JP3516594B2 - 光ファイバセンサ - Google Patents
光ファイバセンサInfo
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- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Optical Transform (AREA)
- Electrostatic, Electromagnetic, Magneto- Strictive, And Variable-Resistance Transducers (AREA)
Description
計測するための光ファイバセンサに関するものであり、
特に直流信号を計測する光ファイバセンサに関する。
は圧電(piezo)型センサが用いられていた。一方、ハ
イドロホン(音響センサ)や地震計(加速度センサ)な
どには光ファイバセンサが用いられている。これらの光
ファイバセンサの変復調方法としては、特開平7−14
0044号に開示されるように、正弦波形に周波数変調
したレーザ光を光ファイバ干渉計へ入力し(以後PGC
ホモダイン方式と呼ぶ)、干渉光からレーザ変調周波数
の1次と2次高調波成分との振幅比を求め、振幅比の逆
正接から位相差を算出するatan法などが使用されてい
る。
光ファイバセンサは干渉計が測定信号を受けたときの干
渉計の光路差の最大変化量、すなわち光路差振動の振幅
を測定するものであるため相対的な変化量を求めること
はできるが、絶対的な値を求めることはできなかった。
このため、深度や温度などの絶対的な値を求める計測に
も光ファイバセンサを用いたいという要望があるもの
の、実現されていなかった。
光を出力する光源と、光源から出力されるレーザ光が入
力される光ファイバ干渉計と、光ファイバ干渉計の出力
をO/E変換により電気信号に変えるO/E変換手段
と、O/E変換手段から出力される電気信号から2つ以
上の高調波成分を抽出する高調波成分抽出手段と、高調
波成分抽出手段から出力される高調波成分同士の振幅比
を算出する振幅比算出手段と、振幅比算出手段から出力
される振幅比より光ファイバ干渉計の光路差を算出する
光路差算出手段とを備える。
Cホモダイン方式の周波数変調を加えたレーザ光を出力
する光源11−1と、光源11−1から光信号が入力さ
れるセンサ部12と、センサ部12から光信号が入力さ
れるO/E変換器13と、O/E変換器13から電気信
号が入力されるレーザ変調周波数のm(m:正の整数)
次の高調波成分を抽出する高調波成分抽出手段15と、
高調波成分抽出手段15から出力される高調波成分同士
の振幅比を算出する振幅比算出手段17と、振幅比算出
手段17から出力される振幅比より変調指数Cを算出す
る変調指数算出手段18と、変調指数算出手段18から
出力される変調指数Cより光路差DLを算出する光路差算
出手段19とから構成される。
=w0/2p、最大周波数偏移fcに周波数変調したレーザ光が
出力される。光源11−1から出力されるレーザ光を光
路差ΔLであるセンサ部12に入力すると(1)式で表わ
される干渉光Iが出力される。
の光速度、f:センサ部12の内部に存在するセンシン
グアームとリファレンスアームとの間の位相差、AとBは
レーザ光の振幅等に依存する定数である。第2項の余弦
部分に第1種ベッセル関数を用いると(1)式は(3)式で
表わすことができる。
型等の2ビーム干渉計で構成されているものとする。
出力された干渉光Iを電気信号に変換する。
器13から出力された電気信号よりレーザ変調周波数の
1次高調波成分および3次高調波成分を抽出する。高調
波成分抽出手段15はDFTやatan法で用いられる同期検
波によるアナログ処理等の公知の手段で構成される。高
調波成分の抽出により、(4) 式で表わされるm次高調波
成分の振幅Zmが求められる。
出力された1次高調波成分の振幅Z1と3次高調波成分の
振幅Z3との振幅比X1,3を(5)式に基づき算出する。
調波同士あるいはcosfを含む偶数次高調波同士の振幅比
を算出しても同等の結果が得られる。ただし、より高次
のベッセル関数を使用する場合、感度やダイナミックレ
ンジ等は悪化することになる。
段17から出力される振幅比X1,3より変調指数Cを算出
する。変調指数Cの算出は公知の方法により行い、例え
ば(5) 式の逆関数に相当する変換関数あるいは変換テー
ブルにより変調指数Cが算出される。
手段18から出力される変調指数Cより、(2) 式を用い
て光路差DL = Cc /2pfcnを算出する。
応用する場合には、P(水圧から生じるセンサ加重圧
力)=s(比例係数)×Y(変位)により、光路差DLは
変位Yの関数であることを利用して既知の比例係数(セ
ンシング機構部分のスティフネス)より加重圧力Pを算
出し、深度を求めることができる。
サによれば、温度ドリフト項である位相差φに依存しな
い光路差DLを求めることができるため、温度ドリフトに
影響されない温度や深度などの直流信号を精度良く計測
することができる。
ことができるため、無電源でシステムを構成でき、設置
場所を問わないという光ファイバセンサ特有の効果を持
つことが可能になる。また、多重化にも優れたセンサと
なる。
す。具体例1と同じ構成には同じ符号を付して説明を省
略する。PGC用周波数変調に加えて、さらにD=2pfp-c
nDL/c>p/2である包落線検波用のパイロット信号(変調
周波数fp-0 < DFT周波数分解能、周波数偏移fp-c)
で周波数変調されたレーザ光を出力する光源11−2
と、高調波成分抽出手段15から出力された高調波成分
を周期1/2fp-0の間蓄積し、高調波成分の最大値を出力
する包落線検波手段16から構成される。
ザ光の電場ベクトルe(t)は、パイロット信号用の周波数
変調がさらに加わっているため(6)式で表わされる。
るセンサ部12に入力した際に得られる干渉光Iは(7)
式で表わされる。
ると、干渉光Iは(8)式で表わすことができる。
mは(9)式で表わされる。
信号より、高調波成分抽出手段15では、 レーザ変調
周波数の1次高調波成分および2次高調波成分を抽出す
る。
段15から出力された1次高調波成分および2次高調波
成分をそれぞれパイロット信号の1周期1/2fp-0の間蓄
積し、それぞれの最大値を出力する。このことにより、
(9)式のsin(Dcoswp-0t+f)およびcos(Dcoswp-0t+f)の項
は1となるので(10)式で表わすことができる。
波成分の最大値同士の振幅比Xを算出する。
調波成分との振幅比X12は、 (5)式よりX12=J1(C)/J
2(C)となる。
る。
サによれば、具体例1と同様に温度ドリフト項である位
相差φに依存しない光路差DLを求めることができるた
め、温度ドリフトに影響されない温度や深度などの直流
信号を精度良く計測することができる。
けないという利点を持つため、特別な処理を行わなくと
も常に安定した感度で測定を行うことができるという効
果を奏する。
す。具体例1または具体例2と同じ構成には同じ符号を
付して説明を省略する。
種ベッセル関数で展開すると、干渉光Iの高調波成分Iは
(12)式で表わすことができる。
p-0に対する高調波の次数。そこで、k+lが奇数であると
きの高調波成分同士あるいはk+lが偶数であるときの高
調波成分同士の振幅比をとる。例えば、(k,l)=(1,0)の
変調周波数f0と(k,l)=(2,1)の変調周波数2f0-fp-0の成
分間で振幅比をとれば Z(1,0)/Z(2,1)=J1(C)/J2(C)・J0(D)/J1(D) (13) となる。ここで、D=fp-c/fc×C=aC(0<a<1)という既知
の関係をもつので、この振幅比から適当な変換関数ある
いは変換テーブルを用いて変調指数Cを算出し、(2)式
より直流的な光路差DLに換算する。
サによれば、fp-c/fc=a (0<a<1)を選択することにより
各高調波成分の変調指数Cによる応答を調整することが
できる。変調指数Cによる応答を調整することができる
ため、センサ感度および干渉計の光路差設定における自
由度が増すという効果を奏する。
す。具体例1または具体例2または具体例3と同じ構成
には同じ符号を付して説明を省略する。
力する2つの光源11−3および光源11−4と、光源
11−3および光源11−4から出力される光信号を多
重化する合波カプラ41と、合波カプラ41から出力さ
れる光信号が入力されるセンサ部12と、センサ部12
から出力される光信号を分波する分波カプラ42と、分
波カプラ42から出力される光信号をO/E変換するO
/E変換器13と、O/E変換器13から電気信号が入
力されるレーザ変調周波数のm(m:正の整数)次の高
調波成分を抽出する高調波成分抽出手段15と、高調波
成分抽出手段15から出力される高調波成分同士の振幅
比を算出する振幅比算出手段17と、振幅比算出手段1
7から出力される振幅比より変調指数Cを算出する変調
指数算出手段18と、変調指数算出手段18から出力さ
れる変調指数Cより光路差DLを算出する光路差算出手段
19とから構成される。ここで、分波カプラ42から出
力される光信号は2つに分かれるため、O/E変換器1
3から光路差算出手段19を1セットとして、各光信号
に対して1セットずつ備え、光路差DLをそれぞれ算出す
る。
1−4からはそれぞれ周波数偏移の異なるレーザ光が出
力される。光源11−3および光源11−4から出力さ
れた光信号は合波カプラ41により多重化されてセンサ
部12に入力し、分波カプラ42により異なる周波数偏
移の光信号に分波される。分波された光信号はそれぞれ
O/E変換器13に入力され、光路差を算出する。
数)のときにsinf成分あるいはcosf成分のどちらかがゼ
ロとなり、測定不能となるフェーディング現象が生じて
しまう。各次の第1種ベッセル関数は図6のような振る
舞いをするので、あらかじめ周波数偏移(∝変調指数
C)を一定倍した光源を多重化しておくと、sinf成分かc
osf成分のどちらかでは必ず復調が可能となる。高調波
成分抽出手段15では、1次から6次の高調波成分を抽
出する。振幅比算出手段17では、高調波成分抽出手段
15から出力された1次から6次の高調波成分の中から
信号量の大きい奇数次の高調波成分同士あるいは偶数次
の高調波成分同士の振幅比を算出する。前述の通り各高
調波成分の振幅はそれぞれベッセル関数で与えられお
り、各次の第1種ベッセル関数は図6に示されるような
振る舞いをする。ベッセル関数Jの値が小さいところで
はS/N比が悪く、十分な精度が得られない。信号量の
大きい範囲、つまりベッセル関数Jの値が十分大きな範
囲は図6に示す通り、1次/3次では変調指数C≒3、2
次/4次では変調指数C≒4、3次/5次では変調指数C
≒5.5付近であり、変調指数Cが1程度の測定範囲とな
る。よって、これらの高調波成分のうちベッセル関数J
の値が大きいものを抽出して変調指数Cを算出する処理
を施すことにより、広範囲にわたって連続的で高精度な
変調指数Cを求めることができ、よって光路差DLを高精
度に測定することができる。
の多重化システムについて説明したが、これを3光源以
上に増やしても同様の効果が得られる。このとき、光源
間のクロストークやドリフト項の差違が十分小さい場合
には、2光源システム以上の効果が期待できる。
が、時分割などの他の多重化法に置き換えても同様の効
果が得られる。
段19を1セットとして、各光信号に対してそれぞれ1
セットずつ備えることとしたが、分波カプラ42によっ
て分波された一方の光信号を遅延させることで、1セッ
トを共有させる構成とすることもできる。
サによれば、光源を多重化することにより、常にsinf成
分かcosf成分のどちらかで復調が可能となるため、フェ
ーディングの発生を避けることができ、測定範囲が向上
するという効果を奏する。また、信号量の大きい奇数次
の高調波成分を用いて振幅比を算出することにより、広
範囲にわたって連続的で高精度な変調指数Cを求めるこ
とができ、よって光路差DLを高精度に測定することがで
きるという効果を奏する。
る。
る。
る。
る。
る。
Claims (5)
- 【請求項1】 周波数変調されたレーザ光を出力する光
源と、 前記光源から出力されるレーザ光が入力される光ファイ
バ干渉計と、 前記光ファイバ干渉計の出力をO/E変換により電気信
号に変えるO/E変換手段と、 前記O/E変換手段から出力される電気信号から2つ以
上の高調波成分を抽出する高調波成分抽出手段と、 前記高調波成分抽出手段から出力される高調波成分同士
の振幅比を算出する振幅比算出手段と、 前記振幅比算出手段から出力される振幅比より前記光フ
ァイバ干渉計の光路差を算出する光路差算出手段と、 を備えることを特徴とする光ファイバセンサ。 - 【請求項2】 前記光源は、正弦波状に周波数変調され
たレーザ光を出力し、 前記高調波成分抽出手段は、前記O/E変換手段から出
力される電気信号から2つ以上の奇数次(または偶数
次)の高調波成分を抽出することを特徴とする請求項1
に記載の光ファイバセンサ。 - 【請求項3】 前記光源は、2つ以上の異なる周波数で
周波数変調されたレーザ光を出力し、 前記高調波成分抽出手段から出力される各高調波成分を
周期1/2fp-0の間蓄積して各高調波成分の最大値を出力
する最大値検出手段と、を備え 前記振幅比算出手段は、前記最大値検出手段から出力さ
れる各高調波成分の最大値同士の振幅比を算出すること
を特徴とする請求項1に記載の光ファイバセンサ。 - 【請求項4】 前記高調波成分抽出手段は、前記O/E
変換手段から出力される電気信号から2周波の変調周波
数の組み合わせで形成される2つ以上の高調波成分を抽
出することを特徴とする請求項1に記載の光ファイバセ
ンサ。 - 【請求項5】 前記光源は、それぞれ周波数偏移の異な
るレーザ光を出力する複数の光源であり、 前記複数の光源を多重化する多重化手段と、 前記光ファイバ干渉計の出力を分波する分波手段と、を
備え前記O/E変換手段は、前記分波手段により分波さ
れる各出力をそれぞれO/E変換により電気信号に変え
る複数のO/E変換手段であり、 前記高調波成分抽出手段は、前記複数のO/E変換手段
から出力される各電気信号からそれぞれ2つ以上の高調
波成分を抽出する複数の高調波成分抽出手段であり、 前記振幅比算出手段は、前記複数の高調波成分抽出手段
から出力される各高調波成分同士の振幅比をそれぞれ算
出する複数の振幅比算出手段であり、 前記光路差算出手段は、前記複数の振幅比算出手段から
出力される各振幅比より前記光ファイバ干渉計の光路差
をそれぞれ算出する複数の光路差算出手段であることを
特徴とする請求項1に記載の光ファイバセンサ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28522498A JP3516594B2 (ja) | 1998-10-07 | 1998-10-07 | 光ファイバセンサ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28522498A JP3516594B2 (ja) | 1998-10-07 | 1998-10-07 | 光ファイバセンサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000111361A JP2000111361A (ja) | 2000-04-18 |
JP3516594B2 true JP3516594B2 (ja) | 2004-04-05 |
Family
ID=17688720
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28522498A Expired - Fee Related JP3516594B2 (ja) | 1998-10-07 | 1998-10-07 | 光ファイバセンサ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3516594B2 (ja) |
-
1998
- 1998-10-07 JP JP28522498A patent/JP3516594B2/ja not_active Expired - Fee Related
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