JP4134002B2 - 検査方法、検査装置及び検査プログラム - Google Patents
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Description
また、上記の従来技術では複数の同じ検査を同時に実行可能な場合において有効であるが、同時に検査できない異なる検査間においては測定器のレンジ切り替え時間が発生する。
本発明の他の目的は、特別な測定装置を用いることなく、検査する検査装置を制御することにより計測レンジ切り替え不要とする検査方法、検査装置及び検査プログラムを提供することである。
本発明の他の目的は、従来のものと比較して、高分解能及び高ダイナミックレンジを両立できる検査方法、検査装置及び検査プログラムを提供することである。
本発明の他の目的は、製品製造検査の時間短縮により、電子機器の生産量を向上することができる検査方法、検査装置及び検査プログラムを提供することである。
前記測定後、前記電子装置(1000)に制御コマンドを送信し、前記電子装置(1000)の第2音声増幅部(350)のゲインを変更するステップと、
前記変更されたゲインを保持しつつ、前記第2音声増幅部(350)からの出力信号を前記第1電圧レンジ(高電圧レンジH)で測定するステップとを具備する。
また、前記測定部(1020)の測定レンジを固定した状態で、前記電子装置に制御コマンドを送信して、前記電子装置(1000)の出力回路のゲインの設定を変更する。
また、前記差動入力回路(1050)が、前記差動入力回路(1050)の出力信号を前記電子装置(1000)の音声入力部に入力する。
前記測定後、前記電子装置(1000)に制御コマンドを送信し、前記電子装置(1000)の第2音声増幅部(350)のゲインを変更するステップと、
前記変更されたゲインを保持しつつ、前記第2音声増幅部(350)からの出力信号を前記第1電圧レンジ(高電圧レンジH)で測定するステップとを具備する。
音声通信回路や音響再生回路の検査にあたって、通常検査と同様な設備でかつ新たな回路を追加することなく検査時間の短縮ができるため、より安価に製造できる。
例えば、音声通信回路出力信号レベルや各種音響再生回路出力信号レベルを電圧計で測定することを、異なる複数の検査方法にて製造検査する場合、つまり、複数の検査におけるそれぞれ信号レベルの測定にて全ての接続箇所の半田付けに問題がないか否かを製造検査する場合に、前記の全接続ポイントを半田付け確認するため、それぞれの検査における音声・音響出力回路出力検査項目の信号レベル測定を行う際に必要なレベル測定を実施する電圧計の測定レンジを切り替える制御をなくす。そして、それら出力回路のゲイン設定値を制御コマンド使用して初期設定値から変更することで、測定レンジ切り替え時間を削除することで総合検査時間を短縮する。
図1を基に本発明の構成要素を説明する。ここでは具体的な電子機器として携帯電話を例にする。但し、実際には、電子機器は携帯電話に限定されるものではない。
本発明の第1実施形態では、携帯電話1000、制御PC2000、検査治具3000が用いられる。
なお、制御PC2000はPCに限定されるものではなく、検査治具3000から出力信号を受け取り、携帯電話1000に制御コマンドを送信することができる装置であれば良い。
CPU(中央演算処理装置)100は、音声を送受信できるよう接続先LSIを制御するなど携帯電話1000の制御全般を司る。また、CPU100は、オーディオIC300内部の各種AMPのゲインをシリアルI/F(インターフェース)により設定する機能、発信音声(上り音声)信号パスを応答音声(下り音声)信号パスに接続可能とするスイッチ、音声信号をソフトウェアでデジタル処理するためのSpeech DSP_I/F(インターフェース)を備える。ここで、DSP(Digital Signal Processor)とは、音声や画像などの処理に特化したマイクロプロセッサのことである。
オーディオIC300は、上りパスゲイン設定部310、下りパスゲイン設定部320やオーディオ回路ゲイン設定部330、スピーカAMP(speaker amplifier)部350、ヘッドホンAMP(headphone amplifier)部340及びレジスタ部360を備え、そのレジスタ部360の設定値によりデジタルゲイン設定部のゲインあるいはスピーカAMP部350のようなアナログAMPのゲインを設定変更可能な機能を有する。
音声出力部500は、通信相手先から受信した音声を出力する。
ヘッドホンジャック600は、音声信号を入出力可能なイヤホンマイク及び着信音を出力可能なイヤホンレシーバを接続するためのインターフェースを備える。
スピーカ700は、ヘッドホンジャック600と同様に着信音を出力する。
無線部900は、音声信号を送受信するための無線信号に変換する機能を備える。
メモリLSI800は、初期設定の設定値を保存している。
上りパスゲイン設定部310は、通信相手への発信音声(上り側)信号のゲインをアナログAMP313、A/D(アナログ/デジタル)変換部312及びデジタルゲイン設定部311により設定する。
低周波発生部1010は、1KHZ程度の正弦波信号出力機能を持つ。
電圧計1020は、信号レベル測定装置である。
リレースイッチ1030は、TP10、TP30、TP50〜80からの出力信号のうちどの信号を差動加算回路1040に入力するか切り替えるスイッチング機能を持つ。
差動加算回路1040は、リレースイッチ1030からの2つの出力信号を差動入力として合成出力する。
差動入力回路1050は、TP20及びTP40へ差動信号を出力する。
当該回路はリレースイッチ1030から負極入力信号と正極入力信号、2つの入力信号を受け取る。負極入力信号は直列に接続されたコンデンサC1と抵抗R1を経由し、正極入力信号は直列に接続されたコンデンサC2と抵抗R2を経由して差動増幅器、ここではオペアンプ(Operational amplifier)の負極と正極にそれぞれ入力される。
オペアンプの出力はコンデンサC3を経由して出力される。ここで、抵抗R1とオペアンプの間のノードは、オペアンプとコンデンサC3の間のノードと、抵抗R3を介して接続されている。
また、一方が接地されたコンデンサC4の他方は、抵抗R2とオペアンプの間のノードと抵抗R6を介して接続されている。更に、コンデンサC4と抵抗R2の間のノードは、抵抗R4を介して電源と接続され、抵抗R5を介して接地されている。
なお、オペアンプは差動増幅器の例であり、実際にはオペアンプに限定されるものではない。
当該回路は低周波発生部1010から負極入力信号を受け取る。その入力信号は直列に接続されたコンデンサC1と抵抗R1を経由して第1オペアンプの負極に入力され、コンデンサC2を経由して第2オペアンプの正極に入力される。
第1オペアンプの出力はコンデンサC3を経由して負極出力信号として出力される。ここで、抵抗R1と第1オペアンプの間のノードは、第1オペアンプとコンデンサC3の間のノードと、抵抗R2を介して接続されている。
また、一方が接地されたコンデンサC4の他方は、抵抗R5を介して、コンデンサC2と第2オペアンプの正極の間のノードに接続されている。コンデンサC4と抵抗R5の間の第1ノードは第1オペアンプの正極に接続されている。コンデンサC4と第1ノードの間の第2ノードは抵抗R3を介して電源と接続され、抵抗R4を介して接地されている。
第2オペアンプの出力はコンデンサC5を経由して正極出力信号として出力される。ここで、第2オペアンプの負極は、第2オペアンプと出力側コンデンサの間のノードと接続されている。
なお、第1、第2オペアンプは差動増幅器の例であり、実際にはオペアンプに限定されるものではない。
基本的に図1の構成と構成上の異なる部分は存在しない。しかし、レジスタ部360と上り/下りパスゲイン設定部310、320、オーディオ回路ゲイン設定部330、スピーカAMP部350及びヘッドホンAMP部340との接続線を記述しないことで、従来の検査では音声通信出力信号や、音響再生出力信号であるスピーカ出力信号及びヘッドホン出力信号の出力レベルをCPU100からシリアルI/Fを使用してオーディオIC300にメモリLSI800に保存されている初期値を展開して、それぞれの回路のゲイン設定が初期値として設定されたまま検査することを示している。
音声通信出力信号レベルA、音響再生回路であるスピーカ出力信号レベルB及びヘッドホン出力信号レベルCの信号レベルをそれぞれ電圧計で測定するにあたって、各出力信号A、B、Cの出力信号レベル最大値が電圧計1020のある1レンジのみで測定できるとは限らなかった。そのため、初期設定の如何によっては出力信号A、B、Cのいずれかを計測するにあたって測定レンジの切り替えをする必要がある場合が存在し、1台の携帯電話の製造検査にあたって各種出力信号A、B、Cを測定するために電圧計1020の測定レンジを切り替えるという無駄な時間が存在していた。
言い換えると、出力信号A、Cの電圧レベル最低値が低電圧レンジ(lowレンジ)で測定できる最大値より高い信号レベルであり、出力信号Bの測定では電圧計1020の測定レンジを低電圧レンジLで測定しなければならないと仮定する。
なお、ここでは図4Aと同様に、音声通信出力信号レベルA、音響再生回路であるスピーカ出力信号レベルB及びヘッドホン出力信号レベルCの信号レベルをそれぞれ電圧計で測定するにあたって、出力信号A、Cの電圧レベル最低値が低電圧レンジ(lowレンジ)で測定できる最大値より高い信号レベルであり、出力信号Bの測定では電圧計1020の測定レンジを低電圧レンジLで測定しなければならないと仮定する。
図4Bが図4Aと異なる点は、S423における処理だけである。
S421、S422、S424については、それぞれS411、S412、S414と同様である。
従って、従来の検査手順では、電圧計レンジを高電圧レンジHから低電圧レンジLに変更する(ステップS423)という処理が、前記(ステップS413)の代わりに実行されている。
この処理の違いにより、本発明は従来の検査手順より検査時間の短縮ができる。
例えば、従来の検査手順では、測定用の電圧計1020での電圧レンジの切り替え時間がおよそ0.5sec程度必要であったとする。他方、本発明のスピーカAMP部350のゲインを変更する制御コマンドの送受信(応答)時間はおよそ0.1sec程度であり、差分として1台につき約0.4sec検査時間の短縮ができることになる。
図5Aにおいて、図1と大きく異なる点は検査冶具3000の構成部で電圧検出回路1500を備えること、電圧計1020が不要であることである。
この電圧検出回路1500は図5Bの通りの回路構成となっており、反転型・半波整流回路1510と、Detector回路1520と、ラッチ回路1530とを備える。
カップリングコンデンサは、前記反転型・半波整流回路1510出力の正弦波信号から直流分をカットする。
プルダウン抵抗は、Detector回路1520の電圧検出部を論理不定とせぬための抵抗である。
逆に、ある閾値電圧D未満で電圧検出した場合、検出出力として「high電圧」(論理「1」)を出力する。
ここで第1実施形態と異なる点について概要説明する。第1実施形態では、音声通信機能回路の検査(音声入力部400と音声出力部500に接続するラインの接続確認)と音響再生回路の検査(FM音源LSI200の出力データをスピーカ700にて出力するスピーカ700に接続するラインの接続確認及びFM音源LSI200の出力データをヘッドホンジャック600にて出力するヘッドホンジャック600に接続するラインの接続確認)について、それら3つの出力信号レベルを電圧計1020で測定し、測定にあたって電圧計1020の測定レンジ切り替え時間を不要にするためCPU100からオーディオIC300に対してシリアルI/F信号を用いてゲイン変更するブロックのゲイン変更(先例では、スピーカAMP部350のゲインを初期値より高く設定)することにより実現し、結果として総合の検査時間を短縮していた。
CPU100からヘッドホン出力するようにFM音源LSI200とオーディオIC300を制御し、ヘッドホン出力信号Cが出力されるよう設定する(ステップS601)。
ここで、前記(ステップS602)の設定から、正常に回路が半田付け接続されている場合、反転型・半波整流回路1510から出力されるプラス電位の正弦波整流電圧は確実に閾値電圧D以上としてDetector回路1520で検出される。
ここで、前記(ステップS602)の設定から、正常に回路が半田付け接続されていない場合、反転型・半波整流回路1510から出力されるプラス電位の正弦波整流電圧は確実に閾値電圧D未満であるためDetector回路1520で閾値電圧D以上として検出されない。
20… TP(テストポイント)
30… TP(テストポイント)
40… TP(テストポイント)
50… TP(テストポイント)
60… TP(テストポイント)
70… TP(テストポイント)
80… TP(テストポイント)
100… CPU
200… FM音源LSI
300… オーディオIC
310… 上りパスゲイン設定部
311… デジタルゲイン設定部
312… A/D(アナログ/デジタル)変換部
313… アナログAMP部
320… 下りパスゲイン設定部
321… デジタルゲイン設定部
322… A/D(アナログ/デジタル)変換部
323… アナログAMP部
330… オーディオ回路ゲイン設定部
331… デジタルゲイン設定部
332… A/D(アナログ/デジタル)変換部
340… ヘッドホンAMP(HPAMP)
350… スピーカAMP(SPKAMP)
360… レジスタ部
400… 音声入力部
500… 音声出力部
600… ヘッドホンジャック
700… スピーカ
800… メモリLSI
900… 無線部
1000… 携帯電話
1010… 低周波発生部
1020… 電圧計
1030… リレースイッチ
1040… 差動加算回路
1050… 差動入力回路
1500… 電圧検出回路
1510… 反転型・半波整流回路
1520… Detector回路
1530… ラッチ回路
2000… 制御PC
3000… 検査治具
Claims (10)
- 電子装置の第1音声増幅手段からの出力信号の電圧を所定の電圧レンジで測定する電圧測定手段と、
前記電圧測定手段での測定レンジを前記所定の電圧レンジに固定した状態で、前記電子装置に制御コマンドを送信し、前記電子装置の第2音声増幅手段のゲインを調整し、測定レンジ切り替え時間を削減することを図る制御手段と
を具備し、
前記電圧測定手段は、前記調整されたゲインを保持しつつ、前記第2音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定する
検査装置。 - 請求項1に記載の検査装置であって、
前記電圧測定手段は、前記電子装置からの出力信号を入力とし、前記出力信号の電圧レベルが閾値以上であれば、現在の第1論理レベルから第2論理レベルに論理が切り替わるため、正常に回路接続されていると判定し、前記出力信号の電圧レベルが閾値未満であれば、前記第1論理レベルの状態を維持し、論理の切り替わりがないため、正常に回路接続されていないと判定する
検査装置。 - 請求項2に記載の検査装置であって、
前記電圧測定手段は、
前記電子装置からの複数の出力信号のうち2つを選択する選択手段と、
前記選択された出力信号を加算し出力する差動加算手段と、
前記差動加算手段の出力の正弦波信号のプラス側電圧分を除き、マイナス側電圧をプラス出力に反転する反転型・半波整流手段と、
前記反転型・半波整流手段の出力の正弦波信号から直流分を除く直流分除外手段と、
前記直流分を除いたプラス電圧の半波整流信号を入力として、前記半波整流信号の電圧レベルが閾値未満なら第1信号、前記半波整流信号の電圧レベルが閾値以上なら第2信号を出力する検出手段と、
前記検出手段の出力を入力として、前記第1信号を受けた場合、出力状態を前記第1論理レベルで出力し続け、前記第2信号を受けた場合、出力状態を前記第1論理レベルから前記第2論理レベルに変更し、変更後の状態を保持するラッチ手段と
を具備する
検査装置。 - 請求項3に記載の検査装置であって、
前記電子装置は、内部のCPUからシリアルI/F(インターフェース)信号を使用して前記第1音声増幅手段及び前記第2音声増幅手段のゲインを調整し、音響再生出力信号を、前記第1音声増幅手段に接続されたスピーカ、及び前記第2音声増幅手段に接続されたヘッドホンから出力し、
前記電圧測定手段は、前記電子装置からの音声通信出力信号の電圧レベル、音響再生出力信号であるスピーカ出力信号の電圧レベル、及びヘッドホン出力信号の電圧レベルをそれぞれ測定する際に出力レベルをそのまま測定せず、出力OFF状態から出力ON状態での出力論理の切り替わりを確認し、前記切り替わりに応じて検査の合否判定を行う
検査装置。 - 電子装置の第1音声増幅手段からの出力信号の電圧を所定の電圧レンジで測定するステップと、
測定レンジを前記所定の電圧レンジに固定した状態で、前記電子装置に制御コマンドを送信し、前記電子装置の第2音声増幅手段のゲインを調整し、測定レンジ切り替え時間を削減することを図るステップと、
前記調整されたゲインを保持しつつ、前記第2音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定するステップと
を含む
検査方法。 - 請求項5に記載の検査方法であって、
前記電子装置からの出力信号を入力とし、前記出力信号の電圧レベルが閾値以上であれば、現在の第1論理レベルから第2論理レベルに論理が切り替わるため、正常に回路接続されていると判定し、前記出力信号の電圧レベルが閾値未満であれば、前記第1論理レベルの状態を維持し、論理の切り替わりがないため、正常に回路接続されていないと判定するステップ
を更に含む
検査方法。 - 請求項6に記載の検査方法であって、
前記第2音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定する際に、
前記電子装置からの複数の出力信号のうち2つを選択するステップと、
前記選択された出力信号を加算し出力するステップと、
前記加算された出力信号のうち正弦波信号のプラス側電圧分を除き、マイナス側電圧をプラス出力に反転するステップと、
前記正弦波信号から直流分を除く直流分除外手段と、
前記直流分を除いたプラス電圧の半波整流信号の電圧レベルが閾値未満なら第1信号、前記半波整流信号の電圧レベルが閾値以上なら第2信号を出力するステップと、
前記第1信号を受けた場合、出力状態を前記第1論理レベルで出力し続け、前記第2信号を受けた場合、出力状態を前記第1論理レベルから前記第2論理レベルに変更し、変更後の状態を保持するステップと
を更に含む
検査方法。 - 電子装置の第1音声増幅手段からの出力信号の電圧を所定の電圧レンジで測定するステップと、
測定レンジを前記所定の電圧レンジに固定した状態で、前記電子装置に制御コマンドを送信し、前記電子装置の第2音声増幅手段のゲインを調整し、測定レンジ切り替え時間を削減することを図るステップと、
前記調整されたゲインを保持しつつ、前記第2音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定するステップと
を検査装置に実行させるための
検査プログラム。 - 請求項8に記載の検査プログラムであって、
前記電子装置からの出力信号を入力とし、前記出力信号の電圧レベルが閾値以上であれば、現在の第1論理レベルから第2論理レベルに論理が切り替わるため、正常に回路接続されていると判定し、前記出力信号の電圧レベルが閾値未満であれば、前記第1論理レベルの状態を維持し、論理の切り替わりがないため、正常に回路接続されていないと判定するステップ
を更に検査装置に実行させるための
検査プログラム。 - 請求項9に記載の検査プログラムであって、
前記第2音声増幅手段からの出力信号の電圧を前記所定の電圧レンジで測定する際に、
前記電子装置からの複数の出力信号のうち2つを選択するステップと、
前記選択された出力信号を加算し出力するステップと、
前記加算された出力信号のうち正弦波信号のプラス側電圧分を除き、マイナス側電圧をプラス出力に反転するステップと、
前記正弦波信号から直流分を除く直流分除外手段と、
前記直流分を除いたプラス電圧の半波整流信号の電圧レベルが閾値未満なら第1信号、前記半波整流信号の電圧レベルが閾値以上なら第2信号を出力するステップと、
前記第1信号を受けた場合、出力状態を前記第1論理レベルで出力し続け、前記第2信号を受けた場合、出力状態を前記第1論理レベルから前記第2論理レベルに変更し、変更後の状態を保持するステップと
を更に検査装置に実行させるための
検査プログラム。
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