JP3372335B2 - Information disk shape measuring method and apparatus - Google Patents

Information disk shape measuring method and apparatus

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JP3372335B2
JP3372335B2 JP34870893A JP34870893A JP3372335B2 JP 3372335 B2 JP3372335 B2 JP 3372335B2 JP 34870893 A JP34870893 A JP 34870893A JP 34870893 A JP34870893 A JP 34870893A JP 3372335 B2 JP3372335 B2 JP 3372335B2
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measuring
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inflection point
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、情報ディスク、特にガ
ラス基板を使用した磁気ディスク等の形状評価に好適の
形状測定方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a shape measuring method and apparatus suitable for shape evaluation of information disks, particularly magnetic disks using a glass substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、ハードディスク装置の高密度記録
化が進み、浮上ヘッドのエアギャップも0.1〜0.0
5μmと微小化が要請されている。これに伴い、ハード
ディスク表面の平面度に対する要求は益々厳しくなりつ
つある。この種のディスク材料としては、アルミニウム
合金に金属メッキを施した基板や結晶化ガラス基板等が
開発されているが、ガラス基板については、表面仕上げ
の善し悪しがディスク表面の平滑化に大きな影響を与え
ることが知られている(特開平5−89459号)。即
ち、ガラスの表面仕上げの工程は、大きく分けて粗研
削、精研削、研磨の3工程からなるが、このうち研磨は
ポリシングと呼ばれ、従来、このポリシング工程の特性
として、図8に示すように、ガラス基板の外周部に隆起
部42が形成され、外周部がだれてしまうことが知られ
ている。この隆起部の高さhは、大きいもので0.45
μm程度あり、磁気ヘッドのフライングに大きな影響を
与え、記録エリアがその分狭められてしまうという問題
がある。
2. Description of the Related Art In recent years, high density recording of hard disk devices has progressed, and the air gap of the flying head has been 0.1 to 0.0.
Miniaturization of 5 μm is required. Along with this, the demand for flatness of the hard disk surface is becoming more and more severe. As a disk material of this kind, a substrate obtained by metal-plating an aluminum alloy, a crystallized glass substrate, and the like have been developed. Regarding the glass substrate, the quality of the surface finish greatly affects the smoothness of the disk surface. It is known (Japanese Patent Laid-Open No. 5-89459). That is, the surface finishing step of glass is roughly divided into three steps of rough grinding, fine grinding, and polishing. Of these, polishing is called polishing, and conventionally, as a characteristic of this polishing step, as shown in FIG. In addition, it is known that the raised portion 42 is formed on the outer peripheral portion of the glass substrate and the outer peripheral portion is sagged. The height h of this raised part is 0.45
Since it is about μm, it has a great influence on the flying of the magnetic head, and there is a problem that the recording area is narrowed accordingly.

【0003】そこで、特開平5−89459号では、ポ
リシング時の研磨加工圧力と研磨加工時間とを適当に調
整することにより、ガラス基板の外周縁部の隆起部の発
生を極力抑えて高い平滑度を得ようとする試みがなされ
ている。この場合の製品の品質を評価するためには、ガ
ラス基板表面の形状を高精度に測定する必要がある。こ
のような測定が可能な形状測定装置としては、従来、触
針式の表面粗さ測定機が試験的に使用されている。
Therefore, in JP-A-5-89459, by appropriately adjusting the polishing processing pressure and the polishing processing time at the time of polishing, the occurrence of a raised portion at the outer peripheral edge portion of the glass substrate is suppressed as much as possible to obtain a high smoothness. Attempts have been made to obtain. In order to evaluate the quality of the product in this case, it is necessary to measure the shape of the glass substrate surface with high accuracy. As a shape measuring device capable of performing such a measurement, a stylus type surface roughness measuring device has been conventionally used on a trial basis.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
触針式の形状測定装置を使用したディスクの測定方法で
は、触針の変位信号を記録計でプロットし、このプロッ
ト結果から検査員が目視でディスク外周部の隆起部の形
状を評価しているため、測定結果にばらつきが発生した
り測定に時間がかかるという問題がある。特に、隆起部
のプロフィルにおける変曲点の位置の情報は、フライン
グの限界点、記録エリアとディスク端部との境界点、デ
ィスクの有効径等を知る上で極めて重要な情報である
が、従来は、隆起部のプロフィル自体がだれること、及
び変位方向のレンジの決め方に経験を要する等、変曲点
の位置を正しく測定することが困難であるという問題が
ある。従って、従来は、ディスクの任意の半径位置での
形状評価を行って、ディスクの良/不良を判定するにと
どまり、ディスクの有効径等の絶対的な評価を行った
り、ロット全体の傾向を知ることができなかった。さら
に、ディスクの中心点を求め、ディスクのx軸方向にお
ける任意の地点の形状評価を行おうとするとき、ディス
クの中心点が規定できないため、x軸の値を正しく規定
することが困難であるという問題もある。
However, in the disk measuring method using the conventional stylus type shape measuring device, the displacement signal of the stylus is plotted by a recorder, and the inspector can visually check it from the plot result. Since the shape of the raised portion on the outer peripheral portion of the disk is evaluated, there are problems that the measurement results vary and the measurement takes time. In particular, the information about the position of the inflection point in the profile of the ridge is extremely important information for knowing the limit point of flying, the boundary point between the recording area and the end of the disc, the effective diameter of the disc, etc. Has a problem that it is difficult to accurately measure the position of the inflection point, because the profile of the bulge itself is sagging, and it takes experience in determining the range in the displacement direction. Therefore, conventionally, the shape of the disk is evaluated at an arbitrary radial position to judge whether the disk is good or defective, and the effective diameter of the disk is absolutely evaluated, and the tendency of the entire lot is known. I couldn't. Furthermore, when trying to obtain the center point of the disk and evaluate the shape of an arbitrary point in the x-axis direction of the disk, it is difficult to specify the x-axis value because the center point of the disk cannot be specified. There are also problems.

【0005】本発明はこのような問題点を解決するため
になされたもので、情報ディスクの研磨工程によって生
じる外周部の隆起部及びだれ部における変曲点の位置を
高精度に測定することができる情報ディスクの形状測定
装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in order to solve such a problem, and can accurately measure the positions of the inflection points in the ridges and sags of the outer peripheral portion caused by the polishing process of the information disk. An object of the present invention is to provide a device for measuring the shape of an information disc that can be used.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明に係る情報ディス
クの形状測定方法は、被測定ディスクの測定面に沿って
測定子を移動させ、この測定子から出力される変位信号
をサンプリングして形状情報として記憶するステップ
と、このステップで記憶された被測定ディスクの形状情
報から前記形状情報における外周縁部の各微小範囲の傾
斜角度を求めると共に、これらの傾斜角度に基づいて前
記被測定ディスクの外周縁部の形状情報のなかの変曲点
前記被測定ディスクの半径方向の位置および回転軸方
向の位置のデータとして算出するステップとを具備した
ことを特徴とする。
According to the method of measuring the shape of an information disk according to the present invention, a measuring element is moved along the measuring surface of a disk to be measured, and a displacement signal output from the measuring element is sampled to obtain the shape. The step of storing as information, and the tilt angle of each minute range of the outer peripheral edge portion in the shape information is obtained from the shape information of the measured disk stored in this step, and the measured disk of the measured disk is determined based on these tilt angles. The inflection point in the shape information of the outer peripheral edge is defined as the radial position of the measured disk and the rotational axis direction.
And a step of calculating the data as the position data of the direction .

【0007】また、本発明に係る情報ディスクの形状測
定装置は、被測定ディスクを保持する保持手段と、この
保持手段に保持された被測定ディスクの測定面に沿って
移動可能に配置され前記測定面の変位信号を出力する測
定子と、この測定子を前記被測定ディスクの測定面に摺
接させた状態で前記測定面に沿って移動させる駆動手段
と、前記測定子の前記測定面に沿った移動の過程で前記
測定子から出力される変位信号を所定のタイミングでサ
ンプリングするサンプリング手段と、このサンプリング
手段によってサンプリングされた変位信号を前記被測定
ディスクの形状情報として記憶する記憶手段と、この記
憶手段に記憶された前記被測定ディスクの形状情報から
前記形状情報における外周縁部の各微小範囲の傾斜角度
を求めると共に、これらの傾斜角度に基づいて前記被測
定ディスクの外周縁部の形状情報のなかの変曲点を前記
被測定ディスクの半径方向の位置および回転軸方向の位
置のデータとして算出する変曲点算出手段とを具備した
ことを特徴とする。
Further, the information disk shape measuring apparatus according to the present invention is arranged so as to be movable along the holding means for holding the measured disk and the measuring surface of the measured disk held by the holding means. A tracing stylus that outputs a displacement signal of a surface, a driving unit that moves the tracing stylus along the measuring surface in a state of sliding contact with the measuring surface of the measured disk, and along the measuring surface of the tracing stylus. Sampling means for sampling the displacement signal output from the tracing stylus at a predetermined timing during the movement, and storage means for storing the displacement signal sampled by the sampling means as the shape information of the measured disk, wherein stored in the storage means from the shape information of the measuring disc with obtaining the inclination angle of each micro range of the outer peripheral edge portion of the shape information, The point of inflection among shape information of the outer peripheral edge portion of the measured disk based on the inclination angle of these
Position of the measured disk in the radial direction and in the rotational axis direction
And an inflection point calculating means for calculating the position data .

【0008】なお、変曲点算出手段としては、記憶手段
に記憶された被測定ディスクの形状情報から直線部分を
抽出し、この直線部分に対する前記傾斜角度が予め指定
した値以上になった点を変曲点とするものや、傾斜角度
の変化率が予め指定した値以上になった点を変曲点とす
るものなどを用いることができる。傾斜角度やその変化
率は、ディスクの半径方向をx、測定面と直交する方向
をzとすると、Δxに対する変化量Δz及びその変化で
表されるので、Δxが一定であるならば、Δzの値及び
その変化量のみを参照して変曲点を求めればよい。
As the inflection point calculating means, a straight line portion is extracted from the shape information of the disk to be measured stored in the storage means, and a point at which the inclination angle with respect to the straight line portion is equal to or more than a predetermined value It is possible to use an inflection point, or an inflection point at which the rate of change of the inclination angle is equal to or more than a value designated in advance. The tilt angle and its change rate are represented by the change amount Δz and the change thereof with respect to Δx, where x is the radial direction of the disk and z is the direction orthogonal to the measurement surface. Therefore, if Δx is constant, Δz The inflection point may be obtained by referring to only the value and its change amount.

【0009】また、ディスクの軸心位置に基準球を位置
させ、この基準球のほぼ中心を通るように測定子をx方
向に移動させてその頂点を求め、得られた頂点のx方向
の位置をディスクの中心位置と決定するようにしてもよ
い。
Further, the reference sphere is positioned at the axial center of the disk, the stylus is moved in the x direction so as to pass substantially the center of the reference sphere, and the apex thereof is obtained. The position of the obtained apex in the x direction. May be determined as the center position of the disc.

【0010】[0010]

【作用】本発明によれば、被測定ディスクの測定面をト
レースすることによって取得され記憶手段に記憶された
被測定ディスクの形状情報から、形状情報における各微
小範囲の傾斜角度を求めると共に、これらの傾斜角度に
基づいて形状情報中の変曲点を求めるようにしているの
で、複雑な曲線あてはめ計算を用いることなく、所望と
する変曲点を正確に算出することができる。このため、
被測定ディスクの有効径等に対する正しい評価結果を得
ることができると共に、検査スピードが要求されるライ
ン内での自動検査等にも応用できる。
According to the present invention, the inclination angle of each minute range in the shape information is obtained from the shape information of the measured disk obtained by tracing the measurement surface of the measured disk and stored in the storage means. Since the inflection point in the shape information is obtained based on the inclination angle of, the desired inflection point can be accurately calculated without using a complicated curve fitting calculation. For this reason,
It is possible to obtain a correct evaluation result for the effective diameter of the disk to be measured, and it can also be applied to automatic inspection within a line where inspection speed is required.

【0011】なお、ディスク端部に所定角度の面取りが
施されている場合には、予めその角度の情報を指定して
おくことにより、前記微小範囲の傾斜角度がその指定角
度以上になった点をディスクの記録エリアと端部との境
界点であると容易に認定することができる。
When the disk edge is chamfered at a predetermined angle, information on the angle is designated in advance so that the tilt angle of the minute range becomes equal to or greater than the designated angle. Can be easily identified as the boundary point between the recording area and the end of the disc.

【0012】また、そのような境界点も含め、一般に変
曲点では、プロフィルの接線の角度が急激に変化するこ
とがある。したがって、前記傾斜角度の変化率が指定値
以上又は最大になった点を変曲点と認定することによっ
ても、記録エリアと端部との境界点を正確に検出するこ
とができる。
In general, at the inflection point including the boundary point, the angle of the tangent line of the profile may change abruptly. Therefore, the boundary point between the recording area and the end portion can be accurately detected by recognizing the point where the rate of change of the tilt angle is equal to or greater than the specified value or is the maximum as the inflection point.

【0013】傾斜角度がΔxに対する変化量Δzで表さ
れ、Δxが一定である場合、これらの変曲点の算出は、
Δzのみを参照することにより、演算処理が簡単にな
る。
When the inclination angle is represented by a change amount Δz with respect to Δx, and Δx is constant, calculation of these inflection points is performed.
By referring only to Δz, the arithmetic processing becomes simple.

【0014】また、ディスクの軸心上に基準球を配置し
ておき、この基準球のほぼ中心位置をトレースすること
により、ディスクの中心位置を簡単且つ正確に求めるこ
とができ、ディスクの使用可能な有効径を極めて正確に
求めることができる。
Further, by disposing a reference sphere on the axis of the disc and tracing the substantially central position of the reference sphere, the center position of the disc can be easily and accurately determined, and the disc can be used. The effective diameter can be obtained extremely accurately.

【0015】[0015]

【実施例】以下、添付の図面を参照してこの発明の実施
例に係るハードディスクの形状測定装置について説明す
る。図1はこの形状測定装置の外観図である。形状測定
装置本体1のテーブル2上には、傾斜補正テーブル3が
載置されている。この傾斜補正テーブル3の上には、保
持台4が固定されており、更に保持台4の上面中央に固
定された保持治具5には、被測定ディスク6が保持され
ている。被測定ディスク6は、その中心孔が保持治具5
の凸部に嵌合した状態で、保持治具5と上部に配置され
た固定治具7とに挟持され固定される。固定治具7の上
端には曲率中心が被測定ディスク6の軸心上に位置した
球状凹部が形成され、この球状凹部に基準球8が嵌め込
まれている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A hard disk shape measuring apparatus according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is an external view of this shape measuring apparatus. An inclination correction table 3 is placed on the table 2 of the shape measuring apparatus main body 1. A holding table 4 is fixed on the inclination correction table 3, and a measured disk 6 is held on a holding jig 5 fixed on the center of the upper surface of the holding table 4. The center hole of the measured disk 6 is the holding jig 5
In the state of being fitted to the convex portion of the above, it is sandwiched and fixed by the holding jig 5 and the fixing jig 7 arranged above. A spherical recess whose center of curvature is located on the axis of the measured disk 6 is formed at the upper end of the fixing jig 7, and a reference ball 8 is fitted into this spherical recess.

【0016】一方、テーブル2には、送りネジ11を装
着したコラム12が固定されており、このコラム12に
スライダ13が装着されている。コラム12には、図示
しないモータ等の駆動手段が設けられており、この駆動
手段で送りネジ11を回転させることにより、スライダ
13を図中Z軸方向に駆動する。スライダ13には、ス
タイラスアーム14が装着されている。このスタイラス
アーム14は、図示しない駆動手段によってスライダ1
3に対して図中X軸方向に駆動される。スタイラスアー
ム14の先端にはスタイラス15が装着され、このスタ
イラス15の先端が、被測定ディスク6の上面に接触し
ながらX方向に移動するようになっている。そして、こ
れらがテーブル2を含めて形状測定装置本体1を構成し
ている。
On the other hand, a column 12 to which a feed screw 11 is attached is fixed to the table 2, and a slider 13 is attached to this column 12. The column 12 is provided with a drive means such as a motor (not shown), and the feed screw 11 is rotated by this drive means to drive the slider 13 in the Z-axis direction in the drawing. A stylus arm 14 is attached to the slider 13. The stylus arm 14 is mounted on the slider 1 by driving means (not shown).
3 is driven in the X-axis direction in the figure. A stylus 15 is attached to the tip of the stylus arm 14, and the tip of the stylus 15 moves in the X direction while contacting the upper surface of the measured disk 6. Then, these configure the shape measuring device main body 1 including the table 2.

【0017】形状測定装置本体1には、スタイラス15
の先端の変位の信号をサンプリングして形状評価のため
の処理を実行するコンピュータ20が接続されている。
このコンピュータ20は、コンピュータ本体21と、入
力手段としてのキーボード22及びマウス23と、ディ
スプレイ装置24とを備えている。また、コンピュータ
20には、測定結果を出力するプリンタ25が接続され
ている。
The stylus 15 is attached to the shape measuring apparatus main body 1.
A computer 20 is connected which samples a signal of the displacement of the tip of the to perform processing for shape evaluation.
The computer 20 includes a computer main body 21, a keyboard 22 and a mouse 23 as input means, and a display device 24. A printer 25 that outputs the measurement result is connected to the computer 20.

【0018】図2は、この測定システムの機能ブロック
図である。スタイラス15の先端の変位は、検出部31
で検出される。検出部31は、例えばスタイラスアーム
14と連動する差動トランスと、この差動トランスの出
力を同期検波する同期検波回路等から構成される。検出
部31からの変位信号は、サンプリング部32で一定時
間間隔でサンプリングされる。サンプリング部32は、
例えば入力される変位信号を一定時間間隔でA/D変換
するA/D変換器と、スタイラスアーム14の円弧運動
による円弧歪を除去する円弧歪除去部とを備えて構成さ
れている。サンプリング部32でサンプリングされた変
位データは、被測定ディスク6の形状情報としてメモリ
33に記憶される。
FIG. 2 is a functional block diagram of this measuring system. The displacement of the tip of the stylus 15 is detected by the detection unit 31.
Detected in. The detection unit 31 includes, for example, a differential transformer that works together with the stylus arm 14 and a synchronous detection circuit that synchronously detects the output of the differential transformer. The displacement signal from the detection unit 31 is sampled by the sampling unit 32 at regular time intervals. The sampling unit 32 is
For example, it is provided with an A / D converter for A / D converting the input displacement signal at a constant time interval, and an arc distortion removing section for removing the arc distortion caused by the arc movement of the stylus arm 14. The displacement data sampled by the sampling unit 32 is stored in the memory 33 as the shape information of the measured disk 6.

【0019】演算処理部34は、メモリ33に格納され
た形状情報から被測定ディスク6の傾斜を算出し、制御
部35を介して駆動機構36を作動させることにより、
傾斜補正テーブル3の傾斜角を補正する。また、制御部
35は、駆動機構37を作動させてスタイラス15のX
軸方向位置及びY軸方向位置を制御する。また、演算処
理部34は、メモリ33に格納された形状情報から、直
線部を検出したり、ディスク6の外周縁部の隆起部の変
曲点の位置等を算出すると共に、測定結果の表示の為の
制御を実行する。なお、被測定ディスク6がハードディ
スク用のガラス基板であると想定すると、この測定装置
としては、Z軸方向の最小分解能が0.0005〜0.05μm、
最大倍率が500,000 倍、X軸方向最大倍率が10,000倍ま
で選択可能なものが好ましい。
The arithmetic processing unit 34 calculates the inclination of the disk 6 to be measured from the shape information stored in the memory 33, and operates the drive mechanism 36 via the control unit 35,
The tilt angle of the tilt correction table 3 is corrected. Further, the control unit 35 operates the drive mechanism 37 to move the X of the stylus 15.
Control the axial position and the Y-axis position. Further, the arithmetic processing unit 34 detects a straight line portion from the shape information stored in the memory 33, calculates the position of the inflection point of the ridge portion of the outer peripheral edge portion of the disk 6, and displays the measurement result. Control for. Assuming that the measured disk 6 is a glass substrate for a hard disk, this measuring device has a minimum resolution in the Z-axis direction of 0.0005 to 0.05 μm,
It is preferable that the maximum magnification is 500,000 times and the maximum magnification in the X-axis direction can be selected up to 10,000 times.

【0020】次に、このように構成されたシステムを用
いたハードディスクの形状測定方法について説明する。
まず、被測定ディスク6の上面をスタイラス15で走査
することによってスタイラス15の移動軸線に対する傾
斜角が大まかに検出され、傾斜補正テーブル3が作動し
て被測定ディスク6の測定面がスタイラス15に対して
平行に位置するように設定される。次に、図3に示すよ
うな測定手順で測定処理が実行される。最初にオペレー
タの指示に従ってX軸方向の測定ピッチ(例えば3μ
m)等の測定条件の設定を行う(S1)。続いて、基準
球8の上部のほぼ中心をX軸方向にスタイラス15でト
レースすることにより、Z軸の最大位置を求め、これを
X軸方向の原点位置として登録する(S2)。この原点
は、被測定ディスク6の回転軸のX軸位置に相当する。
Next, a method of measuring the shape of a hard disk using the system thus configured will be described.
First, by scanning the upper surface of the measured disk 6 with the stylus 15, the tilt angle of the stylus 15 with respect to the movement axis is roughly detected, and the tilt correction table 3 is actuated so that the measured surface of the measured disk 6 moves relative to the stylus 15. Are set to be parallel to each other. Next, the measurement process is executed in the measurement procedure as shown in FIG. First, according to the operator's instruction, the measurement pitch in the X-axis direction (for example, 3μ
The measurement conditions such as m) are set (S1). Subsequently, the uppermost position of the reference sphere 8 is traced with the stylus 15 in the X-axis direction to obtain the maximum Z-axis position, which is registered as the origin position in the X-axis direction (S2). This origin corresponds to the X-axis position of the rotation axis of the measured disk 6.

【0021】次に、測定開始点のX座標(例えば31m
m)を指定することにより、スタイラス15を駆動機構
37によって測定開始点まで移動させる(S3)。そし
て、測定開始の指令を与えると、スタイラス15は被測
定ディスク6の測定面上に下降し、測定面に接触したの
ち、検出部31の検出電圧が一定レベルになる位置で停
止する。続いてスタイラス15がX軸方向に移動して指
定された測定ピッチでX軸座標値とZ軸座標値とがサン
プリング部32でサンプリングされ、メモリ33に記憶
される(S4)。各測定値は、ディスプレイ装置24に
プロットされディスク6の形状情報として表示される
(S5)。
Next, the X coordinate of the measurement starting point (for example, 31 m
By specifying m), the stylus 15 is moved to the measurement start point by the drive mechanism 37 (S3). Then, when a measurement start command is given, the stylus 15 descends onto the measurement surface of the measured disk 6, contacts the measurement surface, and then stops at the position where the detection voltage of the detection unit 31 becomes a constant level. Subsequently, the stylus 15 moves in the X-axis direction, and the X-axis coordinate value and the Z-axis coordinate value are sampled by the sampling unit 32 at the designated measurement pitch and stored in the memory 33 (S4). Each measured value is plotted on the display device 24 and displayed as the shape information of the disk 6 (S5).

【0022】図4は、形状情報の表示態様の一例を示す
図である。被測定ディスク6の傾斜は、傾斜補正テーブ
ルによって大まかには補正されているが、この種の測定
では、Z軸測定レンジが数10μmと微小であることか
ら、測定値が同図(a)に示すように全体的に傾くこと
は避けられない。そこで、マウス23のカーソル41に
より対角位置を指定して、直線部分と思われる範囲をA
1を指定する(S6)。これにより、範囲指定された部
分の測定データから最小自乗法により回帰直線が算出さ
れ、この直線が基準線Rとして例えば赤色で強調表示さ
れる(S7)。次に、傾斜補正を指示することにより、
図4(b)に示すように、基準線Rがディスプレイ画面
のほぼ中央に水平に位置するように、画面全体が修正さ
れる(S8)。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a display mode of the shape information. The tilt of the measured disk 6 is roughly corrected by the tilt correction table. However, in this type of measurement, the Z-axis measurement range is as small as several tens of μm, so the measured values are shown in FIG. Inclination is inevitable as shown. Therefore, the diagonal position is designated by the cursor 41 of the mouse 23, and the range considered to be the straight line portion is A
1 is designated (S6). As a result, a regression line is calculated from the measurement data of the portion whose range is specified by the least squares method, and this straight line is highlighted as the reference line R in red, for example (S7). Next, by instructing the tilt correction,
As shown in FIG. 4B, the entire screen is corrected so that the reference line R is horizontally located at the substantially center of the display screen (S8).

【0023】続いて、図4(b)に示すように、形状情
報の隆起部を取り囲むように、変曲点の算出エリアA2
をマウス23によって指定する(S9)。そして、変曲
点の算出条件を指定したのち(S10)、変曲点算出処
理が以下のように実行される(S11)。
Subsequently, as shown in FIG. 4 (b), an inflection point calculation area A2 is formed so as to surround the raised portion of the shape information.
Is designated by the mouse 23 (S9). After designating the inflection point calculation condition (S10), the inflection point calculation process is executed as follows (S11).

