JP3785702B2

JP3785702B2 - Optical pickup device and recording / reproducing device

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Publication number: JP3785702B2
Application number: JP27671496A
Authority: JP
Inventors: 紀彰西; 清豊田
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1996-10-18
Filing date: 1996-10-18
Publication date: 2006-06-14
Anticipated expiration: 2016-10-18
Also published as: JPH10124951A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクや光磁気ディスクの如き光学記録媒体に対して情報信号の書き込み及び読み出しを行う光学ピックアップ装置及びこの光学ピックアップ装置を備え該光ディスクや光磁気ディスクに対して情報信号の記録及び再生を行う記録再生装置に関する技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、光ディスク（いわゆるピットディスクや、相変化型ディスク、書換型ディスク等）や光磁気ディスクの如き光学記録媒体が提案されている。このような光学記録媒体は、透明な基板とこの基板に被着形成された信号記録層とを有して構成されている。光ディスクや光磁気ディスクにおいては、上記基板は、円盤状のディスク基板として形成されている。また、この光ディスクや光磁気ディスクにおいては、上記信号記録層において、情報信号は、略々同心円状となされた螺旋状に形成された記録トラックに沿って記録される。
【０００３】
そして、図２０に示すように、このような光学記録媒体である光ディスクに対する情報信号の書き込み及び読み出しを行う光学ピックアップ装置が提案されている。この光学ピックアップ装置は、光源として半導体レーザ１０４を有し、この半導体レーザ１０４より発せられる発散光束を対物レンズ１１０により上記光ディスクの信号記録面、すなわち、上記信号記録層の表面部上に集光して照射するように構成されている。
【０００４】
この光学ピックアップ装置において、上記半導体レーザ１０４より発せられた発散光束は、グレーティング（回折格子）１０５を透過して、コリメータレンズ１０６によって平行光束となされる。この平行光束は、ビームスプリッタ１０７を透過し、反射ミラー１０９の反射面に反射されて光線方向を偏向され、上記対物レンズ１１０に導かれる。上記グレーティング１０５は、後述するトラッキングエラー信号の検出を可能とするものである。
【０００５】
そして、この光学ピックアップ装置においては、上記信号記録面に照射された光束の該信号記録面による反射光束を光検出器（フォトダイオード）１１４によって検出することにより、上記光ディスクの信号記録層に記録された情報信号の読み出し、及び、上記光束の該信号記録面上への集光を維持するためのエラー信号、すなわち、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の検出が行われる。
【０００６】
上記反射光束は、上記対物レンズ１１０及び上記反射ミラー１０９を経て、上記ビームスプリッタ１０７に戻る。この反射光束は、上記ビームスプリッタ１０７の反射面１０８により反射されて、ウォラストンプリズム１１１、集光レンズ１１２及びマルチレンズ１１３を介して、上記光検出器１１４に入射される。上記ウォラストンプリズム１１１は、入射された光束の偏光成分に応じて、この光束を分割させるプリズムである。上記マルチレンズ１１３は、入射面がシリンドリカル（円筒）面となされ、出射面が凹面となされたレンズであって、入射光束に上記フォーカスエラー信号の検出のための非点収差を生じさせるとともに、この入射光束の集光点を後方側に移動させるレンズである。
【０００７】
上記フォーカスエラー信号は、上記光束の上記対物レンズ１１０による集光点と上記信号記録面との、該対物レンズ１１０の光軸方向についての距離を示す信号である。この光学ピックアップ装置においては、上記フォーカスエラー信号が０となるように、上記対物レンズ１１０のこの対物レンズ１１０の光軸方向への移動操作、すなわち、フォーカスサーボ動作が行われる。
【０００８】
上記トラッキングエラー信号は、上記光束の上記対物レンズ１１０による集光点と上記記録トラックとのこの記録トラックの接線及び上記対物レンズ１１０の光軸に直交する方向、すなわち、上記光ディスクの径方向についての距離を示す信号である。上記光学ピックアップ装置においては、上記トラッキングエラー信号が０となるように、上記対物レンズ１１０のこの対物レンズ１１０の光軸に直交する方向への移動操作、すなわち、トラッキングサーボ動作が行われる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述のような光学ピックアップ装置において光源として使用される半導体レーザ１０４の発する光束は、発散光束である。そして、この半導体レーザ１０４の発した光束を上記対物レンズ１１０に導く等のためにこの光束を反射ミラー１０９に反射させて光線方向を偏向させる場合には、この光束は、上記コリメータレンズ１０６によって平行光束となされてから、該反射ミラー１０９に入射される。
【００１０】
これは、上記光束を発散光束の状態で上記反射ミラー１０９に入射させると、この反射ミラー１０９の反射面においては、この光束の中心部と周辺部とで、該反射面に対するＰ偏光成分とＳ偏光成分との比率に差異が生じ、反射率差や位相差が生じてしまうためである。このような反射率差や位相差が生じると、上記光束内（光束断面内）における偏光方向の分布が生じ、上記光学記録媒体よりの正確な情報信号の読取りが行えなくなる。
【００１１】
特に、この光学ピックアップ装置より上記光学記録媒体に対して照射される光束においてこのような偏光方向の分布が生じると、上記信号記録面上において該光束が集光されて形成するビームスポットの形状が劣化し、読取り性能（ＭＴＦ：Modulation Transfar Function）の劣化が生ずる。また、この場合において、上記光学記録媒体が、光磁気ディスクの如く、いわゆるウォブリンググルーブを有しているものである場合には、ウォブリング情報のＲＦ信号への混入が生じる。
【００１２】
しかしながら、光学ピックアップ装置の小型化、構成部品点数の削減を図るためには、上記半導体レーザより発せられた光束を発散光束の状態のままで反射ミラーに入射させる構成、すなわち、上記コリメータレンズ１０６を排した構成を採る必要がある。
【００１３】
そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提案されるものであって、光源として使用される半導体レーザより発せられる光束を発散光束の状態のままで反射ミラーに入射させる構成を採ることにより小型化及び構成部品点数の削減が図られながら、光学記録媒体に対する情報信号の正確な書き込み及び読み出しが行えるようになされた光学ピックアップ装置の提供という課題を解決しようとするものである。
【００１４】
また、本発明は、上述のような光学ピックアップ装置を備えることにより良好な記録再生特性を有する記録再生装置の提供という課題を解決しようとするものである。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
上述の課題を解決するため、本発明に係る光学ピックアップ装置は、直線偏光の発散光束を発する光源と、上記光源から発せられた発散光束を反射してこの発散光束の光線方向を偏向させる反射面を有する反射手段と、上記反射面を経た発散光束が入射され、この光束を光学記録媒体の信号記録面上に集光させる集光手段と、上記集光手段により上記信号記録面上に集光された光束の上記信号記録面による反射光束を検出する光検出器とを備え、上記反射手段は、Ｓ偏光成分の絶対位相に対しＰ偏光成分の絶対位相をπ異ならせ、反射前後の偏光成分の偏光方向の分布を抑えるようにしたものである。
【００１６】
また、本発明に係る光学ピックアップ装置は、直線偏光の発散光束を発する光源と、上記光源から発せられた発散光束を反射してこの発散光束の光線方向を偏向させる互いに平行な２つの反射面を有する反射手段と、上記各反射面を経た発散光束が入射され、この光束を光学記録媒体の信号記録面上に集光させる集光手段と、上記集光手段により上記信号記録面上に集光された光束の該信号記録面による反射光束を検出する光検出器とを備え、上記反射手段は、Ｓ偏光成分の絶対位相に対しＰ偏光成分の絶対位相のずれを０となし、反射前後の偏光成分の偏光方向の分布を抑えるようにしたものである。
【００１７】
そして、本発明に係る記録再生装置は、光学記録媒体を保持する媒体保持機構と、直線偏光の発散光束を発する光源と、上記光源から発せられた発散光束を反射してこの発散光束の光線方向を偏向させる反射面を有する反射手段と、上記反射面を経た発散光束が入射され、この光束を光学記録媒体の信号記録面上に集光させる集光手段と、上記集光手段により上記信号記録面上に集光された光束の上記信号記録面による反射光束を検出する光検出器とを備え、上記反射手段は、Ｓ偏光成分の絶対位相に対しＰ偏光成分の絶対位相をπ異ならせ、反射前後の偏光成分の偏光方向の分布を抑えるようにしたものである。
【００１８】
さらに、本発明に係る記録再生装置は、光学記録媒体を保持する媒体保持機構と、直線偏光の発散光束を発する光源と、上記光源から発せられた発散光束を反射してこの発散光束の光線方向を偏向させる互いに平行な２つの反射面を有する反射手段と、上記各反射面を経た発散光束が入射され、この光束を光学記録媒体の信号記録面上に集光させる集光手段と、上記集光手段により上記信号記録面上に集光された光束の該信号記録面による反射光束を検出する光検出器とを備え、上記反射手段は、Ｓ偏光成分の絶対位相に対しＰ偏光成分の絶対位相のずれを０となし、反射前後の偏光成分の偏光方向の分布を抑えるようにしたものである。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら説明する。
【００２０】
この実施の形態は、本発明に係る光学ピックアップ装置を、光学記録媒体として光磁気ディスクを用いて、情報信号の書き込み及び読み出しを行う装置として構成したものである。この光磁気ディスクは、図１９に示すように、ポリカーボネイト（Polycarbonate）やポリメチルメタクリレート（Polymethylmethacrylate）の如き透明材料からなる円盤状のディスク基板１０２と、このディスク基板１０２に被着形成された信号記録層１０３とを有して構成されている。この信号記録層１０３は、磁性材料膜から形成されている。この信号記録層１０３の上記ディスク基板１０２に接合された表面部は、信号記録面となっている。この光磁気ディスク１０１においては、上記信号記録層において、情報信号は、図１に示すように、略々同心円状となされた螺旋状に形成された記録トラックＴｒに沿って記録される。なお、本発明に係る光学ピックアップ装置は、上記ディスク基板１０２上に形成されたピットを覆って形成された金属反射膜を信号記録層とした光ディスクよりの情報信号の読み出しも行うことができる。
【００２１】
そして、上記光学ピックアップ装置は、図１に示すように、光源となる半導体レーザ１を有している。この半導体レーザ１は、半導体レーザチップを封入缶内に収納して構成され、図示しない光学ブロック部内に固定して配設されている。上記封入缶の前面部には、上記半導体レーザチップより発せられた光束（レーザ光束）が射出されるための、ガラスの如き透明材料により閉蓋された開口部が設けられている。
【００２２】
上記半導体レーザ１より発せられる光束は、直線偏光の発散光束であって、断面形状は楕円形となっている。そして、この光学ピックアップ装置は、図２に示すように、上記半導体レーザ１から発せられた発散光束が入射され、この発散光束を上記光磁気ディスク１０１の信号記録面上に集光させる集光手段となる対物レンズ５を有している。
【００２３】
すなわち、上記半導体レーザ１より発せられた光束は、上記光学ブロック部内に配設された光束分岐手段となるビームスプリッタ２を透過し、図２及び図１８に示すように、該光学ブロック部内に配設された反射ミラー４の反射面Ｘにより反射されて光線方向を偏向され、該光学ブロック部の上方側に配設された上記対物レンズ５に導かれる。この対物レンズ５に入射された上記発散光束は、上記光磁気ディスク１０１の信号記録面上に集光して照射される。すなわち、この対物レンズ５は、いわゆる有限系のレンズである。上記反射面Ｘは、ガラスの如き材料よりなる基体上に誘電体膜、誘電体多層膜、または、金属薄膜が被着されることにより形成されている。
