JP3560365B2 - Multi-stage pin switch - Google Patents
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、多段ピンスイッチに関し、更に詳細には、主として電子機器のコネクターの端子取付け状態の検査などに使用することのできる多段ピンスイッチに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
各種の電子機器の間を複数の電線で接続する際に、複数の電線を束ねたハーネス(組電線)を接続したコネクターによって一括して接続することが従来から行われている。このコネクターに取り付けられている端子1は、通常、図6に示すように細い雄又は雌のピンの胴部に、突起状のランス1bを、通常1〜2個取り付けたものであり、後側に電線2を圧着端子1c(又は半田付け)により取り付け(図6のA)、コネクターの筺体1dの取付け穴1eに圧入して取り付けられる(図6のB)。前記ランス1bは、図に示すように傾斜して取り付けてあり、一旦取付け穴1e内に圧入されると、ランス1bは、図6のBの拡大図に示すように、取付け穴1eの壁面に圧着されているので、端子1は後戻りすることができない。
【0003】
ところで前記端子が筺体に対して正規の位置に取り付けられなかったり、十分な強度で取り付けられていないと、コネクターを結合した場合に雄・雌の結合が十分に行われず、当初から接触不良となるか、又は使用中の振動などで結合が緩み接触不良となるなどの問題が起こる。したがって、従来から端子の取り付け状態の検査が行われている。しかしながら、前記のとおり一つのコネクターには複数の端子が取り付けられており、大量生産されたコネクターの端子を一つ一つ検査をすることは、多大な労力を要するので、従来から専用の端子検査器が開発されている。
【0004】
例えば特公平4−40669号公報には、コネクターのプラグに相当する仕様のピン状プローブを戻しスプリングで押し出し方向に取り付け、その背後に接点を設け、プローブが押し戻されて接点に当たると導通するように形成し、かかる検査用スイッチを、コネクターの端子を取り付ける位置に配置した検査器具を開示している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、前記コネクターには、端子の取付け深さが異なる仕様のものがある。したがって従来は、異なる仕様のコネクターごとに検査器を用意する必要があった。また、異なる仕様の端子を混在させて一つのコネクターに取り付けた場合には、一つのコネクターについて、仕様ごとに別の検査器を使用しなければならない。したがって、従来のコネクターの検査は、検査能率が悪く、検査コストが掛かるという問題があった。
【0006】
本発明は、以上の問題に着目してなされたものであり、ケーシングから出没自在に取り付けたピンが後退するとスイッチがオンするピンスイッチにおいて、複数位置でスイッチがオン・オフできるようにした多段ピンスイッチを提供することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
以上の目的を達成するための本発明の多段ピンスイッチの構成は、 探りピンを筒状の導電体からなるケーシングに導通状態で先端から出没するように軸方向に嵌装し、その後ろに複数の接点ピンを、前記ケーシングに絶縁状態で所定長さ前後に移動可能に軸方向に順次嵌装し、これらの探りピン及び接点ピンに、それぞれコイル型戻しスプリングを取り付け先端方向に向けて付勢するに際し前記探りピンには前記コイル型戻しスプリングを嵌装して取り付けるとともに、少なくとも最後尾のものを除く接点ピンは、前記ケーシングと隔離した電極に導通状態で、かつ前記コイル型戻しスプリングを嵌装して取り付け、前記探りピンの自由状態においてこれらのピンは相互に所定間隔をあけるように設定されており、探りピンが押されて後退し、後ろにある最初の接点ピンに接すると前記最初の接点ピンとが導通し、探りピンが更に後退することによって後退させられた前記最初の接点ピンがその後ろの接点ピンと接すると、この次の接点ピンは最初の接点ピンを介して探りピンと導通するように、探りピンが後退するに連れて探りピンが後ろの複数の接点ピンと順次導通するようにしたものである。
【0008】
前記接点ピンの数は、2個以上任意の数とすることができる。
前記探りピンと最後部の接点ピンとの中間部分に配置する接点ピンの支持、及び電極取り付け手段には特に限定はないが、例えば、戻しスプリングをケーシングと電気的に絶縁した導電性筒体によって支持し、この導電性筒体を取り付けた位置のケーシングに貫通穴を開口し、この部分に前記導電性筒体に接する電極を取り付けた態様により実施することができる。
【0009】
前記多段ピンスイッチの用途は、コネクターの接点検査用の外、配線基板の反りや、高低差の検出、前後にストロークする物体の特定の位置を一つのスイッチで検出するときなどに使用することができる。
【0010】
【作用】
