and is easy to test.
本願の請求項1に係る発明は、
ビットデータ伝送に際し、シリアルデータをクロック信号によって同期化するビット同期回路において、
所定の基準クロックから、位相の異なる複数のクロック信号を生成する位相比較クロック生成手段と、
上記位相比較クロック生成手段により生成されたクロック信号が所定数おきに取り出されてなるグループ毎に設定され、それぞれ、シリアルデータからエッジ位置を検出し、該エッジ位置をあらわすエッジ信号を生成する複数のエッジ検出手段と、
上記各エッジ検出手段により生成されたエッジ信号に基づき、上記複数のエッジ検出手段の夫々に対応する複数の同期タイミング信号を生成するクロック判定手段と、
上記クロック判定手段により生成された同期タイミング信号に基づき、上記位相の異なる複数のクロック信号の中から、シリアルデータを同期化するクロック信号に適した書込み用クロック信号を選択するクロック選択手段とを有しており、
(1)各エッジ検出手段から複数のエッジ信号が出力される場合には、上記クロック選択手段はそのサイクルでの同期タイミング信号を出力しないのであり、
(2)上記複数のエッジ検出手段の夫々に対応する複数の同期タイミング信号で時間的に連続する場合には、連続している後ろ側の信号によるタイミングで、上記クロック選択手段が書込み用クロック信号を出力する
ことを特徴とするものである。
The invention according to claim 1 of the present application is
In the bit synchronization circuit that synchronizes serial data with a clock signal when transmitting bit data,
Phase comparison clock generation means for generating a plurality of clock signals having different phases from a predetermined reference clock;
A plurality of clock signals generated by the phase comparison clock generation means are set for each group obtained by taking out every predetermined number, each of which detects an edge position from serial data, and generates a plurality of edge signals representing the edge position Edge detection means;
Based on the edge signals generated by the respective edge detecting means, a clock determining means for generating a plurality of synchronization timing signal corresponding to each of said plurality of edge detection means,
Clock selection means for selecting a write clock signal suitable for a clock signal for synchronizing serial data from the plurality of clock signals having different phases based on the synchronization timing signal generated by the clock determination means; And
(1) When a plurality of edge signals are output from each edge detection means, the clock selection means does not output a synchronization timing signal in that cycle,
(2) When a plurality of synchronization timing signals corresponding to each of the plurality of edge detection means are temporally continuous, the clock selection means causes the write clock signal to be written at the timing based on the continuous back signal. Is output .
以上の説明から明らかなように、本願の請求項1に係る発明によれば、エッジ検出手段を複数設け、各エッジ検出手段により出力されるエッジ信号に基づき、エッジ検出手段の動作を確認しつつ、シリアルデータを同期化するクロック信号に適した書込み用クロック信号を生成するため、ビット同期回路による信頼性の高い動作を実現することができる。 As is clear from the above description, according to the invention of claim 1 of the present application, a plurality of edge detection means are provided, and the operation of the edge detection means is confirmed based on the edge signal output from each edge detection means. Since the write clock signal suitable for the clock signal for synchronizing the serial data is generated, a highly reliable operation by the bit synchronization circuit can be realized.
以下、本発明の実施の形態について、添付図面を参照しながら説明する。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態に係るビット同期回路を含むシリアル送受信装置のブロック図である。このシリアル送受信装置1は、各種コンピュータ,通信制御装置,端末等の機器に組み込まれ、通信回線経由で他の機器と相互接続するためのOSI(Open System Interconnection)参照モデルを構成するプロトコル層の1つである物理層をなすもので、他の機器との物理的な接続を活性化・維持・非活性化し、ビットデータ伝送のための機械的,電気的な制御を行う。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
Embodiment 1 FIG.
FIG. 1 is a block diagram of a serial transmission / reception apparatus including a bit synchronization circuit according to an embodiment of the present invention. This serial transmission / reception device 1 is incorporated in devices such as various computers, communication control devices, and terminals, and is a protocol layer 1 constituting an OSI (Open System Interconnection) reference model for interconnecting with other devices via a communication line. It is a physical layer that activates, maintains, and deactivates physical connections with other devices, and performs mechanical and electrical control for bit data transmission.
データ受信時、シリアルデータ「Data+」及び「Data−」が、外部からアナログI/F部9に含まれるレシーバ2経由でビット同期回路10へ入力されると、ビット同期回路10では、内部クロック発生器7及び外部発振子8により生成された基準クロックに対して、レシーバ2からの1,0出力に基づき、そのデータをサンプリングするためのサンプリングクロック(同期タイミング信号ともいう)が生成され、データがサンプリングされて、シリアルデータとして受信回路3へ出力される。受信回路3では、通信で使用されているコーディングに従って、データのデコード処理が実行され、インターフェイス部4では、データをパラレルデータ「DATA」として機器内部に出力する動作が行われる。
When receiving data, serial data “Data +” and “Data−” are externally input to the
他方、データ送信時には、機器内部から供給されるパラレルデータがインターフェイス部4においてシリアルデータに変換され、送信回路5によりコード処理が実行され、アナログI/F部9に含まれるドライバ6経由で、シリアルデータとして外部に出力される。
On the other hand, at the time of data transmission, parallel data supplied from the inside of the device is converted into serial data in the interface unit 4, code processing is executed by the transmission circuit 5, and serial processing is performed via the driver 6 included in the analog I /
図2に、ビット同期回路10の構成を示す。このビット同期回路10は、位相比較クロック生成回路20と、第1及び第2の入力データエッジ検出部30及び40と、クロック判定部50と、クロック選択部60と、緩衝バッファ70とを有しており、内部クロック発生器7及び外部発振子8(図1参照)により生成された基準クロックREFCLKを用いて、データ入力信号SDINから同期タイミング信号をサンプリングして、この同期タイミング信号に基づき同期化されたシリアルデータを出力する。ビット同期回路10の基本的な構成及びその動作は、従来技術として図10を参照して説明した場合と同様であるが、本願発明では、データ入力信号SDINからの同期タイミング信号のサンプリングに際しその信号のエッジ位置を検出する手段として、複数個(この実施の形態では2つ)の入力データエッジ検出部30及び40が設けられ、それらがより高速で信頼性の高いビット同期回路を提供するように動作する。
FIG. 2 shows the configuration of the
ビット同期回路10では、まず、位相比較クロック生成回路20において、基準クロック信号REFCLKから、通信速度に対応した周波数のビット動作クロック信号が生成され、更に、そのビット動作クロック信号に基づき位相の異なる計8つのクロック信号CLK1〜CLK8が生成される。ここでは、基準クロック信号REFCLK,ビット動作クロック信号BTCLK、及び、ビット動作クロック信号に基づき生成されるクロック信号CLK1〜CLK8のタイミングチャートが、従来技術の説明において例示したものと同様であり、CLK1〜CLK8は、それぞれ、隣接するクロック信号に対して1/8サイクルずつずれた位相を有している(図11参照)。
In the
従来技術と同様に、これらクロック信号CLK1〜CLK8は、それぞれ、別個のライン経由で、位相比較クロック生成回路20から出力されるが、この実施の形態では、第1及び第2の入力データエッジ検出部30及び40が設けられることに伴い、クロック信号CLK1〜CLK8が、各エッジ検出部30及び40に対応する2つのグループに分けられて出力される。より詳しくは、CLK1からCLK8の順に1/8サイクルずつずれた位相を有するクロック信号が1つおきに取り上げられることにより各グループが構成されており、奇数のクロック信号CLK1,CLK3,CLK5,CLK7が、第1入力データエッジ検出部30へ入力され、他方、偶数のクロック信号CLK2,CLK4,CLK6,CLK8が、第2入力データエッジ検出部40へ入力される。
As in the prior art, these clock signals CLK1 to CLK8 are each output from the phase comparison
図3に、第1及び第2の入力データエッジ検出部30及び40の構成を示す。まず、第1入力データエッジ検出部30は、クロック信号CLK1,CLK3,CLK5,CLK7にそれぞれ対応する4つのフリップフロップ31a,31b,31c,31dと、4つのEXORゲート32a,32b,32c,32dとを有している。各フリップフロップ31a〜31cには、それに対応するクロック信号とともにデータ入力信号SDINが入力され、各フリップフロップ31a〜31dからの出力信号DFF1,DFF3,DFF5,DFF7は、それぞれ、異なる2つのEXORゲートに入力される。すなわち、フリップフロップ31aからの出力信号DFF1は、EXORゲート32a及び32dに、また、フリップフロップ31bからの出力信号DFF3は、EXORゲート32a及び32bに、更に、フリップフロップ31cからの出力信号DFF5は、EXORゲート32b及び32cに、また、更に、フリップフロップ31dからの出力信号DFF7は、EXORゲート32c及び32dに入力される。この第1入力データエッジ検出部30では、EXORゲート32a,32b,32c,32dのいずれか1つから、エッジ位置をあらわすエッジ信号EDGE13,EDGE35,EDGE57,EDGE79が出力される。
FIG. 3 shows the configuration of the first and second input data
また、一方、第2の入力データエッジ検出部40は、クロック信号CLK2,CLK4,CLK6,CLK8にそれぞれ対応する4つのフリップフロップ41a,41b,41c,41dと、4つのEXORゲート42a,42b,42c,42dとを有している。各フリップフロップ41a〜41cには、第1入力データエッジ検出部30と同様に、それに対応するクロック信号とともにデータ入力信号SDINが入力され、各フリップフロップ41a〜41dからの出力信号DFF2,DFF4,DFF6,DFF8は、それぞれ、異なる2つのEXORゲートに入力される。すなわち、フリップフロップ41aからの出力信号DFF2は、EXORゲート42a及び42dに、また、フリップフロップ41bからの出力信号DFF4は、EXORゲート42a及び42bに、更に、フリップフロップ41cからの出力信号DFF6は、EXORゲート42b及び42cに、また、更に、フリップフロップ41dからの出力信号DFF8は、EXORゲート42c及び42dに入力される。この第2入力データエッジ検出部40では、EXORゲート42a,42b,42c,42dのいずれか1つから、エッジ位置をあらわすエッジ信号EDGE24,EDGE46,EDGE68,EDGE80が出力される。
On the other hand, the second input data
クロック判定部50では、第1及び第2の入力データエッジ検出部30及び40から送られてきたエッジ信号に基づき、それぞれ、第1及び第2の同期タイミング信号が生成されるようになっている。これら第1及び第2の同期タイミング信号は、クロック選択部60へ送られ、クロック選択信号としてクロック選択部60により利用される。
In the
従来技術について図12を参照して説明した場合と同様の条件のもとでの、ビット同期回路10の動作を、図4を参照して説明する。図4は、ビット同期回路10における各種信号のタイミングチャートである。このビット同期回路10では、各同期タイミング信号及びその信号から生成する緩衝バッファ70への書込み用のクロック信号WRCKが出力されるに際して、次の(1)〜(4)に規定されるアルゴリズムで同期タイミング信号が生成されるとする。
The operation of the
(1) 各入力データエッジ検出部30,40から複数のエッジ信号が出力される場合には、そのサイクルでの同期タイミング信号を出力しない。
(2) 第1及び第2の同期タイミング信号で時間的に連続する場合には、連続している後ろ側の信号によるタイミングで、緩衝バッファ70への書込み用クロック信号WRCKを出力する。
(3) 第1及び第2の同期タイミング信号が時間的に連続しない場合には、前サイクルと同じ書込み用クロック信号WRCKを出力する。
(4) 第1及び第2の同期タイミング信号のうち一方の信号しか生成されない場合には、前サイクルと同じ書込み用クロック信号WRCKを出力する。
(1) When a plurality of edge signals are output from the input data
(2) When the first and second synchronization timing signals are temporally continuous, the write clock signal WRCK to the
(3) When the first and second synchronization timing signals are not continuous in time, the same write clock signal WRCK as the previous cycle is output.