【００２４】
そして、この光学ピックアップ装置においては、上記信号記録面に照射された光束の該信号記録面による反射光束を上記光学ブロック部内に配設されたフォトダイオードの如き光検出器８によって検出することにより、上記光磁気ディスク１０１の信号記録層１０２に記録された情報信号の読み出し信号（ＲＦ信号）と、上記光束の該信号記録面上への集光を維持するためのエラー信号、すなわち、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の検出とが行われる。
【００２５】
すなわち、上記反射光束は、上記対物レンズ５及び上記反射面Ｘを経て、上記ビームスプリッタ２に戻る。この反射光束は、上記信号記録面上に記録された情報信号に応じて、いわゆるカー効果によって偏光方向を変調されている。この反射光束は、上記ビームスプリッタ２の反射面３により反射されて、９０°偏向されて、ウォラストンプリズム６及びマルチレンズ７を透過して、上記光検出器８に入射される。上記ウォラストンプリズム６は、互いに結晶軸方向を異なる方向として接合された一対の一軸性結晶体からなり、これら結晶体同士の接合面を入射光束の光軸に対して傾斜させたプリズムである。このウォラストンプリズム６は、入射された光束の偏光成分に応じて、この光束を分割させる。上記マルチレンズ７は、入射面がシリンドリカル（円筒）面となされ、出射面が凹面となされたレンズであって、入射光束に上記フォーカスエラー信号の検出のための非点収差を生じさせるとともに、この入射光束の集光点を後方側に移動させるレンズである。上記光検出器８は、複数の独立的な受光部を有している。この光検出器８の各受光部よりの光検出出力相互間の演算を行うことにより、上記読み出し信号及び上記各エラー信号を算出することができる。
【００２６】
上記フォーカスエラー信号は、上記光束の上記対物レンズ５による集光点と上記信号記録面との、該対物レンズ５の光軸方向についての距離を示す信号である。この光学ピックアップ装置においては、上記フォーカスエラー信号が０となるように、図２中矢印Ｆで示すように、上記対物レンズ５のこの対物レンズ５の光軸方向（フォーカス方向）への移動操作、すなわち、フォーカスサーボ動作が行われる。
【００２７】
上記トラッキングエラー信号は、上記光束の上記対物レンズ５による集光点と上記記録トラックＴｒとの、この記録トラックＴｒの接線及び該対物レンズ５の光軸に直交する方向、すなわち、上記光磁気ディスク１０１の径方向についての距離を示す信号である。この光学ピックアップ装置においては、上記トラッキングエラー信号が０となるように、図１中矢印Ｔで示すように、上記記録トラックＴｒの接線方向及び上記対物レンズ５の光軸に直交する方向（トラッキング方向）への該対物レンズ５の移動操作、すなわち、トラッキングサーボ動作が行われる。
【００２８】
上記フォーカスサーボ動作及びトラッキングサーボ動作は、上記対物レンズ５を移動操作可能に支持する図示しない対物レンズ駆動機構（２軸アクチュエータ）において行われる。この対物レンズ駆動機構は、上記光学ブロック部上に固定して配設され、上記対物レンズ５を、例えば弾性変位部材を介して、上記フォーカス方向及び上記トラッキング方向に移動操作可能に支持している。そして、この対物レンズ駆動機構は、上記対物レンズ５を移動操作するための電磁的駆動機構を有している。この電磁的駆動機構は、上記対物レンズ５を支持するレンズホルダに取付けられた駆動コイルと、上記光学ブロック部に対して固定して配設されて該駆動コイルを磁界中に位置させる磁気回路部とから構成されている。
【００２９】
すなわち、この対物レンズ駆動機構においては、上記駆動コイルに、上記フォーカスエラー信号及び上記トラッキングエラー信号に基づく駆動電流を供給することにより、この駆動コイルは、上記対物レンズ５を伴って上記光学ブロック部に対して移動操作される。そして、この対物レンズ駆動機構においては、上記フォーカスサーボ動作及び上記トラッキングサーボ動作が実行される。
【００３０】
そして、この光学ピックアップ装置においては、上記反射面Ｘは、この反射面Ｘに入射される上記発散光束のうちの該反射面Ｘに対するＰ偏光成分がこの反射面Ｘにより反射された光束と、該発散光束のうちの該反射面Ｘに対するＳ偏光成分がこの反射面Ｘにより反射された光束との位相差、すなわち、反射位相差δ_P-Sが、
（２ｎ＋１）π−（π／４）≦δ_P-S＜（２ｎ＋１）π＋（π／４）
（ただし、ｎは整数、角度の単位はラジアン（rad））
を満足するように形成されている。この光学ピックアップ装置においては、この条件が満足されることにより、上記光学記録媒体の信号記録面に対して、偏光分布のない良好な光束を照射することができ、該光学記録媒体よりの良好な情報信号の読み出しを行うことができる。
【００３１】
ここで、上記反射面Ｘに対するＰ偏光がこの反射面Ｘに入射されて反射されたときの位相の変化δ_Pは、図３に示すように、入射光の偏光方向Ｐ₀と反射光の偏光方向Ｐ₁とが光線の進行方向に対して同一方向（同位相）となっているときを、δ_P＝０と定義する。また、この位相の変化δ_Pは、図４に示すように、入射光の偏光方向Ｐ₀と反射光の偏光方向Ｐ₁とが光線の進行方向に対して反対方向（位相がπrad（１８０°）異なる）となっているときを、δ_P＝πと定義する。
【００３２】
そして、上記反射面Ｘに対するＳ偏光がこの反射面Ｘに入射されて反射されたときの位相の変化δ_Sは、図５に示すように、入射光の偏光方向Ｓ₀と反射光の偏光方向Ｓ₁とが光線の進行方向に対して同一方向（同位相）となっているときを、δ_S＝０と定義する。また、この位相の変化δ_Sは、図６に示すように、入射光の偏光方向Ｓ₀と反射光の偏光方向Ｓ₁とが光線の進行方向に対して反対方向（位相がπrad（１８０°）異なる）となっているときを、δ_S＝πと定義する。
【００３３】
したがって、上記反射位相差δ_P-Sが±πとなる場合としては、
（δ_P，δ_S）＝（０，π）、または、（π，０）
である場合がある。ここで、上記反射面Ｘにより反射された後の拡散光束における偏光分布を考えるにあたっては、位相がπrad（１８０°）異なる偏光同士は等価なので、以下、
（δ_P，δ_S）＝（π，０）
の場合について検討する。
【００３４】
上記反射面Ｘに入射される拡散光束は、図２中矢印Ｚで示すように、光源側より該反射面Ｘを見た場合、図７に示すように、該反射面Ｘに対してＳ偏光となる方向の直線偏光となされている。そして、上記反射面Ｘ上においては、図２中矢印Ｚで示すように、光源側より該反射面Ｘを見た場合でも、図２中矢印Ｙで示すように、上記対物レンズ５側より該反射面Ｘを見た場合でも、図９に示すように、入射される光束が拡散光束であるために、この光束の周縁部分（図９中左右側部分）においては、該反射面Ｘに対するＰ偏光方向及びＳ偏光方向が傾く（回転する）こととなる（これらＰ偏光方向及びＳ偏光方向の回転角をα（rad）とする）。
【００３５】
すなわち、上記発散光束は、この光束の周縁側（左右両側側）においては、図８に示すように、上記反射面Ｘに対するＰ偏光成分を有していることとなる。すなわち、上記反射面Ｘに入射される発散光束は、図８に示すように、この反射面Ｘに対するＳ偏光成分とＰ偏光成分とに分解できる。
【００３６】
そして、上記反射面Ｘによる反射光について、図２中矢印Ｙで示すように、上記対物レンズ５側より該反射面Ｘを見たとき、上記反射位相差δ_P-Sがπであるとき（（δ_P，δ_S）＝（π，０）であるとき）には、Ｐ偏光成分の位相が反転することにより、光束の偏光方向は、図１０に示すように、該反射面Ｘに入射する前の状態に戻る。すなわち、この光学ピックアップ装置においては、上記発散光束は、上記反射面Ｘによって反射されることで、偏光方向分布を有するようになることはない。このことは、上記信号記録面により反射された後に上記反射面Ｘに戻った収束光束についても同様である。
【００３７】
したがって、この光学ピックアップ装置は、上記半導体レーザ１より発せられた光束を上記光学記録媒体の信号記録面上に良好な状態で集光させることができ、また、該信号記録面により反射された光束を良好な状態で検出することができるので、該光学記録媒体に対する良好な情報信号の書き込み読み出しを行うことができるのである。
【００３８】
そして、この光学ピックアップ装置において、図１２に示すように、上記半導体レーザ１から発せられた発散光束を反射してこの発散光束の光線方向を偏向させる反射面として第１の反射面Ｘ₁及び第２の反射面Ｘ₂の２つがあり、これら反射面Ｘ₁，Ｘ₂が互いに平行である場合には、これら互いに平行な２つの反射面Ｘ₁，Ｘ₂は、それぞれ、上記反射位相差δ_P-Sについて、
ｍπ−（π／４）≦δ_P-S＜ｍπ＋（π／４）
（ただし、ｍは整数、角度の単位はラジアン（rad））
が満足されるように形成されている。
【００３９】
上記反射位相差δ_P-Sが０となる場合は、
（δ_P，δ_S）＝（０，０）、または、（π，π）
である場合であり、上記反射位相差δ_P-Sが±πとなる場合は、
（δ_P，δ_S）＝（０，π）、または、（π，０）
である場合である。ここで、δ_P-S＝±πである場合については、上述したように、上記各反射面Ｘ₁，Ｘ₂において、上記発散光束内の偏光方向分布が生ずることがない。
【００４０】
そして、上記反射位相差δ_P-Sが０となる場合として、
（δ_P，δ_S）＝（０，０）
の場合について検討する。この場合には、上述のように、１つの反射面Ｘについて考えると、図２中矢印Ｙで示すように、上記対物レンズ５側より該反射面Ｘを見たとき、上記反射位相差δ_P-Sが０であるとき（（δ_P，δ_S）＝（０，０）であるとき）には、Ｐ偏光成分及びＳ偏光成分の位相がそのまま維持されることにより、光束の偏光方向は、図１１に示すように、該反射面Ｘに入射する前の状態には戻らず、周縁側（左右両側側）において、所定角度（２α（rad））だけ回転したものとなっている。
【００４１】
すなわち、上記第１の反射面Ｘ₁に入射される前の発散光束Ｒ₁の偏光方向が、図１３に示すように、直線偏光状態であったとき、この第１の反射面Ｘ₁による反射光Ｒ₂の偏光方向は、図１４に示すように、周縁側（左右両側側）において、所定角度２α（rad）だけ回転したものとなっている。そして、このように上記第１の反射面Ｘ₁で反射された反射光Ｒ₂が、さらに、上記第２の反射面Ｘ₂により反射された反射光Ｒ₃の偏光方向は、周縁側（左右両側側）において、所定角度２α（rad）だけ、上記第１の反射面Ｘ₁におけるのとは逆に回転され、図１３に示すように、上記第１の反射面Ｘ₁に入射する前の光束Ｒ₁と同様の状態に戻る。
【００４２】
したがって、この場合にも、上記半導体レーザ１より発せられた光束を上記光学記録媒体の信号記録面上に良好な状態で集光させることができ、また、該信号記録面により反射された光束を良好な状態で検出することができるので、該光学記録媒体に対する良好な情報信号の書き込み読み出しを行うことができるのである。
【００４３】
そして、このように２つの互いに平行な反射面Ｘ₁，Ｘ₂を有する光学ピックアップ装置において、該各反射面Ｘ₁，Ｘ₂の他にさらに反射面がある場合には、この反射面については、上記反射位相差δ_P-Sは、
（２ｎ＋１）π−（π／４）≦δ_P-S＜（２ｎ＋１）π＋（π／４）
（ただし、ｎは整数、角度の単位はラジアン（rad））
が満足されている。したがって、この反射面においては、上述したように、偏光分布が生ずることがない。
【００４４】
なお、上記反射位相差δ_P-Sが０となる場合（（δ_P，δ_S）＝（０，０））において、図１５に示すように、上記各反射面Ｘ₁，Ｘ₂が互いに直交する方向となっている場合には、該第１の反射面Ｘ₁でまず反射され、次いで、該第２の反射面Ｘ₂でさらに反射された光束Ｒ₃の偏光方向は、図１６及び図１７に示すように、周縁側（左右両側側）において、上記所定角度２α（rad）の２倍（４α（rad））だけ、上記第１の反射面Ｘ₁におけるのとは逆に回転された状態となっている（すなわち、該第１の反射面Ｘ₁において生じた偏光分布が、該第２の反射面Ｘ₂において、さらに、拡大される）。
【００４５】
上述のような、上記反射面Ｘ，Ｘ₁，Ｘ₂において生ずる反射光の偏光分布は、Ｐ偏光方向について、ＰＢＳ（偏光ビームスプリッタ）検光子における透過光の偏光分布と等価である（ＰＢＳ検光子において、Ｐ偏光成分の透過率Ｔ_Pが１００％、Ｓ偏光成分の透過率Ｔ_Sが０％であるとする）。したがって、ここで、上記反射面Ｘ上におけるＰ偏光方向及びＳ偏光方向の回転角度αを、上記ＰＢＳ検光子における偏光方向分布についての求め方と等価的に求めることとする。
【００４６】
上記反射面Ｘへの入射角（光束の発散角の半分）をｂとすると、該反射面Ｘへの入射光の単位ベクトルＩ_inは、次式、
【００４７】
【数１】

【００４８】
で与えられ、かつ、偏光方向の単位ベクトルＳ_inは、次式、
【００４９】
【数２】

【００５０】
で与えられる。反射面Ｘの法線ベクトルｒは、次式、
【００５１】
【数３】

【００５２】
で与えられる。すなわち、上記反射面Ｘに入射される発散光束の光線方向に対する該反射面Ｘの傾き角度を、図１８に示すように、Ｑとしている。上記反射面Ｘ上におけるＳ偏光方向の単位ベクトルｅ_Sは、次式、
【００５３】
【数４】

【００５４】
で与えられる。同様に、上記反射面Ｘ上におけるＰ偏光方向の単位ベクトルｅ_Pは、次式、
【００５５】
【数５】

【００５６】
で与えられる。ここで、ＰＢＳ検光子におけるＰ偏光の透過率をＴ_P、Ｓ偏光の透過率をＴ_Sとすれば、このＰＢＳ検光子の端部分を通る光線の偏光方向の単位ベクトルＳ_inは、
【００５７】
【数６】

【００５８】
で表されるのに対して、該光線がＰＢＳ検光子を透過した後の偏光方向の単位ベクトルＳ_OUTは、次式、
【００５９】
【数７】

【００６０】
で表される。そして、上記〔数６〕、〔数７〕中の定数Ａ，Ｂは、それぞれ、次式、
【００６１】
【数８】

【００６２】
【数９】

【００６３】
と表されるので、上記偏光方向の単位ベクトルＳ_OUTは、次式、
【００６４】
【数１０】

【００６５】
と算出できる。同様に、ＰＢＳ検光子の端部分を通る光線の偏光方向の単位ベクトルＰ_in、及び、光線がＰＢＳ検光子を透過した後の偏光方向の単位ベクトルＰ_OUTは、それぞれ、次式、
【００６６】
【数１１】

【００６７】
【数１２】

【００６８】
により表される。そして、上記〔数１１〕、〔数１２〕中の定数Ｃ，Ｄは、それぞれ、次式、
【００６９】
【数１３】

【００７０】
【数１４】

【００７１】
と表されるので、上記偏光方向の単位ベクトルＰ_OUTは、次式、
【００７２】
【数１５】

【００７３】
と算出できる。ここで、
【００７４】
【数１６】

【００７５】
【数１７】

【００７６】
と表される。ここで、ＢＳ（無偏光ビームスプリッタ）にＳ偏光光束が入射されたときの偏光方向の回転分布β（rad）については、
tanβ＝
（√Ｔ_P−√Ｔ_S）sinｂsinＱcosＱ／（√Ｔ_S・sin²Ｑ＋√Ｔ_P・sin²ｂcos²Ｑ）
＝（√Ｔ_P−√Ｔ_S）sinｂtanＱ／（√Ｔ_S・sin²Ｑ＋√Ｔ_P・sin²ｂ）
＝ＮＡ（√Ｔ_P−√Ｔ_S）tanＱ／（ｎ（√Ｔ_S・tan²Ｑ＋√Ｔ_P・（ＮＡ／ｎ）²））
となり、上記ＰＢＳ検光子については、
【００７７】
【数１８】

【００７８】
【数１９】

【００７９】
となる。ここで、空気（屈折率ｎ＝１）から４５°（＝Ｑ）傾斜の反射面に、ＮＡ＝０．１で入射する場合を算出すると、上記角度αは、５．７°（deg）となる。また、空気中でのＮＡが０．１で、屈折率ｎ＝１．５のキューブ状プリズム内にある４５°傾斜の反射面に入射する場合には、上記角度αは、３．８°（deg）となる。さらに、空気（屈折率ｎ＝１）から５０°（＝Ｑ）傾斜の反射面に、ＮＡ＝０．１で入射する場合を算出すると、上記角度αは、４．８°（deg）となる。
【００８０】
そして、本発明に係る光学ピックアップ装置は、図１９に示すように、光源となる半導体レーザチップ１３及び複数の光検出器１４が上面部上に配設、形成された半導体基板１２を有して構成された受発光素子１０を用いて構成することができる。この受発光素子１０は、基台部９上に配設されている。
【００８１】
上記半導体レーザチップ１３は、上記半導体基板１２の上面部上に配設されたヒートシンク部の上面部に配設されている。上記各光検出器１４は、上記半導体基板１２の表面部に形成されている。上記半導体レーザチップ１３は、直線偏光の発散光束を、上記半導体基板１２の上面部に平行に、上記各光検出器１４が設けられた側に向けて射出する。
【００８２】
そして、この光学ピックアップ装置は、一端部が光束分岐手段となる傾斜面部となされ上記各光検出器１４上に位置して上記半導体基板１２上に配設されたプリズム１１を有している。上記傾斜面部は、上記半導体基板１２の表面部に対する傾斜角が、４５°となされている。この傾斜面部上には、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）膜が被着形成されている。上記プリズム１１は、一軸性結晶または二軸性結晶により形成されている。このプリズム１１を形成する結晶の結晶軸は、このプリズム１１内の反射面（すなわち、天面部及び底面部）の法線に垂直な面内に設定されている。
【００８３】
上記プリズム１１は、上記半導体レーザチップ１３より発射された発散光束が、上記傾斜面部に入射される。この傾斜面部には、上記半導体レーザチップ１３よりの発散光束が、Ｓ偏光状態で入射される。この傾斜面部は、上記半導体レーザチップ１３より入射された発散光束を上記偏光ビームスプリッタ膜により反射して上記半導体基板１２の表面部に対して垂直な方向に偏向させる。
【００８４】
そして、上記半導体基板１２は、上記基台部９上に配設されたケース（モールドカバー）１５内に収納されている。上記傾斜面部において反射されて偏向された光束は、上記ケース１５内の天井部に形成された第１の反射面Ｘ₁に反射され、このケース１５の側壁部を透してこのケース１５の外方側に射出される。上記第１の反射面Ｘ₁は、上記半導体基板１２の上面部に対して、略々４５°の傾斜となされて形成されている。
【００８５】
上記ケース１５より射出された発散光束は、上記基台部９上に配設された反射ミラー４に形成された第２の反射面Ｘ₂によって反射されて光線方向を偏向され、上記対物レンズ駆動機構に支持された集光手段となる対物レンズ５に入射される。上記第１の反射面Ｘ₁及び上記第２の反射面Ｘ₂は、互いに平行となされており、上述の条件、すなわち、上記反射位相差δ_P-Sについて、
ｍπ−（π／４）≦δ_P-S＜ｍπ＋（π／４）
（ただし、ｍは整数、角度の単位はラジアン（rad））
が満足されるように形成されている。
【００８６】
上記対物レンズ駆動機構は、上記対物レンズ５を、上記半導体基板１２の上方側において支持し、上記光磁気ディスク１０１の信号記録面に対向させている。上記対物レンズ５は、入射された発散光束を、上記光磁気ディスク１０１の信号記録面上に集光させる。
【００８７】
上記対物レンズ５により上記信号記録面上に集光された光束は、この信号記録面により反射され、該対物レンズ５、上記第２の反射面Ｘ₂及び上記第１の反射面Ｘ₁を介して、上記傾斜面部に戻る。この傾斜面部に戻った上記信号記録面による反射光束は、この傾斜面部を透過して上記プリズム１１内に進入し、このプリズム１１の下面部よりこのプリズム１１の外方側に射出されて上記各光検出器１４に導かれ受光される。
【００８８】
すなわち、上記対物レンズ５を経て上記傾斜面部に入射した反射光束は、この傾斜面部において屈折されて上記プリズム１１内に進入し、一部がこのプリズム１１の底面部を透過して第１の光検出器に受光され、残部が該底面部により反射される。この底面部により反射された光束は、上記プリズム１１の天面部において全反射された後、このプリズム１１の底面部を透過して第２の光検出器に受光される。
【００８９】
上記各光検出器１４は、複数の独立的な受光部を有している。これら光検出器１４の各受光部よりの光検出出力相互間の演算を行うことにより、上記読み出し信号及び上記各エラー信号を算出することができる。そして、この光学ピックアップ装置においては、上記対物レンズ駆動機構により、上記フォーカスエラー信号が０となるように、上記対物レンズ５のこの対物レンズ５の光軸方向への移動操作、すなわち、フォーカスサーボ動作が行われる。また、この光学ピックアップ装置においては、上記対物レンズ駆動機構により、上記トラッキングエラー信号が０となるように、上記記録トラックＴｒの接線方向及び上記対物レンズ５の光軸に直交する方向への該対物レンズ５の移動操作、すなわち、トラッキングサーボ動作が行われる。
【００９０】
この光学ピックアップ装置においても、上記第１の反射面Ｘ₁及び上記第２の反射面Ｘ₂が互いに平行であって、かつ、上述の条件を満足していることにより、上記半導体レーザチップ１３より発せられた光束を上記光学記録媒体の信号記録面上に良好な状態で集光させることができ、また、該信号記録面により反射された光束を良好な状態で検出することができるので、該光学記録媒体に対する良好な情報信号の書き込み読み出しを行うことができる。
【００９１】
そして、本発明に係る記録再生装置は、上述した本発明に係る光学ピックアップ装置と、上記光磁気ディスク１０１を保持して回転操作する回転操作機構と、制御手段とを備えて構成される。
【００９２】
上記回転操作機構は、スピンドルモータと、このスピンドルモータの駆動軸に取付けられた媒体保持機構となるディスクテーブルとを有して構成されている。このディスクテーブルは、上記光磁気ディスク１０１の中心部分を保持するように構成されている。上記スピンドルモータは、上記ディスクテーブルとともに、このディスクテーブルが保持している光磁気ディスク１０１を回転操作する。そして、この記録再生装置においては、上記光学ピックアップ装置は、上記ディスクテーブルに保持された光磁気ディスク１０１の信号記録面に上記対物レンズ５を対向させた状態で支持される。また、この光学ピックアップ装置は、上記光磁気ディスク１０１の内外周に亘って、上記スピンドルモータに対する接離方向に移動操作可能となされている。
【００９３】
そして、この記録再生装置においては、上記制御手段が上記光学ピックアップ装置及び上記スピンドルモータを制御し、また、該光学ピックアップ装置より出力される各信号について信号処理、演算を行うことにより、上記光磁気ディスク１０１に対する情報信号の記録再生を行うことができる。
【００９４】
【発明の効果】
上述したように、本発明に係る光学ピックアップ装置及び記録再生装置は、反射手段により反射された反射前後の光束の偏光成分の偏光方向の分布を抑えるようにしたので、上記反射手段により反射された後、対物レンズによって、光学記録媒体の信号記録面上に良好に集光されることができる。また、上記信号記録面により反射された光束も、上記反射面を経て、光検出器によって、良好な状態で検出されることができる。
【００９５】
すなわち、本発明は、光源として使用される半導体レーザより発せられる光束を発散光束の状態のままで反射ミラーに入射させる構成を採ることにより小型化及び構成部品点数の削減を図ることができ、かつ、光学記録媒体に対する情報信号の正確な書き込み及び読み出しが行えるようになされた光学ピックアップ装置を提供することができるものである。
【００９６】
また、本発明は、上述のような光学ピックアップ装置を備えることにより良好な記録再生特性を有する記録再生装置を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光学ピックアップ装置の光学系の構成を示す平面図である。
【図２】上記光学ピックアップ装置の光学系の要部の構成を一部を破断して示す側面図である。
【図３】反射面におけるδ_P＝０の状態の反射を示す側面図である。
【図４】反射面におけるδ_P＝πの状態の反射を示す側面図である。
【図５】反射面におけるδ_S＝０の状態の反射を示す側面図である。
【図６】反射面におけるδ_S＝πの状態の反射を示す側面図である。
【図７】上記光学ピックアップ装置において反射面に入射される拡散光束の偏光方向を示す該光束の断面図である。
【図８】上記光学ピックアップ装置において反射面に入射される拡散光束の偏光方向をＰ偏光成分とＳ偏光成分とに分解して示す該光束の断面図である。
【図９】上記光学ピックアップ装置において反射面に入射された拡散光束の該反射面上におけるＰ偏光方向とＳ偏光方向とを示す該光束の断面図である。
【図１０】上記光学ピックアップ装置においてδ_P-S＝πの反射面により反射された拡散光束の偏光方向を示す該光束の断面図である。
【図１１】上記光学ピックアップ装置においてδ_P-S＝０の反射面により反射された拡散光束の偏光方向を示す該光束の断面図である。
【図１２】上記光学ピックアップ装置を構成する２つの互いに平行な反射面の構成を示す断面図である。
【図１３】上記光学ピックアップ装置において２つの互いに平行な反射面の一方に入射される拡散光束及び該２つの互いに平行な反射面の双方に反射された後の拡散光束の偏光方向を示す該光束の断面図である。
【図１４】上記光学ピックアップ装置において２つの互いに平行な反射面の一方（δ_P-S＝０）に反射された拡散光束の偏光方向を示す該光束の断面図である。
【図１５】上記光学ピックアップ装置を構成する２つの互いに平行でない反射面の構成を示す断面図である。
【図１６】上記光学ピックアップ装置において２つの互いに平行でない反射面（δ_P-S＝０）の双方に反射された後の拡散光束の偏光方向を示す該光束の断面図である。
【図１７】上記光学ピックアップ装置において２つの互いに平行でない反射面（δ_P-S＝０）に反射された後の拡散光束の偏光方向の変化を示すグラフである。
【図１８】上記光学ピックアップ装置の反射面の構成を示す斜視図である。
【図１９】本発明に係る光学ピックアップ装置の構成の他の例を示す縦断面図である。
【図２０】従来の光学ピックアップ装置の光学系の構成を示す平面図である。
【符号の説明】
１半導体レーザ、２ビームスプリッタ、４反射ミラー、５対物レンズ、８光検出器、１０１光ディスク、１０２透明基板、１０３信号記録層、Ｘ，Ｘ₁，Ｘ₂ 反射面[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical pickup apparatus for writing and reading information signals to and from an optical recording medium such as an optical disk and a magneto-optical disk, and recording and reproducing information signals to and from the optical disk and the magneto-optical disk. Belongs to the technical field related to recording / reproducing apparatuses for performing
[0002]
[Prior art]
Conventionally, optical recording media such as optical disks (so-called pit disks, phase change disks, rewritable disks, etc.) and magneto-optical disks have been proposed. Such an optical recording medium has a transparent substrate and a signal recording layer deposited on the substrate. In optical disks and magneto-optical disks, the substrate is formed as a disk-shaped disk substrate. In this optical disk and magneto-optical disk, the information signal is recorded along a recording track formed in a spiral shape that is substantially concentric in the signal recording layer.
[0003]
As shown in FIG. 20, there has been proposed an optical pickup device that performs writing and reading of an information signal with respect to an optical disc that is such an optical recording medium. This optical pickup apparatus has a semiconductor laser 104 as a light source, and a divergent light beam emitted from the semiconductor laser 104 is condensed on the signal recording surface of the optical disc, that is, the surface portion of the signal recording layer, by the objective lens 110. It is comprised so that it may irradiate.
[0004]
In this optical pickup device, a divergent light beam emitted from the semiconductor laser 104 passes through a grating (diffraction grating) 105 and is converted into a parallel light beam by a collimator lens 106. The parallel light beam passes through the beam splitter 107, is reflected by the reflection surface of the reflection mirror 109, deflects the light beam direction, and is guided to the objective lens 110. The grating 105 enables detection of a tracking error signal described later.
[0005]
In this optical pickup device, the reflected light beam from the signal recording surface of the light beam irradiated on the signal recording surface is detected by the photodetector (photodiode) 114, and recorded on the signal recording layer of the optical disc. The information signal is read out, and an error signal for maintaining the light beam condensing on the signal recording surface, that is, a focus error signal and a tracking error signal are detected.
[0006]
The reflected light flux returns to the beam splitter 107 through the objective lens 110 and the reflection mirror 109. The reflected light beam is reflected by the reflecting surface 108 of the beam splitter 107 and is incident on the photodetector 114 via the Wollaston prism 111, the condenser lens 112, and the multi lens 113. The Wollaston prism 111 is a prism that divides the light beam according to the polarization component of the incident light beam. The multi-lens 113 is a lens whose incident surface is a cylindrical (cylindrical) surface and whose exit surface is a concave surface, and causes astigmatism to detect the focus error signal in the incident light beam. It is a lens that moves the condensing point of the incident light beam to the rear side.
[0007]
The focus error signal is a signal indicating the distance in the optical axis direction of the objective lens 110 between the condensing point of the light beam by the objective lens 110 and the signal recording surface. In this optical pickup device, the objective lens 110 is moved in the optical axis direction, that is, a focus servo operation is performed so that the focus error signal becomes zero.
[0008]
The tracking error signal is generated in the direction perpendicular to the optical axis of the objective lens 110 and the tangent to the recording track between the focal point of the light beam by the objective lens 110 and the recording track, that is, the radial direction of the optical disc. It is a signal which shows distance. In the optical pickup device, a movement operation of the objective lens 110 in a direction orthogonal to the optical axis of the objective lens 110, that is, a tracking servo operation is performed so that the tracking error signal becomes zero.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
Incidentally, the light beam emitted from the semiconductor laser 104 used as the light source in the optical pickup device as described above is a divergent light beam. When the light beam emitted from the semiconductor laser 104 is reflected by the reflection mirror 109 to deflect the light beam direction in order to guide the light beam emitted from the semiconductor laser 104 to the objective lens 110, the light beam is collimated by the collimator lens 106. After being converted into a light beam, the light enters the reflection mirror 109.
[0010]
  This is because the reflection mirror in the state of divergent light flux109This reflection mirror109This is because a difference in the ratio of the P-polarized component and the S-polarized component with respect to the reflecting surface is caused between the central portion and the peripheral portion of the light beam, resulting in a reflectance difference and a phase difference. When such a reflectance difference or phase difference occurs, a distribution of the polarization direction in the light beam (in the cross section of the light beam) occurs, and accurate information signals cannot be read from the optical recording medium.
[0011]
In particular, when such a distribution of the polarization direction occurs in the light beam applied to the optical recording medium from the optical pickup device, the shape of the beam spot formed by condensing the light beam on the signal recording surface is changed. It deteriorates and the reading performance (MTF: Modulation Transfar Function) deteriorates. In this case, when the optical recording medium has a so-called wobbling groove such as a magneto-optical disk, mixing of wobbling information into the RF signal occurs.
[0012]
However, in order to reduce the size of the optical pickup device and reduce the number of components, the configuration in which the light beam emitted from the semiconductor laser is incident on the reflection mirror in the divergent light beam state, that is, the collimator lens 106 is provided. It is necessary to adopt an excluded configuration.
[0013]
Therefore, the present invention has been proposed in view of the above circumstances, and is compact by adopting a configuration in which a light beam emitted from a semiconductor laser used as a light source is incident on a reflection mirror in a divergent light beam state. It is an object of the present invention to solve the problem of providing an optical pickup device that can accurately write and read information signals to and from an optical recording medium while reducing the number of components and the number of components.
[0014]
The present invention also aims to solve the problem of providing a recording / reproducing apparatus having good recording / reproducing characteristics by including the optical pickup device as described above.
[0015]
[Means for Solving the Problems]
  In order to solve the above-described problems, an optical pickup device according to the present invention includes:Linearly polarized lightAnd a reflecting surface that reflects the divergent light beam emitted from the light source and deflects the light beam direction of the divergent light beam.Reflection meansA divergent light beam that has passed through the reflecting surface is incident, and a condensing unit that condenses the light beam on the signal recording surface of the optical recording medium, and a light beam condensed on the signal recording surface by the condensing unit. A photodetector for detecting a reflected light beam from the signal recording surface;In the reflection means, the absolute phase of the P-polarized component is changed by π with respect to the absolute phase of the S-polarized component, thereby suppressing the polarization direction distribution of the polarized component before and after reflection.
[0016]
  An optical pickup device according to the present invention isLinearly polarized lightA light source that emits a divergent light beam, and a divergent light beam emitted from the light source is reflected to deflect the light beam direction of the divergent light beamReflecting means having two reflecting surfaces parallel to each otherA divergent light beam that has passed through each of the reflecting surfaces, and a condensing unit that condenses the light beam on the signal recording surface of the optical recording medium, and a light beam that is condensed on the signal recording surface by the condensing unit. A photodetector for detecting a reflected light beam from the signal recording surface ofIn the reflecting means, the absolute phase shift of the P-polarized component is 0 with respect to the absolute phase of the S-polarized component, and the distribution of the polarization direction of the polarized component before and after reflection is suppressed.
[0017]
  The recording / reproducing apparatus according to the present invention includes a medium holding mechanism for holding an optical recording medium,Linearly polarized lightAnd a reflecting surface that reflects the divergent light beam emitted from the light source and deflects the light beam direction of the divergent light beam.Reflection meansA divergent light beam that has passed through the reflecting surface is incident, and a condensing unit that condenses the light beam on the signal recording surface of the optical recording medium, and a light beam condensed on the signal recording surface by the condensing unit. A photodetector for detecting a reflected light beam from the signal recording surface;In the above reflection means, the absolute phase of the P-polarized component is changed by π with respect to the absolute phase of the S-polarized component, and the polarization direction distribution of the polarized component before and after reflection is suppressed.Is.
[0018]
  Furthermore, a recording / reproducing apparatus according to the present invention includes a medium holding mechanism for holding an optical recording medium,Linearly polarized lightA light source that emits a divergent light beam, and a divergent light beam emitted from the light source is reflected to deflect the light beam direction of the divergent light beamReflecting means having two reflecting surfaces parallel to each otherA divergent light beam that has passed through each of the reflecting surfaces, and a condensing unit that condenses the light beam on the signal recording surface of the optical recording medium, and a light beam that is condensed on the signal recording surface by the condensing unit. A photodetector for detecting a reflected light beam from the signal recording surface ofIn the reflecting means, the absolute phase shift of the P-polarized component is 0 with respect to the absolute phase of the S-polarized component, and the polarization direction distribution of the polarized component before and after reflection is suppressed.Is.
[0019]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0020]
In this embodiment, the optical pickup apparatus according to the present invention is configured as an apparatus for writing and reading information signals using a magneto-optical disk as an optical recording medium. As shown in FIG. 19, the magneto-optical disk has a disk-like disk substrate 102 made of a transparent material such as polycarbonate or polymethylmethacrylate, and a signal recording formed on the disk substrate 102. Layer 103. The signal recording layer 103 is formed from a magnetic material film. A surface portion of the signal recording layer 103 bonded to the disk substrate 102 is a signal recording surface. In the magneto-optical disk 101, in the signal recording layer, an information signal is recorded along a recording track Tr formed in a spiral shape that is substantially concentric as shown in FIG. The optical pickup device according to the present invention can also read out an information signal from an optical disc using a metal reflection film formed over the pits formed on the disc substrate 102 as a signal recording layer.
[0021]
The optical pickup device has a semiconductor laser 1 as a light source, as shown in FIG. The semiconductor laser 1 is configured by housing a semiconductor laser chip in a sealed can, and is fixedly disposed in an optical block (not shown). An opening portion that is closed with a transparent material such as glass is provided on the front surface of the sealed can for emitting a light beam (laser light beam) emitted from the semiconductor laser chip.
[0022]
The light beam emitted from the semiconductor laser 1 is a linearly polarized divergent light beam, and the cross-sectional shape is an ellipse. As shown in FIG. 2, the optical pickup device receives a divergent light beam emitted from the semiconductor laser 1 and condenses the divergent light beam on the signal recording surface of the magneto-optical disk 101. The objective lens 5 becomes.
[0023]
That is, the light beam emitted from the semiconductor laser 1 passes through the beam splitter 2 serving as a light beam branching unit disposed in the optical block unit, and is disposed in the optical block unit as shown in FIGS. The light is reflected by the reflecting surface X of the reflecting mirror 4 and deflected in the direction of light, and is guided to the objective lens 5 disposed above the optical block. The divergent light beam incident on the objective lens 5 is condensed and irradiated on the signal recording surface of the magneto-optical disk 101. That is, the objective lens 5 is a so-called finite lens. The reflection surface X is formed by depositing a dielectric film, a dielectric multilayer film, or a metal thin film on a substrate made of a material such as glass.
[0024]
In this optical pickup device, the light beam reflected on the signal recording surface of the signal recording surface is detected by the light detector 8 such as a photodiode disposed in the optical block unit. A read signal (RF signal) of an information signal recorded on the signal recording layer 102 of the magneto-optical disk 101 and an error signal for maintaining the focusing of the light beam on the signal recording surface, that is, a focus error signal And tracking error signal detection.
[0025]
That is, the reflected light flux returns to the beam splitter 2 through the objective lens 5 and the reflection surface X. The direction of polarization of this reflected light beam is modulated by the so-called Kerr effect according to the information signal recorded on the signal recording surface. The reflected light beam is reflected by the reflecting surface 3 of the beam splitter 2, deflected by 90 °, passes through the Wollaston prism 6 and the multi lens 7, and enters the photodetector 8. The Wollaston prism 6 is a prism composed of a pair of uniaxial crystals that are joined to each other with the crystal axis directions different from each other, and the joint surfaces of these crystals are inclined with respect to the optical axis of the incident light beam. The Wollaston prism 6 splits the light beam according to the polarization component of the incident light beam. The multi-lens 7 is a lens in which the incident surface is a cylindrical (cylindrical) surface and the output surface is a concave surface. The multi-lens 7 generates astigmatism for detecting the focus error signal in the incident light beam. It is a lens that moves the condensing point of the incident light beam to the rear side. The photodetector 8 has a plurality of independent light receiving parts. The readout signal and the error signals can be calculated by calculating between the light detection outputs from the light receiving portions of the photodetector 8.
[0026]
The focus error signal is a signal indicating the distance of the light beam focusing point of the objective lens 5 and the signal recording surface in the optical axis direction of the objective lens 5. In this optical pickup device, as shown by an arrow F in FIG. 2, the objective lens 5 is moved in the optical axis direction (focus direction) so that the focus error signal becomes zero. That is, a focus servo operation is performed.
[0027]
The tracking error signal is a direction perpendicular to the tangent to the recording track Tr and the optical axis of the objective lens 5 between the condensing point of the light beam by the objective lens 5 and the recording track Tr, that is, the magneto-optical disk. 101 is a signal indicating the distance in the radial direction of 101. In this optical pickup device, as indicated by the arrow T in FIG. 1, the direction perpendicular to the tangential direction of the recording track Tr and the optical axis of the objective lens 5 (tracking direction) is set so that the tracking error signal becomes zero. ), The tracking servo operation is performed.
