JP3653664B2

JP3653664B2 - Electronic load device

Info

Publication number: JP3653664B2
Application number: JP31362499A
Authority: JP
Inventors: 文明伊原; 芳久梶; 功新垣
Original assignee: Fujitsu Telecom Networks Ltd
Current assignee: Fujitsu Telecom Networks Ltd
Priority date: 1999-11-04
Filing date: 1999-11-04
Publication date: 2005-06-02
Anticipated expiration: 2019-11-04
Also published as: JP2001134326A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一次電池，二次電池，コンデンサ等の被試験装置の負荷として、該被試験装置から電流を流して、放電特性等を試験する為の電子負荷装置に関し、特に、低電圧の被試験装置に対しても、その端子電圧が０Ｖ或いはそれに近い状態でも電流を流すことができる電子負荷装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図６は従来例の説明図であり、５１は電子負荷装置、５２は制御回路、５３はトランジスタ、５４は演算増幅器、５５は被試験装置、Ｒ１，Ｒ２は抵抗を示す。電子負荷装置５１は、制御回路５２と、トランジスタ５３と、演算増幅器５４と抵抗Ｒ１，Ｒ２とを含む構成について示し、又被試験装置５５は、一次電池，二次電池，コンデンサ等の放電電流を負荷に流すことができるものである。
【０００３】
電子負荷装置５１の制御回路５２は、被試験装置５５に流れる電流の設定値を演算増幅器５４に入力し、トランジスタ５３に流れる電流を抵抗Ｒ１により検出して演算増幅器５４に入力する。従って、演算増幅器５４は、電流設定値と電流検出値との差分に対応してトランジスタ５３を制御し、被試験装置５５から電流設定値の電流を流すことができる。この電流設定値は、被試験装置５５の電流容量等に対応して予め制御回路２に設定することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
電子回路の動作電圧の低下に対応して、その動作電源電圧は、例えば、５Ｖ，３Ｖ，１，２Ｖ等に次第に低下する傾向にある。このような低電圧の被試験装置５５の放電特性を試験する場合の負荷は、低抵抗であることが必要となる。又被試験装置５５には、トランジスタ５３と抵抗Ｒ１と接続線の抵抗分とが接続され、それらの合成インピーダンスが零ではないから、低電圧の被試験装置５５から所望の大きさの電流で放電させることが困難となる。又一次電池や二次電池の過放電時の０Ｖ付近の特性試験に於いても、所望の電流を放電させることが困難であり、又コンデンサを被試験装置５５として、その端子電圧が０Ｖとなるまで放電させることが不可能であった。
【０００５】
本発明は、前述のような問題点を解決し、低電圧の被試験装置から負荷に電流を流して放電特性等を試験すると共に、端子電圧が０Ｖ程度に低下した場合でも、電流を流すことが可能な電子負荷装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明の電子負荷装置は、（１）電池，コンデンサ等の被試験装置５の負荷として動作するトランジスタ３と、電流設定値に従った電流をトランジスタ３に流すように制御する制御回路２とを含む電子負荷装置１であって、被試験装置５の端子電圧を検出し、この端子電圧と同一極性のバイアス電圧Ｖ_Ｂを端子電圧に加算し、且つ端子電圧が設定値以下に低下した時に、バイアス電圧Ｖ _Ｂを低下又は出力停止とするバイアス電源回路６を設けた構成とする。
【０００７】
又（２）バイアス電源回路６は、被試験装置５の端子電圧を検出し、この端子電圧が設定値以下に低下した時に、バイアス電圧Ｖ_Bを低下又は出力停止とする構成を備えることができる。
【０００８】
又（３）被試験装置５の端子電圧を検出し、この端子電圧が設定値以下に低下した時に、この被試験装置５とトランジスタ３との間を切り離す保護スイッチを設けることができる。
【０００９】
又（４）制御回路２は、被試験装置５の端子電圧を検出し、この端子電圧が設定値以下に低下した時に、トランジスタ３をオフ状態に制御する構成を備えることができる。
【００１０】
又（５）電流検出値と電流設定値とを比較してトランジスタを制御する演算増幅器と、被試験装置の端子電圧を検出し、この端子電圧に対応した電流設定値を出力する制御回路とを備えることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１は本発明の原理説明図であり、１は電子負荷装置、２は制御回路、３はトランジスタ、４は演算増幅器、５は被試験装置、６はバイアス電源回路、Ｒ１，Ｒ２は抵抗を示す。又被試験装置５から電子負荷装置１への入力電圧をＶ_IN、電子負荷装置１への入力電流をＩ_IN、バイアス電源回路６からのバイアス電圧をＶ_B、トランジスタ３のコレクタ・エミッタ間電圧をＶ_CE、抵抗Ｒ１の入力電流Ｉ_INによる端子電圧をＶ_Rとして示す。
【００１２】
バイアス電源回路６を設けない場合、被試験装置５と電子負荷装置１との接続線の抵抗をＲ_Lとし、被試験装置５から電流Ｉ_INを流す為には、
Ｖ_IN＞Ｉ_IN（Ｒ_L＋Ｒ１）＋Ｖ_CE …（１）
の条件が必要である。又トランジスタ３を電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）とした場合、そのオン抵抗をＲ_ONとすると、
Ｖ_IN＞Ｉ_IN（Ｒ_L＋Ｒ１＋Ｒ_ON） …（２）
の条件が必要である。
【００１３】
従って、電子負荷装置１に入力される被試験装置５からの入力電圧Ｖ_INが、前述の条件以下であると、所望の電流Ｉ_INを流すことができなくなる。即ち、被試験装置５が低電圧の一次電池，二次電池の場合、特に端子電圧が０Ｖ近くになる場合は、電流Ｉ_INを流すことができなくなる。
【００１４】
そこで、バイアス電圧Ｖ_Bを、
Ｖ_B≧Ｉ_IN（Ｒ_L＋Ｒ１）＋Ｖ_CE …（３）
に設定するか、又はトランジスタ３を電界効果トランジスタ（ＦＥＴ）とした場合に、
Ｖ_B≧Ｉ_IN（Ｒ_L＋Ｒ１＋Ｒ_ON） …（４）
に設定し、被試験装置５の端子電圧にバイアス電圧Ｖ_Bを加算するように直列的にバイアス電源回路６を接続して、電子負荷装置１の内部インピーダンスを補償すものである。それにより、低電圧の被試験装置５であっても、又端子電圧が０Ｖの場合でも、電流Ｉ_INを流すことができる。例えば、コンデンサを被試験装置５とした場合、完全放電により端子電圧を０Ｖとすることがあるが、このような０Ｖの場合でも、前述のバイアス電源回路６を接続することによって、電子負荷装置１により被試験装置５に電流を流すことができる。
【００１５】
図２は本発明の第１の実施の形態の説明図であり、図１と同一符号は同一部分を示し、７はバイアス電源回路、７−１は直流電源、７−２はスイッチングトランジスタ、７−３はコンデンサ、７−４はトランス、７−５，７−６はダイオード、７−７はチョークコイル、７−８はコンデンサ、７−９は制御回路であり、フォワードコンバータの構成を適用した場合の要部を示す。即ち、コンデンサ７−８の両端の電圧（バイアス電圧Ｖ_B）を制御回路７−９により検出し、設定された電圧となるように、スイッチングトランジスタ７−２のオン期間を制御し、トランス７−４の一次巻線に流れる電流をオン，オフし、そのトランス７−４の二次巻線に誘起する電圧を、ダイオード７−５，７−６とチョークコイル７−７とコンデンサ７−８とからなる整流平滑回路により整流出力するものである。
【００１６】
なお、バイアス電源回路７は、図示のフォワードコンバータ構成のみでなく、設定されたバイアス電圧Ｖ_Ｂを出力できる他の構成のスイッチング電源装置も適用可能である。
【００１７】
このバイアス電源回路７の＋側をトランジスタ３に、又−側を被試験装置５側にそれぞれ接続し、被試験装置５の端子電圧にバイアス電圧Ｖ_Bを加算する。このバイアス電圧Ｖ_Bは、前述のように、トランジスタ３のコレクタ・エミッタ間電圧Ｖ_CEと、抵抗Ｒ１の電圧降下Ｖ_Rと、接続線の抵抗による電圧降下とを補償する値とすることにより、被試験装置５の端子電圧が低電圧の場合でも又０Ｖの場合でも、トランジスタ３を介して電流Ｉ_INを流すことができる。この場合の電流Ｉ_INは、制御回路２から演算増幅器４に入力する電流設定値に対応して制御される。
【００１８】
又バイアス電源回路７としてスイッチング電源装置を用いた場合、トランジスタ３や制御回路２等の障害により、設定電流を超える過電流が流れると、被試験装置５が焼損する場合があるが、スイッチング電源装置には過電流保護機能を備えている場合が一般的であり、例えば、電流Ｉ_INを検出し、設定値を超えた過電流状態となると、制御回路７−９によりスイッチングトランジスタ７−２のオン期間を短くして出力電圧を垂下させる。即ち、バイアス電圧Ｖ_Bを垂下させて、電流Ｉ_INを制限することができる。従って、被試験装置５を保護することができる。
【００１９】
図３は本発明の第２の実施の形態の説明図であり、１１は電子負荷装置、１２は制御回路、１３はトランジスタ、１４は演算増幅器、１５は被試験装置、１６はバイアス電源回路、１７は演算増幅器、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３は抵抗を示す。この実施の形態は、バイアス電源回路１６からのバイアス電圧Ｖ_Bを被試験装置５の端子電圧に加算するように接続し、被試験装置１５の端子電圧と設定電圧Ｖ_Sとを演算増幅器１７により比較し、端子電圧が設定電圧Ｖ_S以下に低下した時に、被試験装置１５の放電終了として、過放電防止又は逆充電防止の為に、バイアス電源回路１６からのバイアス電圧Ｖ_Bを低下或いはバイアス電圧Ｖ_Bの出力停止を行う場合を示す。
【００２０】
又制御回路１２からの電流設定値に従ってトランジスタ１３が制御され、被試験装置１５からの電流Ｉ_INを電流設定値となるように制御する電子負荷装置１１としての動作は、前述の実施の形態と同様である。又バイアス電源回路１６は、前述のように、スイッチング電源装置を用いた場合、制御回路７−９（図２参照）の制御によってスイッチングトランジスタ７−２をオフとし、被試験装置１５に流れる電流Ｉ_INを零として、被試験装置１５がバイアス電圧Ｖ_Bにより逆充電されるのを防止することができる。
【００２１】
図４は本発明の第３の実施の形態の説明図であり、２１は電子負荷装置、２２は制御回路、２３はトランジスタ、２４は演算増幅器、２５は被試験装置、２６はバイアス電源回路、２７は演算増幅器、２８はリレー等のスイッチ回路、２９はダイオード、３０はラッチ回路、ｒｓはパワーオンリセット等のリセット信号を示す。
【００２２】
この実施の形態は、被試験装置２５の端子電圧と設定電圧Ｖ_Sとを演算増幅器２７により比較し、端子電圧が設定電圧Ｖ_S以下に低下した時の演算増幅器２７の出力信号をラッチ回路３０によりラッチして、スイッチ回路２８をオフとし、被試験装置２５からの電流Ｉ_INを遮断する。それにより、被試験装置２５の過放電を防止することができる。又バイアス電圧Ｖ_Bにより被試験装置２５の逆充電を防止することができる。又スイッチ回路２８をリレーにより構成した場合、ラッチ回路２８にリレーの駆動回路を含ませることができる。又ラッチ回路２８は、リセット信号ｒｓによりリセットし、それにより、スイッチ回路２８をオンとして、次の被試験装置２５の放電試験を行うことができる。
【００２３】
又演算増幅器２７による被試験装置２５の端子電圧が設定値Ｖｓより低下したことを検出した検出信号を制御回路２２に入力し、制御回路２２から演算増幅器２４に入力する電流設定値を低減し、トランジスタ２３に流れる電流を抑制するか、又はカットオフ状態に制御して、電流Ｉ_INを遮断することができる。
【００２４】
又ダイオード２９を被試験装置２５からの入力電圧_INに対して逆極性で接続し、バイアス電圧Ｖ_Bをこのダイオード２９の順方向電圧にクランプして、低電圧の被試験装置２５の逆充電を防止することもできる。この場合のダイオード２９は、電子負荷装置２１に流すことができる最大電流Ｉｍａｘより大きい電流Ｉｒを流すことができる容量とし、又電子負荷装置２１に印加される最大電圧Ｖｍａｘより大きい逆耐圧電圧を有する構成とすることができる。又ダイオード２９を複数直列に接続してクランプ電圧を選定することもできる。
【００２５】
図５は本発明の第４の実施の形態の説明図であり、３１は電子負荷装置、３２は制御回路、３３はトランジスタ、３４は演算増幅器、３５は被試験装置、３６はバイアス電圧Ｖ_Bを出力するバイアス電源回路、３７は差動増幅器、Ｒ１〜Ｒ４は抵抗を示す。
【００２６】
図５の（Ｂ）は、全体構成を示す図５の（Ａ）に於ける制御回路３２の構成の一例の要部を示し、差動増幅器３７と被試験装置３５の両端子とを接続線により接続する。差動増幅器３７は、接続線に重畳された同相ノイズを除去して被試験装置３５の両端子間の電圧を検出し、抵抗Ｒ３，Ｒ４により分圧して、演算増幅器３４に入力する。又演算増幅器３４に、前述の各実施の形態と同様に、電流Ｉ_INに対応する抵抗Ｒ１の両端の電圧を入力するから、被試験装置３５の電圧に対応した電流Ｉ_INを流すことができる。即ち、電子負荷装置３１を定抵抗特性とすることができる。
【００２７】
このような構成により、バイアス電源回路３６をスイッチング電源装置とし、バイアス電圧Ｖ_Bにリップルが含まれる場合でも、被試験装置３５の電圧を検出して電流Ｉ_INを制御することから、バイアス電圧Ｖ_Bに含まれるリップルの影響を受けない電流とすることができる。
【００２８】
又制御回路３２は、前述の定抵抗特性以外に、定電流特性や定電力特性等となるように構成することも可能である。又電子負荷装置のトランジスタは、バイポーラトランジスタのみでなく、電界効果トランジスタ等を用いることも可能であり、又設定したプログラムに従って流れる電流Ｉ_INを制御するように、制御回路を構成することも可能である。又被試験装置が二次電池の場合、充電装置と組合せて、充放電特性の試験を行う構成とすることも可能である。
【００２９】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、一次電池，二次電池，コンデンサ等の被試験装置５の負荷として動作するトランジスタ３と、制御回路２とを含む電子負荷装置１であって、被試験装置５の端子電圧にバイアス電圧Ｖ_Bを加算するように接続したバイアス電源回路６を設けたものであり、このバイアス電圧Ｖ_Bにより電子負荷装置１の内部インピーダンスを補償することができるから、被試験装置５が低電圧の場合或いは端子電圧が０Ｖの場合でも、電流Ｉ_INを流して、試験を行うことができる。
【００３０】
又被試験装置５の端子電圧が設定値以下に低下した時に、バイアス電圧Ｖ_Bの低下或いは遮断或いはトランジスタ３をオフさせることにより、被試験装置５の端子電圧が０Ｖ或いはその近くまで放電させることが可能となると共に、それ以上の放電を行った時のバイアス電圧Ｖ_Bによる逆充電を防止し、被試験装置５を保護することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の原理説明図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態の説明図である。
【図３】本発明の第２の実施の形態の説明図である。
【図４】本発明の第３の実施の形態の説明図である。
【図５】本発明の第４の実施の形態の説明図である。
【図６】従来例の説明図である。
【符号の説明】
１電子負荷装置
２制御回路
３トランジスタ
４演算増幅器
５被試験装置
６バイアス電源回路
Ｖ_IN 入力電圧
Ｉ_IN 入力電流
Ｖ_B バイアス電圧[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an electronic load device for testing discharge characteristics and the like by passing a current from the device under test as a load of the device under test such as a primary battery, a secondary battery, and a capacitor. The present invention also relates to an electronic load device that can flow current even when the terminal voltage is 0 V or close to the test device.
[0002]
[Prior art]
FIG. 6 is an explanatory diagram of a conventional example, 51 is an electronic load device, 52 is a control circuit, 53 is a transistor, 54 is an operational amplifier, 55 is a device under test, and R1 and R2 are resistors. The electronic load device 51 shows a configuration including a control circuit 52, a transistor 53, an operational amplifier 54, and resistors R1 and R2, and a device under test 55 receives discharge currents of a primary battery, a secondary battery, a capacitor, and the like. It can flow to the load.
[0003]
The control circuit 52 of the electronic load device 51 inputs the set value of the current flowing through the device under test 55 to the operational amplifier 54, detects the current flowing through the transistor 53 by the resistor R1, and inputs it to the operational amplifier 54. Therefore, the operational amplifier 54 can control the transistor 53 in accordance with the difference between the current set value and the current detection value, and can cause the current set value to flow from the device under test 55. This current set value can be preset in the control circuit 2 in accordance with the current capacity of the device under test 55 and the like.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
Corresponding to the decrease in the operating voltage of the electronic circuit, the operating power supply voltage tends to gradually decrease to, for example, 5V, 3V, 1, 2V or the like. The load when testing the discharge characteristics of such a low-voltage device under test 55 needs to have a low resistance. In addition, the device under test 55 is connected to the transistor 53, the resistor R1, and the resistance of the connecting line, and their combined impedance is not zero. Therefore, the device under test 55 is discharged at a desired magnitude from the low voltage device under test 55. It becomes difficult to make it. Further, even in the characteristic test around 0V at the time of overdischarge of the primary battery or the secondary battery, it is difficult to discharge a desired current, and the terminal voltage becomes 0V using the capacitor as the device under test 55. It was impossible to discharge until.
[0005]
The present invention solves the above-described problems, tests the discharge characteristics and the like by passing a current from a low voltage device under test to the load, and allows the current to flow even when the terminal voltage drops to about 0V. It is an object of the present invention to provide an electronic load device capable of performing the above.
[0006]
[Means for Solving the Problems]
The electronic load device of the present invention includes (1) a transistor 3 that operates as a load of the device under test 5 such as a battery and a capacitor, and a control circuit 2 that controls the current according to the current set value to flow through the transistor 3. When the terminal voltage of the device under test 5 is detected, the bias voltage V _B having the same polarity as this terminal voltage is added to the terminal voltage, and the terminal voltage drops below the set value, a configuration in which a bias power supply circuit 6 to decrease or output stop a bias voltage V _B.
[0007]
(2) The bias power supply circuit 6 can be configured to detect the terminal voltage of the device under test 5 and to lower the bias voltage V _B or stop the output when the terminal voltage drops below a set value. .
[0008]
(3) It is possible to provide a protection switch that detects the terminal voltage of the device under test 5 and disconnects the device under test 5 from the transistor 3 when the terminal voltage drops below a set value.
[0009]
(4) The control circuit 2 can be configured to detect the terminal voltage of the device under test 5 and to control the transistor 3 to be turned off when the terminal voltage drops below a set value.
[0010]
(5) An operational amplifier that controls the transistor by comparing the current detection value with the current setting value, and a control circuit that detects the terminal voltage of the device under test and outputs a current setting value corresponding to the terminal voltage. Can be provided.
[0011]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a diagram for explaining the principle of the present invention. 1 is an electronic load device, 2 is a control circuit, 3 is a transistor, 4 is an operational amplifier, 5 is a device under test, 6 is a bias power supply circuit, and R1 and R2 are resistors. Show. The input voltage from the device under test 5 to the electronic load device 1 is V _IN , the input current to the electronic load device 1 is I _IN , the bias voltage from the bias power supply circuit 6 is V _B , and the collector-emitter voltage of the transistor 3 _Is V _CE , and the terminal voltage due to the input current I _IN of the resistor R 1 is V _R.
[0012]
When the bias power supply circuit 6 is not provided, in order to let the resistance of the connection line between the device under test 5 and the electronic load device 1 be R _L and to flow the current I _IN from the device under test 5,
V _IN > I _IN (R _L + R1) + V _CE (1)
This condition is necessary. If the transistor 3 is a field effect transistor (FET) and its on-resistance is R _ON ,
V _IN > I _IN (R _L + R1 + R _ON ) (2)
This condition is necessary.
[0013]
Accordingly, when the input voltage V _IN from the device under test 5 input to the electronic load device 1 is equal to or less than the above-described condition, it is impossible to flow a desired current I _IN . That is, when the device under test 5 is a low-voltage primary battery or secondary battery, particularly when the terminal voltage is close to 0 V, the current I _IN cannot flow.
[0014]
Therefore, the bias voltage V _B is
V _B ≧ I _IN (R _L + R1) + V _CE (3)
Or if the transistor 3 is a field effect transistor (FET),
V _B ≧ I _IN (R _L + R1 + R _ON ) (4)
The bias power supply circuit 6 is connected in series so that the bias voltage V _B is added to the terminal voltage of the device under test 5 to compensate the internal impedance of the electronic load device 1. As a result, even if the device under test 5 has a low voltage and the terminal voltage is 0 V, the current I _IN can flow. For example, if the capacitor is the device under test 5, the terminal voltage may be 0 V due to complete discharge. Even in such a case of 0 V, the electronic load device 1 is connected by connecting the bias power supply circuit 6 described above. Thus, a current can be passed through the device under test 5.
[0015]
FIG. 2 is an explanatory diagram of the first embodiment of the present invention. The same reference numerals as those in FIG. 1 denote the same parts, 7 is a bias power supply circuit, 7-1 is a DC power supply, 7-2 is a switching transistor, -3 is a capacitor, 7-4 is a transformer, 7-5 and 7-6 are diodes, 7-7 is a choke coil, 7-8 is a capacitor, 7-9 is a control circuit, and a forward converter configuration is applied. The main part of the case is shown. That is, the voltage across the capacitor 7-8 (bias voltage V _B ) is detected by the control circuit 7-9, and the ON period of the switching transistor 7-2 is controlled so that the set voltage is obtained, and the transformer 7- 4 is turned on and off, and voltages induced in the secondary winding of the transformer 7-4 are applied to the diodes 7-5, 7-6, the choke coil 7-7, and the capacitor 7-8. The output is rectified by a rectifying / smoothing circuit comprising:
[0016]
The bias power supply circuit 7 is not only a forward converter configuration shown, other configurations of the switching power supply device capable of outputting the set bias voltage V _B is also applicable.
[0017]
The bias power supply circuit 7 is connected to the transistor 3 on the + side and to the device under test 5 side, and the bias voltage V _B is added to the terminal voltage of the device under test 5. As described above, the bias voltage V _B is set to a value that compensates for the collector-emitter voltage V _CE of the transistor 3, the voltage drop V _R of the resistor R1, and the voltage drop due to the resistance of the connection line. Whether the terminal voltage of the device under test 5 is a low voltage or 0 V, the current I _IN can flow through the transistor 3. In this case, the current I _IN is controlled in accordance with the current set value input from the control circuit 2 to the operational amplifier 4.
[0018]
When a switching power supply is used as the bias power supply circuit 7, the device under test 5 may burn out if an overcurrent exceeding the set current flows due to a failure of the transistor 3, the control circuit 2, or the like. Is generally provided with an overcurrent protection function. For example, when the current _IIN is detected and an overcurrent state exceeding a set value is detected, the control circuit 7-9 turns on the switching transistor 7-2. Shorten the period and drop the output voltage. That is, the current I _IN can be limited by dropping the bias voltage V _B. Therefore, the device under test 5 can be protected.
[0019]
FIG. 3 is an explanatory diagram of a second embodiment of the present invention, in which 11 is an electronic load device, 12 is a control circuit, 13 is a transistor, 14 is an operational amplifier, 15 is a device under test, 16 is a bias power supply circuit, Reference numeral 17 denotes an operational amplifier, and R1, R2, and R3 denote resistors. In this embodiment, the bias voltage V _B from the bias power supply circuit 16 is connected to be added to the terminal voltage of the device under test 5, and the terminal voltage of the device under test 15 and the set voltage V _S are connected by the operational amplifier 17. In comparison, when the terminal voltage drops below the set voltage V _S , the discharge of the device under test 15 is terminated, and the bias voltage V _B from the bias power supply circuit 16 is lowered or biased to prevent overdischarge or reverse charge. The case where the output of the voltage V _B is stopped is shown.
[0020]
The operation of the electronic load device 11 in which the transistor 13 is controlled according to the current setting value from the control circuit 12 and the current I _IN from the device under test 15 is controlled to be the current setting value is the same as that of the above-described embodiment. It is the same. When the switching power supply device is used as described above, the bias power supply circuit 16 turns off the switching transistor 7-2 under the control of the control circuit 7-9 (see FIG. 2), and the current I flowing through the device under test 15 _By setting _IN to zero, it is possible to prevent the device under test 15 from being reversely charged by the bias voltage V _B.
[0021]
FIG. 4 is an explanatory diagram of a third embodiment of the present invention, in which 21 is an electronic load device, 22 is a control circuit, 23 is a transistor, 24 is an operational amplifier, 25 is a device under test, 26 is a bias power supply circuit, Reference numeral 27 denotes an operational amplifier, 28 denotes a switch circuit such as a relay, 29 denotes a diode, 30 denotes a latch circuit, and rs denotes a reset signal such as a power-on reset.
[0022]
In this embodiment, the operational amplifier 27 compares the terminal voltage of the device under test 25 with the set voltage V _S, and the output signal of the operational amplifier 27 when the terminal voltage drops below the set voltage V _S is latch circuit 30. To switch off the switch circuit 28 and cut off the current I _IN from the device under test 25. Thereby, overdischarge of the device under test 25 can be prevented. Further, reverse bias of the device under test 25 can be prevented by the bias voltage V _B. When the switch circuit 28 is constituted by a relay, the latch circuit 28 can include a relay drive circuit. The latch circuit 28 is reset by the reset signal rs, whereby the switch circuit 28 is turned on, and the next discharge test of the device under test 25 can be performed.
[0023]
Further, a detection signal for detecting that the terminal voltage of the device under test 25 by the operational amplifier 27 has dropped below the set value Vs is input to the control circuit 22, and the current set value input from the control circuit 22 to the operational amplifier 24 is reduced. The current I _IN can be cut off by suppressing the current flowing through the transistor 23 or controlling the current to a cutoff state.
[0024]
The diode 29 is connected in reverse polarity to the input voltage _IN from the device under test 25, and the bias voltage V _B is clamped to the forward voltage of the diode 29, so that the low voltage device under test 25 is reverse charged. It can also be prevented. In this case, the diode 29 has a capacity capable of flowing a current Ir larger than the maximum current Imax that can be supplied to the electronic load device 21, and has a reverse breakdown voltage that is higher than the maximum voltage Vmax applied to the electronic load device 21. It can be configured. It is also possible to select a clamp voltage by connecting a plurality of diodes 29 in series.
[0025]
FIG. 5 is an explanatory diagram of a fourth embodiment of the present invention, in which 31 is an electronic load device, 32 is a control circuit, 33 is a transistor, 34 is an operational amplifier, 35 is a device under test, and 36 is a bias voltage V _B. , 37 is a differential amplifier, and R1 to R4 are resistors.
[0026]
FIG. 5B shows a main part of an example of the configuration of the control circuit 32 in FIG. 5A showing the overall configuration. The differential amplifier 37 and both terminals of the device under test 35 are connected to each other. Connect with. The differential amplifier 37 removes the common-mode noise superimposed on the connection line, detects the voltage between both terminals of the device under test 35, divides the voltage by resistors R3 and R4, and inputs the divided voltage to the operational amplifier 34. The operational amplifier 34, as with the embodiments described above, since inputs the voltage across the resistor R1 corresponding to the current I _IN, can flow current I _IN which corresponds to the voltage of the device under test 35 . That is, the electronic load device 31 can have a constant resistance characteristic.
[0027]
With such a configuration, the bias power supply circuit 36 is a switching power supply device, and even when the bias voltage V _B includes ripples, the voltage of the device under test 35 is detected and the current I _IN is controlled. _The current can be made unaffected by the ripple contained in _B.
[0028]
The control circuit 32 can also be configured to have constant current characteristics, constant power characteristics, etc. in addition to the above-described constant resistance characteristics. The transistor of the electronic load device can be not only a bipolar transistor but also a field effect transistor or the like, and a control circuit can be configured to control the current I _IN flowing according to a set program. is there. In the case where the device under test is a secondary battery, it is possible to combine the charging device with the charging device to test the charge / discharge characteristics.
[0029]
【The invention's effect】
As described above, the present invention is an electronic load device 1 including a transistor 3 that operates as a load of a device under test 5 such as a primary battery, a secondary battery, a capacitor, and the like, and a control circuit 2. 5 is provided with a bias power supply circuit 6 connected so as to add the bias voltage V _B to the terminal voltage of 5, and the internal impedance of the electronic load device 1 can be compensated by the bias voltage V _B. Even when the device 5 is at a low voltage or the terminal voltage is 0 V, the current I _IN can be passed to perform the test.
[0030]
When the terminal voltage of the device under test 5 drops below the set value, the terminal voltage of the device under test 5 is discharged to 0 V or close to it by lowering or blocking the bias voltage V _B or turning off the transistor 3. In addition, the device under test 5 can be protected by preventing reverse charging due to the bias voltage V _B when further discharging is performed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram of the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is an explanatory diagram of a second embodiment of the present invention.
FIG. 4 is an explanatory diagram of a third embodiment of the present invention.
FIG. 5 is an explanatory diagram of a fourth embodiment of the present invention.
FIG. 6 is an explanatory diagram of a conventional example.
[Explanation of symbols]
1 Electronic Load Device 2 Control Circuit 3 Transistor 4 Operational Amplifier 5 Device Under Test 6 Bias Power Supply Circuit V _IN Input Voltage I _IN Input Current V _B Bias Voltage

Claims

In an electronic load device including a transistor that operates as a load of a device under test such as a battery or a capacitor, and a control circuit that controls a current to flow through the transistor according to a current setting value.
Wherein detecting the terminal voltage of the device under test, the bias voltage of the terminal voltage of the same polarity is added to the terminal voltage, and when the terminal voltage drops below a set value, and reduction or output stop the bias voltage An electronic load device comprising a bias power supply circuit configured as described above .

A terminal voltage of the device under test is detected and compared with a set value, and when the terminal voltage drops below the set value, a gap between the device under test and the transistor operating as a load of the device under test is detected. The electronic load device according to claim 1 , further comprising a protection switch for disconnecting .

The control circuit includes a configuration for detecting a terminal voltage of the device under test and controlling the transistor operating as a load of the device under test to be in an off state when the terminal voltage drops below a set value. electronic load device according to claim 1, wherein.

An operational amplifier that controls the transistor by comparing a current detection value that detects a current flowing through the transistor that operates as a load of the device under test and a current setting value, and detects a terminal voltage of the device under test, The electronic load device according to claim 1 , further comprising a control circuit that outputs the current setting value corresponding to a terminal voltage .