JP3656782B2 - Optical disk evaluation apparatus and optical disk evaluation method - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクの評価装置及び光ディスクの評価方法に関し、例えばコンパクトディスクの評価に適用して、再生信号の信号レベルが所定の基準レベルを横切るタイミングを時間計測し、記録のパターン毎に時間計測結果集計することにより、光ディスクを簡易かつ詳細に評価することができるようにする。
【0002】
【従来の技術】
従来、コンパクトディスクにおいては、射出成形、2P法等の作成手法により、スタンパに形成された微小の凹凸を転写してディスク状基板を形成した後、このディスク状基板に光反射膜等を形成して作成されるようになされている。
【0003】
すなわちコンパクトディスクの製造工程は、記録に供するデータをデータ処理した後、EFM(Eight-to-Fourteen Modulation)変調することにより、所定の基本周期Tに対して、周期3T〜11Tで信号レベルが変化する変調信号を生成し、この変調信号によりディスク原盤を露光する。続いて製造工程は、このディスク原盤を現像した後、電鋳処理してメタルマスクを作成する。さらに製造工程は、このメタルマスクより複数のマザーディスクを作成し、さらに各マザーディスクより複数のスタンパを作成する。
【0004】
射出成形の手法によりコンパクトディスクを製造する場合、コンパクトディスクの製造工程は、このスタンパを含む金型を射出成形機にセットし、この金型によりポリカーボネート等の透明樹脂を射出成形する。これにより製造工程は、スタンパに形成された微小の凹凸を転写してなるディスク状基板を作成した後、このディスク状基板に光反射膜、保護膜等を形成してコンパクトディスクを作成する。
【0005】
これに対して2P法の作成手法によりコンパクトディスクを製造する場合、コンパクトディスクの製造工程は、スタンパ上に形成した一定厚さの空間に紫外線硬化樹脂を充填した後、この紫外線硬化樹脂を硬化させ、その後スタンパより取り外してディスク状基板を作成する。その後製造工程は、射出成形による場合と同様にこのディスク状基板を処理してコンパクトディスクを作成する。
【0006】
このようにして作成されることにより、コンパクトディスクは、射出成形時における圧力、温度等の条件により、また2P法による場合は、紫外線硬化樹脂を充填する際の圧力等によりピットの形状が微妙に変化する。また同様に、露光時におけるレーザービームの強度、温度等の製造時の条件によって、メタルマスクにおけるピットの形状、さらにはこのメタルマスクより作成したマザーディスク、スタンパにおいても種々の条件によりピットの形状が変化する。
【0007】
このようなピット形状の変化は、再生時、再生信号のジッタ、アシンメトリーの変化として観察され、コンパクトディスクは、これらジッタ、アシンメトリーが著しく劣化すると、記録されたデータを正しく再生することが困難になる。
【0008】
このため従来の製造工程は、コンパクトディスクを再生して、ジッタ、アシンメトリーを測定することにより、製造工程における各種の条件を収束させるようになされていた。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところがこのようなジッタ、アシンメトリーの測定においては、コンパクトディスクのピット形状を総合的に判断するものである。すなわちこのような測定は、コンパクトディスクに形成される周期3T〜11Tのピットについて、変形の程度を平均化して評価するものである。
【0010】
このようなピット形状を簡易かつ詳細に評価することができれば、この種の製造工程における各種の条件を迅速かつ確実に収束させることができると考えられる。
【0011】
この問題を解決する1つの方法として、電子顕微鏡等によりピットを拡大して観察する方法が考えられるが、評価に時間を要する問題がある。
【0012】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、光ディスクを簡易かつ詳細に評価することができる光ディスクの評価装置及び光ディスクの評価方法を提案しようとするものである。
【0013】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため本発明においては、クロックを基準にして、再生信号の信号レベルが所定の基準レベルを横切るタイミングを時間計測することにより、前記光ディスクに形成されたピットについて、前記クロックのタイミングを基準にしてエッジの位置ずれを検出して位置ずれ検出結果を得、ピットの長さ毎に、このエッジの位置ずれ検出結果を分類して集計する。
【0014】
クロックを基準にして、再生信号の信号レベルが所定の基準レベルを横切るタイミングを時間計測することにより、前記光ディスクに形成されたピットについて、前記クロックのタイミングを基準にしてエッジの位置ずれを検出して位置ずれ検出結果を得るようにすれば、再生信号を2値化した2値化信号におけるエッジのタイミングを測定することができる。これによりピットの長さ毎に、このエッジの位置ずれ検出結果を分類して集計すれば、記録のパターンでなるピット長に応じてエッジのタイミングを集計することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。
【0016】
(1)第1の実施の形態
図1は、本発明の実施の形態に係る光ディスク評価装置を示すブロック図であり、この光ディスク評価装置1は、コンパクトディスク3に形成されたピットについて、エッジの位置ずれを測定することにより、このコンパクトディスク3のピット形状を評価する。
【0017】
すなわちこの光ディスク評価装置1において、コンパクトディスクプレイヤー(CDプレイヤー)2は、コンピュータ4により制御されて動作を切り換え、コンパクトディスク3を再生する。このときコンパクトディスクプレイヤー(CDプレイヤー)2は、コンパクトディスク3にレーザービームを照射し、その結果得られる戻り光の光量に応じて信号レベルが変化する再生信号RFを出力する。
【0018】
ディジタルオシロスコープ5は、コンピュータ4により制御されて動作を切り換え、チャンネルクロックの20倍のサンプリング周波数でこの再生信号RFをアナログディジタル変換処理し、その結果得られるディジタル信号をコンピュータ4に出力する。
【0019】
コンピュータ4は、ディジタルオシロスコープ5の動作を制御すると共に、ディジタルオシロスコープ5より出力されるディジタル信号を信号処理し、これによりコンパクトディスク3の評価結果をプリンタ6に出力する。
【0020】
図2は、このコンピュータ4における処理手順を示すフローチャートである。この処理手順において、コンピュータ4は、ステップSP1からステップSP2に移り、エッジ位置ずれ検出結果Δr(p,b)、エッジ位置ずれ計測回数n(p,b)を値0にセットする。ここでコンピュータ4は、コンパクトディスク3に形成されるピット長p、ピット間隔bの組合せ毎に、エッジ位置ずれ検出結果Δr(p,b)を算出し、またエッジ位置ずれ計測回数n(p,b)をカウントする。このためコンピュータ4は、ステップSP2において、これら全てのエッジ位置ずれ検出結果Δr(p,b)、エッジ位置ずれ計測回数n(p,b)を初期値にセットする。
【0021】
続いてコンピュータ4は、ステップSP3に移り、ディジタルオシロスコープ5より出力されるディジタル信号を所定のスライスレベルと順次比較することにより、再生信号RFを2値化してなるディジタル2値化信号を生成する。なおコンピュータ4は、この処理において、スライスレベル以上が値1、スライスレベルに満たない部分では値0となるように、ディジタル信号を2値化する。
【0022】
続いてコンピュータ4は、ステップSP4に移り、このディジタル信号でなる2値化信号より再生クロックを生成する。ここでコンピュータ4は、2値化信号を基準にして演算処理によりPLL回路の動作をシュミレーションし、これにより再生クロック(チャンネルクロックでなる)を生成する。
【0023】
さらにコンピュータ4は、続くステップSP5において、この再生クロックの各立ち下がりエッジのタイミングで2値化信号をサンプリングし、これによりEFM信号を復号する(以下復号したこのEFM信号をEFM復号信号と呼ぶ)。
【0024】
続いてコンピュータ4は、ステップSP6に移り、2値化信号の立ち上がりエッジの時点から、このエッジに最も近接した再生クロックの立ち下がりの時点までの時間差eを検出し、これによりこのエッジにおけるエッジの位置ずれを時間計測する。続いてコンピュータ4は、ステップSP7において、ステップSP6で時間計測したエッジについて、EFM復号信号より前後のピット長p及びピット間隔bを検出する。
【0025】
コンピュータ4は、続いてステップSP8において、前後のピット長p及びピット間隔bに対応するエッジ位置ずれ検出結果Δr(p,b)に対して、ステップSP6において検出した時間差eを加算し、また対応するエッジ位置ずれ計測回数n(p,b)を値1だけインクリメントする。続いてコンピュータ4は、ステップSP9に移り、全ての立ち上がりエッジについて、時間計測を完了したか否か判断し、ここで否定結果が得られると、ステップSP5に戻る。
【0026】
これによりコンピュータ4は、ステップSP5−SP6−SP7−SP8−SP9−SP5の処理手順を繰り返し、再生信号RFに表れる変化パターン毎に、時間計測したエッジ位置ずれ検出結果を累積加算し、また加算数をカウントする。
【0027】
このようにして全てのエッジについて、位置ずれの時間計測を完了すると、コンピュータ4は、ステップSP9において肯定結果が得られることにより、ステップSP10に移り、ここで再生信号RFに表れる変化パターン毎に(すなわち前後のピット長p及びピット間隔b毎に)、時間計測したエッジ位置ずれ検出結果を平均値化する。すなわちステップSP6において検出される位置ずれにおいては、ノイズの影響を受けていることにより、コンピュータ4は、このようにしてエッジ位置ずれ検出結果を平均値化して位置ずれの測定精度を向上する。
【0028】
コンピュータ4は、このようにして再生信号RFに表れる変化パターン毎にエッジ位置ずれ検出結果を平均値化すると、続いてステップSP11に移り、ピット長p毎に、この検出結果をさらに平均値化する。続いてコンピュータ4は、ステップSP11に移り、この検出結果をプリンタ6より出力する。ここでコンピュータ4は、図3に示すように、各ピット長毎に、エッジ位置ずれを棒グラフ状に表示する。なおこの棒グラフにおいては、図4に示すように、2値化信号S2のパルス幅が拡大する方向を正方向に設定する。
【0029】
このようにして立ち上がりエッジについて、位置ずれを検出すると、コンピュータ4は、ステップSP13に移り、この処理手順を終了する。続いてコンピュータ4は、立ち下がりエッジについて、同様にして位置ずれ検出処理を実行し、図5に示すように、検出結果を出力する。なおこの図5においても、図6に示すように、コンピュータ4は、立ち上がりエッジの場合と同様に、2値化信号S2のパルス幅が拡大する方向を正方向に設定して検出結果を出力する。
【0030】
またコンピュータ4は、このようにして立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジの双方について、エッジの位置ずれを検出した後、オペレータが出力のモードを切り換えると、各ピット長さ毎に、立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジの位置ずれを加算して図7に示すように表示する。
【0031】
かくするにつき、このようにして位置ずれが検出され2値化信号のエッジは、コンパクトディスク3に形成されたピットのエッジに対応する。これによりコンピュータ4は、このようにEFM復号信号についてエッジの位置ずれを検出して、再生クロックに対応する記録時の基本周期Tを基準にして、コンパクトディスク3に形成されたピットの変形を、ピット長毎に、前側エッジ及び後ろ側エッジの双方についてそれぞれ測定することになる。
【0032】
以上の構成において、コンパクトディスク3(図1)は、基本周期Tの整数倍の周期で信号レベルが変化する変調信号によりレーザービームをオンオフ制御してディスク原盤が順次露光されてピットが形成され、このディスク原盤よりメタルマスク、マザーディスク、スタンパが順次作成された後、このスタンパから射出成形、2P法等の作成手法により作成される。この作成時の種々の条件により、コンパクトディスク3は、ピットの形状が変化し、基本周期Tによるタイミングに比して前エッジ及び後ろエッジの位置が変化して形成される。
【0033】
このようにして作成されるコンパクトディスク3は、コンパクトディスクプレイヤー2で再生されて、戻り光の光量に応じて信号レベルが変化する再生信号RFが生成され、この再生信号RFがディジタルオシロスコープ5によりディジタル信号に変換される。コンパクトディスク3は、コンピュータ4において、所定の基準レベルでなるスライスレベルによりディジタル信号が2値化されて2値化信号が生成され、さらにこの2値化信号より再生クロックが再生される。さらにコンパクトディスク3は、再生クロックにより2値化信号をラッチしてEFM復号信号が生成される。
【0034】
さらにコンパクトディスク3は、2値化信号の各エッジ毎に、EFM復号信号より前後のピット及びランドが検出されてEFM信号の変化パターンが検出され、各変化パターン毎に、再生クロックに対する各エッジの位置ずれが、ピット形状の拡大する方向を正側に設定して時間計測される。
【0035】
さらにこれら時間計測結果が各変化パターン毎に平均値化された後、ピット長、立ち上がりエッジ、立ち下がりエッジ毎に分類されて平均化され、この平均値化された測定結果がプリンタ6より出力される。これによりこのコンパクトディスク3においては、従来に比して、簡易かつ詳細に、ピットの変形を評価することができ、これにより例えば射出成形の圧力、温度等を補正して製造工程の条件を短時間で収束させることができる。
【0036】
以上の構成によれば、再生クロックを基準にして、再生信号の信号レベルが所定の基準レベルを横切るタイミングを時間計測し、ピット長、立ち上がりエッジ、立ち下がりエッジ毎に分類して時間計測結果を集計したことにより、簡易かつ詳細に、コンパクトディスク上に形成されたピットの形状を評価することができる。これによりコンパクトディスクの製造工程に適用して、製造時の条件を短時間で収束させることができる。
【0037】
(2)第2の実施の形態
図8は、第2の実施の形態に係るコンパクトディスクの評価工程を示す工程図である。この評価工程においては、2P法で作成したコンパクトディスク11Aと、射出成形法により作成したコンパクトディスク11Bとを評価し、その評価結果を比較することによりこれら2つの製造工程の差異を評価する。
【0038】
すなわちこの評価工程においては、図1について上述した光ディスク評価装置1により、2P法で作成したコンパクトディスク11Aと、射出成形法により作成したコンパクトディスク11Bとについて、それぞれピット長毎にエッジ位置ずれを検出する。さらにこの検出結果12A及び12B間で、各ピット長毎に、エッジ位置ずれ量を減算することにより、検出結果12A及び12B間の比較結果13を得、この比較結果をプリンタ6より出力する。
【0039】
図8に示す構成によれば、2P法の製造工程と、射出成形法による製造工程との差異を、簡易かつ詳細に検出することができ、これら製造工程間の差異による製造ばらつきを簡易かつ速やかに収束させることができる。
【0040】
(3)他の実施の形態
なお上述の実施の形態においては、再生信号より2値化信号を生成し、再生クロックを基準にしてこの2値化信号のエッジのタイミングを検出する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、再生信号の信号レベルが2値化信号生成のしきい値を横切るタイミングを直接測定して、エッジの位置ずれを測定してもよい。
【0041】
さらに上述の実施の形態においては、コンピュータにおける演算処理により、2値化信号、再生クロック、EFM復号信号を生成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばコンパクトディスクプレイヤー2の内部処理に使用されるこれらの信号を利用してもよく、さらには専用の信号処理回路を構成してもよい。
【0042】
また上述の実施の形態においては、単にピット形状をピット長毎に評価する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばコンパクトディスク3を内周側領域、外周側領域に分割して、各領域毎に、ピット形状をピット長毎に評価してもよい。このようにすれば射出成形時における樹脂の流れについても、詳細な評価基準を得ることができる。
【0043】
さらに上述の実施の形態においては、コンパクトディスクを評価する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、メタルマスク等の評価に利用してもよい。
【0044】
さらに上述の実施の形態においては、本発明に係るディスク評価装置をコンパクトディスクの製造工程に適用して、コンパクトディスクを評価する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば光ディスク装置により記録された種々の光ディスクの評価に利用して、これら光ディスク装置の記録の特性を評価することができる。
【0045】
また上述の実施の形態においては、本発明をコンパクトディスクの評価に適用した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ピット、マークにより種々のデータを記録する光ディスク装置の評価に広く適用することができる。因みに、再生信号の過渡応答特性の相違により種々のデータを多値記録するようになされた光ディスク装置にも広く適用することができる。
【0046】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、再生信号の信号レベルが所定の基準レベルを横切るタイミングを、クロックを基準にして時間計測し、時間計測結果を記録のパターン毎に集計することにより、光ディスクを簡易かつ詳細に評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る光ディスク評価装置を示すブロック図である。
【図2】図1の光ディスク評価装置におけるコンピュータの処理手順を示すフローチャートである。
【図3】図1の光ディスク評価装置による測定結果の出力を示す特性曲線図である。
【図4】図3の測定結果における極性を示す信号波形図である。
【図5】図3に対応して示す立ち下がりエッジの測定結果の出力を示す特性曲線図である。
【図6】図5の測定結果における極性を示す信号波形図である。
【図7】立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジの測定結果を総合した、測定結果の出力を示す特性曲線図である。
【図8】本発明の第2の実施の形態に係る光ディスクの評価工程を示す工程図である。
【符号の説明】
1……光ディスク評価装置、2……コンパクトディスクプレイヤー、3、11A、11B……コンパクトディスク、4……コンピュータ、5……ディジタルオシロスコープ、6……プリンタ
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical disk evaluation apparatus and an optical disk evaluation method, and is applied to evaluation of a compact disk, for example, to measure the timing at which the signal level of a reproduction signal crosses a predetermined reference level, and to measure time for each recording pattern By collecting the results, the optical disk can be evaluated easily and in detail.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, in a compact disk, a disk-shaped substrate is formed by transferring minute irregularities formed on a stamper by a method such as injection molding, 2P method, etc., and then a light reflecting film or the like is formed on the disk-shaped substrate. To be created.
[0003]
That is, in the manufacturing process of the compact disc, the signal level changes in a period of 3T to 11T with respect to a predetermined basic period T by performing EFM (Eight-to-Fourteen Modulation) modulation after data to be recorded is processed. A modulation signal to be generated is generated, and the disc master is exposed by this modulation signal. Subsequently, in the manufacturing process, after this disc master is developed, electroforming is performed to create a metal mask. Further, in the manufacturing process, a plurality of mother disks are created from the metal mask, and a plurality of stampers are created from the mother disks.
[0004]
When a compact disc is manufactured by an injection molding technique, a compact disc manufacturing process is performed by setting a mold including the stamper in an injection molding machine and injection molding a transparent resin such as polycarbonate using the mold. As a result, the manufacturing process creates a disc-shaped substrate formed by transferring minute irregularities formed on the stamper, and then forms a light reflecting film, a protective film, etc. on the disc-shaped substrate to produce a compact disc.
[0005]
On the other hand, when manufacturing a compact disc by the 2P method, the compact disc manufacturing process involves filling the space of a certain thickness formed on the stamper with an ultraviolet curable resin and then curing the ultraviolet curable resin. Then, it is removed from the stamper and a disk-shaped substrate is created. Thereafter, in the manufacturing process, this disk-shaped substrate is processed in the same manner as in the case of injection molding to produce a compact disk.
[0006]
As a result, the compact disc has a delicate pit shape due to the pressure, temperature, and other conditions during injection molding, and in the case of the 2P method, due to the pressure when filling the ultraviolet curable resin. Change. Similarly, depending on the manufacturing conditions such as the intensity and temperature of the laser beam at the time of exposure, the shape of the pit in the metal mask, and also in the mother disk and stamper made from this metal mask, the shape of the pit depends on various conditions. Change.
[0007]
Such a change in pit shape is observed as a change in jitter and asymmetry of the playback signal during playback. When the jitter and asymmetry of the compact disk deteriorate significantly, it becomes difficult to correctly reproduce the recorded data. .
[0008]
For this reason, in the conventional manufacturing process, various conditions in the manufacturing process are converged by reproducing a compact disc and measuring jitter and asymmetry.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
However, in such jitter and asymmetry measurements, the pit shape of the compact disc is comprehensively determined. That is, such measurement is performed by averaging the degree of deformation of pits having a period of 3T to 11T formed on a compact disc.
[0010]
If such a pit shape can be evaluated easily and in detail, it is considered that various conditions in this type of manufacturing process can be quickly and reliably converged.
[0011]
As one method for solving this problem, a method of magnifying and observing pits with an electron microscope or the like can be considered, but there is a problem that it takes time for evaluation.
[0012]
The present invention has been made in consideration of the above points, and an object of the present invention is to propose an optical disk evaluation apparatus and an optical disk evaluation method capable of evaluating an optical disk simply and in detail.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve such a problem, in the present invention, the timing of the clock for the pits formed on the optical disc is measured by measuring the timing at which the signal level of the reproduction signal crosses a predetermined reference level with reference to the clock. Edge misregistration is detected to obtain a misregistration detection result, and the edge misregistration detection result is classified and tabulated for each pit length .
[0014]
By measuring the timing at which the signal level of the reproduction signal crosses a predetermined reference level with respect to the clock, the edge position deviation of the pit formed on the optical disc is detected with reference to the clock timing. If the position shift detection result is obtained, the edge timing in the binarized signal obtained by binarizing the reproduction signal can be measured. Accordingly , if the edge displacement detection results are classified and tabulated for each pit length, the edge timing can be tabulated according to the pit length formed by the recording pattern.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings as appropriate.
[0016]
(1) First Embodiment FIG. 1 is a block diagram showing an optical disk evaluation apparatus according to an embodiment of the present invention. This optical disk evaluation apparatus 1 uses an edge for pits formed on a compact disk 3. The pit shape of the compact disc 3 is evaluated by measuring the positional deviation.
[0017]
That is, in this optical disk evaluation apparatus 1, the compact disk player (CD player) 2 is controlled by the computer 4 to switch its operation and reproduce the compact disk 3. At this time, the compact disc player (CD player) 2 irradiates the compact disc 3 with a laser beam, and outputs a reproduction signal RF whose signal level changes according to the amount of return light obtained as a result.
[0018]
The digital oscilloscope 5 is controlled by the computer 4 to switch its operation, performs an analog-digital conversion process on the reproduction signal RF at a sampling frequency 20 times the channel clock, and outputs the resulting digital signal to the computer 4.
[0019]
The computer 4 controls the operation of the digital oscilloscope 5 and processes the digital signal output from the digital oscilloscope 5, thereby outputting the evaluation result of the compact disk 3 to the printer 6.
[0020]
FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure in the computer 4. In this processing procedure, the computer 4 proceeds from step SP1 to step SP2, and sets the edge position deviation detection result Δr (p, b) and the edge position deviation measurement count n (p, b) to the value 0. Here, the computer 4 calculates the edge misalignment detection result Δr (p, b) for each combination of the pit length p and the pit interval b formed on the compact disc 3, and the number n (p, b) is counted. Therefore, in step SP2, the computer 4 sets all these edge position deviation detection results Δr (p, b) and the edge position deviation measurement count n (p, b) to initial values.
[0021]
Subsequently, the computer 4 proceeds to step SP3, and sequentially compares the digital signal output from the digital oscilloscope 5 with a predetermined slice level, thereby generating a digital binarized signal obtained by binarizing the reproduction signal RF. In this process, the computer 4 binarizes the digital signal so that the value above the slice level is 1 and the value 0 is below the slice level.
[0022]
Subsequently, the computer 4 proceeds to step SP4, and generates a reproduction clock from the binarized signal composed of this digital signal. Here, the computer 4 simulates the operation of the PLL circuit by arithmetic processing based on the binarized signal, thereby generating a reproduction clock (made up of a channel clock).
[0023]
Further, in the subsequent step SP5, the computer 4 samples the binarized signal at the timing of each falling edge of the reproduction clock, and thereby decodes the EFM signal (hereinafter, the decoded EFM signal is referred to as an EFM decoded signal). .
[0024]
Subsequently, the computer 4 proceeds to step SP6 to detect a time difference e from the time of the rising edge of the binarized signal to the time of the falling edge of the reproduction clock closest to this edge, and thereby the edge at this edge is detected. Time measurement of displacement. Subsequently, in step SP7, the computer 4 detects the pit length p and the pit interval b before and after the EFM decoded signal for the edge timed in step SP6.
[0025]
Subsequently, in step SP8, the computer 4 adds the time difference e detected in step SP6 to the edge position deviation detection result Δr (p, b) corresponding to the preceding and following pit lengths p and pit intervals b, and responds accordingly. The edge position deviation measurement count n (p, b) to be incremented by 1 is performed. Subsequently, the computer 4 proceeds to step SP9, determines whether or not the time measurement has been completed for all rising edges, and returns a step SP5 when a negative result is obtained.
[0026]
Thereby, the computer 4 repeats the processing procedure of steps SP5-SP6-SP7-SP8-SP9-SP5, and cumulatively adds the time-measured edge position deviation detection results for each change pattern appearing in the reproduction signal RF. Count.
[0027]
When the time measurement of the positional deviation is completed for all the edges in this way, the computer 4 moves to step SP10 when an affirmative result is obtained in step SP9. Here, for each change pattern appearing in the reproduction signal RF ( That is, for each of the front and rear pit lengths p and pit intervals b), the time-measured edge position deviation detection results are averaged. That is, since the positional deviation detected in step SP6 is affected by noise, the computer 4 averages the edge positional deviation detection results in this way and improves the positional deviation measurement accuracy.
[0028]
After the computer 4 averages the edge position deviation detection result for each change pattern appearing in the reproduction signal RF in this way, the computer 4 proceeds to step SP11 and further averages the detection result for each pit length p. . Subsequently, the computer 4 proceeds to step SP11 and outputs the detection result from the printer 6. Here, as shown in FIG. 3, the computer 4 displays the edge position deviation in a bar graph form for each pit length. In this bar graph, as shown in FIG. 4, the direction in which the pulse width of the binarized signal S2 increases is set to the positive direction.
[0029]
When the positional deviation is detected with respect to the rising edge in this way, the computer 4 proceeds to step SP13 and ends this processing procedure. Subsequently, the computer 4 similarly performs a positional deviation detection process for the falling edge, and outputs a detection result as shown in FIG. In FIG. 5 as well, as shown in FIG. 6, the computer 4 sets the direction in which the pulse width of the binarized signal S2 increases to the positive direction and outputs the detection result, as in the case of the rising edge. .
[0030]
In addition, when the operator switches the output mode after detecting the edge misalignment for both the rising edge and the falling edge in this way, the rising edge and the falling edge for each pit length. Are added and displayed as shown in FIG.
[0031]
In this way, the positional deviation is detected in this way, and the edge of the binarized signal corresponds to the edge of the pit formed on the compact disk 3. As a result, the computer 4 detects the edge misalignment of the EFM decoded signal in this way, and deforms the pits formed on the compact disc 3 on the basis of the recording basic period T corresponding to the reproduction clock. For each pit length, both the front edge and the rear edge are measured.
[0032]
In the configuration described above, the compact disc 3 (FIG. 1) is configured such that the disc master is sequentially exposed by turning on and off the laser beam with a modulation signal whose signal level changes in a cycle that is an integral multiple of the basic cycle T, and pits are formed. A metal mask, a mother disk, and a stamper are sequentially formed from this disk master, and are then formed from this stamper by a production method such as injection molding or the 2P method. The compact disc 3 is formed by changing the positions of the front edge and the rear edge as compared with the timing according to the basic period T due to various conditions at the time of creation.
[0033]
The compact disc 3 produced in this way is reproduced by the compact disc player 2 to generate a reproduction signal RF whose signal level changes according to the amount of return light, and this reproduction signal RF is digitally converted by the digital oscilloscope 5. Converted to a signal. In the compact disk 3, a digital signal is binarized by a slice level that is a predetermined reference level in the computer 4, a binarized signal is generated, and a reproduction clock is reproduced from the binarized signal. Further, the compact disc 3 latches the binarized signal by the reproduction clock and generates an EFM decoded signal.
[0034]
Further, the compact disc 3 detects the pits and lands before and after the EFM decoded signal for each edge of the binarized signal to detect the change pattern of the EFM signal. For each change pattern, the edge of each edge relative to the reproduction clock is detected. The positional deviation is time-measured with the direction in which the pit shape is enlarged set as the positive side.
[0035]
Further, these time measurement results are averaged for each change pattern, and then classified and averaged for each pit length, rising edge, and falling edge, and the averaged measurement results are output from the printer 6. The As a result, in this compact disc 3, it is possible to evaluate the deformation of the pits more easily and in detail than in the past, thereby correcting the pressure, temperature, etc. of the injection molding to shorten the manufacturing process conditions. It can be converged in time.
[0036]
According to the above configuration, the timing at which the signal level of the reproduction signal crosses the predetermined reference level is measured with reference to the reproduction clock, and the time measurement result is classified by pit length, rising edge, and falling edge. By counting, the shape of the pit formed on the compact disc can be evaluated easily and in detail. This makes it possible to converge the manufacturing conditions in a short time by applying to the manufacturing process of the compact disk.
[0037]
(2) Second Embodiment FIG. 8 is a process diagram showing an evaluation process of a compact disk according to a second embodiment. In this evaluation process, the compact disc 11A created by the 2P method and the compact disc 11B created by the injection molding method are evaluated, and the difference between these two manufacturing steps is evaluated by comparing the evaluation results.
[0038]
That is, in this evaluation process, the edge position deviation is detected for each pit length in the compact disc 11A created by the 2P method and the compact disc 11B created by the injection molding method by the optical disc evaluation apparatus 1 described above with reference to FIG. To do. Further, by subtracting the edge position deviation amount for each pit length between the detection results 12A and 12B, a comparison result 13 between the detection results 12A and 12B is obtained, and this comparison result is output from the printer 6.
[0039]
According to the configuration shown in FIG. 8, the difference between the manufacturing process of the 2P method and the manufacturing process by the injection molding method can be detected easily and in detail, and the manufacturing variation due to the difference between these manufacturing processes can be easily and quickly performed. Can be converged to.
[0040]
(3) Other Embodiments In the above-described embodiment, the case where a binarized signal is generated from a reproduced signal and the edge timing of the binarized signal is detected with reference to the reproduced clock has been described. However, the present invention is not limited to this, and the edge position deviation may be measured by directly measuring the timing at which the signal level of the reproduction signal crosses the threshold value for generating the binary signal.
[0041]
Further, in the above-described embodiment, the case where the binarized signal, the reproduction clock, and the EFM decoded signal are generated by the arithmetic processing in the computer has been described. However, the present invention is not limited to this, and for example These signals used for processing may be used, and a dedicated signal processing circuit may be configured.
[0042]
In the above-described embodiment, the case where the pit shape is simply evaluated for each pit length has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, the compact disc 3 is divided into an inner peripheral region and an outer peripheral region. The pit shape may be evaluated for each pit length for each region. In this way, detailed evaluation criteria can be obtained for the resin flow during injection molding.
[0043]
Furthermore, in the above-described embodiment, the case of evaluating a compact disk has been described. However, the present invention is not limited to this, and may be used for evaluating a metal mask or the like.
[0044]
Furthermore, in the above-described embodiment, the case where the disk evaluation apparatus according to the present invention is applied to the manufacturing process of the compact disk and the compact disk is evaluated has been described. The recording characteristics of these optical disk devices can be evaluated by using them for evaluating various recorded optical disks.
[0045]
In the above-described embodiment, the case where the present invention is applied to the evaluation of a compact disk has been described. However, the present invention is not limited to this, and is widely applied to the evaluation of an optical disk apparatus that records various data using pits and marks. can do. Incidentally, the present invention can be widely applied to an optical disc apparatus adapted to record various data in a multi-valued manner due to a difference in transient response characteristics of a reproduction signal.
[0046]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the timing at which the signal level of the reproduction signal crosses a predetermined reference level is time-measured with reference to the clock, and the time measurement results are aggregated for each recording pattern, so that the optical disc is recorded. Simple and detailed evaluation is possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing an optical disk evaluation apparatus according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a flowchart showing a processing procedure of a computer in the optical disk evaluation apparatus of FIG.
3 is a characteristic curve diagram showing an output of a measurement result by the optical disk evaluation apparatus in FIG. 1. FIG.
4 is a signal waveform diagram showing polarity in the measurement result of FIG. 3;
FIG. 5 is a characteristic curve diagram showing an output of a measurement result of a falling edge shown corresponding to FIG. 3;
6 is a signal waveform diagram showing polarity in the measurement result of FIG.
FIG. 7 is a characteristic curve diagram showing the output of measurement results, which is a synthesis of measurement results of rising edges and falling edges.
FIG. 8 is a process diagram showing an optical disk evaluation process according to the second embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical disk evaluation apparatus, 2 ... Compact disk player, 3, 11A, 11B ... Compact disk, 4 ... Computer, 5 ... Digital oscilloscope, 6 ... Printer

Claims (6)

光ディスクの評価装置であって、
前記光ディスクは、
記録に供するデータに応じて、所定の基本周期の整数倍の周期によりレーザービームをオンオフ制御して前記データをディスク状記録媒体に記録して作成され、
前記光ディスクの評価装置は、
前記光ディスクより得られる再生信号から前記基本周期のクロックを再生するクロック再生手段と、
前記クロックの信号レベルが切り換わるタイミングを基準にして、前記再生信号の信号レベルが所定の基準レベルを横切るタイミングを時間計測することにより、前記光ディスクに形成されたピットについて、前記クロックのタイミングを基準にしてエッジの位置ずれを検出して位置ずれ検出結果を出力する時間計測手段と、
前記ピットの長さ毎に、前記エッジの位置ずれ検出結果を分類して集計する集計手段と
を備えることを特徴とする光ディスクの評価装置。
An optical disk evaluation device,
The optical disc is
Depending on the data to be recorded, the laser beam is turned on and off by a period that is an integral multiple of a predetermined basic period, and the data is recorded on a disk-shaped recording medium.
The optical disk evaluation apparatus comprises:
Clock reproduction means for reproducing the clock of the basic period from a reproduction signal obtained from the optical disc;
Based on the timing at which the signal level of the clock is switched, the timing at which the signal level of the reproduction signal crosses a predetermined reference level is measured, so that the timing of the clock is referenced with respect to the pits formed on the optical disc. A time measuring means for detecting edge position deviation and outputting a position deviation detection result ;
An optical disk evaluation apparatus comprising: a totalizing unit that classifies and totals the edge displacement detection results for each of the pit lengths .
前記集計手段は、
さらに隣接するランドの長さ毎に分類して、前記エッジの位置ずれ検出結果を集計する ことを特徴とする請求項1に記載の光ディスクの評価装置。
The counting means includes
2. The optical disk evaluation device according to claim 1, further comprising: classifying the edge misalignment detection results by classifying the adjacent lands into different lengths .
前記集計手段は、
前記時間計測手段によるエッジの位置ずれ検出結果を加算又は平均値化して、前記エッジの位置ずれ検出結果を集計する
ことを特徴とする請求項1に記載の光ディスクの評価装置。
The aggregation means is
2. The optical disk evaluation apparatus according to claim 1, wherein the edge displacement detection results obtained by the time measuring means are added or averaged, and the edge displacement detection results are totaled .
前記集計手段は、
前記時間計測手段によるエッジの位置ずれ検出結果を加算又は平均値化して、前記エッジの位置ずれ検出結果を集計する
ことを特徴とする請求項2に記載の光ディスクの評価装置。
The counting means includes
3. The optical disk evaluation apparatus according to claim 2, wherein the edge displacement detection results obtained by the time measuring means are added or averaged, and the edge displacement detection results are totaled .
前記集計手段は、
異なる光ディスクより得られた集計結果間の比較結果を出力する
ことを特徴とする請求項1に記載の光ディスクの評価装置。
The counting means includes
The apparatus for evaluating an optical disk according to claim 1, wherein a comparison result between tabulated results obtained from different optical disks is output.
光ディスクの評価方法であって、
前記光ディスクは、
記録に供するデータに応じて、所定の基本周期の整数倍の周期によりレーザービームをオンオフ制御して前記データをディスク状記録媒体に記録して作成され、
前記光ディスクの評価方法は、
前記光ディスクより得られる再生信号から前記基本周期のクロックを再生し、
前記クロックを基準にして、前記再生信号の信号レベルが所定の基準レベルを横切るタイミングを時間計測することにより、前記光ディスクに形成されたピットについて、前記クロックのタイミングを基準にしてエッジの位置ずれを検出して位置ずれ検出結果を得、
前記ピットの長さ毎に、前記エッジの位置ずれ検出結果を分類して集計して集計結果を得、
第1の光ディスクについて得られた前記集計結果と、第2の光ディスクについて得られた前記集計結果との比較結果に基づいて、前記第1及び第2の光ディスクに関する製造工程間の差異を判定する
ことを特徴とする光ディスクの評価方法。
An optical disk evaluation method,
The optical disc is
Depending on the data to be recorded, the laser beam is turned on and off by a period that is an integral multiple of a predetermined basic period, and the data is recorded on a disk-shaped recording medium.
The evaluation method of the optical disc is:
Reproducing the clock of the basic period from the reproduction signal obtained from the optical disc,
By measuring the timing at which the signal level of the reproduction signal crosses a predetermined reference level with respect to the clock, the edge misalignment of the pits formed on the optical disk is determined with reference to the timing of the clock. To detect the displacement detection result ,
For each pit length, the edge misalignment detection results are classified and tabulated to obtain a tabulated result,
Determining a difference between the manufacturing processes related to the first and second optical discs based on a comparison result between the aggregation result obtained for the first optical disc and the aggregation result obtained for the second optical disc. An optical disk evaluation method characterized by the above.
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