JP4050250B2 - Nonvolatile semiconductor memory device - Google Patents

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Description

本発明は、電気的に書き換え可能な不揮発性半導体メモリ素子(EEPROM)のうちのNAND型EEPROMを用いた不揮発性半導体メモリ装置に関する。  The present invention relates to a nonvolatile semiconductor memory device using a NAND type EEPROM among electrically rewritable nonvolatile semiconductor memory elements (EEPROM).

コンピュータの2次記憶装置には、現在磁気ディスク装置が広く用いられているが、近年、電気的に書き換え可能な不揮発性半導体メモリ(EEPROM)が、その機械的強度に対する信頼性、低消費電力、可搬性の良さ、高速アクセスといった特徴を生かして、磁気ディスクを置き換えるような用途に使われだした。  Magnetic disk devices are currently widely used as secondary storage devices for computers, but in recent years, electrically rewritable nonvolatile semiconductor memories (EEPROMs) are more reliable in terms of mechanical strength, lower power consumption, It has been used for applications such as replacing magnetic disks by taking advantage of its portability and high-speed access.

しかし、磁気ディスク装置とEEPROMには機能的な相違点があるため、従来の磁気ディスク装置をそのまま置き換えるためには、これを埋めるための制御が必要となる。 However, since there is a functional difference between the magnetic disk device and the EEPROM, in order to replace the conventional magnetic disk device as it is, control for filling this is necessary.

EEPROMの一つとして、高集積化が可能なNAND型EEPROMが知られている。これは、複数のメモリセルをそれらのソース、ドレインを隣接するもの同士で共有する形で直列接続して一単位とし、ビット線に接続するものである。メモリセルは通常、電荷蓄積層と制御ゲートが積層されたFETMOS構造を有する。メモリセルアレイは、p型基板、又はn型基板に形成されたp型ウェル内に集積形成される。NANDセルのドレイン側は選択ゲートを介してビット線に接続され、ソース側はやはり選択ゲートを介して、ソース線(基準電位配線に接続される(図12)。メモリセルの制御ゲートは、行方向に連続的に接続されてワード線となる。通常同一ワード線につながるメモリセルの集合を1ページと呼び、一組のドレイン側及びソース側の選択ゲートに挟まれたページの集合を1NANDブロック又は単に1ブロックと呼ぶ(図13)。通常1ブロックは独立に消去可能な最小単位となる。  As one type of EEPROM, a NAND type EEPROM capable of high integration is known. In this method, a plurality of memory cells are connected in series by sharing their sources and drains with adjacent ones, and connected to a bit line. A memory cell usually has a FETMOS structure in which a charge storage layer and a control gate are stacked. The memory cell array is integrated in a p-type well formed on a p-type substrate or an n-type substrate. The drain side of the NAND cell is connected to the bit line through the selection gate, and the source side is also connected to the source line (reference potential wiring through the selection gate (FIG. 12). The control gate of the memory cell is connected to the row. Normally, a set of memory cells connected to the same word line is called one page, and a set of pages sandwiched between a set of drain side and source side select gates is a 1 NAND block. Alternatively, it is simply referred to as one block (FIG. 13) Usually, one block is the smallest unit that can be independently erased.

NAND型EEPROMの動作は次の通りである。データの消去は1NANDブロック内のメモリセルに対して同時に行われる。即ち選択されたNANDブロックの全ての制御ゲートを基準電位VSSとし、p型ウェル及びn型基板に高電圧VPP(例えば20V)を印加する。これにより、全てのメモリセルにおいて浮遊ゲートから基板に電子が放出され、しきい値は負の方向にシフトする。通常この状態を”1”状態と定義する。またチップ消去は全NANDブロックを選択状態にすることによりなされる。  The operation of the NAND type EEPROM is as follows. Data is erased simultaneously for the memory cells in one NAND block. That is, all control gates of the selected NAND block are set to the reference potential VSS, and a high voltage VPP (for example, 20 V) is applied to the p-type well and the n-type substrate. As a result, electrons are emitted from the floating gate to the substrate in all the memory cells, and the threshold value is shifted in the negative direction. Normally, this state is defined as “1” state. Chip erase is performed by setting all NAND blocks to a selected state.

データの書き込み動作は、ビット線から最も離れた位置のメモリセルから順に行われる。NANDブロック内の選択された制御ゲートには高電圧VPP(例えば20V)を印加し、他の非選択ゲートには中間電位VM(例えば10V)を与える。またビット線にはデータに応じて、VSS又はVMを与える。ビット線にVSSが与えられたとき(”0”書き込み)、その電位は選択メモリセルに伝達され、浮遊ゲートに電子注入が生ずる。これによりその選択メモリセルのしきい値は正方向にシフトする。通常この状態を”0”状態と定義する。ビット線にVMが与えられた(”1”書き込み)メモリセルには電子注入は起らず、従ってしきい値は変化せず負に留まる。データの読み出し動作はNANDブロック内の選択されたメモリセルの制御ゲートをVSSとして、それ以外の制御ゲート及び選択ゲートをVCCとし選択メモリセルで電流が流れるか否かを検出することにより行われる。  Data write operation is performed in order from the memory cell farthest from the bit line. A high voltage VPP (for example, 20 V) is applied to the selected control gate in the NAND block, and an intermediate potential VM (for example, 10 V) is applied to the other non-selected gates. Further, VSS or VM is given to the bit line according to data. When VSS is applied to the bit line ("0" write), the potential is transmitted to the selected memory cell, and electrons are injected into the floating gate. As a result, the threshold value of the selected memory cell is shifted in the positive direction. Normally, this state is defined as a “0” state. Electron injection does not occur in the memory cell in which VM is applied to the bit line ("1" write), and therefore the threshold value remains unchanged and remains negative. The data read operation is performed by setting the control gate of the selected memory cell in the NAND block as VSS and setting the other control gate and selection gate as VCC and detecting whether or not a current flows in the selected memory cell.

NAND型EEPROMではデータの書き込みはソース線に近いページからドレイン側のページに順に行なわれる必要がある。その必要性を図14を参照して以下に説明する。”1”書き込みは中間電位VM(10V程度)を選択メモリセルのドレインに転送し、電子の注入を起こさせず消去状態(即ち負のしきい値)を保つ。図14は制御ゲート1が選択状態(VPP)のときを示している。よって制御ゲート2は非選択でVMが与えられている。またドレインにもVM(”1”書き込み)が与えられている。図14(a)はソース側から書き込みを行なったときの図、図14(b)はドレイン側から書き込みを行なった場合のものである。図14(a)の場合ドレイン側のセルMa2のしきい値は負であるので、ドレインの電位VMは確実にソース側セルMa1に転送される。しかしながら、図14(b)の場合ドレイン側セルMb2にすでに”0”書き込み動作がなされ、正のしきい値(たとえば3.5V)を持っていたとすると、ソース側セルMb1に”1”を書き込む際、セルMb1にはVMからセルMb2のしきい値電圧分差し引いた電圧しか転送されてこない。よってセルMb1では制御ゲートと基板間の電位差が大きくなって誤書き込みが起こる可能性がある。以上のようにソース側から順に書き込む手段は誤書き込みを防ぐ意味で重要である。  In the NAND type EEPROM, it is necessary to write data sequentially from a page close to the source line to a page on the drain side. The necessity will be described below with reference to FIG. In “1” writing, the intermediate potential VM (about 10 V) is transferred to the drain of the selected memory cell, and the erased state (that is, a negative threshold) is maintained without causing electron injection. FIG. 14 shows the state when the control gate 1 is in the selected state (VPP). Therefore, the control gate 2 is not selected and VM is given. Also, VM ("1" write) is given to the drain. FIG. 14A is a diagram when writing is performed from the source side, and FIG. 14B is a diagram when writing is performed from the drain side. In the case of FIG. 14A, since the drain side cell Ma2 has a negative threshold value, the drain potential VM is reliably transferred to the source side cell Ma1. However, in the case of FIG. 14B, assuming that the drain side cell Mb2 has already been written with "0" and has a positive threshold value (for example, 3.5 V), "1" is written to the source side cell Mb1. At this time, only a voltage obtained by subtracting the threshold voltage of the cell Mb2 from the VM is transferred to the cell Mb1. Therefore, in the cell Mb1, the potential difference between the control gate and the substrate becomes large, and erroneous writing may occur. As described above, means for sequentially writing from the source side is important in terms of preventing erroneous writing.

従来磁気ディスク装置では、データの読み出しや書き込みといったアクセスの単位はセクタであった。媒体の円周上に形成されるトラックは数十個のセクタに分割されていて、このセクタには、回転方向に従って順に番号(アドレス)が付いている。いま仮に1トラックに50セクタあったとして、1回目のアクセスで第5セクタから4セクタ分のデータを書き込み、2回目のアクセスで第1セクタから4セクタ分のデータを書き込むといったアクセスは普通に行われる。一方、NAND型EEPROMのアクセス単位はページである。4MビットNAND型EEPROMを例に取ると、1ページは512バイトで、1ブロックは8ページで構成されている。よって、磁気ディスク装置をNAND型EEPROMで置き換えるような応用において、ディスクの1セクタをNAND型EEPROMの1ページマッピングすると変換が容易である。しかしながら、磁気ディスクと同様に、1ブロック中のソース側から5番目のページから4ページを書き込んでから、1番目から4ページを書き込むといったアクセスを行うと先に述べたように、誤書き込みが起こる可能性がある。  In the conventional magnetic disk apparatus, the unit of access such as data reading and writing is a sector. A track formed on the circumference of the medium is divided into several tens of sectors, and numbers (addresses) are sequentially assigned to the sectors in accordance with the rotation direction. Assuming that there are 50 sectors in one track, an access such as writing four sectors of data from the fifth sector in the first access and writing four sectors of data from the first sector in the second access is normally performed. Is called. On the other hand, the access unit of the NAND type EEPROM is a page. Taking a 4M bit NAND type EEPROM as an example, one page is composed of 512 bytes, and one block is composed of eight pages. Therefore, in an application in which a magnetic disk device is replaced with a NAND type EEPROM, conversion is easy if one sector of the disk is mapped to one page of the NAND type EEPROM. However, as in the case of the magnetic disk, if access is performed such that four pages are written from the fifth page from the source side in one block and then four pages are written from the first page, erroneous writing occurs as described above. there is a possibility.

これを避けるための一つの方法は、2回目のアクセスにおいて、最初に書いた第5ページから4ページ分を1度バッファに待避してからこのブロックを消去し、第1ページから8ページ分のデータを書き込むという手順を踏むことである。  One way to avoid this is to erase the block from the 5th page, which was written first, to the buffer once in the second access, and then erase this block. The procedure is to write data.

しかし、この操作は、EEPROMの限られた書き換え回数を浪費することになる。また他の方法は、NAND型EEPROMのアクセス単位を消去単位のブロックにしてしまうことである。この場合には、前述のようなブロックの一部のデータを書き換えるには、ブロック内の既に書き込まれたデータを一旦バッファに読み込み、書き換えるデータをバッファ上で重ね書きし、上記と同様に、このブロックを消去して、第1ページから8ページ分のデータを書き込むという手順を踏む。 However, this operation wastes a limited number of times the EEPROM is rewritten. Another method is to make the access unit of the NAND type EEPROM a block of erase units. In this case, in order to rewrite a part of the data of the block as described above, the already written data in the block is once read into the buffer, and the data to be rewritten is overwritten on the buffer. The procedure of erasing the block and writing 8 pages of data from the first page is performed.

以上のようにNAND型EEPROMでは、データのアクセスは磁気ディスクのセクタに相当するページを単位として行われるが、磁気ディスクのようにページ単位でランダムなデータ書き込みを行うと、ブロック内での書き込み順が規則からはずれて誤書き込みをする可能性がでるという問題があった。これを避けるために、バッファに先に書き込まれたデータを吸い上げてブロック消去を行った後に再書き込みをすることは、書き換え回数を増大させて、チップの寿命を縮めるという問題があった。また、アクセス単位をブロックすると、データの書き込みもブロック内の全てのページに対して1度に行われる。このとき、書き込まれるべきデータはバッファからNAND型EEPROMに転送されるが、バッファ内のデータは、全てが有効であるとは限らない。即ち、あるブロックに書き込みを行う場合で、その書き込みがそのブロックに対する初めての書き込みである場合、又はそのブロックに書き込んであるデータを無効にする場合、書き換えに先だってブロック内のデータを読み出す必要はない。よって、このとき一部のページにだけしか書き込むデータがなければ、残りのページに対するデータは無効である。通常、無効部分にデータはセットされないから、バッファが前に使われた時の”消し残した”データが残っていて、これがそのまま書き込まれる。従来の磁気ディスク装置では、データとして”1”を書き込む場合も”0”を書き込む場合も書き込みの時間に違いはなかった。しかし、NAND型EEPROMの場合は、先に説明したように消去状態では、全てのデータは”1”であり、”0”のデータを書き込む場合だけ電子の注入が行われる。また、電子の注入にかかる時間は、ビットごとに一定していないので、”0”が正常に書き込まれたかどうかをベリファイしながら進められる。よって、もしページ内のデータが全て”1”であったなら、書き込みは瞬時にして終了する。さらに、電子の注入が起きないから酸化膜に対するストレスも軽減される。このように、NAND型EEPROMの特性を考慮すると、無効なデータ部分は全て”1”に設定しておけば、これが1ページにわたった場合そのページの書き込みには無駄な時間をかけないで済むはずであるが、従来の入出力システムはこのような特性を持たない磁気ディスクのためのものであったから、この点に関する考慮がなされていなかった。  As described above, in the NAND type EEPROM, data access is performed in units of pages corresponding to the sectors of the magnetic disk. However, when random data is written in units of pages as in the magnetic disk, the order of writing in the block is determined. There was a problem that there was a possibility that would be out of the rules and miswritten. In order to avoid this, if the data previously written in the buffer is sucked up and the block is erased, the rewriting is performed, which increases the number of rewrites and shortens the lifetime of the chip. When an access unit is blocked, data is written to all pages in the block at once. At this time, the data to be written is transferred from the buffer to the NAND-type EEPROM, but not all the data in the buffer is valid. In other words, when writing to a block and the writing is the first writing to the block, or when invalidating the data written to the block, there is no need to read the data in the block prior to rewriting. . Therefore, at this time, if there is data to be written to only some pages, the data for the remaining pages is invalid. Normally, no data is set in the invalid portion, so the “erased” data from the previous use of the buffer remains and is written as it is. In the conventional magnetic disk apparatus, there is no difference in writing time when writing "1" as data and when writing "0". However, in the case of a NAND type EEPROM, as described above, all data is “1” in the erased state, and electrons are injected only when data of “0” is written. In addition, since the time required for the electron injection is not constant for each bit, the process proceeds while verifying whether “0” is normally written. Therefore, if all the data in the page is “1”, the writing is completed instantaneously. Furthermore, since no electron injection occurs, stress on the oxide film is reduced. As described above, in consideration of the characteristics of the NAND-type EEPROM, if all invalid data portions are set to “1”, when this is spread over one page, it is possible to avoid wasting time for writing the page. However, since the conventional input / output system was for a magnetic disk having no such characteristics, no consideration was given to this point.

本発明は、上述のような問題に鑑みなされたもので、書き込み順の逆転による誤書き込みや再書き込みによる書き込み回数の増大を防止し、またメモリセルの絶縁膜に無駄なストレスを与えることを防止してチップの寿命を向上させ、さらに書き込みに要する時間を最小限に抑えることのできる不揮発性半導体メモリ装置を提供することを目的とする。  The present invention has been made in view of the above-described problems, and prevents an increase in the number of times of writing due to a reversal of the order of writing and an increase in the number of times of writing due to rewriting, and prevents unnecessary stress on the insulating film of the memory cell. An object of the present invention is to provide a non-volatile semiconductor memory device capable of improving the life of a chip and minimizing the time required for writing.

上記目的を達成するために、本発明の実施の形態の特徴は、(イ)ホストに接続されてデータを記録する不揮発性半導体メモリ装置であって、(ロ)複数個のページから構成されるブロックに分割されたメモリセルアレイを備えたNAND型EEPROMと、(ハ)NAND型EEPROMに格納され、ホストが指定した論理ページに対応しデータの書き込みが行われるべき物理ブロックを特定するための情報と、NAND型EEPROMに対し、ブロック内の一番ソース側の物理ページから順次データを書き込むために使用されるポインタとを備える管理テーブルとを備える不揮発性半導体メモリ装置であることを要旨とする。  In order to achieve the above object, embodiments of the present invention are characterized in that (a) a nonvolatile semiconductor memory device connected to a host and records data, and (b) comprises a plurality of pages. NAND type EEPROM having a memory cell array divided into blocks, and (c) information for specifying a physical block that is stored in the NAND type EEPROM and to which data should be written corresponding to a logical page designated by the host; The gist of the invention is a nonvolatile semiconductor memory device including a management table including a pointer used for sequentially writing data from a physical page on the most source side in a block to a NAND type EEPROM.

第1に、メモリ手段へのデータの書き込みに際しては、ホストシステム等からのページへのアクセス順序によらず、書き込み順に関する規則、即ち常にブロック内のソース側等のページから書き込みが行われる。これによりドレイン側等のページが先に書き込まれたことに起因する誤書き込みや、ドレイン側等に書き込まれたデータを消してから再書き込みを行うことによる書き込み回数の増大でチップの寿命を縮めることが回避される。  First, when writing data to the memory means, writing is always performed from a rule relating to the order of writing, that is, from the page on the source side in the block, regardless of the order of access to the page from the host system or the like. This shortens the life of the chip by increasing the number of times of writing by erasing data written on the drain side or the like after erasing the data written on the drain side or the like and then rewriting the data. Is avoided.

第2に、ブロックへのデータの書き込みに際し、バッファ内の有効なデータが存在しない領域のデータが、全て消去状態のデータと同じになるように初期化される。これにより無効なデータのみで満たされたページの書き込みが最短時間で終了し、またメモリセルの絶縁膜に対して無駄なストレスを与えることがなくなってチップの寿命を縮めることが回避される。  Second, when data is written to the block, the data in the area where no valid data exists in the buffer is initialized so as to be the same as the data in the erased state. Thus, writing of a page filled only with invalid data is completed in the shortest time, and unnecessary stress is not applied to the insulating film of the memory cell, so that the life of the chip is avoided.

(第1の実施の形態)
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る不揮発性半導体メモリ装置の全体構成を示すブロック図である。同図において1はメモリ手段としてのNAND型EEPROMモジュールであり、複数個のページからなるブロックに分割されたメモリセルアレイで構成されている。EEPROMモジュール1はデータ線で結ばれたホストインターフェイス3を介して図示省略のホストシステムに接続されている。
(First embodiment)
FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of the nonvolatile semiconductor memory device according to the first embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 1 denotes a NAND type EEPROM module as a memory means, which is composed of a memory cell array divided into blocks each composed of a plurality of pages. The EEPROM module 1 is connected to a host system (not shown) via a host interface 3 connected by data lines.

データ線上には、マルチプレクサ10及びデータバッファ11が設けられている。また、ホストインターフェイス3内には、データレジスタ4、アドレスレジスタ5、カウントレジスタ6、コマンドレジスタ7、ステータレジスタ8及びエラーレジスタ9が設けられている。12はコントロールロジック、13はECC(誤差修正コード)ジェネレータ/チェッカ、14はアドレスジェネレータ、15は制御手段としての機能を有するCPU、16は後述のページ管理テーブル等が読み込まれる作業用RAM、17は制御プログラムROMである。制御プログラムROM17には、データ書き込み等のための一連の制御プログラムが格納されるようになっている。  A multiplexer 10 and a data buffer 11 are provided on the data line. In the host interface 3, a data register 4, an address register 5, a count register 6, a command register 7, a stator register 8, and an error register 9 are provided. Reference numeral 12 is a control logic, 13 is an ECC (error correction code) generator / checker, 14 is an address generator, 15 is a CPU having a function as a control means, 16 is a working RAM into which a page management table and the like described later are read, and 17 Control program ROM. The control program ROM 17 stores a series of control programs for writing data.

本実施の形態のメモリ装置は、不揮発性メモリ領域であるEEPROMモジュール1に記録されるデータに関し、そのブロック内でのページ位置を割付け、管理するためにページ管理テーブルを使用する。このテーブルは、他のユーザ・データとともにEEPROMモジュール1に記録されるが、この装置が起動するときに自動的に作業用RAM16に読み込まれる。また、このテーブルはEEPROMモジュール1への書き込みが行われる度にその内容が更新されるが、この更新されたテーブルは、その都度、或いは装置の使用が終了する時点でEEPROMモジュール1に書き戻されることとする。  The memory device according to the present embodiment uses a page management table for allocating and managing page positions in the block for data recorded in the EEPROM module 1 which is a nonvolatile memory area. This table is recorded in the EEPROM module 1 together with other user data, but is automatically read into the working RAM 16 when the apparatus is activated. The contents of this table are updated each time data is written to the EEPROM module 1, and this updated table is written back to the EEPROM module 1 each time or when the use of the apparatus is finished. I will do it.

図2は、ブロック内のページアドレス(論理ページ)と物理的な位置(物理ページ)との対応を管理し、EEPROMモジュール1の書き込み順に関する規則に従って次に使用されるべきページの物理的な位置をポイントするための管理手段としてのページ管理テーブル20の1例である。このページ管理テーブル20は、図2(a)に示すようにn個の領域に分割されていて、各領域18はEEPROMモジュール1の各ブロックに対応している。ここでは簡単のため、メモリ装置を構成しているNAND型EEPROMが4MビットEEPROM1個であると仮定すると、n即ちブロック数は128である。これらの領域18は、さらに、同図(b)に示すようにポイント手段となる1個のポインタ21とページ数(=8)のフラグ領域22から構成されている。ポインタ21はブロック内のページへの書き込みをソース側から順に行うためのものでまだ書き込みの行われていない最もソース側のページを示すものとし、もしこの値がブロック当たりのページ数を越えた場合(この例では9になった場合)には、ブロック消去をしないと書き込みが行えないことを示すものとする。論理ページのフラグ22は、その論理ページがまだ書き込まれていない場合には”0”に設定され、書き込まれた場合には、実際に書き込まれた物理的な位置をソース側から何番目の物理ページであったかで示すものとする。  FIG. 2 manages the correspondence between the page address (logical page) and the physical position (physical page) in the block, and the physical position of the next page to be used in accordance with the rules regarding the writing order of the EEPROM module 1 2 is an example of a page management table 20 as a management means for pointing to the page. The page management table 20 is divided into n areas as shown in FIG. 2A, and each area 18 corresponds to each block of the EEPROM module 1. Here, for the sake of simplicity, assuming that the number of NAND-type EEPROMs constituting the memory device is one 4M-bit EEPROM, n, that is, the number of blocks is 128. These areas 18 are further composed of one pointer 21 serving as a point means and a flag area 22 having the number of pages (= 8) as shown in FIG. The pointer 21 is for sequentially writing to the pages in the block from the source side, and indicates the most source side page that has not yet been written. If this value exceeds the number of pages per block (In this example, 9) indicates that writing cannot be performed unless block erasing is performed. The logical page flag 22 is set to “0” when the logical page is not yet written, and when it is written, the physical position where the logical page is actually written is set to what number from the source side. It shall indicate whether it was a page.

具体的な例を用いてデータが記録される際の動作の概要を述べる。あるブロックに、まだ何も書き込まれていなかったとすると、そのあるブロックに対応するページ管理テーブル20の領域18中のポインタ及びフラグの内容は、図3(a)のようになっている。このとき、このブロックの第5論理ページから3ページ分のデータを書き込むとする。まず、ポインタ21の値が1であるから、第5論理ページの内容は、一番ソース側の物理ページに書き込まれ、第5論理ページのフラグ22の値は1に更新され、ポインタ21の値もソース側から2番目のページを示すためにインクリメントされる。この操作がさらに2ページ分繰り返されて、図3(b)のように更新される。次に、同じブロックに第1論理ページから5ページ分の書き込みを行うとすると、ポインタ21は4番目の物理ページを指しているから、ここから5ページ分の書き込みを行い、テーブルを図3(c)のように更新する。この結果、ポインタ21は9になるので、このブロックへの次回の書き込みは、書き換えられないデータをバッファに待避してからブロック消去を行って新たなデータとともに書き戻すといった処理が必要になる。例えば、図3(c)の状態で、第1論理ページから2ページ分のデータを書き換えるとすると、書き換えられない第3論理ページから第7論理ページの内容をバッファに吸い上げてブロック消去を行い、ポインタ21も1に初期化する。その後、バッファ内の7ページ分のデータをブロックに書き込む。この場合の更新されたテーブルの内容を図3(d)に示す。また、ポインタの内容が9になっていなくても、書き込もうとするページ数が残りページ数より多い場合にも(例えば、図3(b)の状態で第3論理ページから6ページ分の書き込み要求がきた場合)、同様の処理をする必要がある。データの読み出しに際しては、ブロック内のページアドレスと物理的な位置との対応をこのページ管理テーブル20から求め必要なデータをアクセスする。  An outline of the operation when data is recorded will be described using a specific example. If nothing has been written in a certain block, the contents of the pointers and flags in the area 18 of the page management table 20 corresponding to the certain block are as shown in FIG. At this time, it is assumed that three pages of data are written from the fifth logical page of this block. First, since the value of the pointer 21 is 1, the content of the fifth logical page is written to the physical page on the most source side, the value of the flag 22 of the fifth logical page is updated to 1, and the value of the pointer 21 Is also incremented to indicate the second page from the source side. This operation is further repeated for two pages and updated as shown in FIG. Next, when writing five pages from the first logical page to the same block, the pointer 21 points to the fourth physical page, so five pages are written from here, and the table is shown in FIG. Update as shown in c). As a result, the pointer 21 becomes 9, so that the next writing to this block requires a process of saving data that cannot be rewritten to the buffer and then erasing the block and writing it back with new data. For example, if data for two pages is rewritten from the first logical page in the state of FIG. 3C, the contents of the third logical page to the seventh logical page that are not rewritten are sucked into the buffer, and block erasure is performed. The pointer 21 is also initialized to 1. Thereafter, the data for 7 pages in the buffer is written to the block. FIG. 3D shows the contents of the updated table in this case. Even if the content of the pointer is not 9, even when the number of pages to be written is larger than the number of remaining pages (for example, a write request for 6 pages from the third logical page in the state of FIG. 3B). ), It is necessary to perform the same processing. When data is read, the correspondence between the page address in the block and the physical position is obtained from the page management table 20 and necessary data is accessed.

次に、この装置の動作をフローチャートを用いて説明する。ホストシステムは、図1のホストインターフェース3内のアドレスレジスタ5にアクセス開始アドレスを、カウントレジスタ6にアクセスしたいデータのセクタ長をセットし、最後にコマンドレジスタ7に読み出し/書き込み等の命令をセットする。ホストインターフェース3のコマンドレジスタ7にアクセス命令が書き込まれると、コントローラ内のCPU15は、コマンドレジスタ7内の命令を読み込み、制御プログラムROM17に納められたコマンド実行のための一連の制御プログラムを実行する。以下の説明では、簡単のためホストシステムの指定してくるセクタ長とEEPROMモジュール1におけるページ長は一致しているものと仮定する。  Next, the operation of this apparatus will be described using a flowchart. The host system sets an access start address in the address register 5 in the host interface 3 of FIG. 1, sets the sector length of data to be accessed in the count register 6, and finally sets an instruction such as read / write in the command register 7. . When an access instruction is written in the command register 7 of the host interface 3, the CPU 15 in the controller reads the instruction in the command register 7 and executes a series of control programs for command execution stored in the control program ROM 17. In the following description, for the sake of simplicity, it is assumed that the sector length designated by the host system and the page length in the EEPROM module 1 match.

図4は、EEPROMモジュール1からデータを読み出す手順を示すフローチャートである。まず、図1のCPU15は、ホストインターフェース3にセットされた開始アドレスとページ管理テーブル20内のアドレス変換テーブルを参照して読み出しを行うべきEEPROMモジュール1の物理的なアドレスを決定する(ステップ101)。次に、EEPROMモジュール1からデータバッファ11にデータを読み出す(ステップ102)。次いで、後に詳述するようなエラー処理及びデータバッファ11からホストシステムへのデータ転送等を実行する(ステップ103〜105)。  FIG. 4 is a flowchart showing a procedure for reading data from the EEPROM module 1. First, the CPU 15 in FIG. 1 determines the physical address of the EEPROM module 1 to be read with reference to the start address set in the host interface 3 and the address conversion table in the page management table 20 (step 101). . Next, data is read from the EEPROM module 1 to the data buffer 11 (step 102). Next, error processing and data transfer from the data buffer 11 to the host system, which will be described in detail later, are performed (steps 103 to 105).

図5は、EEPROMモジュールからデータバッファにデータを読み出す手順を示すフローチャートである。CPU15は、EEPROMモジュール1をマルチプレクサ10を通してアクセスし読み出しモードに設定し、データバッファ11を読み出しモードに設定する(ステップ201,202)。アドレスジェネレータ14には、読み出しを行うべきEEPROMモジュール1の物理的なアドレスを設定する(ステップ203)。そして、データバッファ11に、読み出したデータを蓄えるべき領域を決定してその先頭番地をデータバッファ10への書き込みアドレスとして設定する(ステップ204)。その後、コントロールロジック12に対してデータ読み出しのための定められたシーケンスを実行するように指令を送る。  FIG. 5 is a flowchart showing a procedure for reading data from the EEPROM module to the data buffer. The CPU 15 accesses the EEPROM module 1 through the multiplexer 10 to set the read mode, and sets the data buffer 11 to the read mode (steps 201 and 202). The physical address of the EEPROM module 1 to be read is set in the address generator 14 (step 203). Then, an area in which the read data is to be stored is determined in the data buffer 11, and the head address is set as a write address to the data buffer 10 (step 204). Thereafter, the control logic 12 is instructed to execute a predetermined sequence for reading data.

コントロールロジック12は、マルチプレクサ10をEEPROMモジュール1からの読み出しデータがデータバッファ11に流れるように設定し、アドレスジェネレータ14の内容をインクリメントしながら、1セクタ分のデータを読み出す(ステップ205)。また、ECCジェネレータ/チェッカ13をこれらのデータ及びこれに付随して読み出されるECCコードを使って誤りを検出するように制御する。1セクタ分のデータが読み出されると、CPU15は、ECCジェネレータ/チェッカ13をチェックしデータの誤りを検査する(ステップ206)。誤りが検出されなかった場合、又は検出されても訂正が行えた場合は、データバッファ11からホストシステムにデータを転送する。もし、訂正不可能な誤りが検出された場合には、ホストシステムに対するデータ転送は行わずに、CPU15は、ホストインターフェース3内のステータスレジスタ8にエラーが起きたことを示すコードを、エラーレジスタ9にエラーの内容を示すコードを設定し、ホストシステムに命令の実行が異常終了したことを通知して処理を終了する(ステップ207〜210)。  The control logic 12 sets the multiplexer 10 so that the read data from the EEPROM module 1 flows to the data buffer 11, and reads the data for one sector while incrementing the contents of the address generator 14 (step 205). Further, the ECC generator / checker 13 is controlled so as to detect an error by using these data and the ECC code read accompanying therewith. When data for one sector is read, the CPU 15 checks the ECC generator / checker 13 to check for data errors (step 206). If no error is detected, or if correction is possible even if detected, data is transferred from the data buffer 11 to the host system. If an uncorrectable error is detected, data transfer to the host system is not performed, and the CPU 15 assigns a code indicating that an error has occurred in the status register 8 in the host interface 3 to the error register 9. Is set to a code indicating the content of the error, the host system is notified that the execution of the instruction has been terminated abnormally, and the process is terminated (steps 207 to 210).

図6は、データバッファからホストシステムにデータを転送する手順を示すフローチャートである。CPU15は、データバッファ11に読み出したデータが蓄えられた領域の先頭番地を同バッファからの読み出しアドレスとして設定し(ステップ301,302)、コントロールロジック12に対して、ホストシステムに1セクタ分のデータの転送を行うように指令する。コントロールロジック12は、データバッファ11とホストインターフェース3を制御してホストシステムに対して1セクタ分のデータを転送し(ステップ303)、これが終了するとアドレスレジスタ5を1セクタ分進め、カウントレジスタ6から1を減じ、CPU15に転送が終了したことを通知する。ホストシステムに転送すべきデータが残っている限り、CPU15はこの制御を繰り返す。読み出しデータが全て転送されたら、CPU15は、ホストインターフェース3内のステータスレジスタ8にエラーの無かったことを示すコードを設定し、ホストシステムに命令の実行が終了したことを通知して処理を終了する。  FIG. 6 is a flowchart showing a procedure for transferring data from the data buffer to the host system. The CPU 15 sets the start address of the area where the data read out in the data buffer 11 is stored as a read address from the buffer (steps 301 and 302), and the control logic 12 stores data for one sector in the host system. Command to transfer. The control logic 12 controls the data buffer 11 and the host interface 3 to transfer one sector of data to the host system (step 303). When this is completed, the address register 5 is advanced by one sector, and the count register 6 1 is subtracted and the CPU 15 is notified that the transfer has been completed. As long as there is data to be transferred to the host system, the CPU 15 repeats this control. When all of the read data has been transferred, the CPU 15 sets a code indicating that there is no error in the status register 8 in the host interface 3, notifies the host system that the execution of the instruction has ended, and ends the processing. .

図7及び図8は、EEPROMモジュール1へデータを書き込む手順を示すフローチャートである。CPU15はホストインターフェース3にセットされた開始アドレスから、ホストシステムが書き込みを行おうとしているEEPROMモジュール1上のブロックを割り出す(ステップ401)。ホストシステムの指示するEEPROMモジュール1のブロック中の未使用ページ数が、書き込まれるページ数より少なく、かつ、ホストシステムからの要求がこのブロックのデータの全てを書き換えるものでない場合は、ブロック内の書き換えられないデータをデータバッファに読み込む(ステップ402〜404)。EEPROMからデータバッファ11にデータを読み出す手順は、先に図5のフローチャートを用いて説明した。ブロック内の重ね書きされない部分のデータが全てバッファに読み込まれるまで、図5の処理が繰り返される。ブロック中の未使用ページ数が、書き込まれるページ数以上の場合以外は、この後にブロック消去を行う(ステップ405)。次いで、後に詳述するようなホストシステムからデータバッファ11への書き込みデータの転送、データバッファ11からEEPROMモジュール1へのデータの書き込み処理及びエラー処理等を実行し、さらにページ管理テーブル中のポインタを初期化する(ステップ406〜411)。  7 and 8 are flowcharts showing a procedure for writing data into the EEPROM module 1. The CPU 15 determines the block on the EEPROM module 1 to which the host system is to write from the start address set in the host interface 3 (step 401). If the number of unused pages in the block of the EEPROM module 1 indicated by the host system is less than the number of pages to be written and the request from the host system does not rewrite all of the data in this block, rewrite in the block Data that cannot be read is read into the data buffer (steps 402 to 404). The procedure for reading data from the EEPROM to the data buffer 11 has been described with reference to the flowchart of FIG. The processing of FIG. 5 is repeated until all of the data in the block that is not overwritten is read into the buffer. Unless the number of unused pages in the block is equal to or greater than the number of pages to be written, block erasure is performed thereafter (step 405). Next, a write data transfer from the host system to the data buffer 11, a data write process from the data buffer 11 to the EEPROM module 1 and an error process, etc., which will be described in detail later, are executed. Initialization is performed (steps 406 to 411).

図9は、ホストシステムからデータバッファに書き込みデータを転送する手順を示している。CPU15は、データバッファ11を書き込みモードに設定し(ステップ501)、ホストシステムから転送されてくるデータが蓄えられるデータバッファ11上のアドレスを同バッファへの書き込みアドレスとして設定する(ステップ502)。その後、コントロールロジック12に対して、ホストシステムから1セクタ分のデータの転送を行うように指令する。コントロールロジック12は、データバッファ11とホストインターフェース3を制御してホストシステムから1セクタ分のデータを受け取り、これが終了するとCPU15に転送が終了したことを通知する(ステップ503)。図9の処理は、ホストシステムから転送すべきデータが残っていて、かつ、データバッファ11にEEPROMモジュール1の書き込みを行おうとしているブロックのためのデータが不足している限り続けられる。ホストシステムからの転送が終了したら、CPU15はホストインターフェース3にセットされた開始アドレスに対応するブロックのページ管理テーブルのポインタを参照して、先に説明したように、データバッファ11に蓄えられた1ページ分のデータが書き込まれるべきEEPROMモジュール1上の該当ブロックのページ位置を決定し、書き込みを行う。  FIG. 9 shows a procedure for transferring write data from the host system to the data buffer. The CPU 15 sets the data buffer 11 to the write mode (step 501), and sets an address on the data buffer 11 in which data transferred from the host system is stored as a write address to the buffer (step 502). Thereafter, the control logic 12 is instructed to transfer data for one sector from the host system. The control logic 12 controls the data buffer 11 and the host interface 3 to receive data for one sector from the host system, and when this is completed, notifies the CPU 15 that the transfer has been completed (step 503). The process of FIG. 9 is continued as long as data to be transferred from the host system remains and data for the block to be written to the EEPROM module 1 in the data buffer 11 is insufficient. When the transfer from the host system is completed, the CPU 15 refers to the pointer of the page management table of the block corresponding to the start address set in the host interface 3 and 1 stored in the data buffer 11 as described above. The page position of the corresponding block on the EEPROM module 1 where the data for the page is to be written is determined, and writing is performed.

図10は、データバッファ内のデータ1ページ分をEEPROMモジュールに書き込む手順を示したフローチャートである。CPU15は、EEPROMモジュール1とデータバッファ11に必要ならば初期設定を施した後(ステップ601,602)、書き込みを行うページの先頭アドレスをアドレスジェネレータ14に設定し(ステップ603)、データバッファ11には、書き込まれるデータの先頭アドレスを同バッファの読み出しアドレスとして設定する(ステップ604)。そして、コントロールロジック12に対してデータ書き込みのための定められたシーケンスを実行するように指令を送る。コントロールロジック12は、マルチプレクサ10をデータバッファ11からの書き込みデータがEEPROMモジュール1に流れるように設定し、アドレスジェネレータ14の内容をインクリメントしながらデータを書き込む(ステップ605)。また、ECCジェネレータ/チェッカ13をこれらのデータからECCコードを生成するように制御し、データとともにこのコードも記録する(ステップ606)。図10の処理は、書き込みエラーが発生するか、該当ブロックに書き込むべき、データを書き終えるかするまで、ページ管理テーブルのポインタをインクリメントしながら続けられる。データの書き込みが正常に行えなかった場合は必要なエラー処理を行い、再度、書き込みを行う(ステップ607,608)。書き込みが正常に終了したらページ管理テーブルの内容を更新する。ホストシステムの要求するデータを全て記録し終えるか、エラーからの回復が不可能で処理を中断した場合は、CPU15は、ホストインターフェース3内のステータスレジスタ8に所定のコードを設定し、ホストシステムに命令の実行が終了したことを通知する。  FIG. 10 is a flowchart showing a procedure for writing one page of data in the data buffer to the EEPROM module. The CPU 15 initializes the EEPROM module 1 and the data buffer 11 if necessary (steps 601 and 602), and then sets the head address of the page to be written in the address generator 14 (step 603). Sets the start address of the data to be written as the read address of the buffer (step 604). Then, a command is sent to the control logic 12 to execute a predetermined sequence for writing data. The control logic 12 sets the multiplexer 10 so that the write data from the data buffer 11 flows to the EEPROM module 1, and writes the data while incrementing the contents of the address generator 14 (step 605). Further, the ECC generator / checker 13 is controlled to generate an ECC code from these data, and this code is recorded together with the data (step 606). The process of FIG. 10 is continued while incrementing the pointer of the page management table until a write error occurs or data to be written to the block is finished. If data writing cannot be performed normally, necessary error processing is performed, and writing is performed again (steps 607 and 608). When writing is completed normally, the contents of the page management table are updated. When all the data requested by the host system has been recorded, or when the process is interrupted because recovery from an error is impossible, the CPU 15 sets a predetermined code in the status register 8 in the host interface 3 and stores it in the host system. Notify that the execution of the instruction is complete.

なお、本実施の形態では、EEPROMモジュールは、ホストインターフェースを介して、ホストシステムと並行して動作可能なコントローラにより制御される形態を取っているが、ホストシステムのCPUにより直接制御される形態を取ってもよい。  In this embodiment, the EEPROM module is controlled by a controller operable in parallel with the host system via the host interface. However, the EEPROM module is controlled directly by the CPU of the host system. You may take it.

(第2の実施の形態)
図11は、本発明の第2実施の形態に係る不揮発性半導体メモリ装置を示すブロック図である。CPU15は、インターフェース25をとおしてEEPROMモジュール1をアクセスする。また、アクセスに際しては、RAM26の一部に設けられたバッファ30を使用するようになっている。いま、EEPROMモジュール1が、4MビットNAND型EEPROMで構成されているとすると、1ブロックは4kバイトであるからバッファ30の大きさ、即ち入出力の単位は4kバイトである。バッファ30中の31〜38に相当する部分は、NAND型EEPROMのブロック中のページに相当する部分であるが、この装置では独立したデータとしては扱われない。
(Second Embodiment)
FIG. 11 is a block diagram showing a nonvolatile semiconductor memory device according to the second embodiment of the present invention. The CPU 15 accesses the EEPROM module 1 through the interface 25. In accessing, a buffer 30 provided in a part of the RAM 26 is used. If the EEPROM module 1 is composed of a 4 Mbit NAND type EEPROM, one block is 4 kbytes, so the size of the buffer 30, that is, the input / output unit is 4 kbytes. A portion corresponding to 31 to 38 in the buffer 30 is a portion corresponding to a page in the block of the NAND type EEPROM, but this device does not handle it as independent data.

まず、EEPROMモジュール1内のあるブロック2のデータの一部を書き換える場合を考える。ブロック2の書き換えられない部分のデータは残さなければならないので予め読み出す必要があるが、この装置ではアクセス単位が1ブロックであるから、ブロック2のデータ全てがバッファ30に転送される。次にバッファ30上でデータの書き換えが行われ、同時にEEPROMモジュール1のブロック2は消去される。そして、バッファ30の内容が、ソース側のページから順に1ブロック分書き込まれる。  First, consider a case where a part of data in a certain block 2 in the EEPROM module 1 is rewritten. Since the data of the portion of block 2 that cannot be rewritten must be left, it must be read in advance. However, in this apparatus, since the access unit is one block, all the data of block 2 is transferred to the buffer 30. Next, data is rewritten on the buffer 30, and at the same time, the block 2 of the EEPROM module 1 is erased. Then, the contents of the buffer 30 are written for one block in order from the page on the source side.

次に、ブロック2の内容は無効にして、3ページ分のデータだけを書き込む場合を考える。この場合ブロック2のデータは破棄するので予め読み出す必要はない。ブロック2は即消去される。いま仮に、3ページ分のデータがページ31〜33の位置に書き込まれるものであるとすると、CPU15はまずこの部分にデータを設定する。この時点では、バッファ30内の34〜38には、このアクセスの前にEEPROMモジュールにアクセスを行った時のデータがそのまま残っている。よって、このままバッファ30のデータをブロック2に書き込むと、本来意味の無いデータの入ったページ34〜38の内容がベリファイまでされてそのまま書き込まれるため無駄な時間を浪費する。そこで、CPU15は、ブロック2への書き込みに先だって、バッファ30内の34〜38にはEEPROMモジュールの消去時のデータである”1”をセットする。このように、本実施の形態では、データの書き込みに際し、バッファ30内の有効なデータが存在しない領域のデータが全て消去状態のデータと同じになるように初期化されるので、書き込みが最短時間で終了し、かつ、NAND型EEPROMの酸化膜に対して無駄なストレスを与えることが回避される。  Next, consider the case where the contents of block 2 are invalidated and only data for three pages is written. In this case, since the data of block 2 is discarded, there is no need to read it in advance. Block 2 is immediately erased. If it is assumed that data for three pages is written at the positions of pages 31 to 33, the CPU 15 first sets data in this portion. At this time, the data when the EEPROM module is accessed before this access remains in the buffers 34 to 38 in the buffer 30 as they are. Therefore, if the data in the buffer 30 is written to the block 2 as it is, the contents of the pages 34 to 38 containing the originally meaningless data are verified and written as they are, and wasted time is wasted. Therefore, prior to writing to the block 2, the CPU 15 sets “1”, which is data at the time of erasing the EEPROM module, in the buffers 34 to 38 in the buffer 30. As described above, in the present embodiment, when data is written, initialization is performed so that all the data in the area where no valid data exists in the buffer 30 is the same as the data in the erased state. And unnecessary stress on the oxide film of the NAND type EEPROM is avoided.

なお、本実施の形態では、EEPROMモジュール1はインターフェース25を介してバス27上のCPU15により直接制御される形態を取っているが、インターフェース25とEEPROMモジュール1の間に介在しCPU15と並行して動作可能なコントローラにより制御される形態を取ってもよい。その他、本実施の形態はその主旨を逸脱しない範囲で種々変形して用いることができる。  In the present embodiment, the EEPROM module 1 is directly controlled by the CPU 15 on the bus 27 via the interface 25. However, the EEPROM module 1 is interposed between the interface 25 and the EEPROM module 1 in parallel with the CPU 15. It may take the form of being controlled by an operable controller. In addition, the present embodiment can be variously modified and used without departing from the gist thereof.

本発明の第1実施の形態に係る不揮発性半導体メモリ装置を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a nonvolatile semiconductor memory device according to a first embodiment of the present invention. 第1の実施の形態におけるページ管理テーブルの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the page management table in 1st Embodiment. 上記ページ管理テーブルの操作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating operation of the said page management table. 第1実施の形態においてEEPROMモジュールからデータの読み出し処理を説明するためのフローチャートである。3 is a flowchart for explaining a process of reading data from an EEPROM module in the first embodiment. 第1実施の形態においてEEPROMモジュールからデータバッファへのデータの読み出し処理を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining a process of reading data from the EEPROM module to the data buffer in the first embodiment. 第1実施の形態においてデータバッファからホストシステムへの読み出しデータの転送処理を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining read data transfer processing from the data buffer to the host system in the first embodiment. 第1実施の形態においてEEPROMモジュールへのデータの書き込み処理を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining a process of writing data to the EEPROM module in the first embodiment. 第1実施の形態においてEEPROMモジュールへのデータの書き込み処理を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining a process of writing data to the EEPROM module in the first embodiment. 第1実施の形態においてホストシステムからデータバッファへの書き込みデータの転送処理を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining a write data transfer process from the host system to the data buffer in the first embodiment. 第1実施の形態においてデータバッファ内のデータをEEPROMモジュールに書き込む処理を説明するためのフローチャートである。4 is a flowchart for explaining a process of writing data in a data buffer to an EEPROM module in the first embodiment. 本発明の第2実施の形態に係る不揮発性半導体メモリ装置を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the non-volatile semiconductor memory device which concerns on 2nd Embodiment of this invention. EEPROMの一つのNANDセルを示す等価回路図である。It is an equivalent circuit diagram showing one NAND cell of the EEPROM. EEPROMのメモリセルアレイを示す等価回路図である。It is an equivalent circuit diagram showing a memory cell array of EEPROM. NAND型EEPROMの書き込み動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the write-in operation | movement of NAND type EEPROM.

符号の説明Explanation of symbols

1…EEPROMモジュール(メモリ手段)
2…ブロック
3・・・ホストインタフェース
4・・・データレジスタ
5・・・アドレスレジスタ
6・・・カウントレジスタ
7・・・コマンドレジスタ
8・・・ステータスレジスタ
9・・・エラーレジスタ
10・・・マルチプレクサ
11・・・データバッファ
12・・・コントロールロジック
13・・・ECCジェネレータ/チェッカ
14・・・アドレスジェネレータ
15・・・CPU(制御手段)
16・・・作業用RAM
17・・・制御プログラムROM
18・・・領域(ブロック)
20…管理手段となるページ管理テーブル
21…ポイント手段ポインタ(ポイント手段)
22・・・フラグ(領域)
25・・・インタフェース
26・・・RAM
27・・・バス
30…バッファ
31,32,33,34,35,36,37,38・・・ページ
101〜105,201〜210,301〜303,401〜411,501〜503,601〜608・・・ステップ
1 EEPROM module (memory means)
2 ... Block 3 ... Host interface 4 ... Data register 5 ... Address register 6 ... Count register 7 ... Command register 8 ... Status register 9 ... Error register 10 ... Multiplexer DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Data buffer 12 ... Control logic 13 ... ECC generator / checker 14 ... Address generator 15 ... CPU (control means)
16 ... Working RAM
17 ... Control program ROM
18 ... Area (block)
20 ... Page management table 21 as management means ... Point means pointer (point means)
22 ... Flag (area)
25 ... Interface 26 ... RAM
27 ... bus 30 ... buffers 31, 32, 33, 34, 35, 36, 37, 38 ... pages 101-105, 201-210, 301-303, 401-411, 501-503, 601-608 ... Steps

Claims (2)

ホストに接続されてデータを記録する不揮発性半導体メモリ装置であって、
複数個のページから構成されるブロックに分割されたメモリセルアレイを備えたNAND型EEPROMと、
前記NAND型EEPROMに格納され、前記ホストが指定した論理ページに対応しデータの書き込みが行われるべき物理ブロックを特定するための情報と、前記NAND型EEPROMに対し、前記ブロック内の一番ソース側の前記物理ページから順次データを書き込むために使用されるポインタとを備える管理テーブル
とを備えることを特徴とする不揮発性半導体メモリ装置。
A non-volatile semiconductor memory device connected to a host for recording data,
A NAND type EEPROM having a memory cell array divided into blocks composed of a plurality of pages;
Information for specifying a physical block to be written corresponding to a logical page specified by the host and stored in the NAND type EEPROM, and the most source side in the block with respect to the NAND type EEPROM A non-volatile semiconductor memory device comprising: a management table including a pointer used for sequentially writing data from the physical page.
前記NAND型EEPROMには、前記ホストから与えられたデータと該データに対応するECCコードとが書き込まれることを特徴とする請求項1記載の不揮発性半導体メモリ装置。   2. The nonvolatile semiconductor memory device according to claim 1, wherein data supplied from the host and an ECC code corresponding to the data are written in the NAND type EEPROM.
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