探りピン及び複数の接点ピンをそれぞれケーシングの先端側に付勢して取り付け、先端側のピンが後退し、後ろのピンに接触すると前後のピンが導通するように形成することによって、一つのスイッチの探りピンで、複数のストローク位置を検出することができる。
【0011】
【実施例】
以下添付の図面を参照して一実施例により本発明を具体的に説明する。
図1〜5に示す本実施例の多段ピンスイッチ3は、金属からなるの円筒状ケーシング4に、ケーシング先端側から順に金属からなるの探りピン5、第1接点ピン6及び第2接点ピン7を、それぞれ前後に移動可能に嵌装したものである。
【0012】
前記探りピン5は、中間部分に鍔5aを設け、第1接点ピン6側を細くした第1段接点5bを設けたものである。そしてケーシング4の先端部に内フランジ状のストッパー4aを取り付け、探りピン5がケーシング4から脱出しないようにしており、金属からなるのスリーブ8と鍔5aとの間に戻しスプリング5cを取り付け、探りピン5をケーシング4の先端側に付勢している。前記スリーブ8は、図1,2に示すように胴部に周方向の溝8aを形成し、溝8aの上からケーシング4をかしめて凹部4bを形成しスリーブ8を所定位置に固定した。
【0013】
以上のように形成することにより、ケーシング4と探りピン5とは、戻しスプリング5cとスリーブ8とを通じて電気的に導通している。
第1接点ピン6は、探りピン5側端部を大径とした第1段接点6aと、第2接点ピン7側を第2段接点6bとし、絶縁体からなるスリーブ9と金属からなるスリーブ10とによって支持されている。スリーブ9は、絶縁体からなり、内フランジ状のストッパー9aとし、ストッパー9aに開けた貫通穴9bを設けている。探りピン5が後退すると、第1接点ピン6は、戻しスプリング6cによって、ケーシング4の先端側に付勢されながら前後に移動する。
【0014】
そして、第1接点5bは、貫通穴9bを通り第1段接点6aと接触し、互いを導通する。
前記金属からなるのスリーブ10は、絶縁体からなるスリーブ11の小径部分に嵌装し、ケーシング4との間に間隙を設け、ケーシング4から電気的に絶縁されている。また、ケーシング4に窓状の開口4cを設けこの部分に接する電極12を保持具12aよって、ケーシング4に取り付けている。
【0015】
第1接点ピン6と電極12とは、戻しスプリング6c、スリーブ10を通じて電気的に導通しており、探りピン5が後退し、第1段接点5bと第1接点ピン6の第1段接点6aとが接触すると、ケーシング4と電極12とが導通する。
第2接点ピン7は先端を第2段接点7aとしており、円筒体からなる第2ケーシング13に嵌装している。第2ケーシング13の探りピン5側端部に、内フランジ状のストッパー13aを設け、第2ケーシング13と第2接点ピン7との間に、探りピン5側に付勢する戻しスプリング7bを嵌装している。そして、絶縁体からなるスリーブ14を介し、且つ前記ストッパー13aをスリーブ11とスリーブ14との間に挟み、ケーシング4に嵌装した。スリーブ14は、前記スリーブ8と同様に周方向の溝14a内に、数カ所ケーシング4をかしめにより突出させた凹部4bによりケーシング4に固定した。
【0016】
ストッパー13aの外周と、ケーシング4の内周面との間は互いに接触しないようにして電気的に絶縁している。そして第2接点ピン7は、戻しスプリング7bを介して第2ケーシング13と電気的に導通している。以上のようにして、前記第1段接点5bと6a、及び第2段接点6bと7bの両方の接点が閉じると、ケーシング4と第2ケーシング13とが電気的に導通する。
【0017】
本実施例の場合、探りピン5の径を1.5mmとし、ケーシング4の外径を2.45mmとた。そして探りピン5が自由状態で、第1段接点5bと6aとの間隔を5mmに設定し、また第2段接点6bと7bとの間隔を10mmに設定した。したがって、多段ピンスイッチ3を探りピン5の先端方向に移動させ、対象物(図示せず)に探りピン5が当たり、戻しスプリング5cに抗して5mm後退すると、ケーシング4と電極12とが導通する。更に、探りピン5が10mm(合計15mm)後退するとケーシング4は第2ケーシング13とも導通する。
【0018】
図4は前記多段ピンスイッチ3に、図5に示す導通検出回路15と接続する電線15a,15bを圧着端子1cにより、また電極12に電線15cを半田付けにより接続した様子を示している。
次に前記導通を検出する導通検出の原理を図3によって説明する。図において、多段ピンスイッチ3のケーシング4に接続した電線15aを電池Eの負極に接続し、電極12に接続した電線15cを発光ダイオード16aに接続し、電線15bを発光ダイオード16bに接続し、これらの発光ダイオード16a,16bを電池Eの正極に接続した。したがって、探りピン5が後退して第1段接点5bと6aとがオンすると発光ダイオード16aが点灯し、更に第2段接点6bと7bとがオンすると発光ダイオード16bも点灯し、探りピン5がそれぞれ、5mm、次いで10mm後退したことを知ることができる。
【0019】
以上のように形成した多段ピンスイッチ3を検査対象のコネクター(図示せず)の各接点に対応するように配列した検査器を用いると、複数の仕様のコネクターの検査を一つの仕様の多段ピンスイッチで検査することができ。また前記多段ピンスイッチ3は、複数のストローク位置で制御動作を行うロボットの位置検出センサとして使用するなど、各種の応用を行うことができる。
【0020】
【発明の効果】
以上説明した本発明の多段ピンスイッチは、探りピン及び複数の接点ピンを、ケーシングの先端側に付勢するとともに、探りピンの自由状態においてこれらのピンは相互に所定間隔をあけるように設定されて、探りピンが後退するに連れ探りピンが後ろの複数の接点ピンと順次導通するようにしたので、探りピンの複数の異なるストローク位置でオンするスイッチが得られる。
したがって異なる仕様の端子取付け状態の検査や、異なる仕様の端子を取り付けたコネクターの端子取付け状態の検査などの検査や、プリント配線基板の反りの検査、複数の制御位置の検出などを、一つの仕様の多段ピンスイッチで行なうことが可能となり、検査又は位置検出効率を向上することができ、検査・検出器のコスト軽減が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による多段スイッチの一部破断し、途中で2分して示した縦断面図である。
【図2】図1のII−II線断面図である。
【図3】図1のIII−III 線断面図である。
【図4】図1に示す多段スイッチに電線接続端子を接続した様子を示す部分側面図である。
【図5】図1に示す多段スイッチの導通検出回路の概念図である。
【図6】Aは従来のコネクターの筐体に端子を取り付ける様子をの説明図であり、Aは取り付け前を示し、Bは取り付け後をそれぞれ示している。
【符号の説明】
3 多段ピンスイッチ 4 ケーシング
5 探りピン5 5b 第1段接点
5c 戻しスプリング 6 第1接点ピン
6a 第1段接点 6b 第2段接点
6c 戻しスプリング 7 第2接点ピン
7a 第2段接点 7b 戻しスプリング
12 電極 12a 保持具
13 第2ケーシング 15 圧着端子
16 導通検出回路 16a 発光ダイオード
16b 発光ダイオード[0001]
[Industrial applications]
The present invention relates to a multi-stage pin switch, and more particularly, to a multi-stage pin switch that can be mainly used for inspection of a terminal attachment state of a connector of an electronic device.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art When connecting various electronic devices with a plurality of electric wires, it has been conventionally performed to collectively connect a plurality of electric wires by a connector connected to a harness (assembled electric wire). The
[0003]
By the way, if the terminal is not attached to a proper position with respect to the housing, or if it is not attached with sufficient strength, when the connectors are connected, the male / female connection is not sufficiently performed, resulting in poor contact from the beginning. Or, a problem such as loosening of the connection due to vibration during use and poor contact may occur. Therefore, inspection of the attachment state of the terminal has been conventionally performed. However, as described above, a plurality of terminals are attached to one connector, and inspecting each terminal of a mass-produced connector one by one requires a great deal of labor. Vessels have been developed.
[0004]
For example, Japanese Patent Publication No. 4-40669 discloses that a pin-shaped probe having a specification corresponding to a plug of a connector is attached in a push-out direction with a return spring, and a contact is provided behind the probe so that when the probe is pushed back and hits the contact, the probe becomes conductive. An inspection instrument is disclosed which is formed and has such an inspection switch arranged at a position where the terminal of the connector is attached.
[0005]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, some of the connectors have specifications in which the terminal mounting depth is different. Therefore, conventionally, it was necessary to prepare an inspection device for each connector having different specifications. In addition, when terminals of different specifications are mixed and attached to one connector, a different inspection device must be used for one connector for each specification. Therefore, the conventional connector inspection has a problem that the inspection efficiency is low and the inspection cost is high.
[0006]
The present invention has been made in view of the above problems, and in a pin switch in which a switch is turned on when a pin attached to and retracted from a casing retreats, a multi-stage pin that can be turned on and off at a plurality of positions is provided. It is intended to provide a switch.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
Structure of the multistage pin switch of the present invention for achieving the above object is fitted in the axial direction so as to rise from, the distal end in a conducting state to a casing comprising a probe the Philippines a cylindrical conductor, behind it A plurality of contact pins are sequentially fitted in the casing in the axial direction so as to be movable back and forth by a predetermined length in an insulated state, and a coil-type return spring is attached to each of the search pin and the contact pin, and is attached toward the distal end. the mounting explore the pin is fitted the coil return spring Rutotomoni upon to energize the contact pin except at least the last ones, in a conducting state electrodes isolated from the casing, and return the coil springs and fitted mounting, these pins in a free state of the probing pins are set to open the predetermined distance from one another, probe the Philippines is pushed retracted When the first contact pin behind comes into contact with the first contact pin, the first contact pin conducts, and when the first contact pin that has been retracted by further retreating the contact pin comes into contact with the contact pin behind it, the next contact pin Is such that, as the search pin retreats, the search pin sequentially conducts with a plurality of subsequent contact pins as the search pin retreats.
[0008]
The number of the contact pins may be two or more.
There is no particular limitation on the support of the contact pins arranged in the intermediate portion between the search pin and the last contact pin, and the electrode attaching means is not particularly limited.For example, the return spring is supported by a conductive cylinder electrically insulated from the casing. The present invention can be implemented by a mode in which a through hole is opened in a casing at a position where the conductive cylinder is attached, and an electrode in contact with the conductive cylinder is attached to this portion.
[0009]
The use of the multi-stage pin switch can be used for detecting contact of a connector, detecting warpage of a wiring board, a height difference, detecting a specific position of an object that strokes back and forth with one switch, and the like. it can.
[0010]
[Action]
The search pin and the plurality of contact pins are respectively urged and attached to the distal end side of the casing, and the distal end pin is retracted, and the front and rear pins are formed to conduct when contacting the rear pin, thereby forming one switch. A plurality of stroke positions can be detected with the search pin.
