JP3491610B2 - X-ray CT system - Google Patents

X-ray CT system

Info

Publication number
JP3491610B2
JP3491610B2 JP2000379662A JP2000379662A JP3491610B2 JP 3491610 B2 JP3491610 B2 JP 3491610B2 JP 2000379662 A JP2000379662 A JP 2000379662A JP 2000379662 A JP2000379662 A JP 2000379662A JP 3491610 B2 JP3491610 B2 JP 3491610B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
sample
sample stage
fluoroscopic
optical axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2000379662A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2002181737A (en
Inventor
正之 亀川
嘉夫 國
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2000379662A priority Critical patent/JP3491610B2/en
Publication of JP2002181737A publication Critical patent/JP2002181737A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3491610B2 publication Critical patent/JP3491610B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は産業用のX線CT装
置に関し、更に詳しくは、特に電子部品等の比較的小型
軽量の物品について、そのCT像と透視像の双方を簡単
な操作のもとに得ることのできるX線CT装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an industrial X-ray CT apparatus, and more particularly, to a relatively small and lightweight article such as an electronic component, which can be operated easily by both CT and fluoroscopic images. The present invention relates to an X-ray CT apparatus that can be obtained.

【0002】[0002]

【従来の技術】産業用のX線CT装置においては、一般
に、その構成例を図4に模式的斜視図で示すように、X
線発生装置41に対向してそのX線光軸L上にX線検出
器42を配置し、その間に、被写体となる試料Wを保持
してX線光軸Lに直交する軸Aの回りに回転させる機能
を備えた試料ステージ43を配置した構成を採る。X線
検出器42は、ラインセンサを用いるか、あるいはエリ
アセンサを用いてそのうちのライン状に並ぶ素子の出力
のみを用いることによって実質的にラインセンサとして
機能させる。そして、試料Wを軸Aの回りに回転させつ
つ、その多数の回転角度においてX線検出器42からの
X線透視情報を採取し、ファン−パラ変換と称される変
換を行うことにより、ラインセンサまたはライン状に並
ぶ素子に対応するスライス面でスライスした試料Wの断
層像を再構成することができる。
2. Description of the Related Art In an industrial X-ray CT apparatus, generally, as shown in a schematic perspective view of FIG.
An X-ray detector 42 is arranged on the X-ray optical axis L so as to face the line generator 41, and a sample W as an object is held between the X-ray detector 42 and the X-ray optical axis L, and an X-ray detector 42 is provided around the axis A orthogonal to the X-ray optical axis L. A configuration in which a sample stage 43 having a function of rotating is arranged is adopted. The X-ray detector 42 is made to substantially function as a line sensor by using a line sensor or by using only an output of elements arranged in a line shape among them using an area sensor. Then, while rotating the sample W around the axis A, the X-ray fluoroscopic information from the X-ray detector 42 is collected at a large number of rotation angles, and a conversion called fan-para conversion is performed to obtain a line. It is possible to reconstruct a tomographic image of the sample W sliced on the slice plane corresponding to the sensor or the elements arranged in a line.

【0003】また、試料ステージ43を軸Aに沿って移
動させ、その各移動位置において上記と同様に多数の回
転角度においてX線検出器42からのX線透視情報を採
取することによって、試料Wの軸Aに直交する任意の断
面位置における全部位、全方位のX線透過情報を得れ
ば、試料Wの軸A上の任意の位置における断層像を得る
ことができる。従来の産業用のX線CT装置は、図4に
例示したように、X線光軸が水平方向に設定され、従っ
て、試料Wの回転軸Aは鉛直に設定される。
Further, the sample stage 43 is moved along the axis A, and the X-ray fluoroscopic information from the X-ray detector 42 is acquired at a large number of rotation angles at the respective movement positions in the same manner as described above. By obtaining X-ray transmission information of all parts and all directions at an arbitrary cross-sectional position orthogonal to the axis A of, the tomographic image of the sample W at any position on the axis A can be obtained. In the conventional industrial X-ray CT apparatus, as illustrated in FIG. 4, the X-ray optical axis is set in the horizontal direction, and therefore the rotation axis A of the sample W is set vertically.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、図4に例示
したようにX線光軸Lが水平に設定されているX線CT
装置によると、試料Wを鉛直の回転軸Aの回りに回転さ
せるが故に、その回転精度を高くするうえで都合がいい
が、この装置を、X線透視装置として使用する場合、し
かも、試料がICチップ等の電子部品のように微小なも
のであって、多数の試料を一度に透視しようとすれば、
これらを別途用意された水平なテーブルないしはトレイ
上に立てて配置する必要があり、試料の固定が困難でそ
の手間もかかるという問題がある。
By the way, as illustrated in FIG. 4, an X-ray CT in which the X-ray optical axis L is set horizontally.
According to the apparatus, since the sample W is rotated around the vertical rotation axis A, it is convenient to increase the rotation accuracy, but when this apparatus is used as an X-ray fluoroscopic apparatus, If you try to see through a large number of samples at one time, such as IC chips and other electronic parts that are minute,
It is necessary to stand them on a separately prepared horizontal table or tray, which poses a problem that it is difficult to fix the sample and it takes time and effort.

【0005】このような多数の小さな試料を一度に透視
することだけを考えた場合には、X線光軸を鉛直方向に
沿ったものとすれば、水平のテーブルやトレイ上に各試
料を載せるだけでよく、従って、このような用途の透視
装置にあっては、X線光軸を鉛直方向に沿った構成を採
用することが、その操作性の点において有利となる。
When considering only seeing through such a large number of small samples at once, if the X-ray optical axis is along the vertical direction, each sample is placed on a horizontal table or tray. Therefore, in the fluoroscopy device for such an application, it is advantageous in terms of operability to adopt a configuration in which the X-ray optical axis is along the vertical direction.

【0006】しかしながら、従来、このようなICチッ
プをはじめとする電子部品を多数個一度に透視する際の
操作性を損なうことなく、かつ、X線CT装置としても
機能させることのできるX線CT装置は実現されておら
ず、また、CT用の試料ステージは、比較的大きな可動
範囲が要求される透視用の試料ステージと兼用させるに
は無理がある。従って、X線CT装置を、操作性の良好
なX線透視装置として兼用させる場合には、CT用の試
料ステージが邪魔になるために除去する必要が生じる
が、CT用の試料ステージとしては、精度や剛性が必要
で取り外しを前提とした設計とすると、CT用の試料ス
テージを着脱するごとにその位置や回転面の校正作業を
必要とすることになり、この点において不便となる。
However, conventionally, an X-ray CT capable of functioning also as an X-ray CT apparatus without impairing the operability when seeing through a large number of electronic components such as IC chips at once. The apparatus has not been realized, and it is impossible to use the CT sample stage also as a fluoroscopic sample stage that requires a relatively large movable range. Therefore, when the X-ray CT apparatus is also used as an X-ray fluoroscope having good operability, the CT sample stage needs to be removed because it becomes an obstacle, but as the CT sample stage, If precision and rigidity are required and the design is designed for removal, each time the sample stage for CT is attached and detached, the work of calibrating its position and rotating surface is required, which is inconvenient in this respect.

【0007】本発明はこのような実情に鑑みてなされた
もので、CT用の試料ステージを備えたX線CT装置
で、しかもICチップをはじめとする電子部品等の比較
的小さな試料を、良好な作業性のもとに複数個一度に透
視することのできるX線CT装置の提供を目的としてい
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an X-ray CT apparatus equipped with a CT sample stage and is suitable for relatively small samples such as IC chips and other electronic components. It is an object of the present invention to provide an X-ray CT apparatus capable of seeing through a plurality of pieces at once with excellent workability.

【0008】 上記の目的を達成するため、本発明のX
線CT装置は、X線発生装置とそのX線光軸上に配置さ
れたX線検出器の間に、試料を保持してX線光軸に直交
する軸の回りに回転させる機能を有する試料ステージが
配置され、その試料ステージにより試料を回転させつ
つ、複数の回転角度において試料のX線透視像を取り込
み、その複数のX線透視像を用いて試料の断層像を再構
成するX線CT装置において、上記X線光軸が鉛直方向
に沿うように上記X線発生装置、X線検出器および試料
ステージが配置されているとともに、その試料ステージ
を、X線発生装置とX線検出器の間の測定位置から、X
線発生装置のX線放射口を含み、かつ、X線光軸に直交
する平面で上下に分割される2つの空間のうち、上記X
線検出器を含まない側の空間の退避位置に移動させる退
避機構と、上記X線発生装置とX線検出器の間で、水平
の透視用試料テーブルを着脱自在に装着して3次元方向
に移動させる透視用試料ステージを備えていることによ
って特徴づけられる(請求項1)。
In order to achieve the above object, X of the present invention
The X-ray CT apparatus has a function of holding a sample between an X-ray generator and an X-ray detector arranged on the X-ray optical axis and rotating the sample around an axis orthogonal to the X-ray optical axis. An X-ray CT in which a stage is arranged, the X-ray fluoroscopic image of the sample is captured at a plurality of rotation angles while the sample is rotated by the sample stage, and a tomographic image of the sample is reconstructed using the plurality of X-ray fluoroscopic images. In the apparatus, the X-ray generator, the X-ray detector and the sample stage are arranged so that the X-ray optical axis is along the vertical direction, and the sample stage is connected to the X-ray generator and the X-ray detector. From the measurement position between
Of the two spaces including the X-ray emission port of the radiation generator and divided vertically into a plane orthogonal to the X-ray optical axis, the above X
Between the X-ray generator and the X-ray detector, a retracting mechanism for moving to a retracted position in the space not including the X-ray detector,
3D direction by detachably attaching the sample table for see-through
It is characterized by the fact that it is provided with a fluoroscopic sample stage which is moved to (1).

【0009】ここで、本発明においては、上記退避機構
が、上記試料ステージを上記測定位置と退避位置との間
で回動させる機構と、その各位置において当該試料ステ
ージの回動を規制して位置決めする機構とした構成(請
求項2)を好適に採用することができる。
In the present invention, the retracting mechanism controls the sample stage to rotate between the measurement position and the retracted position, and regulates the rotation of the sample stage at each position. A configuration (claim 2) as a positioning mechanism can be preferably adopted.

【0010】本発明は、X線光軸を、透視装置として使
用する際の操作性を良好なものとすることのできる鉛直
方向に設定するとともに、透視装置として使用する際に
はCT用の試料ステージを取り外すのではなく、退避機
構により透視作業に邪魔にならない規定の退避位置に移
動させることで、所期の目的を達成しようとするもので
ある。
According to the present invention, the X-ray optical axis is set in the vertical direction so that the operability when used as a fluoroscopic device can be made good, and when used as a fluoroscopic device, a CT sample is used. The purpose of this is not to remove the stage, but to move it to a prescribed retracted position that does not interfere with the fluoroscopic work by the retracting mechanism, thereby achieving the intended purpose.

【0011】 すなわち、X線光軸を鉛直方向にするこ
とにより、ICチップ等の小型の試料を多数個同時に透
視する場合には、これらを水平なテーブルないしはトレ
イ上に並べて載せるだけで試料の設定を行うことがで
き、その作業性を良好なものとすることができる。そこ
で、本発明のX線CT装置においては、CT用の試料ス
テージとは別に、X線発生装置とX線検出器の間で、水
平の透視用試料テーブルを着脱自在に装着して3次元方
向に移動させる透視用試料ステージを設けるとともに、
この試料ステージの用いて試料を透視する際、CT用の
試料ステージを取り外さずに、この試料ステージを、退
避機構により、測定位置から、X線発生装置のX線放射
口を含み、かつ、X線光軸に直交する平面で上下に分割
される2つの空間のうち、X線検出器を含まない側の空
間に設定されている退避位置、つまりX線照射領域から
外れた、全く邪魔にならない位置に移動させる。これに
より、CT用の試料ステージを退避位置から測定位置に
戻したとき、その位置や姿勢を、例えば適当なストッパ
等の規制部材を設けるだけで正確に再現させることがで
き、測定変更ごとの校正作業が不要となり、また、CT
用ステージの剛性を高めるべくその重量を大きくして
も、簡単な作業によって測定位置または退避位置に位置
決めすることができる。
That is, when a large number of small samples such as IC chips are seen through at the same time by setting the X-ray optical axis in the vertical direction, the samples can be set by placing them side by side on a horizontal table or tray. The workability can be improved . There
With the X-ray CT apparatus of the present invention,
Separate from the tage, between the X-ray generator and the X-ray detector,
A flat transparent sample table can be attached and detached in three dimensions
In addition to providing a fluoroscopic sample stage that moves in the same direction,
When the sample is viewed through the sample stage, the sample stage for CT is not removed, and the sample stage is moved from the measurement position to the X-ray emission port of the X-ray generator by the retracting mechanism. Of the two spaces that are divided up and down on a plane orthogonal to the line optical axis, the escape position is set in the space not including the X-ray detector, that is, it is outside the X-ray irradiation area and does not interfere at all. Move to position. As a result, when the CT sample stage is returned from the retracted position to the measurement position, its position and posture can be accurately reproduced, for example, only by providing an appropriate restriction member such as a stopper, and calibration for each measurement change. No work required, and CT
Even if the weight of the operating stage is increased to increase its rigidity, it can be positioned at the measurement position or the retracted position by a simple operation.

【0012】また、請求項2に係る発明のように、CT
用の試料ステージの退避機構として、当該試料ステージ
を測定位置と退避位置間で回動させる機構と、その2位
置のそれぞれにおいて当該試料ステージを位置決めする
機構とによって構成すると、直線的に移動させる場合に
比して、CT用の試料ステージを移動させるためのスペ
ースが少なくてすみ、設置面積を殆ど増大させることく
なく上記した作用効果を奏することができる。
Further, as in the invention according to claim 2, CT
When the sample stage retracting mechanism is configured to include a mechanism for rotating the sample stage between the measurement position and the retracted position and a mechanism for positioning the sample stage at each of the two positions, the sample stage is moved linearly. In contrast, the space for moving the CT sample stage is small, and the above-described effects can be achieved without increasing the installation area.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しつつ本発明の
実施の形態について説明する。図1は本発明の実施の形
態の全体構成図で、機械的構成を表す模式図と、電気的
構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is an overall configuration diagram of an embodiment of the present invention, in which a schematic diagram showing a mechanical configuration and a block diagram showing an electrical configuration are shown together.

【0014】X線発生装置1は、例えばマイクロフォー
カス型のX線管であり、X線放射口(窓)1aを鉛直上
方に向けて配置され、鉛直方向(z方向)のX線光軸L
に沿ってX線を上向きに放射する。X線発生装置1の鉛
直上方には、例えばイメージインテンシファイアと2次
元CCDからなるX線エリアセンサ2が配設されてい
る。そして、これらのX線発生装置1とX線エリアセン
サ2との間に、CT用試料ステージ3が設けられてい
る。また、このCT用試料ステージ3の上方には、透視
用試料ステージ4が設けられており、この透視用試料ス
テージ4は、それぞれに個別のモータ(図示せず)の駆
動により、着脱自在のカーボン製テーブル41をx,
y,z方向に移動させることができる。カーボン製プレ
ート41は、試料のCT像を採取する際には取り外さ
れ、透視像を採取する場合にのみ透視用試料ステージ4
に取り付けられる。
The X-ray generator 1 is, for example, a microfocus type X-ray tube, is arranged with the X-ray emission port (window) 1a facing vertically upward, and has an X-ray optical axis L in the vertical direction (z direction).
Emit X-rays upward along the. An X-ray area sensor 2 including, for example, an image intensifier and a two-dimensional CCD is arranged vertically above the X-ray generator 1. A CT sample stage 3 is provided between the X-ray generator 1 and the X-ray area sensor 2. Further, a fluoroscopic sample stage 4 is provided above the CT sample stage 3, and each fluoroscopic sample stage 4 is made of a removable carbon by driving an individual motor (not shown). X made table 41,
It can be moved in the y and z directions. The carbon plate 41 is removed when a CT image of a sample is taken, and the fluoroscopic sample stage 4 is taken only when a fluoroscopic image is taken.
Attached to.

【0015】CT用試料ステージ3は、図2に外観図
を、図3には図1における矢視Aで示される正面図をそ
れぞれ模式的に示すように、先端面にICチップ等の試
料を貼着等の手段により保持するための平坦面が形成さ
れたx方向に伸びる棒状のワーク保持部材31aを、モ
ータ31bの駆動によりその軸心(x軸)の回りに回転
させる回転機構31と、その回転機構31を搭載して、
個別のモータ(図示せず)の求道により鉛直のz方向並
びに水平面上で互いに直交する2方向(xおよびy方
向)に移動させる3次元移動機構32とを主体として構
成されている。
The sample stage 3 for CT is shown in FIG. 2 as an external view and in FIG. 3 as a front view shown by an arrow A in FIG. A rotation mechanism 31 for rotating a rod-shaped work holding member 31a having a flat surface for holding by sticking or the like and extending in the x direction around its axis (x axis) by driving a motor 31b; With the rotating mechanism 31,
The three-dimensional movement mechanism 32 is mainly configured to move in a vertical z direction and two directions (x and y directions) orthogonal to each other on a horizontal plane by a path of an individual motor (not shown).

【0016】そして、この3次元移動機構32は支持板
33の表面に固定されているとともに、その支持板33
は、その一辺部においてヒンジ機構34によりベース板
35に対してx軸の回りに回動自在に支持されている。
ベース板35からy方向に所定の距離だけ離れた位置に
は、退避用ストッパ36(図1において図示を省略)が
設けられており、CT用試料ステージ3は、この退避用
ストッパ36とベース板35の間を回動させることがで
き、試料のCT像の採取時と透視像の採取時においてい
ずれかの側に倒される。
The three-dimensional moving mechanism 32 is fixed to the surface of the support plate 33, and the support plate 33 is also provided.
Is supported on one side of the base plate 35 by a hinge mechanism 34 so as to be rotatable around the x axis.
A retracting stopper 36 (not shown in FIG. 1) is provided at a position apart from the base plate 35 in the y direction by a predetermined distance, and the CT sample stage 3 includes the retracting stopper 36 and the base plate. It can be rotated between 35 and is tilted to either side at the time of acquiring a CT image of a sample and at the time of acquiring a fluoroscopic image.

【0017】試料のCT像を測定する場合には、図3に
実線で示すように、支持板33の裏面がベース板35の
表面に当接する側に倒される。この状態では、支持板3
3の裏面がベース板35の表面に密着し、これにより、
CT像採取時におけるCT用試料ステージ3の姿勢を含
めてその位置が常に一定の状態に位置決めされる。
When measuring the CT image of the sample, as shown by the solid line in FIG. 3, the back surface of the support plate 33 is tilted to the side in contact with the front surface of the base plate 35. In this state, the support plate 3
The back surface of 3 adheres closely to the front surface of the base plate 35, so that
The position including the posture of the CT sample stage 3 at the time of CT image acquisition is always fixed.

【0018】一方、試料の透視像を採取する場合には、
CT用試料ステージ3は、図3に二点鎖線で示すよう
に、退避用ストッパ36側に倒される。前記したヒンジ
機構34のz方向位置は、X線発生装置1のX線放射口
1aよりも下方に位置しており、CT用試料ステージ3
を退避用ストッパ36側に倒した状態では、このCT用
試料ステージ3の全体は、X線発生装置1のX線放射口
1aを含み、かつ、X線光軸Lに直交する平面Pで上下
に分割される2つの空間のうち、X線エリアセンサ2を
含まない側の空間に位置した状態となる。
On the other hand, when collecting a fluoroscopic image of a sample,
The CT sample stage 3 is tilted to the retracting stopper 36 side, as shown by the chain double-dashed line in FIG. The z-direction position of the above-mentioned hinge mechanism 34 is located below the X-ray emission port 1a of the X-ray generator 1, and the CT sample stage 3
In the state in which is tilted toward the evacuation stopper 36 side, the entire CT sample stage 3 includes the X-ray emission port 1a of the X-ray generator 1 and moves up and down on a plane P orthogonal to the X-ray optical axis L. It is in a state of being located in the space on the side not including the X-ray area sensor 2 of the two spaces divided into.

【0019】前記したX線発生装置1は、コンピュータ
51の制御下にあるX線コントロール回路52によって
駆動制御され、また、CT用試料ステージ3のワーク保
持部材31aを回転させるための試料回転用のモータ3
1bと、3次元駆動機構32bの各モータ、および、透
視用試料ステージ4の各モータについても、コンピュー
タ51の制御下にある共通のモータコントロール回路5
3によって駆動制御される。モータコントロール回路5
3の出力は、同じくコンピュータ51の制御下にあるス
イッチ54により、CT像の採取時にはCT用試料ステ
ージ3の各モータに、また、透視像の採取時には透視用
試料ステージ4の各モータに供給されるようになってい
る。CT像を採取するか、透視像を採取するかの選択
は、コンピュータ51に接続されているキーボード51
aの操作によって行われる。
The X-ray generator 1 is driven and controlled by an X-ray control circuit 52 under the control of a computer 51, and is used for rotating a sample for rotating the work holding member 31a of the CT sample stage 3. Motor 3
1b, each motor of the three-dimensional drive mechanism 32b, and each motor of the fluoroscopic sample stage 4 are also the common motor control circuit 5 under the control of the computer 51.
Drive control is performed by the control unit 3. Motor control circuit 5
The output of 3 is supplied to each motor of the CT sample stage 3 at the time of CT image acquisition and to each motor of the fluoroscopic sample stage 4 at the time of CT image acquisition by the switch 54 also under the control of the computer 51. It has become so. A keyboard 51 connected to the computer 51 is used to select whether to acquire a CT image or a fluoroscopic image.
It is performed by the operation of a.

【0020】X線エリアセンサ2の各画素出力は、コン
ピュータ51の制御下に置かれているスイッチ55を経
由して、アンプ56を介してCT画像再構成装置57に
取り込まれるか、あるいはキャプチャーボード58に取
り込まれる。コンピュータ51は、X線エリアセンサ2
の各画素出力をCT像の採取時においてはCT画像再構
成装置57に、透視像の採取時にはキャプチャーボード
58に取り込まれるようにスイッチ55を駆動する。C
T画像再構成装置57は、X線エリアセンサ2の各画素
出力のうち、試料のスライス方向に沿ったライン状の画
素出力を用いて試料のCT像を再構成し、その画像をコ
ンピュータ51を経由して表示モニタ59に表示する。
また、キャプチャーボード58は、X線エリアセンサ2
からの全ての画素出力をデジタル化してコンピュータ5
1に供給し、コンピュータ51ではその各画素データに
基づくX線透視像を表示モニタ59に表示する。
Each pixel output of the X-ray area sensor 2 is taken into a CT image reconstructing device 57 via a switch 55 placed under the control of a computer 51, an amplifier 56, or a capture board. It is taken in by 58. The computer 51 uses the X-ray area sensor 2
The switch 55 is driven so that the output of each pixel is captured by the CT image reconstructing device 57 when the CT image is acquired and is captured by the capture board 58 when the fluoroscopic image is acquired. C
The T image reconstructing device 57 reconstructs the CT image of the sample using the pixel output of each line of the X-ray area sensor 2 along the slice direction of the sample, and reconstructs the image by the computer 51. It is displayed on the display monitor 59 via.
Further, the capture board 58 is used for the X-ray area sensor 2
Digitize all pixel outputs from the computer 5
1, and the computer 51 displays the X-ray fluoroscopic image based on each pixel data on the display monitor 59.

【0021】 以上の実施の形態の使用に当たり、装置
をX線CT装置として用いる場合、CT用試料ステージ
3を搭載した支持板33がベース板35に密着するよう
に位置決めして、キーボード51aを操作してその旨を
指示すればよい。一方、装置をX線透視装置として用い
る場合には、CT用試料ステージ3を退避用ストッパ3
6側に倒すとともに、透視用試料ステージ4にカーボン
製テーブル41を装着し、キーボード51aを操作して
その旨を指示すればよい。
When the apparatus is used as an X-ray CT apparatus in the use of the above embodiment, the support plate 33 having the CT sample stage 3 mounted thereon is positioned so as to be in close contact with the base plate 35, and the keyboard 51a is operated. And to that effect
Just point . On the other hand, when the apparatus is used as an X-ray fluoroscope, the CT sample stage 3 is retracted by the stopper 3
The table 41 made of carbon may be attached to the sample stage 4 for fluoroscopy, and the keyboard 51a may be operated to give an instruction to that effect.

【0022】本発明の実施の形態を透視装置として用い
る場合においては、CT用試料ステージ3がX線発生装
置1のX線放射口1aよりも下方に退避しているため
に、その存在が全く邪魔にならず、しかも、水平のカー
ボン製テーブル41上に試料を載せるだけでよいため、
例えばICチップ等の小さな試料を多数個一度に透視す
る等の作業が極めて容易となる。
When the embodiment of the present invention is used as a fluoroscope, the CT sample stage 3 is retracted below the X-ray emission port 1a of the X-ray generator 1, so that the presence thereof is completely absent. It does not get in the way, and since it is sufficient to place the sample on the horizontal carbon table 41,
For example, the work of seeing through a large number of small samples such as IC chips at one time becomes extremely easy.

【0023】また、透視装置として用いた後に、CT装
置として用いる場合には、CT用試料ステージ3をベー
ス板35側に回動させるだけで、その姿勢並びに位置が
一定となり、特に校正作業を行うことなく、直ちにCT
像の採取に移行することができる。
When the CT sample stage 3 is used after being used as a fluoroscope, the posture and position of the CT sample stage 3 can be fixed by simply rotating the CT sample stage 3 toward the base plate 35 side, and particularly, calibration work is performed. CT immediately without
It is possible to shift to image acquisition.

【0024】なお、以上の実施の形態においては、CT
用試料ステージ3を退避させる機構として、ヒンジ機構
34と、そのヒンジ機構34によるCT用ステージ3の
回動をCT測定位置と退避位置において規制するベース
板35および退避用ストッパ36からなる位置決め機構
によって構成し、これにより、少ない所要スペースでC
T用試料ステージ3を退避可能としたが、本発明はこれ
に限定されることなく、CT用試料ステージ3を直線運
動によって退避させる機構を採用することもできる。
In the above embodiment, the CT
As a mechanism for retracting the sample stage 3 for a test, a hinge mechanism 34 and a positioning mechanism including a base plate 35 and a retracting stopper 36 for restricting the rotation of the CT stage 3 by the hinge mechanism 34 at the CT measurement position and the retracted position are used. Configuration, which allows C with less space requirements
Although the T sample stage 3 can be retracted, the present invention is not limited to this, and a mechanism for retracting the CT sample stage 3 by a linear motion can be adopted.

【0025】また、以上の実施の形態においては、X線
発生装置1のX線放射口1aを鉛直上方に向けるととも
に、その上方にX線エリアセンサ2を配置した例を示し
たが、これらを逆転して配置した構成、つまりX線発生
装置1のX線放射口1aを鉛直下方に向け、その下方に
X線エリアセンサ2を配置した構成を採用しても、上記
と全く同等の作用効果を奏し得ることは勿論である。
In the above embodiment, the X-ray emission port 1a of the X-ray generator 1 is directed vertically upward and the X-ray area sensor 2 is arranged above the X-ray emission port 1a. Even if the configuration is reversed, that is, the X-ray emission port 1a of the X-ray generator 1 is directed vertically downward and the X-ray area sensor 2 is disposed below it, the same effect as the above is obtained. Of course, it can play.

【0026】 以上のように、本発明によれば、X線光
軸を鉛直方向に沿ったものとするとともに、X線発生装
置とX線検出器との間に配置されるCT用試料ステージ
を、X線発生装置のX線放射口を含む水平面により上下
に分割される2つの空間のうち、X線検出器を含まない
空間側に設定されている退避位置にまで移動させる退避
機構を備え、かつ、CT用の試料ステージとは別に、X
線発生装置とX線検出器の間で、水平の透視用試料テー
ブルを着脱自在に装着して3次元方向に移動させる透視
用試料ステージを設けているので、X線透視装置として
用いる場合、試料を透視用試料ステージに装着した水平
の透視用試料テーブル上に載せることにより、ICチッ
プ等の比較的小さな試料を多数個一度に透視することが
でき、しかもその際には、CT用試料ステージはX線検
出器を含まない上記の空間に退避しているので、X線光
軸を水平方向に沿わせた従来のX線CT装置に比して、
その作業が大幅に簡素化される。また、透視装置として
用いた後にCT装置として用いるに当たり、CT用試料
ステージを測定位置に復帰させる場合においても、CT
用試料ステージを取り外す場合に比して、校正作業を行
う必要がないなど、その復帰作業が極めて容易である。
As described above, according to the present invention, the X-ray optical axis is along the vertical direction, and the CT sample stage is arranged between the X-ray generator and the X-ray detector. , A retreating mechanism for moving to a retreat position set on the space side not including the X-ray detector among the two spaces vertically divided by the horizontal plane including the X-ray emission port of the X-ray generator , And, apart from the sample stage for CT, X
Horizontal fluoroscopy sample table between X-ray detector and X-ray detector
See through to attach and detach the bull detachably and move in three dimensions
Since a sample stage for observation is provided , when used as an X-ray fluoroscope, the sample is mounted horizontally on the sample stage for observation.
A relatively small sample such as an IC chip can be seen through at a time by placing it on the fluoroscopic sample table, and at that time, the CT sample stage does not include an X-ray detector. Since it is retracted into the space, compared with the conventional X-ray CT device in which the X-ray optical axis is horizontally aligned,
The work is greatly simplified. When the CT sample stage is returned to the measurement position when used as a CT device after being used as a fluoroscope, the CT
Compared to the case of removing the sample stage for use, it is not necessary to perform the calibration work, and the returning work is extremely easy.

【0027】また、CT用試料ステージの退避機構とし
て、ヒンジ機構等の回動機構と、その回動端を規制し
て、CT用試料ステージを測定位置と退避位置に位置決
めする機構を採用すれば、少ない所要スペースのもとに
上記の効果を奏することができる。
Further, as a retracting mechanism for the CT sample stage, if a rotating mechanism such as a hinge mechanism and a mechanism for regulating the rotating end thereof to position the CT sample stage at the measuring position and the retracting position are adopted. The above effect can be achieved in a small required space.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態の全体構成図で、機械的構
成を表す模式図と、電気的構成を表すブロック図とを併
記して示す図である。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of an embodiment of the present invention, in which a schematic diagram showing a mechanical configuration and a block diagram showing an electrical configuration are shown together.

【図2】図1におけるCT用試料ステージ3の模式的な
斜視図である。
FIG. 2 is a schematic perspective view of a CT sample stage 3 in FIG.

【図3】図1におけるCT用試料ステージ3のA矢視で
示す模式的な正面図である。
FIG. 3 is a schematic front view showing the CT sample stage 3 in FIG.

【図4】従来の産業用X線CT装置の構成例を示す模式
的斜視図である。
FIG. 4 is a schematic perspective view showing a configuration example of a conventional industrial X-ray CT apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 X線発生装置 1a X線放射口 2 X線エリアセンサ 3 CT用試料ステージ 31 回転機構 31a ワーク保持部材 31b モータ 32 3次元移動機構 33 支持板 34 ヒンジ機構 35 ベース板 36 退避用ストッパ 4 透視用試料ステージ 41 カーボン製テーブル 51 コンピュータ 51a キーボード 52 X線コントロール回路 53 モータコントロール回路 57 CT画像再構成装置 58 キャプチャーボード 59 表示モニタ 1 X-ray generator 1a X-ray emission port 2 X-ray area sensor 3 CT sample stage 31 rotation mechanism 31a Work holding member 31b motor 32 3D movement mechanism 33 Support plate 34 Hinge mechanism 35 base plate 36 Evacuation stopper 4 Fluoroscopic sample stage 41 carbon table 51 computer 51a keyboard 52 X-ray control circuit 53 Motor control circuit 57 CT image reconstruction device 58 capture board 59 Display monitor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−249948(JP,A) 特開 昭63−307341(JP,A) 特開 昭63−181742(JP,A) 特開2001−21505(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 23/00 - 23/227 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) Reference JP-A-2-249948 (JP, A) JP-A-63-307341 (JP, A) JP-A-63-181742 (JP, A) JP-A-2001-21505 (JP, A) (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01N 23 / 00-23 / 227

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 X線発生装置とそのX線光軸上に配置さ
れたX線検出器の間に、試料を保持してX線光軸に直交
する軸の回りに回転させる機能を有する試料ステージが
配置され、その試料ステージにより試料を回転させつ
つ、複数の回転角度において試料のX線透視像を取り込
み、その複数のX線透視像を用いて試料の断層像を再構
成するX線CT装置において、 上記X線光軸が鉛直方向に沿うように上記X線発生装
置、X線検出器および試料ステージが配置されていると
ともに、その試料ステージを、X線発生装置とX線検出
器の間の測定位置から、X線発生装置のX線放射口を含
み、かつ、X線光軸に直交する平面で上下に分割される
2つの空間のうち、上記X線検出器を含まない側の空間
の退避位置に移動させる退避機構と、上記X線発生装置
とX線検出器の間で、水平の透視用試料テーブルを着脱
自在に装着して3次元方向に移動させる透視用試料ステ
ージを備えていることを特徴とするX線CT装置。
1. A sample having a function of holding a sample between an X-ray generator and an X-ray detector arranged on the X-ray optical axis and rotating the sample around an axis orthogonal to the X-ray optical axis. An X-ray CT in which a stage is arranged, the X-ray fluoroscopic image of the sample is captured at a plurality of rotation angles while the sample is rotated by the sample stage, and a tomographic image of the sample is reconstructed using the plurality of X-ray fluoroscopic images. In the apparatus, the X-ray generator, the X-ray detector and the sample stage are arranged so that the X-ray optical axis is along the vertical direction, and the sample stage is connected to the X-ray generator and the X-ray detector. From the measurement position between the two, which includes the X-ray emission port of the X-ray generator and is divided into two spaces up and down on a plane orthogonal to the X-ray optical axis, the side not including the X-ray detector. a retracting mechanism for moving to the retracted position in space, the X-ray Raw devices
Attach and detach a horizontal fluoroscopic sample table between the X-ray detector and the X-ray detector.
A fluoroscopic sample station that can be freely attached and moved in three dimensions.
X-ray CT apparatus characterized in that it comprises over-di.
【請求項2】 上記退避機構が、上記試料ステージを上
記測定位置と退避位置との間で回動させる機構と、その
各位置において当該試料ステージの回動を規制して位置
決めする機構であることを特徴とする請求項1に記載の
X線CT装置。
2. The retracting mechanism is a mechanism for rotating the sample stage between the measurement position and the retracting position, and a mechanism for restricting and positioning the rotation of the sample stage at each position. The X-ray CT apparatus according to claim 1, wherein:
JP2000379662A 2000-12-14 2000-12-14 X-ray CT system Expired - Fee Related JP3491610B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000379662A JP3491610B2 (en) 2000-12-14 2000-12-14 X-ray CT system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000379662A JP3491610B2 (en) 2000-12-14 2000-12-14 X-ray CT system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002181737A JP2002181737A (en) 2002-06-26
JP3491610B2 true JP3491610B2 (en) 2004-01-26

Family

ID=18847979

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000379662A Expired - Fee Related JP3491610B2 (en) 2000-12-14 2000-12-14 X-ray CT system

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3491610B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9314218B2 (en) 2011-06-20 2016-04-19 Caliper Life Sciences, Inc. Integrated microtomography and optical imaging systems
JP7195090B2 (en) 2018-09-12 2022-12-23 東芝Itコントロールシステム株式会社 X-ray inspection device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002181737A (en) 2002-06-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960006653B1 (en) X-ray photographing apparatus for medical use
FI128745B (en) X-ray ct tomographic equipment
JP4307406B2 (en) Medical X-ray imaging apparatus and X-ray detector used therefor
EP2865335B1 (en) Scanning system for three-dimensional imaging
JP5444718B2 (en) Inspection method, inspection device, and inspection program
JP2017099928A (en) Integrated multi-mode mammography/tomosynthesis x-ray system and method
US7418081B2 (en) Medical imaging equipment
JP2003260049A (en) Inclined three-dimensional x-ray ct scanner
JP3880012B2 (en) Detachable digital X-ray imaging device
JP3894956B2 (en) Image forming cassette for radiation imaging apparatus
WO2017197527A1 (en) Method and system for combining microscopic imaging with x-ray
WO2000065998A1 (en) X-ray imaging apparatus
JP3491610B2 (en) X-ray CT system
JP5317933B2 (en) Image display device and program thereof
JP2001013089A (en) X-ray tomographic imaging apparatus
US10674992B2 (en) Selectable ROI and flexible detector for X-ray imaging
JP2011064662A (en) Ct apparatus with table for fluoroscopic observation
US7548605B2 (en) Medical imaging apparatus
JP4577214B2 (en) X-ray inspection equipment
JP2006246989A (en) X-ray radiographing base
JPH11118736A (en) Apparatus and method for x-ray diagnosis
JP4088737B2 (en) X-ray CT / Fluoroscope
JPH0654843A (en) X-ray inspection device
JP4665358B2 (en) X-ray equipment
JP4609643B2 (en) X-ray CT system

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3491610

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071114

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081114

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091114

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101114

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111114

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121114

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131114

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees