JP3509314B2 - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

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JP3509314B2
JP3509314B2 JP19016295A JP19016295A JP3509314B2 JP 3509314 B2 JP3509314 B2 JP 3509314B2 JP 19016295 A JP19016295 A JP 19016295A JP 19016295 A JP19016295 A JP 19016295A JP 3509314 B2 JP3509314 B2 JP 3509314B2
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light source
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竜也 樋渡
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Panasonic Holdings Corp
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光素子、光ディスク等
への情報の記録又は再生を行う光ピックアップに関する
ものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup for recording or reproducing information on an optical element, an optical disc or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】以下従来の光ピックアップの構成につい
て図12及び図13を参照しながら説明する。図12は
従来の光ピックアップのLDブロックの上面図で、図1
3は従来の光ピックアップのLDブロックの側面図であ
るある。501は光源で、光源501は所定の波長の光
を外部に射出するもので、ここでは半導体レーザを使用
している。502はサブマウントで光源501を保持す
るとともに、光源501で発生する熱を外部に逃す働き
を有している。光源501とサブマウント502とはそ
の接続面で半田付け等で接合させてある。503はブロ
ックで、ブロック503はサブマウント502をその上
面に載置するとともに、サブマウント502から伝導で
伝わってきた熱を更に外部に逃がす働きを有している。
504は光源501への電源供給用に光源501の上面
にボンディングされているワイヤで、505は同じく電
極面502aにボンディングされているワイヤである。
この様な構成を有する光源501、サブマウント502
及びブロック503を組み立てたもの(以下LDブロッ
クと称す)において光源501の検査を行う際には、電
力を供給する検電プローブを電極面502a及び光源5
01の上面に当てて、光源501から出射される光の波
長や強度などを検査していた。
2. Description of the Related Art The structure of a conventional optical pickup will be described below with reference to FIGS. FIG. 12 is a top view of an LD block of a conventional optical pickup.
3 is a side view of an LD block of a conventional optical pickup. Reference numeral 501 denotes a light source, and the light source 501 emits light having a predetermined wavelength to the outside. Here, a semiconductor laser is used. A submount 502 holds the light source 501 and has a function of releasing heat generated by the light source 501 to the outside. The light source 501 and the submount 502 are joined by soldering or the like at their connecting surfaces. Reference numeral 503 denotes a block, and the block 503 has a function of placing the submount 502 on the upper surface thereof and further releasing the heat conducted by conduction from the submount 502 to the outside.
Reference numeral 504 is a wire bonded to the upper surface of the light source 501 for supplying power to the light source 501, and 505 is a wire also bonded to the electrode surface 502a.
The light source 501 and the submount 502 having such a configuration
When inspecting the light source 501 in an assembly of the block 503 (hereinafter referred to as an LD block), a detection probe for supplying electric power is used as the electrode surface 502a and the light source 5.
The light emitted from the light source 501 was inspected for its wavelength, intensity, etc. by hitting it on the upper surface of 01.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の構成では、光源501の上面の面積が非常に小さい
ので検電プローブを光源501の上面に接続させること
が難しいと言った問題や、検電プローブを光源501の
上面に接続させた際に光源501にボンディングされて
いるワイヤを破損したり、検電プローブによって光源5
01自体が破壊されるという問題点を有していた。
However, in the above-mentioned conventional structure, since the area of the upper surface of the light source 501 is very small, it is difficult to connect the detection probe to the upper surface of the light source 501. When the probe is connected to the upper surface of the light source 501, the wire bonded to the light source 501 may be damaged, or the light source 5 may be broken by the detection probe.
There was a problem that 01 itself was destroyed.

【0004】本発明は上記課題を解決するもので、光ピ
ックアップの光源に用いる半導体レーザーを容易に検査
できるようにすることを目的としている。
The present invention is intended to solve the above problems, and an object thereof is to make it possible to easily inspect a semiconductor laser used as a light source of an optical pickup.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、光源と、光源を載置するサブマウントと、サブマウ
ントを載置するブロックと、光源から照射された光の入
射方向に対して傾斜した複数の傾斜面を有し、光源から
の光を複数の傾斜面で反射させて光媒体に導くととも
に、光媒体から反射してきた光を所定の位置に導き、ブ
ロックと接合された光ガイド部材と、サブマウントの光
源と対向する面に設けられた複数の電極とを備え、電極
のうち第一の電極に光源を載置して光源の端面と第一の
電極とを電気的に接続させ、かつ電極のうちの第二の電
極と光源の端面と反対の端面をワイヤボンディングで電
気的に接続させ、複数の電極はサブマウントの光源の載
置面となる面のほぼ全面に電極膜を形成し、電極膜にエ
ッチングかダイシングソーの切り込みによって溝部を設
けることで形成した
To achieve this object, a light source, a submount on which the light source is mounted, and a submount.
A block for mounting a light source, and a plurality of inclined surfaces that are inclined with respect to the incident direction of the light emitted from the light source, and reflect the light from the light source on the plurality of inclined surfaces to guide it to the optical medium. -out guide the light reflected from the medium to a predetermined position, blanking
A light guide member joined to the lock, and a plurality of electrodes provided on the surface of the submount that faces the light source. The light source is placed on the first electrode of the electrodes and the end surface of the light source and the first electrode. The electrodes are electrically connected, and the second electrode of the electrodes and the end surface opposite to the end surface of the light source are electrically connected by wire bonding.
The electrode film is formed on almost the entire surface to be the mounting surface, and the electrode film is
The groove is made by cutting or cutting with a dicing saw.
It was formed by kicking .

【0006】[0006]

【作用】この構成により、光源検査用の検査プローブを
容易に導通させることができるとともに光源及び光源用
の電源線を破損する可能性を低減することができる。
With this structure, the inspection probe for inspecting the light source can be easily conducted, and the possibility of damaging the light source and the power source line for the light source can be reduced.

【0007】[0007]

【実施例】以下本発明の一実施例の第一の光ピックアッ
プのパッケージングについて図を参照しながら説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The packaging of a first optical pickup according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0008】図1及び図2はともに本発明の一実施例に
おける光ピックアップのパッケージングの構成を示す断
面図である。
1 and 2 are sectional views showing a packaging structure of an optical pickup according to an embodiment of the present invention.

【0009】1は光源で、光源1としては半導体レー
ザ,He−Ne等のガスレーザ等の各種レーザが考えら
れる。ここではこれらの中で最も小型で装置全体を小型
化でき、しかも単価の安い数mW〜数十mW程度の出力
を有する半導体レーザを用いる事が好ましい。半導体レ
ーザの材質としてはAlGaAs,InGaAsP,I
nGaAlP,ZnSe,GaN等が考えられ、ここで
は最も一般的に用いられており、安価なAlGaAsを
用いた。さらに高密度記録を行う場合には記録媒体上で
のスポット径をより小さくすることができ、AlGaA
sよりもさらに波長の短いInGaAlPやZnSe等
の半導体レーザを用いることが好ましい。
Reference numeral 1 denotes a light source. As the light source 1, various lasers such as a semiconductor laser and a gas laser such as He-Ne can be considered. Here, it is preferable to use a semiconductor laser which is the smallest in size among them and can be downsized as a whole, and which has a low output of several mW to several tens of mW. The material of the semiconductor laser is AlGaAs, InGaAsP, I
nGaAlP, ZnSe, GaN, etc. are considered, and the most commonly used and cheap AlGaAs is used here. When performing high-density recording, the spot diameter on the recording medium can be made smaller.
It is preferable to use a semiconductor laser such as InGaAlP or ZnSe having a wavelength shorter than s.

【0010】2はサブマウントで、サブマウント2はそ
の形状が直方体状若しくは板形状で、その上面には光源
1が取り付けられている。このサブマウント2は光源1
を載置するとともに、光源1で発生した熱を逃がす働き
を有している。サブマウント2と光源1との接合には熱
伝導率等を考慮するとAu−Sn,Sn−Pb,In等
の箔(厚さ数μm〜数十μm)を高温で圧着する方法を
用いることが好ましい。また光源1とサブマウント2は
略水平に取り付けなければ光学系の収差の原因になる。
従って接合の際には光源1はサブマウント2に所定の位
置に所定の高さで略水平にマウントされることが好まし
い。さらにサブマウント2の上面には光源1の下面と電
気的に接続するように電極面2aが設けられている。こ
の電極面2aについて図3及び図4を用いて説明する。
図3は本発明の一実施例における光源周辺の上面図で、
図4は本発明の一実施例における光源周辺の側面図であ
る。電極面2aは光源1に電源を供給するもので、サブ
マウント2の上面に広く設けられている。さらに電極面
2aは溝部2dを介して、電位の異なる第一の電極面2
bと第二の電極面2cとに分割されており、第一の電極
面2bと第二の電極面2cのどちらか片方の面上に光源
1がその底面を電気的に接続させた状態で載置してあ
り、光源1の他方の面は、光源1が載置されていない側
の電極面と電気的に接続している。例えば仮に光源1が
第一の電極面2b上に載置されているとすると、光源1
の底面は第一の電極面2bと接続しており、更に光源1
の上面は第二の電極面2cと電気的に接続している。こ
こで光源1の上面と第二の電極面2cとの電気的接続に
はワイヤボンディングを用いることが好ましい。また溝
部2dの形成方法としてはエッチングにより形成する方
法やダイジングソーによる方法等が考えられる。
Reference numeral 2 denotes a submount, and the submount 2 has a rectangular parallelepiped shape or a plate shape, and the light source 1 is attached to the upper surface thereof. This submount 2 is a light source 1
And has a function of releasing heat generated by the light source 1. In consideration of thermal conductivity and the like, a method of press-bonding a foil (thickness of several μm to several tens of μm) of Au—Sn, Sn—Pb, In or the like at high temperature is used for joining the submount 2 and the light source 1. preferable. If the light source 1 and the submount 2 are not mounted substantially horizontally, they will cause aberrations of the optical system.
Therefore, at the time of joining, it is preferable that the light source 1 is mounted on the submount 2 at a predetermined position and at a predetermined height substantially horizontally. Further, an electrode surface 2a is provided on the upper surface of the submount 2 so as to be electrically connected to the lower surface of the light source 1. The electrode surface 2a will be described with reference to FIGS. 3 and 4.
FIG. 3 is a top view of the vicinity of the light source in one embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a side view of the vicinity of the light source in one embodiment of the present invention. The electrode surface 2a supplies power to the light source 1, and is widely provided on the upper surface of the submount 2. Further, the electrode surface 2a is connected to the first electrode surface 2 having a different potential via the groove 2d.
b and the second electrode surface 2c, and the light source 1 has its bottom surface electrically connected to either one of the first electrode surface 2b and the second electrode surface 2c. The light source 1 is mounted and the other surface of the light source 1 is electrically connected to the electrode surface on the side where the light source 1 is not mounted. For example, if the light source 1 is placed on the first electrode surface 2b, the light source 1
Is connected to the first electrode surface 2b, and the light source 1
Is electrically connected to the second electrode surface 2c. Here, wire bonding is preferably used for electrical connection between the upper surface of the light source 1 and the second electrode surface 2c. As a method of forming the groove 2d, a method of forming by etching, a method of using a dicing saw, or the like can be considered.

【0011】まずエッチングを用いる方法について説明
する。材質、厚さともサブマウント2と同様であって、
複数のサブマウントを切り出すことが可能なサブマウン
ト基板上の片方の面に電極面2aとなるTi膜,Pt
膜,Au膜を全面に順に形成する。次に形成したい電極
面2aの形状に合わせて加工されたマスクをサブマウン
ト2の上面に載置してエッチングする。これにより第一
の電極面2b,第二の電極面2c及び溝部2dを有し、
所定の形状をした電極面2aが形成される。このときの
エッチングの種類としてはドライエッチングでもウェッ
トエッチングでもどちらでも構わない。そしてこのサブ
マウント基板を所定の形状に切断することにより、所定
の形状の電極面2aを有するサブマウント2が完成す
る。
First, a method using etching will be described. The material and thickness are the same as the submount 2,
On one surface of the submount substrate capable of cutting out a plurality of submounts, a Ti film to be the electrode surface 2a, Pt
A film and an Au film are sequentially formed on the entire surface. Next, a mask processed according to the shape of the electrode surface 2a to be formed is placed on the upper surface of the submount 2 and etched. As a result, the first electrode surface 2b, the second electrode surface 2c and the groove portion 2d are provided,
The electrode surface 2a having a predetermined shape is formed. The type of etching at this time may be either dry etching or wet etching. Then, by cutting the submount substrate into a predetermined shape, the submount 2 having the electrode surface 2a having a predetermined shape is completed.

【0012】またダイシングソーを用いる場合には、エ
ッチングの場合と同様に、サブマウント基板のほぼ全面
に電極面2aとなるTi膜,Pt膜,Au膜を順に成膜
し、その後サブマウント基板の電極面2a側にダイジン
グソーで加工して切れ込みを入れて、この切れ込みを溝
部2dとして電極面2aを形成する。
When a dicing saw is used, as in the case of etching, a Ti film, a Pt film, and an Au film, which will be the electrode surface 2a, are sequentially formed on almost the entire surface of the submount substrate, and then the submount substrate is formed. The electrode surface 2a side is processed with a dicing saw to make a notch, and the notch is used as a groove 2d to form the electrode surface 2a.

【0013】なお特に光源1とサブマウント2との間の
接合を半田を用いて行う際には、半田の漏れ性と半田の
付着力を改善するためにサブマウント2の上面に形成さ
れる電極面2aを構成する膜としてTi膜,Ni膜,A
u膜やNi膜,Au膜を用いることが好ましい。
In particular, when joining the light source 1 and the submount 2 with solder, an electrode formed on the upper surface of the submount 2 in order to improve the leakability of the solder and the adhesive force of the solder. Ti film, Ni film, A as a film forming the surface 2a
It is preferable to use a u film, a Ni film, or an Au film.

【0014】次にこの様に構成されたサブマウント2上
に載置された光源1の検査方法について説明する。光源
1には半導体レーザが主に用いられているが、これは良
品率が比較的低いので、組立時に検査をする必要があ
る。検査に際してはサブマウント2の上面に設けられた
電極面2aの第一の電極面2b及び第二の電極面2cに
検査用の検電プローブを接続させて、光源1に電圧を印
可して、光源1を発光させて、出射光の波長、拡がり角
及び電流・光強度の特性を測定している。なお波長の測
定に際しては光スペクトラムアナライザーを用い、光の
強度の測定にはパワーメータを用いている。
Next, a method of inspecting the light source 1 mounted on the submount 2 thus constructed will be described. A semiconductor laser is mainly used for the light source 1. However, since the non-defective product ratio is relatively low, it is necessary to inspect at the time of assembly. At the time of inspection, a voltage detection probe is connected to the first electrode surface 2b and the second electrode surface 2c of the electrode surface 2a provided on the upper surface of the submount 2, and a voltage is applied to the light source 1, The light source 1 is caused to emit light, and the characteristics of the wavelength, divergence angle, and current / light intensity of the emitted light are measured. An optical spectrum analyzer is used to measure the wavelength, and a power meter is used to measure the light intensity.

【0015】以上のような構成を有するサブマウント2
では光源1の検査を行う際に、検電プローブをサブマウ
ント2の上面に広く設けられている第一の電極面2bと
第二の電極面2cに接続させて検査すればよい。即ち従
来のように検電プローブを光源1の上面に接続させる必
要がないので、検査が簡単で光源を破損する可能性の少
ない構成となっている。
Submount 2 having the above structure
Then, when the light source 1 is to be inspected, the electric detection probe may be connected to the first electrode surface 2b and the second electrode surface 2c widely provided on the upper surface of the submount 2 for inspection. That is, unlike the conventional case, it is not necessary to connect the detection probe to the upper surface of the light source 1, so that the inspection is easy and the light source is less likely to be damaged.

【0016】更にサブマウント2は、光源1で発生する
熱や光源1との取付等の問題から、熱伝導性が高く、か
つ、線膨張係数が光源1のそれ(約6.5×10-6
℃)に近い材質が好ましい。具体的には線膨張係数が3
〜10×10-6/℃で、熱伝導率が100w/mK以上
である物質、例えばAlN,SiC,T−cBN,Cu
/W,Cu/Mo,Si等を、特に高出力のレーザを用
いる場合で熱伝導率を非常に大きくしなければならない
ときにはダイアモンド等を用いることが好ましい。光源
1とサブマウント2の線膨張係数が同じか近い数値とな
るようにした場合、光源1とサブマウント2の間の歪み
の発生を抑制することができるので、光源1とサブマウ
ント2との取付部分が外れたり、光源1にクラックが入
る等の不都合を防止することができる。しかしながら本
範囲を外れた場合には、光源1とサブマウント2の間に
大きな歪みが生じてしまい、光源1とサブマウント2と
の取付部分が外れたり、光源1にクラック等を生じる可
能性が高くなる。またサブマウント2の熱伝導率をでき
るだけ大きく取ることにより、光源1で発生する熱を効
率よく外部に逃がすことができる。しかしながら熱伝導
率が本限定以下の場合には、光源1で発生した熱が外部
に逃げ難くなるため、光源1の温度が上昇し、光源1の
出力が低下したり、光源1の寿命が短くなったり、最悪
の場合には光源1が破壊されてしまう等の不都合が発生
しやすくなる。本実施例では比較的安価で、これらの2
つの特性のどちらにも非常に優れたAlNを用いた。
Furthermore submount 2, the mounting problems such as heat and light source 1 for generating at the light source 1, the thermal conductivity is high and it linear expansion coefficient of the light source 1 (about 6.5 × 10 - 6 /
A material close to ℃) is preferable. Specifically, the linear expansion coefficient is 3
A substance having a thermal conductivity of 100 w / mK or more at 10 × 10 −6 / ° C., such as AlN, SiC, T-cBN, Cu
It is preferable to use / W, Cu / Mo, Si or the like, and particularly diamond or the like when a high output laser is used and the thermal conductivity must be extremely high. When the linear expansion coefficients of the light source 1 and the submount 2 are set to be the same or close to each other, it is possible to suppress the occurrence of distortion between the light source 1 and the submount 2, so that It is possible to prevent inconveniences such as detachment of the mounting portion and cracking of the light source 1. However, if it is out of this range, a large distortion may occur between the light source 1 and the submount 2, and the mounting portion between the light source 1 and the submount 2 may come off, or the light source 1 may be cracked or the like. Get higher Further, by taking the thermal conductivity of the submount 2 as large as possible, the heat generated in the light source 1 can be efficiently released to the outside. However, when the thermal conductivity is less than or equal to this limit, the heat generated in the light source 1 becomes difficult to escape to the outside, so that the temperature of the light source 1 rises, the output of the light source 1 decreases, and the life of the light source 1 shortens. In some cases, inconveniences such as destruction of the light source 1 in the worst case may occur. In this embodiment, it is relatively inexpensive and these two
AlN, which is very excellent in both of the two characteristics, was used.

【0017】3はブロックで、ブロック3は基本的には
直方体形状でその側面に大きな突起部3aを有してお
り、上面にはサブマウント2が取り付けられている。こ
のブロック3もまたサブマウント2と同様に、光源1で
発生する熱やサブマウント2との取付等の問題から、熱
伝導性が高く、かつ、線膨張係数がサブマウント2に近
い材質、例えばサブマウント2の材質例で示したもの以
外にMo,Cu,Fe,コバール,42アロイ等を用い
ることが好ましい。しかしながらこれらの特性値の要求
はサブマウント2に比べるとそれほど厳しくはないの
で、コストを重視して選択する方が好ましい。ここでは
AlNに比べて非常に安価で、これらの特性に比較的優
れたCu,Mo等の材料でブロック3を形成した。また
ブロック3とサブマウント2との接合には熱伝導率等を
考慮すると、やはりサブマウント2と光源1の場合と同
様に、多少高価ではあるがAu−Sn,Sn−Pb,I
n等の箔(厚さ数μm〜数十μm)を高温で圧着するこ
とが好ましい。
Reference numeral 3 denotes a block. The block 3 is basically rectangular parallelepiped and has a large protrusion 3a on its side surface, and the submount 2 is attached to the upper surface thereof. Similar to the submount 2, this block 3 also has a high thermal conductivity and a linear expansion coefficient close to that of the submount 2 due to problems such as heat generated in the light source 1 and attachment to the submount 2, for example, It is preferable to use Mo, Cu, Fe, Kovar, 42 alloy, or the like other than those shown in the material examples of the submount 2. However, since the requirements for these characteristic values are not so strict as compared with the submount 2, it is preferable to select them in consideration of cost. Here, the block 3 is formed of a material such as Cu or Mo which is much cheaper than AlN and is relatively excellent in these characteristics. Further, in consideration of thermal conductivity and the like in joining the block 3 and the submount 2, Au-Sn, Sn-Pb, I, although slightly expensive, is also used, as in the case of the submount 2 and the light source 1.
It is preferable to press-bond a foil such as n (thickness several μm to several tens μm) at high temperature.

【0018】4は放熱板で、放熱板4は、光源1で発生
し、伝導によりサブマウント2,ブロック3を通って伝
わってきた熱を外部に放出する働きを有するとともに、
光ピックアップを形成する種々の部材が載置され、パッ
ケージングの基板となるものである。ブロック3はロウ
付け,半田箔等により放熱板4の上面に固定される。放
熱板4の材質としては、熱伝導性が高いCu,Al,F
e等が考えられる。
Reference numeral 4 denotes a heat radiating plate. The heat radiating plate 4 has a function of releasing heat generated by the light source 1 and transmitted through the submount 2 and the block 3 to the outside.
Various members forming an optical pickup are placed and serve as a packaging substrate. The block 3 is fixed to the upper surface of the heat dissipation plate 4 by brazing, solder foil or the like. As the material of the heat dissipation plate 4, Cu, Al, F having high thermal conductivity is used.
e etc. are considered.

【0019】なおここではサブマウント2とブロック3
とを別体で形成していたが、光源1の出力が高く、これ
らの部材により高い熱伝導性が要求される場合には、熱
伝導性を良くするためにこれらの部材を一体で形成する
ことが好ましい。この場合それらの材質は、AlN等の
熱伝導性が非常に高いものを用いることが好ましい。
The submount 2 and the block 3 are used here.
Although they are formed separately, when the output of the light source 1 is high and high thermal conductivity is required for these members, these members are integrally formed to improve the thermal conductivity. It is preferable. In this case, it is preferable to use a material having a very high thermal conductivity such as AlN.

【0020】またブロック3はサブマウント2よりも大
きくして、放熱板4との接触面積を大きく取ることが望
ましい。そしてブロック3の光源1と対向する面はダイ
ジングソー等によって2分割されることになる。
It is desirable that the block 3 is larger than the submount 2 to have a large contact area with the heat sink 4. The surface of the block 3 facing the light source 1 is divided into two parts by a dicing saw or the like.

【0021】また光源1には光軸に関して高い精度が要
求されるので、サブマウント2の上面は高い精度で水平
であることが好ましい。従ってサブマウント2,ブロッ
ク3及び放熱板4の取り付けについても細心の注意を払
うことが好ましい。
Since the light source 1 is required to have high accuracy with respect to the optical axis, the upper surface of the submount 2 is preferably horizontal with high accuracy. Therefore, it is preferable to pay close attention to the attachment of the submount 2, the block 3 and the heat sink 4.

【0022】5は光ガイド部材で、光ガイド部材5は直
方体形状をしており、その内部には複数の斜面及びそれ
らの斜面上に形成された各種膜を有しており、光源から
射出された光を出射するとともに、戻ってきた光を所定
の位置に導く働きを有している。また光ガイド部材5は
その側面でブロック3の突起部3aに接着されている。
これに用いられる接合材には大きな接着強度,任意の瞬
間に固定できる作業性,硬化前と硬化後の体積の変化や
温度・湿度の変化による体積の変化が小さい即ち低収縮
率等の条件が要求され、これらを満たすことにより作業
性及び接合面の安定性等を向上させることができる。こ
の様な接合材としてここでは紫外線を照射することによ
り瞬時に硬化するUV接着剤を用いた。また吸湿硬化型
の瞬間接着剤を用いても良い。更に十分な取り付け強度
を持つようにするためにブロック3と光ガイド部材5の
間の接触面積(S)はS>1mm2とすることが好まし
い。
Reference numeral 5 denotes a light guide member. The light guide member 5 has a rectangular parallelepiped shape, has a plurality of slopes and various films formed on the slopes therein, and is emitted from a light source. It has a function of emitting the emitted light and guiding the returned light to a predetermined position. Further, the light guide member 5 is adhered to the protrusion 3a of the block 3 on its side surface.
The bonding material used for this has a large adhesive strength, workability that can be fixed at any moment, small changes in volume before and after curing, and changes in volume due to changes in temperature and humidity, that is, low shrinkage ratio. The workability and the stability of the joint surface can be improved by satisfying these requirements. As such a bonding material, a UV adhesive which is instantly cured by being irradiated with ultraviolet rays is used here. Also, a moisture-curing type instant adhesive may be used. In order to have sufficient attachment strength, the contact area (S) between the block 3 and the light guide member 5 is preferably S> 1 mm 2 .

【0023】13は受光素子で、受光素子13は板形状
の半導体ウェハーに形成された各種の電気回路で構成さ
れており、光ガイド部材5の底面に取り付けられてい
る。受光素子13と光ガイド部材5との取り付けについ
ては、大きな接着強度,任意の瞬間に固定できる作業
性,硬化前と硬化後の体積の変化や温度・湿度による体
積の変化が小さい即ち低収縮率等の条件が要求され、こ
れらを満たすことにより、作業性、接合面の安定性が向
上する。この様な接合材としてここでは紫外線を照射す
ることにより瞬時に硬化するため特に作業性が良好なU
V接着剤を用いた。なお吸湿硬化型の瞬間接着剤を用い
ても良い。また受光素子13は光源1から出射され、光
ガイド部材5や記録媒体等で反射されて戻ってきた光信
号を受光する受光部を複数有している。この受光部で検
知された光信号は、その光量に応じて電気信号に変換さ
れる。この電気信号は変換当初は電流値の大きさであ
る。しかしながらこの電流は非常に微弱であり、かつノ
イズを拾いやすいというデメリットがある。このためこ
こでは受光素子13として、電流値を相関する電圧値に
変換して増幅する働きを持つI−Vアンプが形成されて
いるものを用いることが好ましい。ただし光の入射周波
数に対して出力電圧の応答が良好であることが要求され
る。更に受光素子13の表面には受光した情報を信号と
して取り出すためのAl等の薄膜で構成された複数の電
極13aが設けてある。
Reference numeral 13 denotes a light receiving element, and the light receiving element 13 is composed of various electric circuits formed on a plate-shaped semiconductor wafer, and is attached to the bottom surface of the light guide member 5. Regarding attachment of the light receiving element 13 and the light guide member 5, there is a large adhesive strength, workability that can be fixed at an arbitrary moment, change in volume before and after curing, and change in volume due to temperature and humidity are small, that is, low shrinkage rate. Conditions such as the above are required, and by satisfying these conditions, workability and stability of the joint surface are improved. As such a bonding material, U which has particularly good workability because it is instantly cured by being irradiated with ultraviolet rays.
V adhesive was used. A moisture-curing type instant adhesive may be used. Further, the light receiving element 13 has a plurality of light receiving portions for receiving the optical signal emitted from the light source 1, reflected by the light guide member 5, the recording medium and the like and returned. The optical signal detected by the light receiving unit is converted into an electric signal according to the amount of light. This electric signal has a magnitude of a current value at the beginning of conversion. However, this current has a demerit that it is extremely weak and noise is easily picked up. Therefore, it is preferable to use the light receiving element 13 in which an IV amplifier having a function of converting a current value into a correlated voltage value and amplifying it is formed. However, it is required that the output voltage has a good response to the incident frequency of light. Further, the surface of the light receiving element 13 is provided with a plurality of electrodes 13a made of a thin film of Al or the like for taking out the received information as a signal.

【0024】14はパッケージで、パッケージ14は、
放熱板4の上面に前述のブロック3や光ガイド部材5,
受光素子13等を囲むように設けられており、その内部
には受光素子13からの電気信号取り出しや光源1の電
源供給等に用いられるリードフレーム14aがモールド
されている。このパッケージ14の形状は中央部がくり
貫かれた直方体形状をしており、更にリードフレーム1
4aがモールドされている側のパッケージ14の内面に
はリードフレームの足14bを露出するように段差14
cが設けてある。なおパッケージ14の外周形状につい
ては円筒形等であっても構わない。そして受光素子13
からの電気信号を取り出すためにパッケージ14に設け
られた段差14cに露出しているリードフレームの足1
4bと受光素子13の表面に設けられている複数の電極
13aとをAuやAl等で形成されたワイヤ14dでワ
イヤボンディングにより接続している。また光源1の電
源供給のため、光源1の上面とパッケージ14に設けら
れた段差14cに露出しているリードフレームの足14
bとをワイヤ14dでボンディングし、更にサブマウン
ト2の上面に光源1の下面と電気的に接続するように設
けられている電極面2aとパッケージ14に設けられた
段差14cに露出しているリードフレームの足14bと
を同じくワイヤ14dでワイヤボンディングすることに
より接続している。パッケージ14の材質としては、低
吸水性や低アウトガス性などに優れていることが求めら
れるが、ここではICモールドとしては最も一般的なエ
ポキシ樹脂等の熱硬化性の樹脂を用いている。またリー
ドフレーム14aの材質としてはCu,42アロイ,F
e等の金属にAgやAu等をメッキしたものを用いるこ
とが多い。ここではCuにNiメッキをし、その上にA
uメッキを施したものを用いた。更にパッケージ14と
放熱板4との間の取り付けには、大きな接着強度,低い
吸水性,高い気密性(低いリーク特性)等の性質を有す
る接合材を用いる。これにより接合面,接合位置の安定
性を向上させ、光ピックアップのパッケージング内部へ
の不純物の混入を防止することができる。ここでは多少
接着に時間がかかるが、これらの特性に優れ、安価なエ
ポキシ系接着剤を用いた。
14 is a package, and the package 14 is
On the upper surface of the heat dissipation plate 4, the above-mentioned block 3 and the light guide member 5,
It is provided so as to surround the light receiving element 13 and the like, and inside thereof, a lead frame 14a used for taking out an electric signal from the light receiving element 13 and supplying power to the light source 1 is molded. The package 14 has a rectangular parallelepiped shape with a hollowed central portion.
The step 14 is formed on the inner surface of the package 14 on the side where 4a is molded so as to expose the foot 14b of the lead frame.
c is provided. The outer peripheral shape of the package 14 may be cylindrical or the like. And the light receiving element 13
1 of the lead frame exposed on the step 14c provided on the package 14 for extracting the electric signal from the lead frame 1.
4b and a plurality of electrodes 13a provided on the surface of the light receiving element 13 are connected by wire bonding with a wire 14d formed of Au, Al or the like. Further, in order to supply power to the light source 1, the legs 14 of the lead frame exposed at the step 14c provided on the upper surface of the light source 1 and the package 14.
b is bonded with a wire 14d, and leads exposed on the electrode surface 2a provided on the upper surface of the submount 2 so as to be electrically connected to the lower surface of the light source 1 and the step 14c provided on the package 14. The legs 14b of the frame are also connected by wire bonding with wires 14d. The material of the package 14 is required to be excellent in low water absorption, low outgassing, etc. Here, a thermosetting resin such as an epoxy resin, which is the most common as an IC mold, is used. The material of the lead frame 14a is Cu, 42 alloy, F
In many cases, a metal such as e is plated with Ag or Au. Here, Cu is plated with Ni, and A is applied on top of it.
A u-plated product was used. Further, for attachment between the package 14 and the heat dissipation plate 4, a bonding material having properties such as high adhesive strength, low water absorption, high airtightness (low leak characteristic), etc. is used. As a result, the stability of the bonding surface and the bonding position can be improved, and impurities can be prevented from entering the inside of the packaging of the optical pickup. Here, although it takes some time to bond, an inexpensive epoxy adhesive excellent in these properties was used.

【0025】15はシェルで、シェル15もまたパッケ
ージ14と同様に直方体の中心部をくり貫いたような外
形をしており、その水平方向の断面はパッケージ14の
それとほぼ同一形状をしている。またその材質にはパッ
ケージング内部への不純物混入を防止する意味で、低吸
水性や低アウトガス性等の特性が求められる。ここでは
それらの特性に優れたポリプチレンテレフタレート(以
下PBTとする)を用いた。ただし、特に強度や寸法精
度等に優れた特性が要求される場合には、PBTよりも
高価ではあるがこれらの特性に優れたLCPを用いても
良い。そしてシェル15とパッケージ14との接着は、
前述のパッケージ14と放熱板4との取り付けと同様の
理由で、エポキシ系接着剤を用いた。なおこのシェル1
5を用いる代わりにパッケージ14の側壁部分の高さ
を、光ガイド部材5よりも高くなるようにして代替して
も良い。
Reference numeral 15 denotes a shell, and the shell 15 also has an outer shape like a rectangular parallelepiped hollowed out like the package 14, and its horizontal cross section is substantially the same as that of the package 14. . In addition, the material is required to have characteristics such as low water absorption and low outgassing in order to prevent impurities from entering the inside of the packaging. Polyethylene terephthalate (hereinafter referred to as PBT) having excellent properties was used here. However, especially when properties such as strength and dimensional accuracy are required, an LCP that is more expensive than PBT but is excellent in these properties may be used. And the adhesion between the shell 15 and the package 14 is
An epoxy adhesive was used for the same reason as the mounting of the package 14 and the heat dissipation plate 4 described above. This shell 1
Instead of using 5, the height of the side wall portion of the package 14 may be made higher than that of the light guide member 5 for substitution.

【0026】16はカバー部材で、カバー部材16は光
ガイド部材5や受光素子13等にごみ,ほこり等が付着
するのを防止するもので、シェル15の上面にエポキシ
系の接着剤により取り付けられている。またカバー部材
16の材質としては、BK−7,FK−1,K−3等の
ガラスや、ウレタン,ポリカーボネート,アクリル等の
光透過率の高い樹脂等を用いることがことが好ましい。
なお光磁気信号の読み取りの場合には光透過率が高くて
も複屈折の大きい部材を用いることは好ましくない。更
にカバー部材16の上下両面には反射防止のために反射
防止膜16aを形成している。この反射防止膜16aは
MgF2等の材質で形成することが好ましい。ただしカ
バー部材16の表面での反射があまり問題にならない場
合には、反射防止膜16aは設けなくとも良い。
Reference numeral 16 is a cover member, which is used to prevent dust and dirt from adhering to the light guide member 5 and the light receiving element 13, and is attached to the upper surface of the shell 15 by an epoxy adhesive. ing. Further, as the material of the cover member 16, it is preferable to use glass such as BK-7, FK-1, K-3, or a resin having a high light transmittance such as urethane, polycarbonate, or acrylic.
When reading a magneto-optical signal, it is not preferable to use a member having a large birefringence even if the light transmittance is high. Further, an antireflection film 16a is formed on both upper and lower surfaces of the cover member 16 to prevent reflection. This antireflection film 16a is preferably formed of a material such as MgF 2 . However, if reflection on the surface of the cover member 16 does not pose a problem, the antireflection film 16a may not be provided.

【0027】このカバー部材16と光ガイド部材5との
位置関係は、両者を接触させる場合と両者の間に空間を
設ける場合とが考えられる。両者を接触させる場合、光
ガイド部材5はカバー部材16の底部にエポキシ系の接
着剤やUV接着剤等で取り付けられる。この時のカバー
部材16の厚さ(t1)を0.3≦t1≦3.0(m
m)とすることが好ましい。この理由は、下限について
はこれ以上薄くすると取り付けられている光ガイド部材
5等の重さや、接着剤が固まる際の張力等にカバー部材
16が耐えられず破損する恐れがあるためである。また
上限については、カバー部材16は空気に比べて屈折率
が大きいため光に収束作用が生まれ、光が広がらないの
で、結果としてカバー部材16とコリメータレンズ(無
限系光学系の場合)或いは対物レンズ(有限系光学系の
場合)との距離を長くせざるを得ないくなってしまい、
ピックアップユニットの小型化に不利になるからであ
る。この様な構成を用いることにより光ピックアップの
パッケージングの高さをより低くでき、十分な取付強度
を保ちながらもピックアップユニットを小型化すること
ができる。
As for the positional relationship between the cover member 16 and the light guide member 5, it is considered that the cover member 16 and the light guide member 5 are brought into contact with each other or a space is provided between them. When the two are brought into contact with each other, the light guide member 5 is attached to the bottom of the cover member 16 with an epoxy adhesive, a UV adhesive, or the like. At this time, the thickness (t1) of the cover member 16 is 0.3 ≦ t1 ≦ 3.0 (m
m) is preferable. The reason for this is that if the lower limit is made thinner than this, the cover member 16 may not be able to withstand the weight of the attached light guide member 5 or the tension when the adhesive hardens, and may be damaged. Regarding the upper limit, since the cover member 16 has a larger refractive index than air, a converging action is generated on light and the light does not spread. As a result, the cover member 16 and the collimator lens (in the case of an infinite optical system) or the objective lens (In the case of a finite optical system), you have to increase the distance from
This is because it is disadvantageous in downsizing the pickup unit. By using such a structure, the height of the packaging of the optical pickup can be further reduced, and the pickup unit can be downsized while maintaining sufficient mounting strength.

【0028】これに対して両者の間に空間を設ける場合
は、カバー部材16の厚さ(t2)を0.1≦t2≦
3.0(mm),カバー部材16と光ガイド部材5との
間の距離(d)を同じく0.1≦d≦3.0(mm)と
することが好ましい。この理由はt2の下限については
前例とは違って光ガイド部材5が取り付けられておら
ず、ただ振動等の外部要因にさえ耐えられればよいから
である。またdについては、小さければ小さい程良いの
だが、組立時の精度の誤差を0.1mm以下にできない
可能性があり、この場合組立時にカバー部材16が光ガ
イド部材5に接触し、破損してしまう恐れがある。この
様な構成を用いることにより光ガイド部材5と、光源
1,サブマウント2,ブロック3の間の取り付け相対位
置精度を向上させつつブロック3若しくはサブマウント
2を他の部材に熱的に接触させることが可能であり、こ
れにより光源1で発生する熱を外部に容易に放出するこ
とができる。
On the other hand, when a space is provided between the two, the thickness (t2) of the cover member 16 is set to 0.1≤t2≤.
It is preferable that the distance (d) between the cover member 16 and the light guide member 5 is 3.0 (mm) and 0.1 ≦ d ≦ 3.0 (mm). The reason for this is that the lower limit of t2 is different from the previous example in that the light guide member 5 is not attached, and it is only necessary to withstand external factors such as vibration. Regarding d, the smaller the better, the better it is, but the accuracy error during assembly may not be less than 0.1 mm. In this case, the cover member 16 comes into contact with the light guide member 5 during assembly and is damaged. There is a risk that By using such a configuration, the mounting relative positional accuracy between the light guide member 5, the light source 1, the submount 2 and the block 3 is improved, and the block 3 or the submount 2 is brought into thermal contact with another member. Therefore, the heat generated by the light source 1 can be easily released to the outside.

【0029】なお光ピックアップのパッケージングの内
部は光源1及び受光素子13の酸化防止等の観点から、
乾燥した酸化防止ガスとしてN2等のガスやAr,N
e,He等の不活性ガスを充填することが好ましい。そ
の場合、放熱板4と受光素子13との間に存在する隙間
17を小さな収縮率,低い吸水性,高い気密性(優れた
リーク特性)等の特性を有する接合材、例えばエポキシ
系のポッティング剤や半田等で埋める必要がある。これ
により内部の気密性を高めることができる。またこの場
合カバー部材16はパッケージング内部と外部とを隔絶
する働きも有することになる。
From the viewpoint of preventing oxidation of the light source 1 and the light receiving element 13, the inside of the packaging of the optical pickup is
A dry antioxidant gas such as N 2 gas or Ar, N
It is preferable to fill an inert gas such as e and He. In that case, the gap 17 existing between the heat sink 4 and the light receiving element 13 has a bonding material having characteristics such as a small shrinkage rate, low water absorption, and high airtightness (excellent leak characteristics), for example, an epoxy potting agent. It is necessary to fill it with solder or solder. Thereby, the airtightness inside can be improved. Further, in this case, the cover member 16 also has a function of separating the inside and the outside of the packaging.

【0030】以上示してきた構成を用いることにより、
光源1で発生する熱を容易に外部に放出することがで
き、更にパッケージングの両端面に計2個所の開口部を
設けることにより、酸化防止ガスの封入を容易に行うこ
とができる。また光学系においては光源1,光ガイド部
材5及び受光素子13の相対的な位置関係を正しくかつ
強固に保持することができるので、それらの位置のずれ
による誤動作や余分な光学的収差等が発生しない。
By using the configuration shown above,
The heat generated by the light source 1 can be easily radiated to the outside, and by providing a total of two openings on both end faces of the packaging, the antioxidant gas can be easily enclosed. Further, in the optical system, since the relative positional relationship between the light source 1, the light guide member 5 and the light receiving element 13 can be correctly and firmly held, malfunctions due to the displacement of these positions, extra optical aberration, etc. occur. do not do.

【0031】次に本発明の一実施例における光ピックア
ップの動作について、図面を参照しながら説明する。図
5は本発明の一実施例における光ピックアップの断面
図、図6は本発明の一実施例における光ピックアップの
組立を示す斜視図である。
Next, the operation of the optical pickup according to the embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 5 is a sectional view of an optical pickup according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a perspective view showing an assembly of the optical pickup according to the embodiment of the present invention.

【0032】図5及び図6において放熱板4上にサブマ
ウント2を介して水平にマウントされた光源1から水平
に放出されたレーザ光は、平行な複数の斜面を有する光
ガイド部材5の面5fから光ガイド部材5に入射し、光
ガイド部材5の第二の斜面5bに形成されかつ入射する
光の拡散角に対して射出する光の拡散角を変換する(以
下NAを変換すると呼ぶ)機能を有する反射型の拡散角
変換ホログラム7に到達する。拡散角変換ホログラム7
によってNAを変換されかつ反射した光は第一の斜面5
aに形成された反射型の回折格子6によって0次回折光
(以下メインビームと呼ぶ)と±1次回折光(以下サイ
ドビームと呼ぶ)とに分けられる。回折格子6によって
発生するメインビーム及びサイドビームは第一の偏光選
択性のあるビームスプリッター膜9(以下単に第一のビ
ームスプリッター膜と呼ぶ)に入射する。第一のビーム
スプリッター膜9に入射する光のうち第一のビームスプ
リッター膜9を透過する光は光源1からの射出光のモニ
ター光として利用される。また、第一のビームスプリッ
ター膜9を反射するメインビーム及びサイドビームは、
光ガイド部材5の面5eを透過、対物レンズ26に入射
し、対物レンズ26の集光作用によって記録媒体27の
記録媒体面27aに結像される。この時、記録媒体面2
7a上において2つのサイドビームのビームスポット2
9a及び29cはメインビームのビームスポット29b
を中心としてほぼ対称な位置に結像される。記録媒体面
27aに対してメインビーム及びサイドビームのビーム
スポット29b及び29a、29cにより情報の記録ま
たは再生信号及びトラッキング、フォーカシングいわゆ
るサーボ信号の読みだしを行う。
In FIGS. 5 and 6, the laser light emitted horizontally from the light source 1 mounted horizontally on the heat sink 4 via the submount 2 is the surface of the light guide member 5 having a plurality of parallel inclined surfaces. The diffusion angle of the light that is incident on the light guide member 5 from 5f and is formed on the second slope 5b of the light guide member 5 and that is emitted is converted with respect to the diffusion angle of the incident light (hereinafter referred to as NA conversion). It reaches the reflection type diffusion angle conversion hologram 7 having a function. Diffusion angle conversion hologram 7
The light whose NA has been converted and reflected by the first slope 5
The reflection type diffraction grating 6 formed in a divides the light into 0th order diffracted light (hereinafter referred to as main beam) and ± 1st order diffracted light (hereinafter referred to as side beam). The main beam and side beams generated by the diffraction grating 6 are incident on the first polarization-selective beam splitter film 9 (hereinafter simply referred to as the first beam splitter film). Of the light that enters the first beam splitter film 9, the light that passes through the first beam splitter film 9 is used as the monitor light of the light emitted from the light source 1. In addition, the main beam and the side beam that reflect the first beam splitter film 9 are
The light passes through the surface 5e of the light guide member 5, enters the objective lens 26, and is focused on the recording medium surface 27a of the recording medium 27 by the condensing action of the objective lens 26. At this time, the recording medium surface 2
Beam spot 2 of two side beams on 7a
9a and 29c are beam spots 29b of the main beam
An image is formed at a position substantially symmetrical with respect to. Information recording or reproduction signals, tracking, and focusing, so-called servo signals are read from the recording medium surface 27a by beam spots 29b, 29a, and 29c of main beams and side beams.

【0033】拡散角変換ホログラム7は、光源1からの
射出光のうち拡散角変換ホログラム7へ入射することの
できる光束の拡散角に対して、拡散角変換ホログラム7
からの反射光の拡散角を自由に変換することができる。
また、拡散角変換ホログラム7によって拡散角をまった
く持たない平行光にも変換可能である。また、同じ拡散
角変換ホログラム7によって図1に示されるように光ガ
イド部材5射出後の光束が途中経路で積算された波面収
差が取り除かれた理想球面波30となる。したがって、
対物レンズ26への入射光は理想球面波30となり、対
物レンズ26による記録媒体27での結像スポットはほ
ぼ回折限界まで絞り込まれ理想的な大きさとなり、情報
の記録または再生を容易に行うとができる。
The diffusion angle conversion hologram 7 is a diffusion angle conversion hologram 7 with respect to a diffusion angle of a light beam of the light emitted from the light source 1 which can enter the diffusion angle conversion hologram 7.
The diffusion angle of the reflected light from can be freely converted.
Also, the diffusion angle conversion hologram 7 can convert parallel light having no diffusion angle. Further, as shown in FIG. 1, the same divergence angle conversion hologram 7 forms an ideal spherical wave 30 in which the wavefront aberration integrated by the light flux emitted from the light guide member 5 in the midway path is removed. Therefore,
The incident light on the objective lens 26 becomes an ideal spherical wave 30, and the image forming spot on the recording medium 27 by the objective lens 26 is narrowed down to the diffraction limit to an ideal size, so that information can be easily recorded or reproduced. You can

【0034】記録媒体27の情報記録面27aによって
反射されたメインビーム及びサイドビームの戻り光は対
物レンズ26、光ガイド部材5の第一の斜面5aを再び
通過し、再び光ガイド部材の第二の斜面5bに形成され
た第一のビームスプリッター膜9に入射する。第一のビ
ームスプリッター膜9は入射面に対して平行な振動成分
を有する光(以下単にP偏光成分と呼ぶ)に対してほぼ
100%の透過率を有し、垂直な振動成分(以下単にS
偏光成分と呼ぶ)に対しては一定の反射率を有する。
The return light of the main beam and the side beam reflected by the information recording surface 27a of the recording medium 27 again passes through the objective lens 26 and the first inclined surface 5a of the light guide member 5, and again the second light guide member. Is incident on the first beam splitter film 9 formed on the slope 5b. The first beam splitter film 9 has a transmittance of almost 100% with respect to light having an oscillating component parallel to the incident surface (hereinafter, simply referred to as P-polarized component), and has a vertical oscillating component (hereinafter, simply S
(Referred to as the polarization component) has a constant reflectance.

【0035】記録媒体27からの戻り光のうち第一のビ
ームスプリッター膜9から透過する光は光ガイド部材5
の第一の斜面5aに平行な第三の斜面5c上に形成され
た第二の偏光選択性のあるビームスプリッター膜11
(以下単に第二のビームスプリッター膜と呼ぶ)に入射
する。第二の偏光ビームスプリッター膜11は第一のビ
ームスプリッター膜9と同様にP偏光成分に対してほぼ
100%の透過率を有し、S偏光成分に対しては一定の
反射率を有する。
Of the return light from the recording medium 27, the light transmitted from the first beam splitter film 9 is the light guide member 5.
Second polarization-selective beam splitter film 11 formed on a third slope 5c parallel to the first slope 5a of
(Hereinafter, simply referred to as a second beam splitter film). The second polarization beam splitter film 11 has a transmittance of almost 100% for the P-polarized component and a constant reflectance for the S-polarized component similarly to the first beam splitter film 9.

【0036】ここで第二のビームスプリッター膜11に
入射した光束の内、透過光117に関して説明する。透
過光117は第三の斜面5c上に積層された偏光面変換
基板31に入射する。
Here, the transmitted light 117 of the light flux incident on the second beam splitter film 11 will be described. The transmitted light 117 enters the polarization plane conversion substrate 31 laminated on the third slope 5c.

【0037】図7は本発明の一実施例における偏光面変
換基板の斜視図、図8は本発明の一実施例における光ピ
ックアップの受光部配置及び信号処理を示す図である。
偏光面変換基板31は第1のその他の斜面31a(以下
単に第1他斜面と呼ぶ)とその第1他斜面31aに平行
な第2のその他の斜面31b(以下単に第2他斜面と呼
ぶ)を有し、第1他斜面31aには反射膜126が、第
2他斜面31bには偏光分離膜12が夫々形成されてい
る。透過光117は第2他斜面31b上に形成された偏
光分離膜12に入射する。第2他斜面31bは透過光1
17の偏光面117aと入射面128とのなす角が略4
5°(2n+1)、(nは整数)になるように形成され
ている。その結果透過光117のP偏光成分117pと
S偏光成分117sは略1:1の強度比を有するように
なる。入射面128と平行な偏光成分を有するP偏光成
分117pは偏光分離膜12によってほぼ100%透過
し、一方、入射面128に垂直な偏光成分を有するS偏
光成分117sは第2他斜面31b上の偏光分離膜12
によって略100%反射し第1他斜面31a面上に入射
し、反射膜126によって反射させられ受光素子13へ
導かれる。受光素子13上に導かれた光のうちP偏向成
分117pは受光部170へ、S偏向成分117sは受
光部171へそれぞれ到達する。
FIG. 7 is a perspective view of a polarization plane conversion substrate according to one embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a diagram showing the arrangement of light receiving portions and signal processing of an optical pickup according to one embodiment of the present invention.
The polarization conversion substrate 31 includes a first other slope 31a (hereinafter simply referred to as the first other slope) and a second other slope 31b parallel to the first other slope 31a (hereinafter simply referred to as the second other slope). The reflection film 126 is formed on the first other inclined surface 31a, and the polarization separation film 12 is formed on the second other inclined surface 31b. The transmitted light 117 enters the polarization separation film 12 formed on the second other inclined surface 31b. The second other slope 31b is the transmitted light 1
The angle between the polarization plane 117a of 17 and the incident surface 128 is approximately 4
It is formed so as to be 5 ° (2n + 1), (n is an integer). As a result, the P-polarized component 117p and the S-polarized component 117s of the transmitted light 117 have an intensity ratio of about 1: 1. The P polarization component 117p having a polarization component parallel to the incident surface 128 is almost 100% transmitted by the polarization separation film 12, while the S polarization component 117s having a polarization component perpendicular to the incidence surface 128 is on the second other inclined surface 31b. Polarization separation film 12
Is reflected by approximately 100%, enters the surface of the first other inclined surface 31a, is reflected by the reflective film 126, and is guided to the light receiving element 13. Of the light guided onto the light receiving element 13, the P deflection component 117p reaches the light receiving section 170, and the S deflection component 117s reaches the light receiving section 171.

【0038】次に図5中に示す第二のビームスプリッタ
ー膜11に入射した光束のうち反射光123に関して説
明する。反射光123は第二の斜面5b上の反射型のホ
ログラムで形成された非点収差発生ホログラム10に入
射する。反射光123は非点収差発生ホログラム10に
よって非点収差を発生しつつ、反射膜124及び反射膜
125で反射されて、メインビームの戻り光は受光素子
13上の受光部172に、サイドビームの戻り光は受光
素子13上の受光部176及び177に到達する。
Next, the reflected light 123 of the light beam incident on the second beam splitter film 11 shown in FIG. 5 will be described. The reflected light 123 enters the astigmatism generation hologram 10 formed by the reflection type hologram on the second slope 5b. The reflected light 123 is reflected by the reflection film 124 and the reflection film 125 while the astigmatism is generated by the astigmatism generation hologram 10, and the return light of the main beam is reflected by the light receiving section 172 on the light receiving element 13 to the side beam. The return light reaches the light receiving portions 176 and 177 on the light receiving element 13.

【0039】次に本発明の第一実施例において、特に相
変化型光ディスクに対応した光ピックアップの構成につ
いて図を参照しながら説明する。相変化型光ディスクは
光を照射することで記録媒体中の結晶構造を変化させて
情報を記録するもので、結晶構造を変化させるために従
来の光記録再生装置に比べてより多くの光量を必要とす
るので、より効率の良い光学系を必要とする。図9は本
発明の一実施例における相変化型光ディスク用の光ピッ
クアップの動作を示す概念図である。なお図1,図2及
び図3に示したものと番号が同一の部材については、そ
の働き及び構成が同様であるので説明を省略する。
Next, in the first embodiment of the present invention, the structure of the optical pickup particularly adapted to the phase change type optical disk will be described with reference to the drawings. A phase-change optical disc records information by changing the crystal structure in the recording medium by irradiating light, and thus requires a larger amount of light than the conventional optical recording / reproducing device to change the crystal structure. Therefore, a more efficient optical system is required. FIG. 9 is a conceptual diagram showing the operation of the optical pickup for a phase change type optical disc in one embodiment of the present invention. The members having the same numbers as those shown in FIGS. 1, 2 and 3 have the same functions and configurations, and thus the description thereof will be omitted.

【0040】光源1から水平に放出されたレーザ光は、
平行な複数の斜面を有する光ガイド部材32の面32f
から光ガイド部材32に入射し、拡散角変換ホログラム
7及び偏光選択性のあるビームスプリッター膜35(以
下ビームスプリッター膜と呼ぶ)を通って光ガイド部材
32の面32eから出射される。ここでビームスプリッ
ター膜35は第一実施例の場合とは異なりS偏光成分の
反射率は95%以上でP偏光成分の反射率はおよそ1%
程度である。ビームスプリッター膜35に入射する光の
うちビームスプリッター膜35を透過する光(P偏光成
分で全光量のの数パーセント程度)は光源1からの射出
光のモニター光として利用される。光ガイド部材32の
面32eから出射された光はカバー部材16に設けられ
たλ/4板33を透過する。図10はλ/4板33の構
成を示した図である。λ/4板33は光ガイド部材32
からの入射光偏光面に対して、その異常光軸がπ/4・
(2m−1);(ただしmは自然数:以下同じ)の方向
に設置されており、入射光の異常光成分と常光成分の位
相差をπ/2・(2m−1)だけ発生させる機能を有し
ている。λ/4板33を構成する材料としては一般に一
軸性結晶材料を用いる。その中でも低コストで、光透過
性に優れた水晶を用いることが好ましい。一軸性結晶で
は異常光軸616と常光軸617があり、それぞれの光
軸に対して異常光屈折率ne及び常光屈折率noと呼ばれ
る異なる屈折率を有している。異常光と常光では光の進
行速度が異なるので、λ/4板33の基板厚をQD,入
射光波長をλとして次の関係式で決まる位相差Δが発生
する。λ/4板33の厚さQDはこの位相差Δがπ/2
・(2m−1)となるように決定されている。
The laser light emitted horizontally from the light source 1 is
The surface 32f of the light guide member 32 having a plurality of parallel inclined surfaces
Is incident on the light guide member 32 from the surface 32e of the light guide member 32 through the diffusion angle conversion hologram 7 and the beam splitter film 35 having polarization selectivity (hereinafter referred to as the beam splitter film). Here, unlike the case of the first embodiment, the beam splitter film 35 has an S-polarized component reflectance of 95% or more and a P-polarized component reflectance of approximately 1%.
It is a degree. Of the light that is incident on the beam splitter film 35, the light that passes through the beam splitter film 35 (a few percent of the total amount of light in the P-polarized component) is used as monitor light for the light emitted from the light source 1. The light emitted from the surface 32 e of the light guide member 32 passes through the λ / 4 plate 33 provided on the cover member 16. FIG. 10 is a diagram showing the configuration of the λ / 4 plate 33. The λ / 4 plate 33 is the light guide member 32.
The extraordinary optical axis is π / 4.
(2m-1); (where m is a natural number: the same applies hereinafter) and has a function of generating a phase difference of π / 2 · (2m-1) between the extraordinary light component and the ordinary light component of the incident light. Have A uniaxial crystal material is generally used as a material forming the λ / 4 plate 33. Among them, it is preferable to use a crystal that is low in cost and excellent in light transmittance. The uniaxial crystal has an extraordinary optical axis 616 and an ordinary optical axis 617, and has different refractive indexes called extraordinary light refractive index n e and ordinary light refractive index n o with respect to each optical axis. Since the traveling speeds of light are different between the extraordinary light and the ordinary light, a phase difference Δ determined by the following relational expression occurs when the substrate thickness of the λ / 4 plate 33 is QD and the incident light wavelength is λ. The thickness QD of the λ / 4 plate 33 is such that this phase difference Δ is π / 2.
・ It is decided to be (2m-1).

【0041】Δ=2π・(ne−no)・QD/λ 本実施例では、波長λ=790nm、異常光屈折率ne
=1.5477、常光屈折率no=1.5388(ただ
し屈折率は基板の切り出し角で異なる。ここでは異常光
軸及び常光軸の双方の軸を含む平面に平行に切り出し
た。)という条件に対してλ/4板33の基板厚は2
1.9・(2m−1)μmとなる。この様な条件にする
ことにより、直線偏光で入射角0度で入射してきた光を
円偏向の光に変換することができる。即ち光源1から出
射されたS偏向成分のみを含む直線偏光を円偏光に変換
することができる。なおここではλ/4板33としてカ
バー部材16上に21.9μmの水晶を設けていたが、
光ガイド部材の面32eや対物レンズ26に設けても同
様の効果を得ることができる。
Δ = 2π · (n e −n o ) · QD / λ In this embodiment, the wavelength λ = 790 nm and the extraordinary light refractive index ne.
= 1.5477, and ordinary refractive index no = 1.5388 (however, the refractive index differs depending on the cutting angle of the substrate. Here, the refractive index is cut parallel to a plane including both the extraordinary optical axis and the ordinary optical axis). On the other hand, the substrate thickness of the λ / 4 plate 33 is 2
It becomes 1.9 · (2m−1) μm. By setting such conditions, it is possible to convert linearly polarized light that is incident at an incident angle of 0 degree into circularly polarized light. That is, the linearly polarized light including only the S-polarized component emitted from the light source 1 can be converted into circularly polarized light. In addition, here, a crystal of 21.9 μm was provided on the cover member 16 as the λ / 4 plate 33,
The same effect can be obtained by providing the surface 32e of the light guide member or the objective lens 26.

【0042】λ/4板33を透過して円偏向となった光
は対物レンズ26に入射し、対物レンズ26の集光作用
によって記録媒体27の記録媒体面27aに結像され、
反射される。記録媒体面で反射された円偏光化した光は
その回転方向が逆転するので、戻り光は対物レンズ26
を透過し、再びλ/4板33を透過する際に、P偏光成
分のみを含む直線偏光に変換される。この様に変換され
た戻り光は光ガイド部材32の面32eを再び通過し、
再び光ガイド部材の第二の斜面32bに形成されたビー
ムスプリッター膜35に入射する。ビームスプリッター
膜35は入射面に対して平行な振動成分を有する光(以
下単にP偏光成分と呼ぶ)に対してほぼ100%の透過
率を有し、垂直な振動成分(以下単にS偏光成分と呼
ぶ)に対しては一定の反射率を有する。従ってP偏光成
分しか有さない戻り光はビームスプリター膜35をほぼ
透過する。
The light which has been circularly polarized after passing through the λ / 4 plate 33 enters the objective lens 26 and is focused on the recording medium surface 27a of the recording medium 27 by the condensing action of the objective lens 26.
Is reflected. The circularly polarized light reflected by the surface of the recording medium has its rotation direction reversed, so the return light is the objective lens 26.
When transmitted through the λ / 4 plate 33 again, it is converted into linearly polarized light containing only the P-polarized component. The return light thus converted passes through the surface 32e of the light guide member 32 again,
It again enters the beam splitter film 35 formed on the second inclined surface 32b of the light guide member. The beam splitter film 35 has a transmittance of almost 100% with respect to light having an oscillating component parallel to the incident surface (hereinafter simply referred to as P-polarized component), and has a vertical oscillating component (hereinafter simply referred to as S-polarized component). (Referred to) has a constant reflectance. Therefore, the return light having only the P-polarized component almost passes through the beam splitter film 35.

【0043】そして戻り光は光ガイド部材32の第一の
斜面32aに平行な第三の斜面32c上に形成されたハ
ーフミラー34に入射する。ハーフミラー34は入射し
た光のうち所定の量を反射して、残りを透過する働きを
有している。
Then, the return light is incident on the half mirror 34 formed on the third slope 32c parallel to the first slope 32a of the light guide member 32. The half mirror 34 has a function of reflecting a predetermined amount of incident light and transmitting the rest.

【0044】ここでハーフミラー34に入射した光束の
内、透過光117は受光素子36上に設けられている受
光部37へ導かれる。
Among the light fluxes that have entered the half mirror 34, the transmitted light 117 is guided to the light receiving section 37 provided on the light receiving element 36.

【0045】次に図11中に示すハーフミラー34に入
射した光束のうち反射光123に関して説明する。図1
2は本発明の一実施例における相変化型光ディスク用の
光ピックアップの受光素子上の受光部の配置図である。
反射光123は第二の斜面32b上の反射型のホログラ
ムで形成された非点収差発生ホログラム10に入射す
る。反射光123は非点収差発生ホログラム10によっ
て非点収差を発生しつつ、さらに反射膜124,反射膜
125で反射されて、メインビームの戻り光は受光素子
36上の受光部38に、サイドビームの戻り光は受光素
子36上の受光部39及び40に到達する。
Next, the reflected light 123 of the light beam incident on the half mirror 34 shown in FIG. 11 will be described. Figure 1
FIG. 2 is a layout view of a light receiving portion on a light receiving element of an optical pickup for a phase change type optical disk in one embodiment of the present invention.
The reflected light 123 enters the astigmatism generation hologram 10 formed by the reflection type hologram on the second inclined surface 32b. The reflected light 123 generates astigmatism by the astigmatism generation hologram 10 and is further reflected by the reflecting films 124 and 125, and the return light of the main beam is transmitted to the light receiving portion 38 on the light receiving element 36 and the side beam. Of the return light reaches the light receiving portions 39 and 40 on the light receiving element 36.

【0046】以上のような構成を有する光ピックアップ
ではλ/4板をビームスプリッター膜35と記録媒体2
7との間に設け、S偏光成分の直線偏光である出射光を
円偏光化した光に変換し、その後記録媒体27で反射さ
れ回転方向が逆転した円偏光化した光をP偏光成分のみ
を有する直線偏光に変換してビームスプリッター膜35
に入射させることにより記録媒体27で反射された光を
ほぼ受光素子36上に導くことができるので、ビームス
プリッター膜35のS偏光成分の反射率を大幅に高くす
ることができ、従って記録媒体27に照射される光量を
大きくすることができる。
In the optical pickup having the above structure, the λ / 4 plate is used as the beam splitter film 35 and the recording medium 2.
7, which converts the emitted light, which is the linearly polarized light of the S-polarized component, into circularly polarized light, and then converts the circularly polarized light, which is reflected by the recording medium 27 and whose rotation direction is reversed, into only the P-polarized component. The beam splitter film 35 by converting it into linearly polarized light
Since the light reflected by the recording medium 27 can be guided to almost the light receiving element 36 by making the incident light on the light receiving element 36, the reflectance of the S-polarized component of the beam splitter film 35 can be significantly increased, and therefore the recording medium 27 It is possible to increase the amount of light that is emitted to the.

【0047】[0047]

【発明の効果】本発明は、光源と、光源を載置するサブ
マウントと、サブマウントを載置するブロックと、光源
から照射された光の入射方向に対して傾斜した複数の傾
斜面を有し、光源からの光を複数の傾斜面で反射させて
光媒体に導くとともに、光媒体から反射してきた光を所
定の位置に導き、ブロックと接合された光ガイド部材
と、サブマウントの光源と対向する面に設けられた複数
の電極とを備え、電極のうち第一の電極に光源を載置し
て光源の端面と第一の電極とを電気的に接続させ、かつ
電極のうちの第二の電極と光源の端面と反対の端面をワ
イヤボンディングで電気的に接続させ、複数の電極はサ
ブマウントの光源の載置面となる面のほぼ全面に電極膜
を形成し、電極膜にエッチングかダイシングソーの切り
込みによって溝部を設けることで形成したことにより、
光源検査用の検査プローブを容易に用いることができる
とともに光源及び光源用の電源線を破損する可能性を低
減させることが出来る。更に保持部材の光源と対向する
面に電極面を形成するとともに、電極面を分割する帯状
の絶縁部を設けたことにより、容易に分割電極面を形成
でき、かつ、光源検査用の検査プローブを容易に用いる
ことができるとともに光源及び光源用の電源線を破損す
る可能性を低減させることが出来る。また第二の電極と
光源の上面との電気的な接続をワイヤボンディングで行
うことにより、両者をより容易に接続することができ
る。
According to the present invention, the light source and the sub-device on which the light source is mounted are mounted.
A mount, a block on which the submount is mounted, and a plurality of inclined surfaces that are inclined with respect to the incident direction of the light emitted from the light source, and the light from the light source is reflected by the plurality of inclined surfaces to form an optical medium. guides, provided-out guide the light reflected from the optical medium to a predetermined position, and the light guide member which is joined to the block, and a plurality of electrodes provided on the light source and the surface facing the submount, of the electrodes The light source is placed on the first electrode to electrically connect the end surface of the light source and the first electrode, and the second electrode of the electrodes and the end surface opposite to the end surface of the light source are electrically connected by wire bonding. It is connected to, the plurality of electrodes Sa
An electrode film is formed on almost the entire surface of the bumount that will be the mounting surface of the light source.
And then etching the electrode film or cutting with a dicing saw.
By forming by forming the groove portion by embedding ,
The inspection probe for inspecting the light source can be easily used, and the possibility of damaging the light source and the power source line for the light source can be reduced. Further, by forming an electrode surface on the surface of the holding member facing the light source and providing a strip-shaped insulating portion for dividing the electrode surface, the divided electrode surface can be easily formed, and an inspection probe for light source inspection can be provided. It can be used easily and the possibility of damaging the light source and the power source line for the light source can be reduced. Further, by electrically connecting the second electrode and the upper surface of the light source by wire bonding, the two can be more easily connected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例における光ピックアップのパ
ッケージングの構成を示す断面図
FIG. 1 is a sectional view showing a packaging structure of an optical pickup according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例における光ピックアップのパ
ッケージングの構成を示す断面図
FIG. 2 is a sectional view showing a packaging structure of an optical pickup according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例における光源周辺の上面図FIG. 3 is a top view of the vicinity of a light source according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例における光源周辺の側面図FIG. 4 is a side view of the vicinity of a light source according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の一実施例における光ピックアップの動
作の概念図
FIG. 5 is a conceptual diagram of the operation of the optical pickup according to the embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例における光ガイド部材の斜視
FIG. 6 is a perspective view of a light guide member according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例における光ピックアップの偏
光面変換基板の斜視図
FIG. 7 is a perspective view of a polarization plane conversion substrate of an optical pickup according to an embodiment of the present invention.

【図8】本発明の一実施例における光ピックアップの受
光部配置及び信号処理を示す図
FIG. 8 is a diagram showing a light receiving unit arrangement and signal processing of an optical pickup according to an embodiment of the present invention.

【図9】本発明の一実施例における相変化型光ディスク
の光ピックアップの動作の概念図
FIG. 9 is a conceptual diagram of the operation of the optical pickup of the phase change type optical disc in one embodiment of the present invention.

【図10】本発明の一実施例におけるλ/4板の斜視図FIG. 10 is a perspective view of a λ / 4 plate according to an embodiment of the present invention.

【図11】本発明の一実施例における相変化型光ディス
ク用の光ピックアップの受光部の配置図
FIG. 11 is a layout view of a light receiving portion of an optical pickup for a phase change optical disc according to an embodiment of the present invention.

【図12】従来の光ピックアップのLDブロックの上面
FIG. 12 is a top view of an LD block of a conventional optical pickup.

【図13】従来の光ピックアップのLDブロックの側面
FIG. 13 is a side view of an LD block of a conventional optical pickup.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 2 サブマウント 2a 電極面 2b 第一の電極面 2c 第二の電極面 2d 溝部 3 ブロック 3a 突起部 3b 側面部 4 放熱板 4a 孔 5 光ガイド部材 5a 第一の斜面 5b 第二の斜面 5c 第三の斜面 5e 面 5f 面 6 回折格子 7 拡散角変換ホログラム 9 第一のビームスプリッター膜 10 非点収差発生ホログラム 11 第二のビームスプリッター膜 12 偏光分離膜 13 受光素子 13a 電極 14 パッケージ 14a リードフレーム 14b リードフレームの足 14c 段差 14d ワイヤ 15 シェル 16 カバー部材 16a 反射防止膜 17 隙間 26 対物レンズ 27 記録媒体 27a 記録媒体面 29a,29b,29c ビームスポット 30 理想球面波 31 偏光面変換基板 31a 第1他斜面 31b 第2他斜面 32 光ガイド部材 32a 第一の斜面 32b 第二の斜面 32c 第三の斜面 32e 面 32f 面 33 λ/4板 34 ハーフミラー 35 ビームスプリッター膜 36 受光素子 37,38,39,40 受光部 117 透過光 117a 偏光面 117s S偏光成分 117p P偏光成分 123 反射光 124 反射膜 125 反射膜 126 反射膜 128 入射面 170,171,172,172a,172b,172
c,172d,176,177 受光部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 light source 2 submount 2a electrode surface 2b first electrode surface 2c second electrode surface 2d groove 3 block 3a protrusion 3b side surface 4 heat sink 4a hole 5 light guide member 5a first slope 5b second slope 5c Third slope 5e Surface 5f Surface 6 Diffraction grating 7 Diffusion angle conversion hologram 9 First beam splitter film 10 Astigmatism generation hologram 11 Second beam splitter film 12 Polarization separation film 13 Light receiving element 13a Electrode 14 Package 14a Lead frame 14b Lead frame foot 14c Step 14d Wire 15 Shell 16 Cover member 16a Antireflection film 17 Gap 26 Objective lens 27 Recording medium 27a Recording medium surface 29a, 29b, 29c Beam spot 30 Ideal spherical wave 31 Polarization plane conversion substrate 31a First others Slope 31b Second other slope 32 Light guide member 32a First slope 2b Second inclined surface 32c Third inclined surface 32e Surface 32f Surface 33 λ / 4 plate 34 Half mirror 35 Beam splitter film 36 Light receiving element 37, 38, 39, 40 Light receiving portion 117 Transmitted light 117a Polarization surface 117s S polarization component 117p P Polarization component 123 Reflected light 124 Reflective film 125 Reflective film 126 Reflective film 128 Incident surface 170, 171, 172, 172a, 172b, 172
c, 172d, 176, 177 Light receiving part

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−203420(JP,A) 特開 昭61−71432(JP,A) 特開 平7−111282(JP,A) 特開 平6−85019(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/135 ─────────────────────────────────────────────────── --Continued from the front page (56) References JP-A-6-203420 (JP, A) JP-A-61-71432 (JP, A) JP-A-7-111282 (JP, A) JP-A-6- 85019 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G11B 7/135

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】光源と、前記光源を載置するサブマウント
と、前記サブマウントを載置するブロックと、前記光源
から照射された光の入射方向に対して傾斜した複数の傾
斜面を有し、前記光源からの光を前記複数の傾斜面で反
射させて光媒体に導くとともに、前記光媒体から反射し
てきた光を所定の位置に導き、前記ブロックと接合され
光ガイド部材と、前記サブマウントの前記光源と対向
する面に設けられた複数の電極とを備え、前記電極のう
ち第一の電極に光源を載置して前記光源の端面と前記第
一の電極とを電気的に接続させ、かつ前記電極のうちの
第二の電極と前記光源の前記端面と反対の端面をワイヤ
ボンディングで電気的に接続させ、前記複数の電極は前
記サブマウントの前記光源の載置面となる面のほぼ全面
に電極膜を形成し、前記電極膜にエッチングかダイシン
グソーの切り込みによって溝部を設けることで形成した
ことを特徴とする光ピックアップ。
1. A light source and a submount on which the light source is mounted.
A block on which the submount is mounted, and a plurality of inclined surfaces inclined with respect to the incident direction of the light emitted from the light source, and the light from the light source is reflected by the plurality of inclined surfaces. and guides to the optical medium, guide-out, is joined to the block the light reflected from the optical medium to a predetermined position
A light guide member and a plurality of electrodes provided on a surface of the submount that faces the light source. The light source is mounted on the first electrode of the electrodes and the end surface of the light source and the first electrode. electrically connected to the electrode, and electrically connected to the end face opposite the end face of the light source and the second electrode of the electrode by wire bonding, the plurality of electrodes before
Almost the entire surface of the submount that will be the mounting surface of the light source
An electrode film is formed on the electrode film, and etching or dicing is performed on the electrode film.
An optical pickup formed by forming a groove portion by cutting a gusset .
【請求項2】複数の電極はサブマウント側からTi膜,
Pt膜,Au膜を順に形成したものか、サブマウント側
からTi膜,Ni膜,Au膜を順に形成したものか、サ
ブマウント側からNi膜,Au膜を順に形成したものの
いずれかであることを特徴とする請求項1記載の光ピッ
クアップ。
2. A plurality of electrodes are a Ti film from the submount side,
Pt film, Au film formed in order, or submount side
To Ti film, Ni film, Au film in order,
Although Ni film and Au film were formed in order from the bumount side,
The optical pickup according to claim 1, wherein the optical pickup is any one of them .
【請求項3】光源としてGaNで構成された半導体レー
ザを用いたことを特徴とする請求項1記載の光ピックア
ップ。
3. A semiconductor laser composed of GaN as a light source.
The optical pickup according to claim 1, wherein the optical pickup is used.
【請求項4】サブマウントの材料としてAlN,SiC
を用いたことを特徴とする請求項1記載の光ピックアッ
プ。
4. AlN, SiC as a material of the submount
The optical pickup according to claim 1, wherein:
【請求項5】相変化型光ディスクに対応することを特徴
とする請求項1記載の光ピックアップ。
5. The optical pickup of claim 1 Symbol mounting, characterized in that corresponding to the phase change optical disc.
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