JP3504073B2 - Method of manufacturing wiring board having solder bumps and support jig - Google Patents

Method of manufacturing wiring board having solder bumps and support jig

Info

Publication number
JP3504073B2
JP3504073B2 JP21284496A JP21284496A JP3504073B2 JP 3504073 B2 JP3504073 B2 JP 3504073B2 JP 21284496 A JP21284496 A JP 21284496A JP 21284496 A JP21284496 A JP 21284496A JP 3504073 B2 JP3504073 B2 JP 3504073B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
solder
wiring board
melting
height
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP21284496A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH1056256A (en
Inventor
晴彦 村田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NGK Spark Plug Co Ltd
Original Assignee
NGK Spark Plug Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NGK Spark Plug Co Ltd filed Critical NGK Spark Plug Co Ltd
Priority to JP21284496A priority Critical patent/JP3504073B2/en
Publication of JPH1056256A publication Critical patent/JPH1056256A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3504073B2 publication Critical patent/JP3504073B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof
    • H05K3/3485Applying solder paste, slurry or powder

Landscapes

  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、フリップチップ実
装用基板やボールグリッドアレイ基板等の半田バンプを
有する配線基板の製造方法及び支持治具に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a wiring board having solder bumps such as a flip chip mounting board and a ball grid array board, and a supporting jig.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、集積回路チップ(以下フリッ
プチップと記す)を配線基板に実装する場合には、配線
基板上に半田バンプを設け、この半田バンプを加熱溶融
させて、フリップチップと配線基板とを接合している。
2. Description of the Related Art Conventionally, when an integrated circuit chip (hereinafter referred to as a flip chip) is mounted on a wiring board, solder bumps are provided on the wiring board, and the solder bumps are heated and melted so that the flip chip and the wiring are connected. Bonded to the substrate.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところが、前記半田バ
ンプは、例えば半田ペーストを加熱溶融して球状にした
だけであるので、その高さが必ずしも揃っておらず、即
ち(平面における各位置の高さの不揃いの程度を示す)
コーポラナリティが大きく、そのため、フリップチップ
との接合性が充分ではないという問題があった。
However, since the solder bumps are merely formed by heating and melting the solder paste into a spherical shape, their heights are not necessarily uniform, that is, (the height of each position on the plane is The degree of unevenness)
There is a problem that the co-planarity is large and therefore the bondability with the flip chip is not sufficient.

【0004】この問題の対策として、発明者は、既に、
左右に脚部を有する平板からなる平坦化治具を用い、該
平板にて半田バンプの頂部を平坦にしてコーポラナリテ
ィを小さくすることにより、接合性を向上させる方法を
提案している(特願平8−108287号参照)。
As a measure against this problem, the inventor has already
A flattening jig made of a flat plate having left and right legs is used to propose a method for improving the bondability by flattening the tops of the solder bumps on the flat plate to reduce the coplanarity. (See No. 8-108287).

【0005】しかしながら、前記のような対策を施した
場合でも、下記,の様な問題が生じることがあり、
一層の対策が望まれる。 配線基板に反りがあるとコーポラナリティが悪くな
る。例えば図9に示すように、配線基板P1に反りがあ
る場合において、基板の中央付近が高くなる山反りの場
合(左欄)は、配線基板の平面度は変化せずに保たれ、
問題なくコーポラナリティの良い半田バンプP2を形成
できるが、谷反りの場合は、平坦化治具P3を配線基板
P1に載せた時に、平坦化治具P3の重みで配線基板P
1の反りが一時的に平坦に伸ばされ、見かけ上平面度が
一時的に良くなってしまう。よって、この状態で半田バ
ンプP2が溶融されて平坦化された場合には、半田バン
プP2の溶融後に平坦化治具P3を外すと、配線基板P
1の反りが戻るため、半田バンプP2のコーポラナリテ
ィが悪くなる。
However, even if the above measures are taken, the following problems may occur.
Further measures are required. If there is a warp on the wiring board, the corporality will deteriorate. For example, as shown in FIG. 9, in the case where the wiring board P1 has a warp and the central portion of the wiring board has a high warp (left column), the flatness of the wiring board is kept unchanged,
Although the solder bumps P2 having good coplanarity can be formed without any problem, in the case of a valley warp, when the flattening jig P3 is placed on the wiring board P1, the wiring board P is weighted by the flattening jig P3.
The warp of No. 1 is temporarily flattened, and apparently the flatness is temporarily improved. Therefore, when the solder bumps P2 are melted and flattened in this state, if the flattening jig P3 is removed after the solder bumps P2 are melted, the wiring board P is removed.
Since the warp of 1 returns, the corporality of the solder bump P2 becomes worse.

【0006】半田ブリッジが発生する。また、半田バ
ンプを印刷法又はディスペンサーで塗布し溶融して形成
する場合、工程を短縮するために、半田の溶融と半田バ
ンプの平坦化を同時に行なうことが望ましいが、図10
に示すように、半田ペーストP4を塗布した配線基板P
1に平坦化治具P3をかぶせると、平坦化治具P3の平
板下面が半田ペーストP4と接触して下方に押しつぶす
ため、半田ペーストP4は横方向に広がり、隣接するパ
ッドP5間の半田ペーストP4の距離が短くなってしま
う。更に、平坦化治具P3内で配線基板P1が振動等で
動くと、半田ペーストP4はフラックスにより粘着性を
もっているので、半田ペーストP4は平坦化治具P3の
動きに合わせてずれて、隣接するパッドP5の半田ペー
ストP4とつながってしまう。よって、そのまま溶融さ
れると、半田が隣接パッドP5間で橋渡し状につながっ
て凝固する「半田ブリッジ」が発生し、ショート不良と
なってしまうことがある。
A solder bridge occurs. When solder bumps are applied by a printing method or a dispenser and melted to form, it is desirable to melt the solder and flatten the solder bumps simultaneously in order to shorten the process.
, The wiring board P coated with the solder paste P4
When 1 is covered with the flattening jig P3, the flat plate lower surface of the flattening jig P3 comes into contact with the solder paste P4 and crushes it downward, so that the solder paste P4 spreads laterally and the solder paste P4 between the adjacent pads P5 The distance will be shortened. Further, when the wiring board P1 moves in the flattening jig P3 due to vibration or the like, the solder paste P4 has an adhesive property due to the flux. Therefore, the solder paste P4 shifts in accordance with the movement of the flattening jig P3 and is adjacent to it. It will be connected to the solder paste P4 of the pad P5. Therefore, if the solder is melted as it is, a "solder bridge" in which the solder is connected and solidified between the adjacent pads P5 in a bridging manner may occur, resulting in a short circuit defect.

【0007】本発明は、前記課題を解決するためになさ
れたものであり、コーポラナリティを小さくして接合性
を向上するとともに、半田ブリッジの発生を防止できる
半田バンプを有する配線基板の製造方法及び支持治具を
提供することを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above problems, and a method of manufacturing a wiring board having solder bumps capable of preventing the occurrence of solder bridges as well as improving the bondability by reducing the coplanarity. It is intended to provide a supporting jig.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の請求項1の発明は、配線基板の上方主面に載置された
半田材料を加熱して、半田バンプを形成する配線基板の
製造方法において、前記半田バンプを形成する際に該半
田バンプの頂部の高さ規制することにより該頂部に平坦
面を形成する平坦化治具を、前記配線基板の上方主面上
に配置するとともに、前記配線基板の下方主面側から、
支持治具を用いて、前記配線基板自身の有する反りを保
持してその平面度を保ちつつ、当該配線基板を支持し、
この状態で加熱して、前記半田材料を溶融させることを
特徴とする半田バンプを有する配線基板の製造方法を要
旨とする。
The invention according to claim 1 for achieving the above object is mounted on an upper main surface of a wiring board .
For wiring boards that heat solder material to form solder bumps
In the manufacturing method, when the solder bump is formed, the half
By controlling the height of the top of the field bump, the top of the bump is flattened
A flattening jig for forming a surface on the upper main surface of the wiring board.
And arranged from the lower main surface side of the wiring board,
Use a support jig to maintain the warp of the wiring board itself.
Hold and maintain the flatness, support the wiring board,
The gist is a method for manufacturing a wiring board having solder bumps, which is characterized by heating in this state to melt the solder material.

【0009】・ここで、前記「平面度を保つ」という意
味には、反りを伸ばさないという意味と、反りを助長し
ないという意味が含まれる。 ・前記半田バンプに用いられる半田としては、Pb−S
n系の軟ろうの他、通常バンプ材料として使用されるA
u−Sn系、Au−Si系等、450℃以下の融点を有
する広義のろう材などを採用できる。
Here, the meaning of "maintaining the flatness" includes the meaning that the warp is not extended and the meaning that the warp is not promoted. -As the solder used for the solder bump, Pb-S
In addition to n-based soft solder, A which is usually used as a bump material
It is possible to employ a brazing material having a melting point of 450 ° C. or lower, such as u-Sn type and Au-Si type.

