JP3442494B2 - X-ray CT system - Google Patents

X-ray CT system

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JP3442494B2
JP3442494B2 JP20948394A JP20948394A JP3442494B2 JP 3442494 B2 JP3442494 B2 JP 3442494B2 JP 20948394 A JP20948394 A JP 20948394A JP 20948394 A JP20948394 A JP 20948394A JP 3442494 B2 JP3442494 B2 JP 3442494B2
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detection
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正健 貫井
誠 郷野
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ジーイー横河メディカルシステム株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、X線散乱成分の補正
方法およびX線CT(Computed Tomograpy)装置に関す
る。さらに詳しくは、補正精度を向上でき,手間がかか
らないX線散乱成分の補正方法およびそのX線散乱成分
の補正方法を好適に実施できるX線CT装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray scattering component correcting method and an X-ray CT (Computed Tomograpy) apparatus. More specifically, the present invention relates to an X-ray CT component correction method that can improve the correction accuracy and can be suitably implemented with a labor-saving method of correcting an X-ray scattering component.

【0002】[0002]

【従来の技術】図13は、X線CT装置で被検体をスキ
ャン(scan;走査)する状況の説明図である。X線管T
から放射されたX線は、コリメータ(collimator)Kに
よって扇形で厚さwのX線ビーム(Beam)Xrに絞ら
れ、被検体Hを透過し、透過成分Xpとなり、検出器
D’の厚さ方向(=X線ビームXrの厚さ方向)の中央
部の幅wの領域に入射する。ところが、被検体Hを透過
する際、被検体HによりX線ビームXrが散乱される。
このため、検出器D’の全面に散乱成分Xsが入射す
る。
2. Description of the Related Art FIG. 13 is an explanatory diagram of a situation in which an object is scanned by an X-ray CT apparatus. X-ray tube T
The X-rays emitted from the collimator K are focused into a fan-shaped X-ray beam (Beam) Xr having a thickness w, pass through the subject H, become a transmission component Xp, and become the thickness of the detector D ′. Direction (= thickness direction of the X-ray beam Xr) is incident on a region having a width w in the central portion. However, when passing through the subject H, the subject H scatters the X-ray beam Xr.
Therefore, the scattered component Xs is incident on the entire surface of the detector D ′.

【0003】図14は、検出器D’の模式的斜視図であ
る。検出器D’は、幅方向(図のB方向)に多数のチャ
ネルCiを配列したものである。チャネル数は例えば8
00である。一つのチャネルの幅tは例えば0.5mm
であり、厚さdは例えば25mmである。検出器D’の
厚さ方向の中央部Pには、透過成分Xpおよび散乱成分
Xsが入射する。また、検出器D’の厚さ方向の端部近
傍S1,S2には、散乱成分Xsが入射する。
FIG. 14 is a schematic perspective view of the detector D '. The detector D ′ has a large number of channels Ci arranged in the width direction (B direction in the drawing). Number of channels is 8
00. The width t of one channel is, for example, 0.5 mm
And the thickness d is, for example, 25 mm. The transmission component Xp and the scattering component Xs are incident on the central portion P of the detector D ′ in the thickness direction. Further, the scattered component Xs is incident on the vicinity S1 and S2 of the end portion in the thickness direction of the detector D ′.

【0004】上記のように、検出器D’の各チャネルの
カウント値(検出データ)は、透過成分Xpおよび散乱
成分Xsの和になっているから、画像の再構成を正しく
行うためには、散乱成分Xsを除去する補正が必要とな
る。
As described above, since the count value (detection data) of each channel of the detector D'is the sum of the transmission component Xp and the scattering component Xs, in order to correctly reconstruct an image, Correction for removing the scattered component Xs is required.

【0005】次に、X線散乱成分の補正方法の従来の一
例を説明する。被検体Hをスキャンする前に、投影像の
面積と散乱成分量の関係式Qを求めておく。これは、図
15に示すように、直径の異なる種々の大きさのファン
トムFについて、検出器D’を厚さ方向に変位させて散
乱成分Xsだけを入射させ、カウント値を取得する。こ
のときの各カウント値は、種々の大きさのファントムF
の各散乱成分量である。次に、図16に示すように、各
ファントムFの投影像の面積Aを計算する。次に、図1
7に示すように、各ファントムFの投影像の面積Aと前
記測定した散乱成分量の関係式Qを求める。なお、図1
7中で、wtr15〜wtr30は直径15cm〜30cmのフ
ァントムFを示し、Airは、ファントムなしを示す。被
検体Hをスキャンする際は、各ビューでの被検体Hの投
影像の面積を求め、被検体Hの投影像の面積から前記関
係式Qを用いてX線散乱成分を求め、各チャネルのカウ
ント値を補正する。
Next, an example of a conventional method of correcting the X-ray scattering component will be described. Before scanning the subject H, the relational expression Q between the area of the projected image and the amount of scattered components is obtained. As shown in FIG. 15, with respect to phantoms F having different diameters and different sizes, the detector D ′ is displaced in the thickness direction and only the scattered component Xs is made incident to obtain the count value. Each count value at this time is phantom F of various sizes.
Is the amount of each scattering component. Next, as shown in FIG. 16, the area A of the projected image of each phantom F is calculated. Next, FIG.
As shown in FIG. 7, the relational expression Q between the area A of the projected image of each phantom F and the measured scattered component amount is obtained. Note that FIG.
7, wtr15 to wtr30 represent phantoms F having a diameter of 15 cm to 30 cm, and Air represents no phantom. When scanning the subject H, the area of the projected image of the subject H in each view is obtained, the X-ray scattering component is obtained from the area of the projected image of the subject H using the relational expression Q, and the Correct the count value.

【0006】図17に、従来の散乱成分補正処理のフロ
ーチャートを示す。ステップB1では、被検体Hをスキ
ャンし、検出器D’の各チャネルCiでのカウント値α
を取得する。ステップB2では、カウント値αから被検
体Hの投影像の面積Ahを計算する。ステップB3で
は、前記投影像面積Ahと前記関係式Qとに基づいて被
検体Hの散乱成分量βhを求める(図17参照)。
FIG. 17 shows a flowchart of a conventional scattered component correction process. In step B1, the subject H is scanned, and the count value α in each channel Ci of the detector D ′ is
To get. In step B2, the area Ah of the projected image of the subject H is calculated from the count value α. In step B3, the scattered component amount βh of the subject H is obtained based on the projected image area Ah and the relational expression Q (see FIG. 17).

【0007】ステップB4では、前記カウント値αから
前記散乱成分量βhを減算し、その減算結果を透過X線
データγとする。
At step B4, the scattered component amount βh is subtracted from the count value α, and the subtraction result is used as transmission X-ray data γ.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】上記従来のX線散乱成
分の補正方法では、ファントムFでの散乱特性と被検体
Hの散乱特性とを同一と仮定しているが、実際には両者
は同一ではない。また、検出器Tの特性の経時変化によ
り関係式Qが適正でなくなる場合もある。このため、補
正精度が十分でない問題点がある。また、関係式Qを求
めるために、種々の大きさのファントムFを測定する必
要があり、操作に手間がかかる問題点がある。そこで、
この発明の目的は、補正精度を向上でき,手間がかから
ないX線散乱成分の補正方法およびそのX線散乱成分の
補正方法を好適に実施できるX線CT装置を提供するこ
とにある。
In the above-described conventional method for correcting the X-ray scattering component, it is assumed that the scattering characteristic of the phantom F and the scattering characteristic of the subject H are the same, but in reality they are the same. is not. In some cases, the relational expression Q may not be appropriate due to changes in the characteristics of the detector T with time. Therefore, there is a problem that the correction accuracy is not sufficient. Further, in order to obtain the relational expression Q, it is necessary to measure the phantoms F having various sizes, which causes a problem that the operation is troublesome. Therefore,
An object of the present invention is to provide an X-ray CT apparatus which can improve the correction accuracy and can suitably perform the method of correcting the X-ray scattering component and the correction method of the X-ray scattering component, which does not require any trouble.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】第1の観点では、この発
明は、X線CT装置の検出器の幅方向に配列した多数の
チャネルのうちの複数チャネルをX線散乱成分について
チャネル間またはチャネルグループ間で異なる検出面積
を有するモニタチャネルとしておき、被検体のスキャン
により前記検出器の各チャネルの検出値を取得し、前記
モニタチャネルで取得した検出値に基づいて1チャネル
当りの散乱成分量を計算し、その散乱成分量を前記各チ
ャネルの検出値から減算して各チャネルの透過X線デー
タとすることを特徴とするX線散乱成分の補正方法を提
供する。上記構成において「チャネル間またはチャネル
グループ間で異なる検出面積を有する」とは、チャネル
ごとに異なる検出面積としてもよいし、2以上のチャネ
ル毎を1チャネルグループとして各チャネルグループご
とに異なる検出面積としてもよいことを意味する。
According to a first aspect of the present invention, a plurality of channels among a large number of channels arranged in a width direction of a detector of an X-ray CT apparatus are arranged between channels or between channels for X-ray scattering components. The monitor channels having different detection areas between the groups are set, the detection values of the respective channels of the detector are acquired by scanning the object, and the amount of scattered components per channel is calculated based on the detection values acquired by the monitor channels. A method for correcting an X-ray scattered component, which is calculated and subtracted from the detected value of each channel to obtain transmission X-ray data of each channel. In the above configuration, “having different detection areas between channels or channel groups” may mean different detection areas for each channel, or two or more channels as one channel group and different detection areas for each channel group. Means good.

【0010】第2の観点では、この発明は、幅方向に多
数のチャネルを配列した検出器を有するX線CT装置に
おいて、前記多数のチャネルのうちの複数チャネルがX
線散乱成分について各チャネルまたはチャネルグループ
間で異なる検出面積を有するモニタチャネルとされた検
出器と、被検体のスキャンにより前記モニタチャネルで
取得した検出値に基づいて1チャネル当りの散乱成分量
を計算する散乱成分量計算手段と、被検体のスキャンに
より前記検出器の各チャネルで取得した検出値から前記
散乱成分量を減算して各チャネルの透過X線データを取
得する散乱成分量補正手段とを具備したことを特徴とす
るX線CT装置を提供する。
According to a second aspect of the present invention, in the X-ray CT apparatus having a detector in which a large number of channels are arranged in the width direction, a plurality of the plurality of channels are X-rays.
Calculate the amount of scattered components per channel based on the detectors that are the monitor channels having different detection areas for each channel or channel group for the line scattered components and the detection values acquired by the monitor channels by the scan of the subject. And a scattering component amount correcting unit that subtracts the amount of the scattering component from the detection value acquired in each channel of the detector by scanning the subject and acquires the transmission X-ray data of each channel. There is provided an X-ray CT apparatus characterized by being provided.

【0011】第3の観点では、この発明は、幅方向に多
数のチャネルを配列した検出器を有するX線CT装置に
おいて、前記多数のチャネルのうちの複数チャネルが少
なくとも検出器の厚さ方向端部近傍に検出面を有し且つ
各チャネルまたはチャネルグループ間で異なる検出面積
を有するモニタチャネルとされた検出器と、被検体のス
キャンにより前記モニタチャネルで取得した検出値に基
づいて1チャネル当りの散乱成分量を計算する散乱成分
量計算手段と、被検体のスキャンにより前記検出器の各
チャネルで取得した検出値から前記散乱成分量を減算し
て各チャネルの透過X線データを取得する散乱成分量補
正手段とを具備したことを特徴とするX線CT装置を提
供する。
According to a third aspect of the present invention, in the X-ray CT apparatus having a detector in which a large number of channels are arranged in the width direction, a plurality of the plurality of channels are at least the ends in the thickness direction of the detector. A detector having a detection surface in the vicinity of the part and having a detection area different for each channel or channel group, and for each channel based on the detection value acquired by the monitor channel by scanning the subject. Scattering component amount calculation means for calculating the amount of scattering component, and a scattering component for obtaining transmission X-ray data of each channel by subtracting the amount of the scattering component from the detection value acquired in each channel of the detector by scanning the subject. Provided is an X-ray CT apparatus characterized by comprising an amount correction means.

【0012】第4の観点では、この発明は、上記構成の
X線CT装置において、前記複数チャネルの検出面の前
記厚さ方向端部近傍を鉛ブロックで遮蔽し且つその遮蔽
面積を各チャネルまたはチャネルグループ間で変えるこ
とにより前記モニタチャネルが構成されてなることを特
徴とするX線CT装置を提供する。
According to a fourth aspect of the present invention, in the X-ray CT apparatus having the above-mentioned structure, the vicinity of the end portions in the thickness direction of the detection surfaces of the plurality of channels is shielded by a lead block and the shielded area is set for each channel or. There is provided an X-ray CT apparatus characterized in that the monitor channel is configured by changing between channel groups.

【0013】第5の観点では、この発明は、上記構成の
X線CT装置において、前記検出器の幅方向に配列した
多数のチャネルのうちの幅方向端部近傍の複数チャネル
が前記モニタチャネルとされてなることを特徴とするX
線CT装置を提供する。
According to a fifth aspect of the present invention, in the X-ray CT apparatus having the above-mentioned structure, a plurality of channels near a width direction end of a large number of channels arranged in the width direction of the detector are the monitor channels. X characterized by being
A line CT apparatus is provided.

【0014】[0014]

【作用】上記第1の観点によるX線散乱成分の補正方法
および上記第2の観点によるX線CT装置では、検出器
の複数チャネルをX線散乱成分について各チャネルまた
はチャネルグループ間で異なる検出面積を有するモニタ
チャネルとしておく。そして、被検体をスキャンして前
記検出器の各チャネルの検出値を取得した後、前記モニ
タチャネルで取得した検出値に基づいて1チャネル当り
の散乱成分量を計算する。前記モニタチャネルの各チャ
ネルまたはチャネルグループ間はX線散乱成分について
異なる検出面積を有する。従って、前記モニタチャネル
の検出値から検出面積の大きさと散乱成分量の関係式が
求まる。モニタチャネルでないチャネルの検出面積は一
定であるから、その検出面積と前記関係式から1チャネ
ル当りの散乱成分量を計算できる。そして、その計算し
た散乱成分量をモニタチャネルでないチャネルの検出値
から減算して、各チャネルの透過X線データとする。モ
ニタチャネルでないチャネルの検出値は透過成分と散乱
成分の和である。また、1チャネル当りの散乱成分量は
一定と見なせる(チャネルによって散乱成分量が大きく
変化しないことが経験的に判っている)。そこで、モニ
タチャネルでないチャネルの検出値から1チャネル当り
の散乱成分量を減算すれば、透過成分のみの検出値すな
わち透過X線データが得られる。以上によれば、ファン
トムでなく,被検体そのものをスキャンした検出値から
散乱成分量を計算するため、散乱特性の不一致の問題が
ない。また、スキャン時に関係式を求めるから、検出器
の特性の経時変化により関係式が適正でなくなる問題が
ない。従って、補正精度を十分に向上できる。また、種
々の大きさのファントムを測定する必要がなく、操作に
手間がかからない。なお、上記構成のX線散乱成分の補
正方法において、前記関係式を1次式とすれば、計算の
処理が簡単になる。
In the X-ray scattering component correction method according to the first aspect and the X-ray CT apparatus according to the second aspect, the detection areas of a plurality of detector channels are different for each channel or channel group for the X-ray scattering component. As a monitor channel. Then, the subject is scanned to acquire the detection value of each channel of the detector, and then the amount of scattered component per channel is calculated based on the detection value acquired by the monitor channel. Each monitor channel or channel group has a different detection area for the X-ray scattered component. Therefore, the relational expression between the size of the detection area and the amount of scattered components can be obtained from the detection value of the monitor channel. Since the detection area of the channel which is not the monitor channel is constant, the amount of scattered component per channel can be calculated from the detection area and the relational expression. Then, the calculated scattered component amount is subtracted from the detection value of the channel other than the monitor channel to obtain the transmission X-ray data of each channel. The detected value of the channel that is not the monitor channel is the sum of the transmitted component and the scattered component. Further, the amount of scattered component per channel can be regarded as constant (experimentally known that the amount of scattered component does not change significantly depending on the channel). Therefore, by subtracting the amount of scattered component per channel from the detection value of the channel other than the monitor channel, the detection value of only the transmission component, that is, the transmission X-ray data is obtained. According to the above, the scattering component amount is calculated from the detection value obtained by scanning the subject itself instead of the phantom, so that there is no problem of scattering characteristic mismatch. Further, since the relational expression is obtained at the time of scanning, there is no problem that the relational expression becomes improper due to changes in the characteristics of the detector over time. Therefore, the correction accuracy can be sufficiently improved. Further, it is not necessary to measure phantoms of various sizes, and the operation is easy. In the method of correcting the X-ray scattering component having the above configuration, if the relational expression is a linear expression, the calculation process becomes simple.

【0015】上記第3の観点によるX線CT装置では、
検出器の複数チャネルを、少なくとも厚さ方向端部近傍
に検出面を有し且つ各チャネルまたはチャネルグループ
間で異なる検出面積を有するモニタチャネルとしてお
く。その外は、上記第2の観点によるX線CT装置と同
じ構成とする。前記モニタチャネルの各チャネルは厚さ
方向端部近傍に検出面を有するため、それらの検出値は
散乱成分だけである。また、前記モニタチャネルの各チ
ャネルまたはチャネルグループ間は異なる検出面積を有
する。従って、前記モニタチャネルの検出値から検出面
積の大きさと散乱成分量の関係式が求まる。モニタチャ
ネルでないチャネルの検出面積は一定であるから、その
検出面積と前記関係式から1チャネル当りの散乱成分量
を計算できる。その外の作用は、上記第2の観点による
X線CT装置と同じである。なお、例えば検出器の厚さ
が大きいならば、厚さ方向端部近傍でなくても散乱成分
だけの検出値を得ることが可能である。
In the X-ray CT apparatus according to the third aspect,
The plurality of channels of the detector are set as monitor channels each having a detection surface at least in the vicinity of the end in the thickness direction and having different detection areas between each channel or channel group. Other than that, the configuration is the same as that of the X-ray CT apparatus according to the second aspect. Since each of the monitor channels has a detection surface in the vicinity of the end in the thickness direction, their detection values are only scattered components. In addition, each channel or channel group of the monitor channels has a different detection area. Therefore, the relational expression between the size of the detection area and the amount of scattered components can be obtained from the detection value of the monitor channel. Since the detection area of the channel which is not the monitor channel is constant, the amount of scattered component per channel can be calculated from the detection area and the relational expression. The other functions are the same as those of the X-ray CT apparatus according to the second aspect. Note that, for example, if the detector has a large thickness, it is possible to obtain the detection value of only the scattering component even if it is not near the end in the thickness direction.

【0016】上記第4の観点によるX線CT装置では、
複数チャネルの検出面の厚さ方向端部近傍を鉛ブロック
で遮蔽し、その遮蔽面積をチャネル間またはチャネルグ
ループ間で変えることにより、モニタチャネルを構成す
る。これにより、通常の検出器の一部をモニタチャネル
に利用でき、構成が簡単になる。
In the X-ray CT apparatus according to the fourth aspect,
A monitor channel is configured by shielding the vicinity of the ends in the thickness direction of the detection surface of a plurality of channels with a lead block and changing the shielding area between channels or between channel groups. This allows a portion of the normal detector to be used for the monitor channel, simplifying the configuration.

【0017】上記第5の観点によるX線CT装置では、
検出器の多数のチャネルのうちの幅方向端部近傍の複数
チャネルを前記モニタチャネルとする。このようにモニ
タチャネルを幅方向端部近傍に配置することにより、幅
方向中央部近傍のチャネルで透過X線データを取得でき
るようになり、処理が簡単になる。
In the X-ray CT apparatus according to the fifth aspect,
Among the many channels of the detector, a plurality of channels near the end in the width direction are set as the monitor channels. By arranging the monitor channels in the vicinity of the ends in the width direction in this way, the transmission X-ray data can be acquired in the channels near the center of the width direction, which simplifies the processing.

【0018】[0018]

【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に詳しく説明する。なお、これによりこの発明が限定さ
れるものではない。 −第1実施例− 図1は、この発明のX線CT装置の第1実施例のブロッ
ク図である。このX線CT装置100は、操作コンソー
ル1と、撮影テーブル8と、走査ガントリ9とを具備し
ている。前記操作コンソール1は、操作者の指示や情報
などを受け付ける入力装置2と、スキャン処理や画像再
構成処理などを実行する中央処理装置3と、制御信号な
どを撮影テーブル8や走査ガントリ9へ出力する制御イ
ンタフェース4と、走査ガントリ9で取得したデータを
収集するデータ収集バッファ5と、断層像やスカウト画
像などを表示するCRT6とを具備している。前記撮影
テーブル8は、被検体を乗せて体軸方向に移動させる。
前記走査ガントリ9は、X線コントローラ10と、X線
管Tと、コリメータKと、検出器Dと、データ収集部1
4と、被検体の体軸の回りにX線管Tなどを回転させる
回転コントローラ15とを具備している。なお、前記中
央処理装置3が、この発明にかかる散乱成分量計算手段
と散乱成分補正手段として機能する。
The present invention will be described in more detail with reference to the embodiments shown in the drawings. The present invention is not limited to this. —First Embodiment— FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of an X-ray CT apparatus according to the present invention. The X-ray CT apparatus 100 includes an operation console 1, an imaging table 8 and a scanning gantry 9. The operation console 1 outputs an input device 2 that receives an operator's instructions and information, a central processing unit 3 that executes a scanning process and an image reconstruction process, and a control signal to a scanning table 8 and a scanning gantry 9. Control interface 4, a data acquisition buffer 5 that collects data acquired by the scanning gantry 9, and a CRT 6 that displays a tomographic image, a scout image, and the like. On the imaging table 8, the subject is placed and moved in the body axis direction.
The scanning gantry 9 includes an X-ray controller 10, an X-ray tube T, a collimator K, a detector D, and a data acquisition unit 1.
4 and a rotation controller 15 for rotating the X-ray tube T and the like around the body axis of the subject. The central processing unit 3 functions as a scattered component amount calculation means and a scattered component correction means according to the present invention.

【0019】図2は、上記X線CT装置100で被検体
をスキャンする状況の説明図である。X線管Tから放射
されたX線は、コリメータKによって扇形で厚さwのX
線ビームXrに絞られ、被検体Hを透過し、透過成分X
pとなり、検出器Dの厚さ方向の中央部の幅wの領域に
入射する。また、前記X線ビームXrは、被検体Hによ
り散乱され、散乱成分Xsとなり、検出器Dの全面に入
射する。前記検出器Dの幅方向端部近傍Zrには、前記
散乱成分Xsを部分的に遮蔽する鉛ブロックL1,L2
が取り付けられている。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a situation in which the X-ray CT apparatus 100 scans a subject. The X-ray emitted from the X-ray tube T is fan-shaped by the collimator K and has a thickness w.
The beam is focused on the line beam Xr, passes through the subject H, and the transmitted component X
It becomes p and is incident on the region of the width w of the central portion of the detector D in the thickness direction. Further, the X-ray beam Xr is scattered by the subject H, becomes a scattered component Xs, and enters the entire surface of the detector D. Lead blocks L1 and L2 that partially shield the scattered component Xs are provided in the vicinity of the widthwise end portion Zr of the detector D.
Is attached.

【0020】図3は、検出器Dの模式的斜視図である。
検出器Dは、幅方向に多数のチャネルCiを配列したも
のである。チャネル数は例えば800である。一つのチ
ャネルの幅tは例えば0.5mmであり、厚さdは例え
ば25mmである。検出器Dの厚さ方向の中央部Pに
は、透過成分Xpおよび散乱成分Xsが入射する。ま
た、検出器Dの厚さ方向の端部近傍S1,S2には、散
乱成分Xsが入射する。鉛ブロックL1,L2は、複数
のチャネルの検出面の厚さ方向端部近傍S1,S2を部
分的に遮蔽するものであり、幅の異なる複数の鉛板を組
み合わせることにより遮蔽面積をチャネル間(またはチ
ャネルグループ間)で変えている。前記鉛板の厚さτは
例えば0.2mmであり、高さyは例えば10mmであ
る。
FIG. 3 is a schematic perspective view of the detector D.
The detector D has a large number of channels Ci arranged in the width direction. The number of channels is 800, for example. The width t of one channel is, for example, 0.5 mm, and the thickness d is, for example, 25 mm. The transmission component Xp and the scattering component Xs are incident on the central portion P of the detector D in the thickness direction. Further, the scattered component Xs is incident on the vicinity S1 and S2 of the end portion of the detector D in the thickness direction. The lead blocks L1 and L2 partially shield the vicinity S1 and S2 of the detection surfaces of the plurality of channels in the thickness direction, and by combining a plurality of lead plates having different widths, the shielding area between the channels ( Or between channel groups). The thickness τ of the lead plate is, for example, 0.2 mm, and the height y is, for example, 10 mm.

【0021】図4は、検出器Dの模式的平面図である。
鉛ブロックL1およびL2で遮蔽されていないチャネル
C1,鉛ブロックL2で厚さτだけ遮蔽されているチャ
ネルC2,鉛ブロックL1およびL2で厚さ2τだけ遮
蔽されているチャネルC3,鉛ブロックL1およびL2
で厚さ3τだけ遮蔽されているチャネルC4,…が、そ
れぞれモニタチャネルになっている。
FIG. 4 is a schematic plan view of the detector D.
Channel C1 not shielded by lead blocks L1 and L2, channel C2 shielded by lead block L2 by thickness τ, channel C3 shielded by lead blocks L1 and L2 by thickness 2τ, lead blocks L1 and L2
Channels C4, ..., Which are blocked by a thickness of 3τ, are monitor channels.

【0022】図5は、各モニタチャネルC1,C2,…
の遮蔽領域の厚さxを横軸にとり、カウント値αを縦軸
にとって、被検体Hをスキャンした時のモニタチャネル
C1,C2,…のカウント値α1,α2,…をプロット
したグラフである。遮蔽領域の厚さxが増える程、散乱
成分Xsが遮断されるため、カウント値は減っていく。
この遮蔽領域の厚さxとカウント値の関係式qを求め
て、その関係式qに遮蔽領域の厚さx=dを代入すれ
ば、散乱成分Xsを全て遮断したときの仮想カウント値
αdを推定できる。また、前記関係式qに遮蔽領域の厚
さx=0を代入すれば、散乱成分Xsを遮断しない場合
の仮想カウント値α0が求まる。この仮想カウント値α
0から前記仮想カウント値αdを引けば、1チャネル当
りの散乱成分量βを計算できる。なお、遮蔽領域の厚さ
xを実際に増やして検出器Dの厚さ方向の中央部Pまで
遮蔽すると、透過成分Xpまで遮蔽するため、急激にカ
ウント値αが低下する。そして、遮蔽領域の厚さx=d
とすると、カウント値=0になる。すなわち、上記仮想
カウント値αdは、実測できず、関係式qから計算によ
ってのみ得られる値である。
FIG. 5 shows each monitor channel C1, C2, ...
Is a graph in which the horizontal axis represents the thickness x of the shielding area and the vertical axis represents the count value α, and the count values α1, α2, ... Of the monitor channels C1, C2, ... When the subject H is scanned are plotted. As the thickness x of the shielding region increases, the scattered component Xs is shielded, so that the count value decreases.
If a relational expression q between the thickness x of the shielding region and the count value is obtained and the thickness x = d of the shielding region is substituted into the relational expression q, the virtual count value αd when all the scattering components Xs are shielded Can be estimated. Further, by substituting the thickness x = 0 of the shielding region into the relational expression q, the virtual count value α0 when the scattering component Xs is not shielded can be obtained. This virtual count value α
By subtracting the virtual count value αd from 0, the scattered component amount β per channel can be calculated. When the thickness x of the shielding region is actually increased to shield the central portion P in the thickness direction of the detector D, the transmission component Xp is shielded, and the count value α rapidly decreases. Then, the thickness of the shielding area x = d
Then, the count value becomes 0. That is, the virtual count value αd is a value that cannot be measured and is obtained only by calculation from the relational expression q.

【0023】図6は、上記X線CT装置100における
散乱成分補正処理のフローチャートである。ステップV
1では、被検体Hをスキャンし、検出器Dの各チャネル
Ciでのカウント値αを取得する。ステップV2では、
モニタチャネルC1,C2,…のカウント値α1,α
2,…から最小2乗法により1次式qを求める。ステッ
プV3では、1次式qに遮蔽領域の厚さx=0およびd
を代入して、散乱成分Xsを遮断しないときの仮想カウ
ント値α0および散乱成分Xsを全て遮断したときの仮
想カウント値αdを求める。ステップV4では、仮想カ
ウント値α0から仮想カウント値αdを減算して、散乱
成分量βを計算する。ステップV5では、各チャネルC
iでのカウント値αから前記散乱成分量βを減算し、そ
の減算結果を透過X線データγとする。なお、モニタチ
ャネルC1,C2,…での散乱成分量を1次式qから求
めて、モニタチャネルC1,C2,…でのカウント値α
1,α2,…から減算すれば、モニタチャネルC1,C
2,…での透過X線データγを得ることも出来る。
FIG. 6 is a flowchart of the scattered component correction processing in the X-ray CT apparatus 100. Step V
In 1, the subject H is scanned and the count value α in each channel Ci of the detector D is acquired. In step V2,
Count values α1, α of monitor channels C1, C2, ...
A linear expression q is obtained from 2, ... By the method of least squares. In step V3, the thickness of the shielding region x = 0 and d
By substituting for the virtual count value α0 when the scattered component Xs is not blocked and the virtual count value αd when all the scattered component Xs is blocked. In step V4, the virtual count value αd is subtracted from the virtual count value α0 to calculate the scattered component amount β. In step V5, each channel C
The scattered component amount β is subtracted from the count value α at i, and the subtraction result is transmission X-ray data γ. In addition, the amount of scattered components in the monitor channels C1, C2, ... Is obtained from the linear expression q, and the count value α in the monitor channels C1, C2 ,.
If subtracted from 1, α2, ..., Monitor channels C1, C
It is also possible to obtain transmitted X-ray data γ for 2, ...

【0024】以上の第1実施例のX線CT装置100に
よれば、被検体Hをスキャンしたカウント値αから散乱
成分量βを計算すると共に、スキャン時に1次式qを求
めて散乱成分量βを計算する。従って、補正精度を十分
に向上できる。また、操作の手間がかからない。
According to the X-ray CT apparatus 100 of the first embodiment described above, the scattered component amount β is calculated from the count value α obtained by scanning the subject H, and at the same time, the linear expression q is calculated to obtain the scattered component amount. Calculate β. Therefore, the correction accuracy can be sufficiently improved. In addition, it does not take time and effort to operate.

【0025】−第2実施例− 第2実施例は、図7に示す検出器Dを用いる点が第1実
施例と異なる。図7に示す検出器Dにおいて、鉛ブロッ
クLwは、複数のチャネルの検出面の厚さ方向端部近傍
S1および中央部近傍Pを遮蔽すると共に厚さ方向端部
近傍S2を部分的に遮蔽するものであり、幅の異なる複
数の鉛板を組み合わせることにより遮蔽面積をチャネル
間(またはチャネルグループ間)で変えている。前記鉛
板の厚さτは例えば0.2mmであり、高さyは例えば
10mmである。
Second Embodiment The second embodiment is different from the first embodiment in that the detector D shown in FIG. 7 is used. In the detector D shown in FIG. 7, the lead block Lw shields the vicinity S1 in the thickness direction and the vicinity P in the center of the detection surfaces of the plurality of channels, and partially shields the vicinity S2 in the thickness direction. The shielding area is changed between channels (or between channel groups) by combining a plurality of lead plates having different widths. The thickness τ of the lead plate is, for example, 0.2 mm, and the height y is, for example, 10 mm.

【0026】図8は、検出器Dの模式的平面図である。
鉛ブロックLwで完全に遮蔽されていないチャネルC
1,厚さτだけ遮蔽されていないチャネルC2,厚さ2
τだけ遮蔽されていないチャネルC3,厚さ3τだけ遮
蔽されていないチャネルC4,…が、それぞれモニタチ
ャネルになっている。
FIG. 8 is a schematic plan view of the detector D.
Channel C not completely shielded by lead block Lw
1, channel C2 not shielded by thickness τ2, thickness 2
Channels C3 not shielded by τ3 and channels C4, ... Not shielded by the thickness 3τ are respectively monitor channels.

【0027】図9は、各モニタチャネルC1,C2,…
の遮蔽領域の厚さxを横軸にとり、カウント値αを縦軸
にとって、被検体Hをスキャンした時のモニタチャネル
C1,C2,…のカウント値α1,α2,…をプロット
したグラフである。遮蔽領域の厚さxが減る程、散乱成
分Xsが入射するため、カウント値は増えてゆく。この
遮蔽領域の厚さxとカウント値の関係式qを求めて、そ
の関係式qに遮蔽領域の厚さx=0を代入すれば、散乱
成分Xsを遮断しないときの仮想カウント値α0を推定
できる。この仮想カウント値α0が、1チャネル当りの
散乱成分量βである。なお、遮蔽領域の厚さxを実際に
減らして検出器Dの厚さ方向の中央部Pまで遮蔽しない
ようにすると、透過成分Xpが入射するため、急激にカ
ウント値αが増加する。そして、遮蔽領域の厚さx=0
とすると、カウント値=透過成分量+散乱成分量とな
る。すなわち、上記仮想カウント値α0は、実測でき
ず、関係式qから計算によってのみ得られる値である。
FIG. 9 shows each monitor channel C1, C2, ...
Is a graph in which the horizontal axis represents the thickness x of the shielding area and the vertical axis represents the count value α, and the count values α1, α2, ... Of the monitor channels C1, C2, ... When the subject H is scanned are plotted. As the thickness x of the shielded region decreases, the scattered component Xs enters, so the count value increases. If a relational expression q between the thickness x of the shielding region and the count value is obtained and the thickness x = 0 of the shielding region is substituted into the relational expression q, the virtual count value α0 when the scattering component Xs is not shielded is estimated. it can. This virtual count value α0 is the amount β of scattered components per channel. If the thickness x of the shielding region is actually reduced so as not to shield the central portion P in the thickness direction of the detector D, the transmission component Xp is incident, and the count value α rapidly increases. Then, the thickness of the shielding area x = 0
Then, count value = transmitted component amount + scattered component amount. That is, the virtual count value α0 is a value that cannot be measured and is obtained only by calculation from the relational expression q.

【0028】図10は第2実施例における散乱成分補正
処理のフローチャートである。ステップU1では、被検
体Hをスキャンし、検出器Dの各チャネルCiでのカウ
ント値αを取得する。ステップU2では、モニタチャネ
ルC1,C2,…のカウント値α1,α2,…から最小
2乗法により1次式qを求める。ステップU3では、1
次式qに遮蔽領域の厚さx=0を代入して、散乱成分X
sを遮断しないときの仮想カウント値α0を求め、散乱
成分量βとする。ステップU4では、各チャネルCiで
のカウント値αから前記散乱成分量βを減算し、その減
算結果を透過X線データγとする。
FIG. 10 is a flowchart of the scattered component correction processing in the second embodiment. In step U1, the subject H is scanned and the count value α in each channel Ci of the detector D is acquired. At step U2, a linear expression q is obtained from the count values α1, α2, ... Of the monitor channels C1, C2 ,. In step U3, 1
Substituting the thickness x = 0 of the shielding area into the following equation q, the scattered component X
A virtual count value α0 when s is not cut off is obtained and is set as a scattered component amount β. In step U4, the scattered component amount β is subtracted from the count value α in each channel Ci, and the subtraction result is used as transmission X-ray data γ.

【0029】以上の第2実施例によれば、被検体Hをス
キャンしたカウント値αから散乱成分量βを計算すると
共に、スキャン時に1次式qを求めて散乱成分量を計算
する。従って、補正精度を十分に向上できる。また、操
作の手間がかからない。
According to the second embodiment described above, the scattered component amount β is calculated from the count value α obtained by scanning the subject H, and at the time of scanning, the linear expression q is obtained to calculate the scattered component amount. Therefore, the correction accuracy can be sufficiently improved. In addition, it does not take time and effort to operate.

【0030】−第3実施例− 第3実施例は、図11に示す検出器Dを用いる点が第2
実施例と異なる。図11に示す検出器Dにおいて、鉛ブ
ロックLw’は、第2実施例の鉛ブロックLwの階段状
端面を平面状に変形したものである。図12は、検出器
Dの模式的平面図である。遮蔽領域の端部が斜めになっ
ているから、各モニタチャネルC1,C2,…の遮蔽領
域の厚さxとして、平均的な厚さを用いればよい。上記
の外は第2実施例と同じであり、第2実施例と同じ効果
が得られる。なお、同様に、第1実施例における鉛ブロ
ックL1,L2の階段状端面を平面状に変形してもよ
い。
-Third Embodiment- The third embodiment is secondly in that the detector D shown in FIG. 11 is used.
Different from the embodiment. In the detector D shown in FIG. 11, the lead block Lw ′ is obtained by deforming the stepped end surface of the lead block Lw of the second embodiment into a flat shape. FIG. 12 is a schematic plan view of the detector D. Since the edges of the shield region are oblique, an average thickness may be used as the thickness x of the shield region of each monitor channel C1, C2, .... Except for the above, the same as the second embodiment, and the same effect as the second embodiment can be obtained. Similarly, the stepped end faces of the lead blocks L1 and L2 in the first embodiment may be deformed into a flat shape.

【0031】[0031]

【発明の効果】この発明のX線散乱成分の補正方法およ
びX線CT装置によれば、被検体をスキャンしたカウン
ト値から散乱成分量を計算するから、補正精度を十分に
向上できる。また、ファントムを測定するような操作の
手間が不要になる。
According to the X-ray scattering component correcting method and the X-ray CT apparatus of the present invention, the amount of the scattering component is calculated from the count value obtained by scanning the subject, so that the correction accuracy can be sufficiently improved. In addition, the troublesome operation of measuring the phantom becomes unnecessary.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の第1実施例のX線CT装置を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an X-ray CT apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1のX線CT装置で被検体をスキャンする状
況の説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a situation in which a subject is scanned by the X-ray CT apparatus in FIG.

【図3】図1のX線CT装置における検出器の要部斜視
図である。
FIG. 3 is a perspective view of a main part of a detector in the X-ray CT apparatus in FIG.

【図4】図3の検出器の要部平面図である。FIG. 4 is a plan view of a main part of the detector shown in FIG.

【図5】モニタチャネルにおける遮蔽領域の長さとカウ
ント値の関係図である。
FIG. 5 is a relationship diagram between a length of a shielding area and a count value in a monitor channel.

【図6】図1のX線CT装置における散乱成分補正処理
のフローチャートである。
6 is a flowchart of a scattered component correction process in the X-ray CT apparatus of FIG.

【図7】この発明の第2実施例にかかる検出器の要部斜
視図である。
FIG. 7 is a perspective view of a main part of a detector according to a second embodiment of the present invention.

【図8】図7の検出器の要部平面図である。8 is a plan view of relevant parts of the detector shown in FIG. 7. FIG.

【図9】モニタチャネルにおける遮蔽領域の長さとカウ
ント値の関係図である。
FIG. 9 is a relationship diagram between the length of a shielded area and a count value in a monitor channel.

【図10】この発明の第2実施例にかかる散乱成分補正
処理のフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart of scattered component correction processing according to the second embodiment of the present invention.

【図11】この発明の第3実施例にかかる検出器の要部
斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view of essential parts of a detector according to a third embodiment of the present invention.

【図12】図11の検出器の要部平面図である。12 is a plan view of relevant parts of the detector shown in FIG. 11. FIG.

【図13】従来のX線CT装置で被検体をスキャンする
状況の説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram of a situation in which a subject is scanned by a conventional X-ray CT apparatus.

【図14】従来のX線CT装置における検出器の要部斜
視図である。
FIG. 14 is a perspective view of a main part of a detector in a conventional X-ray CT apparatus.

【図15】従来の散乱成分量の測定方法を示す説明図で
ある。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a conventional method for measuring the amount of scattered components.

【図16】ファントムの投影像を示す説明図である。FIG. 16 is an explanatory diagram showing a projected image of a phantom.

【図17】投影像の面積と散乱成分量の関係図である。FIG. 17 is a relationship diagram between the area of a projected image and the amount of scattered components.

【図18】従来の散乱成分補正処理のフローチャートで
ある。
FIG. 18 is a flowchart of a conventional scattered component correction process.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 X線CT装置 1 操作コンソール 2 入力装置 3 中央処理装置 8 撮影テーブル 9 操作ガントリ Ci チャンネル D,D’ 検出器 L1,L2,Lw 鉛ブロック T X線管 β,βh 散乱成分量 100 X-ray CT system 1 Operation console 2 input devices 3 Central processing unit 8 shooting table 9 Operation gantry Ci channel D, D'detector L1, L2, Lw Lead block T X-ray tube β, βh Scattered component amount

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−56962(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) A61B 6/00 - 6/14 Continuation of the front page (56) Reference JP-A-5-56962 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) A61B 6/00-6/14

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 幅方向に多数のチャネルを配列した検出
器を有するX線CT装置において、 前記多数のチャネルのうちの複数チャネルがX線散乱成
分についてチャネル間またはチャネルグループ間で異な
る検出面積を有するモニタチャネルとされた検出器と、 被検体のスキャンにより前記モニタチャネルで取得した
検出値に基づいて1チャネル当りの散乱成分量を計算す
る散乱成分量計算手段と、 被検体のスキャンにより前記検出器の各チャンネルで取
得した検出値から前記散乱成分量を減算して各チャネル
の透過X線データを取得する散乱成分補正手段とを具備
したことを特徴とするX線CT装置。
1. An X-ray CT apparatus having a detector in which a large number of channels are arranged in the width direction, wherein a plurality of channels among the plurality of channels have different detection areas for X-ray scattering components between channels or between channel groups. A detector which is defined as a monitor channel, a scattering component amount calculating means for calculating the amount of scattering component per channel based on a detection value acquired by the monitor channel by scanning the subject, and the detection by scanning the subject X-ray CT apparatus, comprising: a scattering component correcting unit that subtracts the amount of the scattering component from the detection value acquired in each channel of the detector to acquire the transmitted X-ray data of each channel.
【請求項2】 幅方向に多数のチャネルを配列した検出
器を有するX線CT装置において、 前記多数のチャネルのうちの複数チャネルが少なくとも
検出器の厚さ方向端部近傍に検出面を有し且つチャネル
間またはチャネルグループ間で異なる検出面積を有する
モニタチャネルとされた検出器と、 被検体のスキャンにより前記モニタチャネルで取得した
検出値に基づいて1チャネル当りの散乱成分量を計算す
る散乱成分量計算手段と、 被検体のスキャンにより前記検出器の各チャンネルで取
得した検出値から前記散乱成分量を減算して各チャネル
の透過X線データを取得する散乱成分補正手段とを具備
したことを特徴とするX線CT装置。
2. An X-ray CT apparatus having a detector in which a large number of channels are arranged in the width direction, wherein a plurality of the plurality of channels have a detection surface at least in the vicinity of an end portion in the thickness direction of the detector. Also, a detector that is a monitor channel having a different detection area between channels or channel groups, and a scatter component that calculates the amount of scatter component per channel based on the detection value obtained in the monitor channel by scanning the subject. And a scattering component correcting unit that subtracts the amount of the scattered component from the detection value acquired by each channel of the detector by scanning the subject and acquires the transmitted X-ray data of each channel. Characteristic X-ray CT device.
【請求項3】 請求項2に記載のX線CT装置におい
て、 前記複数チャネルの検出面の前記厚さ方向端部近傍を鉛
ブロックで遮蔽し且つその遮蔽面積をチャネル間または
チャネルグループ間で変えることにより前記モニタチャ
ネルが構成されていることを特徴とするX線CT装置。
3. The X-ray CT apparatus according to claim 2, wherein the vicinity of the ends in the thickness direction of the detection surfaces of the plurality of channels is shielded by a lead block and the shielded area is changed between channels or between channel groups. The X-ray CT apparatus is characterized in that the monitor channel is configured thereby.
【請求項4】 請求項1から請求項3のいずれかに記載
のX線CT装置において、 前記検出器の幅方向に配列した多数のチャネルのうちの
幅方向端部近傍の複数チャネルが前記モニタチャネルと
されてなることを特徴とするX線CT装置。
4. The X-ray CT apparatus according to claim 1, wherein a plurality of channels near a width direction end of a large number of channels arranged in the width direction of the detector are the monitor. An X-ray CT apparatus characterized by being used as a channel.
【請求項5】 請求項3に記載のX線CT装置におい
て、 前記複数チャネルの検出面の前記厚さ方向における前記
鉛ブロックによる遮蔽領域の厚さを横軸とし、前記モニ
タチャネルで取得した検出値であるカウンタ値を縦軸と
したグラフに、検出したカウンタ値をプロットし、最小
2乗法を用いて1次式を求めることにより、1チャネル
当りの散乱成分量を計算することを特徴とするX線CT
装置。
5. The X-ray CT apparatus according to claim 3, wherein the horizontal axis represents the thickness of the shielding area of the lead blocks in the thickness direction of the detection surfaces of the plurality of channels, and the detection acquired by the monitor channel. It is characterized in that the detected counter value is plotted on a graph whose vertical axis is the counter value, and the scattered component amount per channel is calculated by obtaining a linear expression using the least square method. X-ray CT
apparatus.
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