JP3501772B2 - IC socket - Google Patents

IC socket

Info

Publication number
JP3501772B2
JP3501772B2 JP2001140223A JP2001140223A JP3501772B2 JP 3501772 B2 JP3501772 B2 JP 3501772B2 JP 2001140223 A JP2001140223 A JP 2001140223A JP 2001140223 A JP2001140223 A JP 2001140223A JP 3501772 B2 JP3501772 B2 JP 3501772B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
socket body
spring
socket
pressing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001140223A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2002343522A (en
Inventor
修一 池田
Original Assignee
ウエルズ・シーティアイ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ウエルズ・シーティアイ株式会社 filed Critical ウエルズ・シーティアイ株式会社
Priority to JP2001140223A priority Critical patent/JP3501772B2/en
Publication of JP2002343522A publication Critical patent/JP2002343522A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3501772B2 publication Critical patent/JP3501772B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、搭載したICをソ
ケットボードを介して試験装置に設置するためのICソ
ケットに関する。 【0002】 【従来の技術】ICを単体でバーンインし、短時間で故
障因子を強制的に引き起こすことによって、初期不良を
有するICをスクリーニングすることが一般的に行われ
るようになっている。このようなICのバーンインは、
多数のICソケットを装着したソケットボードあるいは
バーンインボードと称される基板にICを搭載し、これ
らのICを搭載した基板をバーンイン装置にセットする
ことによって、行われている。このバーンイン装置は、
ICを例えば125℃前後の高温状態におき、基板およ
びICソケットを介して定格電圧/信号の1.2から
1.6倍程度のレベルの高電圧を印加する。このように
ICを単体でバーンインすることによって、初期不良を
有するICを判別して予め排除することができ、ICを
実装した高価な基板毎にバーンインするよりもコストを
安価に抑えることができる。 【0003】 【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
技術にあるICのタイプは、ICの底面など、1つの面
にのみ電極を有するタイプのICである。近年のICの
小型化、高密度化に伴い、例えば、上面および下面の2
面、つまり複数の面に電極が配置されたICが開発され
てきた。このようなICをバーンインするためのICソ
ケットは、開発されていない。また、上面および下面に
電極を有するIC、特に薄板構造のICにおいては、各
電極が上面および下面で互いにずれた位置に配置され
る。このため、両側の電極を介して曲げモーメントが作
用すると、このICが破損することがある。 【0004】本発明は、このような事情に基づいてなさ
れたもので、両面に電極を有するICのためのICソケ
ットを提供することを目的とする。 【0005】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、搭載した薄板構造のICをソケットボー
ドを介して試験装置に設置するためのICソケットであ
って、それぞれがICの電極に接触する接点部と、この
接点部をばね腕部を介して支える基部とを有し、ICの
一方の面の中央部に配置された電極を試験装置に接続す
る第1のコンタクト、並びに、反対側の他方の面の縁部
に配置された電極を試験装置に接続する第2のコンタク
トを有する電気コンタクトと、各電気コンタクトの基部
を保持し、前記接点部を一側から突出させてソケットボ
ード上に配置されるソケットボディと、前記第1のコン
タクトの接点部を挿通する開口と、この第1のコンタク
トのばね腕部に係合してソケットボディから離隔する方
向への接点部の移動を規制するガイド部とを有し、この
ソケットボディの一側に、このソケットボディに近接し
た近接位置とソケットボディから離隔した離隔位置との
間を移動可能に装着され、ソケットボディから離隔する
方向にばね付勢されるガイドプレートと、このガイドプ
レートの開口から突出した接点部を挿通するガイド孔
と、前記ICを載置する載置部とを有し、ソケットボデ
ィから離隔する方向にばね付勢される載置台と、前記載
置部上にICを押圧する押圧位置と、ICをこの載置部
に対して近接自在とする解放位置との間を移動可能に前
記ソケットボディに枢着され、押圧位置に向けてばね付
勢される押圧パッドと、前記ソケットボディに装着さ
れ、前記押圧パッドとガイドプレートと第2のコンタク
トの接点部とを移動し、押圧パッドを解放位置に移動し
たときに、前記ガイドプレートを近接位置に移動して前
記第1のコンタクトの接点部を前記載置台のガイド孔内
に配置させ、かつ、前記第2のコンタクトの接点部を載
置部から退避させ、押圧パッドを押圧位置に復帰させる
ときに、この押圧パッドで載置部上に押圧されたICの
電極に、前記第1のコンタクトと第2のコンタクトとの
それぞれの接点部を当接させる駆動部材とを備える、I
Cソケットを提供するものである。 【0006】 【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
の一実施の形態について図1ないし図12を用いて説明
する。 【0007】本実施の形態にかかるICソケット2を、
図1および図2に示している。図1は、ICソケット2
の分解斜視図が、図2は、このICソケット2を組み立
てた状態と、このICソケット2に装着されてバーンイ
ンされるIC4との斜視図を示している。本実施の形態
にかかるIC4は、ほぼ矩形の薄板構造であり、一方の
面の中央部付近、および反対側の他方の面の縁部付近に
は、それぞれ薄膜状の第1の電極6、および第2の電極
8がそれぞれ配置されている。また、これら第1の電極
6は、4つずつ2列(第1および第2の電極列)に配列
され、第2の電極8は、1列に並べられている。ところ
で、第1および第2の電極列は、それぞれ対向して配置
されている。 【0008】このICソケット2は、ソケットボードあ
るいはバーンインボードなどの図示しない基板(試験装
置)に取り付けられる絶縁材製のソケットボディ10を
有する。また、このソケットボディ10には、IC4の
各電極6,8に接触するそれぞれ複数の第1および第2
のコンタクト12,14が設けられている。これら第1
および第2のコンタクト12,14は、後述するよう
に、それぞれがIC4の各電極6,8に接触する接点部
16,18と、これら接点部16,18をばね腕部2
0,22を介して支える基部24,26とを備えてい
る。これら第1および第2のコンタクト12,14の基
部24,26は、ソケットボディ10に設けられた後述
する第1および第2の収容溝36,38にそれぞれ保持
される。また、このソケットボディ10の一側には、こ
のソケットボディ10から離隔する方向に後述するばね
44aで付勢されるガイドプレート28を備えている。
また、ソケットボディ10から離隔する方向に図示しな
いばねで付勢され、IC4を載置して第1および第2の
コンタクト12,14に近接および離隔される載置台3
0を備えている。また、ソケットボディ10に枢着さ
れ、この載置台30上でIC4を押圧する押圧位置に向
けて後述するばね48aで付勢される2つの押圧パッド
32を有する。さらに、これら押圧パッド32を駆動
し、ガイドプレート28と、第2のコンタクト14の接
点部18とを移動させ、ソケットボディ10に配設され
る後述するばね46aで付勢されるカバー34を有す
る。 【0009】次に、このソケットボディ10に第1およ
び第2のコンタクト12,14、並びに後述するばね4
4a,46a,48aを配置した状態の上面図を、図3
に示している。図3に示すように、このソケットボディ
10は、ほぼ矩形であり、側壁40と、この側壁40に
対して直交した端壁42とを有する。このソケットボデ
ィ10は、中央に第1の領域(コンタクト保持部)を備
え、側縁部に第2の領域を備えている。これら領域に
は、それぞれ複数の第1および第2の収容溝36,38
がそれぞれ所定の長さを有する所定間隔で並置されてい
る。これら第1および第2の収容溝36,38には、そ
れぞれ第1および第2のコンタクト12,14が1つず
つ収容される。 【0010】第1の収容溝36は、その長手方向が側壁
40に対してそれぞれ所定の角度傾けられている。ま
た、これら収容溝36の一端部および他端部それぞれ
は、端壁42に沿って平行に設けられている。従って、
第1の収容溝36の長手方向の寸法は、第1の電極6の
電極列間の間隔よりも長くすることができる。このた
め、各収容溝36に収容される第1のコンタクト12の
後述するばね腕部20(アーム98)を長くすることが
できるので、IC4の電極6と第1のコンタクト12の
接点部16との間の接触力を小さくすることができる。 【0011】また、互いに隣接する第1の収容溝36に
は、図3に示すように、第1のコンタクト12が接点部
16を互いに逆向きにして収容され、第1のコンタクト
12の接点部16が後述する連結部96とそれぞれ隣接
させて配置されている。前述のように、第1の収容溝3
6がそれぞれ所定の角度傾けられているため、1つの収
容溝36に収容されたコンタクト12の接点部16と、
これに隣接する収容溝36に収容されたコンタクト12
の接点部16とが側壁40とほぼ平行な仮想線上に並べ
られる。従って、図2に示すように、対向した第1およ
び第2の電極列の電極6の中央に接点部16を接触させ
ることができる。また、第1のコンタクト12の向きを
交互に並べて、これらコンタクト12を第1の収容溝3
6に一度に装着することができる。 【0012】このようにすると、各列の電極6が交互に
それぞれ隣接するコンタクト12の接点部16と接触
し、また、このコンタクト12の向きも、隣接する各コ
ンタクト12に対して反対向きとなっているので、コン
タクト12を収容する第1の領域を小さくすることがで
きる。 【0013】ところで、これら第1の収容溝36には、
第1のコンタクト12の後述する基部係止片104が係
止される図示しない係止孔が設けられている。 【0014】第2の収容溝38の長手方向は、端壁42
に対してそれぞれ平行に設けられている。また、これら
収容溝38の一端部は、第2の領域の側壁40に沿って
設けられている。また、第2のコンタクト14は、それ
ぞれ接点部18同士、およびばね腕部22同士がそれぞ
れ隣接するように配置されている。また、第2のコンタ
クト14を並べて、第2の収容溝38に一度に装着する
ことができる。 【0015】ところで、これら第2の収容溝38には、
第2のコンタクト14の後述する第1および第2の基部
係止片114,116がそれぞれ係止される図示しない
2つの係止孔が設けられている。 【0016】さらに、このソケットボディ10には、ガ
イドプレート28、およびカバー34をそれぞれ付勢す
るばね44a,46aの一端部を受けるばね受孔44,
46と、押圧パッド32を付勢するばね48aの一端部
を収容するばね収容孔48とが設けられている。また、
ガイドプレート28、載置台30、およびカバー34を
それぞれ係止する、係止脚および孔をそれぞれ有する係
止部50,52,54と、押圧パッド32を枢着する短
軸56とが配設されている。そして、このソケットボデ
ィ10には、載置台30の底部に配設された後述する突
起部79に一端が取り付けられる図示しないばねを受け
るばね受孔58が設けられている。 【0017】次に、このICソケット2のガイドプレー
ト28を、図4に示している。このガイドプレート28
は、第1のコンタクト12の接点部16を挿通する第1
の開口60と、第1のコンタクト12のばね腕部20に
係合してソケットボディ10から離隔する方向に接点部
16が移動するのを規制するガイド部62とを有する。
また、第2のコンタクト14の接点部18を挿通する第
2の開口64を備えている。さらに、このガイドプレー
ト28の角部付近にそれぞれ設けられ、ソケットボディ
10とカバー34とをそれぞれ付勢するばね44a,6
8aの一端部が収容されるばね収容突起68が配設され
ている。このため、ばね44aによって、このガイドプ
レート28は、ソケットボディ10から離隔する方向に
付勢され、この付勢力に抗してソケットボディ10に近
接した近接位置と、離隔した離隔位置との間を移動する
ことができる。そして、上述の係止部50に係止される
係止片70は、このガイドプレート28の外方に突出し
ている。 【0018】また、このICソケット2の載置台30
を、図5に示している。この載置台30は、IC4を載
置する載置部74を有する。また、この載置部74は、
第1の電極6に対応した位置に複数のガイド孔72を備
えている。これらガイド孔72は、第1の収容溝36に
収容される第1のコンタクト12の接点部16とそれぞ
れ同一軸上に配置されている。このため、これら接点部
16は、これらガイド孔72にそれぞれ挿通可能であ
る。また、カバー34の内壁にガイドされる側壁部76
を備えている。また、この載置台30の外方に向かって
突出された係止片78を備え、これら係止片78は、ソ
ケットボディ10の係止部52に係止される。さらに、
この載置台30の底部には、突起部79が配設され、こ
の突起部79には、ソケットボディ10のばね受孔58
に一端が取り付けられるばね(図示せず)の他端が取り
付けられる。 【0019】さらに、IC4を載置部74上に押圧する
押圧パッド32を、図6に示している。この押圧パッド
32は、湾曲した湾曲部80を備え、この湾曲部80の
先端に設けたパッド部81が載置部74にIC4を押圧
する。また、パッド部81は、ガイド孔72の上側(I
C4の第1の電極6の反対側)を押圧するのが好まし
い。この湾曲部80の後側には、後述するパッド押圧部
90との干渉を防止する凹部82が形成されている。さ
らに、湾曲部80の基端は、枢着部83を備え、この枢
着部83は、ソケットボディ10の短軸56を回転軸と
して回動可能に枢着される。また、この湾曲部80の基
端は、一側に押圧部84を備え、他側にばね支持部86
を備えている。この押圧部84は、後述するカバー34
のパッド押圧部90によって押圧される。また、ばね支
持部86は、ソケットボディ10のばね収容孔48に収
容されるばね48aの他端部が装着される。従って、こ
の押圧パッド32は、載置台30上に配置されるIC4
を押圧する押圧位置と、このIC4をこの載置台30に
取り付け、および取り外し可能な解放位置との間を移動
可能にソケットボディ10の短軸56に枢着され、押圧
位置に向けてばね48aで付勢される。 【0020】そして、この押圧パッド32およびガイド
プレート28の駆動部材として用いられるカバー34
を、図7に示している。このカバー34は、載置部74
に載置するIC4を取り付け、および取り外しするため
の開口部88を備えている。また、押圧パッド32の押
圧部84を押圧するパッド押圧部90と、第2のコンタ
クト14の接点部18をこのカバー34の外方に向かっ
て移動させる接点押圧部92とを有する。さらに、この
カバー34の内方に向かって突出した係止片94が設け
られ、この係止片94は、ソケットボディ10の係止部
54に係止される。このカバー34の底部には、ばね受
孔46に配設されるばね46aの一端を受ける、図示し
ないばね支持部が設けられている。従って、ばね46a
の付勢力に抗して、カバー34は、ソケットボディ10
に近接した近接位置と、離隔した離隔位置との間を移動
することができる。また、一端がガイドプレート28の
ばね収容突起68で支えられたばね68aの他端を受け
る図示しないばね支持部が設けられている。従って、カ
バー34がガイドプレート28に近接した近接位置に移
動すると、ばね68aが圧縮され、ばね44aの付勢力
に抗してガイドプレート28を押し下げる。また、この
ガイドプレート28に離隔した離隔位置に移動すると、
ばね44aの付勢力でガイドプレート28を離隔位置に
移動させる。 【0021】また、第1のコンタクト12を、図8に示
している。これらコンタクト12は、全体が薄板構造に
形成されたIC4の第1の電極6と接触する接点部16
と、この接点部16をばね腕部20を介して支える基部
24とを有する。このばね腕部20は、基部24の一端
側から延びた湾曲形状のばね部を形成する連結部96
と、この連結部96からほぼ真直ぐに延びたアーム98
と、このアーム98の先端にあるアーム先端部100と
からなっている。このアーム先端部100は、ガイドプ
レート28に設けられたガイド部62に係合して、ソケ
ットボディ10から離隔する方向への接点部16の移動
を規制する。また、接点部16は、このアーム98から
側方に延び、L字形状の短脚部を形成する。このばね腕
部20の移動位置を図8中の実線および点線で示す。そ
して、この基部24には、ばね腕部20がある側と反対
側に、第1の収容溝36の図示しない係止孔で係止され
る、突出した基部係止片104が設けられている。この
基部係止片104の先端には、図示しない基板の所定の
回路部と接続する半田テール部102が設けられてい
る。 【0022】また、第2のコンタクト14を、図9に示
している。この第2のコンタクト14は、IC4の第2
の電極8と接触する接点部18と、この接点部18をば
ね腕部22を介して支える基部26とを有する。このば
ね腕部22には、分岐部106が設けられ、この分岐部
106からは、IC4の電極8と接触する接点部18
と、カバー34の接点押圧部92によって、ICソケッ
ト2の外方に向かって押し出され得る係止爪108とが
分岐されて延びている。この分岐部106と基部26と
は、湾曲した連結部110によって接続され、この連結
部110は、板ばねとしての機能を有する。そして、こ
の基部26には、ばね腕部22がある側に対して反対側
に、第2の収容溝38の図示しない2つの孔に係止され
る、突出した第1および第2の基部係止片114,11
6が設けられている。これら第1の基部係止片114の
先端には、図示しない基板の所定の回路部と接続するテ
ール部112が設けられている。ところで、図9中、第
1の基部係止片114にテール部112が設けられてい
るが、第2の基部係止片116にテール部が設けられて
いる場合もある。 【0023】次に、これらソケットボディ10、第1お
よび第2のコンタクト12,14、ガイドプレート2
8、載置台30、押圧パッド32、およびカバー34を
組み立て、ICソケット2を形成する工程を説明する。 【0024】ソケットボディ10にコンタクト12,1
4を収容した状態を、図10に示している。まず、第1
のコンタクト12を、接点部16と連結部96とがそれ
ぞれ隣接する向きに並べ、ソケットボディ10の第1の
収容溝36に一度に圧入する。第2のコンタクト14
を、それぞれ同一方向に並べ、ソケットボディ10の第
2の収容溝38に一度に圧入する。また、第1および第
2のコンタクト12,14の基部係止片104,11
4,116を、各収容溝36,38に設けた図示しない
係止孔に係止し、第1および第2のコンタクト12,1
4をそれぞれ第1および第2の収容溝36,38に収容
する。このとき、互いに隣接する第2のコンタクト14
のテール部112は、一方が第1の基部係止片114か
ら延び、他方が第2の基部係止片116から延びてい
る。 【0025】次に、ソケットボディ10のばね収容孔4
8、およびばね受孔44,46,58それぞれに、ばね
48a,44a,46a、および図示しないばねの一端
部を配置する。 【0026】図1に示すように、ばね受孔44に配置し
たばね44aの他端部を、ガイドプレート28の下側の
ばね収容突起68に固定する。また、第1のコンタクト
12のアーム先端部100をガイド部62に収容して、
第1の開口60から接点部16を突出させる。さらに、
第2の開口64から第2のコンタクト14の接点部1
8、並びに係止爪108を突出させる。そして、係止片
70をソケットボディ10の係止部50に係止する。さ
らに、このガイドプレート28の上側のばね収容突起6
8に、カバー34を付勢するばね68aの一端部を配置
する。このとき、ガイドプレート28は、ばね44aの
付勢力によって、ソケットボディ10に対して離隔した
状態(第1の状態)にある。 【0027】次に、このガイドプレート28の上に載置
台30を載置して、ばね受孔58に配置した図示しない
ばねの他端部を突起部79に固定する。そして、係止片
78を用いてソケットボディ10の係止部52に係止す
る。このとき、載置台30は、この載置台30の重さに
よってソケットボディ10に対してやや近接した位置ま
で移動する。このため、第1のコンタクト12の接点部
16は、ガイド孔72に挿通し、接点部16の先端が載
置部74の上に僅かに突出する。 【0028】また、載置台30の外側では、押圧パッド
32のばね支持部86をソケットボディ10のばね収容
孔48に配設したばね48aの他端部に固定し、このソ
ケットボディ10の短軸56に枢着部83を枢着する。
また、この押圧パッド32のパッド部81を載置部74
上に配置する。 【0029】カバー34は、図示しないばね支持部をソ
ケットボディ10のばね受孔46に配設したばね46a
の他端部に取り付け、ガイドプレート28の上側のばね
収容突起68に挿設したばね68aの他端部に固定す
る。このカバー34の内壁と載置台30の側壁部76と
が摺動可能となるように係止片94をソケットボディ1
0の係止部54に係止する。 【0030】上記のような手順に従って、このICソケ
ット2の組み立てが完了する。 【0031】組み立てが完了した状態は、図2に示すよ
うに、カバー34は、ばね46a,68aによる付勢に
よって、ソケットボディ10から離隔された状態にあ
る。また、ガイドプレート28は、ばね68aによる付
勢によって、前述の第1の状態からさらにソケットボデ
ィ10に近接した状態にある。このとき、第1のコンタ
クト12の接点部16は、載置部74から僅かに突出す
る(図8に示す、コンタクト12にプリロードがかかっ
た状態)。第2のコンタクト14の接点部18は、載置
部74上に配置されている。 【0032】次に、このようなICソケット2によっ
て、IC4を検査する場合について図11および図12
を用いて説明する。これら図11および図12は、この
ICソケット2の断面図を示している。 【0033】ICソケット2にIC4を取り付ける場合
は、以下のようにしてなされる。まず、バーンイン装置
(図示せず)のローディング装置などをICソケット2
の上方から降下させ、図11に示す位置(第1のコンタ
クト12は、図8に示すように、プリロードがかかった
状態)から図12に示す位置(第1のコンタクト12
は、図8に示すように、ソケットOPEN時の状態)に
ばね46a,68aの付勢力に抗してカバー34を押し
下げる。 【0034】カバー34は、その接点押圧部92によっ
て第2のコンタクト14の係止爪108をカバー34の
外方に押出し、接点部18を載置部74の上からこの載
置部74の外側に移動させる。 【0035】また、カバー34は、ばね68aを圧縮
し、このばね68aの増大した付勢力でガイドプレート
28を降下させて、このガイドプレート28上に載置し
た載置台30を降下させる。さらに、このガイドプレー
ト28をばね44aの付勢力に抗して降下させることに
よって、第1のコンタクト12のアーム先端部100を
ガイド部62によって下方にガイドしつつ、接点部16
を下方に移動させる。このとき、第1のコンタクト12
は、図8に示すソケットOPEN時の位置にあり、ガイ
ドプレート28は、ソケットボディ10に近接した近接
位置にある。さらに、載置台30は、図示しないばねの
付勢力でソケットボディ10から離隔した状態を維持
し、ばね68aに付勢されたガイドプレート28から離
隔し、第1のコンタクト12の接点部16は、載置部7
4上から下方に離隔している。 【0036】これらの動作とともに、カバー34は、パ
ッド押圧部90で2つの押圧パッド32の押圧部84を
ばね48aの付勢力に抗して同時に押圧し、短軸56を
回転軸として押圧パッド32を回動させる。これによっ
て、パッド部81をIC4の載置台30に重なる位置か
ら起立させ、側方に移動させる。このとき、押圧パッド
32は、IC4を載置部74に対して近接自在な解放位
置にある。 【0037】従って、この状態では、第1および第2の
コンタクト12,14の接点部16,18、並びに押圧
パッド32が、載置部74上から側方に移動しているた
め、載置台30には、IC4を自由に取り付けることが
できる。 【0038】IC4を載置部74上に載置し、ローディ
ング装置を徐々に上昇させると、カバー34が徐々に上
昇する。したがって、パッド押圧部90の押圧パッド3
2の押圧部84に対する押圧力が減少する。このため、
押圧パッド32が短軸56を回転軸として回動して、湾
曲部80およびパッド部81が徐々に載置部74の上側
に重なり、パッド部81で載置部74上のIC4を両側
から押圧する。これらパッド部81のIC4への押圧力
は、カバー34のパッド押圧部90が押圧パッド32の
押圧部84と離れるまで増加するが、載置台30の突起
部79に配設された図示しないばねがソケットボディ1
0に向かって付勢されて、押圧力が緩和される。 【0039】次に、カバー34の上昇に伴って、ばね4
4a,68aの付勢力が減少してガイドプレート28が
上昇するとともに、第1のコンタクト12の接点部16
が、上方に付勢される。付勢された接点部16は、載置
台30のガイド孔72から突出し、IC4の各電極6と
接触する。このとき、第1のコンタクト12は、図8に
示すコンタクト状態にある。 【0040】さらに、カバー34の上昇に伴って、第2
のコンタクト14の係止爪108がばね腕部22の付勢
力によって内方に戻り、これとともに接点部18が内方
に付勢される。この接点部18は、載置部74上のIC
4と重なり、IC4の各電極8と接触する。 【0041】この状態からさらにカバー34が上昇し
て、このカバー34は、ソケットボディ10に対して離
隔した状態になる。このようにして、IC4は、このI
Cソケット2に装着される。 【0042】従って、まず初めに押圧パッド32がIC
4を押圧して、このIC4に過度の力や曲げモーメント
が作用することを防止する。続いて、第1および第2の
コンタクト12,14のばね弾性によってIC4の各電
極6,8と電気的に接続する。先にIC4が載置部74
上に押圧されているため、このIC4は、このIC4に
対して作用する力やモーメントに対して破損しないよう
になっている。 【0043】この状態で、ICソケット2を図示しない
ソケットボードに装着してIC4のバーンインを行な
う。 【0044】バーンイン終了後、IC4をこのICソケ
ット2から取り外す場合は、上記と同様にカバー34を
下方に押し下げる。 【0045】カバー34は、上記と同様に、まず、接点
押圧部92によって第2のコンタクト14の係止爪10
8および接点部18を外方に押出し、IC4の各電極8
と接点部18との電気的な接続を解除する。次に、ばね
68a,44aの付勢力に抗して、ガイドプレート28
を下方に押し込むことによって、第1のコンタクト12
の接点部16をIC4の載置台30から下方に移動さ
せ、IC4の各電極6との電気的な接続を解除する。さ
らに、カバー34のパッド押圧部90によって押圧パッ
ド32の押圧部84を押圧し、押圧パッド32を短軸5
6を回転軸として回動させ、載置部74の側方で起立さ
せる。このようにすると、載置台30からIC4を自由
に取り出すことができる。 【0046】ところで、本実施の形態では、ソケットボ
ディ10を矩形として説明したが、このソケットボディ
10は、矩形に限らず、どのような形状でも構わない。 【0047】また、本実施の形態では、ICの電極が2
列(対)に対向したものを示したが、電極の配置は、こ
のようなものに限定されることはない。例えば、千鳥格
子状に配置されていてもよい。 【0048】これまで、一実施の形態について図面を参
照しながら具体的に説明したが、本発明は、上述した実
施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲で行なわれるすべての実施を含む。 【0049】 【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
両面に電極を有するICに曲げモーメントなどの作用が
発生することを防止して検査するためのICソケットを
提供することができる。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a
IC source to be installed on the test equipment via the bracket board
About Kett. 2. Description of the Related Art An IC is burned-in by itself,
The initial failure by forcing obstacle factors
It is common practice to screen for ICs that have
It has become so. Such IC burn-in is
Socket board with many IC sockets mounted or
ICs are mounted on a board called a burn-in board.
Set the board on which these ICs are mounted in the burn-in device
By being done. This burn-in device
The IC is placed in a high temperature state of, for example, about 125 ° C.
And rated voltage / signal from 1.2 via IC socket
A high voltage of about 1.6 times is applied. in this way
By burning in the IC alone, the initial failure
ICs having ICs can be determined and eliminated in advance.
More cost than burn-in for each expensive board mounted
It can be kept inexpensive. [0003] However, the conventional
The type of IC in technology is one side, such as the bottom of the IC
This is an IC of a type having an electrode only in the IC. Recent IC
With miniaturization and high density, for example,
ICs with electrodes arranged on one side, that is, on multiple sides, have been developed.
Have been. An IC source for burning in such an IC
Kett has not been developed. Also on the top and bottom
In an IC having an electrode, particularly an IC having a thin plate structure,
The electrodes are located at offset positions on the top and bottom
You. For this reason, a bending moment is created via the electrodes on both sides.
If used, this IC may be damaged. [0004] The present invention has been made based on such circumstances.
IC socket for ICs with electrodes on both sides
The purpose is to provide [0005] In order to solve the above problems,
In addition, the present invention relates to a thin board IC mounted on a socket board.
IC socket for installation on test equipment via
Therefore, each contact part which contacts the electrode of the IC,
And a base for supporting the contact portion via a spring arm.
Connect the electrode located in the center of one side to the test equipment.
First contact and an edge of the other opposite side
Contact for connecting the electrode arranged in the test equipment to the test equipment
Electrical contacts with contacts and the base of each electrical contact
And make the contact part protrude from one side to
A socket body arranged on the socket and the first connector.
An opening through which the contact point of the contact is inserted;
To separate from the socket body by engaging with the spring arm of
And a guide portion that regulates the movement of the contact portion in the
On one side of the socket body, close to this socket body
Between the close position and the remote position separated from the socket body.
Movably mounted between and separated from the socket body
Guide plate that is spring-biased in the
Guide hole for inserting the contact part protruding from the opening of the plate
And a mounting portion for mounting the IC, and a socket body.
A mounting table spring-biased away from the mounting table,
A pressing position for pressing the IC on the mounting portion;
To be able to move between the release position that makes it freely accessible to
Pivoted on the socket body, with a spring toward the pressed position
And a pressure pad mounted on the socket body.
The press pad, the guide plate and the second contactor.
Move the press pad to the release position.
When the guide plate is moved to the
Place the contact portion of the first contact in the guide hole of the mounting table.
And the contact portion of the second contact is placed
Retract from the mounting part and return the pressing pad to the pressing position
At this time, the IC of the IC pressed on the
An electrode is provided between the first contact and the second contact.
A driving member for bringing the respective contact portions into contact with each other.
It provides a C socket. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG.
One embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 12.
I do. The IC socket 2 according to the present embodiment is
This is shown in FIGS. FIG. 1 shows an IC socket 2
FIG. 2 is an exploded perspective view of the IC socket 2.
The IC socket 2 and burn
FIG. 2 shows a perspective view of the IC 4 to be mounted. This embodiment
Is an almost rectangular thin plate structure.
Near the center of the face, and near the edge of the other opposite face
Are thin film-shaped first electrode 6 and second electrode
8 are arranged respectively. In addition, these first electrodes
6 is arranged in two rows of four (first and second electrode rows)
The second electrodes 8 are arranged in one row. Place
And the first and second electrode rows are arranged facing each other.
Have been. This IC socket 2 is a socket board.
Or a board (not shown) such as a burn-in board
The socket body 10 made of an insulating material attached to the
Have. The socket body 10 has an IC 4
A plurality of first and second contacts respectively contacting the respective electrodes 6 and 8
Are provided. These first
And the second contacts 12 and 14 are described later.
And contact portions each of which contacts each of the electrodes 6 and 8 of the IC 4
16, 18 and these contact portions 16, 18
And bases 24 and 26 supported through the bases 0 and 22.
You. The base of these first and second contacts 12 and 14
The parts 24 and 26 are provided on the socket body 10 and described later.
Respectively held in the first and second receiving grooves 36 and 38
Is done. Also, one side of this socket body 10
A spring to be described later in a direction away from the socket body 10
The guide plate 28 is urged by 44a.
Also, do not show in the direction away from the socket body 10.
The first and second ICs are placed on each other with the IC 4 placed thereon.
The mounting table 3 which is close to and separated from the contacts 12 and 14
0 is provided. Also, pivotally attached to the socket body 10.
Toward the pressing position where the IC 4 is pressed on the mounting table 30.
Press pad urged by a spring 48a to be described later
32. Furthermore, these press pads 32 are driven.
The contact between the guide plate 28 and the second contact 14
The point portion 18 is moved to be disposed on the socket body 10.
The cover 34 is urged by a spring 46a described later.
You. Next, first and second socket bodies 10 are
And second contacts 12, 14 and a spring 4 to be described later.
4a, 46a and 48a are shown in FIG.
Is shown in As shown in FIG. 3, this socket body
10 is substantially rectangular, and has a side wall 40 and
And an end wall 42 orthogonal to the end wall 42. This socket body
10 has a first region (contact holding portion) in the center.
In addition, a second region is provided on the side edge. In these areas
Are provided with a plurality of first and second receiving grooves 36 and 38, respectively.
Are juxtaposed at predetermined intervals, each having a predetermined length.
You. These first and second receiving grooves 36 and 38 are
The first and second contacts 12, 14 are not one each.
Are accommodated. The longitudinal direction of the first housing groove 36 is a side wall.
Each of them is inclined at a predetermined angle with respect to 40. Ma
In addition, one end and the other end of these accommodation grooves 36, respectively.
Are provided in parallel along the end wall 42. Therefore,
The length of the first accommodation groove 36 in the longitudinal direction is equal to that of the first electrode 6.
It can be longer than the interval between the electrode rows. others
The first contact 12 accommodated in each accommodation groove 36
It is possible to lengthen a spring arm portion 20 (arm 98) described later.
Since the electrode 6 of the IC 4 and the first contact 12 can be
The contact force with the contact portion 16 can be reduced. Further, the first housing grooves 36 adjacent to each other are
As shown in FIG. 3, the first contact 12 is a contact portion.
16 are housed in opposite directions to each other, and the first contact
Twelve contact portions 16 are adjacent to connecting portions 96 described later, respectively.
It is arranged to be. As described above, the first receiving groove 3
6 are inclined at a predetermined angle, so that one
A contact portion 16 of the contact 12 housed in the housing groove 36;
Contact 12 accommodated in accommodation groove 36 adjacent thereto
Are arranged on an imaginary line substantially parallel to the side wall 40.
Can be Therefore, as shown in FIG.
And a contact portion 16 is brought into contact with the center of the electrode 6 of the second electrode row.
Can be Also, the direction of the first contact 12
The contacts 12 are alternately arranged so that the contacts 12 are in the first receiving groove 3.
6 can be attached at a time. In this way, the electrodes 6 in each row are alternately arranged.
Contact with contact portion 16 of adjacent contact 12
In addition, the direction of the contact 12
Because it is the opposite direction to contact 12,
The first area for accommodating the tact 12 can be reduced.
Wear. By the way, in these first receiving grooves 36,
A later-described base locking piece 104 of the first contact 12 is engaged.
A locking hole (not shown) to be stopped is provided. The longitudinal direction of the second receiving groove 38 is the same as that of the end wall 42.
Are provided in parallel with each other. Also these
One end of the accommodation groove 38 extends along the side wall 40 of the second region.
Is provided. Also, the second contact 14
The contact portions 18 and the spring arm portions 22 are respectively
And are arranged adjacent to each other. Also, the second contour
And mount them in the second storage groove 38 at once.
be able to. By the way, in these second accommodation grooves 38,
First and second bases (described later) of the second contact 14
The locking pieces 114 and 116 are locked, respectively, not shown.
Two locking holes are provided. Further, the socket body 10 has
Bias the id plate 28 and the cover 34, respectively.
Receiving holes 44, which receive one ends of the springs 44a, 46a,
46 and one end of a spring 48a for urging the pressing pad 32
And a spring accommodating hole 48 for accommodating the same. Also,
The guide plate 28, the mounting table 30, and the cover 34
Engaging members each having an engaging leg and a hole for engaging each
Short portions for pivotally connecting the stoppers 50, 52, 54 and the pressing pad 32.
A shaft 56 is provided. And this socket body
The projection 10, which is provided at the bottom of the mounting table 30 and is described later,
A spring (not shown) having one end attached to the raised portion 79 is received.
A spring receiving hole 58 is provided. Next, a guide play of the IC socket 2 will be described.
4 is shown in FIG. This guide plate 28
Is the first through which the contact portion 16 of the first contact 12 is inserted.
Opening 60 and the spring arm 20 of the first contact 12
The contact portion is engaged with and separated from the socket body 10.
And a guide portion 62 for restricting the movement of the guide 16.
Also, the second contact 14 is inserted through the contact portion 18 of the second contact 14.
Two openings 64 are provided. In addition, this guide play
The socket body is provided near the corner of
Springs 44a and 6 for urging the cover 10 and the cover 34, respectively.
8a is provided with a spring accommodating protrusion 68 for accommodating one end thereof.
ing. Therefore, the guide 44 is formed by the spring 44a.
The rate 28 is set in a direction away from the socket body 10.
The socket body 10 is urged and close to the socket body 10 against the urging force.
Move between a close proximity position and a remote separation position
be able to. And it is locked by the above-mentioned locking part 50.
The locking piece 70 projects out of the guide plate 28.
ing. The mounting table 30 of the IC socket 2
Is shown in FIG. The mounting table 30 mounts the IC 4
It has a placing section 74 for placing. In addition, this mounting portion 74
A plurality of guide holes 72 are provided at positions corresponding to the first electrodes 6.
I have. These guide holes 72 are formed in the first accommodation grooves 36.
Contact portion 16 of first contact 12 to be accommodated
And are arranged on the same axis. Therefore, these contact parts
16 can be inserted into these guide holes 72, respectively.
You. Further, the side wall portion 76 guided by the inner wall of the cover 34 is provided.
It has. Also, toward the outside of the mounting table 30
It has a protruding locking piece 78, and these locking pieces 78
It is locked by the locking portion 52 of the body 10. further,
At the bottom of the mounting table 30, a projection 79 is provided.
The projection 79 of the socket body 10 has a spring receiving hole 58 of the socket body 10.
The other end of a spring (not shown)
Attached. Further, the IC 4 is pressed on the mounting portion 74.
The pressing pad 32 is shown in FIG. This press pad
32 has a curved portion 80 which is curved,
The pad section 81 provided at the tip presses the IC 4 against the placing section 74.
I do. The pad portion 81 is located above the guide hole 72 (I
It is preferable to press the first electrode 6 of C4 on the opposite side).
No. A pad pressing portion to be described later is provided on the rear side of the curved portion 80.
A recess 82 is formed to prevent interference with the recess 90. Sa
In addition, the proximal end of the curved portion 80 includes a pivot portion 83,
The attachment portion 83 uses the short axis 56 of the socket body 10 as a rotation axis.
To be pivotally connected. In addition, the base of the curved portion 80
The end has a pressing portion 84 on one side and a spring supporting portion 86 on the other side.
It has. The pressing portion 84 is provided with a cover 34 to be described later.
Is pressed by the pad pressing portion 90. Also, the spring support
The holding portion 86 is housed in the spring housing hole 48 of the socket body 10.
The other end of the accommodated spring 48a is mounted. Therefore,
The pressing pad 32 of the IC 4
And a pressing position for pressing the IC 4 on the mounting table 30.
Mount and move between removable release positions
Pivotally attached to the short axis 56 of the socket body 10 and
It is urged toward the position by a spring 48a. The pressing pad 32 and the guide
Cover 34 used as a driving member for plate 28
Is shown in FIG. This cover 34 is
To attach and remove IC4 to be mounted on
Opening 88 is provided. In addition, pressing of the pressing pad 32
A pad pressing portion 90 for pressing the pressure portion 84;
The contact portion 18 of the connector 14 toward the outside of the cover 34.
And a contact pressing portion 92 that moves the contact. Furthermore, this
A locking piece 94 protruding inward of the cover 34 is provided.
The locking piece 94 is a locking portion of the socket body 10.
Locked to 54. The bottom of the cover 34 has a spring support
FIG. 3 shows one end of a spring 46 a disposed in the hole 46.
No spring support is provided. Therefore, the spring 46a
Of the socket body 10 against the urging force of
Move between a close position close to and a remote position away
can do. One end of the guide plate 28
The other end of the spring 68a supported by the spring housing projection 68 is received.
A spring support (not shown) is provided. Therefore,
The bar 34 moves to a position close to the guide plate 28.
When moved, the spring 68a is compressed, and the biasing force of the spring 44a is
The guide plate 28 is pressed down. Also this
When moved to the separated position separated from the guide plate 28,
The guide plate 28 is moved to the separated position by the urging force of the spring 44a.
Move. The first contact 12 is shown in FIG.
are doing. These contacts 12 have a thin plate structure as a whole.
A contact portion 16 that comes into contact with the first electrode 6 of the formed IC 4
And a base for supporting the contact portion 16 via a spring arm portion 20.
24. The spring arm 20 is connected to one end of the base 24.
Connecting portion 96 forming a curved spring portion extending from the side
And an arm 98 extending almost straight from the connecting portion 96.
And an arm tip 100 at the tip of the arm 98
Consists of The arm tip 100 is
By engaging with the guide portion 62 provided on the rate 28,
Of the contact portion 16 in a direction away from the cut body 10
Regulate. Also, the contact portion 16 is
Extends laterally to form an L-shaped short leg. This spring arm
The moving position of the unit 20 is indicated by a solid line and a dotted line in FIG. So
The base 24 is opposite to the side where the spring arm 20 is located.
Side, and is locked by a locking hole (not shown) of the first accommodation groove 36.
A protruding base locking piece 104 is provided. this
At the tip of the base locking piece 104, a predetermined
A solder tail portion 102 connected to the circuit portion is provided.
You. The second contact 14 is shown in FIG.
are doing. The second contact 14 is connected to the second contact
A contact portion 18 that contacts the electrode 8 of the
And a base 26 supported via the arm 22. This case
The forearm 22 is provided with a branch portion 106.
From 106, a contact portion 18 that contacts the electrode 8 of the IC 4
And an IC socket by the contact pressing portion 92 of the cover 34.
The locking claw 108 that can be pushed out toward the outside of the
It is branched and extends. The branch portion 106 and the base 26
Are connected by a curved connecting portion 110,
The part 110 has a function as a leaf spring. And this
The base 26 has a side opposite to the side where the spring arm 22 is located.
And is locked in two holes (not shown) of the second accommodation groove 38.
Protruding first and second base locking pieces 114, 11
6 are provided. These first base locking pieces 114
The tip is connected to a predetermined circuit section on a board (not shown).
A rule part 112 is provided. By the way, in FIG.
A tail portion 112 is provided on one base locking piece 114.
However, the tail portion is provided on the second base locking piece 116,
In some cases. Next, the socket body 10, the first
And second contacts 12, 14, guide plate 2
8, mounting table 30, pressing pad 32, and cover 34
The steps of assembling and forming the IC socket 2 will be described. The contacts 12, 1 are connected to the socket body 10.
FIG. 10 shows a state in which 4 is accommodated. First, first
The contact portion 16 and the connecting portion 96 are
The socket body 10 is arranged in an adjacent direction.
Press-fit into the receiving groove 36 at once. Second contact 14
Are arranged in the same direction, and the
Press-fit into the second accommodation groove 38 at a time. In addition, the first and second
Base contact pieces 104, 11 of the second contacts 12, 14
4, 116 provided in each of the receiving grooves 36, 38 (not shown)
The first and second contacts 12 and 1 are locked in the locking holes.
4 in the first and second receiving grooves 36 and 38, respectively.
I do. At this time, the second contacts 14 adjacent to each other
One of the tail portions 112 is the first base locking piece 114
And the other extends from the second base locking piece 116.
You. Next, the spring receiving hole 4 of the socket body 10
8, and spring receiving holes 44, 46, 58, respectively.
48a, 44a, 46a and one end of a spring (not shown)
Place the part. As shown in FIG.
The other end of the spring 44a is connected to the lower side of the guide plate 28.
It is fixed to the spring housing projection 68. Also, the first contact
Twelve arm tips 100 are accommodated in the guide part 62,
The contact portion 16 is made to protrude from the first opening 60. further,
The contact portion 1 of the second contact 14 from the second opening 64
8, and the locking claw 108 is projected. And the locking piece
70 is locked to the locking portion 50 of the socket body 10. Sa
In addition, the spring receiving protrusion 6 on the upper side of the guide plate 28
8, one end of a spring 68a for urging the cover 34 is arranged.
I do. At this time, the guide plate 28
Separated from socket body 10 by biasing force
State (first state). Next, it is placed on the guide plate 28.
The table 30 is placed on the spring receiving hole 58 and not shown.
The other end of the spring is fixed to the projection 79. And the locking piece
Locking to the locking portion 52 of the socket body 10 using 78
You. At this time, the mounting table 30 is
Therefore, the position is slightly closer to the socket body 10.
Move with. For this reason, the contact portion of the first contact 12
16 is inserted into the guide hole 72, and the tip of the contact portion 16 is placed thereon.
It protrudes slightly above the mounting portion 74. On the outside of the mounting table 30, a pressing pad
32 spring support portions 86 accommodate the springs of the socket body 10
This spring is fixed to the other end of the spring 48a provided in the hole 48,
A pivot 83 is pivotally connected to the short axis 56 of the body 10.
The pad portion 81 of the pressing pad 32 is placed on the placing portion 74.
Place on top. The cover 34 has a spring support (not shown) as a source.
A spring 46a disposed in a spring receiving hole 46 of the body 10
And the spring above the guide plate 28
It is fixed to the other end of the spring 68a inserted into the accommodation protrusion 68.
You. The inner wall of the cover 34 and the side wall 76 of the mounting table 30
The locking piece 94 so that the socket body 1 can slide.
0 locking portion 54. According to the above procedure, this IC socket
The assembly of the unit 2 is completed. FIG. 2 shows a state in which the assembly is completed.
As described above, the cover 34 is urged by the springs 46a and 68a.
Therefore, when in a state of being separated from the socket body 10,
You. The guide plate 28 is attached by a spring 68a.
The socket body from the first state described above.
It is in a state close to the device 10. At this time, the first contour
The contact portion 16 of the connector 12 slightly projects from the mounting portion 74.
(See FIG. 8, the contact 12 is preloaded.
State). The contact portion 18 of the second contact 14 is placed
It is arranged on the part 74. Next, such an IC socket 2 is used.
11 and 12 for the case of inspecting IC4.
This will be described with reference to FIG. FIG. 11 and FIG.
FIG. 2 shows a cross-sectional view of the IC socket 2. When mounting the IC 4 on the IC socket 2
Is performed as follows. First, the burn-in device
(Not shown) to the IC socket 2
From above, and move it to the position shown in FIG.
As shown in FIG. 8, the object 12 was preloaded.
From the position (first contact 12) shown in FIG.
Is the state at the time of the socket OPEN, as shown in FIG.
The cover 34 is pushed against the urging force of the springs 46a and 68a.
Lower. The cover 34 is pressed by the contact pressing portion 92.
The hook 108 of the second contact 14
Push out the contact portion 18 from above the mounting portion 74
It is moved outside the placing section 74. The cover 34 compresses the spring 68a.
Then, the guide plate is increased by the increased urging force of the spring 68a.
28, and place it on this guide plate 28.
The mounting table 30 is lowered. In addition, this guide play
To lower the gate 28 against the urging force of the spring 44a.
Therefore, the arm tip 100 of the first contact 12 is
While being guided downward by the guide portion 62, the contact portion 16
Is moved downward. At this time, the first contact 12
Is in the position of the socket OPEN shown in FIG.
Plate 28 is in proximity to socket body 10.
In position. Further, the mounting table 30 is provided with a spring (not shown).
Maintains state separated from socket body 10 by urging force
And is separated from the guide plate 28 urged by the spring 68a.
The contact portion 16 of the first contact 12 is separated from the mounting portion 7.
4 are spaced downward from above. Along with these operations, the cover 34
The pressing portions 84 of the two pressing pads 32 are
At the same time, the short shaft 56 is pressed against the urging force of the spring 48a.
The pressing pad 32 is rotated as a rotation axis. By this
Position of the pad portion 81 so as to overlap the mounting table 30 of the IC 4
Stand up and move to the side. At this time, press pad
32 is a release position in which the IC 4 can be freely approached to the mounting portion 74.
It is in the place. Therefore, in this state, the first and second
Contact portions 16, 18 of contacts 12, 14, and pressing
The pad 32 is moved laterally from above the mounting portion 74.
Therefore, the IC 4 can be freely attached to the mounting table 30.
it can. The IC 4 is mounted on the mounting section 74,
Cover 34 gradually rises
Ascend. Therefore, the pressing pad 3 of the pad pressing portion 90
The pressing force on the second pressing portion 84 decreases. For this reason,
The pressing pad 32 rotates about the short axis 56 as a rotation axis, and
The curved portion 80 and the pad portion 81 gradually rise above the placement portion 74.
And the IC 4 on the mounting portion 74 is padded with the pad 81 on both sides.
Press from Pressing force of these pad parts 81 on IC4
The pad pressing portion 90 of the cover 34 is
Although it increases until it separates from the pressing portion 84, the protrusion of the mounting table 30
The spring (not shown) provided in the portion 79 is the socket body 1
It is urged toward zero, and the pressing force is reduced. Next, as the cover 34 is raised, the spring 4
4a and 68a, the guide plate 28
The contact portion 16 of the first contact 12 rises
Are biased upward. The urged contact portion 16 is placed
It protrudes from the guide hole 72 of the table 30 and contacts each electrode 6 of the IC 4.
Contact. At this time, the first contact 12 is
In the contact state shown. Further, as the cover 34 is raised, the second
The locking claw 108 of the contact 14 urges the spring arm 22
It returns to the inside by force, and the contact part 18
It is urged to. The contact portion 18 is connected to an IC
4 and is in contact with each electrode 8 of the IC 4. The cover 34 further rises from this state.
The cover 34 is separated from the socket body 10.
Become separated. In this way, IC 4
It is attached to the C socket 2. Therefore, first, the pressing pad 32 is
4 to apply excessive force and bending moment to this IC4.
To prevent it from acting. Subsequently, the first and second
Due to the spring elasticity of the contacts 12 and 14, each of the IC4
It is electrically connected to the poles 6,8. First, the IC 4 is placed on the receiver 74.
Because it is pressed upward, this IC4
Not be damaged by forces or moments acting on
It has become. In this state, the IC socket 2 is not shown.
Perform IC4 burn-in by mounting it on a socket board.
U. After the burn-in is completed, IC4 is connected to this IC socket.
When removing the cover 34 from the
Push down. As described above, first, the contact 34
The pressing claw 10 of the second contact 14 is
8 and the contact portion 18 are pushed out, and each electrode 8 of the IC 4 is pushed out.
The electrical connection between the contact and the contact portion 18 is released. Next, the spring
68a and 44a, the guide plate 28
Of the first contact 12
Is moved downward from the mounting table 30 of the IC 4.
Then, the electrical connection between the IC 4 and each electrode 6 is released. Sa
Further, a pressing pad is pressed by the pad pressing portion 90 of the cover 34.
The pressing portion 84 of the pad 32 is pressed, and the pressing pad 32 is
6 as a rotation axis, and stands upright on the side of the mounting portion 74.
Let In this way, the IC 4 can be freely moved from the mounting table 30.
Can be taken out. By the way, in this embodiment, the socket
Although the di 10 is described as a rectangle, this socket body
10 is not limited to a rectangle and may have any shape. Also, in this embodiment, the electrodes of the IC have two electrodes.
The electrodes facing the rows (pairs) are shown, but the arrangement of the electrodes is
It is not limited to such a thing. For example, staggered
They may be arranged in a child shape. The embodiment has been described with reference to the drawings.
The present invention has been described in detail with reference to the drawings.
It is not limited to the embodiment but deviates from its gist.
Includes all implementations to the extent not possible. As described above, according to the present invention,
Effects such as bending moment on ICs with electrodes on both sides
An IC socket for preventing and inspecting
Can be provided.

【図面の簡単な説明】 【図1】本実施の形態にかかるICソケットの概略的な
分解斜視図。 【図2】本実施の形態にかかるICおよびICソケット
を示す概略的な斜視図。 【図3】本実施の形態にかかるソケットボディに第1お
よび第2のコンタクト、およびばねを配設した状態を示
す上面図。 【図4】本実施の形態にかかるガイドプレートを示す斜
視図。 【図5】本実施の形態にかかる載置台を示す斜視図。 【図6】本実施の形態にかかる押圧パッドを示す斜視
図。 【図7】本実施の形態にかかるカバーを示す斜視図。 【図8】本実施の形態にかかる第1のコンタクトを示す
斜視図。 【図9】本実施の形態にかかる第2のコンタクトを示す
斜視図。 【図10】本実施の形態にかかるソケットボディに第1
および第2のコンタクト、並びにばねを組み込んだ状態
を示す概略的な斜視図。 【図11】本実施の形態にかかるICソケットの概略的
な断面図。 【図12】本実施の形態にかかるICソケットにICを
取り付ける、および取り外す位置にした状態を示す概略
的な断面図。 【符号の説明】 2…ICソケット、4…IC、6…第1の電極、8…第
2の電極、10…ソケットボディ、12…第1のコンタ
クト、14…第2のコンタクト、16,18…接点部、
20,22…ばね腕部、24,26…基部、28…ガイ
ドプレート、30…載置台、32…押圧パッド、34…
カバー、36…第1の収容溝、38…第2の収容溝、4
0…側壁、42…端壁、44,46…ばね受孔、44
a,46a…ばね、48…ばね収容孔、48a…ばね、
50,52,54…係止部、56…短軸、58…ばね受
孔、60…第1の開口、62…ガイド部、64…第2の
開口、68…ばね収容突起、68a…ばね、70…係止
片、72…ガイド孔、74…載置部、76…側壁部、7
8…係止片、79…突起部、80…湾曲部、81…パッ
ド部、82…凹部、83…枢着部、84…押圧部、86
…支持部、88…開口部、90…パッド押圧部、92…
接点押圧部、94…係止片、96…連結部、98…アー
ム、100…アーム先端部、102…テール部、104
…基部係止片、106…分岐部、108…係止爪、11
0…連結部、112…テール部、114…第1の基部係
止片、116…第2の基部係止片
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic exploded perspective view of an IC socket according to an embodiment. FIG. 2 is a schematic perspective view showing an IC and an IC socket according to the embodiment; FIG. 3 is a top view showing a state where first and second contacts and a spring are provided on the socket body according to the embodiment; FIG. 4 is a perspective view showing a guide plate according to the embodiment. FIG. 5 is a perspective view showing a mounting table according to the embodiment; FIG. 6 is an exemplary perspective view showing a pressing pad according to the embodiment; FIG. 7 is an exemplary perspective view showing a cover according to the embodiment; FIG. 8 is an exemplary perspective view showing a first contact according to the embodiment; FIG. 9 is an exemplary perspective view showing a second contact according to the embodiment; FIG. 10 shows a first example of the socket body according to the present embodiment.
FIG. 4 is a schematic perspective view showing a state where a second contact and a spring are incorporated. FIG. 11 is a schematic sectional view of the IC socket according to the embodiment; FIG. 12 is a schematic cross-sectional view showing a state where the IC is mounted on and removed from the IC socket according to the embodiment; [Description of Signs] 2 IC socket, 4 IC, 6 first electrode, 8 second electrode, 10 socket body, 12 first contact, 14 second contact, 16, 18 … Contact points,
20, 22: spring arm, 24, 26: base, 28: guide plate, 30: mounting table, 32: pressing pad, 34:
Cover, 36: first accommodation groove, 38: second accommodation groove, 4
0 ... side wall, 42 ... end wall, 44, 46 ... spring receiving hole, 44
a, 46a: spring, 48: spring receiving hole, 48a: spring,
50, 52, 54 ... locking part, 56 ... short axis, 58 ... spring receiving hole, 60 ... first opening, 62 ... guide part, 64 ... second opening, 68 ... spring accommodating projection, 68a ... spring, Reference numeral 70: locking piece, 72: guide hole, 74: mounting portion, 76: side wall portion, 7
Reference numeral 8: locking piece, 79: projecting portion, 80: curved portion, 81: pad portion, 82: concave portion, 83: pivot portion, 84: pressing portion, 86
... Supporting part, 88 ... Opening part, 90 ... Pad pressing part, 92 ...
Contact pressing portion, 94: locking piece, 96: connecting portion, 98: arm, 100: arm tip portion, 102: tail portion, 104
... base locking piece, 106 ... branch part, 108 ... locking claw, 11
0: connecting portion, 112: tail portion, 114: first base locking piece, 116: second base locking piece

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI G01R 31/26 G01R 31/26 J (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 1/073 G01R 31/26 H01L 23/32 H01R 33/76 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (51) Int.Cl. 7 identification symbol FI G01R 31/26 G01R 31/26 J (58) Investigated field (Int.Cl. 7 , DB name) G01R 1/073 G01R 31 / 26 H01L 23/32 H01R 33/76

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 【請求項1】 搭載した薄板構造のICをソケットボー
ドを介して試験装置に設置するためのICソケットであ
って、 それぞれがICの電極に接触する接点部と、この接点部
をばね腕部を介して支える基部とを有し、ICの一方の
面の中央部に配置された電極を試験装置に接続する第1
のコンタクト、並びに、反対側の他方の面の縁部に配置
された電極を試験装置に接続する第2のコンタクトを有
する電気コンタクトと、 各電気コンタクトの基部を保持し、前記接点部を一側か
ら突出させてソケットボード上に配置されるソケットボ
ディと、 前記第1のコンタクトの接点部を挿通する開口と、この
第1のコンタクトのばね腕部に係合してソケットボディ
から離隔する方向への接点部の移動を規制するガイド部
とを有し、このソケットボディの一側に、このソケット
ボディに近接した近接位置とソケットボディから離隔し
た離隔位置との間を移動可能に装着され、ソケットボデ
ィから離隔する方向にばね付勢されるガイドプレート
と、 このガイドプレートの開口から突出した接点部を挿通す
るガイド孔と、前記ICを載置する載置部とを有し、ソ
ケットボディから離隔する方向にばね付勢される載置台
と、 前記載置部上にICを押圧する押圧位置と、ICをこの
載置部に対して近接自在とする解放位置との間を移動可
能に前記ソケットボディに枢着され、押圧位置に向けて
ばね付勢される押圧パッドと、 前記ソケットボディに装着され、前記押圧パッドとガイ
ドプレートと第2のコンタクトの接点部とを移動し、押
圧パッドを解放位置に移動したときに、前記ガイドプレ
ートを近接位置に移動して前記第1のコンタクトの接点
部を前記載置台のガイド孔内に配置させ、かつ、前記第
2のコンタクトの接点部を載置部から退避させ、押圧パ
ッドを押圧位置に復帰させるときに、この押圧パッドで
載置部上に押圧されたICの電極に、前記第1のコンタ
クトと第2のコンタクトとのそれぞれの接点部を当接さ
せる駆動部材とを備えるICソケット。
(57) [Claims 1] An IC socket for mounting a mounted thin plate structure IC to a test apparatus via a socket board, wherein each of the IC sockets has a contact portion that contacts an electrode of the IC. A base for supporting the contact portion via a spring arm portion, and connecting an electrode arranged at the center of one surface of the IC to a test apparatus.
An electrical contact having a second contact for connecting an electrode disposed on an edge of the other surface on the opposite side to a test apparatus; holding a base of each electrical contact; A socket body protruding from the socket body and disposed on the socket board; an opening through which the contact portion of the first contact is inserted; and a direction engaged with the spring arm of the first contact and separated from the socket body. A guide portion for restricting movement of the contact portion of the socket body, the socket body being mounted on one side of the socket body so as to be movable between a proximity position close to the socket body and a separation position separated from the socket body. A guide plate that is spring-biased in a direction away from the body, a guide hole through which a contact portion protruding from an opening of the guide plate is inserted, and the IC is placed. A mounting table having a mounting portion, which is spring-biased in a direction away from the socket body; a pressing position for pressing the IC on the mounting portion; and the IC being freely accessible to the mounting portion. A pressing pad pivotally attached to the socket body so as to be movable between a release position and a spring biased toward a pressing position; and a mounting pad mounted on the socket body, the pressing pad, the guide plate, and the second contact. When the contact portion is moved, and when the pressing pad is moved to the release position, the guide plate is moved to the close position to arrange the contact portion of the first contact in the guide hole of the mounting table, and When the contact portion of the second contact is retracted from the mounting portion and the pressing pad is returned to the pressing position, the electrode of the IC pressed on the mounting portion by the pressing pad is contacted with the first contact. Second Con An IC socket comprising: a driving member for bringing the respective contact portions into contact with the tact.
JP2001140223A 2001-05-10 2001-05-10 IC socket Expired - Fee Related JP3501772B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001140223A JP3501772B2 (en) 2001-05-10 2001-05-10 IC socket

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001140223A JP3501772B2 (en) 2001-05-10 2001-05-10 IC socket

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002343522A JP2002343522A (en) 2002-11-29
JP3501772B2 true JP3501772B2 (en) 2004-03-02

Family

ID=18986862

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001140223A Expired - Fee Related JP3501772B2 (en) 2001-05-10 2001-05-10 IC socket

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3501772B2 (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004007696B4 (en) 2004-02-16 2009-01-02 Infineon Technologies Ag Test device for testing a semiconductor device with contact surfaces on its top and bottom and method for testing the semiconductor device
JP2007109607A (en) * 2005-10-17 2007-04-26 Three M Innovative Properties Co Socket for electronic device
CN201029122Y (en) 2007-03-09 2008-02-27 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 Electrical connector
CN201054401Y (en) 2007-05-07 2008-04-30 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 Electric connector
JP6095982B2 (en) * 2011-03-31 2017-03-15 株式会社エンプラス Socket for electrical parts
JP6515877B2 (en) * 2016-06-17 2019-05-22 オムロン株式会社 Probe pin
WO2019116512A1 (en) * 2017-12-14 2019-06-20 オムロン株式会社 Socket, inspection jig, inspection unit, and inspection device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002343522A (en) 2002-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100910196B1 (en) Socket
US6776624B2 (en) Socket for electrical parts
US6572396B1 (en) Low or zero insertion force connector for printed circuit boards and electrical devices
US6782614B2 (en) Contact pin assembly, contact pin assembly manufacturing method, contact pin assembling structure, contact pin assembling structure manufacturing method, and socket for electrical parts
KR100364445B1 (en) Top load socket for ball grid array devices
US5336094A (en) Apparatus for interconnecting electrical contacts
US5020998A (en) Test socket
CN106841691B (en) Pin and semiconductor package testing system
GB2203906A (en) Testing printed circuit boards
JPH06308194A (en) Apparatus for integrated circuit device
US6957967B2 (en) Electrical connector with different pitch terminals
KR102086391B1 (en) Apparatus for inspecting circuit suing the same
JP3501772B2 (en) IC socket
KR100487448B1 (en) Socket for Electronic Element
JP2003264044A (en) Socket for electric parts
KR20010013206A (en) Burn-in test socket
JP2019114481A (en) Socket for electrical component
JPH10106706A (en) Test socket for integrated circuit
JP3228400B2 (en) Socket for surface mount IC
US5547389A (en) Integrated circuit chip socket
JP2002343520A (en) Ic socket
US6824411B2 (en) Socket for electrical parts
JP2724675B2 (en) IC measuring jig
US6065986A (en) Socket for semiconductor device
US6957965B2 (en) Electrical connector assembly with a transfer member

Legal Events

Date Code Title Description
A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20031202

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees