JP3685953B2 - Magnetic disk writing / reading circuit - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、磁気ディスク書込/読出回路に関し、詳しくは、磁気ディスクテスタあるいは磁気ヘッドテスタにおいて使用される磁気ディスクに対してMRヘッドを用いる書込/読出回路おいて、磁気ヘッド、特にMRヘッド、GMRヘッド等の読出信号のS/N比を向上させることができるような磁気ディスク書込/読出回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
ハードディスク装置の磁気ヘッドとしては、現在では、書込側ヘッドとしてインダクティブヘッド(薄膜ヘッド)が、そして読出側ヘッドとしてMRヘッドが1つのスライダに取り付けられた、いわゆる複合磁気ヘッドが用いられている。さらに最近では、MRヘッドに換えてGRMヘッドが使用されるようになってきている。
そこで、ハード磁気ディスク(以下単にディスク)を検査するディスク検査装置あるいは前記のような磁気ヘッドの検査をする磁気ヘッド検査装置では、同様な磁気ヘッドが用いられるが、磁気ディスクの記録密度の向上とともに、磁気ディスクに対する書込/読出信号の周波数が高くなってきて、その分、S/N比が低下し、検査精度が落ちる問題がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
図3は、書込側のインダクティブヘッド(薄膜ヘッド)による書込電流(図3(a))と、これに対応する磁気ディスクのトラック上の磁化状態(図3(b))、そして薄膜ヘッドあるいはMRヘッドが磁気ディスクのトラックから書込データを読出したときの読出信号の波形(図3(c))、さらにノイズが重畳した読出信号の波形(図3(d))とを示している。通常は、図3(d)の状態となり、記録再生周波数が高くなればなるほど読出信号の波形に乗るノイズの影響が大きくなる。その上、読出信号の電圧レベルも低くなるので、精度の高い検査が難しくなる。
また、最近では、検査の効率化を図るために、1つの検査装置で多数の磁気ヘッドが用いられ、あるいは、1つの検査テーブルに多数の検査デバイスが並列的に配置されて磁気ディスクあるいは磁気ヘッドの並列的な検査が行われる検査システムが構築されている。このようなシステムの場合には、データ記録時に高い周波数が使用される関係で、周囲にある読出動作中(再生中)のMRヘッド、GMRヘッドにノイズを誘起させ、それが検査に有害になる。この場合、MRヘッド、GMRヘッドなどの再生ヘッドで観測されるノイズは、主として記録周波数の偶数次高調波であることが多く、図3(d)のノイズレベルが大きくなる。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、磁気ヘッド、特にMRヘッド、GMRヘッド等の読出信号のS/N比を向上させることができる磁気ディスク書込/読出回路を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するためのこの発明の磁気ディスク書込/読出回路の特徴は、書込ヘッドと読出ヘッドとが1つのスライダに取り付けられた複合磁気ヘッドに接続される磁気ディスク書込/読出回路において、正相側と逆相側の2つの入力端子を有する読出回路と、2本のコイルの信号が相互に逆相になるようにコアにコイルが巻回された第1のチョークコイルあるいは第1のトランスとを有し、読出回路の2つの入力端子が第1のチョークコイルあるいは第1のトランスに接続され、さらにこれと複合磁気ヘッドの外部配線とを介して読出ヘッドの2端子にそれぞれ接続されて磁気ディスクからの読出信号を読出ヘッドから受け、前記複合磁気ヘッドが前記読出回路に対して前記第1のチョークコイルの前又は後ろ側あるいは前記第1のトランスの前又は後ろ側で着脱可能な接続になっているものである。
【0005】
【発明の実施の形態】
このように、2本のコイルの信号が相互に逆相になるようにコアにコイルが巻回されたチョークコイル(いわゆる、コモンモードチョークコイル)あるいはトランスを介して読出ヘッドから正相と逆相の読出信号を読出回路が入力信号として受けることにより、読出信号に乗るノイズ成分は、2本の信号線に同相成分として乗ることになるのでコアにおいてノイズがキャンセルあるいは抑制される。
その結果、磁気ヘッド、特にMRヘッド、GMRヘッド等の読出信号のS/N比を高くすることができ、精度の高いテストが可能な磁気ディスク検査装置、磁気ヘッド検査装置を実現することができる。
【0006】
【実施例】
図1は、この発明の磁気ディスク書込/読出回路を適用したMRヘッドを有する磁気ディスク検査装置の書込/読出回路を中心としたブロック図、図2は、そのコモンモードチョークコイルの基板搭載の説明図である。
図1において、2は、書込データ作成回路であって、制御装置(図示せず)から指定されたテスト符号に対応してHIGHレベル(以下“H”)とLOWレベル(以下“L”)との間で変化する所定のテストデータを書込データメモリ(図示せず)から読出して書込/読出回路1の書込回路11へと送出する。
3は、磁気ヘッドであって、インダクティブヘッド(薄膜ヘッド)3aとMRヘッド3bとにより構成される。
書込回路11は、Dフリップフロップ(FF)12とプッシュプルあるいは差動のアンプ(AMP)13とから構成され、書込みデータ生成回路2からテストデータをDフリップフロップ12のD端子に受け、書き込み信号をDフリップフロップ12のQ出力、Qバー出力として発生する。そして、プッシュプルのアンプ13がフリップフロップ12のQ出力、Qバー出力(Q出力に対して反転出力側)を差動パルス信号として受けてそれぞれを増幅し、差動出力端子WR+(正相側)、WR−(逆相側)に接続されたコモンモードチョークコイル14を介してインダクティブヘッド(薄膜ヘッド)3aの2端子に正転電流あるいは反転電流を出力する。これにより、インダクティブヘッド3aは、磁気ディスクの所定の検査トラックにテストデータを書込む。
【0007】
一方、読出回路16は、MRヘッド読出回路17と差動アンプ(AMP)18とを有し、MRヘッド読出回路17は、コモンモードチョークコイル15を介してMRヘッド3bにバイアス電流を供給してMRヘッド3bから正相と逆相の検出信号(読出信号)を差動入力端子RD+(正相側),RD−(逆相側)に受けて正相と逆相の2つの差動読出信号(アナログ信号)を発生する。差動アンプ18は、この正相と逆相の差動読出信号を受けてそれぞれに増幅して正相と逆相の出力を発生する。正相と逆相の出力は、ローパスフィルタ(LPF)4を介して欠陥検出回路5に加えられ、その正相出力が正側のピーク追従型欠陥検出回路に、その逆相の出力が負側のピーク追従型欠陥検出回路にそれぞれ加えられて磁気ディスクの欠陥検出が行われる。
【0008】
コモンモードチョークコイル14,15は、図1に示すように、それぞれ2本のコイルを相互に逆方向にフェライトコア(鉄心等)に巻回したものであって、いわゆる、入力に対して逆相出力のトランスに等価の巻線を持つ。それぞれのコイル14a、14bとコイル15a、15bとがそれぞれにその巻回方向が逆になることから同相で信号に乗るノイズ成分は、コア上で打ち消し合ってノイズがキャンセルあるいは抑制され、相互に逆相成分の信号のみが出力側に現れる。その結果、まず、書込信号に重畳するノイズが抑制され、読出信号のノイズも抑制されて実質的に図3(c)に近い波形の読出信号を得ることができる。
【0009】
図2は、コモンモードチョークコイル14,15の基板搭載の説明図である。20は、磁気ヘッドアッセンブリであって、サスペッンションスプリング21を介して磁気ヘッド3をその先端側に支持しており、サスペッンションスプリング21の後端は、ヘッドキャリッジの支持アームに取り付けられる。サスペッンションスプリング21の表面に沿ってインダクティブヘッド3aとMRヘッド3bとにそれぞれ2本の配線(図示せず)が走っていて、図1に示す状態で前記の各ヘッドに配線接続がなされている。
22、23は、そのそれぞれの2本の配線を外部へ取り出す外部配線であり、外部配線22,23の磁気ヘッドアッセンブリ20側でない先端側にはパドルコネクタ25,26が設けられていて、さらに、このコネクタ付きパドル30(櫂あるいは駒の形態)が設けられ、これには、コモンモードチョークコイル14(14a、14b),コモンモードチョークコイル15(15a、15b)が搭載されている。
【0010】
29は、基板であって、書込/読出回路1が集積化されたIC24が搭載されている。この基板29のIC24に対応する周辺部には雄型のコネクタ27,28が設けられ、これらに対してパドル30の先端裏面側には点線で示すように、雌型の2端子のコネクタ25,26が設けられている。これら雌型2端子のコネクタ25,26のそれぞれの2端子が雄型コネクタ27,28にそれぞれの2端子に挿着されて磁気ヘッドアッセンブリ20と書込/読出回路1とが接続される。これにより書込/読出回路1の書込回路11の2本の出力線と、読出回路16の2本の入力線とが接続されることになる。
このように、パドル30にコモンモードチョークコイル14,15を搭載することにより既存の基板において書込/読出回路1の入出力端子の近傍にコモンモードチョークコイル14,15を配置することができる。
また、磁気ヘッドテスタなどにあっては、磁気ヘッドアッセンブリ20は、外部配線22,23との間で端子接触させることも多く行われるので、前記のような構成を採ることで、コモンモードチョークコイル14,15を含めて磁気ヘッドアッセンブリ20としての部品等の交換が容易になる。
なお、直接基板29にコモンモードチョークコイル14,15を搭載するときには、基板29側に点線で示すように、IC24と雄型2端子のコネクタ27,28との間にコモンモードチョークコイル14,15を配置して雌型2端子のコネクタ25,26を外部配線22、23の2本の配線にそれぞれの2本の配線を圧着接続するようにすればよい。
【0011】
実施例では、磁気ヘッドに対して書込回路の出力側と読出回路の入力側とにコモンモードチョークコイルを挿入しているが、これは、少なくとも読出回路側にコモンモードチョークコイルを挿入すればよく、必ずしも両者に挿入する必要はない。
また、図1に示したコイルとコアの関係からしてコモンモードチョークコイルに換えてトランスを使用してもよいことはもちろんである。
さらに、実施例では、磁気ディスクの検査装置の例を示しているが、この発明は、磁気ヘッドの検査装置に適用できることはもちろんである。
【0012】
【発明の効果】
以上の説明のとおり、この発明にあっては、2本のコイルの信号が相互に逆相になるようにコアにコイルが巻回されたチョークコイルあるいはトランスを介して読出ヘッドから正相と逆相の読出信号を読出回路が入力信号として受けることにより、読出信号に乗るノイズ成分は、2本の信号線に同相成分として乗ることになるのでコアにおいてノイズがキャンセルあるいは抑制される。
その結果、磁気ヘッド、特にMRヘッド、GMRヘッド等の読出信号のS/N比を高くすることができ、精度の高いテストが可能な磁気ディスク検査装置、磁気ヘッド検査装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、この発明の磁気ディスク書込/読出回路を適用したRMヘッドを有する検査装置の書込/読出回路を中心としたブロック図である。
【図2】図2は、そのコモンモードチョークコイルの基板搭載の説明図である。
【図3】図3は、書込/読出回路の書込信号、読出信号等の説明図である。
【符号の説明】
1…書込/読出回路、2…書込データ作成回路、
3…磁気ヘッド、3a…インダクティブヘッド(薄膜ヘッド)、
3b…MRヘッド、4…ローパスフィルタ(LPF)、
5…欠陥検出回路、11…書込回路、12…フリップフロップ、
13…プッシュプルアンプ、
14,15…コモンモードチョークコイル、
16…読出回路、17…MRヘッド読出回路、
20…磁気ヘッドアッセンブリ、
21…サスペッンションスプリング、
22,23…外部配線、25,26…雌型コネクタ、
27、28…雄型コネクタ、
29…基板、30…パドル。[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a magnetic disk write / read circuit, and more particularly to a magnetic head, particularly an MR head, in a write / read circuit using an MR head for a magnetic disk used in a magnetic disk tester or a magnetic head tester. The present invention relates to a magnetic disk write / read circuit capable of improving the S / N ratio of a read signal of a GMR head or the like.
[0002]
[Prior art]
As a magnetic head of a hard disk device, a so-called composite magnetic head in which an inductive head (thin film head) is attached as a writing head and an MR head is attached to a slider as a reading head is currently used. More recently, GRM heads have been used in place of MR heads.
Therefore, in a disk inspection apparatus for inspecting a hard magnetic disk (hereinafter simply referred to as a disk) or a magnetic head inspection apparatus for inspecting a magnetic head as described above, a similar magnetic head is used, but with an increase in recording density of the magnetic disk. However, the frequency of the write / read signal with respect to the magnetic disk is increased, and there is a problem that the S / N ratio is lowered correspondingly and the inspection accuracy is lowered.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
FIG. 3 shows a write current (FIG. 3A) by an inductive head (thin film head) on the write side, a magnetization state on a track of the magnetic disk corresponding to this (FIG. 3B), and a thin film head. Alternatively, the waveform of the read signal when the MR head reads the write data from the track of the magnetic disk (FIG. 3C) and the waveform of the read signal superimposed with noise (FIG. 3D) are shown. . Normally, the state shown in FIG. 3D is obtained, and the higher the recording / reproducing frequency, the greater the influence of noise on the read signal waveform. In addition, since the voltage level of the read signal is also lowered, it is difficult to perform highly accurate inspection.
Recently, in order to increase the efficiency of inspection, a large number of magnetic heads are used in one inspection apparatus, or a large number of inspection devices are arranged in parallel on a single inspection table so that a magnetic disk or a magnetic head is used. An inspection system that performs parallel inspection is constructed. In such a system, since a high frequency is used at the time of data recording, noise is induced in the surrounding MR head and GMR head during a read operation (playback), which is harmful to the inspection. . In this case, the noise observed by a reproducing head such as an MR head or a GMR head is often an even-order harmonic of the recording frequency, and the noise level shown in FIG.
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve such problems of the prior art, and to write on a magnetic disk capable of improving the S / N ratio of a read signal of a magnetic head, particularly an MR head, a GMR head, etc. / To provide a readout circuit.
[0004]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve such an object, the magnetic disk writing / reading circuit according to the present invention is characterized in that the writing head and the reading head are connected to a composite magnetic head attached to one slider. In the readout circuit, a readout circuit having two input terminals on the positive phase side and the negative phase side, and a first choke coil in which the coil is wound around the core so that the signals of the two coils are in opposite phases to each other Alternatively, a first transformer is provided, and two input terminals of the read circuit are connected to the first choke coil or the first transformer, and further , two terminals of the read head via this and the external wiring of the composite magnetic head Are connected to each other to receive a read signal from the magnetic disk from the read head, and the composite magnetic head is located before or behind the first choke coil with respect to the read circuit or the first It is a detachable connection on the front or rear side of one transformer .
[0005]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
In this way, the read phase is reversed from the normal phase through the choke coil (so-called common mode choke coil) in which the coil is wound around the core or the transformer so that the signals of the two coils are out of phase with each other. When the read circuit receives the read signal as an input signal, the noise component riding on the read signal is carried on the two signal lines as the in-phase component, so that the noise is canceled or suppressed in the core.
As a result, it is possible to increase the S / N ratio of read signals of magnetic heads, particularly MR heads, GMR heads, etc., and to realize a magnetic disk inspection device and magnetic head inspection device capable of performing a highly accurate test. .
[0006]
【Example】
FIG. 1 is a block diagram centering on a writing / reading circuit of a magnetic disk inspection apparatus having an MR head to which the magnetic disk writing / reading circuit of the present invention is applied, and FIG. 2 is a substrate mounting of the common mode choke coil. It is explanatory drawing of.
In FIG. 1,
A
The
[0007]
On the other hand, the
[0008]
As shown in FIG. 1, each of the common
[0009]
FIG. 2 is an explanatory diagram of mounting the common
22 and 23 are external wirings for taking out each of the two wirings to the outside, and paddle
[0010]
As described above, by mounting the common mode choke coils 14 and 15 on the
In a magnetic head tester or the like, since the
When the common mode choke coils 14 and 15 are directly mounted on the
[0011]
In the embodiment, the common mode choke coil is inserted on the output side of the write circuit and the input side of the read circuit with respect to the magnetic head, but this is at least if the common mode choke coil is inserted on the read circuit side. Well, it is not necessary to insert in both.
Of course, a transformer may be used instead of the common mode choke coil in view of the relationship between the coil and the core shown in FIG.
Further, in the embodiment, an example of a magnetic disk inspection apparatus is shown, but the present invention is of course applicable to a magnetic head inspection apparatus.
[0012]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the read head is reversed from the normal phase via the choke coil or the transformer wound around the core so that the signals of the two coils are in opposite phases. When the readout circuit receives the phase readout signal as an input signal, the noise component on the readout signal is on the two signal lines as the in-phase component, so that the noise is canceled or suppressed in the core.
As a result, it is possible to increase the S / N ratio of read signals of magnetic heads, particularly MR heads, GMR heads, etc., and to realize a magnetic disk inspection device and magnetic head inspection device capable of performing a highly accurate test. .
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram centering on a write / read circuit of an inspection apparatus having an RM head to which a magnetic disk write / read circuit of the present invention is applied;
FIG. 2 is an explanatory diagram of mounting the common mode choke coil on a substrate.
FIG. 3 is an explanatory diagram of a write signal, a read signal, and the like of a write / read circuit.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Write / read circuit, 2 ... Write data creation circuit,
3 ... Magnetic head, 3a ... Inductive head (thin film head),
3b ... MR head, 4 ... low pass filter (LPF),
5 ... Defect detection circuit, 11 ... Write circuit, 12 ... Flip-flop,
13. Push-pull amplifier,
14, 15 ... Common mode choke coil,
16 ... Read circuit, 17 ... MR head read circuit,
20 ... Magnetic head assembly,
21 ... Suspension spring,
22, 23 ... external wiring, 25, 26 ... female connector,
27, 28 ... male connector,
29 ... substrate, 30 ... paddle.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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1999
- 1999-05-20 JP JP13998999A patent/JP3685953B2/en not_active Expired - Lifetime
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