JP3542986B2 - BbT product measuring device - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、位相連続多値FSK変調信号を生成する際に使用される波形整形フィルタのBbT積を精度よく測定するための技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に有線、無線を問わず通信を行う場合、予め設定された通信規格で通信を行わなければならない。また、隣接チャネルで行われている通信に対して妨害を与えてはならない。
【0003】
しかし、通信機器の不良等で、通信に用いる信号のスペクトラムが規格を超えて広がると、隣接チャネルの通信に妨害を与える。
【0004】
このため、通信機器が出力する信号のスペクトラムの広がりがどの程度であるかを調べる必要がある。
【0005】
例えば、位相連続多値FSK変調方式の一つであるGMSK変調方式は、図11に示すように、NRZ形式で入力されるベースバンド信号Saに対し、インパルス応答がガウス分布特性を示す波形整形フィルタ1で波形整形を行い、その波形整形された信号SbでVCO(電圧制御発振器)2の出力信号Scを変調指数0.5で周波数変調する方式であり、このような変調方式で得られる信号Scのスペクトラムの形状は、波形整形フィルタ1のBbT積、即ち、波形整形フィルタ1の帯域幅とシンボルクロックの周期との積に依存する。
【0006】
図12はBbT積0.3のスペクトラム、図13はBbT積1.0のスペクトラムの例を示している。
【0007】
これらの図からわかるように、波形整形フィルタのBbT積が小さい程、スペクトラムの中央集中度が高くなり、帯域幅が狭くなる。したがって、この波形整形フィルタのBbT積が、変調波のスペクトラムの広がりの程度を評価するための基準となる。
【0008】
このようなGMSK変調方式で使用される波形整形フィルタのBbT積を測定するために、従来では、変調波のスペクトラムの周波数成分の広がりを実際に測定している。
【0009】
即ち、図14に示すスペクトラムに対して、電力レベルの最大値Maxを求め、その最大値Maxの周波数の値f0を中心とし、最大値Maxから所定レベルL(例えば6dB)低下する周波数f1、f2を求める。
【0010】
そして、周波数f1、f2の間隔fw(周波数帯域)と変調信号のシンボルクロック周波数fcの比を演算して波形整形フィルタのBbT積を求めている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のように、スペクトラムの2つの周波数f1、f2の間隔fwとシンボルクロック周波数fcの比から波形整形フィルタのBbT積を正確に算出するためには、スペクトラムに対する平均処理回数を多く行って周波数間隔fwを高い精度で求める必要があり、その平均処理のためにスペクトラムのデータの標本値を大量に処理することが必要となり、その大量の標本値に対する演算処理によってBbT積が得られるまでの時間が非常に長くなるという問題があった。
【0012】
本発明は、この問題を解決して、少ない標本値で正確なBbT積を短時間に得ることができるBbT積測定装置を提供することを目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明のBbT積測定装置は、
NRZ形式のベースバンド信号を波形整形フィルタで波形整形した変調信号によって所定の変調指数で周波数変調して得られる位相連続多値FSK信号を受けて、前記波形整形フィルタのBbT積を測定するBbT積測定装置において、
入力された位相連続多値FSK信号に対して、瞬時位相を検出する位相検出手段(22)と、
前記入力された位相連続多値FSK信号に対してシンボルクロック同期処理を行うシンボルクロック同期処理手段(23)と、
前記位相検出手段で検出された位相に対して、前記シンボルクロック同期処理手段で得られたタイミングで標本化する位相標本化手段(24)と、
前記位相標本化手段で得られた位相の前記位相標本化手段で得られた一つ前の位相に対する位相推移値を検出する位相推移値検出手段(25)と、
前記位相推移値検出手段によって検出された位相推移値の符号からシンボルデータを検出するシンボルデータ検出手段(26)と、
前記シンボルデータ検出手段によって検出されたシンボルデータとそのシンボルデータを検出するときに用いた位相推移値とを対応づけて記憶する記憶手段(27)と、
任意の参照パターンを設定するパターン設定部(28)と、
前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンと前記パターン設定部によって設定されている参照パターンとを比較し、前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンが前記参照パターンと一致するか否かを判定するパターン判定手段(29)と、
前記パターン判定手段によってパターンの一致が判定されたとき、該パターンの中間のシンボルに対応する位相推移値を前記記憶手段から抽出する位相推移値抽出手段(30)と、
前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値の平均値を算出する平均演算手段(31)と、
前記参照パターンの中間のシンボルに対する位相推移値と前記波形整形フィルタのBbT積との関係を示す情報を予め記憶しているデータベース部(31)と、
前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのBbT積を求めるBbT積検出手段(32)とを備えている。
【0014】
また、本発明の請求項2のBbT積測定装置は、請求項1のBbT積測定装置において、
前記データベース部には、前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値を前記変調指数の値を用いて正規化した値とBbT積との関係を示す情報が予め記憶されており、
前記BbT積検出手段は、前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値を前記変調指数で正規化した値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのBbT積を求めるように構成されていることを特徴としている。
【0015】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明するが、その前に本発明の原理について説明する。
【0016】
前記したように、位相連続多値FSK方式の一つであるGMSK変調方式は、ベースバンド信号を波形整形フィルタ(ガウスフィルタ)で波形整形して得られる信号によって周波数変調を行う方式であり、必然的に前後の符号による干渉を受けるが、周知のように、ガウス関数は原点から離れるにしたがって急激に減衰するという特徴を有している。具体的には、原点からの距離の二乗に比例して指数関数的に減衰する。
【0017】
したがって、符号間干渉は最隣接の符号の影響が支配的で、それ以上離れたシンボルの影響は無視できる程度に微小であり、実際に、BbT積0.3以上のGMSK変調では、最隣接の符号間干渉のみの影響を受け、それ以上離れたシンボルの影響は無視できる程小さいことが確認されている。
【0018】
本発明は、この点に着目したものであり、この符号間干渉の影響の度合いからBbT積を求めるものである。
【0019】
即ち、前記したように、符号間干渉が最隣接のシンボルのみの影響を受け、他のシンボルの影響を受けないと仮定すれば、シンボル系列として連続する3つのシンボルからなる「000」、「001」、「010」、…、「110」、「111」の8通りを考慮すればよい。
【0020】
ここで、正負の符号の対称性を考慮すれば、「000」のように原点を中心としてシンボルが連続する場合、「001」や「100」のように原点を中心として反対のシンボルが前後に生起する場合、「101」のように原点のシンボルと反対のシンボルが前後に生起する場合の3通りにまとめることができ、このなかで、符号間干渉の影響が最も大きくなるのは原点のシンボルと反対のシンボルが前後に生起する場合である。
【0021】
また、符号間干渉の影響はシンボルの位相推移値として現れるから、上記のように符号間干渉の影響が最も大きくなるパターンの信号が入力されたときのシンボルの位相推移値とBbT積との関係を予め求めておき、BbT積が未知の入力信号に、符号間干渉の影響が最も大きくなるパターンが現れたときに、そのシンボルの位相推移値からBbT積を求めることができる。
【0022】
図1は、上記原理によるBbT積測定装置20の構成を示している。
図1において、復調処理部21は、位相検出手段22、シンボルクロック同期処理手段23、位相標本化手段24、位相推移値検出手段25およびシンボルデータ検出手段26によって構成されている。
【0023】
位相検出手段22は、入力される測定対象の位相連続FSK信号Sdに対してその瞬時位相を検出する。
【0024】
シンボルクロック同期処理手段23は、位相連続FSK信号Sdに対して既知のシンボルクロック周波数fcによるシンボルクロック同期処理を行う。
【0025】
位相標本化手段24は、位相検出手段22で検出された位相に対して、シンボルクロック同期処理手段23で得られたタイミングで標本化する。
【0026】
位相推移値検出手段25は、位相標本化手段24で得られた位相が、位相標本化手段24でその1つ前に求められた位相に対して推移した量を位相推移値Δφとして順次を求める。
【0027】
シンボルデータ検出手段26は、位相推移値検出手段25によって得られる位相推移値Δφの符号から、「1」または「0」のいずれかのシンボルデータdを求める。
【0028】
復調処理部21によって求められたシンボルデータdは、そのシンボルデータを求めるときに用いた位相推移値Δφと対応付けられて記憶手段としてのメモリ27に検出順に記憶される。
【0029】
パターン設定部28は、任意の参照パターンを設定するためのものであり、ここでは、3つの連続するシンボルからなるパターンのうち、「101」、「010」の2つの参照パターンが設定されている。
【0030】
パターン判定手段29は、メモリ27に連続して記憶された3つのシンボルデータからなるパターンPi=(d、di+1、di+2)と、パターン設定部28に設定されている参照パターン「101」、「010」とを比較し、パターンPiが、参照パターン「101」、「010」のいずれかに一致するか否かを判定する。
【0031】
位相推移値抽出手段30は、パターン判定手段29によってパターンPiが、参照パターン「101」、「010」のいずれかに一致すると判定されたとき、パターンPiの中間のシンボルdi+1に対応する位相推移値Δφi+1をメモリ27から読み出す。
【0032】
平均演算手段31は、位相推移値抽出手段30によって抽出される位相推移値Δφi+1の絶対値の平均値(絶対平均値という)Hを求める。
【0033】
なお、この絶対平均値Hは、パターンPiが参照パターン「101」に一致したときに抽出される中間シンボル「0」に対応する複数個の位相推移値Δφ(0)の絶対平均値H(0)と、パターンPiが参照パターン「010」に一致したときに抽出される中間シンボル「1」に対応する複数個の位相推移値Δφ(1)の絶対平均値H(1)との平均値である。
【0034】
ここで、シンボルデータの変化と位相の変化の関係を図2に示す。
図2において、パターンAのように「1」のシンボルデータが連続する場合、そのシンボル間の位相推移値はπ/2となり、パターンBのように「0」のシンボルデータが連続する場合には、そのシンボル間の位相推移値は−π/2となる。このように同一シンボルが連続する場合、パターン判定手段29からは不一致の判定結果が出力される。
【0035】
また、パターンC、Dのように、「1」と「0」のシンボルが交互に発生する場合には、パターン判定手段29が一致の判定結果を出力し、位相推移値抽出手段30が「101」のパターンの中間シンボル「0」に対応する位相推移値Δφ(0)と、「010」のパターンの中間シンボル「1」に対応する位相推移値Δφ(1)とをメモリ27から抽出する。
【0036】
これらの位相推移値を受けた平均演算手段31は、シンボル「0」に対応する所定個数Nの位相推移値Δφ(0)の絶対平均値H(0)と、シンボル「1」に対応する所定個数Nの位相推移値Δφ(1)の絶対平均値H(1)とを求め、さらにその平均値Hを算出する。
【0037】
BbT積検出手段32は、平均演算手段31によって算出された位相推移値の絶対平均値Hと、データベース部33に予め記憶されている波形整形フィルタのBbT積と位相推移値との関係を示す情報とに基づいて、波形整形フィルタのBbT積を求める。
【0038】
即ち、データベース部33には、予め実験で求められた波形整形フィルタのBbT積と、3つの連続するシンボルデータが「101」と「010」の場合における中間シンボルの位相推移値の平均値を測定することによって得られたBbT積対位相推移値との関係を表す近似式の情報が記憶されており、BbT積検出手段32はこの情報と平均演算手段31によって算出された位相推移値の絶対平均値Hを近似式に代入して波形整形フィルタのBbT積を求める。
【0039】
図3は、実験的に得られたBbT積と位相推移値との関係を示す特性Fであり、この特性Fは、BbT積に対して位相推移値が単調増加しているので、絶対平均値Hに対してBbT積が一義的に決まる。
【0040】
このように、実施形態のBbT積測定装置20では、特定のパターンで変化するシンボルについての位相推移値とBbT積との関係を予め求めておき、BbT積が未知の位相連続多値FSK信号について得られるシンボルが特定のパターンで変化したときの位相推移値を求め、その求めた位相推移値と、予め求めておいた位相推移値とBbT積との関係を示す情報とから、位相連続多値FSK信号生成のために使用されている波形整形フィルタのBbT積を求めるようにしているので、少ない標本データ数で精度よくBbT積を測定することができる。
【0041】
また、この実施形態のBbT積測定装置20では、前記したように、平均値演算手段31が、中間シンボル「0」に対応する所定個数Nの位相推移値Δφ(0)の絶対平均値H(0)と、中間シンボル「1」に対応する所定個数Nの位相推移値Δφ(1)の絶対平均値H(1)とを求め、さらにその平均演算によって最終的な位相推移値の平均値Hを算出しているので、周波数同期誤差がある場合でも、BbT積を正確に測定することができる。
【0042】
即ち、周波数同期誤差があると、変調信号のスペクトラムが図4のようにずれ、シンボルと位相推移値との関係が、図5に示すように基準位相に対して非対称となり、中間シンボル「0」に対応する位相推移値Δφ(0)の絶対値と、中間シンボル「1」に対応する位相推移値Δφ(1)の絶対値との差が大きくなるが、前記したように、中間シンボル「0」に対応する位相推移値Δφ(0)の絶対平均値H(0)と、中間シンボル「1」に対応する位相推移値Δφ(1)の絶対平均値H(1)との平均演算によって最終的な位相推移値の平均値Hを算出しているので、上記のような周波数同期誤差による影響を受けずに、BbT積を正確に測定することができる。
【0043】
また、前記したデータベース部33には、波形整形フィルタのBbT積と位相推移値の関係を直接表す近似式が記憶されていたが、図6に示すように、位相推移値抽出手段30で抽出された位相推移値Δφを変調指数Mの値を用いて正規化した値kと波形整形フィルタのBbT積との関係を示す情報をデータベース部33に記憶しておき、BbT積検出手段32が、平均演算手段31によって算出された位相推移値の絶対平均値Hを既知の変調指数Mで正規化し、その正規化によって得られた値kと、データベース部33に記憶されている値kとBbT積との関係を示す情報とに基づいて、波形整形フィルタのBbT積を求めるように構成してもよく、このようにすれば、一つの共通の情報で異なる変調指数に対応することができる。
【0044】
また、データベース部33に、例えば図7のように、値kの範囲とBbT積とを対応付けたテーブルを記憶しておき、BbT積検出手段32が、平均演算手段31によって算出された位相推移値の絶対平均値Hを変調指数の値を用いて正規化し、その正規化によって得られた値kが図7のテーブルのどの範囲に入るかを調べて、BbT積を求めるようにしてもよい。
【0045】
また、このように位相推移値Δφを変調指数Mで正規化した値を用いることで、変調指数が未知の場合でもBbT積を求めることができる。
【0046】
図8は、上記のように変調指数が未知の場合に対応するBbT積測定装置20′の構成を示している。
【0047】
このBbT積測定装置20′では、入力される位相連続FSK信号からその変調指数Mを測定する変調指数検出手段40を有しており、BbT積検出手段32が、変調指数検出手段40によって得られた変調指数Mで、平均演算手段31によって算出された位相推移値の絶対平均値Hを正規化し、その正規化によって得られた値kと、データベース部33′に記憶されている値kとBbT積との関係を示す情報とに基づいて、波形整形フィルタのBbT積を求める。
【0048】
また、前記説明では、最隣接の符号間干渉の影響だけに着目し、参照パターンを3つのシンボルで構成していたが、それ以上離れたシンボルの影響を加味すれば、さらに正確な測定が行える。
【0049】
例えば5つのシンボルで構成されるパターンは、「00000」、「00001」、…、「11111」までの32通りあるが、この中で符号間干渉の影響がもっとも大きいのは、シンボルが交互に反転する「10101」と「01010」のパターンである。
【0050】
したがって、予めこのパターンについて、その中間シンボルに対応する位相推移値とBbT積との関係(あるいは変調指数で正規化した値kとBbT積との関係)を前記同様に求めて予めデータベース部31に記憶しておき、パターン設定手段28でこの「10101」と「01010」を参照パターンとして設定しておけば、図9のパターンC′、D′のように「10101」と「01010」のシンボルが検出されたときの中間シンボルに対応する位相推移値から前記同様にBbT積求めることができる。この場合には、中間シンボルの前後の2つのシンボルだけでなく、そのさらに前と後の2つのシンボルの影響が加味されるので、より正確な測定が可能となる。
【0051】
また、前記説明では、符号間干渉の影響が最も大きく現れる交互反転パターンを参照パターンとしていたが、異なる符号を含むパターンであれば他のパターンを用いてもよく、また、中間シンボルを必ずしもパターンの中心位置のシンボルにする必要はない。
【0052】
また、前記説明では、位相連続FSK信号のうち1つのシンボルが「0」か「1」のいずれかである2値FSK信号について説明したが、2値以外のものについても本発明を同様に適用できる。
【0053】
例えば、1つのシンボルが「00」、「01」、「10」、「11」のいずれかをとる位相連続4値FSK信号(変調指数0.75)で、前記同様に3つのシンボルで符号間干渉の影響を調べる場合、図10に示すようにシンボルと位相推移値とが変化し、この変化パターンのうち、パターンEのようにシンボルが「00」→「11」→「00」と変化する場合と、パターンGのようにシンボルが「11」→「00」→「11」と変化する場合とが、最も符号間干渉の影響を受ける。
【0054】
したがって、このパターンE、Gについて、その中間シンボルに対応する位相推移値とBbT積との関係を予め求めてデータベース部33に記憶して、パターンE、Gを参照パターンとしてパターン設定手段28によって設定することにより、前記同様にBbT積を求めることができる。
【0055】
また、「10」→「01」→「10」と変化するパターン等でもBbT積を求めることができる。このようなパターンを用いる場合、前記したパターンE、Gより多少精度は落ちるが、パターンの出現率が増加するため、BbT積を検出するために必要な標本数を集める時間が短くて済む。
【0056】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のBbT積測定装置は、参照パターンと等しいパターンで変化するシンボル列の中間シンボルの位相推移値とBbT積との関係を予め求めておき、BbT積が未知の位相連続多値FSK信号について得られるシンボルが参照パターンと同一パターンで変化したときの位相推移値を求め、その求めた位相推移値と、予め求めておいた位相推移値とBbT積との関係とに基づいて、位相連続多値FSK信号生成のために使用されている波形整形フィルタのBbT積を求めるようにしているので、少ない標本数で精度よく且つ短時間にBbT積を測定することができる。
【0057】
また、位相推移値を変調指数で正規化した値とBbT積との関係を示す情報をデータベース部に予め記憶しておき、BbT積検出手段が、平均演算手段で算出された位相推移値を変調指数で正規化してその正規化された値とデータベース部の情報とからBbT積を検出するように構成した場合には、変調指数によらない共通の情報でBbT積を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態の構成を示す図
【図2】シンボルと位相推移値との関係を示す図
【図3】位相推移値とBbT積の関係を示す図
【図4】周波数同期誤差があるときの変調信号のスペクトラムを示す図
【図5】周波数誤差があるときのシンボルと位相推移値との関係を示す図
【図6】位相推移値を変調指数で正規化した値とBbT積との関係を示す図
【図7】図6の関係から得られるテーブル図
【図8】変調指数が未知の場合に対応する実施形態の構成を示す図
【図9】参照パターンが5つのシンボルで構成される場合のシンボルと位相推移値との関係を示す図
【図10】位相連続4値FSK信号の場合のシンボルと位相推移値との関係を示す図
【図11】GMSK変調信号を生成するための構成を示す図
【図12】BbT積0.3のGMSK変調信号のスペクトラムを示す図
【図13】BbT積1.0のGMSK変調信号のスペクトラムを示す図
【図14】従来のBbT積の検出方法を説明するための図
【符号の説明】
1……波形整形フィルタ、2……VCO、20、20′……BbT積測定装置、21……復調処理部、22……位相検出手段、23……シンボルクロック同期処理手段、24……位相標本化手段、25……位相推移値検出手段、26……シンボルクロック検出手段、27……メモリ、28……パターン設定手段、29……パターン判定手段、30……位相推移値抽出手段、31……平均演算手段、32……BbT積検出手段、33、33′……データベース部、40……変調指数検出手段
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a technique for accurately measuring a BbT product of a waveform shaping filter used when generating a phase continuous multilevel FSK modulation signal.
[0002]
[Prior art]
In general, when performing communication regardless of wired or wireless, communication must be performed according to a preset communication standard. In addition, it must not interfere with communication performed on adjacent channels.
[0003]
However, if the spectrum of a signal used for communication spreads beyond a standard due to a failure of a communication device or the like, it interferes with communication of an adjacent channel.
[0004]
For this reason, it is necessary to check how wide the spectrum of the signal output from the communication device is.
[0005]
For example, as shown in FIG. 11, a GMSK modulation scheme, which is one of the phase continuous multi-level FSK modulation schemes, has a waveform shaping filter whose impulse response exhibits a Gaussian distribution characteristic with respect to a baseband signal Sa input in the NRZ format. In this method, the output signal Sc of the VCO (voltage controlled oscillator) 2 is frequency-modulated with a modulation index of 0.5 using the waveform-shaped signal Sb, and the signal Sc obtained by such a modulation method. Of the spectrum depends on the BbT product of the waveform shaping filter 1, that is, the product of the bandwidth of the waveform shaping filter 1 and the period of the symbol clock.
[0006]
FIG. 12 shows an example of the spectrum of the BbT product 0.3, and FIG. 13 shows an example of the spectrum of the BbT product 1.0.
[0007]
As can be seen from these figures, the smaller the BbT product of the waveform shaping filter, the higher the center concentration of the spectrum and the narrower the bandwidth. Therefore, the BbT product of the waveform shaping filter is a reference for evaluating the degree of spread of the spectrum of the modulated wave.
[0008]
In order to measure the BbT product of the waveform shaping filter used in such a GMSK modulation method, conventionally, the spread of the frequency component of the spectrum of the modulated wave is actually measured.
[0009]
That is, for the spectrum shown in FIG. 14, the maximum value Max of the power level is obtained, and the frequencies f1 and f2, which are lower by a predetermined level L (for example, 6 dB) from the maximum value Max around the frequency value f0 of the maximum value Max. Ask for.
[0010]
Then, the BbT product of the waveform shaping filter is obtained by calculating the ratio of the interval fw (frequency band) between the frequencies f1 and f2 and the symbol clock frequency fc of the modulation signal.
[0011]
[Problems to be solved by the invention]
However, as described above, in order to accurately calculate the BbT product of the waveform shaping filter from the ratio of the interval fw between the two frequencies f1 and f2 of the spectrum and the symbol clock frequency fc, the number of times of averaging the spectrum is increased. It is necessary to obtain the frequency interval fw with high accuracy, and it is necessary to process a large number of sample values of the spectrum data for the averaging process. Until the BbT product is obtained by the arithmetic processing on the large sample value, There was a problem that time became very long.
[0012]
An object of the present invention is to provide a BbT product measuring apparatus which can solve this problem and can obtain an accurate BbT product with a small number of sample values in a short time.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a BbT product measuring device of the present invention comprises:
A BbT product for receiving a phase continuous multi-level FSK signal obtained by frequency-modulating a baseband signal in the NRZ format with a predetermined modulation index by a modulation signal obtained by shaping the waveform with a waveform shaping filter, and measuring a BbT product of the waveform shaping filter In the measuring device,
Phase detection means (22) for detecting an instantaneous phase with respect to the input continuous phase multi-level FSK signal;
Symbol clock synchronization processing means (23) for performing symbol clock synchronization processing on the input phase continuous multi-level FSK signal;
Phase sampling means (24) for sampling the phase detected by the phase detection means at the timing obtained by the symbol clock synchronization processing means;
Phase transition value detection means (25) for detecting a phase transition value of the phase obtained by the phase sampling means with respect to the immediately preceding phase obtained by the phase sampling means;
Symbol data detecting means (26) for detecting symbol data from the sign of the phase shift value detected by the phase shift value detecting means;
Storage means (27) for storing the symbol data detected by the symbol data detection means and the phase transition value used for detecting the symbol data in association with each other;
A pattern setting unit (28) for setting an arbitrary reference pattern;
The pattern of the symbol data stored in the storage means is compared with a reference pattern set by the pattern setting unit, and whether or not the pattern of the symbol data stored in the storage means matches the reference pattern is determined. Pattern determination means (29) for determination;
A phase transition value extraction unit (30) for extracting a phase transition value corresponding to an intermediate symbol of the pattern from the storage unit when the pattern determination unit determines that the pattern matches;
Average calculating means (31) for calculating an average value of the phase shift values extracted by the phase shift value extracting means;
A database unit (31) storing in advance information indicating a relationship between a phase transition value for a symbol in the middle of the reference pattern and a BbT product of the waveform shaping filter;
BbT product detection means (32) for obtaining a BbT product of the waveform shaping filter based on the average value of the phase transition value calculated by the averaging means and the information stored in the database unit. I have.
[0014]
Further, the BbT product measuring device according to claim 2 of the present invention is the BbT product measuring device according to claim 1,
In the database unit, information indicating a relationship between a BbT product and a value obtained by normalizing the phase shift value extracted by the phase shift value extracting unit using the value of the modulation index is stored in advance,
The BbT product detection unit is configured to perform the waveform shaping filter based on a value obtained by normalizing the average value of the phase transition value calculated by the average calculation unit with the modulation index and information stored in the database unit. The BbT product is obtained.
[0015]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings, but before that, the principle of the present invention will be described.
[0016]
As described above, the GMSK modulation scheme, which is one of the phase continuous multi-level FSK schemes, is a scheme in which a baseband signal is frequency-modulated by a signal obtained by shaping the waveform with a waveform shaping filter (Gaussian filter). As is well known, the Gaussian function attenuates rapidly as it moves away from the origin. Specifically, it attenuates exponentially in proportion to the square of the distance from the origin.
[0017]
Therefore, the influence of the nearest code is dominant in the inter-symbol interference, and the influence of the further distant symbols is negligible to a negligible degree. It has been confirmed that the influence of only the intersymbol interference and the influence of the symbols farther apart are negligibly small.
[0018]
The present invention focuses on this point, and obtains the BbT product from the degree of the influence of the intersymbol interference.
[0019]
That is, as described above, assuming that the inter-symbol interference is affected only by the nearest symbol and not affected by other symbols, “000” and “001” including three consecutive symbols as a symbol sequence. , "010",..., "110", "111".
[0020]
Here, considering the symmetry of the positive and negative signs, if the symbols are continuous around the origin such as “000”, the opposite symbols around the origin such as “001” and “100” When it occurs, it can be grouped into three cases where the symbol opposite to the origin, such as “101”, occurs before and after. Among these, the effect of intersymbol interference is greatest among the symbols at the origin. This is the case where the opposite symbol occurs before and after.
[0021]
In addition, since the influence of intersymbol interference appears as a phase shift value of a symbol, the relationship between the phase shift value of a symbol and the BbT product when a signal having a pattern in which the influence of intersymbol interference is greatest as described above is input. Is obtained in advance, and when a pattern in which the influence of intersymbol interference is greatest appears in an input signal whose BbT product is unknown, the BbT product can be obtained from the phase transition value of the symbol.
[0022]
FIG. 1 shows a configuration of a BbT product measuring device 20 based on the above principle.
In FIG. 1, the demodulation processing unit 21 includes a phase detection unit 22, a symbol clock synchronization processing unit 23, a phase sampling unit 24, a phase transition value detection unit 25, and a symbol data detection unit 26.
[0023]
The phase detector 22 detects the instantaneous phase of the input phase continuous FSK signal Sd to be measured.
[0024]
The symbol clock synchronization processing means 23 performs a symbol clock synchronization process on the continuous phase FSK signal Sd at a known symbol clock frequency fc.
[0025]
The phase sampling means 24 samples the phase detected by the phase detection means 22 at the timing obtained by the symbol clock synchronization processing means 23.
[0026]
The phase shift value detecting means 25 sequentially obtains, as a phase shift value Δφ, an amount by which the phase obtained by the phase sampling means 24 has shifted from the phase obtained immediately before by the phase sampling means 24. .
[0027]
The symbol data detection means 26 obtains either “1” or “0” symbol data d from the sign of the phase transition value Δφ obtained by the phase transition value detection means 25.
[0028]
The symbol data d obtained by the demodulation processing unit 21 is stored in the memory 27 as storage means in the detection order in association with the phase transition value Δφ used when obtaining the symbol data.
[0029]
The pattern setting unit 28 is for setting an arbitrary reference pattern, and here, two patterns of “101” and “010” are set among patterns composed of three consecutive symbols. .
[0030]
The pattern determination means 29 determines a pattern Pi = (d i , d i + 1 , d i + 2 ) composed of three symbol data successively stored in the memory 27 and a reference pattern “101” set in the pattern setting unit 28. , And “010” to determine whether the pattern Pi matches one of the reference patterns “101” and “010”.
[0031]
The phase shift value extracting unit 30 determines a phase shift corresponding to an intermediate symbol di + 1 of the pattern Pi when the pattern determining unit 29 determines that the pattern Pi matches one of the reference patterns “101” and “010”. The value Δφ i + 1 is read from the memory 27.
[0032]
The average calculating means 31 obtains an average value (referred to as an absolute average value) H of the absolute values of the phase transition values Δφ i + 1 extracted by the phase transition value extracting means 30.
[0033]
Note that this absolute average value H is the absolute average value H (0) of a plurality of phase transition values Δφ (0) corresponding to the intermediate symbol “0” extracted when the pattern Pi matches the reference pattern “101”. ) And the absolute average value H (1) of a plurality of phase transition values Δφ (1) corresponding to the intermediate symbol “1” extracted when the pattern Pi matches the reference pattern “010”. is there.
[0034]
FIG. 2 shows the relationship between the change in symbol data and the change in phase.
In FIG. 2, when symbol data of “1” is continuous as in pattern A, the phase transition value between the symbols is π / 2, and when symbol data of “0” is continuous as in pattern B, , The phase shift value between the symbols is -π / 2. When the same symbols continue in this way, the pattern determination unit 29 outputs a determination result of mismatch.
[0035]
When the symbols “1” and “0” occur alternately as in the patterns C and D, the pattern determining unit 29 outputs a matching determination result, and the phase shift value extracting unit 30 outputs “101”. The phase transition value Δφ (0) corresponding to the intermediate symbol “0” of the pattern “” and the phase transition value Δφ (1) corresponding to the intermediate symbol “1” of the pattern “010” are extracted from the memory 27.
[0036]
The average calculating means 31 having received these phase shift values sets an absolute average value H (0) of a predetermined number N of phase shift values Δφ (0) corresponding to the symbol “0” and a predetermined number N corresponding to the symbol “1”. An absolute average value H (1) of the number N of phase transition values Δφ (1) is obtained, and the average value H is calculated.
[0037]
The BbT product detecting means 32 is information indicating the relationship between the absolute average value H of the phase shift value calculated by the averaging means 31 and the BbT product of the waveform shaping filter and the phase shift value stored in the database 33 in advance. , The BbT product of the waveform shaping filter is obtained.
[0038]
That is, the database unit 33 measures the BbT product of the waveform shaping filter obtained in advance by experiment and the average value of the phase transition values of the intermediate symbols when three consecutive symbol data are “101” and “010”. The BbT product detection means 32 stores the information of the approximate expression representing the relationship between the BbT product and the phase shift value obtained by the calculation. By substituting the value H into the approximation formula, the BbT product of the waveform shaping filter is obtained.
[0039]
FIG. 3 is a characteristic F showing the relationship between the BbT product and the phase shift value obtained experimentally. This characteristic F is the absolute average value because the phase shift value monotonically increases with respect to the BbT product. The BbT product is uniquely determined for H.
[0040]
As described above, in the BbT product measuring apparatus 20 according to the embodiment, the relationship between the phase transition value and the BbT product for a symbol that changes in a specific pattern is obtained in advance, and the BbT product is used for an unknown phase-continuous multivalued FSK signal. A phase transition value when the obtained symbol changes in a specific pattern is obtained. From the obtained phase transition value and information indicating a relationship between the phase transition value and the BbT product obtained in advance, a phase continuous multi-value is obtained. Since the BbT product of the waveform shaping filter used for generating the FSK signal is determined, the BbT product can be measured accurately with a small number of sample data.
[0041]
Also, in the BbT product measuring device 20 of this embodiment, as described above, the average value calculating means 31 calculates the absolute average value H () of the predetermined number N of phase transition values Δφ (0) corresponding to the intermediate symbol “0”. 0) and an absolute average value H (1) of a predetermined number N of phase transition values Δφ (1) corresponding to the intermediate symbol “1”, and further averaging the final average value H of the phase transition values. Is calculated, the BbT product can be accurately measured even when there is a frequency synchronization error.
[0042]
That is, if there is a frequency synchronization error, the spectrum of the modulated signal shifts as shown in FIG. 4, and the relationship between the symbol and the phase transition value becomes asymmetric with respect to the reference phase as shown in FIG. The difference between the absolute value of the phase shift value Δφ (0) corresponding to the intermediate symbol “1” and the absolute value of the phase shift value Δφ (1) corresponding to the intermediate symbol “1” increases. ”And the absolute average value H (1) of the phase transition value Δφ (1) corresponding to the intermediate symbol“ 1 ”are finally calculated by averaging the absolute average value H (0) of the phase transition value Δφ (0) corresponding to the intermediate symbol“ 1 ”. Since the average value H of the typical phase shift value is calculated, the BbT product can be accurately measured without being affected by the frequency synchronization error as described above.
[0043]
The database 33 stores an approximate expression that directly represents the relationship between the BbT product of the waveform shaping filter and the phase transition value. However, as shown in FIG. The information indicating the relationship between the value k obtained by normalizing the phase shift value Δφ using the value of the modulation index M and the BbT product of the waveform shaping filter is stored in the database unit 33, and the BbT product detection unit 32 The absolute average value H of the phase shift value calculated by the calculating means 31 is normalized by a known modulation index M, and the value k obtained by the normalization is multiplied by the value k and the BbT product stored in the database unit 33. May be determined based on the information indicating the relationship (1), and in this case, one common information can correspond to different modulation indices.
[0044]
In addition, a table in which the range of the value k and the BbT product are associated with each other is stored in the database unit 33, for example, as shown in FIG. The absolute average value H of the values may be normalized using the value of the modulation index, and the range k in the table of FIG. 7 obtained by the normalization may be checked to determine the BbT product. .
[0045]
In addition, by using the value obtained by normalizing the phase transition value Δφ with the modulation index M, the BbT product can be obtained even when the modulation index is unknown.
[0046]
FIG. 8 shows the configuration of the BbT product measuring device 20 'corresponding to the case where the modulation index is unknown as described above.
[0047]
The BbT product measuring device 20 'has a modulation index detecting means 40 for measuring a modulation index M from an input phase continuous FSK signal, and the BbT product detecting means 32 is obtained by the modulation index detecting means 40. The absolute value H of the phase transition value calculated by the averaging means 31 is normalized by the modulation index M, and the value k obtained by the normalization, the value k stored in the database unit 33 ', and BbT The BbT product of the waveform shaping filter is obtained based on the information indicating the relationship with the product.
[0048]
In the above description, the reference pattern is composed of three symbols, focusing only on the influence of the nearest intersymbol interference, but more accurate measurement can be performed by taking into account the influence of symbols that are further apart. .
[0049]
For example, there are 32 patterns composed of five symbols, “00000”, “00001”,..., “11111”. Among them, the effect of intersymbol interference is greatest among the symbols that are alternately inverted. The patterns are “10101” and “01010”.
[0050]
Therefore, for this pattern, the relationship between the phase transition value corresponding to the intermediate symbol and the BbT product (or the relationship between the value k normalized by the modulation index and the BbT product) is determined in advance in the same manner as described above, and stored in advance in the database unit 31. If these “10101” and “01010” are set as reference patterns by the pattern setting means 28, the symbols of “10101” and “01010” are used as in the patterns C ′ and D ′ in FIG. The BbT product can be obtained in the same manner as described above from the phase shift value corresponding to the intermediate symbol at the time of detection. In this case, not only the two symbols before and after the intermediate symbol but also the two symbols before and after the intermediate symbol are taken into account, so that more accurate measurement is possible.
[0051]
Further, in the above description, the alternate inversion pattern in which the influence of the intersymbol interference is the largest is used as the reference pattern. However, any other pattern may be used as long as the pattern includes a different code. It does not need to be the symbol at the center.
[0052]
In the above description, the binary FSK signal in which one symbol of the phase continuous FSK signal is either “0” or “1” has been described, but the present invention is similarly applied to signals other than binary. it can.
[0053]
For example, one symbol is a continuous phase quaternary FSK signal (modulation index 0.75) that takes one of "00", "01", "10", and "11", and the inter-symbol is three symbols in the same manner as described above. When examining the influence of interference, the symbol and the phase transition value change as shown in FIG. 10, and among these change patterns, the symbol changes from “00” → “11” → “00” as in pattern E. The case and the case where the symbol changes from “11” → “00” → “11” like the pattern G are most affected by the intersymbol interference.
[0054]
Accordingly, for the patterns E and G, the relationship between the phase transition value corresponding to the intermediate symbol and the BbT product is obtained in advance and stored in the database unit 33, and the patterns E and G are set as reference patterns by the pattern setting unit 28. By doing so, the BbT product can be obtained in the same manner as described above.
[0055]
Also, the BbT product can be obtained for a pattern that changes from “10” → “01” → “10”. When such a pattern is used, the accuracy of the pattern is slightly lower than that of the patterns E and G described above, but the appearance rate of the pattern is increased, so that the time required to collect the number of samples necessary for detecting the BbT product is short.
[0056]
【The invention's effect】
As described above, the BbT product measuring apparatus of the present invention previously obtains the relationship between the BbT product and the phase transition value of the intermediate symbol of the symbol sequence that changes in the same pattern as the reference pattern, and determines the phase of the unknown BbT product. A phase transition value when the symbol obtained for the continuous multi-level FSK signal changes in the same pattern as the reference pattern is obtained, and the obtained phase transition value and the relationship between the previously obtained phase transition value and the BbT product are calculated. Since the BbT product of the waveform shaping filter used for generating the phase-continuous multi-level FSK signal is obtained based on the BbT product, the BbT product can be measured accurately with a small number of samples in a short time.
[0057]
Further, information indicating the relationship between the value obtained by normalizing the phase shift value by the modulation index and the BbT product is stored in the database in advance, and the BbT product detection means modulates the phase shift value calculated by the average calculation means. If the configuration is such that the BbT product is detected from the normalized value and the information in the database unit by the exponent, the BbT product can be detected with common information that does not depend on the modulation index.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention; FIG. 2 is a diagram showing a relationship between a symbol and a phase shift value; FIG. 3 is a diagram showing a relationship between a phase shift value and a BbT product; FIG. FIG. 5 is a diagram showing a spectrum of a modulated signal when there is an error. FIG. 5 is a diagram showing a relationship between a symbol and a phase shift value when there is a frequency error. FIG. 6 is a diagram showing a value obtained by normalizing the phase shift value by a modulation index and BbT. FIG. 7 is a table showing the relationship with the product. FIG. 8 is a table showing the configuration corresponding to the case where the modulation index is unknown. FIG. FIG. 10 is a diagram showing a relationship between a symbol and a phase shift value in the case of being composed of FIG. 10 is a diagram showing a relationship between a symbol and a phase shift value in the case of a phase continuous quaternary FSK signal. FIG. 12 is a diagram showing a configuration for implementing the method. Figure [EXPLANATION OF SYMBOLS] for explaining a detection method of FIG. 14 is a conventional BbT product showing a spectrum of a GMSK modulation signal of FIG. 13 BbT product 1.0 showing the spectrum of a GMSK modulation signal
1 ... waveform shaping filter, 2 ... VCO, 20, 20 '... BbT product measuring device, 21 ... demodulation processing unit, 22 ... phase detection means, 23 ... symbol clock synchronization processing means, 24 ... phase Sampling means 25, phase transition value detection means 26, symbol clock detection means 27, memory 28, pattern setting means 29, pattern determination means 30, phase transition value extraction means 31, ... Average calculation means, 32 ... BbT product detection means, 33, 33 '... Database section, 40 ... Modulation index detection means

Claims (2)

NRZ形式のベースバンド信号を波形整形フィルタで波形整形した変調信号によって所定の変調指数で周波数変調して得られる位相連続多値FSK信号を受けて、前記波形整形フィルタのBbT積を測定するBbT積測定装置において、
入力された位相連続多値FSK信号に対して、瞬時位相を検出する位相検出手段(22)と、
前記入力された位相連続多値FSK信号に対してシンボルクロック同期処理を行うシンボルクロック同期処理手段(23)と、
前記位相検出手段で検出された位相に対して、前記シンボルクロック同期処理手段で得られたタイミングで標本化する位相標本化手段(24)と、
前記位相標本化手段で得られた位相の前記位相標本化手段で得られた一つ前の位相に対する位相推移値を検出する位相推移値検出手段(25)と、
前記位相推移値検出手段によって検出された位相推移値の符号からシンボルデータを検出するシンボルデータ検出手段(26)と、
前記シンボルデータ検出手段によって検出されたシンボルデータとそのシンボルデータを検出するときに用いた位相推移値とを対応づけて記憶する記憶手段(27)と、
任意の参照パターンを設定するパターン設定部(28)と、
前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンと前記パターン設定部によって設定されている参照パターンとを比較し、前記記憶手段に記憶されたシンボルデータのパターンが前記参照パターンと一致するか否かを判定するパターン判定手段(29)と、
前記パターン判定手段によってパターンの一致が判定されたとき、該パターンの中間のシンボルに対応する位相推移値を前記記憶手段から抽出する位相推移値抽出手段(30)と、
前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値の平均値を算出する平均演算手段(31)と、
前記参照パターンの中間のシンボルに対する位相推移値と前記波形整形フィルタのBbT積との関係を示す情報を予め記憶しているデータベース部(31)と、
前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのBbT積を求めるBbT積検出手段(32)とを備えたことを特徴とするBbT積測定装置。
A BbT product for receiving a phase continuous multi-level FSK signal obtained by frequency-modulating a baseband signal in the NRZ format with a predetermined modulation index by a modulation signal obtained by shaping the waveform with a waveform shaping filter, and measuring a BbT product of the waveform shaping filter In the measuring device,
Phase detection means (22) for detecting an instantaneous phase with respect to the input continuous phase multi-level FSK signal;
Symbol clock synchronization processing means (23) for performing symbol clock synchronization processing on the input phase continuous multi-level FSK signal;
Phase sampling means (24) for sampling the phase detected by the phase detection means at the timing obtained by the symbol clock synchronization processing means;
Phase transition value detection means (25) for detecting a phase transition value of the phase obtained by the phase sampling means with respect to the immediately preceding phase obtained by the phase sampling means;
Symbol data detecting means (26) for detecting symbol data from the sign of the phase shift value detected by the phase shift value detecting means;
Storage means (27) for storing the symbol data detected by the symbol data detection means and the phase transition value used for detecting the symbol data in association with each other;
A pattern setting unit (28) for setting an arbitrary reference pattern;
The pattern of the symbol data stored in the storage means is compared with a reference pattern set by the pattern setting unit, and whether or not the pattern of the symbol data stored in the storage means matches the reference pattern is determined. Pattern determination means (29) for determination;
A phase transition value extraction unit (30) for extracting a phase transition value corresponding to an intermediate symbol of the pattern from the storage unit when the pattern determination unit determines that the pattern matches;
Average calculating means (31) for calculating an average value of the phase shift values extracted by the phase shift value extracting means;
A database unit (31) storing in advance information indicating a relationship between a phase transition value for a symbol in the middle of the reference pattern and a BbT product of the waveform shaping filter;
BbT product detection means (32) for obtaining a BbT product of the waveform shaping filter based on the average value of the phase transition value calculated by the averaging means and the information stored in the database unit. A BbT product measuring device, characterized in that:
前記データベース部には、前記位相推移値抽出手段で抽出された位相推移値を前記変調指数の値を用いて正規化した値とBbT積との関係を示す情報が予め記憶されており、
前記BbT積検出手段は、前記平均演算手段で算出された位相推移値の平均値を前記変調指数で正規化した値と、前記データベース部に記憶されている情報とに基づいて、前記波形整形フィルタのBbT積を求めるように構成されていることを特徴とする請求項1記載のBbT積測定装置。
In the database unit, information indicating a relationship between a BbT product and a value obtained by normalizing the phase shift value extracted by the phase shift value extracting unit using the value of the modulation index is stored in advance,
The BbT product detection unit is configured to perform the waveform shaping filter based on a value obtained by normalizing the average value of the phase transition value calculated by the average calculation unit with the modulation index and information stored in the database unit. The BbT product measuring apparatus according to claim 1, wherein the BbT product measuring apparatus is configured to obtain a BbT product of:
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