JP3547983B2 - Pulse width control circuit and disk recording control circuit - Google Patents

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浩二 林
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、遅延素子を複数段接続した遅延回路を用いて構成したパルス幅制御回路、及びディスク記録装置においてこのパルス幅制御回路を利用して記録マークの記録タイミングを調整可能なディスク記録制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
光ディスク装置や光磁気ディスク装置においては、データを再生するだけでなく書き込み可能なものがあり、このような装置では、データの変調信号に対応する記録マークをレーザー装置でディスク上に記録することによって、データの記録媒体への書き込みを行っている。
【0003】
たとえば、CD−Rでは、まず、書き込もうとするデータをEFMエンコーダでEFM信号に変調し、このEFM信号をレーザー装置に送出してEFM信号に対応する記録マークをディスクに記録するようにしている。
ところが、データを記録するメディアの種類やディスクの回転速度によって記録状態が変化するため、単純にEFM信号をレーザー装置に送出するだけでは、所望の記録マークを記録することはできない。そこで、EFM信号の立ち上がりや立ち下がりのタイミングを遅延させることによって、所望の記録マークを記録する試みが従来より行われていた。そして、このようにEFM信号を遅延させるためには、一般に、クロックに同期して動作するDフリップフロップ等のロジック回路を複数段接続して使用していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
EFM信号は、EFMクロックと呼ばれる基準信号に同期した信号であって、このクロックの3〜11周期分のパルス幅を有している。従って、上述の如くクロックに同期して動作するDフリップフロップで遅延回路を構成する場合には、Dフリップフロップに印加するクロックとして、EFMクロックより高速のクロックを用いなければならず、たとえば、遅延回路の分解能を16段階とすればEFMクロックの16倍の速さのクロックが必要となる。
【0005】
しかしながら、このEFMクロックは元々相当周波数の高いクロックであり、4倍速では「17.28MHz」、8倍速では「34.56MHz」である。従って、上記Dフリップフロップに印加するクロックとしては、4倍速では「276.48MHz」、8倍速では「552.96MHz」ときわめて高速となってしまう。このため、実際にはこのような高速のクロックを供給することは不可能であり、且つこのような高速クロックに同期して安定して動作するロジック回路を作ることもきわめて難しい。
【0006】
更に、ロジック回路は、電源変動や温度変化などの外的要因を受けやすいので、コントロールしたいパルス幅が非常に短い場合は、精度良くコントロールすることは困難である。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は、遅延素子を複数段接続して入力信号を遅延させる第1及び第2の遅延回路と、第1及び第2の遅延回路毎に各遅延素子段の出力信号のいずれかを選択して遅延信号として出力する第1及び第2のセレクタと、各遅延回路毎に入力信号と前記遅延信号との論理演算を行う第1及び第2の論理回路を有し、第1の論理回路の出力信号を第2の遅延回路の入力信号とすると共に、第1及び第2の論理回路の一方を論理積回路とし他方を論理和回路として、パルス幅制御回路を構成することを特徴とする。
【0008】
また、本発明では、前記遅延回路は、遅延素子を複数段リング状に接続して構成され、各段の遅延量が入力される制御電圧により制御されるVCOと、該VCOの出力信号もしくはその分周信号と基準信号とを入力し両信号の位相を比較する位相比較器と、該位相比較器で検出された位相差に応じた前記制御電圧を発生するローパスフィルタと、前記VCOの遅延素子と同一構成の遅延素子を複数段接続して構成され、入力信号を遅延させて出力すると共に各段の遅延量が前記制御電圧により制御されるディレイラインとを備えたことを特徴とする。
【0009】
更に、本発明では、ディスク記録制御回路が上記パルス幅制御回路で構成され、入力信号として記録すべき変調信号が供給され、メディアの種類及び/又は回転速度に応じたセレクト信号が前記第1及び第2のセレクタに入力され、前記変調信号に対応する記録マークをディスクに記録する記録装置へ出力信号を送出して、記録マークの記録タイミングを調整可能としたことを特徴とする。
【0010】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明によるパルス幅制御回路の実施形態を示すブロック図であり、入力信号の立ち上がりと立ち下がりの遅延量を独立して設定できるように、2つの遅延回路10,30を用いている。各遅延回路10,30は、インバータよりなる遅延素子40を複数段直列に接続して構成され、各段の出力信号のいずれか一つをセレクト信号SEL1,SEL2に応じて選択するセレクタ11,31が、各遅延回路10,30に各々接続されている。更に、セレクタ11で選択された遅延信号と遅延回路10への入力信号を入力するANDゲート12と、セレクタ31で選択された遅延信号と遅延回路30への入力信号を入力するORゲート32が設けられ、ANDゲート12の出力信号が遅延回路30の入力信号として供給されている。
【0011】
ここで、各遅延回路10,30は、遅延素子40が16段接続されて構成されており、1つの遅延素子の遅延量dtは、基準クロックであるEFMCKの周期Tの1/16に設定されている。
そこで、図6bに示すように、遅延回路10にEFMCK(図6a)6周期分である6TのEFM信号が入力されたとすると、遅延回路10では各遅延素子が入力EFM信号を順次T/16づつ遅延させていく。そして、セレクタ11はSEL1により指定された段数nの遅延信号EFMD1(図6c)を選択し、ANDゲート12に出力する。今SEL1により指定された段数nが「10」ならば、立ち上がりの遅延量Tdfは、Tdf=10・T/16に設定される。また、ANDゲート12の他方の入力端には入力信号EFMがそのまま印加されているので、ANDゲート12の出力信号は、図6dに示すようになり、この信号が次段の遅延回路30の入力信号となる。遅延回路30においても遅延回路10と同様、各遅延素子によりANDゲート12の出力信号が順次T/16づつ遅延されてゆき、SEL2により指定された段数nの遅延信号EFMD2(図6e)がセレクタ31で選択され、ORゲート32に出力される。SEL2により指定された段数nが「8」ならば、立ち下がりの遅延量Tdbは、Tdb=8・T/16に設定される。そして、ORゲート32では、ANDゲートの出力信号と遅延信号EFMD2の論理和がとられるので、その出力WDATとしては図6fに示すように、入力されたEFM信号と比べると、立ち上がりがTdf(10・T/16)だけ遅延され、立ち下がりがTdb(8・T/16)だけ遅延され、パルス幅が2T/16短くなった信号が出力されることとなる。
【0012】
このように、立ち上がりと立ち下がりの遅延量Tdf,Tdbは、セレクト信号SEL1,2により各々独立に設定することができる。尚、遅延回路30にEFM信号を入力し、ORゲート32の出力を遅延回路10に入力して、ANDゲート12の出力を最終的な出力信号WDATとしても、図1と全く同様の出力を得ることができる。また、遅延素子40としてインバータの代わりにコンパレータを用いても良い。
【0013】
次に、以上説明したパルス幅制御回路をCD−R用のディスク記録制御回路に適用した例を、図7を参照して説明する。
図7は、CD−R用のディスク記録装置全体の構成を示すブロック図であり、ディスク50に書き込むべきデータは、まずEFMエンコーダ51でEFM信号に変調され、図1に示したパルス幅制御回路52にEFMCKと共に供給される。ディスク記録制御回路54は、このパルス幅制御回路52とレジスタ53から成り、パルス幅制御回路52の出力信号がレーザーピックアップ等のレーザー装置55に供給され、ディスクにEFM信号に対応する記録マークが記録される。また、ディスク記録装置全体をコントロールするマイコン56には、使用するディスクのメディア種別及び回転速度を示す情報が入力されており、マイコン56に接続されたテーブル57には図8に示すように、メディア種別及び回転速度に各々対応して、立ち上がり遅延量Tdfと立ち下がり遅延量Tdbがあらかじめ記憶されている。尚、記憶されている遅延量は、単位遅延量T/16の何倍であるかを示す数値で記憶されており、このためこの数値そのものがSEL1,2となる。
【0014】
マイコンは、メディア種別及び回転速度が指定されると、テーブルから対応する立ち上がり及び立ち下がりの遅延量を読み出し、この数値をレジスタ53にセットする。そして、レジスタ53にセットされた数値がSEL1,2として、パルス幅制御回路52に入力される。パルス幅制御回路52では、上述したように入力されたEFM信号をSEL1により指定された遅延量だけ立ち上がりを遅延し、SEL2により指定された遅延量だけ立ち下がりを遅延して、レーザー装置55に送出する。従って、レーザー装置55では、EFM信号の記録タイミングがメディアの種別及び回転速度に応じて調整され、適切な記録マークが記録される。
【0015】
ところで、図1に示した遅延回路10,30を構成する遅延素子40は、製造ばらつきにより遅延素子を構成するトランジスタの特性が均一にならないために、遅延量にばらつきが生じる。そこで、遅延量を高精度に設定したい場合は、遅延回路10,30として、図2に示す遅延回路1を用いればよい。
図2は示す遅延回路1は、入力信号を遅延するためのディレイライン2と、このディレイライン2の遅延量を制御するためのPLL回路3から成る。PLL回路3は、入力される制御電圧Vtにより出力信号周波数が変化するVCO4と、VCO4の出力信号を1/Nに分周するプログラマブルデバイダ5と、入力される基準信号RFCKを1/Mに分周するリファレンスデバイダ6と、両デバイダ5,6の出力信号の位相を比較する位相比較器7と、位相比較器7により検出された位相差に応じた制御電圧VtをVCO3に供給するローパスフィルタ8とを備えており、両デバイダ5,6とも分周比が変更可能なデバイダである。また位相比較器7の出力段にはチャージポンプが設けられている。
【0016】
このPLL回路3中のVCO4は、図2に示すように、遅延セル40を複数段直列に接続し、更に最終段の遅延セル41の出力を初段に負帰還するリング状の構成であって、最終段の出力をバッファ45を介してプログラマブルデバイダ5に送出している。また、各遅延セルは第1及び第2の制御端子を有し、第1の制御端子にバイアス回路46からの一定バイアスVbが供給され、第2の制御端子にローパスフィルタ8からの制御電圧Vtが供給されている。
【0017】
一方、ディレイライン2は、VCO4を構成する遅延セルと同一構成の遅延セル40を、複数段直列に接続して構成され、VCO4とは異なり初段の遅延セルには外部から入力信号SINが印加されている。そして、セレクタ20で各段の遅延セルからの出力のいずれか一つを選択し、遅延信号SOUTとして取り出すようにしている。このセレクタ20は、図1におけるセレクタ11,31に相当するセレクタである。尚、図2に示す回路は同一チップ内の近傍に構成されており、このため遅延セルの遅延特性は、VCO4とディレイラインとでほぼ同一となる。
【0018】
ここで、図3を参照して、遅延セル40の具体構成について説明する。
遅延セル40は、基本的には、PチャンネルMOSトランジスタとNチャンネルMOSトランジスタを縦続接続してなるインバータ101,102を2段直列に接続して構成されており、各インバータ101,102の後ろにバッファ103,104が接続されている。また、インバータ101,102の電源電位との間には電流制御用のPチャンネルMOSトランジスタ105,106が接続され、インバータ101,102の接地電位との間には電流制御用のNチャンネルMOSトランジスタ107,108が接続されている。この電流制御用のPチャンネルMOSトランジスタ105のゲートは第1の制御端子110に接続され,電流制御用のNチャンネルMOSトランジスタ107のゲートは第2の制御端子111に接続されている。尚、109は寄生容量を示す。
【0019】
