JP3407473B2 - Cathode ray tube controller - Google Patents

Cathode ray tube controller

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JP3407473B2
JP3407473B2 JP11692395A JP11692395A JP3407473B2 JP 3407473 B2 JP3407473 B2 JP 3407473B2 JP 11692395 A JP11692395 A JP 11692395A JP 11692395 A JP11692395 A JP 11692395A JP 3407473 B2 JP3407473 B2 JP 3407473B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は陰極線管の走査電子ビー
ムの2次元的位置を検出し、画像の幾何学歪およびコン
バーゼンスの補正を行う陰極線管制御装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a cathode ray tube control device for detecting a two-dimensional position of a scanning electron beam of a cathode ray tube and correcting geometrical distortion and convergence of an image.

【0002】[0002]

【従来の技術】陰極線管の映し出す画像の有する幾何学
歪みやコンバーゼンス歪み等の各種幾何学歪補正を自動
的に行うために、陰極線管の走査電子ビームの2次元的
位置を検出し検出結果から幾何学歪補正を行うようなフ
ィードバックループを構成した陰極線管制御装置が特公
平1−48553号公報で提案されている。
2. Description of the Related Art In order to automatically correct various geometric distortions such as geometric distortion and convergence distortion of an image projected by a cathode ray tube, the two-dimensional position of the scanning electron beam of the cathode ray tube is detected and the detected result is detected. Japanese Patent Publication No. 1-48553 proposes a cathode ray tube control device having a feedback loop configured to correct geometric distortion.

【0003】図14に従来の陰極線管制御装置のブロッ
ク図をしめす。図14において、符号1は陰極線管の蛍
光面、2は陰極線管のシャドウマスク、3はシャドウマ
スク上に塗布されたインデックス蛍光体、4は陰極線管
のネック部に取り付けられ陰極線管の電子ビームを走査
する偏向/コンバーゼンスヨーク、100は走査電子ビ
ームの2次元的位置を検出する検出手段である。
FIG. 14 shows a block diagram of a conventional cathode ray tube control device. In FIG. 14, reference numeral 1 is a phosphor screen of a cathode ray tube, 2 is a shadow mask of the cathode ray tube, 3 is an index phosphor coated on the shadow mask, 4 is an electron beam of the cathode ray tube attached to a neck portion of the cathode ray tube. A scanning deflection / convergence yoke 100 is a detection means for detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam.

【0004】検出手段100において、101はインデ
ックス蛍光体3が発した光を光電変換する光電変換回
路、102は光電変換回路101が出力した電気信号を
増幅する増幅回路、103は増幅回路102が出力した
電気信号を二値化して検出パルスにする2値化回路、1
04は前記検出パルスの間隔を測り電圧に変換(Time-V
oltage変換)するT−V変換回路、105はT−V変換
回路104が変換した電圧をA/D変換するA/D変換
回路である。また、300は後述するメモリ400より
幾何学歪補正データ401を受取り、補正波形を生成し
偏向/コンバーゼンスヨーク4に出力することによって
陰極線管の幾何学歪みを補正する幾何学歪補正回路、4
00は陰極線管の映し出す画像の位置に応じた幾何学歪
補正データ401を2次元配列として記憶するメモリ、
600は検出手段100が走査電子ビームの2次元的位
置を検出する際にインデックス蛍光体3に走査電子ビー
ムを当てるために用いるテストパターンを発生させる検
出用信号発生回路、700は検出用信号発生回路600
の出力か後述する映像信号処理回路800の出力のいず
れか一方を選択し出力する切り替え回路である。
In the detection means 100, 101 is a photoelectric conversion circuit for photoelectrically converting the light emitted from the index phosphor 3, 102 is an amplification circuit for amplifying the electric signal output by the photoelectric conversion circuit 101, and 103 is an output for the amplification circuit 102. A binarization circuit that binarizes the generated electric signal into a detection pulse, 1
04 measures the interval of the detection pulse and converts it into a voltage (Time-V
A TV conversion circuit for performing an oltage conversion), and an A / D conversion circuit 105 for A / D converting the voltage converted by the TV conversion circuit 104. A geometric distortion correction circuit 300 receives geometric distortion correction data 401 from a memory 400, which will be described later, generates a correction waveform and outputs it to the deflection / convergence yoke 4 to correct the geometric distortion of the cathode ray tube.
00 is a memory for storing the geometric distortion correction data 401 corresponding to the position of the image projected by the cathode ray tube as a two-dimensional array,
Reference numeral 600 is a detection signal generation circuit for generating a test pattern used for applying the scanning electron beam to the index phosphor 3 when the detection means 100 detects the two-dimensional position of the scanning electron beam, and 700 is a detection signal generation circuit. 600
Or the output of the video signal processing circuit 800 to be described later.

【0005】800は陰極線管に映し出す画像を処理す
る映像信号処理回路である。また、200は検出手段1
00の出力したデジタル信号より、メモリ400に記憶
される幾何学歪み補正データ401を求め、また切り替
え回路700を制御する演算・制御回路である。
Reference numeral 800 is a video signal processing circuit for processing the image displayed on the cathode ray tube. Further, 200 is the detection means 1
This is an arithmetic / control circuit that obtains the geometric distortion correction data 401 stored in the memory 400 from the digital signal output from 00 and controls the switching circuit 700.

【0006】以上のように構成された従来の陰極線管制
御装置において、図15を用いてその動作を説明する。
The operation of the conventional cathode ray tube control device configured as described above will be described with reference to FIG.

【0007】図15(a)は図14におけるシャドウマ
スク2上に塗布されたインデックス蛍光体3を蛍光面1
側から見たときの配列図である。また、図15(b)は
図15(a)図の拡大図である。
In FIG. 15A, the index phosphor 3 applied on the shadow mask 2 in FIG.
It is an array diagram when it sees from the side. 15 (b) is an enlarged view of FIG. 15 (a).

【0008】電子ビームの2次元的位置を検出する際、
図15(b)の様にインデックス蛍光体3に検出用信号
発生回路600より出力したテストパターン10を陰極
線管に映出する。
When detecting the two-dimensional position of the electron beam,
As shown in FIG. 15B, the test pattern 10 output from the detection signal generating circuit 600 is displayed on the index fluorescent body 3 on the cathode ray tube.

【0009】インデックス蛍光体3にテストパターンが
当たることにより光または紫外線が発生し、光電変換回
路101により電気信号に変換され図15(c)の様な
検出信号が得られる。
When the index phosphor 3 is exposed to the test pattern, light or ultraviolet rays are generated and converted into an electric signal by the photoelectric conversion circuit 101 to obtain a detection signal as shown in FIG. 15 (c).

【0010】前記検出信号は増幅回路102により増幅
され2値化回路103に入力される。2値化回路103
では図15(c)の参照符号39で示したしきい値電圧
より2値化処理を行い、図15(d)で示した検出パル
スを発生する。
The detection signal is amplified by the amplifier circuit 102 and input to the binarization circuit 103. Binarization circuit 103
Then, binarization processing is performed from the threshold voltage indicated by reference numeral 39 in FIG. 15C to generate the detection pulse shown in FIG. 15D.

【0011】一方、前記テストパターン10は図15
(e)で示したタイミングで発生されている。したがっ
て、電子ビームの2次元的位置の検出は図15(d)の
thを測ることで水平方向の検出が可能であり、tvを
測ることで垂直方向の検出が可能である。
On the other hand, the test pattern 10 is shown in FIG.
It is generated at the timing shown in (e). Therefore, the two-dimensional position of the electron beam can be detected in the horizontal direction by measuring th in FIG. 15D, and can be detected in the vertical direction by measuring tv.

【0012】T−V変換回路104は前記th、tvを
測った結果を電圧として出力する。上記動作をthを例
に説明する。図15(d)、図15(e)で示したパル
スより図15(f)で示すパルスを作成する。図15
(f)のパルスが入力されている間図示はしてないがコ
ンデンサに定電流を流す事によって、前記コンデンサの
電圧は図15(g)の様に変化する。したがって図15
(g)のvhがT−V変換後の出力となる。
The TV conversion circuit 104 outputs the result obtained by measuring the th and tv as a voltage. The above operation will be described by taking th as an example. The pulse shown in FIG. 15 (f) is created from the pulse shown in FIG. 15 (d) and FIG. 15 (e). Figure 15
Although not shown in the figure while the pulse (f) is being input, the voltage of the capacitor changes as shown in FIG. 15 (g) by passing a constant current through the capacitor. Therefore, FIG.
The vh in (g) becomes the output after TV conversion.

【0013】tvのT−V変換も同様にして得られる。
前記T−V変換回路104の出力する電圧はA/D変換
回路105によりデジタル信号に変換され、演算制御回
路200に与えられる。
The TV conversion of tv can be similarly obtained.
The voltage output from the TV conversion circuit 104 is converted into a digital signal by the A / D conversion circuit 105 and given to the arithmetic control circuit 200.

【0014】演算制御回路200は、上記で説明したよ
うに走査電子ビームの2次元的位置を検出した結果を用
いて所定の検出結果になるように幾何学歪補正データ4
01を作成し、幾何学歪補正回路300に出力する。
The arithmetic control circuit 200 uses the result of detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam as described above to obtain the geometric distortion correction data 4 so as to obtain a predetermined detection result.
01 is generated and output to the geometric distortion correction circuit 300.

【0015】以上説明したように従来の陰極線管制御装
置において陰極線管の幾何学歪みの自動補正が行われ
る。
As described above, in the conventional cathode ray tube controller, the geometrical distortion of the cathode ray tube is automatically corrected.

【0016】一方、陰極線管の映し出す画像の有する輝
度ムラは陰極線管の輝度のユニフォミティとしてしられ
ている。前記輝度のユニフォミティは全白の画像を陰極
線管に映し出したときに最も顕著に確認出来る。前記輝
度のユニフォミティが均一になるように補正するために
映像信号処理回路に輝度変調回路を追加し、映像信号の
輝度レベルを変調する方法が一般に知られている。放送
局やプロダクション等に用いられる映像信号監視用のモ
ニター等に搭載されている陰極線管制御装置のように陰
極線管に映し出す画像の忠実度が高いレベルで要求され
ている陰極線管制御装置には多くの場合上記したような
輝度変調回路が使われている。
On the other hand, the uneven brightness of the image projected by the cathode ray tube is known as the uniformity of the brightness of the cathode ray tube. The uniformity of the brightness can be confirmed most noticeably when an all-white image is displayed on the cathode ray tube. A method is generally known in which a luminance modulation circuit is added to a video signal processing circuit in order to correct the luminance uniformity so that the luminance level of the video signal is modulated. There are many cathode ray tube control devices that require a high level of fidelity of the image projected on the cathode ray tube, such as the cathode ray tube control devices that are installed in monitors for video signals used in broadcasting stations and production. In this case, the brightness modulation circuit as described above is used.

【0017】しかしながら前記輝度変調回路は単に陰極
線管の輝度のユニフォミティの補正にのみ用いられ、前
記幾何学歪みの自動補正における性能を向上する目的に
用いられてなかった。
However, the brightness modulation circuit is used only for correcting the uniformity of the brightness of the cathode ray tube, and has not been used for the purpose of improving the performance in the automatic correction of the geometrical distortion.

【0018】[0018]

【発明が解決しようとする課題】陰極線管の映し出す画
像の補正を高精度に行うには映し出す領域内のどこでで
も安定した電子ビームの2次元的位置の検出が出来なく
てはならない。
In order to accurately correct the image projected by the cathode ray tube, it is necessary to be able to detect the stable two-dimensional position of the electron beam anywhere in the projected region.

【0019】しかしながら従来例の構成では検出器の感
度バラツキや入射角に対するユニフォミティ特性、また
シャドウマスクに塗布されたインデックス蛍光体の塗ム
ラ等の要因により、画面上のある点では安定に検出パル
スが得られても他の点では安定した検出パルスが得られ
るとはかぎらずその結果陰極線管の映し出す領域内のど
こでも安定した電子ビームの2次元的位置の検出を行う
のは非常に困難であるという問題点があった。
However, in the configuration of the conventional example, the detection pulse is stably detected at a certain point on the screen due to factors such as variations in the sensitivity of the detector, uniformity characteristics with respect to the incident angle, and uneven coating of the index phosphor coated on the shadow mask. Even if it is obtained, it is not always possible to obtain a stable detection pulse at other points, and as a result it is very difficult to detect a stable two-dimensional position of the electron beam anywhere in the area of the cathode ray tube. There was a problem.

【0020】また、検出の安定しない部分に特定の検出
器を割り当てる等、検出器を増やす方法が従来用いられ
ていたが検出器が増えた分コストが上昇し、各検出器の
バランス調整の手間もかかるという問題点があった。
Further, a method of increasing the number of detectors, such as assigning a specific detector to a part where the detection is not stable, has been conventionally used, but the cost increases due to the increase in the number of detectors, and the balance adjustment of each detector is troublesome. There was a problem that it took too long.

【0021】本発明はかかる点に鑑み、陰極線管の映し
出す領域内のどこでも安定した電子ビームの2次元的位
置の検出をする陰極線管制御装置を提供する事すること
を目的とする。
In view of the above point, an object of the present invention is to provide a cathode ray tube control device for detecting a stable two-dimensional position of an electron beam anywhere in a region where a cathode ray tube is projected.

【0022】また、本発明は、検出器の数が少なくても
陰極線管の映し出す領域内のどこでも安定した電子ビー
ムの2次元的位置の検出をする陰極線管制御装置を提供
することを目的とする。
It is another object of the present invention to provide a cathode ray tube control device capable of detecting a stable two-dimensional position of an electron beam anywhere in the area of the cathode ray tube where the number of detectors is small. .

【0023】[0023]

【問題点を解決するための手段】請求項1記載の発明は
陰極線管制御装置において、陰極線管の映し出す画像の
幾何学歪(コンバーゼンスを含む)を検出するためのイ
ンデックス蛍光体をシャドウマスク上に有する陰極線管
と、前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線か
ら走査電子ビームの2次元的位置を検出する検出手段
と、前記陰極線管の幾何学歪を補正する幾何学歪補正回
路と、前記検出手段が前記2次元位置の検出を行う際に
用いるテストパターンを後述するテスト信号輝度データ
により輝度変調し発生する輝度可変検出用信号発生回路
と、 1.前記テストパターンの画面位置における輝度情報を
示したテスト信号輝度データ 2.前記幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ を記憶するメモリとを備え、前記検出手段が前記2次元
位置の検出を行うときは前記メモリのテスト信号輝度デ
ータにより前記輝度可変検出用信号発生回路を駆動し、
前記検出手段が前記2次元位置の検出を行った結果より
前記メモリの幾何学歪補正データを作成し幾何学歪補正
データより前記幾何学歪補正回路を駆動する事で上記課
題を解決したものである。
According to a first aspect of the present invention, in a cathode ray tube controller, an index phosphor for detecting geometrical distortion (including convergence) of an image projected by the cathode ray tube is provided on a shadow mask. A cathode ray tube having the same, a detecting means for detecting a two-dimensional position of a scanning electron beam from light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor, a geometric distortion correcting circuit for correcting geometric distortion of the cathode ray tube, and the detecting means. 1. A luminance variable detection signal generating circuit for generating a luminance by modulating a test pattern used for detecting the two-dimensional position by using test signal luminance data described later, and 1. 1. Test signal brightness data indicating brightness information at the screen position of the test pattern A memory for storing geometric distortion correction data for correcting the geometric distortion, and when the detecting means detects the two-dimensional position, the luminance variable detection signal generation is performed by the test signal luminance data of the memory. Drive the circuit,
The above problem can be solved by creating geometric distortion correction data of the memory from the result of the detection means detecting the two-dimensional position and driving the geometric distortion correction circuit from the geometric distortion correction data. is there.

【0024】また、請求項2記載の発明は陰極線管制御
装置において、陰極線管の映し出す画像の幾何学歪(コ
ンバーゼンスを含む)を検出するためのインデックス蛍
光体をシャドウマスク上に有する陰極線管と、前記イン
デックス蛍光体の発する光または紫外線から走査電子ビ
ームの2次元的位置を検出する検出手段と、前記検出手
段が前記2次元位置の検出を行う際に用いるテストパタ
ーンを発生させる検出用信号発生回路と、前記陰極線管
の輝度のユニフォミティ補正をする輝度変調回路と、前
記陰極線管の幾何学歪を補正する幾何学歪補正回路と、 1.前記輝度のユニフォミティ補正のためのユニフォミ
ティ補正データ 2.前記テストパターンの画面位置における輝度情報を
示したテスト信号輝度データ 3.前記幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ を記憶するメモリとを備え、通常は前記メモリのユニフ
ォミティ補正データより前記輝度変調回路を駆動させる
が、前記検出手段が前記2次元位置の検出を行うときは
前記メモリのテスト信号輝度データにより前記輝度変調
回路を駆動し、前記検出手段が前記2次元位置の検出を
行った結果より前記メモリの幾何学歪補正データを作成
し幾何学歪補正データより前記幾何学歪補正回路を駆動
する事で上記課題を解決したものである。
According to a second aspect of the present invention, in the cathode ray tube control device, a cathode ray tube having an index phosphor for detecting geometrical distortion (including convergence) of an image projected by the cathode ray tube on a shadow mask, Detecting means for detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam from the light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor, and a detection signal generating circuit for generating a test pattern used when the detecting means detects the two-dimensional position. A brightness modulation circuit for correcting uniformity of the brightness of the cathode ray tube; and a geometric distortion correction circuit for correcting geometric distortion of the cathode ray tube. Uniformity correction data for uniformity correction of the luminance 2. 2. Test signal brightness data indicating brightness information at the screen position of the test pattern A memory for storing geometric distortion correction data for the geometric distortion correction is provided, and the brightness modulation circuit is normally driven by the uniformity correction data of the memory, but the detection means detects the two-dimensional position. When performing, the brightness modulation circuit is driven by the test signal brightness data of the memory, and the geometric distortion correction data of the memory is created from the result of the detection unit detecting the two-dimensional position. The above problem is solved by driving the geometric distortion correction circuit.

【0025】また、請求項3記載の発明は陰極線管制御
装置において、陰極線管の映し出す画像の幾何学歪(コ
ンバーゼンスを含む)を検出するためのインデックス蛍
光体をシャドウマスク上に有する陰極線管と、前記イン
デックス蛍光体の発する光または紫外線から走査電子ビ
ームの2次元的位置を検出する検出手段と、前記検出手
段は前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線を
光電変換する光電変換回路と、前記光電変換回路の出力
を後述するしきい値電圧データより2値化処理するしき
い値可変2値化回路とを備え、前記検出手段が前記2次
元位置の検出を行う際に用いるテストパターンを発生さ
せる検出用信号発生回路と、前記陰極線管の幾何学歪を
補正する幾何学歪補正回路と、 1.前記2値化回路のしきい値電圧を画面位置ごとに表
わしたしきい値電圧データ 2.前記幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ を記憶するメモリとを備え、前記しきい値可変2値化回
路は前記しきい値電圧データから前記光電変換回路の出
力を2値化し、前記検出手段が前記2次元位置の検出を
行った結果より前記メモリの幾何学歪補正データを作成
し幾何学歪補正データより前記幾何学歪補正回路を駆動
する事で上記課題を解決したものである。
According to a third aspect of the present invention, in the cathode ray tube control device, a cathode ray tube having an index phosphor for detecting a geometric distortion (including convergence) of an image projected by the cathode ray tube on a shadow mask, Detecting means for detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam from the light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor; a photoelectric conversion circuit for photoelectrically converting the light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor by the detecting means; A threshold variable binarization circuit for binarizing the output of the circuit from threshold voltage data described later, and detecting for generating a test pattern used when the detecting means detects the two-dimensional position Signal generation circuit, and a geometric distortion correction circuit for correcting the geometric distortion of the cathode ray tube; 1. Threshold voltage data representing the threshold voltage of the binarization circuit for each screen position. A memory for storing geometric distortion correction data for geometric distortion correction, wherein the threshold variable binarization circuit binarizes the output of the photoelectric conversion circuit from the threshold voltage data, The problem is solved by creating geometric distortion correction data of the memory from the result of the detection means detecting the two-dimensional position and driving the geometric distortion correction circuit from the geometric distortion correction data. .

【0026】また、請求項4記載の発明は陰極線管制御
装置において、陰極線管の映し出す画像の幾何学歪(コ
ンバーゼンスを含む)を検出するためのインデックス蛍
光体をシャドウマスク上に有する陰極線管と、前記イン
デックス蛍光体の発する光または紫外線から走査電子ビ
ームの2次元的位置を検出する検出手段と、前記検出手
段は前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線を
光電変換する光電変換回路と、前記光電変換回路の出力
を可変増幅する可変増幅回路とを備え、前記検出手段が
前記2次元位置の検出を行う際に用いるテストパターン
を発生させる検出用信号発生回路と、前記陰極線管の幾
何学歪を補正する幾何学歪補正回路と、 1.前記可変増幅回路の利得を画面位置ごとに表わした
利得データ 2.前記幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ を記憶するメモリとを備え、前記可変増幅回路は前記利
得データに応じて前記光電変換回路の出力を増幅し、前
記検出手段が前記2次元位置の検出を行った結果より前
記メモリの幾何学歪補正データを作成し幾何学歪補正デ
ータより前記幾何学歪補正回路を駆動する事で上記課題
を解決したものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the cathode ray tube controller, a cathode ray tube having an index phosphor for detecting a geometric distortion (including convergence) of an image projected by the cathode ray tube on a shadow mask, Detecting means for detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam from the light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor; a photoelectric conversion circuit for photoelectrically converting the light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor by the detecting means; A detection signal generating circuit for generating a test pattern used when the detecting means detects the two-dimensional position; and a geometric distortion of the cathode ray tube. A geometric distortion correction circuit that: 1. Gain data representing the gain of the variable amplifier circuit for each screen position. A memory for storing geometric distortion correction data for correcting the geometric distortion, wherein the variable amplifier circuit amplifies an output of the photoelectric conversion circuit according to the gain data, and the detecting means detects the two-dimensional position. The above problem is solved by creating geometric distortion correction data of the memory based on the result of detection and driving the geometric distortion correction circuit from the geometric distortion correction data.

【0027】また、請求項5記載の発明は、陰極線管の
映し出す画像の幾何学歪(コンバーゼンスを含む)を検
出するためのインデックス蛍光体をシャドウマスク上に
有する陰極線管と、前記インデックス蛍光体の発する光
または紫外線から走査電子ビームの2次元的位置を検出
する検出手段と、前記陰極線管の幾何学歪を補正する幾
何学歪補正回路と、前記検出手段が前記2次元位置の検
出を行う際に用いるテストパターンを後述するテスト信
号輝度データにより輝度変調し発生する輝度可変検出用
信号発生回路と、 1.前記テストパターンの画面位置における輝度情報を
示したテスト信号輝度データ 2.前記幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ を記憶するメモリとを備え、前記検出手段が前記2次元
位置の検出を行うときは前記メモリのテスト信号輝度デ
ータにより前記輝度可変検出用信号発生回路を駆動し、
前記検出手段が前記2次元位置の検出を行った結果より
前記メモリの幾何学歪補正データを作成し幾何学歪補正
データより前記幾何学歪補正回路を駆動する事を特長と
する陰極線管制御装置において、検出手段は前記走査電
子ビームの2次元的位置の検出に加え、前記インデック
ス蛍光体の発する光または紫外線の光電変換後の電圧を
も検出し、前記検出手段の検出した電圧より前記テスト
信号輝度データを作成する事で上記課題を解決したもの
である。
The invention according to claim 5 is a cathode ray tube having an index phosphor for detecting a geometric distortion (including convergence) of an image projected by the cathode ray tube on a shadow mask, and the index phosphor. Detecting means for detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam from the emitted light or ultraviolet ray, a geometric distortion correcting circuit for correcting the geometric distortion of the cathode ray tube, and the detecting means for detecting the two-dimensional position A luminance variable detection signal generation circuit for luminance-modulating a test pattern used for the above-mentioned test signal luminance data to be generated, and 1. 1. Test signal brightness data indicating brightness information at the screen position of the test pattern A memory for storing geometric distortion correction data for correcting the geometric distortion, and when the detecting means detects the two-dimensional position, the luminance variable detection signal generation is performed by the test signal luminance data of the memory. Drive the circuit,
A cathode ray tube control device characterized in that geometric distortion correction data of the memory is created from a result of the detection means detecting the two-dimensional position, and the geometric distortion correction circuit is driven from the geometric distortion correction data. In addition to the detection of the two-dimensional position of the scanning electron beam, the detection means also detects the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted by the index phosphor, and the test signal is detected from the voltage detected by the detection means. The above problem is solved by creating brightness data.

【0028】また、請求項6記載の発明は、陰極線管の
映し出す画像の幾何学歪(コンバーゼンスを含む)を検
出するためのインデックス蛍光体をシャドウマスク上に
有する陰極線管と、前記インデックス蛍光体の発する光
または紫外線から走査電子ビームの2次元的位置を検出
する検出手段と、前記検出手段が前記2次元位置の検出
を行う際に用いるテストパターンを発生させる検出用信
号発生回路と、前記陰極線管の輝度のユニフォミティ補
正をする輝度変調回路と、前記陰極線管の幾何学歪を補
正する幾何学歪補正回路と、 1.前記輝度のユニフォミティ補正のためのユニフォミ
ティ補正データ 2.前記テストパターンの画面位置における輝度情報を
示したテスト信号輝度データ 3.前記幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ を記憶するメモリとを備え、通常は前記メモリのユニフ
ォミティ補正データより前記輝度変調回路を駆動させる
が、前記検出手段が前記2次元位置の検出を行うときは
前記メモリのテスト信号輝度データにより前記輝度変調
回路を駆動し、前記検出手段が前記2次元位置の検出を
行った結果より前記メモリの幾何学歪補正データを作成
し幾何学歪補正データより前記幾何学歪補正回路を駆動
する事を特長とする陰極線管制御装置において、検出手
段は前記走査電子ビームの2次元的位置の検出に加え、
前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線の光電
変換後の電圧をも検出し、前記検出手段の検出した電圧
より前記テスト信号輝度データを作成する事で上記課題
を解決したものである。
Further, the invention according to claim 6 is a cathode ray tube having an index phosphor for detecting a geometric distortion (including convergence) of an image projected by the cathode ray tube on a shadow mask, and the index phosphor. Detection means for detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam from the emitted light or ultraviolet light, a detection signal generation circuit for generating a test pattern used when the detection means detects the two-dimensional position, and the cathode ray tube. A luminance modulation circuit for performing uniformity correction of the luminance of 1., and a geometric distortion correction circuit for correcting geometric distortion of the cathode ray tube; Uniformity correction data for uniformity correction of the luminance 2. 2. Test signal brightness data indicating brightness information at the screen position of the test pattern A memory for storing geometric distortion correction data for the geometric distortion correction is provided, and the brightness modulation circuit is normally driven by the uniformity correction data of the memory, but the detection means detects the two-dimensional position. When performing, the brightness modulation circuit is driven by the test signal brightness data of the memory, and the geometric distortion correction data of the memory is created from the result of the detection unit detecting the two-dimensional position. In the cathode ray tube control device characterized by further driving the geometric distortion correction circuit, the detection means may detect the two-dimensional position of the scanning electron beam,
The above problem is solved by detecting the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor and creating the test signal brightness data from the voltage detected by the detecting means.

【0029】また、請求項7記載の発明は、陰極線管の
映し出す画像の幾何学歪(コンバーゼンスを含む)を検
出するためのインデックス蛍光体をシャドウマスク上に
有する陰極線管と、前記インデックス蛍光体の発する光
または紫外線から走査電子ビームの2次元的位置を検出
する検出手段と、前記検出手段は前記インデックス蛍光
体の発する光または紫外線を光電変換する光電変換回路
と、前記光電変換回路の出力を後述するしきい値電圧デ
ータより2値化処理するしきい値可変2値化回路とを備
え、前記検出手段が前記2次元位置の検出を行う際に用
いるテストパターンを発生させる検出用信号発生回路
と、前記陰極線管の幾何学歪を補正する幾何学歪補正回
路と、 1.前記2値化回路のしきい値電圧を画面位置ごとに表
わしたしきい値電圧データ 2.前記幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ を記憶するメモリとを備え、前記しきい値可変2値化回
路は前記しきい値電圧データから前記光電変換回路の出
力を2値化し、前記検出手段が前記2次元位置の検出を
行った結果より前記メモリの幾何学歪補正データを作成
し幾何学歪補正データより前記幾何学歪補正回路を駆動
する事を特長とする陰極線管制御装置において、検出手
段は前記走査電子ビームの2次元的位置の検出に加え、
前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線の光電
変換後の電圧をも検出し、前記検出手段の検出した電圧
より前記しきい値電圧データを作成する事で上記課題を
解決したものである。
The invention according to claim 7 is a cathode ray tube having an index fluorescent substance on a shadow mask for detecting geometric distortion (including convergence) of an image projected by the cathode ray tube, and the index fluorescent substance. Detection means for detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam from the emitted light or ultraviolet rays, a photoelectric conversion circuit for photoelectrically converting the light or ultraviolet rays emitted by the index phosphor, and the output of the photoelectric conversion circuit will be described later. A threshold value variable binarizing circuit for binarizing the threshold voltage data, and a detection signal generating circuit for generating a test pattern used when the detecting means detects the two-dimensional position; A geometric distortion correction circuit for correcting the geometric distortion of the cathode ray tube; 1. Threshold voltage data representing the threshold voltage of the binarization circuit for each screen position. A memory for storing geometric distortion correction data for geometric distortion correction, wherein the threshold variable binarization circuit binarizes the output of the photoelectric conversion circuit from the threshold voltage data, A cathode ray tube control device characterized in that geometric distortion correction data of the memory is created from a result of detection of the two-dimensional position by the detecting means and the geometric distortion correction circuit is driven from the geometric distortion correction data. In addition to the detection of the two-dimensional position of the scanning electron beam, the detection means,
The above problem is solved by detecting the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor and creating the threshold voltage data from the voltage detected by the detecting means.

【0030】また、請求項8記載の発明は、陰極線管の
映し出す画像の幾何学歪(コンバーゼンスを含む)を検
出するためのインデックス蛍光体をシャドウマスク上に
有する陰極線管と、前記インデックス蛍光体の発する光
または紫外線から走査電子ビームの2次元的位置を検出
する検出手段と、前記検出手段は前記インデックス蛍光
体の発する光または紫外線を光電変換する光電変換回路
と、前記光電変換回路の出力を可変増幅する可変増幅回
路とを備え、前記検出手段が前記2次元位置の検出を行
う際に用いるテストパターンを発生させる検出用信号発
生回路と、前記陰極線管の幾何学歪を補正する幾何学歪
補正回路と、 1.前記可変増幅回路の利得を画面位置ごとに表わした
利得データ 2.前記幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ を記憶するメモリとを備え、前記可変増幅回路は前記利
得データに応じて前記光電変換回路の出力を増幅し、前
記検出手段が前記2次元位置の検出を行った結果より前
記メモリの幾何学歪補正データを作成し幾何学歪補正デ
ータより前記幾何学歪補正回路を駆動する事を特長とす
る陰極線管制御装置において、検出手段は前記走査電子
ビームの2次元的位置の検出に加え、前記インデックス
蛍光体の発する光または紫外線の光電変換後の電圧をも
検出し、前記検出手段の検出した電圧より前記利得デー
タを作成する事で上記課題を解決したものである。
The invention according to claim 8 is a cathode ray tube having an index phosphor for detecting geometric distortion (including convergence) of an image projected by the cathode ray tube on a shadow mask, and the index phosphor. Detection means for detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam from the emitted light or ultraviolet rays, a photoelectric conversion circuit for photoelectrically converting the light or ultraviolet rays emitted by the index phosphor, and the output of the photoelectric conversion circuit. A detection signal generating circuit for generating a test pattern used when the detecting means detects the two-dimensional position; and a geometric distortion correction for correcting the geometric distortion of the cathode ray tube. Circuit, 1. 1. Gain data representing the gain of the variable amplifier circuit for each screen position. A memory for storing geometric distortion correction data for correcting the geometric distortion, wherein the variable amplifier circuit amplifies an output of the photoelectric conversion circuit according to the gain data, and the detecting means detects the two-dimensional position. In the cathode ray tube control device characterized in that the geometric distortion correction data of the memory is created from the result of the detection and the geometric distortion correction circuit is driven from the geometric distortion correction data, the detecting means is the scanning electron. In addition to detecting the two-dimensional position of the beam, the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted by the index phosphor is also detected, and the gain data is created from the voltage detected by the detecting means. It has been resolved.

【0031】[0031]

【作用】請求項1記載の発明は前記した構成により、テ
ストパターンの輝度情報をテスト信号輝度データとして
メモリに記憶しておき、画像の幾何学歪(コンバーゼン
スを含む)を検出する間は前記テスト信号輝度データよ
り画面位置に応じた輝度を持つテストパターンを輝度可
変検出用信号発生回路より発生させる。上記の結果、検
出手段は画面のどの位置でも安定して走査電子ビームの
2次元的位置の検出を行い、前記2次元的位置の検出結
果より幾何学補正データを求め、メモリに記憶し、幾何
学補正回路に出力し、陰極線管の幾何学歪みが補正され
る。
According to the invention described in claim 1, the brightness information of the test pattern is stored in the memory as the test signal brightness data, and the test is performed while the geometric distortion (including the convergence) of the image is detected. A test pattern having a brightness corresponding to the screen position is generated from the signal brightness data by the brightness variable detection signal generation circuit. As a result of the above, the detecting means stably detects the two-dimensional position of the scanning electron beam at any position on the screen, obtains the geometric correction data from the detection result of the two-dimensional position, stores it in the memory, and stores the geometric correction data. To the geometric correction circuit, and the geometric distortion of the cathode ray tube is corrected.

【0032】請求項2記載の発明は前記した構成によ
り、テストパターンの輝度情報をテスト信号輝度データ
としてメモリに記憶しておき、画像の幾何学歪(コンバ
ーゼンスを含む)を検出する間は前記テスト信号輝度デ
ータより画面位置に応じて輝度変調回路を駆動する。上
記の結果、検出手段は画面のどの位置でも安定して走査
電子ビームの2次元的位置の検出を行い、前記2次元的
位置の検出結果より幾何学補正データを求め、メモリに
記憶し、幾何学補正回路に出力し、陰極線管の幾何学歪
みが補正される。
According to a second aspect of the present invention, the test pattern brightness information is stored in the memory as test signal brightness data according to the above configuration, and the test is performed while geometric distortion (including convergence) of an image is detected. The brightness modulation circuit is driven according to the screen position from the signal brightness data. As a result of the above, the detecting means stably detects the two-dimensional position of the scanning electron beam at any position on the screen, obtains the geometric correction data from the detection result of the two-dimensional position, stores it in the memory, and stores the geometric correction data. To the geometric correction circuit, and the geometric distortion of the cathode ray tube is corrected.

【0033】請求項3記載の発明は前記した構成によ
り、しきい値可変2値化回路のしきい値データをメモリ
に記憶しておき、画像の幾何学歪(コンバーゼンスを含
む)を検出する間は増幅回路の出力をしきい値可変2値
化回路で画面位置に応じたしきい値を用いて2値化す
る。上記の結果、検出手段は画面のどの位置でも安定し
て走査電子ビームの2次元的位置の検出を行い、前記2
次元的位置の検出結果より幾何学補正データを求め、メ
モリに記憶し、幾何学補正回路に出力し、陰極線管の幾
何学歪みが補正される。
According to a third aspect of the present invention, the threshold data of the variable threshold binarization circuit is stored in the memory according to the above configuration, and the geometric distortion (including convergence) of the image is detected. The output of the amplifier circuit is binarized by a threshold variable binarization circuit using a threshold value according to the screen position. As a result of the above, the detecting means stably detects the two-dimensional position of the scanning electron beam at any position on the screen.
Geometric correction data is obtained from the detection result of the dimensional position, stored in the memory, and output to the geometric correction circuit to correct the geometric distortion of the cathode ray tube.

【0034】請求項4記載の発明は前記した構成によ
り、可変増幅回路の利得データをメモリに記憶してお
き、画像の幾何学歪(コンバーゼンスを含む)を検出す
る間は光電変換回路の出力を可変増幅回路で画面位置に
応じた利得で増幅する。上記の結果、検出手段は画面の
どの位置でも安定して走査電子ビームの2次元的位置の
検出を行い、前記2次元的位置の検出結果より幾何学補
正データを求め、メモリに記憶し、幾何学補正回路に出
力し、陰極線管の幾何学歪みが補正される。
According to the fourth aspect of the present invention, the gain data of the variable amplifier circuit is stored in the memory by the above configuration, and the output of the photoelectric conversion circuit is output while the geometric distortion (including convergence) of the image is detected. The variable amplification circuit amplifies with a gain according to the screen position. As a result of the above, the detecting means stably detects the two-dimensional position of the scanning electron beam at any position on the screen, obtains the geometric correction data from the detection result of the two-dimensional position, stores it in the memory, and stores the geometric correction data. To the geometric correction circuit, and the geometric distortion of the cathode ray tube is corrected.

【0035】請求項5記載の発明は前記した構成によ
り、検出手段は走査電子ビームの2次元的位置の検出に
加え、インデックス蛍光体の発する光または紫外線の光
電変換後の電圧をも検出し、前記検出手段の検出した電
圧よりテスト信号輝度データを作成し、前記テスト信号
輝度データを用い画面のどの位置でも安定して走査電子
ビームの2次元的位置の検出を行い、前記2次元的位置
の検出結果より幾何学補正データを求め、メモリに記憶
し、幾何学補正回路に出力し、陰極線管の幾何学歪みが
補正される。
According to a fifth aspect of the present invention, the detecting means detects not only the two-dimensional position of the scanning electron beam but also the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor, Test signal brightness data is created from the voltage detected by the detecting means, and the two-dimensional position of the scanning electron beam is stably detected at any position on the screen using the test signal brightness data. The geometric correction data is obtained from the detection result, stored in the memory, and output to the geometric correction circuit to correct the geometric distortion of the cathode ray tube.

【0036】請求項6記載の発明は前記した構成によ
り、検出手段は走査電子ビームの2次元的位置の検出に
加え、インデックス蛍光体の発する光または紫外線の光
電変換後の電圧をも検出し、前記検出手段の検出した電
圧よりテスト信号輝度データを作成し、前記テスト信号
輝度データを用い画面のどの位置でも安定して走査電子
ビームの2次元的位置の検出を行い、前記検出結果より
幾何学補正データを求め、メモリに記憶し、幾何学補正
回路に出力し、陰極線管の幾何学歪みが補正される。
According to a sixth aspect of the present invention, the detecting means detects not only the two-dimensional position of the scanning electron beam but also the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor, Test signal brightness data is created from the voltage detected by the detection means, the two-dimensional position of the scanning electron beam is stably detected at any position on the screen using the test signal brightness data, and the geometrical shape is obtained from the detection result. The correction data is obtained, stored in the memory, and output to the geometric correction circuit to correct the geometric distortion of the cathode ray tube.

【0037】請求項7記載の発明は前記した構成によ
り、検出手段は走査電子ビームの2次元的位置の検出に
加え、インデックス蛍光体の発する光または紫外線の光
電変換後の電圧をも検出し、前記検出手段の検出した電
圧よりしきい値電圧データを作成し、前記しきい値デー
タを用いしきい値可変2値化回路で2値化し画面のどの
位置でも安定して走査電子ビームの2次元的位置の検出
を行い、前記検出結果より幾何学補正データを求め、メ
モリに記憶し、幾何学補正回路に出力し、陰極線管の幾
何学歪みが補正される。
According to a seventh aspect of the present invention, the detecting means detects not only the two-dimensional position of the scanning electron beam but also the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted by the index phosphor, Threshold voltage data is created from the voltage detected by the detection means and binarized by the threshold variable binarization circuit using the threshold data, and the two-dimensional scanning electron beam is stably obtained at any position on the screen. The geometrical position of the cathode ray tube is corrected by detecting the target position, obtaining geometrical correction data from the detection result, storing it in the memory, and outputting it to the geometrical correction circuit.

【0038】請求項8記載の発明は前記した構成によ
り、検出手段は走査電子ビームの2次元的位置の検出に
加え、インデックス蛍光体の発する光または紫外線の光
電変換後の電圧をも検出し、前記検出手段の検出した電
圧より利得データを作成し、前記利得データを用い光電
変換回路の出力を可変増幅回路で画面位置に応じた利得
で増幅し画面のどの位置でも安定して走査電子ビームの
2次元的位置の検出を行い、前記検出結果より幾何学補
正データを求め、メモリに記憶し、幾何学補正回路に出
力し、陰極線管の幾何学歪みが補正される。
According to the eighth aspect of the present invention, the detecting means detects not only the two-dimensional position of the scanning electron beam but also the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor, Gain data is created from the voltage detected by the detection means, the output of the photoelectric conversion circuit is amplified using the gain data with a gain according to the screen position, and a stable scanning electron beam of any position on the screen is obtained. The two-dimensional position is detected, the geometric correction data is obtained from the detection result, stored in the memory, and output to the geometric correction circuit to correct the geometric distortion of the cathode ray tube.

【0039】[0039]

【実施例】以下、本発明の実施例における陰極線管制御
装置を図面と共に説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A cathode ray tube control device according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0040】(実施例1)図1は本発明の第1の実施例
における陰極線管制御装置のブロック図を示すものであ
る。なお、従来の陰極線管制御装置のブロック図を示し
た図14と目的および動作が同一のものについては同一
の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図1におい
て、従来例と異なる部分はメモリ400に記憶されるデ
ータが幾何学歪補正データ401に加えテスト信号輝度
データ402が2次元配列として記憶されていることで
ある。また、従来例と異なる部分は輝度可変検出用信号
発生回路601が検出用信号発生回路600に代わって
いることである。
(Embodiment 1) FIG. 1 is a block diagram of a cathode ray tube control apparatus according to a first embodiment of the present invention. The same objects and operations as those in FIG. 14 showing a block diagram of a conventional cathode ray tube control device are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. In FIG. 1, a portion different from the conventional example is that the data stored in the memory 400 stores the geometric distortion correction data 401 and the test signal luminance data 402 as a two-dimensional array. The difference from the conventional example is that the variable luminance detection signal generation circuit 601 is replaced with the detection signal generation circuit 600.

【0041】以上のように構成された第1の実施例の陰
極線管制御装置において、陰極線管の幾何学歪補正の動
作そのものは従来例のところで記述したとおりであり、
公知のものであるとして説明は省略し、以下本発明固有
の動作を説明する。
In the cathode ray tube controller of the first embodiment constructed as described above, the operation itself for correcting the geometric distortion of the cathode ray tube is as described in the conventional example,
The description is omitted because it is known, and the operation unique to the present invention will be described below.

【0042】幾何学歪みを検出する際、走査電子ビーム
の2次元的位置を検出するために切替回路700は映像
信号処理回路800に出力の代わりに輝度可変検出用信
号発生回路601の出力するテストパターン信号に切り
替え陰極線管にテストパターンを映出させる。
When detecting the geometrical distortion, the switching circuit 700 detects the two-dimensional position of the scanning electron beam, and instead of outputting to the video signal processing circuit 800, the switching circuit 700 outputs a test output from the luminance variable detection signal generating circuit 601. Switch to the pattern signal and display the test pattern on the cathode ray tube.

【0043】図2(a)は図1におけるシャドウマスク
2上に塗布されたインデックス蛍光体3を蛍光面1側か
ら見たときの配列の様子および映出されたテストパター
ンの例を示しており、参照符号10、11、12、1
3、14、15は各インデックス蛍光体3上でのテスト
パターンをそれぞれ表わしている。例えば画面左端のや
や上あたりでの前記2次元位置の検出を行うには参照符
号10を付けた位置にテストパターンを映出するわけで
ある。
FIG. 2A shows an arrangement of the index phosphors 3 applied on the shadow mask 2 shown in FIG. 1 when viewed from the phosphor screen 1 side, and an example of a projected test pattern. , Reference numerals 10, 11, 12, 1
Reference numerals 3, 14, and 15 represent test patterns on the index phosphors 3, respectively. For example, in order to detect the two-dimensional position slightly above the left end of the screen, the test pattern is displayed at the position designated by reference numeral 10.

【0044】図2(b)、(c)、(d)は輝度可変検
出用信号発生回路601が輝度一定のテストパターンを
出力した時の輝度可変検出用信号発生回路601、増幅
回路102、2値化回路103のそれぞれの出力波形
を、前記テストパターン10、11、12、13、1
4、15に対応させて表わしたものである。便宜上、各
テストパターンに対応する波形を合成して示した。縦軸
に電圧、横軸は時間を示している。参照符号42a、4
4a、45aを付けた波形は点線で記述されているが、
上記波形はしきい値電圧付近であり検出の度に2値化回
路103に出力波形が現われたり現われなかったりする
状態を表わしている。また、45は本来2本の出力波形
が現われるところであるが増幅回路102の出力波形が
しきい値電圧より下であるため正常に2値化されてない
ことを示している。
2 (b), 2 (c) and 2 (d), the variable luminance detection signal generating circuit 601 and the amplifying circuits 102, 2 when the variable luminance detection signal generating circuit 601 outputs a test pattern having a constant luminance. The respective output waveforms of the binarization circuit 103 are compared with the test patterns 10, 11, 12, 13, 1
4 and 15 are shown in correspondence with each other. For convenience, the waveforms corresponding to the respective test patterns are synthesized and shown. The vertical axis represents voltage and the horizontal axis represents time. Reference numerals 42a, 4
Waveforms with 4a and 45a are described by dotted lines,
The above-mentioned waveform is in the vicinity of the threshold voltage and represents the state in which the output waveform appears or does not appear in the binarization circuit 103 each time it is detected. Reference numeral 45 indicates that originally two output waveforms appear, but since the output waveform of the amplifier circuit 102 is below the threshold voltage, it is not normally binarized.

【0045】上記2値化が正常に行われるには図2
(c)の出力波形の電圧の低いところに相当する位置の
テストパターンの輝度を高くし、前記出力波形の電圧が
高いところはテストパターンの輝度が低くなるようにテ
スト信号輝度データ402をあらかじめ作成しておけば
よいことになる。
FIG. 2 shows how the above binarization is normally performed.
The test signal brightness data 402 is created in advance so that the brightness of the test pattern at the position corresponding to the low voltage of the output waveform in (c) is increased, and the brightness of the test pattern is decreased at the high voltage of the output waveform. It will be good if you keep it.

【0046】上記のようにテスト信号輝度データ402
を作成した際の輝度可変検出用信号発生回路601、増
幅回路102、2値化回路103の出力波形をそれぞれ
図2(e)、(f)、(g)に示す。図からわかるよう
に正常に2値化が行われ検出が安定している。
As described above, the test signal brightness data 402
Output waveforms of the variable luminance detection signal generation circuit 601, the amplification circuit 102, and the binarization circuit 103 when the above are created are shown in FIGS. As can be seen from the figure, binarization is normally performed and detection is stable.

【0047】以上のようにこの実施例によれば、あらか
じめテスト信号輝度データ402を検出回路100内の
増幅回路102の出力する電圧の低いところはテストパ
ターンの輝度を強く、電圧の高いところはテストパター
ンの輝度を弱くなるように設定しておくことで、画面上
のどの位置における走査電子ビームの2次元的位置の検
出でも安定して行うことができる。
As described above, according to this embodiment, the test pattern brightness data 402 is output from the amplification circuit 102 in the detection circuit 100 in advance where the voltage output from the amplifier circuit 102 is low, and when the voltage is high the test pattern is tested. By setting the brightness of the pattern to be weak, it is possible to stably detect the two-dimensional position of the scanning electron beam at any position on the screen.

【0048】なお、従来例の検出用信号発生回路600
は基準電圧を所定のタイミングでスイッチングを行いテ
ストパターンを発生させるが、前記基準電圧を本実施例
のテスト信号輝度データ402から波形生成したものと
入れ換えるだけで輝度可変検出用信号発生回路601と
することができ比較的容易に上記構成を得ることが可能
である。
Incidentally, the detection signal generating circuit 600 of the conventional example.
Generates a test pattern by switching the reference voltage at a predetermined timing. However, the luminance variable detection signal generating circuit 601 is formed only by replacing the reference voltage with the waveform generated from the test signal luminance data 402 of this embodiment. It is possible to obtain the above configuration relatively easily.

【0049】(実施例2)図3は本発明の第2の実施例
における陰極線管制御装置のブロック図を示すものであ
る。なお、従来例の陰極線管制御装置のブロック図を示
した図14と目的および動作が同一のものについては同
一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図3にお
いて、500は陰極線管に映し出すための映像信号の輝
度を、与えられた変調データに応じて変調する輝度変調
回路であり、従来例でも述べた陰極線管の輝度のユニフ
ォミティ補正を行うものと同様のものである。また、4
00は陰極線管の映し出す画像の位置に応じた幾何学歪
補正データ401やテスト信号輝度データ402やユニ
フォミティ補正データ403をそれぞれ2次元配列とし
て記憶するメモリ、701はテスト信号輝度データまた
はユニフォミティ補正データのいずれかを輝度変調回路
500に変調データとして与える一方、上記に連動して
検出用信号発生回路600の発生するテストパターンま
たは映像信号処理回路800の出力のいずれか一方を輝
度変調回路500に映像信号として出力する切り替え回
路である。
(Embodiment 2) FIG. 3 is a block diagram of a cathode ray tube control apparatus according to a second embodiment of the present invention. It should be noted that the same objects and operations as those in FIG. 14 showing the block diagram of the conventional cathode ray tube control device are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. In FIG. 3, reference numeral 500 denotes a brightness modulation circuit that modulates the brightness of a video signal to be displayed on the cathode ray tube according to the supplied modulation data, and performs uniformity correction of the brightness of the cathode ray tube described in the conventional example. It is similar. Also, 4
00 is a memory for storing the geometric distortion correction data 401, the test signal brightness data 402 and the uniformity correction data 403 as a two-dimensional array according to the position of the image projected by the cathode ray tube, and 701 is the test signal brightness data or the uniformity correction data. Either of them is given to the brightness modulation circuit 500 as modulation data, and in conjunction with the above, either the test pattern generated by the detection signal generation circuit 600 or the output of the video signal processing circuit 800 is supplied to the brightness modulation circuit 500 as a video signal. Is a switching circuit that outputs as.

【0050】以上のように構成された第1の実施例の陰
極線管制御装置において、輝度変調回路が加えられた従
来例の構成と異なる点はメモリ400にテスト信号輝度
データ402が記憶されていることおよび、切替回路7
01の機能が従来例の切替回路700と比べて拡張され
ていることである。
In the cathode ray tube controller of the first embodiment constructed as described above, the test signal brightness data 402 is stored in the memory 400, which is different from the structure of the conventional example in which the brightness modulation circuit is added. And switching circuit 7
The function of 01 is expanded as compared with the switching circuit 700 of the conventional example.

【0051】映像信号処理回路800により処理された
映像信号は輝度変調回路500によって陰極線管の有す
る輝度のユニフォミティの補正がおこなわれ陰極線管に
映し出されるが、上記作用は、演算・制御回路200が
メモリ400に記憶されたユニフォミティ補正データ4
03を切替回路701を制御し輝度変調回路500に与
え、同時に、切替回路701は映像信号処理回路800
の出力する映像信号を輝度変調回路500に被変調信号
として出力する事によって得られる。上記動作は通常用
いられる陰極線管の輝度のユニフォミティ補正に用いら
れる公知の動作であり、上記した点にはなんの進歩性は
ない。
The video signal processed by the video signal processing circuit 800 is corrected on the uniformity of the brightness of the cathode ray tube by the brightness modulation circuit 500 and is displayed on the cathode ray tube. Uniformity correction data 4 stored in 400
03 is applied to the luminance modulation circuit 500 by controlling the switching circuit 701, and at the same time, the switching circuit 701 controls the video signal processing circuit 800.
It is obtained by outputting the video signal output by the above to the luminance modulation circuit 500 as a modulated signal. The above operation is a known operation used for uniformity correction of the brightness of a cathode ray tube that is normally used, and there is no inventive step in the above points.

【0052】ところが、陰極線管の幾何学歪みを検出す
る際、走査電子ビームの2次元的位置を検出するために
切替回路701は前記映像信号処理回路の出力の代わり
に検出用信号発生回路600の出力するテストパターン
信号に切り替え輝度変調回路500に与える。一方、前
記切替回路700は同時にメモリ400に記憶されてい
るユニフォミティ補正データ403の代わりにテスト信
号輝度データ402を取りだし、輝度変調回路500に
変調データとして与える。
However, in order to detect the two-dimensional position of the scanning electron beam when detecting the geometric distortion of the cathode ray tube, the switching circuit 701 is provided in the detection signal generating circuit 600 instead of the output of the video signal processing circuit. The test pattern signal to be output is switched and given to the luminance modulation circuit 500. On the other hand, the switching circuit 700 simultaneously takes out the test signal brightness data 402 instead of the uniformity correction data 403 stored in the memory 400 and supplies it to the brightness modulation circuit 500 as modulation data.

【0053】上記の動作は実施例1で説明した図1の輝
度可変検出用信号発生回路601と結果的に同様のもの
となり実施例1と同等の効果を得る。
The above operation is the same as that of the luminance variable detection signal generation circuit 601 of FIG. 1 described in the first embodiment, resulting in the same effect as that of the first embodiment.

【0054】なお、演算・制御回路200、メモリ40
0を現在一般的に用いられるマイコン回路を用い、ソフ
トウエアとの組み合わせで実現した場合、切替回路70
1及び、メモリ400に記憶されたデータはソフトウエ
ア上で実現可能である。したがって実際には輝度変調回
路500を追加されている従来例の構成ではソフトウエ
アのみの変更で実現可能であり、コスト的な面での実用
的効果は大きくなる。
The arithmetic / control circuit 200 and the memory 40
If 0 is realized in combination with software by using a microcomputer circuit that is currently generally used, the switching circuit 70
1 and the data stored in the memory 400 can be realized by software. Therefore, in practice, the configuration of the conventional example in which the luminance modulation circuit 500 is added can be realized by changing only the software, and the practical effect in terms of cost becomes large.

【0055】(実施例3)図4は本発明の第3の実施例
における陰極線管制御装置のブロック図を示すものであ
る。なお、従来例の陰極線管制御装置のブロック図を示
した図14と目的および動作が同一のものについては同
一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図4にお
いて、検出手段100の中の106は従来例での2値化
回路103に相当し、2値化の際のしきい値電圧を後述
するしきい値電圧データ404を受け取ることで可変に
するしきい値可変型2値化回路である。また、メモリ4
00は従来例にもある幾何学歪補正データ401に加
え、しきい値可変型2値化回路106に与えるしきい値
電圧データ403を2次元配列として記憶している。
(Embodiment 3) FIG. 4 is a block diagram of a cathode ray tube controller in a third embodiment of the present invention. It should be noted that the same objects and operations as those in FIG. 14 showing the block diagram of the conventional cathode ray tube control device are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. In FIG. 4, 106 in the detection means 100 corresponds to the binarization circuit 103 in the conventional example, and the threshold voltage at the time of binarization is made variable by receiving threshold voltage data 404 described later. It is a variable threshold binarizing circuit. Also, memory 4
In addition to the geometric distortion correction data 401 which is also present in the conventional example, 00 stores threshold voltage data 403 given to the variable threshold binarization circuit 106 as a two-dimensional array.

【0056】以上のように構成された第3の実施例の陰
極線管制御装置において、上記構成による陰極線管の幾
何学歪補正の動作そのものは従来例のところで記述した
とおりであり、公知のものであるとして説明は省略し、
以下本発明固有の動作を説明する。
In the cathode ray tube control apparatus of the third embodiment having the above-described configuration, the operation itself for correcting the geometric distortion of the cathode ray tube having the above-described configuration is as described in the conventional example, and is a known one. I will omit the explanation,
The operation unique to the present invention will be described below.

【0057】幾何学歪みを検出する際、他の実施例と同
様に陰極線管にテストパターンを映出させる。
When detecting the geometric distortion, a test pattern is projected on the cathode ray tube as in the other embodiments.

【0058】図5(a)は図2(a)と同様にシャドウ
マスク2におけるインデックス蛍光体3の配列の様子お
よび映出されたテストパターンの例を示している。
Similar to FIG. 2A, FIG. 5A shows an arrangement state of the index phosphors 3 in the shadow mask 2 and an example of a projected test pattern.

【0059】図5(b)、(c)、(d)は検出用信号
発生回路600がテストパターンを出力した時の検出用
信号発生回路600、増幅回路102、しきい値可変型
2値化回路106がしきい値を一定としたときのそれぞ
れの出力波形を図2(b)、(c)、(d)同様に示し
ている。図5(d)をみると実施例1の時と同様に正常
に2値化されてないことが理解できる。
5 (b), 5 (c) and 5 (d), the detection signal generation circuit 600, the amplification circuit 102, and the threshold variable type binarization when the detection signal generation circuit 600 outputs a test pattern. The respective output waveforms when the circuit 106 keeps the threshold value constant are shown as in FIGS. 2B, 2C and 2D. It can be understood from FIG. 5D that the binarization is not normally performed as in the first embodiment.

【0060】従って、正常に前記2値化を行うにはしき
い値電圧データ404を図5(c)での検出信号をもと
に電圧の低い部分はしきい値が低くなるように、また、
電圧の高い部分はしきい値が高くなるようにあらかじめ
作っておけばよい。
Therefore, in order to normally perform the binarization, the threshold voltage data 404 is set so that the threshold value becomes low in the low voltage portion based on the detection signal in FIG. ,
The high voltage portion may be made in advance so that the threshold value becomes high.

【0061】上記データを用いたときの検出用信号発生
回路600、増幅回路102、しきい値可変型2値化回
路106の出力波形をそれぞれ図2(e)、(f)、
(g)に示す。図からわかるように正常に2値化が行わ
れ検出が安定している。
Output waveforms of the detection signal generation circuit 600, the amplification circuit 102, and the threshold variable type binarization circuit 106 when using the above data are shown in FIGS.
It shows in (g). As can be seen from the figure, binarization is normally performed and detection is stable.

【0062】以上のようにこの実施例によれば、場所に
よる検出レベルの強弱をもとにして作成されたしきい値
電圧データ402をメモリ400に記憶し、前記データ
によりしきい値可変型2値化回路106のしきい値電圧
を変化させることで画面上どの点でも走査電子ビームの
2次元的位置の検出が安定して行えるようになってい
る。
As described above, according to this embodiment, the threshold voltage data 402 created based on the strength of the detection level depending on the location is stored in the memory 400, and the threshold variable type 2 is stored according to the data. By changing the threshold voltage of the digitizing circuit 106, the two-dimensional position of the scanning electron beam can be stably detected at any point on the screen.

【0063】(実施例4)図6は本発明の第4の実施例
における陰極線管制御装置のブロック図を示すものであ
る。なお、従来例の陰極線管制御装置のブロック図を示
した図14と目的および動作が同一のものについては同
一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図6にお
いて、検出手段100の中の107は従来例での増幅回
路102に相当し、増幅の際の利得を後述する利得デー
タ405を受け取ることで可変にする可変増幅回路であ
る。また、メモリ400は従来例にもある幾何学歪補正
データ401に加え、可変増幅回路107に与える利得
データ405を2次元配列として記憶している。
(Embodiment 4) FIG. 6 is a block diagram of a cathode ray tube controller in a fourth embodiment of the present invention. It should be noted that the same objects and operations as those in FIG. 14 showing the block diagram of the conventional cathode ray tube control device are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. In FIG. 6, 107 in the detecting means 100 corresponds to the amplifier circuit 102 in the conventional example, and is a variable amplifier circuit that makes the gain at the time of amplification variable by receiving gain data 405 described later. Further, the memory 400 stores gain data 405 to be given to the variable amplification circuit 107 as a two-dimensional array in addition to the geometric distortion correction data 401 also in the conventional example.

【0064】以上のように構成された第4の実施例の陰
極線管制御装置において、上記構成による陰極線管の幾
何学歪補正の動作そのものは従来例のところで記述した
とおりであり、公知のものであるとして説明は省略し、
以下本発明固有の動作を説明する。
In the cathode ray tube control apparatus according to the fourth embodiment having the above-described configuration, the operation itself for correcting the geometric distortion of the cathode ray tube having the above-described configuration is as described in the conventional example, and is well known. I will omit the explanation,
The operation unique to the present invention will be described below.

【0065】幾何学歪みを検出する際、他の実施例と同
様に陰極線管にテストパターンを映出させる。
When detecting the geometric distortion, a test pattern is projected on the cathode ray tube as in the other embodiments.

【0066】図7(a)は図2(a)と同様にシャドウ
マスク2におけるインデックス蛍光体3の配列の様子お
よび映出されたテストパターンの例を示している。
Similar to FIG. 2A, FIG. 7A shows an arrangement state of the index phosphors 3 in the shadow mask 2 and an example of a projected test pattern.

【0067】図7(b)、(c)、(d)は検出用信号
発生回路600がテストパターンを出力した時の検出用
信号発生回路600、可変増幅回路107が利得を一定
にしたとき、2値化回路103のそれぞれの出力波形を
図2(b)、(c)、(d)同様に示している。図7
(d)をみると実施例1の時と同様に正常に2値化され
てないことが理解できる。
FIGS. 7B, 7C and 7D show when the detection signal generation circuit 600 and the variable amplification circuit 107 have constant gains when the detection signal generation circuit 600 outputs a test pattern. The respective output waveforms of the binarization circuit 103 are shown as in FIGS. 2B, 2C, and 2D. Figure 7
It can be seen from (d) that the binarization is not normally performed as in the first embodiment.

【0068】従って、正常に前記2値化を行うには利得
データ405を図7(c)での検出信号をもとに電圧の
低い部分は可変増幅回路107の利得が大きくなるよう
に、また、電圧の高い部分は可変増幅回路107の利得
が小さくなるようにあらかじめ作っておけばよい。
Therefore, in order to normally perform the binarization, the gain data 405 is set so that the gain of the variable amplifier circuit 107 becomes large in the low voltage portion based on the detection signal in FIG. The high voltage portion may be made in advance so that the gain of the variable amplifier circuit 107 becomes small.

【0069】上記データを用いたときの検出用信号発生
回路600、可変増幅回路107、2値化回路103の
出力波形をそれぞれ図7(e)、(f)、(g)に示
す。図からわかるように正常に2値化が行われ検出が安
定している。
Output waveforms of the detection signal generation circuit 600, the variable amplification circuit 107, and the binarization circuit 103 when using the above data are shown in FIGS. 7 (e), (f), and (g), respectively. As can be seen from the figure, binarization is normally performed and detection is stable.

【0070】以上のようにこの実施例によれば、場所に
よる検出レベルの強弱をもとにして作成された利得デー
タ405をメモリ400に記憶し、前記データにより可
変増幅回路107の利得を変化させ、画面上どの点でも
走査電子ビームの2次元的位置の検出が安定して行える
ようになっている。
As described above, according to this embodiment, the gain data 405 created based on the strength of the detection level depending on the location is stored in the memory 400, and the gain of the variable amplification circuit 107 is changed by the data. The two-dimensional position of the scanning electron beam can be stably detected at any point on the screen.

【0071】(実施例5)図8は本発明の第5の実施例
における陰極線管制御装置のブロック図を示すものであ
る。なお、第1の実施例の陰極線管制御装置のブロック
図を示した図1と目的および動作が同一のものについて
は同一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図8
において、検出手段100の中の110は増幅回路回路
102の出力する電圧をピーク検波するピーク検波回
路、111は前記ピーク検波回路110の出力とT−V
変換回路104の出力とを入力とし、後述する演算・制
御回路201からの制御信号により前記入力のいずれか
一方をA/D変換回路105に出力する切替回路であ
る。また、201は第1の実施例での演算・制御回路2
00の機能に加え前記切替回路111を制御する制御信
号を発生する機能と、テスト信号輝度データ402を演
算し求める機能を備えた演算・制御回路である。
(Embodiment 5) FIG. 8 shows a block diagram of a cathode ray tube controller in a fifth embodiment of the present invention. The same objects and operations as those in FIG. 1 showing the block diagram of the cathode ray tube control apparatus of the first embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. Figure 8
In the detection means 100, 110 is a peak detection circuit for peak detection of the voltage output from the amplification circuit circuit 102, and 111 is the output of the peak detection circuit 110 and T-V.
It is a switching circuit which receives the output of the conversion circuit 104 as an input and outputs one of the inputs to the A / D conversion circuit 105 according to a control signal from an arithmetic / control circuit 201 described later. Further, 201 is the arithmetic / control circuit 2 in the first embodiment.
00, in addition to the function of 00, a function of generating a control signal for controlling the switching circuit 111 and a function of calculating and obtaining the test signal brightness data 402.

【0072】図8において第1の実施例の動作を行う場
合、演算・制御回路201は切替回路111にT−V変
換回路104の出力を選択させA/D変換回路105に
入力させる。上記の場合第1の実施例で説明したように
第1の実施例の効果が得られる。
When the operation of the first embodiment is performed in FIG. 8, the arithmetic / control circuit 201 causes the switching circuit 111 to select the output of the TV conversion circuit 104 and input it to the A / D conversion circuit 105. In the above case, the effects of the first embodiment can be obtained as described in the first embodiment.

【0073】一方、テスト信号輝度データ402を作成
する場合、演算・制御回路201は切替回路111にピ
ーク検波回路110の出力を選択させA/D変換回路1
05に入力させる。
On the other hand, when creating the test signal luminance data 402, the arithmetic / control circuit 201 causes the switching circuit 111 to select the output of the peak detection circuit 110.
Input to 05.

【0074】図9に波形図を示しピーク検波回路110
の動作を説明する。図9(a)はインデックス蛍光体3
を蛍光面1側から見たときの図であり、10は映出され
たテストパターンである。インデックス蛍光体3にテス
トパターンが当たることにより光または紫外線が発生
し、光電変換回路101により電気信号に変換され増幅
回路102を通った後、図9(b)の様な検出信号が得
られる。前記検出信号はピーク検波回路110に入力さ
れる。図10に代表的ピーク検波回路の原理図を示し、
ピーク検波回路110の動作の説明に用いる。図10に
おいて1101はピーク検波回路の入力端子、1106
は出力端子である。1102は検波用ダイオード、11
03はコンデンサ、1104は時定数を決める負荷抵
抗、1105は出力バッファ、1107はコンデンサ1
103を放電させるスイッチである。
FIG. 9 shows a waveform diagram of the peak detection circuit 110.
The operation of will be described. FIG. 9A shows the index phosphor 3
Is a view when viewed from the phosphor screen 1 side, and 10 is a projected test pattern. Light or ultraviolet rays are generated by hitting the index phosphor 3 with the test pattern, converted into an electric signal by the photoelectric conversion circuit 101 and passed through the amplifier circuit 102, and then a detection signal as shown in FIG. 9B is obtained. The detection signal is input to the peak detection circuit 110. Fig. 10 shows the principle of a typical peak detection circuit.
It is used to explain the operation of the peak detection circuit 110. In FIG. 10, 1101 is an input terminal of the peak detection circuit, 1106.
Is an output terminal. 1102 is a detection diode, 11
Reference numeral 03 is a capacitor, 1104 is a load resistor that determines a time constant, 1105 is an output buffer, 1107 is a capacitor 1
A switch for discharging 103.

【0075】入力端子1101に入った図9(b)の検
出信号はダイオード1102を通し、コンデンサ110
3に充電される。コンデンサ1103は十分に放電され
た状態から前記充電が行われるとする。図9(b)にお
いてAでしめす検出信号の電圧がピークを越えた時点で
ダイオード1102はオフとなり負荷抵抗1104とコ
ンデンサ1103とで決まる時定数で放電されていく。
通常負荷抵抗1104を大きくしておき放電されにくく
しておく。次に図9(b)においてBでしめす2度目の
検出信号のピークが起こり、コンデンサ1103の充電
電圧を越えれば再びダイオード1102がオンとなりコ
ンデンサ1103は充電され、図9(b)においてCで
しめす時点で再びダイオード1102がオフとなり検出
信号のピーク電圧は保持される。前記ピーク電圧はバッ
ファ1105を通し出力端子1106から出力される。
The detection signal of FIG. 9 (b) that has entered the input terminal 1101 is passed through the diode 1102 and
Charged to 3. It is assumed that the capacitor 1103 is charged from the fully discharged state. In FIG. 9B, when the voltage of the detection signal indicated by A exceeds the peak, the diode 1102 is turned off and the diode 1102 is discharged with a time constant determined by the load resistor 1104 and the capacitor 1103.
Usually, the load resistance 1104 is made large so as not to be easily discharged. Next, in FIG. 9B, the peak of the second detection signal shown by B occurs, and when the charging voltage of the capacitor 1103 is exceeded, the diode 1102 is turned on again and the capacitor 1103 is charged, and shown by C in FIG. 9B. At that time, the diode 1102 is turned off again and the peak voltage of the detection signal is held. The peak voltage is output from the output terminal 1106 through the buffer 1105.

【0076】説明が前後するが、スイッチ1107は上
記したピーク検波動作を行う直前に既に一度閉じられて
おり、コンデンサ1103は十分に放電させられてい
る。上記のピーク検波動作期間はスイッチ1107は開
いたままとなるように制御され、コンデンサ1104は
負荷抵抗1104を通してのみ放電されるようになって
いる。上記の動作の結果出力端子1106には図9
(c)のような電圧波形が得られる。
Before and after the explanation, the switch 1107 has already been closed just before the peak detection operation described above, and the capacitor 1103 has been sufficiently discharged. During the peak detection operation period, the switch 1107 is controlled to remain open, and the capacitor 1104 is discharged only through the load resistor 1104. As a result of the above operation, the output terminal 1106 is shown in FIG.
A voltage waveform as shown in (c) is obtained.

【0077】上記のようにピーク検波後の電圧はA/D
変換され演算・制御回路201にデータとして取り込ま
れる。演算・制御回路201は前記データが画面上のど
の位置でも一定となり、かつ、2値化回路103のしき
い値電圧以上になるようテスト信号輝度データ402を
作成する。実際のデータ作成手順はさまざまな公知の方
法があるが公知、未知に関わらずどのような手順を用い
てもいい。
As described above, the voltage after peak detection is A / D
The data is converted and taken into the arithmetic / control circuit 201 as data. The arithmetic / control circuit 201 creates the test signal brightness data 402 so that the data becomes constant at any position on the screen and is equal to or higher than the threshold voltage of the binarization circuit 103. There are various publicly known methods for actual data creation, and any known or unknown procedure may be used.

【0078】以上のようにこの実施例において、検出手
段100内にピーク検波回路110と切替回路111を
設け、インデックス蛍光体3の発する光または紫外線の
光電変換後の電圧を検出することでテスト信号輝度デー
タ402の自動作成が可能となる。
As described above, in this embodiment, the peak detection circuit 110 and the switching circuit 111 are provided in the detection means 100, and the voltage after the photoelectric conversion of the light or the ultraviolet rays emitted from the index phosphor 3 is detected to detect the test signal. It is possible to automatically create the brightness data 402.

【0079】また、第1の実施例においてテスト信号輝
度データ402はあらかじめ作成しておかなければなら
なかったためインデックス蛍光体3のへたりや陰極線管
の電子銃の経時変化等による要因で検出が安定に行われ
なくなるという問題点があった。
Further, in the first embodiment, the test signal brightness data 402 had to be created in advance, so the detection was stable due to factors such as the sagging of the index phosphor 3 and the aging of the electron gun of the cathode ray tube. There was a problem that it will not be done.

【0080】また、第1の実施例においてテスト信号輝
度データ402をあらかじめ作成しておくことは工場等
の出荷調整の手間が増えるという問題点があった。
Further, in the first embodiment, creating the test signal brightness data 402 in advance has a problem that the time and effort required for shipment adjustment at a factory or the like increases.

【0081】しかしながら本実施例において陰極線管の
走査電子ビームの2次元的位置の検出を行う前に自動的
にテスト信号輝度データ402の作成を行うことにより
上記問題点は解決することができる。
However, in the present embodiment, the above problem can be solved by automatically generating the test signal brightness data 402 before detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam of the cathode ray tube.

【0082】(実施例6)図11は本発明の第6の実施
例における陰極線管制御装置のブロック図を示すもので
ある。なお、第2の実施例の陰極線管制御装置のブロッ
ク図を示した図3と目的および動作が同一のものについ
ては同一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図
11において、検出手段100内のピーク検波回路11
0、切替回路111は第5の実施例と同じものである。
また演算・制御回路201は第5の実施例と同じもので
ある。
(Embodiment 6) FIG. 11 is a block diagram of a cathode ray tube controller in a sixth embodiment of the present invention. The same objects and operations as those in FIG. 3 showing the block diagram of the cathode ray tube control device of the second embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. In FIG. 11, the peak detection circuit 11 in the detection means 100 is shown.
0, the switching circuit 111 is the same as that of the fifth embodiment.
The arithmetic / control circuit 201 is the same as that of the fifth embodiment.

【0083】したがってテスト信号輝度データ402は
第5の実施例のときと全く同様に作成でき、効果も同様
に得られる。
Therefore, the test signal brightness data 402 can be created exactly as in the case of the fifth embodiment, and the same effect can be obtained.

【0084】(実施例7)図12は本発明の第7の実施
例における陰極線管制御装置のブロック図を示すもので
ある。なお、第3の実施例の陰極線管制御装置のブロッ
ク図を示した図4と目的および動作が同一のものについ
ては同一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図
12において、検出手段100内のピーク検波回路11
0、切替回路111は第5の実施例と同じものである。
また、202は第3の実施例での演算・制御回路200
の機能に加え前記切替回路111を制御する制御信号を
発生する機能と、しきい値電圧データ404を演算し求
める機能を備えた演算・制御回路である。
(Embodiment 7) FIG. 12 is a block diagram of a cathode ray tube controller in a seventh embodiment of the present invention. The same objects and operations as those in FIG. 4 showing the block diagram of the cathode ray tube control apparatus of the third embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. In FIG. 12, the peak detection circuit 11 in the detection means 100 is shown.
0, the switching circuit 111 is the same as that of the fifth embodiment.
Further, 202 is the arithmetic / control circuit 200 of the third embodiment.
In addition to the above function, the calculation / control circuit has a function of generating a control signal for controlling the switching circuit 111 and a function of calculating and obtaining the threshold voltage data 404.

【0085】図12において第3の実施例の動作を行う
場合、演算・制御回路202は切替回路111にT−V
変換回路104の出力を選択させA/D変換回路105
に入力させる。上記の場合第3の実施例で説明したよう
に第3の実施例の効果が得られる。
In the case of performing the operation of the third embodiment in FIG. 12, the arithmetic / control circuit 202 causes the switching circuit 111 to perform TV conversion.
The output of the conversion circuit 104 is selected and the A / D conversion circuit 105 is selected.
To enter. In the above case, the effect of the third embodiment can be obtained as described in the third embodiment.

【0086】一方、しきい値電圧データ404を作成す
る場合、演算・制御回路202は切替回路111にピー
ク検波回路110の出力を選択させA/D変換回路10
5に入力させる。ピーク検波回路110の動作は第5の
実施例のものと同様であり説明は省略する。
On the other hand, when the threshold voltage data 404 is created, the arithmetic / control circuit 202 causes the switching circuit 111 to select the output of the peak detection circuit 110.
Input in 5. The operation of the peak detection circuit 110 is similar to that of the fifth embodiment, and its explanation is omitted.

【0087】ピーク検波後の電圧はA/D変換され演算
・制御回路201にデータとして取り込まれる。演算・
制御回路202は前記データはしきい値電圧可変型2値
化回路106の入力電圧でもあるので例えば前記データ
の2/3の値などをしきい値電圧可変型2値化回路10
6のしきい値となるようしきい値電圧データ404を作
成する。
The voltage after peak detection is A / D converted and taken into the arithmetic / control circuit 201 as data. Calculation·
Since the data is also the input voltage of the threshold voltage variable binarization circuit 106, the control circuit 202 outputs, for example, a value of ⅔ of the data and the like to the threshold voltage variable binarization circuit 10.
The threshold voltage data 404 is created so that the threshold value becomes 6.

【0088】以上のようにこの実施例において、検出手
段100内にピーク検波回路110と切替回路111を
設け、インデックス蛍光体3の発する光または紫外線の
光電変換後の電圧を検出することでしきい値電圧データ
404の自動作成が可能となる。
As described above, in this embodiment, the threshold is detected by providing the peak detection circuit 110 and the switching circuit 111 in the detection means 100 and detecting the voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor 3. The value voltage data 404 can be automatically created.

【0089】また、第3の実施例においてしきい値電圧
データ404はあらかじめ作成しておかなければならな
かったためインデックス蛍光体3のへたりや陰極線管の
電子銃の経時変化等による要因で検出が安定に行われな
くなるという問題点があった。
Further, in the third embodiment, the threshold voltage data 404 had to be created in advance, so that it could be detected due to factors such as the sagging of the index phosphor 3 and the aging of the electron gun of the cathode ray tube. There was a problem that it could not be performed stably.

【0090】また、第3の実施例においてしきい値電圧
データ404をあらかじめ作成しておくことは工場等の
出荷調整の手間が増えるという問題点があった。
In addition, in the third embodiment, creating the threshold voltage data 404 in advance has a problem that the time and effort required for shipment adjustment at a factory or the like increases.

【0091】しかしながら本実施例において陰極線管の
走査電子ビームの2次元的位置の検出を行う前に自動的
にしきい値電圧データ404の作成を行うことにより上
記問題点は解決することができる。
However, in the present embodiment, the above problem can be solved by automatically creating the threshold voltage data 404 before detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam of the cathode ray tube.

【0092】(実施例8)図13は本発明の第8の実施
例における陰極線管制御装置のブロック図を示すもので
ある。なお、第4の実施例の陰極線管制御装置のブロッ
ク図を示した図6と目的および動作が同一のものについ
ては同一の参照符号を付して詳細な説明は省略する。図
13において、検出手段100内のピーク検波回路11
0、切替回路111は第5の実施例と同じものである。
また、203は第4の実施例での演算・制御回路200
の機能に加え前記切替回路111を制御する制御信号を
発生する機能と、利得データ405を演算し求める機能
を備えた演算・制御回路である。
(Embodiment 8) FIG. 13 is a block diagram of a cathode ray tube controller in an eighth embodiment of the present invention. The same objects and operations as those in FIG. 6 showing the block diagram of the cathode ray tube control device of the fourth embodiment are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. In FIG. 13, the peak detection circuit 11 in the detection means 100 is shown.
0, the switching circuit 111 is the same as that of the fifth embodiment.
Reference numeral 203 denotes the arithmetic / control circuit 200 of the fourth embodiment.
In addition to the above function, the arithmetic / control circuit has a function of generating a control signal for controlling the switching circuit 111 and a function of calculating and obtaining the gain data 405.

【0093】図13において第4の実施例の動作を行う
場合、演算・制御回路203は切替回路111にT−V
変換回路104の出力を選択させA/D変換回路105
に入力させる。上記の場合第4の実施例で説明したと同
様に第4の実施例の効果が得られる。
In the case of performing the operation of the fourth embodiment in FIG. 13, the arithmetic / control circuit 203 causes the switching circuit 111 to perform TV conversion.
The output of the conversion circuit 104 is selected and the A / D conversion circuit 105 is selected.
To enter. In the above case, the effect of the fourth embodiment can be obtained in the same manner as described in the fourth embodiment.

【0094】一方、利得データ405を作成する場合、
演算・制御回路203は切替回路111にピーク検波回
路110の出力を選択させA/D変換回路105に入力
させる。ピーク検波回路110の動作は第5の実施例の
ものと同様であり説明は省略する。
On the other hand, when the gain data 405 is created,
The arithmetic / control circuit 203 causes the switching circuit 111 to select the output of the peak detection circuit 110 and input it to the A / D conversion circuit 105. The operation of the peak detection circuit 110 is similar to that of the fifth embodiment, and its explanation is omitted.

【0095】ピーク検波後の電圧はA/D変換され演算
・制御回路203にデータとして取り込まれる。演算・
制御回路203は前記データが画面上のどの位置でも一
定となり、かつ、2値化回路103のしきい値電圧以上
になるよう利得データ405を作成する。実際のデータ
作成手順はさまざまな公知の方法があるが公知、未知に
関わらずどのような手順を用いてもいい。
The voltage after peak detection is A / D converted and taken into the arithmetic / control circuit 203 as data. Calculation·
The control circuit 203 creates gain data 405 so that the data becomes constant at any position on the screen and is equal to or higher than the threshold voltage of the binarization circuit 103. There are various publicly known methods for actual data creation, and any known or unknown procedure may be used.

【0096】以上のようにこの実施例において、検出手
段100内にピーク検波回路110と切替回路111を
設け、インデックス蛍光体3の発する光または紫外線の
光電変換後の電圧を検出することで利得データ405の
自動作成が可能となる。
As described above, in this embodiment, the peak detection circuit 110 and the switching circuit 111 are provided in the detection means 100, and the voltage after the photoelectric conversion of the light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor 3 is detected to obtain the gain data. 405 can be automatically created.

【0097】また、第4の実施例において利得データ4
05はあらかじめ作成しておかなければならなかったた
めインデックス蛍光体3のへたりや陰極線管の電子銃の
経時変化等による要因で検出が安定に行われなくなると
いう問題点があった。
In addition, in the fourth embodiment, the gain data 4
Since No. 05 had to be prepared in advance, there was a problem that detection could not be performed stably due to factors such as the fatigue of the index phosphor 3 and the aging of the electron gun of the cathode ray tube.

【0098】また、第4の実施例において利得データ4
05をあらかじめ作成しておくことは工場等の出荷調整
の手間が増えるという問題点があった。
In addition, in the fourth embodiment, the gain data 4
There is a problem in that the preparation of 05 in advance increases the time and effort for shipment adjustment at factories and the like.

【0099】しかしながら本実施例において陰極線管の
走査電子ビームの2次元的位置の検出を行う前に自動的
に利得データ404の作成を行うことにより上記問題点
は解決することができる。
However, in the present embodiment, the above problem can be solved by automatically creating the gain data 404 before detecting the two-dimensional position of the scanning electron beam of the cathode ray tube.

【0100】[0100]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば陰極
線管の映し出す領域内のどこでも安定した電子ビームの
2次元的位置の検出をする陰極線管制御装置を提供する
事することができ、また、検出器の数を増やさずに陰極
線管の映し出す領域内のどこでも安定した電子ビームの
2次元的位置の検出のできる陰極線管制御装置を提供す
る事することができその実用的効果は大きい。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a cathode ray tube control device for detecting a stable two-dimensional position of an electron beam anywhere in a region where a cathode ray tube is projected. It is possible to provide a cathode ray tube control device capable of detecting a stable two-dimensional position of an electron beam anywhere in the region where the cathode ray tube is projected without increasing the number of detectors, and its practical effect is great.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例における陰極線管制御装
置のブロック構成図
FIG. 1 is a block configuration diagram of a cathode ray tube control device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】同実施例の動作波形図FIG. 2 is an operation waveform diagram of the embodiment.

【図3】本発明の第2の実施例における陰極線管制御装
置のブロック構成図
FIG. 3 is a block configuration diagram of a cathode ray tube control device according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3の実施例における陰極線管制御装
置のブロック構成図
FIG. 4 is a block configuration diagram of a cathode ray tube control device according to a third embodiment of the present invention.

【図5】同実施例の動作波形図FIG. 5 is an operation waveform diagram of the embodiment.

【図6】本発明の第4の実施例における陰極線管制御装
置のブロック構成図
FIG. 6 is a block configuration diagram of a cathode ray tube control device according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】同実施例の動作波形図FIG. 7 is an operation waveform diagram of the embodiment.

【図8】本発明の第5の実施例における陰極線管制御装
置のブロック構成図
FIG. 8 is a block configuration diagram of a cathode ray tube control device according to a fifth embodiment of the present invention.

【図9】同実施例における検出手段の波形図FIG. 9 is a waveform diagram of the detection means in the embodiment.

【図10】代表的ピーク検波回路の回路図FIG. 10 is a circuit diagram of a typical peak detection circuit.

【図11】本発明の第6の実施例における陰極線管制御
装置のブロック構成図
FIG. 11 is a block configuration diagram of a cathode ray tube control device according to a sixth embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第7の実施例における陰極線管制御
装置のブロック構成図
FIG. 12 is a block configuration diagram of a cathode ray tube control device according to a seventh embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第8の実施例における陰極線管制御
装置のブロック構成図
FIG. 13 is a block configuration diagram of a cathode ray tube controller according to an eighth embodiment of the present invention.

【図14】従来の陰極線管制御装置のブロック構成図FIG. 14 is a block configuration diagram of a conventional cathode ray tube control device.

【図15】同実施例の動作波形図FIG. 15 is an operation waveform diagram of the same embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 蛍光面 2 シャドウマスク 3 インデックス蛍光体 4 偏向/コンバーゼンスヨーク 10、11、12、13、14、15 テストパターン 20、21、22、23、24、25 テストパターン
信号 30、31、32、33、34、35 検出信号 39 しきい値電圧 40、41、42、43、44、45 検出パルス信号 50、51、52、53、54、55 変調されたテス
トパターン信号 60、61、62、63、64、65 検出信号 70、71、72、73、74、75 検出パルス信号 100 検出手段 101 光電変換回路 102 増幅回路 103 2値化回路 104 T−V変換回路 105 A/D変換回路 106 しきい値電圧可変型2値化回路 107 可変増幅回路 110 ピーク検波回路 111 検出手段内の切替回路 200 演算・制御回路 201 第5、第6の実施例における演算・制御回路 202 第7の実施例における演算・制御回路 203 第8の実施例における演算・制御回路 300 幾何学歪補正回路 400 メモリ 401 幾何学歪補正データ 402 テスト信号輝度データ 403 ユニフォミティ補正データ 404 しきい値データ 405 利得データ 500 輝度変調回路 600 検出用信号発生回路 601 輝度可変検出用信号発生回路 700 切替回路 701 第2の実施例における切替回路 800 映像信号処理回路 1101 代表的ピーク検波回路における入力端子 1102 代表的ピーク検波回路におけるダイオード 1103 代表的ピーク検波回路におけるコンデンサ 1104 代表的ピーク検波回路における負荷抵抗 1105 代表的ピーク検波回路における出力バッファ 1106 代表的ピーク検波回路における出力端子 1107 代表的ピーク検波回路におけるスイッチ
1 phosphor screen 2 shadow mask 3 index phosphor 4 deflection / convergence yokes 10, 11, 12, 13, 14, 15 test patterns 20, 21, 22, 23, 24, 25 test pattern signals 30, 31, 32, 33, 34, 35 Detection signal 39 Threshold voltage 40, 41, 42, 43, 44, 45 Detection pulse signal 50, 51, 52, 53, 54, 55 Modulated test pattern signal 60, 61, 62, 63, 64 , 65 detection signals 70, 71, 72, 73, 74, 75 detection pulse signal 100 detection means 101 photoelectric conversion circuit 102 amplification circuit 103 binarization circuit 104 TV conversion circuit 105 A / D conversion circuit 106 threshold voltage Variable type binarization circuit 107 Variable amplification circuit 110 Peak detection circuit 111 Switching circuit 200 in detection means Operation / control circuit 01 Arithmetic / Control Circuit 202 in Fifth and Sixth Embodiments Arithmetic / Control Circuit 203 in Seventh Embodiment Arithmetic / Control Circuit 300 in Eighth Embodiment Geometrical Distortion Correction Circuit 400 Memory 401 Geometrical Distortion Correction Data 402 test signal brightness data 403 uniformity correction data 404 threshold value data 405 gain data 500 brightness modulation circuit 600 detection signal generation circuit 601 brightness variable detection signal generation circuit 700 switching circuit 701 switching circuit 800 in the second embodiment video signal Processing circuit 1101 Input terminal 1102 in typical peak detection circuit Diode 1103 in typical peak detection circuit Capacitor 1104 in typical peak detection circuit Load resistance 1105 in typical peak detection circuit Output buffer 110 in typical peak detection circuit 6 Output terminal 1107 in typical peak detection circuit Switch in typical peak detection circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−172095(JP,A) 特開 平5−145935(JP,A) 特開 平5−236485(JP,A) 特開 平6−121178(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04N 9/24 G09G 1/00 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-4-172095 (JP, A) JP-A-5-145935 (JP, A) JP-A-5-236485 (JP, A) JP-A-6- 121178 (JP, A) (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H04N 9/24 G09G 1/00

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 インデックス蛍光体をシャドウマスクに
備えた陰極線管と、 前記インデックス蛍光体から走査電子ビームの2次元的
位置を検出する検出手段と、 前記陰極線管の幾何学歪を補正する幾何学歪補正回路
と、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行う際に用いる
テストパターンを後述するテスト信号輝度データにより
輝度変調し発生する輝度可変検出用信号発生回路と、 前記テストパターンの画面位置における輝度情報を示し
たテスト信号輝度データと前記幾何学歪補正のための幾
何学歪補正データを記憶するメモリとを備え、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行うときは前記
メモリのテスト信号輝度データにより前記輝度可変検出
用信号発生回路を駆動し、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行った結果より
前記メモリの幾何学歪補正データを作成し幾何学歪補正
データより前記幾何学歪補正回路を駆動する事を特長と
する陰極線管制御装置。
1. A cathode ray tube provided with an index phosphor in a shadow mask, a detection means for detecting a two-dimensional position of a scanning electron beam from the index phosphor, and a geometry for correcting geometric distortion of the cathode ray tube. A distortion correction circuit, a luminance variable detection signal generating circuit for luminance-modulating a test pattern used when the detecting unit detects the two-dimensional position by test signal luminance data described later, and a screen position of the test pattern. And a memory for storing the geometric distortion correction data for the geometric distortion correction, the test of the memory when the detecting means detects the two-dimensional position. The brightness variable detection signal generating circuit is driven by signal brightness data, and the detection means detects the two-dimensional position, A cathode ray tube control device characterized in that geometric distortion correction data of a memory is created and the geometric distortion correction circuit is driven from the geometric distortion correction data.
【請求項2】 インデックス蛍光体をシャドウマスクに
備えた陰極線管と、 前記インデックス蛍光体から走査電子ビームの2次元的
位置を検出する検出手段と、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行う際に用いる
テストパターンを発生させる検出用信号発生回路と、 前記陰極線管の輝度のユニフォミティ補正をする輝度変
調回路と、前記輝度のユニフォミティ補正のためのユニフォミティ
補正データと幾何学歪補正のための幾何学歪補正データ
とを記憶する第1のメモリと、 前記陰極線管の幾何学歪を補正する幾何学歪補正回路と
を備えた陰極線管制御装置であって前記テストパターンの画面位置における輝度情報を示し
たテスト信号輝度データを記憶する第2のメモリとを備
え、 通常は前記第1のメモリのユニフォミティ補正データよ
り前記輝度変調回路を駆動させるが、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行うときは前記
第2のメモリのテスト信号輝度データにより前記輝度変
調回路を駆動し前記検出が正常に行われるようにし、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行った結果より
前記第1のメモリの幾何学歪補正データを作成し幾何学
歪補正データより前記幾何学歪補正回路を駆動する事を
特長とする陰極線管制御装置。
2. A cathode ray tube provided with a shadow mask of an index phosphor, a detecting means for detecting a two-dimensional position of a scanning electron beam from the index phosphor, and the detecting means for detecting the two-dimensional position. uniformity for the detection signal generation circuit for generating a test pattern for use in a brightness modulation circuit for the uniformity correction of the luminance of the cathode ray tube, uniformity correction of the luminance
Correction data and geometric distortion correction data for geometric distortion correction
And a geometric distortion correction circuit for correcting the geometric distortion of the cathode ray tube.
A cathode ray tube control device including, showing the brightness information at the screen position of the test pattern
And a second memory for storing the brightness data of the test signal
For example, normally to drive the intensity modulator from the uniformity correction data of said first memory, said when said detecting means to detect the two-dimensional position
The test signal brightness data of the second memory drives the brightness modulation circuit so that the detection is normally performed, and the detection means detects the two-dimensional position, and the geometry of the first memory is obtained. A cathode ray tube control device characterized in that distortion correction data is created and the geometric distortion correction circuit is driven from the geometric distortion correction data.
【請求項3】 インデックス蛍光体をシャドウマスクに
備えた陰極線管と、前記インデックス蛍光体から走査電
子ビームの2次元的位置を検出する検出手段と、 前記陰極線管の幾何学歪を補正する幾何学歪補正回路
と、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行う際に用いる
テストパターンを後述するテスト信号輝度データにより
輝度変調し発生する輝度可変検出用信号発生回路と、 前記テストパターンの画面位置における輝度情報を示し
たテスト信号輝度データと前記幾何学歪補正のための幾
何学歪補正データを記憶するメモリとを備え、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行うときは前記
メモリのテスト信号輝度データにより前記輝度可変検出
用信号発生回路を駆動し、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行った結果より
前記メモリの幾何学歪補正データを作成し幾何学歪補正
データより前記幾何学歪補正回路を駆動する事を特長と
する陰極線管制御装置において、 検出手段は前記走査電子ビームの2次元的位置の検出に
加え、 前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線の光電
変換後の電圧をも検出し、 前記検出手段の検出した電圧より前記テスト信号輝度デ
ータを作成する事を特長とした陰極線管制御装置。
3. A cathode ray tube provided with an index phosphor in a shadow mask, a detecting means for detecting a two-dimensional position of a scanning electron beam from the index phosphor, and a geometry for correcting geometric distortion of the cathode ray tube. A distortion correction circuit, a luminance variable detection signal generating circuit for luminance-modulating a test pattern used when the detecting unit detects the two-dimensional position with test signal luminance data described later, and a screen position of the test pattern. And a memory for storing the geometric distortion correction data for the geometric distortion correction, the test of the memory when the detecting means detects the two-dimensional position. The brightness variable detection signal generating circuit is driven by signal brightness data, and the detection means detects the two-dimensional position, In a cathode ray tube control device characterized in that geometric distortion correction data of memory is created, and the geometric distortion correction circuit is driven from the geometric distortion correction data, the detecting means detects the two-dimensional position of the scanning electron beam. In addition to the above, the cathode ray tube control device is characterized in that a voltage after photoelectric conversion of light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor is also detected, and the test signal brightness data is created from the voltage detected by the detection means.
【請求項4】 インデックス蛍光体をシャドウマスクに
備えた陰極線管と、 前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線から走
査電子ビームの2次元的位置を検出する検出手段と、 前記検出手段は前記インデックス蛍光体の発する光また
は紫外線を光電変換する光電変換回路と、 前記光電変換回路の出力を後述するしきい値電圧データ
より2値化処理するしきい値可変2値化回路とを備え、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行う際に用いる
テストパターンを発生させる検出用信号発生回路と、 前記陰極線管の幾何学歪を補正する幾何学歪補正回路
と、 前記2値化回路のしきい値電圧を画面位置ごとに表わし
たしきい値電圧データと前記幾何学歪補正のための幾何
学歪補正データを記憶するメモリとを備え、 前記しきい値可変2値化回路は前記しきい値電圧データ
から前記光電変換回路の出力を2値化し、 前記検出手段が前記2次元位置の検出を行った結果より
前記メモリの幾何学歪補正データを作成し幾何学歪補正
データより前記幾何学歪補正回路を駆動する事を特長と
する陰極線管制御装置において、 検出手段は前記走査電子ビームの2次元的位置の検出に
加え、 前記インデックス蛍光体の発する光または紫外線の光電
変換後の電圧をも検出し、 前記検出手段の検出した電圧より前記しきい値電圧デー
タを作成する事を特長とした陰極線管制御装置。
4. A cathode ray tube provided with an index phosphor in a shadow mask, detection means for detecting a two-dimensional position of a scanning electron beam from light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor, and the detection means is the index fluorescence. The detection means includes: a photoelectric conversion circuit that photoelectrically converts light or ultraviolet rays emitted from the body; and a threshold variable binarization circuit that binarizes the output of the photoelectric conversion circuit from threshold voltage data described below. A detection signal generating circuit for generating a test pattern used when detecting the two-dimensional position, a geometric distortion correction circuit for correcting geometric distortion of the cathode ray tube, and a threshold value of the binarization circuit. Threshold voltage data representing a voltage for each screen position and a memory for storing the geometric distortion correction data for the geometric distortion correction; The digitizing circuit binarizes the output of the photoelectric conversion circuit from the threshold voltage data, and creates geometric distortion correction data of the memory from the result of the detection of the two-dimensional position by the detecting means to generate geometric distortion. In the cathode ray tube control device characterized by driving the geometric distortion correction circuit based on the correction data, the detecting means detects the two-dimensional position of the scanning electron beam, and detects the light or ultraviolet rays emitted from the index phosphor. A cathode ray tube control device characterized in that the voltage after photoelectric conversion is also detected, and the threshold voltage data is created from the voltage detected by the detecting means.
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