【0010】・前記半田バンプを有する配線基板として
は、フリップチップ実装基板、BGA基板が挙げられる
が、この場合、BGA基板とは、接続パッドが格子状に
配列され、各パッドに半田ボールが配設されたボールグ
リッドアレイ基板を意味する。
As the wiring board having the solder bumps, there are a flip chip mounting board and a BGA board. In this case, the BGA board has connection pads arranged in a grid and solder balls arranged on each pad. The installed ball grid array substrate is meant.

【0011】・前記加熱溶融する温度としては、半田材
料の融点(即ち半田の融点)以上であればよいが、例え
ば半田の融点の10〜40℃高い温度を採用できる。請
求項2の発明は、脚部を有する前記平坦化治具を、前記
配線基板の上方主面上に配置するとともに、前記平坦化
治具の脚部に対応する位置に配置した前記支持治具の支
持部材により、前記配線基板の下方主面側から、該配線
基板を支持することを特徴とする前記請求項1に記載の
半田バンプを有する配線基板の製造方法を要旨とする。
The temperature for heating and melting may be equal to or higher than the melting point of the solder material (that is, the melting point of the solder). For example, a temperature 10 to 40 ° C. higher than the melting point of the solder can be adopted. The invention of claim 2, the planarization tool to have a leg portion, said
Placed on the upper main surface of the wiring board, and flattened
The support jig support placed at the position corresponding to the jig leg
The holding member allows the wiring from the lower main surface side of the wiring board.
A method of manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 1 is characterized in that the board is supported .

【0012】請求項3の発明は、前記請求項2に記載の
半田バンプを有する配線基板の製造方法に使用される支
持治具であって、前記配線基板を前記下方主面側から支
持する支持部材を、上面側に有することを特徴とする支
持治具を要旨とする。
A third aspect of the present invention is a supporting jig used in the method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to the second aspect, wherein the supporting jig supports the wiring board from the lower main surface side. A gist of a support jig is that the member is provided on the upper surface side.

【0013】求項4の発明は、配線基板の主面上に載
置された半田材料の上方に、該半田材料の加熱溶融によ
り形成される半田バンプの高さを規制するための平面を
有する規制部材を、溶融前高さ保持手段によって前記半
田材料に接触しない高さに保持する工程と、前記半田材
料を加熱溶融させる工程と、前記半田材料の加熱溶融後
に、前記規制部材を所定高さまで下降させて保持し、溶
融している前記半田バンプの頂部の高さを前記平面で規
制して該頂部に平坦面を形成する工程と、を有すること
を特徴とする半田バンプを有する配線基板の製造方法を
要旨とする。
[0013] invention Motomeko 4 above the mounting solder material on a main surface of the wiring board, the plane for regulating the height of the solder bumps formed by heating and melting the solder material A step of holding the regulating member having a height that does not come into contact with the solder material by a height holding means before melting, a step of heating and melting the solder material, and a step of heating and melting the solder material.
And holding the regulating member down to a predetermined height and regulating the height of the top of the melted solder bump with the flat surface to form a flat surface on the top. The gist is a method of manufacturing a wiring board having a solder bump.

【0014】請求項5の発明は、前記半田材料の加熱溶
融前は、前記半田材料の融点以上で加熱溶融温度以下の
融点を持つ半田からなる溶融前高さ保持部材により前記
規制部材を前記半田材料に接触しない高さに保持するこ
とを特徴とする前記請求項4記載の半田バンプを有する
配線基板の製造方法を要旨とする。
According to a fifth aspect of the present invention, before the heating and melting of the solder material, the regulating member is soldered by a pre-melting height holding member made of solder having a melting point higher than the melting point of the solder material and lower than the heating melting temperature. A method of manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 4 is characterized in that the height is maintained so as not to contact the material.

【0015】前記溶融前高さ保持部材の形状としては、
ボール状、柱状(円柱状、角柱状)、リング状等の各種
の形状のものを採用できる。請求項6の発明は、前記溶
融前高さ保持部材が、ボール状半田であることを特徴と
する前記請求項5に記載の半田バンプを有する配線基板
の製造方法を要旨とする。
As the shape of the pre-melting height holding member,
Various shapes such as ball shape, columnar shape (cylindrical shape, prismatic shape) and ring shape can be adopted. A sixth aspect of the present invention provides a method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to the fifth aspect, wherein the pre-melting height holding member is ball-shaped solder.

【0016】請求項7の発明は、前記半田材料の加熱溶
融後は、溶融後高さ保持部材により前記規制部材を前記
所定高さに保持することを特徴とする前記請求項4〜6
のいずれかに記載の半田バンプを有する配線基板の製造
方法を要旨とする。
The invention of claim 7 is characterized in that, after heating and melting the solder material, the post-melting height holding member holds the regulating member at the predetermined height.
The gist of the method is a method of manufacturing a wiring board having a solder bump according to any one of the above.

【0017】前記溶融後高さ保持部材は、規制部材と一
体でもよいが、別体(スペーサ)でもよい。請求項8の
発明は、前記溶融後高さ保持部材が、前記規制部材の下
面に形成した脚部であることを特徴とする前記請求項7
に記載の半田バンプを有する配線基板の製造方法を要旨
とする。
The post-melting height holding member may be integral with the regulating member, or may be a separate body (spacer). The invention according to claim 8 is characterized in that the post-melting height holding member is a leg portion formed on a lower surface of the regulating member.
The gist is a method of manufacturing a wiring board having a solder bump described in (1).

【0018】請求項9の発明は、前記半田材料の加熱溶
融前は、感温変位体からなる溶融前高さ保持部材により
前記規制部材を前記半田材料に接触しない高さに保持
し、前記半田材料の加熱溶融後に、前記感温変位体を変
位させることにより、前記規制部材を下降させることを
特徴とする前記請求項4記載の半田バンプを有する配線
基板の製造方法を要旨とする。
According to a ninth aspect of the present invention, before heating and melting the solder material, the pre-melting height holding member formed of a temperature sensitive displacement body holds the regulating member at a height that does not come into contact with the solder material. A method of manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 4, wherein the regulating member is lowered by displacing the temperature sensitive displacement body after heating and melting the material.

【0019】前記感温変位体としては、例えばバイメタ
ルや形状記憶合金等のように、温度によりその形状が変
化するものを採用できる。請求項10の発明は、前記感
温変位体がバイメタルであることを特徴とする前記請求
項9に記載の半田バンプを有する配線基板の製造方法を
要旨とする。
As the temperature sensitive displacement body, for example, bimetal, shape memory alloy, or the like whose shape changes depending on temperature can be adopted. A tenth aspect of the present invention provides a method of manufacturing a wiring board having solder bumps according to the ninth aspect, wherein the temperature-sensitive displacement body is a bimetal.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】請求項1の発明では、配線基板の
上方主面上に平坦化治具を配置する一方、配線基板の下
方主面側からは、支持治具により、配線基板自身の有す
る反りを保持してその平面度を保ちつつ配線基板を支持
している。
According to the first aspect of the present invention, the flattening jig is arranged on the upper main surface of the wiring board, while the lower jig is provided on the wiring board itself from the lower main surface side of the wiring board. Have
The wiring board is supported while maintaining its flatness while maintaining its flatness.

【0021】つまり、本発明では、配線基板自身の有す
る反りは、平坦化治具を載置しても伸ばされたり助長さ
れたりすることがなく、基板の平面度が保たれるので、
平坦化治具によって半田バンプの頂部を平坦にする際
に、反りによる各半田バンプの高さの違いを、半田バン
プの頂部の平坦化により打ち消すことができる。
That is, in the present invention, the warp of the wiring board itself is not stretched or promoted even when the flattening jig is placed, and the flatness of the board is maintained.
When the top of the solder bump is flattened by the flattening jig, the difference in height of each solder bump due to the warp can be canceled by flattening the top of the solder bump.

【0022】よって、本発明によれば、例えば、谷反り
している配線基板の(持ち上がった)端部付近の半田バ
ンプの(基板表面からの)高さは、その頂部が大きく平
坦化されて低くなり、逆に配線基板の(凹んだ)中央部
分の半田バンプの高さは、その頂部の平坦化の程度が少
ないので高くなり、結果として、コーポラナリティが小
さくなる。
Therefore, according to the present invention, for example, the height (from the substrate surface) of the solder bump in the vicinity of the (raised) end of the warped wiring board is largely flattened at the top. On the contrary, the height of the solder bump in the central portion (recessed) of the wiring board becomes high because the degree of flattening of the top portion thereof is small, and as a result, the coplanarity becomes small.

【0023】請求項2の発明では、配線基板の上方主面
側に、脚部を有する平坦化治具を配置し、配線基板の下
方主面側からは、平坦化治具の脚部に対応する位置に設
けた支持部材により配線基板を支持している。つまり、
本発明では、配線基板を挟んで、平坦化治具の脚部と支
持治具の支持部材の位置を合わせて配線基板を支持して
いるので、配線基板の反りが伸ばされたり助長されたり
することがない。
According to the second aspect of the invention, the flattening jig having the legs is arranged on the upper main surface side of the wiring board, and the lower flat surface of the wiring board corresponds to the leg portions of the flattening jig. The wiring board is supported by the supporting member provided at the position. That is,
In the present invention, the wiring board is sandwiched between the legs of the flattening jig and the support.
Since the wiring board is supported by aligning the positions of the supporting members of the holding jig , the warp of the wiring board is not extended or promoted.

【0024】請求項3の発明の支持治具は、配線基板の
下方主面を支持する支持部材を、上面側に有しているの
で、この支持治具を用いると、配線基板の反りを伸ばし
たり助長することがなく、配線基板を支持することがで
きる。請求項4の発明では、溶融前高さ保持手段によっ
て、配線基板の主面上の半田材料の上方にて、半田材料
に接触しない高さに規制部材を保持し、その後半田材料
を加熱溶融させることにより、規制部材を所定高さまで
下降させて保持し、溶融している半田バンプの頂部の高
さを平面で規制して頂部に平坦面を形成する。
Since the supporting jig of the invention of claim 3 has a supporting member for supporting the lower main surface of the wiring board on the upper surface side, the warping of the wiring board is extended by using this supporting jig. It is possible to support the wiring board without causing any increase. According to the invention of claim 4, the pre-melting height holding means
Hold the regulating member above the solder material on the main surface of the wiring board at a height that does not contact the solder material, and then heat and melt the solder material to lower and hold the regulating member to a predetermined height. Then, the height of the top of the melted solder bump is regulated by a flat surface to form a flat surface on the top.

【0025】つまり、本発明では、規制部材の平面は、
加熱前は半田材料に接していないので、半田材料が押し
潰されて横に広がることがなく、また振動等により規制
部材がずれたりしても、規制部材とともに半田材料が動
くことがないので、半田材料同士が過度に接近したり接
触することがない。そのため、規制部材を下降させて半
田バンプの頂部を平坦化する場合、即ち加熱溶融の際
に、半田同士が接合して半田ブリッジを形成することが
ないので、ショートの発生を防止できる。
That is, in the present invention, the plane of the regulating member is
Since it is not in contact with the solder material before heating, the solder material will not be crushed and spread laterally, and even if the regulation member is displaced due to vibration or the like, the solder material does not move together with the regulation member. The solder materials do not come too close to each other or come into contact with each other. Therefore, when the regulating member is lowered to flatten the tops of the solder bumps, that is, at the time of heating and melting, the solders are not joined to each other to form a solder bridge, so that a short circuit can be prevented.

【0026】請求項5の発明では、半田材料の加熱溶融
前は、半田材料の融点以上で加熱溶融温度以下の融点を
持つ半田からなる溶融前高さ保持部材により、規制部材
を半田材料に接触しない高さに保持している。従って、
加熱前は、未溶融の溶融前高さ保持部材によって、規制
部材を半田材料に接触しない高さに持ち上げた状態とす
ることにより、半田材料同士の接近や接触を防止して
(加熱時の)半田ブリッジの生成を防止できるととも
に、加熱の際には、溶融前高さ保持部材が溶融すること
により、自動的に規制部材を下降させて半田バンプの頂
部を平坦にすることができる。また、規制部材を保持す
るのは、半田からなる溶融高さ保持部材で保持している
ので、簡単に規制部材を保持状態にセットできる。
According to the fifth aspect of the present invention, before heating and melting the solder material, the regulating member is brought into contact with the solder material by the pre-melting height holding member made of solder having a melting point higher than the melting point of the solder material and lower than the heating melting temperature. Not held at a height. Therefore,
Before heating, the non-melted pre-melting height holding member raises the regulating member to a height that does not contact the solder material, thereby preventing the solder materials from approaching or contacting each other (during heating). It is possible to prevent the formation of solder bridges, and at the time of heating, the pre-melting height holding member melts, so that the regulating member can be automatically lowered to flatten the tops of the solder bumps. Further, since the restriction member is held by the melt height holding member made of solder, the restriction member can be easily set in the holding state.

【0027】請求項6の発明では、溶融前高さ保持部材
として、ボール状半田を採用できる。半田は半田に濡れ
ないセラミック等の板などの上で溶融させると表面張力
でボール状になる。したがって、一度使用して潰された
溶融前高さ保持部材(ボール状半田)を、加熱溶融させ
て再びボール状にすれば、何度でも使用することができ
る。
In the sixth aspect of the invention, ball-shaped solder can be adopted as the pre-melting height holding member. When the solder is melted on a plate of ceramic or the like that does not get wet with the solder, it becomes ball-shaped due to surface tension. Therefore, if the pre-melting height holding member (ball-shaped solder) that has been used and crushed once is heated and melted into a ball shape again, it can be used any number of times.

【0028】請求項7の発明では、半田材料の加熱溶融
後は、溶融後高さ保持部材により規制部材を所定高さに
保持している。よって、溶融前高さ保持部材が溶融によ
り規制部材の高さを保持できなくなっても、この溶融後
高さ保持部材が規制部材を所定高さに保持するので、半
田バンプの高さを決めることができ、また、半田バンプ
が(規制部材により)必要以上に潰されるのを防止でき
る。
According to the seventh aspect of the invention, after the solder material is heated and melted, the post-melting height holding member holds the regulating member at a predetermined height. Therefore, even if the height holding member before melting cannot hold the height of the regulating member due to melting, the height holding member after melting holds the regulating member at a predetermined height, so that the height of the solder bump is determined. It is also possible to prevent the solder bumps from being crushed more than necessary (by the regulating member).

【0029】請求項8の発明では、溶融後高さ保持部材
として、規制部材の下面に形成された脚部を採用でき
る。この構成であれば、別体のスペーサを噛ませる必要
がなく、作業工程が簡易化される。請求項9の発明で
は、感温変位体からなる溶融前高さ保持部材により規制
部材を半田材料に接触しない高さに保持しているので、
半田材料を加熱溶融する際には、この感温変位体が変位
し、規制部材が下降する。
According to the eighth aspect of the present invention, the leg portion formed on the lower surface of the regulating member can be adopted as the post-melting height holding member. With this configuration, it is not necessary to bit a separate spacer, and the working process is simplified. In the invention of claim 9, since the pre-melting height holding member formed of the temperature sensitive displacement body holds the regulating member at a height that does not contact the solder material,
When the solder material is heated and melted, the temperature sensitive displacement body is displaced and the regulation member is lowered.

【0030】従って、この感温変位体は、半田ボールの
ように溶融したり転がってゆくことがないので、扱いが
容易である。尚、この感温変位体が形状記憶合金である
場合には、使用後に、その形状を元に戻すだけで、再使
用することができ、半田ボールのように加熱溶融して再
生する必要がない。
Therefore, since this temperature-sensitive displacement body does not melt or roll like a solder ball, it is easy to handle. If the temperature-sensitive displacement body is a shape memory alloy, it can be reused by returning its shape after use, and it is not necessary to reheat it by melting it like a solder ball. .

【0031】請求項10の発明では、感温変位体として
バイメタルを使用できる。このバイメタルは、形状記憶
合金よりも扱いが容易であり、温度が戻れば元に形状に
なるので、そのまま再使用が可能である。
In the tenth aspect of the invention, bimetal can be used as the temperature sensitive displacement body. This bimetal is easier to handle than a shape memory alloy, and returns to its original shape when the temperature returns, so that it can be reused as it is.

【0032】[0032]

【実施例】次に、本発明の半田バンプを有する配線基板
の製造方法の実施例を、使用する治具とともに説明す
る。ここでは、集積回路チップ(LSI素子、以下単に
フリップチップと称す)をフェースダウンで実装するた
めの樹脂製の回路基板(フリップチップ搭載用基板、以
下単に配線基板と称す)、即ち、フリップチップをフリ
ップチップ法によって接合するための半田バンプを有す
る配線基板の製造方法について述べる。 (実施例1)本実施例の製造方法にて製造される配線基
板は、図1に示すように、表側(図示上面)のうち、1
2mm×17.5mmの領域に半田バンプ1が形成され
た、外径が約23mm角、板厚約1mmの樹脂製の多層
配線基板である。
EXAMPLE An example of a method of manufacturing a wiring board having solder bumps according to the present invention will be described below together with a jig to be used. Here, a resin-made circuit board (flip chip mounting board, hereinafter simply referred to as wiring board) for mounting an integrated circuit chip (LSI element, simply referred to as flip chip) face down is referred to as a flip chip. A method of manufacturing a wiring board having solder bumps for bonding by the flip chip method will be described. (Embodiment 1) As shown in FIG. 1, the wiring board manufactured by the manufacturing method of this embodiment has one of the front side (top surface in the drawing).
This is a resin multilayer wiring board having a solder bump 1 formed in a region of 2 mm × 17.5 mm, an outer diameter of about 23 mm square, and a plate thickness of about 1 mm.

【0033】以下、本実施例の配線基板3の製造方法を
説明するが、ここでは、配線基板3に、例えば中央部が
40μm低い谷反りがある例について説明する。 半田バンプ1を形成する対象となる配線基板3を製造
する場合には、図1(b)に拡大及び破断して示すよう
に、まず、BTコア基板5上にエポキシ樹脂による絶縁
層7を形成すると共に、BTコア基板5及び絶縁層7に
わたって、無電界Cuメッキ及び電解Cuメッキを用い
たセミアディティブ法によってCu内部配線9を形成し
て積層する。尚、Cu内部配線9の形成法としては、サ
ブトラクティブ法やフルアディティブ法によってもよ
い。
Hereinafter, a method of manufacturing the wiring board 3 of this embodiment will be described. Here, an example will be described in which the wiring board 3 has a valley warp lower by 40 μm in the central portion. When manufacturing the wiring board 3 on which the solder bumps 1 are to be formed, as shown in the enlarged and broken view of FIG. 1B, first, the insulating layer 7 made of epoxy resin is formed on the BT core substrate 5. At the same time, the Cu internal wiring 9 is formed and laminated over the BT core substrate 5 and the insulating layer 7 by a semi-additive method using electroless Cu plating and electrolytic Cu plating. The Cu internal wiring 9 may be formed by a subtractive method or a full additive method.

【0034】次に、配線基板3の最表面では、前記C
u内部配線9と接合されるCu配線11の耐食のため及
び半田との密着性を向上させるために、無電解Ni−P
メッキによって約3μmのNi−P層13を形成し、更
にその上に、無電解Auメッキによって約0.1μmの
Au層15を形成して、Ni−P層13及びAu層15
からなる下地導電性パッド(以下単にパッドと称す)1
7を作成する。尚、その他の部位には、アクリルやエポ
キシ樹脂などにより、ソルダーレジスト層19を形成す
る。
Next, on the outermost surface of the wiring board 3, the C
In order to prevent corrosion of the Cu wiring 11 joined to the u internal wiring 9 and to improve adhesion with solder, electroless Ni-P
The Ni—P layer 13 having a thickness of about 3 μm is formed by plating, and the Au layer 15 having a thickness of about 0.1 μm is further formed thereon by electroless Au plating to form the Ni—P layer 13 and the Au layer 15.
An underlying conductive pad consisting of (hereinafter simply referred to as pad) 1
Create 7. In addition, the solder resist layer 19 is formed of acrylic or epoxy resin on other portions.

【0035】尚、上述したメッキ方法は、周知の多層プ
リント配線板のメッキ方法と同様であるので詳述しない
(例えば、「多層プリント配線板ステップ365」;藤
平・藤森共著;工業調査会;1989年発行参照)。 次に、図2に示すように、配線基板3の表側のパッド
17上に、37Pb−63Snの共晶半田ペースト(融
点183℃)を周知の印刷法で塗布し、共晶半田ペース
ト層21を形成する。
Since the above-mentioned plating method is the same as the well-known method for plating a multilayer printed wiring board, it will not be described in detail (for example, "Multilayer printed wiring board step 365"; Fujihira / Fujimori Co .; Industrial Research Committee; 1989). Issued annually). Next, as shown in FIG. 2, 37Pb-63Sn eutectic solder paste (melting point 183 ° C.) is applied to the front side pad 17 of the wiring board 3 by a known printing method to form the eutectic solder paste layer 21. Form.

【0036】尚、共晶半田ペースト層21を形成する方
法としては、この方法以外に、ディスペンサにより半田
ペーストを滴下して形成する方法がある。また、半田ペ
ースト層21を形成するのに代えて、半田ボールや半田
プリフォームをパッド17上に載置しても良い。
As a method of forming the eutectic solder paste layer 21, other than this method, there is a method of dropping the solder paste with a dispenser. Further, instead of forming the solder paste layer 21, solder balls or solder preforms may be placed on the pads 17.

【0037】次に、配線基板3の表側(図中上側)
に、形成される半田バンプ1の高さを規制するために平
坦化治具23を配置する。この平坦化治具23は、アル
ミナセラミック製であり、板状の平坦部23a(縦23
mm×横25mm×厚さ1mm)と該平坦部23aの左
右に設けられた脚部23b(長さ23mm×幅3mm×
高さ60μm)とから構成されている。
Next, the front side of the wiring board 3 (upper side in the figure)
Then, a flattening jig 23 is arranged to regulate the height of the solder bump 1 to be formed. The flattening jig 23 is made of alumina ceramic and has a plate-shaped flat portion 23a (vertical 23
mm × width 25 mm × thickness 1 mm) and leg portions 23b (length 23 mm × width 3 mm ×) provided on the left and right of the flat portion 23a
Height 60 μm).

【0038】それとともに、配線基板3の裏側(図中下
側)に、配線基板3の反りを伸ばさないように配線基板
3の左右両端を支持する支持治具25を配設する。この
支持治具25は、アルミナセラミック製の治具であり、
図3に示すように、板状の平坦部25a(縦23mm×
横25mm×厚さ1mm)の両端に、配線基板3を支持
する凸状の支持部25b(長さ23mm×幅3mm×高
さ1mm)が設けられたものである。
At the same time, a supporting jig 25 for supporting the left and right ends of the wiring board 3 is provided on the back side (lower side in the figure) of the wiring board 3 so as not to extend the warp of the wiring board 3. The support jig 25 is a jig made of alumina ceramic,
As shown in FIG. 3, a plate-shaped flat portion 25a (23 mm long × 23 mm long)
A projecting support portion 25b (23 mm long × 3 mm wide × 1 mm high) for supporting the wiring board 3 is provided at both ends of the width 25 mm × thickness 1 mm).

【0039】この状態で、最高温度220℃のリフロ
ー炉に通し、表側にある共晶半田を溶融させて、その後
冷却する。これによって、配線基板3の表側に、頂部が
平坦になったフリップチップ接合用の半田バンプ1(高
さ100μm)を形成する。このように、本実施例によ
れば、配線基板3の表側に平坦化治具23を配置すると
ともに、平坦化治具23の脚部23bと対応する位置に
支持部25bが位置するように、配線基板3の裏側に支
持治具25を配置し、この状態で加熱している。
In this state, the eutectic solder on the front side is melted by passing through a reflow furnace having a maximum temperature of 220 ° C., and then cooled. As a result, the solder bumps 1 (height 100 μm) for flip-chip bonding having flattened tops are formed on the front side of the wiring board 3. As described above, according to this embodiment, the flattening jig 23 is arranged on the front side of the wiring board 3, and the supporting portion 25b is located at a position corresponding to the leg portion 23b of the flattening jig 23. A supporting jig 25 is arranged on the back side of the wiring board 3 and is heated in this state.

【0040】従って、平坦化治具23によって配線基板
3の反りが伸ばされない状態(及び反りが助長されない
状態)で、半田バンプ1の頂部の平坦化を行なうことが
できるので、半田バンプ1の頂部の平坦化の際に、例え
ば反りによって半田バンプ1が持ち上げられる部分では
その半田バンプ1の高さを低めることにより、配線基板
3の反りを吸収することができる。そのため、配線基板
3のコーポラナリティを(例えば0.3μm/mm以下
に)小さくすることができるので、フリップチップとの
接合性を向上することができる。
Therefore, the top of the solder bump 1 can be flattened while the warp of the wiring board 3 is not extended by the flattening jig 23 (and the warp is not promoted). When the top portion is flattened, the warp of the wiring board 3 can be absorbed by lowering the height of the solder bump 1 at a portion where the solder bump 1 is lifted by the warp, for example. Therefore, since the coplanarity of the wiring board 3 can be reduced (for example, to 0.3 μm / mm or less), the bondability with the flip chip can be improved.

【0041】特に平坦化治具23の脚部23bと支持治
具25の支持部23bとを、表裏で同じ位置に配置する
と、配線基板3の反りが全く伸ばされないで平面度が保
たれるという利点がある。 (実験例)次に、実験例について説明する。
Particularly, when the leg portions 23b of the flattening jig 23 and the supporting portions 23b of the supporting jig 25 are arranged at the same positions on the front and back sides, the warp of the wiring board 3 is not extended at all and the flatness is maintained. There is an advantage. (Experimental Example) Next, an experimental example will be described.

【0042】本実験例は、平坦化治具のみを使用した場
合(比較例)と、本実施例のように平坦化治具及び支持
治具を使用した場合を比較したものである。その結果
を、図4に示すが、本実施例のように、平坦化治具及び
支持治具を使用した場合には、配線基板の反りがない場
合、山反りの場合、谷反りの場合のいずれの場合も、コ
ーポラナリティが0.3μm/mm以下と小さく好適で
あった。これに対して、平坦化治具のみを使用した場合
には、配線基板の反りがない場合及び山反りの場合に
は、コーポラナリティが0.3μm/mm以下と小さか
ったが、谷反りの場合には、配線基板の反りが伸ばされ
てしまうので、コーポラナリティが0.7μm/mmと
大きくなり好ましくない。 (実施例2)次に、実施例2について説明する。
This experimental example compares the case where only the flattening jig is used (comparative example) with the case where the flattening jig and the supporting jig are used as in the present embodiment. The results are shown in FIG. 4. When a flattening jig and a supporting jig are used as in the present embodiment, there are no warp of the wiring board, a case of a warp, and a case of a valley warp. In all cases, the coplanarity was small at 0.3 μm / mm or less, which was preferable. On the other hand, when only the flattening jig was used, the coplanarity was as small as 0.3 μm / mm or less in the case of no warp of the wiring board and in the case of mountain warp, but in the case of valley warp In addition, since the warp of the wiring board is extended, the coplanarity is increased to 0.7 μm / mm, which is not preferable. (Second Embodiment) Next, a second embodiment will be described.

【0043】本実施例は、半田材料の加熱溶融時に、半
田ボールを溶融させて規制部材を下降させ、半田バンプ
の頂部を平坦にするものである。以下、本実施例の配線
基板の製造方法を説明するが、前記実施例1と同様な部
分の説明は、省略又は簡略化する。尚、以下の図面で
は、説明をより判り易くするために、半田ペースト中に
含まれる半田粒も記載する。
In this embodiment, when the solder material is heated and melted, the solder balls are melted and the regulating member is lowered to flatten the tops of the solder bumps. Hereinafter, the method of manufacturing the wiring board of the present embodiment will be described, but the description of the same parts as those in the first embodiment will be omitted or simplified. In the following drawings, the solder particles contained in the solder paste are also shown in order to make the description easier to understand.

【0044】前記実施例1の及びと同様な工程に
て、図5に示す様な配線基板31及びパッド33を形成
する。 次に、配線基板31の表側のパッド33上に、前記実
施例1と同様な共晶半田ペーストを印刷して、凸状の共
晶半田ペースト層35を形成する。尚、共晶半田ペース
ト層35には、フラックス35aの中に半田粒35bが
分散して存在している。
The wiring board 31 and the pads 33 as shown in FIG. 5 are formed by the same steps as those in the first embodiment. Next, the same eutectic solder paste as that of the first embodiment is printed on the pads 33 on the front side of the wiring board 31 to form a convex eutectic solder paste layer 35. In the eutectic solder paste layer 35, the solder particles 35b are dispersed in the flux 35a.

【0045】次に、配線基板31を下治具37上に載
置する。この下治具37は、図6(a)に示すように、
アルミナセラミックからなる板状の部材(縦25mm×
横35mm×厚さ2mm)であり、その中央部には溝部
37a(幅19mm×深さ1mm)が形成されるととも
に、四隅に円錐状の凹部37b(直径1.4mm×深さ
0.7mm)が形成されている。尚、前記配線基板31
は溝部37に掛けわたされるように配置されるが、これ
は、配線基板31の反りを伸ばさないためである。
Next, the wiring board 31 is placed on the lower jig 37. This lower jig 37, as shown in FIG.
A plate-shaped member made of alumina ceramic (length 25 mm x
The width is 35 mm × thickness 2 mm), the groove 37a (width 19 mm × depth 1 mm) is formed in the center, and the conical recesses 37b (diameter 1.4 mm × depth 0.7 mm) are formed at the four corners. Are formed. The wiring board 31
Are arranged so as to be hung over the groove portion 37. This is because the warp of the wiring board 31 is not extended.

【0046】次に、図5に示すように、配線基板31
の凹部37bに、球状の溶融前高さ保持部材(半田ボー
ル)39を載置する。この半田ボール39は、55Sn
−45Pbからなる直径2mmのボールであり、その融
点は203℃である。つまり、半田ボール39の融点
は、半田バンプ43となる半田粒35bの融点より約2
0℃高い温度で溶融するように設定されているので、半
田ボール39は、半田粒35bが溶融した後に溶融す
る。
Next, as shown in FIG.
A spherical pre-melting height holding member (solder ball) 39 is placed in the recess 37b. This solder ball 39 is 55Sn
It is a ball made of -45Pb and having a diameter of 2 mm, and its melting point is 203 ° C. That is, the melting point of the solder ball 39 is about 2 times higher than the melting point of the solder grain 35b that becomes the solder bump 43.
Since the solder balls 39 are set to melt at a temperature higher by 0 ° C., the solder balls 39 melt after the solder particles 35b melt.

【0047】次に、この半田ボール39上に、図6
(b)に示す様な板状の規制部材(縦25mm×横35
mm×厚さ2mm)41を載置する。この規制部材41
は、半田ボール39が溶融する際に下降して半田バンプ
43の頂部を平坦にするための部材であり、アルミナセ
ラミックからなり、その下面側には、配線基板31の両
端、すなわち、下治具37のうち溝部37aの両側部寄
り部位に対応する位置にて下方に突出する左右一対の脚
部41a(高さ60μm)が設けられている。
Next, on the solder ball 39, as shown in FIG.
A plate-shaped regulating member as shown in (b) (25 mm long x 35 mm wide)
(mm × thickness 2 mm) 41 is placed. This restriction member 41
Is a member that descends when the solder balls 39 melt and flattens the tops of the solder bumps 43. The members are made of alumina ceramic, and the lower surface side thereof has both ends of the wiring board 31, that is, a lower jig. A pair of left and right leg portions 41a (having a height of 60 μm) protruding downward are provided at positions corresponding to both side portions of the groove portion 37a of the groove 37.

【0048】特に本実施例では、図5に示すように、前
記半田ボール39の直径が、半田ボール39上に規制部
材41を載置した場合に、規制部材41が共晶半田ペー
スト層35に接しないように、且つ脚部41aが配線基
板31に接しない高さに設定されている。具体的には、
下治具37と規制部材41との間隔h1は、1.7mm
であり、規制部材41と配線基板31との間隔h2は、
(0.7mm−基板の反り量)であり、脚部41aと配
線基板31との間隔h3は、0.64mmである。
In particular, in this embodiment, as shown in FIG. 5, when the regulating member 41 is placed on the solder ball 39, the regulating member 41 forms the eutectic solder paste layer 35. The height is set so that the leg portions 41a do not come into contact with the wiring board 31 so that they do not come into contact with each other. In particular,
The distance h1 between the lower jig 37 and the regulating member 41 is 1.7 mm
And the distance h2 between the regulating member 41 and the wiring board 31 is
(0.7 mm-warp amount of substrate), and the interval h3 between the leg portion 41a and the wiring substrate 31 is 0.64 mm.

【0049】この状態で、最高温度220℃のリフロ
ー炉に通す。すると、昇温して183℃に達したところ
で、最初に共晶半田ペースト層35中の融点の低い半田
粒35bが溶融し、凝集して球状の半田バンプ43が形
成されるが、この段階では、半田ボール39は溶融しな
いので、規制部材41の高さは保持されたままである。
尚、半田ボール39の周囲には、フラックス35aが付
着している。
In this state, it is passed through a reflow furnace having a maximum temperature of 220 ° C. Then, when the temperature rises to 183 ° C., the solder particles 35b having a low melting point in the eutectic solder paste layer 35 are first melted and aggregated to form spherical solder bumps 43. At this stage, Since the solder balls 39 are not melted, the height of the regulating member 41 is maintained.
The flux 35a is attached around the solder balls 39.

【0050】その後、加熱温度が上昇して半田ボール3
9の融点(203℃)に達すると、半田ボール39が溶
融するので、それにつれて規制部材41が下降し、半田
バンプ43の頂部を押圧して平坦にする。その動作とと
もに、この規制部材41は脚部41aが配線基板31に
当接することにより、その高さが保持されるので、これ
により、半田バンプの高さが設定される。
Thereafter, the heating temperature rises and the solder balls 3
When the melting point (203 ° C.) of 9 is reached, the solder balls 39 are melted, so that the regulating member 41 descends accordingly and presses the tops of the solder bumps 43 to flatten them. With this operation, the height of the regulation member 41 is maintained by the leg portions 41a coming into contact with the wiring board 31, so that the height of the solder bump is set.

【0051】その後、冷却した後に、規制部材41,
半田ボール39及び下治具37を除去し、フラックス3
5aも除去することにより、頂部が平坦な半田バンプ4
3を有する配線基板31が完成する。このように、本実
施例では、半田ボール39によって規制部材41を共晶
半田ペーストと接触しないように持ち上げているので、
半田ペースト層35が押し潰されて横に広がることがな
く、また規制部材41がずれたりしても、規制部材41
とともにペースト層35が動いて共晶半田ぺースト層3
5同士が過度に接近したり接触することがなく、よっ
て、加熱溶融時に半田ブリッジが形成されることがな
い。
Then, after cooling, the regulating member 41,
The solder balls 39 and the lower jig 37 are removed, and the flux 3
By removing 5a as well, the solder bump 4 having a flat top
The wiring board 31 having 3 is completed. As described above, in this embodiment, since the regulation member 41 is lifted by the solder balls 39 so as not to come into contact with the eutectic solder paste,
Even if the solder paste layer 35 is not crushed and does not spread laterally and the regulating member 41 is displaced, the regulating member 41
Along with the movement of the paste layer 35, the eutectic solder paste layer 3
The five parts do not come too close to each other or come into contact with each other, and therefore a solder bridge is not formed during heating and melting.

【0052】また、加熱の際には、半田粒35bが溶融
して凝集し、半田バンプ43を形成する前に半田ボール
39は溶融しないので、規制部材41は下降することな
く、よって、この点からも、半田ブリッジが形成される
ことがない。更に、一旦半田粒35bが溶融して凝集
し、球状で且つ溶融状態の半田バンプ43になると、半
田はパッド近傍に集まり、周囲をフラックス35aが取
り囲む状態となるので、バンプ相互間の半田同士の距離
が大きくなる。従って、規制部材41が下降してきて半
田バンプ43を押しても、近接したバンプ間でブリッジ
することはない。また、仮にこの状態で規制部材41が
ずれたとしても、フラックス35aのみがずれるだけで
あり、半田ブリッジが形成されることはない。
Further, during heating, the solder particles 35b are melted and aggregated, and the solder balls 39 are not melted before the solder bumps 43 are formed, so that the regulating member 41 does not descend, and therefore, this point Also, no solder bridge is formed. Further, once the solder particles 35b are melted and agglomerated to form the spherical and molten solder bumps 43, the solder gathers in the vicinity of the pads, and the flux 35a surrounds the surroundings. The distance increases. Therefore, even if the regulating member 41 descends and pushes the solder bumps 43, the adjacent bumps will not be bridged. Further, even if the regulating member 41 is displaced in this state, only the flux 35a is displaced and the solder bridge is not formed.

【0053】このように、本実施例では、規制部材41
を載せた後に、規制部材41がずれないよう保持する必
要がないのであるから、作業が簡易化されるという利点
がある。また、加熱により半田ボール39が溶融する時
には、規制部材41が下降して半田バンプ43の頂部を
平坦にすることができる。
As described above, in this embodiment, the regulating member 41 is used.
Since it is not necessary to hold the restricting member 41 so as not to shift after placing the sheet, there is an advantage that the work is simplified. Further, when the solder balls 39 are melted by heating, the regulation member 41 can be lowered to flatten the tops of the solder bumps 43.

【0054】更に、規制部材41には脚部41aが設け
られているので、所定の高さより下には、規制部材41
は下降しない。これによって、半田バンプ43の高さを
設定できるとともに、規制部材41によって半田バンプ
43が所定の高さより低く潰されることを防止できる。
Further, since the regulating member 41 is provided with the leg portion 41a, the regulating member 41 is provided below the predetermined height.
Does not descend. This makes it possible to set the height of the solder bumps 43 and prevent the solder bumps 43 from being crushed below a predetermined height by the regulation member 41.

【0055】本実施例においては、規制部材41を保持
するのに半田ボール39を使用したが、他の形状(例え
ば円柱、角柱状等)の半田を用いてもよい。但し、半田
ボール39は、使用した後に加熱すれば元の球状の形に
戻るので、再使用が容易であり、形状を一定とするのに
半田の体積だけで決められるため、一定形状としやすい
等の利点がある。 (実験例)本実施例の効果を確認するために、本実施例
で採用した半田ボールを使用する場合と使用しない場合
に分けて、実際に半田バンプを有する配線基板の製造方
法の実験を行った。
Although the solder balls 39 are used to hold the regulating member 41 in this embodiment, solder having another shape (for example, a columnar shape or a prismatic shape) may be used. However, since the solder ball 39 returns to the original spherical shape when heated after use, it is easy to reuse, and since the shape of the solder ball 39 is determined only by the volume of the solder, it is easy to obtain a constant shape. There are advantages. (Experimental example) In order to confirm the effect of the present embodiment, an experiment of a method of manufacturing a wiring board having solder bumps is actually conducted separately for the case where the solder balls adopted in this example are used and the case where they are not used. It was

【0056】それによると、半田ボールを使用しない場
合は、140000パッド上の半田バンプに対して30
箇所に半田ブリッジが形成されたが、本実施例の半田ボ
ールを使用した場合は、半田ブリッジが全く形成されな
かった。 (実施例3)次に、実施例3について説明する。
According to this, when the solder balls are not used, the solder bumps on the 140,000 pads are 30
A solder bridge was formed at the location, but when the solder ball of this example was used, no solder bridge was formed. (Third Embodiment) Next, a third embodiment will be described.

【0057】本実施例は、半田材料の加熱溶融時に、バ
イメタルを作動させて規制部材を下降させ、半田バンプ
の頂部を平坦にするものである。以下、本実施例の配線
基板の製造方法を説明するが、前記実施例1,2と同様
な部分の説明は、省略又は簡略化する。
In this embodiment, when the solder material is heated and melted, the bimetal is operated to lower the regulating member to flatten the top of the solder bump. Hereinafter, the method of manufacturing the wiring board of the present embodiment will be described, but the description of the same parts as those of the first and second embodiments will be omitted or simplified.

【0058】前記実施例1の及びと同様な工程に
て、図7に示す様な配線基板51及びパッド53を形成
する。 次に、配線基板51の表側のパッド53上に、前記実
施例1と同様な共晶半田ペーストを印刷して、凸状の共
晶半田ペースト層55を形成する。尚、共晶半田ペース
ト層55には、フラックス55aの中に半田粒55bが
分散して存在している。
The wiring substrate 51 and the pad 53 as shown in FIG. 7 are formed by the same steps as those in the first embodiment. Next, the same eutectic solder paste as that of the first embodiment is printed on the front side pad 53 of the wiring board 51 to form a convex eutectic solder paste layer 55. In the eutectic solder paste layer 55, the solder particles 55b are dispersed in the flux 55a.

【0059】次に、配線基板51を下治具57上に載
置する。この下治具57は、図8(a)に示すように、
アルミナセラミックからなる板状の部材(縦25mm×
横35mm×厚さ2mm)であり、その中央部には溝部
57a(長さ25mm×幅19mm×深さ1mm)が形
成されるとともに、四隅に高さ3mmのバイメタル59
が立設されている。このバイメタル59は、温度が上昇
するにつれて外側に曲がる向きに取り付けられており、
バイメタル59の先端には、内側に突出する爪部59a
が設けられている。
Next, the wiring board 51 is placed on the lower jig 57. This lower jig 57, as shown in FIG.
A plate-shaped member made of alumina ceramic (length 25 mm x
The width is 35 mm × thickness 2 mm), and the groove 57a (25 mm length × 19 mm width × 1 mm depth) is formed in the center thereof, and the bimetal 59 having a height of 3 mm is formed at the four corners.
Is erected. The bimetal 59 is attached so as to bend outward as the temperature rises,
At the tip of the bimetal 59, there is a claw 59a protruding inward.
Is provided.

【0060】このバイメタル59は、前記実施例2の半
田ボールと同様に、後述する規制部材61を保持する溶
融前高さ保持部材として機能するものであり、半田バン
プとなる半田粒55bの融点より約20℃高い温度に
て、規制部材59を下降させることができる程度に曲が
ることができる。
Similar to the solder ball of the second embodiment, the bimetal 59 functions as a pre-melting height holding member for holding the regulating member 61 described later, and is higher than the melting point of the solder grain 55b to be the solder bump. At a temperature about 20 ° C. higher, the regulation member 59 can be bent to such an extent that it can be lowered.

【0061】次に、このバイメタル59上に、図8
(b)に示す様な板状の規制部材(縦25mm×横35
mm×厚さ2mm)61を載置する。この規制部材61
とは、前記実施例2と同様に、加熱の際に下降して半田
バンプ63の頂部を平坦にするためのアルミナセラミッ
ク製の部材であり、その下面側には、配線基板51の両
端に対応する位置にて下方に突出する左右一対の脚部6
1a(高さ60μm)が設けられている。
Next, on the bimetal 59, as shown in FIG.
A plate-shaped regulating member as shown in (b) (25 mm long x 35 mm wide)
(mm × thickness 2 mm) 61 is placed. This restriction member 61
Is a member made of alumina ceramic for descending at the time of heating to flatten the tops of the solder bumps 63, and its lower surface corresponds to both ends of the wiring board 51. Pair of left and right legs 6 projecting downward at the position
1a (height 60 μm) is provided.

【0062】本実施例では、前記実施例2と同様に、バ
イメタル59の高さが、バイメタル59上に規制部材6
1を載置した場合に、規制部材61が共晶半田ペースト
層55に接しないように、且つ脚部61aが配線基板5
1に接しないように設定されている。
In this embodiment, as in the second embodiment, the height of the bimetal 59 is adjusted so that the regulating member 6 is located above the bimetal 59.
1 is placed on the wiring board 5 so that the regulating member 61 does not contact the eutectic solder paste layer 55
It is set not to contact 1.

【0063】この状態で、最高温度220℃のリフロ
ー炉に通す。すると、昇温して186℃に達したところ
で最初に半田粒55bが溶融して凝集し球状の半田バン
プ63が形成されるが、この段階では、バイメタル59
はそれほど曲がらないので、規制部材61の高さは保持
されたままである。
In this state, it is passed through a reflow furnace having a maximum temperature of 220 ° C. Then, when the temperature rises and reaches 186 ° C., the solder particles 55b are first melted and aggregated to form spherical solder bumps 63. At this stage, the bimetal 59 is formed.
Does not bend so much, the height of the regulating member 61 remains held.

【0064】その後、バイメタル59が十分に曲がる温
度に達すると、バイメタル59が外方向に大きく曲がる
ので、規制部材61の下面から爪部59aが外れて、そ
れによって規制部材61が下降し、半田バンプ63の頂
部を押圧して平坦にする。また、この規制部材61は脚
部61bが配線基板51に当接することにより、その高
さが保持されるので、これにより、半田バンプ63の高
さが設定される。
Thereafter, when the temperature at which the bimetal 59 reaches a sufficient bending temperature is reached, the bimetal 59 is largely bent outward, so that the claw portion 59a is disengaged from the lower surface of the regulation member 61, whereby the regulation member 61 is lowered and the solder bump Press the top of 63 to flatten it. In addition, the height of the regulation member 61 is maintained by the leg portions 61b coming into contact with the wiring substrate 51, so that the height of the solder bump 63 is set.

【0065】その後、冷却した後に、規制部材61及
び下治具57を除去することにより、頂部が平坦な半田
バンプ63を有する配線基板51が完成する。このよう
に、本実施例では、バイメタル59によって規制部材6
1を共晶半田ペーストと接触しないように持ち上げてい
る。そのため、半田ブリッジが形成されることがない等
の前記実施例2と同様の効果を奏する。
Then, after cooling, the restricting member 61 and the lower jig 57 are removed to complete the wiring board 51 having the solder bumps 63 with flat tops. As described above, in this embodiment, the restriction member 6 is formed by the bimetal 59.
1 is lifted so as not to come into contact with the eutectic solder paste. Therefore, the same effects as those of the second embodiment can be obtained such that the solder bridge is not formed.

【0066】特にバイメタル59は、温度が元に戻れば
その形状が元に戻るので、半田ボールの場合よりも、再
使用が極めて容易であるとう利点がある。尚、本発明は
前記実施例になんら限定されるものではなく、本発明の
要旨を逸脱しない範囲において種々の態様で実施しうる
ことはいうまでもない。
In particular, the bimetal 59 has the advantage that it can be reused much more easily than the case of using solder balls, because its shape returns to its original shape when the temperature returns to its original value. Needless to say, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and can be carried out in various modes without departing from the scope of the present invention.

【0067】(1)前記各実施例で使用する半田バンプ
を構成する材質としては、基板材料の耐熱温度や用途に
応じて適宜選択すればよく、Pb/Sn合金ほか、Ag
やIn入り半田等どれでも使用可能である。また、基板
材料としてセラミックなどの耐熱温度の高いものを使用
する場合には、Pb90%半田などの高融点半田を使用
することも可能である。更に、半田ペーストに含まれる
あるいは使用するフラックスの種類も、(還元性の小さ
なものから)Rタイプ、RMAタイプ、RAタイプのど
れでも使用できる。尚、ここでは、バンプ材料として、
通常、半田と称されるPb−Sn系のろう材以外に、A
u−Sn系、Au−Si系等の合金も使用できる。
(1) The material forming the solder bumps used in each of the above-mentioned embodiments may be appropriately selected according to the heat resistant temperature of the substrate material and the application, such as Pb / Sn alloy and Ag.
Any solder such as or solder containing In can be used. Further, when a material having a high heat resistant temperature such as ceramic is used as the substrate material, it is also possible to use a high melting point solder such as Pb90% solder. Further, as the type of flux contained in or used in the solder paste, any of R type (from the one having smaller reducing property), RMA type and RA type can be used. Here, as the bump material,
In addition to the Pb-Sn brazing material usually called solder, A
Alloys such as u-Sn type and Au-Si type can also be used.

【0068】(2)前記パッド上の半田の付与方法とし
ては、上述した半田ペーストの印刷による方法以外に、
ディスペンサーを用いて半田ペーストをパッドに滴下す
る方法、半田ボールや半田プリフォームをパッド上に載
置する方法などを採用することができる。
(2) As a method of applying the solder on the pad, other than the method of printing the solder paste described above,
A method of dropping a solder paste on a pad using a dispenser, a method of placing a solder ball or a solder preform on the pad, and the like can be adopted.

【0069】[0069]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明の半田バン
プを有する配線基板の製造方法および支持治具によれ
ば、下記の効果を奏する。請求項1の発明では、配線基
板自身の有する反りは、平坦化治具を載置しても伸ばさ
れたり助長されたりすることがないので、平坦化治具に
よって半田バンプの頂部が平坦にされる際に、反りによ
る影響を半田バンプの頂部の平坦化により打ち消すこと
ができる。その上、平坦化治具を取り外した後も基板の
反りが変化しないので、コーポラナリティが小さくな
り、接合性が向上する。
As described above in detail, according to the method of manufacturing the wiring board having the solder bumps and the supporting jig of the present invention, the following effects can be obtained. According to the invention of claim 1, the warp of the wiring substrate itself is not extended or promoted even when the flattening jig is placed, and therefore the top of the solder bump is flattened by the flattening jig. In this case, the influence of the warp can be canceled by flattening the tops of the solder bumps. Moreover, since the warp of the substrate does not change even after the flattening jig is removed, the coplanarity is reduced and the bondability is improved.

【0070】請求項2の発明では、平坦化治具の脚部に
対応する位置で配線基板を支持しているので、配線基板
の反りが伸ばされたり助長されたりすることがない。請
求項3の発明の支持治具を用いると、配線基板の反りを
伸ばしたり助長することがない。
According to the second aspect of the present invention, since the wiring board is supported at the position corresponding to the leg portion of the flattening jig, the warp of the wiring board is not extended or promoted. When the support jig of the invention of claim 3 is used, the warp of the wiring board is not extended or promoted.

【0071】請求項4の発明では、振動等により規制部
材がずれたりしても、半田材料同士が過度に接近したり
接触することがない。そのため、加熱溶融の際に半田同
士が接合して半田ブリッジを形成することがないので、
ショートの発生を防止できる。
According to the invention of claim 4, even if the regulating member is displaced due to vibration or the like, the solder materials do not come too close to each other or come into contact with each other. Therefore, when heating and melting, the solders are not joined to each other to form a solder bridge,
The occurrence of short circuit can be prevented.

【0072】請求項5の発明では、加熱前は、半田材料
の接触等を防止して(加熱時の)半田ブリッジの生成を
防止できるとともに、加熱の際には溶融前高さ保持部材
が溶融することにより、規制部材が下降して半田バンプ
の頂部を平坦にすることができる。
According to the fifth aspect of the invention, before heating, contact of the solder material and the like can be prevented to prevent formation of a solder bridge (during heating), and at the time of heating, the pre-melting height holding member melts. By doing so, the regulating member descends and the tops of the solder bumps can be flattened.

【0073】請求項6の発明では、溶融前高さ保持部材
として、ボール状半田を用いるので再使用でき、コスト
が低減できる。請求項7の発明では、溶融後高さ保持部
材が規制部材を所定高さに保持できるので、半田バンプ
が規制部材によって所定高さより低く潰されることを防
止できる。
In the invention of claim 6, since ball-shaped solder is used as the pre-melting height holding member, it can be reused and the cost can be reduced. In the invention of claim 7, since the post-melting height holding member can hold the regulating member at a predetermined height, it is possible to prevent the solder bump from being crushed below the predetermined height by the regulating member.

【0074】請求項8の発明では、規制部材の下面に形
成された脚部の構成により、別体のスペーサを噛ませる
必要がなく、作業工程が簡易化される。請求項9の発明
では、感温変位体は半田ボールより使用が容易である。
請求項10の発明では、バイメタルは温度が戻れば元の
形状になるので、再使用が容易である。
In the eighth aspect of the invention, the construction of the leg portion formed on the lower surface of the regulating member does not require a separate spacer to be bitten, and the working process is simplified. In the invention of claim 9, the temperature sensitive displacement body is easier to use than the solder ball.
In the invention of claim 10, since the bimetal returns to its original shape when the temperature returns, it is easy to reuse.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 実施例1の半田バンプを有する配線基板を示
し、(a)はその斜視図、(b)はその一部を拡大して
示す断面図である。
1A and 1B show a wiring board having solder bumps according to a first embodiment, FIG. 1A is a perspective view thereof, and FIG.

【図2】 実施例1の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to the first embodiment.

【図3】 実施例1に用いる支持治具を示し、(a)は
その平面図、(b)はその正面図、(c)はその側面図
である。
3A and 3B show a supporting jig used in Example 1, where FIG. 3A is a plan view thereof, FIG. 3B is a front view thereof, and FIG.

【図4】 実施例1の実験結果を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing an experimental result of Example 1.

【図5】 実施例2の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a method of manufacturing a wiring board having solder bumps according to a second embodiment.

【図6】 実施例2に用いる治具を示し(a)は下治具
の上面側を示す説明図、(b)は規制部材の下面側を示
す説明図である。
6A and 6B show a jig used in Example 2; FIG. 6A is an explanatory view showing the upper surface side of a lower jig, and FIG. 6B is an explanatory view showing the lower surface side of a regulating member.

【図7】 実施例3の半田バンプを有する配線基板の製
造方法を示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to a third embodiment.

【図8】 実施例3に用いる治具を示し(a)は下治具
の上面側を示す説明図、(b)は規制部材の下面側を示
す説明図である。
8A and 8B show a jig used in Example 3, FIG. 8A is an explanatory view showing the upper surface side of a lower jig, and FIG. 8B is an explanatory view showing the lower surface side of a regulating member.

【図9】 平坦化治具を用いた時の問題点を説明する説
明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating a problem when a flattening jig is used.

【図10】 平坦化治具を用いた時の問題点を説明する
説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram illustrating a problem when a flattening jig is used.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3,31,51…配線基板 1,43,63…半田バンプ 21,35,55…共晶半田ペースト層 23…平坦化治具 25…支持治具 41,51…規制部材 37,57…下治具 39…半田ボール 59…バイメタル 3, 31, 51 ... Wiring board 1, 43, 63 ... Solder bump 21, 35, 55 ... Eutectic solder paste layer 23 ... Flattening jig 25 ... Support jig 41, 51 ... Regulating member 37, 57 ... Lower jig 39 ... Solder ball 59 ... Bimetal

Claims (10)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 配線基板の上方主面に載置された半田材
料を加熱して、半田バンプを形成する配線基板の製造方
法において、 前記半田バンプを形成する際に該半田バンプの頂部の高
さ規制することにより該頂部に平坦面を形成する平坦化
治具を、前記配線基板の上方主面上に配置するととも
に、前記配線基板の下方主面側から、支持治具を用い
て、前記配線基板自身の有する反りを保持してその平面
度を保ちつつ、当該配線基板を支持し、 この状態で加熱して、 前記半田材料を溶融させることを
特徴とする半田バンプを有する配線基板の製造方法。
1. A solder material placed on an upper main surface of a wiring board.
Method of manufacturing wiring board by heating solder to form solder bumps
Method, when forming the solder bump, the height of the top of the solder bump is increased.
By forming a flat surface on the top by regulating the flatness
The jig is placed on the upper main surface of the wiring board.
A support jig from the lower main surface side of the wiring board.
The warp of the wiring board itself is retained and its plane
A method for manufacturing a wiring board having solder bumps, characterized in that the wiring board is supported while maintaining the temperature and heated in this state to melt the solder material.
【請求項2】 脚部を有する前記平坦化治具を、前記配
線基板の上方主面上に配置するとともに、 前記平坦化治具の脚部に対応する位置に配置した前記支
持治具の支持部材により、前記配線基板の下方主面側か
ら、該配線基板を支持する ことを特徴とする前記請求項
1に記載の半田バンプを有する配線基板の製造方法。
Wherein said flattening jig which have a leg portion, the distribution
The support placed on the upper main surface of the linear substrate and at a position corresponding to the leg of the flattening jig.
Depending on the supporting member of the holding jig, the lower main surface side of the wiring board
The preceding claims, characterized in that the supporting al, the wiring substrate
1. A method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to 1 .
【請求項3】 前記請求項2に記載の半田バンプを有す
る配線基板の製造方法に使用される支持治具であって、 前記配線基板を前記下方主面側から支持する支持部材
を、上面側に有することを特徴とする支持治具。
3. A supporting jig used in the method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 2, wherein a supporting member for supporting the wiring board from the lower main surface side is an upper surface side. A support jig characterized by having.
【請求項4】 配線基板の主面上に載置された半田材料
の上方に、該半田材料の加熱溶融により形成される半田
バンプの高さを規制するための平面を有する規制部材
を、溶融前高さ保持手段によって前記半田材料に接触し
ない高さに保持する工程と、 前記半田材料を加熱溶融させる工程と、前記半田材料の加熱溶融後に、 前記規制部材を所定高さ
まで下降させて保持し、溶融している前記半田バンプの
頂部の高さを前記平面で規制して該頂部に平坦面を形成
する工程と、 を有することを特徴とする半田バンプを有する配線基板
の製造方法。
Above 4. A solder material placed on the main surface of the wiring board, the regulating member having a planar surface for regulating the height of the solder bumps formed by heating and melting the solder material, the molten a step of holding at a height which does not contact with the solder material before the height holding means, a step of heating and melting the solder material, after heating and melting of the solder material, and held to lower the said regulating member to a predetermined height And a step of forming a flat surface on the top by regulating the height of the top of the melted solder bump with the flat surface, and a method of manufacturing a wiring board having a solder bump.
【請求項5】 前記半田材料の加熱溶融前は、前記半田
材料の融点以上で加熱溶融温度以下の融点を持つ半田か
らなる溶融前高さ保持部材により前記規制部材を前記半
田材料に接触しない高さに保持することを特徴とする前
記請求項4記載の半田バンプを有する配線基板の製造方
法。
5. Prior to heating and melting the solder material, a height-pre-melting holding member made of solder having a melting point not lower than the melting point of the solder material and not higher than the heating melting temperature prevents the regulating member from coming into contact with the solder material. 5. The method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 4, wherein the wiring board is held at a height.
【請求項6】 前記溶融前高さ保持部材が、ボール状半
田であることを特徴とする前記請求項5に記載の半田バ
ンプを有する配線基板の製造方法。
6. The method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 5, wherein the pre-melting height holding member is ball-shaped solder.
【請求項7】 前記半田材料の加熱溶融後は、溶融後高
さ保持部材により前記規制部材を前記所定高さに保持す
ることを特徴とする前記請求項4〜6のいずれかに記載
の半田バンプを有する配線基板の製造方法。
7. The solder according to claim 4, wherein after the solder material is heated and melted, the post-melting height holding member holds the regulating member at the predetermined height. Manufacturing method of wiring board having bumps.
【請求項8】 前記溶融後高さ保持部材が、前記規制部
材の下面に形成した脚部であることを特徴とする前記請
求項7に記載の半田バンプを有する配線基板の製造方
法。
8. The method of manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 7, wherein the post-melting height holding member is a leg portion formed on the lower surface of the regulation member.
【請求項9】 前記半田材料の加熱溶融前は、感温変位
体からなる溶融前高さ保持部材により前記規制部材を前
記半田材料に接触しない高さに保持し、 前記半田材料の加熱溶融後に、前記感温変位体を変位さ
せることにより、前記規制部材を下降させることを特徴
とする前記請求項4記載の半田バンプを有する配線基板
の製造方法。
9. Before heating and melting the solder material, the pre-melting height holding member made of a temperature-sensitive displacement body holds the regulating member at a height that does not contact the solder material, and after heating and melting the solder material. The method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 4, wherein the regulating member is lowered by displacing the temperature sensitive displacement body.
【請求項10】 前記感温変位体がバイメタルであるこ
とを特徴とする前記請求項9に記載の半田バンプを有す
る配線基板の製造方法。
10. The method for manufacturing a wiring board having solder bumps according to claim 9, wherein the temperature sensitive displacement body is a bimetal.
JP21284496A 1996-08-12 1996-08-12 Method of manufacturing wiring board having solder bumps and support jig Expired - Lifetime JP3504073B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21284496A JP3504073B2 (en) 1996-08-12 1996-08-12 Method of manufacturing wiring board having solder bumps and support jig

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21284496A JP3504073B2 (en) 1996-08-12 1996-08-12 Method of manufacturing wiring board having solder bumps and support jig

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1056256A JPH1056256A (en) 1998-02-24
JP3504073B2 true JP3504073B2 (en) 2004-03-08

Family

ID=16629278

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21284496A Expired - Lifetime JP3504073B2 (en) 1996-08-12 1996-08-12 Method of manufacturing wiring board having solder bumps and support jig

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3504073B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2845521B1 (en) * 2002-10-04 2005-01-07 Wavecom METHOD AND DEVICE FOR REINFORCING, IN PARTICULAR PLANEITE REPAIRING, INTERCONNECTION ELEMENTS OF AN ELECTRONIC MODULE, BY CONCEALED REFLECTION

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1056256A (en) 1998-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101027179B1 (en) Method for mounting semiconductor component on circuit board
JPH03166739A (en) Method for soldering
JPWO2005093817A1 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2756184B2 (en) Surface mounting structure of electronic components
JPH1013007A (en) Wiring board with solder bump, its manufacturing method, and flattening tool
CN101859733A (en) Semiconductor packaging structure, support plate for same, and manufacture method thereof
JP3521341B2 (en) Wiring board and method of manufacturing the same, and wiring board mounted with mounted substrate and method of manufacturing the same
JP3504073B2 (en) Method of manufacturing wiring board having solder bumps and support jig
JPH10135276A (en) Area array semiconductor device, printed board and screen mask
JP2010267741A (en) Method for manufacturing semiconductor device
US20040038452A1 (en) Connection between semiconductor unit and device carrier
JP3401391B2 (en) Method for manufacturing substrate having solder bumps
JP3383518B2 (en) Method of manufacturing wiring board having solder bumps
JP4752717B2 (en) Module manufacturing method
TWI455264B (en) Chip bonding structures and methods of bonding chip
JPH07254781A (en) Mounting of electronic component
KR100865780B1 (en) Fabrication method for flip chip assembly
JP3095959B2 (en) How to connect chip components to the board
JPH09213702A (en) Semiconductor device and method for mounting the same
JP3175786B2 (en) Flip chip mounting method
JP3080049B2 (en) Integrated circuit chip mounting structure and method
JP2004006926A (en) Wiring board with solder bump, its manufacturing method, and flattening jig
JP2002057242A (en) Area array type semiconductor package
JPH0243748A (en) Packaging of integrated circuit chip
JPH11186454A (en) Bga type integrated circuit parts, manufacture of the parts and method for mounting the parts

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20031202

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20031209

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081219

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091219

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091219

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091219

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101219

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101219

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111219

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111219

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121219

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121219

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131219

Year of fee payment: 10

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term