JP3540199B2 - Device for reducing power consumption of storage means and method of reducing power consumption of storage means - Google Patents

Device for reducing power consumption of storage means and method of reducing power consumption of storage means Download PDF

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ROMを含む記憶手段に関するものであり、特に詳しくは、当該記憶手段に於ける消費電力を低減する装置及びその方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般にROM回路は、Random Access Memory(RAM)回路のように、消費電力削減の検討があまり行われていない。
【0003】
しかし、RAM回路や周辺ロジック回路の低消費電力化が進むにつれ、ROM回路の消費電力削減の必要性が生じている。
【0004】
図6に、従来のROM回路の構成例を示す。ここに示すROM回路は、(h+1)カラムの〔(i+1)*(j+1)*(h+1)〕ワード×(n+1)ビット構成のNOR Cell型ROM回路である。
【0005】
本従来例は、主に(n+1)個のセンスアンプ( S/A)201、ビット線デコーダとして機能するコラムセレクタ(Column Selector)203、(i+1)*(j+1)*(h+1)で配列されたROMセル205で構成されている。
【0006】
これらは、後述する本発明に係る記憶手段に係る第1と第2の実施例で示されたセンスアンプ(S/A)101、Column Selector 103、(i+1)*(j+1)*(h+1)で配列されたROMセル105と同様な構成である。
【0007】
次に、従来例の動作を図7の波形図を用いて説明する。ただし、図7の波形図は、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号線が選択された場合を例に示されている。
【0008】
即ち、クロック信号CLKが“L”から“H”に変移し、読み出し期間となったのを受けて、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号は、“H”となる。
【0009】
また、同様にACLK信号も“L”から“H”に変わる。これによりセンスアンプS/A201は、センス動作を開始する。一方、クロック信号CLKが“H”から“L”に変移すると、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号は、“L”となる。
【0010】
同様にACLK信号も“H”から“L”に変わる。これによりセンスアンプS/A201は、センス動作を終了する。
【0011】
この結果、センス動作時間Tsaは、クロック信号CLKが“H”となる読み出し期間中に相当する。
【0012】
このように、センスアンプS/Aは、必要以上に動作し続けるため、センスアンプS/Aの駆動に要する消費電力は増大する。
【0013】
一方、特開昭61−126684号公報には、メモリを内蔵した半導体集積回路に関して記載されており、特に、センスアンプの停止タイミングを正確に検出する為の技術が開示されている。
【0014】
然しながら、当該公知技術に於いては、ビット線のそれぞれにプリチャージ回路を設ける事が必要であり、従って読み出し動作時間がプリチャージ時間にパルス発生遅延時間を加算した時間となる。
【0015】
つまり、当該公知技術に於いては、ビット線が一定のプリチャージ電位になってからセルのデータに応じた電位にビット線が変化したのをセンスする様になっており、具体的には、ダミーセルは、オン/オフの一方のデータを予め用意することによって、センスアンプの読み出し動作終了のタイミングを検出出来る様になっている。
【0016】
然しながら、当該公知技術に於いては、回路が複雑となり、コストアップに繋がると言う問題があり、又、プリチャージを使用しないでセンスアンプの読み出し動作終了のタイミングを検出出来る方法に関しては開示がない。
【0017】
又、特開平8−36895号公報には、同様に半導体集積装置に於ける読み出し動作の高速化に伴う読み出し動作時間を決定するパルス発生タイミングの調整方法に関して記載されており、上記と同様に、ビット線のプリチャージを行う方法を開示している。
【0018】
そして、当該公知技術に於いては、読み出し動作時間がプリチャージ時間にパルス発生遅延時間を加算した時間となり、当該パルス発生遅延時間に含まれるマージンを最適に調整する為に、ダミーデーター線を複数個用い、これを容量として活用する事を特徴とするものである。
【0019】
従って、当該公知技術に於いても、上記と同様に、ダミーセルは、オン/オフの一方のデータを予め用意することによって、センスアンプの読み出し動作終了のタイミングを検出出来る様になっていが、当該公知技術に於いては、回路が複雑となり、コストアップに繋がると言う問題があり、又、プリチャージを使用しないでセンスアンプの読み出し動作終了のタイミングを検出出来る方法に関しては開示がない。
【0020】
又、特開平3−245396号公報には、ダイナミック型半導体記憶装置に関して記載されており、外部へのデータ出力時間を短縮する目的で、タイミング発生回路が、プルアップトランジスタ制御信号とプルダウントランジスタ制御信号の一方と、列アドレスデコーダ制御信号及び、プルアップトランジスタ制御信号とプルダウントランジスタ制御信号の他方をこの順に出力する様に制御する方法が開示されているが、センスアンプの稼働終了時期を適正に制御して当該メモリ回路の消費電力を低減する技術に関しては、記載がない。
【0021】
一方、特開平6−28856号公報には、リフレッシュ時の消費電力を低減する事が出来る半導体記憶装置に関して記載されており、リフレッシュに際し、ビット線切り離し信号を、センス終了時にVcc若しくはGNDに変化させる技術が開示されているが、ダミービット線を使用してセンスアンプの消費電力を低減する技術に関しては記載がない。
【0022】
更に、特開平9−198868号公報には、半導体メモリに於ける消費電流の低減化を図る技術が開示されており、1列のダミービット線に接続された複数個のダミーセルアレイを使用し、当該ダミーセルアレイに於ける読み出し時間の経過後に通常のビット線に於けるセンスアンプを非活性にする方法が開示されているが、当該公知例に於いては、当該各センスアンプに於ける読み出し時間の最悪の状態を検出する為に、特定の操作を要することなく検出し、センスアンプを非活性にする技術に関しては記載が無い。
【0023】
【発明が解決しようとする課題】
従って、本発明の目的は、上記した従来技術の欠点を改良し、一対のダミービット線と此れに接続された複数個のダミーセルを設けると共に、当該ダミービット線に接続されたダミーセンスアンプの出力を検出する事によって、センスアンプの読み出し操作に於ける予想される最悪の遅延時間状態でも、適正に当該センスアンプの稼働を停止させ、それによって、消費電力を低減する事が出来る記憶手段の消費電力低減装置及び記憶手段の消費電力低減方法を提供するものである。
【0024】
【課題を解決するための手段】
本発明は上記した目的を達成するため、以下に記載されたような技術構成を採用するものである。
【0025】
即ち、本発明に係る第1の態様としては、ワード線、当該ワード線と直交するビット線、当該ワード線と当該ビット線との交差部のそれぞれに設けられている記憶素子、当該ワード線を駆動するワード線デコーダ、当該ビット線を駆動するビット線デコーダ、及び、センスアンプを介して、当該ビット線に所定の情報を書き込むか、当該ビット線から所定の情報を読み出すデータ書込み・読出し手段とから構成された記憶手段に於て、当該ワード線上で、且つ当該ワード線デコーダから最も遠い位置に設けられた2本のビット線にダミーセルをそれぞれ配置すると共に、当該ビット線デコーダの信号に基づいて、ダミーセンスアンプを介して読み出された当該各ダミーセルの情報に基づく出力パターンに応答して、その他のビット線に接続されているセンスアンプの稼働を停止させる様に構成され
当該ビット線デコーダにより選択された、当該ダミーセルが配置された2本のダミービット線の一方のダミービット線のダミーセルには、オンビットデータが書き込まれており、他方のダミービット線のダミーセルには、オフビットデータが書き込まれ、
当該オンビットデータが予め格納されているダミーセルの当該オンビットデータと当該オフビットデータが予め格納されているダミーセルの、当該オフビットデータの双方が読み出された場合に、当該ダミーセルが設けられている当該ビット線以外のビット線に接続されているセンスアンプを全て稼働停止の状態とするセンスアンプ稼働停止信号を出力する様に構成された記憶手段の消費電力低減装置であり、又、本発明に係る第2の態様としては、ワード線、当該ワード線と直交するビット線、当該ワード線と当該ビット線との交差部のそれぞれに設けられている記憶素子、当該ワード線を駆動するワード線デコーダ、当該ビット線を駆動するビット線デコーダ、及び、センスアンプを介して、当該ビット線に所定の情報を書き込むか、当該ビット線から所定の情報を読み出すデータ書込み・読出し手段とから構成された記憶手段に於て、当該ワード線と交差する複数本のビット線の内、少なくと2本のビット線をダミーセルが接続されたダミービット線となし、当該ダミービット線の情報の読み出し終了のタイミングを当該ダミービット線以外の全てのビット線の情報の読み出し操作が終了した後に設定する様に構成されている記憶手段の消費電力低減方法である。
【0026】
【本発明の実施の形態】
本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置及び等が記憶手段の消費電力低減方法は、上記した様な技術構成を採用しているので、例えば、電源電圧によってオンビット/オフビットのデータ読み出し時間の大小が逆転する可能性のあるROM回路等において、少なくとも2個用意されている、複数個のダミーセルが配置されている当該ダミービット線に於ける両方のダミーセンスアンプのセンス操作の終了タイミングを検出し、その結果に応答して、他の通常のセンスアンプの稼働を効率良く停止させる様にしたものであるから、当該センスアンプに於ける消費電力を低減する事が容易に出来、然も、幅広い電源電圧で適切なセンス時間を設定する事が可能な半導体記憶装置が得られる。
【0027】
つまり、本発明に於ける技術的な特徴は、如何に適正な速いタイミングでセンスアンプの稼働を停止させ、当該センスアンプを流れる電流の消費量を低減させるかにあり、その為に、ダミーセンスアンプを有するダミービット線を通常のビット線群の端部で、且つ当該ワード線デコーダから最も遠い側の端部に少なくとも2本1対の状態で配置し、当該ダミーセンスアンプのビットデータが読み出された後に当該通常のセンスアンプの稼働状態を停止させる様に構成した点にある。
【0028】
即ち、本発明に係る記憶装置に於いては、各記憶セルを構成するトランジスタのオンビットの時間とオフビットの時間とがいずれが短いかは、製造工程に於ける各種の条件、環境等によって一定ではなく、不確定、不明な場合が多い。
【0029】
従って、予め定められたタイミングで当該センスアンプを停止してしまうと、通常のセンスアンプが、未だデータを読み出している最中或いはデータを読み出す以前に当該センスアンプを停止させてしまう危険がある。
【0030】
従って、本発明に於いては、全ての通常のビット線に設けたセンスアンプの全てがデータの読出し操作が終了する迄待ってから当該センスアンプの稼働を停止させる事が必要であるとの認識から、当該全ての通常のビット線に設けたセンスアンプの全てがデータの読出し操作が終了する状態の最も最悪な条件を設定し、その条件を満たした状態であれば、当該センスアンプの稼働を停止させても問題無いと判断して、当該センスアンプの停止させる様に構成したものである。
【0031】
その具体例として、上記したように、ワード線デコーダから、ワード線に沿って設けられたビット線群の中で、最も遠い側の端部にある2本のビット線をダミービット線とし、係るダミービット線のダミーセンスアンプの情報が読み出された場合に、上記条件が満たされたと判断する様にしたものである。
【0032】
更に、本発明に於いては、当該ダミービット線を2本設け、一方のダミービット線に接続されたダミーセンスアンプにはオンビットデータが予め格納されており、他方のダミーセンスアンプにはオフビットデータが予め格納されている。
【0033】
つまり、本発明に於いては、当該記憶素子を構成するトランジスタからなるセルのオン時間とオフ時間は、不定であり、その為、オンビットデータとオフビットデータとの双方が読み出された場合には、上記した最も最悪な条件となる時間が経過したものと判断する様にしたものである。
【0034】
即ち、本発明に於いては、各記憶セルのオフビット時間或いはオンビット時間を気にすることなく、センスアンプを適正なタイミングで停止させる事が可能となるので、効率的であり、消費電力の低減に大きく寄与する事になる。
【0035】
【実施例】
以下に、本発明に係る記憶手段の消費電力低減装置及び記憶手段の消費電力低減方法の一具体例の構成を図面を参照しながら詳細に説明する。
【0036】
即ち、図1は、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置の一具体例の構成の概要を説明するブロックダイアグラムであり、図中、ワード線WL、当該ワード線WLと直交するビット線BL、当該ワード線WLと当該ビット線BLとの交差部のそれぞれに設けられている記憶素子10、当該ワード線WLを駆動するワード線デコーダWD、当該ビット線BLを駆動するビット線デコーダBD、及び、センスアンプ101を介して、当該ビット線BLに接続された所定の記憶素子10に、所定の情報を書き込むか、当該ビット線BLに接続された所定の記憶素子10から所定の情報を読み出すデータ書込み・読出し手段DKとから構成された記憶手段100に於て、当該ワード線WL上で、且つ当該ワード線デコーダWDから最も遠い位置に設けられた2本のビット線BL(DM)にダミーセル15をそれぞれ配置すると共に、当該ビット線デコーダBDの信号に基づいて、ダミーセンスアンプ102を介して読み出された当該各ダミーセル15の情報に基づく出力パターンに応答して、その他のビット線BLに接続されているセンスアンプ101の稼働を停止させる様に構成された記憶手段の消費電力低減装置100が示されている。
【0037】
本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置100に於いては、当該ビット線デコーダBDにより選択された、当該ダミーセル15が配置された2本のダミービット線BL(DM)の一方のダミービット線のダミーセルBL(DM1)には、オンビットデータが書き込まれており、他方のダミービット線BL(DM)のダミーセルBL(DM2)には、オフビットデータが書き込まれている事が望ましい。
【0038】
又、本発明に於ける当該記憶手段の消費電力低減装置100に於いては、当該ダミーセル15が配置されている、当該一対のダミービット線BL(DM1)及びBL(DM2)は、当該ビット線デコーダBD内に設けられているダミー選択手段104を介して適宜に選択される様に構成されている事が好ましい。
【0039】
更に、本発明に於いては、当該オンビットデータが予め格納されているダミーセル15−1の当該オンビットデータと当該オフビットデータが予め格納されているダミーセル15−2の、当該オフビットデータの双方が読み出された場合に、当該ダミーセル15が設けられている当該ビット線BL(DM)以外のビット線BLに接続されているセンスアンプ101を全て稼働停止の状態とするセンスアンプ稼働停止信号PDを出力するセンスアンプ稼働停止信号出力手段107が設けられている事も望ましい。
【0040】
一方、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置100に於て、当該複数本のビット線BLを複数個のビット線グループ20−1、20−2、・・・20−n等に分割し、各ビット線グループ20−1、20−2、・・・20−nのそれぞれに於ける当該ワード線デコーダWDから最も遠い位置に設けられた2本のビット線BLにダミーセル15をそれぞれ配置すると共に、当該各ビット線グループ20−1、20−2、・・・20−n毎に、当該ダミー選択手段104、当該ダミーセンスアンプ102が設けられている事も好ましい。
【0041】
又、本発明に於ける当該記憶手段の消費電力低減装置100に於いては、当該センスアンプ稼働停止信号PDは、当該記憶手段100を駆動するクロック信号CLKと同期して当該センスアンプ101の稼働を停止する様に構成されている事も好ましい。
【0042】
上記した説明から明らかな様に、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置100は、低消費電力向けのRead Only Memory(ROM)回路において、オンビットまたはオフビット読み出しデータに関わらず、センス終了のタイミングを検出することにより、幅広い電源電圧に対し適切なセンス時間が設定可能な半導体記憶装置を提供するものである。
【0043】
つまり、図1に示す様に、ワード線デコーダWDから最も遠くとなるROMセル列に、オンビットデータの書き込まれたダミーセル15−1からなるダミーセル列106bとオフビットデータの書き込まれたダミーセル15−2からなるダミーセル列106aが設けられている。
【0044】
これらダミーセル列は、ダミーセレクタ104を介しそれぞれダミーセンスアンプ102bと102aに接続され、オンビットとオフビットの2つのデータが読み出される。
【0045】
この読み出された2つのデータから、センスアンプ稼働停止信号出力手段(PD Generator)107は、センスアンプ稼働停止信号PDを生成する。当該センスアンプ稼働停止信号PDを受けたセンスアンプは、センス動作を終了する。
【0046】
これにより、センスアンプの動作時間は、従来より短縮することが可能である。従って、本発明では、センスアンプでの消費電力が削減されるという効果を得られる。
【0047】
次に、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置100のより詳細な具体例を実施例の形で図1及び図2を参照しながら説明する。
【0048】
つまり、図1は、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置100の一具体例に於ける全体の構成を示したブロックダイアグラムである。
【0049】
ここに示すメモリ回路は、(h+1)カラムの〔(i+1)*(j+1)*(h+1)〕ワード×(n+1)ビット構成のNORCell型ROM回路である。
【0050】
本具体例は、(n+1)個のセンスアンプ(S/A)101、ColumnSelector103、(i+1)*(j+1)*(h+1)で配列されたROMセル105に、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102b、ダミーセレクタ(DummySel.) 104、ダミーセル列106a、106b、PDGeneratorとして作動するセンスアンプ稼働停止手段107 を加えた構成となっている。
【0051】
ダミーセル列106bは、オンビットデータのみが書き込まれているメモリセル15−1からなるものであり、又ダミーセル列106aは、オフビットデータが書き込まれているメモリセル15−2からなるもので、2種類が用意されている。
【0052】
一方、ワード線デコーダWDから最遠のROMCell列として配置されているダミービット線BL(DM1)とダミービット線BL(DM2)を選択する、ビット線デコーダBDの一部を構成する、ダミーセル選択手段(DummySel.)104 は、ダミービット線中に設けられ、入力信号DSにより、ダミーセル列側のビット線とダミーセンスアンプ(DummyS/A)102b、102a側のビット線との接続のオン/オフを行う。
【0053】
ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102aと102bは、それぞれダミーセル列106bのオンビットとダミーセル列106aのオフビットのデータ読み出しを行う。
【0054】
この読み出された2個のダミーデータにより、センスアンプ稼働停止手段であるPD Generator107 は、センスアンプ稼働停止信号PDを生成する。このセンスアンプ稼働停止信号PDに応じて、ACLK信号が各S/Aの動作を終了する。
【0055】
図2にダミーセル列106a、106b、ダミーセレクタ(DummySel.) 104、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102b、センスアンプ稼働停止手段であるPD Generator107の詳細な構成例を示す。
【0056】
ダミーセル列106aと106bは、それぞれ(i+1)*(j+1)個のROM Cellで構成されており、106bのセル列にはオンビットのみ、106aにはオフビットのみのデータが書き込まれている。
【0057】
ダミーセレクタ(DummySel.) 104は、DS信号によりデータを読み出す期間のみオンし、ダミーセル列106a、106bとダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102bがビット線で接続され、それ以外の期間ではオフし、102a側のビット線電位を“L”に、102b側のビット線電位を“H”にクランプする。
【0058】
ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102aは、データ読み出し時にダミーセル列106aからのオフビットデータDSO#Aを出力し、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102bは、ダミーセル列106bからのオンビットデータDSO#Bを出力する。
【0059】
図2では、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)の構成は、図1のセンスアンプS/A101と同様であるため詳細な構成を省略する。
【0060】
一方、センスアンプ稼働停止信号出力手段(PD Generator)107は、DSO#Aからオフビットデータが出力され、かつ、DSO#Bからオンビットデータが出力された時のみ、センスアンプ稼働停止信号PDが“H”となり、このタイミングを利用して当該センスアンプのセンス終了信号として生成される。
【0061】
以下、本具体例の動作について図3の波形図を用いて説明する。
【0062】
ただし、図3の波形図は、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号線が選択された場合を例に示されている。
【0063】
読み出し時にクロック信号CLKが“L”から“H”に変移したのを受けて、DS、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号は、“H”となる。
【0064】
このとき、ダミーセレクタ(DummySel.) 104はDS信号によりオン状態となる。
【0065】
同時に、ビット線デコーダを構成するカラム選択手段(Column Sel)103もSS〔h〕により選択されたビット線のみ同様の状態となる。
【0066】
信号変移が遅いWL〔i〕が“H”となった後、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102bは、それぞれDSO#Aからオフビットデータである“L”とDSO#Bからオンビットである“H”を出力する。
【0067】
このとき、DSO#Bにオンビットデータが出力されるタイミングより、DSO#Aにオフビットデータが出力されるタイミングが遅くなる場合を示す。
【0068】
DSO#AとDSO#Bのうちデータ出力が遅くなる方、つまり本例ではDSO#Aが“H”に変移した後、PD信号はセンス終了信号である“H”になる。
【0069】
PD信号が“H”となると、ACLK信号を“H”から“L”に変移させ、各S/A 101の動作を終了させる。
【0070】
クロック信号CLKが“H”から“L”に変移することで読み出し期間が終了したのを受けて、DS、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号は、“L”となる。このとき、ダミーセレクタ(DummySel.) 104 は、DSが“L”となるためオフし、かつダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102b側のビット線をそれぞれ“L”と“H”にクランプする。
【0071】
よって、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102bの出力DSO#Aは“L”、DSO#Bは“H”となる。
【0072】
センスアンプ稼働停止信号出力手段であるPD Generator107は、このようにDSO#Aが“H”とDSO#Bが“L”の組み合わせ以外の場合にはPD信号が“L”となる。
【0073】
以上のように、S/Aの動作時間Tsaは、A CLK信号が“H”となる期間で決定される。ACLK信号が“H”となるためには、CLKが“H”となる読み出し期間にダミーセル列からオンビット/オフビットの両方のデータが読み出されたタイミングでセンスアンプ稼働停止信号PDが“H”となる場合である。
【0074】
よって、本実施例では、CLKが“L”となるタイミングを待たずにセンス動作を終了させることが可能である。
【0075】
次に、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置100の他の具体例の構成を図4及び図5を参照しながら詳細に説明する。
【0076】
即ち、図4は、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置100の第2の具体例の構成を示すブロックダイアグラムであり、図4は、全体の構成を示したものである。
【0077】
ここに示すメモリ回路は、(h+1)カラムの〔(i+1)*(j+1)*(h+1)〕ワード×(n+1)ビット構成のNOR Cell型ROM回路である。
【0078】
本具体例は、第1の具体例と同様(n+1)個のセンスアンプ( S/A) 101 、Column Selector103、(i+1)*(j+1)*(h+1)で配列されたROMセル105に、ダミーセンスアンプ( DummyS/A) 102a、102b、ダミーセレクタ( DummySel.) 104、ダミーセル列106a、106b、センスアンプ稼働停止信号出力手段(PD Generator)107 を加えた構成となっている。
【0079】
ダミーセル列は、オンビットデータのみが書き込まれている106bとオフビットデータが書き込まれている106aの2種類であり、各カラムにそれぞれ配置されている。
【0080】
ダミーセレクタ(DummySel.) 104は、ダミービット線中に設けられ、入力信号DSにより、ダミーセル列側のビット線とダミーセンスアンプ(DummyS/A)側のビット線との接続のオン/オフを行う。
【0081】
ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102aと102bは、それぞれダミーセル列106aのオフビットとダミーセル列106bのオンビットのデータ読み出しを行う。
【0082】
所定の本数からなるビット線がグループ化されて形成されたカラム毎に読み出された2個のダミーデータにより、各カラム事に、各センスアンプ稼働停止信号出力手段(PD Generator)107からセンスアンプ稼働停止信号PD(PD〔0〕〜PD〔n〕)を生成する。
【0083】
このセンスアンプ稼働停止信号PD(PD〔0〕〜PD〔n〕)に応じて、ACLK〔0〜n〕信号が各センスアンプS/Aの動作を終了する。
【0084】
ダミーセル列106a、106b、ダミーセレクタ(DummySel.) 104、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102b、センスアンプ稼働停止信号発生手段(PD Generator)107の詳細な構成例は、第1の具体例と同様である。
【0085】
第1の具体例と異なる構成は、前記に説明したようにセンス終了の検出をカラム毎に行わせ、カラム毎にセンス動作時間を最適に設定できるようにした点である。
【0086】
次に本実施例の動作を図5の波形図を用いて説明する。ただし、図5の波形図は、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号線が選択された場合を例に示されている。
【0087】
読み出し時にクロック信号CLKが“L”から“H”に変移したのを受けて、DS、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号は、“H”となる。
【0088】
このとき、ダミーセレクタ(DummySel.) 104はDS信号によりオン状態となる。
【0089】
ビット線デコーダを構成するColumn Sel103もSS〔h〕により選択されたビット線のみ同様の状態となる。信号変移が遅いWL〔i〕が“H”となった後、各DummyS/A 102a、102bからそれぞれ“H”のオンビットデータと“L”のオフビットデータが出力される。
【0090】
このとき、2つのダミーデータが出力されるタイミングは、カラム毎に異なっている。カラム毎に“H”となったPD〔0:n〕信号は、同一カラム内のセンスアンプS/A101のセンス動作を終了させる。
【0091】
クロック信号CLKが“H”から“L”に変移することで読み出し期間が終了したのを受けて、DS、SS〔h〕、BS〔j〕、WL〔i〕の各信号は、“L”となる。
【0092】
このとき、各ダミーセレクタ(DummySel.) 104 は、DSが“L”となるためオフし、かつDummyS/A 102a、102b側のビット線をそれぞれ“L”と“H”にクランプする。 よって、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102bは、それぞれ“L”と“H”が出力される。
【0093】
各センスアンプ稼働停止信号発生手段PD(PD Generator)107 は、ダミーセンスアンプ(DummyS/A)102a、102bがそれぞれ“H”と“L”となる組み合わせ以外には“L”のPD信号を生成する。
【0094】
以上のように、S/Aの動作時間Tsa〔0:n〕は、カラム毎に適切な長さに設定可能である。
【0095】
つまり、アクセスの早いカラムのセンス動作時間Tsa〔0〕は、アクセスの遅いカラムのセンス動作時間Tsa〔n〕より短く設定される。
【0096】
上記した本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置の具体例から理解される様に、本発明に係る記憶手段の消費電力低減方法としては、基本的には、ワード線、当該ワード線と直交するビット線、当該ワード線と当該ビット線との交差部のそれぞれに設けられている記憶素子、当該ワード線を駆動するワード線デコーダ、当該ビット線を駆動するビット線デコーダ、及び、センスアンプを介して、当該ビット線に所定の情報を書き込むか、当該ビット線から所定の情報を読み出すデータ書込み・読出し手段とから構成された記憶手段に於て、当該ワード線と交差する複数本のビット線の内、少なくと2本のビット線をダミーセルが接続されたダミービット線となし、当該ダミービット線の情報の読み出しタイミングを当該ダミービット線以外の全てのビット線の情報の読み出し操作が終了した後に設定する様に構成された記憶手段の消費電力低減方法である。
【0097】
上記本発明に係る記憶手段の消費電力低減方法に於いては、当該ダミービット線に接続されている当該ダミーセルの情報を当該ダミービット線に接続されているダミーセンスアンプにより読みだす様に構成されている事が望ましい。
【0098】
更には、本発明に於ける当該記憶手段の消費電力低減方法に於いては、当該ダミービット線の情報の読み出し結果に応答して、当該ダミービット線以外の全てのビット線に接続されている当該センスアンプを稼働を停止させる様に構成されるものである。
【0099】
又、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減方法に於いては、当該複数本のビット線を、複数のグループに分割し、各グループ毎に当該ダミーセルを有する少なくとも2本のダミービット線及び当該ダミービット線に接続されたダミーセンスアンプを設ける事によって、上記した方法が実行されることも望ましい。
【0100】
一方、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減方法に於いては、当該2本のダミービット線の内、第1のダミービット線に接続されている当該ダミーセルには、オンビットデータを記憶せしめ、又第2のダミービット線に接続されている当該ダミーセルには、オフビットデータを記憶せしめる様にする事も望ましい。
【0101】
又、本発明に於ける当該記憶手段の消費電力低減方法に於いては、当該第1と第2のダミービット線のビット情報を読み出さすに際し、当該第1と第2のダミービット線のビット情報の読み出しパターンに応答して、当該ダミービット線以外の全てのビット線に接続されている当該センスアンプを稼働を停止させるセンスアンプ稼働停止信号を発生させる様に構成する事が好ましい。
【0102】
更に、本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減方法に於いては、当該センスアンプ稼働停止信号は、当該記憶手段を駆動するクロック信号と同期して当該センスアンプの稼働を停止する様に構成する事も好ましい。
【0103】
【発明の効果】
本発明に係る当該記憶手段の消費電力低減装置及び記憶手段の消費電力低減方法は、上記した様な技術構成を採用しているので、従来に於けるROM回路に於いては、電源電圧によってはオンビットとオフビットで読み出し時間の大小が逆転する場合があり、このため、オンビットデータ読み出しのタイミングでセンス動作を終了させてしまうと、オフビットデータが読み出せない場合が生じると言う問題が存在していたが、本発明によって、オンビット/オフビット両方のセンス終了タイミングを検出することにより、幅広い電源電圧において適切なセンス時間が設定可能とすることである。
【0104】
然も、本発明では、アクセスに最も時間の要するワードデコーダから最遠にオンビットデータのみ書き込まれたダミーセル列とオフビットデータのみ書き込まれたダミーセル列を配置し、両方のデータがダミーセンスアンプに読み出されたタイミングを受けてセンスアンプの終了検出信号である、センスアンプ稼働停止信号PDを発生させる様に構成されている。
【0105】
このため、従来より早くセンス動作を終了でき、適用する電源電圧が変わってオンビット/オフビットの読み出し時間が反転しても常に全ビットのデータ読み出し完了後にセンス動作を終了することができる。
【0106】
つまり、係る構成により、電源電圧によってオンビット/オフビットデータ読み出し時間の大小の変化に関係なく、全ビットのデータ読み出し後にセンス動作を終了でき、センス動作時間を短縮できる。
【0107】
この結果、必要以上のセンス動作を止めることができるため、センスアンプS/Aに要する消費電力を削減できる。
【0108】
又、ビット線を複数のグループ(カラム)に分割して、オンビットデータのダミーセル列とオフビットのダミーセル列を当該カラム毎に配し、各グループ(カラム)毎に個別に上記したと同様の操作を実行させる事により、カラム毎に各S/Aのセンス動作終了のタイミングを設定可能な構成としたので、カラム毎に異なるアクセス時間に応じてセンス動作時間を適切に設定できるため、アクセス時間の短いカラムでは、さらにセンス動作時間を短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明に係る記憶手段の消費電力低減装置の一具体例の構成を説明するブロックダイアグラムである。
【図2】図2は、本発明に係る記憶手段の消費電力低減装置の一具体例に於けるダミーセル部分を説明するブロックダイアグラムである。
【図3】図3は、本発明に係る記憶手段の消費電力低減装置の駆動手順を説明するタイミングチャートである。
【図4】図4は、本発明に係る記憶手段の消費電力低減装置の他の具体例の構成を説明するブロックダイアグラムである。
【図5】図5は、本発明に係る記憶手段の消費電力低減装置の他の具体的に於ける駆動手順を説明するタイミングチャートである。
【図6】図6は、従来に於ける記憶手段の消費電力低減装置の構成例を説明するブロックダイアグラムである。
【図7】図7は、従来に於ける記憶手段の消費電力低減装置の駆動手順を説明するタイミングチャートである。
【符号の説明】
10…記憶素子
15、15−1、15−2…ダミーセル
20−1、20−2、・・・20−n…ビット線グループ
100…記憶手段の消費電力低減装置
101…センスアンプ
102…ダミーセンスアンプ
104…ダミー選択手段
105…セル列
106…ダミーセル列
107…センスアンプ稼働停止信号出力手段
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a storage unit including a ROM, and more particularly to an apparatus and a method for reducing power consumption in the storage unit.
[0002]
[Prior art]
In general, in a ROM circuit, as in a Random Access Memory (RAM) circuit, reduction in power consumption has not been studied much.
[0003]
However, as the power consumption of RAM circuits and peripheral logic circuits has been reduced, there has been a need to reduce the power consumption of ROM circuits.
[0004]
FIG. 6 shows a configuration example of a conventional ROM circuit. The ROM circuit shown here is a NOR Cell type ROM circuit having a configuration of [(i + 1) * (j + 1) * (h + 1)] words × (n + 1) bits of (h + 1) columns.
[0005]
In this conventional example, (n + 1) sense amplifiers (S / A) 201, a column selector (Column Selector) 203 functioning as a bit line decoder, and (i + 1) * (j + 1) * (h + 1) are arranged. It comprises a ROM cell 205.
[0006]
These are the sense amplifier (S / A) 101, Column Selector 103, (i + 1) * (j + 1) * (h + 1) shown in the first and second embodiments of the storage means according to the present invention described later. It has the same configuration as the arranged ROM cells 105.
[0007]
Next, the operation of the conventional example will be described with reference to the waveform diagram of FIG. However, the waveform diagram of FIG. 7 shows an example in which each signal line of SS [h], BS [j], WL [i] is selected.
[0008]
That is, in response to the transition of the clock signal CLK from "L" to "H" and the read period, the signals SS [h], BS [j], and WL [i] change to "H". Become.
[0009]
Similarly, the ACLK signal changes from "L" to "H". As a result, the sense amplifier S / A 201 starts the sensing operation. On the other hand, when the clock signal CLK changes from “H” to “L”, the signals SS [h], BS [j] and WL [i] become “L”.
[0010]
Similarly, the ACLK signal changes from “H” to “L”. As a result, the sense amplifier S / A 201 ends the sensing operation.
[0011]
As a result, the sense operation time Tsa corresponds to a read period in which the clock signal CLK becomes “H”.
[0012]
As described above, since the sense amplifier S / A continues to operate more than necessary, power consumption required for driving the sense amplifier S / A increases.
[0013]
On the other hand, Japanese Patent Application Laid-Open No. Sho 61-126684 describes a semiconductor integrated circuit having a built-in memory, and particularly discloses a technique for accurately detecting a stop timing of a sense amplifier.
[0014]
However, in the known technique, it is necessary to provide a precharge circuit for each of the bit lines, and therefore, the read operation time is the time obtained by adding the pulse generation delay time to the precharge time.
[0015]
That is, in the known technique, it is configured to sense that the bit line has changed to a potential corresponding to the data of the cell after the bit line has reached a constant precharge potential, and specifically, The dummy cell can detect the timing of the end of the read operation of the sense amplifier by preparing one of ON / OFF data in advance.
[0016]
However, in the known technique, there is a problem that a circuit becomes complicated, which leads to an increase in cost. Further, there is no disclosure about a method capable of detecting the timing of ending the read operation of the sense amplifier without using precharge. .
[0017]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-36895 also describes a method of adjusting a pulse generation timing for determining a read operation time accompanying a speed-up of a read operation in a semiconductor integrated device. A method for precharging a bit line is disclosed.
[0018]
In the known technique, the read operation time is a time obtained by adding the pulse generation delay time to the precharge time. In order to optimally adjust the margin included in the pulse generation delay time, a plurality of dummy data lines are provided. It is characterized in that it is used individually and utilized as a capacity.
[0019]
Therefore, in the related art, similarly to the above, the dummy cell can detect the timing of the end of the read operation of the sense amplifier by preparing one of the ON / OFF data in advance. In the known art, there is a problem that a circuit becomes complicated, which leads to an increase in cost. Further, there is no disclosure about a method capable of detecting the timing of the end of the read operation of the sense amplifier without using precharge.
[0020]
Japanese Unexamined Patent Publication No. 3-245396 describes a dynamic semiconductor memory device. In order to shorten the time for outputting data to the outside, a timing generation circuit includes a pull-up transistor control signal and a pull-down transistor control signal. And a method of controlling to output the column address decoder control signal and the other of the pull-up transistor control signal and the pull-down transistor control signal in this order. There is no description about a technique for reducing the power consumption of the memory circuit.
[0021]
On the other hand, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-28856 describes a semiconductor memory device capable of reducing power consumption at the time of refreshing. In refreshing, a bit line disconnection signal is changed to Vcc or GND at the end of sensing. Although a technique is disclosed, there is no description about a technique for reducing power consumption of a sense amplifier using a dummy bit line.
[0022]
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-198868 discloses a technique for reducing current consumption in a semiconductor memory, using a plurality of dummy cell arrays connected to one column of dummy bit lines, A method of inactivating a sense amplifier in a normal bit line after a lapse of a read time in the dummy cell array is disclosed. In the known example, a read time in each of the sense amplifiers is disclosed. There is no description about a technique for detecting the worst state of the above without requiring a specific operation and deactivating the sense amplifier.
[0023]
[Problems to be solved by the invention]
Accordingly, an object of the present invention is to improve the above-mentioned disadvantages of the prior art, provide a pair of dummy bit lines and a plurality of dummy cells connected thereto, and provide a dummy sense amplifier connected to the dummy bit lines. By detecting the output, the operation of the sense amplifier can be stopped properly even in the worst case of the expected delay time in the read operation of the sense amplifier, thereby reducing the power consumption. An object of the present invention is to provide a power consumption reduction device and a power consumption reduction method of a storage unit.
[0024]
[Means for Solving the Problems]
The present invention employs the following technical configuration to achieve the above object.
[0025]
That is, as a first aspect according to the present invention, a word line, a bit line orthogonal to the word line, a storage element provided at each intersection of the word line and the bit line, A word line decoder for driving, a bit line decoder for driving the bit line, and data writing / reading means for writing predetermined information to the bit line or reading predetermined information from the bit line via a sense amplifier; In the storage means, the dummy cells are respectively arranged on the two bit lines provided on the word line and farthest from the word line decoder, and based on the signal of the bit line decoder. Connected to other bit lines in response to an output pattern based on the information of each dummy cell read through the dummy sense amplifier. It is composed of the operation of the sense amplifier are as stopping,
On-bit data is written in the dummy cell of one of the two dummy bit lines, in which the dummy cell is arranged, selected by the bit line decoder, and the dummy cell of the other dummy bit line is written in the dummy cell of the other dummy bit line. , Off-bit data is written,
The dummy cell is provided when both the on-bit data of the dummy cell in which the on-bit data is stored in advance and the off-bit data of the dummy cell in which the off-bit data is stored in advance are read out. Is configured to output a sense amplifier operation stop signal that causes all the sense amplifiers connected to the bit lines other than the bit line to stop operating.In a second aspect according to the present invention, there are provided a power consumption reducing device for a memory unit, a word line, a bit line orthogonal to the word line, and an intersection of the word line and the bit line. Via a memory element provided, a word line decoder for driving the word line, a bit line decoder for driving the bit line, and a sense amplifier, predetermined information is written to the bit line, or In a storage means comprising data writing / reading means for reading predetermined information, at least two bit lines of a plurality of bit lines intersecting the word line are connected to dummy bits to which dummy cells are connected. Read the information of the dummy bit lineFinishedThis is a method for reducing the power consumption of the storage means configured to set the timing after the operation of reading the information of all the bit lines other than the dummy bit line is completed.
[0026]
[Embodiment of the present invention]
Since the power consumption reduction device of the storage means and the method of reducing the power consumption of the storage means according to the present invention employ the above-described technical configuration, for example, data reading of on-bit / off-bit depending on the power supply voltage End timing of the sensing operation of both dummy sense amplifiers in at least two dummy bit lines in which a plurality of dummy cells are provided in a ROM circuit or the like in which the magnitude of time may be reversed. Is detected, and in response to the result, the operation of other normal sense amplifiers is efficiently stopped, so that the power consumption in the sense amplifier can be easily reduced, and In addition, a semiconductor memory device capable of setting an appropriate sensing time with a wide power supply voltage can be obtained.
[0027]
That is, the technical feature of the present invention is how to stop the operation of the sense amplifier at an appropriate fast timing and reduce the consumption of the current flowing through the sense amplifier. At least two pairs of dummy bit lines having amplifiers are arranged at the end of the normal bit line group and at the end farthest from the word line decoder, and the bit data of the dummy sense amplifier is read. The configuration is such that the normal operating state of the sense amplifier is stopped after the output.
[0028]
That is, in the storage device according to the present invention, which of the on-bit time and the off-bit time of the transistor constituting each storage cell is shorter depends on various conditions, environment, and the like in the manufacturing process. Inconsistent, uncertain, unknown in many cases.
[0029]
Therefore, if the sense amplifier is stopped at a predetermined timing, there is a risk that a normal sense amplifier may stop the sense amplifier while data is still being read or before data is read.
[0030]
Therefore, in the present invention, it is recognized that it is necessary to wait until all the sense amplifiers provided in all the normal bit lines have completed the data read operation before stopping the operation of the sense amplifiers. Therefore, the worst condition for the state in which the data read operation is completed for all the sense amplifiers provided in all the normal bit lines is set, and if the condition is satisfied, the operation of the sense amplifier is stopped. The configuration is such that it is determined that there is no problem in stopping the sense amplifier and the sense amplifier is stopped.
[0031]
As a specific example, as described above, the farthest end of the bit line group provided along the word line from the word line decoder is described.InThese two bit lines are dummy bit lines, and when the information of the dummy sense amplifier of the dummy bit line is read, it is determined that the above condition is satisfied.
[0032]
Further, in the present invention, two dummy bit lines are provided, on-bit data is stored in advance in a dummy sense amplifier connected to one dummy bit line, and off-state data is stored in the other dummy sense amplifier. Bit data is stored in advance.
[0033]
That is, in the present invention, the on-time and off-time of the cell including the transistor constituting the storage element are undefined, and therefore, when both the on-bit data and the off-bit data are read out, Is to judge that the time under the worst condition has elapsed.
[0034]
That is, in the present invention, the sense amplifier can be stopped at an appropriate timing without regard to the off-bit time or the on-bit time of each memory cell. Will greatly contribute to the reduction of
[0035]
【Example】
Hereinafter, the configuration of a specific example of the power consumption reduction device of the storage unit and the power consumption reduction method of the storage unit according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[0036]
That is, FIG. 1 is a block diagram for explaining the outline of the configuration of a specific example of the power consumption reducing device of the storage means according to the present invention. In the drawing, a word line WL and a bit line orthogonal to the word line WL are shown. BL, a storage element 10 provided at each intersection of the word line WL and the bit line BL, a word line decoder WD for driving the word line WL, a bit line decoder BD for driving the bit line BL, Then, via the sense amplifier 101, predetermined information is written to the predetermined storage element 10 connected to the bit line BL, or predetermined information is read from the predetermined storage element 10 connected to the bit line BL. In the storage means 100 constituted by the data write / read means DK, the position on the word line WL and the farthest from the word line decoder WD. The dummy cells 15 are respectively arranged on the two provided bit lines BL (DM), and the information of the respective dummy cells 15 read out via the dummy sense amplifier 102 based on the signal of the bit line decoder BD. The power consumption reduction device 100 of the storage means is configured to stop the operation of the sense amplifier 101 connected to the other bit lines BL in response to the output pattern based on the output pattern.
[0037]
In the power consumption reduction device 100 of the storage means according to the present invention, one of the two dummy bit lines BL (DM), on which the dummy cells 15 are arranged, selected by the bit line decoder BD. On-bit data is desirably written in the dummy cell BL (DM1) of the line, and off-bit data is desirably written in the dummy cell BL (DM2) of the other dummy bit line BL (DM).
[0038]
Further, in the power consumption reduction device 100 of the storage means according to the present invention, the pair of dummy bit lines BL (DM1) and BL (DM2) in which the dummy cells 15 are arranged are connected to the bit lines. It is preferable that the selection is appropriately made via the dummy selection means 104 provided in the decoder BD.
[0039]
Further, in the present invention, the on-bit data of the dummy cell 15-1 in which the on-bit data is stored in advance and the off-bit data of the dummy cell 15-2 in which the off-bit data is stored in advance are stored. When both are read, a sense amplifier operation stop signal that causes all the sense amplifiers 101 connected to the bit lines BL other than the bit line BL (DM) provided with the dummy cells 15 to be in an operation stop state. It is also desirable to provide a sense amplifier operation stop signal output unit 107 that outputs a PD.
[0040]
On the other hand, in the power consumption reduction device 100 of the storage means according to the present invention, the plurality of bit lines BL are divided into a plurality of bit line groups 20-1, 20-2,. The dummy cells 15 are respectively arranged on the two bit lines BL provided farthest from the word line decoder WD in each of the bit line groups 20-1, 20-2,..., 20-n. In addition, it is preferable that the dummy selection unit 104 and the dummy sense amplifier 102 are provided for each of the bit line groups 20-1, 20-2,..., 20-n.
[0041]
Further, in the power consumption reduction device 100 for the storage unit according to the present invention, the sense amplifier operation stop signal PD is used to operate the sense amplifier 101 in synchronization with the clock signal CLK for driving the storage unit 100. It is also preferable that the system is configured to stop the operation.
[0042]
As is clear from the above description, the power consumption reduction device 100 of the storage means according to the present invention can be implemented in a read only memory (ROM) circuit for low power consumption regardless of on-bit or off-bit read data. An object of the present invention is to provide a semiconductor memory device capable of setting an appropriate sense time for a wide range of power supply voltages by detecting the end timing.
[0043]
That is, as shown in FIG. 1, the dummy cell row 106b including the dummy cell 15-1 in which the on-bit data is written and the dummy cell 15-b in which the off-bit data is written are provided in the ROM cell row furthest from the word line decoder WD. Two dummy cell columns 106a are provided.
[0044]
These dummy cell columns are connected to dummy sense amplifiers 102b and 102a via a dummy selector 104, respectively, and two data of an ON bit and an OFF bit are read.
[0045]
The sense amplifier operation stop signal output means (PD Generator) 107 generates a sense amplifier operation stop signal PD from the two read data. The sense amplifier that has received the sense amplifier operation stop signal PD ends the sensing operation.
[0046]
Thus, the operation time of the sense amplifier can be reduced as compared with the conventional case. Therefore, according to the present invention, the effect that the power consumption in the sense amplifier is reduced can be obtained.
[0047]
Next, a more detailed specific example of the power consumption reduction device 100 of the storage means according to the present invention will be described in the form of an embodiment with reference to FIGS.
[0048]
That is, FIG. 1 is a block diagram showing an entire configuration of a specific example of the power consumption reducing device 100 of the storage unit according to the present invention.
[0049]
The memory circuit shown here is a NORCell-type ROM circuit having a configuration of [(i + 1) * (j + 1) * (h + 1)] words × (n + 1) bits in (h + 1) columns.
[0050]
In this specific example, a dummy sense amplifier (DummyS / A) 102a is provided in a (n + 1) sense amplifier (S / A) 101, a column selector 103, and a ROM cell 105 arranged in (i + 1) * (j + 1) * (h + 1). , 102b, a dummy selector (DummySel.) 104, dummy cell columns 106a and 106b, and a sense amplifier operation stopping means 107 which operates as a PD generator.
[0051]
Dummy cell column 106b is composed of memory cells 15-1 in which only on-bit data is written, and dummy cell column 106a is composed of memory cells 15-2 in which off-bit data is written. Types are available.
[0052]
On the other hand, a dummy cell selecting means for selecting a dummy bit line BL (DM1) and a dummy bit line BL (DM2) arranged as a ROMCell column furthest from the word line decoder WD, and constituting a part of the bit line decoder BD (DummySel.) 104 is provided in the dummy bit line, and turns on / off the connection between the bit line on the dummy cell column side and the bit lines on the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102b and 102a side according to the input signal DS. Do.
[0053]
The dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b read data of the ON bit of the dummy cell column 106b and the OFF bit of the dummy cell column 106a, respectively.
[0054]
On the basis of the two read dummy data, the PD generator 107 serving as the sense amplifier operation stop unit generates the sense amplifier operation stop signal PD. In response to the sense amplifier operation stop signal PD, the ACLK signal ends the operation of each S / A.
[0055]
FIG. 2 shows a detailed configuration example of the dummy cell columns 106a and 106b, the dummy selector (DummySel.) 104, the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b, and the PD generator 107 as the sense amplifier operation stopping means.
[0056]
Each of the dummy cell columns 106a and 106b is composed of (i + 1) * (j + 1) ROM cells, and only the ON bit and the OFF bit only data are written in the cell column 106b.
[0057]
The dummy selector (DummySel.) 104 is turned on only during the period of reading data by the DS signal, the dummy cell columns 106a and 106b and the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b are connected by bit lines, and is turned off in other periods. Then, the bit line potential on the 102a side is clamped at "L" and the bit line potential on the 102b side is clamped at "H".
[0058]
Dummy sense amplifier (DummyS / A) 102a outputs off-bit data DSO # A from dummy cell column 106a at the time of data reading, and dummy sense amplifier (DummyS / A) 102b outputs on-bit data DSO # from dummy cell column 106b. B is output.
[0059]
In FIG. 2, the configuration of the dummy sense amplifier (DummyS / A) is the same as that of the sense amplifier S / A101 in FIG.
[0060]
On the other hand, the sense amplifier operation stop signal output means (PD Generator) 107 outputs the sense amplifier operation stop signal PD only when the off bit data is output from DSO # A and the on bit data is output from DSO # B. It becomes "H" and is generated as a sense end signal of the sense amplifier using this timing.
[0061]
Hereinafter, the operation of this example will be described with reference to the waveform diagram of FIG.
[0062]
However, the waveform diagram of FIG. 3 shows an example in which each signal line of SS [h], BS [j], WL [i] is selected.
[0063]
In response to the transition of the clock signal CLK from "L" to "H" at the time of reading, the signals DS, SS [h], BS [j], and WL [i] become "H".
[0064]
At this time, the dummy selector (DummySel.) 104 is turned on by the DS signal.
[0065]
At the same time, the column selecting means (Column Sel) 103 constituting the bit line decoder is in the same state only for the bit line selected by SS [h].
[0066]
After WL [i] whose signal transition is slow becomes “H”, the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102 a and 102 b respectively output “L” as off-bit data from DSO # A and on-bit from DSO # B. Is output.
[0067]
At this time, a case is shown in which the timing at which the off-bit data is output to DSO # A is later than the timing at which the on-bit data is output to DSO # B.
[0068]
Of the DSO # A and DSO # B, the data output becomes slower, that is, in this example, after the DSO # A changes to “H”, the PD signal becomes “H” which is the sense end signal.
[0069]
When the PD signal becomes “H”, the ACLK signal is changed from “H” to “L”, and the operation of each S / A 101 ends.
[0070]
In response to the end of the reading period due to the transition of the clock signal CLK from “H” to “L”, each signal of DS, SS [h], BS [j], WL [i] becomes “L”. It becomes. At this time, the dummy selector (DummySel.) 104 is turned off because DS becomes “L”, and the bit lines of the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b are clamped to “L” and “H”, respectively. I do.
[0071]
Therefore, the outputs DSO # A of the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b are "L" and the output DSO # B is "H".
[0072]
As described above, the PD signal of the PD generator 107 as the sense amplifier operation stop signal output means is "L" when the DSO # A is not a combination of "H" and the DSO # B is "L".
[0073]
As described above, the S / A operation time Tsa is determined by the period when the ACLK signal is at “H”. In order for the ACLK signal to become “H”, the sense amplifier operation stop signal PD becomes “H” at the timing when both on-bit / off-bit data is read from the dummy cell column during the read period when CLK becomes “H”. ".
[0074]
Therefore, in the present embodiment, it is possible to end the sensing operation without waiting for the timing when CLK becomes “L”.
[0075]
Next, the configuration of another specific example of the power consumption reduction device 100 of the storage unit according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS.
[0076]
That is, FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a second specific example of the power consumption reduction device 100 of the storage means according to the present invention, and FIG. 4 shows the entire configuration.
[0077]
The memory circuit shown here is a NOR Cell type ROM circuit having a configuration of [(i + 1) * (j + 1) * (h + 1)] words × (n + 1) bits of (h + 1) columns.
[0078]
This specific example is similar to the first specific example in that (n + 1) sense amplifiers (S / A) 101, Column Selector 103, and ROM cells 105 arranged in (i + 1) * (j + 1) * (h + 1) are dummy. The configuration includes sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b, dummy selectors (DummySel.) 104, dummy cell columns 106a and 106b, and sense amplifier operation stop signal output means (PD Generator) 107.
[0079]
There are two types of dummy cell columns, 106b in which only on-bit data is written, and 106a in which off-bit data is written, and are arranged in each column.
[0080]
A dummy selector (DummySel.) 104 is provided in the dummy bit line, and turns on / off the connection between the bit line on the dummy cell column side and the bit line on the dummy sense amplifier (DummyS / A) side according to the input signal DS. .
[0081]
The dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b read data of an off bit of the dummy cell column 106a and an on bit of the dummy cell column 106b, respectively.
[0082]
By using two pieces of dummy data read for each column formed by grouping a predetermined number of bit lines, the sense amplifier operation stop signal output means (PD generator) 107 outputs a sense amplifier to each column. An operation stop signal PD (PD [0] to PD [n]) is generated.
[0083]
In response to the sense amplifier operation stop signal PD (PD [0] to PD [n]), the ACLK [0 to n] signals end the operation of each sense amplifier S / A.
[0084]
The detailed configuration example of the dummy cell columns 106a and 106b, the dummy selector (DummySel.) 104, the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b, and the sense amplifier operation stop signal generation means (PD Generator) 107 is a first specific example. Is the same as
[0085]
The configuration different from the first specific example is that, as described above, the end of sensing is detected for each column, and the sensing operation time can be set optimally for each column.
[0086]
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the waveform diagram of FIG. However, the waveform diagram of FIG. 5 shows an example in which each signal line of SS [h], BS [j], WL [i] is selected.
[0087]
In response to the transition of the clock signal CLK from "L" to "H" at the time of reading, the signals DS, SS [h], BS [j], and WL [i] become "H".
[0088]
At this time, the dummy selector (DummySel.) 104 is turned on by the DS signal.
[0089]
The Column Sel 103 constituting the bit line decoder is in the same state only for the bit line selected by SS [h]. After WL [i] whose signal transition is slow becomes “H”, the Dummy S / A 102 a and 102 b output “H” on-bit data and “L” off-bit data, respectively.
[0090]
At this time, the timing at which the two dummy data are output differs for each column. The PD [0: n] signal that has become “H” for each column terminates the sensing operation of the sense amplifier S / A 101 in the same column.
[0091]
In response to the end of the reading period due to the transition of the clock signal CLK from “H” to “L”, each signal of DS, SS [h], BS [j], WL [i] becomes “L”. It becomes.
[0092]
At this time, each of the dummy selectors (DummySel.) 104 is turned off because DS is "L", and clamps the bit lines on the DummyS / A 102a and 102b sides to "L" and "H", respectively. Therefore, the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102a and 102b output "L" and "H", respectively.
[0093]
Each sense amplifier operation stop signal generating means PD (PD Generator) 107 generates a PD signal of “L” other than a combination in which the dummy sense amplifiers (DummyS / A) 102 a and 102 b become “H” and “L”, respectively. I do.
[0094]
As described above, the S / A operation time Tsa [0: n] can be set to an appropriate length for each column.
[0095]
That is, the sense operation time Tsa [0] of the column accessed earlier is set shorter than the sense operation time Tsa [n] of the column accessed later.
[0096]
As can be understood from the specific example of the power consumption reducing device for the storage unit according to the present invention described above, the method for reducing the power consumption of the storage unit according to the present invention basically includes a word line, the word line, Orthogonal bit lines, storage elements provided at respective intersections of the word lines and the bit lines, word line decoders for driving the word lines, bit line decoders for driving the bit lines, and sense amplifiers A plurality of bits intersecting with the word line in a storage means including data writing / reading means for writing predetermined information to the bit line or reading predetermined information from the bit line. Of the lines, at least two bit lines are set as dummy bit lines to which dummy cells are connected, and the timing of reading information of the dummy bit line is determined by the dummy bit line. Read operation of information of all the bit lines of the outer is the power consumption reducing method of the configured storage means so as to set after completion.
[0097]
In the power consumption reducing method of the storage means according to the present invention, the information of the dummy cell connected to the dummy bit line is read by a dummy sense amplifier connected to the dummy bit line. Is desirable.
[0098]
Further, in the method of reducing power consumption of the storage means according to the present invention, the memory means is connected to all bit lines other than the dummy bit line in response to a result of reading information of the dummy bit line. The sense amplifier is configured to stop operating.
[0099]
Further, in the method for reducing power consumption of the storage unit according to the present invention, the plurality of bit lines are divided into a plurality of groups, and at least two dummy bit lines having the dummy cells for each group are provided. It is also desirable that the above-described method be performed by providing a dummy sense amplifier connected to the dummy bit line.
[0100]
On the other hand, in the method for reducing power consumption of the storage means according to the present invention, on-bit data is stored in the dummy cell connected to the first dummy bit line among the two dummy bit lines. In addition, it is also desirable that the dummy cells connected to the second dummy bit line store off-bit data.
[0101]
Further, in the method for reducing power consumption of the storage means according to the present invention, when the bit information of the first and second dummy bit lines is read, the bits of the first and second dummy bit lines are read out. It is preferable to generate a sense amplifier operation stop signal for stopping the operation of the sense amplifiers connected to all the bit lines other than the dummy bit lines in response to the information read pattern.
[0102]
Further, in the power consumption reducing method of the storage unit according to the present invention, the sense amplifier operation stop signal is configured to stop the operation of the sense amplifier in synchronization with a clock signal for driving the storage unit. It is also preferable to do so.
[0103]
【The invention's effect】
Since the power consumption reduction device of the storage means and the power consumption reduction method of the storage means according to the present invention employ the technical configuration as described above, in a conventional ROM circuit, depending on the power supply voltage, There is a case where the magnitude of the read time is reversed between the on-bit and the off-bit. Therefore, if the sensing operation is terminated at the timing of the on-bit data read, there is a problem that the off-bit data cannot be read. However, according to the present invention, it is possible to set an appropriate sense time in a wide range of power supply voltages by detecting the sense end timing of both the ON bit and the OFF bit.
[0104]
In the present invention, a dummy cell column in which only on-bit data is written and a dummy cell column in which only off-bit data are written are arranged farthest from the word decoder requiring the longest access, and both data are stored in the dummy sense amplifier. In response to the read timing, a sense amplifier operation stop signal PD, which is a sense amplifier end detection signal, is generated.
[0105]
For this reason, the sensing operation can be completed earlier than before, and the sensing operation can always be completed after the data reading of all bits is completed even if the applied power supply voltage changes and the read time of the on-bit / off-bit is reversed.
[0106]
In other words, with such a configuration, the sensing operation can be completed after reading all the bits of data, regardless of the magnitude of the on / off bit data reading time depending on the power supply voltage, and the sensing operation time can be reduced.
[0107]
As a result, unnecessary sensing operation can be stopped, so that the power consumption required for the sense amplifier S / A can be reduced.
[0108]
Also, the bit lines are divided into a plurality of groups (columns), and a dummy cell column of on-bit data and a dummy cell column of off-bit are arranged for each column, and the same as described above is individually performed for each group (column). By performing the operation, the timing of the end of the sense operation of each S / A can be set for each column, so that the sense operation time can be appropriately set according to the different access time for each column. In a column having a short length, the sensing operation time can be further reduced.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a specific example of an apparatus for reducing power consumption of a storage unit according to the present invention.
FIG. 2 is a block diagram illustrating a dummy cell portion in a specific example of the power consumption reducing device of the storage means according to the present invention.
FIG. 3 is a timing chart illustrating a driving procedure of the power consumption reduction device of the storage unit according to the present invention.
FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration of another specific example of the power consumption reducing device of the storage unit according to the present invention.
FIG. 5 is a timing chart illustrating a driving procedure in another specific example of the device for reducing power consumption of a storage unit according to the present invention.
FIG. 6 is a block diagram illustrating a configuration example of a conventional power consumption reducing device for storage means.
FIG. 7 is a timing chart for explaining a driving procedure of a conventional power consumption reducing device for storage means.
[Explanation of symbols]
10 ... storage element
15, 15-1, 15-2 ... dummy cell
20-1, 20-2, ..., 20-n ... bit line group
100 ... power consumption reduction device for storage means
101 ... Sense amplifier
102 ... Dummy sense amplifier
104 ... Dummy selection means
105 ... cell row
106: dummy cell row
107 ... Sense amplifier operation stop signal output means

Claims (11)

ワード線、当該ワード線と直交するビット線、当該ワード線と当該ビット線との交差部のそれぞれに設けられている記憶素子、当該ワード線を駆動するワード線デコーダ、当該ビット線を駆動するビット線デコーダ、及び、センスアンプを介して、当該ビット線に所定の情報を書き込むか、当該ビット線から所定の情報を読み出すデータ書込み・読出し手段とから構成された記憶手段に於て、当該ワード線上で、且つ当該ワード線デコーダから最も遠い位置に設けられた2本のビット線にダミーセルをそれぞれ配置すると共に、当該ビット線デコーダの信号に基づいて、ダミーセンスアンプを介して読み出された当該各ダミーセルの情報に基づく出力パターンに応答して、その他のビット線に接続されているセンスアンプの稼働を停止させる様に構成され
当該ビット線デコーダにより選択された、当該ダミーセルが配置された2本のダミービット線の一方のダミービット線のダミーセルには、オンビットデータが書き込まれており、他方のダミービット線のダミーセルには、オフビットデータが書き込まれ、
当該オンビットデータが予め格納されているダミーセルの当該オンビットデータと当該オフビットデータが予め格納されているダミーセルの、当該オフビットデータの双方が読み出された場合に、当該ダミーセルが設けられている当該ビット線以外のビット線に接続されているセンスアンプを全て稼働停止の状態とするセンスアンプ稼働停止信号を出力する様に構成された事を特徴とする記憶手段の消費電力低減装置。
A word line, a bit line orthogonal to the word line, a storage element provided at each intersection of the word line and the bit line, a word line decoder for driving the word line, and a bit for driving the bit line In a storage means including a line decoder and a data write / read means for writing predetermined information to the bit line via a sense amplifier or reading predetermined information from the bit line, In addition, dummy cells are respectively arranged on two bit lines provided farthest from the word line decoder, and each of the dummy cells is read out via a dummy sense amplifier based on a signal of the bit line decoder. Stop operation of sense amplifiers connected to other bit lines in response to an output pattern based on information of the dummy cell Is configured,
On-bit data is written in the dummy cell of one of the two dummy bit lines, in which the dummy cell is arranged, selected by the bit line decoder, and the dummy cell of the other dummy bit line is written in the dummy cell of the other dummy bit line. , Off-bit data is written,
The dummy cell is provided when both the on-bit data of the dummy cell in which the on-bit data is stored in advance and the off-bit data of the dummy cell in which the off-bit data is stored in advance are read out. A sense amplifier operation stop signal for setting all sense amplifiers connected to bit lines other than the bit line to an operation stop state, and outputting a sense amplifier operation stop signal .
当該ダミーセルが配置されている当該ダミービット線は、当該ビット線デコーダ内に設けられているダミー選択手段を介して選択される様に構成されている事を特徴とする請求項1に記載の記憶手段の消費電力低減装置。2. The storage device according to claim 1, wherein the dummy bit line on which the dummy cell is arranged is configured to be selected via dummy selection means provided in the bit line decoder. Means power reduction device. 当該複数本のビット線を複数個のビット線グループに分割し、各ビット線グループに於ける当該ワード線デコーダから最も遠い位置に設けられた2本のビット線にダミーセルをそれぞれ配置すると共に、当該各ビット線グループ毎に、当該ダミー選択手段、当該ダミーセンスアンプが設けられている事を特徴とする請求項1又は2に記載の記憶手段の消費電力低減装置。The plurality of bit lines are divided into a plurality of bit line groups, and dummy cells are respectively arranged on two bit lines provided at positions farthest from the word line decoder in each bit line group. 3. The device according to claim 1, wherein the dummy selection unit and the dummy sense amplifier are provided for each bit line group. 当該センスアンプ稼働停止信号は、当該記憶手段を駆動するクロック信号と同期して当該センスアンプの稼働を停止する様に構成されている事を特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の記憶手段の消費電力低減装置。4. The sense amplifier according to claim 1, wherein the sense amplifier operation stop signal is configured to stop the operation of the sense amplifier in synchronization with a clock signal for driving the storage unit. Power consumption reduction device for storage means. ワード線、当該ワード線と直交するビット線、当該ワード線と当該ビット線との交差部のそれぞれに設けられている記憶素子、当該ワード線を駆動するワード線デコーダ、当該ビット線を駆動するビット線デコーダ、及び、センスアンプを介して、当該ビット線に所定の情報を書き込むか、当該ビット線から所定の情報を読み出すデータ書込み・読出し手段とから構成された記憶手段に於て、当該ワード線と交差する複数本のビット線の内、少なくとも2本のビット線をダミーセルが接続されたダミービット線となし、当該ダミービット線の情報の読み出し終了のタイミングを当該ダミービット線以外の全てのビット線の情報の読み出し操作が終了した後に設定する事を特徴とする記憶手段の消費電力低減方法。A word line, a bit line orthogonal to the word line, a storage element provided at each intersection of the word line and the bit line, a word line decoder for driving the word line, and a bit for driving the bit line In the storage means comprising a line decoder and data writing / reading means for writing predetermined information to the bit line via the sense amplifier or reading predetermined information from the bit line, the word line At least two of the plurality of bit lines intersecting with the dummy bit line are connected to the dummy cell, and the timing of ending the reading of the information of the dummy bit line is set to be equal to all the bits other than the dummy bit line. A method for reducing power consumption of a storage unit, wherein the setting is performed after a line information reading operation is completed. 当該ダミービット線に接続されている当該ダミーセルの情報を当該ダミービット線に接続されているダミーセンスアンプにより読みだす事を特徴とする請求項5記載の記憶手段の消費電力低減方法。6. The method according to claim 5, wherein information of the dummy cell connected to the dummy bit line is read by a dummy sense amplifier connected to the dummy bit line. 当該ダミービット線の情報の読み出し結果に応答して、当該ダミービット線以外の全てのビット線に接続されている当該センスアンプの稼働を停止させる事を特徴とする請求項5又は6記載の記憶手段の消費電力低減方法。7. The storage according to claim 5, wherein the operation of the sense amplifier connected to all the bit lines other than the dummy bit line is stopped in response to a read result of the information of the dummy bit line. Means to reduce power consumption. 当該複数本のビット線を、複数のグループに分割し、各グループ毎に当該ダミーセルを有する少なくとも2本のダミービット線及び当該ダミービット線に接続されたダミーセンスアンプが設けられている事を特徴とする請求項5乃至7の何れかに記載の記憶手段の消費電力低減方法。The plurality of bit lines are divided into a plurality of groups, and each group is provided with at least two dummy bit lines having the dummy cells and a dummy sense amplifier connected to the dummy bit lines. The method for reducing power consumption of a storage unit according to any one of claims 5 to 7. 当該2本のダミービット線の内、第1のダミービット線に接続されている当該ダミーセルには、オンビットデータを記憶せしめ、又第2のダミービット線に接Of the two dummy bit lines, the dummy cell connected to the first dummy bit line stores on-bit data, and the dummy cell connected to the second dummy bit line. 続されている当該ダミーセルには、オフビットデータを記憶せしめる事を特徴とする請求項5乃至8の何れかに記載の記憶手段の消費電力低減方法。9. The method according to claim 5, wherein off-bit data is stored in the connected dummy cells. 当該第1と第2のダミービット線のビット情報を読み出さすに際し、当該第1と第2のダミービット線のビット情報の読み出しパターンに応答して、当該ダミービット線以外の全てのビット線に接続されている当該センスアンプの稼働を停止させるセンスアンプ稼働停止信号を発生させる事を特徴とする請求項5乃至9の何れかに記載の記憶手段の消費電力低減方法。When reading the bit information of the first and second dummy bit lines, all bit lines other than the dummy bit line respond to the read pattern of the bit information of the first and second dummy bit lines. 10. The method according to claim 5, wherein a sense amplifier operation stop signal for stopping the operation of the connected sense amplifier is generated. 当該センスアンプ稼働停止信号は、当該記憶手段を駆動するクロック信号と同期して当該センスアンプの稼働を停止する様に構成されている事を特徴とする請求項5乃至10の何れかに記載の記憶手段の消費電力低減方法。11. The sense amplifier according to claim 5, wherein the sense amplifier operation stop signal is configured to stop the operation of the sense amplifier in synchronization with a clock signal for driving the storage unit. A method for reducing power consumption of storage means.
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