【0024】即ち、ここで求めるべき変曲点としては、
例えば次のような点がある。 (1)図8に示すように、ディスク6の外周縁部の隆起
部42の高さhが問題となる場合には、隆起部42の頂
点位置P1。 (2)図8に示すように、ディスク6の外周縁部の隆起
部42の高さhが許容範囲内であるとして、ディスク6
の有効半径rを知る場合には、隆起部42と外周縁部と
の境界点P2。
That is, the inflection point to be obtained here is
For example, there are the following points. (1) As shown in FIG. 8, when the height h of the raised portion 42 at the outer peripheral edge of the disk 6 is a problem, the peak position P1 of the raised portion 42. (2) As shown in FIG. 8, assuming that the height h of the raised portion 42 at the outer peripheral edge of the disk 6 is within the allowable range, the disk 6
To know the effective radius r of the boundary point P2 between the raised portion 42 and the outer peripheral edge portion.

【0025】この実施例では、これらの変曲点を形状情
報の微小範囲の傾斜角に基づいて算出するようにしてい
る。微小範囲の傾斜角は、図5に示すように、一定のサ
ンプル数DXだけ離れた2点を接続する直線L1,L2
の基準線Rに対する傾斜角α1,α2を使用することが
できる。また、傾斜角の変化率Δαは、直線L1,L2
のなす角度である。この場合、X軸方向のサンプルピッ
チΔXは予め指定されているので、傾斜角としては、次
の値を用いることができる。
In this embodiment, these inflection points are calculated based on the inclination angle of the minute range of the shape information. As shown in FIG. 5, the inclination angles of the minute range are straight lines L1 and L2 connecting two points separated by a fixed number of samples DX.
The inclination angles α1 and α2 with respect to the reference line R can be used. In addition, the rate of change Δα of the inclination angle is calculated by
Is the angle formed by. In this case, since the sample pitch ΔX in the X-axis direction is designated in advance, the following value can be used as the tilt angle.

【0026】[0026]

【数1】 (p点前のデータのZ座標)−(今回のデータのZ座
標)
(1) (Z coordinate of data before p point)-(Z coordinate of current data)

【0027】また、変曲点は、次のように定義されるも
のである。 (1)基準線Rから見た傾斜角αが指定値以上になった
点Pa。 (2)傾斜角の変化率Δαが指定値以上になった点P
b。 (3)傾斜角の変化率Δαが指定値以下になった点P
c。 (4)傾斜角の変化率Δαが最大になった点Pd。 (5)傾斜角の変化率Δαが(+)から(−)になった
点P。 これらの変曲点のうち点Pa,Pbを図6に示す。測定
の目的に応じて、これらのうちのいずれの点を求めるか
を決定すればよい。
The inflection point is defined as follows.
Of. (1) Point Pa at which the inclination angle α viewed from the reference line R is equal to or larger than a specified value. (2) Point P at which the rate of change in inclination angle Δα is greater than or equal to the specified value
b. (3) Point P at which the rate of change in tilt angle Δα is less than or equal to the specified value
c. (4) Point Pd at which the rate of change Δα of the tilt angle is maximized. (5) the rate of change Δα in the angle of inclination from the (+) (-) since the point P e. Of these inflection points, points Pa and Pb are shown in FIG. Which of these points should be determined may be determined according to the purpose of measurement.

【0028】変曲点Pa,Pbを求める場合、図3の算
出条件指定ステップ(S10)で指定すべき条件は、角
度算出のための単位ピッチ数DX、傾斜角α及び変化率
Δαである。これらの条件が与えられると、図7に示す
ような処理が実行される。まず、指定された変曲点算出
エリアA2から測定開始点Psと測定終了点Peが求め
られる(S21)。次に、指定された傾斜角αからこれ
に対応するZ軸方向の距離zを下記のように求める(S
22)。
When obtaining the inflection points Pa and Pb, the conditions to be specified in the calculation condition specifying step (S10) in FIG. 3 are the unit pitch number DX for the angle calculation, the inclination angle α and the change rate Δα. When these conditions are given, the processing shown in FIG. 7 is executed. First, the measurement start point Ps and the measurement end point Pe are obtained from the designated inflection point calculation area A2 (S21). Next, the corresponding distance z in the Z-axis direction from the designated inclination angle α is obtained as follows (S
22).

【0029】[0029]

【数2】z=DX・tan α[Formula 2] z = DX · tan α

【0030】次に、i=DX+1を初期値として(S2
3)、第iサンプル目から順次以下の処理を実行する。
まず、Δzi ,Δzi-1 を下記のように求める(S2
4)。
Next, using i = DX + 1 as an initial value (S2
3), the following processing is sequentially executed from the i-th sample.
First, Δzi and Δzi-1 are calculated as follows (S2
4).

【0031】[0031]

【数3】Δzi =zi-DX −zi Δzi-1 =zi-DX-1−zi-1## EQU3 ## .DELTA.zi = zi-DX-zi Δzi-1 = zi-DX-1-zi-1

【0032】次に、Δzi がz以上であるかないかを判
定すると共に(S25)、Δαi を下記のように求め
(S27)、Δαi がΔα以上であるかどうかを判定す
る(S28)。
Next, it is determined whether or not Δzi is greater than or equal to z (S25), Δαi is obtained as follows (S27), and it is determined whether Δαi is greater than or equal to Δα (S28).

【0033】[0033]

【数4】Δαi = tan-1(Δzi /DX)− tan-1(Δ
zi-1 /DX)
## EQU4 ## Δαi = tan-1 (Δzi / DX) −tan-1 (Δ
zi-1 / DX)

【0034】そして、zi がz以上である場合には、変
曲点Pa=(xi ,zi )とし(S26)、Δαi がΔ
α以上である場合には、変曲点Pb=(xi ,zi )と
する(S29)。以上の処理を指定された範囲内の全て
のサンプル点について実行する(S30,S31)こと
により、ハードディスクの品質及び有効記録半径等を評
価する上で必要なデータを検出することができる。
When zi is equal to or larger than z, the inflection point Pa is set to (xi, zi) (S26), and Δαi is Δ.
If it is equal to or greater than α, the inflection point Pb = (xi, zi) is set (S29). By executing the above processing for all the sample points within the designated range (S30, S31), it is possible to detect the data necessary for evaluating the quality of the hard disk, the effective recording radius, and the like.

【0035】なお、以上は、オペレータによる条件設定
を対話式で行うマニュアル測定手順について述べたが、
実際のライン上で測定を行う場合には、予め指定された
エリア条件及び測定条件を複数のディスクについて共通
に使用することになる。この場合、変曲点の算出に複雑
な曲線あてはめ計算を行う必要がないため、高速検査が
可能である。また、傾斜角の変化率のデータ自体も形状
評価に有効であるため、変化率のデータをサンプル毎に
ディスプレイ装置にプロット表示するようにしてもよ
い。
The manual measurement procedure for interactively setting conditions by the operator has been described above.
When the measurement is performed on an actual line, the area condition and the measurement condition designated in advance are commonly used for a plurality of disks. In this case, since it is not necessary to perform complicated curve fitting calculation to calculate the inflection point, high-speed inspection is possible. Further, since the inclination angle change rate data itself is also effective for shape evaluation, the change rate data may be plotted and displayed on the display device for each sample.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、形
状情報における各微小範囲の傾斜角度を求めると共に、
これらの傾斜角度に基づいて形状情報中の変曲点を求め
るようにしているので、複雑な曲線あてはめ計算を用い
ることなく、所望とする変曲点を正確に算出することが
でき、被測定ディスクの有効径等に対する正しい評価結
果を得ることができると共に、検査スピードが要求され
るライン内での自動検査等にも応用できるという効果を
奏する。
As described above, according to the present invention, the inclination angle of each minute range in the shape information is obtained, and
Since the inflection point in the shape information is obtained based on these inclination angles, the desired inflection point can be accurately calculated without using a complicated curve fitting calculation, and the measured disk It is possible to obtain a correct evaluation result for the effective diameter and the like, and it is also possible to apply to an automatic inspection in a line where inspection speed is required.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施例に係るハードディスクの形状
測定装置の外観図である。
FIG. 1 is an external view of a hard disk shape measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】 同装置の機能ブロック図である。FIG. 2 is a functional block diagram of the device.

【図3】 同装置を使用した形状測定手順を示すフロー
チャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing a shape measuring procedure using the same apparatus.

【図4】 同装置における形状情報の表示例を示す図で
ある。
FIG. 4 is a diagram showing a display example of shape information in the apparatus.

【図5】 同装置における形状情報の傾斜角度及びその
変化率の算出方法を説明するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining a method of calculating an inclination angle of shape information and a change rate thereof in the same apparatus.

【図6】 同装置で求める変曲点の例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of an inflection point obtained by the device.

【図7】 同変曲点の算出手順を示すフローチャートで
ある。
FIG. 7 is a flowchart showing a procedure for calculating the inflection point.

【図8】 ポリシング工程後のガラス基板の形状を示す
図である。
FIG. 8 is a diagram showing a shape of a glass substrate after a polishing process.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…形状測定装置本体、3…傾斜補正テーブル、4…保
持台、6…被測定ディスク、15…スタイラス、20…
コンピュータ、25…プリンタ、31…検出部、32…
サンプリング部、33…メモリ、34…演算処理部、3
5…制御部、36,37…駆動機構。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Shape measuring device main body, 3 ... Tilt correction table, 4 ... Holding table, 6 ... Measured disk, 15 ... Stylus, 20 ...
Computer, 25 ... Printer, 31 ... Detection unit, 32 ...
Sampling unit, 33 ... Memory, 34 ... Arithmetic processing unit, 3
5 ... control part, 36, 37 ... drive mechanism.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小嶋 毅 東京都新宿区中落合2丁目7番5号 ホ ーヤ株式会社内 (72)発明者 坂田 幸寛 神奈川県川崎市高津区坂戸1丁目20番1 号 株式会社ミツトヨ内 (56)参考文献 特開 平5−89459(JP,A) 特開 平5−52548(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 21/20 G11B 5/84 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Takeshi Kojima 2-7-5 Nakaochiai Shinjuku-ku, Tokyo Hoya Co., Ltd. (72) Inventor Yukihiro Sakata 1-20 Sakado, Takatsu-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa No. 1 Mitutoyo Co., Ltd. (56) Reference JP-A-5-89459 (JP, A) JP-A-5-52548 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01B 21/20 G11B 5/84

