JP3416861B2

JP3416861B2 - フレーム変換装置の機能試験方法及びフレーム変換装置の機能試験装置

Info

Publication number: JP3416861B2
Application number: JP02081395A
Authority: JP
Inventors: 孝青木; 啓二石川
Original assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Current assignee: Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date: 1995-02-08
Filing date: 1995-02-08
Publication date: 2003-06-16
Anticipated expiration: 2018-06-16
Also published as: JPH08223164A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、フレーム変換装置の機
能試験方法及びフレーム変換装置の機能試験装置に係
り、特に、通信処理で広く利用される非同期転送型フレ
ーム（以下、ＡＴＭセルという）と同期転送型フレーム
（以下、ＳＴＭフレームという）の相互フレーム変換を
行う装置の機能試験を行う場合に使用するフレーム変換
装置の機能試験方法及びフレーム変換装置の機能試験装
置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＡＴＭセルとＳＴＭセルの相互フ
レームの変換装置の機能試験は、その都度試験データを
設計することにより行われる。図６８は、従来の試験手
順を示すフローチャートである。

【０００３】ステップ１０）第１の工程として、入力
ＳＴＭフレームデータファイルを生成する。ステップ１１）第２の工程として、ＡＴＭセルとＳＴ
Ｍフレームの変換設定データを作成する。

【０００４】ステップ１２）第３の工程として、入力
用のＡＴＭセルデータファイルの作成を行う。ステップ１３）第４の工程として、ＡＴＭセルとＳＴ
Ｍフレームの相互試験を行う。この試験の詳細な動作
は、『ＣＣＩＴＴ勧告Ｉシリーズ』等に記載されてい
る。

【０００５】ステップ１４）第５の工程として、試験
結果照合プログラムを作成する。ステップ１５）第６の工程として、上記の第５の工程
で生成された試験結果照合プログラムを起動させて、試
験結果の照合を行う。ステップ１６）第７の工程として、全てのＡＴＭセル
及びＳＴＭフレームデータの試験が終了したかを判断
し、終了すれば、上記の処理を終了させ、まだ、試験す
べきデータが残っている場合には、上記のステップ１０
からの処理を実施する。

【０００６】上記のステップ１０〜ステップ１２の試験
データの作成工程は、入力ＳＴＭフレーム作成、ＡＴＭ
セルとＳＴＭフレームの変換設定データの作成、入力Ａ
ＴＭセル列の作成の３種類のデータ作成作業から構成さ
れている。ここで、ＡＴＭセルとＳＴＭフレームの変換
設定データとは、被試験対象の装置によって、ＡＴＭセ
ルとＳＴＭフレームを相互にフレーム変換する際に変換
の対応付けを定義する設定の内容のことである。

【０００７】また、入力ＳＴＭフレームとは、被試験対
象の装置によって、ＡＴＭセルに変換されるＳＴＭフレ
ーム形式のデータである。入力ＡＴＭセル列とは、被試
験対象装置によって、ＳＴＭフレーム形式に変換される
ＡＴＭセル形式のデータである。

【０００８】従来、これらのデータ作成内容は、予め、
結果の照合が簡易となるように、上記のフローチャート
の工程５の試験結果照合プログラムの作成工程（ステッ
プ１４）において、コンピュータプログラムをその都度
作成して行われている。また、結果の正解値との照合
も、紙の上に印刷して人間が確認したり、簡易なコンピ
ュータプログラムをその都度作成して行われている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の方法では、試験項目に対応させてこれらのデータの
セットを必要数だけ作成していかなければならず、試験
項目数の増加に応じて、データの設計に要する時間が長
くなってしまうという問題がある。

【００１０】さらに、入力ＳＴＭフレーム作成、ＡＴＭ
セルとＳＴＭフレームの変換設定データの作成、入力Ａ
ＴＭセル列の作成の３種類のデータの対応関係の維持も
設計時間の増大の原因となっている。加えて、試験の内
容が複雑になるにつれ、結果の照合のためのコンピュー
タプログラムも複雑になり、試験の内容に僅かな変更が
加わると、その都度記述しなおすために結果の照合に必
要な工数が増大するという問題がある。

【００１１】本発明は、上記の点に鑑みなされたもの
で、試験項目が増加する、または、複雑になっても試験
に要する時間を短縮できるフレーム変換装置の機能試験
方法及びフレーム変換装置の機能試験装置を提供するこ
とを目的とする。本発明の更なる目的は、被試験装置が
正常動作が保証される試験データを生成することが可能
なフレーム変換装置の機能試験方法及びフレーム変換装
置の機能試験装置を提供することである。

【００１２】

【課題を解決するための手段】図１は、本発明の第１の
原理を説明するためのフローチャートである。本発明
は、同期転送型フレームと非同期転送型フレームを相互
変換する装置の試験を行う際に、被試験装置を試験する
物理的な信号を生成し、試験により該被試験装置が生成
する物理的な信号を検査するフレーム変換装置の機能試
験方法であって、被試験装置が同期転送型フレームと非
同期転送型フレームをどのように相互変換するかを該同
期転送型フレームのタイムスロット番号で区分された第
１の表形式Ｔでタイムスロット毎に記述し（ステップ１
０）、第１の表形式Ｔに基づいて同期転送型フレームと
非同期転送型フレームをどのように相互変換するかの形
態を被試験装置に与える信号を生成し（ステップ２
０）、第１の表形式Ｔと被試験装置に入力する試料フレ
ームの構造の特徴をフレーム番号に対して表示した第２
の表形式Ｆに基づいて、被試験装置に与える同期転送型
フレームの信号を生成し（ステップ３０）、第１の表形
式Ｔと被試験装置に入力する試料セルの入力順序を非同
期転送型フレームヘッダと１対１に対応するパラメタに
よって表した第３の表形式Ｃに基づいて、被試験装置に
与える非同期転送型フレームの信号を生成し（ステップ
４０）、試験により被試験装置が生成する非同期転送型
のフレームの信号を第１の表形式Ｔと第２の表形式Ｆに
基づいて検査照合し（ステップ５０）、試験により被試
験装置が生成する同期転送型のフレームの信号を第１の
表形式Ｔと第３の表形式Ｃに基づいて検査照合する（ス
テップ６０）。

【００１３】図２は、本発明の第２の原理を説明するた
めのフローチャートである。本発明は、ステップ１０を
実行する前に、被試験装置がまとめて変換する同期転送
型フレームのいくつかのタイムスロットを集合とし、該
集合に番号を付与し、該番号毎に被試験装置が同期転送
型フレームと非同期転送型フレームをどのように相互変
換するかを第４の表形式Ｓに記述しておき（ステップ
８）、第４の表形式Ｓから第１の表形式を生成する処理
を行う（ステップ９）。

【００１４】図３は、本発明の第３の原理を説明するた
めのフローチャートである。本発明は、図１におけるス
テップ１０、ステップ２０の処理を省略し、ステップ３
０を実行する前に、第１の表形式Ｔによる設定を行った
第１の内容Ｔ１と別の設定を行う第２の内容Ｔ２のいず
れか一方の内容を有効とするか、または両方の内容とも
無効にするかの選択を同期転送型フレームのタイムスロ
ット番号で区分された第５の表形式Ｕでタイムスロット
毎に記述しておき（ステップ１）、第５の表形式Ｕに基
づいて、第５の表形式Ｕの中の記述の矛盾を検出し（ス
テップ２）、検出された矛盾を訂正して、第５の表形式
Ｕを再構成し（ステップ３）、再構成された第５の表形
式Ｕ’に基づいて同期転送型フレームと非同期転送型フ
レームの相互変換形式を被試験装置に与える信号を生成
し（ステップ４）、再構成された第５の表形式Ｕ’に基
づいて被試験装置に現在設定されている設定内容を第１
の表形式で生成する処理を行う（ステップ５）。

【００１５】図４は、本発明の第４の原理を説明するた
めのフローチャートである。本発明は、ステップ４０の
処理を行う前に、第１の表形式Ｔに基づいて、非同期転
送型フレーム信号のパケットヘッダ表を生成する（ステ
ップ３５）。本発明は、同期転送型フレームと非同期転
送型フレームを相互変換する装置の試験を行う物理的な
信号を生成し、該装置が生成する物理的な信号を検査す
るフレーム変換装置の機能試験装置において、被試験装
置が同期転送型フレームと非同期転送型フレームの相互
変換データをタイムスロット毎に設定された第１の変換
設定表を生成する変換設定データ生成手段と、第１の変
換設定表に基づいて同期転送型フレームと非同期転送型
フレームをどのように相互変換するかの情報に従って被
試験装置に与える試験データを生成する試験データ生成
手段と、試験データ生成手段により生成された試験デー
タを被試験装置に入力し、試験を行う試験実行手段と、
試験実行手段により実行された試験結果と、期待値と照
合する照合手段を有する。

【００１６】また、上記の変換設定データ生成手段は、
被試験装置がまとめて変換する同期転送型フレームにい
くつかのタイムスロットを集合とし、該集合毎に番号を
付与し、該番号毎に被試験装置がどのように相互変換す
るかをパラメタ与えて第２の変換設定表を記述するパラ
メタ化変換設定表生成手段と、パラメタ化変換設定表生
成手段により生成された第２の変換設定表の情報から第
１の変換設定表を生成する第２の変換設定データ生成手
段とを有する。

【００１７】また、本発明の変換設定データ生成手段
は、第１の変換設定表の設定を行う第１の内容と、該第
１の内容と別の設定を行う第２の内容とを有し、該第１
の内容と該第２の内容のいずれを有効するか、どちらも
無効とするかの選択情報により同期転送型フレームのタ
イムスロット番号で区分された状態管理表を生成する状
態管理表生成手段と、状態管理表の矛盾を検出し、該矛
盾を訂正して、訂正済状態管理表を生成する矛盾訂正手
段と、矛盾訂正手段により訂正された訂正済状態管理表
に基づいて第１の変換設定表を生成する第３の変換設定
データ生成手段とを有し、試験データ生成手段は、訂正
済状態管理表に基づいて、被試験装置に現在設定されて
いる設定内容を第１の変換設定表を用いて生成する手段
を有する。

【００１８】また、上記の試験データ生成手段は、第１
の変換設定表と被試験装置に入力する試料フレームの構
造の特徴をフレーム番号に対応する表に基づいて同期転
送型フレームの信号を生成する同期転送型フレーム生成
手段と、第１の変換設定表と被試験装置に入力する試料
セルの入力順序を非同期転送型フレームヘッダと１対１
に対応するパラメタによって表された表に基づいて、非
同期転送型フレーム信号を生成する非同期転送型フレー
ム生成手段とを有する。

【００１９】また、上記の非同期転送型フレーム生成手
段は、第１の変換設定表に記述されている各チャネルの
呼速度に比例する数のセルをチャネル毎に均等に分散さ
れた入力セルの被試験装置への入力順序情報を生成する
順序情報生成手段と、順序情報生成手段に基づいて、非
同期転送型フレーム信号を生成する第２の非同期転送型
フレーム信号生成手段とを含む。

【００２０】

【作用】本発明は、被試験装置に与える入力同期フレー
ム（以下、入力ＳＴＭフレーム）／非同期セル（以下、
ＡＴＭセル）とＳＴＭフレームの変換設定データ／入力
ＡＴＭセル列の３種類のデータを同一のファイルから自
動生成するものである。これにより、データ作成時間
や、データ対応関係のための作業時間が短縮される。ま
た、試験結果の正解（期待値）と試験結果との照合処理
を自動化することが可能となるため、試験条件をさまざ
まに変えた場合にその都度発生する照合プログラムの再
記述作業が簡略化される。

【００２１】本発明の変換設定データ生成処理は、ＡＴ
ＭセルとＳＴＭフレームの変換設定データがＳＴＭフレ
ームのタイムスロット単位で管理できることに着目し、
タイムスロット（ＳＴＭフレームを構成するデータの格
納場所の最小単位）に応じた設定内容を記述した表（第
１の表形式）を用いて試験に必要なデータを生成する。
このタイムスロットに予めタイムスロット番号を付与し
ておき、タイムスロット番号に対応して、そのタイムス
ロットを変換の対象とするか否か、チャネル番号、呼速
度、変換後に付与するヘッダ等の設定内容を記述する。

【００２２】本発明の変換設定データ生成処理は、ＡＴ
ＭセルとＳＴＭフレームの変換設定データの生成を行う
ものであり、ＡＴＭセルとＳＴＭフレームの変換設定デ
ータは、被試験装置に与える設定であり、被試験装置
は、これらのデータが与えられると、この設定に基づい
てＡＴＭセルのデータをＳＴＭフレームのデータに変換
する。この内容は、第１の表形式に基づいて被試験装置
の仕様によって一意に決定される処理仕様で生成され
る。この変換設定データ生成処理は、第１の表形式の構
造を１タイムスロット毎に１行としたため、自由に設定
可能であり、かつ被試験装置のＡＴＭセルとＳＴＭフレ
ームの変換設定データを生成する過程において人間によ
る作業は介在しない。第１の表形式を編集するのは人間
であるが、誤った記述は検出されるため、生成される設
定内容の矛盾は除去される。

【００２３】また、本発明の被試験装置に与えるデータ
生成における入力ＳＴＭフレームの生成処理は、被試験
装置に与えるフレームの各タイムスロットの値の列であ
る。そこで、第１の表形式の該当タイムスロットの変換
動作に用いるかどうかのフィールドに応じて値を決める
ことにすれば、変換動作に用いていないタイムスロット
に適切な既定値等を与えることにより、試験に適切ない
フレームを生成できる。第１の表形式で与えきれない内
容としては、入力フレームの長さや、フレーム間の構成
等があるが、これらは別の手法で与える。これにより、
試験項目に応じて第１の表形式を変えた場合には、再
び、入力フレームの作成を設計からやり直さなくても、
同じ手順によって第１の表形式に基づいて再生成すれば
よい。

【００２４】また、本発明の被試験装置に与えるデータ
生成における入力ＡＴＭセルの生成処理において、入力
ＡＴＭセル列は、被試験装置に予め与えてある変換の対
応付けの定義により、各セルのＡＴＭヘッダの値とセル
の送出頻度が適切になるように作成しなければならな
い。第１の表形式では、各タイムスロットに対応するＡ
ＴＭヘッダの値や呼速度を記述してある。セルの送出頻
度は、呼速度に比例しており、一意に決定できるので、
第１の表形式に基づいて入力セル列を生成する。これに
より、試験項目に合わせて、第１の表形式を変えた場合
には、再び入力セル列の作成を設計からやり直さなくと
も同じ手順によって第１の表形式に基づいて再生成すれ
ばよい。

【００２５】本発明の試験結果の検査照合処理は、ＡＴ
ＭセルとＳＴＭフレームの変換設定データ／入力ＳＴＭ
フレーム／入力ＡＴＭセル列を被試験装置に与えた場合
の結果として、出力ＡＴＭセル列／出力ＳＴＭフレーム
をＡＴＭセルとＳＴＭフレームの変換設定データ等に基
づいて期待値と自動照合する。

【００２６】

【実施例】以下、図面と共に本発明の実施例を説明す
る。以下、本発明の実施例は、第１〜第４の実施例を記
載する。第１の実施例では、変換設定データ生成処理、
ＳＴＭフレーム生成処理、ＡＴＭセル生成処理、及び検
査・照合処理の一連の処理を説明する。第２の実施例で
は、変換設定データ生成処理において、第１の表形式
（以下ＳＴＭ設定表）を生成する前に、複数のタイムス
ロットを組み合わせてチャネルを構成する場合に、タイ
ムスロットの設定を整合させる必要があるため、パラメ
タを用意して、ＳＴＭ設定表に与えるものである。第３
の実施例は、ＳＴＭ設定表に複数組の状態の呼設定を用
意しておき、チャネル毎に呼設定の状態を変更可能とす
るものである。第４の実施例は、ＳＴＭ設定表に記述さ
れた各チャネルの呼速度に比例する数のセルをチャネル
毎に均等に分配しておき、入力ＡＴＭセルが正常な比率
から変動した条件での被試験装置の動作を試験するため
のデータ（ファイル）の作成を行う処理である。

【００２７】１．［第１の実施例］図５は、本発明の第１の実施例の機能試験装置のシステ
ム構成図である。同図に示す機能試験装置は、記憶装置
１００、処理装置２００、操作装置３０、入力装置４０
０、出力装置５００及び被試験装置６００より構成され
る。

【００２８】記憶装置１００は、図６に示すように、試
験内容ファイル、内部一時記憶データ、被試験装置との
インタフェイース用のファイルより構成される。このう
ち、内部一時記憶データはワークメモリを用いるものと
する。試験内容ファイルには、ＳＴＭ設定表、入力セル
順序ファイル（ＳＣＦ）、入力フレーム属性ファイル等
がある。

【００２９】ＳＴＭ設定表は、ＡＴＭセルとＳＴＭフレ
ームの変換設定データがＳＴＭフレームのタイムスロッ
ト単位で管理できることに着目し、タイムスロットに応
じた設定内容を記述したものである。なお、タイムスロ
ットとは、ＳＴＭフレームを構成するデータの格納場所
の最小単位である。また、タイムスロットには予め番号
を付与しておくものとし、これをタイムスロット番号
（ＴＳ番号）と呼ぶ。

【００３０】また、ワークメモリ１０００内に一時的に
格納されるデータとして、被試験装置設定内容（タイム
スロット毎）構造データ（ＣＴ）、被試験装置設定内容
（チャネル毎）構造データ（ＣＣ）、出力セルペイロー
ド期待値（チャネル毎）構造データ（ＥＣ）、出力フレ
ームペイロード期待値（チャネル毎）構造データ（Ｅ
Ｆ）、被試験装置出力セルペイロード（チャネル毎）構
造データ（ＳＣ）、被試験装置出力フレームペイロード
（チャネル毎）構造データ（ＳＦ）、出力セルのＡＡＬ
ヘッダの期待値（チャネル毎）構造データ（ＡＣ）、被
試験装置出力セルのＡＡＬヘッダのエラー（チャネル
毎）構造データ（ＥＡ）、被試験装置出力セルのペイロ
ード検査結果（チャネル毎）構造データ（ＲＣ）、被試
験装置出力フレームのペイロード検査結果（チャネル
毎）構造データ（ＲＦ）等がある。

【００３１】さらに、被試験装置６００とのインタフェ
ースとして、被試験装置設定ファイル、被試験装置入力
ＳＴＭフレームファイル、被試験装置入力ＡＴＭセルフ
ァイル、被試験装置出力ＳＴＭフレームファイル、被試
験装置出力ＡＴＭセルファイル等がある。

【００３２】処理装置２００は、所定の手順に従って、
各データの変換を行ったり、記憶装置１００からＳＴＭ
設定表や各種データを取り出したり、また、処理途中の
各種データ構造を、自装置内の一時記憶部や記憶装置１
００に格納したり、取り出したりする制御を行う。

【００３３】処理装置２００として、被試験設定ファイ
ル生成部２０１、入力ＳＴＭフレームファイル生成部２
０２、入力ＡＴＭセルファイル生成部２０３、信号生成
部２０４、被試験装置出力ＡＴＭセル照合部２０５、被
試験装置出力ＳＴＭフレーム照合部２０６、及び処理装
置内一時記憶部２０７等がある。

【００３４】操作装置３００は、処理装置２００に処理
の種類や開始を指示したり、記憶装置１００の内容を操
作するために人間により操作される。また、処理装置２
００からの出力内容を表示したり、印字したりする。入
力装置４００は、被試験装置６００の出力を処理装置２
００に与える。

【００３５】出力装置５００は、処理装置２００から与
えられたＡＴＭセルとＳＴＭフレームの変換設定データ
を被試験装置６００に与える機能を有する。また、入力
フレームデータや入力セルデータを任意の回数繰り返し
て被試験装置６００に与える。

【００３６】図７、図８は、本発明の第１の実施例のシ
ステム関係図である。図５と同一構成部分には同一符号
を付す。また、図５において、記憶装置１００には、Ｓ
ＴＭ設定表１００１を格納する第１の記憶部１０１、入
力フレーム属性ファイル１００２を格納する第２の記憶
部１０２、入力セル順序ファイル１００３を格納する第
３の記憶部１０３、被試験装置設定ファイル１００４を
格納する第４の記憶部１０４、入力ＳＴＭフレームファ
イル１００５を格納する第５の記憶部１０５、入力ＡＴ
Ｍセルファイルを保持する第６の記憶部１０６、被試験
装置出力ＡＴＭセルファイル１００７を格納する第７の
記憶部１０７、被試験装置出力ＳＴＭフレームファイル
１００８を格納する第８の記憶部１０８、変換機能（フ
レームからセルへ）試験結果１００９を格納する第９の
記憶部１０９、変換機能（セルからフレームへ）試験結
果１０１０を格納する第１０の記憶部１１０及び信号記
録部１１１がある。

【００３７】処理装置２００には、被試験装置設定ファ
イル１００４を生成する被試験装置設定ファイル生成部
２０１、入力ＡＴＭセルファイル１００６を生成する入
力ＡＴＭセルファイル２０３、信号生成部２０４、被試
験装置出力ＡＴＭセル照合部２０５、及び被試験装置出
力ＳＴＭフレーム照合部２０６がある。

【００３８】次に、図７、図８に示す動作を説明する。（１）最初に、被試験装置設定ファイル生成部２０１
は、第１の記憶部１０１からＳＴＭ設定表１００１を読
み出して被試験装置設定ファイル１００４を生成し、第
４の記憶部１０４に格納する。

【００３９】（２）入力ＡＴＭセルファイル生成部２
０３は、ＳＴＭ設定表１００１と第３の記憶部１０３に
格納されている入力セル順序ファイル１００３より入力
ＡＴＭセルファイル１００６を生成し、第６の記憶部１
０６に格納する。（３）入力ＳＴＭフレームファイル生成部２０２は、
第２の記憶部１０２に格納されている入力フレーム属性
ファイル１００２とＳＴＭ設定表１００１を用いて被試
験装置６００に入力するための入力ＳＴＭフレームファ
イル１００５を生成する。

【００４０】（４）（１）〜（３）において生成され
た被試験装置設定ファイル１００４、入力ＡＴＭファイ
ル１００６、入力ＳＴＭフレームファイル１００５を信
号生成部２０４に入力する。信号生成部２０４は、入力
された各データを被試験装置６００に入力する。

【００４１】（５）被試験装置６００は、被試験装置
設定ファイル１００４、入力ＡＴＭファイル１００６、
入力ＳＴＭフレームファイル１００５を用いて試験を実
施し、その結果を信号記録部１１１に格納する。（６）信号記録部１１１は、被試験装置６００が生成
した被試験装置出力ＳＴＭフレームを、被試験装置出力
フレームファイル１００８に格納する。

【００４２】（７）信号記録部１１１は、被試験装置
６００が生成した被試験装置出力ＡＴＭセルを被試験装
置出力ＡＴＭセルファイル１００７に格納する。（８）被試験装置出力ＡＴＭセル照合部２０５は、Ｓ
ＴＭ設定表１００１、入力フレーム属性ファイル１００
２、被試験装置出力ＡＴＭセルファイル１００７により
被試験装置６００のＳＴＭフレームからＡＴＭセルへの
変換動作を試験して、変換機能（フレームからセルへ）
試験結果１００９を第９の記憶部１０９に格納する。

【００４３】（９）被試験装置出力ＳＴＭフレーム照
合部２０６は、ＳＴＭ設定表１００１、入力セル順序フ
ァイル１００３、被試験装置出力ＳＴＭフレームファイ
ル１００８により、被試験装置６００のＡＴＭセルから
ＳＴＭフレームへの変換動作を試験して、変換機能（セ
ルからフレームへ）試験結果１１０を第１０の記憶部１
１０に格納する。

【００４４】１．１概要説明次に、本実施例の一連の動作の概要を説明する。図９
は、本発明の第１の実施例の概要動作を示すフローチャ
ートである。ステップ２０１）まず、ＳＴＭ設定表１００１を生成
する。ＳＴＭ設定表１００１は、タイムスロット単位で
構成されているので、同じタイムスロットに誤って矛盾
する設定を行う危険を防止できる。被試験装置６００の
試験にあたって、試験項目に合わせてタイムスロット毎
に必要な設定内容を書込み、記憶装置１００にファイル
をとして格納する。このＳＴＭ設定表の作成自体を自動
化してもよい。図１０は、本発明の第１の実施例のＳＴ
Ｍ設定表の構成を示す。ＳＴＭ設定表１００１は、タイ
ムスロット番号、チャネル番号毎に、呼速度、ＡＴＭヘ
ッダ、コメントより構成される。

【００４５】ステップ２０２）次に、入力セル順序フ
ァイル１００３を作成する。図１１に本発明の第１の実
施例の入力セル順序ファイルの構成を示す。入力セル順
序ファイル１００３は、装置に入力される順序（シーケ
ンス番号）、及びル属性より構成され、１セル分の属性
∈｛空きセル指定｜チャネル番号｝が成り立つ。つま
り、１行で１セルを表し、ファイルの先頭から順に被試
験装置６００に供給される。セルの属性は、空きセルの
表示、もしくは、チャネル番号の表示によって表す。被
試験装置６００の試験にあたって、試験項目に合わせ
て、入力セル順序ファイル１００３に必要な設定内容を
書込み、記憶装置１００の第３の記録部１０３に保持す
る。なお、この入力セル順序ファイル１００３の作成処
理自体を自動化してもよい。

【００４６】ステップ２０３）次に、入力フレーム属
性ファイル１００２の作成を行う。図１２は、本発明の
第１の実施例の入力フレーム属性ファイルの構成を示
す。入力フレーム属性ファイル１００２は、整数値であ
るフレーム番号、変換に使用するタイムスロットの属
性、変換に使用しないタイムスロットの属性の２つの属
性値の組によってフレームを表し、前の行のフレーム番
号との差がＤである場合には、前の行に表されたフレー
ムがＤ回繰り返されることを表す。これにより、非常に
多くのフレームであっても、簡約して短い表現で表すこ
とが可能である。各表にある２つの属性値は、被試験装
置６００がＳＴＭフレームからＡＴＭセルへの変換を行
っているタイムスロットと行っていないタイムスロット
に分けて指定する。これにより、被試験装置６００の人
為的設定の誤りや被試験装置６００の設定の誤りや、被
試験装置６００の故障の検出の可能性が高くなる。

【００４７】入力フレーム属性ファイル１００２の作成
は、被試験装置６００の試験項目に合わせて、必要な設
定内容を書込み、記憶装置１００の第２の記憶部１０２
に保持する。なお、この入力フレーム属性ファイル１０
０２の作成処理を自動化してもよい。

【００４８】また、上記のステップ２０１からステップ
２０３の各工程は、任意の順序で行ってよい。ステップ２０４）試験データの自動生成処理を行う。
本工程では、変換設定データ生成、ＳＴＭフレーム生
成、及びＡＴＭセル生成の各処理を適用して、被試験装
置６００に提供するデータを生成し、記憶装置１００に
格納する。詳細は、後述する。

【００４９】ステップ２０５）被試験装置６００によ
る変換データの試験を実施して、試験結果である被試験
装置出力ＡＴＭセルファイル１００７と被試験装置出力
ＳＴＭフレームファイル１００８とを記憶装置１００
（第７の記録部１０７、第８の記憶部１０８）に格納す
る。詳細は後述する。

