JP3372468B2 - Electro-optic sampling oscilloscope - Google Patents

Electro-optic sampling oscilloscope

Info

Publication number
JP3372468B2
JP3372468B2 JP00512598A JP512598A JP3372468B2 JP 3372468 B2 JP3372468 B2 JP 3372468B2 JP 00512598 A JP00512598 A JP 00512598A JP 512598 A JP512598 A JP 512598A JP 3372468 B2 JP3372468 B2 JP 3372468B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parallel data
electro
trigger signal
sampling oscilloscope
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP00512598A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH11201995A (en
Inventor
伸成 竹内
幸樹 柳沢
潤 菊池
暢一 伴城
善雄 遠藤
満 品川
忠夫 永妻
順三 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP00512598A priority Critical patent/JP3372468B2/en
Publication of JPH11201995A publication Critical patent/JPH11201995A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3372468B2 publication Critical patent/JP3372468B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電気光学サンプリ
ングオシロスコープに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electro-optic sampling oscilloscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】近時、例えば、2.4Gbpsという超
高速なビットレートの信号を扱う被測定回路の信号測定
には、被測定回路に擾乱を与えることなく測定可能な電
気光学サンプリングオシロスコープが用いられている。
ここで、上記電気光学サンプリングオシロスコープに
は、電気光学効果を利用して被測定信号を検出する電気
光学プローブが用いられる。
2. Description of the Related Art Recently, for example, an electro-optic sampling oscilloscope capable of measuring without disturbing a circuit under test is used for signal measurement of a circuit under test that handles a signal having an ultra-high bit rate of 2.4 Gbps. Has been.
Here, the electro-optic sampling oscilloscope uses an electro-optic probe that detects the signal under measurement by utilizing the electro-optic effect.

【0003】また、上述した電気光学サンプリングオシ
ロスコープは、 (1)信号を測定する際に、グランド線を必要としない
ため、測定が容易 (2)電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系
から各々絶縁されているので高入力インピーダンスを実
現でき、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことが
ない (3)光パルスを利用することからGHzオーダーまで
の広帯域測定が可能 といった特徴があることから、高速化が進む通信情報シ
ステムの測定に特に用いられている。
Further, the above-mentioned electro-optical sampling oscilloscope (1) is easy to measure because it does not require a ground line when measuring a signal. (2) The metal pin at the tip of the electro-optical probe is removed from the circuit system. Since they are isolated from each other, a high input impedance can be realized, and as a result, the state of the measured point is hardly disturbed. (3) Since the optical pulse is used, wideband measurement up to GHz order is possible. , It is especially used for the measurement of communication information systems, which are becoming faster.

【0004】図4は、上述した測定原理を用いた従来の
電気光学サンプリングオシロスコープの構成を示すブロ
ック図である。この図に示す電気光学サンプリングオシ
ロスコープは、本体1および電気光学プローブ2から構
成されている。上記本体1は、トリガ回路3、タイミン
グ発生回路4、光パルス発生回路5、A/D(アナログ
/ディジタル)変換器6、処理回路7、設定部8から構
成されている。
FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a conventional electro-optic sampling oscilloscope using the above-mentioned measurement principle. The electro-optic sampling oscilloscope shown in this figure comprises a main body 1 and an electro-optic probe 2. The main body 1 is composed of a trigger circuit 3, a timing generation circuit 4, an optical pulse generation circuit 5, an A / D (analog / digital) converter 6, a processing circuit 7, and a setting section 8.

【0005】トリガ回路3は、外部から入力されるトリ
ガ信号に基づいて設定部8で設定された周波数のトリガ
信号を生成する。タイミング発生回路4は、光パルスを
発生するタイミングおよびA/D変換器6におけるA/
D変換のタイミングをとるためのタイミング信号を発生
する。このタイミング信号は、希望サンプルレート、ト
リガ回路3より入力されるトリガ信号、内部クロックか
らのクロック信号から生成される。ここで、上記サンプ
ルレートとは、設定部8で設定された測定信号の時間方
向の拡大率であるx軸スケールに基づいて処理回路7に
おいて決定されるレートをいう。
The trigger circuit 3 generates a trigger signal having a frequency set by the setting section 8 based on a trigger signal input from the outside. The timing generation circuit 4 generates the timing of generating the optical pulse and A / D in the A / D converter 6.
A timing signal for timing the D conversion is generated. This timing signal is generated from the desired sample rate, the trigger signal input from the trigger circuit 3, and the clock signal from the internal clock. Here, the sample rate means a rate determined by the processing circuit 7 based on the x-axis scale which is the enlargement factor of the measurement signal in the time direction set by the setting unit 8.

【0006】光パルス発生回路5は、タイミング発生回
路4により発生されたタイミング信号に基づいて、光パ
ルスを発生し、これを電気光学プローブ2へ供給する。
そして、偏光変化を受けた光パルスは、電気光学プロー
ブ2内の偏光検出光学系(図示略)により検出され、こ
の検出結果たる検出信号は、A/D変換器6により増幅
およびA/D変換された後、処理回路7へ入力される。
そして、処理回路7は、被測定信号を表示する等の処理
を行う。
The optical pulse generation circuit 5 generates an optical pulse based on the timing signal generated by the timing generation circuit 4 and supplies it to the electro-optic probe 2.
Then, the optical pulse that has undergone the polarization change is detected by a polarization detection optical system (not shown) in the electro-optic probe 2, and the detection signal as the detection result is amplified and A / D converted by the A / D converter 6. Then, it is input to the processing circuit 7.
Then, the processing circuit 7 performs processing such as displaying the signal under measurement.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の電気
光学サンプリングオシロスコープにおいては、トリガ信
号が不安定であったり、ランダムであったりすると、測
定結果たる被測定信号の波形が乱れるという測定エラー
が発生する。しかしながら、従来の電気光学サンプリン
グオシロスコープにおいては、測定者から見れば、トリ
ガ信号が不安定、ランダムになっていることに起因して
いる測定エラーが発生しているのか、または被測定信号
自体が不安定であって正常に測定されているのかを区別
することができないという欠点があった。本発明はこの
ような背景の下になされたもので、トリガ信号が不安定
になっていることに起因する測定エラーを測定者に報知
することができる電気光学サンプリングオシロスコープ
を提供することを目的とする。
By the way, in the conventional electro-optic sampling oscilloscope, if the trigger signal is unstable or random, a measurement error occurs that the waveform of the measured signal as the measurement result is disturbed. To do. However, in the conventional electro-optic sampling oscilloscope, from the viewpoint of the measurer, the trigger signal may be unstable or random, causing a measurement error, or the measured signal itself may not be correct. There is a drawback that it is not possible to distinguish whether it is stable and is being measured normally. The present invention has been made under such a background, and an object thereof is to provide an electro-optical sampling oscilloscope capable of notifying a measurement person of a measurement error resulting from an unstable trigger signal. To do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、トリガ信号に基づいて生成される光パルスを利用し
て、被測定信号の測定を行う電気光学サンプリングオシ
ロスコープにおいて、一定周期毎に、前記トリガ信号に
おける各ビットをパラレルデータに変換する変換手段
と、2つの前記パラレルデータを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて、前記トリガ信号が
安定しているか否かを判断する判断手段と、前記判断手
段の判断結果を表示する表示手段とを具備することを特
徴とする。また、請求項2に記載の発明は、請求項1に
記載の電気光学サンプリングオシロスコープにおいて、
前記判断手段は、前記比較手段の比較結果が一致である
とき、前記トリガ信号が安定していると判断する一方、
前記比較手段の比較結果が不一致であるとき、前記トリ
ガ信号が不安定であると判断することを特徴とする。ま
た、請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載
の電気光学サンプリングオシロスコープにおいて、前記
パラレルデータを一定周期毎にラッチする第1のラッチ
手段と、前記第1のラッチ手段にラッチされていた前記
パラレルデータを一定周期毎にラッチする第2のラッチ
手段とを具備し、前記比較手段は、前記第1および第2
のラッチ手段に各々ラッチされている2つのパラレルデ
ータを比較することを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, an electro-optical sampling oscilloscope that measures a signal under measurement by using an optical pulse generated based on a trigger signal is provided at regular intervals. Conversion means for converting each bit in the trigger signal into parallel data, and comparison means for comparing the two parallel data,
It is characterized by comprising a judging means for judging whether or not the trigger signal is stable based on a comparison result of the comparing means, and a display means for displaying a judgment result of the judging means. The invention described in claim 2 is the electro-optical sampling oscilloscope according to claim 1,
While the determination means determines that the trigger signal is stable when the comparison result of the comparison means is in agreement,
When the comparison result of the comparison means does not match, it is determined that the trigger signal is unstable. According to a third aspect of the present invention, in the electro-optical sampling oscilloscope according to the first or second aspect, the first latch means for latching the parallel data at regular intervals and the first latch means for latching the parallel data are latched. Second parallel latching means for latching the parallel data that has been stored at regular intervals, and the comparing means includes the first and second latching means.
It is characterized in that the two parallel data latched by the respective latch means are compared.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態について説明する。図1は本発明の一実施形態に
よる電気光学サンプリングオシロスコープの要部の構成
を示すブロック図である。この図において、10は、前
述した内部クロックSckから図2(a)に示す同期信号
Ssを生成する制御部である。この同期信号Ssの周期
は、8ビット分のディジタル信号の周期に相当する。な
お、この同期信号Ssの周期は、8ビットに限定される
ことなく、16、32ビット等いかなるビット数であっ
てもよい。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a main part of an electro-optical sampling oscilloscope according to an embodiment of the present invention. In this figure, 10 is a control unit for generating the synchronization signal Ss shown in FIG. 2A from the above-mentioned internal clock Sck. The cycle of the synchronization signal Ss corresponds to the cycle of a digital signal of 8 bits. The period of the synchronization signal Ss is not limited to 8 bits, and may be any number of bits such as 16 or 32 bits.

