JP3470574B2 - Inspection method for can lid defects - Google Patents

Inspection method for can lid defects

Info

Publication number
JP3470574B2
JP3470574B2 JP33084497A JP33084497A JP3470574B2 JP 3470574 B2 JP3470574 B2 JP 3470574B2 JP 33084497 A JP33084497 A JP 33084497A JP 33084497 A JP33084497 A JP 33084497A JP 3470574 B2 JP3470574 B2 JP 3470574B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
plastic film
lid
film layer
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP33084497A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH11148922A (en
Inventor
英司 宮城
泰博 豊福
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Seikan Kaisha Ltd
Original Assignee
Toyo Seikan Kaisha Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Seikan Kaisha Ltd filed Critical Toyo Seikan Kaisha Ltd
Priority to JP33084497A priority Critical patent/JP3470574B2/en
Publication of JPH11148922A publication Critical patent/JPH11148922A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3470574B2 publication Critical patent/JP3470574B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Rigid Containers With Two Or More Constituent Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、缶の内面側となる
べき面にプラスチックフィルムをラミネートされた缶蓋
の、プラスチックフィルムのピンホール等の欠陥を検査
する方法に関し、特に非接触で、インパルス高電圧を印
加して行なう、缶蓋のプラスチックフィルムの欠陥検査
方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of inspecting a can lid having a plastic film laminated on the inner surface of the can for defects such as pinholes in the plastic film. The present invention relates to a method for inspecting a plastic film on a can lid for defects by applying a high voltage.

【0002】[0002]

【従来の技術】スープ缶詰、魚肉類缶詰および野菜缶詰
等の内容物が塩分を含み、高腐蝕性の缶詰に用いられる
缶蓋の場合、内面保護被膜に1個でもピンホールが存在
すると、このピンホールの部分から孔食が進行して、不
良品となるおそれがある。そのためこの種の缶蓋の内面
は通常ポリエチレンテレフタレート系等のプラスチック
フィルムでラミネートされている。しかし摘みタブ着設
用のリベット部の底面や引裂き開口用のスコア部(図3
参照)は、強加工を受けて厚さが減少する際に傷が付い
て、ピンホールを発生し易い。このようなピンホールの
検査法として、特開平3−160355号公報には、金
属缶蓋の、検査すべきプラスチックフィルム層の部分
に、電極の導電性エラストマー体を押圧密接させて、電
極と缶蓋の金属板の間に高電圧を印加し、電極と金属板
の間に流れる電流を検出する、プラスチックフィルム層
の欠陥検査法が提案されている。この検査法の場合、最
もピンホールが発生し易いリベット部の底面に、導電性
エラストマー体電極を密接させることが困難なため、検
査漏れを生じ易いという問題がある。更に、本発明者の
経験によれば、検査では合格した缶蓋が、検査後直ぐに
エナメルレータ試験(この試験法については、上記公報
の第1頁右欄参照)を行なうと、ピンホールを生じてい
ることがあって、高腐蝕性の缶詰用の缶蓋の検査に適し
ていないという問題がある。また押圧密接に若干の時間
がかかり高速検査に適さないという問題がある。
2. Description of the Related Art In the case of a can lid used for highly corrosive canned foods, such as canned soup, canned fish meat and canned vegetables, which contains salt, if at least one pinhole is present in the inner protective film, Pitting corrosion may progress from the pinhole portion, resulting in a defective product. Therefore, the inner surface of this kind of can lid is usually laminated with a plastic film such as polyethylene terephthalate. However, the bottom of the rivet for attaching the knob tab and the score for tearing opening (see FIG. 3).
(See) has scratches when the thickness is reduced due to strong working, and pinholes are easily generated. As a method of inspecting such a pinhole, Japanese Patent Laid-Open No. 3-160355 discloses a method of pressing a conductive elastomer body of an electrode into close contact with a portion of a plastic film layer to be inspected of a metal can lid so that the electrode and the can. A defect inspection method for a plastic film layer has been proposed in which a high voltage is applied between the metal plates of the lid and the current flowing between the electrodes and the metal plate is detected. In the case of this inspection method, since it is difficult to bring the conductive elastomer body electrode into close contact with the bottom surface of the rivet portion where pinholes are most likely to occur, there is a problem that inspection leakage easily occurs. Further, according to the experience of the present inventor, when a can lid which passed the inspection is subjected to an enamellator test immediately after the inspection (for the test method, see the right column on page 1 of the above publication), a pinhole is generated. However, there is a problem that it is not suitable for inspecting a can lid for highly corrosive canning. In addition, there is a problem in that pressing takes a little time and is not suitable for high-speed inspection.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、リベット部
の底面等に検査漏れを生じ難く、更に高腐蝕性の缶詰用
の缶蓋の高速検査に適した、高電圧印加による缶蓋の内
面プラスチックフィルムの欠陥検査法を提供することを
目的とする。本発明は、さらに缶蓋の内面プラスチック
フィルムの確実な欠陥検査法を提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, the inner surface of a can lid by applying a high voltage is suitable for high-speed inspection of a highly corrosive can lid for canning, which is less likely to cause inspection leakage on the bottom surface of the rivet portion. It is an object to provide a defect inspection method for plastic films. Another object of the present invention is to provide a reliable defect inspection method for the plastic film on the inner surface of the can lid.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の缶蓋の
欠陥検査方法は、ラミネートされたプラスチックフィル
ム層を有する金属板から形成された缶蓋の、プラスチッ
クフィルム層の欠陥を検査する方法において、プラスチ
ックフィルム層に近接して電極を対向させ、金属板と電
極の間にインパルス高電圧を印加し、電極と金属板との
間に生ずる電圧に基づいて欠陥の検査を行ない、検査終
了と同時に、または検査後直ちにプラスチックフィルム
層にチャージされた電荷を、逆電圧を加えることによっ
て除去することを特徴とする。欠陥とは、本明細書では
主としてプラスチックフィルム層を貫通するピンホール
をいうが、厚さが約5μm以下で、フィルム層の絶縁破
壊電界強度以上の高電圧印加により破れてピンホールと
なる箇所をもいう。プラスチックフィルム層に近接して
電極を対向させ、金属板と電極の間にインパルス高電圧
を印加し、電極と金属板との間に生ずる電圧に基づいて
欠陥の検査を行なう。プラスチックフィルム層に欠陥が
ある場合は、コロナ放電が起こり、電極と金属板との間
に生ずる電圧が、欠陥が無い場合よりも低下する。コロ
ナ放電の発生は、金属板と電極の間の間隔の多少の差に
よって殆ど影響されないから、リベット部の底面等に検
査漏れを生じ難い。電極をプラスチックフィルム層に近
接して対向させて検査を行なう、すなわち非接触式での
検査であり、しかも印加される電圧はインパルスであっ
て、印加時間は極めて短いので、高速検査に適してい
る。検査終了と同時に、または検査後直ちにプラスチッ
クフィルム層にチャージされた電荷を除去するのである
から、チャージされた電荷による新たな欠陥の発生を防
止できるので、高腐蝕性の缶詰用の缶蓋の検査に適して
いる。また、逆電圧を加えることによって、プラスチッ
クフィルム層にチャージされていた電荷と反対の極性を
持った電荷がチャージされ、両種の電荷は相殺され、プ
ラスチックフィルム層から電荷が実質的に消滅する。逆
電圧を加える時間は極く短時間でよいので、イオン化し
た空気を吹き付けて電荷を除去する方法等に比べて高速
検査に適している。
A method for inspecting a defect of a can lid according to claim 1 is a method for inspecting a plastic film layer for a defect in a can lid formed of a metal plate having a laminated plastic film layer. In the above, the electrodes are opposed to each other in the vicinity of the plastic film layer, an impulse high voltage is applied between the metal plate and the electrode, and the defect is inspected based on the voltage generated between the electrode and the metal plate. At the same time, or immediately after the inspection, the charge charged on the plastic film layer is applied by applying a reverse voltage.
It is characterized by removing by. The term "defect" as used herein mainly means a pinhole penetrating the plastic film layer, and a portion having a thickness of about 5 μm or less and broken by application of a high voltage higher than the dielectric breakdown field strength of the film layer to become a pinhole. Also says. The electrodes are opposed to each other in the vicinity of the plastic film layer, an impulse high voltage is applied between the metal plate and the electrode, and the defect is inspected based on the voltage generated between the electrode and the metal plate. If the plastic film layer is defective, corona discharge will occur and the voltage developed between the electrode and the metal plate will be lower than if there were no defects. Since the occurrence of corona discharge is hardly affected by the slight difference in the distance between the metal plate and the electrode, it is difficult to cause inspection leakage on the bottom surface of the rivet portion or the like. The electrodes are placed close to the plastic film layer for inspection, that is, non-contact inspection, the applied voltage is impulse, and the application time is extremely short, so it is suitable for high-speed inspection. . Since the electric charge charged in the plastic film layer is removed at the same time as the inspection is completed or immediately after the inspection, it is possible to prevent the generation of new defects due to the charged electric charge. Therefore, the inspection of the can lid for highly corrosive cans can be performed. Suitable for Further, by applying a reverse voltage, a charge having a polarity opposite to the charge charged in the plastic film layer is charged, the charges of both types are canceled, and the charge is substantially eliminated from the plastic film layer. Since the time for applying the reverse voltage may be extremely short, it is suitable for high-speed inspection as compared with a method of blowing ionized air to remove charges.

【0005】請求項2に記載の缶蓋の欠陥検査方法は、
請求項1の欠陥検査方法において、電極のプラスチック
フィルム層に対向すべき部分が、尖った先端部を有する
多数の突起部よりなることを特徴とする。電極のプラス
チックフィルム層に対向すべき部分が、尖った先端部を
有する多数の突起部よりなるので、コロナ放電を起こし
易い。従ってリベット部の底面等に検査漏れを一層起こ
し難い。また高速検査に一層適している。
A method for inspecting a defect of a can lid according to claim 2 is
The defect inspection method according to claim 1, wherein the portion of the electrode that faces the plastic film layer is composed of a large number of protrusions having sharp tips. Since the portion of the electrode facing the plastic film layer is composed of a large number of protrusions having sharp tips, corona discharge is likely to occur. Therefore, it is more difficult to cause inspection leakage on the bottom surface of the rivet portion. It is also more suitable for high-speed inspection.

【0006】請求項3に記載の缶蓋の欠陥検査方法は、
請求項1又は2の欠陥検査方法において、インパルス高
電圧が、コイルに流れる直流電流を切断した時発生する
誘導起電力であり、欠陥のないプラスチックフィルム層
を有する缶蓋の場合に電極と金属板の間に電圧のピーク
値が生じている所定の時点までに、ピーク値より遥かに
低い所定値以下の電圧が生じた時に、欠陥有りと判定す
ることを特徴とする。誘導起電力は、立上りが速いた
め、高速検査に適している。プラスチックフィルム層に
欠陥がある場合は、誘導起電力が急速に立上る途中で、
コロナ放電が起こって、欠陥のないプラスチックフィル
ム層を有する缶蓋の場合に電極と金属板の間に電圧のピ
ーク値が生じている所定の時点(逆電圧を印加する時
点)までに、起電力(電圧)が急激に低下する。従って
確実に欠陥を検出できる。
A method for inspecting a defect of a can lid according to claim 3 is
The defect inspection method according to claim 1 or 2, wherein the impulse high voltage is an induced electromotive force generated when a direct current flowing through the coil is cut off, and in the case of a can lid having a plastic film layer having no defect, between the electrode and the metal plate. It is characterized in that it is determined that there is a defect when a voltage of a predetermined value or lower much lower than the peak value occurs by a predetermined time when the peak value of the voltage has occurred. The induced electromotive force is suitable for high-speed inspection because it has a fast rise. If the plastic film layer is defective, the induced electromotive force will rise rapidly,
In the case of a can lid having a defect-free plastic film layer due to corona discharge, the peak value of the voltage is generated between the electrode and the metal plate. ) Drops sharply. Therefore, the defect can be surely detected.

【0007】請求項4に記載の缶蓋の欠陥検査方法は、
請求項3の欠陥検査方法において、インパルス高電圧
が、トランスの一次側コイルに流れる直流電流を比較的
高い周波数で繰り返し切断した時、二次側コイルに発生
する誘導起電力であることを特徴とする。トランスの一
次側コイルに流れる直流電流を繰り返し切断する毎に、
二次側コイルに発生する誘導起電力は高くなる。上記直
流電流を比較的高い周波数で繰り返し切断するので、電
圧の立上りが急速になる。一次側コイルと二次側コイル
の巻数比nを大きくすることによって、より高いインパ
ルス高電圧が得られる。よって一層高速検査に適してお
り、確実な検査が可能である。
A method for inspecting a defect of a can lid according to claim 4 is
The defect inspection method according to claim 3, wherein the impulse high voltage is an induced electromotive force generated in the secondary coil when the DC current flowing in the primary coil of the transformer is repeatedly disconnected at a relatively high frequency. To do. Every time the DC current flowing through the primary coil of the transformer is repeatedly cut off,
The induced electromotive force generated in the secondary coil becomes high. Since the DC current is repeatedly cut at a relatively high frequency, the voltage rises rapidly. A higher impulse high voltage can be obtained by increasing the turn ratio n between the primary coil and the secondary coil. Therefore, it is more suitable for high-speed inspection, and reliable inspection is possible.

【0008】[0008]

【0009】[0009]

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】図1、図2、図3において、1は
缶蓋であり、ポリエチレンテレフタレート系プラスチッ
クフィルム層6をラミネートされた金属板7から形成さ
れ、図の上面側、すなわち缶内面となるべき側にプラス
チックフィルム層6が設けられている。 図2に示すよ
うに、缶蓋1は、中央パネル部1a、環状凹部1b、チ
ャックウオール1c、シーミングパネル1dおよびカー
ル部1eを備えている。中央パネル部1aには、摘みタ
ブ(図示されない)を着設するためのリベット部1a
1、摘みタブ1aを引っ張り上げる時引裂かれて開口部
(図示されない)を形成する円形のスコア部1a2、お
よびパネル部を強化するための凹部1a3が設けられて
いる。プラスチックフィルム層6の厚さは通常30μm
程度であるが、強加工を受けるリベット部1a1の底面
やスコア部1a2は、厚さが半分程に減少してピンホー
ルを生じ易い。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In FIGS. 1, 2 and 3, reference numeral 1 denotes a can lid, which is formed of a metal plate 7 laminated with a polyethylene terephthalate plastic film layer 6 and is on the upper surface side of the drawing, that is, the inner surface of the can. The plastic film layer 6 is provided on the side to be formed. As shown in FIG. 2, the can lid 1 includes a central panel portion 1a, an annular recess 1b, a chuck wall 1c, a seaming panel 1d, and a curl portion 1e. A rivet portion 1a for attaching a tab (not shown) to the central panel portion 1a.
1. A circular score portion 1a2 that is torn when pulling up the knob tab 1a to form an opening (not shown), and a concave portion 1a3 for strengthening the panel portion are provided. The thickness of the plastic film layer 6 is usually 30 μm
The thickness of the bottom surface of the rivet portion 1a1 and the score portion 1a2, which are subjected to heavy working, is reduced to about half, and pinholes are likely to occur.

【0012】2はターレットであり、図5に示すよう
に、ターレット2には周縁部に沿い複数の(図では8個
の)円形孔部3が等間隔に設けられている。図2は、後
述の検査ステーション51における孔部3の状態を示
す。缶蓋1のシーミングパネル1dが、孔部3の段部3
aに乗り、シーミングパネル1dの上端の最大直径部
が、段部3aの垂直立上り面3bにしっくりと接触する
ようにして、缶蓋1は孔部3に載置される。4は、ター
レット2が回転、停止中に缶蓋1が上下動するのを防ぐ
ための押え具であり、内側より、下端面がチャックウオ
ール1cとほぼ同形で、弾性ゴム等のエラストマーより
なる環状リング体4a、環状リング体4aを支持し、内
径が環状凹部1bの最大外径より若干大きい、絶縁体よ
りなり、垂直リング部4b1を有するホルダー4b、お
よびホールダー4bに固設され、垂直リング部4b1の
外周部に密接するリング部5aを有する導電性材料(例
えば銅またはアルミニウム等)よりなる接触具5を備え
ている。接触具5のリング部5aの下面は、カール部1
eの金属が露出した端面1e1に接触するようになって
いる。接触具5は接地されている。環状リング体4aお
よびホールダー4bは、接触具5と後述の電極8との間
に放電が起こるのを防止する役目を有する。
Reference numeral 2 denotes a turret. As shown in FIG. 5, the turret 2 is provided with a plurality of (eight in the figure) circular holes 3 at equal intervals along the peripheral edge. FIG. 2 shows a state of the hole 3 in the inspection station 51 described later. The seaming panel 1d of the can lid 1 has a step 3 of the hole 3.
The can lid 1 is placed in the hole portion 3 such that the maximum diameter portion of the upper end of the seaming panel 1d is in good contact with the vertical rising surface 3b of the step portion 3a when riding on a. Reference numeral 4 denotes a retainer for preventing the can lid 1 from moving up and down while the turret 2 is rotating and stopping, and the lower end surface of the retainer 1 has substantially the same shape as the chuck wall 1c from the inside and is made of an elastomer such as elastic rubber. A holder 4b that supports the ring body 4a, the annular ring body 4a, and has an inner diameter slightly larger than the maximum outer diameter of the annular recess 1b and is made of an insulator and has a vertical ring portion 4b1 and a holder 4b. The contact tool 5 is made of a conductive material (for example, copper or aluminum) having a ring portion 5a that is in close contact with the outer peripheral portion of 4b1. The lower surface of the ring portion 5a of the contact tool 5 has a curl portion 1
The metal e is in contact with the exposed end surface 1e1. The contact tool 5 is grounded. The annular ring body 4a and the holder 4b have a role of preventing electric discharge from occurring between the contact tool 5 and an electrode 8 described later.

【0013】電極8は、導電性材料、例えば工具鋼より
なり、主部8aは、缶蓋1の環状凹部1bの最深部とほ
ぼ同径の円柱形をしている。電極8の缶蓋1に対向する
部分、すなわち図1、図2における下部である対検体部
8bは、尖った頂部9aを有する多数の突起部9よりな
っている。突起部9は、角錐体または円錐体等よりな
り、図4の場合は連続した小さな正四角錐9bよりな
る。頂部9aは、主部8aの軸線に垂直な仮想同一平面
上に、等間隔で分布しており、かつシャープエッジまた
は曲率半径が極く小さい(例えば0.3mm以下の)球
面状であることが好ましい。コロナ放電を起こし易くす
るためである。このような突起部9は、例えば放電加工
によって形成される。突起部9は、防錆と導電性向上の
ため好ましくは金めっきされる。電極8と缶蓋1は離隔
していて非接触である。缶蓋1に凹凸が有るため、頂部
9aとプラスチックフィルム層6との間隔は一様でない
が、最も間隔の小さい箇所の間隔が約0.1mm以上で
あって、この範囲で電極8と缶蓋1ができるたけ接近し
ていることが好ましい。間隔が大き過ぎると、コロナ放
電が起こり難くなって、検査の確実さが低下するからで
ある。
The electrode 8 is made of a conductive material such as tool steel, and the main portion 8a has a cylindrical shape having a diameter substantially the same as the deepest portion of the annular recess 1b of the can lid 1. The portion of the electrode 8 that faces the can lid 1, that is, the lower portion in FIG. 1 and FIG. 2, the counter specimen portion 8b is composed of a large number of protrusions 9 having a sharp top 9a. The protrusion 9 is formed of a pyramid or a cone, and in the case of FIG. 4, is formed of continuous small regular pyramids 9b. The tops 9a are distributed at equal intervals on a virtual coplanar plane perpendicular to the axis of the main part 8a, and have sharp edges or spherical surfaces with a very small radius of curvature (for example, 0.3 mm or less). preferable. This is to facilitate corona discharge. Such a protrusion 9 is formed by, for example, electric discharge machining. The protrusions 9 are preferably gold-plated to prevent rust and improve conductivity. The electrode 8 and the can lid 1 are separated and are not in contact with each other. Since the can lid 1 has unevenness, the distance between the top portion 9a and the plastic film layer 6 is not uniform, but the distance between the smallest portions is about 0.1 mm or more, and the electrode 8 and the can lid are in this range. It is preferable that 1 is as close as possible. This is because if the interval is too large, corona discharge is less likely to occur and the reliability of inspection is reduced.

【0014】図1において、10は電極8と金属板7と
の間に電圧印加、除電を行なうための電気回路である。
11は設定電圧が比較的低い直流定電圧源である。12
はトランス、12aは一次側コイル、12bは二次側コ
イルである。二次側コイル12b、二次側コイル12b
の正端子12b1に正極側が接続する整流素子であるダ
イオード13、スイッチ14および電極8は直列回路を
形成する。二次側コイル12bの巻数は、一次側コイル
12aの巻数のn倍(n>1)である。従って二次側コ
イル12bには、一次側コイル12aのn倍の電圧が生
ずる。二次側コイル12bの負端子12b2は接地され
て缶蓋1(金属板7)の端面1e1に接続する。二次側
コイル12b、ダイオード13およびスイッチ14より
なる直列回路と並列に、設定電圧(例えば約2〜4k
V)が比較的が高い直流定電圧源15、抵抗16および
スイッチ17よりなる直列回路が設けられており、電源
15の正極側は接地され、スイッチ17の電源15と反
対側の端子は電極8に接続する。スイッチ14および1
7はそれぞれ、コントローラ18内のリレー装置19お
よび20によって、一定のタイミングでON,OFF制
御される(図6参照)。
In FIG. 1, reference numeral 10 is an electric circuit for applying a voltage between the electrode 8 and the metal plate 7 and removing electricity.
Reference numeral 11 is a DC constant voltage source whose set voltage is relatively low. 12
Is a transformer, 12a is a primary coil, and 12b is a secondary coil. Secondary coil 12b, secondary coil 12b
The diode 13, which is a rectifying element whose positive side is connected to the positive terminal 12b1 of the switch, the switch 14, and the electrode 8 form a series circuit. The number of turns of the secondary coil 12b is n times (n> 1) the number of turns of the primary coil 12a. Therefore, a voltage n times as large as that of the primary coil 12a is generated in the secondary coil 12b. The negative terminal 12b2 of the secondary coil 12b is grounded and connected to the end surface 1e1 of the can lid 1 (metal plate 7). A set voltage (for example, about 2 to 4 k) is set in parallel with a series circuit including the secondary coil 12 b, the diode 13, and the switch 14.
V) is relatively high, a series circuit including a DC constant voltage source 15, a resistor 16 and a switch 17 is provided. The positive side of the power source 15 is grounded, and the terminal of the switch 17 on the side opposite to the power source 15 is the electrode 8. Connect to. Switches 14 and 1
Each of 7 is ON / OFF-controlled at a constant timing by relay devices 19 and 20 in the controller 18 (see FIG. 6).

【0015】電極8は、抵抗21およびコンデンサ22
よりなる並列回路、および抵抗23および可変コンデン
サ24よりなる並列回路を介して接地される。コンデン
サ22、24は、危険防止のため設けられる。抵抗23
の両端部間の電圧は、電極8と金属板間の分圧された電
圧であって、コントローラ18内の信号読取部26に入
力する。信号読取部26には、インパルス高電圧を印加
する時点t2から、逆電圧を印加する時点t5までの間、
後述のように所定のタイミングで上記分圧電圧が入力し
て読み取られる(図6、図7参照)。すなわちスイッチ
素子34がOFFになった時点(例えば時点t12)か
ら、極めて短い時間(例えば150μsec)後に入力
して読み取られる。この極めて短い時間は、スイッチ素
子34がOFFになった時点(例えば時点t12)から、
次にスイッチ素子34がONになる時点(例えば時点t
21)までの時間より遥かに短い時間である。電源11
は、一次側コイル12a、電流調整用の抵抗33、およ
びコントローラ18内のスイッチ素子34と直列回路を
形成し、電源11の負極は、一次側コイル12aに接続
し、正極は半導体等のスイッチ素子34に接続する。2
7は、タイミング信号発生部であって、所定のタイミン
グで信号をスイッチ素子34に出力してスイッチ素子3
4をON、OFFする(図7参照)。
The electrode 8 has a resistor 21 and a capacitor 22.
It is grounded through a parallel circuit composed of a parallel circuit composed of a resistor 23 and a variable capacitor 24. The capacitors 22 and 24 are provided to prevent danger. Resistance 23
The voltage between both ends of the voltage is a voltage divided between the electrode 8 and the metal plate and is input to the signal reading unit 26 in the controller 18. From the time t2 when the impulse high voltage is applied to the signal reading unit 26, to the time t5 when the reverse voltage is applied,
The divided voltage is input and read at a predetermined timing as described later (see FIGS. 6 and 7). That is, it is input and read after an extremely short time (for example, 150 μsec) from the time when the switch element 34 is turned off (for example, time t12). This extremely short time is from the time when the switch element 34 is turned off (for example, time t12).
Next, when the switch element 34 is turned on (for example, at time t
It is much shorter than the time to 21). Power supply 11
Form a series circuit with the primary coil 12a, the resistor 33 for current adjustment, and the switch element 34 in the controller 18, the negative electrode of the power supply 11 is connected to the primary coil 12a, and the positive electrode is a switch element such as a semiconductor. Connect to 34. Two
A timing signal generator 7 outputs a signal to the switch element 34 at a predetermined timing to output the signal to the switch element 3.
4 is turned on and off (see FIG. 7).

【0016】次に電圧印加、除電回路10の動作につい
て説明する。図2に示すように、電極8が缶蓋1に対向
しており、かつ図6に示すように、スイッチ14がO
N、スイッチ17がOFFの状態にある時点t1で立上
る検査スタート信号25がタイミング信号発生部27に
入力すると、タイミング信号発生部27からスイッチ素
子34をON、OFFするタイミング信号がスイッチ素
子34に出力する。タイミング信号は、図7に示すよう
に、スイッチ素子34がONになる時点例えばt11、t2
1、t31、t41間の時間T、すなわち周期が一定で極く短
く(例えばT=600μsec)、かつON状態にある
間の時間、例えば時点t11と時点t12間の時間や時点t
21と時点t22間の時間が段々と極く僅かに長くなってい
る(例えば10μsecづつ長くなる)。タイミング信
号は、電圧Vがピーク値Vpに達する時点t3までの間出
力される。タイミング信号のON回数は、通常約10〜
30の範囲内の所定回数である。
Next, the operation of the voltage application / static elimination circuit 10 will be described. As shown in FIG. 2, the electrode 8 faces the can lid 1, and as shown in FIG.
N, when the inspection start signal 25 that rises at time t1 when the switch 17 is in the OFF state is input to the timing signal generation unit 27, the timing signal generation unit 27 outputs the timing signal for turning the switch element 34 ON and OFF to the switch element 34. Output. As shown in FIG. 7, the timing signal is set at the time when the switch element 34 is turned on, for example, t11, t2.
The time T between 1, t31 and t41, that is, the period is constant and extremely short (for example, T = 600 μsec), and the time during the ON state, for example, the time between time t11 and time t12 or time t.
The time between 21 and the time point t22 gradually becomes extremely long (for example, becomes 10 μsec longer). The timing signal is output until the time t3 when the voltage V reaches the peak value Vp. The number of times the timing signal is turned on is usually about 10
It is a predetermined number of times within the range of 30.

【0017】スイッチ素子34は、検査スタート信号2
5がONになった時点t1で、最初にONとなり(従っ
て時点t1=時点t11)、電源11からトランス12の
一次側コイル12aに電流I1が流れる。これに伴い二
次側コイル12bに誘導電流I2が流れる。電流I1がピ
ーク値に達した時点t12(すなわち時点t2)に、スイ
ッチ素子34をOFFにして電流I1を切断すると、二
次側コイル12bの電流I2も切断され、二次側コイル
12bに大きな誘導起電力が発生し、この誘導起電力に
基づくインパルス高電圧V(Vは、一次側コイル12a
に発生する誘導起電力のn倍)が、時点t2にダイオー
ド13を介して電極8と金属板7(接触具5に接触して
いる)の間に印加される。このようにスイッチ素子34
がON、OFFを繰り返す毎にインパルス電圧Vは高く
なり、プラスチックフィルム層6が、ピンホールを含ま
ず、正常の場合は、図6に示すように、電圧VはON、
OFFを上記所定回数行なうまでに飽和して、時点t3
にほぼ平坦なピーク値Vpにまで急速に立上り、プラス
チックフィルム層6に正電荷がチャージされる。スイッ
チ素子34のON、OFF動作が止まった時点t3後で
もピーク値Vpはそのまま続く。時点t4にスイッチ14
をOFFにし、その直後の時点t5にスイッチ17をO
Nにする(時点t5は、例えば時点t2から20msec
後の時点:図6、図8)と、電源15の正極が金属板7
に、負極が電極8に接続して、金属板7に逆電圧が作用
して、電圧Vは負となり、プラスチックフィルム層6に
負電荷がチャージされ、プラスチックフィルム層6にチ
ャージされていた正電荷と負電荷が相殺して電荷が除去
される。その後、例えば時間50msecに(時点t
6:図6)に電極8と押え具4を上昇させて、缶蓋1か
ら離隔する。
The switch element 34 uses the inspection start signal 2
At time t1 when 5 is turned on, it is first turned on (hence time t1 = time t11), and the current I1 flows from the power supply 11 to the primary coil 12a of the transformer 12. Along with this, an induced current I2 flows through the secondary coil 12b. At time t12 when the current I1 reaches the peak value (that is, time t2), if the switch element 34 is turned off to cut off the current I1, the current I2 of the secondary coil 12b is also cut off, and a large induction is generated in the secondary coil 12b. An electromotive force is generated, and the impulse high voltage V (V is the primary side coil 12a based on this induced electromotive force.
N times the induced electromotive force) is applied between the electrode 8 and the metal plate 7 (in contact with the contact 5) via the diode 13 at time t2. In this way, the switch element 34
, The impulse voltage V increases every time it is turned on and off, and when the plastic film layer 6 does not include pinholes and is normal, the voltage V is turned on as shown in FIG.
It is saturated until it is turned off a predetermined number of times at the time t3.
Rapidly rises to a substantially flat peak value Vp, and the plastic film layer 6 is charged with positive charges. Even after the time point t3 when the ON / OFF operation of the switch element 34 is stopped, the peak value Vp continues as it is. Switch 14 at time t4
Is turned off, and switch 17 is turned on at time t5 immediately after that.
N (time point t5 is, for example, 20 msec from time point t2)
Later time point: FIG. 6, FIG. 8) and the positive electrode of the power supply 15 is the metal plate 7.
Then, the negative electrode is connected to the electrode 8, the reverse voltage acts on the metal plate 7, the voltage V becomes negative, the plastic film layer 6 is negatively charged, and the plastic film layer 6 is positively charged. And the negative charges cancel each other out to remove the charges. After that, for example, at time 50 msec (at time t
6: The electrode 8 and the retainer 4 are lifted to the position shown in FIG. 6) and separated from the can lid 1.

【0018】プラスチックフィルム層にピンホールがあ
る場合は、ピンホールを通って突起部9の頂部9aと金
属板7との間にコロナ放電が起こるので、図9の曲線2
に示すように、電圧Vはピーク値Vpに達しない。信号
読取部26は、時点t12(t2)から時点t5(検査終了
時)までの間における電圧Vを読取り、ピーク値Vpよ
り遥かに低い所定電圧(例えば2kV)以下の電圧が読
み取られた時、この缶蓋1を不良品としてリジェクトす
る。図8の曲線1に示すように、時点t5(検査終了
時)までに読取られた電圧Vが、上記所定電圧より高い
缶蓋1は、良品として送出される。仮に電源15を設け
ない場合は、ピーク値Vpが続いている状態でスイッチ
14をOFFにし、スイッチ17をONにすると、電極
8は、抵抗16を介して接地され、電極8と金属板7間
の電圧Vは図9の曲線3に示すように急速に減少する。
しかしこの状態では、プラスチックフィルム層6にチャ
ージされた正電荷のため、曲線3に示すように、暫く約
2〜3kVの電圧が残る。そして電極8と非接触である
プラスチックフィルム層6にはかなりの量の正電荷が溜
っている。これは新たなピンホールの発生を招く。以上
の実施の形態の場合は、最初に電極8に正電圧を印加し
たが、負電圧を印加するように電圧印加、除電回路10
の構成を変えてもよい。電圧Vの読み取りが終了時点を
逆電圧を印加する時点の直前にして、電圧Vの読み取り
が終了した後、すなわち検査が終了した後直ちにスイッ
チ17をONにしてもよい。
When the plastic film layer has a pinhole, corona discharge occurs between the top 9a of the protrusion 9 and the metal plate 7 through the pinhole, so that the curve 2 in FIG.
As shown in, the voltage V does not reach the peak value Vp. The signal reading unit 26 reads the voltage V from the time point t12 (t2) to the time point t5 (at the end of the inspection), and when a voltage below a predetermined voltage (for example, 2 kV) much lower than the peak value Vp is read, The can lid 1 is rejected as a defective product. As shown by the curve 1 in FIG. 8, the can lid 1 in which the voltage V read by the time t5 (at the end of the inspection) is higher than the predetermined voltage is sent as a good product. If the power supply 15 is not provided, when the switch 14 is turned off and the switch 17 is turned on while the peak value Vp continues, the electrode 8 is grounded via the resistor 16, and the electrode 8 and the metal plate 7 are grounded. The voltage V of V decreases rapidly as shown by the curve 3 in FIG.
However, in this state, due to the positive charges charged in the plastic film layer 6, as shown by the curve 3, a voltage of about 2 to 3 kV remains for a while. A considerable amount of positive charge is stored in the plastic film layer 6 which is not in contact with the electrode 8. This causes the generation of new pinholes. In the case of the above-described embodiment, the positive voltage is first applied to the electrode 8, but the voltage application and static elimination circuit 10 is applied so that the negative voltage is applied.
The configuration of may be changed. The switch 17 may be turned on immediately after the reading of the voltage V is finished, that is, immediately after the reading of the voltage V is finished, that is, immediately after the reading of the voltage V is finished.

【0019】図5に示すターレット2は、インデックス
により矢印A方向に、例えば0.2sec間で45度ず
つ(90msec回動、110msec停止;この場合
毎分300個の缶蓋1の検査が可能)間欠回転する。5
0が缶蓋1の送入ステーション、51が検査ステーショ
ン、52がリジェクトステーション、53が送出ステー
ションである。孔部3が送入ステーション50で停止し
た時、缶蓋1は下方に向って真空吸引されて、図2に示
すように、シーミングパネル1dが孔部3の段部3aに
乗って、孔部3に載置される。缶蓋1が検査ステーショ
ン51に達して停止した時、押え具4が降下して環状リ
ング体4aがチャックウオール1cと軽く接触し、同時
に接触具5が缶蓋1の端面1e1に接触する。同時に電
極8も、突起部9の頂部9aと缶蓋1との最短間隔が
0.1mm近傍になるまで降下する。この状態で段落番
号0016、0017、0018に記載したようにして
検査が行なわれる。ここで欠陥有り、すなわち不良品と
判定された缶蓋1は、リジェクトステーション52で上
方に押し上げられてリジェクトされる。正常な缶蓋1は
送出ステーション53から次工程へ送られる。
The turret 2 shown in FIG. 5 is indexed by an index in the direction of arrow A, for example, every 45 degrees for 0.2 sec (90 msec rotation, 110 msec stop; in this case, 300 can lids 1 can be inspected per minute). Rotate intermittently. 5
Reference numeral 0 is a feeding station of the can lid 1, 51 is an inspection station, 52 is a reject station, and 53 is a sending station. When the hole 3 is stopped at the feeding station 50, the can lid 1 is vacuumed downward, and the seaming panel 1d rides on the step 3a of the hole 3 as shown in FIG. Placed on the part 3. When the can lid 1 reaches the inspection station 51 and stops, the holding tool 4 descends and the annular ring body 4a makes light contact with the chuck wall 1c, and at the same time, the contact tool 5 comes into contact with the end surface 1e1 of the can lid 1. At the same time, the electrode 8 also descends until the shortest distance between the top portion 9a of the protrusion 9 and the can lid 1 becomes close to 0.1 mm. In this state, the inspection is performed as described in paragraphs 0016, 0017 and 0018. Here, the can lid 1 that is determined to have a defect, that is, a defective product, is pushed upward at the reject station 52 and rejected. The normal can lid 1 is sent from the sending station 53 to the next step.

【0020】[0020]

【実施例】検査される缶蓋1は、金属板7が板厚0.2
5mmの缶用アルミニウム合金よりなり、内面側に接着
剤を介して厚さ30μmのポリエチレンテレフタレート
系フィルム6がラミネートされたものであり、環状凹部
1bの最深部間の直径は70.70mmであった。リベ
ット部1a1の底部およびスコア部1a2におけるフィル
ム6の厚さは約15μmであった。電極8の主部8aの
直径は、上記最深部間の直径より僅かに小さく70.5
mmであり、対検体部8bの下端、すなわち突起部9の
頂部9a全体の直径は、主部8aの直径より僅かに小さ
く69mmであった。突起部9は、底部の辺長が1.5
mm、高さが5mmの正四角錐9bよりなり、頂部9a
は曲率半径は約0.2mmの球面状であった。上記の正
四角錐9bのサイズは、缶蓋1と電極8を同軸に配設し
た時、頂部9aの何れかが、リベット部1aの中心、お
よびスコア部1a2の上方に位置するように定められ
た。突起部9は金めっきされた。
EXAMPLE A can lid 1 to be inspected has a metal plate 7 having a plate thickness of 0.2.
It was made of a 5 mm aluminum alloy for cans, and a polyethylene terephthalate film 6 having a thickness of 30 μm was laminated on the inner surface side with an adhesive, and the diameter between the deepest portions of the annular recess 1b was 70.70 mm. . The thickness of the film 6 at the bottom of the rivet part 1a1 and the score part 1a2 was about 15 μm. The diameter of the main portion 8a of the electrode 8 is slightly smaller than the diameter between the deepest portions 70.5.
The diameter of the lower end of the sample portion 8b, that is, the entire top portion 9a of the protrusion 9 was 69 mm, which was slightly smaller than the diameter of the main portion 8a. The protrusion 9 has a bottom side length of 1.5.
mm, the height is 5 mm, and is composed of a regular square pyramid 9b, and the top portion 9a
Had a spherical shape with a radius of curvature of about 0.2 mm. The size of the regular quadrangular pyramid 9b is determined so that, when the can lid 1 and the electrode 8 are coaxially arranged, one of the top portions 9a is located above the center of the rivet portion 1a and above the score portion 1a2. . The protrusion 9 was plated with gold.

【0021】電圧印加、除電回路10において、電源1
1および15の設定電圧はそれぞれ、17.5Vおよび
−3.2kVであった。抵抗16、21、23および3
3の抵抗値はそれぞれ、4MΩ、5000MΩ、3.9
kΩおよび1KΩであった。コンデンサ22および24
の容量はそれぞれ、300pFおよび0.033μFで
あった。
In the voltage application / static elimination circuit 10, the power source 1
The set voltages of 1 and 15 were 17.5V and -3.2kV, respectively. Resistors 16, 21, 23 and 3
The resistance values of 3 are 4 MΩ, 5000 MΩ and 3.9, respectively.
It was kΩ and 1 KΩ. Capacitors 22 and 24
Had a capacitance of 300 pF and 0.033 μF, respectively.

【0022】図8、図9は、テストのためレコーダ55
を用意して、レコーダ55に抵抗23の両端部を接続し
て、検査時間と電圧V(電極8と金属板7の間に生ずる
電圧に換算した値)との関係を調べた結果を示すもので
ある。タイミング信号の図7におけるTは600μse
cであった。図8の曲線1は、プラスチックフィルム6
にピンホールが無く、かつ電源15が設けられている場
合に、時間18msec(時点t4)にスイッチ14を
OFFにし、時間20msec(時点t5)にスイッチ
17をONにして缶蓋1に逆電圧を印加した時(除電し
た時)の、時間と電圧との関係の例を示す。時間0ms
ecは、図6の時点t2である。時間がほぼ32mse
cの時点で電圧が0kVになることが分かる。逆電圧、
すなわち負電圧を印加することにより、正の電荷が新た
に生じた負の電荷により中和されるためであると考えら
れる。図9の曲線2は、プラスチックフィルム6にピン
ホールが有る場合の同様な例(ただし時間20msec
の時にスイッチ17をONにしなかった)を示すもの
で、約7msec後に5kVのピーク値に達し、以後急
速に低下する。この場合、曲線1においてピーク値Vp
が続いている間の電圧Vは殆ど0であることが分かる。
図9の曲線3は、プラスチックフィルム6にピンホール
が無く、かつ電源15を設けない場合に、時間18ms
ecにスイッチ17をOFFにしたまま、スイッチ14
をOFFにし、時間20msecにスイッチ17をON
にして行なった検査の時の、時間と電圧(kV)との関
係の例を示す。約15msecで電圧Vは急速に立上
り、ピーク値の7kVに達した後、時間20msecで
スイッチ17をONにすると電圧Vは急速に低下し、約
50msecまで約2〜3kVの電圧が続くことが分か
る。この約2〜3kVの電圧が続く短い時間に新たなピ
ンホールが発生する可能性があることを本発明者は見出
した。
8 and 9 show a recorder 55 for testing.
And the results of investigating the relationship between the inspection time and the voltage V (value converted into the voltage generated between the electrode 8 and the metal plate 7) by connecting both ends of the resistor 23 to the recorder 55. Is. The timing signal T in FIG. 7 is 600 μse
It was c. The curve 1 in FIG. 8 is the plastic film 6
When there is no pinhole in and the power supply 15 is provided, the switch 14 is turned off at a time of 18 msec (time t4) and the switch 17 is turned on at a time of 20 msec (time t5) to apply a reverse voltage to the can lid 1. An example of the relationship between time and voltage when applied (when charge is removed) is shown. Time 0 ms
ec is the time point t2 in FIG. Almost 32 mse
It can be seen that the voltage becomes 0 kV at the time of c. Reverse voltage,
That is, it is considered that the positive charge is neutralized by the newly generated negative charge by applying the negative voltage. Curve 2 in FIG. 9 is a similar example when the plastic film 6 has a pinhole (however, the time is 20 msec.
The switch 17 was not turned on at that time), which reached a peak value of 5 kV after about 7 msec, and then rapidly decreased. In this case, the peak value Vp in the curve 1
It can be seen that the voltage V is almost 0 during the period.
Curve 3 in FIG. 9 shows a time of 18 ms when the plastic film 6 has no pinhole and the power supply 15 is not provided.
ec with switch 17 turned off, switch 14
Is turned off, and switch 17 is turned on for 20 msec.
An example of the relationship between time and voltage (kV) at the time of the inspection performed as described above is shown. It can be seen that the voltage V rises rapidly in about 15 msec, reaches the peak value of 7 kV, and then the voltage V rapidly decreases when the switch 17 is turned on in 20 msec, and the voltage of about 2 to 3 kV continues until about 50 msec. . The present inventor has found that a new pinhole may be generated in a short time when the voltage of about 2 to 3 kV continues.

【0023】図5に示すターレット2を用いて、プラス
チックフィルム6にピンホールが無く、図8の曲線1が
得られる条件で段落番号0016、0017、0018
に記載の方法によって、1600個の缶蓋1の検査と除
電を行なった。その中良品は1500個、リジェクト品
(不良品)は100個であった。良品についてエナメル
レータ試験を行なった結果、全数が試験値は0.000
mAであった。リジェクト品についてエナメルレータ試
験を行なった結果は、試験値は0.00xmA(xは1
〜9の整数)であった。
Using the turret 2 shown in FIG. 5, the plastic film 6 has no pinholes and the curve 1 of FIG.
By the method described in 1), 1600 can lids 1 were inspected and discharged. Among them, there were 1500 good products and 100 rejected products (defective products). As a result of performing an enamel lator test on non-defective products, the total test value is 0.000.
It was mA. As a result of performing an enamellator test on the rejected product, the test value is 0.00xmA (x is 1
Was an integer of ˜9).

【0024】比較のため、除電を行なはない点をのぞい
ては、前記と同様にして検査を行なった所、良品は15
94個、リジェクト品は6個であった。良品についてエ
ナメルレータ試験を行なった結果、1592個の試験値
は0.000mAであったが、2個の試験値は0.00
xmA(xは1〜9の整数)であった。リジェクト品の
エナメルレータ試験を行なった結果は、試験値は0.0
yxmA(xは1〜9の整数、yは0〜9の整数)であ
った。
For comparison, except that the charge was not removed, the inspection was carried out in the same manner as described above.
There were 94 and 6 rejected products. As a result of performing an enamellator test on non-defective products, the test value of 1592 was 0.000 mA, but the test value of 2 was 0.00.
It was xmA (x is an integer of 1-9). As a result of the enamellator test of the rejected product, the test value is 0.0.
It was yxmA (x is an integer of 1-9, y is an integer of 0-9).

【0025】[0025]

【発明の効果】本願請求項1〜4に記載の、缶蓋の内面
プラスチックフィルム層の検査法は、リベット部の底面
等に検査漏れを生じ難く、更に高腐蝕性の缶詰用の缶蓋
の高速検査に適しており、欠陥を確実に検査できるとい
うメリットを有する。
According to the method for inspecting the plastic film layer on the inner surface of the can lid according to the first to fourth aspects of the present invention, the leakage of the inspection is unlikely to occur on the bottom surface of the rivet portion, and the can lid for canning is highly corrosive. It is suitable for high-speed inspection and has the advantage of being able to reliably inspect defects.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、本発明の方法を実施するための、電
極、缶蓋および電気回路の説明用図面である。
FIG. 1 is an explanatory drawing of an electrode, a can lid and an electric circuit for carrying out the method of the present invention.

【図2】図2は、電極および缶蓋が図1の状態にある時
の、図5のターレットの検査ステーションのII−II
線に沿う縦断面図である。
2 is a II-II of the inspection station of the turret of FIG. 5 when the electrodes and the can lid are in the state of FIG. 1;
It is a longitudinal cross-sectional view along a line.

【図3】図3は、図2のP部の拡大図面である。FIG. 3 is an enlarged view of a P portion of FIG.

【図4】図4は、図2のIVーIV線から見た底面図で
ある。
FIG. 4 is a bottom view seen from the line IV-IV in FIG.

【図5】図5は、本発明の検査法を工業的に実施するた
めのターレットの、説明用要部平面図である。
FIG. 5 is a plan view for explaining an essential part of a turret for industrially carrying out the inspection method of the present invention.

【図6】図6は、図1の電気回路の動作の例を示すタイ
ミングチャートである。
FIG. 6 is a timing chart showing an example of the operation of the electric circuit of FIG.

【図7】図7は、図6のスイッチ素子信号と読取信号の
一部拡大詳細図である。
FIG. 7 is a partially enlarged detailed view of the switch element signal and the read signal of FIG.

【図8】図8は、インパルス高電圧として誘導起電力を
極く短い周期で繰り返し印加したのち、逆電圧を印加し
た場合の、時間と電圧との関係の例を示す線図である。
FIG. 8 is a diagram showing an example of a relationship between time and voltage when a reverse voltage is applied after repeatedly applying an induced electromotive force as an impulse high voltage in an extremely short cycle.

【図9】図9は、インパルス高電圧として誘導起電力を
極く短い周期で繰り返し印加した場合の、時間と電圧と
の関係の第1の例および第2の例を示す線図である。
FIG. 9 is a diagram showing a first example and a second example of a relationship between time and voltage when an induced electromotive force is repeatedly applied as an impulse high voltage at an extremely short cycle.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 缶蓋 6 プラスチックフィルム層 7 金属板 8 電極 9 突起部 9a 頂部(先端部) 12 トランス 12a 一次側コイル 12b 二次側コイル(コイル) 15 電源(逆電圧を加える手段) 34 スイッチ(コイルに流れる電流を切断する手段) 1 can lid 6 plastic film layers 7 metal plate 8 electrodes 9 protrusion 9a Top (tip) 12 transformers 12a Primary coil 12b Secondary coil (coil) 15 Power supply (means for applying reverse voltage) 34 switch (means for cutting off the current flowing through the coil)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭48−68296(JP,A) 特開 平3−160355(JP,A) 特開 平2−62978(JP,A) 特開 平8−240569(JP,A) 特開 平8−298770(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 27/20 G01N 27/92 G01M 3/40 ─────────────────────────────────────────────────── --- Continuation of the front page (56) References JP-A-48-68296 (JP, A) JP-A-3-160355 (JP, A) JP-A-2-62978 (JP, A) JP-A-8- 240569 (JP, A) JP-A-8-298770 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01N 27/20 G01N 27/92 G01M 3/40

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ラミネートされたプラスチックフィルム層
を有する金属板から形成された缶蓋の、プラスチックフ
ィルム層の欠陥を検査する方法において、 プラスチックフィルム層に近接して電極を対向させ、金
属板と電極の間にインパルス高電圧を印加し、電極と金
属板との間に生ずる電圧に基づいて欠陥の検査を行な
い、検査終了と同時に、または検査後直ちにプラスチッ
クフィルム層にチャージされた電荷を、逆電圧を加える
ことによって除去することを特徴とする缶蓋の欠陥検査
方法。
1. A method of inspecting a can lid formed from a metal plate having a laminated plastic film layer for defects in the plastic film layer, the electrodes being opposed to each other in close proximity to the plastic film layer, and the metal plate and the electrode. Impulse high voltage is applied between the electrodes and the defect is inspected based on the voltage generated between the electrode and the metal plate, and the charge charged in the plastic film layer is reversed by the reverse voltage at the end of the inspection or immediately after the inspection. Add
Defect inspection of can lids characterized by removal by
Method.
【請求項2】電極のプラスチックフィルム層に対向すべ
き部分が、尖った先端部を有する多数の突起部よりなる
請求項1に記載の缶蓋の欠陥検査方法。
2. A method of inspecting a defect of a can lid according to claim 1, wherein the portion of the electrode that faces the plastic film layer comprises a plurality of protrusions having sharp tips.
【請求項3】インパルス高電圧が、コイルに流れる直流
電流を切断した時発生する誘導起電力であり、欠陥のな
いプラスチックフィルム層を有する缶蓋の場合に電極と
金属板の間に電圧のピーク値が生じている所定の時点ま
でに、ピーク値より低い所定値以下の電圧が生じた時
に、欠陥有りと判定する、請求項1又は2に記載の缶蓋
の欠陥検査方法。
3. An impulse high voltage is an induced electromotive force generated when a direct current flowing through a coil is cut off, and in the case of a can lid having a defect-free plastic film layer, the peak value of the voltage between the electrode and the metal plate is The defect inspection method for a can lid according to claim 1 or 2, wherein it is determined that there is a defect when a voltage equal to or lower than a predetermined value lower than a peak value is generated by a predetermined time.
【請求項4】インパルス高電圧が、トランスの一次側コ
イルに流れる直流電流を、高周波で繰り返し切断した
時、二次側コイルに発生する誘導起電力である、請求項
に記載の缶蓋の欠陥検査方法。
4. The impulse high voltage is an induced electromotive force generated in a secondary side coil when a direct current flowing through the primary side coil of a transformer is repeatedly cut at a high frequency.
The method for inspecting a defect of a can lid according to Item 3 .
JP33084497A 1997-11-17 1997-11-17 Inspection method for can lid defects Expired - Fee Related JP3470574B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33084497A JP3470574B2 (en) 1997-11-17 1997-11-17 Inspection method for can lid defects

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33084497A JP3470574B2 (en) 1997-11-17 1997-11-17 Inspection method for can lid defects

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11148922A JPH11148922A (en) 1999-06-02
JP3470574B2 true JP3470574B2 (en) 2003-11-25

Family

ID=18237175

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP33084497A Expired - Fee Related JP3470574B2 (en) 1997-11-17 1997-11-17 Inspection method for can lid defects

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3470574B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009028228A1 (en) * 2009-08-04 2011-02-17 Ball Packaging Europe Gmbh Device and method for surface treatment with a test station
CN109900767B (en) * 2019-04-11 2021-03-05 杭州电子科技大学 Method for detecting freshness of chicken by utilizing electrochemistry

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11148922A (en) 1999-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111357145B (en) Method and apparatus for detecting damage to battery separator
US11300476B2 (en) System and method for alternating-direct high voltage leak detection
JP3470574B2 (en) Inspection method for can lid defects
JP2001208784A (en) Insulation resistance measuring method and insulation resistance measuring apparatus for capacitor
US3417327A (en) Method and apparatus including an expandable electrically conductive boot for testing interior coatings of metal cans or the like
JP3588552B2 (en) Method and apparatus for detecting defects in inner coating of metal container
EP1267157A2 (en) Method and apparatus for leakage inspection of a sealed container
JP2621520B2 (en) Defect inspection method for coated metal plate
WO2002039128A1 (en) Method and apparatus of nondestructive insulation test for small electric machine
JP2743532B2 (en) Defect inspection method for organic coating layer
CN111103506B (en) Method for detecting breakdown voltage of special-shaped plate
JP2004069458A (en) Pin hole inspection method for sealed food packaging container
JP2532799B2 (en) Welding work placement condition determination method for cylindrical batteries
JP3377385B2 (en) Pinhole inspection device
JP2518128B2 (en) Defect inspection device for inner coating of metal can
JPS62242848A (en) Method and device for detecting flaw of can lid made of laminated material
JP2005077119A (en) Pinhole inspection method of composite container
JPH0552817A (en) Defect inspecting apparatus of seamless metal can
JP2001108660A (en) Method and apparatus for inspecting film
JP3728483B2 (en) Pinhole inspection apparatus and pinhole detection method thereof
US5925264A (en) Method and apparatus for detecting surface contamination in a weld area
JP2010109299A (en) Method of selecting multilayer ceramic capacitor
JP3107114B2 (en) Inspection equipment for electrolytic capacitors
JPS6311850A (en) Method and apparatus for detecting pin hole or the like of insulator
JPH02113545A (en) Manufacture of semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070912

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080912

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090912

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100912

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100912

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110912

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110912

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120912

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120912

Year of fee payment: 9

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120912

Year of fee payment: 9

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120912

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130912

Year of fee payment: 10

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130912

Year of fee payment: 10

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees