JP3559364B2 - Control method of MRI apparatus and MRI apparatus - Google Patents
Control method of MRI apparatus and MRI apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP3559364B2 JP3559364B2 JP27215095A JP27215095A JP3559364B2 JP 3559364 B2 JP3559364 B2 JP 3559364B2 JP 27215095 A JP27215095 A JP 27215095A JP 27215095 A JP27215095 A JP 27215095A JP 3559364 B2 JP3559364 B2 JP 3559364B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic field
- mri apparatus
- magnet assembly
- uniformity
- yoke
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、MRI(Magnetic Resonance Imaging)装置の制御方法およびMRI装置に関し、さらに詳しくは、熟練した作業者による作業を必要とせずに磁場均一性を調整することが出来るMRI装置の制御方法およびMRI装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
図6は、従来のマグネットアセンブリ(magnet assembly)1’の磁性材料部分の斜視図である。
このマグネットアセンブリ1’において、TYは上部ヨークであり、BYは下部ヨークであり、LYおよびRYはサイドヨークである。上部ヨークTYの下面および下部ヨークBYの上面には、静磁場を発生する永久磁石Mが対向して取り付けられている。また、各ヨークには、ヒータhが取り付けられている。各ヨークの位置関係は、調整ネジbにて調整可能である。
【0003】
図7は、前記マグネットアセンブリ1’を覆うエンクロージャおよびカバーの斜視図である。
ETは上部ヨークTYを覆うエンクロージャであり、EBは下部ヨークBYを覆うエンクロージャであり、ELはサイドヨークLYを覆うエンクロージャであり、ERはサイドヨークRYを覆うエンクロージャである。ヨークとそれを覆うエンクロージャの間には断熱材が充填されている。調整ネジbは、エンクロージャETの外部から調整できるようになっている。また、エンクロージャETは、カバーcで保護されている。図示しないが、エンクロージャEB,EL,ERもカバーで保護されている。
【0004】
図8は、磁場均一性の調整手順を示すフローチャートである。
ステップT1では、カバーcを外した状態で、ヒータhに通電する。
ステップT2では、マグネットアセンブリ1’のヨークの温度が安定するまで待つ(例えば8時間)。
ステップT3〜T5では、磁場不均一性を測定し(例えば機械的治具を用いて測定する)、その磁場不均一性を小さくするように調整ネジbで各ヨークの位置関係を調整し、これを繰り返して、磁場不均一性を許容値内に収める。
ステップT6では、カバーcを取り付ける。
【0005】
なお、特開昭63−43649号公報や特開昭63−278310号公報には、マグネットアセンブリのヨークの温度を安定させる技術が開示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】
上記の従来技術では、マグネットアセンブリ1’のヨークをヒータにより加熱し、外部温度に左右されない一定の温度に安定化させ、磁場不均一性に影響を与えないようにした上で、調整ネジbで各ヨークの位置関係を調整し、磁場不均一性を許容値内に収めている。
しかし、調整ネジbの調整という機械的な作業で磁場不均一性を許容値内に収めるには、熟練を要する。すなわち、従来のMRI装置では、磁場均一性の調整に、熟練した作業者が必要となる問題点がある。
そこで、この発明の目的は、熟練した作業者による作業を必要とせずに磁場均一性を調整することが出来るMRI装置の制御方法およびMRI装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
第1の観点では、この発明は、永久磁石によって磁場を形成するマグネットアセンブリを備えたMRI装置の制御方法であって、磁場を均一にするように、前記マグネットアセンブリを構成する磁性材料の温度分布を不均一に制御することを特徴とするMRI装置の制御方法を提供する。
従来は、磁性材料の温度変化により磁場が変化してしまうのを防止するため、マグネットアセンブリをいわば恒温槽化し、磁性材料の温度を一定の温度に安定化させるという消極的な制御を行っていた。これに対して、この発明では、磁性材料の温度変化により磁場が変化してしまうことを積極的に利用し、磁場を均一にするように、磁性材料の温度分布を不均一に制御する。これによれば、電気的に磁場均一性を調整できるため、熟練した作業者による作業を必要としなくなる。また、遠隔から通信により磁場均一性を調整することも可能となる。
【0008】
第2の観点では、この発明は、永久磁石によって磁場を形成するマグネットアセンブリを備えたMRI装置において、前記マグネットアセンブリを構成する磁性材料の異なる部分を加熱するための複数の加熱手段と、磁場を均一にするように前記磁性材料の温度分布を不均一に制御するべく前記複数の加熱手段を駆動する制御手段とを具備したことを特徴とするMRI装置を提供する。
このMRI装置によれば、マグネットアセンブリを構成する磁性材料の異なる部分を別個に加熱できるため、上記第1の観点による制御方法を好適に実施することが出来る。
【0009】
第3の観点では、この発明は、上記構成のMRI装置において、前記マグネットアセンブリを構成する磁性材料の異なる部分の間の熱伝達を抑制するための放熱手段を具備したことを特徴とするMRI装置を提供する。
このMRI装置によれば、マグネットアセンブリを構成する磁性材料の異なる部分を熱的に分離できるため、上記第1の観点による制御方法を好適に実施することが出来る。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、図に示す実施例に基づいてこの発明を説明する。なお、これによりこの発明が限定されるものではない。
図1は、この発明のMRI装置の一実施例を示すブロック図である。
このMRI装置100において、マグネットアセンブリ1は、内部に被検体を挿入するための空間部分(孔)を有し、この空間部分を取りまくようにして、被検体に一定の静磁場を印加する永久磁石Mと、スライス選択軸,読み出し軸,位相エンコード軸の勾配磁場パルスを発生するための勾配磁場コイル1gと、被検体内の原子核のスピンを励起するためのRFパルスを与える送信コイル1tと、被検体からのNMR信号を検出する受信コイル1rと、温度センサs1〜s20と、ヒータh1〜h16が配置されている。前記勾配磁場コイル1g,送信コイル1tおよび受信コイル1rは、それぞれ勾配磁場駆動回路3,RF電力増幅器4および前置増幅器5に接続されている。
【0011】
シーケンス記憶回路8は、計算機7からの指令に従い、記憶しているパルスシーケンスに基づいて勾配磁場駆動回路3を操作し、前記マグネットアセンブリ1の勾配磁場コイル1gから勾配磁場パルスを発生させると共に、ゲート変調回路9を操作し、RF発振回路10の搬送波出力信号を所定タイミング・所定包絡線形状のパルス状信号に変調し、それをRFパルスとしてRF電力増幅器4に加え、RF電力増幅器4でパワー増幅した後、前記マグネットアセンブリ1の送信コイル1tに印加し、目的のスライス領域を選択励起する。
【0012】
前置増幅器5は、マグネットアセンブリ1の受信コイル1rで検出された被検体からのNMR信号を増幅し、位相検波器12に入力する。位相検波器12は、RF発振回路10の搬送波出力信号を参照信号とし、前置増幅器5からのNMR信号を位相検波して、A/D変換器11に与える。A/D変換器11は、位相検波後のアナログ信号をディジタル信号に変換して、計算機7に入力する。
計算機7は、A/D変換器11からMRデータを読み込み、画像再構成演算を行い、目的のスライス領域のイメージを生成する。このイメージは、表示装置6により表示される。また、計算機7は、操作卓13から入力された情報を受け取るなどの全体的な制御を受け持つ。
【0013】
さらに、計算機7は、磁場不均一性の分布を測定し、その磁場不均一性の分布を磁場均一性制御部14に与える。
前記磁場均一性制御部14の温度分布算出部14aは、前記計算機7から与えられた磁場不均一性の分布に基づいて磁場不均一性を小さくするようなマグネットアセンブリ1の各部の温度分布を算出する。そして、磁場均一性制御部14のヒータ駆動部14bは、マグネットアセンブリ1の各部の温度を温度センサs1〜s20で監視しながらヒータh1〜h16を駆動し、前記温度分布を実現する。
【0014】
図2は、上記マグネットアセンブリ1の磁性材料部分の斜視図である。
このマグネットアセンブリ1において、TYは上部ヨークであり、BYは下部ヨークであり、LYおよびRYはサイドヨークである。上部ヨークTYの下面および下部ヨークBYの上面には、静磁場を発生する永久磁石Mが対向して取り付けられている。また、各ヨークは、例えばアルミ製の放熱ブロックqにより熱的に4分割されている。それら4分割された各部分には、それぞれヒータh1〜h16(一部は図示省略)が取り付けられている。さらに、各ヨークの4つの角部と中央部には、それぞれ温度センサs1〜s20(一部は図示省略)が取り付けられている。
図示しないが、各ヨークはエンクロージャで囲まれ、断熱材で外部と熱的に遮断されている。
【0015】
図3は、磁場均一性の調整手順を示すフローチャートである。
ステップV1では、磁場不均一性を測定する。この磁場不均一性の測定は、従来と同様に機械的治具を用いて測定してもよいが、後述する磁場不均一性の測定処理(図4,図5)により求めると、迅速かつ精密に求めることができて、好ましい。
ステップV2では、磁場不均一性の分布に基づいて磁場不均一性を小さくするようなマグネットアセンブリ1の各部の温度分布を算出する。この温度分布は、一般的には、磁場強度が基準値よりも高い部分の近傍の温度を相対的に高くし、磁場強度が基準値よりも低い部分の近傍の温度を相対的に低くする。
ステップV3では、温度センサs1〜s20でマグネットアセンブリ1の各部の温度を監視しながらヒータh1〜h16を駆動し、前記温度分布に近づけるようにする。
以上の処理を何回か繰り返せば、磁場不均一性を許容値内に収めることが出来る。
【0016】
図4は、磁場不均一性の測定処理のフローチャートである。
ステップP1では、ファントムを、図5に示すパルスシーケンスPSによりCSI(Chemical Shift Imaging)撮影する。図5のパルスシーケンスPSでは、90゜の励起パルスおよびスライス選択勾配ssを印加して所定位置のスライスを選択励起する。次に、位相エンコード勾配px,pyを印加する。次に、180゜の反転パルスを印加する。そして、集束するエコーEをサンプリングしてMRS(Magnetic Resonance Spectroscopy)データを取得する。
ステップP2では、取得したMRSデータに基づいて各ボクセルの周波数スペクトラムを求める。
ステップP3では、各ボクセルの周波数スペクトラムのピーク周波数を求め、1つのボクセルを基準ボクセルとし、その基準ボクセルのピーク周波数との周波数ずれ量を求める。
ステップP4では、各ボクセルの周波数ずれ量に基づいて磁場不均一性の分布を求める。基準ボクセルのピーク周波数をf0,周波数ずれ量をΔfi,静磁場強度をHとするとき、磁場不均一性ΔHiは、
ΔHi=H・Δfi/f0
により求められる。
スライス位置を変えて上記磁場不均一性の測定処理を何回か行なえば、必要な空間の磁場不均一性を測定できる。
【0017】
以上のMRI装置100によれば、電気的に磁場均一性を調整できるため、熟練した作業者による作業を必要としなくなる。また、遠隔から通信により磁場均一性を調整することも可能となる。
【0018】
他の実施例としては、MRI撮影用パルスシーケンスや,いわゆるDixonシーケンス(励起RFパルスを印加し、次に読み出し勾配パルスを印加し、次に反転RFパルスを印加し、次に前記反転RFパルスからの時間間隔が前記励起RFパルスと前記反転RFパルスの時間間隔と一致しない時刻にエコー強度がピークになるように読み出し勾配パルスを印加しながらサンプリングしてMRデータを収集するパルスシーケンス)に基づいて磁場不均一分布を測定してもよい。
【0019】
さらに他の実施例としては、勾配コイルに通電して発熱させ、マグネットアセンブリを構成する磁性材料を加熱するようにしてもよい。
【0020】
【発明の効果】
この発明のMRI装置の制御方法およびMRI装置によれば、電気的に磁場均一性を調整できるため、熟練した作業者による作業を必要としなくなる。また、遠隔から通信により磁場均一性を調整することも可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のMRI装置の一実施例を示すブロック図である。
【図2】図1のMRI装置のマグネットアセンブリの磁性材料部分の斜視図である。
【図3】この発明にかかる磁場均一性の調整手順を示すフローチャートである。
【図4】磁場不均一性の測定動作のフローチャートである。
【図5】磁場不均一性の測定に用いるパルスシーケンス図である。
【図6】従来のマグネットアセンブリの磁性材料部分の斜視図である。
【図7】図6のマグネットアセンブリのエンクロージャとカバーの斜視図である。
【図8】従来の磁場均一性の調整手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
100 MRI装置
1 マグネットアセンブリ
14 磁場均一性制御部
14a 温度分布算出部
14b ヒータ駆動部
h1〜h16 ヒータ
s1〜s20 温度センサ
TY 上部ヨーク
BY 下部ヨーク
LY,RY サイドヨーク
M 永久磁石
b 調整ネジ
c カバー[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a control method of an MRI (Magnetic Resonance Imaging) apparatus and an MRI apparatus, and more particularly, to a control method of an MRI apparatus and an MRI apparatus capable of adjusting magnetic field uniformity without requiring an operation by a skilled operator. Equipment related.
[0002]
[Prior art]
FIG. 6 is a perspective view of a magnetic material portion of a conventional magnet assembly 1 '.
In this magnet assembly 1 ', TY is an upper yoke, BY is a lower yoke, and LY and RY are side yokes. On the lower surface of the upper yoke TY and the upper surface of the lower yoke BY, permanent magnets M for generating a static magnetic field are attached to face each other. Further, a heater h is attached to each yoke. The positional relationship between the yokes can be adjusted with the adjusting screw b.
[0003]
FIG. 7 is a perspective view of an enclosure and a cover that cover the
ET is an enclosure that covers the upper yoke TY, EB is an enclosure that covers the lower yoke BY, EL is an enclosure that covers the side yoke LY, and ER is an enclosure that covers the side yoke RY. Insulation is filled between the yoke and the enclosure that covers it. The adjustment screw b can be adjusted from outside the enclosure ET. The enclosure ET is protected by a cover c. Although not shown, the enclosures EB, EL, and ER are also protected by covers.
[0004]
FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for adjusting the uniformity of the magnetic field.
In step T1, the heater h is energized with the cover c removed.
In step T2, the process waits until the temperature of the yoke of the magnet assembly 1 'is stabilized (for example, 8 hours).
In steps T3 to T5, the non-uniformity of the magnetic field is measured (for example, measured using a mechanical jig), and the positional relationship between the yokes is adjusted with the adjusting screw b so as to reduce the non-uniformity of the magnetic field. Is repeated to keep the magnetic field inhomogeneity within an allowable value.
In Step T6, the cover c is attached.
[0005]
JP-A-63-43649 and JP-A-63-278310 disclose techniques for stabilizing the temperature of a yoke of a magnet assembly.
[0006]
[Problems to be solved by the invention]
In the above-mentioned conventional technology, the yoke of the magnet assembly 1 'is heated by a heater to stabilize the yoke of the magnet assembly 1' at a constant temperature independent of the external temperature so as not to affect the non-uniformity of the magnetic field. The positional relationship between the yokes is adjusted to keep the magnetic field inhomogeneity within an allowable value.
However, skill is required to keep the magnetic field non-uniformity within an allowable value by a mechanical operation of adjusting the adjusting screw b. That is, the conventional MRI apparatus has a problem that a skilled operator is required to adjust the magnetic field uniformity.
Therefore, an object of the present invention is to provide a control method of an MRI apparatus and an MRI apparatus that can adjust the magnetic field uniformity without requiring an operation by a skilled worker.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
In a first aspect, the present invention relates to a method for controlling an MRI apparatus including a magnet assembly for forming a magnetic field by using a permanent magnet, wherein the temperature distribution of a magnetic material constituting the magnet assembly is controlled so as to make the magnetic field uniform. And a method for controlling the MRI apparatus, characterized in that the control is performed unevenly.
In the past, in order to prevent the magnetic field from changing due to the temperature change of the magnetic material, passive control was performed to stabilize the temperature of the magnetic material at a constant temperature by making the magnet assembly a so-called constant temperature bath. . On the other hand, in the present invention, the fact that the magnetic field changes due to the temperature change of the magnetic material is positively utilized, and the temperature distribution of the magnetic material is non-uniformly controlled so as to make the magnetic field uniform. According to this, since the magnetic field uniformity can be electrically adjusted, the operation by a skilled operator is not required. It is also possible to adjust the magnetic field uniformity by remote communication.
[0008]
According to a second aspect, the present invention provides an MRI apparatus including a magnet assembly that forms a magnetic field with a permanent magnet, a plurality of heating means for heating different portions of a magnetic material forming the magnet assembly, An MRI apparatus comprising: a control unit that drives the plurality of heating units to control the temperature distribution of the magnetic material to be non-uniform so as to make the magnetic material uniform.
According to this MRI apparatus, different portions of the magnetic material constituting the magnet assembly can be separately heated, so that the control method according to the first aspect can be suitably implemented.
[0009]
According to a third aspect of the present invention, in the MRI apparatus having the above-described configuration, a heat radiating unit for suppressing heat transfer between different portions of the magnetic material forming the magnet assembly is provided. I will provide a.
According to this MRI apparatus, different portions of the magnetic material constituting the magnet assembly can be thermally separated, so that the control method according to the first aspect can be suitably implemented.
[0010]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, the present invention will be described based on an embodiment shown in the drawings. It should be noted that the present invention is not limited by this.
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the MRI apparatus of the present invention.
In the
[0011]
The
[0012]
The
The
[0013]
Further, the
The
[0014]
FIG. 2 is a perspective view of a magnetic material portion of the
In the
Although not shown, each yoke is surrounded by an enclosure and is thermally isolated from the outside by a heat insulating material.
[0015]
FIG. 3 is a flowchart showing a procedure for adjusting the uniformity of the magnetic field.
In step V1, the magnetic field inhomogeneity is measured. The measurement of the magnetic field inhomogeneity may be performed using a mechanical jig in the same manner as in the related art. Is preferable.
In step V2, the temperature distribution of each part of the
In step V3, the heaters h1 to h16 are driven while monitoring the temperature of each part of the
By repeating the above process several times, the magnetic field inhomogeneity can be kept within an allowable value.
[0016]
FIG. 4 is a flowchart of the magnetic field inhomogeneity measurement process.
In Step P1, the phantom is photographed by CSI (Chemical Shift Imaging) using the pulse sequence PS shown in FIG. In the pulse sequence PS of FIG. 5, a 90 ° excitation pulse and a slice selection gradient ss are applied to selectively excite a slice at a predetermined position. Next, the phase encode gradients px and py are applied. Next, a 180 ° inversion pulse is applied. Then, the focused echo E is sampled to obtain MRS (Magnetic Resonance Spectroscopy) data.
In Step P2, the frequency spectrum of each voxel is obtained based on the acquired MRS data.
In step P3, the peak frequency of the frequency spectrum of each voxel is determined, and one voxel is set as a reference voxel, and the amount of frequency deviation from the peak frequency of the reference voxel is determined.
In Step P4, a distribution of the magnetic field inhomogeneity is obtained based on the frequency shift amount of each voxel. Assuming that the peak frequency of the reference voxel is f0, the frequency deviation is Δfi, and the static magnetic field strength is H, the magnetic field inhomogeneity ΔHi is
ΔHi = H · Δfi / f0
Required by
By changing the slice position and performing the above-described magnetic field inhomogeneity measurement processing several times, the magnetic inhomogeneity in the required space can be measured.
[0017]
According to the above-described
[0018]
As another embodiment, a pulse sequence for MRI imaging or a so-called Dixon sequence (excitation RF pulse is applied, then a readout gradient pulse is applied, then an inverted RF pulse is applied, and then the inverted RF pulse is applied. (A pulse sequence in which sampling is performed while applying a readout gradient pulse so as to acquire MR data so that the echo intensity reaches a peak at a time when the time interval of the excitation RF pulse does not coincide with the time interval of the inversion RF pulse). The non-uniform distribution of the magnetic field may be measured.
[0019]
As yet another embodiment, the gradient coil may be energized to generate heat and heat the magnetic material constituting the magnet assembly.
[0020]
【The invention's effect】
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the control method of an MRI apparatus and the MRI apparatus of this invention, since the magnetic field uniformity can be adjusted electrically, the operation | work by a skilled worker is unnecessary. It is also possible to adjust the magnetic field uniformity by remote communication.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of an MRI apparatus of the present invention.
FIG. 2 is a perspective view of a magnetic material portion of a magnet assembly of the MRI apparatus of FIG.
FIG. 3 is a flowchart showing a procedure for adjusting magnetic field uniformity according to the present invention.
FIG. 4 is a flowchart of a magnetic field inhomogeneity measurement operation.
FIG. 5 is a pulse sequence diagram used for measuring magnetic field inhomogeneity.
FIG. 6 is a perspective view of a magnetic material portion of a conventional magnet assembly.
FIG. 7 is a perspective view of an enclosure and a cover of the magnet assembly of FIG. 6;
FIG. 8 is a flowchart showing a conventional procedure for adjusting magnetic field uniformity.
[Explanation of symbols]
100
Claims (3)
磁場を均一にするように、前記マグネットアセンブリを構成する磁性材料の温度分布を不均一に制御することを特徴とするMRI装置の制御方法。A method for controlling an MRI apparatus including a magnet assembly for forming a magnetic field by a permanent magnet, comprising:
A method for controlling an MRI apparatus, comprising: controlling a temperature distribution of a magnetic material constituting a magnet assembly to be non-uniform so as to make a magnetic field uniform.
前記マグネットアセンブリを構成する磁性材料の異なる部分を加熱するための複数の加熱手段と、磁場を均一にするように前記磁性材料の温度分布を不均一に制御するべく前記複数の加熱手段を駆動する制御手段とを具備したことを特徴とするMRI装置。In an MRI apparatus including a magnet assembly that forms a magnetic field with a permanent magnet,
A plurality of heating means for heating different portions of the magnetic material constituting the magnet assembly, and the plurality of heating means are driven to non-uniformly control the temperature distribution of the magnetic material so as to make the magnetic field uniform. An MRI apparatus comprising control means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27215095A JP3559364B2 (en) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | Control method of MRI apparatus and MRI apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27215095A JP3559364B2 (en) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | Control method of MRI apparatus and MRI apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09108198A JPH09108198A (en) | 1997-04-28 |
JP3559364B2 true JP3559364B2 (en) | 2004-09-02 |
Family
ID=17509792
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27215095A Expired - Fee Related JP3559364B2 (en) | 1995-10-20 | 1995-10-20 | Control method of MRI apparatus and MRI apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3559364B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IL196487A (en) * | 2009-01-13 | 2016-03-31 | Aspect Imaging Ltd | Means and methods for providing high resolution mri |
JP2011217913A (en) * | 2010-04-08 | 2011-11-04 | Mr Technology:Kk | Temperature control method and unit |
-
1995
- 1995-10-20 JP JP27215095A patent/JP3559364B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH09108198A (en) | 1997-04-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3377113B2 (en) | Magnetic resonance imaging method and apparatus | |
US7852084B2 (en) | Magnetic resonance with time sequential spin excitation | |
JP4030805B2 (en) | Coil sensitivity map creation method and MRI apparatus | |
EP2013637B1 (en) | Mr involving high speed coil mode switching between i-channel linear, q-channel linear, quadrature and anti-quadrature modes | |
US20100253334A1 (en) | Magnetic resonance system with cooling system and monitoring of helium pressure | |
KR100901901B1 (en) | Static magnetic field correction method and mri system | |
US6288545B1 (en) | Method and apparatus for calibration of RF and gradient field time delays | |
EP0463789A2 (en) | RF Power calibration for an NMR system | |
US6853855B2 (en) | Magnetic resonance tomography apparatus with improved spatial and time stabilization of the homogeneity of the magnetic basic field | |
JPH08206094A (en) | Nuclear spin tomography device | |
US8198897B2 (en) | Superconductive magnetic device, magnetic resonance imaging apparatus and magnetic field inhomogeneity compensation method | |
EP1081501A2 (en) | Modular gradient system for MRI system | |
JP2006527621A (en) | Method for shimming the main magnetic field in magnetic resonance | |
JP3559364B2 (en) | Control method of MRI apparatus and MRI apparatus | |
JPH03292934A (en) | Inspection using nuclear magnetic resonance | |
EP0577188B1 (en) | Method and apparatus for magnetic resonance imaging | |
JP4392941B2 (en) | Magnetic resonance imaging system | |
JP3928992B2 (en) | Magnetic resonance imaging system | |
JP4331322B2 (en) | MRI equipment | |
JPH07303620A (en) | Compensation coil and compensation method for drift of static magnetic field | |
JPH0244219B2 (en) | ||
JPH10201733A (en) | Magnetic resonance imaging apparatus | |
JPH08592A (en) | Mr apparatus | |
JPH10262947A (en) | Magnetic resonance examination system | |
JPH0392138A (en) | Heat insulating apparatus for static magnetic field-generating apparatus for mri |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040423 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040427 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040521 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090528 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528 Year of fee payment: 6 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528 Year of fee payment: 6 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100528 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110528 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120528 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130528 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140528 Year of fee payment: 10 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |