JP4001338B2 - Sample transport device and thermal analysis device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、試料を収容した試料容器を1つの位置から他の位置へ搬送する試料搬送装置に関する。また、本発明は、DSC(Differential Scanning Calorimetry:示差走査熱量測定)、DTA(Differential Thermal Analysis:示差熱分析)、その他の熱分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
現在、試料に関して分析を行う各種の装置が知られている。例えば、このような装置の一例である熱分析装置では、試料の温度を変化させながらその試料の特性の温度依存性を測定する。このような熱分析装置として、例えば、DSC装置、DTA装置、その他種々の装置が知られている。
【0003】
熱分析装置においては、一般に、測定対象である試料を試料容器内に収容し、その試料容器を所定の測定位置に置き、試料容器を通して試料の温度を変化させながら、その試料の温度変化等を熱電対等といった温度センサを用いて測定する。
【0004】
このような熱分析装置において、試料を自動的に交換しながら熱分析を行いたいという要求がある。この要求を達成するため、待機部に置かれた複数の試料容器のうちの1つを試料搬送装置によって所定の測定位置まで搬送することができる構成を有する熱分析装置が知られている。ここで用いられる試料搬送装置は、一般に、試料容器を把持する部分と、その把持部を1つの位置から他の位置へ搬送する搬送部とを有している。
【0005】
従来、このような試料搬送装置として、図11(a)に示す把持構造を有するものが知られている。この把持構造は、3本又は4本の把持片101をワイヤ102によって開閉できる構造を有し、それらの把持片101を閉じることによって試料容器103を把持、すなわち、つかむようになっている。
【0006】
また、従来、図11(b)に示すように、一対の板状部材104a,104bをそれぞれの一端において互いに回り移動可能に連結して成る把持構造、いわゆるピンセット方式の把持構造が知られている。この把持構造においては、一対の板状部材104a,104bの他端を矢印Aのように開閉移動させることによって試料容器103を把持するようになっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、現在、試料容器としては種々の形状や種々の材質のものが使用されている。例えば、図9(a)に示すように、底51を備えた深さの深い円筒形状の容器52Aがある。また、図9(b)に示すように、底51を備えた深さの浅い円筒形状の容器52Bがある。
【0008】
また、図1に示すように、底51を備えた円筒形状の試料収容部分53の開口部分を円板状の蓋54を圧接等によって固着して成る容器52Cがある。この容器52Cは、蓋54で開口を覆う構造なので、液体試料を収容するのに適している。また、この容器52Cに関しては、蓋54を固着させるスペースを確保するため、蓋54の周縁部分が試料収容部分53の半径方向の外側に張り出している。
【0009】
図11(a)に示したワイヤ方式の把持構造を備えた従来の試料搬送装置や、図11(b)に示したピンセット方式の把持構造を備えた従来の試料搬送装置においては、適切に把持できる試料容器の形状が特定のものに限定されてしまい、種々の形状の試料容器を正確に把持できないおそれがあるという問題があった。特に、図1に示すように部分的に突出する形状を有する容器52Cについては、それを把持することが難しかった。また、試料容器が小さくて軽いものでは、試料容器が把持部材から離れ難いという問題があった。
【0010】
本発明は、上記の問題点に鑑みて成されたものであって、形状の異なる試料容器を確実に把持して搬送できる試料搬送装置及びそれを用いた熱分析装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するため、本発明に係る試料搬送装置は、試料容器を搬送する試料搬送装置であって、前記試料容器を把持する複数の把持部材と、該把持部材を開閉移動させる開閉手段と、前記複数の把持部材を取り外し可能に支持する支持手段とを有し、前記複数の把持部材は第1把持部材及び第2把持部材の少なくとも2種類であり、前記複数の把持部材は、前記試料容器に接触する接触部と、前記試料容器の高さ方向に関して該接触部に隣接して設けられた第1逃げ部とを有し、前記第1把持部材の接触部は前記試料容器の中心方向を向く円弧状面であり、前記第2把持部材の接触部は直線状であり、前記第1及び第2の把持部材は交換して前記支持手段に取り付けられることを特徴とする。
【0012】
この構成の試料搬送装置によれば、把持部材は接触部において試料容器に接触した状態で当該試料容器を把持する。このとき、接触部の近傍には第1逃げ部が設けられているので、試料容器が部分的に突出する形状を有する場合でも、その突出部分は第1逃げ部に収容することができ、それ故、試料容器を接触部によって確実に把持できる。
【0013】
上記構成の試料搬送装置において、前記把持部材の前記接触部には金属酸化膜又はセラミック・コーティングが設けられることが望ましい。こうすれば、搬送した試料容器を把持部材から離す際にその試料容器が把持部材に付着して離れ難くなることを防止できる。この効果は、試料容器の材質がAl(アルミニウム)であるときに、特に有効である。また、この効果は、試料容器が小さいか、軽いか、又は小さくて軽い場合に、特に有効である。
【0014】
上記の金属酸化膜等を形成するための方法は特別の方法に限られないが、例えば、把持部材をステンレス鋼によって形成する場合には、その把持部材を炉の中で600℃程度に昇温させ、その温度で30分程度放置し、さらに炉内で自然冷却するという熱処理を用いることができる。
【0015】
上記構成の試料搬送装置において、前記把持部材の前記接触部は複数であることが望ましい。仮に、接触部が面積の広い1つの部分であると、その接触部によって試料容器をつかむときに試料容器が接触部に押されて回転したり、移動したりして、正常に把持できなくなるおそれがある。これに対し、接触部を複数に分けておけば、接触部と試料容器との接触面積を低減でき、それ故、試料容器の位置ズレを防止できる。
【0016】
上記構成の試料搬送装置において、前記接触部は前記把持部材の端部に位置し、前記第1逃げ部は該接触部の直ぐ隣りに設けられることが望ましい。接触部を把持部材の端部に設ければ、この接触部は試料容器の底部付近の外周面に接触して該試料容器を把持することになる。従って、試料容器の深さが深い場合でも、浅い場合でも、すなわち試料容器の高さが高い場合でも、低い場合でも、その試料容器を確実に把持できる。また、第1逃げ部を接触部の直ぐ隣りに設ければ、図1に示す容器52Cのように、被把持部分53の直ぐ上に半径方向の外側へ張り出す張出し部分、いわゆるツバ部分を有する形状の容器を確実に把持できる。
【0017】
上記構成の試料搬送装置は、前記把持部材を取り外し可能に支持する支持手段を有することが望ましい。こうすれば、特殊形状の容器に対応して把持部材を交換できるようになる。また、把持部材が破損した場合にはその把持部材を別のものと容易に交換できる。
【0018】
上記構成の試料搬送装置において、前記接触部は、前記試料容器の外周の環状方向に間隔をおいて少なくとも2つ設けられ、これらの接触部の間には前記試料容器を逃がすための第2逃げ部が設けられ、前記接触部は、前記試料容器の中心方向を向く円弧状面、前記試料容器の中心方向を向く直線状傾斜面、又は角部を備えていて前記試料容器の中心方向を向く面を有することが望ましい。
【0019】
上記の円弧状面は、試料容器の被把持面が円筒形状であるときに有効である。また、直線状傾斜面及び角部を備えた面は、試料容器の被把持面が正方形、長方形、ひし形等といった角筒形状であるときに有効である。本発明のこの実施態様によれば、円筒形状や角筒形状の試料容器をしっかりと把持できる。
【0020】
次に、本発明に係る熱分析装置は、測定を受ける試料容器が置かれる測定部と、測定を受ける前又は測定を受けた後の試料容器が置かれる待機部と、前記測定部と前記待機部との間で前記試料容器を搬送する試料搬送手段とを有し、該試料搬送手段は、以上に記載した構成の試料搬送装置によって構成されることを特徴とする。このような熱分析装置としては、例えば、DSC装置、DTA装置等が考えられる。上記の測定部は、例えば、DSC装置等において感熱板やヒータや温度センサの測温点等が配置された部分である。また、待機部には、例えば、複数の試料容器が載置されるターンテーブルが設置される。
【0021】
上記構成の熱分析装置によれば、複数の試料容器を試料搬送装置によって待機部から測定部へと順々に搬送することにより、無人で夜でも自動的に試料交換ができ、異なる複数の試料に対して熱分析を行うことができる。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を熱分析装置のための試料交換装置に適用した場合の実施形態を説明する。なお、これから説明する実施形態は本発明の一実施形態であって、本発明はこの実施形態に限定されるものではない。
【0023】
図4において、熱分析装置の一例であるDSC装置1は、DSC測定の対象である測定試料が収容される測定部2と、測定前又は測定後の試料が置かれる待機部3と、測定部2と待機部3との間で試料を搬送する試料搬送部4とを有する。測定部2はカバー7を昇降移動させるカバー開閉装置8を有する。待機部3、試料搬送部4及びカバー開閉装置8は、測定部2においてDSC測定を受ける試料を自動的に交換するための試料交換装置を構成する。
【0024】
測定部2は、図5に示すように、断熱容器9と、その断熱容器9の中に収容された炉体ユニット11とを有する。カバー7は、DSC測定の際に断熱容器9の上部開口を覆う。炉体ユニット11は、図7に示すように、外周にヒータ線12が巻かれた円筒状のヒートシンク13と、ヒートシンク13の外周を覆う円筒状のカバー14とを有する。
【0025】
ヒートシンク13とカバー14は、それらの上端部において溶接等によって固着されて互いに一体になっている。ヒートシンク13の内部には円柱状の空間である試料室Rが形成されていて、ヒートシンク13の底壁13aがその試料室Rの底部となっている。
【0026】
ヒートシンク13の側壁に接触又は近接するように2個の下均熱ブロック17が互いに対向して配置される。そして、これらの下均熱ブロック17の上に感熱板18が載せられ、さらにその感熱板18の上に下均熱ブロック17に対向して上均熱ブロック19が載せられる。そして、それらの上均熱ブロック19、感熱板18及び下均熱ブロック17は、止めネジ21によってヒートシンク13の底壁13aに締め付けられて固着されている。感熱板18は、矢印B方向から見て図8に示すように、概ね円形状に形成されている。図8は、図7においてカバー7を取り外して試料室Rの内部を示している。
【0027】
感熱板18は、固定部18b及び固定部18bの上方へ突出する試料載置部18aを有する。試料載置部18aには、測定試料23を載置するための領域Saと基準物質24を載置するための領域Sbとが設けられる。また、これらの領域の間に2個の貫通穴22a及び22bが設けられる。測定試料23及び基準物質24は試料容器52に収容された状態で感熱板18の試料載置部18aの上に載せられる。なお、測定試料23を載置するための領域Saは、これ以降、測定位置P2と呼ばれることもある。
【0028】
図7において、ヒートシンク13の底壁13aの中心部に碍子管27が設けられ、その碍子管27の中に熱電対28が挿入されている。熱電対28は、例えば4本の熱電対線によって構成され、一対の熱電対の測温点は測定試料23に対応する位置の感熱板18の下面にスポット溶接その他の固着処理によって固着される。また、他の一対の熱電対の測温点は基準物質24に対応する位置の感熱板18の下面にスポット溶接その他の固着処理によって固着される。
【0029】
ヒートシンク13の右側面には別の碍子管29が設けられ、その碍子管29の中に一対の熱電対線31が挿入されている。この熱電対線31の測温点は、ヒートシンク13の底壁13aの適所に接続される。また、ヒートシンク13の左側面に設けたチューブ32には給電線33が挿入され、この給電線33がヒータ線12の入力端子に接続されている。熱電対31によってヒートシンク13の温度を測定し、この測定結果に基づいて給電線33を通してヒータ線12へ必要に応じて給電を行うことにより、ヒートシンク13の温度、従って、試料室R内の温度を制御できる。
【0030】
以上のように構成された炉体ユニット11は以下のように用いられる。まず、図7においてカバー7を取り外し、試料室R内の感熱板18の上、特に試料載置部18aの上に試料容器52に入れられた測定試料23及び基準物質24を置く。その後、カバー7をヒートシンク13の上に被せて試料室Rを外部から遮蔽する。
【0031】
その後、所定のプログラムに従ってヒータ線12に給電が成されて該ヒータ線12が発熱し、その発熱によりヒートシンク13が昇温する。昇温するヒートシンク13の温度は、特にその底壁13aから下均熱ブロック17を通して感熱板18へ伝達されてその感熱板18が昇温する。そして、その感熱板18の温度が容器52を通して測定試料23及び基準物質24へ伝えられ、これにより、測定試料23及び基準物質24の温度が所定プログラムに従って昇温又は降温する。
【0032】
基準物質24は熱的に安定な材料によって形成されており、温度が変化しても融解、蒸発等といった物性変化は生じない。これに対し、測定試料23が自らの特性に従って温度変化に対応して物性変化を生じると、測定試料23と基準物質24との間に温度差が生じる。測定試料23及び基準物質24の温度、特にそれらの表面温度は、熱電対27によって検出されて温度信号として温度差測定回路(図示せず)へ送られる。この温度差測定回路は送られて来た温度信号に基づいて測定試料23と基準物質24との間の温度差ΔTを算出し、その算出結果を熱量演算回路(図示せず)へ送る。
【0033】
この熱量演算回路は、温度差ΔTに基づいて測定試料23に流れ込む熱流束、従って熱量を演算する。演算された熱量は測定時間又は試料室R内の温度の関数として表示装置、例えばCRT(Cathode Ray Tube)ディスプレイ、液晶ディスプレイ等といった映像表示装置や、プリンタ等といった記録装置等によって、視覚的に表示される。以上により、測定試料23に関してDSC測定が行われる。
【0034】
図4において、待機部3はターンテーブル36を有し、このターンテーブル36を回転させるための回転駆動装置37がケーシング38の中に収容されている。ターンテーブル36の外周縁に近い円輪状領域には、複数の試料容器52を円輪状に並べて載せるためのガイド構造(図示せず)が設けられている。例えば、試料容器52を収容できる大きさの穴をターンテーブル36の表面に設けたり、試料容器52を収容できるようにガイド突起をターンテーブル36の表面上に形成したりすることによって、試料容器52のためのガイド構造を構成できる。
【0035】
ターンテーブル36は回転駆動装置37によって駆動されて、所定の角度で間欠的に回転する。この間欠回転により、ターンテーブル36上に円輪状に並べられた複数の試料容器52は、図6に示すように、順々に、把持位置P1へ持ち運ばれる。複数の試料容器52内には、異なる物質が試料として収納される。コンピュータ等を用いて構成された制御装置によって回転駆動装置37の動作を制御すれば、測定を希望する試料が収容された試料容器52を順々に自動的に把持位置P1へ持ち運ぶことができる。
【0036】
なお、ターンテーブル36上に載置できる複数の試料容器52の形状及び材質は1種類に限られず、下記のように種々のものがある。下記では、試料容器52の種類を(形状×材質×寸法)で表している。但し、形状が“円筒”のものは図9(a)の円筒形状を表し、その場合の寸法は、図9(a)の外径φDmm及び高さHmmで表す。また、形状が“張出し付き”のものは図1の張出し付き容器52Cを表し、その場合の寸法は図10に示す部分(単位mm)を規定する。
【0037】
(1)円筒×Al×φ5×2.5 (2)円筒×Al×φ5×5
(3)円筒×アルミナ×φ5×2.5 (4)円筒×アルミナ×φ5×5
(5)円筒×Pt×φ5×2.5 (6)円筒×Pt×φ5×5
(7)円筒×石英×φ5×2.5 (8)円筒×石英×φ5×5
(9)円筒×Cu×φ5×2.5 (10)円筒×Ag×φ5×2.5
(11)円筒×Au×φ5×2.5 (12)円筒×Au×φ5×5
(13)張出し付き×Al×L1=5.5,L2=4.6,L3=2.1,L4=0.2
【0038】
図4に示した試料搬送部4は、図5に示すように、旋回/昇降装置41及びその旋回/昇降装置41に支持された把持ユニット42を有する。旋回/昇降装置41は、軸43によってテーブル6に回転可能に支持されたケーシング44を有する。このケーシング44の内部には、DC(すなわち、直流)モータ46と、そのDCモータ46の出力軸に接続されたギヤケース47と、そのギヤケース47の出力軸に接続されたネジ軸48と、そのネジ軸48に嵌合するスライドベース49と、そのスライドベース49に固定されると共にケーシング44の上部を貫通するスライドシャフト61とを有する。
【0039】
ケーシング44の底部に固定された軸43はテーブル6の内部においてステッピングモータ62の出力軸に接続されている。ステッピングモータ62が図示しない制御回路からの指示に従って作動して、その出力軸が回転すると、軸43が回転し、それに応じてケーシング44が回転する。このケーシング44の回転により、把持ユニット42は図6に示すように、待機部3と測定部2との間を回り移動する。
【0040】
図5において、DCモータ46が図示しない制御回路からの指示に従って作動して、その出力軸が回転すると、その回転がギヤケース47内のギヤ列を介してネジ軸48に伝えられて、そのネジ軸48が回転する。ネジ軸48が回転すると、それに嵌合しているスライドベース49がネジ軸48の軸方向、すなわち図5の上下方向へ平行移動する。この平行移動の際、スライドベース49に固定されたスライドシャフト61が上下方向へ平行移動し、これにより、スライドシャフト61に固定された把持ユニット42が上下移動、すなわち昇降移動する。
【0041】
把持ユニット42は、スライドシャフト61に固定された昇降ベース63と、その昇降ベース63上に固定されたリニア・ステッピング・アクチュエータ64と、そのリニア・ステッピング・アクチュエータ64の出力軸に接続された開閉機構66と、以上の各要素を覆うカバー67とを有する。リニア・ステッピング・アクチュエータ64は、その出力軸64aが矢印Fのように進退移動するように動作する作動機器である。このような構造は、例えば、回転機器の回転出力をネジ嵌合によって直線移動に変換することによって達成できる。
【0042】
開閉機構66の先端には、図6に示すように、互いに対向する一対の開閉部材68が設けられる。開閉機構66は、リニア・ステッピング・アクチュエータ64の出力軸64aが矢印Fのように進退移動するときに、開閉部材68を矢印Gのように平行移動させるように機能する。この機能は公知の種々の機構によって達成できるので、その詳しい説明は省略する。
【0043】
一対の開閉部材68のそれぞれの先端には、支持部材69が固定されている。これらの支持部材69は、図5に示すように、下方へ延びている。そして、これらの支持部材69のそれぞれの下端には、図1に示すように、把持部材71がネジ72によって取り付けられている。ネジ72を取り外せば把持部材71を支持部材69から外すことができ、さらに、別の把持部材71をネジ72によって支持部材69に取り付けることができる。このように、把持部材71は支持部材69に対して着脱可能な構造となっている。なお、把持部材71を支持部材69に取り外し可能に取り付ける構造は、ネジ結合に限られず、任意に構成することができる。
【0044】
把持部材71は、例えばステンレス鋼によって形成されている。また、把持部材71の下端部には、相手側の把持部材71に向かって突出する把持片73が設けられている。把持片73のほぼ中央にはスリット74が形成され、このスリット74の存在により把持片73は複数、本実施形態では2つの部分に分割されている。そして、分割された個々の把持片73の先端には試料容器52Cの外周面に接触する接触部73aが設けられている。
【0045】
これらの接触部73aは、図2に示すように、試料容器52の外周の環状方向Jに間隔をおいて2つ設けられている。これらの接触部73aの間には試料容器52の外周面に沿った空間K2が設けられ、この空間K2によって第2逃げ部が形成されている。この第2逃げ部K2は、試料容器52の外周面が真円でないときでも、接触部73aだけで試料容器52をつかむことを可能とするように機能する。
【0046】
一対の接触部73aは、試料容器52の中心方向を向く円弧状面として形成されており、この円弧状面の円弧の直径は試料容器52の外周面の直径とほぼ同じ値、例えば、4.6mm程度に設定されている。これにより、把持部材71によって試料容器52を安定して把持できる。なお、接触部73aの形状は、試料容器52の外周面の形状に対応させて形成することが望ましい。
【0047】
図6において、開閉部材68が矢印Gのように開閉のための平行移動を行うとき、支持部材69もそれと一体となって平行移動する。そして、支持部材69が図1において矢印Eのように閉じる方向へ平行移動するとき、把持部材71はそれと一体となって平行移動する。このとき、把持片73は、その先端の接触部73aが試料容器52Cの試料収容部分53の外周面に接触した状態で試料容器52Cを把持する。
【0048】
試料容器52Cの高さ方向(すなわち、図1の上下方向)に関して、把持部材71における把持片73の直ぐ上の部分は切り欠かれていて、空間K1が形成されている。この空間K1は、接触部73aが試料容器52Cの側面に接触するとき、蓋54が試料収容部分53の外側へ張り出す部分、すなわちツバ部分を収容する。つまり、空間K1は容器52Cのツバ部分を逃がすための第1逃げ部として機能する。
【0049】
なお、第1逃げ部は必ずしも空間K1によって形成されることに限定されるものではなく、接触部73aが試料容器52Cの側面に接触するときにツバ部を逃がすことのできる構造となっていれば良い。例えば、空間K1の中にスポンジその他の弾性変形可能部材が埋め込まれているような構造であっても構わない。
【0050】
把持部材71に関して、少なくとも把持片73の接触部73aの部分には金属酸化膜形成処理が施されている。つまり、接触部73aの表面には金属酸化膜が形成されている。この金属酸化膜形成処理は、例えば、ステンレス鋼によって形成された把持部材71を炉内で約600℃まで昇温し、その温度で約30分放置し、さらに炉内で室温まで自然冷却するという熱処理によって行うことができる。
【0051】
このように接触部73aの表面に金属酸化膜を形成しておけば、一対の把持片73によって試料容器52Cを把持するとき、及び把持していた試料容器52Cを離すとき、試料容器52Cが接触部73aに付着することを防止でき、それ故、把持部材71による試料容器52Cの把持特性及び分離特性を良好にすることができる。なお、金属酸化膜に代えてセラミック・コーティングを施しても同様の効果が得られる。
【0052】
以下、図4のDSC装置1によって、試料を自動的に交換しながらDSC測定を行う場合の動作について説明する。まず、図6において、待機部3のターンテーブル36上の所定の円輪状領域に、測定を希望する複数の試料を個々に収容した複数の試料容器52を円輪状に並べる。このとき、試料容器52の形状及び材質は収容する試料に応じて適切なものが選択される。例えば、図9(a)に示すような深い円筒形状の容器52Aであったり、図9(b)に示すような浅い円筒形状の容器52Bであったり、図1に示すようなツバ付きの液体試料用の容器52Cであったりする。また、断面形状が正方形、長方形、ひし形等といった角筒形状の容器が用いられることもある。
【0053】
図6において、ターンテーブル36上に希望の複数の試料容器52が全て並べられた後、測定者によって作業開始の指示が成されると、ターンテーブル36が回転して、複数の試料容器52のうちの1つが把持位置P1に置かれる。その後、図5のステッピングモータ62が作動して、旋回/昇降装置41のケーシング44が旋回して、把持ユニット42を図6の鎖線42Aで示す待機側位置へセットする。なお、このとき、把持ユニット42は、図5に鎖線で示す上位置42Bに置かれている。
【0054】
把持ユニット42が図6の待機側位置42Aにセットされると、図4において、スライドシャフト61が下降して把持ユニット42が下降し、これにより、支持部材69によって支持された把持部材71が下降する。こうして下降する把持部材71は、図1に示すように、把持片73が試料容器52Cの試料収容部分53の側方まで下がった所でその下降を停止する。
【0055】
その後、図6のリニア・ステッピング・アクチュエータ64が作動して開閉部材68及び支持部材69が閉じる方向へ平行移動する。これにより、図1において、支持部材69の矢印E方向への平行移動に応じて把持部材71が同じ方向へ平行移動し、把持片73の接触部73aが試料容器52Cの側面に接触した状態で試料容器52Cが把持部材71によって把持される。このとき、蓋54の周縁のツバ部分は第1逃げ部としての空間K1の中に収容されるので、把持動作がツバ部分の存在によって邪魔されることはない。また、図2において、容器52の断面形状が真円でなくて部分的に半径方向へ突出する場合でも、その突出部分を第2逃げ部K2に収容することにより、接触部73aによってしっかりと把持できる。
【0056】
以上により、試料容器52Cが把持部材71によって把持されると、図4において、スライドシャフト61が上昇して把持ユニット42が上昇し、これにより、試料容器52を把持した把持部材71及び支持部材69が上昇する。以上のような試料容器52Cに対する把持動作が行われている間、又はその把持動作が終了した後、図4において、カバー開閉装置8が作動してカバー7が上方へ持ち上げられ、図5において炉体ユニット11の上部が開放される。
【0057】
次に、図5のステッピングモータ62が作動して旋回/昇降装置41が回転し、図6において待機側位置42Aにあった把持ユニット42が図の反時計方向へ回り移動し、実線で示す測定側位置42Cで停止する。このとき、把持部材71に把持された試料容器52Cは図8の炉体ユニット11内の測定位置P2の上方に位置する。
【0058】
その後、図5において、DCモータ46が作動してスライドシャフト61が下降し、これにより、把持ユニット42が上位置42Bから下位置42Dへ平行移動する。この位置で、把持部材71に把持された試料容器52Cは感熱板18の測定位置P2に載るか、あるいはその近接位置に置かれる。次に、リニア・ステッピング・アクチュエータ64が作動して把持部材71が平行移動によって開き、試料容器52Cが測定位置P2上に載せられる。
【0059】
その後、把持ユニット42が上昇することによって把持部材71が上昇して炉体ユニット11の上方へ移動する。さらに、図6において把持ユニット42が正時計方向へ回り移動して測定部2の上方から外れる。そして次に、図4においてカバー開閉装置8が作動してカバー7が下降して炉体ユニット11の上に被される。その後、適宜のタイミングで炉体ユニット11の内部でDSC測定が開始される。
【0060】
1つの試料容器52CについてのDSC測定が終了し安全な温度になると、図4においてカバー7が上方へ持ち上げられて開き、図6において把持ユニット42が回り移動して炉体ユニット11の上方へ置かれ、図5において把持ユニット42が上位置42Bから下位置42Dへ降下し、把持部材71が平行移動して閉じ、そして、測定が終了した試料容器52Cを把持する。その後、把持ユニット42の上昇及び回り移動により、試料容器52Cが炉体ユニット11内の測定位置P2から持ち出されて、図6のターンテーブル36上の把持位置P1に戻されるか、あるいは、適宜に設定されたその他の排出位置に排出される。
【0061】
試料を交換してDSC測定を継続して行いたい場合には、ターンテーブル36を適宜の角度だけ回転させて希望の試料容器52を把持位置P1へ持ち運び、そして、以上に説明した試料容器の搬送作業及びDSC測定を繰り返して行う。こうして、ターンテーブル36上に載置された複数の試料容器52に関して順々にDSC測定を行うことができる。
【0062】
以上に説明したDSC装置1においては、図1の把持部材71に接触部73aを設け、さらに、試料容器52Cの高さ方向に関してその接触部73aに隣接する直上位置に第1逃げ部としての空間K1を設けたので、ツバ付き形状の試料容器52Cを支障なく把持して搬送できるようになった。
【0063】
また、図1の把持部材71の全体又は少なくとも把持片73の先端の接触部73aに熱処理を施してその表面に金属酸化膜を形成したので、搬送した試料容器52Cを把持部材71から離す際にその試料容器52Cが把持部材71の接触部73aに付着して離れ難くなることを防止できる。この効果は、試料容器52Cの材質がAl(アルミニウム)であるときに、特に有効である。その理由は、Alが軽量かつ軟質であることが1つの原因であると考えられる。
【0064】
また、図1に示すように、把持部材71の把持片73にスリット74を形成することにより接触部73aを複数、本実施形態では2つ、に分割したので、把持部材71と試料容器52Cとが接触する面積を小さくできる。この結果、接触部73aによって試料容器52Cをつかむときに試料容器52Cが接触部73aに押されて回転したり、移動したりして、正常に把持できなくなるという現象を回避できる。
【0065】
また、上記の実施形態では、図1に示すように、把持部材71の下端部に接触部73aを設け、その直ぐ上に第1逃げ部としての空間K1を連続して設けた。これにより、接触片73aは常に試料容器52Cの底に近い周辺部分を把持することになる。このことは、試料容器52C又はそれ以外の形状の試料容器52の高さが種々に変化する場合でも常に安定して試料容器52を把持できるということである。
【0066】
また、図1において、把持部材71は支持部材69にネジ72によって取り外し可能に固定されている。こうすれば、試料容器52が特殊形状になる場合でも、それに対応して把持部材71を交換できる。また、把持部材71が破損した場合にはその把持部材71を別のものと交換できる。
【0067】
また、図1において、試料容器52Cの外周面、すなわち被把持部分の形状は円筒形状である。把持部材71の把持片73の接触部73aは、そのような試料容器52Cの外周面に対応した円弧形状に形成されている。これにより、把持部材71は試料容器52Cをしっかりと把持できる。
【0068】
(変形例)
本発明における把持部材は接触部と第1逃げ部とを有することが必須の要件であり、それ以外の点については何等の限定要件はない。従って、本発明における把持部材の形状、使用形態等は図1に示した把持部材71の形状に限られるものではなく、種々に改変できる。
【0069】
例えば、把持部材の数は3個以上とすることができる。また、把持部材をステンレス鋼のような剛性の高い材料によって形成するのではなく、多少の可撓性を有する材料によって形成することもできる。また、図1に示すような長細い形状に限られず、その他の任意の形状によって把持部材を形成することもできる。
【0070】
また、上記実施形態では、図6において、リニア・ステッピング・アクチュエータ64、開閉機構66、開閉部材68等によって本発明における開閉手段を構成した。しかしながら、この開閉手段は、その他の任意の構造によって構成できる。また、上記実施形態では、図1の空間K1によって本発明における第1逃げ部を構成した。しかしながら、空間K1の大きさや位置は図1に示した実施形態に限定されるものではなく、試料容器の形状に応じて適宜に変更できる。また、本発明における第1逃げ部は空間K1に限定されない。例えば、空間K1に相当する部分に弾性変形が可能な部材を設けるような場合も本発明に含まれる。
【0071】
また、上記実施形態では、図1の接触部73aに金属酸化膜形成処理、例えば熱処理を施すようにした。しかしながら、本発明は、金属酸化膜に代えてセラミック・コーティングを施す構成や、金属酸化膜形成処理を受けない状態の接触部73aを使用する構成も含むものである。
【0072】
また、図1の把持部材71に関しては、把持片73に1つのスリット74を形成して接触部73aを2つに分割した。しかしながら、接触部73aの数は2つに限られず、3つ以上とすることができる。また、接触部73aを分割しない構成も本発明に含まれる。また、接触部73aを分割せず、それに代えて、幅の狭い接触部73aを試料容器52Cの回りに3個以上設けるという構成も考えられる。
【0073】
また、図1の把持部材71に関しては、把持部材71の下端部に接触部73aを設けた。しかしながら、接触部73aを設ける位置は、必ずしも、把持部材71の下端部に限られず、試料容器52の形状に応じて種々の位置に設けることができる。
【0074】
また、図1の把持部材71に関しては、支持部材69に対して着脱可能な構造とした。しかしながら、支持部材69を設けることなく、把持部材71を開閉機構によって直接に開閉する構造も本発明に含まれるものである。
【0075】
また、図1の把持部材71に関しては、接触部73aの形状を試料容器52の被把持部分の形状に対応する形状とした。しかしながら、接触部73aの形状がそれ以外の任意の形状である場合も本発明に含まれるものである。
【0076】
また、上記の実施形態では、図4に示したように、本発明に係る試料搬送装置をDSC装置のための試料交換装置を構成する要素として適用した。しかしながら、本発明に係る試料搬送装置は、試料交換装置以外の任意の試料搬送部分に適用できる。また、本発明を適用できる熱分析装置は、DSC装置に限られず他の任意の熱分析装置とすることができる。
【0077】
また、上記実施形態では、図2に示したように、接触部73aを円弧状面に形成したが、これに代えて接触部73aは、図3(a)に示すように、試料容器52の中心方向を向く直線状傾斜面とすることができる。この形状の接触部73aによれば、断面が四角形状、例えば正方形状、長方形状、ひし形状の試料容器52をつかむのに好都合である。この場合、一対の接触部73aの間に位置する第2逃げ部K2は、試料容器52の頂角部分のための逃げ部として機能する。
【0078】
また、接触部73aは、図3(b)に示すように、角部Qを備えていて試料容器52の中心方向を向く面とすることができる。この角部Qにより、断面が四角形状の試料容器52の頂角部分をしっかりと確実につかむことができる。
【0079】
【発明の効果】
以上に説明したように、本発明によれば、接触部の近傍に第1逃げ部を設けたので、試料容器が部分的に突出する形状を有する場合でも、その突出部分は第1逃げ部に収容することができ、それ故、試料容器を接触部によって確実に把持できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る試料搬送装置の一実施形態を示す斜視図である。
【図2】図1の装置の主要部分である接触部の近傍を示す平面図である。
【図3】試料搬送装置の他の実施形態の主要部分を示す平面図である。
【図4】本発明に係る熱分析装置の一実施形態を示す斜視図である。
【図5】図4に示す熱分析装置の主要部の側面断面図である。
【図6】図5に示す構造の平面図である。
【図7】図4に示す熱分析装置の主要部である炉体ユニットの側面断面図である。
【図8】図7の炉体ユニットの平面図である。
【図9】試料容器の例を示す図であり、(a)は円筒形状で深い試料容器を示し、(b)は円筒形状で浅い試料容器を示している。
【図10】図1に示す試料容器の側面図である。
【図11】従来の試料搬送装置の例を示す図であり、(a)はワイヤ方式の試料搬送装置を示し、(b)はピンセット方式の試料搬送装置を示している。
【符号の説明】
1:DSC装置(熱分析装置)、2:測定部、3:待機部、4:試料搬送部、6:テーブル、7:カバー、8:開閉装置、9:断熱容器、11:炉体ユニット、23:測定試料、24:基準物質、36:ターンテーブル、37:回転駆動装置、38:ケーシング、41:旋回/昇降装置、42:把持ユニット、42A:待機側位置、42B:上位置、42C:測定側位置、42D:下位置、43:軸、44:ケーシング、46:DCモータ、47:ギヤケース、51:底、52,52A,52B,52C:試料容器、54:蓋、62:ステッピングモータ、63:昇降ベース、64:リニア・ステッピング・アクチュエータ、66:開閉機構、67:カバー、68:開閉部材、69:支持部材、71:把持部材、72:ネジ、73:把持片、73a:接触部、74:スリット、R:試料室、P1:把持位置、P2:測定位置、[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a sample transport device that transports a sample container containing a sample from one position to another position. The present invention also relates to DSC (Differential Scanning Calorimetry), DTA (Differential Thermal Analysis), and other thermal analyzers.
[0002]
[Prior art]
Currently, various apparatuses for performing analysis on samples are known. For example, in a thermal analysis apparatus which is an example of such an apparatus, the temperature dependence of the characteristics of the sample is measured while changing the temperature of the sample. As such a thermal analysis apparatus, for example, a DSC apparatus, a DTA apparatus, and other various apparatuses are known.
[0003]
In a thermal analyzer, generally, a sample to be measured is accommodated in a sample container, the sample container is placed at a predetermined measurement position, and the temperature of the sample is changed while changing the temperature of the sample through the sample container. Measurement is performed using a temperature sensor such as a thermocouple.
[0004]
In such a thermal analyzer, there is a demand for performing thermal analysis while automatically exchanging samples. In order to achieve this requirement, a thermal analyzer having a configuration in which one of a plurality of sample containers placed in a standby unit can be transported to a predetermined measurement position by a sample transport device is known. The sample transport device used here generally has a part for gripping a sample container and a transport unit for transporting the grip part from one position to another position.
[0005]
Conventionally, as such a sample transport device, one having a gripping structure shown in FIG. This gripping structure has a structure in which three or four
[0006]
Conventionally, as shown in FIG. 11B, a gripping structure in which a pair of plate-
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, at present, sample containers of various shapes and materials are used. For example, as shown in FIG. 9A, there is a deep
[0008]
As shown in FIG. 1, there is a
[0009]
In the conventional sample transport apparatus having the wire-type gripping structure shown in FIG. 11A and the conventional sample transport apparatus having the tweezers-type gripping structure shown in FIG. There is a problem that the shape of the sample container that can be formed is limited to a specific one, and there is a possibility that the sample containers of various shapes cannot be accurately gripped. In particular, as shown in FIG. 1, it was difficult to grip the
[0010]
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a sample transport device that can securely grip and transport sample containers having different shapes, and a thermal analyzer using the sample transport device. To do.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a sample transport apparatus according to the present invention is a sample transport apparatus for transporting a sample container, and includes a plurality of gripping members for gripping the sample container, and an opening / closing means for opening and closing the gripping member. And a support means for removably supporting the plurality of gripping members, wherein the plurality of gripping members are at least two types of a first gripping member and a second gripping member, Said plural The gripping member has a contact portion that contacts the sample container and a first relief portion provided adjacent to the contact portion in the height direction of the sample container. The contact portion of the first gripping member is an arcuate surface facing the center direction of the sample container, the contact portion of the second gripping member is linear, and the first and second gripping members are exchanged. Attached to the support means It is characterized by that.
[0012]
According to the sample transport device having this configuration, the gripping member grips the sample container while being in contact with the sample container at the contact portion. At this time, since the first relief portion is provided in the vicinity of the contact portion, even if the sample container has a shape that partially projects, the projection portion can be accommodated in the first relief portion. Therefore, the sample container can be reliably gripped by the contact portion.
[0013]
In the sample transport device configured as described above, it is preferable that a metal oxide film or a ceramic coating is provided on the contact portion of the gripping member. If it carries out like this, when separating the conveyed sample container from a holding member, it can prevent that the sample container adheres to a holding member and becomes difficult to leave | separate. This effect is particularly effective when the material of the sample container is Al (aluminum). This effect is particularly effective when the sample container is small, light, or small and light.
[0014]
The method for forming the metal oxide film or the like is not limited to a special method. For example, when the gripping member is formed of stainless steel, the gripping member is heated to about 600 ° C. in a furnace. It is possible to use a heat treatment that is allowed to stand at that temperature for about 30 minutes and then naturally cooled in the furnace.
[0015]
In the sample transport device having the above-described configuration, it is desirable that there are a plurality of the contact portions of the gripping member. If the contact part is one part having a large area, the sample container may be pushed and rotated by the contact part when it is gripped by the contact part, and may not be normally gripped. There is. On the other hand, if the contact portion is divided into a plurality of portions, the contact area between the contact portion and the sample container can be reduced, and therefore the displacement of the sample container can be prevented.
[0016]
In the sample transport device having the above configuration, it is preferable that the contact portion is located at an end portion of the gripping member, and the first relief portion is provided immediately adjacent to the contact portion. If the contact portion is provided at the end of the gripping member, the contact portion contacts the outer peripheral surface near the bottom of the sample container and grips the sample container. Therefore, even when the depth of the sample container is deep or shallow, that is, whether the height of the sample container is high or low, the sample container can be securely held. Further, if the first relief portion is provided immediately adjacent to the contact portion, a so-called brim portion that protrudes outward in the radial direction is provided just above the gripped
[0017]
It is desirable that the sample transport apparatus having the above-described configuration includes a support unit that removably supports the grip member. If it carries out like this, it will become possible to replace | exchange a holding member corresponding to the container of a special shape. Further, when the gripping member is damaged, the gripping member can be easily replaced with another one.
[0018]
In the sample transport device having the above-described configuration, at least two contact portions are provided at intervals in the annular direction on the outer periphery of the sample container, and a second escape for allowing the sample container to escape between these contact portions. The contact portion includes an arcuate surface facing the center direction of the sample container, a linear inclined surface facing the center direction of the sample container, or a corner portion, and faces the center direction of the sample container. It is desirable to have a surface.
[0019]
The arc-shaped surface is effective when the surface to be gripped of the sample container is cylindrical. Further, the linear inclined surface and the surface provided with the corners are effective when the surface to be gripped of the sample container has a square tube shape such as a square, a rectangle, or a rhombus. According to this embodiment of the present invention, a cylindrical or rectangular tube-shaped sample container can be firmly gripped.
[0020]
Next, the thermal analysis apparatus according to the present invention includes a measurement unit in which a sample container to be measured is placed, a standby unit in which a sample container is placed before or after being measured, and the measurement unit and the standby. A sample transporting means for transporting the sample container to and from the section, and the sample transporting means is constituted by the sample transporting device having the above-described configuration. As such a thermal analysis device, for example, a DSC device, a DTA device, and the like are conceivable. The measurement unit is, for example, a part where a temperature sensing point of a heat sensitive plate, a heater, or a temperature sensor is arranged in a DSC device or the like. Further, for example, a turntable on which a plurality of sample containers are placed is installed in the standby unit.
[0021]
According to the thermal analysis apparatus having the above configuration, a plurality of sample containers can be automatically exchanged even in the night without a person by transporting a plurality of sample containers sequentially from the standby unit to the measurement unit by the sample transport device. Thermal analysis can be performed on
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment when the present invention is applied to a sample exchange device for a thermal analyzer will be described. The embodiment described below is an embodiment of the present invention, and the present invention is not limited to this embodiment.
[0023]
In FIG. 4, a
[0024]
As shown in FIG. 5, the
[0025]
The
[0026]
Two lower heat equalizing blocks 17 are arranged opposite to each other so as to be in contact with or close to the side wall of the
[0027]
The heat
[0028]
In FIG. 7, an
[0029]
Another
[0030]
The
[0031]
Thereafter, power is supplied to the
[0032]
The
[0033]
This calorific value computation circuit computes the heat flux that flows into the
[0034]
In FIG. 4, the standby unit 3 has a
[0035]
The
[0036]
The shape and material of the plurality of
[0037]
(1) Cylinder × Al × φ5 × 2.5 (2) Cylinder × Al × φ5 × 5
(3) Cylinder × Alumina × φ5 × 2.5 (4) Cylinder × Alumina × φ5 × 5
(5) Cylinder × Pt × φ5 × 2.5 (6) Cylinder × Pt × φ5 × 5
(7) Cylinder x Quartz x φ5 x 2.5 (8) Cylinder x Quartz x φ5 x 5
(9) Cylinder × Cu × φ5 × 2.5 (10) Cylinder × Ag × φ5 × 2.5
(11) Cylinder × Au × φ5 × 2.5 (12) Cylinder × Au × φ5 × 5
(13) Overhang × Al × L1 = 5.5, L2 = 4.6, L3 = 2.1, L4 = 0.2
[0038]
The sample transport unit 4 shown in FIG. 4 includes a turning / lifting device 41 and a
[0039]
The
[0040]
In FIG. 5, when the
[0041]
The gripping
[0042]
As shown in FIG. 6, a pair of opening /
[0043]
A
[0044]
The
[0045]
As shown in FIG. 2, two
[0046]
The pair of
[0047]
In FIG. 6, when the opening / closing
[0048]
With respect to the height direction of the
[0049]
Note that the first relief portion is not necessarily formed by the space K1, but has a structure that allows the flange portion to escape when the
[0050]
Regarding the gripping
[0051]
If the metal oxide film is formed on the surface of the
[0052]
Hereinafter, the operation when the DSC measurement is performed while automatically exchanging the sample by the
[0053]
In FIG. 6, after all the desired plurality of
[0054]
When the gripping
[0055]
Thereafter, the
[0056]
As described above, when the
[0057]
Next, the stepping
[0058]
Thereafter, in FIG. 5, the
[0059]
Thereafter, when the gripping
[0060]
When the DSC measurement for one
[0061]
When it is desired to continue the DSC measurement by exchanging the sample, the
[0062]
In the
[0063]
Further, since the metal oxide film is formed on the surface of the entire gripping
[0064]
Further, as shown in FIG. 1, the
[0065]
In the above embodiment, as shown in FIG. 1, the
[0066]
In FIG. 1, the gripping
[0067]
In FIG. 1, the outer peripheral surface of the
[0068]
(Modification)
The holding member in the present invention has an essential requirement to have a contact portion and a first relief portion, and there is no limitation requirement for other points. Accordingly, the shape and usage of the gripping member in the present invention are not limited to the shape of the gripping
[0069]
For example, the number of gripping members can be three or more. In addition, the gripping member can be formed of a material having some flexibility rather than a material having high rigidity such as stainless steel. Moreover, it is not restricted to the elongate shape as shown in FIG. 1, A holding member can also be formed by other arbitrary shapes.
[0070]
In the above embodiment, the
[0071]
Moreover, in the said embodiment, the metal oxide film formation process, for example, heat processing, was performed to the
[0072]
Further, regarding the gripping
[0073]
Further, regarding the gripping
[0074]
Further, the gripping
[0075]
Further, regarding the gripping
[0076]
In the above embodiment, as shown in FIG. 4, the sample transport device according to the present invention is applied as an element constituting the sample exchange device for the DSC device. However, the sample transport device according to the present invention can be applied to any sample transport portion other than the sample exchange device. The thermal analysis apparatus to which the present invention can be applied is not limited to a DSC apparatus, and can be any other thermal analysis apparatus.
[0077]
Moreover, in the said embodiment, as shown in FIG. 2, although the
[0078]
Further, as shown in FIG. 3 (b), the
[0079]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, since the first relief portion is provided in the vicinity of the contact portion, even when the sample container has a shape that partially projects, the projection portion is formed in the first relief portion. Therefore, the sample container can be securely held by the contact portion.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a sample transport device according to the present invention.
FIG. 2 is a plan view showing the vicinity of a contact portion that is a main part of the apparatus of FIG. 1;
FIG. 3 is a plan view showing a main part of another embodiment of the sample transport device.
FIG. 4 is a perspective view showing an embodiment of a thermal analyzer according to the present invention.
5 is a side sectional view of a main part of the thermal analyzer shown in FIG. 4. FIG.
6 is a plan view of the structure shown in FIG.
7 is a side cross-sectional view of a furnace body unit that is a main part of the thermal analysis apparatus shown in FIG. 4;
8 is a plan view of the furnace body unit of FIG. 7. FIG.
9A and 9B are diagrams showing examples of sample containers, in which FIG. 9A shows a cylindrical and deep sample container, and FIG. 9B shows a cylindrical and shallow sample container.
FIG. 10 is a side view of the sample container shown in FIG.
FIGS. 11A and 11B are diagrams showing an example of a conventional sample transport device, in which FIG. 11A shows a wire type sample transport device, and FIG. 11B shows a tweezers type sample transport device;
[Explanation of symbols]
1: DSC device (thermal analysis device), 2: measurement unit, 3: standby unit, 4: sample transport unit, 6: table, 7: cover, 8: switchgear, 9: heat insulation container, 11: furnace unit, 23: measurement sample, 24: reference material, 36: turntable, 37: rotation drive device, 38: casing, 41: swivel / lifting device, 42: gripping unit, 42A: standby position, 42B: upper position, 42C: Measurement side position, 42D: lower position, 43: shaft, 44: casing, 46: DC motor, 47: gear case, 51: bottom, 52, 52A, 52B, 52C: sample container, 54: lid, 62: stepping motor, 63: Lifting base, 64: Linear stepping actuator, 66: Opening / closing mechanism, 67: Cover, 68: Opening / closing member, 69: Support member, 71: Holding member, 72: Screw, 73: Holding piece 3a: contact portion, 74: slit, R: a sample chamber, P1: the gripping position, P2: measuring position,
Claims (10)
前記試料容器を把持する複数の把持部材と、
該把持部材を開閉移動させる開閉手段と、
前記複数の把持部材を取り外し可能に支持する支持手段とを有し、
前記複数の把持部材は第1把持部材及び第2把持部材の少なくとも2種類であり、
前記複数の把持部材は、前記試料容器に接触する接触部と、前記試料容器の高さ方向に関して該接触部に隣接して設けられた第1逃げ部とを有し、
前記第1把持部材の接触部は前記試料容器の中心方向を向く円弧状面であり、前記第2把持部材の接触部は直線状であり、
前記第1及び第2の把持部材は交換して前記支持手段に取り付けられる
ことを特徴とする試料搬送装置。A sample transport device for transporting a sample container,
A plurality of gripping members for gripping the sample container;
Opening and closing means for opening and closing the gripping member ;
Supporting means for removably supporting the plurality of gripping members,
The plurality of gripping members are at least two types of a first gripping member and a second gripping member,
Wherein the plurality of gripping members possess a contact portion in contact with the sample container and a first relief portion provided adjacent to the contact portion with respect to the height direction of the sample container,
The contact portion of the first gripping member is an arcuate surface facing the center direction of the sample container, and the contact portion of the second gripping member is linear.
The sample transport apparatus, wherein the first and second gripping members are exchanged and attached to the support means .
前記第2把持部材の接触部は前記試料容器の中心方向を向く傾斜面であり、
前記第3把持部材の接触部は前記試料容器の角部に嵌合する角部を備えていて前記試料容器の中心方向を向く面であり、
前記第1、第2及び第3の把持部材は交換して前記支持手段に取り付けられる
ことを特徴とする試料搬送装置。Oite to claim 1, wherein the plurality of gripping member further includes a third gripping member,
The contact portion of the second gripping member is an inclined surface facing the center direction of the sample container,
The contact portion of the third gripping member is a surface that has a corner portion that fits into a corner portion of the sample container and faces the center direction of the sample container,
The sample transporting apparatus , wherein the first, second and third gripping members are exchanged and attached to the support means .
測定を受ける前又は測定を受けた後の試料容器が置かれる待機部と、 A standby part where the sample container is placed before or after receiving the measurement;
前記測定部と前記待機部との間で前記試料容器を搬送する試料搬送手段とを有し、 Sample transport means for transporting the sample container between the measurement unit and the standby unit,
該試料搬送手段は、請求項1から請求項9のいずれか1つに記載の試料搬送装置によって構成される The sample transport means is constituted by the sample transport device according to any one of claims 1 to 9.
ことを特徴とする熱分析装置。A thermal analyzer characterized by that.
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