【0010】11は、上記同期信号Ssの1周期分の、
シリアルのトリガ信号St(図2(b)参照)をパラレ
ルデータDpに変換するS/P(シリアル/パラレル)
変換部である。ここで、同期信号Ssとトリガ信号St
とは、非同期である。12は、同期信号Ssに同期して
1周期分のパラレルデータDpをラッチするラッチ回路
であり、ラッチされているパラレルデータDpをパラレ
ルデータDn+1として出力する。13は、同期信号Ssに
同期してラッチ回路12にラッチされていた1周期分の
パラレルデータDpをラッチするラッチ回路であり、ラ
ッチしているパラレルデータDpをパラレルデータDnと
して出力する。
Reference numeral 11 denotes one cycle of the synchronizing signal Ss,
S / P (serial / parallel) for converting the serial trigger signal St (see FIG. 2B) into parallel data Dp
It is a conversion unit. Here, the synchronization signal Ss and the trigger signal St
And are asynchronous. A latch circuit 12 latches the parallel data Dp for one cycle in synchronization with the synchronization signal Ss, and outputs the latched parallel data Dp as parallel data Dn + 1. Reference numeral 13 is a latch circuit that latches one cycle of parallel data Dp latched in the latch circuit 12 in synchronization with the synchronization signal Ss, and outputs the latched parallel data Dp as parallel data Dn.

【0011】14は、ラッチ回路12およびラッチ回路
13より、同期信号Ssに同期して順次入力されるパラ
レルデータDn+1とパラレルデータDnとを比較する比較
部であり、比較結果を比較結果信号Scとして出力す
る。15は、比較部14の比較結果を表示する表示部で
あり、例えば、ランプ、発光ダイオード、液晶ディスプ
レイ等である。
Reference numeral 14 denotes a comparison section for comparing the parallel data Dn + 1 and the parallel data Dn, which are sequentially input from the latch circuit 12 and the latch circuit 13 in synchronization with the synchronization signal Ss. Output as Sc. A display unit 15 displays the comparison result of the comparison unit 14, and is, for example, a lamp, a light emitting diode, a liquid crystal display, or the like.

【0012】次に、上述した一実施形態による電気光学
サンプリングオシロスコープの動作について説明する。
図2(a)に示す時刻t0において、内部クロックSck
が制御部10に入力されると、制御部10は、内部クロ
ックSckから図2(a)に示す同期信号Ssを生成し
て、これをS/P変換部11、ラッチ回路12およびラ
ッチ回路13へ各々出力する。
Next, the operation of the electro-optic sampling oscilloscope according to the above-described embodiment will be described.
At time t0 shown in FIG. 2A, the internal clock Sck
2 is input to the control unit 10, the control unit 10 generates the synchronization signal Ss shown in FIG. 2A from the internal clock Sck and outputs it to the S / P conversion unit 11, the latch circuit 12, and the latch circuit 13. Output to each.

