JP4262892B2 - 電歪ファイバ変調器 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の背景】
[発明の分野]
この発明は、光変調器および光スイッチに関し、特に、ファイバベースの光変調器および光スイッチに関する。
【0002】
[関連技術の説明]
現在では、MHz周波数範囲で動作する位相変調器は数種類しか市販されていない。たとえば、電気光学ニオブ酸リチウム変調器は数百GHzまでで動作するように設計できる。ニオブ酸リチウム変調器は比較的小型(長さ数cm)であり、それらが導波路の形に形作られるときには僅か数ボルトしか必要とせず、バルク光学的な形のときには数百ボルトを必要とする。他方では、それらは、ポート当り少なくとも0.5dBの結合損だけでなく、少なくとも1dBのかなり高い内部損失を示す。したがって、ピグテール化されたニオブ酸リチウム変調器のファイバからファイバへの損失は少なくとも2dBであり、多くの製品においてそれはさらにかなり高い。また、これらの装置のコストは高く、典型的には数千ドルである。さらに、バルク光学ニオブ酸リチウム変調器の場合、数メガヘルツの周波数で動作するとき、必要な電圧は数百ボルトのオーダである。この電圧要件は、数ボルトの低い入力電圧信号を昇圧する共振電子回路によって満たされるが、そのような回路は、典型的には1MHzあたりの限られた帯域幅を一般的に有し、そのために変調器は狭い周波数範囲にわたってしか動作しない。
【0003】
別の種類の高周波数位相変調器は圧電(PZT)リング変調器である。この装置では、典型的には長さが数メートルであるファイバがPZTリングの周りに巻かれる。リングにAC電圧が印加されると、リングは周期的に伸縮し、それによりファイバを伸ばし、次にファイバを通って伝わる光学信号の位相を変調する。このタイプの変調器は数ボルトしか必要としないが、それが有用な移相(典型的にはπΠの付近)を生じるのは、リングの機械的共振周波数に対応するいくつかの離散的な周波数でのみである。このように、この装置の帯域幅も限定される。
【0004】
第3のタイプの位相変調器は音響光学(A/O)ファイバ変調器であり、ここではファイバはそれを周期的に圧縮するPZT変調器に機械的に結合される。(たとえば、1993年10月、IEEE Photon. Techno. Lett. vol.5, no.10, pp.1197-1199、I.アブドゥルハリムおよびC.N.パネル(I. Abdulhalim, C.N.Pannell)の「基本横の音響共振で動作する光弾性ファイバ内複屈折変調器“Photoelastic in-fiber birefringence modulator operating at the fundamental transverse acoustic resonance”」を参照)。このタイプの変調器も共振電子回路によって駆動されるため、その帯域幅は1MHzのオーダに一般的に限定される。A/O変調器はπ/2の位相変調をもたらすのに0.7Wの入力電力が必要であり得る。また、ファイバがPZT薄膜で被覆されるA/Oファイバ変調器がスタンフォード大学で披露された。A/Oファイバ変調器は十分に働くが、それらは離散的な共振周波数でしか動作せず、かなり高い入力電力を必要とする。
【0005】
すべてのこれらの変調器については、装置を通って伝わる1つの偏光信号は、直交偏光を有する信号と著しく異なる位相変調を受ける。入力信号の偏光は一般的に一定でなくむしろ予測不可能に経時的にドリフトするため、この偏光依存は多くの用途において非常に望ましくない。
【0006】
フィルタ、増幅器、カプラおよびレーザなどのさまざまな光ファイバ構成要素が存在するが、好適な特徴を備える全ファイバ光変調器および光スイッチは現在は容易に入手できない。そのような装置は、ファイバセンサ、ファイバセンサアレイ、光通信システムならびにレーザなどのファイバ装置および導波路装置において有用であろう。
【0007】
【発明の概要】
この発明の1つの局面は、光学信号の位相を変調するための装置である。この装置は、光学信号を伝播するための光学媒体だけでなく、光学媒体に近接する第1および第2の電極を含む。第1および第2の電極は、その間にAC電圧をかけられ、これは光学媒体に歪みを引き起こし、電歪効果を介して光学媒体の屈折率の変化をもたらす。この発明の1つの好ましい実施例では、光学媒体はポーリングされておらず、電極はAC電圧だけでなくDC電圧を印加してもよい。光学信号の位相は、電界に平行なおよび直交する光学信号の偏光成分が等しい移相を経験するように変調されてもよい。装置は干渉計に組み入れられて、光学信号の振幅を変調する装置を形成するのが有利である。代替的には、装置は干渉計に組み入れられて、光学スイッチング装置を形成する。
【0008】
この発明の別の局面は、光学信号の位相を変調するための装置であり、ここでは装置は光学信号を伝播するためのポーリングされた光学媒体を含む。ポーリングされた光学媒体は内部DC電界を有する。少なくとも1つの電極が媒体に近接して位置される。電極はそれにAC電圧を印加され、媒体内にAC電界を誘導し、電歪効果を介して光学媒体の屈折率の変化をもたらす。1つの好ましい実施例では、光学信号の位相は、電界に平行なおよび直交する光学信号の偏光成分が等しい移相を経験するように変調される。装置は干渉計に組み入れられて、光学信号の振幅を変調する装置を形成するのが有利である。代替的には、装置は干渉計に組み入れられて、光学スイッチング装置を形成するのが有利である。
【0009】
この発明の別の局面は、光学媒体を提供するステップ、AC電圧を印加して光学媒体内に電界をもたらすステップ、光学媒体の中に歪みを引き起こすことにより電歪効果を介して光学媒体の屈折率の変化をもたらすステップおよび光学媒体を通して光学信号を伝えて光学信号の位相を変調させるステップによって光学信号の位相を変調する方法である。この方法の好ましい実施例では、第1および第2の電極にAC電圧が印加され、ここでは電極は光学媒体に近接する。この方法の別の好ましい実施例では、光学信号が光学媒体を通るに従い、電界に平行なおよび直交する光学信号の偏光成分が等しい移相を経験するような周波数でAC電圧が印加される。光学媒体からの出力が干渉計に向けられて、光学信号の振幅を変調するかまたは干渉計の第1の出力ポートから干渉計の第2の出力ポートへ光学信号を切換えてもよい。
【0010】
この発明は、添付の図面と関連して以下に説明される。
【0011】
【好ましい実施例の詳細な説明】
この発明のいくつかの実施例が本明細書中に説明され、ファイバまたは導波路における電歪効果を用いて、適度な電圧でのみ、ある機械的共振周波数で大きな変調度を生成する。さらに、ある動作周波数においては、誘導された位相変調は入力信号の偏光に依存しない。これらの共振は、変調器およびスイッチなどの、全ファイバベースの光学構成要素を設計するのに用いられる。ニオブ酸リチウムなどの電気光学結晶に一般的に基づく既存の市販の位相変調器と比較すると、これらのファイバベースの構成要素は以下の利点を含む。すなわち(1)たとえば0.01dBよりもはるかに小さい非常に低い内部損失、(2)単一モード通信ファイバへの低損失スプライス、および(3)紫外(UV)から赤外(IR)までの広帯域伝送範囲である。
【0012】
この発明のいくつかの実施例では、電界(たとえば電圧)が直接的にファイバ(または別の形の光学導波路)に印加されて屈折率の変化を誘導し、それにより導波路を伝わる信号を変調する。大部分の光学的材料の屈折率は、たとえばカー効果または電歪効果を介して、電界の印加により変更することができる。この発明では、電歪効果が用いられてガラスまたは別の材料の位相変調をもたらし、電歪効果によって誘導された位相変調の大きさは、ある周波数でカー効果によって誘導されたものを実質的に超えるものである。
【0013】
電歪効果により、材料に印加された、周波数νのAC電界は、材料を周期的な応力に晒す。この応力は材料の中に歪み(相対的な変形)をもたらす。すなわち、材料は周波数νで周期的に電界に応答して伸縮する。材料の密度のこの周期的な変化の結果、密度に関する材料の屈折率も、特に、与えられた周波数の2倍である2νで変化する。したがって、材料を通って伝わる光学信号は2νで位相変調を受け、この変調の振幅は印加された電圧の2乗であるVm 2に比例する。AC電圧だけでなくDC電圧Vdcが印加されれば、結果として生じる位相変調は積Vmdcに比例しかつ周波数νで変調が生じる。
【0014】
材料が応力を受けると、材料の機械共振に対応するある周波数で歪みが大きく強められる。これらの周波数では、材料の変形が、その屈折率の変調と同様に増す。したがって、電歪効果が誘導する(周波数の関数としての)位相変調のスペクトルは、一連の急なピークまたは共振を典型的に示す。これらの共振周波数は、サンプルの物理的形状および寸法によって定められる。たとえば、厚みdのスラブについては、ν0=v/(2d)により基本共振周波数が与えられ、式中、vは材料中の音速である。したがって、スペクトルはν0でおよびより高い高調波(ν0の奇数倍)で共振を示し、サンプルの他の寸法および他のタイプの音波に関して他の共振を示す。シリカについては、縦波の速度v=5.95km/sであり、直径d=125μmのファイバでは、基本共振は約24MHzである。(たとえば、上記I.AbdulhalimおよびC.N.Pannellを参照)
図1はこの発明の1つの実施例を示す。クラッディング118で囲まれるコア114を含むファイバ110が電気的絶縁体122に埋込まれる。絶縁体122は、ポリイミドまたは高い絶縁破壊電圧を有する別の材料であってもよい。ファイバ110/絶縁体122の組合せは、たとえば30μmの小さな厚みdに研磨され、対向する電極130と132との間に挟まれる。周波数νの正弦波電圧(すなわち、V=Vmsin2πνt)が電極の一方130に印加され、他方の電極132は接地に接続される。
【0015】
以下に説明される実験的な測定に基づくと、この実施例は、変調電圧Vm=350V、厚みd=30μmおよび電極の長さ(ページの中へおよびページから延びる寸法)L=24cmに対しては、基本周波数の2倍(すなわちほぼ200MHz)で位相変調πをもたらすであろう。これらの条件下では、構造体に印加される電界は350V/30μm=11.6V/μmである。これは室温での空気の電界破壊を超え、絶縁体122を用いるのはこのためである。これに代えて、AC電圧に加えてDC電圧が印加されてもよい。すなわちV=Vdc+Vmsin2πνtとなる。d=30μmおよびL=24cmに対しては、Vm=10VおよびVdc=3,000Vであるときに、基本周波数99.3MHzで位相変調πがもたらされる。
【0016】
この発明の別の実施例が図2Aに示される。バルク光学シリカ(たとえば高純度インフラジル(Infrasil))などの光学媒体200または図1に示されたような研磨された光ファイバが2つの電極204と208との間に置かれ、そこにはシリカの中に以前永久電界が誘導されている。これは有利にはポーリングによって達成してもよく、シリカが上昇された温度にもたらされて、次に強い電界に晒される。シリカが冷却された後、印加された電界はターンオフされるが、誘導された電界はシリカの中に留まる。(たとえば、Opt. Lett. 16, no.22, 1732-1734, Nov. 1991のR.A.マイヤース、N.ムケルジーおよびS.R.J.ブリュエック(R.A. Myers, N. Mukerjhee and S.R.J. Brueck)の「ポーリングされた溶融シリカの大きな2次非線形“Large Second-Order Nonlinearity in Poled Fused Silica”」ならびにOptical Society of America Conference, Williamsburg, VA, November 1997, Paper BTuCS, pp.302-304のA.C.リウ、D.プレール、M.J.F.ディゴネットおよびG.S.キノ(A.C. Liu, D. Pureur, M.J.F. Digonnet, and G.S. Kino)の「より高い温度および電圧でのポーリングによるシリカの非線形性の改良“Improving the nonlinearity of silica by poling at higher temperature and voltage”」を参照。)これに代えて、シリカは(上昇された温度の代わりに)強いUV光および高電圧に晒されてもよい。(たとえば、19th Australian Conference on Optical Fibre Technology, Paper PDP-3, 1994のT.フジワラら(T.Fujiwara et al.)の、「シリカファイバにおけるUV励起ポーリングによって誘導される電気光学的効果“Electro-Optic Effect Induced by UV-Excited Poling in a Silica Fibre”」を参照。)
ポーリングされたシリカの実施例と関連して行なわれた測定は、この誘導された電界がポーリング陽極の約15μm下に延びかつ、その強さが(1,000V/μmにもなる)高純度シリカの破壊電界よりもずっと小さい約350V/μmと推定され得ることを示している。したがって、この組込まれた内部電界は、外部から印加されたDC電界を置き換え得るのが有利である。このDC電界は電極204に近い(約15μm内)ため、光学信号212は、図2Aに示されたように、電極204の近くでシリカ200を横切らなければならない。図3Aおよび図3Bの共振で測定された移相に基づくと、および、内部電界350V/μmを与えられると、長さL=10cmおよび変調電圧Vm=30Vを有する装置の中で変調周波数24MHzでの位相変調πが予測される。図2Aのシリカウェハが、図1に示されたように絶縁されかつ研磨された、ポーリングされた光ファイバで置き換えられれば、同様の特性が支配的となる。
【0017】
この実施例のポーリングされたファイバ装置は、比較的低い動作電圧しか必要とせずかつ、電力をほとんど消費しない。また、それは無視できるほどの光学内部損失しか有しない。(1.55μmでの内部ファイバ損失は典型的には0.5dB/km未満である。)別のポーリングされていないファイバとのスプライスによって加えられるのは、スプライス当り約0.03dBの損失のみである。したがって、ポーリングされたファイバ装置のファイバからファイバへの損失の合計は、好ましくは0.07dB未満である。これは、所与の周波数(たとえば1MHzの帯域幅を備える5MHz)で位相変調πをもたらすのに約200Vを必要とし得かつ、典型的には数dBの、ファイバからファイバへの伝送損失を示す、市販のバルク光学ニオブ酸リチウム位相変調器と対照的である。
【0018】
実施された1つの実施例が図2B、図3Aおよび図3Bを特に参照して論じられる。ポーリングされなかったシリカ200のスラブは、厚みd=406μmを有する。電極204および208は0.3μm厚のクロム/金の層である。633nmで動作するcwレーザビーム212によって光学信号が供給される。ビーム212は、電極204と208との間のシリカ200を介して方向付けられる。変調電圧Vm=15VおよびDC電圧Vdc=2220Vが電極204および208に印加される。与えられたAC周波数は0.5から19MHzの間で変化し、光学信号に伝えられた変調は、マッハ−ツェンダー干渉計(図示せず)を用いて測定される。
【0019】
図3Aおよび図3Bは、それぞれ、印加された電界と垂直のおよび平行なレーザビーム偏光に対する、与えられた周波数νの関数としてのレーザビーム212の測定された位相変調の対数プロットを示す。レーザビームの偏光がビームの電界の向きとなるように取られる通常の従来技術が採用された。両者の偏光に対して、非常に強い共振が7.35MHzに存在し、この周波数ではΔφperp=2mradおよびΔφpar=0.9mradであり、式中、ΔφperpおよびΔφparはそれぞれ垂直偏光および平行偏光の位相変調である。この共振周波数は、装置の基本周波数と正確に対応し、これはν0=v/(2d)=7.34MHzとなるように計算される。共振はかなり狭く(帯域幅の0.2%に対応する約20kHz)、垂直偏光および平行偏光の共振位相変調は、非共振周波数を上回る約100のファクタによって強められる。
【0020】
図3Aおよび図3Bは、平行偏光スペクトルと垂直偏光スペクトルの両者が同じ周波数で共振を一般的に示す間、これら2つのスペクトルが互いと比例しないことを示す。この理由は、少なくとも2つの異なるファクタ、すなわちカー効果および電歪効果から、誘導された移相が生じるためである。各々のメカニズムは、それ自体の大きさ、周波数依存および偏光依存を示す。示された周波数領域において、2つの偏光の各々に対するほぼ一定でほぼ周波数独立の位相変調に、カー効果が寄与する。しかしながら、平行偏光(ΔφKpar)に対する、カー効果によって誘導された位相変調の大きさは、垂直偏光(ΔφKperp)に対して誘導されたものとは異なる。光学媒体200は等方性でありかつカー効果は3次非線形から生じるため、カー効果で誘導された偏光の比bKはbK=ΔφKperp/ΔφKpar=1/3であることがクラインマンの対称の考察から示される。
【0021】
他方では、電歪効果は上述の理由により共振をもたらし、図3Aおよび図3Bの突出したピークはこのためである。図3Aおよび図3Bのスペクトルは、7.35MHzの共振の近くで、(1)カー変調から生じる移相が、電歪変調から生じる移相よりもはるかに小さいことおよび(2)電歪変調から生じる移相が、平行偏光に対するよりも垂直偏光に対してより強い、すなわちこれら2つの成分の比(bE=ΔφEperp/ΔφEpar)が1よりも大きい、ことを示す。
【0022】
比bEは、垂直偏光の共振でのピーク移相の比を平行偏光の共振でのピーク移相で除することにより、図3Aおよび図3Bのデータから導かれた。上述のように、共振では電歪移相がカー移相よりもかなり大きいために、この手順が用いられる。したがって、測定された共振移相の比はΔφEperp対ΔφEparの比と実質的に等しく、これはbEと等しい。実験的に定められたbEの値は約2.2である。この値は、最近発表された研究(Opt. Lett. 23, no.9, pp.691-693, May 1998のA.メローニ他(A.Melloni et al.)の「光ファイバにおける電歪の直接測定“Direct measurement of electrostriction in optical fibers”」で、bEは1と等しいと述べられているのを参照)とは実質的に異なるが、値2.2は、2.23と等しい、2つの偏光に対するシリカの弾性光学(または光弾性)係数の比と矛盾しない。実際に、bEとこの弾性係数の比とが等しくなるべきであることが物理的考察から示される。
【0023】
1)2つの偏光の各々に対する、ほぼ一定でほぼ周波数独立の位相変調にbK=1/3およびカー効果が寄与することおよび、2)bEが1よりも大きくかつ電歪変調から生じる移相が強い共振を有することを考慮すると、図3Aのスペクトルと図3Bのスペクトルとが比例しないことがわかる。実際に、テストされた特定のサンプル内でのカー効果および電歪効果の相対的な大きさは、測定されたスペクトルがある周波数で交差するようなものである。これらの周波数では、2つの偏光は同じ位相変調を経験する。言い換えれば、偏光独立変調器およびスイッチは、スペクトルが交差するいずれの周波数でも動作することにより作製され得る。残念ながら、bEは1よりもはるかに大きいため、これらの交差周波数は、共振周波数においてではなく、むしろ位相変調がより弱い共振からわずかに離れたところで発生する。
【0024】
本明細書中に開示された実施例の光学媒体はシリカに限定されるのではなく、他の材料(ポリマーおよび他のガラスなど)および光ファイバ以外の光学的形状(光学導波路など)を含んでもよい。多くの材料がシリカよりも大きな電歪定数を実際に示す。ファイバ200(または導波路)と電極204、208の1つ(または両方)との間の被覆としてそのような材料を与えて、印加された電界をより効率よくファイバ200内で応力に変換することができる。この構成は、機能する装置に必要な電圧および/またはファイバ200の長さを実質的に減じる。
【0025】
位相変調器390の別の実施例が図4に示される。この装置を作製するには、コア402を含むファイバ400がポリマー(たとえばポリイミド)などの電気的絶縁体404に埋込まれ、次にファイバ400は、それが非常に薄くなるまで、たとえばファイバコア402の各々の側にわずか数ミクロンのガラスしか残らなくなるまで両側を研磨される。(IEEE Photonics Technology Letters Vol.8, no.2, 227-229, February 1996のS.ブリュエック他(S.Brueck et al.)の「ポーリングされた電気光学ファイバ“A poled electrooptic fiber”」参照。)示されたように、次にファイバ400の各々の研磨された側に対して電極410、412が配置されるかまたはさもなければ置かれる。(ページに対して垂直方向の)この装置の長さは数mmから数cmであるかそれよりも長い。それはそのままで変調器にすることができ、その場合、本明細書中で既に説明されたように、DCおよびACまたはACのみのいずれかの大きな外部電界がそれに印加される。
【0026】
これに代えて、図4の装置はポーリングされたファイバを含んでもよい。この場合、ファイバ400は、熱的にまたはUV放射によってのいずれかでまずポーリングされ得る。たとえば、技術分野で周知の手順に従って、熱ポーリングを用いて、構造体は適切な温度(280℃から450℃)に加熱され、ある時間の間(数分から数十分)大きなDC電圧が電極410、412に印加される(数千ボルトから数万ボルト)。この技術は大きな外部電界の印加を求めるため、電極410と412との間での空気の絶縁破壊を回避しなければならない。ファイバ400の両側に電気的絶縁体404を設けるのはこのためである。そうすることにより、電極410と412の端縁の間の空気経路が増す。同様に、絶縁破壊を排除するのに十分長い空気経路を提供するように、研磨された領域の端から電極410および412をページと垂直の方向に十分に引込めなければならない。空気の破壊電圧は温度の上昇とともに減少し、それにより高いポーリング温度(たとえば300℃またはそれよりも高温)に対しては、真空中でポーリングすることが必要となり得る。ポーリングの後、ファイバ400は、ファイバコア402の中へおよびそれを通って陽極(上部電極)の下に延びる組込まれた電界を示す。こうして変調器390は図4に示された装置からなり、電極410と412との間にAC電圧を印加される。このAC電圧に加えて、DC電圧も電極410と412との間に印加されて、ポーリングされたファイバ400に固有のDC電界を強めてもよい。
【0027】
図5および図6は、集積光学技術に基づく2つの同様の構造体を示す。構造体は、いずれの数の周知の作製技術によってシリカウェハ(図5)またはシリコン(613)ウェハ614上のシリカ(612)(図6)のいずれかに作製された、それぞれの導波路510および610を含む。図5では、2つの電極520、522は、導波路部分510の上および下に、ウェハ514のいずれかの表面上に配置されるかまたは置かれる。図6では、シリコン基板613は接地電極として働き、唯一の他方の電極620、すなわち導波路610上の電極620しか用いられない。導波路610を通って伝わる光学信号にこの上部電極620が抵抗損を導かないように、導波路610が埋込まれるのが理想的である。他の電極構成も可能であり、たとえば、両電極をウェハ514またはウェハ612の上に設け、一方の電極を導波路の右側にかつ他方の電極を左側(図示せず)に置き、この場合、アークを防ぐために電気的絶縁材料が電極間に好ましくは設けられる。(適用可能ならば)ポーリングの間におよび/または位相変調器としての装置の動作の間に空気の絶縁破壊を回避するように、電極520、522、620を慎重に設計しなければならないという同じことを念頭に置くと、図4の実施例と関連して説明された適用例は、図5および図6の構造にも当てはまる。
【0028】
この開示に説明されたいずれの位相変調器も、光学干渉計の中に位相変調器を設けることによって振幅変調器を作るのに用いることができ、多くの構成が存在する。具体的には、位相変調器は干渉計のアームの1つの中に設けられてもよい。このアームを伝わる信号の位相は変調されるが、他方のアームを伝わる信号の位相は変調されない。これらの信号は、2つのアームからの信号が再び組合せられる干渉計の出力で干渉し、出力信号の振幅が変調される。
【0029】
同様に、電圧パルスを位相変調器に単に与えることにより、スイッチを作るのに同じ干渉計を用いることができる。共振は変調器の帯域幅を制限するため、変調器の共振周波数の逆数の近傍に制限される幅、立上がり時間および立下がり時間を備える電圧パルスを与えることができる。この概念は図7に示され、マッハ−ツェンダー干渉計700が2つの光学導波路を相互接続する第1のカプラ702および第2のカプラ704を含んで、2つのカプラ702、704の間に第1のアーム706および第2のアーム708を形成する。この発明に従う位相変調器720は第2のアーム708の中に位置付けられる。干渉計700が振幅変調器として用いられると、信号電力がポート1(710)およびポート2(712)に交互に現われ、位相変調器720に与えられた周波数(または2倍の周波数)でこれら2つのポート間で前後に連続的に切換わる。干渉計700は、たとえば溶融ファイバカプラなどのファイバ構成要素で構成され得る。代替的には、干渉計は、さまざまな周知の技術によって平面ウェハ(シリカ、シリコン上のシリカまたは他の材料)の直接的に上に作製されたモノリシック集積光学構造であり得る。振幅変調またはスイッチング動作が行なわれ得る他の干渉計は、サニャック干渉計およびマイケルソン干渉計を含む。
【0030】
この発明の好ましい実施例が詳述されたが、ある明らかな修正および本明細書中に説明された実施例からの逸脱が、この発明の精神または本質的な特徴から逸脱することなしになされ得ることが当業者には理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の1つの実施例に従う電歪変調器を示す図である。
【図2A】 ポーリングされた光学媒体を用いる、この発明の別の実施例に従う電歪変調器を示す図である。
【図2B】 この発明の別の実施例に従うバルク電歪変調器を示す図である。
【図3A】 図2の実施例に与えられた、レーザの垂直偏光に対する移相対変調周波数のグラフの図である。
【図3B】 図2の実施例に与えられた、レーザの平行偏光に対する移相対変調周波数のグラフの図である。
【図4】 研磨されたファイバを用いる、この発明の代替的な実施例を示す図である。
【図5】 集積光学技術に基づく、この発明の実施例を示す図である。
【図6】 集積光学技術に基づく、この発明の代替的な実施例を示す図である。
【図7】 この発明に従う位相変調器を組入れるマッハ−ツェンダー干渉計振幅変調器を示す図である。

Claims (21)

  1. 光学信号の位相を変調するための装置であって、
    光学信号を伝播するための光学媒体を含み、前記光学媒体は該光学媒体内の歪みに応じた屈折率を有し、前記装置は、さらに、
    前記光学媒体に近接する第1の電極と、
    前記光学媒体に近接する第2の電極とを含み、前記第1および第2の電極は、該第1および第2の電極間の前記光学媒体内に電界を発生させて該光学媒体内に歪みを生じさせるためにその間にAC電圧を課され、前記AC電圧の周波数は、電歪効果およびカー効果を介して前記光学媒体の屈折率の変化をもたらすように共振周波数の近傍の周波数において選択され、前記光学信号の位相は、該光学信号が前記光学媒体を通って伝搬する際、該光学信号の偏光成分が前記電界に平行な場合と垂直な場合とで等しい位相シフトを受けるように、周波数が選択された前記AC電圧に応答して変調される、装置。
  2. 前記光学媒体はポーリングされていない、請求項1に記載の装置。
  3. 前記電極はそれにDC電圧を印加され、前記光学媒体を通って伝播する光学信号の位相変調は、前記AC電圧および前記DC電圧の両方に依存する、請求項2に記載の装置。
  4. 前記光学媒体は第1および第2の表面を有し、前記第1および第2の電極はそれぞれ前記第1および第2の表面に取付けられる、請求項2に記載の装置。
  5. 光学信号の振幅を変調する素子を形成するための干渉計をさらに含み、前記干渉計は、前記光学媒体を含むアームを有する、請求項2に記載の装置。
  6. 光学スイッチング素子を形成するための干渉計をさらに含み、前記干渉計は、前記光学媒体を含むアームを有する、請求項2に記載の装置。
  7. 光学信号の位相を変調するための装置であって、
    光学信号を伝播するためのポーリングされた光学媒体を含み、前記ポーリングされた光学媒体は内部DC電界を有し、前記光学媒体は該光学媒体内の歪みに応じた屈折率を有し、前記装置は、さらに、
    前記光学媒体に近接する少なくとも第1および第2の電極を含み、前記第1および第2の電極は、該第1および第2の電極間の前記光学媒体内にAC電界を発生させて該光学媒
    体内に歪みを生じさせるためにその間にAC電圧を印加され、前記AC電圧の周波数は、電歪効果およびカー効果を介して前記光学媒体の屈折率の変化をもたらすように共振周波数の近傍の周波数において選択され、前記光学信号の位相は、該光学信号が前記光学媒体を通って伝搬する際、該光学信号の偏光成分が前記電界に平行な場合と垂直な場合とで等しい位相シフトを受けるように、周波数が選択された前記AC電圧に応答して変調される、装置。
  8. 光学信号の振幅を変調する素子を形成するための干渉計をさらに含み、前記干渉計は、前記光学媒体を含むアームを有する、請求項7に記載の装置。
  9. 光学スイッチング素子を形成するための干渉計をさらに含み、前記干渉計は、前記光学媒体を含むアームを有する、請求項7に記載の装置。
  10. 前記光学媒体は基板上にあり、前記基板は前記光学媒体に近接する前記第1および第2の電極の1つを含む、請求項7に記載の装置。
  11. 前記電極はそれにDC電圧を印加されて前記光学媒体内でDC電界を強める、請求項7に記載の装置。
  12. 光学信号の位相を変調する方法であって、
    光学媒体を提供するステップを含み、前記光学媒体は該光学媒体内の歪みに応じた屈折率を有し、前記方法は、さらに、
    AC電圧を印加して前記光学媒体内に電界を発生させて該光学媒体内に歪みを生じさせるステップと、
    電歪効果およびカー効果を介して光学媒体の屈折率の変化をもたらすようにAC電圧の周波数を共振周波数の近傍の周波数において選択するステップと、
    前記光学媒体を介して光学信号を通し、光学信号の位相を変調させるステップとを含み、前記光学信号の位相は、該光学信号が前記光学媒体を通って伝搬する際、該光学信号の偏光成分が前記電界に平行な場合と垂直な場合とで等しい位相シフトを受けるように、周波数が選択された前記AC電圧に応答して変調される、方法。
  13. AC電圧は、光学媒体を挟んで近接して配置される第1および第2の電極に印加される、請求項12に記載の方法。
  14. DC電圧を電極に印加するステップをさらに含む、請求項13に記載の方法。
  15. 光学媒体がポーリングされていない、請求項14に記載の方法。
  16. 光学媒体がポーリングされる、請求項14に記載の方法。
  17. 光学媒体がポーリングされる、請求項12に記載の方法。
  18. 光学媒体がポーリングされていない、請求項12に記載の方法。
  19. 第1および第2の電極を光学媒体の少なくとも1つの表面に取付けるステップを含む、請求項12に記載の方法。
  20. 光学媒体からの出力を干渉計に入射させ、該光学媒体からの出力と変調されていない位相を有する信号とは該干渉計において干渉し、それにより該干渉計の出力信号の振幅を変調するステップをさらに含む、請求項12に記載の方法。
  21. 光学媒体からの出力を干渉計に入射させ、該干渉計の第1の出力ポートから該干渉計の第2の出力ポートに光学信号を切換えるステップをさらに含む、請求項12に記載の方法。
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