JP3798855B2 - Signal selector switch - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は信号切換えスイッチに関する。例えば、本発明は、携帯電話の送受信切り換え等に使用される高周波用の信号切換えスイッチに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図1は、従来の携帯電話の送受信切り換え等に使用される信号切換えスイッチ1を示す回路図である。一般に、この種の回路はSPDT(Single-Pole-Dual-Throw)スイッチと呼ばれている。
【0003】
このSPDTスイッチは、入出力端子として、送受信共用アンテナが接続されるANT端子(図では、ANTで示す)と、送信用電力増幅器が接続されるTX端子(図では、TXで示す)と、受信用低雑音増幅器が接続されるRX端子(図では、RXで示す)とを備えている。
【0004】
この信号切換えスイッチ1は4つのスイッチング用半導体素子(以下、スイッチング用素子という)Q1〜Q4を有しており、スイッチング用素子としてGaAs MESFET(GaAs Metal-Semiconductor FET)が用いられている。ANT端子−RX端子間には、スイッチング用素子Q1のソース・ドレインが直列に接続され、RX端子−グランド(以下、GNDと記す)間には、スイッチング用素子Q2のソース・ドレインが直列に接続され、ANT端子−TX端子間には、スイッチング用素子Q3のソース・ドレインが直列に接続され、TX端子−GND間には、スイッチング用素子Q4のソース・ドレインが直列に接続されている。
【0005】
各スイッチング用素子Q1〜Q4のゲートは、それぞれ抵抗R1〜R4を介して制御電圧端子に接続されている。V1〜V4は制御電圧端子を介して各スイッチング用素子Q1〜Q4のゲートに印加されている制御電圧(ゲートバイアスVGB)である。各スイッチング用素子Q1〜Q4は、ゲートにピンチオフ電圧VP以上の電圧VONを印加する(V1〜V4≧VON)ことによりON(導通)状態となり、逆に、ゲートにピンチオフ電圧VP以下の電圧VOFFを印加する(V1〜V4≦VOFF)ことによりOFF(遮断)状態となる。
【0006】
しかして、信号切換えスイッチ1を通して送信する場合には、スイッチング用素子Q1,Q4の制御電圧V1,V4をVOFFにし、スイッチング用素子Q2,Q3の制御電圧V2,V3をVONにすると、ANT端子−RX端子間がOFFとなり、ANT端子−TX端子間がONとなり、送信側の電力増幅器からアンテナに送信信号が出力される。
【0007】
また、信号切換えスイッチ1を通して受信する場合には、スイッチング用素子Q2,Q3の制御電圧V2,V3をVOFFにし,スイッチング用素子Q1,Q4の制御電圧V1,V4をVONにすると、ANT端子−TX端子間はOFFとなり、ANT端子−RX端子間はONとなり、アンテナから受信側の低雑音増幅器に受信信号が入力される。
【0008】
RX端子−GND間のスイッチング用素子Q2は、スイッチング用素子Q1がOFF状態となっている場合にON状態となり、OFF状態にあるスイッチング用素子Q1のOFF容量を通してRX端子側に漏れてきた信号電力をGNDに落とすことにより、RX端子のアイソレーション特性を高める効果がある。同様に、TX端子−GND間のスイッチング用素子Q4は、スイッチング用素子Q3がOFF状態となっている場合にON状態となり、OFF状態にあるスイッチング用素子Q3のOFF容量を通してTX端子側に漏れてきた信号電力をGNDに落とすことにより、TX端子のアイソレーション特性を高める効果がある。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
図2は上記スイッチング用素子(GaAs MESFET)Q1〜Q4の特性を表わし、さらに、OFF状態のスイッチング用素子とON状態のスイッチング用素子のゲート・ソース間に加わっている信号電圧波形を表わす図であって、横軸はゲート・ソース間電圧VGS、縦軸はドレイン電流IDSを示している。なお、IDSSはゲート・ソース間電圧VGS=0Vのときの飽和ドレイン電流、IFmaxはゲート・ソース間電圧印加時の飽和ドレイン電流、VTHはゲート順方向電流の立ち上がり電圧、VPはピンチオフ電圧、VBはゲート逆方向耐圧である。
【0010】
図2に示すように、従来の高周波用信号切換えスイッチ1においては、ANT端子とRX端子又はTX端子の間を伝搬する信号電圧ΔVGSが各スイッチング用素子Q1〜Q4のゲートバイアスVGB=V1〜V4(すなわち、制御電圧VON又はVOFF)を中心としてゲート・ソース間電圧VGSに重畳されるので、送信時にTX端子から大電力の信号が入力された場合、ゲート・ソース間電圧VGSがスイッチング用素子Q1〜Q4のピンチオフ電圧VPに達する。このとき、送信時にはON状態であるはずのスイッチング用素子Q3は、ゲート・ソース間電圧VGS(=VON+ΔVGS)がピンチオフ電圧VP以下となる毎に一時的にOFF状態となるので、送信電力波形がクリッピングされて波形歪が生じる。
【0011】
また、TX端子から大電力の信号が入力された場合には、OFF状態であるはずのスイッチング用素子Q1は、ゲート・ソース間電圧VGS(=VOFF+ΔVGS)がピンチオフ電圧VP以上となる毎に一時的にON状態となるので、送信電力の一部がRX端子へ漏れ、RX端子のアイソレーションが悪化する。
【0012】
さらに、TX端子から大電力の信号が入力された場合には、OFF状態であるはずのスイッチング用素子Q4は、ゲート・ソース間電圧VGSがピンチオフ電圧VP以上となる毎に一時的にONとなるので、送信電力の一部がGNDに落ち、挿入損失が増加する。
【0013】
この結果、従来の信号切換えスイッチにおいては、大きな電圧の信号による性能劣化により、線形最大伝送可能電力が制限されていた。
【0014】
しかし、信号切換えスイッチの用途によっては低電圧動作を特に要求されない場合もあり、そのような場合にはピンチオフ電圧VPや制御電圧VON,VOFFを、上記の電圧的な制限からくるスイッチ性能の劣化が生じないよう、十分余裕を持って設定することが可能である。すなわち、VON−VP,VP−VOFFを十分に大きくすることにより、上記のようなスイッチ性能の劣化を防止できる。
【0015】
このように電圧的な制限が問題とならない場合には、信号切換えスイッチ1の線形最大伝送可能電力は、電流的な制限から決まる。すなわち、信号切換えスイッチ1を伝搬する電流IDSがスイッチング用素子Q1〜Q4のドレイン電流飽和領域に達すると、送信電力波形がクリッピングされるため歪が生じ、このスイッチ性能の劣化が信号切換えスイッチ1の線形最大伝送可能電力を制限することになる。これは、スイッチング用素子Q1〜Q4の飽和ドレイン電流IDSS(又は、IFmax)で決まり、線形最大伝送可能電力を増加させるには、スイッチング用素子Q1〜Q4の飽和ドレイン電流IDSSを十分大きく設定することが必要になる。
【0016】
しかしながら、スイッチング用素子Q1〜Q4の飽和ドレイン電流IDSSを大きくするには、スイッチング用素子Q1〜Q4の活性層のキャリア密度等の内部構造が決定している場合、一般にゲート幅Wgを増やす方法が採られる。しかし、ゲート幅Wgを大きくするとスイッチング用素子Q1〜Q4の面積が増大することからチップ面積が増大し、コストが増加するという問題が生じる。また、スイッチング用素子Q1〜Q4のゲートは断線等のプロセス不良が生じやすいため、ゲート幅Wgが増大すると歩留りが低下するという問題が生じる。
【0017】
本発明は叙上の従来例の欠点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、スイッチング用の半導体素子における電流的な制限を緩和することにより、線形最大伝送可能電力を向上させることにある。
【0018】
【発明の開示】
請求項1に記載の信号切換えスイッチは、半導体素子がスイッチング素子として用いられたスイッチ回路と、複数の入出力端子とを備え、スイッチ回路によって各入出力端子を互いに接続したり、切り離したりするための信号切換えスイッチにおいて、前記入出力端子と前記スイッチ回路との間にインピーダンス変換回路を設け、スイッチ回路からインピーダンス変換回路をみたインピーダンスを、入出力端子から外部回路をみたインピーダンスより大きくしたことを特徴としている。ここで、入出力端子とは、入力端子、出力端子もしくは入出力共用端子をさす。
【0019】
請求項1に記載の信号切換えスイッチにあっては、スイッチ回路からインピーダンス変換回路をみたインピーダンスが、入出力端子から外部回路をみたインピーダンスより大きくなっているので、インピーダンス変換回路を設けたことにより、スイッチ回路内部を伝搬する信号電力の電流波の振幅が小さくなる。
【0020】
よって、スイッチ回路に用いられているスイッチング用の半導体素子に要求される電流容量、例えば飽和ドレイン電流の制限を緩和することができ、信号切換えスイッチにおける線形最大伝送可能電力を向上させることができる。
【0021】
すなわち、飽和ドレイン電流を大きくすることなく、つまりスイッチング用の半導体素子のゲート幅を大きくすることなく、信号電流を小さくすることによって線形最大伝送可能電力を向上させることができる。
【0022】
線形最大伝送可能電力を向上させるためにゲート幅を大きくする必要がないので、チップ面積が大きくならず、コストの増大という問題も生じない。さらに、ゲート幅が大きくならないので、断線の恐れも増加せず、信号切換えスイッチの歩留りが低下することもない。
【0023】
請求項2に記載の実施態様は、請求項1記載の信号切換えスイッチにおいて、前記インピーダンス変換回路が、前記スイッチ回路が形成された半導体集積回路のボンディングワイヤもしくはリードのインダクタンスと、前記半導体集積回路のストレーキャパシタンスとを用いたものであることを特徴としている。
【0024】
請求項2に記載の実施態様にあっては、スイッチ回路が形成されている半導体集積回路のボンディングワイヤもしくはリードのインダクタンスとストレーキャパシタンスをインピーダンス変換回路に利用しているので、信号切換えスイッチの構成部品点数を削減することができる。また、スイッチ回路及びインピーダンス変換回路を構成された半導体集積回路のチップ面積を小さくすることができる。
【0025】
従って、信号切換えスイッチを小型化することができると共に製造コストも安価にすることができる。
【0026】
請求項3に記載の実施態様は、請求項1又は2記載の信号切換えスイッチにおいて、前記インピーダンス変換回路が、誘電体多層基板内に形成されたインダクタンス、キャパシタンス及び伝送線路から構成されていることを特徴としている。
【0027】
このように、インピーダンス変換回路を構成するインダクタンス、キャパシタンス及びボンディングワイヤを誘電体多層基板内に積層することにより、インピーダンス変換回路を小面積に形成することができ、信号切換えスイッチの小型化を図ることができる。
【0028】
また、請求項3に記載の実施態様によれば、インピーダンスのQ値を下げることができ、広帯域なインピーダンス変換が実現できる。よって、広帯域にわたって信号切換えスイッチの性能を向上させることができる。
【0029】
請求項4に記載の実施態様は、請求項1〜3記載の信号切換えスイッチにおいて、前記インピーダンス変換回路が、単一正電源動作用の直流カット用キャパシタンスと高周波チョーク用インダクタンスとを含んでいることを特徴としている。
【0030】
この実施態様によれば、単一正電源動作用の高周波チョーク用インダクタンス及び直流カット用キャパシタンスをインピーダンス変換回路の一部として利用しているので、信号切換えスイッチの素子数を削減でき、半導体集積回路として構成する場合にはチップ面積を減少させることができる。従って、製造コストの削減を図ることができる。
【0031】
請求項5に記載の実施態様は、請求項1〜4に記載の信号切換えスイッチにおいて、前記入出力端子から各インピーダンス変換回路をみたインピーダンスが前記各外部回路の要求する最適インピーダンスにほぼ等しくなっていることを特徴としている。
【0032】
請求項5に記載の実施態様にあっては、インピーダンス変換回路が入出力端子に接続する外部回路との最適インピーダンスによる整合機能を有しているので、入出力端子と外部回路との間に整合回路を設ける必要がなくなる。
【0033】
各入出力端子と外部回路との間に整合回路が不要になるので、信号切換えスイッチの性能を向上させた状態で、通信システム等の全体における変換損失の低減を図ることができる。さらに、素子数を減少させ、半導体集積回路においてはチップ面積を減少させることができるので、信号切換えスイッチの製造コストの削減を図ることができる。
【0034】
【発明の実施の形態】
(第1の実施形態)
図3は、本発明の一実施形態による信号切換えスイッチ11を示す回路図である。この信号切換えスイッチ11は、スイッチング用素子Q1〜Q4としてGaAs MESFETのような半導体素子を用いたスイッチ回路12と、入出力端子であるANT端子、RX端子及びTX端子と、インピーダンス変換回路M1〜M3とから構成されている。ここで、スイッチ回路12は、従来例として説明した信号切換えスイッチ(SPDTスイッチ)1と同じものであるので、同一構成要素には同一符号を付して説明を省略する。インピーダンス変換回路M1はANT端子とスイッチ回路12の間に接続されており、スイッチ回路12からインピーダンス変換回路M1をみたインピーダンスZSWがANT端子から外部回路をみたインピーダンスZ0より大きくなるようにしている。同様に、インピーダンス変換回路M2はRX端子とスイッチ回路12の間に接続され、インピーダンス変換回路M3はTX端子とスイッチ回路12の間に接続されており、いずれもスイッチ回路12からインピーダンス変換回路M2〜M3をみたインピーダンスZSWがRX端子又はTX端子から外部回路をみたインピーダンスZ0より大きくなるようにしている。
【0035】
しかして、この信号切換えスイッチ11にあっては、入出力端子であるANT端子、RX端子及びTX端子とスイッチ回路12の間にそれぞれインピーダンス変換回路M1〜M3を設け、スイッチ回路12からインピーダンス変換回路M1〜M3をみたインピーダンスZSWが、ANT端子、RX端子及びTX端子から外部回路をみたインピーダンスZ0より大きくなるようにしているので、スイッチ回路12内部を伝搬する信号電力の電流波の振幅を小さくすることができる。よって、スイッチング用素子Q1〜Q4としてのMESFETに要求される電流容量、すなわち飽和ドレイン電流IDSSの制限が緩和されるため、MESFETのゲート幅を短くできる。この結果、スイッチング用素子Q1〜Q4のチップ面積の縮小が達成され、チップ面積の縮小によって製造コストが低下し、またゲート幅が短いため製造プロセスによる歩留りが向上する。そして、同じゲート幅のスイッチング用素子Q1〜Q4を用いた信号切換え用スイッチに比べて線形最大伝送可能電力を向上させることができる。
【0036】
なお、本発明は、一般的にいうと、インピーダンス変換回路M1〜M3によりスイッチ回路12の内部のインピーダンスを増加させ、スイッチ回路12に流れる信号の電流振幅を減少させたものである。すなわち、スイッチ回路12のインピーダンスをZSW、スイッチ回路12に流れる電流波の最大振幅をISWとすると、スイッチ回路12を伝送される電力Pは、P=(ISW 2・ZSW)/2で表わされるから、スイッチ回路12に入力される電力がPであるとすると、スイッチ回路12のインピーダンスZSWを大きくすることにより、スイッチ回路12を流れる電流ISWを小さくすることができる。従って、スイッチング用素子Q1〜Q4の電流的な制限から生じるスイッチング性能の劣化を緩和することができる。よって、本実施形態ではスイッチング用素子Q1〜Q4としてGaAs MESFETを例として用いたが、他の半導体素子、例えばPINダイオード等を用いても、許容電流等の電流的な制限を緩和することが可能である(以下の実施形態においても同様)。
【0037】
(第2の実施形態)
図4は、本発明の別な実施形態による信号切換えスイッチ13を示す回路図である。インピーダンス変換回路M1は、L型接続されたインダクタンスLANTとキャパシタンスCANTからなるL型無損失回路であり、信号の周波数をfとするとき、インダクタンスLANTによるインピーダンスがj(2πf)LANT=j50Ω、キャパシタンスCANTによるインピーダンス−j/(2πfCANT)=−j100Ωとなっている。従って、ANT端子から外部回路をみたインピーダンスがZ0=50Ωのとき、スイッチ回路12からインピーダンス変換回路M1をみたインピーダンスはZSW=100Ωになる。同様に、インピーダンス変換回路M2,M3は、それぞれL型接続されたインダクタンスLRX,LTXとキャパシタンスCRX,CTXとからなるL型無損失回路であり、インダクタンスLRX,LTXによるインピーダンスj(2πf)LRX=j50Ω、j(2πf)LTX=j50Ω、キャパシタンスCRX,CTXによるインピーダンス−j/(2πfCRX)=−j100Ω、−j/(2πfCTX)=−j100Ωとなっている。従って、RX端子又はTX端子から外部回路をみたインピーダンスがZ0=50Ωのとき、スイッチ回路12からRX端子又はTX端子をみたインピーダンスもZSW=100Ωになる。なお、インダクタンスLANT,LRX,LTX、キャパシタンスCANT,CRX,CTXの素子定数は回路を流れる信号の周波数fによって定まり、1.9GHzにおいては、LANT=LRX=LTX=4.188nH、CANT=CRX=CTX=0.838pFとなっている。
【0038】
図5及び図6はそれぞれ、信号切換えスイッチ13にP=360mWの信号電力を入力したときの、入力端子(すなわち、TX端子またはANT端子)、スイッチ回路12の内部、出力端子(すなわち、ANT端子またはRX端子)における電流波形及び電圧波形を示す図である。但し、簡単のため、スイッチ回路12の内部での抵抗損失は0であるとして計算している。入出力端子であるANT端子、RX端子、TX端子はZ0=50Ω系であるから、電圧波の最大振幅は6V[=(2PZ01/2]、電流波の最大振幅は120mA[=(2P/Z01/2]となっているが、スイッチ回路12の内部ではインピーダンス変換回路M1〜M3によりZSW=100Ω系となっているため、電圧波の最大振幅は8.5V[=(2PZSW1/2]、電流波の最大振幅は85mA[=(2P/ZSW1/2]となっている。
【0039】
すなわち、TX端子又はANT端子から信号電力を入力すると、スイッチ回路12を伝搬する電圧波の最大振幅はインピーダンスがZ0=50Ωであると6Vに達するが、インピーダンス変換回路M1〜M3によりインピーダンスがZSW=100Ωになっているため、スイッチ回路12を伝搬する電圧波の最大振幅は8.5Vと√2倍に増加する。そのかわり、電流波の最大振幅は、Z0=50Ωでは120mAであったが、ZSW=100Ωでは85mAと1/√2倍に減少する。
【0040】
従って、ANT端子、RX端子、TX端子とスイッチ回路12の間にインピーダンス変換回路M1〜M3を設け、スイッチ回路12からANT端子、RX端子、TX端子をみたインピーダンスZSWを、ANT端子、RX端子、TX端子から外部回路をみたインピーダンスZ0より大きくなるように設定することで、スイッチ回路12の内部を伝搬する信号電力の電流波の振幅を小さくできる。
【0041】
これによって、スイッチング用素子Q1〜Q4に流れる電流が、その飽和ドレイン電流IDSSに達しにくくなるので、信号切換えスイッチ13に大きな電力を供給できるようになり、線形最大伝送可能電力を大きくすることができる。よって、同一のゲート幅のスイッチング用素子Q1〜Q4を用いた場合と比較して、線形最大伝送可能電力を向上させることができる。
【0042】
(第3の実施形態)
図7は、本発明の別な実施形態による信号切換えスイッチ14を示す平面図である。この信号切換えスイッチ14においては、スイッチ回路12はIC(半導体集積回路)チップ15上に形成されている。16、17、18はそれぞれ、ICチップ15上に形成されているスイッチ回路12のANT側端子電極、RX側端子電極、TX側端子電極である。スイッチ回路12を形成されたICチップ15は、ダイパッド19上にダイボンドされている。ダイパッド19からは3本のグランド端子20が延出されている。また、ICチップ15を封止しているモールドパッケージ21には、ANT端子となるANTリード22と、RX端子となるRXリード23と、TX端子となるTXリード24の各端部が埋めこまれている。ANTリード22とスイッチ回路12のANT側端子電極16はボンディングワイヤ25により接続されており、RXリード23とスイッチ回路12のRX側端子電極17はボンディングワイヤ26により接続されており、TXリード24とスイッチ回路12のTX側端子電極18はボンディングワイヤ27により接続されている。また、28、29、30はそれぞれANT側端子電極16、RX側端子電極17、TX側端子電極18の近傍に設けられたグランド電極であって、バイアホール31を介してダイパッド19に導通している。スイッチ回路12のANT側端子電極16とグランド電極28はMIMキャパシタ32によって接続されており、スイッチ回路12のRX側端子電極17とグランド電極29はMIMキャパシタ33により接続されており、スイッチ回路12のTX側端子電極18とグランド電極30は、ICチップ15上に形成されたMIMキャパシタ34により接続されている。
【0043】
図8は上記信号切換えスイッチ14の等価回路図である。この信号切換えスイッチ14にあっては、ANT端子、RX端子、TX端子とスイッチ回路12の間に挿入されているインピーダンス変換回路M1〜M3は、いずれもインダクタンスLL1,LL2,LL3とキャパシタンスCS1,CS2,CS3からなるL型回路とインダクタンスLW1,LW2,LW3とキャパシタンスCM1,CM2,CM3からなるL型回路の2段構成となっている。
【0044】
インピーダンス変換回路M1においては、ANTリード22の先端がANT端子となっており、インダクタンスLL1はANTリード22のインダクタンスにより構成され、キャパシタンスCS1はANTリード22とグランド端子20の間のストレーキャパシタンスにより構成され、インダクタンスLW1はボンディングワイヤ25のインダクタンスにより構成され、大容量のキャパシタンスCM1はMIMキャパシタンス32により構成されている。
【0045】
同様に、インピーダンス変換回路M2においては、RXリード23の先端がRX端子となっており、インダクタンスLL2はRXリード23のインダクタンスにより構成され、キャパシタンスCS2はRXリード23とグランド端子20の間のストレーキャパシタンスにより構成され、インダクタンスLW2はボンディングワイヤ26のインダクタンスにより構成され、大容量のキャパシタンスCM2はMIMキャパシタンス33により構成されている。
【0046】
同じく、インピーダンス変換回路M3においては、TXリード24の先端がTX端子となっており、インダクタンスLL3はTXリード24のインダクタンスにより構成され、キャパシタンスCS3はTXリード24とグランド端子20の間のストレーキャパシタンスにより構成され、インダクタンスLW3はボンディングワイヤ27のインダクタンスにより構成され、大容量のキャパシタンスCM3はMIMキャパシタンス34により構成されている。
【0047】
本実施形態によれば、信号切換えスイッチ14をモールドパッケージ21に納める際に問題となる、ANTリード22、RXリード23、TXリード24やボンディングワイヤ25,26,27の各インダクタンスLL1,LL2,LL3やLW1,LW2,LW3、ANTリード22、RXリード23、TXリード24とグランド端子20の間のストレーキャパシタンスCS1,CS2,CS3をインピーダンス変換回路M1〜M3の一部として積極的に利用することができ、ICチップ15のチップ面積を小さくすることが可能となり、信号切換えスイッチ14の性能を向上した状態で、ICチップ15の面積を小さくでき、製造コストを低廉にできる。
【0048】
(第4の実施形態)
図9は、本発明のさらに別な実施形態による信号切換えスイッチ35を示す斜視図、図10はその等価回路図である。この信号切換えスイッチ35にあっては、インピーダンス変換回路M1〜M3が構成された誘電体多層基板36の上面に、スイッチ回路12を形成されたICチップ15が実装され、ICチップ15と誘電体多層基板36とがボンディングワイヤ37により接続されている。
【0049】
インピーダンス変換回路M1〜M3は、図10に示すように、誘電体多層基板36の内部に多段に形成されたインダクタンスLA1,LA2,LA3;LB1,LB2,LB3;LC1,LC2,LC3とキャパシタンスCA1,CA2,CA3;CB1,CB2,CB3;CC1,CC2,CC3と伝送線路MS1,MS2,MS3により構成されている。
【0050】
インピーダンス変換回路M1においては、ANT端子とスイッチ回路12間に直列にインダクタンスLA1、キャパシタンスCA1、伝送線路MS1、インダクタンスLA3が接続され、インダクタンスLA1とキャパシタンスCA1の接続点がインダクタンスLA2を介してグランド(GND)に接続され、キャパシタンスCA1と伝送線路MS1の接続点がキャパシタンスCA2を介してグランドに接続され、伝送線路MS1とインダクタンスLA3の接続点がキャパシタンスCA3を介してグランドに接続されている。
【0051】
同様に、インピーダンス変換回路M2,M3においては、RX端子,TX端子とスイッチ回路12間に直列にインダクタンスLB1,LC1、キャパシタンスCB1,CC1、伝送線路MS2,MS3、インダクタンスLB3,LC3が接続され、インダクタンスLB1又はLC1とキャパシタンスCB1又はCC1の接続点がインダクタンスLB2,LC2を介してグランドに接続され、キャパシタンスCB1又はCC1と伝送線路MS2又はMS3の接続点がキャパシタンスCB2,CC2を介してグランドに接続され、伝送線路MS2又はMS3とインダクタンスLB3又はLC3の接続点がキャパシタンスCB3,CC3を介してグランドに接続されている。なお、ボンディングワイヤ37のインダクタンスがインピーダンス変換回路M1〜M3に利用されており、ボンデイングワイヤ37がインピーダンス変換回路M1〜M3の一部となっている。
【0052】
このように、インピーダン変換回路M1〜M3を誘電体多層基板36に形成することにより、小さな実装面積において、インピーダンス変換回路M1〜M3をインダクタンスLA1〜LC3、キャパシタンスCA1〜CC3、伝送線路MS1〜MS3及びボンディングワイヤ37により多段に形成することができる。
【0053】
従って、インピーダンス変換回路M1〜M3のQ値を下げることができ、広帯域なインピーダンス変換が実現できる。よって、広帯域にわたってスイッチ回路12の性能を向上することができる。また、このインピーダンス変換回路M1〜M3は誘電体多層基板36に形成しているため、実装面積が小さくて済み、信号切換えスイッチ35を小型化することができる。
【0054】
(第5の実施形態)
図11は、本発明のさらに別な実施形態による信号切換えスイッチ38を示す回路図である。この信号切換えスイッチ38は、単一正電源動作を実現するために直流カット用キャパシタンスCDCと高周波チョーク用インダクタンスLRFを付加しており、この直流カット用キャパシタンスCDCと高周波チョーク用インダクタンスLRFをインピーダンス変換回路M1〜M3の一部としている。
【0055】
すなわち、インピーダンス変換回路M1は、ANT端子とスイッチ回路12の間に挿入された直流カット用キャパシタンスCDCと、この直流カット用キャパシタンスCDCとスイッチ回路12間の接続点とグランドの間に直列に挿入されたインダクタンスLG及びキャパシタンスCGと、この直流カット用キャパシタンスCDCとスイッチ回路12間の接続点に接続されて定電圧VDDを印加された高周波チョーク用インダクタンスLRFとから構成されている。
【0056】
また、インピーダンス変換回路M2は、RX端子とスイッチ回路12の間に挿入された直流カット用キャパシタンスCDCと、この直流カット用キャパシタンスCDCとスイッチ回路12間の接続点とグランドの間に直列に挿入されたインダクタンスLG及びキャパシタンスCGと、スイッチング用素子Q2とグランドの間に挿入された直流カット用キャパシタンスCDCと、この直流カット用キャパシタンスCDCとスイッチング用素子Q2の接続点に接続されて定電圧VDDを印加された高周波チョーク用インダクタンスLRFとから構成されている。
【0057】
同様に、インピーダンス変換回路M3は、TX端子とスイッチ回路12の間に挿入された直流カット用キャパシタンスCDCと、この直流カット用キャパシタンスCDCとスイッチ回路12間の接続点とグランドの間に直列に挿入されたインダクタンスLG及びキャパシタンスCGと、スイッチング用素子Q4とグランドの間に挿入された直流カット用キャパシタンスCDCと、この直流カット用キャパシタンスCDCとスイッチング用素子Q4の接続点に接続されて定電圧VDDを印加された高周波チョーク用インダクタンスLRF(インピーダンス変換回路M2と共用)とから構成されている。
【0058】
この信号切換えスイッチ38は、上記のように単一正電源動作用の高周波チョーク用インダクタンスLRF及び直流カット用キャパシタンスCDCをインピーダンス変換回路M1〜M3の一部として利用しているので、信号切換えスイッチ38の素子数を削減でき、半導体集積回路として構成する場合にはチップ面積を減少させることができる。
【0059】
(第6の実施形態)
図12は、本発明のさらに別な実施形態による信号切換えスイッチ39を外部回路と共に示す図である。ANT端子には送受信アンテナ40が接続され、RX端子には受信用低雑音増幅器(LNA)41が接続され、TX端子には送信用電力増幅器(PA)42が接続されている。
【0060】
この信号切換えスイッチ39においては、スイッチ回路12からインピーダンス変換回路M1〜M3をみたインピーダンスZSWを、例えば第1又は第2の実施形態のように最大伝送可能電力が向上するような電流が流れる適当な値とし(すなわち、スイッチ回路12からインピーダンス変換回路M1〜M3をみたインピーダンスZSWをANT端子、RX端子及びTX端子から送受信アンテナ40、受信用低雑音増幅器41、送信用電力増幅器42等の外部回路をみたインピーダンスZ0より大きくし)、さらに、ANT端子、RX端子及びTX端子から各インピーダンス変換回路M1〜M3をみたインピーダンスを送受信アンテナ40、受信用低雑音増幅器41、送信用電力増幅器42等の外部回路が要求する最適インピーダンス(定格インピーダンス)ZANT,ZLNA,ZPAとなるよう、各インピーダンス変換回路M1〜M3が設計されている。これによってインピーダンス変換回路にANT端子、RX端子、TX端子に接続する外部回路との最適インピーダンスによる整合機能を持たせている。
【0061】
ここで、最適インピーダンスとは、送受信アンテナ40では、送信回路から送受信アンテナ40に入力された送信電力が全て空中へ放射され、逆に空中から入射した受信電力が全て受信回路へ出力されるようなインピーダンスZANTである。また、送信用電力増幅器42では、最大出力電力が得られるインピーダンスZPAである。また、受信用低雑音増幅器41では、最小雑音指数が得られるインピーダンスZLNAである。
【0062】
信号切換えスイッチ39が最適インピーダンスによる整合機能を有しない場合には、送受信アンテナ40、送信用電力増幅器42、受信用低雑音増幅器41等の外部回路をANT端子、TX端子、RX端子に接続する場合には、別途整合回路を用いることにより、ANT端子、TX端子及びRX端子における外部回路との特性インピーダンス(例えば50Ω)を外部回路が要求する最適インピーダンスに変換した後、整合回路を介してANT端子、TX端子及びRX端子に送受信アンテナ40、送信用電力増幅器42、受信用低雑音増幅器41等の外部回路を接続する必要がある。
【0063】
これに対し、本実施形態による信号切換えスイッチ39では、インピーダンス変換回路M1〜M3に、ANT端子、TX端子、RX端子に接続する外部回路との最適インピーダンスによる整合機能を持たせているから、ANT端子、RX端子、TX端子と外部回路との間に整合回路が不要になり、外部回路と接続する際の構成を簡単にすることができる。
【0064】
さらに、ANT端子、RX端子、TX端子と外部回路との間に接続される整合回路が不要になるので、信号切換えスイッチ39の性能を向上させた状態において、信号切換えスイッチ39や通信システムにおける変換損失を低減でき、さらに素子数を減少させ、半導体集積回路を用いる場合にはチップ面積を減少させることができ、信号切換えスイッチ39の製造コストを安価にできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来例の信号切換え用スイッチを示す回路図である。
【図2】スイッチング用素子の特性とスイッチング用素子のゲートに印加される制御電圧に重畳された信号電圧を示す図である。
【図3】本発明の一実施形態による信号切換えスイッチを示す回路図である。
【図4】本発明の別な実施形態による信号切換えスイッチを示す回路図である。
【図5】同上の信号切換えスイッチに信号電力を入力したときの入力端子、出力端子及びスイッチ回路内部における電流波形を示す図である。
【図6】同上の信号切換えスイッチに信号電力を入力したときの入力端子、出力端子及びスイッチ回路内部における電圧波形を示す図である。
【図7】本発明のさらに別な実施形態による信号切換えスイッチを示す平面図である。
【図8】同上の信号切換えスイッチの等価回路を示す回路図である。
【図9】本発明のさらに別な実施形態による信号切換えスイッチを示す外観斜視図である。
【図10】同上の信号切換えスイッチの等価回路を示す回路図である。
【図11】本発明のさらに別な実施形態による信号切換えスイッチを示す回路図である。
【図12】本発明のさらに別な実施形態による信号切換えスイッチを示す回路ブロック図である。
【符号の説明】
1〜Q4 スイッチング用素子
M1〜M3 インピーダンス変換回路
ANT,LL1〜LL3,LW1〜LW3,LA1〜LA3,LB1〜LB3,LC1〜LC3インダクタンス
ANT,CS1〜CS3,CM1〜CM3,CA1〜CA3,CB1〜CB3,CC1〜CC3キャパシタンス
MS1〜MS3 伝送線路
RF 高周波チョーク用インダクタンス
DC 直流カット用キャパシタンス
ANT ANT端子
RX RX端子
TX TX端子
GND グランド
12 スイッチ回路
15 ICチップ
36 誘電体多層基板
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a signal changeover switch. For example, the present invention relates to a high-frequency signal switching switch used for transmission / reception switching of a cellular phone.
[0002]
[Prior art]
FIG. 1 is a circuit diagram showing a signal switch 1 used for transmission / reception switching of a conventional mobile phone. In general, this type of circuit is called an SPDT (Single-Pole-Dual-Throw) switch.
[0003]
This SPDT switch has, as input / output terminals, an ANT terminal (indicated by ANT in the figure) to which a transmission / reception shared antenna is connected, a TX terminal (indicated by TX in the figure) to which a transmission power amplifier is connected, and a reception RX terminal (indicated by RX in the figure) to which a low-noise amplifier is connected.
[0004]
The signal changeover switch 1 includes four switching semiconductor elements (hereinafter referred to as switching elements) Q.1~ QFourGaAs MESFET (GaAs Metal-Semiconductor FET) is used as a switching element. Between the ANT terminal and the RX terminal, there is a switching element Q1Are connected in series, and the switching element Q is connected between the RX terminal and the ground (hereinafter referred to as GND).2Are connected in series, and the switching element Q is connected between the ANT terminal and the TX terminal.ThreeAre connected in series, and the switching element Q is connected between the TX terminal and GND.FourAre connected in series.
[0005]
Each switching element Q1~ QFourEach of the gates of the resistor R1~ RFourTo the control voltage terminal. V1~ VFourAre each switching element Q via a control voltage terminal.1~ QFourThe control voltage (gate bias VGB). Each switching element Q1~ QFourIs the pinch-off voltage VPAbove voltage VON(V1~ VFour≧ VON) To turn on (conducting), and conversely, the pinch-off voltage V is applied to the gate.PThe following voltage VOFF(V1~ VFour≦ VOFF) To turn off (shut off).
[0006]
Thus, when transmitting through the signal selector switch 1, the switching element Q1, QFourControl voltage V1, VFourVOFFSwitching element Q2, QThreeControl voltage V2, VThreeVONThen, the connection between the ANT terminal and the RX terminal is turned OFF, the connection between the ANT terminal and the TX terminal is turned ON, and a transmission signal is output from the transmission-side power amplifier to the antenna.
[0007]
When receiving through the signal changeover switch 1, the switching element Q2, QThreeControl voltage V2, VThreeVOFFSwitching element Q1, QFourControl voltage V1, VFourVONThen, the signal between the ANT terminal and the TX terminal is turned off, the signal between the ANT terminal and the RX terminal is turned on, and the reception signal is input from the antenna to the low noise amplifier on the reception side.
[0008]
Switching element Q between the RX terminal and GND2Is the switching element Q1The switching element Q that is in the ON state and in the OFF state when is in the OFF state1By reducing the signal power leaking to the RX terminal side through the OFF capacitance to GND, there is an effect of improving the isolation characteristic of the RX terminal. Similarly, the switching element Q between the TX terminal and GNDFourIs the switching element QThreeThe switching element Q that is in the ON state and in the OFF state when is in the OFF stateThreeBy reducing the signal power leaking to the TX terminal side through the OFF capacitance to GND, there is an effect of improving the isolation characteristics of the TX terminal.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
FIG. 2 shows the switching element (GaAs MESFET) Q.1~ QFourAnd the signal voltage waveform applied between the gate and the source of the switching element in the OFF state and the switching element in the ON state, and the horizontal axis represents the gate-source voltage VGSThe vertical axis represents the drain current IDSIs shown. IDSSIs the gate-source voltage VGSSaturating drain current when = 0 V, IFmaxIs the saturation drain current when the gate-source voltage is applied, VTHIs the rising voltage of the gate forward current, VPIs the pinch-off voltage, VBIs the gate reverse breakdown voltage.
[0010]
As shown in FIG. 2, in the conventional high-frequency signal selector switch 1, the signal voltage ΔV propagated between the ANT terminal and the RX terminal or the TX terminal.GSIs each switching element Q1~ QFourGate bias VGB= V1~ VFour(Ie, control voltage VONOr VOFF) Around the gate-source voltage VGSWhen a high-power signal is input from the TX terminal during transmission, the gate-source voltage VGSIs the switching element Q1~ QFourPinch-off voltage VPTo reach. At this time, the switching element Q which should be in the ON state at the time of transmissionThreeIs the gate-source voltage VGS(= VON+ ΔVGS) Is the pinch-off voltage VPSince it is temporarily turned OFF every time the following occurs, the transmission power waveform is clipped and waveform distortion occurs.
[0011]
Further, when a high-power signal is input from the TX terminal, the switching element Q that should be in the OFF state1Is the gate-source voltage VGS(= VOFF+ ΔVGS) Is the pinch-off voltage VPSince the ON state is temporarily turned on each time, a part of the transmission power leaks to the RX terminal, and the isolation of the RX terminal deteriorates.
[0012]
Further, when a high power signal is input from the TX terminal, the switching element Q that should be in the OFF state.FourIs the gate-source voltage VGSIs the pinch-off voltage VPSince the power is temporarily turned on each time, a part of the transmission power falls to GND, and the insertion loss increases.
[0013]
As a result, in the conventional signal changeover switch, the linear maximum transmittable power is limited due to performance degradation due to a large voltage signal.
[0014]
However, there are cases where low voltage operation is not particularly required depending on the application of the signal changeover switch. In such a case, the pinch-off voltage VPAnd control voltage VON, VOFFCan be set with a sufficient margin so that the switch performance does not deteriorate due to the above-mentioned voltage limitation. That is, VON-VP, VP-VOFFBy sufficiently increasing the value, it is possible to prevent the deterioration of the switch performance as described above.
[0015]
When the voltage limitation does not become a problem in this way, the linear maximum transmittable power of the signal changeover switch 1 is determined from the current limitation. That is, the current I that propagates through the signal selector switch 1DSIs the switching element Q1~ QFourWhen the drain current saturation region is reached, distortion occurs because the transmission power waveform is clipped, and this deterioration of the switch performance limits the linear maximum transmittable power of the signal switching switch 1. This is because the switching element Q1~ QFourSaturation drain current IDSS(Or IFmaxIn order to increase the linear maximum transmittable power, the switching element Q1~ QFourSaturation drain current IDSSMust be set sufficiently large.
[0016]
However, the switching element Q1~ QFourSaturation drain current IDSSTo increase the switching element Q1~ QFourWhen the internal structure such as the carrier density of the active layer is determined, a method of increasing the gate width Wg is generally adopted. However, when the gate width Wg is increased, the switching element Q1~ QFourAs a result, the chip area increases and the cost increases. The switching element Q1~ QFourSince the gate of this type is prone to process failure such as disconnection, there arises a problem that the yield decreases when the gate width Wg increases.
[0017]
The present invention has been made in view of the drawbacks of the conventional example described above, and the object of the present invention is to improve the linear maximum transmittable power by relaxing the current limitation in the semiconductor element for switching. There is.
[0018]
DISCLOSURE OF THE INVENTION
The signal switching switch according to claim 1 includes a switch circuit in which a semiconductor element is used as a switching element and a plurality of input / output terminals, and the input / output terminals are connected to each other or disconnected by the switch circuit. In the signal changeover switch, an impedance conversion circuit is provided between the input / output terminal and the switch circuit, and the impedance of the switch circuit as viewed from the impedance conversion circuit is larger than the impedance from the input / output terminal as viewed from the external circuit. It is said. Here, the input / output terminal means an input terminal, an output terminal or an input / output shared terminal.
[0019]
In the signal changeover switch according to claim 1, since the impedance of the impedance conversion circuit viewed from the switch circuit is larger than the impedance of the external circuit viewed from the input / output terminal, by providing the impedance conversion circuit, The amplitude of the current wave of signal power propagating through the switch circuit is reduced.
[0020]
Therefore, it is possible to relax the limitation on the current capacity required for the switching semiconductor element used in the switch circuit, for example, the saturation drain current, and to improve the linear maximum transmittable power in the signal changeover switch.
[0021]
That is, the linear maximum transmittable power can be improved by reducing the signal current without increasing the saturation drain current, that is, without increasing the gate width of the semiconductor element for switching.
[0022]
Since it is not necessary to increase the gate width in order to improve the linear maximum transmittable power, the chip area does not increase and the problem of increased cost does not occur. Furthermore, since the gate width does not increase, the risk of disconnection does not increase, and the yield of the signal selector switch does not decrease.
[0023]
According to an embodiment of the present invention, in the signal changeover switch according to the first aspect, the impedance conversion circuit includes an inductance of a bonding wire or a lead of the semiconductor integrated circuit in which the switch circuit is formed, and the semiconductor integrated circuit. It uses a stray capacitance.
[0024]
According to the embodiment of the present invention, since the inductance and the stray capacitance of the bonding wire or lead of the semiconductor integrated circuit in which the switch circuit is formed are used in the impedance conversion circuit, the component of the signal switching switch The score can be reduced. Further, the chip area of the semiconductor integrated circuit configured with the switch circuit and the impedance conversion circuit can be reduced.
[0025]
Therefore, the signal changeover switch can be reduced in size and the manufacturing cost can be reduced.
[0026]
According to a third aspect of the present invention, in the signal switching switch according to the first or second aspect, the impedance conversion circuit includes an inductance, a capacitance, and a transmission line formed in a dielectric multilayer substrate. It is a feature.
[0027]
As described above, by laminating the inductance, capacitance and bonding wire constituting the impedance conversion circuit in the dielectric multilayer substrate, the impedance conversion circuit can be formed in a small area, and the signal switching switch can be miniaturized. Can do.
[0028]
According to the embodiment of the present invention, the Q value of the impedance can be lowered, and wideband impedance conversion can be realized. Therefore, the performance of the signal selector switch can be improved over a wide band.
[0029]
According to a fourth aspect of the present invention, in the signal changeover switch according to the first to third aspects, the impedance conversion circuit includes a direct current cut capacitance and a high frequency choke inductance for single positive power supply operation. It is characterized by.
[0030]
According to this embodiment, since the high-frequency choke inductance and the DC cut capacitance for single positive power supply operation are used as part of the impedance conversion circuit, the number of elements of the signal changeover switch can be reduced, and the semiconductor integrated circuit The chip area can be reduced in the case of the configuration. Therefore, the manufacturing cost can be reduced.
[0031]
According to the fifth aspect of the present invention, in the signal changeover switch according to any one of the first to fourth aspects, an impedance viewed from the input / output terminal to each impedance conversion circuit is substantially equal to an optimum impedance required by each external circuit. It is characterized by being.
[0032]
In the embodiment according to claim 5, since the impedance conversion circuit has a matching function based on the optimum impedance with the external circuit connected to the input / output terminal, matching is performed between the input / output terminal and the external circuit. There is no need to provide a circuit.
[0033]
Since a matching circuit is not required between each input / output terminal and an external circuit, conversion loss in the entire communication system or the like can be reduced with the performance of the signal changeover switch improved. Furthermore, since the number of elements can be reduced and the chip area can be reduced in the semiconductor integrated circuit, the manufacturing cost of the signal changeover switch can be reduced.
[0034]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
(First embodiment)
FIG. 3 is a circuit diagram showing the signal changeover switch 11 according to the embodiment of the present invention. This signal changeover switch 11 has a switching element Q.1~ QFourThe switch circuit 12 using a semiconductor element such as GaAs MESFET, the input / output terminals ANT terminal, RX terminal and TX terminal, and impedance conversion circuits M1 to M3. Here, since the switch circuit 12 is the same as the signal changeover switch (SPDT switch) 1 described as the conventional example, the same components are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted. The impedance conversion circuit M1 is connected between the ANT terminal and the switch circuit 12, and the impedance Z when the impedance conversion circuit M1 is viewed from the switch circuit 12.SWImpedance Z of external circuit viewed from ANT terminal0I try to be bigger. Similarly, the impedance conversion circuit M2 is connected between the RX terminal and the switch circuit 12, and the impedance conversion circuit M3 is connected between the TX terminal and the switch circuit 12, both of which are connected from the switch circuit 12 to the impedance conversion circuit M2. Impedance Z with M3SWImpedance Z of external circuit viewed from RX terminal or TX terminal0I try to be bigger.
[0035]
In the signal changeover switch 11, impedance conversion circuits M1 to M3 are provided between the ANT terminal, RX terminal and TX terminal, which are input / output terminals, and the switch circuit 12, respectively. Impedance Z with M1 to M3SWIs an impedance Z when an external circuit is viewed from the ANT terminal, RX terminal and TX terminal.0Since it is made larger, the amplitude of the current wave of the signal power propagating through the switch circuit 12 can be reduced. Therefore, the switching element Q1~ QFourCurrent capacity required for the MESFET, ie, the saturation drain current IDSSTherefore, the gate width of the MESFET can be shortened. As a result, the switching element Q1~ QFourThe reduction of the chip area is achieved, the manufacturing cost is reduced by the reduction of the chip area, and the yield by the manufacturing process is improved because the gate width is short. And the switching element Q having the same gate width1~ QFourCompared with the signal switching switch using the, the linear maximum transmittable power can be improved.
[0036]
In general, the present invention increases the internal impedance of the switch circuit 12 by the impedance conversion circuits M1 to M3 and decreases the current amplitude of the signal flowing through the switch circuit 12. That is, the impedance of the switch circuit 12 is set to ZSW, The maximum amplitude of the current wave flowing through the switch circuit 12 is ISWThen, the power P transmitted through the switch circuit 12 is P = (ISW 2・ ZSW) / 2, and if the power input to the switch circuit 12 is P, the impedance Z of the switch circuit 12SWBy increasing the current I flowing through the switch circuit 12SWCan be reduced. Therefore, the switching element Q1~ QFourIt is possible to alleviate the deterioration of the switching performance resulting from the current limitation. Therefore, in this embodiment, the switching element Q1~ QFourAs an example, a GaAs MESFET is used as an example. However, it is possible to relax current restrictions such as allowable current even if other semiconductor elements such as PIN diodes are used (the same applies to the following embodiments).
[0037]
(Second Embodiment)
FIG. 4 is a circuit diagram showing a signal selector switch 13 according to another embodiment of the present invention. The impedance conversion circuit M1 has an L-type inductance LANTAnd capacitance CANTIs an L-type lossless circuit, and when the frequency of the signal is f, the inductance LANTImpedance by j (2πf) LANT= J50Ω, capacitance CANTImpedance due to -j / (2πfCANT) = − J100Ω. Therefore, the impedance of the external circuit viewed from the ANT terminal is Z0= 50Ω, the impedance of the impedance conversion circuit M1 viewed from the switch circuit 12 is ZSW= 100Ω. Similarly, the impedance conversion circuits M2 and M3 each have an L-type connected inductance L.RX, LTXAnd capacitance CRX, CTXL-type lossless circuit consisting ofRX, LTXImpedance j (2πf) L due toRX= J50Ω, j (2πf) LTX= J50Ω, capacitance CRX, CTXImpedance due to -j / (2πfCRX) = − J100Ω, −j / (2πfCTX) = − J100Ω. Therefore, the impedance of the external circuit viewed from the RX terminal or TX terminal is Z0= 50Ω, the impedance when the RX terminal or TX terminal is viewed from the switch circuit 12 is also ZSW= 100Ω. Inductance LANT, LRX, LTX, Capacitance CANT, CRX, CTXIs determined by the frequency f of the signal flowing through the circuit, and at 1.9 GHz, LANT= LRX= LTX= 4.188nH, CANT= CRX= CTX= 0.838 pF.
[0038]
5 and 6 respectively show the input terminal (ie, TX terminal or ANT terminal), the inside of the switch circuit 12, and the output terminal (ie, ANT terminal) when signal power of P = 360 mW is inputted to the signal changeover switch 13. FIG. 6 is a diagram showing a current waveform and a voltage waveform at (or RX terminal). However, for the sake of simplicity, it is assumed that the resistance loss inside the switch circuit 12 is zero. The ANT, RX, and TX terminals that are input / output terminals are Z0= 50Ω system, the maximum amplitude of the voltage wave is 6V [= (2PZ0)1/2], The maximum amplitude of the current wave is 120 mA [= (2P / Z0)1/2However, in the switch circuit 12, the impedance conversion circuits M1 to M3 can perform ZSW= 100Ω system, so the maximum amplitude of the voltage wave is 8.5V [= (2PZSW)1/2], The maximum amplitude of the current wave is 85 mA [= (2P / ZSW)1/2].
[0039]
That is, when signal power is input from the TX terminal or the ANT terminal, the maximum amplitude of the voltage wave propagating through the switch circuit 12 is such that the impedance is Z.0= 6V is reached when 50Ω, but the impedance is changed to Z by the impedance conversion circuits M1 to M3.SWSince = 100Ω, the maximum amplitude of the voltage wave propagating through the switch circuit 12 increases to 8.5V, which is √2 times. Instead, the maximum amplitude of the current wave is Z0= 50 Ω, 120 mA, but ZSWAt 100Ω, the current is reduced to 85 mA and 1 / √2 times.
[0040]
Accordingly, impedance conversion circuits M1 to M3 are provided between the ANT terminal, RX terminal, TX terminal and the switch circuit 12, and the impedance Z when the ANT terminal, RX terminal, TX terminal is viewed from the switch circuit 12.SWImpedance Z of external circuit viewed from ANT, RX and TX terminals0By setting it to be larger, the amplitude of the current wave of the signal power propagating through the switch circuit 12 can be reduced.
[0041]
As a result, the switching element Q1~ QFourIs the saturation drain current IDSSTherefore, a large amount of power can be supplied to the signal changeover switch 13, and the linear maximum transmittable power can be increased. Therefore, the switching element Q having the same gate width1~ QFourCompared with the case of using the linear maximum transmission power can be improved.
[0042]
(Third embodiment)
FIG. 7 is a plan view showing a signal changeover switch 14 according to another embodiment of the present invention. In the signal changeover switch 14, the switch circuit 12 is formed on an IC (semiconductor integrated circuit) chip 15. Reference numerals 16, 17, and 18 denote ANT side terminal electrodes, RX side terminal electrodes, and TX side terminal electrodes of the switch circuit 12 formed on the IC chip 15, respectively. The IC chip 15 on which the switch circuit 12 is formed is die-bonded on the die pad 19. Three ground terminals 20 are extended from the die pad 19. The mold package 21 encapsulating the IC chip 15 is embedded with each end of an ANT lead 22 serving as an ANT terminal, an RX lead 23 serving as an RX terminal, and a TX lead 24 serving as a TX terminal. ing. The ANT lead 22 and the ANT side terminal electrode 16 of the switch circuit 12 are connected by a bonding wire 25, and the RX lead 23 and the RX side terminal electrode 17 of the switch circuit 12 are connected by a bonding wire 26, and the TX lead 24 The TX side terminal electrode 18 of the switch circuit 12 is connected by a bonding wire 27. Reference numerals 28, 29, and 30 denote ground electrodes provided in the vicinity of the ANT side terminal electrode 16, the RX side terminal electrode 17, and the TX side terminal electrode 18, and are electrically connected to the die pad 19 through the via holes 31. Yes. The ANT side terminal electrode 16 and the ground electrode 28 of the switch circuit 12 are connected by the MIM capacitor 32, and the RX side terminal electrode 17 and the ground electrode 29 of the switch circuit 12 are connected by the MIM capacitor 33, The TX side terminal electrode 18 and the ground electrode 30 are connected by an MIM capacitor 34 formed on the IC chip 15.
[0043]
FIG. 8 is an equivalent circuit diagram of the signal changeover switch 14. In the signal changeover switch 14, the impedance conversion circuits M1 to M3 inserted between the ANT terminal, the RX terminal, the TX terminal and the switch circuit 12 all have an inductance L.L1, LL2, LL3And capacitance CS1, CS2, CS3L-type circuit and inductance LW1, LW2, LW3And capacitance CM1, CM2, CM3An L-type circuit consisting of
[0044]
In the impedance conversion circuit M1, the tip of the ANT lead 22 is an ANT terminal, and the inductance LL1Is constituted by the inductance of the ANT lead 22 and the capacitance CS1Is constituted by a stray capacitance between the ANT lead 22 and the ground terminal 20, and an inductance LW1Is constituted by the inductance of the bonding wire 25 and has a large capacitance CM1Is constituted by an MIM capacitance 32.
[0045]
Similarly, in the impedance conversion circuit M2, the tip of the RX lead 23 is an RX terminal, and the inductance LL2Is composed of the inductance of the RX lead 23 and the capacitance CS2Is constituted by a stray capacitance between the RX lead 23 and the ground terminal 20, and an inductance LW2Is constituted by the inductance of the bonding wire 26 and has a large capacitance CM2Is constituted by an MIM capacitance 33.
[0046]
Similarly, in the impedance conversion circuit M3, the tip of the TX lead 24 is a TX terminal, and the inductance LL3Is constituted by the inductance of the TX lead 24 and the capacitance CS3Is constituted by a stray capacitance between the TX lead 24 and the ground terminal 20, and an inductance LW3Is composed of the inductance of the bonding wire 27 and has a large capacitance CM3Is constituted by an MIM capacitance 34.
[0047]
According to this embodiment, each inductance L of the ANT lead 22, the RX lead 23, the TX lead 24, and the bonding wires 25, 26, 27, which becomes a problem when the signal changeover switch 14 is housed in the molded package 21, is described.L1, LL2, LL3Or LW1, LW2, LW3, Stray capacitance C between ANT lead 22, RX lead 23, TX lead 24 and ground terminal 20S1, CS2, CS3Can be actively used as a part of the impedance conversion circuits M1 to M3, the chip area of the IC chip 15 can be reduced, and the performance of the signal changeover switch 14 is improved. The area can be reduced and the manufacturing cost can be reduced.
[0048]
(Fourth embodiment)
FIG. 9 is a perspective view showing a signal changeover switch 35 according to still another embodiment of the present invention, and FIG. 10 is an equivalent circuit diagram thereof. In the signal changeover switch 35, the IC chip 15 on which the switch circuit 12 is formed is mounted on the upper surface of the dielectric multilayer substrate 36 on which the impedance conversion circuits M1 to M3 are configured. The substrate 36 is connected by a bonding wire 37.
[0049]
As shown in FIG. 10, the impedance conversion circuits M <b> 1 to M <b> 3 include inductance L formed in multiple stages inside the dielectric multilayer substrate 36.A1, LA2, LA3LB1, LB2, LB3LC1, LC2, LC3And capacitance CA1, CA2, CA3CB1, CB2, CB3CC1, CC2, CC3And transmission line MS1, MS2, MSThreeIt is comprised by.
[0050]
In the impedance conversion circuit M1, an inductance L is connected in series between the ANT terminal and the switch circuit 12.A1, Capacitance CA1, Transmission line MS1, Inductance LA3Is connected and inductance LA1And capacitance CA1Is the inductance LA2Is connected to the ground (GND) through the capacitor CA1And transmission line MS1Is the capacitance CA2Connected to the ground via the transmission line MS1And inductance LA3Is the capacitance CA3Is connected to the ground via
[0051]
Similarly, in the impedance conversion circuits M2 and M3, an inductance L is connected in series between the RX terminal and the TX terminal and the switch circuit 12.B1, LC1, Capacitance CB1, CC1, Transmission line MS2, MSThree, Inductance LB3, LC3Is connected and inductance LB1Or LC1And capacitance CB1Or CC1Is the inductance LB2, LC2Connected to the ground via a capacitance CB1Or CC1And transmission line MS2Or MSThreeIs the capacitance CB2, CC2Connected to the ground via the transmission line MS2Or MSThreeAnd inductance LB3Or LC3Is the capacitance CB3, CC3Is connected to the ground via The inductance of the bonding wire 37 is used for the impedance conversion circuits M1 to M3, and the bonding wire 37 is a part of the impedance conversion circuits M1 to M3.
[0052]
In this way, by forming the impedance conversion circuits M1 to M3 on the dielectric multilayer substrate 36, the impedance conversion circuits M1 to M3 can be converted to the inductance L in a small mounting area.A1~ LC3, Capacitance CA1~ CC3, Transmission line MS1~ MSThreeFurther, it can be formed in multiple stages by the bonding wire 37.
[0053]
Therefore, the Q value of the impedance conversion circuits M1 to M3 can be lowered, and broadband impedance conversion can be realized. Therefore, the performance of the switch circuit 12 can be improved over a wide band. Further, since the impedance conversion circuits M1 to M3 are formed on the dielectric multilayer substrate 36, the mounting area is small, and the signal changeover switch 35 can be downsized.
[0054]
(Fifth embodiment)
FIG. 11 is a circuit diagram showing a signal changeover switch 38 according to still another embodiment of the present invention. This signal changeover switch 38 is provided with a DC cut capacitance C in order to realize a single positive power supply operation.DCAnd inductance for high frequency chokes LRFThis DC cut capacitance CDCAnd inductance for high frequency chokes LRFIs part of the impedance conversion circuits M1 to M3.
[0055]
That is, the impedance conversion circuit M1 has a DC cut capacitance C inserted between the ANT terminal and the switch circuit 12.DCAnd this DC cut capacitance CDCAnd the inductance L inserted in series between the connection point between the switch circuit 12 and the groundGAnd capacitance CGAnd this DC cut capacitance CDCIs connected to a connection point between the switch circuit 12 and the constant voltage VDDInductance L for high frequency chokeRFIt consists of and.
[0056]
In addition, the impedance conversion circuit M2 includes a DC cut capacitance C inserted between the RX terminal and the switch circuit 12.DCAnd this DC cut capacitance CDCAnd the inductance L inserted in series between the connection point between the switch circuit 12 and the groundGAnd capacitance CGAnd switching element Q2DC cutting capacitance C inserted between the ground and groundDCAnd this DC cut capacitance CDCAnd switching element Q2The constant voltage VDDInductance L for high frequency chokeRFIt consists of and.
[0057]
Similarly, the impedance conversion circuit M3 includes a DC cut capacitance C inserted between the TX terminal and the switch circuit 12.DCAnd this DC cut capacitance CDCAnd the inductance L inserted in series between the connection point between the switch circuit 12 and the groundGAnd capacitance CGAnd switching element QFourDC cutting capacitance C inserted between the ground and groundDCAnd this DC cut capacitance CDCAnd switching element QFourThe constant voltage VDDInductance L for high frequency chokeRF(Shared with the impedance conversion circuit M2).
[0058]
As described above, the signal changeover switch 38 has a high-frequency choke inductance L for single positive power supply operation.RFAnd DC cut capacitance CDCIs used as a part of the impedance conversion circuits M1 to M3, the number of elements of the signal changeover switch 38 can be reduced, and the chip area can be reduced when it is configured as a semiconductor integrated circuit.
[0059]
(Sixth embodiment)
FIG. 12 is a diagram illustrating a signal changeover switch 39 according to still another embodiment of the present invention together with an external circuit. A transmission / reception antenna 40 is connected to the ANT terminal, a reception low noise amplifier (LNA) 41 is connected to the RX terminal, and a transmission power amplifier (PA) 42 is connected to the TX terminal.
[0060]
In the signal changeover switch 39, the impedance Z as viewed from the switch circuit 12 to the impedance conversion circuits M1 to M3.SW, For example, as in the first or second embodiment, an appropriate value through which a current that improves the maximum transmittable power flows (that is, impedance Z when the impedance conversion circuits M1 to M3 are viewed from the switch circuit 12).SWImpedance Z of the external circuit such as the transmitting / receiving antenna 40, the receiving low noise amplifier 41, the transmitting power amplifier 42, etc. from the ANT terminal, RX terminal and TX terminal.0Furthermore, external circuits such as the transmission / reception antenna 40, the reception low noise amplifier 41, and the transmission power amplifier 42 require impedances when the impedance conversion circuits M1 to M3 are viewed from the ANT terminal, the RX terminal, and the TX terminal. Optimum impedance (rated impedance) ZANT, ZLNA, ZPAThe impedance conversion circuits M1 to M3 are designed so that As a result, the impedance conversion circuit has a matching function based on the optimum impedance with the external circuit connected to the ANT terminal, RX terminal, and TX terminal.
[0061]
Here, the optimum impedance means that the transmission / reception antenna 40 radiates all transmission power input from the transmission circuit to the transmission / reception antenna 40 into the air, and conversely outputs all reception power incident from the air to the reception circuit. Impedance ZANTIt is. In the transmission power amplifier 42, the impedance Z that provides the maximum output power is obtained.PAIt is. In the low noise amplifier 41 for reception, the impedance Z that provides the minimum noise figure is obtained.LNAIt is.
[0062]
When the signal changeover switch 39 does not have a matching function based on the optimum impedance, external circuits such as the transmission / reception antenna 40, the transmission power amplifier 42, and the reception low noise amplifier 41 are connected to the ANT terminal, the TX terminal, and the RX terminal. By using a separate matching circuit, the characteristic impedance (for example, 50Ω) with the external circuit at the ANT terminal, TX terminal, and RX terminal is converted to the optimum impedance required by the external circuit, and then the ANT terminal through the matching circuit. It is necessary to connect external circuits such as the transmission / reception antenna 40, the transmission power amplifier 42, and the reception low noise amplifier 41 to the TX terminal and the RX terminal.
[0063]
On the other hand, in the signal changeover switch 39 according to the present embodiment, the impedance conversion circuits M1 to M3 are provided with a matching function based on the optimum impedance with the external circuit connected to the ANT terminal, the TX terminal, and the RX terminal. A matching circuit is not required between the terminal, the RX terminal, the TX terminal and the external circuit, and the configuration when connecting to the external circuit can be simplified.
[0064]
Further, since a matching circuit connected between the ANT terminal, the RX terminal, and the TX terminal and an external circuit is not necessary, conversion in the signal switching switch 39 or the communication system is performed in a state where the performance of the signal switching switch 39 is improved. Loss can be reduced, the number of elements can be reduced, and when a semiconductor integrated circuit is used, the chip area can be reduced, and the manufacturing cost of the signal changeover switch 39 can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a circuit diagram showing a conventional signal switching switch;
FIG. 2 is a diagram illustrating characteristics of a switching element and a signal voltage superimposed on a control voltage applied to a gate of the switching element.
FIG. 3 is a circuit diagram showing a signal changeover switch according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a circuit diagram showing a signal changeover switch according to another embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a diagram showing current waveforms in the input terminal, the output terminal, and the switch circuit when signal power is input to the signal changeover switch;
FIG. 6 is a diagram showing voltage waveforms in the input terminal, the output terminal, and the switch circuit when signal power is input to the signal changeover switch.
FIG. 7 is a plan view showing a signal changeover switch according to still another embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a circuit diagram showing an equivalent circuit of the signal changeover switch.
FIG. 9 is an external perspective view showing a signal changeover switch according to still another embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a circuit diagram showing an equivalent circuit of the signal changeover switch.
FIG. 11 is a circuit diagram showing a signal changeover switch according to still another embodiment of the present invention.
FIG. 12 is a circuit block diagram showing a signal changeover switch according to still another embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
Q1~ QFour  Switching element
M1 to M3 impedance conversion circuit
LANT, LL1~ LL3, LW1~ LW3, LA1~ LA3, LB1~ LB3, LC1~ LC3Inductance
CANT, CS1~ CS3, CM1~ CM3, CA1~ CA3, CB1~ CB3, CC1~ CC3capacitance
MS1~ MSThree  Transmission line
LRF  Inductance for high frequency chokes
CDC  DC cut capacitance
ANT ANT terminal
RX RX terminal
TX TX terminal
GND ground
12 Switch circuit
15 IC chip
36 Dielectric multilayer substrate

Claims (5)

半導体素子がスイッチング素子として用いられたスイッチ回路と、複数の入出力端子とを備え、スイッチ回路によって各入出力端子を互いに接続したり、切り離したりするための信号切換えスイッチにおいて、
前記入出力端子と前記スイッチ回路との間にインピーダンス変換回路を設け、スイッチ回路からインピーダンス変換回路をみたインピーダンスを、入出力端子から外部回路をみたインピーダンスより大きくしたことを特徴とする信号切換えスイッチ。
In a signal changeover switch that includes a switch circuit in which a semiconductor element is used as a switching element, and a plurality of input / output terminals, and each input / output terminal is connected to or disconnected from each other by the switch circuit.
A signal changeover switch characterized in that an impedance conversion circuit is provided between the input / output terminal and the switch circuit, and an impedance viewed from the switch circuit to the impedance conversion circuit is larger than an impedance viewed from the input / output terminal to the external circuit.
前記インピーダンス変換回路は、前記スイッチ回路が形成された半導体集積回路のボンディングワイヤもしくはリードのインダクタンスと、前記半導体集積回路のストレーキャパシタンスとを用いたものであることを特徴とする、請求項1に記載の信号切換えスイッチ。2. The impedance conversion circuit according to claim 1, wherein the impedance conversion circuit uses an inductance of a bonding wire or lead of a semiconductor integrated circuit in which the switch circuit is formed and a stray capacitance of the semiconductor integrated circuit. Signal changeover switch. 前記インピーダンス変換回路は、誘電体多層基板内に形成されたインダクタンス、キャパシタンス及び伝送線路から構成されていることを特徴とする、請求項1又は2に記載の信号切換えスイッチ。The signal switching switch according to claim 1, wherein the impedance conversion circuit includes an inductance, a capacitance, and a transmission line formed in a dielectric multilayer substrate. 前記インピーダンス変換回路は、単一正電源動作用の直流カット用キャパシタンスと高周波チョーク用インダクタンスとを含んでいることを特徴とする、請求項1〜3に記載の信号切換えスイッチ。The signal changeover switch according to claim 1, wherein the impedance conversion circuit includes a direct current cut capacitance for operating a single positive power source and a high frequency choke inductance. 前記入出力端子から各インピーダンス変換回路をみたインピーダンスが前記各外部回路の要求する最適インピーダンスにほぼ等しくなっていることを特徴とする、請求項1〜4に記載の信号切換えスイッチ。5. The signal changeover switch according to claim 1, wherein an impedance of each impedance conversion circuit viewed from the input / output terminal is substantially equal to an optimum impedance required by each external circuit.
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