JP4308183B2 - Semiconductor device for switching power supply control and switching power supply device - Google Patents

Semiconductor device for switching power supply control and switching power supply device Download PDF

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本発明は、スイッチング電源の出力電圧をスイッチング動作により制御するスイッチング電源制御用半導体装置およびスイッチング電源装置に関するものである。   The present invention relates to a switching power supply control semiconductor device for controlling an output voltage of a switching power supply by a switching operation and a switching power supply device.

従来から、家電製品等の一般家庭用機器には、その電源装置として、消費電力の低減化による電力効率の向上等を図る目的から、半導体(トランジスタなどのスイッチング素子)によるスイッチング動作を利用して出力電圧を制御(安定化など)するスイッチング電源制御用半導体装置を有するスイッチング電源装置が広く用いられている。   Conventionally, for household appliances such as home appliances, as a power supply device, a switching operation using a semiconductor (switching element such as a transistor) is used for the purpose of improving power efficiency by reducing power consumption. A switching power supply device having a switching power supply control semiconductor device that controls (stabilizes) an output voltage is widely used.

特に近年では、地球温暖化防止対策の見地から、家電製品等の機器においては、それらの動作待機(スタンバイ)時における消費電力削減が注目され、スタンバイ時における消費電力がより低いスイッチング電源装置が強く要求されている。   In recent years, in particular, from the viewpoint of measures to prevent global warming, in household appliances and other devices, attention has been paid to reducing power consumption during standby (standby) operation, and switching power supplies with lower power consumption during standby are strongly used. It is requested.

この要求に応えるため、例えば、機器の通常動作状態(通常モード)における定格負荷時に電源供給するため、1つの主電源用スイッチング電源装置(コンバータ)で、機器の待機動作状態(待機モード)のスタンバイ時におけるスイッチング素子の電流損失を低減して軽負荷時における消費電力を削減し、待機モードを含む広範囲な負荷領域で、十分に高い電力効率を容易に得ることができる電源システム等が開発されつつある。この場合、このスイッチング電源装置としては、電源の効率およびノイズの面から部分共振型が多く用いられてきた(特許文献1参照)。   In order to meet this requirement, for example, in order to supply power at the rated load in the normal operation state (normal mode) of the device, one main power switching power supply (converter) can be used for standby in the standby operation state (standby mode) of the device. A power supply system is being developed that can reduce the current loss of the switching element at the time, reduce the power consumption at light loads, and easily obtain sufficiently high power efficiency in a wide range of loads including the standby mode. is there. In this case, as the switching power supply device, a partial resonance type has been often used from the viewpoint of power supply efficiency and noise (see Patent Document 1).

しかし前記のようなスイッチング電源制御用半導体装置では、電源の待機時の省電力化という要望を実現できるようになってきているが、全世界での様々な入力電圧に対し、低入力電圧時と高入力電圧時とで電源の最大出力が同じではなく、入力電圧によって電源設計を変更したり、高入力電圧時に電源の各部品にかかるストレスが大きくなることを見越した部品選定をしたりする必要があり、コストアップにつながるといった問題がある。   However, in the semiconductor device for switching power supply control as described above, the demand for power saving during standby of the power supply can be realized. However, when the input voltage is low, The maximum output of the power supply is not the same at the time of high input voltage, and it is necessary to change the power supply design depending on the input voltage, or to select parts in anticipation of increasing stress on each part of the power supply at high input voltage There is a problem that leads to cost increase.

また、全世界での商用電源電圧は、地域により電圧の変動も様々であり、極端な低入力電圧状態および極端な高入力電圧状態も考えられる。極端な低入力電圧状態において、ある一定電圧以上で電源が起動するようにしたり、ある一定電圧以下になったときに電源を停止させたりする場合や、極端な高入力電圧状態において、スイッチング素子の耐圧以上の電圧に跳ね上がることによるスイッチング素子の耐圧破壊を防止したい場合に、入力電圧を検出し保護をかける回路を別途構成する必要があり、外付け部品が増加するといった課題もある。   In addition, the commercial power supply voltage around the world varies in voltage depending on the region, and an extremely low input voltage state and an extremely high input voltage state can be considered. In an extremely low input voltage state, the power supply starts at a certain voltage or higher, or when the power supply is stopped when the voltage falls below a certain voltage, or in an extremely high input voltage condition, When it is desired to prevent breakdown voltage breakdown of the switching element due to jumping to a voltage exceeding the breakdown voltage, it is necessary to separately configure a circuit for detecting and protecting the input voltage, resulting in an increase in the number of external components.

図14は従来のスイッチング電源装置の一構成例を示す回路図である。このスイッチング電源装置は、図14に示すように、商用の交流電源が、ダイオードブリッジなどの整流器101により整流されて入力コンデンサ102にて平滑化されることにより、直流の入力電圧VINとしてトランス103の一次巻線103aを介してスイッチング素子1に印加する。スイッチング素子1のスイッチング動作により、トランス103の二次巻線103bに発生した交流電流を整流器104およびコンデンサ105により整流平滑して得られた直流の出力電圧Voを制御して、負荷109に電力供給する。   FIG. 14 is a circuit diagram showing a configuration example of a conventional switching power supply apparatus. As shown in FIG. 14, this switching power supply apparatus is configured such that a commercial AC power supply is rectified by a rectifier 101 such as a diode bridge and smoothed by an input capacitor 102, thereby obtaining a DC input voltage VIN as a DC input voltage VIN. The voltage is applied to the switching element 1 through the primary winding 103a. By switching operation of the switching element 1, the DC output voltage Vo obtained by rectifying and smoothing the AC current generated in the secondary winding 103b of the transformer 103 by the rectifier 104 and the capacitor 105 is controlled to supply power to the load 109. To do.

また、スイッチング電源装置は、トランス103の三次巻線103cに発生した交流電圧から、スイッチング素子1のスイッチング動作により発生するトランス103のリセット状態を検出して、そのリセット状態を示すトランスリセット検出信号を出力するトランスリセット検出回路11と、トランス103の二次巻線103bに発生した出力電圧Voの変化を基にして出力電圧検出回路106およびフォトトランジスタ110を通じて得られた制御電流の変化を、その電流値に対応した電圧値に変換するI−V変換器19と、I−V変換器19からの出力電圧VEAOの変化に基づいて、負荷109への電力供給の大きさを示す負荷状態として軽負荷時を検出した場合に、スイッチング素子1による間欠スイッチング動作を制御するための制御信号を出力する軽負荷時検出回路22とを有しており、これらによって、スイッチング素子1の制御電極(ゲート電極)を駆動する制御回路の一部を構成している。   Further, the switching power supply device detects the reset state of the transformer 103 generated by the switching operation of the switching element 1 from the AC voltage generated in the tertiary winding 103c of the transformer 103, and outputs a transformer reset detection signal indicating the reset state. The change in the control current obtained through the output voltage detection circuit 106 and the phototransistor 110 based on the change in the output voltage Vo generated in the transformer reset detection circuit 11 to be output and the secondary winding 103b of the transformer 103 is expressed as the current. A light load as a load state indicating the magnitude of power supply to the load 109 based on the change of the output voltage VEAO from the IV converter 19 that converts the voltage value to the value and the IV converter 19 To control intermittent switching operation by the switching element 1 when time is detected Has a light load detecting circuit 22 for outputting a control signal, these constitute a part of a control circuit for driving the control electrode of the switching element 1 (the gate electrode).

そして、軽負荷時検出回路22は、I−V変換器19からの出力電圧VEAOが軽負荷時を検出するための軽負荷時検出下限電圧VR1よりも小さくなったときに、スイッチング素子1のスイッチング動作を停止し、I−V変換器19からの出力電圧VEAOが軽負荷時を検出するための軽負荷時検出上限電圧VR2よりも大きくなったときに、スイッチング素子1のスイッチング動作を再開するように、間欠スイッチング動作を制御するための制御信号を出力する。   The light load detection circuit 22 switches the switching element 1 when the output voltage VEAO from the IV converter 19 becomes smaller than the light load detection lower limit voltage VR1 for detecting the light load. The operation is stopped, and the switching operation of the switching element 1 is resumed when the output voltage VEAO from the IV converter 19 becomes larger than the light load detection upper limit voltage VR2 for detecting the light load. In addition, a control signal for controlling the intermittent switching operation is output.

また、トランスリセット検出回路11からのトランスリセット検出信号および軽負荷時検出回路22からの制御信号に基づいて、スイッチング素子1の制御電極(ゲート電極)を駆動し、軽負荷時の間欠スイッチング動作を制御するように構成されている。   Further, based on the transformer reset detection signal from the transformer reset detection circuit 11 and the control signal from the light load detection circuit 22, the control electrode (gate electrode) of the switching element 1 is driven to control the intermittent switching operation at light load. Is configured to do.

以上のように構成されたスイッチング電源装置の概略動作を説明する。ここでは、軽負荷を検出した場合に、スイッチング素子による間欠スイッチング動作を行うスイッチング電源制御用半導体装置の動作を説明する。   A schematic operation of the switching power supply device configured as described above will be described. Here, the operation of the switching power supply control semiconductor device that performs the intermittent switching operation by the switching element when a light load is detected will be described.

図14において、内部回路が基準電圧まで上昇すると制御回路が起動し、その後、スイッチング素子入力端子36とスイッチング素子出力端子37の間に接続されたコンデンサ118により入力端子36の電圧が上昇し起動電圧になると、パワーMOSFET等のスイッチング素子1がターンオンしてオン状態となり、そのドレイン電流が、トランス103の二次巻線103bに接続された出力電圧検出回路106からフォトトランジスタ110へのフォトカプラ電流によるフィードバック電流で決定される過電流検出レベルに達すると、スイッチング素子1はターンオフしてオフ状態になる。スイッチング素子1がオフすると、そのドレイン電圧は、トランス103のインダクタンスとスイッチング素子1のドレイン−ソース間容量およびコンデンサ118の容量との共振により、リンギング動作を行う。   In FIG. 14, when the internal circuit rises to the reference voltage, the control circuit is activated, and then the voltage at the input terminal 36 is increased by the capacitor 118 connected between the switching element input terminal 36 and the switching element output terminal 37, and the activation voltage is increased. Then, the switching element 1 such as the power MOSFET is turned on and turned on, and the drain current is caused by the photocoupler current from the output voltage detection circuit 106 connected to the secondary winding 103b of the transformer 103 to the phototransistor 110. When the overcurrent detection level determined by the feedback current is reached, the switching element 1 is turned off and turned off. When the switching element 1 is turned off, the drain voltage performs a ringing operation by resonance between the inductance of the transformer 103 and the drain-source capacitance of the switching element 1 and the capacitance of the capacitor 118.

このようにして、一端スイッチング電源制御用半導体装置が起動すると、次のオン信号はトランス103の三次巻線(バイアス巻線)103cにより検出されるが、制御回路内部で三次巻線電圧(トランスリセット検出信号)が設定値以下になると、オン信号を出力する。また、トランスリセット(三次巻線)検出端子39には抵抗器116とコンデンサ117を接続し、スイッチング素子1のドレイン電圧のボトムでスイッチング素子1がオンするようなタイミングが得られるように、抵抗器116とコンデンサ117の各値による時定数が調整されている。   Thus, when the semiconductor device for controlling the switching power supply is started, the next ON signal is detected by the tertiary winding (bias winding) 103c of the transformer 103, but the tertiary winding voltage (transformer reset) is detected inside the control circuit. When the detection signal is equal to or lower than the set value, an ON signal is output. Also, a resistor 116 and a capacitor 117 are connected to the transformer reset (tertiary winding) detection terminal 39 so that the timing at which the switching element 1 is turned on at the bottom of the drain voltage of the switching element 1 can be obtained. The time constant of each value of 116 and capacitor 117 is adjusted.

以上の動作を繰り返し、所望の出力電圧Voを得るようにしているが、軽負荷時の電源効率を改善するため、フィードバック電流がある一定値以上流れるとスイッチング素子1によるスイッチング動作を停止し、フィードバック電流がある一定値以下になるとスイッチング素子1によるスイッチング動作を再開するといった間欠発振制御(間欠スイッチング動作)を行うことにより、軽負荷時の電源効率を改善し消費電力を削減している。   The above operation is repeated to obtain a desired output voltage Vo. However, in order to improve the power supply efficiency at light load, when the feedback current flows over a certain value, the switching operation by the switching element 1 is stopped and the feedback is performed. By performing intermittent oscillation control (intermittent switching operation) in which the switching operation by the switching element 1 is resumed when the current falls below a certain value, the power efficiency at light load is improved and the power consumption is reduced.

また、スイッチング素子1によるスイッチング動作の制御方法としては、擬似共振型のリンギングチョークコンバータ(RCC)制御であり、擬似共振型制御の基本は自励であるので、負荷が軽くなればなるほど発振周波数は高くなる。そのため、さらに遅延回路27がスイッチングオフ時のドレイン電流検出信号を受けた後に、そのドレイン電流検出信号に対して、遅延回路27によりある一定の遅延時間を与えることにより、その遅延時間に対応するブランキング時間内には、トランス103の三次巻線103cからの信号に基づいてトランスリセットパルス発生回路25で得られたトランスリセットパルスによるスイッチングオン制御を受け付けないようにして、スイッチング素子1へオン信号を与えないようにし、スイッチング素子1のスイッチング動作を停止してスイッチングオンのタイミングを遅らせるように構成する。   Further, the switching operation control method by the switching element 1 is quasi-resonant ringing choke converter (RCC) control. Since the basis of the quasi-resonant control is self-excitation, the oscillation frequency becomes smaller as the load becomes lighter. Get higher. Therefore, after the delay circuit 27 receives the drain current detection signal at the time of switching off, the delay circuit 27 gives a certain delay time to the drain current detection signal, so that the block corresponding to the delay time is provided. Within the ranking time, an on signal is sent to the switching element 1 so as not to accept the switching on control by the transformer reset pulse obtained by the transformer reset pulse generation circuit 25 based on the signal from the tertiary winding 103c of the transformer 103. The switching operation of the switching element 1 is stopped and the switching-on timing is delayed.

これにより、軽負荷時に発振周波数が高くならないようにし、スイッチング動作に伴うスイッチングロスの増加を抑え、周波数が一定以上高くならないように制限することで軽負荷時の電源効率をさらに改善し消費電力を削減している。   As a result, the oscillation frequency does not increase at light loads, the increase in switching loss associated with switching operations is suppressed, and the frequency is limited so that it does not increase above a certain level, further improving power efficiency at light loads and reducing power consumption. Reduced.

また、擬似共振型の制御であるため、スイッチング素子オン時のスイッチングロスが低減できるとともに、低ノイズが実現できるため、低ノイズ,高効率および高出力が要求される市場に適している。また、軽負荷時には間欠発振制御による間欠スイッチング動作となるため、一般的にRCCで問題となる軽負荷時のスイッチング周波数の上昇は抑えられ、軽負荷時のスイッチングロスについてはある程度低減している。
特開2002−315330号公報
In addition, since it is quasi-resonant control, it can reduce switching loss when the switching element is turned on, and can realize low noise, so it is suitable for a market that requires low noise, high efficiency, and high output. In addition, since intermittent switching operation is performed by intermittent oscillation control at light load, an increase in switching frequency at light load, which is generally a problem in RCC, is suppressed, and switching loss at light load is reduced to some extent.
JP 2002-315330 A

しかしながら、このような構成のスイッチング電源装置は、図14に示すスイッチング素子1に流れる最大電流は過電流保護基準電圧源31により規定され、スイッチング電源制御用半導体装置41により固定された値となっている。ただし、各回路の反応遅れ時間、スイッチング素子1のスイッチング時間等により、一定の遅れ時間を有し、実際にスイッチング素子1に流れる最大電流は内部回路で規定された過電流保護レベルよりも若干大きな値となる。そして、過電流保護遅れ時間を有するために、高入力電圧時は、低入力電圧時に比べて、スイッチング素子1に流れる最大ドレイン電流が大きくなる。   However, in the switching power supply having such a configuration, the maximum current flowing through the switching element 1 shown in FIG. 14 is defined by the overcurrent protection reference voltage source 31 and becomes a value fixed by the switching power supply control semiconductor device 41. Yes. However, there is a certain delay time depending on the reaction delay time of each circuit, the switching time of the switching element 1, etc., and the maximum current that actually flows through the switching element 1 is slightly larger than the overcurrent protection level defined by the internal circuit. Value. And since it has an overcurrent protection delay time, the maximum drain current flowing through the switching element 1 becomes larger at the time of a high input voltage than at the time of a low input voltage.

また、単位スイッチング動作あたりの入力電力PINは、スイッチング素子1への最大電流をIPEAKとすると、入力電圧VINに対して(数1)   Further, the input power PIN per unit switching operation is expressed by the following equation (1) with respect to the input voltage VIN when the maximum current to the switching element 1 is IPEAK.

Figure 0004308183
となり、高入力電圧時には、仮に低入力電圧時と同じ最大電流IPEAKとなるようにした場合にも入力電力PINが大きくなり、出力電力POが同一の負荷条件においてはより軽負荷状態となるため、擬似共振型制御では発振周波数が高くなってしまう。そのため、高入力電圧時に電源としての最大出力電力が大きくなるという課題がある。
Figure 0004308183
Thus, when the input voltage PIN is increased at the time of high input voltage, even if the maximum current IPEAK is the same as that at the time of low input voltage, the output power PO becomes lighter under the same load condition. In quasi-resonant control, the oscillation frequency becomes high. Therefore, there is a problem that the maximum output power as a power source becomes large at a high input voltage.

本発明は、前記従来技術の問題を解決することに指向するものであり、軽負荷時に高周波数動作となることを抑制してスイッチングロスを低減し、また軽負荷時の電源効率を改善し、軽負荷時の消費電力を削減することともに、軽負荷時から重負荷時までの全負荷領域で高効率化および低ノイズ化を実現して、また入力電圧に依存せず最大出力電力を一定レベルに保つことができるスイッチング電源制御用半導体装置およびスイッチング電源装置を提供することを目的とする。   The present invention is directed to solving the problems of the prior art, and suppresses switching loss by suppressing high-frequency operation at light loads, and improves power supply efficiency at light loads. In addition to reducing power consumption at light loads, it achieves high efficiency and low noise in the entire load range from light loads to heavy loads, and the maximum output power is constant regardless of the input voltage. An object of the present invention is to provide a switching power supply control semiconductor device and a switching power supply device that can be maintained at the same time.

前記の目的を達成するために、本発明に係る請求項1に記載したスイッチング電源制御用半導体装置は、直流の入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加し、スイッチング素子のスイッチング動作により、トランスの二次巻線に発生した交流電流を整流平滑して得られた直流電圧を制御して負荷に電力供給するため、スイッチング素子のスイッチング動作を制御する制御回路を有するスイッチング電源制御用半導体装置であって、制御回路に、スイッチング素子を流れる電流を検出するドレイン電流検出回路と、トランスの三次巻線に発生した交流電圧から、スイッチング素子のスイッチング動作により発生するトランスのリセット状態を検出して、リセット状態を示すトランスリセット検出信号を出力するトランスリセット検出回路と、ドレイン電流検出回路の出力信号に対して所定の遅延時間を与える遅延回路と、トランスの二次巻線に発生した交流電流に基づく直流電圧の変化を示す制御電流の電流値を電圧値に変換するI−V変換器と、I−V変換器の出力信号とドレイン電流検出回路の出力信号を比較するドレイン電流検出用比較器と、ドレイン電流検出用比較器の基準電圧となるI−V変換器の出力信号の上限を決める過電流保護基準電圧源と、外部接続端子からの入力信号を受けて、出力として過電流保護基準電圧源の入力に外部可変信号を供給する可変信号生成回路とを備え、トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号およびドレイン電流検出回路の出力信号に基づいたスイッチング動作の制御において、過電流保護基準電圧源が外部可変信号を受けて、ドレイン電流検出回路の出力信号と比較する基準電圧の上限となる過電流保護レベルを可変し、遅延回路から所定時間遅延したドレイン電流検出信号を出力するまで、トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号をマスクして、スイッチング動作を停止するようにスイッチング素子の制御電極を駆動することを特徴とする。   In order to achieve the above object, a switching power supply control semiconductor device according to claim 1 of the present invention applies a DC input voltage to a switching element through a primary winding of a transformer, thereby switching the switching element. Switching power supply control having a control circuit for controlling the switching operation of the switching element to control the DC voltage obtained by rectifying and smoothing the AC current generated in the secondary winding of the transformer by operation and supplying power to the load A drain current detection circuit for detecting a current flowing through the switching element in the control circuit, and a reset state of the transformer generated by a switching operation of the switching element from an AC voltage generated in the tertiary winding of the transformer. A transformer that detects and outputs a transformer reset detection signal indicating the reset state. Current detection circuit, a delay circuit that gives a predetermined delay time to the output signal of the drain current detection circuit, and a current value of a control current indicating a change in DC voltage based on an AC current generated in the secondary winding of the transformer An I-V converter that converts the output signal into a voltage value, a drain current detection comparator that compares the output signal of the IV converter and the output signal of the drain current detection circuit, and a reference voltage of the drain current detection comparator An overcurrent protection reference voltage source that determines the upper limit of the output signal of the I-V converter and a variable that receives an input signal from the external connection terminal and supplies an external variable signal to the input of the overcurrent protection reference voltage source as an output An overcurrent protection reference voltage source for controlling a switching operation based on a transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit and an output signal of the drain current detection circuit. Receiving an external variable signal, varying the overcurrent protection level, which is the upper limit of the reference voltage compared with the output signal of the drain current detection circuit, and detecting the transformer reset until the drain current detection signal delayed for a predetermined time is output from the delay circuit The control electrode of the switching element is driven so as to stop the switching operation by masking the transformer reset detection signal of the circuit.

また、請求項2に記載したスイッチング電源制御用半導体装置は、直流の入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加し、スイッチング素子のスイッチング動作により、トランスの二次巻線に発生した交流電流を整流平滑して得られた直流電圧を制御して負荷に電力供給するため、スイッチング素子のスイッチング動作を制御する制御回路を有するスイッチング電源制御用半導体装置であって、制御回路に、スイッチング素子を流れる電流を検出するドレイン電流検出回路と、トランスの三次巻線に発生した交流電圧から、スイッチング素子のスイッチング動作により発生するトランスのリセット状態を検出して、リセット状態を示すトランスリセット検出信号を出力するトランスリセット検出回路と、ドレイン電流検出回路の出力信号に対して所定の遅延時間を与える遅延回路と、トランスの二次巻線に発生した交流電流に基づく直流電圧の変化を示す制御電流の電流値を電圧値に変換するI−V変換器と、I−V変換器の出力信号とドレイン電流検出回路の出力信号とを比較するドレイン電流検出用比較器と、ドレイン電流検出用比較器の基準電圧となるI−V変換器の出力信号の上限を決める過電流保護基準電圧源と、外部接続端子からの入力信号を受けて、出力として過電流保護基準電圧源および遅延回路の入力に外部可変信号を供給する可変信号生成回路とを備え、トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号およびドレイン電流検出回路の出力信号に基づいた前記スイッチング動作の制御において、過電流保護基準電圧源および遅延回路が外部可変信号を受けて、ドレイン電流検出回路の出力信号と比較する基準電圧の上限となる過電流保護レベルおよび遅延時間を可変し、遅延回路から所定時間遅延したドレイン電流検出信号を出力するまで、トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号をマスクして、スイッチング素子のスイッチング動作を停止するように制御電極を駆動することを特徴とする。   Further, the switching power supply control semiconductor device according to claim 2 applies a DC input voltage to the switching element through the primary winding of the transformer, and is generated in the secondary winding of the transformer by the switching operation of the switching element. A switching power supply control semiconductor device having a control circuit for controlling the switching operation of the switching element in order to control the direct current voltage obtained by rectifying and smoothing the alternating current and supplying power to the load. Transformer reset detection that detects the reset state of the transformer caused by the switching operation of the switching element from the drain current detection circuit that detects the current flowing through the switching element and the AC voltage generated in the tertiary winding of the transformer. Transformer reset detection circuit that outputs signals and drain current detection A delay circuit that gives a predetermined delay time to the output signal of the path, and an IV that converts a current value of a control current indicating a change in DC voltage based on an AC current generated in the secondary winding of the transformer into a voltage value A converter, a drain current detection comparator that compares the output signal of the IV converter and the output signal of the drain current detection circuit, and an output of the IV converter that serves as a reference voltage of the drain current detection comparator An overcurrent protection reference voltage source that determines the upper limit of the signal, and a variable signal generation circuit that receives an input signal from the external connection terminal and supplies an external variable signal to the input of the overcurrent protection reference voltage source and the delay circuit as an output In the control of the switching operation based on the transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit and the output signal of the drain current detection circuit, an overcurrent protection reference voltage source and a delay circuit are provided. By receiving the external variable signal, varying the overcurrent protection level and delay time that are the upper limit of the reference voltage compared with the output signal of the drain current detection circuit, until the drain current detection signal delayed by a predetermined time is output from the delay circuit, The control electrode is driven so as to stop the switching operation of the switching element by masking the transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit.

また、請求項3,4に記載したスイッチング電源制御用半導体装置は、請求項1または2のスイッチング電源制御用半導体装置において、外部接続端子からの入力信号が設定値以下である場合、スイッチング素子のスイッチング動作を停止させること、または、外部接続端子からの入力信号が設定値以上である場合、スイッチング素子のスイッチング動作を停止させることを特徴とする。   The switching power supply control semiconductor device according to claim 3 or 4 is the switching power supply control semiconductor device according to claim 1 or 2, wherein the input signal from the external connection terminal is equal to or lower than a set value. The switching operation is stopped, or the switching operation of the switching element is stopped when the input signal from the external connection terminal is a set value or more.

また、請求項5に記載したスイッチング電源制御用半導体装置は、請求項1〜4のスイッチング電源制御用半導体装置において、制御回路とスイッチング素子を同一基板上に集積化した半導体基板に、入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加するためのスイッチング素子入力端子と、スイッチング素子のスイッチング動作により得られたスイッチング電流を出力するためのスイッチング素子出力端子と、スイッチング素子のスイッチング動作によりトランスの三次巻線に発生した電流に基づく直流電圧を供給するための電源入力端子と、スイッチング素子の間欠スイッチング動作を制御する制御信号を入力するための制御信号入力端子と、トランスリセット検出回路にトランスリセット検出信号を入力するためのトランスリセット検出端子と、過電流保護基準電圧源および遅延回路に外部可変信号を供給する可変信号生成回路の外部信号を入力するための外部信号入力端子とを備えたことを特徴とする。   A switching power supply control semiconductor device according to claim 5 is the switching power supply control semiconductor device according to claims 1 to 4, wherein the input voltage is applied to the semiconductor substrate in which the control circuit and the switching element are integrated on the same substrate. A switching element input terminal for applying to the switching element via the primary winding of the transformer, a switching element output terminal for outputting a switching current obtained by the switching operation of the switching element, and a transformer by the switching operation of the switching element. A power supply input terminal for supplying a DC voltage based on the current generated in the tertiary winding of the power supply, a control signal input terminal for inputting a control signal for controlling the intermittent switching operation of the switching element, and a transformer reset detecting circuit. To input reset detection signal A scan reset detection terminal, characterized in that an external signal input terminal for inputting an external signal of variable signal generating circuit supplies an external variable signal to the overcurrent protection reference voltage source and the delay circuit.

また、請求項6に記載したスイッチング電源装置は、請求項1〜5のいずれか1項に記載のスイッチング電源制御用半導体装置を用いて、直流の入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加し、スイッチング素子のスイッチング動作を行うことにより、トランスの二次巻線に発生した交流電流を整流平滑して得られた直流電圧を制御して、負荷に電力供給することを特徴とする。   According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a switching power supply device that uses the switching power supply control semiconductor device according to any one of the first to fifth aspects to switch a DC input voltage through a primary winding of a transformer. By applying to the element and performing the switching operation of the switching element, the DC voltage obtained by rectifying and smoothing the alternating current generated in the secondary winding of the transformer is controlled to supply power to the load. To do.

前記構成によれば、外部信号入力端子の入力信号を調整することにより、スイッチング素子の過電流保護検出レベルと、トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号をマスクする遅延時間を入力電圧に応じて補正できる。   According to the above configuration, by adjusting the input signal of the external signal input terminal, the overcurrent protection detection level of the switching element and the delay time for masking the transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit are corrected according to the input voltage. it can.

本発明によれば、外部信号入力端子の入力信号を調整することで、スイッチング素子の過電流保護検出レベルおよびトランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号をマスクする遅延時間を入力電圧に応じて補正ができ、入力電圧に依存せず最大出力電力を同等レベルにすること、使用部品の定格を抑えることが可能となり、電源のコストパフォーマンスを向上させるだけでなく、同一半導体装置における使用の用途を広げることができるという効果を奏する。   According to the present invention, by adjusting the input signal of the external signal input terminal, the overcurrent protection detection level of the switching element and the delay time for masking the transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit can be corrected according to the input voltage. It is possible to make the maximum output power to the same level without depending on the input voltage, it is possible to suppress the rating of the parts used, not only improve the cost performance of the power supply, but also expand the usage of the same semiconductor device There is an effect that can be.

以下、図面を参照して本発明における実施の形態を詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

図1は本発明の実施の形態1におけるスイッチング電源制御用半導体装置およびこれを用いたスイッチング電源装置の一構成例を示す回路図である。ここで、前記従来例を示す図14において説明した構成部材に対応し実質的に同等の機能を有するものには同一の符号を付し、以下の各図においても同様とする。   FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration example of a switching power supply control semiconductor device and a switching power supply device using the same according to Embodiment 1 of the present invention. Here, components corresponding to the components described in FIG. 14 showing the conventional example and having substantially the same functions are denoted by the same reference numerals, and the same applies to the following drawings.

まず、本実施の形態1におけるスイッチング電源制御用半導体装置について説明する。図1に示すスイッチング電源制御用半導体装置41には、制御信号入力端子40から流出する電流をI−V変換器19により電圧変換した出力電圧VEAOが与えられる軽負荷時検出回路22が設けられている。この軽負荷時検出回路22には、軽負荷時検出用比較器20を有している。軽負荷時検出用比較器20のマイナス入力としては、I−V変換器19から出力される出力電圧VEAOが与えられており、プラス入力としては、基準電圧源21から出力される基準電圧VRが与えられている。軽負荷時検出用比較器20は、入力される出力電圧VEAOと基準電圧VRとを比較して、出力電圧VEAOが基準電圧VRを下回った場合に、所定の出力信号V01を、インバータ23を介してAND回路24の一方の入力信号として出力するようになっている。また、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01は、基準電圧源21にも与えられており、基準電圧源21は、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01を受けて基準電圧VRが変化するようになっている。   First, the switching power supply control semiconductor device according to the first embodiment will be described. The switching power supply control semiconductor device 41 shown in FIG. 1 is provided with a light load detection circuit 22 to which an output voltage VEAO obtained by converting the current flowing out from the control signal input terminal 40 into a voltage by the IV converter 19 is applied. Yes. The light load detection circuit 22 includes a light load detection comparator 20. The output voltage VEAO output from the IV converter 19 is given as the minus input of the light load detection comparator 20, and the reference voltage VR output from the reference voltage source 21 is given as the plus input. Is given. The light load detection comparator 20 compares the input output voltage VEAO with the reference voltage VR. When the output voltage VEAO falls below the reference voltage VR, a predetermined output signal V01 is sent via the inverter 23. And output as one input signal of the AND circuit 24. The output signal V01 of the light load detection comparator 20 is also supplied to the reference voltage source 21. The reference voltage source 21 receives the output signal V01 of the light load detection comparator 20 and receives the reference voltage. The VR changes.

AND回路24には、他方の入力信号としてトランスリセット検出端子39の電圧を検出し、トランスリセット検出回路11から出力されるトランスリセット検出信号がクロック信号として与えられており、AND回路24の出力が、ワンショットパルス形態のトランスリセットパルスを発生するトランスリセットパルス発生回路25に与えられている。軽負荷時検出時、つまり、スイッチング素子1の停止時には、その停止時間によって共振動作の振幅が小さくなり、トランスリセットパルスを検出できなくなる恐れがあるため、トランスリセットパルス発生回路25が働かないようにしている。   The AND circuit 24 detects the voltage of the transformer reset detection terminal 39 as the other input signal, and is provided with a transformer reset detection signal output from the transformer reset detection circuit 11 as a clock signal. A transformer reset pulse generating circuit 25 for generating a transformer reset pulse in the form of a one-shot pulse is provided. When detecting at light load, that is, when the switching element 1 is stopped, the amplitude of the resonance operation is reduced by the stop time, and the transformer reset pulse may not be detected, so that the transformer reset pulse generation circuit 25 is prevented from working. ing.

また、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01はインバータ23を介して間欠終了パルス発生回路26に入力されているが、停止期間終了後、間欠終了パルス発生回路26の出力がOR回路29に入力され、その出力信号は、RSフリップフロップ30のセット信号として入力される。RSフリップフロップ30の出力信号はNAND回路34に入力され、その出力は、ゲートドライバ35を通してスイッチング素子1のゲート電極に出力される。このように、軽負荷時検出用比較器20により、待機状態である軽負荷状態を検出すると、トランスリセットパルス発生回路25を動作しないようにし、間欠終了パルス発生回路26の出力信号によりスイッチング素子1のスイッチングを再開させるようにスイッチング制御される。   The output signal V01 of the light load detection comparator 20 is input to the intermittent end pulse generation circuit 26 via the inverter 23. After the stop period, the output of the intermittent end pulse generation circuit 26 is the OR circuit 29. The output signal is input as a set signal of the RS flip-flop 30. The output signal of the RS flip-flop 30 is input to the NAND circuit 34, and the output is output to the gate electrode of the switching element 1 through the gate driver 35. As described above, when the light load detection comparator 20 detects the light load state which is the standby state, the transformer reset pulse generation circuit 25 is not operated, and the switching element 1 is output by the output signal of the intermittent end pulse generation circuit 26. The switching is controlled so as to resume the switching.

このスイッチング電源制御用半導体装置41では、パワーMOSFETなどによるスイッチング素子1とスイッチング素子1のスイッチング制御を行うための制御回路が同一の半導体基板上に集積化されており、スイッチング素子入力端子36と出力端子37、スイッチング電源制御用半導体装置41の起動電圧検出用および制御回路の電源入力端子38、制御信号を入力するための制御信号入力端子40、トランス103の三次巻線(バイアス巻線)のトランスリセット検出端子(電圧検出用端子)39、スイッチング電源の入力電圧に応じた外部信号を入力するための外部信号入力端子42の6端子で構成されている。   In this switching power supply control semiconductor device 41, the switching element 1 using a power MOSFET or the like and a control circuit for performing switching control of the switching element 1 are integrated on the same semiconductor substrate, and the switching element input terminal 36 and the output Terminal 37, switching power control semiconductor device 41 for starting voltage detection and control circuit power input terminal 38, control signal input terminal 40 for inputting control signals, transformer 103 tertiary winding (bias winding) transformer A reset detection terminal (voltage detection terminal) 39 and an external signal input terminal 42 for inputting an external signal corresponding to the input voltage of the switching power supply are configured.

レギュレータ6はスイッチング素子入力端子36、電源入力端子38およびゲートドライバ用基準電源(内部回路基準電圧)8との間に接続されており、スイッチング素子入力端子36の電圧が一定値以上になったときに、スイッチング電源制御用半導体装置41の内部回路電流を供給して、比較器9により、スイッチング電源制御用半導体装置41の制御回路およびゲートドライバ基準電源8の電圧が内部回路で設定された任意の基準電圧と比較し一定値になるように制御している。   The regulator 6 is connected between the switching element input terminal 36, the power supply input terminal 38, and the gate driver reference power supply (internal circuit reference voltage) 8, and when the voltage at the switching element input terminal 36 becomes a certain value or more. In addition, an internal circuit current of the switching power supply control semiconductor device 41 is supplied, and the voltage of the control circuit of the switching power supply control semiconductor device 41 and the gate driver reference power supply 8 is set by the comparator 9 in the internal circuit. It is controlled so as to be a constant value compared with the reference voltage.

起動/停止用比較器7の出力は、NAND回路34へ入力され、その出力信号はゲートドライバ35を通してスイッチング素子1のゲート電極に出力されており、電源入力端子38の電圧の大きさによって、スイッチング素子1の発振および停止を制御している。   The output of the start / stop comparator 7 is input to the NAND circuit 34, and the output signal is output to the gate electrode of the switching element 1 through the gate driver 35, and the switching is performed according to the voltage level of the power input terminal 38. The oscillation and stop of the element 1 are controlled.

クランプ回路12は、制御信号入力端子40に接続されており、スイッチング電源制御用半導体装置41の外部にフォトトランジスタ110などが接続されるため、一定電位に設定されている。   The clamp circuit 12 is connected to the control signal input terminal 40 and is set to a constant potential because the phototransistor 110 and the like are connected to the outside of the switching power supply control semiconductor device 41.

I−V変換器19は、制御信号入力端子40から流出する電流を電圧に内部変換する。トランス103の三次巻線103cの電圧を検出するトランスリセット検出端子39には、トランスリセット検出回路11が接続されており、トランスリセットパルス(ワンショットパルス)発生回路25により、スイッチング素子1のターンオン信号のタイミングを決定している。   The IV converter 19 internally converts the current flowing out from the control signal input terminal 40 into a voltage. A transformer reset detection circuit 11 is connected to a transformer reset detection terminal 39 that detects the voltage of the tertiary winding 103c of the transformer 103. A turn-on signal of the switching element 1 is generated by a transformer reset pulse (one-shot pulse) generation circuit 25. The timing is determined.

起動パルス(スタートパルス)発生回路10は、起動/停止用比較器7の出力信号、つまり、起動信号により出力を発生し、OR回路29を通して、RSフリップフロップ30のセット端子に入力される。RSフリップフロップ30の出力QはNAND回路34へ入力される。   The start pulse generation circuit 10 generates an output based on the output signal of the start / stop comparator 7, that is, the start signal, and inputs the output to the set terminal of the RS flip-flop 30 through the OR circuit 29. The output Q of the RS flip-flop 30 is input to the NAND circuit 34.

起動後は、起動パルス、そして通常動作中は、トランスリセットパルスにより、OR回路29を介して、RSフリップフロップ30の出力Qがハイレベルとなり、スイッチング素子1をターンオン状態にする。   After the start-up, the output Q of the RS flip-flop 30 is set to the high level via the OR circuit 29 by the start-up pulse and the transformer reset pulse during the normal operation, and the switching element 1 is turned on.

スイッチング素子1がオン後、スイッチング素子1に流れる電流とスイッチング素子1のオン抵抗による電圧、つまり、オン電圧をドレイン電流検出回路32で検出し、ドレイン電流検出用比較器33のプラス側に入力され、この電圧がマイナス側の電位よりも高くなったときに、RSフリップフロップ30のリセット信号として入力され、スイッチング素子1はターンオフする。つまり、スイッチング素子1のオン抵抗を検出することにより、ドレイン電流の制限を行っている。   After the switching element 1 is turned on, the drain current detection circuit 32 detects the voltage caused by the current flowing through the switching element 1 and the on-resistance of the switching element 1, that is, the on-voltage, and is input to the positive side of the drain current detection comparator 33. When this voltage becomes higher than the negative potential, it is input as a reset signal of the RS flip-flop 30, and the switching element 1 is turned off. That is, the drain current is limited by detecting the on-resistance of the switching element 1.

また、ドレイン電流検出用比較器33のマイナス側には、最大電圧を規定する過電流保護基準電圧源31と、制御信号入力端子40から流出する電流に対応してI−V変換器19により内部変換した出力電圧VEAOとに基づいて電圧が印加されており、過電流保護基準電圧源31でドレイン電流の上限(最大ドレイン電流)を制限して、I−V変換器19からの出力電圧VEAOのレベルにより、スイッチング素子1のドレイン電流を変化させることができる。つまり、制御信号入力端子40からの流出電流が増加するほどI−V変換器19の出力電圧VEAOが低下するため、ドレイン電流検出用比較器33のマイナス側の電位が低下し、その結果として、スイッチング素子1のドレイン電流は低下することになる。   Further, on the negative side of the drain current detection comparator 33, an overcurrent protection reference voltage source 31 that defines the maximum voltage and an I-V converter 19 corresponding to the current flowing out from the control signal input terminal 40 are provided. The voltage is applied based on the converted output voltage VEAO, the upper limit of the drain current (maximum drain current) is limited by the overcurrent protection reference voltage source 31, and the output voltage VEAO from the IV converter 19 is The drain current of the switching element 1 can be changed depending on the level. That is, since the output voltage VEAO of the IV converter 19 decreases as the outflow current from the control signal input terminal 40 increases, the negative potential of the drain current detection comparator 33 decreases, and as a result, The drain current of the switching element 1 will decrease.

このように、制御信号入力端子40の電流により内部電圧変換されたI−V変換器19の出力電圧VEAOと、トランスリセット検出端子39によりトランス103の三次巻線103cの電圧を検出してスイッチング素子1のターンオンするタイミングを決定するトランスリセット検出回路11の出力によりトランスリセットパルスを発生するトランスリセットパルス発生回路25の出力信号とによって、スイッチング素子1のオン/オフ期間は決定される。   As described above, the output voltage VEAO of the I-V converter 19 converted into the internal voltage by the current of the control signal input terminal 40 and the voltage of the tertiary winding 103c of the transformer 103 are detected by the transformer reset detection terminal 39, thereby switching the switching element. The on / off period of the switching element 1 is determined by the output signal of the transformer reset pulse generation circuit 25 that generates a transformer reset pulse by the output of the transformer reset detection circuit 11 that determines the timing of turning on 1.

このスイッチング電源制御用半導体装置を用いたスイッチング電源装置では、商用の交流電源が、ダイオードブリッジなどの整流器101により整流されてコンデンサ102にて平滑化されることにより、直流の入力電圧VINとされて、電力変換用のトランス103に与えられている。電力変換用のトランス103は、一次巻線103aと二次巻線103bと三次巻線(バイアス巻線として使用)103cを有しており、直流の入力電圧VINが一次巻線103aに与えられる。   In a switching power supply using this switching power supply control semiconductor device, a commercial AC power supply is rectified by a rectifier 101 such as a diode bridge and smoothed by a capacitor 102 to be a DC input voltage VIN. The power conversion transformer 103 is provided. The transformer 103 for power conversion includes a primary winding 103a, a secondary winding 103b, and a tertiary winding (used as a bias winding) 103c, and a DC input voltage VIN is applied to the primary winding 103a.

トランス103の一次巻線103aに与えられた直流の入力電圧VINは、スイッチング電源制御用半導体装置41内のスイッチング素子1のスイッチング動作によって、トランス103の二次巻線103bに電流が取り出される。二次巻線103bに取り出された電流は、二次巻線103bに接続された整流器(ダイオード)104およびコンデンサ105により、整流および平滑化され、出力電圧Voを直流電力として負荷109へ供給される。   The DC input voltage VIN applied to the primary winding 103 a of the transformer 103 is extracted from the secondary winding 103 b of the transformer 103 by the switching operation of the switching element 1 in the semiconductor device 41 for switching power supply control. The current extracted to the secondary winding 103b is rectified and smoothed by the rectifier (diode) 104 and the capacitor 105 connected to the secondary winding 103b, and supplied to the load 109 using the output voltage Vo as DC power. .

コンデンサ105の両端には、例えばLED107およびツェナーダイオード108で構成された出力電圧検出回路106が接続されており、出力電圧Voを安定化させるための帰還信号を、スイッチング電源制御用半導体装置41の制御信号入力端子40に接続されているフォトトランジスタ110へ出力している。   An output voltage detection circuit 106 composed of, for example, an LED 107 and a Zener diode 108 is connected to both ends of the capacitor 105, and a feedback signal for stabilizing the output voltage Vo is controlled by the switching power supply control semiconductor device 41. The signal is output to the phototransistor 110 connected to the signal input terminal 40.

また、トランスの三次巻線103cには、トランスリセット検出端子39、および整流器(ダイオード)112を介して、電源入力端子38に接続されている。また、コンデンサ111は、電源入力端子38が急激に低下しないようにする。つまり、安定化させるものであり、トランスリセット検出端子39に接続された抵抗器116およびコンデンサ117は、遅延時間を生成するものであり、これらによりトランスリセット検出端子39で検出されるトランスリセット検出信号のタイミングを調整している。スイッチング素子1の入出力間に接続されたコンデンサ118は、トランス103との共振によるリンギングの大きさおよび周期を決定するためのものである。   The transformer tertiary winding 103 c is connected to the power input terminal 38 via a transformer reset detection terminal 39 and a rectifier (diode) 112. Further, the capacitor 111 prevents the power input terminal 38 from rapidly decreasing. That is, the resistor 116 and the capacitor 117 that are to be stabilized and connected to the transformer reset detection terminal 39 generate a delay time, and thereby a transformer reset detection signal detected by the transformer reset detection terminal 39. The timing is adjusted. The capacitor 118 connected between the input and output of the switching element 1 is for determining the magnitude and period of ringing due to resonance with the transformer 103.

以上の構成によって、軽負荷時に間欠制御を行うことでスイッチング素子1によるスイッチングロスを抑え、軽負荷時の電源効率を改善することができるが、さらに図1に示すように、遅延回路27がスイッチングオフ時のドレイン電流検出信号を受けた後に、そのドレイン電流検出信号に対して、遅延回路27によりある一定の遅延時間を与えることによって、その遅延時間に対応するブランキング時間内には、トランス103の三次巻線103cからの信号に基づいてトランスリセットパルス発生回路25で得られたトランスリセットパルスによるスイッチングオン制御を受け付けないようにして、スイッチング素子1にオン信号を与えないようにし、スイッチング素子1のスイッチング動作を停止してスイッチングオンのタイミングを遅らせるように構成されている。   With the above configuration, by performing intermittent control at light load, the switching loss due to the switching element 1 can be suppressed and the power supply efficiency at light load can be improved. However, as shown in FIG. After receiving the drain current detection signal at the time of OFF, by giving a certain delay time to the drain current detection signal by the delay circuit 27, the transformer 103 is within the blanking time corresponding to the delay time. The switching-on control by the transformer reset pulse obtained by the transformer reset pulse generating circuit 25 based on the signal from the tertiary winding 103c is not accepted, and the switching element 1 is not given an on-signal. Stop the switching operation of the It is configured to al.

また、スイッチング電源制御用半導体装置41には、外部抵抗と接続される外部信号入力端子42を備えており、直流の入力電圧VINを抵抗器120,121により抵抗分割し、外部信号入力端子42から、可変信号生成回路43に信号を入力している。この外部信号入力端子42から入力された、入力電圧に応じて変化する可変信号生成回路43からの第1の可変信号45を受けて過電流保護基準電圧源31で決まるI−V変換器19の出力信号VEAOの最大電圧が変動し、また、可変信号生成回路43からの第2の可変信号44を受けて遅延回路27の遅延時間が変動するように構成されている。   The switching power supply control semiconductor device 41 includes an external signal input terminal 42 connected to an external resistor. The DC input voltage VIN is resistance-divided by resistors 120 and 121, and the external signal input terminal 42 is connected. A signal is input to the variable signal generation circuit 43. In response to the first variable signal 45 input from the external signal input terminal 42 from the variable signal generation circuit 43 that changes according to the input voltage, the IV converter 19 is determined by the overcurrent protection reference voltage source 31. The maximum voltage of the output signal VEAO fluctuates, and the delay time of the delay circuit 27 fluctuates in response to the second variable signal 44 from the variable signal generation circuit 43.

以下、このように構成されたスイッチング電源制御用半導体装置41を用いたスイッチング電源装置の軽負荷時における動作を説明する。なお、このスイッチング電源装置は、部分共振動作を利用したリンギングチョークコンバータ(RCC)である。   Hereinafter, the operation at the time of light load of the switching power supply using the semiconductor device 41 for controlling switching power supply configured as described above will be described. This switching power supply device is a ringing choke converter (RCC) that uses a partial resonance operation.

図2は本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置を用いたスイッチング電源装置の動作を説明するためのタイミングチャートであり、図3はスイッチング電源制御用半導体装置における基準電圧源の動作を説明するためのタイミングチャート、図4はスイッチング電源制御用半導体装置における基準電圧源の内部回路の一構成例を示す回路図、図5(a)は通常時、(b)は軽負荷時、(c)は無負荷時のスイッチング動作を示す図である。   FIG. 2 is a timing chart for explaining the operation of the switching power supply device using the switching power supply control semiconductor device according to the first embodiment, and FIG. 3 explains the operation of the reference voltage source in the switching power supply control semiconductor device. FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration example of an internal circuit of a reference voltage source in a semiconductor device for switching power supply control, FIG. 5A is a normal time, FIG. 4B is a light load, and FIG. ) Is a diagram showing a switching operation when there is no load.

いま、図1に示すように、整流器101に商用電源からの交流電源が入力されると、整流器101とコンデンサ102とにより、整流および平滑化されて、直流の入力電圧VINに変換される。この入力電圧VINがトランス103の一次巻線103aに印加される。そして、入力電圧VINが一定値以上になると、スイッチング電源制御用半導体装置41内のレギュレータ6を介して、コンデンサ111に充電電流が流れ、スイッチング電源制御用半導体装置41の電源入力端子38の電圧が起動/停止用比較器7において、内部回路で設定された任意の基準電圧である起動電圧に達すると、スイッチング素子1によるスイッチング動作の制御が開始される。   As shown in FIG. 1, when AC power from a commercial power source is input to the rectifier 101, it is rectified and smoothed by the rectifier 101 and the capacitor 102 and converted to a DC input voltage VIN. This input voltage VIN is applied to the primary winding 103 a of the transformer 103. When the input voltage VIN becomes a certain value or more, a charging current flows to the capacitor 111 via the regulator 6 in the switching power supply control semiconductor device 41, and the voltage of the power supply input terminal 38 of the switching power supply control semiconductor device 41 is changed. When the starting / stopping comparator 7 reaches a starting voltage that is an arbitrary reference voltage set in the internal circuit, control of the switching operation by the switching element 1 is started.

起動/停止用比較器7の出力信号を基に起動パルス発生回路10により起動パルスが発生し、スイッチング素子1がターンオンする。また、二次巻線103b側の出力は、起動時には低いため、出力電圧検出回路106のツェナーダイオード108には電流が流れないためフォトトランジスタ110には電流が流れない。したがって、I−V変換器19の出力電圧VEAOは過電流保護基準電圧源31よりも高いレベルとなり、ドレイン電流検出用比較器33のマイナス側は、過電流保護基準電圧源31で決まる電圧に設定されている。起動パルス発生回路10により起動パルスが発生し、スイッチング素子1がターンオンすると、スイッチング素子1に電流が流れ、オン抵抗との積で決まるオン電圧がドレイン電流検出回路32で検出され、ドレイン電流検出用比較器33のプラス側に入力されるが、マイナス側で決まる電圧以上に上昇すると、RSフリップフロップ30のリセット端子信号にハイレベルが入力され、スイッチング素子1はターンオフする。   A start pulse is generated by the start pulse generation circuit 10 based on the output signal of the start / stop comparator 7, and the switching element 1 is turned on. Further, since the output on the secondary winding 103b side is low at the time of start-up, no current flows through the zener diode 108 of the output voltage detection circuit 106, so no current flows through the phototransistor 110. Therefore, the output voltage VEAO of the IV converter 19 is higher than the overcurrent protection reference voltage source 31, and the minus side of the drain current detection comparator 33 is set to a voltage determined by the overcurrent protection reference voltage source 31. Has been. When a start pulse is generated by the start pulse generation circuit 10 and the switching element 1 is turned on, a current flows through the switching element 1 and an on voltage determined by the product of the on resistance is detected by the drain current detection circuit 32 and is used for detecting the drain current. Although it is input to the plus side of the comparator 33 and rises above the voltage determined on the minus side, a high level is input to the reset terminal signal of the RS flip-flop 30, and the switching element 1 is turned off.

この後、トランス103のインダクタンスとコンデンサ118およびスイッチング素子1の入出力間容量で決定される共振動作により、トランス103の三次巻線(バイアス巻線)103cの電圧が正から負、つまり、スイッチング素子入力端子36の電圧が低下したときに、トランスリセット検出回路11により、トランスリセットパルス発生回路25からのトランスリセットパルスがOR回路29を介して、RSフリップフロップ30のセット端子にハイレベルが入力され、スイッチング素子1はターンオンする。   Thereafter, the resonance operation determined by the inductance of the transformer 103 and the capacitance between the input and output of the capacitor 118 and the switching element 1 causes the voltage of the tertiary winding (bias winding) 103c of the transformer 103 to change from positive to negative. When the voltage at the input terminal 36 decreases, the transformer reset pulse from the transformer reset pulse generation circuit 25 is input to the set terminal of the RS flip-flop 30 through the OR circuit 29 by the transformer reset detection circuit 11. The switching element 1 is turned on.

なお、トランス103の三次巻線(バイアス巻線)103cとトランスリセット検出端子39との間に接続された抵抗器116、およびスイッチング素子出力端子(グランド端子)37とトランスリセット検出端子39との間に接続されたコンデンサ117により、トランスリセット検出回路11の検出時間を調整し、スイッチング素子入力端子36の電圧が略零ボルトになったポイントでスイッチング素子1をターンオンするようにしている。   A resistor 116 connected between the tertiary winding (bias winding) 103c of the transformer 103 and the transformer reset detection terminal 39, and between the switching element output terminal (ground terminal) 37 and the transformer reset detection terminal 39. The detection time of the transformer reset detection circuit 11 is adjusted by the capacitor 117 connected to the switching element 1, and the switching element 1 is turned on at the point where the voltage at the switching element input terminal 36 becomes substantially zero volts.

以上のようなスイッチング動作が繰り返されて、出力電圧Voが上昇していくが、出力電圧検出回路106で設定された電圧以上になると、LED107が導通し、フォトトランジスタ110に電流が流れ、スイッチング電源制御用半導体装置41の制御信号入力端子40からの電流が流出する。この流出電流の大きさで、I−V変換器19の出力電圧VEAOが低下するため、ドレイン電流検出用比較器33のマイナス側が低下するため、スイッチング素子1のドレイン電流は減少する。このように、スイッチング素子1のオンデューティは適切な状態に変化していく。つまり、スイッチング動作は、トランスリセット検出回路11からの出力信号により、トランスリセットパルス発生回路25から出力されたトランスリセットパルスによってターンオンし、スイッチング素子1のオンデューティは制御信号入力端子40から流出する電流により決定される。   The switching operation as described above is repeated, and the output voltage Vo rises. However, when the output voltage becomes equal to or higher than the voltage set by the output voltage detection circuit 106, the LED 107 is turned on, a current flows through the phototransistor 110, and the switching power supply A current flows out from the control signal input terminal 40 of the control semiconductor device 41. Since the output voltage VEAO of the IV converter 19 decreases due to the magnitude of this outflow current, the negative side of the drain current detection comparator 33 decreases, so the drain current of the switching element 1 decreases. Thus, the on-duty of the switching element 1 changes to an appropriate state. That is, the switching operation is turned on by the transformer reset pulse output from the transformer reset pulse generation circuit 25 by the output signal from the transformer reset detection circuit 11, and the on-duty of the switching element 1 is the current flowing out from the control signal input terminal 40. Determined by.

すなわち、図5(a)に示す通常時に比べ、図5(b)のように負荷109への電流供給が小さい軽負荷時は、スイッチング素子1に電流IDSが流れる期間が短く、通常動作中の重負荷時には、スイッチング素子1に電流IDSが流れる期間が長くなる。   That is, compared with the normal time shown in FIG. 5A, when the current supply to the load 109 is small as shown in FIG. 5B, the period during which the current IDS flows through the switching element 1 is short, and the normal operation is in progress. When the load is heavy, the period during which the current IDS flows through the switching element 1 becomes longer.

このように、スイッチング電源制御用半導体装置41は、スイッチング電源の負荷109に供給される電力に応じて、スイッチング素子1のドレイン電流IDSを制御し、オンデューティを変化させるといった制御を行う。また、スイッチング素子1のターンオンするタイミングは、共振動作中にスイッチング素子1の入力電圧が最も低下したときに出力するように設定されているため、オン時のスイッチングロスがほとんどない。つまり、オン時のスイッチングロスを無視できるような部分共振動作を行う。このような動作を行うことで、通常動作時の高効率化および低ノイズ化を実現することができる。   As described above, the switching power supply control semiconductor device 41 controls the drain current IDS of the switching element 1 and changes the on-duty according to the power supplied to the load 109 of the switching power supply. In addition, the timing at which the switching element 1 is turned on is set so as to be output when the input voltage of the switching element 1 is reduced most during the resonance operation, so that there is almost no switching loss when the switching element 1 is turned on. That is, the partial resonance operation is performed so that the switching loss at the time of ON can be ignored. By performing such an operation, it is possible to achieve high efficiency and low noise during normal operation.

次に、軽負荷時検出用比較器20は、制御信号入力端子40から流出する電流をI−V変換器19により電圧変換した出力電圧VEAOと基準電圧源21の出力する基準電圧VRとを比較する。基準電圧源21の基準電圧VRは、当初(図2の通常時)、軽負荷時検出下限電圧VR1となっている。スイッチング電源装置の出力に接続された負荷109への電流供給が小さくなる待機時の場合(図2の負荷変動状態)等においては、負荷への供給電流が低下すると、出力電圧Voが上昇し、LED107によるフォトトランジスタ110の電流が増加する。この電流IFBにより制御信号入力端子40から流出する電流が増加するため、(数2)   Next, the light load detection comparator 20 compares the output voltage VEAO obtained by converting the current flowing out from the control signal input terminal 40 by the IV converter 19 with the reference voltage VR output from the reference voltage source 21. To do. The reference voltage VR of the reference voltage source 21 is initially the light-load detection lower limit voltage VR1 (normal time in FIG. 2). When the current supply to the load 109 connected to the output of the switching power supply device is small, such as during standby (load fluctuation state in FIG. 2), when the supply current to the load decreases, the output voltage Vo increases, The current of the phototransistor 110 due to the LED 107 increases. Since the current flowing out from the control signal input terminal 40 increases due to the current IFB, (Equation 2)

Figure 0004308183
に従って、I−V変換器19の出力電圧VEAOが下降する。
Figure 0004308183
Accordingly, the output voltage VEAO of the IV converter 19 decreases.

ここで、電圧V0は予め設定された基準電圧源18による基準電圧、Rは抵抗器17の抵抗値、Iは制御信号入力端子40から流出する電流を内部のミラー回路13〜16により変換された抵抗器17を流れる電流値である。   Here, the voltage V0 is a reference voltage by a preset reference voltage source 18, R is a resistance value of the resistor 17, and I is a current flowing from the control signal input terminal 40 converted by the internal mirror circuits 13-16. The current value flowing through the resistor 17.

したがって、(数2)から、制御信号入力端子40からの流出電流が増加するほどI−V変換器19の出力電圧VEAOは低下する。これに伴い、ドレイン電流検出用比較器33の基準電源(マイナス側)が低下し、スイッチング素子1のドレイン電流は徐々に低下して負荷109への電力供給は低下していく。そして、このI−V変換器19の出力電圧VEAOが軽負荷時検出下限電圧VR1よりも小さくなると、軽負荷時検出状態となり、図3に示すように、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01は、ローレベルからハイレベルに変化する。   Therefore, from (Equation 2), the output voltage VEAO of the IV converter 19 decreases as the outflow current from the control signal input terminal 40 increases. Along with this, the reference power supply (minus side) of the drain current detection comparator 33 decreases, the drain current of the switching element 1 gradually decreases, and the power supply to the load 109 decreases. When the output voltage VEAO of the IV converter 19 becomes lower than the light load detection lower limit voltage VR1, the light load detection state is entered, and the output of the light load detection comparator 20 is output as shown in FIG. The signal V01 changes from a low level to a high level.

これにより、インバータ23を介してAND回路24の出力はローレベルになり、トランスリセットパルス発生回路25のトランスリセットパルスが出力されないため、スイッチング素子1のスイッチング動作が停止する。このとき(図2の無負荷時)同時に、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01を受けて、基準電圧源21の出力する基準電圧VRは、軽負荷時検出下限電圧VR1から軽負荷時検出上限電圧VR2へ変更される。   As a result, the output of the AND circuit 24 becomes low level via the inverter 23, and the transformer reset pulse of the transformer reset pulse generation circuit 25 is not outputted, so that the switching operation of the switching element 1 is stopped. At this time (at the time of no load in FIG. 2), the reference voltage VR output from the reference voltage source 21 in response to the output signal V01 of the light load detection comparator 20 is changed from the light load detection lower limit voltage VR1 to the light load. The hour detection upper limit voltage VR2 is changed.

スイッチング素子1によるスイッチング動作が停止して、スイッチング素子1がオフ状態になると、スイッチング素子1には電流が流れない状態になる。これにより、負荷109への電力供給がなくなるため、負荷109への出力電圧Voは徐々に低下する。これにより、I−V変換器19の出力電圧VEAOが徐々に上昇するが、基準電圧源21の出力電圧VRは、軽負荷時検出下限電圧VR1よりも高い軽負荷時検出上限電圧VR2になっているため、図3に示すように、スイッチング素子1によるスイッチング動作が直ちに再開されることはない。   When the switching operation by the switching element 1 is stopped and the switching element 1 is turned off, no current flows through the switching element 1. As a result, power supply to the load 109 is lost, and the output voltage Vo to the load 109 gradually decreases. As a result, the output voltage VEAO of the IV converter 19 gradually increases, but the output voltage VR of the reference voltage source 21 becomes a light load detection upper limit voltage VR2 higher than the light load detection lower limit voltage VR1. Therefore, as shown in FIG. 3, the switching operation by the switching element 1 is not resumed immediately.

そして、図2に示すように、さらに負荷109への出力電圧Voが低下して、図3に示すように、I−V変換器19の出力電圧VEAOが軽負荷時検出上限電圧VR2より上昇したときには、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01はローレベルとなり、その信号を受け、インバータ23を通った間欠終了パルス発生回路26の信号が出力される。そしてこの出力信号により、スイッチング素子1のスイッチング動作が再開する。同時に、AND回路24により動作を停止させていたトランスリセット検出回路11が有効となりトランスリセットパルス発生回路25のトランスリセットパルスにより、スイッチング素子1は通常の部分共振型のオン/オフ動作が再開(図2の通常時と同一状態)される。   Then, as shown in FIG. 2, the output voltage Vo to the load 109 further decreases, and as shown in FIG. 3, the output voltage VEAO of the IV converter 19 rises above the light load detection upper limit voltage VR2. Sometimes, the output signal V01 of the light load detection comparator 20 becomes low level, and the signal of the intermittent end pulse generation circuit 26 that has passed through the inverter 23 is outputted. Then, the switching operation of the switching element 1 is resumed by this output signal. At the same time, the transformer reset detection circuit 11 whose operation has been stopped by the AND circuit 24 becomes valid, and the switching element 1 resumes the normal partial resonance type on / off operation by the transformer reset pulse of the transformer reset pulse generation circuit 25 (see FIG. 2 in the same state as normal time).

またこのとき同時に、図3に示すように、基準電圧源21の基準電圧VRは、軽負荷時(待機時)検出上限電圧VR2から軽負荷時(待機時)検出下限電圧VR1へ変更される。スイッチング素子1によるスイッチング動作が再開されると、スイッチング素子1のオンデューティは、軽負荷時検出時のオンデューティよりも広くなっているため、負荷109への電力供給は過剰となり、再び負荷への出力電圧Voが上昇し、I−V変換器19の出力電圧VEAOが低下する。そして再び軽負荷時が検出されると、スイッチング素子1のオン/オフの繰り返しによるスイッチング動作が停止する。   At the same time, as shown in FIG. 3, the reference voltage VR of the reference voltage source 21 is changed from the detection upper limit voltage VR2 at light load (standby) to the detection lower limit voltage VR1 at light load (standby). When the switching operation by the switching element 1 is resumed, the on-duty of the switching element 1 becomes larger than the on-duty at the time of light load detection, so that the power supply to the load 109 becomes excessive, and the load is supplied to the load again. The output voltage Vo increases, and the output voltage VEAO of the IV converter 19 decreases. When the light load is detected again, the switching operation by repeatedly turning on / off the switching element 1 is stopped.

このように、基準電圧源21から出力の基準電圧VRが、軽負荷時を検出することによって、軽負荷時検出下限値VR1から軽負荷時検出上限値VR2へと変化するため、待機状態を検出している間は、スイッチング素子1のオン/オフ動作を繰り返すスイッチング制御は、停止と再開とが繰り返されるといった間欠発振状態(間欠スイッチング動作)となる。   As described above, the reference voltage VR output from the reference voltage source 21 changes from the light load detection lower limit value VR1 to the light load detection upper limit value VR2 by detecting the light load, and thus the standby state is detected. During this time, the switching control that repeats the on / off operation of the switching element 1 is in an intermittent oscillation state (intermittent switching operation) in which the stop and restart are repeated.

負荷109への出力電圧Voは、この間欠発振の停止期間中に低下するが、この低下の度合いは負荷109への供給電流に依存する。つまり、負荷109で消費される電流が小さくなるほど負荷109の出力電圧Voの低下が緩やかになり、間欠発振の停止期間は負荷109で消費される電流が小さいほど長くなるため、負荷が軽くなればなるほど、スイッチング素子1のスイッチング動作が減少することになる。   The output voltage Vo to the load 109 decreases during the intermittent oscillation stop period, and the degree of the decrease depends on the supply current to the load 109. That is, as the current consumed by the load 109 decreases, the output voltage Vo of the load 109 decreases more slowly, and the intermittent oscillation stop period becomes longer as the current consumed by the load 109 decreases. As it is, the switching operation of the switching element 1 is reduced.

図4に示す基準電圧源21は、基準電圧源21の基準電圧VRを決定するための定電流源300、定電流源301、抵抗器303、P型MOSFETなどのスイッチング素子302およびインバータ304とで構成されている。   The reference voltage source 21 shown in FIG. 4 includes a constant current source 300 for determining the reference voltage VR of the reference voltage source 21, a constant current source 301, a resistor 303, a switching element 302 such as a P-type MOSFET, and an inverter 304. It is configured.

定電流源300は、定電流I1を供給し、抵抗器303に接続されている。また、定電流源301は定電流I2を供給し、スイッチング素子(P型MOSFET)302を介して抵抗器303に接続されている。スイッチング素子302のゲート電極などの入力端子には、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01がインバータ304を介して入力される。また、定電流源300および定電流源301と抵抗器303で作られる電圧が、基準電圧源21の基準電圧VRとして出力され、図1の軽負荷時検出用比較器20のプラス側端子へ入力されるようになっている。   The constant current source 300 supplies a constant current I1 and is connected to the resistor 303. The constant current source 301 supplies a constant current I2, and is connected to a resistor 303 via a switching element (P-type MOSFET) 302. The output signal V01 of the light load detection comparator 20 is input via an inverter 304 to an input terminal such as a gate electrode of the switching element 302. Further, the voltage generated by the constant current source 300, the constant current source 301 and the resistor 303 is output as the reference voltage VR of the reference voltage source 21, and is input to the plus side terminal of the light load detection comparator 20 of FIG. It has come to be.

このように構成された軽負荷時検出回路22の動作を以下に説明する。   The operation of the light load detection circuit 22 configured as described above will be described below.

図3に示すように、軽負荷時検出前状態においては、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01はローレベルとなっているため、スイッチング素子302はオフとなる。したがって、このときの基準電圧源21の基準電圧VR、すなわち軽負荷時検出下限電圧VR1は(数3)   As shown in FIG. 3, in the state before detection at light load, the output signal V01 of the light load detection comparator 20 is at a low level, so the switching element 302 is turned off. Accordingly, the reference voltage VR of the reference voltage source 21 at this time, that is, the light load detection lower limit voltage VR1 is (Equation 3)

Figure 0004308183
で表される。
Figure 0004308183
It is represented by

一方、軽負荷時検出状態になると、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01はハイレベルとなるため、スイッチング素子302がオンとなり、定電流源301から供給される電流I2も抵抗器303へ流れることになる。したがって、このときの基準電圧源21の基準電圧VR、すなわち軽負荷時検出上限電圧VR2は(数4)   On the other hand, in the light load detection state, the output signal V01 of the light load detection comparator 20 becomes high level, so that the switching element 302 is turned on, and the current I2 supplied from the constant current source 301 is also the resistor 303. Will flow to. Accordingly, the reference voltage VR of the reference voltage source 21 at this time, that is, the light load detection upper limit voltage VR2 is (Expression 4)

Figure 0004308183
で表される。
Figure 0004308183
It is represented by

以上により、図3に示すように、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01に応じて、基準電圧源21の基準電圧VRが軽負荷時検出下限電圧VR1となったり、軽負荷時検出上限電圧VR2となったりすることで、待機時の間欠発振状態を作り出すことができる。   As described above, as shown in FIG. 3, the reference voltage VR of the reference voltage source 21 becomes the light load detection lower limit voltage VR1 or the light load detection is detected according to the output signal V01 of the light load detection comparator 20. By setting the upper limit voltage VR2, the intermittent oscillation state during standby can be created.

なお、本実施の形態1では、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01に応じて、基準電圧源21の出力電圧設定用の定電流値を変化させるようになっているが、軽負荷時検出用比較器20の出力信号V01に応じて、基準電圧源21の出力電圧設定用の抵抗値を変化させるようにしても良い。   In the first embodiment, the constant current value for setting the output voltage of the reference voltage source 21 is changed in accordance with the output signal V01 of the light load detection comparator 20. The resistance value for setting the output voltage of the reference voltage source 21 may be changed according to the output signal V01 of the hour detection comparator 20.

図6は本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置における遅延回路の一構成例を示す回路図であり、図5(a),(b),(c)および図6を用いて、遅延回路27の動作を説明する。   FIG. 6 is a circuit diagram showing a configuration example of the delay circuit in the semiconductor device for controlling the switching power supply according to the first embodiment. The delay circuit shown in FIG. 5A, FIG. 5B, FIG. The operation of the circuit 27 will be described.

まず、遅延回路27を設けている意味合いを、最高周波数の制限について、以下に述べる。擬似共振はRCC(リンギングチョークコンバータ)であり、基本は自励であるので、負荷が軽くなればなるほど発振周波数は高くなる。   First, the meaning of providing the delay circuit 27 will be described below regarding the limitation of the maximum frequency. Since the pseudo resonance is an RCC (ringing choke converter) and is basically self-excited, the lighter the load, the higher the oscillation frequency.

スイッチング電源装置では、ノイズ規制が厳しく、発振周波数が150kHz以上になると高周波ノイズが発生する。この高周波ノイズとは、一般的に電磁波障害をもたらす周波数帯域(150kHz〜1GHz)で問題になるラジオノイズのことをいうが、このノイズは、電源ラインなどを伝わってくる伝導性のノイズと空間に向けて放射される放射性ノイズに大別される。   In the switching power supply device, noise regulation is severe, and high frequency noise is generated when the oscillation frequency is 150 kHz or higher. This high-frequency noise generally refers to radio noise that becomes a problem in the frequency band (150 kHz to 1 GHz) that causes electromagnetic wave interference. This noise is caused by conductive noise transmitted through a power line or the like and space. It is divided roughly into radioactive noise radiated toward.

そういったことから、軽負荷時に発振周波数が高くなり、高周波ノイズとなる周波数帯域に入らないように、最高周波数を制限している。   For this reason, the maximum frequency is limited so that the oscillation frequency becomes high at light load and does not enter a frequency band that causes high frequency noise.

次に、スイッチングロスの低減による軽負荷時の電源効率の改善について述べる。軽負荷時に発振周波数が高くなると、単位時間当たりのスイッチング回数が増加することになる。したがって、スイッチング動作に伴うスイッチングロスが増加することになり、このロスを低減するために、周波数が一定以上高くならないように制限している。   Next, improvement of power supply efficiency at light load by reducing switching loss will be described. When the oscillation frequency increases at light loads, the number of switchings per unit time increases. Therefore, the switching loss accompanying the switching operation increases, and in order to reduce this loss, the frequency is restricted so as not to be higher than a certain level.

前述した図1に示す遅延方法では、スイッチング素子(パワーMOSFET)1へのオフ信号出力時、つまり、負荷に応じたスイッチング素子1のオン抵抗によるドレイン電流検出を行った後から、その信号と片方の入力がトランスリセットパルスであるAND回路28の間に遅延回路27を挿入する。トランスリセットパルス発生回路25からのオン信号は、ドレイン電流検出回路32によるオフ信号とのAND、つまり、ドレイン電流検出状態に基づくオフ時にトランスリセットパルス(オン信号)が入力されれば出力されるため、AND回路28にドレイン電流検出によるオフ信号が入力されなければ、トランスリセットパルス信号が入力されてもスイッチング素子1はオンしない。   In the delay method shown in FIG. 1 described above, when the off signal is output to the switching element (power MOSFET) 1, that is, after the drain current is detected by the on resistance of the switching element 1 corresponding to the load, A delay circuit 27 is inserted between the AND circuit 28 whose input is a transformer reset pulse. The ON signal from the transformer reset pulse generation circuit 25 is output when the transformer reset pulse (ON signal) is input at the time of AND based on the OFF signal from the drain current detection circuit 32, that is, the drain current detection state. If the OFF signal based on the drain current detection is not input to the AND circuit 28, the switching element 1 is not turned ON even if the transformer reset pulse signal is input.

以上のことから、ドレイン電流検出によるオフ信号に対して遅延回路27によりある一定時間の遅延を与えれば、その遅延期間は、リンギングによるトランスリセットパルス(オン信号)がAND回路28に出力されたとしても、スイッチング素子1はオンしないため、その遅延時間(つまり、トランスリセットパルスによるオン状態のマスク時間)を決めれば、その時間より短い時間でトランスリセット検出信号が入力されたとしても、スイッチング素子1はオンしないことになる。   From the above, if a delay of a certain time is given to the OFF signal by the drain current detection by the delay circuit 27, the transformer reset pulse (ON signal) by ringing is output to the AND circuit 28 during the delay period. However, since the switching element 1 is not turned on, if the delay time (that is, the masking time of the ON state by the transformer reset pulse) is determined, even if the transformer reset detection signal is input within a shorter time, the switching element 1 Will not turn on.

実動作では、軽負荷時に発振周波数が高く、トランスリセット検出信号よりも、マスク時間の方が後から入力されれば、リンギングを1つスキップし、次のトランスリセット検出信号でオンすることになる。このようにして、前記のような効果が得られる。   In actual operation, if the oscillation frequency is high at light load and the mask time is input later than the transformer reset detection signal, one ringing is skipped and the next transformer reset detection signal turns on. . In this way, the effects as described above can be obtained.

次に、図1に示す遅延回路27を有するスイッチング電源制御用半導体装置41の動作について、負荷状態の通常時,軽負荷時,無負荷時を場合分けして、図5を参照しながら説明する。   Next, the operation of the switching power supply control semiconductor device 41 having the delay circuit 27 shown in FIG. 1 will be described with reference to FIG. .

図5に示すように、負荷状態が通常時(図5(a))から軽負荷時(図5(b))、さらに無負荷時(図5(c))へと軽くなるにつれて、発振周波数が高くなるはずであるが、スイッチング素子1のドレイン電圧VDSの波形に対応する波形タイミングを有するトランスリセットパルスに対して、遅延回路27による遅延時間だけマスクするブランキング時間以内では、スイッチング素子1がオンしないためドレイン電流IDSは流れず、そのスイッチング周波数はある一定以上の周波数より高くなることはない。   As shown in FIG. 5, as the load state becomes lighter from normal (FIG. 5 (a)) to light load (FIG. 5 (b)) and further to no load (FIG. 5 (c)), the oscillation frequency However, within the blanking time in which only the delay time by the delay circuit 27 masks the transformer reset pulse having the waveform timing corresponding to the waveform of the drain voltage VDS of the switching element 1, the switching element 1 Since it is not turned on, the drain current IDS does not flow, and its switching frequency does not become higher than a certain frequency.

すなわち、負荷状態が軽負荷となって、スイッチング素子1をオンさせるためのトランスリセットパルスの周期が短くなれば短くなるほど、図5(b),(c)に示すように、スイッチング素子1のドレイン電圧VDSに対応するトランスリセットパルスの波形において、スイッチング素子1へのオンタイミングに対して、ブランキング時間によりスキップする数が増えてくるため、その期間は、ドレイン電圧VDSが0Vになっていてもドレイン電流IDSは流れず、スイッチング動作における発振周波数はある一定以上に高くなることはない。   That is, as the load state becomes light and the period of the transformer reset pulse for turning on the switching element 1 becomes shorter, the drain of the switching element 1 becomes shorter as shown in FIGS. In the waveform of the transformer reset pulse corresponding to the voltage VDS, the number of skips increases depending on the blanking time with respect to the ON timing to the switching element 1, so even if the drain voltage VDS is 0 V during that period. The drain current IDS does not flow, and the oscillation frequency in the switching operation does not become higher than a certain level.

次に、図6を参照しながら遅延回路27の動作について説明する。図6に示すように遅延回路27は、スイッチング素子1へのオフ信号を受け、ドレイン電流検出用比較器33の出力信号としてハイレベルが入力されると、N型MOSFET404がオンするため、初期状態でVDDのレベルまで充電されていたコンデンサ405の容量Cから定電流Iで電荷を放電する。つまり、容量Cから一定電流Iで放電していくことになるが、その容量Cの電位がインバータ406の閾値を下回りローレベルになると、出力をマスクするブランキング時間を解除する出力ブランキング解除信号がハイレベルとなる。   Next, the operation of the delay circuit 27 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 6, the delay circuit 27 receives the off signal to the switching element 1, and when a high level is input as the output signal of the drain current detection comparator 33, the N-type MOSFET 404 is turned on. Then, the electric charge is discharged with the constant current I from the capacitance C of the capacitor 405 charged to the VDD level. That is, the capacitor C is discharged with a constant current I. When the potential of the capacitor C falls below the threshold value of the inverter 406 and becomes a low level, the output blanking cancel signal for canceling the blanking time for masking the output. Becomes high level.

このマスク時間tは、(数5)   This mask time t is (Equation 5).

Figure 0004308183
で決まる。
ここで、Vはインバータ406がハイレベルからローレベルに切り替わる閾値、Cはコンデンサ405の容量値である。
Figure 0004308183
Determined by.
Here, V is a threshold value at which the inverter 406 switches from a high level to a low level, and C is a capacitance value of the capacitor 405.

なお、N型MOSFET401とN型MOSFET402のミラー比をM、定電流源400の電流をI1、N型MOSFET401に流れる電流をI2、N型MOSFET420に流れる電流をI3、コンデンサ405の容量をCとすると、電流I,I2は、それぞれ(数6)   If the mirror ratio of the N-type MOSFET 401 and the N-type MOSFET 402 is M, the current of the constant current source 400 is I1, the current flowing through the N-type MOSFET 401 is I2, the current flowing through the N-type MOSFET 420 is I3, and the capacitance of the capacitor 405 is C. , Currents I and I2 are respectively (Equation 6)

Figure 0004308183
で表される。
Figure 0004308183
It is represented by

したがって、(数5)で表されるブランキング時間tは、(数7)   Therefore, the blanking time t expressed by (Equation 5) is (Equation 7).

Figure 0004308183
で表される。
(数5)からわかるように、コンデンサ405の容量Cを大きく、あるいは電流Iを小さくするとブランキング時間tが長くなる。つまり、(数7)において、N型MOSFET420に流れる電流I3を大きくすることで、ブランキング時間tを長くすることができる。
Figure 0004308183
It is represented by
As can be seen from (Equation 5), when the capacitance C of the capacitor 405 is increased or the current I is decreased, the blanking time t becomes longer. That is, in (Equation 7), the blanking time t can be lengthened by increasing the current I3 flowing through the N-type MOSFET 420.

高入力電圧時には、低入力電圧時と比較して、擬似共振型制御では発振周波数が高くなるため、前記ブランキング時間tを長くすることにより、周波数を低下させ最大出力電力を抑制する必要があるが、入力電圧に応じて変化する入力信号を外部信号入力端子42から可変信号生成回路43に入力し、可変信号生成回路43から出力される第2の可変信号44によって、N型MOSFET420に流れる電流I3を入力電圧が高くなればなるほど大きくし、ブランキング時間tが長くなるように構成している。   Since the oscillation frequency is higher in quasi-resonant control at high input voltage than at low input voltage, it is necessary to reduce the frequency and suppress the maximum output power by increasing the blanking time t. Is inputted to the variable signal generation circuit 43 from the external signal input terminal 42 and the current flowing through the N-type MOSFET 420 by the second variable signal 44 output from the variable signal generation circuit 43. I3 is configured to increase as the input voltage increases, and to increase the blanking time t.

次に、図7は本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置における可変信号生成回路および過電流保護基準電圧源の一構成例を示す回路図である。図6および図7を参照しながら可変信号生成回路43の動作について説明する。   Next, FIG. 7 is a circuit diagram showing a configuration example of the variable signal generation circuit and the overcurrent protection reference voltage source in the switching power supply control semiconductor device according to the first embodiment. The operation of the variable signal generation circuit 43 will be described with reference to FIGS.

図7に示す可変信号生成回路43では、外部信号入力端子42から入力される信号、すなわち外部信号入力端子42から流入する電流ICLを調整することによって、図6に示すN型MOSFET420に流れる電流値I3および図1に示すI−V変換器19の出力信号VEAOの上限をクランプする過電流保護基準電圧源31の電位を可変し、スイッチング素子1の最大スイッチング周波数と過電流保護レベルを調整する。   In the variable signal generation circuit 43 shown in FIG. 7, the value of the current flowing through the N-type MOSFET 420 shown in FIG. 6 is adjusted by adjusting the signal input from the external signal input terminal 42, that is, the current ICL flowing from the external signal input terminal 42. The potential of the overcurrent protection reference voltage source 31 that clamps the upper limit of the output signal VEAO of the I-V converter 19 shown in I3 and FIG. 1 is varied to adjust the maximum switching frequency and the overcurrent protection level of the switching element 1.

電流ICLが大きいほどN型MOSFET260を流れる電流が増加し、N型MOSFET260とミラー比m1で接続されるN型MOSFET261の電流も増加し、定電流源201の定電流I201からN型MOSFET262へ流れる電流が減少し、N型MOSFET262とRCフィルタを介してミラー比m2で決まるN型MOSFET263の電流が減少する。そして、定電流源202の定電流I202からN型MOSFET264に流れる電流は増加し、N型MOSFET264とミラー比m4で接続される図6に示すN型MOSFET420に流れる電流値I3が増加するため、ブランキング時間tは長くなり、スイッチング周波数は低下する。   As the current ICL increases, the current flowing through the N-type MOSFET 260 increases, the current of the N-type MOSFET 261 connected to the N-type MOSFET 260 with the mirror ratio m1 also increases, and the current flowing from the constant current I201 of the constant current source 201 to the N-type MOSFET 262. Decreases, and the current of the N-type MOSFET 263 determined by the mirror ratio m2 decreases through the N-type MOSFET 262 and the RC filter. The current flowing from the constant current I202 of the constant current source 202 to the N-type MOSFET 264 increases, and the current value I3 flowing to the N-type MOSFET 420 shown in FIG. 6 connected to the N-type MOSFET 264 with the mirror ratio m4 increases. The ranking time t increases and the switching frequency decreases.

また、N型MOSFET264とミラー比m3で接続されるN型MOSFET265の電流も増加し、定電流源203の定電流I203から抵抗器240に流れる電流が減少し、抵抗器240での電位V240が低下することで、I−V変換器19の出力信号VEAOの上限をクランプする過電流保護基準電圧源31の電位が下降し、スイッチング素子1の過電流保護レベルが小さくなる。   Further, the current of the N-type MOSFET 265 connected to the N-type MOSFET 264 with the mirror ratio m3 also increases, the current flowing from the constant current I203 of the constant current source 203 to the resistor 240 decreases, and the potential V240 at the resistor 240 decreases. As a result, the potential of the overcurrent protection reference voltage source 31 that clamps the upper limit of the output signal VEAO of the IV converter 19 decreases, and the overcurrent protection level of the switching element 1 decreases.

また、定電圧源259の電位Vbgをゲート端子に入力したP型MOSFET250を外部信号入力端子42とN型MOSFET260の間に挿入することにより、外部信号入力端子42の動作電位を一定電位に設定する。このように設定することで外部信号入力端子42に外部接続される抵抗器120,121の値によって、電流ICLを容易に設定でき、外部接続の抵抗器120,121によって容易にスイッチング周波数と過電流保護レベルILIMITを安定に調整可能となる。   Also, the operating potential of the external signal input terminal 42 is set to a constant potential by inserting the P-type MOSFET 250 having the potential Vbg of the constant voltage source 259 input to the gate terminal between the external signal input terminal 42 and the N-type MOSFET 260. . With this setting, the current ICL can be easily set according to the values of the resistors 120 and 121 externally connected to the external signal input terminal 42, and the switching frequency and overcurrent can be easily set by the externally connected resistors 120 and 121. The protection level ILIMIT can be adjusted stably.

また、電流ICLが大きくなりすぎた場合でも、定電流I202でN型MOSFET420に流れる電流I3の上限が固定されることでN型MOSFET401に流れる電流I2の下限が固定され、定電流I202と定電流I203で電位V240の下限が固定される。
電流I3の上限値=定電流I202×m4
ここで、m4はN型MOSFET264とN型MOSFET420のミラー比、ただし、定電流I202×m4<定電流I1−電流I2(I1は定電流源400の定電流)であり、
電位V240の下限値=R240×(定電流I203−定電流I202×m3)
R240は抵抗器240の抵抗値、m3はN型MOSFET264とN型MOSFET265のミラー比である。
Even when the current ICL becomes too large, the lower limit of the current I2 flowing through the N-type MOSFET 401 is fixed by fixing the upper limit of the current I3 flowing through the N-type MOSFET 420 with the constant current I202, and the constant current I202 and the constant current At I203, the lower limit of the potential V240 is fixed.
Upper limit value of current I3 = constant current I202 × m4
Here, m4 is a mirror ratio of the N-type MOSFET 264 and the N-type MOSFET 420, where constant current I202 × m4 <constant current I1−current I2 (I1 is a constant current of the constant current source 400).
Lower limit value of potential V240 = R240 × (constant current I203−constant current I202 × m3)
R240 is a resistance value of the resistor 240, and m3 is a mirror ratio of the N-type MOSFET 264 and the N-type MOSFET 265.

また、電流ICLが小さくなりすぎて「0」になった場合でも、N型MOSFET420に流れる電流I3が流れなくなっても定電流源400からの定電流I1によって電流I2の上限が固定され、定電流I203によって電位V240の上限が固定される。
電位V240上限値=R240×I203
ただし、I201×m2>I202であり、m2はN型MOSFET262とN型MOSFET263のミラー比である。
Even when the current ICL becomes too small to be “0”, the upper limit of the current I2 is fixed by the constant current I1 from the constant current source 400 even if the current I3 flowing through the N-type MOSFET 420 stops flowing. The upper limit of the potential V240 is fixed by I203.
Potential V240 upper limit = R240 × I203
However, I201 × m2> I202, and m2 is a mirror ratio between the N-type MOSFET 262 and the N-type MOSFET 263.

このため、外部抵抗の調整等によって、抵抗値を極度に気にすることなくスイッチング周波数と過電流保護レベルを調整することができる。このときの電流ICLに対するブランキング時間tおよび過電流保護レベルILIMITの関係を図8(a),(b)に示す。   For this reason, the switching frequency and the overcurrent protection level can be adjusted by adjusting the external resistance or the like without extremely worrying about the resistance value. The relationship between the blanking time t and the overcurrent protection level ILIMIT for the current ICL at this time is shown in FIGS.

また、入力電圧VINと比例した電圧VCLを生成し、外部信号入力端子42に入力するために、抵抗器120,121が入力電圧VINを抵抗分割するよう接続されている。電圧VCLは(数8)   Further, in order to generate a voltage VCL proportional to the input voltage VIN and input it to the external signal input terminal 42, the resistors 120 and 121 are connected so as to divide the input voltage VIN. The voltage VCL is (Equation 8)

Figure 0004308183
であり、入力電圧VINが高くなるに従って電圧VCLも高くなる。定電圧源259の電位Vbgと外部信号入力端子42の電圧VCLとの電位差がP型MOSFET250の電圧VGSであり(数9)
Figure 0004308183
The voltage VCL increases as the input voltage VIN increases. The potential difference between the potential Vbg of the constant voltage source 259 and the voltage VCL of the external signal input terminal 42 is the voltage VGS of the P-type MOSFET 250 (Equation 9)

Figure 0004308183
で表される。
Figure 0004308183
It is represented by

したがって、入力電圧VINが高くなるに従って電圧VCLが高くなり、P型MOSFET250の電圧VGSが大きくなることにより、電流ICLは増加する。その結果、ブランキング時間tは長くなり、過電流保護レベルILIMITは小さくなるように補正がかかる。   Therefore, as the input voltage VIN increases, the voltage VCL increases and the voltage VGS of the P-type MOSFET 250 increases, so that the current ICL increases. As a result, the blanking time t becomes longer and the overcurrent protection level ILIMIT is corrected so as to become smaller.

一般的に、出力電力POは、効率ηを用いて、(数10)   In general, the output power PO is expressed by the following equation (10) using the efficiency η.

Figure 0004308183
のように表される。
Figure 0004308183
It is expressed as

そのため、内部的にILIMITが一定の場合には高入力電圧時には低入力電圧時に比べて二次巻線側の最大出力電力が大きくなるために、電源としての過負荷保護がかかるポイントは高入力電圧時の方が高くなるという課題に対しても、抵抗器120,121を調整することで高入力電圧時における過電流保護レベルILIMITのポイントを低入力電圧時よりも低く設定することで、二次巻線側の最大出力電力を低入力電圧時と同程度に補正をかけることが可能となる。   Therefore, when ILIMIT is internally constant, the maximum output power on the secondary winding side becomes larger at high input voltage than at low input voltage. Even for the problem that the time becomes higher, by adjusting the resistors 120 and 121, the point of the overcurrent protection level ILIMIT at the time of the high input voltage is set lower than that at the time of the low input voltage. The maximum output power on the winding side can be corrected to the same extent as when the input voltage is low.

また、図9に示すように内部的に同一の過電流保護レベルに設定された場合に、高入力電圧時に過電流保護レベルILIMITが高くなるという従来の課題を改善するために、入力電圧に対して入力が高いほどILIMITを低くするという補正をかけることが可能となる。   In order to improve the conventional problem that the overcurrent protection level ILIMIT becomes high at a high input voltage when the same overcurrent protection level is internally set as shown in FIG. As the input is higher, it is possible to apply a correction that lowers ILIMIT.

以上により、軽負荷時の高周波数動作することを抑制してスイッチングロスを低減し、軽負荷時の電源効率を改善することができ、軽負荷時の消費電力を削減できるとともに、擬似共振動作であるため、通常動作時にも軽負荷時から重負荷時までの全負荷領域で高効率化および低ノイズ化を容易に実現することができ、さらに入力電圧に依存せず最大出力電力を一定レベルに保つことができる。   As described above, high frequency operation at light load can be suppressed, switching loss can be reduced, power efficiency at light load can be improved, power consumption at light load can be reduced, and quasi-resonant operation can be achieved. Therefore, even during normal operation, high efficiency and low noise can be easily realized in the entire load range from light load to heavy load, and the maximum output power can be kept constant regardless of the input voltage. Can keep.

次に、本実施の形態2では、図1に示すように、軽負荷時検出回路22を用いることにより、軽負荷時には、スイッチング素子によるスイッチング動作が間欠スイッチング動作となるようにした構成において、外部信号入力端子42および可変信号生成回路43を用いた場合を説明したが、図10に示すように、軽負荷時検出回路22を用いない構成とし、スイッチング素子による間欠スイッチング動作が行われない場合にも、実施でき同様の効果が得られる。   Next, in the second embodiment, as shown in FIG. 1, in the configuration in which the switching operation by the switching element is an intermittent switching operation at the time of light load by using the light load detection circuit 22, Although the case where the signal input terminal 42 and the variable signal generation circuit 43 are used has been described, as shown in FIG. 10, the light load detection circuit 22 is not used, and the intermittent switching operation by the switching element is not performed. The same effect can be obtained.

図11は本発明の実施の形態2におけるスイッチング電源制御用半導体装置およびこれを用いたスイッチング電源の一構成例を示す回路図であり、図12は本実施の形態2のスイッチング電源制御用半導体装置における可変信号生成回路および過電流保護基準電圧源の一構成例を示す回路図である。   FIG. 11 is a circuit diagram showing a configuration example of a switching power supply control semiconductor device and a switching power supply using the same according to the second embodiment of the present invention, and FIG. 12 shows a switching power supply control semiconductor device of the second embodiment. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of a variable signal generation circuit and an overcurrent protection reference voltage source in FIG.

本実施の形態2のスイッチング電源制御用半導体装置41では、図11に示すように、可変信号生成回路43’からの出力の第3の可変信号46を設け、NAND回路34に入力する構成としている。この構成とすることにより、外部信号入力端子42から入力された信号に対し、可変信号生成回路43’の出力信号によりスイッチング素子1のスイッチング開始/停止を制御することができる。   In the switching power supply control semiconductor device 41 according to the second embodiment, as shown in FIG. 11, the third variable signal 46 output from the variable signal generation circuit 43 ′ is provided and input to the NAND circuit 34. . With this configuration, the switching start / stop of the switching element 1 can be controlled by the output signal of the variable signal generation circuit 43 ′ with respect to the signal input from the external signal input terminal 42.

つまり図11に示す構成とすることにより、入力電圧VINに応じて外部信号入力端子42に入力される信号が変化し、スイッチング電源装置の動作する入力電圧範囲を規定することができる。   That is, with the configuration shown in FIG. 11, the signal input to the external signal input terminal 42 changes according to the input voltage VIN, and the input voltage range in which the switching power supply device operates can be defined.

また、図12に示す可変信号生成回路43’では、外部信号入力端子42から入力される信号、すなわち外部信号入力端子42から流入する電流ICLを調整することによって、図11に示すNAND回路34に入力する第3の可変信号46を可変して、スイッチング素子1の発振,停止を制御できる。流入する電流ICLが第1の閾値電流ICL1以上になると、インバータ284から出力する第3の可変信号46はローレベルからハイレベルになり、NAND回路34の出力はローレベルになるため、ゲートドライバ35を介してスイッチング素子1のゲート電極がハイレベルになり、スイッチング動作を開始する。このときの第1の閾値電流ICL1は以下のように決定されている。   12 adjusts the signal input from the external signal input terminal 42, that is, the current ICL flowing from the external signal input terminal 42, to the NAND circuit 34 shown in FIG. The oscillation and stop of the switching element 1 can be controlled by changing the input third variable signal 46. When the inflowing current ICL becomes equal to or higher than the first threshold current ICL1, the third variable signal 46 output from the inverter 284 changes from low level to high level, and the output of the NAND circuit 34 changes from low level to the gate driver 35. As a result, the gate electrode of the switching element 1 becomes a high level, and the switching operation is started. The first threshold current ICL1 at this time is determined as follows.

まず、電流ICLが増加していきP型MOSFET250,N型MOSFET260に流れる電流が増加し、N型MOSFET260とミラー比m5で接続されたN型MOSFET266に流れる電流が増加し、P型MOSFET251に流れる電流が増加し、P型MOSFET251とRCフィルタを介してミラー比m6で決まるP型MOSFET252の電流I252が増加する。その結果、電流I252が定電流源204で決定される定電流I204以上となり、P型MOSFET252と定電流源204の間の電位V204がインバータ281の閾値以上となったときに、インバータ281の出力はローレベルになり、P型MOSFET254のゲート電極に入力され、P型MOSFET254がオンすることで電位V204はさらにハイレベルで固定される。このときの電流ICLが第1の閾値電流ICL1となり(数11)   First, the current ICL increases, the current flowing through the P-type MOSFET 250 and the N-type MOSFET 260 increases, the current flowing through the N-type MOSFET 266 connected to the N-type MOSFET 260 with the mirror ratio m5 increases, and the current flowing through the P-type MOSFET 251. Increases, and the current I252 of the P-type MOSFET 252 determined by the mirror ratio m6 increases through the P-type MOSFET 251 and the RC filter. As a result, when the current I252 becomes equal to or higher than the constant current I204 determined by the constant current source 204, and the potential V204 between the P-type MOSFET 252 and the constant current source 204 becomes equal to or higher than the threshold value of the inverter 281, the output of the inverter 281 is It goes to the low level and is input to the gate electrode of the P-type MOSFET 254. When the P-type MOSFET 254 is turned on, the potential V204 is further fixed at the high level. The current ICL at this time becomes the first threshold current ICL1 (Equation 11)

Figure 0004308183
で表される。
Figure 0004308183
It is represented by

また、P型MOSFET251とミラー比m8で決まるP型MOSFET255の電流I255も増加するが、電流I255が定電流源205で決定される定電流I205以下となるように、P型MOSFET251とP型MOSFET255とのミラー比m8は、(数12)   The current I255 of the P-type MOSFET 255 determined by the P-type MOSFET 251 and the mirror ratio m8 also increases, but the P-type MOSFET 251 and the P-type MOSFET 255 are set so that the current I255 is equal to or less than the constant current I205 determined by the constant current source 205. The mirror ratio m8 of (Equation 12)

Figure 0004308183
で決定されている。
Figure 0004308183
It has been determined by.

そのため、P型MOSFET255と定電流源205の間の電位V205はローレベル状態を保持し、インバータ280の出力はハイレベルで保持され、NAND回路283に入力される。このとき、NAND回路283の出力はローレベルになり、インバータ284の出力はハイレベルになり、図11に示すNAND回路34に入力される。   Therefore, the potential V205 between the P-type MOSFET 255 and the constant current source 205 is kept at a low level, the output of the inverter 280 is held at a high level, and is input to the NAND circuit 283. At this time, the output of the NAND circuit 283 becomes low level, the output of the inverter 284 becomes high level, and is input to the NAND circuit 34 shown in FIG.

以上のように、第1の閾値電流ICL1以上の電流が外部信号入力端子42に流入するようになったとき、スイッチング動作を開始する。   As described above, when a current equal to or greater than the first threshold current ICL1 flows into the external signal input terminal 42, the switching operation is started.

また、さらに電流ICLが増加し、P型MOSFET251とミラー比m8で決まるP型MOSFET255の電流I255が増加し、電流I255が定電流源205で決定される定電流I205以上となるとき、電位V205はローレベルからハイレベルに反転する。このときインバータ280の出力はローレベルになり、P型MOSFET257のゲート電極に入力され、P型MOSFET257がオンすることで電位V205はさらにハイレベルで固定される。また、インバータ280の出力のローレベル信号はNAND回路283に入力され、NAND回路283の出力はハイレベルになり、インバータ284の出力はハイレベルからローレベルに反転し、図11に示すNAND回路34に入力されることで、スイッチング動作を停止させる。このときの流入する電流ICLの第2の閾値電流ICL2を(数13)   Further, when the current ICL further increases, the current I255 of the P-type MOSFET 255 determined by the P-type MOSFET 251 and the mirror ratio m8 increases, and the current I255 becomes equal to or higher than the constant current I205 determined by the constant current source 205, the potential V205 is Invert from low level to high level. At this time, the output of the inverter 280 is at a low level, and is input to the gate electrode of the P-type MOSFET 257. When the P-type MOSFET 257 is turned on, the potential V205 is further fixed at a high level. Further, the low level signal output from the inverter 280 is input to the NAND circuit 283, the output from the NAND circuit 283 becomes high level, the output from the inverter 284 is inverted from high level to low level, and the NAND circuit 34 shown in FIG. To stop the switching operation. At this time, the second threshold current ICL2 of the inflowing current ICL is expressed by (Equation 13).

Figure 0004308183
としている。
Figure 0004308183
It is said.

このときの流入する電流ICLに対する出力する第3の可変信号46の関係を図13に示す。第1の閾値電流ICL1以上第2の閾値電流ICL2以下でスイッチング制御し、それ以外の電流ICLの範囲ではスイッチングを停止している。   FIG. 13 shows the relationship of the third variable signal 46 to be output with respect to the inflowing current ICL at this time. Switching control is performed between the first threshold current ICL1 and the second threshold current ICL2, and switching is stopped in the other current ICL ranges.

そのため、抵抗器120,121を調整することで入力電圧に対する電流ICLの範囲を設定し、電源動作の入力電圧範囲を規定することができ、異常低入力電圧時の誤動作を防止し、異常高入力電圧時にスイッチング素子の破壊を防止することができる。   Therefore, by adjusting the resistors 120 and 121, the range of the current ICL with respect to the input voltage can be set, the input voltage range of the power supply operation can be defined, the malfunction at the abnormally low input voltage is prevented, and the abnormally high input It is possible to prevent the switching element from being broken during voltage.

本発明に係るスイッチング電源制御用半導体装置およびスイッチング電源装置は、外部信号入力端子の入力信号を調整することで、スイッチング素子の過電流保護検出レベルおよびトランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号をマスクする遅延時間を入力電圧に応じて補正ができ、入力電圧に依存せず最大出力電力を同等レベルにすること、使用部品の定格を抑えることが可能となり、電源のコストパフォーマンスを向上させるだけでなく、同一半導体装置における使用の用途を広げることができ、商用電源からの交流電源を機器に必要とされる直流電源へ変換するスイッチング電源等として有用である。   The switching power supply control semiconductor device and the switching power supply according to the present invention mask the overcurrent protection detection level of the switching element and the transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit by adjusting the input signal of the external signal input terminal. The delay time can be corrected according to the input voltage, the maximum output power can be made to the same level without depending on the input voltage, the rating of the parts used can be suppressed, not only improving the cost performance of the power supply, It can be used in the same semiconductor device, and is useful as a switching power source for converting an AC power source from a commercial power source into a DC power source required for equipment.

本発明の実施の形態1におけるスイッチング電源制御用半導体装置およびスイッチング電源装置の一構成例を示す回路図1 is a circuit diagram showing a configuration example of a switching power supply control semiconductor device and a switching power supply device in Embodiment 1 of the present invention; 本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置を用いたスイッチング電源装置の動作を説明するためのタイミングチャートTiming chart for explaining the operation of the switching power supply using the semiconductor device for controlling switching power supply according to the first embodiment 本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置における基準電圧源の動作を説明するためのタイミングチャートTiming chart for explaining the operation of the reference voltage source in the semiconductor device for controlling switching power supply according to the first embodiment 本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置における基準電圧源の内部回路の一構成例を示す回路図The circuit diagram which shows the example of 1 structure of the internal circuit of the reference voltage source in the semiconductor device for switching power supply control of this Embodiment 1 本実施の形態1の(a)は通常時、(b)は軽負荷時、(c)は無負荷時のスイッチング動作を示す図(A) of the first embodiment is a normal operation, (b) is a light load, and (c) is a diagram showing a switching operation at no load. 本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置における遅延回路の一構成例を示す回路図The circuit diagram which shows one structural example of the delay circuit in the semiconductor device for switching power supply control of this Embodiment 1 本実施の形態1のスイッチング電源制御用半導体装置における可変信号生成回路および過電流保護基準電圧源の一構成例を示す回路図The circuit diagram which shows the structural example of the variable signal generation circuit and overcurrent protection reference voltage source in the semiconductor device for switching power supply control of this Embodiment 1 本実施の形態1の電流ICLに対する(a)はブランキング時間t、(b)は過電流保護レベルILIMITの変化を示す図(A) is blanking time t with respect to electric current ICL of this Embodiment 1, (b) is a figure which shows the change of overcurrent protection level ILIMIT. 本実施の形態1におけるスイッチング電源制御用半導体装置の動作を説明するための特性波形を示す図The figure which shows the characteristic waveform for demonstrating operation | movement of the semiconductor device for switching power supply control in this Embodiment 1. 本実施の形態1におけるスイッチング電源制御用半導体装置の他の構成を示す回路図The circuit diagram which shows the other structure of the semiconductor device for switching power supply control in this Embodiment 1 本発明の実施の形態2におけるスイッチング電源制御用半導体装置およびスイッチング電源装置の一構成例を示す回路図The circuit diagram which shows the example of 1 structure of the semiconductor device for switching power supply control in Embodiment 2 of this invention, and a switching power supply device 本実施の形態2のスイッチング電源制御用半導体装置における可変信号生成回路および過電流保護基準電圧源の一構成例を示す回路図The circuit diagram which shows the example of 1 structure of the variable signal generation circuit and overcurrent protection reference voltage source in the semiconductor device for switching power supply control of this Embodiment 2 本実施の形態2のスイッチング電源制御用半導体装置におけるICLに対する第3の可変信号の出力状態の変化を示す図The figure which shows the change of the output state of the 3rd variable signal with respect to ICL in the semiconductor device for switching power supply control of this Embodiment 2. 従来のスイッチング電源装置の一構成例を示す回路図Circuit diagram showing a configuration example of a conventional switching power supply device

符号の説明Explanation of symbols

1 スイッチング素子(パワーMOSFET)
2,4 定電流源
3,5 切換スイッチ
6 レギュレータ
7 起動/停止用比較器
8 ゲートドライバ用基準電源(内部回路基準電圧)
9 比較器
10 起動パルス発生回路
11 トランスリセット検出回路
12 クランプ回路
13,14 P型MOSFET
15,16 N型MOSFET
17,116,120,121 抵抗器
18,21 基準電圧源
19 I−V変換器
20 軽負荷時検出用比較器
22 軽負荷時検出回路
23 インバータ
24,28 AND回路
25 トランスリセットパルス発生回路
26 間欠終了パルス発生回路
27 遅延回路
29 OR回路
30 RSフリップフロップ
31 過電流保護基準電圧源
32 ドレイン電流検出回路
33 ドレイン電流検出用比較器
34 NAND回路
35 ゲートドライバ
36 スイッチング素子入力端子
37 スイッチング素子出力端子(グランド端子)
38 電源入力端子
39 トランスリセット検出端子
40 制御信号入力端子
41 スイッチング電源制御用半導体装置
42 外部信号入力端子
43 可変信号生成回路
44 第2の可変信号
45 第1の可変信号
46 第3の可変信号
101,104,112 整流器
102,105,111,117,118 コンデンサ
103 トランス
103a 一次巻線
103b 二次巻線
103c 三次巻線(バイアス巻線)
106 出力電圧検出回路
107 LED
108 ツェナーダイオード
109 負荷
110 フォトトランジスタ
1 Switching element (Power MOSFET)
2, 4 Constant current source 3, 5 Changeover switch 6 Regulator 7 Start / stop comparator 8 Gate driver reference power supply (internal circuit reference voltage)
9 Comparator 10 Start Pulse Generation Circuit 11 Transformer Reset Detection Circuit 12 Clamp Circuit 13, 14 P-type MOSFET
15,16 N-type MOSFET
17, 116, 120, 121 Resistors 18, 21 Reference voltage source 19 IV converter 20 Light load detection comparator 22 Light load detection circuit 23 Inverter 24, 28 AND circuit 25 Transformer reset pulse generation circuit 26 Intermittent End pulse generation circuit 27 Delay circuit 29 OR circuit 30 RS flip-flop 31 Overcurrent protection reference voltage source 32 Drain current detection circuit 33 Drain current detection comparator 34 NAND circuit 35 Gate driver 36 Switching element input terminal 37 Switching element output terminal ( Ground terminal)
38 Power input terminal 39 Transformer reset detection terminal 40 Control signal input terminal 41 Semiconductor device for switching power supply control 42 External signal input terminal 43 Variable signal generation circuit 44 Second variable signal 45 First variable signal 46 Third variable signal 101 , 104, 112 Rectifiers 102, 105, 111, 117, 118 Capacitor 103 Transformer 103a Primary winding 103b Secondary winding 103c Tertiary winding (bias winding)
106 Output voltage detection circuit 107 LED
108 Zener diode 109 Load 110 Phototransistor

Claims (6)

直流の入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加し、前記スイッチング素子のスイッチング動作により、前記トランスの二次巻線に発生した交流電流を整流平滑して得られた直流電圧を制御して負荷に電力供給するため、前記スイッチング素子のスイッチング動作を制御する制御回路を有するスイッチング電源制御用半導体装置であって、
前記制御回路に、前記スイッチング素子を流れる電流を検出するドレイン電流検出回路と、前記トランスの三次巻線に発生した交流電圧から、前記スイッチング素子のスイッチング動作により発生する前記トランスのリセット状態を検出して、前記リセット状態を示すトランスリセット検出信号を出力するトランスリセット検出回路と、前記ドレイン電流検出回路の出力信号に対して所定の遅延時間を与える遅延回路と、前記トランスの二次巻線に発生した交流電流に基づく直流電圧の変化を示す制御電流の電流値を電圧値に変換するI−V変換器と、前記I−V変換器の出力信号と前記ドレイン電流検出回路の出力信号を比較するドレイン電流検出用比較器と、前記ドレイン電流検出用比較器の基準電圧となる前記I−V変換器の出力信号の上限を決める過電流保護基準電圧源と、外部接続端子からの入力信号を受けて、出力として前記過電流保護基準電圧源の入力に外部可変信号を供給する可変信号生成回路とを備え、
前記トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号および前記ドレイン電流検出回路の出力信号に基づいた前記スイッチング動作の制御において、前記過電流保護基準電圧源が前記外部可変信号を受けて、前記ドレイン電流検出回路の出力信号と比較する基準電圧の上限となる過電流保護レベルを可変し、前記遅延回路から所定時間遅延したドレイン電流検出信号を出力するまで、前記トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号をマスクして、前記スイッチング動作を停止するように前記スイッチング素子の制御電極を駆動することを特徴とするスイッチング電源制御用半導体装置。
A DC input voltage obtained by applying a DC input voltage to the switching element through the primary winding of the transformer and rectifying and smoothing the AC current generated in the secondary winding of the transformer by the switching operation of the switching element. A switching power supply control semiconductor device having a control circuit for controlling a switching operation of the switching element to control and supply power to a load,
The control circuit detects a reset state of the transformer generated by a switching operation of the switching element from a drain current detection circuit that detects a current flowing through the switching element and an AC voltage generated in a tertiary winding of the transformer. A transformer reset detection circuit that outputs a transformer reset detection signal indicating the reset state, a delay circuit that gives a predetermined delay time to the output signal of the drain current detection circuit, and a secondary winding of the transformer. An IV converter that converts a current value of a control current indicating a change in DC voltage based on the AC current to a voltage value, and an output signal of the IV converter and an output signal of the drain current detection circuit are compared. A drain current detection comparator and an output signal of the IV converter serving as a reference voltage for the drain current detection comparator Comprising overcurrent protection reference voltage source for determining the upper limit, receiving the input signal from the external connection terminal, and a variable signal generating circuit supplies an external variable signal to an input of the overcurrent protection reference voltage source as an output,
In the control of the switching operation based on the transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit and the output signal of the drain current detection circuit, the overcurrent protection reference voltage source receives the external variable signal, and the drain current detection circuit The overcurrent protection level, which is the upper limit of the reference voltage to be compared with the output signal, is varied, and the transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit is masked until the drain current detection signal delayed by a predetermined time is output from the delay circuit. The switching power supply control semiconductor device is characterized in that the control electrode of the switching element is driven to stop the switching operation.
直流の入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加し、前記スイッチング素子のスイッチング動作により、前記トランスの二次巻線に発生した交流電流を整流平滑して得られた直流電圧を制御して負荷に電力供給するため、前記スイッチング素子のスイッチング動作を制御する制御回路を有するスイッチング電源制御用半導体装置であって、
前記制御回路に、前記スイッチング素子を流れる電流を検出するドレイン電流検出回路と、前記トランスの三次巻線に発生した交流電圧から、前記スイッチング素子のスイッチング動作により発生する前記トランスのリセット状態を検出して、前記リセット状態を示すトランスリセット検出信号を出力するトランスリセット検出回路と、前記ドレイン電流検出回路の出力信号に対して所定の遅延時間を与える遅延回路と、前記トランスの二次巻線に発生した交流電流に基づく直流電圧の変化を示す制御電流の電流値を電圧値に変換するI−V変換器と、前記I−V変換器の出力信号と前記ドレイン電流検出回路の出力信号とを比較するドレイン電流検出用比較器と、前記ドレイン電流検出用比較器の基準電圧となる前記I−V変換器の出力信号の上限を決める過電流保護基準電圧源と、外部接続端子からの入力信号を受けて、出力として前記過電流保護基準電圧源および前記遅延回路の入力に外部可変信号を供給する可変信号生成回路とを備え、
前記トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号および前記ドレイン電流検出回路の出力信号に基づいた前記スイッチング動作の制御において、前記過電流保護基準電圧源および前記遅延回路が前記外部可変信号を受けて、前記ドレイン電流検出回路の出力信号と比較する基準電圧の上限となる過電流保護レベルおよび前記遅延時間を可変し、前記遅延回路から所定時間遅延したドレイン電流検出信号を出力するまで、前記トランスリセット検出回路のトランスリセット検出信号をマスクして、前記スイッチング動作を停止するように前記スイッチング素子の制御電極を駆動することを特徴とするスイッチング電源制御用半導体装置。
A DC input voltage obtained by applying a DC input voltage to the switching element through the primary winding of the transformer and rectifying and smoothing the AC current generated in the secondary winding of the transformer by the switching operation of the switching element. A switching power supply control semiconductor device having a control circuit for controlling a switching operation of the switching element to control and supply power to a load,
The control circuit detects a reset state of the transformer generated by a switching operation of the switching element from a drain current detection circuit that detects a current flowing through the switching element and an AC voltage generated in a tertiary winding of the transformer. A transformer reset detection circuit that outputs a transformer reset detection signal indicating the reset state, a delay circuit that gives a predetermined delay time to the output signal of the drain current detection circuit, and a secondary winding of the transformer. The IV converter that converts the current value of the control current indicating the change of the DC voltage based on the AC current to the voltage value, the output signal of the IV converter, and the output signal of the drain current detection circuit are compared. And a drain current detection comparator that outputs the output signal of the IV converter that serves as a reference voltage for the drain current detection comparator. An overcurrent protection reference voltage source that determines an upper limit of the signal, a variable signal generation circuit that receives an input signal from an external connection terminal and supplies an external variable signal to the input of the overcurrent protection reference voltage source and the delay circuit as an output; With
In controlling the switching operation based on a transformer reset detection signal of the transformer reset detection circuit and an output signal of the drain current detection circuit, the overcurrent protection reference voltage source and the delay circuit receive the external variable signal, and The transformer reset detection circuit until the overcurrent protection level that is the upper limit of the reference voltage to be compared with the output signal of the drain current detection circuit and the delay time are varied and the drain current detection signal delayed by a predetermined time is output from the delay circuit A switching power supply control semiconductor device, wherein the control electrode of the switching element is driven so as to stop the switching operation by masking the transformer reset detection signal.
前記外部接続端子からの入力信号が設定値以下である場合、スイッチング素子のスイッチング動作を停止させることを特徴とする請求項1または2記載のスイッチング電源制御用半導体装置。   3. The semiconductor device for controlling a switching power supply according to claim 1, wherein when the input signal from the external connection terminal is equal to or lower than a set value, the switching operation of the switching element is stopped. 前記外部接続端子からの入力信号が設定値以上である場合、スイッチング素子のスイッチング動作を停止させることを特徴とする請求項1または2記載のスイッチング電源制御用半導体装置。   3. The switching power supply control semiconductor device according to claim 1, wherein when the input signal from the external connection terminal is equal to or greater than a set value, the switching operation of the switching element is stopped. 前記制御回路とスイッチング素子を同一基板上に集積化した半導体基板に、入力電圧をトランスの一次巻線を介して前記スイッチング素子に印加するためのスイッチング素子入力端子と、前記スイッチング素子のスイッチング動作により得られたスイッチング電流を出力するためのスイッチング素子出力端子と、前記スイッチング素子のスイッチング動作により前記トランスの三次巻線に発生した電流に基づく直流電圧を供給するための電源入力端子と、前記スイッチング素子の間欠スイッチング動作を制御する制御信号を入力するための制御信号入力端子と、トランスリセット検出回路にトランスリセット検出信号を入力するためのトランスリセット検出端子と、過電流保護基準電圧源および遅延回路に外部可変信号を供給する可変信号生成回路の外部信号を入力するための外部信号入力端子とを備えたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載のスイッチング電源制御用半導体装置。   A switching element input terminal for applying an input voltage to the switching element via a primary winding of a transformer on a semiconductor substrate in which the control circuit and the switching element are integrated on the same substrate, and a switching operation of the switching element A switching element output terminal for outputting the obtained switching current, a power supply input terminal for supplying a DC voltage based on the current generated in the tertiary winding of the transformer by the switching operation of the switching element, and the switching element A control signal input terminal for inputting a control signal for controlling the intermittent switching operation, a transformer reset detection terminal for inputting a transformer reset detection signal to the transformer reset detection circuit, an overcurrent protection reference voltage source and a delay circuit. Variable signal generator for supplying external variable signals Switching power supply control semiconductor device according to claim 1, characterized in that an external signal input terminal for inputting an external signal of the circuit. 請求項1〜5のいずれか1項に記載のスイッチング電源制御用半導体装置を用いて、直流の入力電圧をトランスの一次巻線を介してスイッチング素子に印加し、前記スイッチング素子のスイッチング動作を行うことにより、前記トランスの二次巻線に発生した交流電流を整流平滑して得られた直流電圧を制御して、負荷に電力供給することを特徴とするスイッチング電源装置。   Using the switching power supply control semiconductor device according to any one of claims 1 to 5, a DC input voltage is applied to a switching element through a primary winding of a transformer to perform a switching operation of the switching element. In this way, the switching power supply is characterized in that the DC voltage obtained by rectifying and smoothing the AC current generated in the secondary winding of the transformer is controlled to supply power to the load.
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