【００５０】ステップ２０６）被試験装置出力ＡＴＭ
セル照合部２０５、被試験装置出力ＳＴＭフレーム照合
部２０６がそれぞれ検査照合処理を適用して、試験結果
の判定を行う。ステップ２０７）ここまでの処理を必要に応じて繰り
返すが、必要な試験項目を終了した場合は、繰り返しを
停止する。

【００５１】以下、図９に示した各概要動作を詳細に説
明する。１．１．１〈変換設定データ生成処理〉最初に、図９のステップ２０４の試験データの自動生成
処理における変換設定データの生成処理を説明する。

【００５２】図１３は、本発明の第１の実施例のデータ
変換設定処理のフローチャートである。ステップ３０１）被試験装置設定ファイル生成部２０
１は、最初に図１０に示すＳＴＭ設定表１００１から１
行読み込み、処理装置２００内部の一時記憶部２０７に
保持する。

【００５３】ステップ３０２）ステップ３０１におい
て、１行読み込んだＳＴＭ設定表１００１の内容を記憶
装置１００内のワークメモリ１０００にタイムスロット
毎に整理した構造ＣＴに格納する。図１４は、本発明の
第１の実施例の被試験装置６００の設定内容（タイムス
ロット毎）の構造データＣＴを示す。被試験装置設定内
容ＣＴは、タイムスロット毎にタイムスロット番号を付
与し、チャネル番号、呼速度、ＡＴＭヘッダ等の各種内
容を設定する。

【００５４】ステップ３０３）ステップ３０１で読み
込んだ内容を記憶装置１００内のワークメモリ１０００
のチャネル毎に整理した構造ＣＣに格納する。図１５
は、本発明の第１の実施例の被試験装置の設定内容（チ
ャネル毎）の構造データＣＣを示す。被試験装置設定フ
ァイル生成部２０１は、ワークメモリ１０００内のＣＣ
にチャネル毎にチャネル番号付し、チャネル番号毎に割
り当てるタイムスロット番号、呼速度、ＡＴＭヘッダ等
の各種内容を設定する。

【００５５】ステップ３０４）繰り返しにより直前に
読んだ行を再び読み込まないように、次に読み込むＳＴ
Ｍ設定表１００１の行を１行進める（行のインクリメン
ト）。ステップ３０５）ＳＴＭ設定表１００１の全ての読み
込みが終了したら、ステップ３０６に移行し、残ってい
る場合は、ステップ３０１〜３０４を繰り返す判断を行
う。

【００５６】ステップ３０６）ＳＴＭ設定表１００１
の読み込みが終了したら、設定ファイル生成部２０１
は、ＳＴＭ設定表１００１をタイムスロット毎、あるい
はチャネル毎に再構成したワークメモリ１０００内の構
造ＣＴ（図１４）、ＣＣ（図１５）に格納し、格納した
内容を参照して、ＡＴＭセルとＳＴＭフレームの変換設
定データを格納した被試験装置設定ファイル１００４を
生成する。詳細は、図１７に示すフローチャートにより
後述する。

【００５７】図１６は、本発明の第１の実施例の被試験
装置設定ファイルの構成を示す。被試験装置設定ファイ
ル１００４は、装置に入力される順序に、１単位の設定
内容∈｛チャネル番号、ＡＴＭヘッダ、タイムスロット
番号、…｝を設定する。つまり、被試験装置設定ファイ
ル１００４は、被試験装置６００に与える変換設定デー
タ等を、与える順序で並べたファイルである。

【００５８】〔被試験装置設定ファイルの生成〕次に、
本発明の第１の実施例の図１３に示すステップ３０６の
被試験装置設定ファイルの生成処理について説明する。
図１７は、本発明の第１の実施例の被試験装置設定ファ
イルの生成処理のフローチャートである。

【００５９】ステップ３０６１）処理対象チャネル番
号の初期化を行う。ステップ３０６２）記憶装置１００内のワークメモリ
１０００の構造ＣＣから処理対象チャネルの内容を取り
出し、処理装置２００内の一時記憶部２０７に保持す
る。

【００６０】ステップ３０６３）処理装置２００の被
試験装置設定ファイル生成部２０１によって処理対象チ
ャネル分の設定内容を生成し、生成したレコードを記憶
装置１００内の第４の記憶部１０４の被試験装置設定フ
ァイル１００４の末尾に追加する。

【００６１】ステップ３０６４）処理対象のチャネル
番号を１つ進める。ステップ３０６５）全チャネルの処理が終了したかを
判断し、終了していなければ繰り返す。終了していれば
繰り返しの処理を終了する。これにより、ＳＴＭ設定表１００１に含まれた全チャネ
ルの設定を含む被試験装置設定ファイル１００４が生成
される。

【００６２】１．１．２〈ＳＴＭフレーム生成処理〉以下に、図９におけるステップ２０４の処理に該当する
試験データの自動生成処理におけるＳＴＭフレーム生成
処理の概要を説明する。図１８は、本発明の第１の実施
例のＳＴＭフレーム生成処理のフローチャートである。

【００６３】ステップ４０１）最初に入力ＳＴＭフレ
ームファイル生成部２０２は、図１０に示すＳＴＭ設定
表１００１より１行読み込み、処理装置２００内部の一
時記憶部２０７に保持する。ステップ４０２）上記のステップで読み込んだ内容を
記憶装置１００内のワークメモリ１０００のタイムスロ
ット毎に整理した構造ＣＴ（図１４）に格納する。つま
り、前述の図１４に示すようにタイムスロット毎に、チ
ャネル番号、呼速度、ＡＴＭヘッダ等を設定する。

【００６４】ステップ４０３）ＳＴＭ設定表１００１
の読み込みの繰り返しにより直前に読み込んだ行を読み
込まないように、行をインクリメントするステップ４０４）ＳＴＭ設定表１００１を全て読み込
んだかを判定し、まだ、残りのＳＴＭ設定表１００１の
内容がある場合には、ステップ４０１に移行し、全て読
み込んだ場合には、ステップ４０５に移行する。上記の
ステップ４０１からステップ４０４を繰り返すことによ
り、ＳＴＭ設定表１００１をワークメモリ１０００のタ
イムスロット毎に再構成した構造ＣＴ（図１４）に格納
し、格納した内容を参照して、入力ＳＴＭフレームファ
イル生成部２０２は、以下のステップで入力用ＳＴＭフ
レームファイル１００５を入力ＳＴＭフレームファイル
生成部２０２を作成する。

【００６５】ステップ４０５）以下のステップでは、
入力ＳＴＭフレームファイル生成部２０２が入力用ＳＴ
Ｍフレームを作成する。図１２に示す第２の記憶部１０
２に格納されているフレーム属性ファイル１００２から
１行読み込み、処理装置２００内部の一時記憶部２０７
にに保持する。

【００６６】ステップ４０６）入力ＳＴＭフレームフ
ァイル生成部２０２は、上記のステップ４０５で読み込
んだフレーム属性ファイル１００２の内容と、ＳＴＭ設
定表１００１の内容（ワークメモリ１０００のＣＴに格
納されている）に基づいて、被試験装置６００への入力
フレームを１フレーム生成して、入力ＳＴＭフレームフ
ァイル１００５の末尾の行に追加する。詳細は、図１９
において詳細に後述する。

【００６７】ステップ４０７）繰り返しによって、直
前に読み込んだフレーム属性ファイル１００２の行を再
び読み込まないように、次に読み込む行を１行進める。
但し、行のカウント値がファイルの最後の行を越えてい
る時には、循環的に最初の行を読むようにする。

【００６８】ステップ４０８）繰り返しの判断であ
り、生成した装置入力フレームが必要なフレーム数に達
していれば、繰り返しを終了する。ステップ４０９）フレーム番号の差分を調べるため
に、入力ＳＴＭフレームファイル１００５内のフレーム
番号をＮに格納する。

【００６９】ステップ４１０）図１２に示す入力フレ
ーム属性ファイル１００２から１行読み込み、処理装置
２００内部の一時記憶部２０７のＦに保持する。ステップ４１１）ステップ４１０で読み込んだ、入力
フレーム属性ファイル１００２のフレーム番号とＮの差
を処理装置２００内の一時記憶部２０７のＤに格納す
る。

【００７０】ステップ４１２）上記Ｆの内容に基づい
て、被試験装置６００へ入力する入力フレームを１フレ
ーム生成する。ステップ４１３）上記工程を所定の回数Ｄ回繰り返し
ていれば、処理を終了する。Ｄ＝１であれば、１回処理
しているので処理を終了する。

【００７１】ステップ４１４）繰り返しにより、直前
に読み込んだ行を再び読み込まないように、入力フレー
ム属性ファイル１００２の次に読み込む行を１行進め
る。但し、入力属性ファイル１００２の最後の行を越え
ている場合には、循環的に最初の行を読むようにする。

【００７２】ステップ４１５）繰り返しの判断であ
り、生成した装置入力フレームが必要なフレーム数に達
していれば、繰り返しを終了する。上記の被試験装置６００の入力フレーム（ＳＴＭフレー
ム）を１フレーム生成する処理であるＳＴＭフレーム生
成処理では、タイムスロット番号（ＴＳ番号）を１フレ
ーム分掃引し、タイムスロット（ＴＳ）番号１つに対し
て１オクテットを生成することによって、１フレーム分
の被試験装置６００への入力フレームを生成する。

【００７３】図１９は、本発明の第１の実施例のＳＴＭ
フレーム生成処理における１フレームデータの生成処理
のフローチャートである。このフローチャートに示す処
理は、上記の図１８に示すＳＴＭフレーム生成処理にお
いて、ステップ４０６及びステップ４１２の処理に該当
する。図１９のフローチャートでは、タイムスロット番
号（ＴＳ番号）を１フレーム分掃引し、ＴＳ番号１つの
対して１オクテットを生成することによって、１フレー
ム分の被試験装置入力フレームを生成し、入力ＳＴＭフ
レームファイル１００５を生成する。

【００７４】ステップ４０６１）まず、入力ＳＴＭフ
レームファイル生成部２０２は処理対象タイムスロット
番号を初期化する。ステップ４０６２）記憶装置１００内のワークメモリ
１０００のデータ構造ＣＴ（図１４）から各種設定値を
読み込み、処理装置２００内部の一時記憶部２０７のＴ
に保持する。

【００７５】ステップ４０６３）すでに処理装置２０
０内部に保持してある、フレーム属性ファイル１００２
の１行Ｆとタイムスロット毎の各種設定値Ｔとから１タ
イムスロット分のフレームデータ（１オクテット）を生
成し、記憶装置１００内の被試験装置入力ＳＴＭフレー
ムファイル１００５の末尾に追加する。図２０は、本発
明の第１の実施例の被試験装置入力ＳＴＭフレームファ
イルを示す図であり、各レコードは、１フレーム分のデ
ータ（オクテット）で構成される。

【００７６】ステップ４０６４）入力ＳＴＭフレーム
ファイル生成部２０２は、処理対象のタイムスロット番
号を１つ進める（インクリメントする）。ステップ４０６５）１フレーム分の全タイムスロット
が処理し終わったかどうか判断し、終わっていなけれ
ば、上記のステップ４０６２〜ステップ４０６４の処理
を繰り返す。

【００７７】上記のように、入力ＳＴＭフレームを生成
する場合には、ＳＴＭ設定表１００１を読み込み、その
構造から各タイムスロットのチャネル番号、ＡＴＭヘッ
ダの値、呼速度、そのチャネルを変換に用いるかどうか
の設定等を取り出し、次にこれらの値を別に用意したフ
レームペイロード生成関数に、タイムスロット番号順に
適用し、オクテットに変換する。その結果、１つのＳＴ
Ｍフレームが生成される。さらに、１つのＳＴＭフレー
ムを生成する作業を繰り返して必要なフレーム数だけ被
試験装置６００に与える入力ＳＴＭフレームを生成す
る。

【００７８】入力ＳＴＭフレームは、被試験装置６００
に与えるフレームの各タイムスロットの値の列であるの
で、ＳＴＭ設定表１００１の該当タイムスロットの変換
動作に用いるかどうかのフィールドに応じて値を決める
ことにすれば、変換動作に用いていないタイムスロット
に適切な既定値等を与えることによって、試験に適切な
フレームを生成できる。ＳＴＭ設定表１００１で与えき
れない内容としては、入力フレームの長さや、フレーム
間の構成等があるが、これらは、別のファイルで与え
る。

【００７９】従って、試験項目に合わせてＳＴＭ設定表
１００１を変更した場合には、再び入力フレームの作成
を設計からやり直さなくても、同じ手順によってＳＴＭ
設定表に基づいて再生成すればよい。１．１．３〈ＡＴＭセル生成処理〉次に、ＡＴＭセル生成処理について説明する。

【００８０】入力ＡＴＭセル列は、被試験装置６００に
ＡＴＭセルからＳＴＭフレームへの変換機能試験目的で
与えるためのＡＴＭセル列である。ＡＴＭセルは、ＡＴ
Ｍヘッダとペイロードによって構成される。入力ＡＴＭ
セル列は、被試験装置６００に予め与えてある変換の対
応付けの定義によって、各セルのＡＴＭヘッダの値とセ
ルの送出頻度が適切になるように作成しなければならな
い。ＳＴＭ設定表１００１では、各タイムスロットに対
応するＡＴＭヘッダの値や呼速度を記述してある。セル
の送出頻度は、呼速度に比例しており、一意的に決定で
きるので、ＳＴＭ設定表に基づいて入力セル列を生成す
る。

【００８１】図２１は、本発明の第１の実施例の入力Ａ
ＴＭセル生成処理のフローチャートである。ステップ５
０１）最初に、被試験装置６００に入力するためのＡ
ＴＭセルの生成を行う場合に、入力ＡＴＭセルファイル生成部２０
３は、図１０に示すＳＴＭ設定表１００１から１行読み
込み、処理装置２００内部の一時記憶部２０７に保持す
る。

【００８２】ステップ５０２）入力ＡＴＭセルファイ
ル生成部２０３は、読み込まれたＳＴＭ設定表１００１
の１行の内容を図１５に示す記憶装置１００内のチャネ
ル毎に整理した構造ＣＣに格納する。ステップ５０３）繰り返しによって、入力ＡＴＭセル
ファイル生成部２０３は、ＳＴＭ設定表１００１の直前
に読んだ行を再び読み込まないように、次に読み込む行
を１行進める（インクリメントする）。

【００８３】ステップ５０４）上記のステップ５０１
からステップ５０３を繰り返すことにより、ＳＴＭ設定
表１００１をチャネル毎に再構成したワークメモリ１０
００の構造ＣＣに格納し、格納した内容（図１５）を参
照して、被試験装置入力ＡＴＭセルを生成する。

【００８４】ステップ５０５）入力ＡＴＭセルファイ
ル生成部２０３は、生成するセルに順番を与えるための
番号を初期化する。この番号は生成したセルの個数を知
るためにも用いられる。ステップ５０６）図１１に示す第３の記憶部１０３に
格納されている被試験装置入力セル順序ファイル１００
３から１行読み込み、処理装置２００内部の一時記憶部
２０７に保持する。

【００８５】ステップ５０７）調歩空きセルの生成を
行う。セル列に適当な頻度で空きセルを挿入することに
よって、試験セルのセル入力頻度が一定値を越えないよ
うに、調整する。詳しくは、図２３で後述する。ステップ５０８）入力ＡＴＭセルファイル生成部２０
３は、ステップ５０６で入力ＡＴＭセルファイル生成部
２０３に読み込んだ被試験入力セル順序ファイル１００
３の内容に基づいて試験セル１セルのＡＴＭヘッダを生
成する。

【００８６】ステップ５０９）入力ＡＴＭセルファイ
ル生成部２０３は、ステップ５０６で入力ＡＴＭセルフ
ァイル生成部２０３に読み込んだ内容に基づいて、試験
セル１セルのペイロードを生成する。ステップ５１０）入力ＡＴＭセルファイル生成部２０
３は、ステップ５０８及びステップ５０９で生成じたＡ
ＴＭヘッダとペイロードを組み合わせて、試験セルと
し、これを、記憶装置１００内の被試験装置入力セルフ
ァイル１００６の末尾に追加する。図２２は、本発明の
第１の実施例の被試験装置入力ＡＴＭセルファイルのセ
ルを示す。

【００８７】ステップ５１１）繰り返しにより被試験
装置入力ＡＴＭセル順序ファイル１００３の直前に読ん
だ行を再び読み込まないように、次に読み込む行を１行
進める（インクリメントする）。但し、ファイルの最後
の行を越えている場合には、循環的に最初の行を読むよ
うにする。

【００８８】ステップ５１２）繰り返しの判断を行
う。生成した装置入力ＡＴＭセル必要なフレーム数に達
していれば、繰り返しを終了する。図２３は、本発明の
第１の実施例における調歩空きセルの挿入動作のフロー
チャートである。

【００８９】以下の処理は、図２１のフローチャートの
ステップ５０７に該当する。入力セル順序ファイル１０
０３に従って、生成されるセルを試験セルと呼ぶ。予め
決めた、全セルに対する試験セルの比率を予定濃度と呼
ぶ。また、これまでに生成したセルで全セルに対する試
験セルの比率を実質濃度と呼ぶ。

【００９０】ステップ５０７１）予定濃度が実質濃度
を下回っているかを判断する。下回っていない場合に
は、処理を終了する。ステップ５０７２）予定濃度が実質濃度を下回ってい
る場合には、空きセルを生成して、これを記憶装置１０
０内の被試験装置入力ＡＴＭセルファイル１００６の末
尾に追加する。

【００９１】ステップ５０７３）ステップ５０７１と
同様の処理を行い、予定濃度が実質濃度を上回っている
場合には、ステップ５０７２に移行する。なお、被試験装置入力ＡＴＭセルには、セルのチャネル
を表す情報やセルの順序を表す情報や、セルのペイロー
ドが必要であるが、これらは、ＡＴＭセル生成処理によ
り自動生成し、人手による操作を図１１に示す形式の被
試験装置入力セル順序ファイル１００３の変数だけに限
定したために、被試験装置入力ＡＴＭセルのチャネル毎
の入力頻度を返す際に必要な、セルの順序を表す情報の
整合やセルのペイロードの整合を行う必要がなく、結果
として誤りが混入しにくく作業効率が向上する。

【００９２】また、試験項目に合わせてＳＴＭ設定表の
変更を行った場合には、再び入力セル列の作成を設計か
らやり直さなくても、同じ手順によってＳＴＭ設定表に
基づいて再生成すればよい。１．１．４〈検査照合処理〉次に、検査照合処理について説明する。

【００９３】検査照合処理は、被試験装置６００から出
力された被試験装置出力ＡＴＭセルを被試験装置出力Ａ
ＴＭセル照合部２０５が期待値を用いて検査照合する。
また、被試験装置出力ＳＴＭフレームを被試験装置出力
ＳＴＭフレーム照合部２０６が期待値を用いて検査照合
する。

【００９４】図２４は、本発明の第１の実施例の検査照
合処理を示すフローチャートである。ステップ６０１）最初にＳＴＭ設定表１００１（図１
０）より１行読み込み、処理装置２００内の被試験装置
出力ＡＴＭセル照合部２０５、被試験装置出力ＳＴＭフ
レーム照合部２０６に入力する。

【００９５】ステップ６０２）処理装置２００は、各
種設定値をタイムスロット毎の構造を図１４に示すよう
に格納する。ステップ６０３）ステップ６０１で読み込んだ内容
（割り当てるタイムスロット番号、呼速度、ＡＴＭヘッ
ダ等）をチャネル毎に図１５に示すワークメモリ１００
０のＣＣに格納する。

【００９６】ステップ６０４）繰り返しにより、直前
に読んだ行を再び読み込まないように次に読み込む行を
１行進める（インクリメントする）。ステップ６０５）繰り返しの判断を行う。上記のステップ６０１からステップ６０４を繰り返すこ
とにより、ＳＴＭ設定表１００１をタイムスロット毎、
あるいは、チャネル毎に再編成した構造に格納し、格納
された内容を参照して、以下の被試験装置６００の出力
照合を行う。

【００９７】ステップ６０６）被試験装置出力ＡＴＭ
セル照合部２０５は、全チャネルの出力セルペイロード
期待値をチャネル毎に格納した構造ＥＣ（図２５）に格
納する。つまり、出力セルに含まれることが期待される
各チャネルのペイロードの期待値を記憶装置１００内の
ワークメモリ１０００にあるチャネル毎のデータ構造Ｅ
Ｃに格納する。詳細は、図３０に後述する。

【００９８】ステップ６０７）被試験装置出力ＳＴＭ
フレーム照合部２０６は、ワークメモリ１０００内の全
チャネルの出力フレームペイロードをチャネル毎に格納
する構造ＥＦ（図２６）に格納する。つまり、出力フレ
ームに含まれることが期待される各チャネルのペイロー
ドの期待値を記憶装置１００内にあるチャネル毎のデー
タ構造ＥＦに格納する。詳細は、図３２に後述する。

【００９９】ステップ６０８）被試験装置出力ＡＴＭ
セル照合部２０５は、装置出力セル検証・読み込みによ
り装置出力セルペイロードをチャネル毎に格納した構造
ＳＣ（図２７）に格納する。つまり、記憶装置１００内
の試験結果から、被試験装置６００が出力したＡＴＭセ
ルのペイロードを取り出し、チャネル番号で整理して記
憶装置１００内にあるチャネル毎のデータ構造に格納す
る。詳細は、図３４に後述する。

【０１００】ステップ６０９）被試験装置出力ＳＴＭ
フレーム照合部２０６は、被試験装置出力ＳＴＭフレー
ムファイル１００８より、被試験装置出力フレームを読
み込み、装置出力フレームペイロードをチャネル毎に格
納した構造ＳＦ（図２８）に格納する。つまり、記憶装
置１００内の試験結果である被試験装置出力ＳＴＭフレ
ームファイル１００８から被試験装置６００が出力した
ＳＴＭフレームペイロードを取り出し、チャネル番号で
整理して記憶装置１００内にあるチャネル毎のデータ構
造に格納する。詳細は、図３８に後述する。

【０１０１】ステップ６１０）被試験装置出力ＡＴＭ
セル照合部２０５は、記憶装置１００内の出力セルペイ
ロード期待値をチャネル毎に格納した構造（ＥＣ）（図
２５）及び、装置出力フレームペイロードをチャネル毎
に格納した構造（ＳＣ）（図２７）を比較し、結果（被
試験装置出力フレームのペイロードの検査結果）を記憶
装置１００内にある図２５に示すチャネル毎のデータ構
造ＲＣ（図２９）に格納する。被試験装置出力セルのペ
イロード検査結果（チャネル毎）構造データは、チャネ
ル番号、検査結果より構成される。詳細は、図４０に後
述する。

【０１０２】ステップ６１１）被試験装置出力ＳＴＭ
フレーム照合部２０６は、記憶装置１００内の全チャネ
ルの出力フレームペイロード期待値をチャネル毎に格納
した構造（ＥＦ）（図２６）と装置出力フレームペイロ
ードをチャネル毎に格納した構造（ＳＦ）（図２８）を
比較する。詳細は図４１に後述する。

【０１０３】図３０は、本発明の第１の実施例の全チャ
ネルのＥＣ生成処理のフローチャートである。同図は、
図２４のステップ６０６における被試験装置出力ＡＴＭ
セル照合部２０５の処理であり、出力セルペイロード期
待値をチャネル毎に格納した構造を生成する。

【０１０４】ステップ６０６１）被試験装置出力ＡＴ
Ｍセル照合部２０５は、図１２に示す入力フレーム属性
ファイル１００２から１行読み込み、処理装置２００内
部の一時記憶部２０７に保持する。ステップ６０６２）ステップ６０６１で読み込んだ、
入力フレーム属性ファイル１００２の内容に基づいて記
憶装置１００内のＥＣ（出力セルペイロード期待値をチ
ャネル毎に格納した構造（図２５））における各チャネ
ルのペイロードの末尾に、１フレームに相当する分のペ
イロードを追加する。詳細は、図３１に後述する。

【０１０５】ステップ６０６３）繰り返しにより直前
に読んだ入力フレーム属性ファイル１００２の行を再び
読み込まないように、次に読み込む行を１行進める。ステップ６０６４）ステップ６０６１からステップ６
０６３の繰り返しの判断を行う。図１２に示すフレーム
属性ファイル１００２を全て読み終わっていれば、処理
を終了する。

【０１０６】図３１は、本発明の第１の実施例の各チャ
ネルのＥＣに１フレーム分を追加する処理のフローチャ
ートである。以下に示す処理は図３０のステップ６０６
２の被試験装置出力ＡＴＭセル照合部２０５がワークメ
モリ１０００内の出力セルペイロード期待値をチャネル
毎に格納した構造ＥＣにペイロードを追加する処理であ
る。

【０１０７】ステップ６０６２１）処理対象タイムス
ロット番号を初期化する。ステップ６０６２２）記憶装置１００内の図１４に示
すデータ構造ＣＴ（被試験装置設定内容（タイムスロッ
ト毎）構造データ）から各種設定値を読み込み、処理装
置２００内の一時記憶部２０７のＴに保持する。

【０１０８】ステップ６０６２３）既に処理装置内部
に保持してあるフレーム属性ファイル１００２の１行分
の内容Ｆとタイムスロット毎の各種設定値Ｔとから１タ
イムスロット分のフレームデータ（１オクテット）を生
成し、処理装置２００内部の一時記憶部２０７のＯに保
持する。

【０１０９】ステップ６０６２４）被試験装置出力Ａ
ＴＭセル照合部２０５は、ＣＴ（被試験装置設定内容
（タイムスロット毎）構造データ）の該当タイムスロッ
ト番号の内容からチャネル番号を読み込み、処理装置２
００内部の一時記憶部２０７のＨに保持する。

【０１１０】ステップ６０６２５）被試験装置出力Ａ
ＴＭセル照合部２０５は、一時記憶部２０７に保持され
ているフレームデータＯをＥＣ（出力セルペイロード期
待値（チャネル毎）構造データ）のＨが示すチャネルの
内容の末尾に追加する。ステップ６０６２６）タイムスロット番号を１つイン
クリメントする。

【０１１１】ステップ６０６２７）ステップ６０６２
２からステップ６０６２６の処理の繰り返しの判断を行
う。１フレーム内の全てのタイムスロット番号に対して
処理が終了した場合には繰り返しを終了する。図３２は、本発明の第１の実施例の全チャネルＥＦ生成
処理のフローチャートである。以下に示すフローチャー
トは、図２４の被試験装置出力ＳＴＭフレーム照合部２
０６が実行するステップ６０７の詳細な処理を説明する
ものである。

【０１１２】ステップ６０７１）被試験装置出力ＳＴ
Ｍフレーム照合部２０６は、図１１に示す装置入力セル
順序ファイル１００３から１行読み込み、一時記憶部２
０７内のＣに保持する。ステップ６０７２）ステップ６０７１で読み込んだ内
容Ｃに基づいて、記憶装置１００内のワークメモリ１０
００のＥＦ（出力フレームペイロード期待値（チャネル
毎）構造データ）における各チャネルのペイロードの末
尾に１セル分のペイロードを追加する。詳細な追加処理
は、図３３に後述する。

【０１１３】ステップ６０７３）繰り返しによって、
入力セル順序ファイル１００３の直前に読んだ行を再び
読み込まないように、次に読み込む行を１行進める。ステップ６０７４）上記のステップ６０７１からステ
ップ６０７３までの繰り返しの判断を行う。入力セル順
序ファイル１００３を全て読み終わっていれば、処理を
終了する。

【０１１４】図３３は、本発明の第１の実施例の各チャ
ネルのＥＦに１セル分追加する処理のフローチャートで
ある。以下に示す処理は、図３２のステップ６０７２に
おいて被試験装置出力ＳＴＭフレーム照合部２０６がチ
ャネル毎に出力フレームペイロード期待値を１セル分追
加する処理である。

【０１１５】ステップ６０７２１）すでに処理装置２
００の一時記憶部２０７に保持されている入力セル順序
ファイル１００３の１行Ｃから１セル分のペイロードを
生成し、処理装置２００内部の一時記憶部２０７のＰに
保持する。ステップ６０７２２）被試験装置出力ＳＴＭフレーム
照合部２０６は、Ｃから該当セルのチャネル番号を生成
し、処理装置２００内部の一時記憶部２０７のＨに保持
する。

【０１１６】ステップ６０７２３）被試験装置出力Ｓ
ＴＭフレーム照合部２０６は、上記のＰをＥＦ（出力フ
レームペイロード期待値（チャネル毎）構造データ）の
Ｈが示すチャネルの内容の末尾に追加する。図３４は、本発明の第１の実施例の装置セル検証・読み
込み処理のフローチャートである。同図に示す処理は、
被試験装置出力ＡＴＭセル照合部２０５の図２４のステ
ップ６０８の全チャネルのＳＣ生成の処理に対応する詳
細な処理を示す。

【０１１７】ステップ６０８１）被試験装置６００Ａ
ＴＭセル照合部２０５は、記憶装置１００内のワークメ
モリ１０００内のチャネル毎のデータ構造ＡＣ（被試験
装置出力セルのＡＡＬヘッダ期待値（チャネル毎）構造
データ（図３５））の内容を消去する。図３５に示すＡ
Ｃは、チャネル番号毎にＡＡＬヘッダの期待値を有す
る。

【０１１８】ステップ６０８２）記憶装置１００内の
被試験装置出力セルファイル１００７から１セル読み込
み、処理装置２００内の一時記憶部２０７のＳに保持す
る。被試験装置出力セルファイル１００７は、図２２に
示す被試験装置入力セルファイル１００５と同様の構成
である。

【０１１９】ステップ６０８３）処理装置２００内の
一時記憶部２０７のＳからセルヘッダを抽出し、処理装
置２００内の一時記憶部２０７のＤに保持する。ステップ６０８４）ＤによってＳが空きセルであるか
どうかを判断する。空きセルであると判断された場合に
は、ステップ６０８９に移行する。

【０１２０】ステップ６０８５）Ｄからチャネル番号
を抽出し、処理装置２００内の一時記憶部２０７のＨに
保持する。ステップ６０８６）一時記憶部２０７のＳのＡＡＬヘ
ッダを検査し、記憶装置１００内のチャネル毎のデータ
構造ＡＣ（図３５）に結果を記録する。詳細な結果の記
録処理は、図３７に後述する。

【０１２１】ステップ６０８７）Ｓのペイロードを抽
出し、処理装置２００内の一時記憶部２０７のＰに保持
する。ステップ６０８８）記憶装置１００内のＳＣのＨが示
すチャネルの内容の末尾にＰを追加する。

【０１２２】ステップ６０８９）繰り返しによって、
第４の記憶部１０４の被試験装置出力ＡＴＭセル出力フ
ァイル１００７の直前に読み込んだセルを再び読み込ま
ないように、次に読み込むセルを１セル進める。ステップ６０９０）上記のステップ６０８２からステ
ップ６０８９までの繰り返しを判断する。記憶装置１０
０内の被試験装置出力ＡＴＭセルファイル１００７を全
て読み終わっていれば、繰り返しを終了する。

【０１２３】上記のステップ６０８６の処理を詳細に説
明する。図３７は、本発明の第１の実施例のＡＡＬヘッ
ダの検査処理のフローチャートである。同図中、説明に
用いられている各符号を説明する。ＳＡは、セルのＡＡ
Ｌヘッダであり、ＸＡは次のセルのＡＡＬヘッダの期待
値であり、図３５に示すＡＣは出力セルのＡＡＬヘッダ
の期待値をチャネル毎に格納した構造であり、ず３６に
示すＡＥは出力セルのＡＡＬヘッダのエラーをチャネル
毎に格納した構造を示す。

【０１２４】ステップ６０８６１）既に処理装置２０
０内に読み込んであるセルＡからセルのＡＡＬヘッダを
抽出し、処理装置２００の一時記憶部２０７のＳＡ（セ
ルのＡＡＬヘッダ）に保持する。ステップ６０８６２）記憶装置１００内のワークメモ
リ１０００のＡＣ（出力セルのＡＡＬヘッダの期待値を
チャネル毎に格納したデータ構造）に、既に処理装置２
００内に保持してあるＨが登録されていれば、ステップ
６０８６３に移行し、登録されていなければ、ステップ
６０８６７に移行する。

【０１２５】ステップ６０８６３）記憶装置１００内
のＡＣ（出力セルのＡＡＬヘッダの期待値をチャネル毎
に格納したデータ構造）のチャネルＨの内容が、既に処
理装置２００内に保持してあるＳＡ（セルのＡＡＬヘッ
ダ）に一致するならば、ステップ６０８６４に移行し、
一致しなければステップ６０８６５に移行する。

【０１２６】ステップ６０８６４）ＳＡの値とＣＣの
チャネルＨの値からＡＡＬヘッダのそのチャネルの次の
セルの期待値を計算し、処理装置２００内の一時記憶部
２０７のＸＡに保持する。ステップ６０８６５）ＡＣチャネルＨの内容をＸＡと
する。

【０１２７】ステップ６０８６６）ＥＡチャネルＨの
内容にエラーを記録する。ステップ６０８５７）ＡＣのチャネルＨの値とＳＡと
の不一致の状況に応じて、例えば、初期化する等の方法
で、ＳＡの値とのＣＣチャネルＨの値からＡＡＬヘッダ
のそのチャネルの次のセルの期待値を計算し、処理装置
２００内のＸＡに保持する。

【０１２８】ステップ６０８５８）ＳＡの値とＣＣの
チャネルＨの値からＡＡＬヘッダのそのチャネルの次の
セルの期待値を計算し、処理装置２００内のＸＡに保持
する。次に、図２４のステップ６０９の被試験装置出力ＳＴＭ
フレーム照合部２０６による被試験装置出力ＳＴＭフレ
ームファイル１００８の装置出力フレームの読み込み処
理について説明する。

【０１２９】図３８は、本発明の第１の実施例の出力フ
レームの読み込み処理のフローチャートである。ステップ６０９１）被試験装置出力ＳＴＭフレーム照
合部２０６は、タイムスロット番号（ＴＳ番号）を初期
化する。

【０１３０】ステップ６０９２）第８の記憶部１０８
の被試験装置出力ＳＴＭフレームファイル１００８から
１タイムスロットを読み込み、処理装置２００内の一時
記憶部２０７のＴに保持する。図２０は、本発明の第１
の実施例の装置出力フレームファイルの構成を示す。同
図に示す構成は、先に述べた装置入力ＳＴＭフレームフ
ァイル１００５と同様である。

【０１３１】ステップ６０９３）記憶装置１００内の
ワークメモリ１０００内の構造ＣＴの該当ＴＳ番号の内
容からチャネル番号を抽出し、処理装置２００内のＨに
保持する。ステップ６０９４）記憶装置１００内の構造ＳＦのチ
ャネルＨの内容の末尾に、Ｔを追加する。

【０１３２】ステップ６０９５）装置出力フレームフ
ァイル１００８から読み込む位置を１ＴＳ番号分進め
る。ステップ６０９６）ＴＳ番号をインクリメントする。ステップ６０９７）ＴＳ番号が範囲外になっていれ
ば、ステップ６０９８に移行し、範囲内であればステッ
プ６０９９に移行する。

【０１３３】ステップ６０９８）ＴＳ番号を初期化す
る。ステップ６０９９）記憶装置１００内の装置出力フレ
ームファイル１００８を読み終えていれば繰り返しの処
理を終了し、読み終えていなければ、ステップ６０９２
に移行する。

【０１３４】次に、図２４のステップ６１０の全チャネ
ルＥＣ（出力セルのペイロードの期待値をチャネル毎に
格納した構造）、ＳＣ（装置出力セルのペイロードをチ
ャネル毎に格納した構造）の比較処理について説明す
る。図３９は、本発明の第１の実施例の全チャネルＥＣ
・ＳＣの比較処理のフローチャートである。以下に示す
処理は被試験装置出力ＡＴＭセル照合部２０５により行
われる被試験装置６００により出力された被試験装置出
力ＡＴＭセルファイル１００７の内容の照合処理であ
る。

【０１３５】ステップ６１０１）被試験装置出力ＡＴ
Ｍセル照合部２０５は、処理対象のチャネル番号を初期
化する。ステップ６１０２）記憶装置１００内のワークメモリ
１０００のデータ構造ＳＣ（被試験装置出力ペイロード
をチャネル毎に格納した構造）に登録されていれば、以
降の処理を行い、登録されていなければ、ステップ６１
１２に移行する。

【０１３６】ステップ６１０３）被試験装置ＡＴＭセ
ル照合部２０５は、記憶装置１００内のデータ構造ＥＣ
から該当チャネルのセルペイロードの期待値を読み込
み、処理装置２００内のＣＥＣ（該当チャネルの出力の
ペイロードの期待値）に保持する。

【０１３７】ステップ６１０４）被試験装置ＡＴＭセ
ル照合部２０５は、記憶装置１００内のワークメモリ１
０００のデータ構造ＳＣ（装置出力セルのペイロードを
チャネル毎に格納した構造）から該当チャネルの被試験
装置出力セルのペイロード標本値を読み込み、処理装置
内のＣＳＣ（該当チャネルの装置出力セルのペイロー
ド）に保持する。

【０１３８】ステップ６１０５）処理装置２００内の
一時記憶部２０７のＣＳＣに保持された該当チャネルの
被試験装置出力セルのペイロード標本値から、先頭と末
尾の無音データ（０ｘ７Ｆ）の連続を削除する。ステップ６１０６）被試験装置ＡＴＭセル照合部２０
５は、ＣＳＣの長さを測定した測定値ＬＣＳＣを、処理
装置２００内の一時記憶部２０７のＬＣＳＣＬに保持す
る。

【０１３９】ステップ６１０７）被試験装置ＡＴＭセ
ル照合部２０５は、ＣＥＣの長さを測定した測定値ＬＣ
ＥＣを処理装置２００内の一時記憶部２０７のＬＣＥＣ
に保持する。ステップ６１０８）２＋ｉｎｔ（ＬＣＳＥ／ＬＣＥ
Ｃ）を計算して、処理装置２００内の一時記憶部２０７
のＮに保持する。

【０１４０】ステップ６１０９）ステップ６１０８に
おいて一時記憶部２０７に保持されているＣＥＣの内容
をＮ回分重複させて、再度一時記憶部２０７のＣＥＣに
格納する。ステップ６１１０）ＣＳＣとＣＥＣを比較する。つま
り、被試験装置出力セルのペイロードと期待値を比較す
る。

【０１４１】ステップ６１１１）ＣＳＣとＣＥＣの比
較結果を記憶装置１００内のＲＣの該当チャネルに格納
する。図４０は、本発明の第１の実施例のペイロードの比較方
法を説明するための図である。ａ…同図中のＣＥＣは、
ステップ６１０３を実行した後のＣＥＣの内容を表す。
ｂ…装置出力からステップ６１０４で得られるＣＳＣの
はじめの部分は、一般に無音データ（０ｘ７Ｆ）の連続
となっている。また、終わりの部分も無音データ（０ｘ
７Ｆ）の連続となっていることがある。これは、被試験
装置６００の機能の不備を示すものではないので、ステ
ップ６１０５において削除する。同図中のＣＳＣは、ス
テップ６１０５で得られるＣＳＣの内容を表す。装置入
力ＳＴＭフレームが繰り返されるとすると、同図中のＣ
ＳＣはＣＥＣの繰り返しとなるはずであるが、ＣＳＣの
始まり方は任意なので、同図のように、Ｎ回ＣＥＣを繰
り返して、それと、ＣＳＣを比較する。なお、ＣＥＣの
長さをＬＣＥＣ，ＣＳＣの長さをＬＣＳＣと表す。ここ
で、Ｎは、Ｎ＝２＋ｉｎｔ（ＬＣＳＣ／ＬＣＥＣ）であ
る。

【０１４２】ステップ６１１２）チャネル番号を１つ
増加させる。ステップ６１１３）繰り返しの条件判断を行う。全チ
ャネルに渡って処理が終了していれば、繰り返し処理を
終了する。全チャネルに渡って処理が終了していなけれ
ば、ステップ６１０２からステップ６１１２の処理を繰
り返す。

【０１４３】次に、図２４のステップ６１１の全チャネ
ルＥＦ・ＳＦ比較処理について説明する。図４１は、本
発明の第１の実施例の全チャネルＥＦ・ＳＦ比較処理の
フローチャートである。以下に示す処理は、被試験装置
出力ＳＴＭフレーム照合部２０６により、被試験装置６
００により出力された被試験装置出力ＳＴＭフレームフ
ァイル１００８の照合処理である。

【０１４４】ステップ６１１０１）被試験装置出力Ｓ
ＴＭフレーム照合部２０６は、処理対象チャネル番号を
初期化する。ステップ６１１０２）記憶装置１００内のデータ構造
ＳＦ（被試験装置６００のＳＴＭフレーム出力ペイロー
ドをチャネル毎に格納した構造）に登録されていれば、
以下の処理を行い、登録されていなければ、ステップ６
１１１２以降の処理を行う。

【０１４５】ステップ６１１０３）記憶装置１００内
のデータ構造ＥＦ（出力フレームペイロードの期待値を
チャネル毎に格納した構造）から該当チャネルのＳＴＭ
フレームペイロードの期待値を読み込み、処理装置２０
０内のＣＥＦ（該当チャネルの出力フレームのペイロー
ドの期待値）に保持する。

【０１４６】ステップ６１１０４）記憶装置１００内
のデータ構造ＳＦ（装置出力フレームのペイロードをチ
ャネル毎に格納した構造）から該当チャネルの被試験装
置出力ＳＴＭフレームのペイロード標本値を読み込み、
処理装置２００内のＣＳＦ（該当チャネルの装置出力フ
レームのペイロード）に保持する。ステップ６１１０５）処理装置２００内の一時記憶部
２０７のＣＳＦに保持された該当チャネルの被試験装置
出力ＳＴＭフレームのペイロード標本値から、先頭と末
尾の無音データ（０ｘ７Ｆ）の連続を削除する。

【０１４７】ステップ６１１０６）ＣＳＦの長さを測
定した測定値ＬＣＳＦを処理装置２００内の一時記憶部
２０７のＬＣＳＦに格納する。ステップ６１１０７）ＣＥＦの長さを測定した測定値
ＬＣＥＦを処理装置２００内の一時記憶部２０７のＬＣ
ＥＦに格納する。

【０１４８】ステップ６１１０８）２＋ｉｎｔ（ＬＣ
ＳＥ／ＬＣＥＣ）を計算して、処理装置２００内のＮに
保持する。ステップ６１１０９）ＣＥＦの内容をＮ回重複させ
て、再び処理装置２００の一時記憶部２０７のＣＥＦに
格納する。

【０１４９】ステップ６１１１０）ＣＳＦと重複され
たＣＥＦを比較する。ステップ６１１１１）ＣＳＦとＣＥＦの比較結果を図
４２に示す記憶装置１００内のワークメモリ１０００内
の被試験装置出力フレームのペイロード検査結果（チャ
ネル毎）構造データＲＦの該当チャネルに格納する。ペ
イロードの比較方法は、セルペイロードについて説明し
た図４０と同様である。

【０１５０】ステップ６１１１２）チャネル番号をイ
ンクリメントする。ステップ６１１１３）全チャネルに渡って処理が終了
していれば、繰り返しを終了し、全チャネルに渡って処
理が終了していなければ、ステップ６１１０２からステ
ップ６１１１２の処理を繰り返す。

【０１５１】このように、被試験装置６００により出力
された被試験装置出力ＡＴＭセルファイル１００７の内
容を、被試験装置出力ＡＴＭセル照合部２０５により期
待値と比較することにより一致したか、否かを判定す
る。また、被試験装置６００により出力された被試験装
置６００ＳＴＭフレームファイル１００８の内容と期待
値を被試験装置出力ＳＴＭフレーム照合部２０６により
比較する。

【０１５２】２．［第２の実施例］次に、本発明の第２の実施例を説明する。上記の第１の
実施例では、ＳＴＭ設定表１００１の作成をパラメタに
よって、自動化している。複数のタイムスロットを組み
合わせてチャネルを構成する場合には、組み合わせる複
数のタイムスロットの設定を整合させる必要がある。Ｓ
ＴＭ設定表は、多くの試験の場合、呼速度とそのチャネ
ルをいくつ設定するかのみが重要であり、それ以外の情
報は任意に決めてよいことに着目し、本実施例では、パ
ラメタを与えることによって、ＳＴＭ設定表を生成する
機能を備えている。

【０１５３】図４３、図４４は、本発明の第２の実施例
のシステム関係図である。同図中、図７、図８と同一構
成部分には、同一符号を付し、その説明を省略する。第
１の実施例の図７と図８に加えられた構成は、ＳＴＭ設
定パラメタファイル１０１１、第１１の記憶部１１１及
び、ＳＴＭ設定表生成部２０９である。図４５は、本発
明の第２の実施例のＳＴＭ設定パラメタファイル１０１
１の構成を示す。ＳＴＭ設定パラメタファイル１０１１
は、チャネル番号、呼速度、チャネル属性により構成さ
れる。

【０１５４】このＳＴＭ設定パラメタファイル１０１１
を用いてＳＴＭ設定表生成部２０９がＳＴＭ設定表を生
成することにより、複数のタイムスロットの設定の整合
性を維持するための手数が削減できる。以下、図４６に
基づいて、ＳＴＭ設定表生成部２０９の処理を説明す
る。

【０１５５】図４７は、本発明の第２の実施例のパラメ
タ化ＳＴＭ設定表生成部２０９の処理のフローチャート
である。ステップ７０１）ＳＴＭ設定表生成部２０９は、ＳＴ
Ｍ設定パラメタファイル１０１１を読み込み、図４８に
示す一時記憶部２０７の構造ＮＣにチャネル番号毎に格
納し、図４９に示す一時記憶部２０７の構造ＰＣ（チャ
ネル固有のその他のパラレタ（例えば、データ区切りを
どのように示すか等））にチャネル番号毎に格納する。

【０１５６】ステップ７０２）パラメタ化ＳＴＭ設定
表生成部２０９は、次に、タイムスロット番号を初期化
する。初期値として、タイムスロット番号ＴＳ＝１と
し、第１１の記憶部１１１のＴＱに格納する。ステップ７０３）一時的に格納された一時記憶部２０
７の当該ＮＣから内容を１つ取り出し、これを一時的
に、一時記憶部２０７のＮ（呼速度）に格納する。Ｎの
内容は、呼速度であるから自然数の値である。さらに、
同じチャネルの構造ＰＣに格納された内容を１つ取り出
し、これを一時的に一時記憶部２０７にＰとして格納す
る。

【０１５７】ステップ７０４）タイムスロット順序番
号を図５０に示すタイムスロット順序番号からタイムス
ロット番号順序表ＴＴの対応によって生成し、これを一
時的にＴＳとして一時記憶部２０７内に格納する。一時
記憶部２０７に一時的に記憶されているＴＱに格納され
ているタイムスロット順序番号の大きさを値１だけ増加
させて、ＴＱに再格納する。図５０に示すタイムスロッ
ト番号順序表は左側にはタイムスロット順序番号として
の整数が１から昇順に格納されている。例えば、ＳＴＭ
１フレームの場合には、タイムスロット順序番号として
１から２０１６までの整数が昇順に格納されている。右
側には、タイムスロット順序番号と対応付けてＣＣＩＴ
Ｔ勧告書の規定等によってペイロードとして使用できる
有限個のタイムスロットの番号としての１以上の整数
が、昇順に格納されている。例えば、ＳＴＭ１フレーム
の場合には、２４３０個のタイムスロットのうち、ＳＴ
Ｍの規定等によってペイロードとして使用できる２０１
６個のタイムスロットの番号としての整数が昇順に登録
されている。

【０１５８】ステップ７０５）一時記憶部２０７内の
Ｎ及びＰに格納されている内容と結合させて、ＳＴＭ設
定表の１行を構成する。これをＴＳに格納されている値
をタイムスロット番号としてタイムスロット毎の構造Ｃ
Ｔに格納する。ステップ７０６）Ｎが２以上であれば、その回数だけ
上記のステップ７０４とステップ７０５の処理を繰り返
す。

【０１５９】ステップ７０７）ステップ７０２からス
テップ７０６の処理を一時記憶部２０７内の構造ＮＣ，
ＰＣに含まれる全てのチャネルに対して繰り返す。ステップ７０８）タイムスロット毎の構造ＣＴを図１
０に示すＳＴＭ設定表１００１の形式のＳＴＭ設定ファ
イル（ＳＴＭ設定表）１００１に出力する。

【０１６０】ステップ７０９）ＣＴに含まれる全ての
タイムスロットの対してステップ７０８の処理を繰り返
す。３．［第３の実施例］次に、本発明の第３の実施例を説明する。

【０１６１】本実施例は、前述の第１の実施例の図１０
のＳＴＭ設定表の形式を図５１に示す形式に変更し、図
１３に示すフローチャートを図５４に示すように変更し
たものである。本実施例では、ＳＴＭ設定表を図５１に
示すように複数組の状態の呼設定を用意しておき、チャ
ネル毎に呼設定の状態を変更することとする。

【０１６２】図５２、図５３は、本発明の第３の実施例
のシステム関係図である。ＳＴＭ設定表状態管理部２０
８は、図１０に示すＳＴＭ設定表１００１を出力するも
ので、被試験装置６００に通話中の設定をしてあるチャ
ネルのみに関するＳＴＭ設定表であって、前述の第１の
実施例における入力ＳＴＭフレームファイル生成部２０
２や入力ＡＴＭセルファイル生成部２０３にそのまま与
えることができるため、ＳＴＭフレーム生成処理ＡＴＭ
セル生成処理及び検査照合処理において、そのまま使用
することが可能である。

【０１６３】また、矛盾する状態の変更を設定した場合
には、ＳＴＭ設定表状態管理部２０８によって状態遷移
と被試験装置設定ファイル１００４の生成が抑制され
る。呼設定を変更する場合、典型的な変更であれば、図
５１に示す形式のＳＴＭ設定表の通話設定の状態を書き
換えるだけであるので、ＳＴＭ設定表の変更箇所を必要
最小限とすることができる。その結果、異なる状態のチ
ャネルを１つのＳＴＭ設定表で管理できるため、データ
管理の手数と設定を変更する手数を削減し、作業上の誤
りを減少させることができる。

【０１６４】次に、処理装置２００のＳＴＭ設定表状態
管理部２０８の動作を以下に説明する。ＳＴＭ設定表状
態管理部２０８は、図５１に示す形式のＳＴＭ設定表１
００１を読み込んで、図５５に示す形式のタイムスロッ
ト毎の構造ＣＴに格納し、状態遷移内容の矛盾を検査す
る。矛盾のある部分は、注意を促す記述を加え、矛盾の
ない部分は設定に合わせて変更を加えた図５１に示す形
式のＳＴＭ設定表ファイル１００１（ＳＴＭ設定表）を
出力する。また、状態遷移記述に従って、図１６に示す
形式の被試験装置設定ファイル１００４を出力する。さ
らに、その時点で被試験装置６００が作動している設定
内容に則して、図１０に示す形式の（第１の実施例の）
ＳＴＭ設定表ファイル１００１を出力する。

【０１６５】図５４は、本発明の第３の実施例のＳＴＭ
設定表状態管理部の処理のフローチャートである。ステップ８０１）図５１に示す形式のＳＴＭ設定表を
読み込んで、図５６に示す形式のタイムスロット毎の構
造ＣＴに格納する。また、図５６に示す形式のチャネル
毎のタイムスロット番号の構造ＣＬ１及びＣＬ２に、チ
ャネル毎にそのチャンスを構成するタイムスロット番号
を格納する。本実施例では、ＣＬ１には１セット目の呼
設定内容での、そのチャネルを構成するタイムスロット
番号を、本実施例では、ＣＬ２には２セット目の呼設定
内容での、そのチャネルを構成するタイムスロット番号
を、それぞれ格納する。

【０１６６】ステップ８０２）図５５に示す形式のタ
イムスロット毎の構造ＣＴから、本ステップで処理して
いないタイムスロットの１つのタイムスロットに相当す
る設定内容を取り出し、１セット目の設定内容を一時的
にワークメモリ１０００のＳ１に、２セット目の設定内
容を一時的にワークメモリ１０００のＳ２に、状態遷移
のフィールドをワークメモリ１０００のＳＴに格納す
る。また、エラーメッセージを格納するためのワークメ
モリ１０００のＥＭを空にする。

【０１６７】ステップ８０３）ＳＴの内容に従って、
現在の状態と遷移先の状態を解釈し、現在の状態を一時
的なワークメモリＳＡに、遷移先の状態を一時的なワー
クメモリＳＢにそれぞれ格納する。本実施例における解
釈の方法を図５７に示す。解釈できない状態遷移の表記
はエラーである。『タイムスロット《タイムスロット番
号》で、遷移できない記述をしています。』というメッ
セージをワークメモリ１０００のＥＭに記憶する。

【０１６８】ステップ８０４）状態遷移の矛盾の検出
を行う。設定は、タイムスロット単位ではなく、チャネ
ル単位で切り替えなければならないため、複数のタイム
スロットで１つのチャネルを構成する場合、構成するタ
イムスロット間で状態に矛盾があることは許されない。
ここで、現在の状態と、遷移先の状態の組合せに従っ
て、図５６に示す形式のＣＬ１もしくはＣＬ２から、そ
のタイムスロットが属するチャネルを構成する他のタイ
ムスロット番号の系列を取り出し、ワークメモリＣＬに
格納しておき、ＣＬに格納された系列に含まれるタイム
スロット番号の１つのタイムスロットに相当する設定内
容を図５５に示す形式のタイムスロット毎の構造ＣＴか
ら取り出し、相互に矛盾の検出を行う。本実施例におけ
る現在の状態と遷移先の状態の組合せに対してＣＬの取
り出し先をＣＬ１とするか、ＣＬ２とするかの選択表を
図５８に示す。同図において、例えば、現在の状態が
［０］であり、遷移先の状態が［３：ＣＤＦ１］である
とき、ＣＬ２よりＣＬを取り出すことを示す。

【０１６９】ステップ８０５）ＣＴのすべての要素に
対して上記のステップ８０２〜ステップ８０４の処理を
繰り返す。ステップ８０６）ステップ８０４で矛盾やエラーを検
出しなかった要素に対して被試験装置設定ファイル１０
０４への出力を行う。その際、状態に合わせて、ＣＬ１
もしくは、ＣＬ２でそのタイムスロットと共にチャネル
を構成する他のタイムスロットに対しても一括して被試
験装置６００への設定内容を生成し、図１６に示す被試
験装置設定ファイル１００４に出力する。図５９は、本
発明の第３の実施例の状態遷移と被試験装置６００への
設定内容の関係を示す図である。なお、エラーや矛盾が
検出された状態遷移に関しては、図１６に示す被試験装
置設定ファイル１００４に何も出力しない。

【０１７０】ステップ８０７）ＣＴの全ての要素に対
してステップ８０６の処理を繰り返す。ステップ８０８）ステップ８０４で矛盾やエラーを検
出しなかった要素に対して状態遷移を行う。図５５に示
す形式のタイムスロット毎の構造ＣＴから、１つのタイ
ムスロットに相当する設定内容を取り出して、状態遷移
のフィールドの記述に基づいて状態遷移を行う。図５７
に、本実施例が従う状態遷移のフィールドの記述と状態
遷移の関係を示す。図５７に従って、遷移した状態名を
現在の状態として状態遷移のフィールドを書き換えて、
図５５に示す形式のタイムスロット毎の構造ＣＴに再格
納する。なお、エラーや矛盾が検出されているものは、
状態遷移を行わずに、即ち、状態遷移のフィールドを書
換えないで、図５５に示す形式のタイムスロット毎の構
造ＣＴに再格納する。

【０１７１】ステップ８０９）ＣＴの全ての要素に対
してステップ８０８の処理を繰り返す。ステップ８１０）図５５に示す形式のタイムスロット
毎の構造ＣＴを図５１に示す形式のＳＴＭ設定表ファイ
ル１００１に出力する。出力されるＳＴＭ設定表ファイ
ル１００１は、状態遷移フィールドの記述が遷移先の状
態の置き換えられているので、さらに、状態遷移を行な
いたい場合には、現在状態を書き込む手間を省くことが
できるものとなっている。

【０１７２】ステップ８１１）前述の第１の実施例の
図１０に示した形式のＳＴＭ設定表１００１を出力す
る。図５５に示す形式のタイムスロット毎の構造ＣＴか
ら、１つのタイムスロットに相当する設定内容を取り出
し、図６０に示すように、状態遷移のフィールドの記述
に基づいて、現在の状態が［１：ＣＤＳ］または、
［４：ＣＤＳ１］であれば、それに合わせて、現在の状
態が［１：ＣＤＳ］であれば、１セットの設定内容を、
現在の状態が［４：ＣＤＳ１］であれば、２セット目の
設定内容を、それぞれ第１の実施例の図１０に示した形
式のＳＴＭ設定表１００１に出力する。

【０１７３】上記の図５４に示すフローチャートにおい
てステップ８０４における設定内容の矛盾の検出処理に
ついて説明する。矛盾を検出する際に、あるタイムスロ
ットに関して遷移先の状態が省略されていた時には、そ
のタイムスロットと共にチャネルを構成するチャネルの
状態に従って、状態遷移することにしてあるため、多く
のタイムスロットからなるチャネルであっても、そのう
ちの１つのタイムスロットを状態遷移させるだけで、整
合性のある状態遷移を実現することができる。矛盾やエ
ラーを検出しなかった場合には、そのまま、図５５に示
す形式のタイムスロット毎の構造ＣＴに再格納し、矛盾
やエラーを検出した場合には、設定内容に注意を促す記
述を加えて、図５５に示す形式のタイムスロット毎の構
造ＣＴに再格納する。図６１に、矛盾やエラーを検出し
た場合に、設定内容に加えられる注意を促す記述の例を
示す。

【０１７４】図６２は、本発明の第３の実施例の設定内
容の矛盾検出処理を説明するためのフローチャートであ
る。ステップ８０４１）ＣＬに格納されたタイムスロット
の系列からタイムスロットを１つ取り出して、一時的に
一時記憶部２０７のＴ１に格納する。

【０１７５】ステップ８０４２）ＣＴに格納されたタ
イムスロット毎の設定内容から、ＴＩに格納されたタイ
ムスロットに対応するものを取り出し、状態遷移フィー
ルドの内容をＳＩに格納する。ステップ８０４３）ＳＩの内容に従って、現在の状態
と遷移先の状態を解釈し、現在の状態を一時記憶部２０
７のＩＡに、遷移先の状態を一時記憶部２０７のＩＢに
それぞれ格納する。この実施例における解釈の方法につ
いては図５７を参照されたい。

【０１７６】ステップ８０４４）一時記憶部２０７の
ＩＡとＳＡを比較する。等しくない場合には、ステップ
８０４５に移行し、等しい場合にはステップ８０４６に
移行する。ステップ８０４５）『現在状態の設定が矛盾していま
す』というエラーメッセージを一時記憶部２０７ＥＭの
現在の内容の後に格納し、ステップ８０４８に移行す
る。

【０１７７】ステップ８０４６）一時記憶部２０７Ｉ
Ｂの内容を検査する。ＩＢが空だった場合には、ステッ
プ８０４８に移行し、ＩＢの内容がそれ以外であった場
合には、ステップ８０４７に移行する。ステップ８０４７）『遷移先状態の設定が矛盾してい
ます。』というエラーメッセージをワークメモリ１００
０のＥＭの現在の内容の後に格納する。

【０１７８】ステップ８０４８）ＣＬに格納された全
てのタイムスロット番号に対して処理が終わるまでステ
ップ８０４１からステップ８０４７の処理を繰り返す。ステップ８０４９）一時記憶部２０７のＥＭが空だっ
た場合には、ステップ８０５０に移行する。空でなかっ
た場合には、ステップ８０５０に移行する。

【０１７９】ステップ８０５０）状態遷移を行う。図
５５に示す形式のタイムスロット毎の構造ＣＴの状態遷
移のフィールドをＳＢの内容に基づいて書き換える。ステップ８０５１）ＣＬに格納された全てのタイムス
ロット番号に対して処理が終わるまで、ステップ８０５
０の処理を繰り返す。

【０１８０】ステップ８０５２）エラーメッセージの
書込みを行う。図５５に示す形式のタイムスロット毎の
ＣＴの状態遷移のフィールドに一時記憶部２０７のＥＭ
の内容を書き加える。ステップ８０５３）ＣＬに格納されたすべてのタイム
スロット番号に対して処理が終わるまで、ステップ８０
５２の処理を繰り返す。

【０１８１】４．［第４の実施例］次に、本発明の第４の実施例を説明する。図６３、図６
４は、本発明の第４の実施例のシステム関係図である。
本実施例では、前述の第１の実施例における入力セル順
序ファイル１００３を入力セル順序ファイル生成部２１
０によって、自動的に作成するものである。入力セル順
序ファイル生成部２１０は、ＳＴＭ設定表１００１に記
された各チャネルの呼速度に比例する数のセルをチャネ
ル毎に均等に分散させたセル列順序ファイル１００３を
得ることができる。入力セル順序ファイル生成部２１０
により自動生成された入力セル順序ファイル１００３
は、正常な比率を生成することができるので、このファ
イルに適当な編集を加えることによって、入力ＡＴＭセ
ルファイル１００６に正常な場合からの変動を容易に加
えることができる。そのため、入力ＡＴＭセルが正常な
比率から変動した条件での被試験装置６００の動作を試
験するための入力ＡＴＭセルファイルの作成が容易とな
る。

【０１８２】図６５は、本発明の第４の実施例の入力セ
ル順序ファイル生成処理のフローチャートである。ステップ９０１）前述の第１の実施例の図１０に示し
た形式のＳＴＭ設定表１００１を読み込み、図１５に示
す形式のタイムスロット毎の構造ＣＣに格納する。

【０１８３】ステップ９０２）図１５に示す形式のタ
イムスロット毎の構造ＣＣから全てのチャネルの呼速度
の値を加算していき、合計値を計算し、これを一時記憶
部２０７のＭに格納する。ステップ９０３）図１１に示す形式の入力セル順序フ
ァイル１００３に出力したセル属性数の総数を初期化す
る。値を１としてこれを一時記憶部２０７のＬに格納す
る。

【０１８４】ステップ９０４）図１１に示す形式の入
力セル順序ファイル１００３に出力したセル属性数をチ
ャネル番号毎に記録しておく構造ＣＤの初期化を行う。
ＣＣに属しているすべてのチャネルをＣＤにも登録し、
すべての要素の値を０とする。図６６は、本発明の第４
の実施例のチャネル毎の既出力セル数を記録する構造Ｃ
Ｄを示す。

【０１８５】ステップ９０５）入力セル順序ファイル
生成部２１０のセルチャネル番号選択部は、セル属性と
なるチャネル番号を選択する。詳細は、図６７に後述す
る。ステップ９０６）ステップ９０５で選択したチャネル
番号をセル属性として図１１に示す形式の入力セル順序
ファイル１００３に１セル分の属性を出力する。

【０１８６】ステップ９０７）図６６に示すワークメ
モリ１００内の形式の構造ＣＤの要素を更新する。出力
したセル属性のチャネル番号に対応する構造ＣＤの内容
を値１だけ増加させる。ステップ９０８）図１１に示す形式の入力セル順序フ
ァイル１００３に出力したセル属性数の総数を更新す
る。一時記憶部２０７のＬの値をインクリメントする。

【０１８７】ステップ９０９）一時記憶部２０７のＬ
の値がＭを越えていないければ、ステップ９０５、９０
６、９０７、９０８の処理を繰り返して実行する。上記のステップ９０５のチャネル番号選択部の処理を説
明する。図６７は、本発明の第４の実施例のチャネル番
号選択処理のフローチャートである。

【０１８８】ステップ９０５１）作業変数を初期化す
る。値（−１）をＤに格納する。ステップ９０５２）作業変数を初期化する。値（−
１）をＣに格納する。ステップ９０５３）ＣＣに属する未処理のチャネル番
号を選んでその値をｉに格納する。

【０１８９】ステップ９０５４）

【０１９０】

【数１】を計算して、その値をＸに格納する。ここで、ＣＤ
（ｉ）は構造ＣＤのチャネル番号ｉに格納されている
値、Ｎ（ｉ）は、構造ＣＣのチャネル番号ｉに格納され
ている値を意味する。

【０１９１】ステップ９０５５）条件分岐である。Ｘ
の値がＤの値よりも大きければ、以下ステップ９０５
６、ステップ９０５７を省略して、ステップ９０５８に
移行する。ステップ９０５６）Ｘの値をＤに格納する。

【０１９２】ステップ９０５７）チャネル番号ｉの値
をＣに格納する。ステップ９０５８）チャネル番号ｉに格納されている
値に対応するチャネルを処理済みとする。ステップ９０５９）ＣＣに属する未処理のチャネル番
号を選択することができなければ繰り返しを終了する。
選択することができた場合には、ステップ９０５３から
ステップ９０５８を繰り返す。

【０１９３】ステップ９０６０）上記のステップでＣ
に格納されている値をチャネル番号として選択する。なお、上記の実施例では、一時的に格納する場合に、各
処理装置２００内の記憶機能を持たせて、一時記憶部と
して中間的に現れる値を格納しているが、この例に限定
されることなく、記憶装置１００内のワークエリアを用
いて行ってもよい。

【０１９４】なお、本発明は、上記の実施例に限定され
ることなく、特許請求の範囲内において種々変更・応用
が可能である。

【０１９５】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、典型的な
試験データの設計と生成とに伴う人為的なミスが減少
し、作業日数が削減される。さらに、被試験装置が行う
試験項目が複雑になっても試験に要する時間があまり増
大しないため、従来に比べて多くの試験項目を実施し、
問題点を探し出すことが可能となる。

【０１９６】また、本発明の方法によれば、被試験装置
の正常動作が保証される試験データが生成されるが、イ
ンタフェースとなっているファイルを独立に操作するこ
とができるため、異常動作の試験も行うことが可能であ
る。そのため、正常なデータを加えた場合の動作試験に
引続き、異常なデータを加えた場合の動作試験に速やか
に移行することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の原理を説明するためのフローチ
ャートである。

【図２】本発明の第２の原理を説明するためのフローチ
ャートである。

【図３】本発明の第３の原理を説明するためのフローチ
ャートである。

【図４】本発明の第４の原理を説明するためのフローチ
ャートである。

【図５】本発明の第１の実施例の機能試験装置のシステ
ム構成図である。

【図６】本発明の第１の実施例の記憶装置に格納される
内容を示す図である。

【図７】本発明の第１の実施例のシステム関係図（その
１）である。

【図８】本発明の第１の実施例のシステム関係図（その
２）である。

【図９】本発明の第１の実施例の概要動作を示すフロー
チャートである。

【図１０】本発明の第１の実施例のＳＴＭ設定表の構成
図である。

【図１１】本発明の第１の実施例の入力セル順序ファイ
ルの構成図である。

【図１２】本発明の第１の実施例の入力フレーム属性フ
ァイルの構成図である。

【図１３】本発明の第１の実施例のデータ変換設定処理
のフローチャートである。

【図１４】本発明の第１の実施例の被試験装置の設定内
容を示す図である。

【図１５】本発明の第１の実施例の被試験装置の設定内
容を示す図である。

【図１６】本発明の第１の実施例の被試験装置設定ファ
イルの構成図である。

【図１７】本発明の第１の実施例の被試験装置設定ファ
イルの生成処理のフローチャートである。

【図１８】本発明の第１の実施例のＳＴＭフレーム生成
処理のフローチャートである。

【図１９】本発明の第１の実施例のＳＴＭフレーム生成
処理における１フレームデータの生成処理のフローチャ
ートである。

【図２０】本発明の第１の実施例の被試験装置入力ＳＴ
Ｍフレームファイルを示す図である。

【図２１】本発明の第１の実施例の入力ＡＴＭセル生成
処理のフローチャートである。

【図２２】本発明の第１の実施例の被試験装置入力ＡＴ
Ｍセルファイルを示す図である。

【図２３】本発明の第１の実施例における調歩空きセル
の挿入動作のフローチャートである。

【図２４】本発明の第１の実施例の検査照合処理を示す
フローチャートである。

【図２５】本発明の第１の実施例の出力ペイロード期待
値（チャネル毎）構造データを示す図である。

【図２６】本発明の第１の実施例の出力フレームペイロ
ード期待値（チャネル毎）構造データを示す図である。

【図２７】本発明の第１の実施例の被試験装置出力セル
ペイロード（チャネル毎）構造データを示す図である。

【図２８】本発明の第１の実施例の被試験装置出力ペイ
ロード（チャネル毎）構造データを示す図である。

【図２９】本発明の第１の実施例の被試験装置出力セル
のペイロード検査結果（チャネル毎）構造データを示す
図である。

【図３０】本発明の第１の実施例の全チャネルのＥＣ生
成処理のフローチャートである。

【図３１】本発明の第１の実施例の各チャネルのＥＣに
１フレーム分を追加する処理のフローチャートである。

【図３２】本発明の第１の実施例の全チャネルＥＦ生成
処理のフローチャートである。

【図３３】本発明の第１の実施例の各チャネルのＥＦに
１セル分追加する処理のフローチャートである。

【図３４】本発明の第１の実施例の装置セル検証・読み
込み処理のフローチャートである。

【図３５】本発明の第１の実施例の被試験装置出力セル
のＡＡＬヘッダ期待値（チャネル毎）構造データを示す
図である。

【図３６】本発明の第１の実施例の被試験装置出力セル
のＡＡＬヘッダエラー（チャネル毎）構造データを示す
図である。

【図３７】本発明の第１の実施例のＡＡＬヘッダ検査処
理のフローチャートである。

【図３８】本発明の第１の実施例の装置出力フレーム読
み込み処理のフローチャートである。

【図３９】本発明の第１の実施例の全チャネルＥＣ・Ｓ
Ｃの比較処理のフローチャートである。

【図４０】本発明の第１の実施例のペイロードの比較方
法を説明するための図である。

【図４１】本発明の第１の実施例の全チャネルＥＦ・Ｓ
Ｆ比較処理のフローチャートである。

【図４２】本発明の第１の実施例の被試験装置出力フレ
ームのペイロード検査結果（チャネル毎）構造データを
示す図である。

【図４３】本発明の第２の実施例のシステム関係図（そ
の１）である。

【図４４】本発明の第２の実施例のシステム関係図（そ
の２）である。

【図４５】本発明の第２の実施例のＳＴＭ設定表パラメ
ータファイルの構成図である。

【図４６】本発明の第２の実施例のＳＴＭ設定表生成部
の動作を説明するための図である。

【図４７】本発明の第２の実施例のＳＴＭ設定表生成部
の処理のフローチャートである。

【図４８】本発明の第２の実施例の呼速度をチャネル番
号毎に格納した構造ＮＣを示す図である。

【図４９】本発明の第２の実施例の属性をチャネル番号
毎に格納した構造ＰＣを示す図である。

【図５０】本発明の第２の実施例のタイムスロット番号
順序表を示す図である。

【図５１】本発明の第３の実施例のＳＴＭ設定表の形式
を示す図である。

【図５２】本発明の第３の実施例のシステム関係図（そ
の１）である。

【図５３】本発明の第３の実施例のシステム関係図（そ
の２）である。

【図５４】本発明の第３の実施例のＳＴＭ設定表状態管
理部の処理フローチャートである。

【図５５】本発明の第３の実施例のタイムスロット毎の
構造ＣＴ（状態つき）を示す図である。

【図５６】本発明の第３の実施例のチャネル毎のタイム
スロット構造を示す図である。

【図５７】本発明の第３の実施例の状態遷移の解釈を示
す図である。

【図５８】本発明の第３の実施例のチャネル毎の構成タ
イムスロット格納構造読出し決定を示す図である。

【図５９】本発明の第３の実施例の状態遷移と被試験装
置への設定内容の関係を示す図である。

【図６０】本発明の第３の実施例の状態遷移図である。

【図６１】本発明の第３の実施例のＳＴＭ設定状態管理
部での矛盾やエラー検出のメッセージの例を示す図であ
る。

【図６２】本発明の第３の実施例の設定内容の矛盾検出
処理を説明するためのフローチャートである。

【図６３】本発明の第４の実施例のシステム関係図（そ
の１）である。

【図６４】本発明の第４の実施例のシステム関係図（そ
の２）である。

【図６５】本発明の第４の実施例の入力セル順序ファイ
ル生成処理のフローチャートである。

【図６６】本発明の第４の実施例のチャネル毎の既出力
セル数を記録する構造を示す図である。

【図６７】本発明の第４の実施例のチャネル番号選択処
理のフローチャートである。

【図６８】従来の試験手順を示すフローチャートであ
る。

【符号の説明】

１００記憶装置１０１第１の記憶部１０２第２の記憶部１０３第３の記憶部１０４第４の記憶部１０５第５の記憶部１０６第６の記憶部１０７第７の記憶部１０８第８の記憶部１０９第９の記憶部１１０第１０の記憶部１１１第１１の記憶部１１４第１２の記憶部１１５第１３の記憶部１２０信号記録部２００処理装置２０１被試験装置設定ファイル生成部２０２入力ＳＴＭフレームファイル生成部２０３入力ＡＴＭセルファイル生成部２０４信号生成部２０５被試験装置出力ＡＴＭセル照合部２０６被試験装置出力ＳＴＭフレーム照合部２０７一時記憶部２０８ＳＴＭ設定表状態管理部２０９ＳＴＭ設定表生成部３００操作装置４００入力装置５００出力装置６００被試験装置１００１ＳＴＭ設定表１００２入力フレーム属性ファイル１００３入力セル順序ファイル１００４被試験装置設定ファイル１００５入力ＳＴＭフレームファイル１００６入力ＡＴＭフレームファイル１００７被試験装置出力ＡＴＭセルファイル１００８被試験装置出力ＳＴＭフレームファイル１００９変換機能（フレームからセルへ）試験結果１０１０変換機能（セルからフレームへ）試験結果１０１１ＳＴＭ設定パラメータファイル１０２０ＳＴＭ設定管理表１０３０設定矛盾

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04L 12/56 400

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】同期転送型フレームと非同期転送型フレ
ームを相互変換する装置の試験を行う際に、被試験装置
を試験する物理的な信号を生成し、試験により該被試験
装置が生成する物理的な信号を検査するフレーム変換装
置の機能試験方法であって、前記被試験装置が同期転送型フレームと非同期転送型フ
レームをどのように相互変換するかを該同期転送型フレ
ームのタイムスロット番号で区分された第１の表形式Ｔ
でタイムスロット毎に記述する第１のステップと、前記第１の表形式Ｔに基づいて前記同期転送型フレーム
と前記非同期転送型フレームをどのように相互変換する
かの形態を前記被試験装置に与える信号を生成する第２
のステップと、前記第１の表形式Ｔと前記被試験装置に入力する試料フ
レームの構造の特徴をフレーム番号に対して表示した第
２の表形式Ｆに基づいて、前記被試験装置に与える同期
転送型フレームの信号を生成する第３のステップと、前記第１の表形式Ｔと前記被試験装置に入力する試料セ
ルの入力順序を非同期転送型フレームヘッダと１対１に
対応するパラメタによって表した第３の表形式Ｃに基づ
いて、前記被試験装置に与える非同期転送型フレームの
信号を生成する第４のステップと、試験により前記被試験装置が生成する非同期転送型のフ
レームの信号を前記第１の表形式Ｔと前記第２の表形式
Ｆに基づいて検査照合する第５のステップと、試験により前記被試験装置が生成する同期転送型のフレ
ームの信号を前記第１の表形式Ｔと前記第３の表形式Ｃ
に基づいて検査照合する第６のステップよりなることを
特徴とするフレーム変換装置機能試験方法。
【請求項２】前記第１のステップを実行する前に、前記被試験装置がまとめて変換する同期転送型フレーム
のいくつかのタイムスロットを集合とし、該集合に番号
を付与し、該番号毎に前記被試験装置が同期転送型フレ
ームと非同期転送型フレームをどのように相互変換する
かを前記第４の表形式Ｓに記述しておき、前記第４の表形式Ｓから前記第１の表形式を生成する処
理を行う請求項１記載のフレーム変換装置機能試験方
法。
【請求項３】前記第１、第２のステップの処理を省略
し、前記第３のステップを実行する前に、前記第１の表形式Ｔによる設定を行った第１の内容Ｔ１
と別の設定を行う第２の内容Ｔ２のいずれか一方の内容
を有効とするか、または両方の内容とも無効にするかの
選択を前記同期転送型フレームのタイムスロット番号で
区分された第５の表形式Ｕでタイムスロット毎に記述し
ておき、前記第５の表形式Ｕに基づいて、前記第５の表形式Ｕの
中の記述の矛盾を検出し、検出された前記矛盾を訂正して、前記第５の表形式Ｕ’
を再構成し、再構成された前記第５の表形式Ｕ’に基づいて前記同期
転送型フレームと前記非同期転送型フレームの相互変換
形式を前記被試験装置に与える信号を生成し、前記再構成された前記第５の表形式Ｕ’に基づいて前記
被試験装置に現在設定されている設定内容を前記第１の
表形式で生成する処理を行う請求項１記載のフレーム変
換装置機能試験方法。
【請求項４】前記第４のステップを行う前に、前記第１の表形式Ｔに基づいて、非同期転送型フレーム
信号のパケットヘッダ表を生成する請求項１記載のフレ
ーム変換装置機能試験方法。
【請求項５】同期転送型フレームと非同期転送型フレ
ームを相互変換する装置の試験を行う物理的な信号を生
成し、該装置が生成する物理的な信号を検査するフレー
ム変換装置の機能試験装置において、被試験装置毎に一意に決定される同期転送型フレームと
非同期転送型フレームの相互変換データをタイムスロッ
ト毎に設定された第１の変換設定表を生成する変換設定
データ生成手段と、前記第１の変換設定表に基づいて同期転送型フレームと
非同期転送型フレームをどのように相互変換するかの情
報に従って、形前記被試験装置に与える試験データを生
成する試験データ生成手段と、前記試験データ生成手段により生成された前記試験デー
タを前記被試験装置に入力し、試験を行う試験実行手段
と、前記試験実行手段により実行された試験結果と、期待値
とを照合する照合手段を有することを特徴とするフレー
ム変換装置の機能試験装置。
【請求項６】前記第１の変換設定表は、前記タイムスロット毎に付与されるタイムスロット番号
と、該タイムスロット番号を列方向とし、各行に前記タ
イムスロットに与えた設定内容とを有する請求項６記載
のフレーム変換装置の機能試験装置。
【請求項７】前記変換設定データ生成手段は、前記被試験装置がまとめて変換する同期転送型フレーム
にいくつかのタイムスロットを集合とし、該集合毎に番
号を付与し、該番号毎に前記被試験装置がどのように相
互変換するかをパラメタ与えて第２の変換設定表を記述
するパラメタ化変換設定表生成手段と、前記パラメタ化変換設定表生成手段により生成された前
記第２の変換設定表の情報から前記第１の変換設定表を
生成する第２の変換設定データ生成手段とを有する請求
項５記載のフレーム変換装置の機能試験装置。
【請求項８】前記変換設定データ生成手段は、前記第１の変換設定表の設定を行う第１の内容と、該第
１の内容と別の設定を行う第２の内容とを有し、該第１
の内容と該第２の内容のいずれを有効するか、どちらも
無効とするかの選択情報により前記同期転送型フレーム
のタイムスロット番号で区分された状態管理表を生成す
る状態管理表生成手段と、前記状態管理表の矛盾を検出し、該矛盾を訂正して、訂
正済状態管理表を生成する矛盾訂正手段と、前記矛盾訂正手段により訂正された前記訂正済状態管理
表に基づいて前記第１の変換設定表を生成する第３の変
換設定データ生成手段とを有し、前記試験データ生成手段は、前記訂正済状態管理表に基づいて、前記被試験装置に現
在設定されている設定内容を前記第１の変換設定表を用
いて生成する手段を有する請求項５記載のフレーム変換
装置の機能試験装置。
【請求項９】前記試験データ生成手段は、前記第１の変換設定表と前記被試験装置に入力する試料
フレームの構造の特徴をフレーム番号に対応する表に基
づいて前記同期転送型フレームの信号を生成する同期転
送型フレーム生成手段と、前記第１の変換設定表と前記被試験装置に入力する試料
セルの入力順序を非同期転送型フレームヘッダと１対１
に対応するパラメタによって表された表に基づいて、前
記非同期転送型フレーム信号を生成する非同期転送型フ
レーム生成手段とを有する請求項５記載のフレーム変換
装置の機能試験装置。
【請求項１０】前記非同期転送型フレーム生成手段
は、前記第１の変換設定表に記述されている各チャネルの呼
速度に比例する数のセルをチャネル毎に均等に分散され
た入力セルの前記被試験装置への入力順序情報を生成す
る順序情報生成手段と、前記順序情報生成手段に基づいて、前記非同期転送型フ
レーム信号を生成する第２の非同期転送型フレーム信号
生成手段とを含む請求項９記載のフレーム変換装置の機
能試験装置。