[0011]
【Example】
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
The multi-stage pin switch 3 of the present embodiment shown in FIGS. 1 to 5 includes a
[0012]
The
[0013]
By forming as described above, the
The
[0014]
Then, the
The
[0015]
The
The
[0016]
The outer periphery of the
[0017]
In the case of this example, the diameter of the
[0018]
FIG. 4 shows a state in which the
Next, the principle of conduction detection for detecting the conduction will be described with reference to FIG. In the figure, the
[0019]
By using an inspection device in which the multi-stage pin switches 3 formed as described above are arranged so as to correspond to the respective contacts of a connector (not shown) to be inspected, the inspection of the connectors of a plurality of specifications can be performed by a multi-stage pin of one specification. Can be inspected by switch. Further, the multi-stage pin switch 3 can be used for various applications such as being used as a position detection sensor of a robot that performs a control operation at a plurality of stroke positions.
[0020]
【The invention's effect】
The above-described multi-stage pin switch of the present invention is configured such that the search pin and the plurality of contact pins are urged toward the distal end side of the casing , and these pins are spaced from each other by a predetermined distance in the free state of the search pin. Then, as the search pin retreats, the search pin is successively connected to a plurality of contact pins behind, so that a switch that is turned on at a plurality of different stroke positions of the search pin is obtained.
Therefore specifications inspection and terminal mounting state of that different, different inspection test and the like terminal mounting state specification connectors fitted with terminals, the inspection of the warping of the printed wiring board, detects the like of a plurality of control positions, one This can be performed with a multi-stage pin switch having two specifications, so that the inspection or position detection efficiency can be improved, and the cost of the inspection / detector can be reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a longitudinal sectional view of a multi-stage switch according to an embodiment of the present invention, which is partially cut away and bisected halfway.
FIG. 2 is a sectional view taken along line II-II of FIG.
FIG. 3 is a sectional view taken along line III-III of FIG. 1;
FIG. 4 is a partial side view showing a state where an electric wire connection terminal is connected to the multi-stage switch shown in FIG. 1;
FIG. 5 is a conceptual diagram of the conduction detection circuit of the multi-stage switch shown in FIG.
FIG. 6A is a diagram illustrating a state in which a terminal is attached to a housing of a conventional connector, in which A shows before attachment and B shows after attachment.
[Explanation of symbols]
Reference Signs List 3
Claims (2)
探りピンが押されて後退し、後ろにある最初の接点ピンに接すると探りピンと前記最初の接点ピンとが導通し、探りピンが更に後退することによって後退させられた前記最初の接点ピンがその後ろの接点ピンと接すると、この次の接点ピンは最初の接点ピンを介して探りピンと導通するように、探りピンが後退するに連れて探りピンが後ろの複数の接点ピンと順次導通するようにした多段ピンスイッチ。Fitted in the axial direction so as to rise from, the tip of the probe the Philippines in a conducting state to a casing consisting of cylindrical conductors, moving a plurality of contact pins on its back, before and after a predetermined length in an insulated state in said casing can sequentially fitted axially, these probing pins and the contact pins, in the explore pin upon urges distally fitted with return coil type each spring and fitted to the coil-type return spring mounting Rutotomoni, contact pin except at least the last ones, in a conducting state electrodes isolated from the casing and attached fitted the coil return spring, the pins in the free state of the probing pins It is set so as to leave a predetermined interval between each other ,
The probe Repin is retracted pushed, the first pin probing the contact with the contact pin and the first contact pin is turned behind, the first contact pin probing pin is retracted by further recession When the next contact pin is in contact with the rear contact pin, the next contact pin is electrically connected to the search pin via the first contact pin, and as the search pin is retracted, the search pin is sequentially connected to a plurality of rear contact pins. Multi-stage pin switch.
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