JP4093344B2 - Method for producing nano-fine structure - Google Patents
Method for producing nano-fine structure Download PDFInfo
- Publication number
- JP4093344B2 JP4093344B2 JP2002084042A JP2002084042A JP4093344B2 JP 4093344 B2 JP4093344 B2 JP 4093344B2 JP 2002084042 A JP2002084042 A JP 2002084042A JP 2002084042 A JP2002084042 A JP 2002084042A JP 4093344 B2 JP4093344 B2 JP 4093344B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- metal
- hydrogen
- alloy
- terminated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、SiやSiC等の半導体基板表面の任意の位置にナノ微細構造体を形成することができるナノ微細構造体の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
AuとSiによって形成されるナノ触媒によって自己組織化成長するSiナノウィスカーは、一般のSiにない、可視発光現象やコンダクタンス等の特性によって、近年活発に研究開発がなされている。
【0003】
例えば、特開平5−320000号公報に開示されているSi針状結晶の製造方法がある。このものは、Si基板上の所望の位置にSiと合金をつくる金属層を形成する。そして、この基板を〔SiCl4〕/〔H2〕の混合ガス中に適正な基板の位置に設置し〔SiCl4〕/〔H2〕の適正なモル比でVLS成長法によって針状結晶を成長させるものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、VLS成長させる際にSi基板と合金をつくる金属を溶融する必要があるが、この際に、金属が溶融し、基板上を移動してしまい、当初配置した所望の位置から金属が移動してしまうことがあり、ナノスケールでの正確な位置決めができないでいた。
【0005】
そこで、本発明者らは、鋭意研究の結果、基板表面を水素終端し、その後、金属層を形成することで、前述の特開平5−320000号公報に開示されている方法に比較して容易にかつ高アスペクト比の針状結晶を形成できることを見出し、APPLIED PHYSICS LETTERS(Vol.73,No.25,21 Dec.1998,p.3700−3702)に発表した。
【0006】
ところが、依然としてナノスケールでの位置決め制御が可能な自己組織化結晶の形成が困難であった。
【0007】
本発明は、高品質のナノ微細構造体を所望の位置にナノスケールで位置決め制御可能なナノ微細構造体の製造方法を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明者らは、引き続き鋭意研究を行い、基板表面を水素終端し、その水素終端した表面の水素原子を選択的に除去し、その水素原子が除去された部分に金属層を形成させてVLS成長させる。すると、表面の水素原子を除去していない部分が、マスクの役割を果たし、溶融時の金属の移動を拘束することによって、当初配置した所望の位置から金属が移動せずにその場で自己組織化結晶を成長させ、所望の位置にナノスケールで位置決めできるとともに、任意の形状のナノ微細構造体を形成できることを見出し、本発明を完成した。
【0009】
すなわち、本発明のナノ微細構造体の製造方法は、基板表面を水素終端し、その表面の水素原子を選択的に除去して基板を露出させ、露出した基板表面に基板と合金を形成する金属を接触させるように配置し、表面の水素原子が脱離せず、かつ、金属が溶融する温度に加熱してVLS成長を行い、基板表面にナノ微細構造体を形成するものである。また、水素終端した基板表面の水素原子を、任意のパターンとなるように電子ビームで除去した後、基板表面に基板と合金を形成する金属を被覆して基板と金属とを接触させるものである。また、水素終端した基板表面に、基板と合金を形成する金属からなる金属イオンビームを照射して、基板表面の水素原子を選択的に除去するとともに、金属を基板と接触させるように配置するものである。また、基板が、Si、SiCのいずれかであるものである。また、基板と合金を形成する金属が、Au、Fe、Pt、Ni、Pd、Cu、Gd、Mg、Osのいずれかであるものである。中でも、Au、Feが基板との共晶温度が基板表面の水素終端の水素原子の脱離温度よりも低いことから好ましい。
【0010】
このように、基板表面を水素終端して、その表面の水素原子を選択的に除去し、除去した部分に選択的に金属層を形成することによって、基板と金属とが接触し、VLS成長法によって自己組織化結晶が成長する。水素終端した表面の水素原子を除去したパターン形状によって、VLS成長して形成される自己組織化結晶の形状を従来の針状のみならず、円筒状、直方体状等の各種形状に成長させることが可能となる。また、これらをナノスケールで位置決め制御することが可能となる。
【0011】
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態の一例を説明する。
【0012】
先ず、所定の結晶方位のSi単結晶基板1を準備する。この基板1の表面をアセトン等で脱脂した後、この基板1の表面に形成されている自然酸化膜を除去するとともに、表面を水素終端することを目的に化学溶液に浸漬する。使用する化学溶液は、自然酸化膜を除去できるものであれば特に限定されず、例えば、NH4F(40重量%、pH:7〜8)等の溶液を使用することができる。これによって、表面を水素終端することができる。
【0013】
次いで、この基板1の水素終端された表面2の水素原子を選択的に任意のパターン3となるように除去し、水素原子を除去し、基板1を露出させて基板1と合金を形成する金属を配置する。
【0014】
基板1の水素終端された表面2の水素原子を選択的に除去する方法としては、電子ビーム等によって所望のパターンを描画することによって、水素終端の水素原子を選択的に除去する方法が例示できる。このとき、電子ビームに代えて、例えば、Au、Fe、Pt、Ni、Pd、Cu、Gd、Mg、Os等の金属、好ましくはAu、Feからなる金属イオンビームを照射して、所望のパターン3を描画することもできる。このように金属イオンビームを照射した場合、表面2の水素原子が除去するとともに、照射された金属イオンがその部分に配置することが可能となる。電子ビーム等で、水素原子を除去した場合は、基板1と金属とを直接接触させるために、表面の水素原子を除去して所望のパターン3を描画した後、水素終端された表面2に金属を蒸着等によって被覆する。これらいずれの場合であっても、水素終端された表面2の水素原子が、金属と基板との直接の接触を防止するマスクとしての役割を果たす。
【0015】
このようにして、基板1の表面を水素終端し、その水素終端した表面2の一部の水素原子を選択的に除去してパターン3を描画した後に、基板1と合金を形成し得る金属を配置して、VLS成長を行う。なお、VLS成長法については、R.S.Wagner and W.C.Ellis:Appl.Phys.Lett.4,No.5,pp.89(1964)、Givargizov,J.Cryst.Growth,No.31,pp.20(1975)、R.S.Wagner,W.C.Ellis:Transactions of the Metallurgical Society of AIME,1965,Volume 233,pp.1053〜1064、「結晶工学ハンドブック」(共晶工学ハンドブック編集委員会編、共立出版)、に述べられている。
【0016】
この、VLS成長時には、水素終端した水素原子が脱離せず、かつ、金属と基板1とが反応する温度に加熱保持する必要がある。基板1として、例えば、Siを使用し、金属にAuを使用した場合は、SiとAuとの共晶温度である400℃以上であって、水素原子の脱離が開始する485℃以下で熱処理することが好ましい。また、基板1としてSiCを使用した場合は、SiCと合金を形成する金属である例えば、Feを使用した場合は、FeとSiCとの共晶温度(約1100℃)よりも高く、水素原子の脱離開始温度である1200℃以下で熱処理することが好ましい。水素終端した表面2の水素原子が脱離してしまうと、表面に配置された金属が溶融した場合に抑制するマスク効果がなくなり、金属が溶融した際に初期の配置場所から移動してしまい、ナノスケールでの位置決め制御ができなくなる。
【0017】
VLS成長によって、パターン3に配置された金属は、溶融した場合であっても、周囲の水素終端の水素原子によって表面上の移動を抑制されるため、図2のように、先端部に金属と基板との合金5を形成し、その下位に自己組織化結晶4となるナノ微細構造体を形成する事が可能となる。このナノ微細構造体は、図2に示すような構造体に限定されるものではなく、ウィスカー状のものは勿論であるが、円筒形、中空円筒形等、形成するパターンに合わせて種々の形状の自己組織化結晶を形成することができる。また、VLS成長時に、途中で供給ガスの種類を変えることによって、形成される自己組織化結晶4の結晶構造を変化させることも可能である。すなわち、同一構造体において、先端部の合金5の直下部分をp型に、途中その下位部分をn型となるようにVLS成長時の供給ガスの種類を変化させることで、ナノサイズの半導体素子を適宜形成することができる。
【0018】
なお、基板表面を水素終端する以外にも、基板表面に酸化物層を形成し、この酸化物層に所定のパターンを形成し酸化物マスクとする。そして、この酸化物層表面に基板と合金を形成する金属を配置し、金属が溶融する温度に加熱して、この金属を酸化物層が形成されていない基板と接触させてVLS成長を行い、合金を触媒として自己組織化結晶を形成させた後に、この酸化物マスクを除去してナノ微細構造体を作製することもできる。例えば、所定のパターンを有する酸化物マスクの作製方法としては、フォトリソグラフィ法等がある。この場合、表面のパターン形成部以外のSiO2等の酸化物層がマスクとなり、金属が溶融した際に溶融金属の基板表面上での移動が抑制され、所望の位置に位置決めされたナノ微細構造体を形成することが可能となる。
【0019】
また、自己組織化結晶はVLS成長法以外にも、レーザアブレッション法や、CVD法等によって成長させることも可能である。
【0020】
【実施例】
以下、実施例により本発明を具体的に説明する。なお、本発明は、以下の実施例に限定されるものではない。
結晶方位が(111)のSi単結晶基板の表面をアセトンで洗浄、脱脂後、NH4F(40重量%、pH:7〜8)溶液中に浸漬し、表面を水素終端した。この表面を水素終端したSi基板の表面に、図1に示すような1本の直線をAuの金属イオンビームによって描画した。これによって、水素終端した表面の一部の水素原子を選択的に除去し、その部分にAuを配置した。次いで、水素終端した基板の表面の一部の水素原子をAuに置換したものを、雰囲気制御が可能な炉内にセットする。そして、室温で1×10-4Pa以下の圧力下で、500℃で1時間熱処理を行った。その後、SiH4ガスを500℃、1×104Paで3分間供給した。これによって、基板表面には、図2に示すように、先端部にAu−Siの合金5が形成される。このVLS成長時において、供給されるSiH4ガスの余剰のSiが、Au−Siの合金5を触媒として、その下位部分にSi結晶4を形成していく。この自己組織化するSi結晶4の成長によって先端部の合金5が持ち上げられ、図2に示すような形状のナノ微細構造体の製造が可能となる。このナノ微細構造体の成長方向は、基板の結晶方位に依存する。すなわち、本実施例の場合においては、基板の結晶方位が(111)面であるため、このナノ微細構造体は(112)方向に成長するようになる。図2に示すナノ微細構造体は、その側面が直線的に図示しているが、微視的に見た場合、ジグザグ状になっている。
【0021】
このように、基板表面を水素終端し、その水素原子の一部を選択的に除去した後に基板と合金を形成する金属を基板と接触するように配置することによって、その周囲の水素終端された部分が、金属が溶融した時に基板表面を移動しないようにその動きを拘束させることができる。このため、ナノスケールで位置決め制御が可能となる。また、基板をNH4F等によって洗浄するだけで表面を水素終端することができ、フォトレジスト法等のように酸化物マスク等を形成する必要もない。このため、製造工程数を低減することが可能となる。
【0022】
【発明の効果】
本発明は、以上のように構成されており、基板表面を水素終端し、その表面の水素原子を選択的に除去して、その部分に金属を配置することによって基板と金属とを直接接触させて合金を形成させ、その合金を触媒として自己組織化結晶を成長させるものである。このため、所定形状のナノ微細構造体をナノスケールで位置決め制御することが可能となる。また、結晶の形成時に供給ガスの種類を変更することで、成長する結晶の結晶構造を途中で変化させることも可能であり、各種半導体素子としての可能性もある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るナノ微細構造体の製造方法を説明するための図である。
【図2】本発明に係るナノ微細構造体の製造方法で形成されるナノ微細構造体の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
1 基板
2 水素終端された表面
3 パターン
4 自己組織化結晶(Si結晶)
5 合金[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for producing a nanostructure, which can form a nanostructure at an arbitrary position on the surface of a semiconductor substrate such as Si or SiC.
[0002]
[Prior art]
In recent years, research and development has been actively conducted on Si nanowhiskers that are self-organized and grown by a nanocatalyst formed of Au and Si due to characteristics such as visible light emission phenomenon and conductance that are not found in general Si.
[0003]
For example, there is a method for producing Si needle crystals as disclosed in JP-A-5-320,000. This forms a metal layer that forms an alloy with Si at a desired position on the Si substrate. Then, the needle-like crystals by VLS growth method at a proper molar ratio of the substrate [SiCl 4] / [H 2] mixing was placed in a position proper substrate during gas [SiCl 4] / [H 2] It is something to grow.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, it is necessary to melt the metal that forms an alloy with the Si substrate when VLS is grown. At this time, the metal melts and moves on the substrate, and the metal moves from the desired initial position. Therefore, accurate positioning at the nanoscale has been impossible.
[0005]
Therefore, as a result of intensive studies, the inventors of the present invention can easily compare with the method disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 5-30000 by terminating the substrate surface with hydrogen and then forming a metal layer. In addition, it was found that a high-aspect-ratio needle-like crystal can be formed, and published in APPLIED PHYSICS LETTERS (Vol. 73, No. 25, 21 Dec. 1998, p. 3700-3702).
[0006]
However, it is still difficult to form self-assembled crystals that can be controlled in nanoscale positioning.
[0007]
An object of this invention is to provide the manufacturing method of the nano microstructure which can position-control a high quality nano microstructure to a desired position on a nano scale.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, the present inventors have continued intensive studies, hydrogen-terminated the substrate surface, selectively removing hydrogen atoms on the hydrogen-terminated surface, and portions where the hydrogen atoms have been removed. A metal layer is formed on the substrate and VLS is grown. Then, the portion of the surface where hydrogen atoms have not been removed acts as a mask, and restrains the movement of the metal during melting, so that the metal does not move from the desired initial position and self-organizes on the spot. The present inventors have found that a crystallized crystal can be grown and positioned on a nanoscale at a desired position, and a nanostructure having an arbitrary shape can be formed.
[0009]
That is, the method for producing a nanostructure of the present invention is a metal that terminates a substrate surface with hydrogen, selectively removes hydrogen atoms on the surface to expose the substrate, and forms an alloy with the substrate on the exposed substrate surface. Are placed in contact with each other, heated to a temperature at which the surface hydrogen atoms are not desorbed and the metal melts, and VLS growth is performed to form a nanostructure on the substrate surface. In addition, hydrogen atoms on the substrate surface terminated with hydrogen are removed with an electron beam so as to form an arbitrary pattern, and then the substrate surface is coated with a metal that forms an alloy with the substrate to bring the substrate and the metal into contact with each other. . In addition, the surface of the hydrogen-terminated substrate is irradiated with a metal ion beam made of a metal that forms an alloy with the substrate to selectively remove hydrogen atoms on the surface of the substrate and to place the metal in contact with the substrate. It is. Further, the substrate is one of Si and SiC. The metal forming the alloy with the substrate is any one of Au, Fe, Pt, Ni, Pd, Cu, Gd, Mg, and Os. Among these, Au and Fe are preferable because the eutectic temperature with the substrate is lower than the desorption temperature of the hydrogen terminal hydrogen atom on the substrate surface.
[0010]
In this way, the surface of the substrate is terminated with hydrogen, hydrogen atoms on the surface are selectively removed, and a metal layer is selectively formed on the removed portion, whereby the substrate and the metal are brought into contact with each other. As a result, self-assembled crystals grow. The shape of the self-assembled crystal formed by VLS growth can be grown not only in the conventional needle shape but also in various shapes such as a cylindrical shape and a rectangular parallelepiped shape by the pattern shape from which hydrogen atoms on the hydrogen-terminated surface are removed. It becomes possible. Moreover, it becomes possible to control the positioning of these on the nanoscale.
[0011]
Hereinafter, an example of an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0012]
First, a Si
[0013]
Next, the hydrogen atoms on the
[0014]
As a method for selectively removing hydrogen atoms on the
[0015]
In this way, after the surface of the
[0016]
During the VLS growth, it is necessary to heat and hold at a temperature at which hydrogen-terminated hydrogen atoms are not desorbed and the metal and the
[0017]
Even when the metal arranged in the
[0018]
In addition to hydrogen termination of the substrate surface, an oxide layer is formed on the substrate surface, and a predetermined pattern is formed on the oxide layer to form an oxide mask. Then, a metal that forms an alloy with the substrate is placed on the surface of the oxide layer, heated to a temperature at which the metal melts, this metal is brought into contact with the substrate on which the oxide layer is not formed, and VLS growth is performed. After forming a self-assembled crystal using an alloy as a catalyst, the oxide mask can be removed to produce a nano-fine structure. For example, a method for manufacturing an oxide mask having a predetermined pattern includes a photolithography method and the like. In this case, an oxide layer such as SiO 2 other than the pattern forming portion on the surface serves as a mask, and when the metal is melted, the movement of the molten metal on the substrate surface is suppressed, and the nano microstructure is positioned at a desired position. A body can be formed.
[0019]
In addition to the VLS growth method, the self-assembled crystal can be grown by a laser ablation method, a CVD method, or the like.
[0020]
【Example】
Hereinafter, the present invention will be described specifically by way of examples. The present invention is not limited to the following examples.
The surface of the Si single crystal substrate having a crystal orientation of (111) was washed with acetone, degreased, and then immersed in an NH 4 F (40 wt%, pH: 7 to 8) solution to terminate the surface with hydrogen. A straight line as shown in FIG. 1 was drawn on the surface of the Si substrate whose surface was hydrogen-terminated by a metal ion beam of Au. As a result, part of the hydrogen atoms on the hydrogen-terminated surface was selectively removed, and Au was disposed in that part. Next, a hydrogen atom-terminated substrate surface in which a part of hydrogen atoms is replaced with Au is set in a furnace in which atmosphere control is possible. And it heat-processed at 500 degreeC under the pressure of 1 * 10 <-4> Pa or less at room temperature for 1 hour. Thereafter, SiH 4 gas was supplied at 500 ° C. and 1 × 10 4 Pa for 3 minutes. As a result, an Au—
[0021]
In this way, the surface of the substrate was hydrogen-terminated, and after the selective removal of some of the hydrogen atoms, the metal that forms an alloy with the substrate was placed in contact with the substrate, thereby terminating the surrounding hydrogen. The movement can be constrained so that the part does not move on the substrate surface when the metal is melted. For this reason, positioning control can be performed at the nanoscale. Further, the surface can be hydrogen-terminated only by cleaning the substrate with NH 4 F or the like, and there is no need to form an oxide mask or the like unlike the photoresist method. For this reason, it becomes possible to reduce the number of manufacturing processes.
[0022]
【The invention's effect】
The present invention is configured as described above, and the substrate surface is brought into direct contact with the metal by terminating the surface of the substrate with hydrogen, selectively removing hydrogen atoms on the surface, and placing a metal on the portion. Thus, an alloy is formed, and self-organized crystals are grown using the alloy as a catalyst. For this reason, it becomes possible to control the positioning of a nano-structure of a predetermined shape on a nano scale. Further, by changing the type of supply gas at the time of crystal formation, the crystal structure of the growing crystal can be changed in the middle, and there is a possibility as various semiconductor elements.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram for explaining a method for producing a nanostructure according to the present invention.
FIG. 2 is a schematic view showing an example of a nano microstructure formed by the method for manufacturing a nano microstructure according to the present invention.
[Explanation of symbols]
1
5 Alloy
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002084042A JP4093344B2 (en) | 2002-03-25 | 2002-03-25 | Method for producing nano-fine structure |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002084042A JP4093344B2 (en) | 2002-03-25 | 2002-03-25 | Method for producing nano-fine structure |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003277200A JP2003277200A (en) | 2003-10-02 |
JP4093344B2 true JP4093344B2 (en) | 2008-06-04 |
Family
ID=29231567
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002084042A Expired - Fee Related JP4093344B2 (en) | 2002-03-25 | 2002-03-25 | Method for producing nano-fine structure |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4093344B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7937599B1 (en) | 1994-06-20 | 2011-05-03 | Ipventure, Inc. | Thermal and power management for computer systems |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3935476B2 (en) * | 2004-04-27 | 2007-06-20 | キヤノン株式会社 | Method for manufacturing electron-emitting device and method for manufacturing image display device |
FR2888041B1 (en) * | 2005-06-30 | 2008-02-22 | Centre Nat Rech Scient | FLAT SCREEN ACTIVE PLATE |
EP2122667A2 (en) * | 2007-02-19 | 2009-11-25 | Imec | Low-temperature formation of layers of polycrystalline semiconductor material |
-
2002
- 2002-03-25 JP JP2002084042A patent/JP4093344B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7937599B1 (en) | 1994-06-20 | 2011-05-03 | Ipventure, Inc. | Thermal and power management for computer systems |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003277200A (en) | 2003-10-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7531472B2 (en) | Nanofiber and method of manufacturing nanofiber | |
JP3804594B2 (en) | Catalyst supporting substrate, carbon nanotube growth method using the same, and transistor using carbon nanotubes | |
US7255745B2 (en) | Iridium oxide nanowires and method for forming same | |
JP5330349B2 (en) | Method for producing single crystal thin film | |
US20100065810A1 (en) | Method Of Synthesizing Semiconductor Nanostructures And Nanostructures Synthesized By The Method | |
JP2003246700A (en) | Method of producing silicon nanoneedle | |
KR20100038988A (en) | Branched nanowire and its growth method | |
JP2001220674A (en) | Carbon nanotube, producing method therefor and electron emitting source | |
JP5896494B2 (en) | Method for producing catalytic metal layer and method for producing graphene material | |
JP4093344B2 (en) | Method for producing nano-fine structure | |
JP2012186229A (en) | Manufacturing method for single-crystal silicon thin film, manufacturing method for single-crystal silicon thin-film device, manufacturing method for solar cell device, single-crystal silicon thin film, and single-crystal silicon thin-film device and solar cell device including the single-crystal silicon thin film | |
JP3858319B2 (en) | Quantum wire manufacturing method | |
JPH10326888A (en) | Element having thin wire and its manufacture | |
JP4016105B2 (en) | Manufacturing method of silicon nanowires | |
KR101738238B1 (en) | Synthetic method of nano structure using spinodal decomposition by multi-layered precursor | |
JPH08186245A (en) | Manufacture of quantum structure | |
JP3627836B2 (en) | Cold cathode manufacturing method | |
KR20100023493A (en) | Fabrication method for sige nanowires vie selective epitaxial growth of sige on anodic aluminum oxide nanotemplate and a semiconductor elements using the same | |
KR100447167B1 (en) | Method for developing carbon nanotube perpendicularly | |
JP3870459B2 (en) | Quantum wire manufacturing method | |
CN114684813B (en) | Preparation method of large-area uniform single-layer graphene film | |
JP3199131B2 (en) | Method for producing silicon needle crystal | |
JP4907009B2 (en) | Carbon nanotube film, carbon nanotube film-containing SiC substrate, and method of manufacturing carbon nanotube film body | |
KR100664562B1 (en) | Method for selective growth of carbon nanofilaments using heat-resistant metal catalysts | |
Ha et al. | Preparation of Amorphous Silicon Oxide Nanowires by the Thermal Heating of Ni or Au-coated Si substrates |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050318 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20071119 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071204 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080131 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080226 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080227 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110314 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |