JP3464057B2 - Method of inspecting unit parts and method of inspecting strobe device - Google Patents

Method of inspecting unit parts and method of inspecting strobe device

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JP3464057B2
JP3464057B2 JP26016094A JP26016094A JP3464057B2 JP 3464057 B2 JP3464057 B2 JP 3464057B2 JP 26016094 A JP26016094 A JP 26016094A JP 26016094 A JP26016094 A JP 26016094A JP 3464057 B2 JP3464057 B2 JP 3464057B2
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strobe device
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ユニット部品の検査方
法及びストロボ装置の検査方法に関し、更に詳しくは使
用済みのレンズ付きフイルムユニットから取り外された
ユニット部品の検査方法及び使用済みのレンズ付きフイ
ルムユニットから取り外されたストロボ装置の検査方法
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting a unit part and a strobe device, and more particularly to a method for inspecting a unit part detached from a used film with lens and a used film with lens. The present invention relates to a method for inspecting a strobe device detached from a unit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、特公平2−32615号公報等に
レンズ付きフイルムユニット(以下、「フイルムユニッ
ト」と称す。)が提案されており、これには国際標準規
格ISOの1007−1979年で規定された135タ
イプのパトローネ付き写真フイルムが工場で予め装填さ
れている。このフイルムユニットは、パトローネ付き写
真フイルムを装填した本体部と、この本体部の前面に被
着される前カバーと、本体部の背面に被着される後カバ
ーとから構成され、本体部にはシャッター機構、レン
ズ、ストロボ装置等が組み込まれている。このようなフ
イルムユニットは、写真フイルムの全てのコマの撮影が
終了すると、そのまま現像所に提出される。現像所で
は、露光済の写真フイルムを収納したパトローネを取出
し、現行の現像処理システムを使用して現像及び焼付等
の処理を行い、ユーザーにはプリント写真とフイルムネ
ガとが返却される。
2. Description of the Related Art Conventionally, a film unit with a lens (hereinafter referred to as "film unit") has been proposed in Japanese Examined Patent Publication (Kokoku) No. 2-332615 and the like, and this has been proposed in the international standard ISO 1007-1979. The specified photographic film with 135 types of cartridges is preloaded at the factory. This film unit is composed of a main body in which a photo film with a cartridge is loaded, a front cover attached to the front of the main body, and a rear cover attached to the back of the main body. A shutter mechanism, lens, strobe device, etc. are built in. Such a film unit is submitted to the photo lab as it is after all the frames of the photo film have been taken. At the photo lab, the patrone containing the exposed photo film is taken out, processed and developed using the current development processing system, and the printed photo and the film negative are returned to the user.

【0003】環境保全や産業廃棄物削減のために、工業
製品のリサイクルが行われている。一般的に、このリサ
イクルには、部品の原料化と、部品をそのまま新しい工
業部品に用いる再使用とがある。フイルムユニットにつ
いては、その販売の初期には、空となったフイルムユニ
ットを廃棄処分としていたが、最近では、本体部、前カ
バー、後カバーを溶解して樹脂ペレットにしている。ま
た、プリント基板上に、回路要素、閃光放電管、シンク
ロスイッチ等が取り付けられてユニット化されたストロ
ボ装置は、新しい電池を装填することで再使用される。
In order to protect the environment and reduce industrial waste, industrial products are recycled. Generally, this recycling includes making the parts into raw materials and reusing the parts as they are as new industrial parts. Regarding the film unit, the empty film unit was discarded at the beginning of its sale, but recently, the main body, the front cover and the rear cover are melted to form resin pellets. Further, the strobe device unitized by mounting the circuit elements, the flash discharge tube, the synchro switch and the like on the printed circuit board is reused by loading a new battery.

【0004】再使用可能な部品点数を増やすために、カ
ウンター機構とシャッター機構とを露光ユニットとして
本体部から分離したフイルムユニットが特開平5−19
419号公報に提案されている。このフイルムユニット
では、露光ユニット(カウンター機構、シャッター機
構)、レンズ、ストロボ装置を破損又は損傷させること
なく簡単に取り外せるため、これらを再使用することが
可能である。
In order to increase the number of reusable parts, a film unit in which a counter mechanism and a shutter mechanism are separated from the main body as an exposure unit is disclosed in JP-A-5-19.
No. 419 is proposed. In this film unit, the exposure unit (counter mechanism, shutter mechanism), lens, and strobe device can be easily removed without damage or damage, and thus these can be reused.

【0005】ところで、露光ユニットやストロボ装置等
のユニット化されたユニット部品を再使用する場合に
は、その性能検査することが必要である。そこで、現行
のフイルムユニットでは、再使用されるユニット部品の
作動検査や電気特性検査や外観検査等を人手により行っ
ていた。
By the way, when reusing unitized unit parts such as an exposure unit and a strobe device, it is necessary to inspect their performance. Therefore, in the current film unit, the operation inspection, the electrical characteristic inspection, the appearance inspection, etc. of the reused unit parts are manually performed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】現在、上記のようなユ
ニット部品,例えばストロボ装置の検査は、ストロボ発
光量やフル充電時間の測定等の機能検査項目が約12種
類あり、傷、破損、及び損傷等の外観検査を含めると約
20項目以上にもなる。このような検査を一々人手によ
り行っているため、ストロボ装置1個に費やす検査時間
が非常に長くなり、多量検査には不向きである。
Currently, there are about 12 kinds of functional inspection items such as measurement of strobe light emission amount and full charge time in the inspection of the above-mentioned unit parts, for example, the stroboscopic device, and there are scratches, damages, and Including visual inspections such as damage, there are about 20 or more items. Since such an inspection is manually performed, the inspection time required for one strobe device becomes very long, which is not suitable for a large-scale inspection.

【0007】本発明の目的は、上述のような背景に鑑み
てなされたもので、ユニット部品をそのまま再使用可能
かどうかの検査を効率良く行うようにしたユニット部品
の検査方法及びストロボ装置をそのまま再使用可能かど
うかの検査を効率良く行うようにしたストロボ装置の検
査方法を提供することにある。
The object of the present invention has been made in view of the above-mentioned background, and a method for inspecting a unit component and a strobe device for directly performing an inspection as to whether or not a unit component can be reused as they are. It is an object of the present invention to provide a method for inspecting a strobe device that efficiently inspects whether it can be reused.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1記載の発明では、複数の検査ステーションを
経由しながら循環移動する検査パレットに記憶機能及び
通信機能を有する情報管理手段を設置するとともに、前
記検査パレットにユニット部品を一定の姿勢で保持させ
て循環させる過程で各検査ステーションにてユニット部
品を構成する各部品を寸法、外観傷や汚れ、姿勢、電気
性の検査項目毎に検査し、これらの検査データを情報
管理手段に記憶させ、全ての検査が終了した後、各情報
管理手段に記憶された検査データを一括して読み取り、
これらの検査データを所定の閾値により各検査項目毎に
判定してからこの判定データにより各ユニット部品毎に
総合判定を行い、この総合判定データ及び各検査項目毎
の判定データを対応する各情報管理手段に記憶させると
ともに、前記総合判定データに基づいて各ユニット部品
を複数のグループに仕分けるものである。
In order to achieve the above object, in the invention according to claim 1, an information management means having a storage function and a communication function is installed in an inspection pallet which moves cyclically through a plurality of inspection stations. to with dimensions of each component constituting the unit components in each inspection station in the process of circulating by holding the unit member to the inspection pallet at a fixed position, appearance flaws or dirt, posture, electrical <br/> characteristics inspecting each of the test items, to store these inspection data to the information management means, after all testing is complete, it reads collectively inspection data stored in each information management unit,
These inspection data are judged for each inspection item according to a predetermined threshold, and then a comprehensive judgment is made for each unit component based on this judgment data, and this comprehensive judgment data and judgment data for each inspection item correspond to each information management. In addition to being stored in the means, the unit parts are sorted into a plurality of groups based on the comprehensive judgment data.

【0009】また、請求項2記載の発明は、請求項1記
載の発明において、前記ユニット部品には、リサイクル
に関する履歴データがその製造時点で記録された表示部
が設けられており、前記情報管理手段には、前記表示部
から履歴データを読み取って記憶させておき、各検査ス
テーションでは、各検査の開始時に各情報管理手段から
履歴データを読み取り、これに基づいて実施すべき検査
項目を自動選択して検査を開始するものである。また、
請求項3記載の発明は、請求項1記載の発明において、
前記情報管理手段の各々が保持している検査データ,判
定データ等の全データを、前記判定制御手段により読み
取り、データベース化するものである。
The invention according to claim 2 is the same as the invention according to claim 1, wherein the unit parts are recycled.
Display with historical data recorded at the time of manufacture
Is provided, and the display unit is provided in the information management means.
The history data is read from and stored in the inspection station, and at each inspection station, the history data is read from each information management means at the start of each inspection, and the inspection item to be carried out based on this is automatically selected to start the inspection. Is. Also,
The invention according to claim 3 is the same as the invention according to claim 1,
All the data such as inspection data and judgment data held by each of the information management means is read by the judgment control means and made into a database.

【0010】また、請求項4記載の発明では、使用済み
のレンズ付きフイルムユニットを分解してストロボ装置
を取り外し、複数の検査ステーションを経由しながら循
環移動する検査パレットにストロボ装置を一定の姿勢で
保持させ、検査パレットを循環させる過程で各検査ステ
ーションにてストロボ装置を構成する電気部品及び発光
部の外観、姿勢、電気特性を検査し、この検査結果に応
じてストロボ装置を再利用できるものとできないものと
に仕分けるようにしたものである。
According to the present invention, the used lens-fitted film unit is disassembled to remove the strobe device, and the strobe device is placed in a fixed posture on the inspection pallet that circulates through a plurality of inspection stations. In the process of holding and circulating the inspection pallet, each inspection station inspects the appearance, posture, and electrical characteristics of the electric components and the light-emitting part that make up the strobe device, and the strobe device can be reused according to the inspection result. It is designed to be sorted into those that cannot.

【0011】また、請求項5記載の発明では、検査パレ
ットの循環路の一部を複数に分岐させ、各々の分岐路ご
とに複数の電気特性の検査ステーションを設けておき、
これらの検査ステーションの各々にストロボ装置を保持
した検査パレットを送り込み、電気特性の検査は複数の
ストロボ装置について同時に行うようにしたものであ
る。
According to the invention of claim 5, a part of the circulation path of the inspection pallet is branched into a plurality of parts, and a plurality of inspection stations for electric characteristics are provided for each branch path.
An inspection pallet holding a strobe device is sent to each of these inspection stations, and the electrical characteristics are inspected simultaneously for a plurality of strobe devices.

【0012】[0012]

【作用】各検査パレットには、記憶手段と通信手段とを
有する情報管理手段が設置してある。ユニット部品の各
々は検査パレットに一定の姿勢で保持される。各ユニッ
ト部品は検査パレットが循環される過程で各検査ステー
ションにて検査項目毎に検査される。この検査データは
各情報管理手段に記憶される。全ての検査が終了する
と、各情報管理手段から検査データが一括して読み取さ
れ、所定の閾値により各検査項目毎に判定される。そし
て、更にこの判定データからユニット部品毎に総合判定
される。この総合判定データに基づいて各ユニット部品
が複数のグループに仕分けされ、各検査項目毎の判定デ
ータ及びユニット部品毎の総合判定データは各情報管理
手段に記憶される。
In each inspection pallet, information management means having a storage means and a communication means is installed. Each of the unit parts is held in a fixed posture on the inspection pallet. Each unit component is inspected for each inspection item at each inspection station while the inspection pallet is circulated. This inspection data is stored in each information management means. When all the inspections are completed, the inspection data are collectively read from each information management means, and the inspection data is judged for each inspection item by a predetermined threshold value. Then, based on this determination data, a comprehensive determination is made for each unit component. Each unit component is sorted into a plurality of groups based on the comprehensive determination data, and the determination data for each inspection item and the comprehensive determination data for each unit component are stored in each information management unit.

【0013】図2に示すように、フイルムユニット2
は、撮影機構等を備えたユニット本体3と、これを収納
する外ケース4とから構成されており、この外ケース4
に入れたままで写真撮影が行われる。外ケース4は、フ
イルムユニット2の外観を奇麗にするためのものであ
り、外面に印刷を施した紙箱又はプラスチックシート等
が用いられる。この外ケース4には、レンズ5、ファイ
ンダー窓6、レリーズボタン7、撮影枚数表示板8、巻
き上げノブ9、及びストロボ発光部10を露出させるた
めの穴が設けられ、またストロボ撮影時には、外ケース
4の切込み部11を押圧しながら撮影を行う。
As shown in FIG. 2, the film unit 2
Is composed of a unit main body 3 having a photographing mechanism and the like, and an outer case 4 for housing this.
A photo is taken with the camera still inside. The outer case 4 is for making the external appearance of the film unit 2 beautiful, and a paper box or a plastic sheet having a printed outer surface is used. The outer case 4 is provided with a hole for exposing the lens 5, the finder window 6, the release button 7, the number-of-shots display plate 8, the winding knob 9, and the stroboscopic light emitting section 10. Also, the outer case is provided during stroboscopic photography. Photographing is performed while pressing the notch 11 of 4.

【0014】図3において、ユニット本体3は、パトロ
ーネ付きフイルムが装填される本体部13、この本体部
13の背面に被着され、本体部13との間で写真フイル
ムを光密に収納する後カバー14、本体部13の前に被
着される前カバー15、本体部13と前カバー15との
間に配置される露光ユニット16、ストロボ装置17と
から構成されている。露光ユニット16には、カウンタ
ー機構、シャッター機構、フイルム巻止め機構、及びレ
ンズ5等が内蔵され、これらは一体化されている。レン
ズ5は、前カバー15と露光ユニット16の絞り開口1
6aとの間に挟装される。
In FIG. 3, a unit main body 3 is a main body portion 13 into which a film with a cartridge is loaded, and is attached to the back surface of the main body portion 13 so that the photographic film is housed in a light-tight manner with the main body portion 13. It comprises a cover 14, a front cover 15 attached in front of the main body 13, an exposure unit 16 arranged between the main body 13 and the front cover 15, and a strobe device 17. The exposure unit 16 includes a counter mechanism, a shutter mechanism, a film winding stop mechanism, a lens 5, and the like, which are integrated. The lens 5 includes the front cover 15 and the aperture opening 1 of the exposure unit 16.
It is sandwiched between 6a.

【0015】本体部13には、パトローネが装填される
パトローネ室20と、パトローネから引き出され、ロー
ル状に収納される未露光フイルム収納室21とが設けら
れている。こられの底は開口となっており、後カバー1
4に設けたプルトップ式底蓋22,23によって塞がれ
る。未露光フイルム収納室21の底蓋23は、フイルム
装填の際にパトローネから未露光写真フイルムをロール
状に巻き取る治具等を挿入するための蓋であり、またパ
トローネ室20の底蓋22は、撮影終了後撮影済みフイ
ルムを収納したパトローネを取り出すときの蓋となる。
The main body portion 13 is provided with a cartridge chamber 20 in which a cartridge is loaded, and an unexposed film storage chamber 21 which is pulled out from the cartridge and accommodated in a roll. The bottom of these is an opening, and the rear cover 1
It is closed by the pull-top type bottom lids 22 and 23 provided in FIG. The bottom lid 23 of the unexposed film storage chamber 21 is a lid for inserting a jig or the like for winding the unexposed photographic film into a roll from the cartridge when loading the film, and the bottom lid 22 of the cartridge chamber 20 is , It will be a lid for taking out the cartridge containing the photographed film after the photographing.

【0016】パトローネ室20と未露光フイルム収納室
21との間には、露光開口24が成形されており、この
前面に露光ユニット16が爪結合によって着脱自在に取
り付けられる。露光ユニット16の右横、すなわち未露
光フイルム収納室21の前面には、ストロボ装置17が
爪結合によって着脱自在に取り付けられる。
An exposure opening 24 is formed between the cartridge chamber 20 and the unexposed film storage chamber 21, and the exposure unit 16 is detachably attached to the front surface of the exposure unit 16 by a claw connection. On the right side of the exposure unit 16, that is, on the front surface of the unexposed film storage chamber 21, a strobe device 17 is detachably attached by claw coupling.

【0017】ストロボ装置17は、図4に示すように、
プリント基板25とこれに形成されたスルーホールに半
田付けされる電気部品とから構成されている。プリント
基板25には、充電開始用接点26,27が形成された
銅箔パターン等が印刷されている。電気部品はプロテク
ター28、リフレクター29、トリガー接片30、及び
放電管31からなるストロボ発光部の他に、シンクロス
イッチ33、電池34用の電極板35,36、メインコ
ンデンサ37、ネオン管38等からなる。また銅箔パタ
ーンの上には、製造時期と再使用回数及びその時期とを
表示するための表示部39が設けられている。
The strobe device 17 is, as shown in FIG.
It is composed of a printed circuit board 25 and electrical parts soldered to the through holes formed in the printed circuit board 25. The printed board 25 is printed with a copper foil pattern or the like on which the charging start contacts 26 and 27 are formed. The electric parts include a protector 28, a reflector 29, a trigger contact piece 30, and a stroboscopic light emitting part including a discharge tube 31, a synchro switch 33, electrode plates 35 and 36 for a battery 34, a main capacitor 37, a neon tube 38, and the like. Become. A display unit 39 is provided on the copper foil pattern to display the manufacturing time, the number of reuses, and the time.

【0018】前記切込み部11の内側には、前カバー1
5に一体に成形されたスイッチ部15aが位置する。充
電開始用接点26,27は、スイッチ部15aの変位に
連動して、その背面に設けた短絡板40の接触によりO
Nする。充電が完了した際には、ネオン管38が点滅す
る。このネオン管38は、前カバー15の開口15b、
及び外ケース4の上面に設けた開口12とを通して上方
から覗くことができる。また、シンクロスイッチ33
は、露光ユニット16に設けたシャッタ羽根が絞り開口
16aを全開する際に一方の接片33aを押圧し、この
接片33aが他方の接片33bに接触することによりO
Nする。
The front cover 1 is provided inside the cutout 11.
The switch portion 15a integrally formed with the switch 5 is located. The charging start contacts 26 and 27 are interlocked with the displacement of the switch portion 15a, and are brought into contact with each other by the contact of the short-circuit plate 40 provided on the back surface thereof.
N When charging is completed, the neon tube 38 blinks. The neon tube 38 has an opening 15b in the front cover 15,
And it can be seen from above through the opening 12 provided in the upper surface of the outer case 4. In addition, the synchro switch 33
The shutter blade provided in the exposure unit 16 presses one of the contact pieces 33a when the aperture opening 16a is fully opened, and the contact piece 33a contacts the other contact piece 33b.
N

【0019】図5に示すように、ストロボ装置17の回
路は、電池34を有する電源回路43と充電開始用接点
26,27とが直列に接続されており、充電開始用接点
26,27がONすることにより電源回路43からの高
電圧出力がトリガ用コンデンサ44及びメインコンデン
サ37を充電する。トリガ用コンデンサ44には、トリ
ガ用トランス45が接続され、その一次巻線45aには
シンクロスイッチ33の接片33aが、二次巻線45b
には放電管31の放電を開始させるためのトリガ電極板
30がそれぞれ接続されている。なお、符号38は、充
電完了表示用のネオン管である。
As shown in FIG. 5, in the circuit of the strobe device 17, the power supply circuit 43 having the battery 34 and the charging start contacts 26 and 27 are connected in series, and the charging start contacts 26 and 27 are turned on. By doing so, the high voltage output from the power supply circuit 43 charges the trigger capacitor 44 and the main capacitor 37. A trigger transformer 45 is connected to the trigger capacitor 44, and a contact piece 33a of the synchro switch 33 is connected to a primary winding 45a of the trigger transformer 45 and a secondary winding 45b thereof.
A trigger electrode plate 30 for starting discharge of the discharge tube 31 is connected to each. Note that reference numeral 38 is a neon tube for displaying the completion of charging.

【0020】放電管31は、一端がメインコンデンサ3
7に、また他端がアースに接続され、メインコンデンサ
37に蓄えられた電荷によって放電する。プロテクター
28は前面が外ケース4から露呈されており、被写体に
向けて配光する。リフレクター29は、放電管31から
放電された光をプロテクター28に向けて反射させる。
One end of the discharge tube 31 is the main capacitor 3
7, and the other end is connected to ground, and is discharged by the electric charge stored in the main capacitor 37. The front surface of the protector 28 is exposed from the outer case 4, and the light is distributed toward the subject. The reflector 29 reflects the light discharged from the discharge tube 31 toward the protector 28.

【0021】[0021]

【実施例】工場では、現像所から回収したフイルムユニ
ット2を供給コンベヤに移載し、ここで、外ケース4を
取り外した後、フイルムユニット分解ライン46(図1
参照)に搬送される。分解ライン46は、インデックス
回転テーブルに移載されたフイルムユニット2を順次に
分解する。
[Example] In the factory, the film unit 2 collected from the developing station is transferred to the supply conveyor, where the outer case 4 is removed and then the film unit disassembly line 46 (see FIG.
(See reference). The disassembly line 46 sequentially disassembles the film units 2 transferred to the index rotary table.

【0022】インデックス回転テーブルには、所定間隔
ごとに複数の分解パレットが固定されており、この分解
パレットにフイルムユニット2が1個ずつ一定の姿勢で
保持される。保持されたフイルムユニット2は、各ステ
ーションで自動的に分解される。これにより、巻き上げ
ノブ9、前カバー15、レンズ5、短絡板40、ストロ
ボ装置17、露光ユニット16、電池34、及び後カバ
ー14が結合している本体部13とに分解される。
A plurality of disassembling pallets are fixed to the index rotary table at predetermined intervals, and the disassembling pallets each hold one film unit 2 in a fixed posture. The held film unit 2 is automatically disassembled at each station. As a result, the winding knob 9, the front cover 15, the lens 5, the short-circuit plate 40, the strobe device 17, the exposure unit 16, the battery 34, and the main body 13 to which the rear cover 14 is connected are disassembled.

【0023】巻き上げノブ9、前カバー15及び本体部
13は、同じプラスチック材料であるからそのままの状
態で樹脂再生工程に送られ、ペレット化される。これと
は異なったプラスチック材料であるレンズ5は、別の樹
脂再生工程に送られる。また、短絡板40は金属再生工
程に送られる。さらに、露光ユニット16は、機能検査
を行った後にレンズ付きフイルムユニットの組立ライン
47(図1参照)に送られる。なお、電池34は、専門
の電池回収業者に引き渡される。
Since the winding knob 9, the front cover 15 and the main body 13 are made of the same plastic material, they are sent to the resin recycling step as they are and pelletized. The lens 5 made of a different plastic material is sent to another resin recycling process. Further, the short-circuit plate 40 is sent to the metal recycling process. Further, the exposure unit 16 is sent to the assembly line 47 (see FIG. 1) of the lens-fitted film unit after performing the function inspection. The battery 34 is handed over to a specialized battery recovery company.

【0024】取り出されたストロボ装置17は、表示部
39から製造時期と再使用回数及びその時期とが自動的
に読み取られ、耐用年数を経過していないものが検査ラ
インに搬送される。この検査ラインは、図1に示すよう
に、無限循環方式の自動化ラインとなっており、ストロ
ボ装置17を各検査パレット50に一定の姿勢で保持さ
せた後、各検査パレット50を複数の検査工程に循環さ
せて、ストロボ装置17の形状、電気特性、外観、及び
動作等を検査し、この検査結果の情報に応じてストロボ
装置17を再使用できるものと再使用できないもの、ま
た修理が必要なものとに仕分ける。
The strobe device 17 that has been taken out automatically reads the manufacturing time, the number of reuses, and the time from the display unit 39, and those that have not reached their useful life are conveyed to the inspection line. As shown in FIG. 1, this inspection line is an endless circulation type automation line. After the strobe device 17 is held on each inspection pallet 50 in a fixed posture, each inspection pallet 50 is subjected to a plurality of inspection steps. The strobe device 17 is inspected for shape, electrical characteristics, appearance, operation, etc., and depending on the information of the inspection result, the strobe device 17 can be reused or not reused, and repair is required. Sort into things.

【0025】検査ラインは、ストロボ装置供給工程5
1、履歴データ転送工程52、エアークリーニング工程
53、プロテクタークリーニング工程54、外観検査工
程55、電気検査工程56、データ転送・履歴マーキン
グ工程57、良品払出し工程58、修理品払出し工程5
9、及び不合格品払出し工程60とから構成されてい
る。このうち電気検査工程56は、12の検査ステーシ
ョン61からなり、各検査ステーション61にはそれぞ
れ1台ずつの電気検査機61aが設けられている。この
電気検査機61aが6台づつ並列して設けられており、
6個の検査パレット50を同時に取り込んで、6個のス
トロボ装置17を同時に検査する。これらの電気検査工
程56の前後には、分岐装置62及び合流装置63が設
置されており、また分岐装置62の後、且つ合流装置6
3の前には複数の検査パレット50を待機させるための
ストック装置64が設置されている。
The inspection line is a strobe device supply step 5
1, history data transfer process 52, air cleaning process 53, protector cleaning process 54, appearance inspection process 55, electrical inspection process 56, data transfer / history marking process 57, non-defective product dispensing process 58, repaired product dispensing process 5
9 and a rejected product dispensing process 60. Of these, the electrical inspection process 56 comprises 12 inspection stations 61, and each inspection station 61 is provided with one electrical inspection machine 61a. Six electric inspection machines 61a are provided side by side in parallel,
The six inspection pallets 50 are simultaneously taken in and the six strobe devices 17 are inspected at the same time. A branching device 62 and a merging device 63 are installed before and after the electrical inspection process 56, and after the diverging device 62 and the merging device 6
A stock device 64 for waiting a plurality of inspection pallets 50 is installed in front of 3.

【0026】検査パレット50には、図6及び図7に示
すように、ストロボ装置17をこれのプロテクター28
が上方に、且つメインコンデンサー37が下方に向いた
姿勢で保持する2つの押さえ爪66,67が設けられて
いる。このとき、2つの位置決めピン48,49により
ストロボ装置17は、精度良く位置決めされた状態とな
っている。押さえ爪66,67は、軸68,69を中心
に回動自在となっており、バネ70,71によりストロ
ボ装置17を保持する方向に向けて付勢されている。供
給及び払出し工程51,58,59,60には、押さえ
爪66,67をバネ70,71の付勢に抗して回転させ
る押圧機構が設けられている。この押圧機構の作動によ
り検査パレット50とストロボ装置17との着脱が行わ
れる。
As shown in FIGS. 6 and 7, the strobe device 17 is provided on the inspection pallet 50 as a protector 28 thereof.
Is provided above, and two holding claws 66 and 67 for holding the main condenser 37 in a downwardly directed posture are provided. At this time, the strobe device 17 is accurately positioned by the two positioning pins 48 and 49. The pressing claws 66 and 67 are rotatable about shafts 68 and 69, and are biased by springs 70 and 71 in the direction in which the strobe device 17 is held. The supply and dispensing steps 51, 58, 59, 60 are provided with a pressing mechanism for rotating the pressing claws 66, 67 against the bias of the springs 70, 71. By the operation of this pressing mechanism, the inspection pallet 50 and the strobe device 17 are attached and detached.

【0027】この検査パレット50には、情報管理手段
として光通信機能を備えたID(Identification)ユニ
ット72が設けられている。このIDユニット72に
は、前面に配置された投光窓72a、受光窓72aを介
して、検査パレット50に位置決めされたストロボ装置
17の履歴データや検査データ等が記憶される。また、
IDユニット72からこれらのデータが管理用のコンピ
ュータ73に転送される。
The inspection pallet 50 is provided with an ID (Identification) unit 72 having an optical communication function as an information management means. The ID unit 72 stores history data, inspection data and the like of the strobe device 17 positioned on the inspection pallet 50 through the light projecting window 72a and the light receiving window 72a arranged on the front surface. Also,
These data are transferred from the ID unit 72 to the management computer 73.

【0028】図8に示すように、IDユニット72は、
前記投光窓72a、受光窓72aを介してコンピュータ
73等とデータの送受信を行う赤外線投受光部74、通
信I/F75、CPU76、メモリ77からなる。ま
た、各検査機と、コンピュータ73とには、IDユニッ
ト72とデータの送受信を行う赤外線投受光部81、通
信I/F82、CPU83、入出力I/F(RS232
C,デジタルI/O)84からなるIDユニット85が
接続されている。
As shown in FIG. 8, the ID unit 72 is
An infrared projecting / receiving section 74 for transmitting / receiving data to / from the computer 73 or the like through the projecting window 72a and the receiving window 72a, a communication I / F 75, a CPU 76, and a memory 77. Further, in each of the inspection devices and the computer 73, an infrared light emitting / receiving unit 81 for transmitting / receiving data to / from the ID unit 72, a communication I / F 82, a CPU 83, an input / output I / F (RS232).
An ID unit 85 composed of C, digital I / O) 84 is connected.

【0029】次に、検査ラインの各工程の作用を図9の
フローチャートを参照して説明する。ストロボ装置供給
工程51では、フイルムユニット分解ライン46から供
給されたストロボ装置17を各検査パレット50に保持
させるとともに、IDユニット72の全データをリセッ
トする。このリセットに際しては、そのままで判定され
たときには判定結果が必ず不合格となるデータ,例えば
“F”を記憶させる。これは、通信異常や作業ミスによ
って検査結果がIDユニット72に記憶されなかったと
きに、検査データ不明のものを間違って良品として集積
されることを防止するためのものである。また、搬送先
のデータ・検査条件のデータでも“F”を使用しないよ
うにすることによりデータ異常が検出できるので、例え
ば再度検査を実行させたり、途中排出させたりという処
理を行うことができる。
Next, the operation of each step of the inspection line will be described with reference to the flowchart of FIG. In the strobe device supplying step 51, the strobe device 17 supplied from the film unit disassembling line 46 is held in each inspection pallet 50, and all the data of the ID unit 72 is reset. At the time of this reset, the data, for example, "F", in which the judgment result is always unacceptable when judged as it is, is stored. This is to prevent the inspection data whose inspection data is unknown from being mistakenly accumulated as a non-defective product when the inspection result is not stored in the ID unit 72 due to a communication error or an operation error. Further, since the data abnormality can be detected by not using “F” even in the data of the destination and the data of the inspection condition, it is possible to perform the process such as performing the inspection again or discharging the data on the way.

【0030】履歴データ転送工程52では、まず表示部
39からマーキングされている生産年月日、生産工場、
製品タイプ、使用回数、リユース許可年月日が読み取ら
れ、これらのデータとともに、検査条件、集荷地区、分
解装置等の工程経路の実績等のデータが履歴データとし
てIDユニット72に転送される。この表示部39の読
み取りは、例えば履歴データ転送工程52に設けられた
専用のコンピュータに接続された読み取りセンサによっ
て行われ、IDユニット72への転送は、同コンピュー
タに接続されたIDユニット85によって行われる。
In the history data transfer step 52, first, the date of production marked on the display unit 39, the production plant,
The product type, the number of times of use, and the date of permission for reuse are read, and together with these data, data such as inspection conditions, collection areas, actual results of process routes such as disassembling devices, etc. are transferred to the ID unit 72 as history data. The reading of the display unit 39 is performed by, for example, a reading sensor connected to a dedicated computer provided in the history data transfer step 52, and the transfer to the ID unit 72 is performed by the ID unit 85 connected to the same computer. Be seen.

【0031】エアークリーニング工程53では、ストロ
ボ装置17に向けてエアーを吹き付け、ストロボ装置1
7に付着したゴミを吹き飛ばす。プロテクタークリーニ
ング工程54は、2工程から構成されており、図10
(A)に示すように洗浄液を上方からプロテクター28
に向けて噴射する洗浄液噴射装置91と、同図(B)に
示すように帯状のクリーニングテープ94が巻き付けら
れたクリーニングヘッド95とが各工程に配置されてい
る。洗浄液噴射装置91から洗浄液が噴射された後に検
査パレット50は、クリーニングヘッド95の下部まで
移動する。次にクリーニングヘッド95、及びクリーニ
ングテープ94とがプロテクター28の表面を押圧する
位置まで移動し、左右方向に数回往復運動してプロテク
ター28の表面をクリーニングする。
In the air cleaning step 53, air is blown toward the strobe device 17 to remove the strobe device 1.
Blow off the dust attached to 7. The protector cleaning step 54 is composed of two steps, as shown in FIG.
As shown in (A), the cleaning liquid is applied from above to the protector 28.
A cleaning liquid ejecting device 91 that ejects the cleaning liquid toward a sheet and a cleaning head 95 around which a belt-shaped cleaning tape 94 is wound as shown in FIG. After the cleaning liquid is sprayed from the cleaning liquid spraying device 91, the inspection pallet 50 moves to the lower part of the cleaning head 95. Next, the cleaning head 95 and the cleaning tape 94 move to a position where they press the surface of the protector 28, and reciprocate several times in the left-right direction to clean the surface of the protector 28.

【0032】外観検査工程55は6工程から構成されて
いる。各工程に設けられた検査機は、IDユニット72
から検査条件データを読み取り、これに従って検査方法
を自動選択する。例えば、同じストロボ装置であって
も、フイルムユニットの種類によってシンクロスイッチ
の接片長がわずかずつ異なっているのが普通であり、こ
れによって検査条件が異なってくる。第1工程では、再
組立の際に他の部品と緩衝して組み込めない等の不良を
無くすために、プリント基板に半田付けされた各電気部
品の姿勢を検査する。この検査は、例えば、電源回路4
3を構成するトランジスタ97が図7に点線で示したよ
うに倒れている場合には、透過型のフォトセンサ等の位
置センサを用いて、その倒れ角度を測定する。そして、
その測定データをIDユニット72に記憶させる。
The appearance inspection step 55 is composed of 6 steps. The inspection machine provided in each process is the ID unit 72
The inspection condition data is read from and the inspection method is automatically selected according to the data. For example, even in the same strobe device, the contact length of the synchro switch is usually slightly different depending on the type of film unit, which causes different inspection conditions. In the first step, the posture of each electrical component soldered to the printed circuit board is inspected in order to eliminate defects such as being unable to be assembled by buffering with other components during reassembly. This inspection is performed by, for example, the power supply circuit 4
In the case where the transistor 97 included in No. 3 is tilted as shown by the dotted line in FIG. 7, the tilt angle is measured using a position sensor such as a transmissive photo sensor. And
The measurement data is stored in the ID unit 72.

【0033】第2工程では、プロテクター28の表面の
傷、及び汚れ等の検査を行う。この検査機は、図11に
示すように、斜め上方からプロテクター28の表面に向
けてファイバー照明98を施し、反対側に設けたCCD
カメラ99で反射光を撮像し、反射光の角度のズレに基
づいて傷及び汚れの検査を行う。この傷及び汚れ全体の
面積を測定し、この面積データをIDユニット72に記
憶させる。
In the second step, the surface of the protector 28 is inspected for scratches and dirt. As shown in FIG. 11, this inspection machine illuminates the surface of the protector 28 from an obliquely upper position with fiber illumination 98, and a CCD provided on the opposite side.
The camera 99 images the reflected light and inspects for scratches and dirt based on the deviation of the angle of the reflected light. The area of the entire scratches and stains is measured, and the area data is stored in the ID unit 72.

【0034】第3工程では、リフレクター29の内面汚
れ検査を行う。この検査機は、図12に示すように、プ
ロテクター28の上方に配置したCCDカメラ100
と、このCCDカメラ100を挟んだ両側に配置したフ
ァイバー照明101,102とから構成されている。C
CDカメラ100は、プロテクター28を通してリフレ
クター29の内面にピントが合っており、リフレクター
29の内面に写ったファイバー照明光を撮像し、撮像し
た輝度に応じて汚れの検査を行う。この汚れの検査で
は、汚れを色によって大きく2種類に分け、白ブツ,黒
ブツの斑点として、この数を測定する。そして、この数
データをIDユニット72に記憶させる。
In the third step, the inner surface dirt of the reflector 29 is inspected. As shown in FIG. 12, this inspection machine has a CCD camera 100 arranged above a protector 28.
And fiber illuminators 101 and 102 arranged on both sides of the CCD camera 100. C
The CD camera 100 is in focus on the inner surface of the reflector 29 through the protector 28, images the fiber illumination light reflected on the inner surface of the reflector 29, and inspects dirt according to the imaged brightness. In this stain inspection, stains are roughly classified into two types according to color, and the number is measured as spots of white spots and black spots. Then, this number data is stored in the ID unit 72.

【0035】第4工程では、シンクロスイッチ33の曲
がり検査を行う。この検査は、図13に示すように、上
方から撮像するCCDカメラ103でシンクロスイッチ
33の先端部の画像を抽出し、この先端部の位置データ
と予め記憶してある正規の位置データとを比較して両者
の距離寸法を測定する寸法測定法で行う。シンクロスイ
ッチ33の曲がり検査は、フイルムユニット2の正面か
ら見て上下方向と横方向とを測定する。
In the fourth step, the bending of the synchro switch 33 is inspected. In this inspection, as shown in FIG. 13, an image of the tip of the synchro switch 33 is extracted by the CCD camera 103 that images from above, and the position data of this tip is compared with the regular position data stored in advance. Then, the dimension measurement method of measuring the distance dimension between the two is performed. In the bending inspection of the synchro switch 33, the vertical direction and the horizontal direction are measured when viewed from the front of the film unit 2.

【0036】第5工程では、メインコンデンサ37の曲
がり検査を行う。前方から撮像するCCDカメラ104
aでメインコンデンサ37の画像を抽出し、且つ、CC
Dカメラ104bでメインコンデンサ37の側面の画像
をミラー104cを介して抽出する。これらの画像デー
タをそれぞれ前述したと同じ寸法測定法等によって正規
の画像データと比較し、フイルムユニット2の正面から
見て横方向と後方向の距離寸法を測定する。
In the fifth step, the bending inspection of the main capacitor 37 is performed. CCD camera 104 for imaging from the front
The image of the main condenser 37 is extracted with a, and CC
The D camera 104b extracts an image of the side surface of the main condenser 37 via the mirror 104c. These image data are respectively compared with the regular image data by the same dimension measuring method as described above, and the distance dimension in the lateral direction and the rearward direction is measured when viewed from the front of the film unit 2.

【0037】第6工程では、正面から撮像するCCDカ
メラ105aと背面から撮像するCCDカメラ105b
とで電池用接片35,36を撮像し、前述したと同じ寸
法測定法にて電池用接片35,36の曲がりを検査す
る。この電池用接片35,36の曲がり検査では、フイ
ルムユニット2の正面から見て上下方向,後方向,横方
向の距離寸法を測定する。なお、検査パレット50に
は、CCDカメラで各部品を撮像し易くするために、撮
像対象部品のバックに白色の板106〜109(図6参
照)が取り付けられている。
In the sixth step, the CCD camera 105a for picking up images from the front and the CCD camera 105b for picking up images from the back.
The battery contact pieces 35 and 36 are imaged by and, and the bending of the battery contact pieces 35 and 36 is inspected by the same dimension measurement method as described above. In the bending inspection of the battery contact pieces 35, 36, the distance dimension in the vertical direction, the rearward direction, and the lateral direction when viewed from the front of the film unit 2 is measured. The inspection pallet 50 has white plates 106 to 109 (see FIG. 6) attached to the back of the component to be imaged in order to make it easy to image each component with a CCD camera.

【0038】外観検査を通過したストロボ装置17は、
分岐装置62を通ってストック装置64で検査パレット
50が6個たまった時点で電気検査機61aに6個の検
査パレット50を同時に送り込み、ここで、電気検査が
行われる。検査項目は、シンクロスイッチの接触抵抗の
測定、電池用接点のリーク電流の測定、充電時間の測
定、ネオン管の点滅確認、ストロボ発光量の測定等であ
る。このように測定作業が多い場合には検査時間が長く
なるが、この電気検査工程56は6個のストロボ装置を
同時に検査するから1個当たりの検査時間としては短く
なる。これにより、各検査工程に係る作業時間の均等化
を図ることができる。
The strobe device 17 that has passed the visual inspection is
When six inspection pallets 50 are accumulated by the stock device 64 through the branching device 62, the six inspection pallets 50 are simultaneously sent to the electric inspection machine 61a, where the electric inspection is performed. The inspection items include measurement of contact resistance of the synchro switch, measurement of leak current of battery contacts, measurement of charging time, confirmation of blinking of neon tube, measurement of strobe light emission amount, and the like. When the number of measurement operations is large as described above, the inspection time becomes long, but since the electrical inspection step 56 simultaneously inspects six strobe devices, the inspection time per unit becomes short. This makes it possible to equalize the working time for each inspection process.

【0039】電気検査機61aは、図14に示すよう
に、検査パレット50を遮光する遮光カバー110と、
この遮光カバー110の内部に設けられた7本のプロー
ブピン111と、遮光カバー110の開口110aを通
してストロボ光量を測定するストロボ光測定部112
と、プローブピン111を通して測定した抵抗、電圧、
電流、及び時間等の測定データやメインコンデンサ37
に充電を行った後にシンクロスイッチ33をONにして
ストロボ光を測定した測定データをIDユニット72に
記憶する制御部113とから構成される。
As shown in FIG. 14, the electric inspection machine 61a includes a light-shielding cover 110 which shields the inspection pallet 50 from light.
The seven probe pins 111 provided inside the light shielding cover 110 and the strobe light measuring unit 112 for measuring the strobe light amount through the opening 110a of the light shielding cover 110.
And the resistance and voltage measured through the probe pin 111,
Measurement data such as current and time, and main capacitor 37
After charging the battery, the synchro switch 33 is turned on to measure the strobe light, and the control unit 113 stores the measured data in the ID unit 72.

【0040】プローブピン111は、遮光カバー110
が上方から遮光位置に下降した際に、プリント基板25
の所定パターン上に接触する。ストロボ光測定部112
は、円筒内に拡散板116、NDフィルター117、及
びフォト・ダイオード118とが入射順に内蔵されてお
り、ソレノイド119でシンクロスイッチ33をONす
ることにより発光させ、その時にフォト・ダイオード1
18から得られる電圧に基づいてストロボ発光量を測定
する。
The probe pin 111 is a light-shielding cover 110.
The printed circuit board 25 when the
To contact on a predetermined pattern. Strobe light measuring unit 112
Includes a diffuser plate 116, an ND filter 117, and a photodiode 118 in the cylinder in the order of incidence. The solenoid 119 turns on the synchro switch 33 to emit light, and at that time, the photodiode 1
The amount of strobe light emission is measured based on the voltage obtained from 18.

【0041】各測定データは、検査機の内部で階級化処
理が施された後、各検査機に備えつけられたIDユニッ
ト85を介してIDユニット72に書き込まれる。この
階級化処理は、次の数式1によって行われる。
Each measurement data is subjected to a classifying process inside the inspection machine, and then written into the ID unit 72 via the ID unit 85 provided in each inspection machine. This classifying process is performed by the following mathematical formula 1.

【0042】[0042]

【数1】Ln =INT(An ×Xn +Bn ) Ln :階級値 An :ゲイン値 Xn :測定値の生データ Bn :バイアス値 INT:実数の整数化処理(少数部の切捨て・切上げ・
四捨五入等)
[Formula 1] L n = INT (A n × X n + B n ) L n : Class value A n : Gain value X n : Raw measurement data B n : Bias value INT: Real number integer processing (decimal part) Rounding down, rounding up
Rounding, etc.)

【0043】ゲイン値An は、主に面積データを扱う場
合に用いられ、通常は「1」より大きな値であるが、本
実施例のように寸法データのみを扱う場合には、主に
「1」とする。また、バイアス値Bn は主に寸法データ
を扱う場合に用いられ、本実施例では例えば20とす
る。例えば、測定値の生データが3.456mmのとき
には、INTを四捨五入とすると、階級値Ln は数式1
により次のようになる。 Ln =INT(1×3.456+20) =INT(23.456) =23
The gain value A n is mainly used when dealing with area data, and is usually a value larger than “1”, but when dealing with only dimension data as in this embodiment, it is mainly shown as “ n ”. 1 ”. Further, the bias value B n is mainly used when handling dimension data, and is set to, for example, 20 in this embodiment. For example, when the raw data of the measured values is 3.456 mm and INT is rounded, the class value L n is
Will be as follows. L n = INT (1 × 3.456 + 20) = INT (23.456) = 23

【0044】この階級化処理によって、転送する各デー
タが圧縮され、転送時間が短縮されるとともに、階級値
の同一なデータ数を累計することによって図15に示す
ような度数分布データ表や図16に示すようなグラフの
作成が容易に行える。そして、これらの表やグラフはオ
ンラインでリアルタイムに変更が可能である。なお、図
15の符号A〜Lは、例えば電気部品の姿勢、プロテク
ターの傷、プロテクターの汚れ、リフレクタの内面汚れ
(白ブツ)、リフレクタの内面汚れ(黒ブツ)、X接片
曲がり(上)、X接片曲がり(横)、メインコンデンサ
の曲がり(横)、メインコンデンサの曲がり(後)、電
池接片曲がり(上)、電池接片曲がり(後)、電池接片
曲がり(横)の各検査項目を示し、各セルに記載された
数値は、各階級の発生件数を示す。また、図16の符号
P,Q,R,Sは、それぞれ異なる製品名を示す。
By this classifying process, each data to be transferred is compressed, the transfer time is shortened, and the frequency distribution data table as shown in FIG. 15 and FIG. 16 are obtained by accumulating the number of data having the same class value. It is easy to create the graph shown in. And these tables and graphs can be changed online in real time. In addition, reference characters A to L in FIG. 15 indicate, for example, postures of electric parts, scratches on the protector, stains on the protector, stains on the inner surface of the reflector (white spots), stains on the inner surface of the reflector (black spots), and bent X contact piece (upper). , X contact bending (horizontal), main capacitor bending (horizontal), main capacitor bending (rear), battery contact bending (top), battery contact bending (rear), battery contact bending (horizontal) The inspection items are indicated, and the numerical value written in each cell indicates the number of occurrences in each class. The symbols P, Q, R and S in FIG. 16 indicate different product names.

【0045】電気検査工程56を通過したストロボ装置
17は、ストック装置64に送られ、合流装置63を通
ってデータ転送・履歴マーキング工程57に向けて搬送
される。このデータ転送・履歴マーキング工程57で
は、これまでの全データがIDユニット72,85を介
してコンピュータ73に転送される。コンピュータ73
は、個々のデータをそれぞれの閾値によって、例えば
「合格」,「要修理」,「不合格」,「要再検査」の4
段階に判定する。
The strobe device 17 that has passed through the electrical inspection process 56 is sent to the stock device 64, and is transported to the data transfer / history marking process 57 through the merging device 63. In this data transfer / history marking step 57, all the data so far are transferred to the computer 73 via the ID units 72 and 85. Computer 73
Shows the individual data according to their respective thresholds, such as "pass", "repair required", "fail", and "reinspection required".
Judge in stages.

【0046】例えば、図15に示すように、最上層のセ
ルに書き込まれた測定不能が「要再検査」,階級値
「1」から二重線βまでの領域が「合格」,二重線βか
ら二重線γまでの領域が「要修理」,二重線γ以下の領
域が「不合格」を示す。そして、「不合格」と「要再検
査」の合計をNGとして、最下層のセルにNGの発生率
を示してある。例えば、Aの検査項目(電気部品の姿
勢)では、「不合格」はゼロであり、NGは「要再検
査」を示す「37」であり、NGの発生率は2.59%
になる。
For example, as shown in FIG. 15, the unmeasurable state written in the uppermost cell is "re-inspection required", the area from the class value "1" to the double line β is "pass", the double line. The area from β to double line γ indicates “repair required”, and the area below double line γ indicates “fail”. Then, the total of “fail” and “re-examination required” is set as NG, and the NG occurrence rate is shown in the lowermost cell. For example, in the inspection item A (posture of electrical parts), “fail” is zero, NG is “37” indicating “re-inspection required”, and the incidence of NG is 2.59%.
become.

【0047】更に、コンピュータ73は、これら全ての
検査項目毎の判定に基づいて各ストロボ装置を総合判定
し、ストロボ装置17の各々を「良品」,「修理品」,
「不合格品」,「再検査品」の4種類に分類する。そし
て、この総合判定データを各検査パレット50のIDユ
ニット72に転送するとともに、「良品」と総合判定さ
れたストロボ装置17の表示部39には、マーキングを
施し、再使用回数の履歴を施す。なお、「良品」とは、
全検査項目の判定が「合格」のものである。「修理品」
とは、1項目でも「要修理」の判定を受けたものであ
る。「不合格品」とは、1項目でも「不合格」の判定を
受けたものである。「再検査品」とは、1項目でも「要
再検査」の判定を受けたものである。
Further, the computer 73 comprehensively judges each strobe device based on the judgment for each of these inspection items, and determines each strobe device 17 to be a "non-defective item", a "repair item",
It is classified into four types: "failed product" and "re-inspected product". Then, the comprehensive determination data is transferred to the ID unit 72 of each inspection pallet 50, and the display unit 39 of the strobe device 17 that is comprehensively determined to be “non-defective” is marked and a history of the number of reuses is provided. In addition, "good product" means
All the inspection items are judged as "passed". "Repair"
Means that even one item has been judged to be “repair required”. The “failed product” is a product that has been judged as “failed” even in one item. The “re-inspection product” is a product that has been judged as “re-inspection required” even in one item.

【0048】また、コンピュータ73は、各IDユニッ
ト72から転送された全データをデータベースに記録す
る。このデータベースは、前述した度数分布データ表や
グラフ(図15,図16)の作成の他に、オフラインで
別途統計処理することにより、製品1つ1つの品質デー
タとして利用することも、集計してロットデータとして
利用することもできる。
Further, the computer 73 records all the data transferred from each ID unit 72 in the database. In addition to creating the frequency distribution data table and graphs (FIGS. 15 and 16) described above, this database can also be used as quality data for each product by statistically processing offline, and can also be aggregated. It can also be used as lot data.

【0049】データ転送・履歴マーキング工程57を経
たストロボ装置17は、良品払出し工程58に搬送され
る。ここでは、検査パレット50のIDユニット72か
ら総合判定データを読み取ることにより、良品のストロ
ボ装置17のみを払い出す。払い出されたストロボ装置
17は、良品集積部121に所定量となるまで集積され
た後、フイルムユニット2の組立ライン47に供給され
る。
After the data transfer / history marking step 57, the strobe device 17 is conveyed to the non-defective item discharging step 58. Here, only the non-defective strobe device 17 is paid out by reading the comprehensive determination data from the ID unit 72 of the inspection pallet 50. The dispensed strobe devices 17 are accumulated in the non-defective product accumulating portion 121 until a predetermined amount is reached, and then supplied to the assembly line 47 of the film unit 2.

【0050】良品払出し工程58を経て残ったストロボ
装置17は、修理品払出し工程59に搬送される。ここ
で、修理品のストロボ装置17のみが払い出され、修理
品集積部122に搬送される。ここで、ストロボ装置1
7は検査パレット50からトレイに移される。このトレ
イの各々にもIDユニット72が設置されており、検査
パレット50のIDユニット72に記憶されていた全て
のデータが各トレイのIDユニット72に転送される。
また、これと同時に、コンピュータ73は、修理品集積
部122に設置されたIDユニット85を介して各ID
ユニット72から階級値データを読み出し、各検査項目
毎に同一階級値の累計を常時実施する。これによって、
リアルタイムで度数分布グラフに展開することもでき、
検査状況の確認がオンラインで可能になる。
The strobe device 17 remaining after the non-defective item delivering step 58 is conveyed to the repair item delivering step 59. Here, only the strobe device 17 for the repaired product is paid out and conveyed to the repaired product accumulating unit 122. Here, the strobe device 1
7 is transferred from the inspection pallet 50 to the tray. An ID unit 72 is also installed in each of the trays, and all the data stored in the ID unit 72 of the inspection pallet 50 is transferred to the ID unit 72 of each tray.
At the same time, the computer 73 uses the ID unit 85 installed in the repaired product accumulating unit 122 to identify each ID.
The class value data is read out from the unit 72, and the same class value is always accumulated for each inspection item. by this,
You can also expand it to a frequency distribution graph in real time,
The inspection status can be confirmed online.

【0051】修理品集積部122のトレイに集積された
ストロボ装置17は、IDユニット72のデータに従っ
て不具合のある部品毎に仕分けされ、自動詰め替え機に
よって再集積部123に再集積される。このときの仕分
け方法としては、例えば各検査項目毎の仕分けも可能で
あるが、この場合には例えば8000項目以上となって
実際的でない。そこで、同一部品毎に仕分けると、例え
ば5〜20項目となって適度な項目数となるとともに、
部品毎であるから修理の実施に際しても都合がよい。そ
して、再集積部123に再集積されストロボ装置17
は、修理工程124に送られる。修理工程124では、
不良部品の手直しを行う。手直しされたストロボ装置1
7は、ストロボ装置供給工程51に送られ、再検査され
た後、良品と判定された場合には、フイルムユニットの
組立ライン47に供給される。
The strobe devices 17 accumulated on the tray of the repaired product accumulating section 122 are sorted into defective parts according to the data of the ID unit 72, and re-collected on the re-collecting section 123 by the automatic refilling machine. As a sorting method at this time, for example, sorting for each inspection item is possible, but in this case, for example, 8,000 items or more are not practical. Therefore, if the same parts are sorted, the number of items becomes, for example, 5 to 20, and an appropriate number of items, and
It is convenient to carry out repairs because it is for each part. Then, the flash device 17 is re-integrated in the re-integration unit 123.
Are sent to the repair process 124. In the repair process 124,
Repair defective parts. Reworked strobe device 1
7 is sent to the strobe device supply step 51, is re-inspected, and is then supplied to the assembly line 47 of the film unit when it is determined as a non-defective product.

【0052】修理品払出し工程59を経て更に残ったス
トロボ装置17は、不合格品払出し工程60に搬送され
る。ここで、不合格品のストロボ装置17が払い出さ
れ、不合格品集積部125に所定量になるまで集積され
た後、廃棄される。また、不合格品払出し工程60を経
て更に残ったストロボ装置17は再検査品であるから、
払い出されることなくそのままストロボ装置供給工程5
1へ向けて循環される。
The strobe device 17 remaining after the repaired product dispensing process 59 is conveyed to the rejected product dispensing process 60. Here, the strobe device 17 of the rejected product is dispensed, accumulated in the rejected product accumulating unit 125 until a predetermined amount is reached, and then discarded. In addition, the strobe device 17 remaining after the rejected product dispensing step 60 is a re-inspected product,
Strobe device supply step 5 without being paid out
It is circulated toward 1.

【0053】なお、IDユニット72の代わりに、図1
7に示すような不良表示部130を設けてもよい。この
不良表示部130には、4つの突出片130a〜130
dが出入り自在に設けられている。これらの4つの突出
片130a〜130dの突出長さを電気的に読み取るこ
とにより、払出し工程58〜60での仕分けが自動的に
行えるとともに、不合格品の不良内容を4種類まで識別
できる。
In place of the ID unit 72, FIG.
You may provide the defect display part 130 as shown in FIG. The defect display portion 130 includes four protruding pieces 130a to 130.
d is provided so that it can enter and leave freely. By electrically reading the projecting lengths of these four projecting pieces 130a to 130d, the sorting in the dispensing steps 58 to 60 can be automatically performed, and the defective content of the rejected product can be identified up to four types.

【0054】以上説明した実施例では、検査するユニッ
ト部品としてストロボ装置の例を挙げたが、本発明では
これに限らず、例えば露光ユニット等でもよい。この場
合には、各検査機はIDユニットに記憶された検査条件
データを読み取って、例えば露光ユニットの種類に応じ
た検査方法を選択する。また、前記再集積の作業は、自
動詰め替え機によって行ったが、人手によって行っても
よい。また、不具合の発生頻度が少ない部品は、複数の
部品を同一のトレイに集積するのがよい。また、上記実
施例では、各トレイ毎にIDユニットを設置したが、例
えばトレイに識別番号を付け、各トレイの集積位置に対
応して不具合部品データとトレイの識別番号を印字した
紙を修理品のストロボ装置の各々に添付してもよい。ま
た、修理品のストロボ装置は、修理部門毎に1つのトレ
イに集積するようにしてもよい。
In the embodiment described above, the strobe device is used as an example of the unit component to be inspected. However, the present invention is not limited to this, and an exposure unit or the like may be used. In this case, each inspection machine reads the inspection condition data stored in the ID unit and selects the inspection method according to the type of the exposure unit, for example. Further, although the re-accumulation work is performed by the automatic refilling machine, it may be manually performed. In addition, it is preferable that a plurality of components having a low frequency of occurrence of defects be accumulated in the same tray. Further, in the above-mentioned embodiment, the ID unit is installed for each tray, but for example, the identification number is attached to the tray, and the defective part data and the identification number of the tray are printed corresponding to the stacking position of each tray. It may be attached to each of the flash devices. Further, the strobe devices for repaired articles may be accumulated in one tray for each repair department.

【0055】また、IDユニットに、例えばLEDや液
晶表示板等の表示手段を設け、目視によって総合判定等
のデータを確認できるようにしてもよい。また、修理の
方法は、検査ライン内で行っても、外部で行ってもよ
く、また治具等を用いて復元するものと、新しい部品と
交換するものとがある。また、IDユニットの通信機能
として、光通信を採用したが、この他に、マイクロ波通
信、磁気通信等を用いることができ、通信距離、コスト
等の点から使い分けることができる。
Further, the ID unit may be provided with a display means such as an LED or a liquid crystal display plate so that the data such as comprehensive judgment can be visually confirmed. Further, the repair method may be performed in the inspection line or externally, and there are a method of restoring using a jig and a method of replacing with a new part. Further, although optical communication is adopted as the communication function of the ID unit, in addition to this, microwave communication, magnetic communication, etc. can be used, and they can be selectively used in terms of communication distance, cost and the like.

【0056】[0056]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、ユニット部品を保持する各検査パレット毎に情報
管理手段を設置し、これに各検査データを記憶させる。
そして、この検査データを読み取って所定の閾値により
各検査項目毎に判定し、更にその判定データからユニッ
ト部品毎に総合判定する。そして、この総合判定データ
により各ユニット部品を複数のグループに仕分けるとと
もに、各判定データを情報管理手段に記憶させるように
した。したがって、ユニット部品の検査を効率良く行う
ことができる。また、全検査データを検査項目毎に管理
できるから、修理部分の特定を正確に行うことができ、
修理できるユニット部品を増やすことができるから、ユ
ニット部品全体の再使用の割合を増やすことができる。
また、全データを1ヶ所で集中的に管理することができ
るから、オンライン及びオフラインでのデータ利用が容
易に実現できる。また、判定用の閾値も1ヶ所で管理で
きるという効果もある。
As described in detail above, according to the present invention, the information management means is installed for each inspection pallet holding the unit parts, and each inspection data is stored in this.
Then, the inspection data is read and a determination is made for each inspection item by a predetermined threshold value, and further, comprehensive determination is made for each unit component from the determination data. Then, each unit part is sorted into a plurality of groups based on the comprehensive judgment data, and each judgment data is stored in the information management means. Therefore, it is possible to efficiently inspect the unit parts. Also, since all inspection data can be managed for each inspection item, the repaired portion can be accurately identified,
Since the number of unit parts that can be repaired can be increased, the rate of reuse of the entire unit parts can be increased.
In addition, since all data can be centrally managed at one place, online and offline data usage can be easily realized. There is also an effect that the threshold for judgment can be managed at one place.

【0057】また、使用済みのレンズ付きフイルムユニ
ットを分解してストロボ装置を取り外し、複数の検査ス
テーションを経由しながら循環移動する検査パレットに
ストロボ装置を一定の姿勢で保持させ、検査パレットを
循環させる過程で各検査ステーションにてストロボ装置
を構成する電気部品及び発光部の外観、姿勢、電気特性
を検査し、この検査結果に応じてストロボ装置を再利用
できるものとできないものとに仕分けるようにしたか
ら、検査作業の効率が向上する。さらに、検査項目が多
い電気特性検査は、ストロボ装置1個当たりにかかる作
業時間が長い。このため、複数の検査パレットを取り込
んで、複数のストロボ装置を同時に検査するようにした
から、各工程での検査時間の均等化が図れるとともに、
工程を分割したラインと比較してライン自体を小スペー
ス化することができる。
Further, the used lens-fitted film unit is disassembled, the strobe device is removed, and the strobe device is held in a fixed posture on the inspection pallet that cyclically moves while passing through a plurality of inspection stations, and the inspection pallet is circulated. In the process, the appearance, posture, and electrical characteristics of the electrical components and light-emitting parts that make up the strobe device are inspected at each inspection station, and the strobe device is sorted into those that can be reused and those that cannot be reused according to the inspection results. Therefore, the efficiency of inspection work is improved. Furthermore, the electrical characteristic inspection, which has many inspection items, requires a long working time per strobe device. For this reason, since a plurality of inspection pallets are taken in and a plurality of strobe devices are inspected at the same time, the inspection time in each process can be equalized, and
The line itself can be made smaller than the line obtained by dividing the process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】ストロボ装置の検査を行う工程図を示す説明図
である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing a process drawing for inspecting a strobe device.

【図2】レンズ付きフイルムユニットの外観を示す斜視
図である。
FIG. 2 is a perspective view showing the outer appearance of a lens-fitted film unit.

【図3】ユニット本体の分解斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view of a unit main body.

【図4】ストロボ装置の分解斜視図である。FIG. 4 is an exploded perspective view of a strobe device.

【図5】ストロボ装置の回路図である。FIG. 5 is a circuit diagram of a strobe device.

【図6】検査パレットを示す斜視図である。FIG. 6 is a perspective view showing an inspection pallet.

【図7】検査パレットにストロボ装置を固定した状態の
背面図である。
FIG. 7 is a rear view showing a state in which the strobe device is fixed to the inspection pallet.

【図8】IDユニットの構造を概略的に示す説明図であ
る。
FIG. 8 is an explanatory diagram schematically showing the structure of an ID unit.

【図9】検査ラインのシーケンスを示すフローチャート
である。
FIG. 9 is a flowchart showing a sequence of inspection lines.

【図10】プロテクタークリーニング装置の概略を示す
説明図であり、(A)は洗浄液噴出装置の概略を示し、
(B)はクリーニングテープの概略を示す。
FIG. 10 is an explanatory view showing an outline of a protector cleaning device, (A) showing an outline of a cleaning liquid jetting device,
(B) shows an outline of the cleaning tape.

【図11】プロテクターの傷及び汚れを検査する装置の
概略を示す斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view showing an outline of an apparatus for inspecting a protector for scratches and dirt.

【図12】リフレクターの汚れを検査する装置の概略を
示す斜視図である。
FIG. 12 is a perspective view showing an outline of an apparatus for inspecting the dirt of a reflector.

【図13】各電気部品の曲がりを検査する装置の概略を
示す斜視図である。
FIG. 13 is a perspective view showing an outline of an apparatus for inspecting bending of each electric component.

【図14】電気検査機の概略を示す説明図である。FIG. 14 is an explanatory diagram showing an outline of an electrical inspection machine.

【図15】検査項目毎に各階級値の発生数量を示す度数
分布データ表である。
FIG. 15 is a frequency distribution data table showing the generated quantity of each class value for each inspection item.

【図16】製品名毎に各階級値の発生数量を示すグラフ
である。
FIG. 16 is a graph showing the number of generated class values for each product name.

【図17】不良表示部を示す説明図である。FIG. 17 is an explanatory diagram showing a defect display section.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 レンズ付きフイルムユニット 3 ユニット本体 13 本体部 14 後カバー 15 前カバー 16 露光ユニット 17 ストロボ装置 50 検査パレット 51 ストロボ装置供給工程 52 履歴データ転送工程 55 外観検査工程 56 電気検査工程 57 データ転送・履歴マーキング 58 良品払出し工程 59 修理品払出し工程 60 不合格品払出し工程 61 検査ステーション 61a 電気検査機 62 分岐装置 63 合流装置 64 ストック装置 72,85 IDユニット 73 コンピュータ 121 良品集積部 122 修理品集積部 123 再集積部 125 不合格品集積部 130 不良表示部 2 Film unit with lens 3 unit body 13 Body 14 Rear cover 15 Front cover 16 Exposure unit 17 Strobe device 50 inspection pallets 51 Strobe device supply process 52 History data transfer process 55 Appearance inspection process 56 Electrical inspection process 57 Data transfer and history marking 58 Goods Dispensing Process 59 Repair product delivery process 60 Disqualified product payout process 61 Inspection station 61a Electric inspection machine 62 branching device 63 Confluence device 64 stock equipment 72,85 ID unit 73 Computer 121 Good product collection section 122 Repaired Goods Collection Department 123 Reintegration Department 125 rejected product collection department 130 defect display

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−249617(JP,A) 特開 昭63−141334(JP,A) 特開 平5−232635(JP,A) 特開 昭60−158340(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/84 - 21/958 PATOLIS─────────────────────────────────────────────────── --Continued from the front page (56) Reference JP-A-5-249617 (JP, A) JP-A-63-141334 (JP, A) JP-A-5-232635 (JP, A) JP-A-60- 158340 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01N 21/84-21/958 PATOLIS

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 レンズ付きフイルムユニットに取り外し
自在に組み込まれ、複数の部品で構成されたユニット部
品の検査方法において、 複数の検査ステーションを経由しながら循環移動する検
査パレットに記憶機能及び通信機能を有する情報管理手
段を設置するとともに、前記検査パレットにユニット部
品を一定の姿勢で保持させて循環させる過程で各検査ス
テーションにてユニット部品を構成する各部品を寸法、
外観傷や汚れ、姿勢、電気特性の検査項目毎に検査し、
これらの検査データを情報管理手段に記憶させ、全ての
検査が終了した後、各情報管理手段に記憶された検査デ
ータを一括して読み取り、これらの検査データを所定の
閾値により各検査項目毎に判定してからこの判定データ
により各ユニット部品毎に総合判定を行い、この総合判
定データ及び各検査項目毎の判定データを対応する各情
報管理手段に記憶させるとともに、前記総合判定データ
に基づいて各ユニット部品を複数のグループに仕分ける
ことを特徴とするユニット部品の検査方法。
1. A method of inspecting a unit part which is detachably incorporated in a lens-fitted photo film unit and is composed of a plurality of parts. In addition to installing the information management means having the same, dimensions of each component constituting the unit component at each inspection station in the process of holding and circulating the unit component in the inspection pallet in a fixed posture ,
Appearance scratches and dirt, attitude, inspection and for each inspection item of electrical characteristics,
These inspection data are stored in the information management means, and after all the inspections are completed, the inspection data stored in each information management means are collectively read, and these inspection data are read for each inspection item by a predetermined threshold value. After making a judgment, a comprehensive judgment is made for each unit part based on this judgment data, and this comprehensive judgment data and the judgment data for each inspection item are stored in corresponding information management means, and based on the comprehensive judgment data, A method for inspecting unit parts, characterized by sorting the unit parts into a plurality of groups.
【請求項2】 前記ユニット部品には、リサイクルに関
する履歴データがその製造時点で記録された表示部が設
けられており、前記情報管理手段には、前記表示部から
履歴データを読み取って記憶させておき、各検査ステー
ションでは、各検査の開始時に各情報管理手段から履歴
データを読み取り、これに基づいて実施すべき検査項目
を自動選択して検査を開始することを特徴とする請求項
1記載のユニット部品の検査方法。
2. The unit parts are related to recycling.
The display unit that records the historical data
The history data is read from the display unit and stored in the information management unit, and each inspection station reads the history data from each information management unit at the start of each inspection. 2. The unit component inspection method according to claim 1, further comprising automatically selecting an inspection item to be performed based on this and starting the inspection.
【請求項3】 前記情報管理手段の各々が保持している
検査データ,判定データ等の全データは、前記判定制御
手段により読み取られ、データベース化されて分析に
用されることを特徴とする請求項1記載のユニット部品
の検査方法。
Wherein the information managing means each holds that inspection data of all data, such as decision data is read by the determination control means is for utilization <br/> the analysis are database The method for inspecting a unit component according to claim 1, wherein
【請求項4】 レンズ付きフイルムユニットに取り外し
自在に組み込まれ、回路基板及びこれに取り付けられた
電気部品及び発光部からなるストロボ装置の検査方法に
おいて、 使用済みのレンズ付きフイルムユニットを分解して前記
ストロボ装置を取り外し、複数の検査ステーションを経
由しながら循環移動する検査パレットに前記ストロボ装
置を一定の姿勢で保持させ、検査パレットを循環させる
過程で各検査ステーションにてストロボ装置を構成する
電気部品及び発光部の外観、姿勢、電気特性を検査し、
この検査結果に応じてストロボ装置を再利用できるもの
とできないものとに仕分けることを特徴とするストロボ
装置の検査方法。
4. A method for inspecting a strobe device which is removably incorporated in a lens-fitted film unit and is composed of a circuit board, electric parts and a light-emitting part attached to the circuit board. The strobe device is removed, the strobe device is held in a fixed posture on the inspection pallet that circulates and moves while passing through a plurality of inspection stations, and the electrical components that compose the strobe device at each inspection station in the process of circulating the inspection pallet and Inspect the appearance, posture, and electrical characteristics of the light emitting part,
A method for inspecting a strobe device, wherein the strobe device is sorted into a reusable one and a non-reusable one according to the inspection result.
【請求項5】 前記検査パレットの循環路の一部を複数
に分岐させ、各々の分岐路ごとに複数の電気特性の検査
ステーションを設けておき、これらの検査ステーション
の各々にストロボ装置を保持した検査パレットを送り込
み、電気特性の検査は複数のストロボ装置について同時
に行うようにしたことを特徴とする請求項4記載のスト
ロボ装置の検査方法。
5. A part of a circulation path of the inspection pallet is branched into a plurality of parts, and a plurality of inspection stations for electric characteristics are provided for each branch path, and a strobe device is held in each of these inspection stations. 5. The method for inspecting a strobe device according to claim 4, wherein an inspection pallet is sent and the inspection of electric characteristics is performed simultaneously for a plurality of strobe devices.
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