JP3612833B2

JP3612833B2 - Transmission differential interference microscope

Info

Publication number: JP3612833B2
Application number: JP34488895A
Authority: JP
Inventors: 邦夫利光
Original assignee: Nikon Corp
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1995-12-06
Filing date: 1995-12-06
Publication date: 2005-01-19
Anticipated expiration: 2015-12-06
Also published as: JPH09159921A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、ステージに載置された標本の微分干渉観察を行なう透過型微分干渉顕微鏡に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種の透過型微分干渉顕微鏡として、例えばＬＥＩＣＡＤＭＲの取扱説明書の８６頁に記載されたものが知られている。この顕微鏡は、ポラライザ及びアナライザがそれぞれ装着されたポラライザ部及びアナライザ部と、コンデンサ側プリズム及び対物レンズ側プリズムがそれぞれ取り外し可能に装着されたコンデンサ及びプリズム保持部とを備え、コンデンサは顕微鏡本体のコンデンサホルダに、方位の調整のため光軸を中心に回転可能に取り付けられている。
【０００３】
一般に、このような従来の透過型微分干渉顕微鏡では、一対の偏光素子（ポラライザ及びアナライザ）と一対の微分干渉用プリズム（コンデンサ側プリズム及び対物レンズ側プリズム）の４つの光学素子はそれぞれ方向性を有しているため、微分干渉観察を行なうために各素子の方位を調整する必要がある。すなわち、ポラライザの方位に対するアナライザの方位及び一対の微分干渉用プリズムの各方位がそれぞれ９０°及び４５°となるように、各光学素子の方位を調整する必要がある。
【０００４】
上記取扱説明書の８６頁〜８７頁には、ポラライザとアナライザの方位調整についての指示は記載されているが、ポラライザに対する一対の微分干渉用プリズムの各方位調整についての指示は記載されていない。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来の透過型微分干渉顕微鏡では、前記４つの光学素子の方位は製品の出荷前に調整されているが、コンデンサ側プリズム及び対物レンズ側プリズムの少なくとも一方の方位をユーザー側で調整する必要がある。その理由は、コンデンサはコンデンサホルダに取り外し可能に装着されているため、コンデンサをコンデンサホルダから取り外した後このホルダに再び取り付けたとき、製造誤差などによる取り付け部分のがた量によってコンデンサホルダに対するコンデンサの取り付け位置がずれてしまい、その結果、ポラライザに対するコンデンサ側プリズムの方位が変化してしまうからである。
【０００６】
例えば、コンデンサ側プリズムの方位を調整するためには、ポラライザとアナライザの方位を互いに直交させて消光状態とした後、そのプリズムを光路内に入れる。例えば、コンデンサ側プリズム及びその他の光学素子が装着されたコンデンサのターレットを回転させることにより、そのプリズムを光路内に入れる。この状態で、最も明るい位置が得られるようにコンデンサ全体をコンデンサ取り付け部に対して回転させることにより、コンデンサ側プリズムの方位をポラライザの方位に対して４５°にすることができる。しかし、コンデンサの回転位置を目視により最も明るい位置に合わせることは非常に難しく、コンデンサ側プリズムの方位を精度良く調整することができない。
【０００７】
そこで、コンデンサ側プリズムの方位調整を精度良く行なうために、方位調整の工具偏光素子を用意し、この工具偏光素子を使ってコンデンサ側プリズムの方位を調整する。すなわち、ポラライザとアナライザの方位を互いに直交させて消光状態とした後、コンデンサ側プリズムをコンデンサのプリズム装着部から外し、この装着部に工具偏光素子を装着する。この状態で、ポラライザと工具偏光素子の方位が互いに直交して消光状態となるようにコンデンサ全体を回転させる。その消光状態が得られた位置でコンデンサをコンデンサホルダに固定し、この固定後、そのプリズム装着部から工具偏光素子を取り外してその装着部にコンデンサ側プリズムを再び装着する。これによって、コンデンサ側プリズムの方位がポラライザの方位に対して４５°になっている。
【０００８】
このように、上記従来の透過型微分干渉顕微鏡では、コンデンサ側プリズム及び対物レンズ側の少なくとも一方の方位を調整するためには、工具偏光素子を前記４つの光学素子とは別に購入して用意しなければならず、その保管の手間もかかるという問題があった。
【０００９】
この発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、その課題は工具偏光素子を用いずにプリズムの方位調整を行なえる透過型微分干渉顕微鏡を提供することである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
前述の課題を解決するため請求項１記載の発明に係る透過型微分干渉顕微鏡は、ステージに載置された標本の微分干渉観察を行なう顕微鏡で、ポラライザ及びアナライザがそれぞれ取り外し可能に装着されたポラライザ部及びアナライザ部と、コンデンサ側プリズム及び対物レンズ側プリズムがプリズム装着部にそれぞれ取り外し可能に装着されたコンデンサ及びプリズム保持部とを備え、前記ポラライザ部、アナライザ部、コンデンサ及びプリズム保持部の少なくとも３つが方位の調整のため光軸を中心に回転可能に構成された透過型微分干渉顕微鏡において、前記ポラライザ及びアナライザの少なくとも一方が前記コンデンサ及び前記プリズム保持部の少なくとも一方の前記プリズム装着部に装着可能に構成されていることを特徴とする。
前記ポラライザは前記ポラライザ部のポラライザ装着部に装着され、前記対物レンズ側プリズムは対物レンズが装着されるレボルバ内部の対物レンズ側プリズム装着部に装着され、前記対物レンズ側プリズム装着部と前記ポラライザ装着部の大きさ及び構造は等しいことを特徴とする。
前記アナライザは前記アナライザ部のアナライザ装着部に装着され、前記コンデンサ側プリズムはコンデンサのコンデンサ側プリズム装着部に装着され、前記アナライザ装着部とコンデンサ側プリズム装着部の大きさ及び構造は等しいことを特徴とする。
【００１１】
具体的には、ポラライザ部及びアナライザにそれぞれ設けられるポラライザ装着部及びアナライザ装着部の少なくとも一方の大きさ及び構造と、コンデンサ及び前記プリズム保持部の少なくとも一方のプリズム装着部の大きさ及び構造とを同じにしておくことにより、ポラライザ及びアナライザの少なくとも一方がコンデンサ及びプリズム保持部の少なくとも一方のプリズム装着部に装着可能になる。
【００１２】
請求項１記載の透過型微分干渉顕微鏡では、ポラライザ及びアナライザの少なくとも一方が前記コンデンサ及び前記プリズム保持部の少なくとも一方のプリズム装着部に装着可能に構成されているので、ポラライザ及びアナライザの少なくとも一方を、コンデンサ側プリズム及び対物レンズ側プリズムの少なくとも一方の方位を調整のための工具偏光素子として用いることができる。
【００１３】
例えば、正しい方位に位置決めされているアナライザの方位に対するコンデンサ側プリズムの方位を調整する場合、コンデンサのプリズム装着部にポラライザ部から取り外したポラライザを装着する。この状態で、アナライザとポラライザの方位が互いに直交して消光状態となるようにコンデンサ全体を回転させる。その消光状態が得られた位置でコンデンサを固定し、この固定後、コンデンサのプリズム装着部からポラライザを取り外してその装着部にコンデンサ側プリズムを装着することにより、コンデンサ側プリズムの方位がアナライザの方位に対して４５°になる。
【００１４】
また、正しい方位に位置決めされているポラライザの方位に対するコンデンサ側プリズムの方位を調整する場合には、プリズム保持部のプリズム装着部にアナライザ部から取り外したアナライザを装着する。この状態で、アナライザとポラライザの方位が互いに直交して消光状態となるようにコンデンサ全体を回転させる。その消光状態が得られた位置でコンデンサを固定し、この固定後、コンデンサのプリズム装着部からアナライザを取り外してその装着部にコンデンサ側プリズムを装着することにより、コンデンサ側プリズムの方位がポラライザの方位に対して４５°になる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００１６】
図１はこの発明の一実施形態に係る透過型微分干渉顕微鏡のポラライザ部を、図２はその顕微鏡のコンデンサを、図３はその透過型微分干渉顕微鏡全体をそれぞれ示している。
【００１７】
図３に示すように、一実施形態に係る透過型微分干渉顕微鏡は、明視野観察が可能な正立の顕微鏡である。この顕微鏡は、ポラライザ１及びアナライザ２がそれぞれ取り外し可能に装着されたポラライザ部３及びアナライザ部４と、コンデンサ側プリズム５及び対物レンズ側プリズム６がそれぞれ取り外し可能に装着されたコンデンサ７及びレボルバ（プリズム保持部）８とを備えている。さらに、透過型微分干渉顕微鏡は、標本９が載置されるステージ１０と、対物レンズ１１と、コンデンサレンズ１２と、不図示の接眼レンズとを備えている。
【００１８】
ポラライザ部３は、図１及び図３に示すように、顕微鏡本体１３の下部に配置されている。ポラライザ部３は、顕微鏡本体１３と一体に設けられた円筒部１４と、ポラライザ１の方位調整のため円筒部１４に光軸（対物レンズ１１及びコンデンサレンズ１２を含む光学系の光軸）を中心に回転可能に支持された環状の本体部１５と、この本体部１５を円筒部１４に固定するためのセットビス１６とを有する。
【００１９】
ポラライザ１は、その方位をホルダ１７の位置決め溝１７ａに対し予め決められた方位にした状態で、ホルダ１７に接着により固定されている。ホルダ１７は、本体部１５の取り付け孔（ポラライザ装着部）１５ａ内に取り付けられ、セットビス１８により本体部１５に固定されている。ホルダ１７の取り付け時に、ホルダ１７の位置決め溝１７ａを本体部１５に固定された位置決めピン１５ｂに嵌合させることにより、ポラライザ１が本体部１５に対し正しい方位に位置決めされるようになっている。
【００２０】
このような構成により、ホルダ１７に固定されたポラライザ１がポラライザ部３に取り外し可能に装着されている。また、セットビス１６を緩めた状態で不図示のつまみを操作して本体部１５を回転させることにより、アナライザ２に対するポラライザ１の方位の調整を行なうことができるようになっている。
【００２１】
アナライザ部４は、図３に示すように、顕微鏡本体１３の上部に設けられた挿入穴１９に挿入されるスライダ２０と、アナライザ２が固定され、スライダ２０の取り付け孔（アナライザ装着部）２０ａ内に回転可能に支持されたホルダ２１とを備えている。アナライザ２は、その方位をホルダ２１の位置決め溝（図示略）に対し予め決められた方位にした状態で、ホルダ２１に接着により固定されている。ホルダ２１が取り付けられたスライダ２０を挿入穴１９内に図３で示す位置まで挿入することにより、アナライザ２が光路（前記光学系の光路）内に位置するようになっている。また、スライダ２０に設けられた不図示のクランプを緩めた状態で不図示のレバーを操作することにより、ホルダ２１を回転させてアナライザ２の方位を調整することができるようになっている。
【００２２】
対物レンズ１１は、図３に示すように、レボルバ８を介して顕微鏡本体１３の上部に取り付けられている。レボルバ８の内部（プリズム装着部）に、対物レンズ側プリズム６が取り外し可能に装着されている。このプリズム６は、図３に示す位置で前記光路内に位置している。なお、この一実施形態において、レボルバ８は回転できない構造になっている。そのため、レボルバ８に装着された対物レンズ側プリズム６の方位を基準にしてポラライザ１、アナライザ２及びコンデンサ側プリズム５の方位を調整するようになっている。
【００２３】
コンデンサ７は、図２及び図３に示すように、コンデンサレンズ１２が保持されたコンデンサ本体２３と、この本体２３に固定された支持軸２４に回転可能に支持されたターレット２５とを備えている。ターレット２５には、コンデンサ側プリズム５や位相差用絞り等の複数の光学素子が取り付けられる複数の取り付け孔（プリズム装着部）２５ａが設けられている。
【００２４】
コンデンサ側プリズム５は、その方位をホルダ２６の位置決め溝２６ａに対し予め決められた方位にした状態で、ホルダ２６に接着により固定されている。ホルダ２６は、ターレット２５の複数の取り付け孔２５ａの一つに取り付けられ、セットビス２７によりターレット２５に固定されている。ホルダ２６の取り付け時に、ホルダ２６の位置決め溝２６ａをターレット２５に固定された位置決めピン２５ｂに嵌合させることにより、ターレット２５の取り付け孔２５ａに対してコンデンサ側プリズム５が正しい方位に位置決めされるようになっている。ターレット２５を回転させることにより、このターレット２５に装着された複数の光学素子の一つ、例えばコンデンサ側プリズム５を前記光路内に位置させることができる。
【００２５】
コンデンサ本体２３の下部に丸アリ部２３ａが設けられている。丸アリ部２３ａを顕微鏡本体１３と一体に設けられたコンデンサホルダ２８のアリ溝２８ａに嵌合させることにより、コンデンサ７がコンデンサホルダ２８に取り付けられる。通常、コンデンサ本体２３に設けられた位置決めピン３０とコンデンサホルダ２８に設けられた位置決め溝３１とが係合し、コンデンサ側プリズム５の粗い回転位置決めが成されている。又、位置決めピン３０をとりはずすことにより、コンデンサ７をコンデンサホルダ２８に対して回転可能とし、コンデンサ側プリズム５の回転位置の微調整を行うことができる。このとき、コンデンサ７は、不図示のセットビスによってコンデンサホルダ２８に固定される。そのセットビスを緩めた状態で、コンデンサ７全体を前記光軸を中心に回転させることができるようになっている。
【００２６】
このように、上記一実施形態では、ポラライザ部３、アナライザ部４及びコンデンサ７の３つが、ポラライザ１、アナライザ２及びコンデンサ側プリズム５の方位をそれぞれ調整するために、光軸を中心に回転可能になっている。これに対して、対物レンズ側プリズム６が装着されるレボルバ８は回転できない構造になっている。
【００２７】
また、そして、上記一実施形態では、ポラライザ部３のポラライザ装着部（本体部１５の取り付け孔１５ａ）の大きさ及び構造と、コンデンサ７のプリズム装着部（ターレット２５の各取り付け孔２５ａ）の大きさ及び構造とを同じにしてあり、これによってポラライザ１がコンデンサ７のプリズム装着部に装着可能になっている。
【００２８】
次に、上記一実施形態に係る透過型微分干渉顕微鏡における各光学素子の方位の調整手順を図４に基づいて説明する。
【００２９】
図４（ａ）はアナライザ２の方位調整を説明するための図である。図４（ｂ）はポラライザを用いてなされるコンデンサ７の回転位置の調整を説明するための図である。図４（ｃ）はポラライザ１の方位の調整を説明するための図である。図４（ｄ）は全ての光学素子の方位が調整された状態を示す図である。なお、図４（ａ）〜（ｃ）において、「なし」はその場所にあるべき光学素子が光路外に取り外されていることを意味している。
【００３０】
各光学素子ポラライザ１、アナライザ２、コンデンサ側プリズム５及び対物レンズ側プリズム６の方位調整をする前に、これら全ての光学素子を光路から外した状態、すなわち明視野状態にして標本９にピントを合わせておく。この後、標本９のスライドグラスとカバーグラスとがある範囲内で、標本９のない透明な部分が光路に入るようにステージ１０を移動させておく。
【００３１】
この状態で、対物レンズ側プリズム６が装着されるレボルバ８の内部（プリズム装着部）に、工具偏光素子３０を装着する。図４（ａ）の矢印３０Ａが工具偏光素子３０の方位を示している。この一実施形態において、レボルバ８は回転できない構造になっている。そのため、レボルバ８に装着された工具偏光素子３０の方位を基準にして他の光学素子の方位を調整する。
【００３２】
工具偏光素子３０の装着後、アナライザ２をアナライザ部４のアナライザ装着部であるスライダ２０の取り付け孔２０ａに取り付け、スライダ２０を顕微鏡本体１３の挿入穴１９内に図３で示す位置まで挿入してアナライザ２を光路内に位置させる。この状態で、工具偏光素子３０の方位３０Ａを基準にしてアナライザ２の方位２Ａを調整する（図４（ａ）参照）。すなわち、スライダ２０に設けられた不図示のクランプを緩め、不図示のレバーを操作することにより、アナライザ２と工具偏光素子３０の方位が互いに直交して消光状態となるようにホルダ２１を回転させてアナライザ２の方位を調整する。
【００３３】
この調整後、工具偏光素子３０をレボルバ８から外す（図４（ｂ）参照）。
【００３４】
この後、ポラライザ１をコンデンサ７のプリズム装着部（ターレット２５の取り付け孔２５ａ）に取り付け、光路内に位置させる（図４（ｂ）参照）。この状態で、ポラライザ１の方位１Ａをアナライザ２の方位２０Ａを基準にして調整する。すなわち、コンデンサ７を固定するためのセットビスを緩めた状態で、アナライザ２とポラライザ１の方位が互いに直交して消光状態となるように、コンデンサ７全体を光軸を中心に回転させ。消光状態が得られた位置で、セットビスによりコンデンサ７をコンデンサホルダ２８に固定する。このようにして、コンデンサ７の回転位置をアナライザ２を基準にして調整することができる。
【００３５】
この調整後、ポラライザ１をコンデンサ７から外し、ポラライザ部３のポラライザ装着部（コンデンサ本体１５の取り付け孔１５ａ）に取り付け、光路内に位置させる（図４（ｃ）参照）。この状態で、ポラライザ１の方位１Ａをアナライザ２の方位２０Ａを基準にして調整する。すなわち、本体部１５を固定するためのセットビス１６を緩めた状態で、アナライザ２とポラライザ１の方位が互いに直交して消光状態となるように、本体部１５を光軸を中心に回転させ。消光状態が得られた位置で、セットビス１６により本体部１５を固定する。
【００３６】
次に、対物レンズ側プリズム６をレボルバ８の内部に装着して光路内に位置させる（図４（ｄ）参照）。これによって、対物レンズ側プリズム６の方位６Ａがポラライザ１の方位１Ａ及びアナライザ２の方位２Ａに対してそれぞれ４５°になっている。
【００３７】
次に、コンデンサ側プリズム５をコンデンサ７の取り付け孔２５ａに取り付け、光路内に位置させる（図４（ｄ）参照）。これによって、コンデンサ側プリズム５の方位５Ａが対物レンズ側プリズム６と同じ方位、すなわちポラライザ１の方位１Ａ及びアナライザ２の方位２Ａに対してそれぞれ４５°になっている。
【００３８】
以上の調整作業によって全ての光学素子の方位調整が完了する（図４（ｄ）参照）。
【００３９】
このように、上記一実施形態によれば、ポラライザ１をコンデンサ側プリズム５の方位を調整のための工具偏光素子として用いることができるので、工具偏光素子を用いずにコンデンサ側プリズム５の方位調整を行なうことができる。
【００４０】
なお、上記一実施形態において、対物レンズ側プリズム６が装着されるレボルバ８の内部（プリズム装着部）の大きさ及び構造をポラライザ部３のポラライザ装着部（本体部１５の取り付け孔１５ａ）と同じにすることにより、アナライザ２の方位を調整する際に、工具偏光素子３０の代わりにポラライザ１をレボルバ８の内部に装着し、このポラライザ１の方位を基準にしてアナライザ２の方位を調整することができる。したがって、工具偏光素子を用いずコンデンサ側プリズム５及び対物レンズ側プリズム６の方位調整を行なうことができる。
【００４１】
また、上記一実施形態において、アナライザ部４のアナライザ装着部であるスライダ２０の取り付け孔２０ａの大きさ及び構造を、コンデンサ７のプリズム装着部（ターレット２５の各取り付け孔２５ａ）の大きさ及び構造と同じにしてもよい。この構成によれば、コンデンサ側プリズム５の方位調整のために、ポラライザ１の代わりにアナライザ２をコンデンサ７のプリズム装着部に装着することもできる。
【００４２】
また、一実施形態に係る透過型微分干渉顕微鏡は正立の顕微鏡であるが、この発明に係る透過型微分干渉顕微鏡を倒立の顕微鏡にも適用できる。この場合、前記４つの光学素子の配列が上下逆になる。すなわち、上からポラライザ１、コンデンサ側プリズム５、対物レンズ側プリズム６及びアナライザ２の順に配置される。
【００４３】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１記載の発明に係る透過型微分干渉顕微鏡によれば、ポラライザ及びアナライザの少なくとも一方がコンデンサ及びプリズム保持部の少なくとも一方のプリズム装着部に装着可能に構成されているので、ポラライザ及びアナライザの少なくとも一方を、コンデンサ側プリズム及び対物レンズ側プリズムの少なくとも一方の方位を調整のための工具偏光素子として用いることができる。したがって、工具偏光素子を用いずにプリズムの方位調整を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１はこの発明の一実施形態に係る透過型微分干渉顕微鏡のポラライザ部を示す縦断面図である。
【図２】図２は透過型微分干渉顕微鏡のコンデンサを示す縦断面図である。
【図３】図３は透過型微分干渉顕微鏡全体を一部断面で示した側面図である。
【図４】図４は４つの光学素子の方位調整を説明するための図である。
【符号の説明】
１ポラライザ
２アナライザ
３ポラライザ部
４アナライザ部
５コンデンサ側プリズム
６対物レンズ側プリズム
７コンデンサ
８プリズム保持部
９標本
１０ステージ
１５ａ取り付け孔（プリズム装着部）
２０ａ取り付け孔（プリズム装着部）[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a transmission differential interference microscope that performs differential interference observation of a specimen placed on a stage.
[0002]
[Prior art]
Conventionally, as this type of transmission differential interference microscope, for example, the one described on page 86 of the LEICA DMR instruction manual is known. The microscope includes a polarizer unit and an analyzer unit to which a polarizer and an analyzer are mounted, a capacitor and a prism holding unit to which a condenser side prism and an objective lens side prism are detachably mounted, respectively. It is attached to the holder so as to be rotatable about the optical axis for adjusting the direction.
[0003]
In general, in such a conventional transmission differential interference microscope, the four optical elements of the pair of polarizing elements (polarizer and analyzer) and the pair of differential interference prisms (capacitor side prism and objective lens side prism) each have directivity. Therefore, it is necessary to adjust the orientation of each element in order to perform differential interference observation. That is, it is necessary to adjust the orientation of each optical element so that the orientation of the analyzer with respect to the orientation of the polarizer and each orientation of the pair of differential interference prisms are 90 ° and 45 °, respectively.
[0004]
On pages 86 to 87 of the instruction manual, instructions for adjusting the orientation of the polarizer and the analyzer are described, but instructions for adjusting each direction of the pair of differential interference prisms with respect to the polarizer are not described.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
In the conventional transmission differential interference microscope, the orientations of the four optical elements are adjusted before the shipment of the product, but it is necessary to adjust at least one of the orientations of the condenser side prism and the objective lens side prism on the user side. is there. The reason is that the capacitor is detachably attached to the capacitor holder, and therefore, when the capacitor is removed from the capacitor holder and then reattached to the holder, the capacitance of the capacitor relative to the capacitor holder depends on the amount of backlash due to manufacturing errors. This is because the mounting position is shifted, and as a result, the orientation of the condenser side prism with respect to the polarizer changes.
[0006]
For example, in order to adjust the orientation of the condenser-side prism, the orientations of the polarizer and the analyzer are made orthogonal to each other so as to be extinguished, and then the prism is placed in the optical path. For example, the prism is placed in the optical path by rotating the turret of the condenser on which the condenser-side prism and other optical elements are mounted. In this state, by rotating the entire capacitor with respect to the capacitor mounting portion so as to obtain the brightest position, the direction of the capacitor side prism can be set to 45 ° with respect to the direction of the polarizer. However, it is very difficult to visually adjust the rotational position of the condenser to the brightest position, and the orientation of the condenser-side prism cannot be accurately adjusted.
[0007]
Therefore, in order to accurately adjust the orientation of the condenser side prism, a tool polarizing element for orientation adjustment is prepared, and the orientation of the condenser side prism is adjusted using this tool polarizing element. That is, after the polarizer and the analyzer are perpendicular to each other in the extinction state, the capacitor side prism is removed from the prism mounting portion of the capacitor, and the tool polarizing element is mounted on the mounting portion. In this state, the entire capacitor is rotated so that the orientations of the polarizer and the tool polarizing element are perpendicular to each other and in the extinction state. The capacitor is fixed to the capacitor holder at the position where the extinction state is obtained, and after this fixing, the tool polarizing element is removed from the prism mounting portion, and the capacitor side prism is mounted again on the mounting portion. As a result, the orientation of the condenser-side prism is 45 ° with respect to the orientation of the polarizer.
[0008]
Thus, in the conventional transmission differential interference microscope, in order to adjust the orientation of at least one of the condenser side prism and the objective lens side, a tool polarizing element is purchased and prepared separately from the four optical elements. There was a problem that it had to be troublesome to store it.
[0009]
The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a transmission type differential interference microscope capable of adjusting the orientation of a prism without using a tool polarizing element.
[0010]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, the transmission differential interference microscope according to the first aspect of the present invention is a microscope that performs differential interference observation of a specimen placed on a stage, and a polarizer and an analyzer that are detachably mounted. And an analyzer unit, and a condenser and prism holding unit in which the condenser side prism and the objective lens side prism are detachably mounted on the prism mounting unit, respectively, and at least three of the polarizer unit, the analyzer unit, the capacitor, and the prism holding unit In a transmission differential interference microscope configured to be rotatable about the optical axis for adjusting the orientation, at least one of the polarizer and the analyzer can be mounted on the prism mounting portion of at least one of the capacitor and the prism holding portion. It is composed of
The polarizer is mounted on a polarizer mounting portion of the polarizer section, the objective lens side prism is mounted on an objective lens side prism mounting section inside a revolver on which an objective lens is mounted, the objective lens side prism mounting section and the polarizer mounting The size and structure of the parts are equal.
The analyzer is mounted on an analyzer mounting portion of the analyzer unit, the capacitor side prism is mounted on a capacitor side prism mounting portion of the capacitor, and the size and structure of the analyzer mounting portion and the capacitor side prism mounting portion are equal. And
[0011]
Specifically, the size and structure of at least one of the polarizer mounting portion and the analyzer mounting portion provided in the polarizer portion and the analyzer, respectively, and the size and structure of at least one prism mounting portion of the capacitor and the prism holding portion. By keeping the same, at least one of the polarizer and the analyzer can be mounted on at least one prism mounting portion of the capacitor and the prism holding portion.
[0012]
In the transmission differential interference microscope according to claim 1, since at least one of the polarizer and the analyzer is configured to be mountable on at least one prism mounting portion of the capacitor and the prism holding portion, at least one of the polarizer and the analyzer is mounted. In addition, the orientation of at least one of the condenser side prism and the objective lens side prism can be used as a tool polarizing element for adjustment.
[0013]
For example, when adjusting the orientation of the condenser side prism with respect to the orientation of the analyzer positioned in the correct orientation, the polarizer removed from the polarizer portion is attached to the prism attaching portion of the capacitor. In this state, the entire capacitor is rotated so that the orientations of the analyzer and the polarizer are orthogonal to each other and are in a quenching state. Fix the capacitor at the position where the extinction state was obtained, and after fixing this, remove the polarizer from the prism mounting part of the capacitor and attach the capacitor side prism to the mounting part, so that the orientation of the capacitor side prism becomes the orientation of the analyzer It becomes 45 degrees to.
[0014]
When adjusting the orientation of the condenser prism with respect to the orientation of the polarizer positioned in the correct orientation, the analyzer removed from the analyzer portion is attached to the prism attachment portion of the prism holding portion. In this state, the entire capacitor is rotated so that the orientations of the analyzer and the polarizer are orthogonal to each other and are in a quenching state. Fix the capacitor at the position where the extinction state was obtained, and after fixing this, remove the analyzer from the prism mounting part of the capacitor and mount the capacitor side prism on the mounting part, so that the orientation of the capacitor side prism becomes the orientation of the polarizer It becomes 45 degrees to.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[0016]
FIG. 1 shows a polarizer section of a transmission differential interference microscope according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 shows a condenser of the microscope, and FIG. 3 shows the entire transmission differential interference microscope.
[0017]
As shown in FIG. 3, the transmission differential interference microscope according to one embodiment is an upright microscope capable of bright field observation. This microscope includes a polarizer unit 3 and an analyzer unit 4 in which a polarizer 1 and an analyzer 2 are detachably mounted, and a capacitor 7 and a revolver (prisms) in which a capacitor side prism 5 and an objective lens side prism 6 are detachably mounted. Holding part) 8. Further, the transmission differential interference microscope includes a stage 10 on which a specimen 9 is placed, an objective lens 11, a condenser lens 12, and an eyepiece (not shown).
[0018]
As shown in FIGS. 1 and 3, the polarizer unit 3 is disposed in the lower part of the microscope body 13. The polarizer unit 3 is centered on the optical axis (the optical axis of the optical system including the objective lens 11 and the condenser lens 12) with the cylindrical unit 14 provided integrally with the microscope main body 13 and the cylindrical unit 14 for adjusting the orientation of the polarizer 1. And an annular main body 15 that is rotatably supported, and a set screw 16 for fixing the main body 15 to the cylindrical portion 14.
[0019]
The polarizer 1 is fixed to the holder 17 by bonding in a state in which the orientation is set to a predetermined orientation with respect to the positioning groove 17 a of the holder 17. The holder 17 is attached in an attachment hole (a polarizer mounting portion) 15 a of the main body 15 and is fixed to the main body 15 by a set screw 18. When the holder 17 is attached, the polarizer 1 is positioned in the correct orientation with respect to the main body 15 by fitting the positioning groove 17 a of the holder 17 to the positioning pin 15 b fixed to the main body 15.
[0020]
With such a configuration, the polarizer 1 fixed to the holder 17 is detachably attached to the polarizer unit 3. Further, the orientation of the polarizer 1 relative to the analyzer 2 can be adjusted by operating the knob (not shown) while the set screw 16 is loosened to rotate the main body 15.
[0021]
As shown in FIG. 3, the analyzer unit 4 has a slider 20 to be inserted into an insertion hole 19 provided in the upper portion of the microscope main body 13 and the analyzer 2 fixed thereto, and the inside of the mounting hole (analyzer mounting unit) 20a of the slider 20 is fixed. And a holder 21 supported rotatably. The analyzer 2 is fixed to the holder 21 by adhesion in a state in which the orientation is a predetermined orientation with respect to a positioning groove (not shown) of the holder 21. By inserting the slider 20 to which the holder 21 is attached into the insertion hole 19 to the position shown in FIG. 3, the analyzer 2 is positioned in the optical path (the optical path of the optical system). Further, by operating a lever (not shown) in a state where a clamp (not shown) provided on the slider 20 is loosened, the orientation of the analyzer 2 can be adjusted by rotating the holder 21.
[0022]
As shown in FIG. 3, the objective lens 11 is attached to the upper part of the microscope main body 13 via the revolver 8. The objective lens side prism 6 is detachably mounted inside the revolver 8 (prism mounting portion). The prism 6 is located in the optical path at the position shown in FIG. In this embodiment, the revolver 8 has a structure that cannot rotate. Therefore, the orientations of the polarizer 1, the analyzer 2, and the condenser side prism 5 are adjusted with reference to the orientation of the objective lens side prism 6 mounted on the revolver 8.
[0023]
As shown in FIGS. 2 and 3, the condenser 7 includes a condenser main body 23 that holds the condenser lens 12, and a turret 25 that is rotatably supported by a support shaft 24 that is fixed to the main body 23. . The turret 25 is provided with a plurality of mounting holes (prism mounting portions) 25a to which a plurality of optical elements such as the condenser side prism 5 and a phase difference diaphragm are mounted.
[0024]
The capacitor-side prism 5 is fixed to the holder 26 by bonding in a state in which the direction of the capacitor-side prism 5 is a predetermined direction with respect to the positioning groove 26 a of the holder 26. The holder 26 is attached to one of the plurality of attachment holes 25 a of the turret 25 and is fixed to the turret 25 with a set screw 27. When the holder 26 is attached, the positioning groove 26a of the holder 26 is fitted to the positioning pin 25b fixed to the turret 25 so that the condenser side prism 5 is positioned in the correct orientation with respect to the attachment hole 25a of the turret 25. It has become. By rotating the turret 25, one of a plurality of optical elements mounted on the turret 25, for example, the condenser side prism 5, can be positioned in the optical path.
[0025]
A round dovetail portion 23 a is provided at the lower portion of the capacitor body 23. The capacitor 7 is attached to the capacitor holder 28 by fitting the round dovetail portion 23 a into the dovetail groove 28 a of the capacitor holder 28 provided integrally with the microscope main body 13. Usually, the positioning pin 30 provided in the capacitor body 23 and the positioning groove 31 provided in the capacitor holder 28 are engaged with each other, so that the capacitor side prism 5 is roughly rotated and positioned. Further, by removing the positioning pin 30, the capacitor 7 can be rotated with respect to the capacitor holder 28, and the rotational position of the capacitor side prism 5 can be finely adjusted. At this time, the capacitor 7 is fixed to the capacitor holder 28 by a set screw (not shown). The entire capacitor 7 can be rotated around the optical axis with the set screw loosened.
[0026]
Thus, in the above-described embodiment, the polarizer unit 3, the analyzer unit 4, and the capacitor 7 can be rotated around the optical axis in order to adjust the orientation of the polarizer 1, the analyzer 2, and the capacitor side prism 5, respectively. It has become. On the other hand, the revolver 8 to which the objective lens side prism 6 is attached has a structure that cannot rotate.
[0027]
In the embodiment, the size and structure of the polarizer mounting portion (mounting hole 15a of the main body portion 15) of the polarizer section 3, and the size of the prism mounting portion of the capacitor 7 (each mounting hole 25a of the turret 25). Thus, the polarizer 1 can be mounted on the prism mounting portion of the capacitor 7.
[0028]
Next, a procedure for adjusting the orientation of each optical element in the transmission differential interference microscope according to the above embodiment will be described with reference to FIG.
[0029]
FIG. 4A is a diagram for explaining the orientation adjustment of the analyzer 2. FIG. 4B is a diagram for explaining the adjustment of the rotational position of the capacitor 7 using a polarizer. FIG. 4C is a diagram for explaining the adjustment of the orientation of the polarizer 1. FIG. 4D is a diagram illustrating a state in which the orientations of all the optical elements are adjusted. In FIGS. 4A to 4C, “none” means that the optical element that should be in that place is removed from the optical path.
[0030]
Before adjusting the orientation of each optical element polarizer 1, analyzer 2, condenser side prism 5, and objective lens side prism 6, all the optical elements are removed from the optical path, that is, in a bright field state, the specimen 9 is focused. Keep it together. Thereafter, the stage 10 is moved so that a transparent portion without the specimen 9 enters the optical path within a certain range of the slide glass and the cover glass of the specimen 9.
[0031]
In this state, the tool polarizing element 30 is mounted inside the revolver 8 (the prism mounting portion) where the objective lens side prism 6 is mounted. An arrow 30 </ b> A in FIG. 4A indicates the orientation of the tool polarizing element 30. In this embodiment, the revolver 8 has a structure that cannot rotate. Therefore, the orientations of the other optical elements are adjusted based on the orientation of the tool polarizing element 30 mounted on the revolver 8.
[0032]
After the tool polarizing element 30 is mounted, the analyzer 2 is mounted in the mounting hole 20a of the slider 20, which is the analyzer mounting portion of the analyzer unit 4, and the slider 20 is inserted into the insertion hole 19 of the microscope body 13 to the position shown in FIG. The analyzer 2 is positioned in the optical path. In this state, the azimuth 2A of the analyzer 2 is adjusted with reference to the azimuth 30A of the tool polarizing element 30 (see FIG. 4A). That is, by loosening a clamp (not shown) provided on the slider 20 and operating a lever (not shown), the holder 21 is rotated so that the orientations of the analyzer 2 and the tool polarizing element 30 are perpendicular to each other and are in a quenching state. To adjust the orientation of the analyzer 2.
[0033]
After this adjustment, the tool polarizing element 30 is removed from the revolver 8 (see FIG. 4B).
[0034]
Thereafter, the polarizer 1 is attached to the prism mounting portion (attachment hole 25a of the turret 25) of the capacitor 7 and is positioned in the optical path (see FIG. 4B). In this state, the orientation 1A of the polarizer 1 is adjusted with reference to the orientation 20A of the analyzer 2. That is, with the set screw for fixing the capacitor 7 loosened, the entire capacitor 7 is rotated around the optical axis so that the directions of the analyzer 2 and the polarizer 1 are perpendicular to each other and become extinguished. At the position where the extinction state is obtained, the capacitor 7 is fixed to the capacitor holder 28 with a set screw. In this way, the rotational position of the capacitor 7 can be adjusted with reference to the analyzer 2.
[0035]
After this adjustment, the polarizer 1 is removed from the capacitor 7, attached to the polarizer mounting portion (attachment hole 15a of the capacitor main body 15) of the polarizer portion 3, and positioned in the optical path (see FIG. 4C). In this state, the orientation 1A of the polarizer 1 is adjusted with reference to the orientation 20A of the analyzer 2. That is, with the set screw 16 for fixing the main body 15 loosened, the main body 15 is rotated around the optical axis so that the orientations of the analyzer 2 and the polarizer 1 are perpendicular to each other and become extinguished. The main body 15 is fixed by the set screw 16 at the position where the extinction state is obtained.
[0036]
Next, the objective lens side prism 6 is mounted inside the revolver 8 and is positioned in the optical path (see FIG. 4D). Thus, the azimuth 6A of the objective lens side prism 6 is 45 ° with respect to the azimuth 1A of the polarizer 1 and the azimuth 2A of the analyzer 2, respectively.
[0037]
Next, the condenser-side prism 5 is attached to the attachment hole 25a of the condenser 7 and is positioned in the optical path (see FIG. 4D). Thus, the azimuth 5A of the condenser side prism 5 is 45 ° with respect to the same azimuth as the objective lens side prism 6, that is, the azimuth 1A of the polarizer 1 and the azimuth 2A of the analyzer 2.
[0038]
The azimuth adjustment of all the optical elements is completed by the above adjustment work (see FIG. 4D).
[0039]
As described above, according to the above-described embodiment, the polarizer 1 can be used as a tool polarizing element for adjusting the orientation of the capacitor-side prism 5. Therefore, the orientation adjustment of the capacitor-side prism 5 can be performed without using the tool polarizing element. Can be performed.
[0040]
In the above embodiment, the size and structure of the interior (prism mounting portion) of the revolver 8 to which the objective lens side prism 6 is mounted are the same as those of the polarizer mounting portion (mounting hole 15a of the main body portion 15) of the polarizer portion 3. Thus, when adjusting the orientation of the analyzer 2, the polarizer 1 is mounted inside the revolver 8 instead of the tool polarizing element 30, and the orientation of the analyzer 2 is adjusted with reference to the orientation of the polarizer 1. Can do. Therefore, it is possible to adjust the orientation of the condenser side prism 5 and the objective lens side prism 6 without using a tool polarizing element.
[0041]
In the above embodiment, the size and structure of the mounting hole 20a of the slider 20 which is the analyzer mounting part of the analyzer unit 4 are the same as the size and structure of the prism mounting part of the capacitor 7 (each mounting hole 25a of the turret 25). May be the same. According to this configuration, the analyzer 2 can be mounted on the prism mounting portion of the capacitor 7 instead of the polarizer 1 in order to adjust the orientation of the capacitor-side prism 5.
[0042]
In addition, the transmission differential interference microscope according to one embodiment is an upright microscope, but the transmission differential interference microscope according to the present invention can also be applied to an inverted microscope. In this case, the arrangement of the four optical elements is upside down. That is, the polarizer 1, the condenser side prism 5, the objective lens side prism 6, and the analyzer 2 are arranged in this order from the top.
[0043]
【The invention's effect】
As described above, according to the transmission differential interference microscope according to the first aspect of the present invention, at least one of the polarizer and the analyzer is configured to be mountable on at least one prism mounting portion of the capacitor and the prism holding portion. Therefore, at least one of the polarizer and the analyzer can be used as a tool polarizing element for adjusting the orientation of at least one of the condenser side prism and the objective lens side prism. Therefore, the orientation of the prism can be adjusted without using a tool polarizing element.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a longitudinal sectional view showing a polarizer portion of a transmission differential interference microscope according to one embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a longitudinal sectional view showing a condenser of a transmission differential interference microscope.
FIG. 3 is a side view showing the entire transmission differential interference microscope in partial cross section.
FIG. 4 is a diagram for explaining orientation adjustment of four optical elements.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Polarizer 2 Analyzer 3 Polarizer part 4 Analyzer part 5 Condenser side prism 6 Objective lens side prism 7 Condenser 8 Prism holding part 9 Sample 10 Stage 15a Mounting hole (prism mounting part)
20a Mounting hole (prism mounting part)

Claims

A microscope that performs differential interference observation of the specimen placed on the stage. The polarizer and analyzer, which are detachably attached to the polarizer and the analyzer, respectively, and the prism on the condenser side and the prism on the objective lens are detachable from the prism mounting part. A transmission differential interference microscope in which at least three of the polarizer unit, the analyzer unit, the capacitor, and the prism holding unit are configured to be rotatable about the optical axis for adjusting the orientation. In
A transmission differential interference microscope, wherein at least one of the polarizer and the analyzer is configured to be mountable on at least one of the prism mounting portion of the capacitor and the prism holding portion.

The polarizer is mounted on a polarizer mounting portion of the polarizer section, the objective lens side prism is mounted on an objective lens side prism mounting section inside a revolver on which an objective lens is mounted, the objective lens side prism mounting section and the polarizer mounting The transmission differential interference microscope according to claim 1, wherein the size and structure of the parts are equal.

The analyzer is mounted on an analyzer mounting portion of the analyzer unit, the capacitor side prism is mounted on a capacitor side prism mounting portion of the capacitor, and the analyzer mounting portion and the capacitor side prism mounting portion have the same size and structure. The transmission type differential interference microscope according to claim 1.