JP4320439B2 - 線図形マッチング方法 - Google Patents

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Description

本発明は、2次元の線図形、あるいは2次元の点列から構成される線図形のマッチング方法に関するものである。
従来、2次元平面上の直線や曲線から構成される図形のマッチングは、線画の認識あるいは濃淡画像から抽出したエッジを用いた画像認識に利用されている。また、レーザスキャナから得られた点列で構成される図形のマッチングにも利用されている。
ここで考える2次元図形のマッチングは、現在得られたデータである入力図形と予めデータベースに登録しておいた参照図形とが最もよく重なるように、両者の間のユークリッド変換(回転と並進)を求める問題である。
このような図形マッチングを行う方法としては、幾何学的ハッシュ法がある。
この幾何学的ハッシュ法には、更にユークリッド変換、相似変換、アフィン変換など対象とする図形変換に応じて種類があるが、ここでは、ユークリッド変換の場合を対象とする。幾何学的ハッシュ法は、先ず曲率の極大点等の特徴点を図形から抽出し、N個の特徴点の組から座標系の基底を構成する。ユークリッド変換の場合、特徴点の個数はN=2である。そして、他の特徴点の座標値を当該座標系での値に変換する。この変換後の座標値は、上記特徴点の組のユークリッド変換に対して不変な量となる。この不変量をインデックスとして用いることで効率よくマッチングを行う。このような幾何学的ハッシュ法に関する一般的な文献としては、非特許文献1,2がある。
Y.Lamdan and H.J.Wolfson :"Geometric Hashing : A General and Efficient Model-based Recognition Scheme," Proc. of International Conference on Computer Vision ’88,pp.238-249,1988 出口光一郎、「画像認識論講義」、昭晃堂、141−158頁、2002年6月
しかしながら、従来技術に係る幾何学的ハッシュ法では、線図形の曲率の極大点や交差点等の特徴点を用いている為、その抽出処理が必要となるが、当該特徴点を安定して抽出するのは一般に難しく、重要な特徴点が欠落するとマッチングに失敗することがある。
特に滑らかな図形や直線が多い図形では、抽出できる特徴点の個数が少ない為、マッチングの安定性が悪くなる。また、従来技術に係る幾何学的ハッシュ法では、ユークリッド変換の不変量を生成する為の基底を2個の特徴点の組で構成することから、その組合せ数が特徴点数の二乗に比例し、その結果、計算量が大きくなる。
本発明の目的とするところは、従来の幾何学的ハッシュ法に比して図形形状によらず安定したマッチングを少ない計算量で精度良く実現することにある。
上記目的を達成するために、本発明の第1の態様では、参照図形に対して、その線分又は点列で構成される二次元図形上において所定の間隔で選択した複数の点と、当該複数の点にそれぞれ接する接線ベクトルとにより表される複数の有向点Piを定義し、
前記複数の有向点Piの各々について、当該有向点Piの周囲で所定範囲内に位置する他の有向点Pjの集合を取り出してこの取り出された他の有向点Pjの各々を前記有向点Piの接線ベクトルにより定義されるローカル座標系の座標値に変換し、このローカル座標系の座標値に変換された他の有向点Pjの各々をハフ変換して離散化したハフ空間に投票し、当該ハフ空間から投票数が多いハフ空間点を所定数取り出して、この取り出した所定数の点を前記有向点PiのシグネチャGiとして当該有向点Piに対応付けて記憶し、
ハフ空間を二次元グリッドに区分したインデックステーブルに、前記生成されたシグネチャGiをもとに前記有向点Piを登録し、
入力図形に対してその線分又は点列で構成される二次元図形上において所定の間隔で選択した複数の点と、当該複数の点にそれぞれ接する接線ベクトルとにより表される複数の有向点Pkを定義し、
前記複数の有向点Pkの各々について、当該有向点Pkの周囲で所定範囲内に位置する他の有向点Pjの集合を取り出して、この取り出された他の有向点Pjの各々を前記有向点Pkの接線ベクトルにより定義されるローカル座標系の座標値に変換し、このローカル座標系の座標値に変換された他の有向点Pjの各々をハフ変換して離散化したハフ空間に投票し、当該ハフ空間から投票数が多いハフ空間点を所定数取り出してこの取り出した所定数の点を前記有向点Pkのシグネチャとし、
前記有向点Pkのシグネチャと前記インデックステーブルに登録された有向点PiのシグネチャGiとを比較することにより、入力図形と参照図形とがマッチする相対位置姿勢の候補を求め、
この求められた相対位置姿勢の候補に対し、入力図形と参照図形との間で対応する有向点の位置の二乗誤差の和を求め、この二乗誤差の和をもとに前記候補の中から最適な候補を選択することを特徴とする線図形マッチング方法が提供される。
本発明によれば、従来の幾何学的ハッシュ法に比して図形形状によらず安定したマッチングを少ない計算量で精度良く実現する線図形マッチング方法を提供することができる。
先ず、本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法を概説する。
本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法は、特徴点として2次元図形としての線図形を構成する線上から適当な間隔で選択した点を用いる。そして、この選択した点上での接線ベクトルあるいは法線ベクトル(以下、接線ベクトルと総称する)を用いて基底を構成する。以下、選択した点に接線ベクトルを付加したものを有向点と称する。
接線ベクトルは、同一線上にある近傍の点を結ぶ直線の方向ベクトルから計算する。
例えば、有向点の位置を原点、接線方向をx軸、法線方向をy軸として、有向点のローカル座標系を定義する。尚、レーザスキャナ等で得られる点列の図形の場合は、各点自体を有向点にしてもよいし、一旦、点列を線分でつないで線図形にした後、通常の線図形と同様の処理を行って有向点を選択してもよいことは勿論である。
ここで、図4には有向点の構成の一例を示し説明する。
図4において、x座標値、y座標値は、線図形が置かれた座標系での有向点の位置である。接線方向は、その位置での線図形の接線方向を、例えば角度で示す。そして、シグネチャとは、有向点を表す特徴である。このシグネチャの詳細については後述する。
本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法では、有向点を用いることで、前述した従来技術の特徴抽出の諸問題を解消している。即ち、この有向点は、曲率極大点や交差点の検出処理を必要とせず、安定して求めることができる。更に、有向点は多数抽出することができるので、その一部が欠落しても、マッチングに与える影響は小さい。
また、本実施の形態の方法では、現在得られたデータである入力図形と予めデータベース等に登録しておいた参照図形とのマッチングを、2個の特徴点の組ではなく、1個の有向点で行うので、計算量が有向点数の二乗に比例した量ではなく、一乗に比例した量で済むことになる。
さらに、従来技術に係る幾何学的ハッシュ法では、特徴点が対応するか否かを他の特徴点の位置の一致に基づいて判断していたのに対して、本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法では、有向点が本質的に直線であることを利用して、有向点に対してハフ変換を行い、ハフ空間での点の一致問題に変換する。尚、ハフ変換は、図形を表すxy空間から、直線のパラメータ空間、すなわち、ハフ空間への変換である。一般に、xy空間の一点はハフ空間での直線あるいは曲線に変換され、xy空間の直線はハフ空間の一点に変換される。有向点は位置と接線方向をもつので本質的に直線であり、ハフ空間の一点に変換される。以上の処理によれば、線図形での直線部分はハフ空間の一点に圧縮されるため、マッチングの効率が向上する。
以下、上記事項をふまえて、本発明の一実施の形態について詳述する。
先ず、図1のフローチャートを参照して、本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法の処理の流れを概説する。本方法の処理を開始すると、参照図形から有向点を抽出し、各有向点のシグネチャを生成する(ステップS1)。そして、この生成したシグネチャに基づいて有向点をインデックステーブルに登録する(ステップS2)。
次いで、入力図形から有向点を抽出し、各有向点のシグネチャを生成する(ステップS3)。そして、このステップS3で生成したシグネチャを用いて、入力図形と参照図形との間で大域マッチングを行う(ステップS4)。ここで、大域マッチングとは、両図形間の距離に制限を設けないマッチングを意味する。この大域マッチングでは、詳細については後述するが、入力図形と参照図形それぞれに対して、並進回転に不変な特徴群を生成し、それら特徴群を用いて大域的なマッチング候補を求めることになる。
次いで、大域マッチングで得られた各候補に対して、入力図形と参照図形のずれが最小となるように詳細マッチングを行う(ステップS5)。この詳細マッチングでは、詳細については後述するが、大域マッチングで求めた各候補について、入力図形と参照図形のすれが最小となるように最適化を行う。この詳細マッチングでは、大域マッチングで得られた値を利用するので、両図形間の距離が非常に近いという制約の下で効率的なマッチングを行う。以上で、線図形マッチング方法に係る一連の処理を終了する。
尚、ステップS1とステップS2は、ステップS3より前に予め実行しておけばよいものであり、図1の全ての処理を連続して行う必要はないことは勿論である。
以下、図2乃至図6を参照して、各ステップS1乃至S5について詳細に説明する。
(シグネチャの生成)
先ず、図1のステップS1に関係するシグネチャの生成について詳述する。
図5(a)は有向点、図5(b)は有向点の特徴を表す分布パターンを示す。
前述した通り、この実施の形態では、選択した点に接線方向(接線ベクトル)を付加した点を有向点と称しているが、この接線は、選択された点を連結した折れ線を曲線とみなした場合の接線である。即ち、例えば図5(a)に示す例では、接線ベクトルは、隣接する3点(P1,P2,P3)から計算する。即ち、中央の点P1を原点とし、中央点P1と両端点P2,P3を結んだ線分の方向の平均を接線方向とする。そして、この接線をx軸として、有向点のローカル座標系を定義している。
さらに、図5(b)に示されるように、有向点Piを表す為の特徴として当該有向点Piの周囲D内にある他の有向点Pjの分布パターンを用いる。そして、これをPiの並進回転について不変になるように変換し、更にハフ変換によって圧縮したものをシグネチャと称している。このシグネチャを調べれば、入力図形と参照図形の相対姿勢を問わずに、両者を構成する有向点の照合をすることができる。
以下、図2のフローチャートを参照して、本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法の一部であるシグネチャ生成の処理について詳細に説明する。ここでは、一例として、有向点Piに対するシグネチャ生成に関する一例の処理の流れを説明する。
まず、有向点Piの周囲で所定の範囲内にあるPi以外の有向点の集合を取り出し、配列変数NBに保存する(ステップS11)。次いで、この配列変数NBから有向点を1つ取り出し、これをPjとする(ステップS12)。そして、有向点Pjを有向点Piのローカル座標系での値に変換する(ステップS13)。前述したように、有向点Piのローカル座標系は、有向点Piの位置を原点とし、接線方向をx軸とするので、これを基に、有向点Pjのx座標値、y座標値、及び接線方向を有向点Piのローカル座標系に変換する。こうして変換した有向点Pjは、有向点Piの座標系の並進回転に対して不変になる。
続いて、この分布パターンを圧縮する。有向点は本質的には直線であるので、これをハフ変換して、ハフ空間に点として投票する(ステップS14)。ここで、ハフ空間は適当な間隔で離散化しておく。そして、配列変数NBに含まれる全ての有向点が取り出されたかを調べる(ステップS15)。全有向点の処理が終了すると、ハフ空間(p,θ)上に投票パターンが生成される。そこで、この投票パターンの中で投票数の多いハフ空間点を上位からN個取り出す(ステップS16)。このN個の点がシグネチャとなる。
例えば、Piのシグネチャを、
i={gij=(qij,wij)|1≦j≦N}
と定義する。qijはハフ空間点(pij,θij)、wijはその点の投票数である。
以上の処理を、参照図形の各有向点、または入力図形の各有向点に対して行う。求めたシグネチャは、図4の有向点のデータ構造のシグネチャフィールドに格納される。
このようにして生成されたシグネチャは、有向点の並進回転に不変であるので、シグネチャが一致するかどうかを調べれば、入力図形と参照図形の相対姿勢を問わずに、両図形の照合ができる。また、後述するように、シグネチャは有向点のインデックスとしても用いられる。また、従来技術に係る幾何学的ハッシュ法では、曲率極大点等の疎な特徴点を使っていたため、Pjの分布パターンをそのまま用いていた。
この点、本発明の一実施の形態では、多数の有向点を使う為、有向点Pjの分布パターンをそのまま用いるとデータ量が多くなる。そこで、本発明の一実施の形態では、ハフ変換を用いて圧縮することで、データ量を大幅に減らしている。
これにより、データ量を増やさずに、多数の有向点を用いて統計的に処理することが可能となり、ひいては、効率よくマッチングの安定性を高める事が可能となる。これは直線の多い図形に特に有効に働くが、ハフ空間を離散化しているので、曲線の場合でも折れ線近似したように圧縮される。
(インデックステーブルへの登録)
次に図1のステップS2に関係するインデックステーブルへの登録について詳述する。
本実施の形態の線図形マッチング方法では、上記のように生成されたシグネチャを用いて、有向点をインデックステーブルに登録する。先ず、ハフ空間を2次元のグリッドに離散化し、配列等のデータ構造を用いてインデックステーブルを構成する。
ここで、図6は、インデックステーブルの一例を示したものである。このインデックステーブルは、ハフ空間を2次元のグリッドに区分したものであり、有向点PiのシグネチャGiがハフ空間点qijをもつとき、この点に対応するインデックステーブルのエントリにPiを登録する。マッチングの際には、入力図形の有向点Pkのシグネチャを構成するハフ空間点qkjのエントリに登録された有向点だけを比較対象にすればよいので、全ての有向点の組合せを調べる必要がなく効率がよい。
(大域マッチング)
次に図1のステップS4に関係する大域マッチングについて詳述する。
本実施の形態の線図形マッチング方法では、入力図形と参照図形の大域マッチングを両図形の各有向点のシグネチャを比較することで行っている。
以下、図3のフローチャートを参照して、本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法に係る大域マッチングの処理の流れを詳細に説明する。
まず、入力図形の有向点を配列変数CPに格納する(ステップS21)。次に、配列変数CPから有向点を1つ取り出し、Pkとする(ステップS22)。そして、有向点Pkのシグネチャの要素を1つ取り出し、gkmとする(ステップS23)。次いで、シグネチャgkmに対応するエントリをインデックステーブルから取り出し、idxとする(ステップS24)。前述したように、gkmはハフ空間点と投票数の組(qkm,wkm)で構成されるが、ハフ空間点qkmの座標値によりインデックステーブルのエントリを求める。
次いで、idxに含まれる各有向点の累積個数をカウントする(ステップS25)。より具体的には、例えば各有向点毎にカウンタを用意し、idxに有向点Pjが含まれたら有向点Pjのカウンタを1つ増やす。Pkのシグネチャの全ての要素gkmについてステップS23からステップS25の処理を繰り返す(ステップS26)。
続いて、累積個数がM個以上の有向点を取り出し、配列変数BPに格納する(ステップS27)。ここで、Mは所定の閾値である。尚、各有向点の累積個数のカウンタは、ステップS22で取り出す有向点Pk毎にリセットする。
次いで、配列変数BPから有向点Piを取り出す(ステップS28)。そして、有向点Pkと有向点Piのシグネチャの相関C(Pk,Pi)を計算する。相関C(Pk,Pi)は、例えば次式に基づいて計算する(ステップS29)。
Figure 0004320439
次いで、この相関値が所定の閾値V以上かどうかを調べる(ステップS30)。
そして、このステップS30にて、相関値がV以上ならば、PkとPiはマッチしたとみなし、PkとPiの相対位置姿勢を計算し、計算結果を配列変数PSに格納する(ステップS31)。PkとPiの相対位置姿勢は、両者の位置と接線方向から求める。即ち、相対位置は両者の位置の差、相対姿勢は両者の接線方向の差である。この処理を、配列変数BP内の全ての有向点について繰り返す(ステップS32)。
次いで、配列変数CP内の全ての有向点について、ステップS22からステップS32までの処理を繰り返す(ステップS33)。そして、配列変数PSに格納した相対位置姿勢をクラスタリングする(ステップS34)。即ち、位置と方向について、適当な範囲内にあるものを1つのクラスタとしてまとめる。そして、要素数が所定の閾値T個以上のクラスタを選ぶ。このクラスタが表す相対位置姿勢を、入力図形と参照図形がマッチする並進量と回転量の候補とする(ステップS35)。
(詳細マッチング)
次に図1のステップS5に関係する詳細マッチングについて詳述する。
本実施の形態に係る線図形マッチング方法では、大域マッチングで得た姿勢候補に対して、入力図形と参照図形の間で対応する有向点の位置の二乗誤差の和が最小になるように最適化を行う。この方法としては、公知の種々の技術を採用し得る。
ここでは、その一例の概要を述べる。
まず、大域マッチングで得られた並進量と回転量をもとに、入力図形を参照図形と同じ座標系に変換する。この変換をした後は、大域マッチングの効果により、入力図形と参照図形は非常に近い位置姿勢になっており、公知のICP(Iteractive Closest Point)等の当てはめ法が利用できる。
次に、入力図形の各有向点Pに対して、もっとも近い参照図形の有向点Qを求めて、PとQが対応すると見なし、両者の距離の二乗を計算する。そして、この二乗距離(二乗誤差)の和がよく減少する並進量と回転量を、勾配法やモンテカルロ法で求める。この処理を繰り返して、二乗誤差の和が最小となる並進量と回転量を求める。
一般に、大域マッチングでは複数の候補が得られる。上記の最適化の過程で、複数の候補が所定の閾値よりも近づいた場合は、両者を統合する。また、他の候補より著しく二乗誤差が大きいものは削除する。このようにして残った候補を最終解とする。この時点でも複数の候補が残ることがあるが、最終的にどれを採用するかは、他の要因を考慮して応用側で決めればよく、本発明の特徴事項ではない。
以上記述したように、本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法によれば、特徴点として線図形上の有向点を用いる為、曲率の極大点や線分の交差点等を用いる従来の幾何学的ハッシュ法に比べて、特徴点の抽出処理が容易である。また、有向点は多数抽出できるので、一部が欠落してもマッチングに失敗する可能性が低くなる。
また、本発明の一実施の形態は、従来の幾何学的ハッシュ法に比べて、直線の多い単純図形に特に効果がある。これは、有向点をハフ変換で圧縮したシグニチャを用いているので、直線の多い図形は特に効率よくマッチングできる為である。
また、従来の幾何学的ハッシュ法では、滑らかな曲線からなる図形や直線の多い単純図形では、特徴点の個数が少なくなり、安定性が悪くなるのに対して、本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法では、図形形状によらず有向点が多数得られるので、極端に単純な図形でない限り、安定したマッチングが実現できる。
また、ユークリッド不変量を1個の有向点で構成できる為、2個の特徴点の組を用いる従来の幾何学的ハッシュ法に比べ、計算量のオーダーが小さくなる。
以上、本発明の実施の形態について説明したが、前述した線図形マッチング方法は、例えば図7に示されるような画像処理装置により実施可能である。
図7に示されるように、この画像処理装置1は、制御部2と入力部3、記憶部4、データベース(以下、DBと称する)5からなる。そして、制御部2は、前述したような線図形マッチング方法に係る処理を実行するものであり、シグネチャ生成機能2a、インデックステーブル登録機能2b、大域マッチング機能2c、詳細マッチング機能2d等を有している。入力部3は、対象物100の入力図形の入力を受け、制御部2に送るものである。例えば、対象物100を撮像して入力図形の情報を得るような場合には、撮像回路や画像処理回路等も含まれる。記憶部4は、制御部2の各種機能2a乃至2dにより演算をなす場合に、各種情報を一時記憶する。DB5には、前述したインデックステーブルや参照図形の情報等が蓄積されている。
このような構成において、シグネチャ生成機能2aは、参照図形から有向点を抽出して各有向点のシグネチャを生成する。インデックステーブル登録機能2bは、生成されたシグネチャに基づいて有向点をDB5のインデックステーブルに登録する。シグネチャ生成機能2aは、入力図形から有向点を抽出して各有向点のシグネチャを生成する。大域マッチング機能2cは、この生成されたシグネチャを用いて入力図形と参照図形との間で大域マッチングを行う。詳細マッチング機能2dは、大域マッチングで得られた各候補に対して入力図形と参照図形のずれが最小となるように詳細マッチングを行う。上記各処理の詳細については、前述した通りである。以上の他、上記各機能2a乃至2dは、コンピュータが前述したような機能2a乃至2dを実行するためのコンピュータプログラムとのカテゴリでも成立し得ることは勿論である。
本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法の処理手順の一例を示すフローチャート。 本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法の処理に含まれる1個の有向点のシグネチャの生成手順の一例を示すフローチャート。 本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法の処理に含まれる入力図形と参照図形の大域マッチングの処理手順の一例を示すフローチャート。 有向点のデータ構造の一例を示す図。 有向点とその特徴を表す分布パターンを示す概念図。 インデックステーブルの構成例を示す図。 本発明の一実施の形態に係る線図形マッチング方法を実施する画像処理装置の構成例を示す図。
符号の説明
1・・・画像処理装置、2・・・制御部、2a・・・シグネチャ生成機能、2b・・・インデックステーブル登録機能、2c・・・大域マッチング機能、2d・・・詳細マッチング機能、3・・・入力部、4・・・記憶部、2a・・・シグネチャ生成機能、2b・・・インデックステーブル登録機能、2c・・・大域マッチング機能、2d・・・詳細マッチング機能、5・・・DB、S1〜S5、S11〜S16、S21〜S35・・・処理手順のステップ。

Claims (1)

  1. 参照図形に対して、その線分又は点列で構成される二次元図形上において所定の間隔で選択した複数の点と、当該複数の点にそれぞれ接する接線ベクトルとにより表される複数の有向点Piを定義する過程と、
    前記複数の有向点Piの各々について、当該有向点Piの周囲で所定範囲内に位置する他の有向点Pjの集合を取り出して、この取り出された他の有向点Pjの各々を前記有向点Piの接線ベクトルにより定義されるローカル座標系の座標値に変換し、このローカル座標系の座標値に変換された他の有向点Pjの各々をハフ変換して離散化したハフ空間に投票し、当該ハフ空間から投票数が多いハフ空間点を所定数取り出して、この取り出した所定数の点を前記有向点PiのシグネチャGiとして当該有向点Piに対応付けて記憶する過程と、
    ハフ空間を二次元グリッドに区分したインデックステーブルに、前記生成されたシグネチャGiをもとに前記有向点Piを登録する過程と、
    入力図形に対して、その線分又は点列で構成される二次元図形上において所定の間隔で選択した複数の点と、当該複数の点にそれぞれ接する接線ベクトルとにより表される複数の有向点Pkを定義する過程と、
    前記複数の有向点Pkの各々について、当該有向点Pkの周囲で所定範囲内に位置する他の有向点Pjの集合を取り出して、この取り出された他の有向点Pjの各々を前記有向点Pkの接線ベクトルにより定義されるローカル座標系の座標値に変換し、このローカル座標系の座標値に変換された他の有向点Pjの各々をハフ変換して離散化したハフ空間に投票し、当該ハフ空間から投票数が多いハフ空間点を所定数取り出して、この取り出した所定数の点を前記有向点Pkのシグネチャとする過程と、
    前記有向点Pkのシグネチャと前記インデックステーブルに登録された有向点PiのシグネチャGiとを比較することにより、入力図形と参照図形とがマッチする相対位置姿勢の候補を求める過程と、
    前記求められた相対位置姿勢の候補に対し、入力図形と参照図形との間で対応する有向点の位置の二乗誤差の和を求め、この二乗誤差の和をもとに前記候補の中から最適な候補を選択する過程と
    を具備することを特徴とする線図形マッチング方法。
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