[0028]
The focus servo operation and the tracking servo operation are performed by an objective lens driving mechanism (two-axis actuator) (not shown) that supports the objective lens 5 so as to be movable. The objective lens driving mechanism is fixedly disposed on the optical block unit, and supports the objective lens 5 so as to be movable in the focus direction and the tracking direction via an elastic displacement member, for example. . The objective lens driving mechanism has an electromagnetic driving mechanism for moving the objective lens 5. The electromagnetic drive mechanism includes a drive coil attached to a lens holder that supports the objective lens 5, and a magnetic circuit unit that is fixedly disposed with respect to the optical block unit and positions the drive coil in a magnetic field. It consists of and.
[0029]
That is, in this objective lens drive mechanism, the drive coil is supplied with the objective lens 5 by supplying a drive current based on the focus error signal and the tracking error signal to the drive coil. Is moved. In the objective lens driving mechanism, the focus servo operation and the tracking servo operation are executed.
[0030]
In the optical pickup device, the reflection surface X includes a light beam in which a P-polarized component with respect to the reflection surface X of the divergent light beam incident on the reflection surface X is reflected by the reflection surface X, and Of the divergent light beam, the S-polarized component of the divergent light beam with respect to the reflection surface X differs from the light beam reflected by the reflection surface X, that is, the reflection phase difference δ._PSBut,
(2n + 1) π− (π / 4) ≦ δ_PS<(2n + 1) π + (π / 4)
(Where n is an integer and the unit of angle is radian (rad))
It is formed to satisfy. In this optical pickup device, when this condition is satisfied, the signal recording surface of the optical recording medium can be irradiated with a good light beam having no polarization distribution, which is better than that of the optical recording medium. Information signals can be read out.
[0031]
Here, the phase change δ when the P-polarized light with respect to the reflection surface X is incident on the reflection surface X and reflected._PIs the polarization direction P of the incident light as shown in FIG.₀And polarization direction P of reflected light₁Are in the same direction (in phase) with respect to the traveling direction of the light beam,_P= 0. This phase change δ_PIs the polarization direction P of the incident light as shown in FIG.₀And polarization direction P of reflected light₁Is opposite to the traveling direction of the light beam (the phase is different by πrad (180 °)),_P= Π is defined.
[0032]
Then, the phase change δ when the S-polarized light with respect to the reflection surface X is incident on the reflection surface X and reflected._SIs the polarization direction S of the incident light as shown in FIG.₀And polarization direction S of reflected light₁Are in the same direction (in phase) with respect to the traveling direction of the light beam,_S= 0. This phase change δ_SIs the polarization direction S of the incident light as shown in FIG.₀And polarization direction S of reflected light₁Is opposite to the traveling direction of the light beam (the phase is different by πrad (180 °)),_S= Π is defined.
[0033]
Therefore, the reflection phase difference δ_PSIs when ± π
(Δ_P, Δ_S) = (0, π) or (π, 0)
It may be. Here, in considering the polarization distribution in the diffused light beam after being reflected by the reflecting surface X, polarized lights having different phases by π rad (180 °) are equivalent to each other.
(Δ_P, Δ_S) = (Π, 0)
Consider the case.
[0034]
As shown by an arrow Z in FIG. 2, the diffused light beam incident on the reflection surface X is S-polarized with respect to the reflection surface X when viewed from the light source side as shown in FIG. It is set as the linearly polarized light of the direction which becomes. On the reflection surface X, as shown by an arrow Z in FIG. 2, even when the reflection surface X is viewed from the light source side, the object lens 5 side shows the reflection surface X as shown by an arrow Y in FIG. Even when the reflecting surface X is viewed, as shown in FIG. 9, since the incident light beam is a diffused light beam, the peripheral portion of this light beam (the left and right side portions in FIG. 9) has a P against the reflecting surface X. The polarization direction and the S polarization direction are inclined (rotated) (the rotation angles of the P polarization direction and the S polarization direction are α (rad)).
[0035]
In other words, the divergent light beam has a P-polarized light component with respect to the reflection surface X as shown in FIG. That is, the divergent light beam incident on the reflecting surface X can be decomposed into an S-polarized component and a P-polarized component with respect to the reflecting surface X as shown in FIG.
[0036]
Then, with respect to the reflected light from the reflection surface X, when the reflection surface X is viewed from the objective lens 5 side, as indicated by an arrow Y in FIG._PSIs π ((δ_P, Δ_S) = (Π, 0)), the phase of the P-polarized light component is inverted, so that the polarization direction of the light flux returns to the state before entering the reflecting surface X as shown in FIG. . That is, in this optical pickup device, the divergent light beam is reflected by the reflection surface X, and thus does not have a polarization direction distribution. The same applies to the convergent light beam that has been reflected by the signal recording surface and then returned to the reflecting surface X.
[0037]
Therefore, the optical pickup device can focus the light beam emitted from the semiconductor laser 1 on the signal recording surface of the optical recording medium in a good state, and the light beam reflected by the signal recording surface. Can be detected in a good state, so that a good information signal can be written to and read from the optical recording medium.
[0038]
In this optical pickup device, as shown in FIG. 12, the first reflecting surface X is used as a reflecting surface that reflects the divergent light beam emitted from the semiconductor laser 1 and deflects the light beam direction of the divergent light beam.₁And the second reflecting surface X₂These reflective surfaces X₁, X₂Are parallel to each other, these two parallel reflecting surfaces X are parallel to each other.₁, X₂Respectively, the reflection phase difference δ_PSabout,
mπ− (π / 4) ≦ δ_PS<Mπ + (π / 4)
(Where m is an integer, and the unit of angle is radian (rad))
Is satisfied.
[0039]
The reflection phase difference δ_PSIs 0,
(Δ_P, Δ_S) = (0,0) or (π, π)
And the reflection phase difference δ_PSIs ± π,
(Δ_P, Δ_S) = (0, π) or (π, 0)
This is the case. Where δ_PS= ± π, as described above, each reflection surface X₁, X₂In this case, the polarization direction distribution in the divergent light beam does not occur.
[0040]
And the reflection phase difference δ_PSIs 0,
(Δ_P, Δ_S) = (0,0)
Consider the case. In this case, as described above, when one reflecting surface X is considered, when the reflecting surface X is viewed from the objective lens 5 side, as shown by an arrow Y in FIG._PSIs 0 ((δ_P, Δ_S) = (0,0)), the phase of the P-polarized component and the S-polarized component are maintained as they are so that the polarization direction of the light beam is incident on the reflecting surface X as shown in FIG. It does not return to the state before the rotation, but is rotated by a predetermined angle (2α (rad)) on the peripheral side (right and left sides).
[0041]
That is, the first reflecting surface X₁Divergent beam R before being incident on₁When the polarization direction of the first reflective surface X is linearly polarized as shown in FIG.₁Reflected light R₂As shown in FIG. 14, the polarization direction is rotated by a predetermined angle 2α (rad) on the peripheral side (right and left sides). In this way, the first reflecting surface X₁Reflected light R reflected by₂Further, the second reflecting surface X₂Reflected light R reflected by_ThreeThe polarization direction of the first reflection surface X is the predetermined angle 2α (rad) on the peripheral side (both left and right sides).₁The first reflecting surface X is rotated as shown in FIG.₁Light flux R before entering₁Return to the same state.
[0042]
Therefore, also in this case, the light beam emitted from the semiconductor laser 1 can be condensed in a good state on the signal recording surface of the optical recording medium, and the light beam reflected by the signal recording surface can be focused. Since it can be detected in a good state, a good information signal can be written to and read from the optical recording medium.
[0043]
Thus, two mutually parallel reflecting surfaces X₁, X₂Each of the reflecting surfaces X₁, X₂If there is a further reflecting surface, the reflecting phase difference δ_PSIs
(2n + 1) π− (π / 4) ≦ δ_PS<(2n + 1) π + (π / 4)
(Where n is an integer and the unit of angle is radian (rad))
Is satisfied. Therefore, as described above, no polarization distribution occurs on this reflecting surface.
[0044]
The reflection phase difference δ_PSIs 0 ((δ_P, Δ_S) = (0, 0)), as shown in FIG.₁, X₂Are orthogonal to each other, the first reflecting surface X₁And then the second reflecting surface X₂The light flux R further reflected by_ThreeAs shown in FIGS. 16 and 17, the polarization direction of the first reflecting surface X is twice (4α (rad)) of the predetermined angle 2α (rad) on the peripheral side (both left and right sides).₁In other words, the first reflecting surface X is rotated.₁The polarization distribution generated in the second reflection surface X₂Is further expanded).
[0045]
As described above, the reflection surfaces X and X₁, X₂The polarization distribution of the reflected light generated in FIG. 2 is equivalent to the polarization distribution of the transmitted light in the PBS (polarization beam splitter) analyzer in the P polarization direction (in the PBS analyzer, the transmittance T of the P polarization component)._PIs 100%, the transmittance T of the S-polarized component_SIs 0%). Accordingly, here, the rotation angle α of the P-polarization direction and the S-polarization direction on the reflection surface X is obtained equivalently to the method for obtaining the polarization direction distribution in the PBS analyzer.
[0046]
When the incident angle to the reflecting surface X (half of the divergence angle of the light beam) is b, the unit vector I of the incident light to the reflecting surface X is b._inIs:
[0047]
[Expression 1]

[0048]
And the unit vector S of the polarization direction_inIs:
[0049]
[Expression 2]

[0050]
Given in. The normal vector r of the reflecting surface X is given by
[0051]
[Equation 3]

[0052]
Given in. That is, the inclination angle of the reflection surface X with respect to the direction of the divergent light beam incident on the reflection surface X is Q as shown in FIG. Unit vector e of S polarization direction on reflection surface X_SIs:
[0053]
[Expression 4]

[0054]
Given in. Similarly, the unit vector e of the P polarization direction on the reflection surface X_PIs:
[0055]
[Equation 5]

[0056]
Given in. Here, the transmittance of P-polarized light in the PBS analyzer is expressed as T_P, T transmittance of S polarized light_SThen, the unit vector S of the polarization direction of the light beam passing through the end portion of the PBS analyzer_inIs
[0057]
[Formula 6]

[0058]
Is expressed by the unit vector S of the polarization direction after the light beam passes through the PBS analyzer._OUTIs:
[0059]
[Expression 7]

[0060]
It is represented by The constants A and B in the above [Equation 6] and [Equation 7] are respectively expressed by the following equations:
[0061]
[Equation 8]

[0062]
[Equation 9]

[0063]
The unit vector S of the polarization direction is expressed as_OUTIs:
[0064]
[Expression 10]

[0065]
And can be calculated. Similarly, the unit vector P of the polarization direction of the light beam passing through the end portion of the PBS analyzer._in, And the unit vector P of the polarization direction after the light beam has passed through the PBS analyzer_OUTRespectively,
[0066]
## EQU11 ##

[0067]
[Expression 12]

[0068]
Is represented by The constants C and D in the above [Equation 11] and [Equation 12] are respectively expressed by the following equations:
[0069]
[Formula 13]

[0070]
[Expression 14]

[0071]
The unit vector P of the polarization direction is expressed as_OUTIs:
[0072]
[Expression 15]

[0073]
And can be calculated. here,
[0074]
[Expression 16]

[0075]
[Expression 17]

[0076]
It is expressed. Here, regarding the rotation distribution β (rad) in the polarization direction when the S-polarized light beam is incident on the BS (non-polarized beam splitter),
tanβ =
(√T_P-√T_S) SinbsinQcosQ / (√T_S・ Sin²Q + √T_P・ Sin²bcos²Q)
= (√T_P-√T_S) SinbtanQ / (√T_S・ Sin²Q + √T_P・ Sin²b)
= NA (√T_P-√T_S) TanQ / (n (√T_S・ Tan²Q + √T_P・ (NA / n)²))
For the above PBS analyzer,
[0077]
[Formula 18]

[0078]
[Equation 19]

[0079]
It becomes. Here, when the case where the incident light is incident at NA = 0.1 on the reflecting surface inclined by 45 ° (= Q) from the air (refractive index n = 1), the angle α is 5.7 ° (deg). Become. When the NA in the air is 0.1 and the light is incident on a 45 ° inclined reflecting surface in a cube-shaped prism having a refractive index n = 1.5, the angle α is 3.8 ° ( deg). Further, when the case where the light is incident at NA = 0.1 on the reflecting surface inclined by 50 ° (= Q) from the air (refractive index n = 1), the angle α is 4.8 ° (deg). .
[0080]
As shown in FIG. 19, the optical pickup device according to the present invention includes a semiconductor substrate 12 on which a semiconductor laser chip 13 serving as a light source and a plurality of photodetectors 14 are disposed and formed on an upper surface portion. It can comprise using the comprised light emitting / receiving element 10. FIG. The light emitting / receiving element 10 is disposed on the base portion 9.
[0081]
The semiconductor laser chip 13 is disposed on the upper surface portion of the heat sink portion disposed on the upper surface portion of the semiconductor substrate 12. Each photodetector 14 is formed on the surface of the semiconductor substrate 12. The semiconductor laser chip 13 emits a linearly polarized divergent light beam parallel to the upper surface portion of the semiconductor substrate 12 toward the side where the photodetectors 14 are provided.
[0082]
The optical pickup device has a prism 11 disposed on the semiconductor substrate 12 with one end portion being an inclined surface portion serving as a light beam branching unit and positioned on each photodetector 14. The inclined surface portion has an inclination angle of 45 ° with respect to the surface portion of the semiconductor substrate 12. A polarizing beam splitter (PBS) film is deposited on the inclined surface portion. The prism 11 is formed of a uniaxial crystal or a biaxial crystal. The crystal axis of the crystal forming the prism 11 is set in a plane perpendicular to the normal line of the reflecting surface (that is, the top surface portion and the bottom surface portion) in the prism 11.
[0083]
In the prism 11, a divergent light beam emitted from the semiconductor laser chip 13 is incident on the inclined surface portion. A divergent light beam from the semiconductor laser chip 13 is incident on the inclined surface portion in an S-polarized state. The inclined surface portion reflects the divergent light beam incident from the semiconductor laser chip 13 by the polarizing beam splitter film and deflects it in a direction perpendicular to the surface portion of the semiconductor substrate 12.
[0084]
The semiconductor substrate 12 is housed in a case (mold cover) 15 disposed on the base portion 9. The light beam reflected and deflected by the inclined surface portion is a first reflecting surface X formed on the ceiling portion in the case 15.₁And is emitted through the side wall of the case 15 to the outside of the case 15. The first reflecting surface X₁Is formed with an inclination of approximately 45 ° with respect to the upper surface of the semiconductor substrate 12.
[0085]
The divergent light beam emitted from the case 15 is a second reflection surface X formed on the reflection mirror 4 disposed on the base portion 9.₂The light beam is deflected by the light beam and is incident on the objective lens 5 serving as a condensing means supported by the objective lens driving mechanism. The first reflecting surface X₁And the second reflecting surface X₂Are parallel to each other, and the above-described conditions, that is, the reflection phase difference δ_PSabout,
mπ− (π / 4) ≦ δ_PS<Mπ + (π / 4)
(Where m is an integer, and the unit of angle is radian (rad))
Is satisfied.
[0086]
The objective lens driving mechanism supports the objective lens 5 above the semiconductor substrate 12 and opposes the signal recording surface of the magneto-optical disk 101. The objective lens 5 focuses the incident divergent light beam on the signal recording surface of the magneto-optical disk 101.
[0087]
The light beam condensed on the signal recording surface by the objective lens 5 is reflected by the signal recording surface, and the objective lens 5 and the second reflection surface X are reflected.₂And the first reflecting surface X₁To return to the inclined surface portion. The reflected light beam from the signal recording surface that has returned to the inclined surface portion passes through the inclined surface portion and enters the prism 11, and is emitted from the lower surface portion of the prism 11 to the outside of the prism 11. The light is guided to the photodetector 14 and received.
[0088]
That is, the reflected light beam incident on the inclined surface portion through the objective lens 5 is refracted at the inclined surface portion and enters the prism 11, and a part of the reflected light passes through the bottom surface portion of the prism 11 and passes through the first light. Light is received by the detector, and the remainder is reflected by the bottom surface. The light beam reflected by the bottom surface portion is totally reflected by the top surface portion of the prism 11 and then passes through the bottom surface portion of the prism 11 and is received by the second photodetector.
[0089]
Each of the photodetectors 14 has a plurality of independent light receiving parts. The readout signal and the error signals can be calculated by calculating between the light detection outputs from the light receiving portions of the photodetector 14. In this optical pickup device, the objective lens drive mechanism moves the objective lens 5 in the optical axis direction so that the focus error signal becomes 0, that is, a focus servo operation. Is done. Further, in this optical pickup device, the objective lens is driven in the direction tangential to the recording track Tr and in the direction perpendicular to the optical axis of the objective lens 5 so that the tracking error signal becomes zero by the objective lens driving mechanism. A movement operation of the lens 5, that is, a tracking servo operation is performed.
[0090]
Also in this optical pickup device, the first reflecting surface X₁And the second reflecting surface X₂Are parallel to each other and satisfy the above-described condition, the light beam emitted from the semiconductor laser chip 13 can be condensed in a good state on the signal recording surface of the optical recording medium. In addition, since the light beam reflected by the signal recording surface can be detected in a good state, a good information signal can be written to and read from the optical recording medium.
[0091]
A recording / reproducing apparatus according to the present invention includes the above-described optical pickup apparatus according to the present invention, a rotation operation mechanism that holds and rotates the magneto-optical disk 101, and a control unit.
[0092]
The rotational operation mechanism includes a spindle motor and a disk table serving as a medium holding mechanism attached to a drive shaft of the spindle motor. This disk table is configured to hold the central portion of the magneto-optical disk 101. The spindle motor rotates the magneto-optical disk 101 held by the disk table together with the disk table. In this recording / reproducing apparatus, the optical pickup apparatus is supported in a state where the objective lens 5 is opposed to the signal recording surface of the magneto-optical disk 101 held on the disk table. The optical pickup device can be moved in the direction of contact with and away from the spindle motor over the inner and outer circumferences of the magneto-optical disk 101.
[0093]
In this recording / reproducing apparatus, the control means controls the optical pickup device and the spindle motor, and performs signal processing and calculation on each signal output from the optical pickup device, thereby the magneto-optical device. Information signals can be recorded on and reproduced from the disc 101.
[0094]
【The invention's effect】
As described above, the optical pickup device and the recording / reproducing device according to the present invention are:Since the distribution of the polarization direction of the polarization component of the luminous flux before and after reflection reflected by the reflecting means is suppressed, after being reflected by the reflecting means,The objective lens can be favorably focused on the signal recording surface of the optical recording medium. Also, the light beam reflected by the signal recording surface can be detected in a good state by the photodetector through the reflection surface.
[0095]
That is, the present invention can reduce the size and the number of component parts by adopting a configuration in which a light beam emitted from a semiconductor laser used as a light source is incident on a reflection mirror in a divergent light beam state, and It is possible to provide an optical pickup device that can accurately write and read information signals to and from an optical recording medium.
[0096]
Furthermore, the present invention can provide a recording / reproducing apparatus having good recording / reproducing characteristics by including the optical pickup device as described above.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a configuration of an optical system of an optical pickup device according to the present invention.
FIG. 2 is a side view showing a configuration of a main part of an optical system of the optical pickup device, partly broken away.
FIG. 3 δ on the reflecting surface_PIt is a side view which shows reflection of the state of = 0.
FIG. 4 is δ on the reflecting surface._PIt is a side view which shows reflection of the state of = (pi).
FIG. 5 δ on the reflecting surface_SIt is a side view which shows reflection of the state of = 0.
FIG. 6 δ on the reflecting surface_SIt is a side view which shows reflection of the state of = (pi).
FIG. 7 is a cross-sectional view of a light beam showing a polarization direction of a diffuse light beam incident on a reflecting surface in the optical pickup device.
FIG. 8 is a cross-sectional view of a light beam obtained by decomposing a polarization direction of a diffused light beam incident on a reflecting surface into a P-polarized component and an S-polarized component in the optical pickup device.
FIG. 9 is a cross-sectional view of the light beam showing the P-polarization direction and the S-polarization direction on the reflection surface of the diffused light beam incident on the reflection surface in the optical pickup device.
FIG. 10 shows a δ in the optical pickup device._PSFIG. 4 is a cross-sectional view of a light beam indicating a polarization direction of a diffused light beam reflected by a reflection surface of π.
FIG. 11 illustrates a δ in the optical pickup device._PSIt is sectional drawing of this light beam which shows the polarization direction of the diffused light beam reflected by the reflective surface of = 0.
FIG. 12 is a cross-sectional view showing a configuration of two mutually parallel reflecting surfaces constituting the optical pickup device.
FIG. 13 shows the diffused light beam incident on one of two parallel reflecting surfaces in the optical pickup device and the light beam indicating the polarization direction of the diffused light beam after being reflected on both of the two parallel reflecting surfaces. FIG.
FIG. 14 shows one of two mutually parallel reflecting surfaces (δ_PS= 0) is a cross-sectional view of the light beam indicating the polarization direction of the diffused light beam reflected by 0).
FIG. 15 is a cross-sectional view showing a configuration of two non-parallel reflecting surfaces constituting the optical pickup device.
FIG. 16 shows two reflection surfaces (δ) that are not parallel to each other in the optical pickup device._PS= 0) is a cross-sectional view of the light beam showing the polarization direction of the diffused light beam after being reflected by both.
FIG. 17 shows two non-parallel reflecting surfaces (δ_PSIt is a graph which shows the change of the polarization direction of the diffused light beam after being reflected by = 0.
FIG. 18 is a perspective view showing a configuration of a reflecting surface of the optical pickup device.
FIG. 19 is a longitudinal sectional view showing another example of the configuration of the optical pickup device according to the present invention.
FIG. 20 is a plan view showing a configuration of an optical system of a conventional optical pickup device.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor laser, 2 Beam splitter, 4 Reflecting mirror, 5 Objective lens, 8 Optical detector, 101 Optical disk, 102 Transparent substrate, 103 Signal recording layer, X, X₁, X₂ Reflective surface

Claims

A light source that emits a linearly polarized divergent beam;
Reflecting means having a reflecting surface for reflecting the divergent light beam emitted from the light source and deflecting the light beam direction of the divergent light beam;
A diverging light beam that has passed through the reflecting surface is incident, and a light condensing unit that condenses the light beam on the signal recording surface of the optical recording medium;
A photodetector for detecting a reflected light beam from the signal recording surface of the light beam collected on the signal recording surface by the light collecting means;
An optical pickup device characterized in that the reflecting means varies the absolute phase of the P-polarized component by π with respect to the absolute phase of the S-polarized component to suppress the distribution of the polarization direction of the polarized component before and after reflection .

A light source that emits a linearly polarized divergent beam;
Reflecting means having two reflecting surfaces parallel to each other for reflecting the divergent light beam emitted from the light source and deflecting the light beam direction of the divergent light beam,
A diverging light beam that has passed through each of the reflecting surfaces is incident, and a condensing unit that condenses the light beam on the signal recording surface of the optical recording medium;
A light detector for detecting a light beam reflected by the signal recording surface of the light beam condensed on the signal recording surface by the light collecting means;
An optical pickup device characterized in that the reflection means is configured such that the absolute phase shift of the P-polarized component is 0 with respect to the absolute phase of the S-polarized component, and the distribution of the polarization direction of the polarized component before and after reflection is suppressed .

A medium holding mechanism for holding an optical recording medium;
A light source that emits a linearly polarized divergent beam;
Reflecting means having a reflecting surface for reflecting the divergent light beam emitted from the light source and deflecting the light beam direction of the divergent light beam;
A diverging light beam that has passed through the reflecting surface is incident, and a light condensing unit that condenses the light beam on the signal recording surface of the optical recording medium;
A photodetector for detecting a reflected light beam from the signal recording surface of the light beam collected on the signal recording surface by the light collecting means;
The recording / reproducing apparatus characterized in that the reflecting means makes the absolute phase of the P-polarized component different from the absolute phase of the S-polarized component by π, thereby suppressing the distribution of the polarization direction of the polarized component before and after reflection .

A medium holding mechanism for holding an optical recording medium;
A light source that emits a linearly polarized divergent beam;
Reflecting means having two reflecting surfaces parallel to each other for reflecting the divergent light beam emitted from the light source and deflecting the light beam direction of the divergent light beam,
A diverging light beam that has passed through each of the reflecting surfaces is incident, and a condensing unit that condenses the light beam on the signal recording surface of the optical recording medium;
A light detector for detecting a light beam reflected by the signal recording surface of the light beam condensed on the signal recording surface by the light collecting means;
The recording means is characterized in that the absolute phase shift of the P-polarized component is zero with respect to the absolute phase of the S-polarized component, and the polarization direction distribution of the polarized component before and after reflection is suppressed. Playback device.