そして、本実施形態においては、第1の制御端子110にバイアス回路46からの一定バイアスVbが供給され、第2の制御端子111にローパスフィルタ8からの制御電圧Vtが供給されている。よって、制御電圧Vtが大きくなるとインバータ101,102に流れる電流が増加して入力信号INの遅延量dtは減少し、制御電圧Vtが小さくなるとインバータ101,102に流れる電流が減少して入力信号INの遅延量dtは増加する。このように、遅延セル40の遅延量dtは制御電圧Vtの大きさに応じて変化する。
【0020】
ところで、VCO4の最終段は負帰還をかけるために、遅延セル40の前半部分のみ、即ちインバータ101,バッファ103,制御用トランジスタ105,107で構成されており、インバータ101の出力がVCO4の初段の遅延セル40に入力されている。
以下、図2に示す実施形態の動作を説明する。
【0021】
まず、VCO4の出力信号周波数f1はプログラマブルデバイダ5によって1/Nに分周されf1/Nになり、基準信号周波数f0はリファレンスデバイダ6により分周されf0/Mになる。これらの分周信号は位相比較器7でその位相が比較され、ローパスフィルタ8からは位相差に応じた制御電圧VtがVCO4に供給される。これによって、両デバイダの出力信号の位相差をなくすようにPLL回路3が動作し、PLLがロックすると式(1)が成り立つ。
【0022】
【数1】

Figure 0003547983
【0023】
一方、VCO4では、上述したようにローパスフィルタ8からの制御電圧Vtにより各遅延セルの遅延量dtが決定され、初段の遅延セル40に入力された信号dt0は、図4に示すように各遅延セル40で順次dtづつ遅延されていく。そして、最終段の遅延セル41では信号が反転され、この反転信号が折り返し遅延dαの後に初段に帰還される。つまり、折り返し遅延dαがdtに比べて十分小さいとすれば、VCO4の周期Tの半周期T/2は、遅延量dtを遅延セル40の段数D分だけ加算した長さとなる。従って、遅延量dtは式(2)で表される。
【0024】
【数2】
Figure 0003547983
【0025】
ここで、周期Tは1/f1であって、上述したようにPLL回路3がロックすると式(1)が成立するので、ロック状態では、遅延量dtは式(3)で表される。
【0026】
【数3】
Figure 0003547983
【0027】
つまり、VCOの遅延セル段数Dと分周比M,Nを決定すれば、遅延セル40の遅延量dtは、基準信号RFCKの周波数f0のみに依存する一定値となる。
ところで、図2に示す回路では、上述したようにディレイライン2を構成する遅延セルはVCO4の遅延セルと全く同一の構成であり、しかもディレイライン2中の遅延セルに供給される制御電圧もVCO4の遅延セル40に供給される制御電圧Vtと全く同一である。このため、ディレイライン2中の遅延セルの遅延量は、VCO4の遅延セル40の遅延量dtと全く同一となり、PLLのロック時には基準信号周波数f0に依存した一定値となる。
【0028】
ディレイライン2は、入力信号SINを遅延セル40で順次遅延して、セレクタ20により所望の段の遅延出力を選択して、遅延信号SOUTとして出力する構成であり、この各遅延セル段の遅延量dtがPLLロック時には一定値となるので、ディレイライン2においてセレクタ20から出力する遅延信号の遅延量も所望の一定値となる。つまり、このディレイライン2では、製造時の調整は不要となり、且つPLL回路3で保証される精度で遅延量を設定でき、このためpsecオーダーでの高精度の設定が可能となる。しかも、PLLでは電源変動や温度変動に対しても保証されるので、ディレイライン2の遅延量もこれら変動の影響を受けなくなる。
【0029】
また、基準信号RFCKの周波数f0や分周比M,Nを変更するだけで、遅延量dtを用意に変更できるので、ディレイライン2の分解能の設定が容易となる。
たとえば、VCO4の段数Dが「16段」である場合、分周比M,Nを各々「2」とし、f0を「17.28MHz」とすれば、式(3)より遅延量dtは「1.81nsec」となる。そして、分周比M,Nを各々「4」に変更し、f0を「34.56MHz」に変更すれば、式(3)より遅延量dtは「0.90nsec」とpsecオーダーの分解能となる。
【0030】
更に、図5のVCO特性に示すように、PLLがロックする周波数範囲は広く、この範囲内で遅延セルの遅延量dtを変更できるので、ディレイライン2の遅延量可変範囲を広帯域とすることができる。
以上説明した実施形態は、遅延セル内の遅延素子をインバータで構成する例を示したが、インバータの代わりにコンパレータを用いる構成でも良い。また、遅延セル内の一方の電流制御用トランジスタ105,106には一定バイアスを印加し、他方の電流制御用トランジスタ107,108のみにローパスフィルタ8からの制御電圧Vtを供給するようにしたが、双方の電流制御用トランジスタに制御電圧Vtを供給するようにしてもよい。
【0031】
【発明の効果】
本発明によれば、高速のクロックを用いることなく所望のパルス波形を得ることが可能となり、特に、PLL回路を用いた場合には遅延量を高精度で設定できるようになる。また、ディスク記録装置に適用すれば、メディア種別や回転速度に対応した適切な記録を実現できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるパルス幅制御回路の実施形態を示すブロック図である。
【図2】遅延回路の他の実施形態を示すブロック図である。
【図3】実施形態における遅延セルの具体構成を示す回路図である。
【図4】実施形態におけるVCOの動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図5】実施形態におけるVCO特性及び遅延特性を示す特性図である。
【図6】図1に示す実施形態の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図7】本発明によるディスク記録制御回路の実施形態を示すブロック図である。
【図8】実施形態におけるテーブルの記憶内容を示す説明図である。
【符号の説明】
1、10、30 遅延回路
2 ディレイライン
3 PLL回路
4 VCO
5 プログラマブルデバイダ
6 リファレンスデバイダ
7 位相比較器
8 ローパスフィルタ
12 ANDゲート
20、11、31 セレクタ
32 ORゲート
40 遅延セル
50 ディスク
51 EFMエンコーダ
52 パルス幅制御回路
54 ディスク記録制御回路
55 レーザー装置
101、102 インバータ
105、106、107、108 電流制御用トランジスタ
110 第1制御端子
111 第2制御端子[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a pulse width control circuit configured by using a delay circuit in which delay elements are connected in a plurality of stages, and a disk recording control circuit capable of adjusting the recording timing of a recording mark using the pulse width control circuit in a disk recording device About.
[0002]
[Prior art]
Some optical disk devices and magneto-optical disk devices can not only read data but also write data.In such a device, a recording mark corresponding to a data modulation signal is recorded on a disk by a laser device. And writing data to the recording medium.
[0003]
For example, in a CD-R, first, data to be written is modulated into an EFM signal by an EFM encoder, and the EFM signal is sent to a laser device to record a recording mark corresponding to the EFM signal on a disk.
However, since the recording state changes depending on the type of media on which data is recorded and the rotational speed of the disc, it is not possible to record a desired recording mark by simply sending an EFM signal to the laser device. Therefore, attempts have been made to record a desired recording mark by delaying the rising and falling timings of the EFM signal. In order to delay the EFM signal, a plurality of logic circuits such as D flip-flops that operate in synchronization with a clock are generally connected and used.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
The EFM signal is a signal synchronized with a reference signal called an EFM clock, and has a pulse width of 3 to 11 periods of the clock. Therefore, when the delay circuit is configured by the D flip-flop operating in synchronization with the clock as described above, a clock higher than the EFM clock must be used as the clock applied to the D flip-flop. If the resolution of the circuit is 16 steps, a clock 16 times faster than the EFM clock is required.
[0005]
However, this EFM clock is originally a clock with a considerably high frequency, and is “17.28 MHz” at 4 × speed and “34.56 MHz” at 8 × speed. Therefore, the clock applied to the D flip-flop becomes extremely high at "276.48 MHz" at 4 * speed and "552.96 MHz" at 8 * speed. For this reason, it is actually impossible to supply such a high-speed clock, and it is extremely difficult to produce a logic circuit that operates stably in synchronization with such a high-speed clock.
[0006]
Furthermore, since the logic circuit is susceptible to external factors such as power supply fluctuations and temperature changes, it is difficult to control with high accuracy if the pulse width to be controlled is very short.
[0007]
[Means for Solving the Problems]
According to the present invention, first and second delay circuits for connecting a plurality of delay elements to delay an input signal, and selecting one of output signals of each delay element stage for each of the first and second delay circuits. First and second selectors for outputting a delay signal as a delay signal, and first and second logic circuits for performing a logical operation on an input signal and the delay signal for each delay circuit. A pulse width control circuit is characterized in that an output signal is used as an input signal of a second delay circuit, and one of the first and second logic circuits is an AND circuit and the other is an OR circuit.
[0008]
Also, in the present invention, the delay circuit is configured by connecting delay elements in a plurality of stages in a ring shape, and a VCO controlled by a control voltage to which a delay amount of each stage is input, and an output signal of the VCO or its output signal. A phase comparator that receives the frequency-divided signal and the reference signal and compares the phases of the two signals, a low-pass filter that generates the control voltage according to the phase difference detected by the phase comparator, and a delay element of the VCO And a delay line that delays and outputs an input signal and controls the delay amount of each stage by the control voltage.
[0009]
Further, in the present invention, a disk recording control circuit is constituted by the pulse width control circuit, a modulation signal to be recorded is supplied as an input signal, and a select signal corresponding to the type and / or rotation speed of the medium is supplied to the first and the first signals. An output signal that is input to the second selector and is output to a recording device that records a recording mark corresponding to the modulation signal on a disk, so that the recording timing of the recording mark can be adjusted.
[0010]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a pulse width control circuit according to the present invention. The pulse width control circuit uses two delay circuits 10 and 30 so that the delay amounts of the rise and fall of an input signal can be set independently. I have. Each of the delay circuits 10 and 30 is configured by connecting a plurality of delay elements 40 formed of inverters in series, and selectors 11 and 31 for selecting any one of the output signals of each stage according to select signals SEL1 and SEL2. Are connected to the delay circuits 10 and 30, respectively. Further, an AND gate 12 for inputting the delay signal selected by the selector 11 and the input signal to the delay circuit 10 and an OR gate 32 for inputting the delay signal selected by the selector 31 and the input signal to the delay circuit 30 are provided. The output signal of the AND gate 12 is supplied as an input signal of the delay circuit 30.
[0011]
Here, each of the delay circuits 10 and 30 is configured by connecting the delay elements 40 in 16 stages, and the delay amount dt of one delay element is set to 1/16 of the period T of the reference clock EFMCK. ing.
Therefore, as shown in FIG. 6B, assuming that a 6T EFM signal corresponding to six periods of the EFMCK (FIG. 6A) is input to the delay circuit 10, in the delay circuit 10, each delay element sequentially converts the input EFM signal by T / 16. I will delay it. Then, the selector 11 selects the delay signal EFMD1 (FIG. 6c) of the number of stages specified by SEL1 and outputs the same to the AND gate 12. If the number of stages n specified by SEL1 is “10”, the rising delay amount Tdf is set to Tdf = 10 · T / 16. Since the input signal EFM is applied to the other input terminal of the AND gate 12 as it is, the output signal of the AND gate 12 is as shown in FIG. Signal. In the delay circuit 30, similarly to the delay circuit 10, the output signal of the AND gate 12 is sequentially delayed by T / 16 by each delay element, and the delay signal EFMD2 (FIG. 6e) of the number n of stages designated by SEL2 is selected by the selector 31. And is output to the OR gate 32. If the number n of stages specified by SEL2 is “8”, the falling delay amount Tdb is set to Tdb = 8 · T / 16. In the OR gate 32, the logical sum of the output signal of the AND gate and the delay signal EFMD2 is obtained, and as shown in FIG. 6f, the output WDAT has a rising edge Tdf (10) when compared with the input EFM signal. .T / 16), the fall is delayed by Tdb (8.T / 16), and a signal having a pulse width reduced by 2T / 16 is output.
[0012]
As described above, the rising and falling delay amounts Tdf and Tdb can be independently set by the select signals SEL1 and SEL2. It is to be noted that an EFM signal is input to the delay circuit 30, an output of the OR gate 32 is input to the delay circuit 10, and an output of the AND gate 12 is used as a final output signal WDAT. be able to. Further, a comparator may be used instead of the inverter as the delay element 40.
[0013]
Next, an example in which the pulse width control circuit described above is applied to a disk recording control circuit for a CD-R will be described with reference to FIG.
FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of the entire disc recording apparatus for CD-R. Data to be written to the disc 50 is first modulated into an EFM signal by an EFM encoder 51, and the pulse width control circuit shown in FIG. 52 together with EFMCK. The disk recording control circuit 54 is composed of the pulse width control circuit 52 and the register 53. An output signal of the pulse width control circuit 52 is supplied to a laser device 55 such as a laser pickup, and a recording mark corresponding to the EFM signal is recorded on the disk. Is done. Further, information indicating the type of media and the rotation speed of the disk to be used is input to the microcomputer 56 that controls the entire disk recording device, and a table 57 connected to the microcomputer 56 stores the media as shown in FIG. A rise delay amount Tdf and a fall delay amount Tdb are stored in advance corresponding to the type and the rotation speed, respectively. It should be noted that the stored delay amount is stored as a numerical value indicating how many times the unit delay amount T / 16 is, and thus the numerical values themselves are SEL1 and SEL2.
[0014]
When the media type and the rotation speed are designated, the microcomputer reads the corresponding rising and falling delay amounts from the table, and sets these values in the register 53. Then, the numerical values set in the register 53 are input to the pulse width control circuit 52 as SEL1 and SEL2. The pulse width control circuit 52 delays the rising of the input EFM signal by the delay amount specified by SEL1, delays the falling by the delay amount specified by SEL2, and sends the signal to the laser device 55 as described above. I do. Therefore, in the laser device 55, the recording timing of the EFM signal is adjusted according to the type and rotation speed of the medium, and an appropriate recording mark is recorded.
[0015]
By the way, in the delay elements 40 constituting the delay circuits 10 and 30 shown in FIG. 1, since the characteristics of the transistors constituting the delay elements are not uniform due to manufacturing variations, the delay amount varies. Therefore, when it is desired to set the delay amount with high accuracy, the delay circuit 1 shown in FIG.
The delay circuit 1 shown in FIG. 2 includes a delay line 2 for delaying an input signal, and a PLL circuit 3 for controlling a delay amount of the delay line 2. The PLL circuit 3 includes a VCO 4 whose output signal frequency changes according to an input control voltage Vt, a programmable divider 5 that divides the output signal of the VCO 4 by 1 / N, and an input reference signal RFCK that divides the input signal by 1 / M. A reference divider 6 that circulates, a phase comparator 7 that compares the phases of the output signals of the two dividers 5 and 6, and a low-pass filter 8 that supplies a control voltage Vt corresponding to the phase difference detected by the phase comparator 7 to the VCO 3. , And both dividers 5 and 6 are dividers whose division ratios can be changed. The output stage of the phase comparator 7 is provided with a charge pump.
[0016]
As shown in FIG. 2, the VCO 4 in the PLL circuit 3 has a ring-shaped configuration in which a plurality of delay cells 40 are connected in series, and the output of the last-stage delay cell 41 is negatively fed back to the first stage. The output of the last stage is sent to the programmable divider 5 via the buffer 45. Each of the delay cells has first and second control terminals. The first control terminal is supplied with a constant bias Vb from the bias circuit 46, and the second control terminal is supplied with the control voltage Vt from the low-pass filter 8. Is supplied.
[0017]
On the other hand, the delay line 2 is configured by connecting a plurality of delay cells 40 having the same configuration as the delay cells forming the VCO 4 in series, and unlike the VCO 4, the input signal SIN is applied from the outside to the first delay cell. ing. Then, one of the outputs from the delay cells in each stage is selected by the selector 20, and is taken out as the delay signal SOUT. The selector 20 is a selector corresponding to the selectors 11 and 31 in FIG. The circuit shown in FIG. 2 is configured in the vicinity of the same chip, so that the delay characteristics of the delay cell are almost the same between the VCO 4 and the delay line.
[0018]
Here, a specific configuration of the delay cell 40 will be described with reference to FIG.
The delay cell 40 is basically configured by connecting two stages of inverters 101 and 102 in which a P-channel MOS transistor and an N-channel MOS transistor are cascade-connected. Buffers 103 and 104 are connected. Current control P-channel MOS transistors 105 and 106 are connected between the power supply potentials of inverters 101 and 102, and current control N-channel MOS transistor 107 is connected between the power supply potentials of inverters 101 and 102. , 108 are connected. The gate of the current control P-channel MOS transistor 105 is connected to the first control terminal 110, and the gate of the current control N-channel MOS transistor 107 is connected to the second control terminal 111. Incidentally, reference numeral 109 denotes a parasitic capacitance.
[0019]
In the present embodiment, the constant bias Vb from the bias circuit 46 is supplied to the first control terminal 110, and the control voltage Vt from the low-pass filter 8 is supplied to the second control terminal 111. Therefore, when the control voltage Vt increases, the current flowing through the inverters 101 and 102 increases and the delay amount dt of the input signal IN decreases. When the control voltage Vt decreases, the current flowing through the inverters 101 and 102 decreases and the input signal IN increases. Dt increases. Thus, the delay amount dt of the delay cell 40 changes according to the magnitude of the control voltage Vt.
[0020]
By the way, the last stage of the VCO 4 includes only the first half of the delay cell 40, that is, the inverter 101, the buffer 103, and the control transistors 105 and 107 in order to apply negative feedback. The output of the inverter 101 is the first stage of the VCO 4 It is input to the delay cell 40.
Hereinafter, the operation of the embodiment shown in FIG. 2 will be described.
[0021]
First, the output signal frequency f1 of the VCO 4 is divided by the programmable divider 5 into 1 / N to become f1 / N, and the reference signal frequency f0 is divided by the reference divider 6 to become f0 / M. The phase of these frequency-divided signals is compared by a phase comparator 7, and a control voltage Vt corresponding to the phase difference is supplied from the low-pass filter 8 to the VCO 4. As a result, the PLL circuit 3 operates so as to eliminate the phase difference between the output signals of the two dividers, and when the PLL is locked, the equation (1) holds.
[0022]
(Equation 1)
Figure 0003547983
[0023]
On the other hand, in the VCO 4, the delay amount dt of each delay cell is determined by the control voltage Vt from the low-pass filter 8 as described above, and the signal dt0 input to the first-stage delay cell 40 becomes the delay dt as shown in FIG. The cells 40 are sequentially delayed by dt. Then, the signal is inverted in the delay cell 41 at the last stage, and the inverted signal is fed back to the first stage after the return delay dα. That is, assuming that the return delay dα is sufficiently smaller than dt, the half cycle T / 2 of the cycle T of the VCO 4 is a length obtained by adding the delay amount dt by the number D of stages of the delay cell 40. Therefore, the delay amount dt is represented by the equation (2).
[0024]
(Equation 2)
Figure 0003547983
[0025]
Here, the period T is 1 / f1, and when the PLL circuit 3 locks as described above, the equation (1) is established. Therefore, in the locked state, the delay amount dt is expressed by the equation (3).
[0026]
[Equation 3]
Figure 0003547983
[0027]
That is, if the number of delay cell stages D of the VCO and the division ratios M and N are determined, the delay amount dt of the delay cell 40 becomes a constant value that depends only on the frequency f0 of the reference signal RFCK.
By the way, in the circuit shown in FIG. 2, as described above, the delay cells constituting the delay line 2 have exactly the same configuration as the delay cells of the VCO 4, and the control voltage supplied to the delay cells in the delay line 2 is also VCO 4 Is exactly the same as the control voltage Vt supplied to the delay cell 40 of FIG. For this reason, the delay amount of the delay cell in the delay line 2 becomes exactly the same as the delay amount dt of the delay cell 40 of the VCO 4, and becomes a constant value depending on the reference signal frequency f0 when the PLL is locked.
[0028]
The delay line 2 has a configuration in which the input signal SIN is sequentially delayed by the delay cell 40, a delay output of a desired stage is selected by the selector 20, and the delay output is output as the delay signal SOUT. Since dt has a constant value when the PLL is locked, the delay amount of the delay signal output from the selector 20 in the delay line 2 also has a desired constant value. In other words, the delay line 2 does not require adjustment at the time of manufacturing, and can set the delay amount with the accuracy guaranteed by the PLL circuit 3, so that it is possible to set a high accuracy in the order of psec. Moreover, since the PLL is guaranteed against power supply fluctuations and temperature fluctuations, the delay amount of the delay line 2 is not affected by these fluctuations.
[0029]
Further, since the delay amount dt can be easily changed only by changing the frequency f0 of the reference signal RFCK and the frequency division ratios M and N, the resolution of the delay line 2 can be easily set.
For example, when the number of stages D of the VCO 4 is “16”, if the frequency division ratios M and N are each “2” and f0 is “17.28 MHz”, the delay amount dt is “1” from Expression (3). .81 nsec. " Then, if the frequency division ratios M and N are changed to “4” and f0 is changed to “34.56 MHz”, the delay amount dt becomes “0.90 nsec” and the resolution in the order of psec from the equation (3). .
[0030]
Further, as shown in the VCO characteristic of FIG. 5, the frequency range in which the PLL locks is wide, and the delay amount dt of the delay cell can be changed within this range. it can.
In the embodiment described above, an example is shown in which the delay element in the delay cell is configured by an inverter, but a configuration using a comparator instead of the inverter may be used. Further, a constant bias is applied to one of the current control transistors 105 and 106 in the delay cell, and the control voltage Vt from the low-pass filter 8 is supplied only to the other current control transistors 107 and 108. The control voltage Vt may be supplied to both current control transistors.
[0031]
【The invention's effect】
According to the present invention, a desired pulse waveform can be obtained without using a high-speed clock. In particular, when a PLL circuit is used, a delay amount can be set with high accuracy. Further, if the present invention is applied to a disk recording device, it becomes possible to realize appropriate recording corresponding to the type of media and the rotation speed.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a pulse width control circuit according to the present invention.
FIG. 2 is a block diagram showing another embodiment of the delay circuit.
FIG. 3 is a circuit diagram showing a specific configuration of a delay cell in the embodiment.
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of the VCO in the embodiment.
FIG. 5 is a characteristic diagram showing a VCO characteristic and a delay characteristic in the embodiment.
FIG. 6 is a timing chart for explaining the operation of the embodiment shown in FIG. 1;
FIG. 7 is a block diagram showing an embodiment of a disk recording control circuit according to the present invention.
FIG. 8 is an explanatory diagram showing storage contents of a table in the embodiment.
[Explanation of symbols]
1, 10, 30 delay circuit 2 delay line 3 PLL circuit 4 VCO
Reference Signs List 5 Programmable divider 6 Reference divider 7 Phase comparator 8 Low-pass filter 12 AND gate 20, 11, 31 Selector 32 OR gate 40 Delay cell 50 Disk 51 EFM encoder 52 Pulse width control circuit 54 Disk recording control circuit 55 Laser devices 101, 102 Inverter 105, 106, 107, 108 Current control transistor 110 First control terminal 111 Second control terminal

Claims (5)

遅延素子を複数段接続して入力信号を遅延させる第1及び第2の遅延回路と、第1及び第2の遅延回路毎に各遅延素子段の出力信号のいずれかを選択して遅延信号として出力する第1及び第2のセレクタと、各遅延回路毎に入力信号と前記遅延信号との論理演算を行う第1及び第2の論理回路を有し、第1の論理回路の出力信号を第2の遅延回路の入力信号とすると共に、第1及び第2の論理回路の一方を論理積回路とし他方を論理和回路とすることを特徴とするパルス幅制御回路。First and second delay circuits for connecting a plurality of delay elements to delay an input signal, and selecting one of the output signals of each delay element stage for each of the first and second delay circuits as a delay signal There are first and second selectors for outputting, and first and second logic circuits for performing a logical operation on an input signal and the delay signal for each delay circuit, and outputs an output signal of the first logic circuit to a first 2. A pulse width control circuit comprising: an input signal to a second delay circuit; one of the first and second logic circuits being an AND circuit; and the other being an OR circuit. 前記遅延素子は、インバータまたはコンパレータにより構成されていることを特徴とする請求項1記載のパルス幅制御回路。2. The pulse width control circuit according to claim 1, wherein said delay element comprises an inverter or a comparator. 前記遅延回路は、遅延素子を複数段リング状に接続して構成され、各段の遅延量が入力される制御電圧により制御されるVCOと、該VCOの出力信号もしくはその分周信号と基準信号とを入力し両信号の位相を比較する位相比較器と、該位相比較器で検出された位相差に応じた前記制御電圧を発生するローパスフィルタと、前記VCOの遅延素子と同一構成の遅延素子を複数段接続して構成され、入力信号を遅延させて出力すると共に各段の遅延量が前記制御電圧により制御されるディレイラインとを備えたことを特徴とする請求項1記載のパルス幅制御回路。The delay circuit is configured by connecting a plurality of delay elements in a ring shape in a plurality of stages, a VCO controlled by a control voltage to which a delay amount of each stage is input, an output signal of the VCO or a divided signal thereof and a reference signal. , A phase comparator for comparing the phases of both signals, a low-pass filter for generating the control voltage according to the phase difference detected by the phase comparator, and a delay element having the same configuration as the delay element of the VCO 2. The pulse width control according to claim 1, further comprising: a delay line for delaying and outputting an input signal and controlling the delay amount of each stage by the control voltage. circuit. 請求項1乃至3のいずれかに記載のパルス幅制御回路で構成され、入力信号として記録すべき変調信号が供給され、メディアの種類及び/又は回転速度に応じたセレクト信号が前記第1及び第2のセレクタに入力され、前記変調信号に対応する記録マークをディスクに記録する記録装置へ出力信号を送出して、記録マークの記録タイミングを調整可能としたことを特徴とするディスク記録制御回路。4. A pulse width control circuit according to claim 1, wherein a modulation signal to be recorded is supplied as an input signal, and a select signal according to a type and / or rotation speed of a medium is supplied to the first and second pulses. 2. A disk recording control circuit, wherein an output signal is sent to a recording device that inputs a recording mark corresponding to the modulation signal to a disk and is input to the selector of (2), thereby enabling the recording timing of the recording mark to be adjusted. 遅延量が制御電圧により制御される遅延素子を複数段接続して構成され、記録すべき変調信号を入力して遅延させるディレイラインと、前記遅延素子と同一構成の遅延素子を複数段接続して構成され、各段の遅延量が前記制御電圧により制御されるVCO、及び前記制御電圧を発生するループフィルタを有するPLL回路と、前記ディレイラインの各遅延素子段の出力信号のいずれかを選択して遅延信号として出力するセレクタと、該セレクタからの遅延信号と入力変調信号を論理演算する論理回路とを有し、該論理回路の演算結果に基づく出力信号を、前記変調信号に対応する記録マークをディスクに記録する記録装置へ送出して、記録マークの記録タイミングを調整可能としたことを特徴とするディスク記録制御回路。A delay line whose delay amount is controlled by a control voltage is connected in a plurality of stages, and a delay line for inputting and delaying a modulation signal to be recorded and a delay line having the same configuration as the delay device are connected in a plurality of stages. A VCO whose delay amount is controlled by the control voltage, a PLL circuit having a loop filter for generating the control voltage, and an output signal of each delay element stage of the delay line. And a logic circuit that performs a logical operation on the delay signal from the selector and the input modulation signal, and outputs an output signal based on the operation result of the logic circuit to a recording mark corresponding to the modulation signal. A disc recording control circuit for sending a recording mark to a recording device for recording on a disk so that the recording timing of a recording mark can be adjusted.
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