JP3643658B2 - Optical writing reflective spatial light modulator - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、投射型液晶表示装置等に用いられる光書込反射型空間光変調器に関する。
【0002】
【従来の技術】
光書込反射型空間光変調器は、プロジェクタ等の投射型液晶表示装置の表示デバイスとして広く用いられている。このような空間光変調器は、2枚の透明電極の間に、光導電層、遮光層、誘電体ミラー、光変調層を順に重ねた積層状の構造になっている。書込光によって光導電層に画像を投影することにより、画像の明暗に対応した電圧を光変調層に加えて、読出光を変調して外部に投射することで拡大映像を得る。
【0003】
ここで、誘電体ミラーと遮光層は、読出光が光導電層側に入射するのを防ぎ、投射する拡大画像の解像度が劣化するのを防止する役割がある。さらに、誘電体ミラーには、光変調層で読出光を変調して得られる投射光を反射して、外部へ投射する役割もある。このような誘電体ミラーとしては、TiO2やSiO2を多層膜積層させて形成されたものが広く使われている。
【0004】
しかし、これらの多層膜積層の誘電体ミラーでは、単板式カラープロジェクタの読出光の光源として用いられるような広帯域の光を完全に反射することは困難だった。例えば、図8に示すように、約500〜600nmの狭い波長域でなら100%近い反射率を有するミラーを作成することもできた(以下従来例1と呼ぶ)。しかし、約400〜700nmの広い波長域を対象に高い反射率を達成しようとすると、図9に示すように約95%程度の反射率しか得られなかった(以下従来例2と呼ぶ)。このため、光導電層側に読出光が漏れて、感度や解像度劣化の要因となっていた。特に、単板式カラープロジェクタでは、読出光に高出力の光源を用いるため、光導電層側に漏れる光の割合が小さくても、漏れる光量が書出光に比較して多いため、漏れ光対策が重要な課題であった。
【0005】
一方、多層膜の層数を増やせば反射率は向上する。しかし、誘電体ミラーの電気抵抗が大きくなり、光変調層の電圧が低下して、感度が低下する。したがって、多層膜の層数、膜厚を大幅に増やすことはできなかった。同様の理由で遮光層を厚くして、誘電体ミラーを透過した読出光を吸収して光導電層側への漏れ光を遮ることも困難であった。
【0006】
このような問題を解決する装置として、特開平7−294956号の発明が知られている。これは、積層材料をZnS及びMgF2に変えることによって、層を厚くすることなく、高い反射率を実現するものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、この装置では、MgF2の内部応力が大きいために、成膜時に歪み・剥がれ等が生じやすく、従来のTiO2やSiO2を積層材料とした場合のように良質な多層膜のミラーを生成することが困難であるという問題点があった。
【0008】
そこで、本発明は簡単に製造できる高反射率で歪み等のない良質のミラーを有し、高感度の光書き込み反射型空間光変調器を提供することを課題としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光書込反射型空間光変調器は、(1)書込光が入射する第1の透明電極層と、(2)この透明電極層に積層され、書込光に応じてインピーダンスが変化する光導電層と、(3)これに積層され、到達した光を遮る遮光層と、)これに積層されると共に、遮光層の遮光率が低い波長領域に対する反射率が他の波長領域に対する反射率より高い反射特性を有し、書込光と反対面から入射する読出光を入射方向へ反射する誘電体ミラーと、()これに積層され、読出光を変調させる液晶を利用した光変調層と、()これに積層され、読出光が入射する第2の透明電極層と、を備えることを特徴としている。
【0010】
この発明で用いられる誘電体ミラーは、遮光層の遮光率が低い波長領域の読出光を選択的に反射するものであれば良いので、高反射率で歪みのないミラーを容易に適用することができ、光導電層にこの波長領域の読出光が入射するのを防止できる。
【0016】
このように、高反射率となる波長領域を限定しているため、全領域でこれに匹敵する高反射率を有する誘電体ミラーを作成する場合に比べて誘電体ミラーの膜厚、膜数を薄くすることができる。これにより、薄く、電気抵抗の小さい誘電体ミラーにより、効果的に読出光の光導電層への漏れを抑えることができる。また、積層材料としてTiO2やSiO2を使用すれば、従来と同様に良質な多層膜ミラーを簡単に作成できる。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、この発明の実施形態を詳細に説明する。図1は本実施形態の断面構造図、図2は本実施形態を利用した単板式カラープロジェクタの構成図である。
【0018】
最初に、図2を用いて、単板式カラープロジェクタの構成について説明する。スクリーン113に表示する画像の基となる書出光は画像書込CRT104で生成される。この書出光の光路と、この画像をスクリーン113に投影する投射光の光路は、反対方向で同一の直線上に並んでいる。一方、投射光の光源となる読出光の光路はこれと直交し、二つの光路が交わる位置にビームスプリッタ110が置かれている。読出光の光源104には、250Wのメタルハライドランプが用いられる。そして、読出光の光路には、光源104側からコリメートレンズ105、UVフィルタ106、IRフィルタ107が並べられている。ここで、IRフィルタ通過後の読出し光の波長は400〜700nmで図3に示すスペクトル分布を有する。図3から明らかなように、波長555nm付近の強度が極めて強いのが特徴である。読出光の光路には、さらにビームスプリッタ110までの間に、読出光を赤青緑の3原色に時間的に分解するカラーフィルタ108と、読出光を直線偏光に変える偏光板109が設けられている。
【0019】
一方、書込光の光源は3倍スキャン型の画像書込CRT103であり、分解された読出光の原色に対応した画像を出力する。この画像書込CRT103は光ファイバプレート102を介して、空間光変調器101に接続されている。そして、空間光変調器101から射出された投射光の光路上には、ビームスプリッタ110、投射光中の画像情報を抽出する偏光板111、画像を拡大投影する投射レンズ112が設けられ、画像投影用のスクリーン113につながっている。
【0020】
次に、図1により、空間光変調器101の詳細な構成について説明する。
【0021】
ガラス基板20の書込光が入射する入射面上には書込光に対する反射防止膜22が形成され、入射面と反対側の面には、書込光を透過する透明電極層10が設けられている。透明電極層上には、さらに光導電層1が形成されている。この光導電層1にはアモルファスシリコン層を用いることが好ましい。この光導電層1は入射した書込光に応じて内部のインピーダンスが変化する。本実施形態で、光導電層1を構成するアモルファスシリコンのインピーダンスの変化量は入射する光の波長によって異なり、光量が同一でも波長700nm付近の光が入射したときインピーダンスは最小になる。したがって、後に詳述する投射光の光量が最大になるのに必要な書込光の光量(π変調必要光量)は、図4に示すように長波長側で小さくなる。つまり、光空間変調器101出力の書込光に対する感度は長波長側で高くなる。
【0022】
光導電層1上には、光導電層1に書込光と反対の面から入射する光を遮る遮光層2が形成されている。この遮光層2には、遮光率が高い、即ち透過率が低いCdTeが好ましい。ここで、図5はこの遮光層2の透過特性を示した図であり、長波長側の光を透過しやすいことが分かる。遮光層2上には、多層膜からなる誘電体ミラー層3が形成されている。この誘電体ミラー層3には、良質な多層膜を簡単に作成できるため、TiO2とSiO2を積層したものが好ましい。誘電体ミラー層3の好ましい例として、図6に示す反射特性と構成を持つ多層膜ミラーが挙げられる(以下実施例1と呼ぶ)。これに対して、図9は広帯域の反射率を高めた従来例2の誘電体ミラー層の反射特性と構成を示している。従来例2では、400〜700nmの波長の光に対する反射率はほぼ均一であるが、図6に示す実施例1では、読出光強度の強い550nm付近と、遮光層2の透過率が高く空間光変調器の感度が高い長波長領域に対する反射率を約98%と従来例の約95%に比べて選択的に高めているのが特徴である。
【0023】
ここで、所望の反射特性を有する多層膜積層ミラーは、光学長(厚み×屈折率)が反射したい光の4分の1波長に等しくなる膜を積層することによって得られる。したがって、誘電体ミラー層3の膜厚は厚いほうが反射率を高くできるが、厚くするとインピーダンスが上昇し、光空間変調器101の感度が劣化するため、膜厚は3μm以下とすることが好ましい。また、積層する膜数は多いほど、反射率の高い波長領域を広げることができるが、膜数を増やすと、厚みが増すことと、工程も複雑になることから、40層以下とすることが好ましい。
【0024】
一方、空間光変調器101の読出光が入射する面には、読出光に対する反射防止膜23を有するガラス基板21が設けられ、ガラス基板の入射面と反対側の面には、読出光を透過する第2の透明電極層11が形成されている。
【0025】
誘電体ミラー層3上と第2の透明電極層11上には、液晶の配列方向を一定に保つ液晶配向層4Cが形成されており、それぞれの液晶配向層4Cが枠型のスペーサー4Bを介して接続され、内部に液晶が充填されて、液晶層4Aを形成し、光変調層4を構成している。本実施形態における液晶層4Aは平行配向液晶を用いている。この光変調層4の変調方式は、多色カラー表示が簡単にできる複屈折制御型(ECBモード)が好ましい。このECBモードでは、光変調層に電圧をかけると、電圧に応じて液晶の配列が傾き、その結果、光変調層に入射した光の光路長が変化する。この光路長の変化に応じて入射光の偏光が変化する。そして、光路長が半波長ずれたときに、直線偏光の入射光の偏光方向が90°回転する(π変調)。この時に、上述した偏光板111を通過する投射光の光量が最大になる。
【0026】
次に、本実施形態の動作を図1、図2を用いて説明する。まず、図2を用いて概略を説明する。3倍スキャン型CRT103により、それぞれの3原色に対応した明暗画像が書込光として、光ファイバープレートを経由して、本実施形態の空間光変調器101へ導かれる。
【0027】
一方、光源104から射出した白色の読出光は、コリメートレンズ105により平行光線に調整された後、UVフィルタ106、IRフィルタ107により、紫外域、赤外域の波長の光を取り除かれ、波長領域が400〜700nmの可視光に調整される。その後、カラーシャッタ108により、時間的に赤青緑の3種類の原色光に分割される。さらに、偏光板109により直線偏光された読出光は、ビームスプリッタ110で進行方向が直角に曲げられ、空間光変調器101に入射する。
【0028】
空間光変調器101内部で、後で詳述する動作により、画像情報が書き込まれた読出光すなわち投射光は、空間光変調器101から出力され、ビームスプリッタ110を通過して直進し、偏光板111により投射光中に含まれる画像情報のみが抽出され、投射レンズ112を経て、スクリーン113に投射され、拡大画像が表示される。
【0029】
次に、図1により空間光変調器101内部の動作を詳細に説明する。空間光変調器101の透明電極層10、11間には常時一定のバイアス電圧が加えられている。透明電極層10側から入射した書込光により、光導電層1内に画像を投影すると、この画像の明暗に応じて、光導電層1のインピーダンスが局部的に変化する。このインピーダンスが低下した部分に対応する液晶層4Aには電界が加わる。この結果、液晶の配列の傾きが変わり、液晶層4Aには書込光に含まれる画像情報に応じて、映像が書き込まれる。一方、透明電極層11側から入射した読出光は、液晶層4Aを経て大部分が誘電体ミラー層3で反射され、液晶層4Aを再度通過して、液晶層4Aに書き込まれた映像に対応して偏光し、画像情報が書き込まれた投射光として空間光変調器101の外部へ出て行く。
【0030】
ここで、誘電体ミラー層3では光の吸収はほとんど無視できるので、到達した読出光のうち反射されない分の光は、誘電体ミラー層3を透過する。透過した光の一部は、その先にある遮光層2で大部分が吸収されるが、その一部は遮光層2を透過して、光導電層1側に漏れて光導電層1のインピーダンスを低下させる。これがノイズとなり、空間光変調器の感度や解像度劣化の要因となる。
【0031】
図10には、図6に示す反射特性を持つ実施例1の誘電体ミラー3と、図9に示す反射特性を持つ従来例2の誘電体ミラー3を使用した場合の、漏れ光の強度を比較した結果を示している。誘電体ミラー3を除いた空間光変調器101の構成は両者とも同一である。図10の実線で示す従来例2では、誘電体ミラー層3の反射率がほぼ均一なため、読出光強度が高い550nm付近と、遮光層3の透過率が高い約650nm以上の長波長領域で漏れ光の強度が強くなった。図から明らかなように、光導電層1の感度が高い長波長領域の漏れ光の光量が多い。これに対し、破線で示す実施例1では、前述したように550nm付近と長波長域における誘電体ミラーの反射率を向上させているため、全体的に漏れ光強度が低く、特に、光導電層3の感度が高い長波長領域の漏れ光は従来例2に比べて約半分に抑えられた。このため、漏れ光によって起こる光導電層1のインピーダンス変化と、それに起因する空間光変調器のノイズも、実施例1では、従来例に比べて低く抑えられる。
【0032】
誘電体ミラー3には、図7に示すような反射特性、構成を有する多層膜ミラーを使用してもよい(以下実施例2と呼ぶ)。この実施例2の誘電体ミラー3は、650〜700nmの長波長側の光に対する反射率が、従来例2の約95%に対して、約98%に達する。この実施例2に係る誘電体ミラーを使用した場合と、従来例2の誘電体ミラーを使用した場合の漏れ光強度の波長分布を比較した結果を図11に示す。図より、破線で示す実施例2の場合は、実線で示す従来例2に比べて、570nmより長波長の領域で、漏れ光強度が半分以下に抑えられた。この結果、漏れ光によって起こる光導電層1のインピーダンス変化と、それに起因する空間光変調器出力のノイズは、この実施例2においても従来例に比べて低く抑えることができる。
【0033】
また、(1)光導電部の感度が高い波長領域、(2)読出光強度が高い波長領域、(3)遮光層の吸収率が高い波長領域、のそれぞれが異なる場合は、これらの全てについて高い反射率を有する誘電体ミラー3を使用することが最も望ましい。これは、(1)の波長領域の光は、漏れ光が少量でも、他の波長領域に比較して、インピーダンスの変化が大きく、空間光変調器のノイズが発生しやすいからである。また、(2)の波長領域の光は、漏れ光の割合が小さくても、他の波長領域に比較して、漏れ光の光量は多くなるからである。また、(3)の波長領域の光は、他の波長領域に比較して、誘電体ミラー3を透過した場合に、遮光層で吸収される割合が低く、光導電層1に到達する割合が大きいからである。しかし、光導電部や遮光層、読出光の特性によっては、所望の反射率を有する多層膜ミラーを形成すると、膜厚が厚くなり、遮光層と多層膜ミラー層のインピーダンスが大きくなって、空間光変調器の感度が劣化する場合や、膜数が多くなり、加工工程上問題となる場合があるため、(1)〜(3)の反射特性を適宜組み合わせて採用することが好ましい。あるいは、多層膜ミラー層のみで光導電層への漏れ光を軽減できる場合は、遮光層をなくしてもよい。
【0034】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光書込反射型空間光変調器において誘電体ミラーの反射特性を、遮光層の透過率が高い波長領域に対する反射率を他の波長領域より高くなるような反射特性となるよう調整している。読出光の任意の波長領域を選択的に反射することにより、誘電体ミラーと遮光層を透過して、光導電層に漏れる読出光の光量を効果的に抑制している。この結果、光導電層に不要な光が入射して起こる光導電層のインピーダンスの不必要な変動を防ぐことができ、空間光変調器で発生するノイズを防止し、感度及び解像度を向上させる効果がある。
【0035】
さらに、広帯域で高反射率の誘電体ミラーを製作する場合に比べて、高反射率の波長領域を限定しているため、誘電体ミラーの膜厚を薄く、誘電体ミラー自体の電気抵抗を小さくできる。また、遮光層自体をなくしたり、薄くすることができ、遮光層部分の電気抵抗も小さくできる。この結果、光変調器の電圧低下が防止でき、高解像度を確保できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る光書込反射型空間光変調器の断面構造図である。
【図2】図1に係る空間光変調器を使用した単板式カラープロジェクタの構成図である。
【図3】図2に係る単板式カラープロジェクタで使用される読出光のスペクトル分布図である。
【図4】図1に係る空間光変調器のπ変調必要光量分布図である。
【図5】図1に係る遮光層の透過特性図である。
【図6】実施例1の誘電体ミラーの反射特性図、構成を示す図である。
【図7】実施例2の誘電体ミラーの反射特性図、構成を示す図である。
【図8】従来例1の誘電体ミラーの反射特性図、構成を示す図である。
【図9】従来例2の誘電体ミラーの反射特性図、構成を示す図である。
【図10】図9に係る従来例1と図6に係る実施例1の誘電体ミラーを使用した空間光変調器において光導電層に入射する読出光強度を比較した図である。
【図11】図9に係る従来例1と図7に係る実施例2の誘電体ミラーを使用した空間光変調器において光導電層に入射する読出光強度を比較した図である。
【符号の説明】
1…光導電層、2…遮光層、3…誘電体ミラー、4…光変調層、4A…液晶層、4B…スペーサ、4C…液晶配向層、10・11…透明電極層、20・21…ガラス基板、22・23…反射防止膜、101…空間光変調器、102…光ファイバープレート、103…3倍スキャン型CRT、104…光源、105…コリメートレンズ、106…UVフィルタ、107…IRフィルタ、108…カラーシャッタ、109・111…偏光板、110…ビームスプリッタ、112…投射レンズ、113…スクリーン。
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical writing reflection type spatial light modulator used for a projection type liquid crystal display device or the like.
[0002]
[Prior art]
The optical writing reflection type spatial light modulator is widely used as a display device of a projection type liquid crystal display device such as a projector. Such a spatial light modulator has a laminated structure in which a photoconductive layer, a light shielding layer, a dielectric mirror, and a light modulation layer are sequentially stacked between two transparent electrodes. By projecting an image onto the photoconductive layer with writing light, a voltage corresponding to the contrast of the image is applied to the light modulation layer, and the readout light is modulated and projected to the outside to obtain an enlarged image.
[0003]
Here, the dielectric mirror and the light shielding layer have a role of preventing the reading light from entering the photoconductive layer side and preventing the resolution of the enlarged image to be projected from deteriorating. Furthermore, the dielectric mirror also has a role of reflecting the projection light obtained by modulating the readout light by the light modulation layer and projecting it outside. As such a dielectric mirror, one formed by laminating TiO 2 and SiO 2 in a multilayer film is widely used.
[0004]
However, it has been difficult to completely reflect broadband light such as that used as a light source for readout light of a single-plate color projector, with these multilayer dielectric mirrors. For example, as shown in FIG. 8, a mirror having a reflectance of nearly 100% could be produced in a narrow wavelength range of about 500 to 600 nm (hereinafter referred to as Conventional Example 1). However, when trying to achieve a high reflectance over a wide wavelength range of about 400 to 700 nm, only a reflectance of about 95% was obtained as shown in FIG. 9 (hereinafter referred to as Conventional Example 2). For this reason, the readout light leaks to the photoconductive layer side, which has been a factor of sensitivity and resolution degradation. In particular, single-plate color projectors use a high-output light source for readout light, so even if the percentage of light leaking to the photoconductive layer is small, the amount of light leaking is greater than that of writing light, so measures against leakage light are important. It was a difficult task.
[0005]
On the other hand, if the number of layers of the multilayer film is increased, the reflectance is improved. However, the electric resistance of the dielectric mirror increases, the voltage of the light modulation layer decreases, and the sensitivity decreases. Therefore, the number of layers and the film thickness of the multilayer film cannot be significantly increased. For the same reason, it is also difficult to increase the thickness of the light shielding layer and absorb the reading light transmitted through the dielectric mirror to block the leaked light to the photoconductive layer side.
[0006]
As an apparatus for solving such a problem, the invention of Japanese Patent Laid-Open No. 7-294958 is known. This realizes a high reflectance without changing the thickness of the layer by changing the laminated material to ZnS and MgF2.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
However, with this device, the internal stress of MgF2 is large, so distortion and peeling are likely to occur during film formation, and high-quality multilayer mirrors can be generated as in the case of using conventional TiO 2 or SiO 2 as a laminated material. There was a problem that it was difficult to do.
[0008]
Accordingly, an object of the present invention is to provide a high-sensitivity optically writing reflective spatial light modulator having a high-quality mirror that is easy to manufacture and has no distortion.
[0009]
[Means for Solving the Problems]
The optical writing reflective spatial light modulator according to the present invention includes (1) a first transparent electrode layer on which writing light is incident, and (2) a layer laminated on the transparent electrode layer, and impedance depending on the writing light. (3) a light-shielding layer that is laminated on the light-shielding layer and blocks light that has arrived, and ( 4 ) a light-shielding layer that is laminated on the light-conducting layer and has a low reflectivity for wavelength regions with a low light-shielding rate . A dielectric mirror having a reflection characteristic higher than the reflectance for the wavelength region and reflecting the reading light incident from the opposite surface to the writing light in the incident direction; and ( 5 ) a liquid crystal layered thereon to modulate the reading light. And ( 6 ) a second transparent electrode layer that is stacked on the light modulation layer and on which reading light is incident.
[0010]
The dielectric mirror used in the present invention may be any dielectric mirror that selectively reflects readout light in a wavelength region where the light shielding layer has a low light shielding rate. Therefore, a mirror having high reflectance and no distortion can be easily applied. And reading light in this wavelength region can be prevented from entering the photoconductive layer.
[0016]
As described above, since the wavelength region where the reflectance is high is limited, the film thickness and the number of films of the dielectric mirror can be reduced as compared with the case where a dielectric mirror having a high reflectance comparable to that in the entire region is created. Can be thinned. Accordingly, the leakage of the readout light to the photoconductive layer can be effectively suppressed by the thin dielectric mirror having a small electric resistance. If TiO2 or SiO2 is used as the laminated material, a high-quality multilayer mirror can be easily produced as in the conventional case.
[0017]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. FIG. 1 is a cross-sectional structural view of the present embodiment, and FIG. 2 is a block diagram of a single-plate color projector using the present embodiment.
[0018]
First, the configuration of a single-plate color projector will be described with reference to FIG. The writing light that is the basis of the image displayed on the screen 113 is generated by the image writing CRT 104. The optical path of the writing light and the optical path of the projection light for projecting the image on the screen 113 are arranged on the same straight line in the opposite direction. On the other hand, the optical path of the readout light serving as the light source of the projection light is orthogonal to this, and the beam splitter 110 is placed at a position where the two optical paths intersect. A 250 W metal halide lamp is used as the light source 104 for reading light. A collimating lens 105, a UV filter 106, and an IR filter 107 are arranged in the optical path of the readout light from the light source 104 side. Here, the wavelength of the readout light after passing through the IR filter is 400 to 700 nm and has the spectral distribution shown in FIG. As is clear from FIG. 3, the intensity around the wavelength of 555 nm is extremely strong. In the optical path of the readout light, a color filter 108 that temporally decomposes the readout light into three primary colors of red, blue, and green and a polarizing plate 109 that converts the readout light into linearly polarized light are provided between the beam splitter 110 and the optical path. Yes.
[0019]
On the other hand, the light source of the writing light is the triple scan type image writing CRT 103, which outputs an image corresponding to the primary color of the separated reading light. The image writing CRT 103 is connected to the spatial light modulator 101 via the optical fiber plate 102. On the optical path of the projection light emitted from the spatial light modulator 101, a beam splitter 110, a polarizing plate 111 that extracts image information in the projection light, and a projection lens 112 that enlarges and projects an image are provided. Is connected to a screen 113 for use.
[0020]
Next, a detailed configuration of the spatial light modulator 101 will be described with reference to FIG.
[0021]
An antireflection film 22 for the writing light is formed on the incident surface of the glass substrate 20 on which the writing light is incident, and a transparent electrode layer 10 that transmits the writing light is provided on the surface opposite to the incident surface. ing. A photoconductive layer 1 is further formed on the transparent electrode layer. The photoconductive layer 1 is preferably an amorphous silicon layer. The internal impedance of the photoconductive layer 1 changes according to the incident writing light. In this embodiment, the amount of change in impedance of amorphous silicon constituting the photoconductive layer 1 varies depending on the wavelength of incident light, and the impedance is minimized when light having a wavelength of about 700 nm is incident even if the amount of light is the same. Therefore, the light amount of writing light (π modulation required light amount) necessary for maximizing the light amount of projection light, which will be described in detail later, becomes smaller on the long wavelength side as shown in FIG. That is, the sensitivity of the output of the spatial light modulator 101 to the writing light is increased on the long wavelength side.
[0022]
On the photoconductive layer 1, there is formed a light shielding layer 2 that blocks light incident on the photoconductive layer 1 from a surface opposite to the writing light. The light shielding layer 2 is preferably CdTe having a high light shielding rate, that is, a low transmittance. Here, FIG. 5 is a diagram showing the transmission characteristics of the light shielding layer 2, and it can be seen that light on the long wavelength side is easily transmitted. A dielectric mirror layer 3 made of a multilayer film is formed on the light shielding layer 2. The dielectric mirror layer 3 is preferably a laminate of TiO 2 and SiO 2 because a good quality multilayer film can be easily formed. A preferred example of the dielectric mirror layer 3 is a multilayer mirror having the reflection characteristics and configuration shown in FIG. 6 (hereinafter referred to as Example 1). On the other hand, FIG. 9 shows the reflection characteristics and configuration of the dielectric mirror layer of Conventional Example 2 in which the broadband reflectance is increased. In Conventional Example 2, the reflectance for light having a wavelength of 400 to 700 nm is substantially uniform. However, in Example 1 shown in FIG. 6, in the vicinity of 550 nm where the reading light intensity is strong, the transmittance of the light-shielding layer 2 is high, and the spatial light. The characteristic is that the reflectivity for a long wavelength region where the sensitivity of the modulator is high is selectively increased to about 98% compared to about 95% of the conventional example.
[0023]
Here, a multilayer laminated mirror having desired reflection characteristics can be obtained by laminating films whose optical length (thickness × refractive index) is equal to a quarter wavelength of light to be reflected. Therefore, the thicker the dielectric mirror layer 3 is, the higher the reflectivity can be. However, when the thickness is increased, the impedance is increased and the sensitivity of the spatial light modulator 101 is deteriorated. Therefore, the thickness is preferably 3 μm or less. In addition, as the number of stacked films increases, the wavelength region with high reflectivity can be expanded. However, increasing the number of films increases the thickness and complicates the process. preferable.
[0024]
On the other hand, a glass substrate 21 having an antireflection film 23 for the reading light is provided on the surface on which the reading light of the spatial light modulator 101 is incident, and the reading light is transmitted to the surface opposite to the incident surface of the glass substrate. A second transparent electrode layer 11 is formed.
[0025]
On the dielectric mirror layer 3 and the second transparent electrode layer 11, a liquid crystal alignment layer 4C that keeps the liquid crystal alignment direction constant is formed, and each liquid crystal alignment layer 4C is interposed via a frame-shaped spacer 4B. The liquid crystal layer 4A is formed by filling the inside with liquid crystal, and the light modulation layer 4 is formed. The liquid crystal layer 4A in this embodiment uses parallel alignment liquid crystal. The modulation method of the light modulation layer 4 is preferably a birefringence control type (ECB mode) that can easily perform multicolor display. In this ECB mode, when a voltage is applied to the light modulation layer, the alignment of the liquid crystal is tilted according to the voltage, and as a result, the optical path length of the light incident on the light modulation layer changes. The polarization of the incident light changes according to the change in the optical path length. Then, when the optical path length is shifted by a half wavelength, the polarization direction of the linearly polarized incident light is rotated by 90 ° (π modulation). At this time, the amount of projection light passing through the polarizing plate 111 is maximized.
[0026]
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to FIGS. First, an outline will be described with reference to FIG. By the triple scan type CRT 103, the bright and dark images corresponding to the three primary colors are guided as writing light to the spatial light modulator 101 of the present embodiment via the optical fiber plate.
[0027]
On the other hand, the white readout light emitted from the light source 104 is adjusted to parallel rays by the collimator lens 105, and then the UV filter 106 and the IR filter 107 are used to remove light having wavelengths in the ultraviolet region and infrared region. The visible light is adjusted to 400 to 700 nm. Thereafter, the color shutter 108 splits the three primary color lights of red, blue and green in terms of time. Further, the reading light linearly polarized by the polarizing plate 109 is bent at a right angle by the beam splitter 110 and enters the spatial light modulator 101.
[0028]
In the spatial light modulator 101, read light, that is, projection light in which image information is written by an operation described in detail later is output from the spatial light modulator 101, passes straight through the beam splitter 110, and travels straight. Only the image information included in the projection light is extracted by 111 and projected onto the screen 113 through the projection lens 112 to display an enlarged image.
[0029]
Next, the internal operation of the spatial light modulator 101 will be described in detail with reference to FIG. A constant bias voltage is always applied between the transparent electrode layers 10 and 11 of the spatial light modulator 101. When an image is projected into the photoconductive layer 1 by writing light incident from the transparent electrode layer 10 side, the impedance of the photoconductive layer 1 locally changes according to the brightness of the image. An electric field is applied to the liquid crystal layer 4A corresponding to the portion where the impedance is reduced. As a result, the inclination of the alignment of the liquid crystal changes, and an image is written in the liquid crystal layer 4A according to the image information included in the writing light. On the other hand, most of the reading light incident from the transparent electrode layer 11 side is reflected by the dielectric mirror layer 3 through the liquid crystal layer 4A, passes through the liquid crystal layer 4A again, and corresponds to the image written in the liquid crystal layer 4A. Then, it is polarized and goes out of the spatial light modulator 101 as projection light in which image information is written.
[0030]
Here, since light absorption is almost negligible in the dielectric mirror layer 3, the amount of light that is not reflected among the reached read light passes through the dielectric mirror layer 3. A part of the transmitted light is mostly absorbed by the light shielding layer 2 ahead, but a part of the light is transmitted through the light shielding layer 2 and leaks to the photoconductive layer 1 side to impede the impedance of the photoconductive layer 1. Reduce. This becomes noise and causes the sensitivity and resolution degradation of the spatial light modulator.
[0031]
FIG. 10 shows the intensity of leakage light when the dielectric mirror 3 of Example 1 having the reflection characteristics shown in FIG. 6 and the dielectric mirror 3 of the conventional example 2 having the reflection characteristics shown in FIG. 9 are used. The comparison results are shown. The configuration of the spatial light modulator 101 excluding the dielectric mirror 3 is the same for both. In the conventional example 2 shown by the solid line in FIG. 10, the reflectivity of the dielectric mirror layer 3 is almost uniform, so that the read light intensity is high near 550 nm and the transmittance of the light shielding layer 3 is high in a long wavelength region of about 650 nm or more. The intensity of leaked light has increased. As is clear from the figure, the amount of leakage light in the long wavelength region where the sensitivity of the photoconductive layer 1 is high is large. On the other hand, in Example 1 indicated by the broken line, the reflectance of the dielectric mirror in the vicinity of 550 nm and in the long wavelength region is improved as described above, so that the leakage light intensity is low overall. The leakage light in the long wavelength region having a high sensitivity of 3 was suppressed to about half compared to the conventional example 2. For this reason, the impedance change of the photoconductive layer 1 caused by the leaked light and the noise of the spatial light modulator resulting therefrom are also suppressed to be lower in the first embodiment than in the conventional example.
[0032]
The dielectric mirror 3 may be a multilayer mirror having reflection characteristics and configuration as shown in FIG. 7 (hereinafter referred to as Example 2). In the dielectric mirror 3 of Example 2, the reflectance with respect to light on the long wavelength side of 650 to 700 nm reaches about 98% as compared with about 95% of Conventional Example 2. FIG. 11 shows a result of comparing the wavelength distribution of the leakage light intensity when the dielectric mirror according to Example 2 is used and when the dielectric mirror according to Conventional Example 2 is used. From the figure, in the case of Example 2 indicated by a broken line, the leakage light intensity was suppressed to half or less in a region having a wavelength longer than 570 nm as compared with Conventional Example 2 indicated by a solid line. As a result, the impedance change of the photoconductive layer 1 caused by the leaked light and the noise of the spatial light modulator output resulting therefrom can be suppressed to be lower in the second embodiment as compared with the conventional example.
[0033]
If (1) the wavelength region where the photoconductive portion has a high sensitivity, (2) the wavelength region where the reading light intensity is high, and (3) the wavelength region where the light-absorbing layer has a high absorptance are different, all of these It is most desirable to use a dielectric mirror 3 having a high reflectivity. This is because the light in the wavelength region (1) has a large impedance change compared to other wavelength regions even if the amount of leakage light is small, and noise of the spatial light modulator is likely to occur. Further, the light in the wavelength region (2) has a larger amount of leakage light than the other wavelength regions even if the ratio of the leakage light is small. In addition, when the light in the wavelength region (3) is transmitted through the dielectric mirror 3 compared to the other wavelength regions, the proportion absorbed by the light shielding layer is low, and the proportion reaching the photoconductive layer 1 is low. Because it is big. However, depending on the characteristics of the photoconductive portion, the light shielding layer, and the readout light, when a multilayer mirror having a desired reflectance is formed, the film thickness increases, and the impedance of the light shielding layer and the multilayer mirror layer increases, resulting in a space Since the sensitivity of the optical modulator may be deteriorated or the number of films may be increased, which may cause a problem in processing steps, it is preferable to employ a combination of the reflection characteristics (1) to (3) as appropriate. Alternatively, when the leakage light to the photoconductive layer can be reduced only by the multilayer mirror layer, the light shielding layer may be omitted.
[0034]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, in the optical writing reflection type spatial light modulator, the reflection characteristics of the dielectric mirror and the reflectance for the wavelength region where the light-shielding layer has a high transmittance are higher than those of other wavelength regions. The reflection characteristics are adjusted. By selectively reflecting an arbitrary wavelength region of the reading light, the amount of the reading light that passes through the dielectric mirror and the light shielding layer and leaks to the photoconductive layer is effectively suppressed. As a result, unnecessary fluctuations in the impedance of the photoconductive layer caused by unwanted light incident on the photoconductive layer can be prevented, noise generated in the spatial light modulator can be prevented, and sensitivity and resolution can be improved. There is.
[0035]
Furthermore, since the wavelength range of the high reflectivity is limited compared to the case of producing a broadband, high reflectivity dielectric mirror, the thickness of the dielectric mirror is reduced and the electrical resistance of the dielectric mirror itself is reduced. it can. Further, the light shielding layer itself can be eliminated or made thin, and the electric resistance of the light shielding layer portion can be reduced. As a result, the voltage drop of the optical modulator can be prevented and high resolution can be ensured.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a cross-sectional structure diagram of an optical writing reflective spatial light modulator according to an embodiment of the present invention.
2 is a configuration diagram of a single-plate color projector using the spatial light modulator according to FIG. 1. FIG.
FIG. 3 is a spectrum distribution diagram of readout light used in the single-plate color projector according to FIG.
FIG. 4 is a π-modulation necessary light amount distribution diagram of the spatial light modulator according to FIG. 1;
FIG. 5 is a transmission characteristic diagram of the light shielding layer according to FIG. 1;
6 is a reflection characteristic diagram and a configuration of the dielectric mirror of Example 1. FIG.
7 is a reflection characteristic diagram and a configuration of a dielectric mirror of Example 2. FIG.
8 is a reflection characteristic diagram and a configuration of a dielectric mirror of Conventional Example 1. FIG.
9 is a reflection characteristic diagram and a configuration of a dielectric mirror of Conventional Example 2. FIG.
10 is a diagram comparing the intensity of readout light incident on a photoconductive layer in a spatial light modulator using the dielectric mirrors of Conventional Example 1 according to FIG. 9 and Example 1 according to FIG.
11 is a diagram comparing the intensity of readout light incident on a photoconductive layer in a spatial light modulator using the dielectric mirrors of Conventional Example 1 according to FIG. 9 and Example 2 according to FIG.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Photoconductive layer, 2 ... Light-shielding layer, 3 ... Dielectric mirror, 4 ... Light modulation layer, 4A ... Liquid crystal layer, 4B ... Spacer, 4C ... Liquid crystal alignment layer, 10 * 11 ... Transparent electrode layer, 20 * 21 ... Glass substrate, 22.23 ... Antireflection film, 101 ... Spatial light modulator, 102 ... Optical fiber plate, 103 ... Triple scan type CRT, 104 ... Light source, 105 ... Collimator lens, 106 ... UV filter, 107 ... IR filter, 108, a color shutter, 109, 111, a polarizing plate, 110, a beam splitter, 112, a projection lens, 113, a screen.

Claims (1)

書込光が入射する第1の透明電極層と、
前記第1の透明電極層に積層され、前記書込光に応じてインピーダンスが変化する光導電層と、
前記光導電層に積層され、到達した光を遮る遮光層と、
前記遮光層に積層されると共に、前記遮光層の遮光率が低い波長領域に対する反射率が、他の波長領域に対する反射率より高い反射特性を有し、前記書込光と反対の面から入射する読出光を入射方向へ反射する誘電体ミラーと、
前記誘電体ミラーに積層され、前記読出光を変調させる液晶を利用した光変調層と、
前記光変調層に積層され、前記読出光が入射する第2の透明電極層と、
を備える光書込反射型空間光変調器
A first transparent electrode layer on which writing light is incident;
A photoconductive layer laminated on the first transparent electrode layer, the impedance of which changes according to the writing light;
A light-shielding layer that is laminated on the photoconductive layer and blocks light that has arrived;
It is laminated on the light shielding layer, and the reflectance for the wavelength region where the light shielding rate of the light shielding layer is low is higher than the reflectance for other wavelength regions, and is incident from the surface opposite to the writing light. A dielectric mirror that reflects the readout light in the direction of incidence;
A light modulation layer using a liquid crystal layered on the dielectric mirror and modulating the readout light;
A second transparent electrode layer that is stacked on the light modulation layer and on which the reading light is incident;
Optical writing reflective spatial light modulator comprising
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