(4) When only one of the first and second synchronization timing signals is generated, the same write clock signal WRCK as the previous cycle is output.
このとき、これら(1)〜(4)のアルゴリズムのうちの少なくとも(1)及び(2)のアルゴリズムが回路設計で実現されれば、図4に示す符号A及びBが付された箇所に見られるようなエラーがある状態であっても、緩衝バッファ70への書込み用クロック信号WRCKは正常に出力される。また、(3)及び(4)のアルゴリズムは、ビット同期回路10のエラーを検出した場合には、最も安全である前サイクルと同様の位相を有する書込み用のクロック信号WRCKを出力することを規定するものである。
At this time, if at least the algorithms (1) and (2) among the algorithms (1) to (4) are realized by circuit design, the parts marked with the symbols A and B shown in FIG. Even when there is such an error, the write clock signal WRCK to the
このように、ビット同期回路10では、複数個の入力データエッジ検出部30及び40が装備され、各エッジ検出部からのエッジ信号に基づき、複数の同期タイミング信号が生成され、正常な同期タイミング信号に基づき、書込み用クロック信号WRCKが生成されることにより、シリアルデータの正常な受信を維持することが可能となり、信頼性の向上を実現することができる。
Thus, the
なお、上記(1)〜(4)に規定されるアルゴリズムについては、この実施の形態において例示的なものであり、これに限定されるものではない。また、入力データエッジ検出部の数については、2つに限定されるものでなく、例えば、3つの入力データエッジ検出部を用いて、各エッジ検出部より多数決で書込み用クロック信号WRCKの位相を生成するようにしてもよい。 In addition, about the algorithm prescribed | regulated to said (1)-(4), in this embodiment, it is an illustration thing and it is not limited to this. Further, the number of input data edge detection units is not limited to two. For example, the phase of the write clock signal WRCK is determined by majority from each edge detection unit using three input data edge detection units. You may make it produce | generate.
また、図2に示すビット同期回路10では、複数の第1及び第2の入力データエッジ検出部30及び40から出力されるエッジ信号に基づき生成された複数の同期タイミング信号を用いて、緩衝バッファ70に対するデータサンプリング用クロックを生成するとともに、入力データエッジ検出部からのエッジ信号を用いて、エラー状態を示す信号が生成される。エラー状態とは、例えば、各入力データエッジ検出部で、エッジ信号が複数存在する場合、2つの入力データエッジ検出部の同期タイミング信号が連続しない場合、第1及び第2の同期タイミング信号のうちの一方の信号しかない場合等の状態をあらわしており、このビット同期回路10では、かかるエラー状態をあらわす信号が、ビット同期回路10のエラーステータス信号として、クロック判定部50から出力される。
Further, in the
図1に示すように、ビット同期回路10がシリアル送受信装置1に内蔵された場合、ビット同期回路10が非常に高速に動作し、また、完全に非同期に動作することから、装置1のテストが困難であるという問題があったが、クロック判定部50から出力されるエラーステータス信号を使用することにより、全ての非同期パターンに対して、エラーが出ていない1種類の期待値のプログラムでテスト可能となり、装置1を容易にテストすることが可能となる。
As shown in FIG. 1, when the
また、受信データの期待値を用いて選別する場合には、受信が終了するまで不良が検出できないが、本願特許のように、シリアルデータの受信取り込みの位置に存在するビット同期回路のエラーステータス信号を用いて半導体装置をテストする場合には、エラー検出のタイミングが、受信終了時に判明するという受信データの期待値を用いる場合に比べて早く、これにより、不良品を早期に発見できる。 In addition, when selecting using the expected value of the received data, a defect cannot be detected until the reception is completed, but the error status signal of the bit synchronization circuit existing at the position of receiving and receiving the serial data as in the patent of the present application. When the semiconductor device is tested using this, the error detection timing is earlier than when the expected value of the received data that is known at the end of reception is used, thereby enabling the defective product to be found early.
続いて、図5に、クロック判定部50に含まれる第2入力データエッジ検出部40に対応する構成を示す。また、図6には、この構成に関係する各種信号のタイミングチャートを示す。図6に示す各信号波形に付された記号は、図5における各入力及び出力信号に対応している。ビット同期回路10の全体構成を示す図2にはあらわれていないが、クロック判定部50には、第1及び第2の入力データエッジ検出部30及び40からのエッジ信号とともに、位相比較クロック生成回路20からのクロック信号が入力される。クロック判定部50は、フリップフロップ51a,51b,51c,51dと、ANDゲート52a,52b,52c,52dと、フリップフロップ53a,53b,53c,53dと、ANDゲート54a,54a,54b,54c,54dと、ORゲート55とを有しており、位相比較クロック生成回路20からのクロック信号CLK2,CLK4,CLK6,CLK8及び第2入力データエッジ検出部40からのエッジ信号EDGE24,EDGE46,EDGE68,EDGE80を用いて、第2同期タイミング信号を生成するように構成されている。
Next, FIG. 5 shows a configuration corresponding to the second input data
なお、特に図示しないが、このクロック判定部50における第1入力データエッジ検出部30に対応する構成は、位相比較クロック生成回路20からのクロック信号CLK1,CLK3,CLK5,CLK7及び第1入力データエッジ検出部30からのエッジ信号EDGE13,EDGE35,EDGE57,EDGE79を用いて、第2入力データエッジ検出部40に対応する構成と同様の動作を行い、第1同期タイミング信号を生成する。
Although not particularly illustrated, the configuration corresponding to the first input data
以下、本発明の別の実施の形態について説明する。なお、以下では、上記実施の形態1における場合と同じものには同一の符号を付し、それ以上の説明を省略する。
実施の形態2.
図7は、本発明の実施の形態2に係る入力データエッジ検出部の各構成の配置を示す図である。通常、前述したようにエッジ信号を検出する際には、フリップチップが設計で意図したように動作する必要があり、そのためには、フリップチップに対するデータ入力信号SDIN及びクロック信号CLK1〜CLK8の入力に対して、とりわけ正確なタイミングが要求される。第1及び第2の入力データエッジ検出部30’,40’は、それぞれ、図3に示す入力データエッジ検出部30,40と実質的に等価な回路構成を有する、すなわち、それぞれ、フリップチップ31a〜31d及びEXORゲート32a〜32d,フリップチップ41a〜41d及びEXORゲート42a〜42dから構成されるものであるが、この実施の形態2では、シリアル送受信装置1内に実装する場合に、これら各構成が、クロック信号及びデータ入力信号の入力端子に対して左右対称に配置される。かかる配置構造によれば、クロック信号やデータ入力信号が各構成に対してより同時に近いタイミングで入力され、ほぼ均一のタイミングで各フリップチップを動作させることが可能となる。
Hereinafter, another embodiment of the present invention will be described. In the following, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and further description thereof is omitted.
Embodiment 2. FIG.
FIG. 7 is a diagram showing an arrangement of each component of the input data edge detection unit according to the second embodiment of the present invention. Normally, when detecting an edge signal as described above, it is necessary for the flip chip to operate as intended in the design. For this purpose, the data input signal SDIN and the clock signals CLK1 to CLK8 are input to the flip chip. On the other hand, particularly accurate timing is required. The first and second input data
実施の形態3.
図8は、本発明の実施の形態3に係る入力データエッジ検出部の各構成の配置を示す図である。上記実施の形態2では、第1及び第2の入力データエッジ検出部の各構成(特にフリップフロップ)が、クロック信号及びデータ入力信号の入力端子に対して左右対称に配置されるが、この実施の形態3では、更に正確なタイミングでの信号入力を実現するために、第1及び第2の入力データエッジ検出部30”,40”の各構成が、クロック信号及びデータ入力信号の入力端子に対して、上下左右対称に配置される。
FIG. 8 is a diagram showing an arrangement of each component of the input data edge detection unit according to the third embodiment of the present invention. In the second embodiment, the configurations (particularly flip-flops) of the first and second input data edge detection units are arranged symmetrically with respect to the input terminals of the clock signal and the data input signal. In the third embodiment, in order to realize signal input at a more accurate timing, each configuration of the first and second input data
上記実施の形態2及び3のように、入力データエッジ検出部の各構成を、各信号の入力端子に対して上下又は左右対称に配置することにより、要求される正確なタイミングでの信号入力を実現し、ビット同期回路の動作信頼性を向上させることができる。 As in the second and third embodiments, each input data edge detection unit is arranged vertically or laterally symmetrically with respect to each signal input terminal, thereby enabling signal input at the required accurate timing. This can improve the operational reliability of the bit synchronization circuit.
実施の形態4.
図9は、本発明の実施の形態4に係る入力データエッジ検出部の各構成の配置を示す図である。前述した実施の形態と同様に、複数個(第1及び第2の)入力データエッジ検出部80,90が設けられるが、この実施の形態4では、各入力データエッジ検出部80,90が、それぞれ、8つのフリップチップ81a〜81h,91a〜91hと8つのEXORゲート82a〜82h,92a〜92hから構成されている。更に、各構成は、データ入力信号SDIN及びクロック信号CLK0〜9,A〜Fの入力端子に対して、左右対称に配置されている。
Embodiment 4 FIG.
FIG. 9 is a diagram showing an arrangement of each component of the input data edge detection unit according to the fourth embodiment of the present invention. As in the above-described embodiment, a plurality of (first and second) input data edge detection units 80 and 90 are provided. In the fourth embodiment, each input data edge detection unit 80 and 90 includes: Each is composed of eight
なお、かかる第1及び第2の入力データエッジ検出部80,90を採用する場合には、特に図示しないが、ビット同期回路において、位相が1/16サイクルずつずれたクロック信号CLK0〜9,A〜Fの出力が可能な位相比較クロック生成回路を用いる必要がある。 When the first and second input data edge detectors 80 and 90 are employed, the clock signals CLK0 to CLK9, A whose phases are shifted by 1/16 cycle in the bit synchronization circuit are not shown. It is necessary to use a phase comparison clock generation circuit capable of outputting ~ F.
この実施の形態4では、各入力データエッジ検出部を8つのフリップチップ及びEXORゲートで構成し、より小さな位相差のクロック信号を用いることにより、エッジ信号についての検出分解能を向上させることができる。また、この実施の形態4では、入力データエッジ検出部の各構成が、各信号の入力端子に対して左右対称に配置されるので、上記実施の形態2及び3における場合と同様に、要求される正確なタイミングでの信号入力を実現し、ビット同期回路の動作信頼性を向上させることができる。 In the fourth embodiment, each input data edge detection unit is composed of eight flip chips and EXOR gates, and a clock signal having a smaller phase difference is used, so that the detection resolution for the edge signal can be improved. Further, in the fourth embodiment, each configuration of the input data edge detection unit is arranged symmetrically with respect to the input terminal of each signal, so that it is required as in the second and third embodiments. Thus, it is possible to realize signal input at an accurate timing and to improve the operation reliability of the bit synchronization circuit.
なお、本発明は、例示された実施の形態に限定されるものでなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、種々の改良及び設計上の変更が可能であることは言うまでもない。例えば、入力データエッジ検出部の構成は、4又は8つのフリップフロップ及びEXORゲートに限定されるものでなく、例えば16のフリップフロップ及びEXORゲートを用いてもよい。 Note that the present invention is not limited to the illustrated embodiments, and it goes without saying that various improvements and design changes are possible without departing from the scope of the present invention. For example, the configuration of the input data edge detection unit is not limited to four or eight flip-flops and EXOR gates, and for example, 16 flip-flops and EXOR gates may be used.
1…シリアル送受信装置
10…ビット同期回路
20…位相比較クロック生成回路
30…第1入力データエッジ検出部
40…第2入力データエッジ検出部
50…クロック判定部
60…クロック選択部
70…緩衝バッファ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Serial transmission /
Claims (3)
所定の基準クロックから、位相の異なる複数のクロック信号を生成する位相比較クロック生成手段と、
上記位相比較クロック生成手段により生成されたクロック信号が所定数おきに取り出されてなるグループ毎に設定され、それぞれ、シリアルデータからエッジ位置を検出し、該エッジ位置をあらわすエッジ信号を生成する複数のエッジ検出手段と、
上記各エッジ検出手段により生成されたエッジ信号に基づき、上記複数のエッジ検出手段の夫々に対応する複数の同期タイミング信号を生成するクロック判定手段と、
上記クロック判定手段により生成された同期タイミング信号に基づき、上記位相の異なる複数のクロック信号の中から、シリアルデータを同期化するクロック信号に適した書込み用クロック信号を選択するクロック選択手段とを有しており、
(1)各エッジ検出手段から複数のエッジ信号が出力される場合には、上記クロック選択手段はそのサイクルでの同期タイミング信号を出力しないのであり、
(2)上記複数のエッジ検出手段の夫々に対応する複数の同期タイミング信号で時間的に連続する場合には、連続している後ろ側の信号によるタイミングで、上記クロック選択手段が書込み用クロック信号を出力する
ことを特徴とするビット同期回路。 In the bit synchronization circuit that synchronizes serial data with a clock signal when transmitting bit data,
Phase comparison clock generation means for generating a plurality of clock signals having different phases from a predetermined reference clock;
A plurality of clock signals generated by the phase comparison clock generation means are set for each group obtained by taking out every predetermined number, each of which detects an edge position from serial data, and generates a plurality of edge signals representing the edge position Edge detection means;
Based on the edge signals generated by the respective edge detecting means, a clock determining means for generating a plurality of synchronization timing signal corresponding to each of said plurality of edge detection means,
Clock selection means for selecting a write clock signal suitable for a clock signal for synchronizing serial data from the plurality of clock signals having different phases based on the synchronization timing signal generated by the clock determination means; And
(1) When a plurality of edge signals are output from each edge detection means, the clock selection means does not output a synchronization timing signal in that cycle,
(2) When a plurality of synchronization timing signals corresponding to each of the plurality of edge detection means are temporally continuous, the clock selection means causes the write clock signal to be written at the timing based on the continuous back signal. bit synchronization circuit according to claim <br/> be output.
所定の基準クロックから、位相の異なる複数のクロック信号を生成する位相比較クロック生成手段と、
上記位相比較クロック生成手段により生成されたクロック信号が所定数おきに取り出されてなる2つのグループ毎に設定され、それぞれ、シリアルデータからエッジ位置を検出し、該エッジ位置をあらわすエッジ信号を生成する第1と第2のエッジ検出手段と、
上記各エッジ検出手段により生成されたエッジ信号に基づき、上記第1と第2のエッジ検出手段の夫々に対応する第1と第2の同期タイミング信号を生成するクロック判定手段と、
上記クロック判定手段により生成された同期タイミング信号に基づき、上記位相の異なる複数のクロック信号の中から、シリアルデータを同期化するクロック信号に適した書込み用クロック信号を選択するクロック選択手段とを有しており、
(1)各エッジ検出手段から複数のエッジ信号が出力される場合には、上記クロック選択手段はそのサイクルでの同期タイミング信号を出力しないのであり、
(2)第1及び第2の同期タイミング信号で時間的に連続する場合には、連続している後ろ側の信号によるタイミングで、上記クロック選択手段が書込み用クロック信号を出力する
ことを特徴とするビット同期回路。 In the bit synchronization circuit that synchronizes serial data with a clock signal when transmitting bit data,
Phase comparison clock generation means for generating a plurality of clock signals having different phases from a predetermined reference clock;
The clock signals generated by the phase comparison clock generating means are set for every two groups obtained by taking out every predetermined number, detect edge positions from serial data, and generate edge signals representing the edge positions, respectively. First and second edge detection means;
Clock determining means for generating first and second synchronization timing signals corresponding to the first and second edge detecting means based on the edge signals generated by the edge detecting means;
Clock selection means for selecting a write clock signal suitable for a clock signal for synchronizing serial data from the plurality of clock signals having different phases based on the synchronization timing signal generated by the clock determination means; And
(1) When a plurality of edge signals are output from each edge detection means, the clock selection means does not output a synchronization timing signal in that cycle,
(2) When the first and second synchronization timing signals are temporally continuous, the clock selection means outputs the write clock signal at the timing of the continuous rear signal.
A bit synchronization circuit characterized by the above .
所定の基準クロックから、位相の異なる複数のクロック信号を生成する位相比較クロック生成手段と、 Phase comparison clock generation means for generating a plurality of clock signals having different phases from a predetermined reference clock;
上記位相比較クロック生成手段により生成されたクロック信号が所定数おきに取り出されてなる2つのグループ毎に設定され、それぞれ、シリアルデータからエッジ位置を検出し、該エッジ位置をあらわすエッジ信号を生成する第1と第2のエッジ検出手段と、 The clock signals generated by the phase comparison clock generating means are set for every two groups obtained by taking out every predetermined number, detect edge positions from serial data, and generate edge signals representing the edge positions, respectively. First and second edge detection means;
上記各エッジ検出手段により生成されたエッジ信号に基づき、上記第1と第2のエッジ検出手段の夫々に対応する第1と第2の同期タイミング信号を生成するクロック判定手段と、 Clock determining means for generating first and second synchronization timing signals corresponding to the first and second edge detecting means based on the edge signals generated by the edge detecting means;
上記クロック判定手段により生成された同期タイミング信号に基づき、上記位相の異なる複数のクロック信号の中から、シリアルデータを同期化するクロック信号に適した書込み用クロック信号を選択するクロック選択手段とを有しており、 Clock selection means for selecting a write clock signal suitable for a clock signal for synchronizing serial data from the plurality of clock signals having different phases based on the synchronization timing signal generated by the clock determination means; And
(1)各エッジ検出手段から複数のエッジ信号が出力される場合には、上記クロック選択手段はそのサイクルでの同期タイミング信号を出力しないのであり、(1) When a plurality of edge signals are output from each edge detection means, the clock selection means does not output a synchronization timing signal in that cycle,
(2)第1及び第2の同期タイミング信号で時間的に連続する場合には、連続している後ろ側の信号によるタイミングで、上記クロック選択手段が書込み用クロック信号を出力するのであり、(2) When the first and second synchronization timing signals are temporally continuous, the clock selection means outputs the write clock signal at the timing of the continuous rear side signal,
(3)第1及び第2の同期タイミング信号が時間的に連続しない場合には、上記クロック選択手段が前サイクルと同じ書込み用クロック信号を出力するのであり、(3) If the first and second synchronization timing signals are not continuous in time, the clock selection means outputs the same write clock signal as the previous cycle,
(4)第1及び第2の同期タイミング信号のうち一方の信号しか生成されない場合には、上記クロック選択手段が前サイクルと同じ書込み用クロック信号を出力する(4) When only one of the first and second synchronization timing signals is generated, the clock selection means outputs the same write clock signal as the previous cycle.
ことを特徴とするビット同期回路。A bit synchronization circuit characterized by the above.
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