【0013】これにより、S/P変換部11は、順次入
力されるトリガ信号StをパラレルデータDpに変換す
る。そして、今、図2(a)に示す時刻t1になると、
ラッチ回路12には、時刻t0から時刻t1までの期間T
0における、トリガ信号Stがパラレル変換されたパラレ
ルデータDpがラッチされる。図2(b)に示す例で
は、期間T0におけるパラレルデータDpは、”1100
0000”である。
As a result, the S / P converter 11 converts the sequentially input trigger signal St into parallel data Dp. Then, at time t1 shown in FIG. 2A,
The latch circuit 12 has a period T from time t0 to time t1.
The parallel data Dp obtained by parallel-converting the trigger signal St at 0 is latched. In the example shown in FIG. 2B, the parallel data Dp in the period T0 is “1100.
It is 0000 ".

【0014】また、時刻t1において、S/P変換部1
1は、順次入力される図2(b)に示すトリガ信号St
をパラレルデータDpに変換する。そして、今、図2
(a)に示す時刻t2になると、ラッチ回路12には、
時刻t1から時刻t2までの期間T1における、トリガ信
号Stがパラレル変換されたパラレルデータDpがラッチ
される。
Also, at time t1, the S / P converter 1
1 is the trigger signal St shown in FIG.
To parallel data Dp. And now, Figure 2
At time t2 shown in (a), the latch circuit 12
In the period T1 from the time t1 to the time t2, the parallel data Dp obtained by converting the trigger signal St into parallel is latched.

【0015】図2(b)に示す例では、期間T1におけ
るパラレルデータDpは、期間T0と同一の”11000
000”である。また、時刻t2においては、ラッチ回
路12にラッチされていたパラレルデータDpがラッチ
回路13にラッチされる。これにより、ラッチ回路12
からは、”11000000”のパラレルデータDn+1
が比較部14へ出力されるとともに、ラッチ回路13か
らは、”11000000”パラレルデータDnが比較
部14へ出力される。
In the example shown in FIG. 2B, the parallel data Dp in the period T1 is "11000" which is the same as that in the period T0.
000 ″. Further, at time t2, the parallel data Dp latched by the latch circuit 12 is latched by the latch circuit 13. As a result, the latch circuit 12
From, the parallel data of "11000000" Dn + 1
Is output to the comparison unit 14, and the latch circuit 13 outputs “11000000” parallel data Dn to the comparison unit 14.

【0016】これにより、比較部14は、パラレルデー
タDn(”11000000”)とパラレルデータDn+1
(”11000000”)とを比較する。今の場合、両
者の”1”および”0”の配列および”1”の連続数等
が完全に一致しているため、比較部14は、一致してい
ることを示す比較結果信号Scを出力する。この結果、
表示部15には、トリガ信号Stが安定している旨が表
示されるか、またはいずれも表示されない。
As a result, the comparison unit 14 causes the parallel data Dn ("11000000") and the parallel data Dn + 1.
("11000000") is compared. In this case, the arrangements of "1" and "0" and the number of consecutive "1" s of the both completely match, and therefore the comparison unit 14 outputs the comparison result signal Sc indicating that they match. To do. As a result,
The display unit 15 displays that the trigger signal St is stable, or neither of them is displayed.

【0017】また、時刻t2において、S/P変換部1
1は、順次入力される図2(b)に示すトリガ信号St
をパラレルデータDpに変換する。そして、今、図2
(a)に示す時刻t3になると、ラッチ回路12には、
時刻t2から時刻t3までの期間T2における、トリガ信
号Stがパラレル変換されたパラレルデータDpがラッチ
される。
Further, at time t2, the S / P converter 1
1 is the trigger signal St shown in FIG.
To parallel data Dp. And now, Figure 2
At time t3 shown in (a), the latch circuit 12
In the period T2 from time t2 to time t3, the parallel data Dp, which is the parallel conversion of the trigger signal St, is latched.

【0018】図2(b)に示す例では、期間T2におけ
るパラレルデータDpは、”11001100”であ
る。また、時刻t3においては、ラッチ回路12にラッ
チされていた”11000000”のパラレルデータD
pは、ラッチ回路13にラッチされる。これにより、ラ
ッチ回路12からは、”11001100”なるパラレ
ルデータDn+1が比較部14へ出力されるとともに、ラ
ッチ回路13からは、”11000000”なるパラレ
ルデータDnが比較部14へ出力される。
In the example shown in FIG. 2B, the parallel data Dp in the period T2 is "11001100". Further, at time t3, the parallel data D of "11000000" latched by the latch circuit 12 is generated.
p is latched by the latch circuit 13. As a result, the latch circuit 12 outputs the parallel data Dn + 1 of “11001100” to the comparison unit 14, and the latch circuit 13 outputs the parallel data Dn of “11000000” to the comparison unit 14.

【0019】これにより、比較部14は、パラレルデー
タDn(”11000000”)とパラレルデータDn+1
(”11001100”)とを比較する。今の場合、両
者の”1”および”0”の配列および”1”の連続数等
が一致していないため、比較部14は、不一致であるこ
とを示す比較結果信号Scを出力する。この結果、表示
部15には、トリガ信号Stが不安定である旨および測
定エラーが発生している旨が表示される。
As a result, the comparison unit 14 causes the parallel data Dn ("11000000") and the parallel data Dn + 1.
(“11001100”) is compared. In this case, since the arrays of "1" and "0" and the number of consecutive "1" s of both do not match, the comparison unit 14 outputs the comparison result signal Sc indicating that they do not match. As a result, the display unit 15 displays that the trigger signal St is unstable and that a measurement error has occurred.

【0020】以上説明したように本発明の一実施形態に
よる電気光学サンプリングオシロスコープによれば、ト
リガ信号Stが安定であるか否かを表示部15に表示す
るように構成されているので、トリガ信号Stが不安定
になっていることに起因する測定エラーを測定者に報知
することができる。
As described above, the electro-optic sampling oscilloscope according to the embodiment of the present invention is configured to display on the display unit 15 whether or not the trigger signal St is stable. It is possible to notify the measurer of a measurement error caused by St becoming unstable.

【0021】以上、本発明の一実施形態を図面を参照し
て詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限ら
れるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設
計変更等があっても本発明に含まれる。たとえば、上述
した一実施形態による電気光学サンプリングオシロスコ
ープにおいては、図1に示すパラレルデータDnとパラ
レルデータDn+1とが完全に一致した場合に、トリガ信
号が安定していると判断される例について説明したが、
判断基準は、この一例に限定されるものではなく次に列
挙する基準を用いてもよい。 (イ) 図3(a)に示すパラレルデータDnから得ら
れるトリガ信号Stと、図3(b)に示すパラレルデー
タDn+1から得られるトリガ信号Stとの位相のみが異な
る場合には、トリガ信号Stが安定していると判断す
る。 (ロ) 図3(a)に示すパラレルデータDnから得ら
れるトリガ信号Stの立ち上がりおよび立ち下がりの各
位置と、図3(c)に示すパラレルデータDn+1から得
られるトリガ信号Stの立ち上がりおよび立ち下がりの
各位置とがマイナス1ビット異なっている場合、トリガ
信号Stが安定していると判断する。これは、前述した
ようにトリガ信号Stと同期信号Ssとが非同期である
ことによって生じる、S/P変換部11の変換タイミン
グのずれによる誤差分を考慮したものである。 (ハ) 図3(a)に示すパラレルデータDnから得ら
れるトリガ信号Stの立ち上がりおよび立ち下がりの各
位置と、図3(d)に示すパラレルデータDn+1から得
られるトリガ信号Stの立ち上がりおよび立ち下がりの
各位置とがプラス1ビット分異なっている場合、トリガ
信号Stが安定していると判断する。これは、上記
(ロ)項と同様にして、S/P変換部11の変換タイミ
ングのずれによる誤差分を考慮したものである。 (ニ) 上記(イ)項、(ロ)項、(ハ)項の各判断基
準のうち2つまたは3つの判断基準を同時に満たす場
合、トリガ信号Stが安定していると判断する。
Although one embodiment of the present invention has been described in detail above with reference to the drawings, the specific configuration is not limited to this embodiment, and design changes within the scope not departing from the gist of the present invention. Even so, it is included in the present invention. For example, in the electro-optic sampling oscilloscope according to the above-described embodiment, a case where the trigger signal is determined to be stable when the parallel data Dn and the parallel data Dn + 1 shown in FIG. I explained,
The criterion is not limited to this example, and the criteria listed below may be used. (A) If the trigger signal St obtained from the parallel data Dn shown in FIG. 3A and the trigger signal St obtained from the parallel data Dn + 1 shown in FIG. It is determined that the signal St is stable. (B) The rising and falling positions of the trigger signal St obtained from the parallel data Dn shown in FIG. 3A and the rising and falling positions of the trigger signal St obtained from the parallel data Dn + 1 shown in FIG. 3C. When each trailing edge position differs by -1 bit, it is determined that the trigger signal St is stable. This is in consideration of the error amount due to the shift of the conversion timing of the S / P conversion unit 11, which is caused by the non-synchronization of the trigger signal St and the synchronization signal Ss as described above. (C) The rising and falling positions of the trigger signal St obtained from the parallel data Dn shown in FIG. 3A and the rising and falling positions of the trigger signal St obtained from the parallel data Dn + 1 shown in FIG. 3D. When the position of each trailing edge differs by one bit, it is determined that the trigger signal St is stable. This is in consideration of the error amount due to the shift of the conversion timing of the S / P conversion unit 11, similarly to the above item (B). (D) If two or three of the criteria of (a), (b), and (c) above are simultaneously satisfied, it is determined that the trigger signal St is stable.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、比
較手段の比較結果に基づいて、前記トリガ信号が安定し
ているか否かが判断され、この判断結果が表示手段に表
示されるように構成したので、トリガ信号が不安定にな
っていることに起因する測定エラーを測定者に報知する
ことができるという効果が得られる。
As described above, according to the present invention, whether or not the trigger signal is stable is judged based on the comparison result of the comparison means, and the judgment result is displayed on the display means. With this configuration, it is possible to obtain the effect of being able to notify the measurer of a measurement error caused by the instability of the trigger signal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の一実施形態による電気光学サンプリ
ングオシロスコープの要部の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a main part of an electro-optical sampling oscilloscope according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同一実施形態による電気光学サンプリングオ
シロスコープの動作を説明する信号波形図である。
FIG. 2 is a signal waveform diagram illustrating an operation of the electro-optical sampling oscilloscope according to the same embodiment.

【図3】 同一実施形態による電気光学サンプリングオ
シロスコープにおけるトリガ信号の安定条件を説明する
図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a stable condition of a trigger signal in the electro-optical sampling oscilloscope according to the same embodiment.

【図4】 従来の電気光学サンプリングオシロスコープ
の構成を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional electro-optical sampling oscilloscope.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 制御部 11 S/P変換部 12 ラッチ回路 13 ラッチ回路 14 比較部 15 表示部 10 Control unit 11 S / P converter 12 Latch circuit 13 Latch circuit 14 Comparison section 15 Display

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菊池 潤 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 伴城 暢一 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 遠藤 善雄 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤 電気株式会社内 (72)発明者 品川 満 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 永妻 忠夫 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 山田 順三 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日 本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平9−178780(JP,A) 特開 平6−201803(JP,A) 特開 平7−43393(JP,A) 特開 平6−242152(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01R 13/00 - 13/42 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Jun Kikuchi 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Ando Electric Co., Ltd. (72) Nobuichi Banjo 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Ando Electric Co., Ltd. (72) Inventor Yoshio Endo 4-19-7 Kamata, Ota-ku, Tokyo Ando Electric Co., Ltd. (72) Inventor Mitsuru Shinagawa 3-19-2 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo Nihon Telegraph Telephone Company (72) Inventor Tadao Nagatsuma 3-19-2 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo Japan Telegraph and Telephone Corporation (72) Inventor Junzo Yamada 3-19-3 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo Nihon Telegraph and Telephone Corporation (56) Reference JP-A-9-178780 (JP, A) JP-A-6-201803 (JP, A) JP-A-7-43393 (JP, A) JP-A-6- 242152 (JP, A) (58) The field (Int.Cl. 7, DB name) G01R 13/00 - 13/42

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 トリガ信号に基づいて生成される光パル
スを利用して、被測定信号の測定を行う電気光学サンプ
リングオシロスコープにおいて、 一定周期毎に、前記トリガ信号における各ビットをパラ
レルデータに変換する変換手段と、 2つの前記パラレルデータを比較する比較手段と、 前記比較手段の比較結果に基づいて、前記トリガ信号が
安定しているか否かを判断する判断手段と、 前記判断手段の判断結果を表示する表示手段とを具備す
ることを特徴とする電気光学サンプリングオシロスコー
プ。
1. An electro-optical sampling oscilloscope for measuring a signal under measurement by using an optical pulse generated based on a trigger signal, and converting each bit in the trigger signal into parallel data at regular intervals. A conversion means; a comparison means for comparing the two parallel data; a judgment means for judging whether the trigger signal is stable based on a comparison result of the comparison means; and a judgment result of the judgment means. An electro-optical sampling oscilloscope, comprising: display means for displaying.
【請求項2】 前記判断手段は、前記比較手段の比較結
果が一致であるとき、前記トリガ信号が安定していると
判断する一方、前記比較手段の比較結果が不一致である
とき、前記トリガ信号が不安定であると判断することを
特徴とする請求項1に記載の電気光学サンプリングオシ
ロスコープ。
2. The determination means determines that the trigger signal is stable when the comparison result of the comparison means is in agreement, while the trigger signal is determined when the comparison result of the comparison means is inconsistent. The electro-optic sampling oscilloscope according to claim 1, wherein the electro-optical sampling oscilloscope is determined to be unstable.
【請求項3】 前記パラレルデータを一定周期毎にラッ
チする第1のラッチ手段と、 前記第1のラッチ手段にラッチされていた前記パラレル
データを一定周期毎にラッチする第2のラッチ手段とを
具備し、 前記比較手段は、前記第1および第2のラッチ手段に各
々ラッチされている2つのパラレルデータを比較するこ
とを特徴とする請求項1または2に記載の電気光学サン
プリングオシロスコープ。
3. A first latch means for latching the parallel data at regular intervals, and a second latch means for latching the parallel data latched by the first latch means at regular intervals. The electro-optic sampling oscilloscope according to claim 1 or 2, wherein the comparison means compares the two parallel data latched in the first and second latch means, respectively.
JP00512598A 1998-01-13 1998-01-13 Electro-optic sampling oscilloscope Expired - Fee Related JP3372468B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP00512598A JP3372468B2 (en) 1998-01-13 1998-01-13 Electro-optic sampling oscilloscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP00512598A JP3372468B2 (en) 1998-01-13 1998-01-13 Electro-optic sampling oscilloscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11201995A JPH11201995A (en) 1999-07-30
JP3372468B2 true JP3372468B2 (en) 2003-02-04

Family

ID=11602606

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP00512598A Expired - Fee Related JP3372468B2 (en) 1998-01-13 1998-01-13 Electro-optic sampling oscilloscope

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3372468B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11352156A (en) * 1998-06-03 1999-12-24 Ando Electric Co Ltd Electrooptic sampling oscilloscope

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11201995A (en) 1999-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10782344B2 (en) Technique for determining performance characteristics of electronic devices and systems
EP2026469B1 (en) Circuit device and method of measuring clock jitter
US8405413B2 (en) Critical path monitor having selectable operating modes and single edge detection
US7684478B2 (en) Generating an eye diagram of integrated circuit transmitted signals
JP2819007B2 (en) Logic analyzer
US6661266B1 (en) All digital built-in self-test circuit for phase-locked loops
US7020567B2 (en) System and method of measuring a signal propagation delay
US20070091991A1 (en) Strobe technique for test of digital signal timing
US7594048B1 (en) Determining transit time across an asynchronous FIFO memory by measuring fractional occupancy
JPH0815380A (en) Semiconductor integrated circuit device
WO2019049480A1 (en) Sensor device and measurement method
JP3372468B2 (en) Electro-optic sampling oscilloscope
JP3372467B2 (en) Electro-optic sampling oscilloscope
US6232765B1 (en) Electro-optical oscilloscope with improved sampling
JP4651804B2 (en) Semiconductor test equipment
JPH11125663A (en) Circuit for processing signal of electrooptic probe
JP3352376B2 (en) Electro-optic sampling oscilloscope
US4224569A (en) Display stabilization circuit
US6310507B1 (en) Timing generation circuit for electro-optic sampling oscilloscope
JP3377943B2 (en) Electro-optic sampling oscilloscope
JPH11352156A (en) Electrooptic sampling oscilloscope
JP7288086B2 (en) Method and evaluation unit for detecting edge instants of a signal
JPH11153627A (en) Electrooptic sampling oscilloscope
JPS63233382A (en) Skew detector
JPH01150877A (en) Measuring instrument for transmission line length

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20021029

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071122

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081122

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees