JP4312214B2 - Optical pickup device - Google Patents

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JP4312214B2 JP2006191327A JP2006191327A JP4312214B2 JP 4312214 B2 JP4312214 B2 JP 4312214B2 JP 2006191327 A JP2006191327 A JP 2006191327A JP 2006191327 A JP2006191327 A JP 2006191327A JP 4312214 B2 JP4312214 B2 JP 4312214B2
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Description

本発明は、光ピックアップ装置に関するものであり、特に、複数の対物レンズが配された互換型の光ピックアップ装置に用いて好適なものである。   The present invention relates to an optical pickup device, and is particularly suitable for use in a compatible optical pickup device having a plurality of objective lenses.

基板厚の異なる数種のディスクに対応可能な互換型光ピックアップでは、2つ以上の対物レンズを用いる方式が考えられる。この場合、レーザ光を何れの対物レンズに導くかを適宜設定できる構成が光学系内に必要となる。この構成として、たとえば、以下の特許文献1、2に示す構成を用いることができる。   In a compatible optical pickup that can handle several types of disks with different substrate thicknesses, a method using two or more objective lenses can be considered. In this case, a configuration in which the objective lens to which the laser beam is guided can be appropriately set in the optical system. As this structure, the structure shown in the following patent documents 1 and 2 can be used, for example.

図11に、特許文献1、2に記載の構成例を示す。図において、1は半導体レーザ、2はコリメータレンズ、3は偏光変換素子、4は偏光ビームスプリッタ、5はミラー、6はλ/4波長板、7は第1の対物レンズ、8は第2の対物レンズ、9は光検出系である。   FIG. 11 shows a configuration example described in Patent Documents 1 and 2. In the figure, 1 is a semiconductor laser, 2 is a collimator lens, 3 is a polarization conversion element, 4 is a polarization beam splitter, 5 is a mirror, 6 is a λ / 4 wave plate, 7 is a first objective lens, and 8 is a second objective lens. An objective lens 9 is a light detection system.

半導体レーザ1から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ2で平行光とされた後、偏光変換素子3によって偏光方向が調整される。レーザ光の偏光方向が第1の方向にあるとき、レーザ光は、偏光ビームスプリッタ4にて、第1の対物レンズ7に向かう方向に反射される。また、レーザ光の偏光方向が第1の方向に直交する第2の方向にあるとき、レーザ光は、偏光ビームスプリッタ4を透過し、ミラー5を介して、第2の対物レンズ8に入射される。このように、偏光変換素子3によってレーザ光の偏光方向を第1の方向と第2の方向の間で切り替えることにより、レーザ光が入射される対物レンズが変更される。
特開平9−212905号公報 特開2001−344803号公報
The laser light emitted from the semiconductor laser 1 is converted into parallel light by the collimator lens 2 and then the polarization direction is adjusted by the polarization conversion element 3. When the polarization direction of the laser beam is in the first direction, the laser beam is reflected by the polarization beam splitter 4 in the direction toward the first objective lens 7. Further, when the polarization direction of the laser light is in a second direction orthogonal to the first direction, the laser light is transmitted through the polarization beam splitter 4 and incident on the second objective lens 8 via the mirror 5. The As described above, the polarization lens 3 switches the polarization direction of the laser light between the first direction and the second direction, thereby changing the objective lens on which the laser light is incident.
JP-A-9-212905 JP 2001-344803 A

しかし、上記従来の構成例では、第1の対物レンズ7を経由したディスクからの反射光(第1の反射光)と、第2の対物レンズ8を経由したディスクからの反射光(第2の反射光)を、それぞれ光検出器上の対応するセンサパターン上に導くのが困難であるとの問題が生じる。   However, in the above-described conventional configuration example, the reflected light (first reflected light) from the disk via the first objective lens 7 and the reflected light (second reflection) from the disk via the second objective lens 8 are used. The problem arises that it is difficult to guide the reflected light) onto the corresponding sensor pattern on each photodetector.

上記構成例の場合には、通常、半導体レーザ1から光検出器9までの光学素子をシャーシ上に配置した後、たとえば、第1の反射光が、対応するセンサパターン上に適正に照射されるよう、各光学素子の位置が調整される。しかし、この調整によっては、必ずしも、第2の反射光が、対応するセンサパターン上に適正に照射されるとは限らず、通常は、正規の位置に対する第2の対物レンズ8の位置ずれ(光軸に垂直な方向、あるいは、チルト方向における位置ずれ)等に起因して、第2の反射光が、対応するセンサパターンからずれた位置に照射される。   In the case of the above configuration example, normally, after arranging the optical elements from the semiconductor laser 1 to the photodetector 9 on the chassis, for example, the first reflected light is appropriately irradiated onto the corresponding sensor pattern. As described above, the position of each optical element is adjusted. However, depending on this adjustment, the second reflected light is not necessarily properly irradiated onto the corresponding sensor pattern, and usually, the positional deviation (light) of the second objective lens 8 with respect to the normal position is not achieved. The second reflected light is irradiated to a position deviated from the corresponding sensor pattern due to a direction perpendicular to the axis or a position shift in the tilt direction.

ところが、上記構成例では、既に、各光学素子が第1の反射光との関係で位置調整されているため、これらの光学素子の位置をさらに調整して、第2の反射光の照射位置を調整することはできない。この場合、第1および第2の反射光に対応するそれぞれのセンサパターンを、光検出器上において個別に位置調整できるようにすれば、第2の反射光を対応するセンサパターン上に照射させ得るが、こうすると、構成が複雑化するとの問題が生じる。また、この手法は、第1および第2の反射光に対応して個別にセンサパターンが配される場合に講じ得るものであり、第1および第2の反射光を共通のセンサパターン上に照射させる場合には、最早、このような手法を取ることすらできない。   However, in the above configuration example, since the position of each optical element has already been adjusted in relation to the first reflected light, the position of these optical elements is further adjusted to change the irradiation position of the second reflected light. It cannot be adjusted. In this case, if the position of each sensor pattern corresponding to the first and second reflected light can be individually adjusted on the photodetector, the second reflected light can be irradiated onto the corresponding sensor pattern. However, this causes a problem that the configuration becomes complicated. Further, this method can be used when the sensor patterns are individually arranged corresponding to the first and second reflected lights, and the first and second reflected lights are irradiated onto the common sensor pattern. If you do, you can no longer even take this approach.

このように、上記構成例では、第1の反射光と第2の反射光を、ともに、対応するセンサパターン上に位置づけるのが困難であるとの問題が生じる。   Thus, in the above configuration example, there is a problem that it is difficult to position both the first reflected light and the second reflected light on the corresponding sensor pattern.

本発明は、このような問題を回避するためになされたものであり、簡単な構成の追加により円滑に、光検出器上のセンサパターンに対する第1および第2の反射光の位置調整を行える光ピックアップ装置を提供することを課題とする。   The present invention has been made in order to avoid such a problem, and can easily adjust the positions of the first and second reflected lights with respect to the sensor pattern on the photodetector by adding a simple configuration. It is an object to provide a pickup device.

上記課題に鑑み本発明は、それぞれ、以下の特徴を有する。   In view of the above problems, the present invention has the following features.

請求項1の発明は、光ピックアップ装置において、レーザ光を出射する第1の光源と、前記第1の光源から出射されたレーザ光が入射される偏光ビームスプリッタと、前記偏光ビームスプリッタに対する前記レーザ光の偏光方向を制御信号に応じて切り替える偏光変換素子と、前記偏光ビームスプリッタを通過した第1のレーザ光が入射されるとともに該第1のレーザ光を記録媒体上に収束させる第1の対物レンズと、前記偏光ビームスプリッタにて反射された第2のレーザ光が入射されるとともに該第2のレーザ光を記録媒体上に収束させる第2の対物レンズと、前記偏光ビームスプリッタと前記第1および第2の対物レンズとの間に配されたλ/4板と、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光を受光する光検出器と、前記λ/4板と前記光検出器の間に配されるとともに前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光のうち何れか一方のみに偏光方向に応じた回折作用を発現する偏光性回折素子とを備え、前記偏光性回折素子は、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光が前記光検出器上の対応するセンサパターン上に照射されるよう位置調整されていることを特徴とする。 According to a first aspect of the present invention, in the optical pickup device, a first light source that emits laser light, a polarization beam splitter that receives laser light emitted from the first light source, and the laser for the polarization beam splitter. A polarization conversion element that switches a polarization direction of light according to a control signal, and a first objective that causes the first laser light that has passed through the polarization beam splitter to be incident and converges the first laser light on a recording medium. A lens, a second objective lens that receives the second laser beam reflected by the polarization beam splitter and converges the second laser beam on a recording medium, the polarization beam splitter, and the first beam And a λ / 4 plate disposed between the first objective lens and the second objective lens, and light detection for receiving the first and second laser beams reflected by the disk When the diffraction action in accordance with the polarization direction only either one of the lambda / 4 plate and the light detector and the first and reflected by the disc with disposed between the second laser beam expression A polarizing diffractive element that adjusts the position of the polarizing diffractive element so that the first and second laser beams reflected by the disk are irradiated onto a corresponding sensor pattern on the photodetector. It is characterized by being.

請求項2の発明は、請求項1に記載の光ピックアップ装置において、前記光検出器は、前記第1のレーザ光を受光する第1のセンサパターンと前記第2のレーザ光を受光する第2のセンサパターンを個別に有し、前記偏光性回折素子は、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光が前記第1および第2のセンサパターン上にそれぞれ照射されるよう位置調整されていることを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the optical pickup device according to the first aspect, the photodetector detects a first sensor pattern that receives the first laser beam and a second sensor that receives the second laser beam. The polarization diffractive element is positioned so that the first and second laser beams reflected by the disk are irradiated onto the first and second sensor patterns, respectively. It is characterized by being.

請求項3の発明は、請求項1に記載の光ピックアップ装置において、前記光検出器は、前記第1および第2のレーザ光を受光する共通のセンサパターンを有し、前記偏光性回折素子は、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光が前記共通のセンサパターン上に照射されるよう位置調整されていることを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the optical pickup device according to the first aspect, the photodetector has a common sensor pattern that receives the first and second laser beams, and the polarizing diffraction element is The position of the first and second laser beams reflected by the disk is adjusted so as to be irradiated onto the common sensor pattern.

請求項4の発明は、請求項1ないし3の何れか一項に記載の光ピックアップ装置において、前記偏光変換素子は、前記レーザ光が前記偏光ビームスプリッタを略全透過する第1の偏光方向と、前記レーザ光が前記偏光ビームスプリッタによって略全反射される第2の偏光方向との間で、前記レーザ光の偏光方向を切り替えることを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, in the optical pickup device according to any one of the first to third aspects, the polarization conversion element has a first polarization direction in which the laser light is substantially totally transmitted through the polarization beam splitter. The polarization direction of the laser beam is switched between the second polarization direction in which the laser beam is substantially totally reflected by the polarization beam splitter.

請求項の発明は、請求項1ないしの何れか一項に記載の光ピックアップ装置において、前記偏光性回折素子は、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光が収束光となる光路上に配置されていることを特徴とする。 According to a fifth aspect of the present invention, in the optical pickup device according to any one of the first to fourth aspects, the polarizing diffractive element is configured such that the first and second laser beams reflected by the disk are convergent lights. It is arrange | positioned on the optical path used as follows.

請求項6の発明は、請求項1ないしの何れか一項に記載の光ピックアップ装置において、前記第1の光源から出射されるレーザ光とは異なる波長のレーザ光を出射する第2の光源をさらに備え、前記第2の光源からのレーザ光は、前記第1の光源からのレーザ光に光軸が整合し、且つ、前記第1および第2のレーザ光の何れか一方に偏光方向が一致する状態にて前記偏光ビームスプリッタに入射されることを特徴とする。 According to a sixth aspect of the present invention, in the optical pickup device according to any one of the first to fifth aspects, the second light source that emits laser light having a wavelength different from that of the laser light emitted from the first light source. The laser light from the second light source has an optical axis aligned with the laser light from the first light source, and has a polarization direction in one of the first and second laser lights. The light beam is incident on the polarization beam splitter in a coincident state.

本発明によれば、偏光性回折素子を位置調整することにより、ディスクによって反射された第1および第2のレーザ光が光検出器上の対応するセンサパターン上に適正に照射される。すなわち、本発明によれば、新たに、偏光性回折素子を光路中に配置し、これを、光軸方向および回転方向に位置調整することにより、第1および第2のレーザ光が光検出器上の対応するセンサパターン上に適正に照射される。本発明によれば、簡単な構成の追加により、円滑に、光検出器上のセンサパターンに対する第1および第2の反射光の位置調整を行うことができる。   According to the present invention, by adjusting the position of the polarizing diffraction element, the first and second laser beams reflected by the disk are appropriately irradiated onto the corresponding sensor pattern on the photodetector. That is, according to the present invention, the first and second laser beams are detected by the optical detector by newly arranging the polarizing diffraction element in the optical path and adjusting the position in the optical axis direction and the rotational direction. The corresponding sensor pattern on the upper side is properly irradiated. According to the present invention, the position of the first and second reflected lights can be adjusted smoothly with respect to the sensor pattern on the photodetector by adding a simple configuration.

本発明の特徴ないし効果は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。   The features and effects of the present invention will become more apparent from the following description of embodiments. However, the following embodiment is merely an example when the present invention is implemented, and the meaning of the term of the present invention or each constituent element is limited to that described in the following embodiment. Is not to be done.

以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

なお、本実施の形態は、基板厚0.6mmのHDDVD(High Definition Digital Versatile Disc:以下、“HD”と称す)と基板厚0.1mmのBD(ブルーレイディスク)に対応可能な再生専用タイプの互換型光ピックアップ装置に本発明を適用したものである。   The present embodiment is a reproduction-only type capable of supporting HDDVD (High Definition Digital Versatile Disc: hereinafter referred to as “HD”) having a substrate thickness of 0.6 mm and BD (Blu-ray Disc) having a substrate thickness of 0.1 mm. The present invention is applied to a compatible optical pickup device.

図1に、実施の形態に係る光ピックアップ装置の光学系を示す。   FIG. 1 shows an optical system of an optical pickup device according to the embodiment.

図示の如く、光ピックアップ装置の光学系は、半導体レーザ11と、アクティブ偏光素子12と、偏光ビームスプリッタ13と、コリメータレンズ14と、ミラー15と、コリメータレンズ16と、立ち上げミラー17と、λ/4板18と、HD用対物レンズ19と、BD用対物レンズ20と、レンズホルダ21と、対物レンズアクチュエータ22と、偏光性回折素子23と、検出レンズ24と、光検出器25と、レンズアクチュエータ26と、駆動モータ27を備えている。   As shown in the figure, the optical system of the optical pickup device includes a semiconductor laser 11, an active polarizing element 12, a polarizing beam splitter 13, a collimator lens 14, a mirror 15, a collimator lens 16, a rising mirror 17, and a λ. / 4 plate 18, HD objective lens 19, BD objective lens 20, lens holder 21, objective lens actuator 22, polarizing diffractive element 23, detection lens 24, photodetector 25, lens An actuator 26 and a drive motor 27 are provided.

半導体レーザ11は、青色波長(400nm程度)のレーザ光を出射する。アクティブ偏光素子12は、制御信号に応じて、レーザ光の偏光方向を、レーザ光が偏光ビームスプリッタ13によって略全反射される第1の偏光方向(S偏光)と、レーザ光が偏光ビームスプリッタ13を略全透過する第2の偏光方向(P偏光)に切り替える。なお、アクティブ偏光素子12は、図11に示す構成例の偏光変換素子3に対応するものである。   The semiconductor laser 11 emits a laser beam having a blue wavelength (about 400 nm). In accordance with the control signal, the active polarization element 12 changes the polarization direction of the laser light, the first polarization direction (S-polarized light) in which the laser light is substantially totally reflected by the polarization beam splitter 13, and the laser light is the polarization beam splitter 13. Is switched to the second polarization direction (P-polarized light) that transmits almost all of the light. The active polarizing element 12 corresponds to the polarization conversion element 3 having the configuration example shown in FIG.

偏光ビームスプリッタ13は、第1の偏光方向(S偏光)を有するレーザ光(第1のレーザ光)を略全反射し、第2の偏光方向(P偏光)を有するレーザ光(第2のレーザ光)を略全透過する。コリメータレンズ14は、偏光ビームスプリッタ13によって反射された第1のレーザ光を平行光に変換する。ミラー15は、偏光ビームスプリッタ13を透過した第2のレーザ光をコリメータレンズ16の方向に反射する。コリメータレンズ16は、ミラー15によって反射された第2のレーザ光を平行光に変換する。   The polarization beam splitter 13 substantially totally reflects the laser beam (first laser beam) having the first polarization direction (S-polarized light), and the laser beam (second laser beam) having the second polarization direction (P-polarized light). Light). The collimator lens 14 converts the first laser light reflected by the polarization beam splitter 13 into parallel light. The mirror 15 reflects the second laser light transmitted through the polarization beam splitter 13 in the direction of the collimator lens 16. The collimator lens 16 converts the second laser light reflected by the mirror 15 into parallel light.

立ち上げミラー17は、コリメータレンズ14、16によって平行光とされた第1および第2のレーザ光を、それぞれ、HD用対物レンズ19およびBD用対物レンズ20に向かう方向に反射する。λ/4板18は、立ち上げミラー17側から入射された第1および第2のレーザ光を円偏光に変換するとともに、HD用対物レンズ19およびBD用対物レンズ20側から入射された第1および第2のレーザ光を、立ち上げミラー17側から入射される際の偏光方向に直交する直線偏光に変換する。   The raising mirror 17 reflects the first and second laser beams converted into parallel beams by the collimator lenses 14 and 16 in a direction toward the HD objective lens 19 and the BD objective lens 20, respectively. The λ / 4 plate 18 converts the first and second laser light incident from the rising mirror 17 side into circularly polarized light and the first incident light from the HD objective lens 19 and the BD objective lens 20 side. The second laser beam is converted into linearly polarized light orthogonal to the polarization direction when incident from the rising mirror 17 side.

HD用対物レンズ19およびBD用対物レンズ20は、λ/4板18側から入射された第1および第2のレーザ光を、それぞれHDおよびBD上に収束する。なお、HD用対物レンズ19は、青色波長のレーザ光を、基板厚0.6mmのHD上に適正に収束できるよう設計されており、BD用対物レンズ20は、青色波長のレーザ光を、基板厚0.1mmのBD上に適正に収束できるよう設計されている。これらHD用対物レンズ19およびBD用対物レンズ20は、レンズホルダ21に一体的に保持されている。   The HD objective lens 19 and the BD objective lens 20 converge the first and second laser beams incident from the λ / 4 plate 18 side onto the HD and BD, respectively. The HD objective lens 19 is designed so that the blue wavelength laser light can be properly converged on the HD having a substrate thickness of 0.6 mm, and the BD objective lens 20 is configured to apply the blue wavelength laser light to the substrate. It is designed to properly converge on a BD with a thickness of 0.1 mm. The HD objective lens 19 and the BD objective lens 20 are integrally held by a lens holder 21.

対物レンズアクチュエータ22は、サーボ信号に応じて、レンズホルダ21をフォーカス方向およびトラッキング方向に駆動する。これにより、HD用対物レンズ19とBD用対物レンズ20はフォーカス方向およびトラッキング方向に一体的に駆動される。なお、対物レンズアクチュエータ22には、たとえば、従来周知の電磁駆動方式のアクチュエータが用いられる。   The objective lens actuator 22 drives the lens holder 21 in the focus direction and the tracking direction according to the servo signal. As a result, the HD objective lens 19 and the BD objective lens 20 are integrally driven in the focus direction and the tracking direction. The objective lens actuator 22 is, for example, a conventionally known electromagnetic drive type actuator.

偏光性回折素子23は、ディスクからの反射光のうち、偏光ビームスプリッタ13を略全透過する第1の反射光(P偏光)には回折作用を付与せず、偏光ビームスプリッタ13によって略反射される第2の反射光(S偏光)に回折作用を付与して、第2の反射光の進行方向を一定角度だけ変更する。なお、偏光性回折素子23の詳細は、追って、図2を参照して説明する。   The polarizing diffractive element 23 does not give a diffracting action to the first reflected light (P-polarized light) that passes through the polarizing beam splitter 13 out of the reflected light from the disk, and is substantially reflected by the polarizing beam splitter 13. A diffraction action is imparted to the second reflected light (S-polarized light) to change the traveling direction of the second reflected light by a certain angle. Details of the polarizing diffraction element 23 will be described later with reference to FIG.

検出レンズ24は、ディスクによって反射された第1および第2の反射光を光検出器25上に収束させる。検出レンズ24は、集光レンズとシリンドリカルレンズから構成され、ディスクからの反射光に非点収差を導入する。   The detection lens 24 converges the first and second reflected lights reflected by the disk on the photodetector 25. The detection lens 24 includes a condenser lens and a cylindrical lens, and introduces astigmatism into the reflected light from the disk.

光検出器25は、受光した反射光の強度分布から再生RF信号、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を導出するためのセンサパターンを有している。ここで、光検出器25には、第1および第2のレーザ光をそれぞれ個別に受光する2つのセンサパターンが配されている。なお、本実施の形態では、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号の生成手法として、非点収差法および1ビームプッシュプル法が採用されている。   The photodetector 25 has a sensor pattern for deriving a reproduction RF signal, a focus error signal, and a tracking error signal from the intensity distribution of the received reflected light. Here, the sensor 25 is provided with two sensor patterns for individually receiving the first and second laser beams. In this embodiment, an astigmatism method and a one-beam push-pull method are employed as a method for generating a focus error signal and a tracking error signal.

コリメータレンズ14、16は、レーザ光の光軸方向に一体的に変位可能となるようレンズアクチュエータ26に保持されている。駆動モータ27は、サーボ信号に応じて、レンズアクチュエータ26に駆動力を付与する。これにより、コリメータレンズ14、16は、レーザ光の光軸方向に一体的に変位される。   The collimator lenses 14 and 16 are held by a lens actuator 26 so as to be integrally displaceable in the optical axis direction of the laser light. The drive motor 27 applies a driving force to the lens actuator 26 according to the servo signal. As a result, the collimator lenses 14 and 16 are integrally displaced in the optical axis direction of the laser light.

コリメータレンズ14、16には、たとえば、再生RF信号が最適となるよう、サーボが掛けられる。このサーボ動作によって、光ディスク上および光検出器25上における収差が抑制される。   For example, the collimator lenses 14 and 16 are servoed so that the reproduction RF signal is optimized. By this servo operation, aberrations on the optical disc and the photodetector 25 are suppressed.

本光学系における動作は次のとおりである。   The operation of this optical system is as follows.

半導体レーザ11から出射されたレーザ光をHD用対物レンズ19に導く場合、アクティブ偏光素子12が、第1の偏光方向(S偏光)にて偏光ビームスプリッタ13にレーザ光が入射するよう駆動制御される。これにより、レーザ光は、偏光ビームスプリッタ13にて略全反射され、HD用対物レンズ19に導かれる。このとき、ディスクからの反射光は、λ/4板18による作用によって、偏光ビームスプリッタ13にP偏光にて入射する。このため、この反射光は、偏光ビームスプリッタ13を略全透過し、偏光性回折素子23へと入射される。この場合、反射光は、偏光性回折素子23に対しP偏光の状態で入射するため、後述の如く、偏光性回折素子23によって回折作用を受けずにそのまま直進し、光検出器25上の対応するセンサパターン上に照射される。   When the laser light emitted from the semiconductor laser 11 is guided to the HD objective lens 19, the active polarization element 12 is driven and controlled so that the laser light is incident on the polarization beam splitter 13 in the first polarization direction (S-polarized light). The As a result, the laser light is substantially totally reflected by the polarization beam splitter 13 and guided to the HD objective lens 19. At this time, the reflected light from the disk is incident on the polarization beam splitter 13 as P-polarized light by the action of the λ / 4 plate 18. For this reason, the reflected light passes through the polarization beam splitter 13 almost completely and enters the polarizing diffraction element 23. In this case, since the reflected light is incident on the polarizing diffraction element 23 in the P-polarized state, the reflected light travels straight without being diffracted by the polarizing diffraction element 23 as will be described later. The sensor pattern is irradiated.

半導体レーザ11から出射されたレーザ光をBD用対物レンズ20に導く場合には、アクティブ偏光素子12が、第2の偏光方向(P偏光)にて偏光ビームスプリッタ13にレーザ光が入射するよう駆動制御される。これにより、レーザ光は、偏光ビームスプリッタ13を略全透過し、BD用対物レンズ20に導かれる。このとき、ディスクからの反射光は、λ/4板18による作用によって、偏光ビームスプリッタ13にS偏光にて入射する。このため、この反射光は、偏光ビームスプリッタ13により略全反射され、偏光性回折素子23へと入射される。この場合、反射光は、偏光性回折素子23に対しS偏光の状態で入射するため、後述の如く、偏光性回折素子23によって回折作用を受けて進行方向が曲げられ、光検出器25上の対応するセンサパターン上に照射される。   When the laser beam emitted from the semiconductor laser 11 is guided to the BD objective lens 20, the active polarization element 12 is driven so that the laser beam is incident on the polarization beam splitter 13 in the second polarization direction (P polarization). Be controlled. As a result, the laser light is substantially totally transmitted through the polarization beam splitter 13 and guided to the BD objective lens 20. At this time, the reflected light from the disk is incident on the polarization beam splitter 13 as S-polarized light by the action of the λ / 4 plate 18. Therefore, the reflected light is substantially totally reflected by the polarization beam splitter 13 and enters the polarizing diffraction element 23. In this case, since the reflected light is incident on the polarizing diffraction element 23 in the S-polarized state, the traveling direction is bent by the diffractive action by the polarizing diffraction element 23 as will be described later. Irradiates onto the corresponding sensor pattern.

図2に、偏光性回折素子23の構成を示す。なお、同図は、図1における偏光性回折素子23をX−Y平面に平行な面で切断したときの断面構造である。   FIG. 2 shows the configuration of the polarizing diffraction element 23. 1 is a cross-sectional structure when the polarizing diffraction element 23 in FIG. 1 is cut along a plane parallel to the XY plane.

図示の如く、偏光性回折素子23は、透明基板231上に、複屈折材料からなるブレーズ型回折構造232を形成し、その上に、ガラス層233と、透明基板234を形成して構成される。ブレーズ型回折構造232は、一定高さの鋸歯状ホログラムが一定ピッチにて形成されたものとなっている。   As shown in the figure, the polarizing diffraction element 23 is configured by forming a blazed diffraction structure 232 made of a birefringent material on a transparent substrate 231, and forming a glass layer 233 and a transparent substrate 234 thereon. . The blazed diffractive structure 232 is formed by forming a sawtooth hologram having a constant height at a constant pitch.

ここで、ブレーズ型回折構造232の屈折率は、レーザ光がP偏光およびS偏光にて入射するときの屈折率をそれぞれnpおよびnsとし、ガラスの屈折率をn1とすると、np=n1、ns≠n1となるよう設定されている。したがって、レーザ光がP偏光にて偏光性回折素子23に入射する場合には、ブレーズ型回折構造232の屈折率(np)とガラスの屈折率(n1)の間に差が生じず、このため、ブレーズ型回折構造232は、回折格子として機能しない。これに対し、レーザ光がS偏光にて偏光性回折素子23に入射する場合には、ブレーズ型回折構造232の屈折率(ns)とガラスの屈折率(n1)の間に差が生じ、ブレーズ型回折構造232は、回折格子として機能する。   Here, the refractive index of the blazed diffraction structure 232 is np = n1, ns, where np and ns are the refractive indexes when the laser light is incident as P-polarized light and S-polarized light, respectively, and n1 is the refractive index of the glass. ≠ n1 is set. Therefore, when laser light is incident on the polarizing diffraction element 23 as P-polarized light, there is no difference between the refractive index (np) of the blazed diffraction structure 232 and the refractive index (n1) of the glass. The blazed diffraction structure 232 does not function as a diffraction grating. On the other hand, when the laser light is incident on the polarizing diffraction element 23 as S-polarized light, a difference occurs between the refractive index (ns) of the blazed diffraction structure 232 and the refractive index (n1) of the glass. The type diffraction structure 232 functions as a diffraction grating.

なお、複屈折材料を用いた偏光性回折素子の原理については、たとえば、特開2002−365416号公報に示されている。   The principle of a polarizing diffraction element using a birefringent material is disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-365416.

図2に示す偏光性回折素子23では、ブレーズ型の回折構造によってレーザ光に回折作用を付与するようにしたため、+1次光のみ、または、−1次光のみによる回折作用をレーザ光に付与することができ、よって、レーザ光の回折効率を高めることができる。   In the polarizing diffraction element 23 shown in FIG. 2, since the diffractive action is given to the laser light by the blazed diffraction structure, the diffractive action by only the + 1st order light or only the −1st order light is given to the laser light. Therefore, the diffraction efficiency of laser light can be increased.

本実施の形態では、レーザ光がS偏光にて偏光性回折素子23に入射する場合にのみレーザ光に回折作用が付与されるため、上記の如く、半導体レーザ11からのレーザ光をHD用対物レンズ19に導く場合には、ディスクからの反射光(P偏光)に偏光性回折素子23による回折作用は付与されず、半導体レーザ11からのレーザ光をBD用対物レンズ20に導く場合に、ディスクからの反射光(S偏光)に偏光性回折素子23による回折作用が付与される。このため、HD用対物レンズ19を経由したディスクからの反射光は、偏光性回折素子23をそのまま直進して、光検出器25上の2つのセンサパターンのうち、一方のセンサパターン上に照射され、BD用対物レンズ20を経由したディスクからの反射光は、偏光性回折素子23によって進行方向が曲げられて、他方のセンサパターン上に照射される。   In the present embodiment, since the laser beam is diffracted only when the laser beam is incident on the polarizing diffraction element 23 as S-polarized light, the laser beam from the semiconductor laser 11 is used as the HD objective as described above. When the light is guided to the lens 19, the diffracting action by the polarizing diffraction element 23 is not given to the reflected light (P-polarized light) from the disk, and when the laser light from the semiconductor laser 11 is guided to the BD objective lens 20, The diffracting action by the polarizing diffraction element 23 is given to the reflected light (S-polarized light). For this reason, the reflected light from the disc that has passed through the HD objective lens 19 travels straight through the polarizing diffraction element 23 and is irradiated onto one of the two sensor patterns on the photodetector 25. The reflected light from the disc that has passed through the BD objective lens 20 has its traveling direction bent by the polarizing diffraction element 23 and is irradiated onto the other sensor pattern.

図3(a)は、光検出器25の構成を示す図である。   FIG. 3A is a diagram illustrating a configuration of the photodetector 25.

図示の如く、光検出器25上には、HD用対物レンズ19を経由したディスクからの反射光を受光するためのHD用センサ251と、BD用対物レンズ20を経由したディスクからの反射光を受光するためのBD用センサ252の2つのセンサパターン(4分割センサ)が配されている。   As shown in the drawing, on the photodetector 25, the reflected light from the disk via the HD sensor 251 for receiving the reflected light from the disk via the HD objective lens 19 and the BD objective lens 20 is reflected. Two sensor patterns (four-divided sensors) of the BD sensor 252 for receiving light are arranged.

図1に示す光学系をシャーシ上に装着する際には、それぞれの光学素子を対応する位置に配置した後、半導体レーザ11を点灯し、さらに、半導体レーザ11からのレーザ光がS偏光にて偏光ビームスプリッタ13に入射するようアクティブ偏光素子12を駆動する。そして、HD用センサ251のセンサ出力をモニタしながら、HD用対物レンズ19を経由したディスクからの反射光が、HD用センサ251上に適正に照射されるよう、これら光学素子の位置を調整する。次に、半導体レーザ11からのレーザ光がP偏光にて偏光ビームスプリッタ13に入射するようアクティブ偏光素子12の駆動を切り替え、BD用センサ252のセンサ出力をモニタしながら、BD用対物レンズ20を経由したディスクからの反射光が、BD用センサ252上に適正に照射されるよう、偏光性回折格子23の光軸方向位置と回転方向位置を調整する。この調整が終了した後、各光学素子の位置を固定する。これにより、シャーシに対する光学系の配置が終了する。   When the optical system shown in FIG. 1 is mounted on the chassis, each optical element is placed at a corresponding position, the semiconductor laser 11 is turned on, and the laser light from the semiconductor laser 11 is S-polarized light. The active polarizing element 12 is driven so as to enter the polarizing beam splitter 13. Then, while monitoring the sensor output of the HD sensor 251, the positions of these optical elements are adjusted so that the reflected light from the disk that has passed through the HD objective lens 19 is appropriately irradiated onto the HD sensor 251. . Next, the drive of the active polarization element 12 is switched so that the laser light from the semiconductor laser 11 is incident on the polarization beam splitter 13 as P-polarized light, and the BD objective lens 20 is moved while monitoring the sensor output of the BD sensor 252. The optical axis direction position and the rotational direction position of the polarizing diffraction grating 23 are adjusted so that the reflected light from the passing disk is appropriately irradiated onto the BD sensor 252. After this adjustment is completed, the position of each optical element is fixed. Thereby, the arrangement of the optical system with respect to the chassis is completed.

以上、本実施の形態によれば、偏光性回折素子23を位置調整することにより、ディスクによって反射されたBD用レーザ光を、BD用センサ252上に適正に導くことができる。本実施の形態によれば、偏光性回折素子23のみを光学系に追加することにより、円滑に、光検出器上のセンサパターンに対するHD用レーザ光とBD用レーザ光の位置調整を行うことができる。   As described above, according to the present embodiment, by adjusting the position of the polarizing diffraction element 23, the BD laser light reflected by the disk can be appropriately guided onto the BD sensor 252. According to the present embodiment, by adding only the polarizing diffraction element 23 to the optical system, it is possible to smoothly adjust the positions of the HD laser beam and the BD laser beam with respect to the sensor pattern on the photodetector. it can.

なお、本実施の形態では、HD用レーザ光(反射光)とBD用レーザ光(反射光)が収束状態にある光路中に、偏光性回折素子23を配置するようにしている。これは、偏光性回折素子23を光軸方向に変位させることにより、光検出器25の受光面上におけるBD用レーザ光の照射位置を円滑に変化させ得るようにするためである。   In the present embodiment, the polarizing diffraction element 23 is arranged in the optical path where the HD laser light (reflected light) and the BD laser light (reflected light) are converged. This is because the irradiation position of the BD laser light on the light receiving surface of the photodetector 25 can be changed smoothly by displacing the polarizing diffraction element 23 in the optical axis direction.

図4は、平行光中に偏光性回折格子23を配置したときの結像状態を示す図である。なお、図中点線は、偏光性回折格子23によって回折作用を受けない場合のレーザ光の収束状態を示している。   FIG. 4 is a diagram showing an imaging state when the polarizing diffraction grating 23 is arranged in parallel light. Note that the dotted line in the figure indicates the convergence state of the laser light when it is not diffracted by the polarizing diffraction grating 23.

偏光性回折格子23を平行光中に配置した場合、偏光性回折格子23は、レーザ光に対する回折作用によって、レンズLに対して画角αを与える。レンズLにレーザ光が平行光の状態で入射する場合、レーザ光の集光点は、レンズLに対する画角αによって決まる。ところが、同図のように、平行光中に偏光性回折格子23を配置した場合には、レーザ光の回折角は、光軸上における偏光性回折格子23の位置に拘わらず一定であるため、レンズLに対する画角αは、偏光性回折格子23を光軸方向に変位させても一定である。このため、レーザ光の集光点は、偏光性回折格子23を光軸方向に変位させても不変となり、よって、回折作用を受けない場合のレーザ光の収束点と、偏光性回折格子23によって回折されたレーザ光の収束点の間の距離(像高)は、偏光性回折格子23を光軸方向に変位させても変化しない。   In the case where the polarizing diffraction grating 23 is disposed in parallel light, the polarizing diffraction grating 23 gives an angle of view α to the lens L by the diffraction action on the laser light. When laser light is incident on the lens L in the state of parallel light, the condensing point of the laser light is determined by the angle of view α with respect to the lens L. However, as shown in the figure, when the polarizing diffraction grating 23 is arranged in parallel light, the diffraction angle of the laser light is constant regardless of the position of the polarizing diffraction grating 23 on the optical axis. The angle of view α with respect to the lens L is constant even when the polarizing diffraction grating 23 is displaced in the optical axis direction. For this reason, the condensing point of the laser beam does not change even when the polarizing diffraction grating 23 is displaced in the optical axis direction. Therefore, the converging point of the laser beam when not receiving the diffraction action and the polarizing diffraction grating 23 The distance (image height) between the converging points of the diffracted laser light does not change even when the polarizing diffraction grating 23 is displaced in the optical axis direction.

したがって、図1の光学系においても同様に、偏光性回折格子23を、たとえばコリメータレンズ16とλ/4板18の間の平行光中に配置すると、偏光性回折格子23を光軸方向に変位させても、光検出器25の受光面上におけるBD用レーザ光の照射位置は変化しないこととなる。   Accordingly, in the optical system of FIG. 1 as well, when the polarizing diffraction grating 23 is disposed in, for example, parallel light between the collimator lens 16 and the λ / 4 plate 18, the polarizing diffraction grating 23 is displaced in the optical axis direction. Even if it makes it, the irradiation position of the laser beam for BD on the light-receiving surface of the photodetector 25 will not change.

図5は、拡散光中に偏光性回折格子23を配置したときの結像状態を示す図である。なお、図中点線は、上記図4と同様、偏光性回折格子23によって回折作用を受けない場合のレーザ光の収束状態を示している。   FIG. 5 is a diagram showing an imaging state when the polarizing diffraction grating 23 is arranged in the diffused light. In addition, the dotted line in the figure shows the convergence state of the laser light when it is not diffracted by the polarizing diffraction grating 23, as in FIG.

偏光性回折格子23を同図の位置(1)に配置すると、偏光性回折格子23による回折作用によって、像高(1)と虚像高(1)の位置に実像と虚像が結ばれる。この場合、横倍率M(lateral magnification)は、M=像高/虚像高によって与えられる。   When the polarizing diffraction grating 23 is arranged at the position (1) in the figure, the real image and the virtual image are formed at the positions of the image height (1) and the virtual image height (1) by the diffraction action by the polarizing diffraction grating 23. In this case, the lateral magnification M is given by M = image height / virtual image height.

同図において、偏光性回折格子23の位置を光軸方向に変位させると、これに応じて虚像高が変化する。すなわち、偏光性回折格子23は、虚像高を変えるように作用する。ここで、上記横倍率Mの関係式から、像高=M×(虚像高)であるから、光軸方向における偏光性回折格子23の変位に伴って虚像高が変化すると、これに応じて、像高も変化する。たとえば、図6に示すように、偏光性回折格子23を位置(1)から位置(2)に変位させると、虚像高が、虚像高(1)から虚像高(2)に変化し、これに伴って、像高が、像高(1)から像高(2)に変化する。したがって、偏光性回折格子23を光軸方向に変位させることにより、回折作用を受けない場合のレーザ光の収束点と、偏光性回折格子23によって回折されたレーザ光の収束点の間の距離(像高1、2)を変化させることができる。   In the figure, when the position of the polarizing diffraction grating 23 is displaced in the optical axis direction, the virtual image height changes accordingly. That is, the polarizing diffraction grating 23 acts to change the virtual image height. Here, from the relational expression of the lateral magnification M, since the image height = M × (virtual image height), when the virtual image height changes with the displacement of the polarizing diffraction grating 23 in the optical axis direction, The image height also changes. For example, as shown in FIG. 6, when the polarizing diffraction grating 23 is displaced from the position (1) to the position (2), the virtual image height changes from the virtual image height (1) to the virtual image height (2). Accordingly, the image height changes from the image height (1) to the image height (2). Therefore, by displacing the polarizing diffraction grating 23 in the optical axis direction, the distance between the convergence point of the laser light when not receiving the diffraction action and the convergence point of the laser light diffracted by the polarizing diffraction grating 23 ( The image height 1, 2) can be changed.

この現象は、同様の理論から、偏光性回折格子23を収束光中に配置した場合にも同様に生じる。すなわち、偏光性回折格子23を収束光中に配置すれば、偏光性回折格子23を光軸方向に変位させることにより、回折作用を受けない場合のレーザ光の収束点と、偏光性回折格子23によって回折されたレーザ光の収束点の間の距離(像高1、2)を変化させることができる。   This phenomenon similarly occurs when the polarizing diffraction grating 23 is arranged in the convergent light based on the same theory. In other words, if the polarizing diffraction grating 23 is disposed in the convergent light, the polarizing diffraction grating 23 is displaced in the optical axis direction, and the convergence point of the laser light when not receiving the diffractive action, and the polarizing diffraction grating 23. It is possible to change the distance (image height 1, 2) between the convergence points of the laser light diffracted by.

したがって、上記図1の光学系においても同様に、偏光性回折格子23を収束光中に配置すれば、偏光性回折格子23を光軸方向に変位させることにより、光検出器25の受光面上におけるBD用レーザ光の照射位置を変化させることができる。   Therefore, in the optical system of FIG. 1 as well, if the polarizing diffraction grating 23 is arranged in the convergent light, the polarizing diffraction grating 23 is displaced in the optical axis direction, so that the light receiving surface of the photodetector 25 can be displaced. The irradiation position of the laser beam for BD can be changed.

このような理由から、上記図1の光学系では、偏光ビームスプリッタ13と検出レンズ24の間に偏光性回折格子23が配置されている。なお、上記説明から明らかなとおり、偏光性回折格子23の配置位置は、これに限らず、レーザ光が収束光の状態にある光路中であれば、これ以外の位置に設定しても良い。   For this reason, the polarizing diffraction grating 23 is disposed between the polarizing beam splitter 13 and the detection lens 24 in the optical system of FIG. As is clear from the above description, the arrangement position of the polarizing diffraction grating 23 is not limited to this, and may be set to any other position as long as the laser light is in the optical path in the state of convergent light.

なお、上記図4を参照した説明は、画角α(回折角)によってレーザ光に収差(非点収差、コマ収差、等)が生じないことを前提とするものである。つまり、上記図4による説明は、理想的なレンズLを想定したものである。   The description with reference to FIG. 4 is based on the premise that no aberration (astigmatism, coma, etc.) occurs in the laser light due to the angle of view α (diffraction angle). That is, the description with reference to FIG. 4 assumes an ideal lens L.

しかし、レンズLが理想的なものではなく、画角α(回折角)によってレーザ光に収差(非点収差、コマ収差、等)が生じるような場合には、レーザ光は、1点に集光されず、一定の広がりを持った強度分布となる。この場合、像面上における主光線の高さは、主光線がレンズLを通過するときの高さに応じて変化する。   However, when the lens L is not ideal, and an aberration (astigmatism, coma aberration, etc.) is generated in the laser beam due to the angle of view α (diffraction angle), the laser beam is concentrated at one point. The intensity distribution is not spread and has a certain spread. In this case, the height of the principal ray on the image plane changes according to the height at which the principal ray passes through the lens L.

図4を参照して明らかなとおり、光軸上における偏光性回折格子23の位置を変化させると、レンズLを通過するときの主光線の高さが変化する。よって、レンズLが理想的なものでない場合には、光軸上における偏光性回折格子23の変位に応じて、像面上における主光線の位置が変化し、これに応じて、像面上におけるレーザ光の強度分布が変わるため、像面上において集光点が変位するのと等価の現象が生じる。   As apparent from FIG. 4, when the position of the polarizing diffraction grating 23 on the optical axis is changed, the height of the principal ray when passing through the lens L changes. Therefore, when the lens L is not ideal, the position of the principal ray on the image plane changes according to the displacement of the polarizing diffraction grating 23 on the optical axis, and accordingly, on the image plane. Since the intensity distribution of the laser light changes, a phenomenon equivalent to the displacement of the focal point on the image plane occurs.

このように、レンズLが理想的なものではない場合には、偏光性回折格子23を平行光中に配置しても、光軸上における偏光性回折格子23の位置を変化させることによって、像面上において集光点が変位するのと等価な作用を発現させることができる。よって、図1の光学系においても、コリメータレンズ16が理想的なものでなく、画角α(回折角)によってレーザ光に収差(非点収差、コマ収差、等)が生じるような場合には、偏光性回折格子23を、たとえばコリメータレンズ16とλ/4板18の間の平行光中に配置するようにしても、偏光性回折格子23を位置調整することにより、BD用センサ252に対するBD用レーザ光の照射位置の調整を行うことができる。   Thus, when the lens L is not ideal, even if the polarizing diffraction grating 23 is arranged in parallel light, the position of the polarizing diffraction grating 23 on the optical axis is changed to change the image. An effect equivalent to the displacement of the condensing point on the surface can be expressed. Therefore, even in the optical system of FIG. 1, the collimator lens 16 is not ideal, and when the field angle α (diffraction angle) causes aberrations (astigmatism, coma aberration, etc.) in the laser light. Even if the polarizing diffraction grating 23 is arranged in, for example, parallel light between the collimator lens 16 and the λ / 4 plate 18, the position of the polarizing diffraction grating 23 is adjusted so that the BD with respect to the BD sensor 252 can be obtained. The irradiation position of the laser beam can be adjusted.

ただし、この場合の調整量は、収束光中に偏光性回折格子23を配置する場合に比べて小さいため、より円滑に調整を行うためには、図1に示す如く、偏光性回折格子23を収束光中に配置する方が好ましい。   However, since the amount of adjustment in this case is smaller than that in the case where the polarizing diffraction grating 23 is arranged in the convergent light, in order to make the adjustment more smoothly, the polarizing diffraction grating 23 is used as shown in FIG. It is preferable to arrange in the convergent light.

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明の実施形態は上記に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能である。   Although the embodiment of the present invention has been described above, the embodiment of the present invention is not limited to the above, and various other modifications are possible.

たとえば、上記実施の形態は、再生専用タイプの互換型光ピックアップ装置に本発明を適用したものであるが、記録/再生タイプの互換型光ピックアップ装置にも本発明を適用可能である。   For example, in the above embodiment, the present invention is applied to a reproduction-only compatible optical pickup device, but the present invention can also be applied to a recording / reproduction type compatible optical pickup device.

図7に、記録/再生タイプの互換型光ピックアップ装置に本発明を適用した場合の光学系の構成例を示す。   FIG. 7 shows a configuration example of an optical system when the present invention is applied to a compatible recording / reproducing optical pickup device.

この光学系では、図1の場合に比べ、回折格子28が追加されている。また、光検出器25のセンサパターンが、図3(b)のように変更される。すなわち、本構成例では、トラッキングエラー信号の生成手法として、DPP(Differential Push Pull)法が用いられている。なお、インライン方式のDPP法を用いる場合には、回折格子28として、格子溝の位相が調整された回折格子が用いられ得る(たとえば、特開2004−145915号公報参照)。   In this optical system, a diffraction grating 28 is added compared to the case of FIG. Further, the sensor pattern of the photodetector 25 is changed as shown in FIG. That is, in this configuration example, a DPP (Differential Push Pull) method is used as a method for generating a tracking error signal. When the in-line DPP method is used, a diffraction grating in which the phase of the grating groove is adjusted can be used as the diffraction grating 28 (see, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-145915).

図7の構成例では、半導体レーザ11からのレーザ光が、回折格子28にてメインビームと2つのサブビームに分割される。ドライブに記録タイプのHDが装着された場合には、アクティブ偏光素子12が、S偏光にて偏光ビームスプリッタ13にレーザ光が入射するよう駆動制御される。これにより、メインビームと2つのサブビームは、偏光ビームスプリッタ13によって略全反射され、HD用対物レンズ19を介して、HD上に収束される。   In the configuration example of FIG. 7, the laser light from the semiconductor laser 11 is divided into a main beam and two sub beams by the diffraction grating 28. When a recording type HD is installed in the drive, the active polarization element 12 is driven and controlled so that the laser beam is incident on the polarization beam splitter 13 with S polarization. As a result, the main beam and the two sub beams are substantially totally reflected by the polarization beam splitter 13 and converged on the HD via the HD objective lens 19.

HDからの反射光は、λ/4板18による作用によって、偏光ビームスプリッタ13にP偏光にて入射する。これにより、この反射光は、偏光ビームスプリッタ13を略全透過し、偏光性回折素子23へと入射される。この場合、反射光は、偏光性回折素子23に対しP偏光の状態で入射するため、偏光性回折素子23による回折作用を受けずにそのまま直進し、光検出器25上のHD用センサ251に照射される。反射光のうち、メインビームは、センサ251aに導かれ、2つのサブビームはそれぞれセンサ251b、251cに導かれる。   Reflected light from the HD is incident on the polarization beam splitter 13 as P-polarized light by the action of the λ / 4 plate 18. As a result, the reflected light is substantially totally transmitted through the polarization beam splitter 13 and is incident on the polarizing diffraction element 23. In this case, since the reflected light is incident on the polarizing diffraction element 23 in the state of P-polarized light, the reflected light travels straight without being diffracted by the polarizing diffraction element 23 and enters the HD sensor 251 on the photodetector 25. Irradiated. Of the reflected light, the main beam is guided to the sensor 251a, and the two sub beams are guided to the sensors 251b and 251c, respectively.

ドライブに記録タイプのBDが装着された場合には、アクティブ偏光素子12が、P偏光にて偏光ビームスプリッタ13にレーザ光が入射するよう駆動制御される。これにより、メインビームと2つのサブビームは、偏光ビームスプリッタ13を略全透過し、BD用対物レンズ20を介して、BD上に収束される。   When a recording type BD is attached to the drive, the active polarization element 12 is driven and controlled so that the laser beam is incident on the polarization beam splitter 13 with P polarization. As a result, the main beam and the two sub beams pass through the polarization beam splitter 13 and are converged on the BD via the BD objective lens 20.

BDからの反射光は、λ/4板18による作用によって、偏光ビームスプリッタ13にS偏光にて入射する。これにより、この反射光は、偏光ビームスプリッタ13によって略全反射され、偏光性回折素子23へと入射される。この場合、反射光は、偏光性回折素子23に対しS偏光の状態で入射するため、偏光性回折素子23による回折作用を受けて進路が曲げられ、光検出器25上のBD用センサ252に照射される。反射光のうち、メインビームは、センサ252aに導かれ、2つのサブビームはそれぞれセンサ252b、252cに導かれる。   Reflected light from the BD is incident on the polarization beam splitter 13 as S-polarized light by the action of the λ / 4 plate 18. As a result, the reflected light is substantially totally reflected by the polarization beam splitter 13 and is incident on the polarizing diffraction element 23. In this case, since the reflected light is incident on the polarizing diffraction element 23 in the S-polarized state, the path is bent due to the diffraction action by the polarizing diffraction element 23, and the reflected light is applied to the BD sensor 252 on the photodetector 25. Irradiated. Of the reflected light, the main beam is guided to the sensor 252a, and the two sub beams are guided to the sensors 252b and 252c, respectively.

なお、本発明は、HD、BDの他に、CD(Compact Disc)やDVD(Digital Versatile Disc)にも対応可能な互換型光ピックアップ装置に適用することも可能である。   The present invention can also be applied to a compatible optical pickup apparatus that is compatible with CD (Compact Disc) and DVD (Digital Versatile Disc) in addition to HD and BD.

図8に、HD/BD/CD/DVD互換型の光ピックアップ装置に本発明を適用した場合の光学系の構成例を示す。   FIG. 8 shows a configuration example of an optical system when the present invention is applied to an HD / BD / CD / DVD compatible optical pickup device.

この構成例では、図1の場合に比べ、半導体レーザ31、32と、ダイクロイックプリズム33、34と、開口制限素子35が追加されている。HD用対物レンズ19は、HD用レーザ光の他、CD用レーザ光およびDVD用レーザ光をCDおよびDVD上に適正に収束できるよう設計されている。なお、CD用レーザ光を用いる場合には、開口制限素子35によって、HD用対物レンズ19に対するCD用レーザ光の入射瞳が制限される。   In this configuration example, semiconductor lasers 31 and 32, dichroic prisms 33 and 34, and an aperture limiting element 35 are added compared to the case of FIG. The HD objective lens 19 is designed so that, in addition to the HD laser light, the CD laser light and the DVD laser light can be properly converged on the CD and DVD. When the CD laser light is used, the aperture limiting element 35 limits the entrance pupil of the CD laser light to the HD objective lens 19.

半導体レーザ31は、波長650nm程度の赤色レーザ光(DVD用レーザ光)を出射する。半導体レーザ32は、波長780nm程度の赤外レーザ光(CD用レーザ光)を出射する。ダイクロイックプリズム33は、半導体レーザ31から出射されたDVD用レーザ光を反射し、半導体レーザ32から出射されたCD用レーザ光を透過する。ダイクロイックプリズム34は、半導体レーザ31、32から出射されたDVD用レーザ光とCD用レーザ光を反射し、半導体レーザ11から出射されたレーザ光(HD/BD用レーザ光)を透過する。   The semiconductor laser 31 emits red laser light (DVD laser light) having a wavelength of about 650 nm. The semiconductor laser 32 emits infrared laser light (CD laser light) having a wavelength of about 780 nm. The dichroic prism 33 reflects the DVD laser light emitted from the semiconductor laser 31 and transmits the CD laser light emitted from the semiconductor laser 32. The dichroic prism 34 reflects the DVD laser light and CD laser light emitted from the semiconductor lasers 31 and 32, and transmits the laser light (HD / BD laser light) emitted from the semiconductor laser 11.

なお、半導体レーザ31、32は、DVD用レーザ光とCD用レーザ光がS偏光にて偏光ビームスプリッタ13に入射するよう位置調整されている。また、半導体レーザ31、32とダイクロイックプリズム33、34は、偏光ビームスプリッタ13に入射する際のDVD用レーザ光とCD用レーザ光の光軸がHD/BD用レーザ光の光軸に整合するよう位置調整されている。   The positions of the semiconductor lasers 31 and 32 are adjusted so that the DVD laser beam and the CD laser beam are incident on the polarization beam splitter 13 as S-polarized light. The semiconductor lasers 31 and 32 and the dichroic prisms 33 and 34 are arranged so that the optical axes of the DVD laser light and the CD laser light when entering the polarization beam splitter 13 are aligned with the optical axes of the HD / BD laser light. The position has been adjusted.

開口制限素子35は、CD用レーザ光のみ外周部を遮断し、HD用対物レンズ19に対するCD用レーザ光の入射瞳を制限する。開口制限素子35として、たとえば、波長選択性の開口制限素子を用いることができる。この場合、開口制限素子35にはCD用レーザ光の外周部位置に波長選択性の回折格子が配され、これにより、CD用レーザ光の外周部が外方に拡散される。   The aperture limiting element 35 blocks the outer periphery of only the CD laser light and limits the entrance pupil of the CD laser light to the HD objective lens 19. As the aperture limiting element 35, for example, a wavelength selective aperture limiting element can be used. In this case, the aperture limiting element 35 is provided with a wavelength-selective diffraction grating at the position of the outer periphery of the CD laser beam, whereby the outer periphery of the CD laser beam is diffused outward.

本構成例において、HD/BD用レーザ光を用いる場合の動作は、上記図1の場合と同様である。DVD用レーザ光またはCD用レーザ光を用いる場合、これらレーザ光は、S偏光にて偏光ビームスプリッタ13に入射するため、偏光ビームスプリッタ13にて略全反射され、HD用対物レンズ19に導かれる。   In this configuration example, the operation when the HD / BD laser beam is used is the same as in the case of FIG. When DVD laser light or CD laser light is used, the laser light is incident on the polarization beam splitter 13 as S-polarized light, and therefore is substantially totally reflected by the polarization beam splitter 13 and guided to the HD objective lens 19. .

ディスク(DVD/CD)からの反射光は、λ/4板18による作用によって、偏光ビームスプリッタ13にP偏光にて入射する。このため、この反射光は、偏光ビームスプリッタ13を略全透過し、偏光性回折素子23へと入射される。この場合、反射光は、偏光性回折素子23に対しP偏光の状態で入射するため、偏光性回折素子23によって回折作用を受けずにそのまま直進し、光検出器25上のHD用センサ251(図3(a)参照)上に照射される。   Reflected light from the disc (DVD / CD) is incident on the polarization beam splitter 13 as P-polarized light by the action of the λ / 4 plate 18. For this reason, the reflected light passes through the polarization beam splitter 13 almost completely and enters the polarizing diffraction element 23. In this case, since the reflected light is incident on the polarizing diffraction element 23 in the P-polarized state, the reflected light travels straight without being diffracted by the polarizing diffraction element 23, and the HD sensor 251 (on the photodetector 25 ( (See FIG. 3A).

なお、この構成例においては、HD/BD用レーザ光の他に、DVD用レーザ光とCD用レーザ光が偏光性回折素子23に入射されるため、青色波長帯のレーザ光がP偏光にて入射する場合に加え、赤色波長帯および赤外波長帯のレーザ光がP偏光にて入射するときもまた、回折構造232の屈折率npがガラスの屈折率n1に一致するよう、回折構造232を構成する複屈折材料を選択する必要がある。すなわち、青色波長帯、赤色波長帯および赤外波長帯に対する屈折率の分散がガラスの屈折率の分散に略一致するような複屈折材料を、回折構造232を構成する複屈折材料として選択する。   In this configuration example, in addition to the HD / BD laser light, the DVD laser light and the CD laser light are incident on the polarizing diffraction element 23, so that the laser light in the blue wavelength band is P-polarized light. In addition to the case where the light is incident, the diffraction structure 232 is also formed so that the refractive index np of the diffractive structure 232 matches the refractive index n1 of the glass when laser light in the red wavelength band and the infrared wavelength band is incident as P-polarized light. It is necessary to select a birefringent material to constitute. That is, a birefringent material whose refractive index dispersion for the blue wavelength band, red wavelength band, and infrared wavelength band substantially matches the refractive index dispersion of glass is selected as the birefringent material constituting the diffractive structure 232.

ところで、上記実施の形態では、光検出器25上に、HD用レーザ光とBD用レーザ光を個別に受光するための2つのセンサパターン(HD用センサ251、BD用センサ252)を配置し、偏光性回折素子23にて、BD用レーザ光がBD用センサ252上に適正に照射されるよう調整するものとしたが、光検出器25上に、HD用レーザ光とBD用レーザ光を共通に受光するための1つのセンサパターンを配置し、偏光性回折素子23にて、HD用レーザ光とBD用レーザ光がこのセンサパターン上に適正に照射されるよう調整するものとしてすることもできる。   By the way, in the above-described embodiment, two sensor patterns (HD sensor 251 and BD sensor 252) for individually receiving the HD laser beam and the BD laser beam are arranged on the photodetector 25. The polarizing diffractive element 23 is adjusted so that the BD laser beam is appropriately irradiated onto the BD sensor 252. However, the HD laser beam and the BD laser beam are shared on the photodetector 25. It is also possible to arrange one sensor pattern for receiving light and adjust the polarizing diffraction element 23 so that the HD laser beam and the BD laser beam are appropriately irradiated onto the sensor pattern. .

図9に、この場合の光学系の構成例を示す。この構成例では、光検出器25上のセンサパターンが、図10(a)に示す如く、唯一つのセンサパターン(4分割センサ)にて構成されている点を除き、図1の光学系と同じである。ただし、図1の光学系では、HD用レーザ光の光軸からBD用レーザ光の光軸を引き離すよう、偏光性回折素子23の位置を調整したが、本構成例では、HD用レーザ光の光軸からBD用レーザ光の光軸を近付けるよう、偏光性回折素子23の位置(光軸方向位置および回転方向位置)が調整される。   FIG. 9 shows a configuration example of the optical system in this case. In this configuration example, the sensor pattern on the photodetector 25 is the same as that of the optical system of FIG. 1 except that the sensor pattern is composed of only one sensor pattern (four-divided sensor) as shown in FIG. It is. However, in the optical system of FIG. 1, the position of the polarizing diffraction element 23 is adjusted so that the optical axis of the BD laser light is separated from the optical axis of the HD laser light. The position of the polarizing diffraction element 23 (the optical axis direction position and the rotational direction position) is adjusted so that the optical axis of the BD laser beam is brought closer to the optical axis.

