JP4314956B2 - Electronic device, information signal processing method therefor, program for executing the processing method, and information signal processing apparatus to which the program is connected - Google Patents

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Description

この発明は、第1の情報信号に対してこの第1の情報信号に対応した所定の情報信号に基づいて予め生成された所定のデータを用いた処理を行って第2の情報信号を得る情報信号処理装置に、取り外し可能に接続されて用いられる電子機器、それにおける情報信号処理方法、その処理方法を実行させるためのプログラム、およびそれが接続される情報信号処理装置に関する。   The present invention provides information for obtaining a second information signal by performing processing on the first information signal using predetermined data generated in advance based on a predetermined information signal corresponding to the first information signal. The present invention relates to an electronic device that is used by being detachably connected to a signal processing device, an information signal processing method therefor, a program for executing the processing method, and an information signal processing device to which the electronic signal processing device is connected.

詳しくは、この発明は、第1の情報信号の所定期間分毎に、この第1の情報信号から抽出された特徴量および所定の情報信号の特徴量に基づいて、第1の情報信号に対する所定のデータを用いた処理の適合性を判定し、少なくとも不適合であると判定された所定期間分の第1の情報信号またはその加工情報を順次記憶し、またこの記憶情報に基づいて、不適合と判定されて記憶された第1の情報信号またはその加工情報が所定量になったか否かを判定することによって、バージョンアップ開発に有効な第1の情報信号またはその加工情報が充分に記憶された状態でユーザに交換、回収を通知できるようにした電子機器等に係るものである。   Specifically, according to the present invention, the predetermined amount for the first information signal is determined based on the feature amount extracted from the first information signal and the feature amount of the predetermined information signal every predetermined period of the first information signal. The suitability of the process using the data is determined, and at least the first information signal or its processing information for a predetermined period determined to be nonconforming is sequentially stored, and based on this stored information, the nonconformity is determined. The first information signal or its processing information effective for version upgrade development is sufficiently stored by determining whether or not the first information signal stored and the processing information has reached a predetermined amount. This relates to an electronic device or the like that can notify the user of replacement and collection.

近年、オーディオ・ビジュアル指向の高まりから、より高解像度の画像を得ることができるようなテレビ受信機の開発が望まれ、この要望に応えて、いわゆるハイビジョンが開発された。ハイビジョンの走査線は、NTSC方式の走査線数が525本であるのに対して、2倍以上の1125本である。また、ハイビジョンの縦横比は、NTSC方式の縦横比が3:4であるのに対して、9:16となっている。このため、ハイビジョンでは、NTSC方式に比べて、高解像度で臨場感のある画像を表示することができる。   In recent years, the development of television receivers capable of obtaining higher-resolution images has been desired due to the increase in audio / visual orientation, and so-called high-vision has been developed in response to this demand. The number of high-definition scanning lines is 1125, which is more than twice the number of NTSC scanning lines, which is 525. The aspect ratio of the high-definition television is 9:16, whereas the aspect ratio of the NTSC system is 3: 4. For this reason, high-definition images can be displayed with a higher resolution and presence than in the NTSC system.

ハイビジョンはこのように優れた特性を有するが、NTSC方式の画像信号をそのまま供給しても、ハイビジョンによる画像表示を行うことはできない。これは、上述のようにNTSC方式とハイビジョンとでは規格が異なるからである。   Hi-vision has such excellent characteristics, but even if an NTSC image signal is supplied as it is, high-definition image display cannot be performed. This is because the standards differ between the NTSC system and the high vision as described above.

そこで、本出願人は、先に、NTSC方式の画像信号に応じた画像をハイビジョン方式で表示するため、NTSC方式の画像信号をハイビジョンの画像信号に変換するための変換装置を提案した(特許文献1参照)。   Accordingly, the present applicant has previously proposed a conversion device for converting an NTSC image signal into a high-definition image signal in order to display an image corresponding to the NTSC image signal in a high-definition method (Patent Literature). 1).

この変換装置では、NTSC方式の画像信号から、ハイビジョンの画像信号の注目位置の画素データに対応する所定領域の画素データを抽出し、この所定領域の画素データのレベル分布パターンに基づいて、上述の注目位置の画素データの属するクラスを決定し、このクラスに対応して、上述の注目位置の画素データを生成するようになっている。   In this conversion apparatus, pixel data of a predetermined area corresponding to pixel data at a target position of a high-definition image signal is extracted from an NTSC image signal, and based on the level distribution pattern of the pixel data of the predetermined area, the above-described pixel data is extracted. The class to which the pixel data of the target position belongs is determined, and the pixel data of the target position is generated corresponding to this class.

特開平8−51599号公報JP-A-8-51599

しかし、上述した特許文献1に記載される変換装置においては、所定の画像信号を用いて予め生成された推定式の係数データを用い、推定式に基づいて注目位置の画素データを生成する。この場合、実際に処理される画像信号が上述の所定の画像信号と異なる質を持つときには、上述した係数データを用いた演算処理によって注目位置の画素データを良好に生成できなくなる。   However, in the conversion device described in Patent Document 1 described above, pixel data of the target position is generated based on the estimation formula using coefficient data of the estimation formula generated in advance using a predetermined image signal. In this case, when the image signal to be actually processed has a quality different from that of the predetermined image signal, the pixel data of the target position cannot be generated satisfactorily by the arithmetic processing using the coefficient data.

そこで、この変換装置に、取り外し可能に電子機器を接続し、この電子機器内の記憶媒体に、上述したように所定の画像信号と異なる質を持つ画像信号が入力されて処理される場合、その画像信号を不適合な画像信号として記憶しておき、バージョンアップ時に例えば上述した推定式の係数データを得る際に利用することが考えられる。   Therefore, when an electronic device is detachably connected to the conversion device, and an image signal having a quality different from a predetermined image signal is input to the storage medium in the electronic device and processed, It is conceivable that the image signal is stored as an incompatible image signal and used when obtaining the coefficient data of the above-described estimation formula at the time of version upgrade.

しかし、ユーザは、何時その電子機器を交換、回収するべきか通常分からない。この電子機器を交換、回収することがいつでも可能であったとしても、質、量共に意味のある画像信号が記憶されていなければその電子機器を交換、回収する意味がない。   However, the user usually does not know when to replace and retrieve the electronic device. Even if it is possible to replace and collect the electronic device at any time, there is no point in replacing and collecting the electronic device unless a meaningful image signal is stored in both quality and quantity.

この発明の目的は、バージョンアップ開発に有効な情報信号が充分に記憶された状態でユーザに交換、回収を通知できるようにすることにある。   An object of the present invention is to enable a user to be notified of exchange and collection in a state where information signals effective for version upgrade development are sufficiently stored.

この発明に係る電子機器は、第1の情報信号に基づいて、当該第1の情報信号より多い画素数の第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第1の情報データを選択する第1のデータ選択手段と、この第1のデータ選択手段で選択された複数の第1の情報データに基づいて、第1の特徴量を抽出する第1の特徴量抽出手段と、この第1の特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に基づいて、第2の情報信号における注目位置の情報データが属するクラスを検出するクラス検出手段と、この第1の情報信号に基づいて、第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第2の情報データを選択する第2のデータ選択手段と、この第2のデータ選択手段で選択された複数の第2の情報データと、所定のデータである、または該所定のデータを用いて得られた、クラス検出手段で検出されたクラスの推定式で用いられる係数データとを用い、推定式に基づいて第2の情報信号における注目位置の情報データを算出して得る演算手段とを有する情報信号処理装置に取り外し可能に接続され、上記第1の特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に対応した第2の特徴量および該第2の特徴量とは異なる第3の特徴量を抽出する第の特徴量抽出手段と、この第1の情報信号の一定期間または不定期間毎に、第の特徴量抽出手段で抽出された第2の特徴量から検出されるクラス毎の、第3の特徴量の頻度分布を示す第1の情報および所定の情報信号に係る該第1の情報に対応した第2の情報に基づいて各クラスの頻度分布の相関係数を求め、該相関係数に基づいて各クラスにおける情報信号処理装置における係数データを用いた処理の適合性を判定する適合性判定手段と、少なくとも適合性判定手段で不適合であると判定された所定期間分の第1の情報信号または当該第1の情報信号の第3の特徴量の頻度分布を示す加工情報を順次記憶する第1の記憶手段と、この第1の記憶手段に記憶された情報に基づいて、該第1の記憶手段に記憶された不適合と判定された第1の情報信号または加工情報が所定量になったか否かを判定する情報量判定手段とを備えるものである。例えば、この電子機器は、さらに所定のデータが記憶された第2の記憶手段をさらに備える。 The electronic apparatus according to the present invention selects , based on the first information signal, a plurality of first information data located around the position of interest in the second information signal having a larger number of pixels than the first information signal. First data selection means for extracting, based on the plurality of first information data selected by the first data selection means, first feature quantity extraction means for extracting the first feature quantity, Based on the first feature quantity extracted by the one feature quantity extraction means, class detection means for detecting the class to which the information data of the position of interest in the second information signal belongs, and on the basis of the first information signal , Second data selection means for selecting a plurality of second information data located around the position of interest in the second information signal, and a plurality of second information data selected by the second data selection means And the predetermined data, Using the coefficient data used in the estimation formula of the class detected by the class detection means obtained using the predetermined data, the information data of the position of interest in the second information signal is calculated based on the estimation formula is removably connected to the information signal processing equipment and a calculation means may be, the first second corresponding to the feature quantity features and the second extracted in the first feature extraction means a second feature extraction means for extracting a third feature amount that is different from the characteristic quantity, each between a period of time or occasional the first information signal, first extracted by the second feature extraction means 2 For each class based on the first information indicating the frequency distribution of the third feature quantity for each class detected from the feature quantity and the second information corresponding to the first information related to the predetermined information signal Obtain the correlation coefficient of the frequency distribution, and based on the correlation coefficient, And determining conformity judging unit compatibility processing using the coefficient data in the information signal processing apparatus in Las, the first information signal or the predetermined period which is determined to be incompatible with at least conformity judging unit first Based on the information stored in the first storage means, the first storage means for sequentially storing the processing information indicating the frequency distribution of the third feature amount of one information signal, the first storage means And an information amount determining means for determining whether or not the stored first information signal or processing information determined to be nonconforming has reached a predetermined amount. For example, the electronic apparatus further includes a second storage unit that stores predetermined data.

この発明に係る電子機器における情報信号処理方法は、第1の情報信号に基づいて、当該第1の情報信号より多い画素数の第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第1の情報データを選択する第1のデータ選択手段と、第1のデータ選択手段で選択された複数の第1の情報データに基づいて、第1の特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に基づいて、第2の情報信号における注目位置の情報データが属するクラスを検出するクラス検出手段と、第1の情報信号に基づいて、第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第2の情報データを選択する第2のデータ選択手段と、第2のデータ選択手段で選択された複数の第2の情報データと、所定のデータである、または該所定のデータを用いて得られた、クラス検出手段で検出されたクラスの推定式で用いられる係数データとを用い、推定式に基づいて第2の情報信号における注目位置の情報データを算出して得る演算手段とを有する情報信号処理装置に、取り外し可能に接続されて用いられる電子機器が、特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に対応した第2の特徴量および該第2の特徴量とは異なる第3の特徴量を抽出する特徴量抽出ステップと、この第1の情報信号の一定期間または不定期間毎に、特徴量抽出手段で抽出された第2の特徴量から検出されるクラス毎の、第3の特徴量の頻度分布を示す第1の情報および所定の情報信号に係る該第1の情報に対応した第2の情報に基づいて各クラスの頻度分布の相関係数を求め、該相関係数に基づいて各クラスにおける情報信号処理装置における係数データを用いた処理の適合性を判定する適合性判定ステップと、少なくとも適合性判定ステップで不適合であると判定された所定期間分の第1の情報信号または当該第1の情報信号の第3の特徴量の頻度分布を示す加工情報を順次記憶する記憶ステップと、この記憶ステップで記憶された情報に基づいて、該記憶ステップで記憶された不適合と判定された第1の情報信号または加工情報が所定量になったか否かを判定する情報量判定ステップとを有するものである。 The information signal processing method in the electronic device according to the present invention is based on the first information signal, and a plurality of first signals positioned around the target position in the second information signal having a larger number of pixels than the first information signal. First data selection means for selecting the information data, feature quantity extraction means for extracting the first feature quantity based on the plurality of first information data selected by the first data selection means, and feature Based on the first feature quantity extracted by the quantity extraction means, class detection means for detecting the class to which the information data of the target position in the second information signal belongs, and on the basis of the first information signal, the second information signal Second data selection means for selecting a plurality of second information data located around the position of interest in the information signal; a plurality of second information data selected by the second data selection means; and predetermined data Or the Using the coefficient data used in the estimation equation of the class detected by the class detection means obtained using the constant data, and calculating the information data of the position of interest in the second information signal based on the estimation equation obtaining the information signal processing apparatus having an arithmetic unit, an electronic device used by being detachably connected to a second corresponding to the first feature extracted by the feature amount extraction unit features and the second a feature amount extraction step of extracting a different third feature quantity and the feature quantity for each between a period of time or occasional the first information signal is detected from the second feature amounts extracted by the feature extraction means Correlation coefficient of frequency distribution of each class based on the first information indicating the frequency distribution of the third feature amount for each class and the second information corresponding to the first information relating to the predetermined information signal And based on the correlation coefficient A conformity judging step of determining the suitability of treatment with the coefficient data in the information signal processing apparatus according to class, the first information signal or the predetermined period which is determined to be incompatible with at least conformity judging step the A storage step for sequentially storing the processing information indicating the frequency distribution of the third feature amount of the one information signal , and the non-conformity determined in the storage step based on the information stored in the storage step. And an information amount determination step for determining whether or not one information signal or processing information has reached a predetermined amount.

また、この発明に係るプログラムは、上述の電子機器における情報信号処理方法をコンピュータに実行させるためのものである。   A program according to the present invention is for causing a computer to execute the information signal processing method in the electronic device described above.

この発明においては、第1の情報信号の特徴量が抽出される。この第1の情報信号の所定期間分毎に、抽出された特徴量、および所定のデータを生成する際に用いられた所定の情報信号の特徴量に基づいて、第1の情報信号に対する所定のデータを用いた処理の適合性が判定される。例えば、上述した処理の適合性を判定する所定期間分の第1の情報信号は、一定期間おきのものとされ、あるいは不定期のものとされる。   In the present invention, the feature amount of the first information signal is extracted. Based on the extracted feature amount and the feature amount of the predetermined information signal used when generating the predetermined data for each predetermined period of the first information signal, a predetermined amount for the first information signal is determined. The suitability of the processing using the data is determined. For example, the first information signal for a predetermined period for determining the suitability of the processing described above is set at regular intervals, or is set irregularly.

そして、少なくとも不適合であると判定された所定期間分の第1の情報信号またはその加工情報が順次記憶され、記憶された情報に基づいて、不適合と判定されて記憶された第1の情報信号またはその加工情報が所定量となったか否かが判定される。   Then, at least the first information signal for a predetermined period determined to be nonconforming or the processing information thereof are sequentially stored, and based on the stored information, the first information signal determined to be nonconforming and stored It is determined whether or not the processing information has reached a predetermined amount.

例えば、この判定結果に基づいて、不適合と判定されて記憶された第1の情報信号またはその加工情報が所定量となったことが、ユーザに通知される。なお、この通知は、情報信号処理装置側で行ってもよい。これにより、バージョンアップ開発に有効な第1の情報信号またはその加工情報が充分に記憶された状態でユーザに交換、回収を通知できる。   For example, based on the determination result, the user is notified that the first information signal determined to be nonconforming or the processed information thereof has reached a predetermined amount. This notification may be performed on the information signal processing device side. This makes it possible to notify the user of replacement and collection in a state where the first information signal effective for version upgrade development or its processing information is sufficiently stored.

この場合、第1の特徴量抽出手段は、第2の特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に対応した第2の特徴量およびこの第2の特徴量とは異なる第3の特徴量を抽出し、適合性判定手段は、第1の情報信号の所定期間分毎に、第2の特徴量から検出されるクラス毎の、第3の特徴量の頻度分布を示す第1の情報および所定の情報信号に係るこの第1の情報に対応した第2の情報に基づいて各クラスの頻度分布の相関係数を求め、この相関係数に基づいて各クラスにおける上記情報信号処理装置における上記係数データを用いた処理の適合性を判定する。   In this case, the first feature quantity extraction unit includes a second feature quantity corresponding to the first feature quantity extracted by the second feature quantity extraction unit and a third feature different from the second feature quantity. The first information indicating the frequency distribution of the third feature value for each class detected from the second feature value for each predetermined period of the first information signal. And a correlation coefficient of the frequency distribution of each class based on the second information corresponding to the first information relating to the predetermined information signal, and the information signal processing device in each class based on the correlation coefficient The suitability of processing using the coefficient data is determined.

また例えば、第1の記憶手段は、各所定期間分の第1の情報信号またはその加工情報の他に、この各所定期間分の第1の情報信号またはその加工情報に関連して、第2の特徴量から検出される各クラスの頻度の情報、第1の情報および第2の情報に基づいて求められた各クラスの頻度分布の相関係数、およびこの相関係数を用いて判定された各クラスの適合性の判定結果を記憶し、情報量判定手段は、第1の記憶手段に記憶された各所定期間分の頻度の情報、相関係数および適合性の判定結果に基づいて、この第1の記憶手段に記憶された、不適合と判定された第1の情報信号またはその加工情報が所定量となったか否かを判定する。   In addition, for example, the first storage means includes, in addition to the first information signal for each predetermined period or the processed information thereof, the second information signal for the predetermined period or the processed information, The frequency information of each class detected from the feature amount of the first class, the correlation coefficient of the frequency distribution of each class determined based on the first information and the second information, and the correlation coefficient The conformity determination result of each class is stored, and the information amount determination means is based on the frequency information for each predetermined period, the correlation coefficient, and the conformity determination result stored in the first storage means. It is determined whether or not the first information signal determined to be incompatible or the processing information stored in the first storage means has reached a predetermined amount.

また例えば、情報信号処理装置は、第2の情報信号によって得られる出力の質を定めるパラメータの値が入力されるパラメータ入力手段をさらに有し、所定データとして、クラス毎に求められた、推定式で用いられる係数データを生成するパラメータを含む生成式における係数データである係数種データを格納する第2の記憶手段をさらに備える。そして例えば、第1の記憶手段は、各処理期間分の第1の情報信号の他に、この所定期間分の第1の情報信号に関連して、パラメータの値を記憶する。このようにパラメータの値を記憶しておくことで、バージョンアップ時にこのパラメータの値を用いた処理を行うことができる。   Further, for example, the information signal processing apparatus further includes parameter input means for inputting a parameter value that determines the quality of the output obtained by the second information signal, and the estimation formula obtained for each class as the predetermined data. 2 further includes second storage means for storing coefficient seed data which is coefficient data in a generation formula including a parameter for generating coefficient data used in the above. For example, the first storage unit stores the parameter value in association with the first information signal for the predetermined period in addition to the first information signal for each processing period. By storing the parameter value in this way, it is possible to perform processing using this parameter value at the time of version upgrade.

また、この発明に係る情報信号処理装置は、第1の情報信号に対して、この第1の情報信号に対応した所定の情報信号に基づいて予め生成された所定のデータを用いた処理を行って第2の情報信号を得る情報信号処理装置であって、上述した電子機器を取り外し可能に接続する基板接続部を有するものである。この発明においては、バージョンアップ時に、電子機器の交換、回収を行って、その電子機器に記憶されている第1の情報信号またはその加工情報を用いた処理を行うことができる。   In addition, the information signal processing apparatus according to the present invention performs a process on the first information signal using predetermined data generated in advance based on a predetermined information signal corresponding to the first information signal. An information signal processing apparatus for obtaining a second information signal has a board connecting part for detachably connecting the electronic device described above. In the present invention, at the time of version upgrade, the electronic device can be exchanged and collected, and processing using the first information signal stored in the electronic device or processing information thereof can be performed.

この発明によれば、第1の情報信号の所定期間分毎に、この第1の情報信号から抽出された特徴量および所定の情報信号の特徴量に基づいて、第1の情報信号に対する所定のデータを用いた処理の適合性を判定し、少なくとも不適合であると判定された所定期間分の第1の情報信号またはその加工情報を順次記憶し、またこの記憶情報に基づいて、不適合と判定されて記憶された第1の情報信号またはその加工情報が所定量になったか否かを判定するものであり、バージョンアップ開発に有効な第1の情報信号またはその加工情報が充分に記憶された状態でユーザに交換、回収を通知できる。   According to the present invention, the predetermined amount for the first information signal is determined for each predetermined period of the first information signal based on the feature amount extracted from the first information signal and the feature amount of the predetermined information signal. The suitability of the processing using the data is determined, and at least the first information signal or the processing information for a predetermined period determined to be nonconforming is sequentially stored, and based on this stored information, the nonconforming is determined. The first information signal stored or the processing information thereof is determined whether or not a predetermined amount, and the first information signal or the processing information effective for version upgrade development is sufficiently stored Can notify the user of replacement and collection.

以下、図面を参照しながら、この発明の実施の形態について説明する。図1は、実施の形態としてのテレビ受信機10の構成を示している。
このテレビ受信機10は、チューナ12で受信される放送信号、すなわち、525i信号というSD(Standard Definition)信号を、1050i信号というHD(High Definition)信号に変換し、このHD信号による画像を表示する機能を持っている。ここで、525i信号は、ライン数が525本でインタレース方式の画像信号であり、1050i信号はライン数が1050本でインタレース方式の画像信号である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows a configuration of a television receiver 10 as an embodiment.
The television receiver 10 converts a broadcast signal received by the tuner 12, that is, an SD (Standard Definition) signal called a 525i signal into an HD (High Definition) signal called a 1050i signal, and displays an image based on the HD signal. Has function. Here, the 525i signal is an interlaced image signal having 525 lines, and the 1050i signal is an interlaced image signal having 1050 lines.

図2は、525i信号および1050i信号のあるフレーム(F)の画素位置関係を示すものであり、奇数(o)フィールドの画素位置を実線で示し、偶数(e)フィールドの画素位置を破線で示している。大きなドットが525i信号の画素であり、小さいドットが1050i信号の画素である。図2から分かるように、1050i信号の画素データとしては、525i信号のラインに近い位置のラインデータL1,L1′と、525i信号のラインから遠い位置のラインデータL2,L2′とが存在する。ここで、L1,L2は奇数フィールドのラインデータ、L1′,L2′は偶数フィールドのラインデータである。また、1050i信号の各ラインの画素数は、525i信号の各ラインの画素数の2倍である。   FIG. 2 shows the pixel position relationship of a frame (F) in which a 525i signal and a 1050i signal are present. The pixel position of an odd (o) field is indicated by a solid line, and the pixel position of an even (e) field is indicated by a broken line. ing. Large dots are pixels of 525i signal, and small dots are pixels of 1050i signal. As can be seen from FIG. 2, the pixel data of the 1050i signal includes line data L1 and L1 ′ at positions close to the line of the 525i signal and line data L2 and L2 ′ at positions far from the line of the 525i signal. Here, L1 and L2 are line data of odd fields, and L1 'and L2' are line data of even fields. The number of pixels in each line of the 1050i signal is twice the number of pixels in each line of the 525i signal.

このテレビ受信機10においては、内部バス11を介して、チューナ12、デコーダ13、CPU(Central Processing Unit)14、RAM(Random Access Memory)15、ROM(Read Only Memory)16、DRC(Digital Reality Creation)回路17、および入出力インタフェース19が相互に接続されている他、必要に応じて、ドライブ20がさらに接続される。   In the television receiver 10, a tuner 12, a decoder 13, a CPU (Central Processing Unit) 14, a RAM (Random Access Memory) 15, a ROM (Read Only Memory) 16, a DRC (Digital Reality Creation) are connected via an internal bus 11. In addition to the circuit 17 and the input / output interface 19 being connected to each other, the drive 20 is further connected as necessary.

DRC回路17には、基板構造の電子機器である基板ベイ18が、取り外し可能に接続される。つまり、この基板ベイ18は、交換、回収が可能とされている。入出力インタフェース19には、受光部22、表示部24、HDD(Hard Disk Drive)25、操作部26が接続されている。   A board bay 18 which is an electronic device having a board structure is detachably connected to the DRC circuit 17. That is, the substrate bay 18 can be replaced and collected. A light receiving unit 22, a display unit 24, an HDD (Hard Disk Drive) 25, and an operation unit 26 are connected to the input / output interface 19.

ユーザがリモコン送信機23を操作して出力する光信号は、受光部22から入力される。また、ユーザは、操作部26を操作することで指令を入力することもできる。CPU14は、受信した指令に基づく処理を実行する。ユーザは、例えばリモコン送信機23を操作することにより、表示部24に表示される画像の画質を調整するためのパラメータr,zの値を入力できる。本実施の形態において、調整される画質は、例えば解像度およびノイズ抑圧度である。   An optical signal output by the user operating the remote control transmitter 23 is input from the light receiving unit 22. The user can also input a command by operating the operation unit 26. CPU14 performs the process based on the received instruction | command. The user can input the values of parameters r and z for adjusting the image quality of the image displayed on the display unit 24 by operating the remote control transmitter 23, for example. In the present embodiment, the image quality to be adjusted is, for example, resolution and noise suppression degree.

CPU14は、ROM16に記憶されているプログラム、または、HDD25からRAM15にロードされたプログラムに従って各種の処理を実行する。RAM15にはまた、CPU14が各種の処理を実行する上において必要なデータなどが適宜記憶される。HDD25は、CPU14が実行するOS(Operating Systems)やアプリケーションプログラムを格納する。   The CPU 14 executes various processes according to a program stored in the ROM 16 or a program loaded from the HDD 25 to the RAM 15. The RAM 15 also appropriately stores data necessary for the CPU 14 to execute various processes. The HDD 25 stores an OS (Operating Systems) executed by the CPU 14 and application programs.

CPU14は、ユーザの操作に基づいて、リモコン送信機23から赤外線信号RMが受光部22に入力されるか、または、ユーザにより操作部26に指令が入力されると、チューナ12に図示せぬ放送局からの放送信号を受信させ、デコーダ13にデコードさせる。デコーダ13は、デコードした放送信号に基づくSD信号(525i信号)を、内部バス11を介してDRC回路17に出力する。   When the infrared signal RM is input from the remote control transmitter 23 to the light receiving unit 22 or a command is input to the operation unit 26 by the user based on the user's operation, the CPU 14 performs a broadcast (not shown) on the tuner 12. The broadcast signal from the station is received and the decoder 13 decodes it. The decoder 13 outputs an SD signal (525i signal) based on the decoded broadcast signal to the DRC circuit 17 via the internal bus 11.

DRC回路17は、SD信号(525i信号)を受信し、このSD信号をHD信号(1050i信号)に変換する。この際、DRC回路17は、ユーザにより指令された、上述した解像度およびノイズ除去度のパラメータr,zの値に基づいて、それぞれHD信号による画像の解像度およびノイズ除去度を調整する。なお、DRC回路17およびこれに接続される基板ベイ18の構成例については、後述する。   The DRC circuit 17 receives the SD signal (525i signal) and converts the SD signal into an HD signal (1050i signal). At this time, the DRC circuit 17 adjusts the resolution of the image by the HD signal and the degree of noise removal based on the above-described values of the parameters r and z of the resolution and the degree of noise removal, which are instructed by the user. A configuration example of the DRC circuit 17 and the substrate bay 18 connected thereto will be described later.

DRC回路17で得られるHD信号は、内部バス11および入出力インタフェース19を介して、表示部24に出力される。表示部24は、このHD信号による画像を表示する。この表示部24は、例えばCRT(cathode-ray tube)ディスプレイ、あるいはLCD(liquid crystal display)、PDP(Plasma Display Panel)等で構成されている。   The HD signal obtained by the DRC circuit 17 is output to the display unit 24 via the internal bus 11 and the input / output interface 19. The display unit 24 displays an image based on the HD signal. The display unit 24 includes, for example, a CRT (cathode-ray tube) display, an LCD (liquid crystal display), a PDP (Plasma Display Panel), or the like.

内部バス11は、必要に応じてドライブ20に接続され、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、あるいは半導体メモリなどによりなるリムーバブルメディア21が適宜装着され、それから読み出されたコンピュータプログラムが、必要に応じてHDD25にインストールされる。   The internal bus 11 is connected to the drive 20 as necessary, and a removable medium 21 composed of a magnetic disk, an optical disk, a magneto-optical disk, or a semiconductor memory is appropriately mounted, and a computer program read therefrom is read as necessary. Installed in the HDD 25.

図1に示すテレビ受信機10の動作を説明する。
チューナ12で受信される放送信号は内部バス11を介してデコーダ13に供給される。デコーダ13では、チューナ12からの放送信号に対して復号化処理、誤り訂正処理等が施され、この放送信号に基づくSD信号(525i信号)が得られる。このデコーダ13で得られるSD信号は内部バス11を介してDRC回路17に供給される。
The operation of the television receiver 10 shown in FIG. 1 will be described.
Broadcast signals received by the tuner 12 are supplied to the decoder 13 via the internal bus 11. In the decoder 13, the broadcast signal from the tuner 12 is subjected to decoding processing, error correction processing, and the like, and an SD signal (525i signal) based on this broadcast signal is obtained. The SD signal obtained by the decoder 13 is supplied to the DRC circuit 17 via the internal bus 11.

DRC回路17では、デコーダ13からのSD信号をHD信号(1050i信号)に変換する処理が行われる。この場合、ユーザにより指令された、パラメータrの値およびパラメータzの値に基づいて、HD信号による画像の解像度およびノイズ除去度が調整される。   The DRC circuit 17 performs processing for converting the SD signal from the decoder 13 into an HD signal (1050i signal). In this case, the resolution of the image by the HD signal and the degree of noise removal are adjusted based on the value of the parameter r and the value of the parameter z instructed by the user.

このDRC回路17で得られるHD信号は、内部バス11および入出力インタフェース19を介して表示部24に供給される。そして、表示部24の画面上には、このHD信号による画像が表示される。   The HD signal obtained by the DRC circuit 17 is supplied to the display unit 24 via the internal bus 11 and the input / output interface 19. An image based on the HD signal is displayed on the screen of the display unit 24.

また、基板ベイ18では、例えばある期間おきに、DRC回路17で処理されるSD信号(525i信号)の適合性を判定し、少なくとも不適合である判定された所定期間分、本実施の形態においては1フィールド分のSD信号を記憶しておく。ここで、ある期間は、一定期間、あるいは不定期間とされる。例えば、パワーオン毎に、あるいはユーザがパラメータr,zの値を変更する毎に、SD信号の適合性が判定される。   In the substrate bay 18, for example, the conformity of the SD signal (525i signal) processed by the DRC circuit 17 is determined every certain period, and at least for the predetermined period determined to be nonconforming, in this embodiment. An SD signal for one field is stored. Here, the certain period is a fixed period or an indefinite period. For example, the suitability of the SD signal is determined every time the power is turned on or whenever the user changes the values of the parameters r and z.

このように基板ベイ18に記憶される各1フィールド分のSD信号は、バージョンアップ時に基板ベイ18を取り換える場合において、そのROM119に格納される係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成する際などに利用される。 Thus, the SD signals for each field stored in the board bay 18 are converted into coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) stored in the ROM 119 when the board bay 18 is replaced at the time of version upgrade. ) Is used.

次に、DRC回路17の詳細を説明する。図3は、DRC回路17の構成を示している。   Next, details of the DRC circuit 17 will be described. FIG. 3 shows the configuration of the DRC circuit 17.

このDRC回路17は、デコーダ13から内部バス11を介して送信されてきたSD信号(525i信号)より、HD信号(1050i信号)における注目位置の周辺に位置する複数のSD画素データを選択的に取り出して出力する第1、第2のタップ選択回路101,102を有している。   The DRC circuit 17 selectively selects a plurality of SD pixel data located around the target position in the HD signal (1050i signal) from the SD signal (525i signal) transmitted from the decoder 13 via the internal bus 11. It has first and second tap selection circuits 101 and 102 that take out and output.

第1のタップ選択回路101は、予測に使用する複数のSD画素データを、予測タップのデータxiとして選択的に取り出すものである。第2のタップ選択回路102は、クラス分類に使用する複数のSD画素データを、クラスタップのデータとして選択的に取り出すものである。図4A,Bは、それぞれクラスタップ、予測タップの一例を示している。   The first tap selection circuit 101 selectively extracts a plurality of SD pixel data used for prediction as prediction tap data xi. The second tap selection circuit 102 selectively extracts a plurality of SD pixel data used for class classification as class tap data. 4A and 4B show examples of class taps and prediction taps, respectively.

また、DRC回路17は、第2のタップ選択回路102で選択的に取り出されるクラスタップのデータ(複数のSD画素データ)から第1の特徴量としてのレベル分布パターンを抽出し、このレベル分布パターンに対応したクラスコードCLを得るクラス検出回路103を有している。このクラス検出回路103は、複数のSD画素データに対して、例えば、ADRC(Adaptive Dynamic Range Coding)、DPCM(予測符号化)、VQ(ベクトル量子化)等の、何らかの圧縮処理を施すことでクラスコードCLを取得する。   Also, the DRC circuit 17 extracts a level distribution pattern as the first feature amount from the class tap data (a plurality of SD pixel data) selectively extracted by the second tap selection circuit 102, and this level distribution pattern Has a class detection circuit 103 for obtaining a class code CL corresponding to. The class detection circuit 103 performs a class of compression processing such as ADRC (Adaptive Dynamic Range Coding), DPCM (Predictive Coding), VQ (Vector Quantization), etc. on a plurality of SD pixel data, for example. Get the code CL.

KビットでADRCを行う場合の説明を行う。KビットADRCにおいては、複数のSD画素データの最大値MAXと最小値MINの差分であるダイナミックレンジDR=MAX−MINが検出され、このダイナミックレンジDRに基づいて、複数のSD画素データがKビットに再量子化される。   The case where ADRC is performed with K bits will be described. In the K-bit ADRC, a dynamic range DR = MAX−MIN that is a difference between the maximum value MAX and the minimum value MIN of a plurality of SD pixel data is detected, and a plurality of SD pixel data is converted to K bits based on the dynamic range DR. Is re-quantized.

すなわち、クラスタップに含まれるそれぞれの画素データについて、その画素データから最小値MINが減算され、その減算値がDR/2Kで除算(量子化)される。これにより、複数の画素データがKビットに再量子化され、それを所定の順番で並べたビット列がクラスコードCLとなる。 That is, for each pixel data contained in the class tap, the minimum value MIN is subtracted from the pixel data, the subtracted value is divided (quantized) by DR / 2 K. As a result, a plurality of pixel data is re-quantized to K bits, and a bit string in which the pixel data are arranged in a predetermined order becomes a class code CL.

したがって、1ビットADRCにおいては、この複数のSD画素データに含まれるそれぞれの画素データについて、その画素データから最小値MINが減算され、その減算値がDR/2で除算される。これにより、複数のSD画素データは1ビットに再量子化され、それを所定の順番で並べたビット列がクラスコードCLとなる。   Therefore, in 1-bit ADRC, for each pixel data included in the plurality of SD pixel data, the minimum value MIN is subtracted from the pixel data, and the subtracted value is divided by DR / 2. Thereby, a plurality of SD pixel data is requantized to 1 bit, and a bit string in which the SD pixel data is arranged in a predetermined order becomes the class code CL.

また、DRC回路17は、係数メモリ104を有している。この係数メモリ104は、後述する推定予測演算回路106で使用される推定式で用いられる複数の係数データWiを、クラス毎に、格納するものである。この係数データWiは、SD信号(525i信号)を、HD信号(1050i信号)に変換するための情報である。   Further, the DRC circuit 17 has a coefficient memory 104. This coefficient memory 104 stores, for each class, a plurality of coefficient data Wi used in the estimation formula used in the estimated prediction calculation circuit 106 described later. The coefficient data Wi is information for converting an SD signal (525i signal) into an HD signal (1050i signal).

上述したように、525i信号を1050i信号に変換する場合、奇数、偶数のそれぞれのフィールドにおいて、525i信号の1画素に対応して1050i信号の4画素を得る必要がある。この場合、奇数、偶数のそれぞれのフィールドにおける1050i信号を構成する2×2の単位画素ブロック内の4画素は、それぞれ中心予測タップに対して異なる位相ずれを持っている。   As described above, when the 525i signal is converted into the 1050i signal, it is necessary to obtain four pixels of the 1050i signal corresponding to one pixel of the 525i signal in each of the odd and even fields. In this case, the four pixels in the 2 × 2 unit pixel block constituting the 1050i signal in each of the odd and even fields have different phase shifts with respect to the central prediction tap.

図5は、奇数フィールドにおける1050i信号を構成する2×2の単位画素ブロック内の4画素HD1〜HD4における中心予測タップSD0からの位相ずれを示している。ここで、HD1〜HD4の位置は、それぞれ、SD0の位置から水平方向にk1〜k4、垂直方向にm1〜m4だけずれている。 FIG. 5 shows a phase shift from the center prediction tap SD 0 in the four pixels HD 1 to HD 4 in the 2 × 2 unit pixel block constituting the 1050i signal in the odd field. Here, the position of HD 1 ~HD 4, respectively, k 1 to k 4 in the horizontal direction from the position of the SD 0, are offset in the vertical direction by m 1 ~m 4.

図6は、偶数フィールドにおける1050i信号を構成する2×2の単位画素ブロック内の4画素HD1′〜HD4′における中心予測タップSD0′からの位相ずれを示している。ここで、HD1′〜HD4′の位置は、それぞれ、SD0′の位置から水平方向にk1′〜k4′、垂直方向にm1′〜m4′だけずれている。 FIG. 6 shows a phase shift from the center prediction tap SD 0 ′ in the four pixels HD 1 ′ to HD 4 ′ in the 2 × 2 unit pixel block constituting the 1050i signal in the even field. Here, the position of HD 1 '~HD 4', respectively, SD 0 ~k 4 'k 1 in the horizontal direction from the position of'deviates', vertically m 1 'only ~m 4'.

そのため、係数メモリ104には、クラスおよび出力画素(HD1〜HD4,HD1′〜HD4′)の組み合わせ毎に、係数データWiが格納されている。 Therefore, coefficient data Wi is stored in the coefficient memory 104 for each combination of class and output pixels (HD 1 to HD 4 , HD 1 ′ to HD 4 ′).

この係数メモリ104には上述したクラス検出回路103で得られるクラスコードCLが読み出しアドレス情報として供給され、この係数メモリ104からはクラスコードCLに対応した推定式の係数データWi(i=1〜n)が読み出され、推定予測演算回路106に供給される。   The coefficient memory 104 is supplied with the class code CL obtained by the above-described class detection circuit 103 as read address information, and from the coefficient memory 104, coefficient data Wi (i = 1 to n) of the estimation formula corresponding to the class code CL. ) Is read out and supplied to the estimated prediction calculation circuit 106.

また、DRC回路17は、基板ベイ18を接続するためのインタフェース105を有している。SD信号(525i信号)は、このインタフェース105を介して基板ベイ18に供給される。また、ユーザによって調整された解像度、ノイズ除去度を決定するパラメータr,zの値は、インタフェース105を介して基板ベイ18に供給される。さらに基板ベイ18で生成される、上述のパラメータr,zの値に対応した各クラスの推定式の係数データWiは、基板ベイ18からインタフェース105を介して係数メモリ104に供給されて格納される。   Further, the DRC circuit 17 has an interface 105 for connecting the substrate bay 18. The SD signal (525i signal) is supplied to the substrate bay 18 through the interface 105. Further, the values of the parameters r and z that determine the resolution and the noise removal degree adjusted by the user are supplied to the substrate bay 18 via the interface 105. Further, the coefficient data Wi of the estimation formula of each class corresponding to the values of the parameters r and z generated in the board bay 18 is supplied from the board bay 18 to the coefficient memory 104 via the interface 105 and stored. .

また、DRC回路17は、推定予測演算回路106を有している。この推定予測演算回路106は、第1のタップ選択回路101で選択的に取り出される予測タップのデータ(複数のSD画素データ)xiと、係数メモリ104から読み出される係数データWiとから、(1)式の推定式に基づいて、作成すべきHD信号の画素データ(注目位置の画素データ)を演算する。   Further, the DRC circuit 17 includes an estimated prediction calculation circuit 106. The estimated prediction calculation circuit 106 uses (1) the prediction tap data (multiple SD pixel data) xi selectively extracted by the first tap selection circuit 101 and the coefficient data Wi read from the coefficient memory 104. Based on the estimated equation, pixel data of the HD signal to be created (pixel data at the target position) is calculated.

Figure 0004314956
Figure 0004314956

上述したように、SD信号をHD信号に変換する際には、SD信号の1画素に対してHD信号の4画素(図5のHD1〜HD4、図6のHD1′〜HD4′参照)を得る必要がある。この推定予測演算回路106では、HD信号を構成する2×2の単位画素ブロック毎に、画素データが生成される。 As described above, when an SD signal is converted into an HD signal, four pixels of the HD signal (HD 1 to HD 4 in FIG. 5 and HD 1 ′ to HD 4 ′ in FIG. 6) with respect to one pixel of the SD signal. See). In the estimated prediction calculation circuit 106, pixel data is generated for each 2 × 2 unit pixel block constituting the HD signal.

すなわち、この推定予測演算回路106には、第1のタップ選択回路101より単位画素ブロック内の4画素(注目画素)に対応した予測タップのデータxiと、係数メモリ104よりその単位画素ブロックを構成する4画素に対応した係数データWiとが供給される。そして、この推定予測演算回路106では、単位画素ブロックを構成する4画素のデータy1〜y4が、それぞれ上述した(1)式の推定式で個別に演算される。 That is, in the estimated prediction calculation circuit 106, the first tap selection circuit 101 configures the prediction tap data xi corresponding to four pixels (target pixel) in the unit pixel block and the coefficient memory 104 constitutes the unit pixel block. The coefficient data Wi corresponding to the four pixels to be supplied is supplied. Then, in the estimation predictive calculating circuit 106, four pixels data y 1 ~y 4 of constituting the unit pixel block is individually calculated by the estimation equation for each above-described equation (1).

また、DRC回路17は、推定予測演算回路106より順次出力される、単位画素ブロック内の4画素のデータy1〜y4を線順次化して1050i信号のフォーマットで出力する後処理回路107を有している。 Moreover, DRC circuit 17, chromatic estimated prediction calculation circuit 106 are sequentially output from the post-processing circuit 107 for outputting the format of the 1050i signal in line sequence data y 1 ~y 4 of 4 pixels in the unit pixel block is doing.

次に、図3に示すDRC回路17の動作を説明する。
第2のタップ選択回路102では、SD信号(525i信号)に基づいて、作成すべきHD信号(1050i信号)を構成する単位画素ブロック内の4画素(注目位置の画素)の周辺に位置する、複数のSD画素データがクラスタップのデータとして選択的に取り出される。このクラスタップのデータはクラス検出回路103に供給される。
Next, the operation of the DRC circuit 17 shown in FIG. 3 will be described.
The second tap selection circuit 102 is located around the four pixels (the pixel at the target position) in the unit pixel block constituting the HD signal (1050i signal) to be created based on the SD signal (525i signal). A plurality of SD pixel data are selectively extracted as class tap data. The class tap data is supplied to the class detection circuit 103.

クラス検出回路103では、複数のSD画素データに対して、ADRC等のデータ圧縮処理が施されて、クラスコードCLが得られる。このクラスコードCLは、作成すべきHD信号(1050i信号)を構成する単位画素ブロック毎にその単位画素ブロック内の4画素(注目画素)が属するクラスを示すものである。このクラスコードCLは、係数メモリ104に読み出しアドレス情報として供給される。   In the class detection circuit 103, a plurality of SD pixel data is subjected to data compression processing such as ADRC to obtain a class code CL. The class code CL indicates a class to which four pixels (target pixel) in the unit pixel block belong to each unit pixel block constituting the HD signal (1050i signal) to be created. This class code CL is supplied to the coefficient memory 104 as read address information.

係数メモリ104には、例えば各垂直ブランキング期間に、ユーザによって調整されたパラメータr,zの値に対応して基板ベイ18で生成された、クラスおよび出力画素(HD1〜HD4,HD1′〜HD4′)の組み合わせ毎の係数データWiが格納される。この係数メモリ104にクラスコードCLが読み出しアドレス情報として供給されることで、この係数メモリ104から、クラスコードCLに対応した4出力画素(奇数フィールドではHD1〜HD4、偶数フィールドではHD1′〜HD4′)分の推定式の係数データWiが読み出されて推定予測演算回路106に供給される。 In the coefficient memory 104, for example, in each vertical blanking period, the class and output pixels (HD 1 to HD 4 , HD 1) generated in the substrate bay 18 corresponding to the values of the parameters r and z adjusted by the user are stored. Coefficient data Wi for each combination of ′ to HD 4 ′) is stored. When the class code CL is supplied to the coefficient memory 104 as read address information, four output pixels corresponding to the class code CL (HD 1 to HD 4 in the odd field, HD 1 ′ in the even field) are output from the coefficient memory 104. The coefficient data Wi of the estimation formula for .about.HD 4 ′) is read and supplied to the estimated prediction calculation circuit 106.

また、第1のタップ選択回路101では、SD信号(525i信号)に基づいて、作成すべきHD信号(1050i信号)を構成する単位画素ブロック内の4画素(注目位置の画素)の周辺に位置する、複数のSD画素データが予測タップのデータxiとして選択的に取り出される。この予測タップのデータxiは推定予測演算回路106に供給される。   Further, the first tap selection circuit 101 is positioned around the four pixels (the pixel at the target position) in the unit pixel block constituting the HD signal (1050i signal) to be created based on the SD signal (525i signal). The plurality of SD pixel data are selectively extracted as the prediction tap data xi. The prediction tap data xi is supplied to the estimated prediction calculation circuit 106.

推定予測演算回路106では、予測タップのデータxiと、係数メモリ104より読み出される4出力画素分の係数データWiとから、作成すべきHD信号を構成する単位画素ブロック内の4画素(注目位置の画素)のデータy1〜y4が演算される((1)式参照)。そして、この推定予測演算回路106より順次出力されるデータy1〜y4は後処理回路107に供給される。 In the estimated prediction calculation circuit 106, four pixels in the unit pixel block constituting the HD signal to be created (of the target position) from the prediction tap data xi and the coefficient data Wi for four output pixels read from the coefficient memory 104. Pixel) data y 1 to y 4 are calculated (see equation (1)). The data y 1 to y 4 sequentially output from the estimated prediction calculation circuit 106 are supplied to the post-processing circuit 107.

この後処理回路107では、推定予測演算回路106より順次供給されるデータy1〜y4が線順次化され、1050i信号のフォーマットで出力される。つまり、この後処理回路107からは、HD信号としての1050i信号が出力される。 In the post-processing circuit 107, the data y 1 to y 4 sequentially supplied from the estimated prediction calculation circuit 106 are line-sequentially output in the format of a 1050i signal. That is, the post-processing circuit 107 outputs a 1050i signal as an HD signal.

次に、基板ベイ18の詳細を説明する。図7は、基板ベイ18の構成を示している。
この基板ベイ18は、DRC回路17との間で信号の伝送を行うためのインタフェース111を有している。このインタフェース111は、DRC回路17側から送られてくるSD信号およびパラメータr,zの値を基板ベイ18側に取り込み、またこの基板ベイ18の内部で生成された係数データWiをDRC回路17側に送出する。
Next, details of the substrate bay 18 will be described. FIG. 7 shows the configuration of the substrate bay 18.
The board bay 18 has an interface 111 for transmitting signals to and from the DRC circuit 17. The interface 111 takes in the SD signal and the values of the parameters r and z sent from the DRC circuit 17 side to the board bay 18 side, and receives the coefficient data Wi generated inside the board bay 18 side. To send.

また、基板ベイ18は、インタフェース111で取り込まれるSD信号を一時的に蓄積するバッファ112と、このバッファ112に蓄積されたSD信号の特徴量を抽出する特徴量抽出部113とを有している。   The board bay 18 also includes a buffer 112 that temporarily stores SD signals captured by the interface 111, and a feature amount extraction unit 113 that extracts feature amounts of the SD signals stored in the buffer 112. .

この特徴量抽出部113は、タップ選択回路114、クラス検出回路115およびダイナミックレンジ抽出回路(DR抽出回路)116からなっている。タップ選択回路114は、上述したDRC回路17の第2のタップ選択回路102(図3参照)と同様に構成され、DRC回路17側から供給されるSD信号(525i信号)より、HD信号(1050i信号)における注目位置の周辺に位置する複数のSD画素データを、クラスタップのデータとして選択的に取り出す。   The feature amount extraction unit 113 includes a tap selection circuit 114, a class detection circuit 115, and a dynamic range extraction circuit (DR extraction circuit) 116. The tap selection circuit 114 is configured in the same manner as the second tap selection circuit 102 (see FIG. 3) of the DRC circuit 17 described above, and an HD signal (1050i) is generated from an SD signal (525i signal) supplied from the DRC circuit 17 side. A plurality of SD pixel data located around the target position in the signal) is selectively extracted as class tap data.

クラス検出回路115は、上述したDRC回路17のクラス検出回路103と同様に構成され、タップ選択回路114で選択的に取り出されるクラスタップのデータ(複数のSD画素データ)から第2の特徴量としてのレベル分布パターンを抽出し、このレベル分布パターンに対応したクラスコードCLを取得する。   The class detection circuit 115 is configured in the same manner as the class detection circuit 103 of the DRC circuit 17 described above, and uses the class tap data (a plurality of SD pixel data) selectively extracted by the tap selection circuit 114 as a second feature amount. The level distribution pattern is extracted, and the class code CL corresponding to this level distribution pattern is acquired.

DR抽出回路116は、タップ選択回路114で選択的に取り出されるクラスタップのデータ(複数のSD画素データ)から、第3の特徴量として最大値AXと最小値MINの差分であるダイナミックレンジDR(=MAX-MIN)を抽出する。   The DR extraction circuit 116 uses the dynamic range DR (the difference between the maximum value AX and the minimum value MIN as a third feature amount from the class tap data (a plurality of SD pixel data) selectively extracted by the tap selection circuit 114. = MAX-MIN).

また、基板ベイ18は、入力信号適合性判定部117を有している。この入力信号適合性判定部117は、SD信号の所定期間分毎に、本実施の形態においては、SD信号の1フィールド分毎に、クラス検出回路115で得られたクラスコードCLおよびDR抽出回路116で抽出されたダイナミックレンジDRに基づいて、このSD信号に対する上述した係数データWiを用いた推定予測演算処理の適合性を判定する。   The board bay 18 has an input signal compatibility determination unit 117. This input signal suitability determination unit 117 is provided with a class code CL and DR extraction circuit obtained by the class detection circuit 115 every predetermined period of the SD signal, and in this embodiment, every field of the SD signal. Based on the dynamic range DR extracted at 116, the suitability of the estimated prediction calculation process using the coefficient data Wi described above for this SD signal is determined.

なお、この処理の適合性を判定する1フィールド分のSD信号は、一定期間おきのものとされ、あるいは不定期のものとされる。不定期の例としては、例えばパラメータr,zの値の変更時、あるいはテレビ受信機10の電源オン時などが考えられる。   Note that the SD signal for one field for determining the suitability of this processing is set at regular intervals or is set at irregular intervals. As an irregular example, for example, when the values of the parameters r and z are changed, or when the television receiver 10 is turned on can be considered.

入力信号適合性判定部117は、1フィールド分のSD信号に対して、クラス検出回路115で得られる複数個のクラスコードCLおよびDR抽出回路116で抽出された複数個のダイナミックレンジDRに基づいて、図8Bに示すように、クラス毎に、ダイナミックレンジDRの各値の頻度を示すDR値頻度分布(以下、適宜「ユーザ視聴時のDR値頻度分布」という)を生成する。このユーザ視聴時のDR値頻度分布は第1の情報を構成している。   The input signal compatibility determination unit 117 is based on a plurality of class codes CL obtained by the class detection circuit 115 and a plurality of dynamic ranges DR extracted by the DR extraction circuit 116 for one field of SD signals. 8B, for each class, a DR value frequency distribution indicating the frequency of each value of the dynamic range DR (hereinafter referred to as “DR value frequency distribution during user viewing” as appropriate) is generated. The DR value frequency distribution during user viewing constitutes first information.

入力信号適合性判定部117はROM118を備えている。このROM118には、図8Aに示すように、開発時、つまり後述するROM119に格納されている係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成した際の学習素材であるSD信号に係る、各クラスのDR値頻度分布(以下、適宜「開発時のDR頻度分布」という)が格納されている。この開発時のDR値頻度分布は第2の情報を構成している。 The input signal suitability determination unit 117 includes a ROM 118. In this ROM 118, as shown in FIG. 8A, an SD signal which is a learning material at the time of development, that is, when coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) stored in the ROM 119 described later is generated. The DR value frequency distribution of each class (hereinafter referred to as “DR frequency distribution during development” as appropriate) is stored. The DR value frequency distribution at the time of development constitutes second information.

入力信号適合性判定部117は、さらに、クラス毎に、上述した開発時とユーザ視聴時のDR値頻度分布の相関係数cを、(2)式に基づいて、求める。この(2)式において、freqst(x)は開発時のDR値頻度分布におけるDR値xの頻度、mfreqstは開発時のDR値頻度分布における頻度平均、stdvstは開発時のDR値頻度分布における頻度標準偏差を示しており(図9A参照)、frequs(x)はユーザ視聴時のDR値頻度分布におけるDR値xの頻度、mfrequsはユーザ視聴時のDR値頻度分布における頻度平均、stdvusはユーザ視聴時のDR値頻度分布における頻度標準偏差を示しており(図9B参照)、NはDR値xが取り得る値の数を示している。 The input signal suitability determination unit 117 further obtains the above-described correlation coefficient c of the DR value frequency distribution at the time of development and user viewing based on the equation (2) for each class. In equation (2), freq st (x) is the frequency of DR values x in the DR value frequency distribution during development, mfreq st the frequency average in DR value frequency distribution during development, STDV st the DR value frequency during development The frequency standard deviation in the distribution is shown (see FIG. 9A), freq us (x) is the frequency of the DR value x in the DR value frequency distribution during user viewing, and mfreq us is the frequency average in the DR value frequency distribution during user viewing. , Stdv us indicates the frequency standard deviation in the DR value frequency distribution during user viewing (see FIG. 9B), and N indicates the number of values that the DR value x can take.

Figure 0004314956
Figure 0004314956

入力信号適合性判定部117は、さらにまた、クラス毎に、相関係数cとしきい値Thとを比較して、入力信号の適合性の判定結果h1〜hNを求める。この場合、相関係数cが大きく、c≧Thであるとき、適合性ありと判定し、例えば判定結果「0」を出力し、一方相関係数cが小さく、c<Thであるとき、適合性なしと判定し、例えば判定結果「1」を出力する。 Furthermore, the input signal suitability determination unit 117 compares the correlation coefficient c with the threshold value Th for each class to obtain the input signal suitability determination results h 1 to h N. In this case, when the correlation coefficient c is large and c ≧ Th, it is determined that there is compatibility. For example, a determination result “0” is output, while when the correlation coefficient c is small and c <Th, For example, the determination result “1” is output.

相関係数cが大きい場合には、開発時とユーザ視聴時におけるDR値頻度分布が似ており、DRC回路17で処理されるSD信号は、開発時の学習素材であるSD信号と適合性があるため、DRC回路17における推定予測演算処理の結果は問題がない可能性が高い。そのため、このSD信号を開発のための履歴情報として残しておく価値は低い。   When the correlation coefficient c is large, the DR value frequency distribution at the time of development and user viewing is similar, and the SD signal processed by the DRC circuit 17 is compatible with the SD signal that is the learning material at the time of development. Therefore, there is a high possibility that the result of the estimated prediction calculation process in the DRC circuit 17 has no problem. For this reason, the value of leaving this SD signal as history information for development is low.

逆に、相関係数が小さい場合には、開発時とユーザ視聴時におけるDR値頻度分布が似ておらず、DRC回路17で処理されるSD信号は、開発時の学習素材であるSD信号と適合性がなく、DRC回路17における推定予測演算処理の結果が破綻している可能性が高い。そのため、このSD信号を開発のための履歴情報として残しておく価値は高い。   Conversely, when the correlation coefficient is small, the DR value frequency distribution at the time of development and user viewing is not similar, and the SD signal processed by the DRC circuit 17 is different from the SD signal that is the learning material at the time of development. There is no possibility of compatibility, and there is a high possibility that the result of the estimated prediction calculation processing in the DRC circuit 17 is broken. Therefore, it is highly worth leaving this SD signal as history information for development.

なお、このSD信号の代わりに、あるいはこのSD信号と共に、このSD信号の特徴を表す当該SD信号の加工情報、例えば上述した各クラスのDR値頻度分布等を履歴情報として残しておいてもよい。本実施の形態においては、後述するように、SD信号そのものを履歴情報として残すものを示している。   Instead of this SD signal or together with this SD signal, processing information of the SD signal representing the characteristics of this SD signal, such as the DR value frequency distribution of each class described above, may be left as history information. . In the present embodiment, as will be described later, the SD signal itself is shown as history information.

また、基板ベイ18は、ROM119を有している。このROM119には、各クラスの係数種データが予め蓄えられている。この係数種データは、上述したDRC回路17の係数メモリ104に格納する係数データWiを生成するための生成式の係数データである。   The board bay 18 has a ROM 119. In this ROM 119, coefficient seed data for each class is stored in advance. This coefficient seed data is coefficient data of a generation formula for generating coefficient data Wi to be stored in the coefficient memory 104 of the DRC circuit 17 described above.

上述した推定予測演算回路106(図3参照)では、予測タップのデータxiと、係数メモリ104より読み出される係数データWiとから、(1)式の推定式によって、作成すべきHD画素データyが演算される。   In the above-described estimated prediction calculation circuit 106 (see FIG. 3), the HD pixel data y to be generated is calculated from the prediction tap data xi and the coefficient data Wi read from the coefficient memory 104 by the estimation expression (1). Calculated.

この推定式の係数データWi(i=1〜n)は、(3)式に示すように、パラメータr,zを含む生成式によって生成される。上述したように、rは解像度を決めるパラメータであり、zはノイズ除去度を決めるパラメータである。ROM119には、この生成式の係数データである係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)が、クラスおよび出力画素(図5のHD1〜HD4,図6のHD1′〜HD4′参照)の組み合わせ毎に、記憶されている。この係数種データの生成方法については後述する。 The coefficient data Wi (i = 1 to n) of this estimation formula is generated by a generation formula including parameters r and z as shown in formula (3). As described above, r is a parameter that determines the resolution, and z is a parameter that determines the degree of noise removal. In the ROM 119, coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) which are coefficient data of this generation formula are stored in classes and output pixels (HD 1 to HD 4 in FIG. 5, HD 1 ′ to HD in FIG. 6). For each combination of HD 4 '). A method for generating the coefficient seed data will be described later.

Figure 0004314956
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また、基板ベイ18は、各クラスの係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)およびパラメータr,zの値とを用い、(3)式によって、クラスおよび出力画素の組み合わせ毎に、パラメータr,zの値に対応した推定式の係数データWi(i=1〜n)を生成する係数生成回路120を有している。この係数生成回路120には、ROM119から係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)がロードされる。また、この係数生成回路120には、DRC回路17側からインタフェース111を介して、ユーザによって調整されたパラメータr,zの値が供給される。 The board bay 18 uses the coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) of each class and the values of the parameters r and z, and uses the equation (3) for each combination of class and output pixel. The coefficient generation circuit 120 generates coefficient data Wi (i = 1 to n) of the estimation formula corresponding to the values of the parameters r and z. The coefficient generation circuit 120 is loaded with coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) from the ROM 119. The coefficient generation circuit 120 is supplied with values of parameters r and z adjusted by the user from the DRC circuit 17 side via the interface 111.

この係数生成回路120で生成される各クラスの係数データWi(i=1〜n)は、インタフェース111を介してDRC回路17側に供給され、上述した係数メモリ104に格納される。この係数生成回路120における係数データWiの生成は、例えば垂直ブランキング期間毎に行われる。これにより、ユーザの操作によってパラメータr,zの値が変更されても、DRC回路17の係数メモリ104に格納される各クラスの係数データWiを、そのパラメータr,zの値に対応したものに即座に変更でき、ユーザによる解像度、ノイズ除去度の調整がスムーズに行われるようになる。   The coefficient data Wi (i = 1 to n) of each class generated by the coefficient generation circuit 120 is supplied to the DRC circuit 17 side via the interface 111 and stored in the coefficient memory 104 described above. The generation of the coefficient data Wi in the coefficient generation circuit 120 is performed, for example, every vertical blanking period. Thereby, even if the values of the parameters r and z are changed by the user's operation, the coefficient data Wi of each class stored in the coefficient memory 104 of the DRC circuit 17 is made to correspond to the values of the parameters r and z. It can be changed immediately, and the user can smoothly adjust the resolution and the degree of noise removal.

また、基板ベイ18は、履歴情報制御部121と、履歴情報記憶部122とを有している。この履歴情報制御部121は、上述した入力信号適合性判定部117で適合性の判定が行われる毎に、履歴情報記憶部122に、履歴情報を順次記憶していく。図10は、履歴情報記憶部122の記憶内容を示している。ここでは、N個の履歴情報1〜履歴情報Mが記憶されている。   The substrate bay 18 includes a history information control unit 121 and a history information storage unit 122. The history information control unit 121 sequentially stores history information in the history information storage unit 122 every time the above-described input signal suitability determination unit 117 determines suitability. FIG. 10 shows the stored contents of the history information storage unit 122. Here, N pieces of history information 1 to history information M are stored.

なお、履歴情報制御部121は、全てのクラスが適合性ありと判定されているときには、履歴情報の記憶を行わない。この場合、SD信号を、バージョンアップ時の開発のための履歴として残しておく価値は低い。   The history information control unit 121 does not store history information when all classes are determined to be compatible. In this case, it is not worth keeping the SD signal as a history for development at the time of version upgrade.

それぞれの履歴情報は、入力信号、判定情報および付加情報からなっている。上述したように、本実施の形態では、適合性の判定が行われた際の1フィールド分のSD信号が、入力信号として記憶される。履歴情報制御部121は、当該1フィールド分のSD信号をバッファ112から取得して、履歴情報記憶部122に記憶する。このようにパラメータr,zの値を記憶しておくことで、バージョンアップ時にこのパラメータr,zの値を用いた処理を行うことができる。なお、上述したように、このSD信号の代わりに、当該SD信号の加工情報、例えば各クラスのDR値頻度分布等を記憶してもよい。履歴情報記憶部122は、各クラスのDR値頻度分布を入力信号として記憶する場合、当該各クラスのDR値頻度分布を、入力信号適合性判定部117から取得して、履歴情報記憶部122に記憶する。   Each history information includes an input signal, determination information, and additional information. As described above, in the present embodiment, the SD signal for one field when the suitability is determined is stored as the input signal. The history information control unit 121 acquires the SD signal for one field from the buffer 112 and stores it in the history information storage unit 122. By storing the values of the parameters r and z in this way, processing using the values of the parameters r and z can be performed at the time of version upgrade. As described above, instead of this SD signal, processing information of the SD signal, for example, the DR value frequency distribution of each class may be stored. When the history information storage unit 122 stores the DR value frequency distribution of each class as an input signal, the history information storage unit 122 acquires the DR value frequency distribution of each class from the input signal suitability determination unit 117 and stores it in the history information storage unit 122. Remember.

付加情報は、適合性の判定が行われた際のパラメータr,zの値である。履歴情報制御部121は、DRC回路17側からインタフェース111を介して供給されるパラメータr,zの値を、履歴情報記憶部122に記憶する。なお、このパラメータr,zの値の代わりにその他の付加情報、例えば上述したように入力信号としてSD信号が記憶される場合、各クラスのDR頻度分布を付加情報として記憶してもよい。   The additional information is the values of the parameters r and z when the suitability is determined. The history information control unit 121 stores the values of the parameters r and z supplied from the DRC circuit 17 side via the interface 111 in the history information storage unit 122. In addition, in the case where an SD signal is stored as an input signal as described above instead of the values of the parameters r and z, for example, as described above, the DR frequency distribution of each class may be stored as the additional information.

さらに、判定情報は、図11に示すように、各クラスの頻度freq1〜freqN、各クラスの相関係数c1〜cN、適合性判定結果h1〜hNからなっている。履歴情報制御部121は、これら各クラスの頻度、相関係数、適合性判定結果を、入力信号適合性判定部117から取得して、履歴情報記憶部122に記憶する。 Further, as shown in FIG. 11, the determination information includes the frequencies freq 1 to freq N of each class, the correlation coefficients c 1 to c N of each class, and the compatibility determination results h 1 to h N. The history information control unit 121 acquires the frequency, correlation coefficient, and suitability determination result of each class from the input signal suitability determination unit 117 and stores them in the history information storage unit 122.

また、基板ベイ18は、履歴情報判定量抽出部123と、履歴情報有用性判定部124とを有している。履歴情報判定量抽出部123は、履歴情報記憶部122に記憶されている、各履歴情報の判定情報に基づいて、履歴情報の有用性を判定するための履歴情報判定量Hを抽出する。すなわち、履歴情報判定量Hは、(4)式に基づいて、演算される。   The board bay 18 includes a history information determination amount extraction unit 123 and a history information usefulness determination unit 124. The history information determination amount extraction unit 123 extracts a history information determination amount H for determining the usefulness of the history information based on the determination information of each history information stored in the history information storage unit 122. That is, the history information determination amount H is calculated based on the equation (4).

Figure 0004314956
Figure 0004314956

この(4)式には頻度freqが含まれるので、履歴情報判定量HによりSD信号の量を判定でき、またこの(4)式には相関係数cが含まれるので、履歴情報判定量HによりSD信号の質を判定できる。なお、相関係数cの取り得る値は−1.0〜1.0である。(4)式では、相関がないときに履歴情報判定量Hが大きくなるように、(1−cn(t))としている。 Since the frequency freq is included in the equation (4), the amount of SD signal can be determined by the history information determination amount H, and since the correlation coefficient c is included in the equation (4), the history information determination amount H Thus, the quality of the SD signal can be determined. In addition, the value which the correlation coefficient c can take is -1.0-1.0. In equation (4), (1-c n (t)) is set so that the history information determination amount H increases when there is no correlation.

(4)式で求められる履歴情報判定量Hは、適合性がないと判定されるクラスおよびそのクラスの頻度が多い程、また適合性がない場合でもさらに相関がない程、大きな値となる。つまり、この履歴情報判定量Hが多い程、履歴情報記憶部122に、開発に有用なSD信号が多く記憶されていることを意味する。   The history information determination amount H obtained by the equation (4) becomes a larger value as the class determined not to be compatible and the frequency of the class are larger, and even when there is no compatibility, there is no further correlation. That is, as the history information determination amount H increases, it means that more SD signals useful for development are stored in the history information storage unit 122.

履歴情報有用性判定部124は、上述したように履歴情報判定量抽出部123で得られた履歴情報判定量Hをしきい値thと比較して、履歴情報記憶部122に記憶されたSD信号の有用性を判定する。この場合、H≧thであるとき、有用性ありと判定し、例えば判定結果「1」を出力し、一方H<thであるとき、有用性なしと判定し、例えば判定結果「0」を出力する。   The history information usefulness determination unit 124 compares the history information determination amount H obtained by the history information determination amount extraction unit 123 with the threshold th as described above, and stores the SD signal stored in the history information storage unit 122. Determine the usefulness of. In this case, when H ≧ th, it is determined that there is usefulness, for example, a determination result “1” is output. On the other hand, when H <th, it is determined that there is no usefulness, for example, a determination result “0” is output. To do.

また、基板ベイ18は、履歴情報有用性判定部124の判定結果を、ユーザに通知するための通知部125を有している。この通知部125は、例えばLED(Light Emitting Diode)等の発光素子を備えており、有用性ありと判定されたとき、発光してユーザに通知する。   The board bay 18 also has a notification unit 125 for notifying the user of the determination result of the history information usability determination unit 124. The notification unit 125 includes a light emitting element such as an LED (Light Emitting Diode), for example, and emits light to notify the user when it is determined to be useful.

なお、音声でユーザに知らせるようにしてもよい。また、この通知部125は、着脱自在な基板ベイ18に持つ代わりに、テレビ受信機10の本体側に持つようにしてもよい。その場合、履歴情報有用性判定部124の判定結果をインタフェース111を介してDRC回路17側に送信すればよい。   Note that the user may be notified by voice. Further, the notification unit 125 may be provided on the main body side of the television receiver 10 instead of being provided in the detachable board bay 18. In that case, the determination result of the history information usability determination unit 124 may be transmitted to the DRC circuit 17 side via the interface 111.

このように、通知部125で、履歴情報記憶部122に記憶されたSD信号の有用性をユーザに知らせることで、ユーザは基板ベイ18の交換、回収時期、つまり履歴情報記憶部122に、開発に有用な所定の質を持つSD信号が充分な量だけ記憶されたことを知ることができる。   In this way, by notifying the user of the usefulness of the SD signal stored in the history information storage unit 122 by the notification unit 125, the user can replace the board bay 18, collect the recovery time, that is, develop the history information storage unit 122. It is possible to know that a sufficient amount of SD signals having a predetermined quality useful for storage are stored.

開発時、つまりROM119に格納すべき係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成する際に、学習素材であるSD信号として、履歴情報記憶部122に記憶されたSD信号のうち、いずれかのクラスで不適合とされたSD信号と同様のSD信号を用いることで、ユーザの視聴環境におけるSD信号に合った係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成できる。そして、そのような係数種データwi0〜wi9を用いることで、DRC回路17における推定予測演算処理の結果が破綻する可能性を低くでき、HD信号を精度よく得ることができる。 At the time of development, that is, when generating the coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) to be stored in the ROM 119, the SD signal stored in the history information storage unit 122 is used as an SD signal as a learning material. Of these, by using an SD signal similar to the SD signal that is not suitable for any class, the coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) suitable for the SD signal in the user's viewing environment is generated. it can. By using such coefficient seed data w i0 to w i9 , it is possible to reduce the possibility that the result of the estimated prediction calculation process in the DRC circuit 17 will fail, and to obtain the HD signal with high accuracy.

次に、図12のフローチャートを用いて、図7に示す基板ベイ18の履歴情報の記憶に係る処理の手順を説明する。
ステップST1で、処理を開始し、ステップST2で、バッファ112に、1フィールド分のSD信号(入力信号)を蓄積する。そして、ステップST3で、特徴量抽出部113の処理を行う。
Next, a procedure of processing related to storing history information of the substrate bay 18 shown in FIG. 7 will be described using the flowchart of FIG.
In step ST1, processing is started, and in step ST2, an SD signal (input signal) for one field is stored in the buffer 112. In step ST3, the feature amount extraction unit 113 performs processing.

つまり、タップ選択回路114は、バッファ112に蓄積された1フィールド分のSD信号から、HD信号(1050i信号)における注目位置の周辺に位置する複数のSD画素データをクラスタップのデータとして選択的に取り出すことを、注目位置を順次変化させて繰り返し行う。   That is, the tap selection circuit 114 selectively selects a plurality of SD pixel data located around the target position in the HD signal (1050i signal) as class tap data from the SD signal for one field stored in the buffer 112. The extraction is repeated by sequentially changing the position of interest.

そして、クラス検出回路115は、タップ検出回路114で順次取り出されるクラスタップのデータ(複数のSD画素データ)から第2の特徴量としてのレベル分布パターンを抽出し、このレベル分布パターンに対応したクラスコードCLを順次取得する。DR抽出回路116は、タップ選択回路114で順次取り出されるクラスタップのデータ(複数のSD画素データ)から、ダイナミックレンジDR(=MAX-MIN)を順次抽出する。   Then, the class detection circuit 115 extracts the level distribution pattern as the second feature amount from the class tap data (a plurality of SD pixel data) sequentially extracted by the tap detection circuit 114, and class corresponding to the level distribution pattern. The code CL is acquired sequentially. The DR extraction circuit 116 sequentially extracts the dynamic range DR (= MAX−MIN) from the class tap data (a plurality of SD pixel data) sequentially extracted by the tap selection circuit 114.

次に、ステップST4で、入力信号適合性判定部117は、クラス検出回路115で順次得られたクラスコードCLおよびDR抽出回路116で順次抽出されたダイナミックレンジDRに基づいて、SD信号に対する係数データWi(i=1〜n)を用いた推定予測演算処理の適合性を判定する。   Next, in step ST4, the input signal suitability determination unit 117 performs coefficient data for the SD signal based on the class code CL sequentially obtained by the class detection circuit 115 and the dynamic range DR sequentially extracted by the DR extraction circuit 116. The suitability of the estimated prediction calculation process using Wi (i = 1 to n) is determined.

つまり、入力信号適合性判定部117は、クラス毎に、ダイナミックレンジDRの各値の頻度を示すDR値頻度分布(図8B参照)を生成し、そして、これとROM119に格納されている係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成した際の学習素材であるSD信号に係る、ROM118に格納されている各クラスのDR値頻度分布(図8A参照)に基づいて、クラス毎に、相関係数cを求め((2)式参照)、そして、各クラスの相関係数cとしきい値Thとを比較してクラス毎に適合性を判定する。 That is, the input signal suitability determination unit 117 generates a DR value frequency distribution (see FIG. 8B) indicating the frequency of each value of the dynamic range DR for each class, and the coefficient type stored in the ROM 119 Based on the DR value frequency distribution (see FIG. 8A) of each class stored in the ROM 118 relating to the SD signal that is the learning material when the data w i0 to w i9 (i = 1 to n) are generated. Each time, a correlation coefficient c is obtained (see equation (2)), and the correlation coefficient c of each class is compared with a threshold value Th to determine suitability for each class.

次に、ステップST5で、履歴情報制御部121は、履歴情報記憶部122に、履歴情報を記憶する。この履歴情報は、SD信号(入力信号)、判定情報および付加情報(パラメータr,zの値)からなっている(図10参照)。判定情報は、各クラスの頻度freq1〜freqN、各クラスの相関係数c1〜cN、適合性判定結果h1〜hNからなっている(図11参照)。この場合、全てのクラスが適合性ありと判定されるときには、履歴情報の記憶を行わない。 Next, in step ST <b> 5, the history information control unit 121 stores history information in the history information storage unit 122. The history information includes an SD signal (input signal), determination information, and additional information (values of parameters r and z) (see FIG. 10). The determination information includes the frequencies freq 1 to freq N of each class, the correlation coefficients c 1 to c N of each class, and the compatibility determination results h 1 to h N (see FIG. 11). In this case, when all the classes are determined to be compatible, the history information is not stored.

次に、ステップST6で、履歴情報判定量抽出部123は、履歴情報記憶部122に記憶されている全ての履歴情報(図10では履歴情報1〜M)における判定情報に基づいて、履歴情報判定量Hを取得する((4)式参照)。   Next, in step ST6, the history information determination amount extraction unit 123 determines the history information based on the determination information in all the history information (history information 1 to M in FIG. 10) stored in the history information storage unit 122. The amount H is acquired (see equation (4)).

そして、ステップST7で、履歴情報有用性判定部124は、履歴情報判定量Hとしきい値thとを比較して、履歴情報記憶部122に記憶されたSD信号の有用性を判定する。有用性がないと判定するときは、ステップST2に戻り、次のある期間後、つまり一定期間後あるいは不定期に上述したと同様の処理を繰り返す。一方、有用性があると判定するときは、ステップST8に移行する。   In step ST <b> 7, the history information usability determination unit 124 compares the history information determination amount H with the threshold value th to determine the usefulness of the SD signal stored in the history information storage unit 122. When it is determined that there is no usefulness, the process returns to step ST2, and the same processing as described above is repeated after the next certain period, that is, after a certain period or irregularly. On the other hand, when it determines with there being usefulness, it transfers to step ST8.

ステップST8では、通知部125は、例えばLEDを発光させ、ユーザに基板ベイ18の交換、回収を通知する。そして、ステップST9で、基板ベイ18が交換されたか否かを判定し、交換されたとき処理を終了する。この場合、ステップST7で有用性があると判定した後は、ステップST2に戻ることがなく、履歴情報記憶部122に履歴情報がさらに記憶されることはない。履歴情報記憶部122に既に開発に有用な所定の質を持つSD信号が充分な量だけ記憶されているからである。   In step ST <b> 8, the notification unit 125 emits an LED, for example, and notifies the user of replacement and collection of the substrate bay 18. In step ST9, it is determined whether or not the substrate bay 18 has been replaced. When the substrate bay 18 has been replaced, the process is terminated. In this case, after determining that there is utility in step ST7, the process does not return to step ST2, and the history information is not further stored in the history information storage unit 122. This is because the history information storage unit 122 has already stored a sufficient amount of SD signals having a predetermined quality useful for development.

このように、本実施の形態においては、基板ベイ18は、ある期間毎に、1フィールド分のSD信号に対するDRC回路17の処理、すなわち係数データWiを用いた推定予測演算処理の適合性をクラス毎に判定し、少なくとも1クラスでも不適合であると判定したときは、その1フィールド分のSD信号を、判定情報(各クラスの頻度freq1〜freqN、各クラスの相関係数c1〜cN、適合性判定結果h1〜hN)および付加情報(パラメータr,zの値)と関連付けて履歴情報記憶部122に履歴情報として記憶する。そして、基板ベイ18は、その履歴情報記憶部122に記憶された判定情報に基づいて、履歴情報記憶部122に記憶されたSD信号の有用性を判定し、有用性があると判定するときは、通知部125でユーザに通知する。 As described above, in the present embodiment, the board bay 18 classifies the suitability of the processing of the DRC circuit 17 for the SD signal for one field, that is, the estimation prediction calculation processing using the coefficient data Wi, for every certain period. If it is determined for each class and it is determined that at least one class is incompatible, the SD signal for one field is used as the determination information (frequency freq 1 to freq N of each class, correlation coefficient c 1 to c of each class. N , suitability determination results h 1 to h N ) and additional information (values of parameters r and z) and stored as history information in the history information storage unit 122. When the board bay 18 determines the usefulness of the SD signal stored in the history information storage unit 122 based on the determination information stored in the history information storage unit 122 and determines that the SD signal is useful. The notification unit 125 notifies the user.

したがって、本実施の形態によれば、ユーザは基板ベイ18の交換、回収時期、つまり履歴情報記憶部122に、開発に有用な所定の質を持つSD信号が充分な量だけ記憶されたことを、タイムリーに知ることができ、この履歴情報記憶部122に記憶されたSD信号を速やかに開発に利用できる。   Therefore, according to the present embodiment, the user replaces the substrate bay 18 and collects it, that is, the history information storage unit 122 confirms that a sufficient amount of SD signals having a predetermined quality useful for development are stored. The SD signal stored in the history information storage unit 122 can be quickly used for development.

例えば、開発時、つまりROM119に格納すべき係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成する際に、学習素材であるSD信号として、履歴情報記憶部122に記憶されたSD信号のうち、いずれかのクラスで不適合とされたSD信号と同様のSD信号を用いることで、ユーザの視聴環境におけるSD信号に合った係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成できる。 For example, at the time of development, that is, when generating coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) to be stored in the ROM 119, the SD stored in the history information storage unit 122 as an SD signal that is a learning material. Among the signals, by using an SD signal similar to the SD signal that is incompatible with any class, coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) suitable for the SD signal in the user's viewing environment. Can be generated.

そして、そのような係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を用いることで、図1に示すテレビ受信機10では、DRC回路17における推定予測演算処理の結果が破綻する可能性を低くでき、HD信号を精度よく得ることができる。 Then, by using such coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n), there is a possibility that the result of the estimation prediction calculation process in the DRC circuit 17 may fail in the television receiver 10 shown in FIG. And the HD signal can be obtained with high accuracy.

次に、ROM119に格納される、各クラスの係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)の生成方法について説明する。
ここで、以下の説明のため、(5)式のように、tj(j=0〜9)を定義する。
0=1,t1=r,t2=z,t3=r2,t4=rz,t5=z2
6=r3,t7=r2z,t8=rz2,t9=z3
・・・(5)
この(5)式を用いると、(3)式は、(6)式のように書き換えられる。
Next, a method of generating coefficient class data w i0 to w i9 (i = 1 to n) of each class stored in the ROM 119 will be described.
Here, for the following explanation, tj (j = 0 to 9) is defined as in the equation (5).
t 0 = 1, t 1 = r, t 2 = z, t 3 = r 2 , t 4 = rz, t 5 = z 2 ,
t 6 = r 3, t 7 = r 2 z, t 8 = rz 2, t 9 = z 3
... (5)
Using this equation (5), equation (3) can be rewritten as equation (6).

Figure 0004314956
Figure 0004314956

最終的に、学習によって未定係数wijを求める。すなわち、クラスおよび出力画素の組み合わせ毎に、複数のSD画素データとHD画素データを用いて、二乗誤差を最小にする係数値を決定する。いわゆる最小二乗法による解法である。学習数をm、k(1≦k≦m)番目の学習データにおける残差をek、二乗誤差の総和をEとすると、(1)式および(3)式を用いて、Eは(7)式で表される。ここで、xikはSD画像のi番目の予測タップ位置におけるk番目の画素データ、ykはそれに対応するk番目のHD画像の画素データを表している。 Finally, the undetermined coefficient w ij is obtained by learning. That is, for each combination of class and output pixel, a coefficient value that minimizes the square error is determined using a plurality of SD pixel data and HD pixel data. This is a so-called least square method. Assuming that the learning number is m, the residual in the kth (1 ≦ k ≦ m) learning data is e k , and the sum of the squared errors is E, using Eqs. (1) and (3), E is (7 ) Expression. Here, x ik represents k-th pixel data at the i-th predicted tap position of the SD image, and y k represents pixel data of the corresponding k-th HD image.

Figure 0004314956
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最小二乗法による解法では、(7)式のwijによる偏微分が0になるようなwijを求める。これは、(8)式で示される。 The solution according to the minimum square method, determine the w ij such that 0 is partial differentiation by (7) of w ij. This is shown by equation (8).

Figure 0004314956
Figure 0004314956

以下、(9)式、(10)式のように、Xipjq、Yipを定義すると、(8)式は、行列を用いて、(11)式のように書き換えられる。 Hereinafter, when X ipjq and Y ip are defined as in equations (9) and (10), equation (8) is rewritten as equation (11) using a matrix.

Figure 0004314956
Figure 0004314956

Figure 0004314956
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この(11)式が、係数種データを算出するための正規方程式である。この正規方程式を掃き出し法(Gauss-Jordanの消去法)等の一般解法で解くことにより、係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を求めることができる。 This equation (11) is a normal equation for calculating coefficient seed data. Coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) can be obtained by solving this normal equation by a general solution method such as a sweep-out method (Gauss-Jordan elimination method).

図13は、上述した係数種データの生成方法の概念を示している。教師信号としてのHD信号から、生徒信号としての複数のSD信号を生成する。ここで、HD信号からSD信号を生成する際に使用する間引きフィルタの周波数特性を変えることにより、解像度の異なるSD信号を生成する。   FIG. 13 shows the concept of the above-described coefficient seed data generation method. A plurality of SD signals as student signals are generated from the HD signals as teacher signals. Here, SD signals having different resolutions are generated by changing the frequency characteristics of the thinning filter used when the SD signal is generated from the HD signal.

解像度の異なるSD信号によって、解像度を上げる効果の異なる係数種データを生成できる。例えばボケ具合の大きな画像が得られるSD信号とボケ具合の小さな画像が得られるSD信号があった場合、ボケ具合の大きな画像が得られるSD信号による学習で、解像度を上げる効果の強い係数種データが生成され、ボケ具合の小さな画像が得られるSD信号による学習で、解像度を上げる効果の弱い係数種データが生成される。   Coefficient seed data having different effects of increasing the resolution can be generated by SD signals having different resolutions. For example, when there is an SD signal from which an image with a large degree of blur can be obtained and an SD signal from which an image with a small degree of blur can be obtained, coefficient seed data having a strong effect of increasing the resolution by learning with the SD signal from which an image with a large degree of blur can be obtained. Is generated, and coefficient seed data having a weak effect of increasing the resolution is generated by learning with the SD signal from which an image with a small degree of blur can be obtained.

また、解像度の異なるSD信号の各々に対してノイズを加えることで、ノイズの加わったSD信号を生成する。ノイズを加える量を可変することでノイズ量が異なるSD信号が生成され、それによってノイズ除去効果の異なる係数種データが生成される。例えばノイズをたくさん加えたSD信号とノイズを少し加えたSD信号とがあった場合、ノイズをたくさん加えたSD信号による学習でノイズ除去効果の強い係数種データが生成され、ノイズを少し加えたSD信号による学習でノイズ除去効果の弱い係数種データが生成される。   Further, by adding noise to each of the SD signals having different resolutions, an SD signal with noise added is generated. By varying the amount of noise to be added, SD signals having different noise amounts are generated, thereby generating coefficient seed data having different noise removal effects. For example, if there is an SD signal with a lot of noise added and an SD signal with a little noise added, coefficient seed data with a strong noise removal effect is generated by learning with the SD signal with a lot of noise added, and SD with a little noise added. Coefficient seed data having a weak noise removal effect is generated by learning with a signal.

ノイズを加える量としては、例えば(12)式のように、SD信号の画素値xに対して、ノイズnを加えてノイズの加わったSD信号の画素値x′を生成する場合、Gを可変することでノイズ量を調整する。
x′=x+G・n ・・・(12)
As the amount of noise to be added, for example, as shown in equation (12), when generating the pixel value x ′ of the SD signal with noise n added to the pixel value x of the SD signal, G is variable. To adjust the amount of noise.
x ′ = x + G · n (12)

例えば、周波数特性を可変するパラメータrの値を0〜8の9段階に可変し、ノイズを加える量を可変するパラメータzの値を0〜8の9段階に可変し、合計81種類のSD信号を生成する。このようにして生成した複数のSD信号とHD信号との間で学習を行って係数種データを生成する。このパラメータr,zは、図3のDRC回路17におけるパラメータr,zに対応するものである。   For example, the value of the parameter r for changing the frequency characteristic is changed in 9 steps from 0 to 8, and the value of the parameter z for changing the amount of noise to be added is changed in 9 steps from 0 to 8, for a total of 81 types of SD signals. Is generated. Learning is performed between the plurality of SD signals generated in this way and the HD signal to generate coefficient seed data. The parameters r and z correspond to the parameters r and z in the DRC circuit 17 of FIG.

次に、上述した基板ベイ18のROM119に格納される係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成するための係数種データ生成装置200について説明する。図14は、この係数種データ生成装置200の構成を示している。 Next, the coefficient seed data generation apparatus 200 for generating the coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) stored in the ROM 119 of the board bay 18 described above will be described. FIG. 14 shows the configuration of the coefficient seed data generation device 200.

この係数種データ生成装置200は、教師信号としてのHD信号が入力される入力端子201と、このHD信号に対して、水平および垂直の間引き処理を行って、生徒信号としてのSD信号を得るSD信号生成回路202とを有している。このSD信号生成回路202には、パラメータr,zが供給される。パラメータrの値に対応して、HD信号からSD信号を生成する際に使用する間引きフィルタの周波数特性が可変される。また、パラメータzの値に対応して、SD信号に加えるノイズの量が可変される。   The coefficient seed data generation device 200 performs an horizontal thinning process and a vertical thinning process on the input terminal 201 to which an HD signal as a teacher signal is input, and obtains an SD signal as a student signal. And a signal generation circuit 202. The SD signal generation circuit 202 is supplied with parameters r and z. Corresponding to the value of the parameter r, the frequency characteristic of the decimation filter used when generating the SD signal from the HD signal is varied. Further, the amount of noise added to the SD signal is varied corresponding to the value of the parameter z.

また、係数種データ生成装置200は、SD信号生成回路202より出力されるSD信号に基づいて、HD信号における注目位置の周辺に位置する複数のSD画素のデータを選択的に取り出して出力する第1,第2のタップ選択回路203,204を有している。   Further, the coefficient seed data generation device 200 selectively extracts and outputs data of a plurality of SD pixels located around the target position in the HD signal based on the SD signal output from the SD signal generation circuit 202. 1 and 2 have tap selection circuits 203 and 204.

この第1、第2のタップ選択回路203,204は、上述したDRC回路17の第1、第2のタップ選択回路101,102と同様に構成される。すなわち、第1のタップ選択回路203は予測タップのデータを選択的に取り出し、第2のタップ選択回路204はクラスタップのデータを選択的に取り出すものである。   The first and second tap selection circuits 203 and 204 are configured in the same manner as the first and second tap selection circuits 101 and 102 of the DRC circuit 17 described above. That is, the first tap selection circuit 203 selectively extracts prediction tap data, and the second tap selection circuit 204 selectively extracts class tap data.

また、係数種データ生成装置200は、第2のタップ選択回路204で選択的に取り出されるクラスタップのデータから、HD信号における注目位置の画素データが属するクラスを検出するクラス検出回路205を有している。このクラス検出回路205は、上述したDRC回路17のクラス検出回路103と同様の構成とされている。   The coefficient seed data generation device 200 also includes a class detection circuit 205 that detects the class to which the pixel data at the position of interest in the HD signal belongs from the class tap data that is selectively extracted by the second tap selection circuit 204. ing. The class detection circuit 205 has the same configuration as the class detection circuit 103 of the DRC circuit 17 described above.

また、係数種データ生成装置200は、入力端子201に入力されるHD信号の時間調整を行うための遅延回路206と、正規方程式生成部207とを有している。正規方程式生成部207は、時間調整用の遅延回路206で遅延されたHD信号より得られる注目画素データとしての各HD画素データyと、この各HD画素データyにそれぞれ対応して第1のタップ選択回路203で選択的に取り出される予測タップのデータxiと、各HD画素データyにそれぞれ対応してクラス検出回路205で得られるクラスコードCLと、パラメータr,zの値とから、クラスおよび出力画素の組み合わせ毎に、各クラスの係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を得るための正規方程式((11)式参照)を生成する。 The coefficient seed data generation apparatus 200 includes a delay circuit 206 for adjusting the time of the HD signal input to the input terminal 201 and a normal equation generation unit 207. The normal equation generation unit 207 includes each HD pixel data y as target pixel data obtained from the HD signal delayed by the delay circuit 206 for time adjustment, and a first tap corresponding to each HD pixel data y. From the prediction tap data xi selectively extracted by the selection circuit 203, the class code CL obtained by the class detection circuit 205 corresponding to each HD pixel data y, and the values of the parameters r and z, the class and output For each pixel combination, a normal equation (see equation (11)) for generating coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) of each class is generated.

この場合、1個のHD画素データyとそれに対応する予測タップのデータ(複数個のSD画素データ)xiとの組み合わせで学習データが生成されるが、教師信号としてのHD信号と生徒信号としてのSD信号との間で、クラス毎に、多くの学習データが生成されていく。これにより、正規方程式生成部207では、クラス毎に、係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を得るための正規方程式が生成される。 In this case, learning data is generated by a combination of one HD pixel data y and prediction tap data (a plurality of SD pixel data) xi corresponding thereto, but an HD signal as a teacher signal and a student signal as A large amount of learning data is generated for each class with the SD signal. Accordingly, the normal equation generation unit 207 generates a normal equation for obtaining coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) for each class.

またこの場合、正規方程式生成部207では、出力画素(図5のHD1〜HD4、図6のHD1′〜HD4′参照)毎に、正規方程式が生成される。例えば、HD1に対応した正規方程式は、中心予測タップに対するずれ値がHD1と同じ関係にあるHD画素データyから構成される学習データから生成される。結果的に正規方程式生成部207では、クラスおよび出力画素の組み合わせ毎に、正規方程式が生成される。 In this case, the normal equation generation unit 207 generates a normal equation for each output pixel (see HD 1 to HD 4 in FIG. 5 and HD 1 ′ to HD 4 ′ in FIG. 6). For example, normal equation corresponding to HD 1 is shifted value with respect to the central prediction tap is generated from the learning data consisting of HD pixel data y in the same relationship as HD 1. As a result, the normal equation generation unit 207 generates a normal equation for each combination of class and output pixel.

また、係数種データ生成装置200は、係数種データ決定部208と、係数種メモリ209とを有している。係数種データ決定部208は、正規方程式生成部207から正規方程式のデータの供給を受け、当該正規方程式を掃き出し法等によって解き、クラスおよび出力画素の組み合わせ毎に、係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を求める。係数種メモリ209は、係数種データ決定部208で求められた係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を格納する。 In addition, the coefficient seed data generation device 200 includes a coefficient seed data determination unit 208 and a coefficient seed memory 209. The coefficient seed data determination unit 208 is supplied with the data of the normal equation from the normal equation generation unit 207, solves the normal equation by a sweep method or the like, and generates coefficient seed data w i0 to w i9 for each combination of class and output pixel . (I = 1 to n) is obtained. The coefficient seed memory 209 stores coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) obtained by the coefficient seed data determination unit 208.

図14に示す係数種データ生成装置200の動作を説明する。
入力端子201に入力されるHD信号に対してSD信号生成回路202で水平および垂直の間引き処理が行われて生徒信号としてのSD信号が生成される。この場合、SD信号生成回路202にはパラメータr,zが制御信号として供給され、周波数特性およびノイズ加算量が段階的に変化した複数のSD信号が順次生成されていく。
The operation of the coefficient seed data generation device 200 shown in FIG. 14 will be described.
The HD signal input to the input terminal 201 is subjected to horizontal and vertical thinning processing by the SD signal generation circuit 202 to generate an SD signal as a student signal. In this case, parameters r and z are supplied as control signals to the SD signal generation circuit 202, and a plurality of SD signals whose frequency characteristics and noise addition amount change stepwise are sequentially generated.

SD信号生成回路202で得られるSD信号より、第2のタップ選択回路204で、HD信号における注目位置の周辺に位置するクラスタップのデータが選択的に取り出される。このクラスタップのデータはクラス検出回路205に供給される。クラス検出回路205では、クラスタップのデータに対してADRC処理が施されてクラスコードCLが得られる。   From the SD signal obtained by the SD signal generation circuit 202, the second tap selection circuit 204 selectively extracts data of class taps located around the target position in the HD signal. The class tap data is supplied to the class detection circuit 205. In the class detection circuit 205, the ADRC process is performed on the data of the class tap to obtain the class code CL.

また、SD信号生成回路202で得られるSD信号より、第1のタップ選択回路203で、HD信号における注目位置の周辺に位置する予測タップのデータxiが選択的に取り出される。そして、遅延回路206で時間調整されたHD信号より得られる注目画素データとしての各HD画素データyと、この各HD画素データyにそれぞれ対応して第1のタップ選択回路203で選択的に取り出される予測タップのデータxiと、各HD画素データyにそれぞれ対応してクラス検出回路205より出力されるクラスコードCLと、パラメータr,zの値とから、正規方程式生成部207では、クラスおよび出力画素の組み合わせ毎に、係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成するための正規方程式((11)式参照)が生成される。 Further, from the SD signal obtained by the SD signal generation circuit 202, the first tap selection circuit 203 selectively extracts the data xi of the prediction tap located around the target position in the HD signal. Then, each HD pixel data y as target pixel data obtained from the HD signal time-adjusted by the delay circuit 206, and the first tap selection circuit 203 selectively corresponding to each HD pixel data y, respectively. The normal equation generation unit 207 determines the class and output from the predicted tap data xi, the class code CL output from the class detection circuit 205 corresponding to each HD pixel data y, and the values of the parameters r and z. For each pixel combination, a normal equation (see equation (11)) for generating coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) is generated.

そして、係数種データ決定部208で各正規方程式が解かれて係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)が求められ、この係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)は係数種メモリ209に格納される。 The coefficient seed data determination unit 208 solves each normal equation to obtain coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n). The coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n). ) Is stored in the coefficient seed memory 209.

このように、図14に示す係数種データ生成装置200においては、図7に示す基板ベイ18のROM119に格納される、クラスおよび出力画素の組み合わせ毎の係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成できる。 As described above, in the coefficient seed data generating apparatus 200 shown in FIG. 14, the coefficient seed data w i0 to w i9 (i =) for each combination of class and output pixel stored in the ROM 119 of the substrate bay 18 shown in FIG. 1-n) can be generated.

また、この係数種データ生成装置200においては、例えば基板ベイ18を交換する際に、交換後の基板ベイ18のROM119に格納すべき係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成するとき、学習素材としてのSD信号として、交換前の基板ベイ18の履歴情報記憶部122に記憶されている、いずれかのクラスで不適合とされたSD信号と同様のSD信号を用いることで、ユーザの視聴環境におけるSD信号に合った係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を生成できる。 Further, in the coefficient seed data generation apparatus 200, for example, when the substrate bay 18 is replaced, the coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) to be stored in the ROM 119 of the substrate bay 18 after replacement is obtained . When generating, by using an SD signal similar to the SD signal that is stored in the history information storage unit 122 of the board bay 18 before the replacement and that is incompatible with any class, as the SD signal as the learning material. The coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) suitable for the SD signal in the viewing environment of the user can be generated.

これにより、そのような係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)をROM119に格納した基板ベイ18を用いることで、図1に示すテレビ受信機10では、DRC回路17における推定予測演算処理の結果が破綻する可能性を低くでき、HD信号を精度よく得ることができるようになる。 As a result, by using the board bay 18 in which such coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) are stored in the ROM 119, the TV receiver 10 shown in FIG. The possibility that the result of the arithmetic processing will fail can be reduced, and the HD signal can be obtained with high accuracy.

なお、上述実施の形態において、基板ベイ18は係数生成回路120を備えている。しかし、基板ベイ18はこの係数生成回路120は備えていない構成とすることもできる。その場合、係数生成回路120はDRC回路17に配置し、基板ベイ18のROM119に格納されている係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)を、インタフェース111を介してDRC回路17側に供給する。 In the above embodiment, the substrate bay 18 includes the coefficient generation circuit 120. However, the board bay 18 may be configured not to include the coefficient generation circuit 120. In that case, the coefficient generation circuit 120 is arranged in the DRC circuit 17, and the coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) stored in the ROM 119 of the board bay 18 is transferred to the DRC circuit 17 via the interface 111. Supply to the side.

また、上述実施の形態においては、基板ベイ18のROM119に係数データWi(i=1〜n)を生成するための生成式における係数データである係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)が格納されているものを示した。しかし、このROM119に係数データWi(i=1〜n)自体を格納しておくことも考えられる。その場合、DRC回路17では、そのROM119に格納されている係数データWi(i=1〜n)をそのまま係数メモリ104にロードして使用できる。 In the above-described embodiment, coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to 1), which are coefficient data in the generation formula for generating coefficient data Wi (i = 1 to n) in the ROM 119 of the substrate bay 18. n) shows what is stored. However, it is also conceivable to store the coefficient data Wi (i = 1 to n) itself in the ROM 119. In that case, the DRC circuit 17 can load the coefficient data Wi (i = 1 to n) stored in the ROM 119 into the coefficient memory 104 as it is and use it.

また、上述実施の形態においては、基板ベイ18をDRC回路17に着脱自在に接続するものであるが、この基板ベイ18の接続箇所はこれに限定されるものではない。例えば、入出力インタフェース19の部分に着脱自在に接続される構成とすることもできる。   In the above-described embodiment, the substrate bay 18 is detachably connected to the DRC circuit 17, but the connection location of the substrate bay 18 is not limited to this. For example, the input / output interface 19 may be detachably connected.

また、上述実施の形態においては、第1の情報信号としてのSD信号から抽出される特徴量がクラスタップのデータから得られるレベル分布パターン(クラスコードCLに対応)およびDR値の2つであったが、この発明はこれに限定されるものではない。すなわち、抽出される特徴量が1個、あるいは3個以上であってもよく、その種類も種々考えられる。例えば、クラスタップのデータから得られる隣接差分データの絶対値和、クラスタップのデータの平均値等を特徴量として使うこともできる。要は、DRC回路17における係数データWi(i=1〜n)を使用した推定予測演算処理に影響を与える特徴量を抽出して、それを用いてSD信号の適合性を判定できれば効果的である。   Further, in the above-described embodiment, the feature amount extracted from the SD signal as the first information signal is the level distribution pattern (corresponding to the class code CL) obtained from the class tap data and the DR value. However, the present invention is not limited to this. That is, the feature quantity to be extracted may be one, or three or more, and various types are conceivable. For example, an absolute value sum of adjacent difference data obtained from class tap data, an average value of class tap data, or the like can be used as the feature amount. In short, it is effective if the feature quantity that affects the estimated prediction calculation process using the coefficient data Wi (i = 1 to n) in the DRC circuit 17 is extracted and the suitability of the SD signal can be determined using the feature quantity. is there.

また、上述実施の形態においては、基板ベイ18に係数種データwi0〜wi9(i=1〜n)が格納されたROM119を備えているものを示したが、このROM119は必ずしも基板ベイ18にある必要はない。このROM119は、別の基板ベイにあってもよい。例えば、DRC回路17の部分が別の基板ベイとなっており、その基板ベイにROM119があってもよい。 In the above embodiment, the substrate bay 18 includes the ROM 119 in which the coefficient seed data w i0 to w i9 (i = 1 to n) are stored. There is no need to be. This ROM 119 may be in another board bay. For example, the DRC circuit 17 may be another board bay, and the ROM 119 may be in the board bay.

また、上述実施の形態においては、情報信号が画像信号である場合を示したが、この発明はこれに限定されない。例えば、情報信号が音声信号である場合にも、この発明を同様に適用することができる。   Moreover, although the case where the information signal is an image signal has been described in the above embodiment, the present invention is not limited to this. For example, the present invention can be similarly applied when the information signal is an audio signal.

この発明は、バージョンアップ開発に有効な第1の情報信号が充分に記憶された状態でユーザに交換、回収を通知できるものであり、第1の情報信号に対してこの第1の情報信号に対応した所定の情報信号に基づいて予め生成された所定のデータを用いた処理を行って第2の情報信号を得る情報信号処理装置に、基板構造の電子機器を取り外し可能に接続して、バージョンアップ開発に有効な第1の情報信号を収集する用途に適用できる。   The present invention is capable of notifying the user of exchange and collection in a state where the first information signal effective for version upgrade development is sufficiently stored, and in response to the first information signal, An electronic device having a substrate structure is detachably connected to an information signal processing device that obtains a second information signal by performing processing using predetermined data generated in advance based on a corresponding predetermined information signal. It can be applied to a purpose of collecting the first information signal that is effective for the development.

実施の形態としてのテレビ受信機の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the television receiver as embodiment. 525i信号と1050i信号の画素位置関係を示す図である。It is a figure which shows the pixel positional relationship of a 525i signal and a 1050i signal. DRC回路と基板ベイの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a DRC circuit and a board | substrate bay. クラスタップと予測タップの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of a class tap and a prediction tap. HD信号(1050i信号)の単位画素ブロック内の4画素の中心予測タップからの位相ずれ(奇数フィールド)を示す図である。It is a figure which shows the phase shift (odd field) from the center prediction tap of 4 pixels in the unit pixel block of HD signal (1050i signal). HD信号(1050i信号)の単位画素ブロック内の4画素の中心予測タップからの位相ずれ(偶数フィールド)を示す図である。It is a figure which shows the phase shift (even field) from the center prediction tap of 4 pixels in the unit pixel block of HD signal (1050i signal). 基板ベイの構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a board | substrate bay. 開発時およびユーザ視聴時の各クラスのDR値頻度分布を示す図である。It is a figure which shows DR value frequency distribution of each class at the time of development and user viewing. 開発時とユーザ視聴時のDR値頻度分布の相関係数を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the correlation coefficient of DR value frequency distribution at the time of development and user viewing. 履歴情報記憶部の記憶内容を示す図である。It is a figure which shows the memory content of a log | history information storage part. 各履歴情報の判定情報を示す図である。It is a figure which shows the determination information of each log | history information. 基板ベイの履歴情報の記憶に係る処理を説明するためのフローチャートである。It is a flow chart for explaining processing concerning storage of history information on a substrate bay. 係数種データの生成方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the production | generation method of coefficient seed data. 係数種データ生成装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a coefficient seed data generation apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

10・・・テレビ受信機、11・・・内部バス、12・・・チューナ、13・・・デコーダ、14・・・CPU、15・・・RAM、16・・・ROM、17・・・DRC回路、18・・・基板ベイ、19・・・入出力インタフェース、20・・・ドライブ、21・・・リムーバブルメディア、22・・・受光部、23・・・リモコン送信機、24・・・表示部、25・・・HDD、26・・・操作部、101・・・第1のタップ選択回路、102・・・第2のタップ選択回路、103・・・クラス検出回路、104・・・係数メモリ、105・・・インタフェース、106・・・推定予測演算回路、107・・・後処理回路、111・・・インタフェース、112・・・バッファ、113・・・特徴量抽出部、114・・・タップ選択回路、115・・・クラス検出回路、116・・・ダイナミックレンジ抽出回路、117・・・入力信号適合性判定部、118,119・・・ROM、120・・・係数生成回路、121・・・履歴情報制御部、122・・・履歴情報記憶部、123・・・履歴情報判定量抽出部、124・・・履歴情報有用性判定部、125・・・通知部、200・・・係数種データ生成装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Television receiver, 11 ... Internal bus, 12 ... Tuner, 13 ... Decoder, 14 ... CPU, 15 ... RAM, 16 ... ROM, 17 ... DRC Circuit, 18 ... Board bay, 19 ... Input / output interface, 20 ... Drive, 21 ... Removable media, 22 ... Light receiving unit, 23 ... Remote control transmitter, 24 ... Display , 25... HDD, 26... Operation unit, 101... First tap selection circuit, 102... Second tap selection circuit, 103. Memory, 105 ... interface, 106 ... estimated prediction calculation circuit, 107 ... post-processing circuit, 111 ... interface, 112 ... buffer, 113 ... feature quantity extraction unit, 114 ... Tap selection circuit 115: Class detection circuit, 116: Dynamic range extraction circuit, 117: Input signal suitability determination unit, 118, 119 ... ROM, 120 ... Coefficient generation circuit, 121 ... History information Control unit, 122 ... history information storage unit, 123 ... history information determination amount extraction unit, 124 ... history information usefulness determination unit, 125 ... notification unit, 200 ... coefficient seed data generation device

Claims (10)

第1の情報信号に基づいて、当該第1の情報信号より多い画素数の第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第1の情報データを選択する第1のデータ選択手段と、上記第1のデータ選択手段で選択された上記複数の第1の情報データに基づいて、第1の特徴量を抽出する第1の特徴量抽出手段と、上記第1の特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に基づいて、上記第2の情報信号における注目位置の情報データが属するクラスを検出するクラス検出手段と、上記第1の情報信号に基づいて、上記第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第2の情報データを選択する第2のデータ選択手段と、上記第2のデータ選択手段で選択された上記複数の第2の情報データと、上記所定のデータである、または該所定のデータを用いて得られた、上記クラス検出手段で検出されたクラスの推定式で用いられる係数データとを用い、上記推定式に基づいて上記第2の情報信号における注目位置の情報データを算出して得る演算手段とを有する情報信号処理装置に取り外し可能に接続され、上記第1の特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に対応した第2の特徴量および該第2の特徴量とは異なる第3の特徴量を抽出する第の特徴量抽出手段と、
上記第1の情報信号の一定期間または不定期間毎に、上記第の特徴量抽出手段で抽出された上記第2の特徴量から検出されるクラス毎の、上記第3の特徴量の頻度分布を示す第1の情報および上記所定の情報信号に係る該第1の情報に対応した第2の情報に基づいて各クラスの頻度分布の相関係数を求め、該相関係数に基づいて各クラスにおける上記情報信号処理装置における上記係数データを用いた処理の適合性を判定する適合性判定手段と、
少なくとも上記適合性判定手段で不適合であると判定された上記所定期間分の上記第1の情報信号または当該第1の情報信号の上記第3の特徴量の頻度分布を示す加工情報を順次記憶する第1の記憶手段と、
上記第1の記憶手段に記憶された情報に基づいて、該第1の記憶手段に記憶された上記不適合と判定された上記第1の情報信号または上記加工情報が所定量になったか否かを判定する情報量判定手段とを備える電子機器。
First data selection means for selecting , based on the first information signal, a plurality of first information data located around the position of interest in the second information signal having a larger number of pixels than the first information signal; The first feature quantity extraction means for extracting the first feature quantity based on the plurality of first information data selected by the first data selection means, and the first feature quantity extraction means Class detection means for detecting a class to which the information data of the position of interest in the second information signal belongs based on the extracted first feature amount, and the second information based on the first information signal Second data selection means for selecting a plurality of second information data located around a target position in the signal; the plurality of second information data selected by the second data selection means; and the predetermined data Or the data Information of the position of interest in the second information signal is calculated based on the estimation formula using the coefficient data used in the estimation formula of the class detected by the class detection means obtained using the data of is removably connected to the information signal processing equipment having a computing means obtained by said second feature quantity and said corresponding to the first feature amounts extracted by the first feature extraction means 2 Second feature quantity extraction means for extracting a third feature quantity different from the feature quantity of
The frequency distribution of the third feature quantity for each class detected from the second feature quantity extracted by the second feature quantity extraction means for each fixed period or indefinite period of the first information signal. the calculated correlation coefficient of the frequency distribution of each class on the basis of the second information corresponding to the first information of the first information and the predetermined information signals indicating, each class based on said phase number relationship Suitability determination means for determining suitability of processing using the coefficient data in the information signal processing device in
The first information signal for the predetermined period determined to be non-conforming by at least the conformity determining means or the processing information indicating the frequency distribution of the third feature amount of the first information signal is sequentially stored. First storage means;
Based on the first information stored in the storage means, whether or not the it is determined that stored the nonconformity in the storage means of the first the first information signal or the processed information becomes a predetermined amount Ru electronic device and a determining information amount determining means.
上記第1の記憶手段は、
上記各所定期間分の第1の情報信号または上記加工情報の他に、該各所定期間分の第1の情報信号に関連して、上記第2の特徴量から検出される各クラスの頻度の情報、上記第1の情報および上記第2の情報に基づいて求められた各クラスの頻度分布の相関係数、および該相関係数を用いて判定された各クラスの適合性の判定結果を記憶し、
上記情報量判定手段は、
上記第1の記憶手段に記憶された各所定期間分の上記頻度の情報、上記相関係数および上記適合性の判定結果に基づいて、該第1の記憶手段に記憶された上記不適合と判定された上記第1の情報信号または上記加工情報が所定量となったか否かを判定する請求項1に記載の電子機器。
The first storage means is
In addition to the first information signal or the processed information in each predetermined period, in relation to the first information signal of each of a predetermined period, the frequency of each class to be detected from the second feature quantity Information, correlation coefficient of frequency distribution of each class obtained based on the first information and the second information, and a determination result of suitability of each class determined using the correlation coefficient And
The information amount determination means includes
Based on the frequency information for each predetermined period stored in the first storage unit, the correlation coefficient, and the determination result of the suitability, it is determined that the nonconformity is stored in the first storage unit. and the electronic apparatus according the first information signal or the processed information in Motomeko 1 you determine whether or not a predetermined amount.
上記情報量判定手段の判定結果に基づき、上記第1の記憶手段に上記不適合と判定された上記第1の情報信号または上記加工情報が所定量となったことをユーザに通知する通知手段をさらに備え
求項1に記載の電子機器。
Based on the determination result of the information amount determining means, further signaling means for the said incompatible with the determined said first information signal or the processed information in the first storage means to notify the user that a predetermined amount Ru equipped
The electronic device according to Motomeko 1.
上記所定のデータが記憶された第2の記憶手段をさらに備え
求項1に記載の電子機器。
Ru further comprising a second storage means for said predetermined data is stored
The electronic device according to Motomeko 1.
上記情報信号処理装置は、
上記第2の情報信号によって得られる出力の質を定めるパラメータの値が入力されるパラメータ入力手段をさらに有し、
上記所定データとして、クラス毎に求められた、上記推定式で用いられる係数データを生成する上記パラメータを含む生成式における係数データである係数種データを格納する第2の記憶手段をさらに備え
求項に記載の電子機器。
The information signal processing apparatus is
Parameter input means for inputting a parameter value that determines the quality of the output obtained by the second information signal;
As the predetermined data, obtained for each class, Ru second further comprising a storage means for storing coefficient seed data is coefficient data in a production equation containing the parameters for generating coefficient data used in the estimated equation
The electronic device according to Motomeko 1.
上記第1の記憶手段は、
上記各処理期間分の第1の情報信号の他に、該所定期間分の第1の情報信号に関連して、上記パラメータの値を記憶す
求項に記載の電子機器。
The first storage means is
In addition to the first information signal of the respective processing period, in relation to the first information signal the predetermined period fraction, it stores the value of the parameter
The electronic device according to Motomeko 5.
第1の情報信号に基づいて、当該第1の情報信号より多い画素数の第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第1の情報データを選択する第1のデータ選択手段と、
上記第1のデータ選択手段で選択された上記複数の第1の情報データに基づいて、第1の特徴量を抽出する第1の特徴量抽出手段と、
上記第1の特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に基づいて、上記第2の情報信号における注目位置の情報データが属するクラスを検出するクラス検出手段と、
上記第1の情報信号に基づいて、上記第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第2の情報データを選択する第2のデータ選択手段と、
上記第2のデータ選択手段で選択された上記複数の第2の情報データと、上記所定のデータである、または該所定のデータを用いて得られた、上記クラス検出手段で検出されたクラスの推定式で用いられる係数データとを用い、上記推定式に基づいて上記第2の情報信号における注目位置の情報データを算出して得る演算手段と、
上記演算手段に上記係数データを供給する電子機器を取り外し可能に接続すると共に、前記第1の情報信号を前記電子機器に供給する基板接続部備え
上記電子機器は、
上記基板接続部を介して入力された上記第1の情報信号に基づいて、上記第1の特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に対応した第2の特徴量および該第2の特徴量とは異なる第3の特徴量を抽出する第2の特徴量抽出手段と、
上記第1の情報信号の一定期間または不定期間毎に、第2の特徴量抽出手段で抽出された上記第2の特徴量から検出されるクラス毎の、上記第3の特徴量の頻度分布を示す第1の情報および上記所定の情報信号に係る該第1の情報に対応した第2の情報に基づいて各クラスの頻度分布の相関係数を求め、該相関係数に基づいて各クラスにおける上記情報信号処理装置における上記係数データを用いた処理の適合性を判定する適合性判定手段と、
少なくとも上記適合性判定手段で不適合であると判定された上記所定期間分の上記第1の情報信号または当該第1の情報信号の上記第3の特徴量の頻度分布を示す加工情報を順次記憶する第1の記憶手段と、
上記第1の記憶手段に記憶された情報に基づいて、該第1の記憶手段に記憶された上記不適合と判定された上記第1の情報信号または上記加工情報が所定量になったか否かを判定する情報量判定手段と、
上記係数データを生成するための生成式の係数データである係数種データを記憶する第2の記憶手段とを有し、
上記第2の記憶手段の上記係数種データを用いて生成された上記係数データは、上記基板接続部を介して上記演算手段に供給される情報信号処理装置。
First data selection means for selecting , based on the first information signal, a plurality of first information data located around the position of interest in the second information signal having a larger number of pixels than the first information signal; ,
First feature quantity extraction means for extracting a first feature quantity based on the plurality of first information data selected by the first data selection means;
Class detection means for detecting a class to which the information data of the position of interest in the second information signal belongs based on the first feature quantity extracted by the first feature quantity extraction means;
Second data selection means for selecting a plurality of second information data located around the position of interest in the second information signal based on the first information signal;
The plurality of second information data selected by the second data selection means, the predetermined data, or the class detected by the class detection means, obtained using the predetermined data. Computing means obtained by calculating information data of a position of interest in the second information signal based on the estimation formula using coefficient data used in the estimation formula;
Thereby detachably connected to the electronic device supplies the coefficient data to said computing means, said first information signal and a board connecting portion to be supplied to the electronic device,
The electronic device
Based on the first information signal input through the board connection unit, a second feature amount corresponding to the first feature amount extracted by the first feature amount extraction unit and the second feature amount Second feature quantity extraction means for extracting a third feature quantity different from the feature quantity;
The frequency distribution of the third feature quantity for each class detected from the second feature quantity extracted by the second feature quantity extraction means for each fixed period or indefinite period of the first information signal. in the first information and the correlation coefficient of the frequency distribution of each class on the basis of the second information corresponding to said first information according to the predetermined information signals, each class based on said phase number relationships shown Suitability determination means for determining suitability of processing using the coefficient data in the information signal processing device ;
The first information signal for the predetermined period determined to be non-conforming by at least the conformity determining means or the processing information indicating the frequency distribution of the third feature amount of the first information signal is sequentially stored. First storage means;
Based on the first information stored in the storage means, whether or not the first the first it is determined that stored the nonconformity in storage means of the information signal or the processed information becomes a predetermined amount Information amount determination means for determining;
Second storage means for storing coefficient seed data, which is coefficient data of a generation formula for generating the coefficient data,
The information signal processing apparatus , wherein the coefficient data generated by using the coefficient seed data of the second storage means is supplied to the arithmetic means via the substrate connection section .
上記情報量判定手段の判定結果に基づき、上記記憶手段に上記不適合と判定された上記第1の情報信号または上記加工情報が所定量となったことをユーザに通知する通知手段をさらに有す
求項に記載の情報信号処理装置。
Based on the determination result of the information amount determining means, that the incompatibility between the determined said first information signal or the processed information in the storage means further having a notifying means for notifying the user that a predetermined amount
Information signal processing apparatus according to Motomeko 7.
第1の情報信号に基づいて、当該第1の情報信号より多い画素数の第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第1の情報データを選択する第1のデータ選択手段と、上記第1のデータ選択手段で選択された上記複数の第1の情報データに基づいて、第1の特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、上記特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に基づいて、上記第2の情報信号における注目位置の情報データが属するクラスを検出するクラス検出手段と、上記第1の情報信号に基づいて、上記第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第2の情報データを選択する第2のデータ選択手段と、上記第2のデータ選択手段で選択された上記複数の第2の情報データと、上記所定のデータである、または該所定のデータを用いて得られた、上記クラス検出手段で検出されたクラスの推定式で用いられる係数データとを用い、上記推定式に基づいて上記第2の情報信号における注目位置の情報データを算出して得る演算手段とを有する情報信号処理装置に、取り外し可能に接続されて用いられる電子機器は、
上記特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に対応した第2の特徴量および該第2の特徴量とは異なる第3の特徴量を抽出する特徴量抽出ステップと、
上記第1の情報信号の一定期間または不定期間毎に、上記特徴量抽出ステップで抽出された上記第2の特徴量から検出されるクラス毎の、上記第3の特徴量の頻度分布を示す第1の情報および上記所定の情報信号に係る該第1の情報に対応した第2の情報に基づいて各クラスの頻度分布の相関係数を求め、該相関係数に基づいて各クラスにおける上記情報信号処理装置における上記係数データを用いた処理の適合性を判定する適合性判定ステップと、
少なくとも上記適合性判定ステップで不適合であると判定された上記所定期間分の上記第1の情報信号または当該第1の情報信号の上記第3の特徴量の頻度分布を示す加工情報を順次記憶する記憶ステップと、
上記記憶ステップで記憶された情報に基づいて、該記憶ステップで記憶された上記不適合と判定された上記第1の情報信号または上記加工情報が所定量になったか否かを判定する情報量判定ステップと
有する電子機器における情報信号処理方法。
First data selection means for selecting , based on the first information signal, a plurality of first information data located around the position of interest in the second information signal having a larger number of pixels than the first information signal; , Based on the plurality of first information data selected by the first data selection means, a feature quantity extraction means for extracting a first feature quantity, and a first feature quantity extracted by the feature quantity extraction means Class detecting means for detecting a class to which the information data of the target position in the second information signal belongs based on the feature amount, and surroundings of the target position in the second information signal based on the first information signal A second data selection means for selecting a plurality of second information data located at a position, the plurality of second information data selected by the second data selection means, and the predetermined data, or The predetermined data Using the coefficient data used in the estimation formula of the class detected by the class detection means obtained by calculating the information data of the position of interest in the second information signal based on the estimation formula And an electronic device used by being detachably connected to an information signal processing device having a means ,
A feature amount extracting step of extracting a second feature amount corresponding to the first feature amount extracted by the feature amount extraction means and a third feature amount different from the second feature amount ;
A frequency distribution of the third feature quantity for each class detected from the second feature quantity extracted in the feature quantity extraction step for each fixed period or indefinite period of the first information signal . the correlation coefficient of the frequency distribution of each class on the basis of the second information corresponding to said first information according to the first information and the predetermined information signal, the information in each class on the basis of said phase number relationship A suitability determination step for determining suitability of processing using the coefficient data in the signal processing device ;
The first information signal for the predetermined period determined to be non-conforming at least in the conformity determining step or the processing information indicating the frequency distribution of the third feature amount of the first information signal is sequentially stored. A memory step;
Based on the information stored in the storing step, the information amount determining step of determining whether or not said first information signal or the processed information determined with the stored the incompatibility said storing step reaches a predetermined amount An information signal processing method in an electronic device comprising:
第1の情報信号に基づいて、当該第1の情報信号より多い画素数の第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第1の情報データを選択する第1のデータ選択手段と、上記第1のデータ選択手段で選択された上記複数の第1の情報データに基づいて、第1の特徴量を抽出する特徴量抽出手段と、上記特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に基づいて、上記第2の情報信号における注目位置の情報データが属するクラスを検出するクラス検出手段と、上記第1の情報信号に基づいて、上記第2の情報信号における注目位置の周辺に位置する複数の第2の情報データを選択する第2のデータ選択手段と、上記第2のデータ選択手段で選択された上記複数の第2の情報データと、上記所定のデータである、または該所定のデータを用いて得られた、上記クラス検出手段で検出されたクラスの推定式で用いられる係数データとを用い、上記推定式に基づいて上記第2の情報信号における注目位置の情報データを算出して得る演算手段とを有する情報信号処理装置に、取り外し可能に接続されて用いられる電子機器は、
上記特徴量抽出手段で抽出された第1の特徴量に対応した第2の特徴量および該第2の特徴量とは異なる第3の特徴量を抽出する特徴量抽出ステップと、
上記第1の情報信号の一定期間または不定期間毎に、上記特徴量抽出ステップで抽出された上記第2の特徴量から検出されるクラス毎の、上記第3の特徴量の頻度分布を示す第1の情報および上記所定の情報信号に係る該第1の情報に対応した第2の情報に基づいて各クラスの頻度分布の相関係数を求め、該相関係数に基づいて各クラスにおける上記情報信号処理装置における上記係数データを用いた処理の適合性を判定する適合性判定ステップと、
少なくとも上記適合性判定ステップで不適合であると判定された上記所定期間分の上記第1の情報信号または当該第1の情報信号の上記第3の特徴量の頻度分布を示す加工情報を順次記憶する記憶ステップと、
上記記憶ステップで記憶された情報に基づいて、該記憶ステップで記憶された上記不適合と判定された上記第1の情報信号または上記加工情報が所定量になったか否かを判定する情報量判定ステップと
有する電子機器における情報信号処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
First data selection means for selecting , based on the first information signal, a plurality of first information data located around the position of interest in the second information signal having a larger number of pixels than the first information signal; , Based on the plurality of first information data selected by the first data selection means, a feature quantity extraction means for extracting a first feature quantity, and a first feature quantity extracted by the feature quantity extraction means Class detecting means for detecting a class to which the information data of the target position in the second information signal belongs based on the feature amount, and surroundings of the target position in the second information signal based on the first information signal A second data selection means for selecting a plurality of second information data located at a position, the plurality of second information data selected by the second data selection means, and the predetermined data, or The predetermined data Using the coefficient data used in the estimation formula of the class detected by the class detection means obtained by calculating the information data of the position of interest in the second information signal based on the estimation formula And an electronic device used by being detachably connected to an information signal processing device having a means ,
A feature amount extracting step of extracting a second feature amount corresponding to the first feature amount extracted by the feature amount extraction means and a third feature amount different from the second feature amount ;
A frequency distribution of the third feature quantity for each class detected from the second feature quantity extracted in the feature quantity extraction step for each fixed period or indefinite period of the first information signal . the correlation coefficient of the frequency distribution of each class on the basis of the second information corresponding to said first information according to the first information and the predetermined information signal, the information in each class on the basis of said phase number relationship A suitability determination step for determining suitability of processing using the coefficient data in the signal processing device ;
The first information signal for the predetermined period determined to be non-conforming at least in the conformity determining step or the processing information indicating the frequency distribution of the third feature amount of the first information signal is sequentially stored. A memory step;
Based on the information stored in the storing step, the information amount determining step of determining whether or not said first information signal or the processed information determined with the stored the incompatibility said storing step reaches a predetermined amount A program for causing a computer to execute an information signal processing method in an electronic device comprising:
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