JP4168909B2 - High frequency circuit equipment - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、高周波回路装置に関し、特に、高周波回路部品と、高周波回路部品の外部リードに接続されている複数の外付部品とを有する高周波回路装置に関する。 The present invention relates to a high frequency circuit device, and more particularly to a high frequency circuit device having a high frequency circuit component and a plurality of external components connected to external leads of the high frequency circuit component.
図11は、無線通信端末の送受信回路の構成例を示すブロック図である。
たとえば、受信回路RCは、たとえばハイパスフィルタHPFと、ローノイズアンプLNAと、ミキサM1とを有する。受信回路RCは、単一または複数のアンテナANTによって高周波、たとえば1.8GHzの電波を受信する。受信信号は、ハイパスフィルタHPFを通り、ローノイズアンプLNAにより増幅される。その後、ミキサM1において電圧制御発信回路VCOの発信信号と増幅された受信信号が混合される。その結果、受信信号は、ダウンコンバートされ、後段の信号処理回路に送られる。
FIG. 11 is a block diagram illustrating a configuration example of a transmission / reception circuit of a wireless communication terminal.
For example, the receiving circuit RC includes, for example, a high pass filter HPF, a low noise amplifier LNA, and a mixer M1. The receiving circuit RC receives a radio wave of a high frequency, for example, 1.8 GHz, by a single or a plurality of antennas ANT. The received signal passes through the high pass filter HPF and is amplified by the low noise amplifier LNA. Thereafter, the mixer M1 mixes the transmission signal of the voltage control transmission circuit VCO and the amplified reception signal. As a result, the received signal is down-converted and sent to the subsequent signal processing circuit.
また、送信回路TCは、たとえば、パワーアンプPAとローパスフィルターLPFと、ミキサM2とを有する。送信回路TCにおいて、入力された送信信号が、ミキサM2においてアップコンバートされ、ローパスフィルターLPFを通る。そして、送信信号はパワーアンプPAによって増幅され、アンテナANTを介して電波として出力される。
さらに、送信側と受信側の信号経路を振り分けるためのフィルタ部品であるデュプレクサも必要となる。
The transmission circuit TC includes, for example, a power amplifier PA, a low-pass filter LPF, and a mixer M2. In the transmission circuit TC, the input transmission signal is up-converted in the mixer M2, and passes through the low-pass filter LPF. The transmission signal is amplified by the power amplifier PA and output as a radio wave via the antenna ANT.
Furthermore, a duplexer that is a filter component for distributing the signal path between the transmission side and the reception side is also required.
上記のような周波数の高い信号の送受信を同時に行う場合、送信回路や受信回路内の異なる信号経路間において、高周波信号が不要な放射波として漏洩したり、飛び込み易い。そのため、端子間などでアイソレーションを十分に確保する必要がある。 When transmitting and receiving a signal having a high frequency as described above, a high-frequency signal easily leaks or jumps in between different signal paths in the transmission circuit and the reception circuit. Therefore, it is necessary to ensure sufficient isolation between terminals.
上記のような送受信制御回路としては、デュプレクサと送信端子との間にPINダイオードとローパスフィルタとを接続して、ローパスフィルタのアンテナ端子側の見かけのインピーダンスが送信端子側の見かけのインピーダンスよりも小さくして、受信時のアンテナ端子から送信端子への受信信号の漏れを少なくした送受信制御回路が知られている(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に示されるような回路定数を制御する方法も有効ではあるが、送受信回路に新たな構成を付加しているため、構成が複雑になる。また、送受信回路にダイオードやフィルタが組み込まれているので、確保したい周波数への合わせ込みが容易ではない。
As such a transmission / reception control circuit, a PIN diode and a low-pass filter are connected between the duplexer and the transmission terminal, and the apparent impedance on the antenna terminal side of the low-pass filter is smaller than the apparent impedance on the transmission terminal side. A transmission / reception control circuit is known in which leakage of a reception signal from an antenna terminal to a transmission terminal during reception is reduced (see, for example, Patent Document 1).
Although a method for controlling circuit constants as disclosed in
また、上記のような高周波パッケージとしては、パッケージの底部に入出力ピンから高周波信号の波長の約4分の1の長さだけ離れてスリットを形成し、端子間のアイソレーションを確保した高周波パッケージが知られている(例えば、特許文献2参照)。
特許文献2に示されるような専用のパッケージを用いることも有効ではあるが、製造コストがかさむという不利益がある。
Further, as the above-described high-frequency package, a slit is formed at the bottom of the package at a distance of about one-fourth of the wavelength of the high-frequency signal from the input / output pin to ensure isolation between terminals. Is known (see, for example, Patent Document 2).
Although it is effective to use a dedicated package as shown in
その結果、従来においては、2つの信号を入出力する外部リード(信号入出力ピン)の距離を離してアイソレーション特性を向上させる方法が用いられている。たとえば、2つの信号を入力する端子の間に接地ピンあるいは高周波回路と接続されていないピン(ノンコネクトピン、以下、NCピンとも称する)を設置して2つの外部リード間を空間的に遠く離し、アイソレーションを確保する。しかしながら、空間的に距離を離すと多数のピンを有するパッケージを必要としてしまい、結果としてパッケージサイズが大きくなってしまう。
また、接地ピンやNCピンを設けてアイソレーションを図る方法は、常に有効ではなく、逆にアイソレーションが低下してしまうこともあった。
Also, the method of providing isolation by providing a ground pin or NC pin is not always effective, and conversely, isolation may be reduced.
本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、外部リードから放射される不要波を低減し、外部リード間のアイソレーション特性を向上させる高周波回路装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a high-frequency circuit device that reduces unnecessary waves radiated from external leads and improves isolation characteristics between external leads. It is in.
上記目的を達成するために、第1の発明の高周波回路装置は、高周波回路部品と、前記高周波回路部品の外部リードに接続されている複数の外付部品とを有し、前記高周波回路の外部リードは、第1および第2の外部リードを有し、前記第1および第2の外部リード間に、前記高周波回路部品の信号経路に接続されていない第3の外部リードを1つの回路部品として構成され、前記第1の外部リードから前記第2の外部リードに放射される不要波を吸収する回路特性の放射波吸収回路が設けられており、前記放射波吸収回路は、前記第3の外部リードをインダクタとして含むLC直列共振回路であり、前記共振回路の共振周波数は、前記第1の外部リードから前記第2の外部リードへ漏れる信号の周波数に相当する。 To achieve the above object, the high-frequency circuit device of the first invention includes a high frequency circuit components, and said high frequency circuit components plurality of external components connected to external leads, outside the high-frequency circuit The lead has first and second external leads, and the third external lead that is not connected to the signal path of the high-frequency circuit component is used as one circuit component between the first and second external leads. A radiation wave absorption circuit configured to absorb an unnecessary wave radiated from the first external lead to the second external lead is provided, and the radiation wave absorption circuit includes the third external lead The LC series resonance circuit includes a lead as an inductor, and a resonance frequency of the resonance circuit corresponds to a frequency of a signal leaking from the first external lead to the second external lead.
第2の発明の高周波回路装置は、高周波回路部品と、前記高周波回路部品の外部リードに接続されている複数の外付部品とを有し、前記高周波回路の外部リードは、前記高周波回路の動作時に不要な放射波を発する第1の外部リードを有し、前記第1の外部リードの配列方向の少なくとも一方の側の近傍に、前記高周波回路部品の信号経路に接続されていない第2の外部リードを1つの回路部品として構成され、前記高周波回路部品の動作時において前記第1の外部リードの放射波を吸収する回路特性を有する放射波吸収回路が設けられており、前記放射波吸収回路は、前記第3の外部リードをインダクタとして含むLC直列共振回路であり、前記共振回路の共振周波数は、前記第1の外部リードから放射される信号の周波数に相当する。A high frequency circuit device according to a second aspect of the present invention includes a high frequency circuit component and a plurality of external components connected to external leads of the high frequency circuit component, and the external lead of the high frequency circuit operates the high frequency circuit. A second external lead that sometimes has a first external lead that emits an unnecessary radiation wave and is not connected to a signal path of the high-frequency circuit component in the vicinity of at least one side of the arrangement direction of the first external lead. A lead is configured as one circuit component, and a radiation wave absorption circuit having circuit characteristics for absorbing a radiation wave of the first external lead during operation of the high frequency circuit component is provided. The LC series resonance circuit includes the third external lead as an inductor, and the resonance frequency of the resonance circuit corresponds to the frequency of the signal radiated from the first external lead.
上記目的を達成するため、上記の本発明の高周波回路装置は、高周波回路部品と、高周波回路部品の外部リードに接続されている複数の外付部品とを有する高周波回路装置に関し、高周波回路の動作時に不要な放射波を発する第1の外部リードと、第1の外部リードの配列方向の少なくとも一方の側の近傍に、高周波回路部品の信号経路に接続されていない第2の外部リードを1つの回路部品として構成され、高周波回路部品の動作時において第1の外部リードの放射波を吸収する回路特性を有する放射波吸収回路が設けられている。 In order to achieve the above object, the high-frequency circuit device of the present invention described above relates to a high-frequency circuit device having a high-frequency circuit component and a plurality of external components connected to external leads of the high-frequency circuit component. One first external lead that sometimes emits an unnecessary radiation wave and one second external lead that is not connected to the signal path of the high-frequency circuit component are provided in the vicinity of at least one side in the arrangement direction of the first external lead. A radiation wave absorption circuit configured as a circuit component and having circuit characteristics for absorbing the radiation wave of the first external lead during the operation of the high frequency circuit component is provided.
以下、本発明を実施するための最良の形態について図面を参照して記述する。 The best mode for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1は、本実施例に係る高周波回路装置の一部を示す概略上面図である。本実施例の高周波回路装置は、たとえば、1.5GHzと800MHzの2つの異なる周波数信号を送受信する。 FIG. 1 is a schematic top view showing a part of the high-frequency circuit device according to this embodiment. The high-frequency circuit device according to the present embodiment transmits and receives two different frequency signals of 1.5 GHz and 800 MHz, for example.
図1に示す高周波回路装置は、高周波回路1と、ロジック回路2と、外部リード3と、それぞれの回路と外部リード3とを電気的に接続するワイヤとがパッケージに搭載されて構成されている。また、図示は省略するが、上記の高周波回路装置は、外部リード3を介して複数の外部部品と接続されている。
The high-frequency circuit device shown in FIG. 1 includes a high-
高周波回路1は、複数のスイッチ素子を有し、それぞれのスイッチを切り換えて1.5GHzと800MHzの2つの異なる周波数信号を送受信するスイッチ回路である。ロジック回路2は、高周波回路1に含まれるスイッチを制御する。外部リード3は、パッケージの内部の高周波回路1およびロジック回路2と、外部部品とを接続する。ここで、外部リード3を入出力を行うピンとも称する。
The high-
図2は、本実施例に係る高周波回路装置に搭載されている高周波回路1を示す等価回路図である。
FIG. 2 is an equivalent circuit diagram showing the high-
図2に示す高周波回路1は、インピーダンス調整用のキャパシタC1〜C5と、高周波接地用のキャパシタC6〜C9と、複数のスイッチF1〜F24とを有し、スイッチF1〜F24のオン/オフにより信号経路の変更が可能なスイッチ回路になっている。また、上記の高周波回路1は、テスト用信号入力端子Extと、アンテナ端子Antと、ダイバシティアンテナ端子D_Antと、ダイバシティアンテナのテスト用信号入力端子D_Extとを有する。上記の高周波回路1は、800MHzの送信用端子Tx800と、デュプレクサ用入力端子Dup_inと、デュプレクサ用出力端子Dup_outと、1.5GHzの送信用端子Tx1.5とを有する。さらに、800MHzのデジタル受信用端子Rx800Dと、800MHzのアナログ受信用端子Rx800Aと、1.5GHzの受信用端子Rx1.5とを有する。
The high-
デュプレクサ用入力端子Dup_inおよびデュプレクサ用出力端子Dup_outは、それぞれデュプレクサに接続されている。デュプレクサは、入力された信号を送信側と受信側の信号経路を振り分けるためのフィルタ部品である。 The duplexer input terminal Dup_in and the duplexer output terminal Dup_out are each connected to a duplexer. The duplexer is a filter component for distributing an input signal between a signal path on a transmission side and a reception side.
図2に示す高周波回路1において、たとえば、送信用端子Tx800から出力された信号は、スイッチF21を介して、デュプレクサ用入力端子Dup_inからデュプレクサに入力される。このとき、スイッチF20はオフである。
デュプレクサにおいて、入力された信号は、送信側の信号として振り分けられ、デュプレクサ用出力端子Dup_outから出力される。
出力された信号は、各スイッチF3,F7,F8を介してアンテナ端子Antから送信される。このとき、他のスイッチF4,F9,F2などはオフである。あるいは、出力された信号はスイッチF4を介してアンテナ端子Antから送信される。このとき、他のスイッチF1,F3,F5,F7などはオフである。
In the high-
In the duplexer, the input signal is distributed as a signal on the transmission side and output from the duplexer output terminal Dup_out.
The output signal is transmitted from the antenna terminal Ant via the switches F3, F7, and F8. At this time, the other switches F4, F9, F2, etc. are off. Alternatively, the output signal is transmitted from the antenna terminal Ant via the switch F4. At this time, the other switches F1, F3, F5, F7 and the like are off.
送信用端子Tx800および送信用端子Tx1.5は、それぞれパワーアンプPAに接続されている。たとえば、パワーアンプPAにおいて送信回路からの信号が増幅されて、増幅された信号は送信用端子Tx800あるいは送信用端子Tx1.5に出力される。また、必要に応じてキャパシタのスイッチF15,F16,F22,F24がオンして、信号経路のインピーダンスが制御されている。 The transmission terminal Tx800 and the transmission terminal Tx1.5 are each connected to the power amplifier PA. For example, the signal from the transmission circuit is amplified in the power amplifier PA, and the amplified signal is output to the transmission terminal Tx800 or the transmission terminal Tx1.5. In addition, capacitor switches F15, F16, F22, and F24 are turned on as necessary to control the impedance of the signal path.
一方、受信側においても同様に、アンテナ端子Antあるいはダイバシティアンテナ端子D_Antにおいて受信された信号は、TDMAモードのとき、周波数に応じて受信側端子Rx800D,Rx800A,Rx1.5のいづれかに入力される。また、同時送受信モードの場合は、デュプレクサを介して受信端子Rx800Dに入力される。受信側端子Rx800D,Rx800A,Rx1.5は、それぞれローノイズアンプLNAなどに接続されている。ローノイズアンプLNAにより増幅された信号は、各受信回路に出力される。 On the other hand, similarly, on the receiving side, a signal received at the antenna terminal Ant or the diversity antenna terminal D_Ant is input to any of the receiving side terminals Rx800D, Rx800A, and Rx1.5 according to the frequency in the TDMA mode. In the case of the simultaneous transmission / reception mode, the signal is input to the reception terminal Rx800D via the duplexer. The reception side terminals Rx800D, Rx800A, and Rx1.5 are each connected to a low noise amplifier LNA or the like. The signal amplified by the low noise amplifier LNA is output to each receiving circuit.
図3は、図1に示す高周波回路装置の端子配列を模式的に示す概略図である。 FIG. 3 is a schematic diagram schematically showing the terminal arrangement of the high-frequency circuit device shown in FIG.
図3に示す高周波回路装置は、たとえば、1辺に8つのピンを有する四角形の汎用パッケージを有する。さらに、図2に示す高周波回路のアンテナやそれぞれの周波数の入出力端子がそれぞれのピンに接続され、外部部品と接続されている。なお、上記の高周波回路1およびロジック回路2は、汎用のパッケージに搭載されていればよく、図3に示す端子配列に限定されるものではない。
The high-frequency circuit device shown in FIG. 3 has, for example, a rectangular general-purpose package having eight pins on one side. Further, the antenna of the high-frequency circuit shown in FIG. 2 and the input / output terminals of the respective frequencies are connected to the respective pins and connected to external components. Note that the high-
ここで、図2においてデュプレクサに接続された入力端子Dup_inと出力用端子Dup_outとの間に、不要な放射波が生じやすい。
そこで、本実施例においては、入力端子Dup_inおよび出力用端子Dup_outと接続される第1および第2のピン10,20の間に、図2に示した高周波回路1の信号経路に接続されていない非接続ピン30を含む放射波吸収回路100が設置されている。非接続ピン30には、外部部品として、一方の端部が非接続ピン30に接続され、他方の端部が接地されたキャパシタC11が接続されている。
ここで、請求項1の第1および第2の外部リードの一実施態様が第1および第2のピン10,20に相当し、第3の外部リードの一実施態様が非接続ピン30に相当する。
Here, in FIG. 2, an unnecessary radiated wave is likely to be generated between the input terminal Dup_in connected to the duplexer and the output terminal Dup_out.
Therefore, in the present embodiment, the signal path of the high-
Here, one embodiment of the first and second external leads of
図4は、図3における放射波吸収回路100を含む領域Aの概略拡大図である。
FIG. 4 is a schematic enlarged view of a region A including the radiation
図4に示すように、高周波回路1が構成されたチップ4上に、内部回路を外部と接続するための第1のパッド5aと、第2のパッド5bと、第3のパッド5cとが設置されている。また、第1のパッド5aは第1のピン10に、第2のパッド5bは第2のピン20にそれぞれワイヤボンディングされている。ここで、第3のパッド5cは、高周波回路1の信号経路と直接接続されていない。また、図示は省略するが、第1および第2のピン10,20はそれぞれデュプレクサに接続されている。
本変形例に係る放射波吸収回路100は、第1のピン10と第2のピン20との間に設置されている。放射波吸収回路100は、第3のパッド5cにワイヤボンディングされた非接続ピン30と、外部部品として一方の端部が非接続ピン30に接続され、他方の端部が接地されたキャパシタC11とを有する。
As shown in FIG. 4, a
The radiation
図4に示すように、第3のパッド5cと非接続ピン30の一方の端部は、ワイヤにより接続されている。このワイヤおよび非接続ピン30のインダクタ成分Lと、非接続ピン30の他方の端部に接続されたキャパシタC11とにより、放射波吸収回路100はLC直列共振回路を構成している。
As shown in FIG. 4, one end of the
また、キャパシタC11の容量などの外付部品の回路特性によって、上記の共振回路の共振周波数は調整される。たとえば、デュプレクサに接続された第1のピン10から第2のピン20に放射される不要波の周波数が共振回路の共振周波数に相当するように、キャパシタC11の容量を設定する。
Further, the resonance frequency of the resonance circuit is adjusted according to the circuit characteristics of the external component such as the capacitance of the capacitor C11. For example, the capacitance of the capacitor C11 is set so that the frequency of the unwanted wave radiated from the
次に、上記の実施例に係る高周波回路装置の変形例について記述する。
なお、上記の実施例と同様の部分は番号を同じくし、記載を省略し、以下、異なる部分についてのみ記述する。
Next, a modification of the high frequency circuit device according to the above embodiment will be described.
In addition, the same part as said Example has the same number, description is abbreviate | omitted, and only a different part is described hereafter.
〔変形例1〕
図5は、本変形例に係る高周波回路装置の一部を模式的に示す概略拡大図である。
[Modification 1]
FIG. 5 is a schematic enlarged view schematically showing a part of the high-frequency circuit device according to this modification.
図5に示すように、本変形例に係る放射波吸収回路100は、第1のピン10と第2のピン20との間に設置されている。
放射波吸収回路100は、第3のパッド5cにワイヤボンディングされた非接続ピン30と、外部部品として一方の端部が非接続ピン30に接続され、他方の端部が接地されたインダクタL11を有する。また、放射波吸収回路100は、チップ内において第3のパッド5cと接続されたキャパシタC12を有する。
As shown in FIG. 5, the radiation
The radiation
本変形例においては、共振回路のキャパシタ成分がチップ内に構成されている。また、本変形例においては、外付回路としてインダクタL11を有する。その結果、インダクタ成分Lを調整することによって共振回路の共振周波数を調整する。 In this modification, the capacitor component of the resonance circuit is configured in the chip. In this modification, an inductor L11 is provided as an external circuit. As a result, the resonant frequency of the resonant circuit is adjusted by adjusting the inductor component L.
〔変形例2〕
図6は、本変形例に係る高周波回路装置の一部を模式的に示す概略拡大図である。
[Modification 2]
FIG. 6 is a schematic enlarged view schematically showing a part of the high-frequency circuit device according to this modification.
図6に示すように、放射波吸収回路100は、第3のパッド5cにワイヤボンディングされた非接続ピン30および第2の非接続ピン40と、外部部品として一方の端部が非接続ピン30に接続され、他方の端部が接地されたキャパシタC11とを有する。
As shown in FIG. 6, the radiation
本変形例においては、第1の接続ピン10と第2の接続ピン20との間に非接地ピン30および第2の非接続ピン40を設置し、共振回路のインダクタ成分を増やしている。また、第2の非接続ピン40を設置したことにより、第1の接続ピン10と第2の接続ピン20との間隔を広げている。
In this modification, the
〔変形例3〕
図7は、本変形例に係る高周波回路装置の一部を模式的に示す概略拡大図である。
[Modification 3]
FIG. 7 is a schematic enlarged view schematically showing a part of the high-frequency circuit device according to this modification.
図7に示すように、高周波回路が構成されたチップ4上において、第3のパッド5cと第2のパッド5bとの間に、第4のパッド5dがさらに設置されている。ここで、第4のパッド5dは高周波回路の信号経路と直接接続されていない。
本変形例に係る放射波吸収回路100は、第1のピン10と第2のピン20との間に、第3のパッド5cにワイワボンディングされた非接続ピン30と、第4のパッド5dにワイヤボンディングされた第2の非接続ピン40と、外部部品として一方の端部が非接続ピン30に接続され、他方の端部が接地されたキャパシタC11とを有する。ここで、第3のパッド5cおよび第4のパッド5dは電気的に接続されている。その結果、非接続ピン30と第2の非接続ピン40とは電気的に接続され、それぞれのインダクタ成分が合算されている。
As shown in FIG. 7, a
The radiation
本変形例は、第4のパッド5dを設け、第1のピン10と第2のピン20との間にさらに第4のパッド5dと接続する第2の非接続ピン40を設置している。その結果、共振回路のインダクタ成分を増加させるとともに、第1のピン10と第2のピン20との間隔を広げている。
In this modification, a
〔変形例4〕
図8は、本変形例に係る高周波回路装置の一部を模式的に示す概略拡大図である。
[Modification 4]
FIG. 8 is a schematic enlarged view schematically showing a part of the high-frequency circuit device according to this modification.
図8に示すように、本変形例に係る放射波吸収回路100は、第1のピン10と第2のピン20との間に、非接続ピン30と、第2の非接続ピン40と、外部部品として一方の端部が非接続ピン30に接続され、他方の端部が接地されたキャパシタC11を有する。ここで、非接続ピン30と第2の非接続ピン40とは、ワイヤボンディングされている。なお、変形例3とは異なり、第3のパッド5cおよび第4のパッド5dは電気的に接続されていない。
As shown in FIG. 8, the radiation
本実施例に係る高周波回路装置によれば、高周波回路1の信号経路と直接接続されていない非接続ピン30と、非接続ピン30と接続された外付部品とを含む放射波吸収回路100により、第1のピン10から第2のピン20に放射される不要波を吸収することができる。その結果、第1のピン10と第2のピン20との間のアイソレーション特性を向上させることができる。
また、外付部品を交換することにより共振周波数を変えることができるので、不要波の周波数に相当する周波数に共振回路の特性を合わせ込むことが容易にできる。なお、本実施例に係る高周波回路装置においては、アイソレーション特性を確保するために複数の接地ピンやNCピンを配置する必要がないので、アイソレーション特性のためにパッケージサイズが大きくなることがない。また、接地された外付部品を形成するプロセスのみを追加すればよく、また、汎用のパッケージを用いることができるので、容易に製造することができる。
According to the high-frequency circuit device according to the present embodiment, the radiation
Further, since the resonance frequency can be changed by exchanging external parts, it is possible to easily match the characteristics of the resonance circuit to the frequency corresponding to the frequency of the unnecessary wave. In the high-frequency circuit device according to the present embodiment, since it is not necessary to arrange a plurality of ground pins and NC pins in order to ensure the isolation characteristics, the package size does not increase due to the isolation characteristics. . Further, it is only necessary to add a process for forming a grounded external part, and since a general-purpose package can be used, it can be easily manufactured.
具体的には、変形例1などに示すように外付部品をキャパシタC11あるいはインダクタL11とすることで、それらの容量あるいはインダクタ成分を調整することにより、放射波吸収回路100の共振周波数を変えることができる。
Specifically, as shown in
また、変形例2〜4に示すように、第1のピン10と第2のピン20との間に、非接続ピン30および第2の非接続ピン40を設置することによって、非接続ピンとワイヤとによって構成されるインダクタ成分を増やし、第1の接続ピン10と第2の接続ピン20との間隔を広げることができる。
Moreover, as shown in the modified examples 2 to 4, the non-connecting pin and the wire are provided by installing the
次に、本発明の実施例2について図面を参照して記述する。
なお、上記の実施例1と同様の部分は番号を同じくし、記載を省略し、以下、異なる部分についてのみ記述する。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
In addition, the same part as said Example 1 has the same number, description is abbreviate | omitted, and only a different part is described hereafter.
図9は、本実施例に係る高周波回路装置の一部を示す概略上面図である。図9に示す高周波回路装置は、たとえば、1つの周波数信号を送受信する。 FIG. 9 is a schematic top view showing a part of the high-frequency circuit device according to this embodiment. The high frequency circuit device shown in FIG. 9 transmits and receives one frequency signal, for example.
図9に示す高周波回路装置は、高周波回路51と、増幅回路52と、外部リード53と、それぞれの回路と外部リード53とを電気的に接続するワイヤとがパッケージに搭載されて構成されている。また、図示は省略するが、上記の高周波回路装置は、外部リード53を介して複数の外部部品と接続されている。
The high-frequency circuit device shown in FIG. 9 includes a high-
図9に示す高周波回路装置が搭載されたパッケージは、長方形の長手方向の1辺にそれぞれ13つのピンを有する汎用パッケージである。
高周波回路51は、パワーアンプ系素子であって、入力された信号を増幅する回路である。増幅回路52は、RF信号を増幅し、これを電圧制御発信回路VCOの発振信号と混合する。外部リード53は、外部に高周波回路51および増幅回路52と外部部品とを接続する。ここで、外部リード53を入出力を行うピンとも称する。
The package on which the high-frequency circuit device shown in FIG. 9 is mounted is a general-purpose package having 13 pins on one side in the longitudinal direction of the rectangle.
The high-
図10は、図9に示す高周波回路装置の高周波回路51および増幅回路52の等価回路および端子配列を示す概略図である。
FIG. 10 is a schematic diagram showing an equivalent circuit and terminal arrangement of the high-
高周波回路装置は、外部部品として、アンテナANTと、送信用整合回路Z10と、パワーアンプ入力部PINと、ローカル発振信号入力部LOIN、ローカル発振信号電源部VDD(LO AMP)などを有する。これらの外付部品は、外部リード53を介して高周波回路51あるいは増幅回路52と接続されている。
図10に示す高周波回路51は、パワーアンプPAと、スイッチSWとを有する。パワーアンプPAは、たとえば、送信用回路から入力された信号を増幅し、整合回路Z10に入力する。スイッチSWは、アンテナANTから入力された信号を送信側と受信側とに振り分ける。増幅回路52は、受信された信号をローノイズアンプLNAで増幅し、これをローカル発振信号LOと混合し、IF信号として出力する。
High-frequency circuit device, as an external component, comprises an antenna ANT, a transmission matching circuit Z10, and a power amplifier input P IN, local oscillation signal input unit LO IN, and local oscillator signal power supply unit V DD (LO AMP) . These external components are connected to the high-
A
ここで、ローノイズアンプLNAにおいて、増幅されたローカル発振信号LOが、ローカル発振信号入力ピンLOINおよびローカル発振信号電源部VDD(LO AMP)の外部リードをアンテナとして、たとえば、アンテナANTの外部リード(ピン)に不要波として放射される。 Here, in the low noise amplifier LNA, the amplified local oscillation signal LO is output from the local oscillation signal input pin LO IN and the external oscillation signal power source V DD (LO AMP) as an antenna. (Pin) is emitted as an unwanted wave.
そこで、ローカル信号電源部VDD(LO AMP)のピンの近傍に放射波吸収回路110を設置する。本実施例においては、たとえば、RF発振信号電源部VDD(RF AMP)のピンと隣り合うピンに放射波吸収回路110を設置する。
本実施例に係る放射波吸収回路110は、増幅回路52に接続されていないパッドにワイヤボンディングされた非接続ピンと、外部部品として一方の端部が非接続ピンに接続され、他方の端部が接地されたキャパシタC110とを有する。ここで、請求項4の第1の外部リードの一実施態様がローカル信号電源部VDD(LO AMP)のピンに相当し、第2の外部リードの一実施態様が非接続ピンに相当する。
放射波吸収回路110は、ワイヤおよび非接続ピンのインダクタ成分Lと、非接続ピンの他方の端部に接続されたキャパシタC110とにより、LC直列共振回路を構成している。
Therefore, the radiation
The radiation
The radiated
また、上記の共振回路の共振周波数は、キャパシタC110の容量などの外付部品によって調整される。たとえば、ローカル発振信号電源部VDD(LO AMP)のピンから放射される不要波の周波数が共振回路の共振周波数に相当するように、キャパシタC110の容量を設定する。 The resonance frequency of the resonance circuit is adjusted by an external component such as the capacitance of the capacitor C110. For example, the capacitance of the capacitor C110 is set so that the frequency of the unwanted wave radiated from the pin of the local oscillation signal power supply unit V DD (LO AMP) corresponds to the resonance frequency of the resonance circuit.
本実施例に係る高周波回路装置によれば、高周波回路51の信号経路と直接接続されていない非接続ピンと、非接続ピンと接続されたキャパシタC110とを含む放射波吸収回路110により、ローカル発振信号電源部VDD(LO AMP)のピンから放射される不要波を吸収することができる。ここで、不要な放射波を発するローカル発振信号電源部VDD(LO AMP)のピンの近傍に、放射波吸収回路110が設置されている。その結果、第1のピン10と第2のピン20との間のアイソレーション特性を向上させることができる。
その他、上記の実施例1と同様の効果が得られる。なお、放射波吸収回路110は、上記の実施例1と同様に様々な変形例が可能である。
According to the high frequency circuit device according to the present embodiment, the local oscillation signal power supply is provided by the radiation
In addition, the same effects as those of the first embodiment can be obtained. The radiation
本発明の高周波回路装置は、上記の実施形態に限定されない。
例えば、放射波吸収回路100,110は、不要な放射波を発するピンの両側に設置してもよい。また、搭載される回路や用いるパッケージによって、第1および第2のピンの間に放射波吸収回路100が設置され、あるいは、第1のピンの配列方向の少なくとも一方側の近傍に放射波吸収回路110が設置されていればよい。
その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
The high-frequency circuit device of the present invention is not limited to the above embodiment.
For example, the radiation
In addition, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
1,51…高周波回路、2…ロジック回路、3、53…外部リード、4…チップ、5a…第1のパッド、5b…第2のパッド、5c…第3のパッド、5d…第4のパッド、10…第1のピン、20…第2のピン、30…非接続ピン、40…第2の非接続ピン、52…増幅回路、100、110…放射波吸収回路
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記高周波回路の外部リードは、第1および第2の外部リードを有し、
前記第1および第2の外部リード間に、前記高周波回路部品の信号経路に接続されていない第3の外部リードを1つの回路部品として構成され、前記第1の外部リードから前記第2の外部リードに放射される不要波を吸収する回路特性の放射波吸収回路が設けられており、
前記放射波吸収回路は、前記第3の外部リードをインダクタとして含むLC直列共振回路であり、前記共振回路の共振周波数は、前記第1の外部リードから前記第2の外部リードへ漏れる信号の周波数に相当する
高周波回路装置。 It has a high frequency circuit components, and said high frequency circuit components plurality of external components connected to external leads of,
The external leads of the high-frequency circuit have first and second external leads,
A third external lead not connected to the signal path of the high-frequency circuit component is configured as one circuit component between the first and second external leads, and the second external lead is connected to the second external lead. A radiation wave absorption circuit with circuit characteristics to absorb unwanted waves radiated to the lead is provided .
The radiation wave absorption circuit is an LC series resonance circuit including the third external lead as an inductor, and a resonance frequency of the resonance circuit is a frequency of a signal leaking from the first external lead to the second external lead. High-frequency circuit device equivalent to
請求項1記載の高周波回路装置。 The high-frequency circuit device according to claim 1, wherein the radiation wave absorption circuit includes an external component of a capacitor or an inductor having one end connected to the third external lead and the other end grounded.
前記高周波回路の外部リードは、前記高周波回路の動作時に不要な放射波を発する第1の外部リードを有し、
前記第1の外部リードの配列方向の少なくとも一方の側の近傍に、前記高周波回路部品の信号経路に接続されていない第2の外部リードを1つの回路部品として構成され、前記高周波回路部品の動作時において前記第1の外部リードの放射波を吸収する回路特性を有する放射波吸収回路が設けられており、
前記放射波吸収回路は、前記第3の外部リードをインダクタとして含むLC直列共振回路であり、前記共振回路の共振周波数は、前記第1の外部リードから放射される信号の周波数に相当する
高周波回路装置。 It has a high frequency circuit components, and said high frequency circuit components plurality of external components connected to external leads of,
The external lead of the high-frequency circuit has a first external lead that emits an unnecessary radiation wave during operation of the high-frequency circuit ,
The second external lead not connected to the signal path of the high-frequency circuit component is configured as one circuit component near at least one side in the arrangement direction of the first external lead, and the operation of the high-frequency circuit component A radiation wave absorption circuit having a circuit characteristic of absorbing the radiation wave of the first external lead at the time,
The radiation wave absorption circuit is an LC series resonance circuit including the third external lead as an inductor, and a resonance frequency of the resonance circuit corresponds to a frequency of a signal radiated from the first external lead. apparatus.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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JP2003373023A JP4168909B2 (en) | 2003-10-31 | 2003-10-31 | High frequency circuit equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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