JP4036179B2 - Laser marking device - Google Patents
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Description
本発明は、レーザ光によるライン光を用いて墨出しを行うレーザ墨出し器に関するものである。 The present invention relates to a laser marking device that performs marking using line light from a laser beam.
従来より、レーザ光によるライン光を用いて墨出しを行うレーザ墨出し器が提供されている(例えば、特許文献1参照)。
従来のレーザ墨出し器には、製造段階において半導体レーザの出力を調整して、半導体レーザの定格出力を所定の範囲内に調整するための調整手段が設けられており、メーカ側でこの調整手段を用いてレーザ光の定格出力を一定の範囲内に調整していたが、ユーザ側でレーザ光の光量を調整する機能を備えたものはなかった。 Conventional laser marking devices are provided with adjusting means for adjusting the output of the semiconductor laser in the manufacturing stage to adjust the rated output of the semiconductor laser within a predetermined range. Although the rated output of the laser beam was adjusted within a certain range using the above, there was no one provided with a function for adjusting the light amount of the laser beam on the user side.
ところで、レーザ墨出し器は様々な明るさの場所で使用されるのであるが、明るい場所でもレーザ光が見えるように半導体レーザの光量を明るめに調整していると、このレーザ墨出し器を暗い場所で使用した場合、レーザ光によるライン光が太くなってしまい、墨出しの精度が低下するという問題があった。またレーザ光の光量が明るすぎると、長時間作業を行う場合は目が疲れるという問題があった。また暗い場所での使用に適するように半導体レーザの光量を暗めに調整していると、明るい場所で使用する場合にレーザ光によるライン光が見えなくなるという問題があった。 By the way, the laser marking device is used in places with various brightnesses. If the light intensity of the semiconductor laser is adjusted so that the laser beam can be seen even in a bright place, the laser marking device is darkened. When used in a place, there is a problem that the line light from the laser light becomes thick and the accuracy of inking is lowered. Further, when the amount of laser light is too bright, there is a problem that eyes are tired when working for a long time. Further, when the light amount of the semiconductor laser is adjusted to be dark so as to be suitable for use in a dark place, there is a problem that the line light from the laser beam cannot be seen when used in a bright place.
本発明は上記問題点に鑑みて為されたものであり、その目的とするところは、現場の明るさに合わせてユーザが光量を調整できるレーザ墨出し器を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a laser marking device in which the user can adjust the amount of light according to the brightness of the site.
上記目的を達成するために、請求項1の発明は、墨出しのためのレーザ光を出力する光出力部と、光出力部から出力されるレーザ光の光量に応じた電気量のモニタ信号を出力する光モニタ部と、モニタ信号をその電気量に比例した電圧信号に変換するモニタ信号変換部と、光量の指令値である光量指令電圧を生成する指令電圧生成部と、光量指令電圧を分圧して基準電圧を生成する分圧手段、及び、当該分圧手段の分圧比をメーカ側で調整することによって光出力部の定格出力を所定の範囲内に調整する光出力調整手段からなる基準電圧生成部と、モニタ信号変換部の出力電圧が基準電圧に一致するように光出力部の出力をフィードバック制御するレーザ駆動部とを備え、前記指令電圧生成部は、ユーザ側で操作可能な可変抵抗と固定抵抗との直列回路からなる分圧回路を具備し、この分圧回路で定電圧源の一定電圧を分圧して得た電圧を光量指令電圧として出力することを特徴とする。
In order to achieve the above object, the invention of
請求項2の発明は、請求項1の発明において、前記指令電圧生成部に、光量指令電圧を所定の最大値以下に制限する指令電圧制限部を設けたことを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the command voltage generating unit is provided with a command voltage limiting unit that limits the light amount command voltage to a predetermined maximum value or less.
請求項3の発明は、請求項2の発明において、前記指令電圧制限部を、光量指令電圧の最大値である最大指令電圧を生成する最大指令電圧生成部と、前記最大指令電圧よりも低い所定の閾値電圧を前記分圧回路による分圧電圧が超えなければ、前記分圧電圧を光量指令電圧として出力するとともに、前記分圧電圧が前記閾値電圧を超えると前記最大指令電圧を光量指令電圧として出力する指令電圧切替部とで構成したことを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the command voltage limiting unit includes a maximum command voltage generating unit that generates a maximum command voltage that is a maximum value of the light amount command voltage, and a predetermined value lower than the maximum command voltage. If the divided voltage by the voltage dividing circuit does not exceed the threshold voltage, the divided voltage is output as a light amount command voltage, and if the divided voltage exceeds the threshold voltage, the maximum command voltage is used as the light amount command voltage. It is characterized by comprising a command voltage switching unit for outputting.
請求項4の発明は、請求項1乃至3の何れか1つの発明において、前記定電圧源と光出力部の駆動電源とが別々の電源からなることを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects of the present invention, the constant voltage source and the driving power source of the optical output unit are composed of separate power sources.
以上説明したように、請求項1の発明では、製造段階においてメーカ側でレーザ光の光量を一定の範囲内に調整するための光出力調整手段とは別に、定電圧源の一定電圧を分圧して光量指令電圧を生成する分圧回路を設けてあり、この分圧回路を構成する可変抵抗の抵抗値を変化させることで、可変抵抗と固定抵抗とで構成される分圧回路の分圧比が変化し、定電圧源の一定電圧を分圧して得られる光量指令電圧が変化するので、この光量指令電圧を基準電圧生成部で分圧して得られる基準電圧を変化させることができる。したがって、この基準電圧にモニタ信号変換部の出力が一致するようにレーザ駆動部がフィードバック制御を行うことで、光出力部から出力されるレーザ光の光量を変化させることができ、レーザ墨出し器の使用場所に応じてレーザ光の明るさを変化させることができる。 As described above, according to the first aspect of the invention, the constant voltage of the constant voltage source is divided apart from the light output adjusting means for adjusting the light quantity of the laser beam within a certain range on the maker side in the manufacturing stage. The voltage dividing circuit for generating the light quantity command voltage is provided, and the voltage dividing ratio of the voltage dividing circuit composed of the variable resistor and the fixed resistor is changed by changing the resistance value of the variable resistor constituting the voltage dividing circuit. Since the light quantity command voltage obtained by dividing and dividing the constant voltage of the constant voltage source changes, the reference voltage obtained by dividing the light quantity command voltage by the reference voltage generation unit can be changed. Therefore, the laser drive unit performs feedback control so that the output of the monitor signal conversion unit matches this reference voltage, so that the amount of laser light output from the light output unit can be changed. The brightness of the laser beam can be changed according to the place of use.
また請求項2の発明では、指令電圧制限部によって光量指令電圧が所定の最大値以下に制限されるので、光量指令電圧を分圧して得られる基準電圧に上限値が設定されて、光出力部のレーザ出力に上限が設けられ、レーザ出力が過大になるのを防止できる。
In the invention of
また更に請求項3の発明では、最大指令電圧よりも低い所定の閾値電圧を分圧回路の分圧電圧が超えると、指令電圧切換部が最大指令電圧を光量指令電圧として出力するので、この時の光量指令電圧を分圧して得た基準電圧が最大の電圧値となり、光出力部のレーザ出力を最大の出力とすることができる。
Further, in the invention of
また、指令電圧生成部の電源と光出力部の駆動電源とを同じ電源とした場合は、レーザ光が消えてしまうため、光出力部の最低駆動電圧以下まで光量指令電圧を下げることができないが、請求項4の発明では定電圧源と光出力部の駆動電源とを別々の電源としているので、光量指令電圧を任意の電圧に設定でき、光出力部の最低駆動電圧以下まで下げることもできる。
In addition, if the power source of the command voltage generation unit and the drive power source of the light output unit are the same power source, the laser light will disappear, so the light amount command voltage cannot be lowered below the minimum drive voltage of the light output unit. In the invention of
以下に本発明の実施の形態を図1〜図4に基づいて説明する。図1は本実施形態のブロック図であり、このレーザ墨出し器は、半導体レーザモジュール1と、レーザ駆動回路ブロック2と、光量調整回路ブロック3と、最大指令電圧生成回路ブロック4と、指令電圧切替回路ブロック5とを主要な構成として備え、光量調整回路ブロック3と最大指令電圧生成回路ブロック4と指令電圧切替回路ブロック5とで指令電圧生成部6を構成している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. FIG. 1 is a block diagram of this embodiment. This laser marking device includes a
半導体レーザモジュール1は、レーザ駆動回路ブロック2から供給される駆動電流I1に応じてレーザ光を出力するレーザダイオード1a(光出力部)と、レーザダイオード1aから出力されるレーザ光を受光して、レーザ光の光量に比例した大きさのモニタ電流I2を発生するモニタダイオード1b(光モニタ部)とを1つのモジュールに収納したものである。
The
図2はレーザ駆動回路ブロック2の一例を示すブロック図であり、このレーザ駆動回路ブロック2は、モニタダイオード1bに流れるモニタ電流I2をその電流値に応じた電圧値の電圧信号V4に変換する電流−電圧変換回路2a(モニタ信号変換部)と、指令電圧切替回路ブロック5から入力される光量指令電圧V2を分圧することによって基準電圧V3を生成する分圧回路2b及び分圧回路2bの分圧比を調整するための光出力調整部2eを具備した基準電圧生成回路2fと、電流−電圧変換回路2aの出力電圧V4と基準電圧V3との差分を増幅する差動増幅器2cと、差動増幅器2cの出力電圧が制御端子に入力され、差動増幅器2cの出力電圧に比例した大きさの駆動電流I1をレーザダイオード1aに供給するパワー素子2dとを備える。ここに、差動増幅器2cとパワー素子2dとで、レーザダイオード1aの出力をフィードバック制御するレーザ駆動部が構成される。
FIG. 2 is a block diagram showing an example of the laser
ここで、レーザ駆動回路ブロック2の具体回路を図5に基づいて説明する。電流−電圧変換回路2aは抵抗R11からなり、モニタダイオード1bからのモニタ電流I2が抵抗R10を流れることによって、抵抗R10の両端間に発生する電圧信号V4を差動増幅器2cに出力する。また分圧回路2bは可変抵抗VR2及び抵抗R9,R10の直列回路からなり、抵抗R9,R10の接続点の電圧を基準電圧V3として差動増幅器2cに出力する。パワー素子2dは例えばトランジスタからなり、レーザダイオード1aとパワー素子2dと抵抗R13との直列回路に駆動電源Vccの電圧が印加される。そして、差動増幅器2cの出力端が抵抗R12を介してパワー素子2dの制御端に接続されており、差動増幅器2cは電流−電圧変換回路2aの出力電圧V4が基準電圧V3に一致するようにパワー素子2dを制御している。
Here, a specific circuit of the laser
ここで、指令電圧切替回路ブロック5から入力される光量指令電圧V2が一定の場合に、光出力調整部2eとしての可変抵抗VR2を操作して分圧回路2bの分圧比を変化させると、分圧回路2bにより光量指令電圧V2を分圧して得られる基準電圧V3の電圧値が変化し、この基準電圧V3に電流−電圧変換回路2aの出力が一致するようにパワー素子2dから供給される駆動電流I1が制御されるので、レーザダイオード1aに供給される電力が増加又は減少し、レーザ光の光量が制御されるのである。なお光出力調整部2eは製造段階においてメーカ側でレーザ光の定格出力を所定の範囲内に調整するためのものであり、分圧回路2bの分圧比を変化させることで、レーザ光の光量を所定の範囲内に調整することができる。また、光出力調整部2eはレーザ墨出し器の外殻(図示せず)の内側に配置され、外殻の外側からは操作できないようになっているので、ユーザ側で光出力調整部2eを操作してレーザ光の光量を変化させることはできない。
Here, when the light quantity command voltage V2 input from the command voltage
次に光量調整回路ブロック3、最大指令電圧生成回路ブロック4、及び指令電圧切替回路ブロック5からなる指令電圧生成部6の回路構成を図3の具体回路図をもとに説明する。尚、光量調整回路ブロック3、最大指令電圧生成回路ブロック4、及び指令電圧切替回路ブロック5の回路構成を図3の回路に限定する趣旨のものではなく、例えばマイクロコンピュータの備えるD/Aコンバータ、A/Dコンバータ、PWM制御などの機能を用いても実現することは可能である。
Next, the circuit configuration of the command
光量調整回路ブロック3は、定電圧源の略一定の電源電圧Vrefを分圧する抵抗R1と可変抵抗VR1と抵抗R2との直列回路からなり、抵抗R1及び可変抵抗VR1の接続点の電圧を光量調整電圧V1として出力する。ここで、可変抵抗VR1の抵抗値を増加又は減少させることによって、抵抗R1の抵抗値と可変抵抗VR1及び抵抗R2の合成抵抗値とで決まる分圧比が変化して、光量調整電圧V1の電圧値が変化する。図4(a)は可変抵抗VR1の抵抗値と光量調整電圧V1の関係を示す図であり、可変抵抗VR1の抵抗値が増加するにつれて、分圧比が高くなり、光量調整電圧V1が増加する。
The light amount
最大指令電圧生成回路ブロック4は、定電圧源の一定電圧Vrefを分圧する抵抗R3,R4の直列回路からなり、定電圧源の電圧Vrefを高精度の抵抗R3,R4で分圧することによって、ばらつきの少ない一定の最大指令電圧Vmaxが生成される。図4(b)は可変抵抗VR1の抵抗値と最大指令電圧Vmaxの関係を示す図であり、可変抵抗VR1の抵抗値の増減に関係なく、最大指令電圧Vmaxは略一定の値となる。
The maximum command voltage
指令電圧切替回路ブロック5は、光量調整回路ブロック3の光量調整電圧V1および最大指令電圧生成回路ブロック4の最大指令電圧Vmaxが入力端子CH1,CH0にそれぞれ入力されるマルチプレクサMPXと、抵抗R5,R6の直列回路からなり定電圧源の一定電圧Vrefを分圧して閾値電圧V5を生成する閾値電圧生成回路5aと、光量調整回路ブロック3の出力電圧V1と閾値電圧V5との高低を比較するコンパレータCPと、コンパレータCPの出力端に抵抗R7を介してベース端子が接続されるとともに、エミッタが回路のグランドに接続され、コレクタがマルチプレクサMPXの制御端子Aに接続されるトランジスタT1とを備え、マルチプレクサMPXの出力端子OUTの電圧V2が光量指令電圧としてレーザ駆動回路ブロック2に供給される。なお、トランジスタT1のコレクタ端子は抵抗R8を介して一定電圧Vccにプルアップされている。
The command voltage
ここで、閾値電圧生成回路5aでは、定電圧源の一定電圧Vrefを高精度の抵抗R5,R6で分圧することによって、最大指令電圧Vmaxよりも低く、且つ、ばらつきの少ない一定の閾値電圧V5を生成する。コンパレータCPは光量調整回路ブロック3から入力される光量調整電圧V1と閾値電圧V5との高低を比較しており、光量調整電圧V1が閾値電圧V5を超えない場合は、コンパレータCPの出力がLレベルとなって、トランジスタT1がオフになり、マルチプレクサMPXの制御端子Aの電圧がHレベルとなる。マルチプレクサMPXは、制御端子Aの電圧がHレベルの場合は入力端子CH1の電圧を出力端子OUTから出力させ、制御端子Aの電圧がLレベルの場合は入力端子CH0の電圧を出力端子OUTから出力させるので、光量調整電圧V1が閾値電圧V5よりも低い場合は入力端子CH1に入力された光量調整電圧V1が出力端子OUTから出力される。一方、光量調整回路ブロック3から入力される光量調整電圧V1が閾値電圧V5を超えると、コンパレータCPの出力がHレベルとなって、トランジスタT1がオンになり、マルチプレクサMPXの制御端子Aの電圧がLレベルとなるので、入力端子CH0に入力された最大指令電圧Vmaxが出力端子OUTから出力される。
Here, in the threshold voltage generation circuit 5a, the constant voltage Vref of the constant voltage source is divided by the high-precision resistors R5 and R6, whereby the constant threshold voltage V5 that is lower than the maximum command voltage Vmax and has little variation is obtained. Generate. The comparator CP compares the light intensity adjustment voltage V1 input from the light intensity
図4(c)は可変抵抗VR1の抵抗値と指令電圧切替回路ブロック5から出力される光量指令電圧V2との関係を示す図であり、光量調整電圧V1が閾値電圧V5よりも低い範囲では光量指令電圧V2は光量調整電圧V1となり、光量調整電圧V1が閾値電圧V5よりも高い範囲では光量指令電圧V2は最大指令電圧Vmaxとなる。
FIG. 4C is a diagram showing the relationship between the resistance value of the variable resistor VR1 and the light amount command voltage V2 output from the command voltage
このように、本実施形態では光出力調整部2eとは別に、定電圧源の一定電圧を分圧して光量調整電圧V1を生成する光量調整回路ブロック3を設けており、この光量調整回路ブロック3を構成する可変抵抗VR1の抵抗値を変化させることによって、光量調整回路ブロック3の分圧比が変化して光量調整電圧V1が変化するので、光量調整電圧V1が閾値電圧V5を超えない範囲では可変抵抗VR1の抵抗値を変化させることで、光量指令電圧V2を変化させて、この光量指令電圧V2を分圧回路2bで分圧して得られる基準電圧V3を変化させることができる。そして、この基準電圧V3に電流−電圧変換回路2aの出力電圧V4が一致するようにフィードバック制御することで、レーザダイオード1aから出力されるレーザ光の光量を変化させることができ、レーザ墨出し器の使用場所に応じてレーザ光の明るさを変化させることができる。
As described above, in the present embodiment, the light amount
また、最大指令電圧Vmaxよりも低い所定の閾値電圧V5を光量調整電圧V1が超えると、指令電圧切替回路ブロック5が最大指令電圧Vmaxを光量指令電圧V2として出力するので、この時の光量指令電圧V2を分圧して得た基準電圧V3が最大の電圧値となり、レーザダイオード1aから出力されるレーザ出力を最大の出力とすることができる。また、最大指令電圧生成回路ブロック4と指令電圧切替回路ブロック5とで構成される指令電圧制限部によって、光量指令電圧V2が最大指令電圧Vmax以下に制限されるので、光量指令電圧V2を分圧して得られる基準電圧V3を所定の上限値以下に制限することができ、その結果レーザダイオード1aから出力されるレーザ出力に上限が設けられ、レーザ出力が過大になるのを防止できる。
Further, when the light amount adjustment voltage V1 exceeds a predetermined threshold voltage V5 lower than the maximum command voltage Vmax, the command voltage
また、指令電圧生成部6の電源と、レーザダイオード1aの駆動電源Vccとを同じ電源とした場合は、レーザ光が消えてしまうためにレーザダイオード1aの最低駆動電圧以下まで光量指令電圧V2を下げることができないが、本実施形態では指令電圧生成部6の定電圧源Vrefと、レーザダイオード1aの駆動電源とを別々の電源としているので、光量指令電圧V2を任意の電圧に設定でき、レーザダイオード1aの最低駆動電圧以下まで下げることもできる。
Further, when the power supply of the
1 半導体レーザモジュール
1a レーザダイオード
1b モニタダイオード
2 レーザ駆動回路ブロック
3 光量調整回路ブロック
4 最大指令電圧生成回路ブロック
5 指令電圧切替回路ブロック
6 指令電圧生成部
I1 駆動電流
I2 モニタ電流
V1 光量調整電圧
V2 光量指令電圧
Vmax 最大指令電圧
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