JP3909581B2 - Film defect inspection apparatus and film defect inspection method - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば導電性の検査対象物の表面に被着された絶縁性の被膜の欠陥を検査するための被膜欠陥検査装置および被膜欠陥検査方法に係り、特に、いわゆるベローズ管のような伸縮管に好適に用いられる被膜欠陥検査装置および被膜欠陥検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
金属またはその他の導電性材料からなる管または管状の容器の内側側面に、例えばフッ素樹脂膜のような絶縁膜をコーティング(被覆)してなる製品は、半導体,環境設備,生活設備,食品管理,医療機器などの幅広い分野で、盛んに利用されるようになってきている。
【0003】
このような製品においては、コーティングされた絶縁膜に何らかの原因によってピンホール欠陥のような被覆不良等が生じていると、その部分で絶縁性および被覆性の完全さが損なわれてしまい、その製品が用いられているプラントまたは装置等にプロセス上の欠陥または不調などを生じさせる要因となる場合がある。このため、ピンホール欠陥のような被覆不良を見つけ出すために検査を行うことが極めて重要なものとなっている。
【0004】
そのような被覆不良を検出する技術としては、例えばエナメルレータ法が提案されている。このエナメルレータ法では、検査対象である管または管状の容器の内部に例えば塩化ナトリウム水溶液のような導電性液体を注入し、その中に検出装置の負極側電極を浸漬する一方、管または管状の容器の金属あるいは導電性材料からなる部分には検出装置の正極側電極を接触させる。そして、正極側電極と負極側電極との間に数ボルト程度の電圧を所定時間に亘って印加して、正極側電極と負極側電極との間で導電性液体を介して漏洩電流が流れた場合には、それを検知することによって、管または管状の容器の内側側面にコーティングされた絶縁膜に被覆不良が生じているものと判定する。あるいは、このとき漏洩電流が流れなかった場合には、その検査対象の絶縁膜には被覆不良は生じていないものと判定される。
【0005】
また、他の技術として、金属缶体の内面に、界面活性剤を含有する電解質溶液を介して電極を接触させ、その電極を移動させながら、その電極と金属缶体との間に電圧を印加して、漏洩電流が流れた場合には、それに基づいて、金属缶体の内側側面にコーティングされた絶縁膜に被覆不良が生じているものと判定するという技術が提案されている(特開昭63−44158号公報)。
【0006】
さらに他の技術として、熱硬化性樹脂塗膜または熱可塑性樹脂フィルムなどで内面が被覆されたシームレス金属缶における被覆欠陥を検査するため、検査対象であるシームレス金属缶の内部に導電性ブラシを挿入し、その導電性ブラシと容器との間に800〜1000Vの直流高電圧を印加しながら両者を相対回転し、それらの間に流れる電流値を計測し、その電流値に基づいて、検査対象であるシームレス金属缶における被覆欠陥を検知するという技術が提案されている(特開平6−74941号公報)。
【0007】
また、さらに他の技術として、内側に絶縁膜が被着された金属容器の内部の被覆性を検知するにあたり、検査対象の金属容器の内部に導電性ブラシを挿入して絶縁膜に接触させると共に、その絶縁膜の表面に比抵抗が12MΩ・cm以上16MΩ・cm以下の導電性液体を供給し、金属容器と導電性ブラシとを相対的に回転させることで導電性ブラシによって導電性液体を微粒子化して、その状態で金属容器と導電性ブラシとの間に5V以上30V以下の電圧を印加して、このとき漏洩電流が生じた場合には、それを検知することにより、検査対象の金属容器における被覆欠陥を検知するという技術が提案されている(特開2000−46776公報)。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
このように、従来から、検査対象である管または管状の容器における絶縁膜の被覆材料を検査する技術として、検査対象と電極との間に電解質を介在させ、絶縁膜の被覆不良が生じていた場合には、それに起因した漏洩電流を生じさせることで、その被覆不良の発生を検知するという技術や、導電性ブラシを電極として用いて、その導電性ブラシを検査対象に接触させながら移動させるなどし、その導電性ブラシとピンホール欠陥のような被覆不良の部分との直接的な接触あるいは電解質を介しての接触によって漏洩電流を生じさせることで、その被覆不良の発生を検知するという技術が提案されていた。
【0009】
しかしながら、電解質を用いる技術では、管または管状の容器の内側側面の全面に亘って確実に電解質を行き渡らせなければ正確な検査が困難となるという問題がある。また、電解質液を管または管状の容器の内部に充填あるいは塗布する作業、検査後にその電解質液を完全に除去したり洗浄する作業などが必要となるなど、検査プロセスが煩雑なものとなり、スループットが低いという問題もある。
【0010】
導電性ブラシを用いる技術は、管の形状によっては導電性ブラシを絶縁膜に均一に接触させることが困難であるという問題がある。例えば伸縮管(ベローズ管)のように直線的な円筒状ではなく襞状の複雑な形状の管(これをΩ構造とも呼ぶ)の場合には、導電性ブラシが強く接触する部分と接触しない部分とが生じることとなり、例えば襞の奥まった部分にピンホール欠陥のような微小な欠陥が生じていた場合などには、その欠陥を検知できずに見過ごしてしまう虞がある。
【0011】
また、導電性ブラシや電解質を接触させることに起因して、検査対象の管または管状の容器の内部の表面が傷ついたり材質変化を引き起こす場合もある。さらに、検査後に不純物が残留し、洗浄が必要である。
【0012】
このように、上述のような従来の検査技術によっては、被覆不良の検査を簡易かつ確実に行うことは実質的には困難であった。
【0013】
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたもので、その第1の目的は、導電性の検査対象物の表面に被着された絶縁性の被膜の欠陥を、検査対象物の表面を損傷することなく、検査対象物の形状を問わず簡単かつ確実に検出することができるようにした被膜欠陥検査装置および被膜欠陥検査方法を提供することにある。
【0014】
本発明の第2の目的は、被膜に生じた欠陥の位置を検知することができるようにした被膜欠陥検査装置および被膜欠陥検査方法を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本発明による被膜欠陥検査装置は、導電性の検査対象物の表面に被着された絶縁性の被膜の欠陥を検査するものであって、固体誘電体により形成された管状部材を有すると共に管状部材の少なくとも一部に導電性液体が充填され、被膜との間に間隙を保ちながら検査対象物の表面に配設される電極と、検査対象物と電極との間に所定の電圧を印加する電圧印加部と、検査対象物の被膜に生じている欠陥に起因して検査対象物と電極との間で放電が発生したことを検知して放電検知信号を出力する放電検知部とを備えたものである。
【0016】
本発明による被膜欠陥検査方法は、導電性の検査対象物の表面に被着された絶縁性の被膜の欠陥を検査するものであって、固体誘電体により形成された管状部材を有すると共に管状部材の少なくとも一部に導電性液体が充填された電極を、被膜との間に間隙を保ちながら管体の表面に配設し、電圧印加部によって、検査対象物と電極との間に所定の電圧を印加し、放電検知部によって、検査対象物の被膜に生じている欠陥に起因して検査対象物と電極との間で放電が発生したことを検知して放電検知信号を出力するようにしたものである。
【0017】
本発明による被膜欠陥検査装置および被膜欠陥検査方法では、検査対象物の表面に電極を配設した状態で、電圧印加部によって、検査対象物と電極との間に所定の電圧を印加すると、両者間の被膜にピンホール欠陥などの欠陥が生じている場合には、その欠陥に起因して無声放電またはアーク放電などの放電が発生し、放電検知部によって、放電検知信号が出力される。これにより、検査対象物の被膜におけるピンホール欠陥などの欠陥の有無が検知される。
【0018】
ここで、本発明にいう「絶縁性の被膜」とは、絶縁性の被膜のみならず非導電性の被膜をも含む。なお、電機材料工学の観点からは、絶縁性と非導電性との区別は必ずしも明確な定義がなされているわけではないが、ここでは、いわゆる絶縁性物質と通常呼ばれている物質あるいは材料の特性を絶縁性と呼び、それよりも比抵抗などの特性としては低抵抗でも、実質的に電気的良導体ではない物質あるいは材料の特性を非導電性と呼ぶものとする。
【0019】
さらに、本発明にいう「誘電体」とは、絶縁物が帯電導体どうしの間にあって、両者の間の電気作用を媒介するとみられるとき、この絶縁物を誘電体という。
【0020】
本発明による被膜欠陥検査装置および被膜欠陥検査方法では、管状部材を、円筒状とし、検査対象物の内側に被着された被膜との間に間隙を保ちながら検査対象物に緩挿することができる。これにより、検査対象物の内側に被着された被膜の欠陥が検査される。
【0021】
また、管状部材を、断面環状で、円筒状の空腔部を有するものとし、検査対象物を、検査対象物の外側に被着された被膜と管状部材との間に間隙を保ちながら管状部材の空腔部に緩挿することができる。これにより、検査対象物の外側に被着された被膜の欠陥が検査される。
【0022】
本発明による被膜欠陥検査装置および被膜欠陥検査方法では、導電性液体が、管状部材内での水位が漸増するように管状部材に徐々に充填されるようにすることが好ましい。また、水位計測部によって、導電性液体の水位を計測して水位信号を出力し、位置信号生成部によって、放電検知信号と水位信号とに基づいて、放電の発生位置を表す位置信号を生成することが好ましい。これにより、検査対象物の被膜におけるピンホール欠陥などの欠陥の有無だけでなく、欠陥の位置も検知される。
【0023】
放電検知部は、具体的には、電流計測部によって、検査対象物と電極との間の電流変化を検知して電流変化を表す信号を放電検知信号として出力するようにすることができる。あるいは、放電検知部は、放電光検知部によって、検査対象物と電極との間の放電光を検知して放電光の発生方向を表す信号を放電検知信号として出力するようにすることができる。
【0024】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【0025】
[第1の実施の形態]
図1および図2は、本発明の第1の実施の形態に係る被膜欠陥検査装置の概要構成を表すものである。この被膜欠陥検査装置10は、導電性の検査対象物である管体20の内側に形成された絶縁性の被膜21の欠陥を検査するものである。すなわち、検査対象物である管体20の被膜21に、ピンホール欠陥のような被覆不良または膜欠陥などの欠陥21Aが生じているか否かを判別し、さらに、欠陥21Aがある場合にはその位置を特定する。ここで、本明細書にいう「管体」とは、両端が開放された管のほか、両端のうち一端のみが開放され他方が閉鎖された管状の容器をも含む。
【0026】
管体20は、例えば、金属などからなる円筒形の導電性の管であって、両端が開放端となっている。管体20の長さは例えば20cm以上100cm以下、内径は例えば10cm以上40cm以下の範囲とすることができるが、この範囲に限られるものではない。被膜21は、例えばフッ素樹脂のような絶縁性材料により形成され、管体20の内周側面に均一な膜厚となるようにコーティング(被着)されている。
【0027】
被膜欠陥検査装置10は、電極30,電圧印加部40,電流計測部50,水位計測部60および位置信号生成部70を備えている。電極30は、検査対象物である管体20の表面に配設されている。電極30は、例えば円筒状の管状部材32を有し、被膜21との間に間隙31を保ちながら管体20に緩挿されている。管状部材32には、例えば食塩(NaCl)を溶解した電解液などの導電性液体33が充填されており、導電性液体33の水位33Aによって電極30の長さが決定される。導電性液体33は、被膜欠陥検査装置10において後述の無声放電またはアーク放電などの放電80を発生させることのできる液状物質であれば特に限定されず、例えば食塩などを添加した電解溶液,水銀(Hg)などの導電性金属,金属微粒子を添加した液体,高分子導電性液体,マイクロバブルを含む液体などが挙げられる。管状部材32は、例えばガラス,フッ素樹脂またはセラミックなどの固体誘電体により形成されている。管状部材32の長さは、管体20とほぼ等しいか、あるいは管体20よりもやや長くなっていることが好ましい。
【0028】
管状部材32の両端32A,32Bには、管体20および管状部材32自体を固定するための一対の固定部34A,34Bが設けられている。固定部34Aは、管体20の下端20Aを固定し、固定部34Bは、管体20の上端20Bを固定しており、これにより、管体20は、固定部34A,34Bの間で立設された状態で固定されている。なお、固定部34Bは、管体20の長さに合わせて固定部34Aとの間の距離が適宜変更可能となっていることが好ましい。また、固定部34Bには、管体20の内部を真空排気するための図示しないポンプまたは管体20の内部を真空排気した後に例えばアルゴン(Ar)などの不活性ガスを注入するためのガス供給系などが連結されているようにしてもよい。
【0029】
管状部材32は、固定部34Aを境として金属配管35と接続されている。金属配管35は、導電性液体33を収容するタンク36に達しており、導電性液体33は、タンク36から金属配管35を介して管状部材32に充填される。金属配管35の途中には、導電性液体33の供給量を制御するための弁37が設けられている。この弁37によって、導電性液体33が、水位33Aが漸増するように、管状部材32の下端32Aから上端32Bに向けて、徐々に充填される。
【0030】
電圧印加部40は、管体20と電極30との間に所定の電圧を印加するものであり、交流高電圧を発生する高電圧発生回路41および適宜の配線,端子等を備えている。すなわち、高電圧発生回路41の一方の出力端子42は、配線42Aを介して管体20の外側側面に接続されている。また、高電圧発生回路41の他方の出力端子43は、配線43Aを介して電流計測部50の端子51と接続され、電流計測部50の別の端子52は、配線52Aを介して金属配管35に結線されている。したがって、高電圧発生回路41から出力される交流高電圧は、管体20と電極30との間に印加されることとなる。なお、金属配管35は、全体が金属により形成されている必要はなく、少なくとも配線52Aが結線される部分が金属により形成されていれば足りる。
【0031】
電圧印加部40によって管体20と電極30との間に印加される電圧は、管体20と電極30との間に被膜21が介在していれば無声放電またはアーク放電などを生じないが、管体20と電極30との間に被膜21が介在していなければ、すなわち、被膜21にピンホール欠陥などの欠陥21Aがあれば無声放電またはアーク放電などの放電80を生じるような電圧値であることが好ましく、具体的には、例えば数kV程度とすることができる。
【0032】
無声放電とは、帯電導体の電極の両方または片方の表面を固体誘電体で覆い、交流やパルス電圧を印加して、大気圧付近で生成する放電である。電極間に固体誘電体があるために誘電体バリア放電とも呼ばれる。この放電では、放電ギャップの間に誘電体があるために、放電はアークなどの定常放電に遷移せず、ns程度の短時間継続するパルス性のマイクロ放電が次々と誘電体表面に生じる(『プラズマ工学の基礎』赤碕正則、村岡克紀、渡辺征夫、蛯原健治共著、産業図書)。
【0033】
電流計測部50は、管体20と電極30との間で放電80が発生した場合に管体20から電極30に流れるマイクロ電流を計測する。すなわち、電流計測部50は、放電80が発生した場合に特有の管体20と電極30との間の電流変化を検知してその電流変化を表す信号S1を端子53から出力する。
【0034】
水位計測部60は、例えば超音波センサにより構成されており、導電性液体33の水位33Aを計測して水位信号S2を出力する。水位計測部60は、例えば、管状部材32の直上に設置される。
【0035】
位置信号生成部70は、電流計測部50から電流変化を表す信号S1を、水位計測部60から水位信号S2をそれぞれ受け取る。位置信号生成部70は、これらの信号S1,S2に基づいて、同期演算処理を行うことによって放電80の発生位置を特定し、管体20の長手方向における放電80の発生位置を表す位置信号SL を生成する。
【0036】
次に、この欠陥検査装置の作用について説明する。
【0037】
まず、検査対象物である管体20が立設された状態で、被膜21との間に間隙31を保ちながら管体20に電極30を緩挿し、固定部34A,34Bによって管体20および電極30を固定する。
【0038】
管体20に電極30を緩挿したのち、高電圧発生回路41を動作させ、管体20と電極30との間に例えば数kV程度の交流高電圧を印加する。
【0039】
続いて、弁37を開き、導電性液体33を、タンク36から金属配管35を介して、水位33Aが漸増するように、管状部材32の下端32Aから上端32Bに向けて徐々に充填させていく。これにより、水位33Aの上昇に伴って、放電80が生じる可能性のある位置を、管体20の下端20Aから上端20Bに向かって徐々に移動させていくことができ、放電80の発生を検知するばかりでなく、発生位置の特定も可能となる。
【0040】
導電性液体33を管状部材32に充填するのと同時に、電流計測部50によって管体20から電極30に流れる電流を計測すると共に、水位計測部60によって水位33Aを計測する。
【0041】
管体20の被膜21に欠陥21Aが生じている場合には、導電性液体33の水位33Aが欠陥21Aの高さ位置に達したときに、管体20と電極30との間で放電80が生じる。その放電80が生じる際の電流変化が、電流計測部50によって計測され、その電流変化を表す信号S1が端子53から出力され、位置信号生成部70に入力される。位置信号生成部70では、電流変化を表す信号S1と、この信号S1が出力されたときの水位33Aを表す水位信号S2とを同期演算処理することによって、管体20の長手方向における放電80の発生位置を表す位置信号SL を生成する。この位置信号SL は、位置信号生成部70から図示しないモニタに表示され、あるいは図示しないプリンタに出力されるようにしてもよいことは言うまでもない。
【0042】
管体20の被膜21に欠陥がなく、被膜21の十分な被覆性が達成されている場合には、管体20と電極30との間に例えば数kV程度の交流高電圧をかけつつ、導電性液体33の水位33Aを管体20の下端20Aから上端20Bまで上昇させても、管体20と電極30との間に放電80は生じず、放電80に起因したマイクロ電流による電流変化も電流計測部50で計測されることはない。したがって、このような場合には、被膜21には欠陥がないものと判定することができる。
【0043】
このように本実施の形態では、固体誘電体により形成された円筒状の管状部材32に導電性液体33を充填させた電極30を、被膜21との間に間隙31を保ちつつ管体20に緩挿し、電圧印加部40によって管体20と電極30との間に電圧を印加し、電流計測部50によって、管体20の被膜21に生じている欠陥21Aに起因して管体20と電極30との間に放電80が生じる際の電流変化を検知し、その電流変化を表す信号S1を出力するようにしたので、被膜21の欠陥21Aを簡単かつ確実に検知することができる。また、管体20の形状に関わらず検査可能であり、例えば図3に示したような壁面がベローズ状(襞状)の伸縮管となっている管体22の内側に被着された被膜23であっても、本実施の形態の円筒状の管体20と全く同様の手順で、簡単かつ確実に検査をすることができる。さらに、電解質または導電性ブラシなどは不要であり、検査作業が簡単で、管体20または被膜21を損傷する虞もない。また、検査後に残留不純物がない。
【0044】
また、導電性液体33は、水位33Aが漸増するように管状部材32の下端32Aから徐々に充填されるようにしたので、水位33Aの上昇に伴って、放電80が生じる可能性のある位置を、管体20の下端20Aから上端20Bに向かって徐々に移動させていくことができ、放電80の発生を検知するばかりでなく、発生位置の特定も可能となる。
【0045】
具体的には、水位計測部60によって導電性液体33の水位33Aを計測して水位信号S2を出力し、位置信号生成部70によって、電流計測部50からの電流変化を表す信号S1と水位信号S2とに基づいて、管体20の長手方向における放電80の発生位置を表す位置信号SL を生成するようにしたので、管体20の長手方向における欠陥21Aの位置を特定することが可能となる。
【0046】
[第2の実施の形態]
図4は、本発明の第2の実施の形態に係る被膜欠陥検査装置の概要構成を表したものである。この被膜欠陥検査装置10Aは、前述の電流計測部50を設けず、放電80の放電光81を検知して放電光81の発生方向を表す信号S3を出力する放電光検知部90を備えたことを除き、第1の実施の形態で説明した被膜欠陥検査装置10と同一である。したがって、同一の構成要素には同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
【0047】
放電光検知部90は、図5に示したように、放電光81を撮影するカメラ91と、このカメラ91によって得られた放電光81の画像データD3を記録する記録部92と、放電光81の画像データD3の画像処理および解析を行う画像解析部93とを有している。
【0048】
画像解析部93は、放電光81の画像データD3をもとに、図6に示したように、管体20の画像120,電極30の画像130および電極30から欠陥21Aへ向かう放電光81の画像181を含む断面の画像100を生成する。画像解析部93は、さらに、画像100において、直交する二本の軸100X,100Yを基準として、放電光81の画像181の方向181Aを求める。画像解析部93は、こうして求めた放電光81の画像181の方向181Aに基づいて、放電光81の発生方向を表す信号S3を出力するものである。
【0049】
なお、放電光検知部90は、固定部34Bがカメラ91による撮影を妨げない材料により形成されていれば、図3に示したように管体20の外部に設置することができる。また、カメラ91のみを放電光検知部90の他の部分から分離して管体20の内部に設置してもよい。さらに、導電性液体33の水位33Aの上昇に伴ってカメラ91を移動させるようにしてもよい。
【0050】
なお、本実施の形態では、電流計測部50(図1)が設けられていないので、高電圧発生部40の端子43は、配線43Aを介して金属配管35に結線されている。
【0051】
次に、この被膜欠陥検査装置10Aの作用について説明する。
【0052】
まず、第1の実施の形態と同様に、被膜21との間に間隙31を保ちながら管体20に電極30を緩挿し、高電圧発生回路41を動作させ、管体20と電極30との間に例えば数kV程度の交流高電圧を印加する。続いて、弁37を開き、導電性液体33を、タンク36から金属配管35を介して、水位33Aが漸増するように、管状部材32の下端32Aから上端32Bに向けて徐々に充填させていく。
【0053】
これと同時に、放電光検知部90によって放電光81の発生を監視すると共に、水位計測部60によって水位33Aを計測する。
【0054】
管体20の被膜21に欠陥21Aが生じている場合には、導電性液体33の水位33Aが欠陥21Aの高さ位置に達したときに、管体20と電極30との間で放電80が生じる。その放電80が生じる際の放電光81が、放電光検知部90のカメラ91によって撮影され、得られた放電光81の画像データD3が記録部92に記録される。画像解析部93は、放電光81の画像データD3を解析し、放電光81の画像181の方向181Aを求め、これに基づいて、電極30から欠陥21Aへ向かう放電光81の発生方向を表す信号S3を出力する。放電光81の発生方向を表す信号S3は、位置信号生成部70に入力される。位置信号生成部70では、放電光81の発生方向を表す信号S3と、この信号S3が出力されたときの水位33Aを表す水位信号S2とを同期演算処理することによって、管体20の長手方向および周方向における放電80の発生位置を表す位置信号SLCを生成する。
【0055】
管体20の被膜21に欠陥がなく、被膜21の十分な被覆性が達成されている場合には、管体20と電極30との間に例えば数kV程度の交流高電圧をかけつつ、導電性液体33の水位33Aを管体20の下端20Aから上端20Bまで上昇させても、管体20と電極30との間に放電80は生じず、放電光81も放電光検知部90で検知されることはない。したがって、このような場合には、被膜21には欠陥がないものと判定することができる。
【0056】
このように本実施の形態では、第1の実施の形態によって得られる効果に加え、放電光検知部90によって、管体20と電極30との間に放電80が生じる際の放電光81を検知して、その放電光81の発生方向を表す信号S3を出力するようにしたので、管体20の周方向における欠陥21Aの位置を特定することが可能となり、欠陥21Aの位置をさらに詳細に特定することができる。
【0057】
以上、実施の形態および変形例を挙げて本発明を説明したが、本発明は上記実施の形態および変形例に限定されるものではなく、種々変形が可能である。例えば、上記各実施の形態では、電流計測部50および放電光検知部90のうちいずれか一方を備えた場合についてそれぞれ説明したが、電流計測部50と放電光検知部90とを両方備えるようにしてもよい。この場合には、位置信号生成部70では、電流変化を表す信号S1と、放電光81の発生方向を表す信号S3と、この信号S3が出力されたときの水位33Aを表す水位信号S2とを同期演算処理することによって、管体20の長手方向および周方向における放電80の発生位置を表す位置信号SLCを生成する。
【0058】
さらに、例えば、上記各実施の形態では、管体20を立設した状態で電極30を緩挿するようにしたが、管体20の設置状態は立設に限られず、横設または斜設としてもよい。
【0059】
また、例えば、上記第2の実施の形態では、放電光81の画像データD3の解析を行う画像解析部93を、放電光検知部90に設けるようにした場合について説明したが、画像解析部93を位置検出部70に設けて、放電光検知部90は、放電光81の画像データD3を位置検出部70に送るようにしてもよい。
【0060】
また、例えば、上記各実施の形態では、管体20は金属により形成されているものとして説明したが、管体20の材質は、金属には限定されず、例えば非金属の導電性材料により形成されていてもよいことはいうまでもない。また、上記実施の形態では、管体20が、両端が開放された管である場合について説明したが、本発明は、両端のうち一端のみが開放され他方が閉鎖された管状の容器についても適用可能である。
【0061】
加えて、上記各実施の形態では、管状部材32を円筒状とし、被膜21との間に間隙31を保ちながら管体20に電極30を緩挿し、管体20の内側に被着された被膜21を検査するようにした場合について説明したが、例えば図7に示したように、断面環状で、円筒状の空腔部232Cを有する管状部材232を用い、例えば図8に示したように、管体220を、管体220の外側に被着された被膜221と管状部材232との間に間隙231を保ちながら管状部材232の空腔部232Cに緩挿するようにしてもよい。このようにすることによって、管体220の外側に被着された被膜221の欠陥221Aを検査することができる。
【0062】
さらに、上記各実施の形態ならびに図7および図8では、検査対象物が管体20である場合を例として説明したが、検査対象物は管体に限られない。例えば、平面または曲面の板状の検査対象物の表面に被着された被膜の欠陥を検査することもできる。この場合には、管状部材を扁平形状のものとし、その幅は検査対象物の幅に合わせて適宜設定することができる。
【0063】
【発明の効果】
以上説明したように請求項1ないし請求項7のいずれか1項に記載の被膜欠陥検査装置または請求項8ないし請求項14のいずれか1項に記載の被膜欠陥検査方法によれば、固体誘電体により形成された管状部材の少なくとも一部に導電性液体を充填させた電極を、被膜との間に間隙を保ちつつ管体の表面に配設し、電圧印加部によって検査対象物と電極との間に電圧を印加し、放電検知部によって、検査対象物の被膜に生じている欠陥に起因して検査対象物と電極との間で放電が発生したことを検知して放電検知信号を出力するようにしたので、被膜の欠陥を簡単かつ確実に検知することができる。また、検査対象物の形状に関わらず検査可能であり、例えば壁面がベローズ状(襞状)の伸縮管となっている管体であっても、円筒状の管体と全く同様の手順で、簡単かつ確実な検査が可能である。さらに、電解質または導電性ブラシなどは不要であり、検査作業が簡単で、管体または被膜を損傷する虞もない。また、検査後に残留不純物がない。
【0064】
特に、請求項4記載の被膜欠陥検査装置または請求項11記載の被膜欠陥検査方法によれば、導電性液体は、管状部材内での水位が漸増するように管状部材に徐々に充填されるようにしたので、水位の上昇に伴って、放電が生じる可能性のある位置を、検査対象物の全体に亘って徐々に移動させていくことができ、放電の発生を検知するばかりでなく、発生位置の特定も可能となる。
【0065】
特に、請求項5記載の被膜欠陥検査装置または請求項12記載の被膜欠陥検査方法によれば、水位計測部によって導電性液体の水位を計測して水位信号を出力し、位置信号生成部によって、放電検知信号と水位信号とに基づいて、放電の発生位置を表す位置信号を生成するようにしたので、欠陥の位置を特定することが可能となる。例えば管体を立設した状態で検査した場合であれば、管体の長手方向における欠陥の位置を特定することが可能となる。
【0066】
加えて、特に、請求項7記載の被膜欠陥検査装置または請求項14記載の被膜欠陥検査方法によれば、放電光検知部によって、放電が生じる際の放電光を検知して、その放電光の発生方向を表す信号を放電検知信号として出力するようにしたので、欠陥の位置をさらに詳細に特定することができる。例えば管体を立設した状態で検査した場合であれば、管体の周方向における欠陥の位置を特定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る被膜欠陥検査装置の概略構成を表すブロック図である。
【図2】図1に示した放電の発生状態を表す断面図である。
【図3】図1に示した管体の他の例を表す断面図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態に係る被膜欠陥検査装置の概略構成を表すブロック図である。
【図5】図4に示した放電光検知部の概略構成を表すブロック図である。
【図6】図5に示した画像解析部における画像解析を説明するための説明図である。
【図7】図1に示した管状部材の変形例を表す断面図である。
【図8】図7に示した管状部材を用いた被膜欠陥検査装置の要部を表す概略構成図である。
【符号の説明】
10,10A…被膜欠陥検査装置、20,22…管体、21…被膜、30…電極、31…間隙、32…管状部材、33…導電性液体、33A…水位、34A,34B…固定部、35…金属配管、36…タンク、37…弁、40…電圧印加部、41…高電圧発生部、42,43,51,52…端子、42A,43A,52A…配線、50…電流計測部、60…水位計測部、70…位置信号生成部、80…放電、81…放電光、90…放電光検知部、91…カメラ、92…記録部、93…画像解析部、100…画像、100X,100Y…軸、120…管体の画像、130…電極の画像、181…放電光の画像、181A…方向[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a film defect inspection apparatus and a film defect inspection method for inspecting defects in an insulating film deposited on the surface of a conductive inspection object, for example, and in particular, expansion and contraction such as a so-called bellows tube. The present invention relates to a film defect inspection apparatus and a film defect inspection method which are preferably used for a pipe.
[0002]
[Prior art]
Products made by coating an insulating film such as a fluororesin film on the inner side of a tube or tubular container made of metal or other conductive materials are semiconductors, environmental equipment, living equipment, food management, It has been actively used in a wide range of fields such as medical equipment.
[0003]
In such a product, if a coating failure such as a pinhole defect occurs for some reason in the coated insulating film, the insulation and completeness of coverage are impaired at that part. This may cause a process defect or malfunction in a plant or apparatus in which is used. For this reason, it is very important to perform an inspection in order to find a coating defect such as a pinhole defect.
[0004]
As a technique for detecting such a coating defect, for example, an enamellator method has been proposed. In this enamellator method, a conductive liquid such as an aqueous solution of sodium chloride is injected into a tube or tubular container to be inspected, and the negative electrode side electrode of the detection device is immersed therein. The positive electrode of the detection device is brought into contact with the metal or conductive material portion of the container. A voltage of about several volts was applied between the positive electrode and the negative electrode for a predetermined time, and a leakage current flowed between the positive electrode and the negative electrode via the conductive liquid. In some cases, by detecting this, it is determined that a coating failure has occurred in the insulating film coated on the inner side surface of the tube or tubular container. Alternatively, if no leakage current flows at this time, it is determined that there is no coating failure in the insulating film to be inspected.
[0005]
As another technique, an electrode is brought into contact with the inner surface of a metal can body through an electrolyte solution containing a surfactant, and a voltage is applied between the electrode and the metal can body while moving the electrode. Thus, a technique has been proposed in which, when a leakage current flows, it is determined that a coating defect has occurred in the insulating film coated on the inner side surface of the metal can body based on the leakage current (Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho). 63-44158).
[0006]
As another technology, in order to inspect coating defects in seamless metal cans coated on the inner surface with a thermosetting resin coating film or thermoplastic resin film, a conductive brush is inserted inside the seamless metal can that is the object of inspection. Then, while applying a DC high voltage of 800 to 1000 V between the conductive brush and the container, both are rotated relative to each other, the current value flowing between them is measured, and the inspection object is measured based on the current value. A technique for detecting a coating defect in a seamless metal can has been proposed (Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-74941).
[0007]
Further, as another technique, in detecting the coverage inside a metal container with an insulating film deposited on the inside, a conductive brush is inserted inside the metal container to be inspected and brought into contact with the insulating film. A conductive liquid having a specific resistance of 12 MΩ · cm or more and 16 MΩ · cm or less is supplied to the surface of the insulating film, and the conductive liquid is finely divided by the conductive brush by relatively rotating the metal container and the conductive brush. In this state, a voltage of 5 V or more and 30 V or less is applied between the metal container and the conductive brush, and if a leakage current is generated at this time, the metal container to be inspected is detected by detecting it. There has been proposed a technique for detecting coating defects in Japanese Patent Laid-Open No. 2000-46776.
[0008]
[Problems to be solved by the invention]
Thus, conventionally, as a technique for inspecting a coating material for an insulating film in a tube or tubular container to be inspected, an electrolyte is interposed between the inspection object and the electrode, resulting in a poor coating of the insulating film. In some cases, a leakage current caused by this is detected to detect the occurrence of the coating failure, or the conductive brush is used as an electrode, and the conductive brush is moved while being in contact with the inspection target. However, there is a technology for detecting the occurrence of the coating defect by generating a leakage current by direct contact between the conductive brush and a defective coating part such as a pinhole defect or contact through the electrolyte. It was proposed.
[0009]
However, in the technique using an electrolyte, there is a problem that accurate inspection becomes difficult unless the electrolyte is reliably distributed over the entire inner side surface of a tube or a tubular container. In addition, the inspection process becomes complicated, such as filling or applying the electrolyte solution into a tube or tubular container, and removing or washing the electrolyte solution completely after the inspection. There is also the problem of low.
[0010]
The technique using the conductive brush has a problem that it is difficult to uniformly contact the conductive brush with the insulating film depending on the shape of the tube. For example, in the case of a tube with a complicated shape like a telescopic tube (bellows tube) instead of a straight cylindrical shape (this is also called an Ω structure), the portion where the conductive brush does not come into strong contact For example, when a minute defect such as a pinhole defect is generated in a deep part of the ridge, the defect may not be detected and may be overlooked.
[0011]
Further, due to the contact of the conductive brush or the electrolyte, the inner surface of the tube to be inspected or the tubular container may be damaged or the material may be changed. Furthermore, impurities remain after the inspection and need to be cleaned.
[0012]
As described above, according to the conventional inspection techniques as described above, it has been substantially difficult to easily and reliably inspect for coating defects.
[0013]
The present invention has been made in view of such problems, and a first object of the invention is to damage the surface of the inspection object with a defect in the insulating film deposited on the surface of the conductive inspection object. Therefore, an object of the present invention is to provide a film defect inspection apparatus and a film defect inspection method which can be detected easily and reliably regardless of the shape of an inspection object.
[0014]
A second object of the present invention is to provide a film defect inspection apparatus and a film defect inspection method capable of detecting the position of a defect generated in a film.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
A film defect inspection apparatus according to the present invention inspects defects in an insulating film deposited on the surface of a conductive inspection object, and includes a tubular member formed of a solid dielectric and a tubular member A voltage for applying a predetermined voltage between the inspection object and the electrode, and an electrode disposed on the surface of the inspection object while maintaining a gap between the conductive liquid and at least a part of the electrode An application unit and a discharge detection unit that detects that a discharge has occurred between the inspection object and the electrode due to a defect occurring in the film of the inspection object and outputs a discharge detection signal It is.
[0016]
A film defect inspection method according to the present invention is for inspecting defects in an insulating film deposited on the surface of a conductive inspection object, and has a tubular member formed of a solid dielectric and a tubular member An electrode filled with a conductive liquid in at least a part of the tube is disposed on the surface of the tube body while maintaining a gap with the coating, and a predetermined voltage is applied between the inspection object and the electrode by the voltage application unit. The discharge detection unit detects the occurrence of a discharge between the inspection object and the electrode due to a defect occurring in the coating film of the inspection object, and outputs a discharge detection signal. Is.
[0017]
In the film defect inspection apparatus and the film defect inspection method according to the present invention, when a predetermined voltage is applied between the inspection object and the electrode by the voltage application unit in a state where the electrode is disposed on the surface of the inspection object, When a defect such as a pinhole defect occurs in the intervening film, a discharge such as a silent discharge or an arc discharge occurs due to the defect, and a discharge detection signal is output by the discharge detection unit. Thereby, the presence or absence of defects such as pinhole defects in the coating film of the inspection object is detected.
[0018]
Here, the “insulating film” referred to in the present invention includes not only an insulating film but also a non-conductive film. In addition, from the viewpoint of electrical material engineering, the distinction between insulating and non-conductive is not necessarily clearly defined, but here, what is commonly referred to as a so-called insulating substance or material The characteristic is referred to as insulation, and the characteristic of a substance or material that is not a good electrical conductor even though it has a low resistance as a characteristic such as specific resistance is referred to as non-conductivity.
[0019]
Furthermore, the “dielectric” in the present invention refers to an insulator when the insulator is between the charged conductors and mediates the electric action between the two.
[0020]
In the film defect inspection apparatus and the film defect inspection method according to the present invention, the tubular member may be cylindrical and loosely inserted into the inspection object while maintaining a gap between the tubular member and the film deposited on the inside of the inspection object. it can. Thereby, the defect of the film deposited inside the inspection object is inspected.
[0021]
Further, the tubular member has an annular cross-section and a cylindrical cavity, and the tubular member is maintained while maintaining a gap between the tubular member and the coating film deposited on the outside of the examined object. Can be loosely inserted into the cavity. Thereby, the defect of the film deposited on the outside of the inspection object is inspected.
[0022]
In the film defect inspection apparatus and the film defect inspection method according to the present invention, it is preferable that the conductive liquid is gradually filled in the tubular member so that the water level in the tubular member gradually increases. Further, the water level measurement unit measures the water level of the conductive liquid and outputs a water level signal, and the position signal generation unit generates a position signal representing the discharge occurrence position based on the discharge detection signal and the water level signal. It is preferable. Thereby, not only the presence or absence of a defect such as a pinhole defect in the coating film of the inspection object, but also the position of the defect is detected.
[0023]
Specifically, the discharge detection unit can detect a current change between the inspection object and the electrode and output a signal representing the current change as a discharge detection signal by the current measurement unit. Or a discharge detection part can detect the discharge light between a test target object and an electrode by a discharge light detection part, and can output the signal showing the generation direction of discharge light as a discharge detection signal.
[0024]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0025]
[First Embodiment]
1 and 2 show a schematic configuration of the film defect inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention. The film defect inspection apparatus 10 is for inspecting a defect of an insulating
[0026]
The
[0027]
The film defect inspection apparatus 10 includes an
[0028]
At both ends 32A and 32B of the
[0029]
The
[0030]
The
[0031]
The voltage applied between the
[0032]
The silent discharge is a discharge generated near atmospheric pressure by covering both or one surface of the charged conductor with a solid dielectric and applying an alternating current or a pulse voltage. Since there is a solid dielectric between the electrodes, it is also called a dielectric barrier discharge. In this discharge, since there is a dielectric between the discharge gaps, the discharge does not transition to a steady discharge such as an arc, and pulsed micro-discharge that continues for a short time of about ns is generated on the surface of the dielectric one after another (" Basics of Plasma Engineering ”Masanori Akasaki, Katsunori Muraoka, Masao Watanabe, Kenji Sugawara, Sangyo Tosho).
[0033]
The
[0034]
The water
[0035]
The position signal generation unit 70 receives a signal S1 representing a current change from the
[0036]
Next, the operation of this defect inspection apparatus will be described.
[0037]
First, in a state where the
[0038]
After loosely inserting the
[0039]
Subsequently, the
[0040]
At the same time that the
[0041]
When the
[0042]
When there is no defect in the
[0043]
As described above, in this embodiment, the
[0044]
Further, since the
[0045]
Specifically, the water
[0046]
[Second Embodiment]
FIG. 4 shows a schematic configuration of a film defect inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention. This film
[0047]
As shown in FIG. 5, the discharge
[0048]
Based on the image data D3 of the discharge light 81, the
[0049]
Note that the discharge
[0050]
In the present embodiment, since the current measuring unit 50 (FIG. 1) is not provided, the
[0051]
Next, the operation of the film
[0052]
First, as in the first embodiment, the
[0053]
At the same time, the discharge
[0054]
When the
[0055]
When there is no defect in the
[0056]
As described above, in the present embodiment, in addition to the effects obtained by the first embodiment, the discharge
[0057]
While the present invention has been described with reference to the embodiment and the modification, the present invention is not limited to the embodiment and the modification, and various modifications can be made. For example, in each of the above embodiments, the case where either one of the
[0058]
Further, for example, in each of the above-described embodiments, the
[0059]
For example, in the second embodiment, the case where the
[0060]
Further, for example, in each of the above embodiments, the
[0061]
In addition, in each of the above embodiments, the
[0062]
Further, in each of the above embodiments and FIGS. 7 and 8, the case where the inspection target is the
[0063]
【The invention's effect】
As described above, according to the film defect inspection apparatus according to any one of
[0064]
In particular, according to the film defect inspection apparatus according to claim 4 or the film defect inspection method according to claim 11, the conductive liquid is gradually filled in the tubular member so that the water level in the tubular member gradually increases. Therefore, as the water level rises, it is possible to gradually move the position where discharge may occur over the entire inspection object, not only detecting the occurrence of discharge but also generating it. The position can also be specified.
[0065]
In particular, according to the film defect inspection apparatus according to claim 5 or the film defect inspection method according to claim 12, the water level of the conductive liquid is measured by the water level measurement unit and a water level signal is output. Since the position signal indicating the generation position of the discharge is generated based on the discharge detection signal and the water level signal, the position of the defect can be specified. For example, if the inspection is performed in a state where the tube body is erected, the position of the defect in the longitudinal direction of the tube body can be specified.
[0066]
In addition, in particular, according to the film defect inspection apparatus according to claim 7 or the film defect inspection method according to claim 14, the discharge light when the discharge occurs is detected by the discharge light detection unit, and the discharge light of the discharge light is detected. Since the signal indicating the generation direction is output as the discharge detection signal, the position of the defect can be specified in more detail. For example, if the inspection is performed in a state where the tube body is erected, the position of the defect in the circumferential direction of the tube body can be specified.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a film defect inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a state of occurrence of discharge shown in FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating another example of the tubular body illustrated in FIG.
FIG. 4 is a block diagram showing a schematic configuration of a film defect inspection apparatus according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a block diagram illustrating a schematic configuration of a discharge light detection unit illustrated in FIG. 4;
6 is an explanatory diagram for explaining image analysis in an image analysis unit shown in FIG. 5;
7 is a cross-sectional view showing a modification of the tubular member shown in FIG. 1. FIG.
8 is a schematic configuration diagram showing a main part of a film defect inspection apparatus using the tubular member shown in FIG.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
Claims (14)
固体誘電体により形成された管状部材を有すると共に前記管状部材の少なくとも一部に導電性液体が充填され、前記被膜との間に間隙を保ちながら前記検査対象物の表面に配設される電極と、
前記検査対象物と前記電極との間に所定の電圧を印加する電圧印加部と、
前記検査対象物の前記被膜に生じている欠陥に起因して前記検査対象物と前記電極との間で放電が発生したことを検知して放電検知信号を出力する放電検知部と
を備えたことを特徴とする被膜欠陥検査装置。A film defect inspection apparatus for inspecting defects in an insulating film deposited on the surface of a conductive inspection object,
An electrode that has a tubular member formed of a solid dielectric, is filled with a conductive liquid in at least a part of the tubular member, and is disposed on the surface of the object to be inspected while maintaining a gap with the coating film; ,
A voltage application unit that applies a predetermined voltage between the inspection object and the electrode;
A discharge detection unit that detects that a discharge has occurred between the inspection object and the electrode due to a defect occurring in the coating film of the inspection object and outputs a discharge detection signal; Film defect inspection apparatus characterized by the above.
前記検査対象物の内側に被着された前記被膜との間に間隙を保ちながら前記検査対象物に緩挿される
ことを特徴とする請求項1記載の被膜欠陥検査装置。The tubular member is cylindrical,
The film defect inspection apparatus according to claim 1, wherein the film defect inspection apparatus is loosely inserted into the inspection object while maintaining a gap between the film and the film deposited on the inside of the inspection object.
前記検査対象物は、前記検査対象物の外側に被着された前記被膜と前記管状部材との間に間隙を保ちながら前記管状部材の空腔部に緩挿される
ことを特徴とする請求項1記載の被膜欠陥検査装置。The tubular member has an annular cross-section and a cylindrical cavity,
2. The inspection object is loosely inserted into a hollow portion of the tubular member while maintaining a gap between the coating member deposited on the outside of the inspection object and the tubular member. The coating film defect inspection apparatus described.
ことを特徴とする請求項1ないし請求項3記載の被膜欠陥検査装置。4. The film defect inspection apparatus according to claim 1, wherein the conductive liquid is gradually filled into the tubular member so that a water level in the tubular member gradually increases.
前記放電検知信号と前記水位信号とに基づいて、前記放電の発生位置を表す位置信号を生成する位置信号生成部と
を備えたことを特徴とする請求項1ないし請求項4記載の被膜欠陥検査装置。A water level measuring unit that measures the water level of the conductive liquid and outputs a water level signal;
The film defect inspection according to claim 1, further comprising a position signal generation unit configured to generate a position signal representing the generation position of the discharge based on the discharge detection signal and the water level signal. apparatus.
前記検査対象物と前記電極との間の電流変化を検知して前記電流変化を表す信号を前記放電検知信号として出力する電流計測部を備えた
ことを特徴とする請求項1ないし請求項5記載の被膜欠陥検査装置。The discharge detector is
6. A current measuring unit that detects a current change between the inspection object and the electrode and outputs a signal representing the current change as the discharge detection signal. Coating defect inspection equipment.
前記検査対象物と前記電極との間の放電光を検知して前記放電光の発生方向を表す信号を前記放電検知信号として出力する放電光検知部を備えた
ことを特徴とする請求項1ないし請求項6記載の被膜欠陥検査装置。The discharge detector is
The discharge light detection part which detects the discharge light between the said test target object and the said electrode, and outputs the signal showing the generation direction of the said discharge light as the said discharge detection signal is provided. The film defect inspection apparatus according to claim 6.
固体誘電体により形成された管状部材を有すると共に前記管状部材の少なくとも一部に導電性液体が充填された電極を、前記被膜との間に間隙を保ちながら前記管体の表面に配設し、
電圧印加部によって、前記検査対象物と前記電極との間に所定の電圧を印加し、
放電検知部によって、前記検査対象物の前記被膜に生じている欠陥に起因して前記検査対象物と前記電極との間で放電が発生したことを検知して放電検知信号を出力する
ことを特徴とする被膜欠陥検査方法。A film defect inspection method for inspecting defects of an insulating film deposited on the surface of a conductive inspection object,
An electrode having a tubular member formed of a solid dielectric and filled with a conductive liquid in at least a part of the tubular member is disposed on the surface of the tubular body while maintaining a gap with the coating,
A voltage application unit applies a predetermined voltage between the inspection object and the electrode,
The discharge detection unit detects that a discharge has occurred between the inspection object and the electrode due to a defect occurring in the film of the inspection object, and outputs a discharge detection signal. A coating defect inspection method.
前記管状部材を、前記検査対象物の内側に被着された前記被膜との間に間隙を保ちながら前記検査対象物に緩挿する
ことを特徴とする請求項8記載の被膜欠陥検査方法。A cylindrical tubular member is used as the tubular member,
The film defect inspection method according to claim 8, wherein the tubular member is loosely inserted into the inspection object while maintaining a gap between the tubular member and the film deposited on the inside of the inspection object.
前記検査対象物を、前記検査対象物の外側に被着された前記被膜と前記管状部材との間に間隙を保ちながら前記管状部材の空腔部に緩挿する
ことを特徴とする請求項8記載の被膜欠陥検査方法。As the tubular member, a tubular member having an annular cross-section and having a cylindrical cavity portion is used.
9. The inspection object is loosely inserted into a hollow portion of the tubular member while maintaining a gap between the coating member deposited on the outside of the inspection object and the tubular member. The film defect inspection method as described.
ことを特徴とする請求項8ないし請求項10記載の被膜欠陥検査方法。11. The film defect inspection method according to claim 8, wherein the conductive liquid is gradually filled into the tubular member so that a water level in the tubular member gradually increases.
前記放電検知部によって、前記放電検知信号と前記水位信号とに基づいて、前記放電の発生位置を表す位置信号を生成する
ことを特徴とする請求項8ないし請求項11記載の被膜欠陥検査方法。The water level measurement unit measures the water level of the conductive liquid and outputs a water level signal.
The film defect inspection method according to claim 8, wherein the discharge detection unit generates a position signal indicating a generation position of the discharge based on the discharge detection signal and the water level signal.
ことを特徴とする請求項8ないし請求項12記載の被膜欠陥検査方法。9. The discharge detection unit, wherein a current measurement unit detects a current change between the inspection object and the electrode, and outputs a signal representing the current change as the discharge detection signal. The film defect inspection method according to claim 12.
ことを特徴とする請求項8ないし請求項13記載の被膜欠陥検査方法。In the discharge detection unit, the discharge light detection unit detects discharge light between the inspection object and the electrode, and outputs a signal indicating the generation direction of the discharge light as the discharge detection signal. The film defect inspection method according to claim 8 to 13.
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JP2002178351A JP3909581B2 (en) | 2002-06-19 | 2002-06-19 | Film defect inspection apparatus and film defect inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002178351A JP3909581B2 (en) | 2002-06-19 | 2002-06-19 | Film defect inspection apparatus and film defect inspection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004020474A JP2004020474A (en) | 2004-01-22 |
JP3909581B2 true JP3909581B2 (en) | 2007-04-25 |
Family
ID=31176097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002178351A Expired - Fee Related JP3909581B2 (en) | 2002-06-19 | 2002-06-19 | Film defect inspection apparatus and film defect inspection method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3909581B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6394660B2 (en) * | 2016-08-24 | 2018-09-26 | トヨタ自動車株式会社 | Heat sink inspection method, inspection apparatus and manufacturing method |
CN115508415A (en) * | 2022-09-16 | 2022-12-23 | 山东科技大学 | Microcrack detection device based on conductive liquid spraying structure |
-
2002
- 2002-06-19 JP JP2002178351A patent/JP3909581B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004020474A (en) | 2004-01-22 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050606 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061215 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100202 Year of fee payment: 3 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100202 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110202 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110202 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120202 Year of fee payment: 5 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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