なお、記録タイプの光学系とする場合(図7参照)には、光検出器25上のセンサパターンが図10(b)のものに変更される。   When the recording type optical system is used (see FIG. 7), the sensor pattern on the photodetector 25 is changed to that shown in FIG.

本構成例においては、光検出器25上に配するセンサパターンがHD用レーザ光とBD用レーザ光とで共通化されるため、光検出器25の構成を簡素化することができる。その一方、偏光性回折素子23の回折効率が100%でない場合には、不要な回折光がセンサパターン上に照射され、これがセンサ出力にノイズとして現れる可能性がある。このような不都合を回避するには、上記図1に示す場合のように、偏光性回折素子23によってHD用レーザ光とBD用レーザ光を明確に分離し、それぞれのレーザ光を個別にセンサパターンで受光するようにする方が良い。   In this configuration example, the sensor pattern disposed on the photodetector 25 is shared by the HD laser beam and the BD laser beam, so that the configuration of the photodetector 25 can be simplified. On the other hand, when the diffraction efficiency of the polarizing diffraction element 23 is not 100%, unnecessary diffracted light is irradiated on the sensor pattern, which may appear as noise in the sensor output. In order to avoid such an inconvenience, as shown in FIG. 1, the polarizing diffraction element 23 clearly separates the HD laser beam and the BD laser beam, and individually separates each laser beam into a sensor pattern. It is better to receive light at.

この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。   In addition, the embodiment of the present invention can be variously modified as appropriate within the scope of the technical idea shown in the claims.

実施の形態に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図The figure which shows the optical system of the optical pick-up apparatus which concerns on embodiment 実施の形態に係る偏光性回折素子の構成を示す図The figure which shows the structure of the polarizing diffraction element which concerns on embodiment 実施の形態に係る光検出器の構成を示す図The figure which shows the structure of the photodetector which concerns on embodiment 実施の形態に係る偏光性回折素子の配置を説明する図The figure explaining arrangement | positioning of the polarizing diffraction element which concerns on embodiment 実施の形態に係る偏光性回折素子の配置を説明する図The figure explaining arrangement | positioning of the polarizing diffraction element which concerns on embodiment 実施の形態に係る偏光性回折素子の配置を説明する図The figure explaining arrangement | positioning of the polarizing diffraction element which concerns on embodiment 実施の形態の変更例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図The figure which shows the optical system of the optical pick-up apparatus which concerns on the example of a change of embodiment 実施の形態の変更例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図The figure which shows the optical system of the optical pick-up apparatus which concerns on the example of a change of embodiment 実施の形態の変更例に係る光ピックアップ装置の光学系を示す図The figure which shows the optical system of the optical pick-up apparatus which concerns on the example of a change of embodiment 実施の形態の変更例に係る光検出器の構成を示す図The figure which shows the structure of the photodetector which concerns on the example of a change of embodiment. 従来例を説明する図A diagram for explaining a conventional example

符号の説明Explanation of symbols

11 半導体レーザ(第1の光源)
12 アクティブ偏光素子(偏光変換素子)
13 偏光ビームスプリッタ
18 λ/4板
19 HD用対物レンズ
20 BD用対物レンズ
23 偏光性回折素子
25 光検出器
31、32 半導体レーザ(第2の光源)
33、34 ダイクロプリズム
251 HD用センサ(センサパターン)
252 BD用センサ(センサパターン)
253 HD/BD用センサ(センサパターン)
11 Semiconductor laser (first light source)
12 Active polarization element (polarization conversion element)
13 Polarizing Beam Splitter 18 λ / 4 Plate 19 HD Objective Lens 20 BD Objective Lens 23 Polarizing Diffraction Element 25 Photodetector 31, 32 Semiconductor Laser (Second Light Source)
33, 34 Dichroic prism 251 HD sensor (sensor pattern)
252 BD sensor (sensor pattern)
253 HD / BD sensor (sensor pattern)

Claims (6)

レーザ光を出射する第1の光源と、
前記第1の光源から出射されたレーザ光が入射される偏光ビームスプリッタと、
前記偏光ビームスプリッタに対する前記レーザ光の偏光方向を制御信号に応じて切り替える偏光変換素子と、
前記偏光ビームスプリッタを通過した第1のレーザ光が入射されるとともに該第1のレーザ光を記録媒体上に収束させる第1の対物レンズと、
前記偏光ビームスプリッタにて反射された第2のレーザ光が入射されるとともに該第2のレーザ光を記録媒体上に収束させる第2の対物レンズと、
前記偏光ビームスプリッタと前記第1および第2の対物レンズとの間に配されたλ/4板と、
前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光を受光する光検出器と、
前記λ/4板と前記光検出器の間に配されるとともに前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光のうち何れか一方のみに偏光方向に応じた回折作用を発現する偏光性回折素子とを備え、
前記偏光性回折素子は、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光が前記光検出器上の対応するセンサパターン上に照射されるよう位置調整されている、ことを特徴とする光ピックアップ装置。
A first light source that emits laser light;
A polarizing beam splitter on which the laser light emitted from the first light source is incident;
A polarization conversion element that switches a polarization direction of the laser light with respect to the polarization beam splitter according to a control signal;
A first objective lens that receives the first laser beam that has passed through the polarization beam splitter and converges the first laser beam on a recording medium;
A second objective lens that receives the second laser beam reflected by the polarization beam splitter and converges the second laser beam on a recording medium;
A λ / 4 plate disposed between the polarizing beam splitter and the first and second objective lenses;
A photodetector for receiving the first and second laser beams reflected by the disk;
Polarized light that is arranged between the λ / 4 plate and the photodetector and that exhibits a diffractive action corresponding to the polarization direction only in one of the first and second laser beams reflected by the disk. An diffractive element,
The polarizing diffractive element is positioned so that the first and second laser beams reflected by the disk are irradiated onto corresponding sensor patterns on the photodetector. Optical pickup device.
請求項1において、
前記光検出器は、前記第1のレーザ光を受光する第1のセンサパターンと前記第2のレーザ光を受光する第2のセンサパターンを個別に有し、
前記偏光性回折素子は、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光が前記第1および第2のセンサパターン上にそれぞれ照射されるよう位置調整されている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
In claim 1,
The photodetector individually includes a first sensor pattern that receives the first laser light and a second sensor pattern that receives the second laser light,
The polarization diffractive element is positioned so that the first and second laser beams reflected by the disk are irradiated onto the first and second sensor patterns, respectively.
An optical pickup device characterized by that.
請求項1において、
前記光検出器は、前記第1および第2のレーザ光を受光する共通のセンサパターンを有し、
前記偏光性回折素子は、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光が前記共通のセンサパターン上に照射されるよう位置調整されている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
In claim 1,
The photodetector has a common sensor pattern that receives the first and second laser beams,
The polarization diffractive element is positioned so that the first and second laser beams reflected by the disk are irradiated onto the common sensor pattern.
An optical pickup device characterized by that.
請求項1ないし3の何れか一項において、
前記偏光変換素子は、前記レーザ光が前記偏光ビームスプリッタを略全透過する第1の偏光方向と、前記レーザ光が前記偏光ビームスプリッタによって略全反射される第2の偏光方向との間で、前記レーザ光の偏光方向を切り替える、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
In any one of Claims 1 thru | or 3,
The polarization conversion element includes a first polarization direction in which the laser light is substantially totally transmitted through the polarization beam splitter, and a second polarization direction in which the laser light is substantially totally reflected by the polarization beam splitter. Switching the polarization direction of the laser light;
An optical pickup device characterized by that.
請求項1ないし4の何れか一項において、
前記偏光性回折素子は、前記ディスクによって反射された前記第1および第2のレーザ光が収束光となる光路上に配置されている、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
In any one of Claims 1 thru | or 4,
The polarizing diffraction element is disposed on an optical path where the first and second laser beams reflected by the disk become convergent light.
An optical pickup device characterized by that.
請求項1ないし5の何れか一項において、
前記第1の光源から出射されるレーザ光とは異なる波長のレーザ光を出射する第2の光源をさらに備え、
前記第2の光源からのレーザ光は、前記第1の光源からのレーザ光に光軸が整合し、且つ、前記第1および第2のレーザ光の何れか一方に偏光方向が一致する状態にて前記偏光ビームスプリッタに入射される、
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
In any one of Claims 1 thru | or 5,
A second light source that emits laser light having a wavelength different from that of the laser light emitted from the first light source;
The laser light from the second light source is in a state in which the optical axis is aligned with the laser light from the first light source and the polarization direction is aligned with one of the first and second laser lights. Is incident on the polarizing beam splitter,
An optical pickup device characterized by that.
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