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被測定ディスクの測定面に沿って測定子
を移動させ、この測定子から出力される変位信号をサン
プリングして形状情報として記憶するステップと、 このステップで記憶された被測定ディスクの形状情報か
ら前記形状情報における外周縁部の各微小範囲の傾斜角
度を求めると共に、これらの傾斜角度に基づいて前記被
測定ディスクの外周縁部の形状情報のなかの変曲点を
記被測定ディスクの半径方向の位置および回転軸方向の
位置のデータとして算出するステップとを具備したこと
を特徴とする情報ディスクの形状測定方法。
1. A step of moving a probe along a measurement surface of a disk to be measured, sampling a displacement signal output from the probe and storing it as shape information, and a disk to be measured stored in this step. together with the shape information obtaining the inclination angle of each micro range of the outer peripheral edge portion in the shape information of the previous point of inflection among shape information of the outer peripheral edge portion of the measured disk on the basis of these inclination angles
The radial position of the measured disk and the rotational axis direction
And a step of calculating as position data, the method for measuring the shape of an information disc.
【請求項2】 前記変曲点を算出するステップは、前記
記憶された被測定ディスクの形状情報から直線部分を抽
出し、この直線部分に対する前記外周縁部の各微小範囲
傾斜角度が予め指定した値以上になった点を変曲点と
することを特徴とする請求項1記載の情報ディスクの形
状測定方法。
2. The step of calculating the inflection point extracts a straight line portion from the stored shape information of the measured disk, and each minute range of the outer peripheral edge portion with respect to the straight line portion.
2. The method for measuring the shape of an information disc according to claim 1, wherein the point at which the inclination angle is equal to or more than a predetermined value is set as an inflection point.
【請求項3】 前記変曲点を算出するステップは、前記
外周縁部の各微小範囲の傾斜角度の変化率が予め指定し
た値以上になった点を変曲点とすることを特徴とする請
求項1記載の情報ディスクの形状測定方法。
3. The step of calculating the inflection point comprises the steps of:
2. The method for measuring the shape of an information disc according to claim 1, wherein a point at which the rate of change of the inclination angle of each minute range of the outer peripheral edge portion is equal to or more than a value designated in advance is set as an inflection point.
【請求項4】 前記被測定ディスクの軸心位置に基準球
を位置させ、基準球のほぼ中心位置を前記測定子でトレ
ースすることにより前記測定子の移動方向における前記
基準球の頂点位置を求め、この頂点位置を前記変曲点の
半径方向の位置を求める際の前記被測定ディスクの中心
位置としてめるステップを更に備えたことを特徴とす
る請求項1乃至3のいずれか1項記載の情報ディスクの
形状測定方法。
4. An apex position of the reference sphere in the moving direction of the probe is obtained by locating a reference sphere at an axial center position of the disk to be measured and tracing a substantially central position of the reference sphere with the probe. , This vertex position of the inflection point
Claims 1 to 3 any one information disc shape measuring method according to, characterized in that further comprising a determined Mel step as the center position of the measuring disc for obtaining the radial position.
【請求項5】 被測定ディスクを保持する保持手段と、
この保持手段に保持された被測定ディスクの測定面に沿
って移動可能に配置され前記測定面の変位信号を出力す
る測定子と、 この測定子を前記被測定ディスクの測定面に摺接させた
状態で前記測定面に沿って移動させる駆動手段と、 前記測定子の前記測定面に沿った移動の過程で前記測定
子から出力される変位信号を所定のタイミングでサンプ
リングするサンプリング手段と、 このサンプリング手段によってサンプリングされた変位
信号を前記被測定ディスクの形状情報として記憶する記
憶手段と、 この記憶手段に記憶された前記被測定ディスクの形状情
報から前記形状情報における外周縁部の各微小範囲の傾
斜角度を求めると共に、これらの傾斜角度に基づいて前
記被測定ディスクの外周縁部の形状情報のなかの変曲点
前記被測定ディスクの半径方向の位置および回転軸方
向の位置のデータとして算出する変曲点算出手段とを具
備したことを特徴とする情報ディスクの形状測定装置。
5. Holding means for holding the disk to be measured,
A tracing stylus which is movably arranged along the measuring surface of the measured disk held by the holding means and outputs a displacement signal of the measuring surface, and the measuring stylus is slid on the measuring surface of the measuring disk. Drive means for moving along the measuring surface in a state, sampling means for sampling a displacement signal output from the measuring element at a predetermined timing during the movement of the measuring element along the measuring surface, and the sampling means Storage means for storing the displacement signal sampled by the means as the shape information of the measured disk, and the inclination of each minute range of the outer peripheral edge in the shape information from the shape information of the measured disk stored in the storage means. with determining the angle, the measured inflection point among the shape information of the outer peripheral edge portion of the measured disk on the basis of these inclination angles di Disk radial position and rotation axis
An inflection point calculating means for calculating as data of a direction position, an information disk shape measuring device.
【請求項6】 前記変曲点算出手段は、前記記憶手段に
記憶された前記被測定ディスクの形状情報から直線部分
を抽出し、この直線部分に対する前記外周縁部の各微小
範囲の傾斜角度が予め指定した値以上になった点を変曲
点とすることを特徴とする請求項5記載の情報ディスク
の形状測定装置。
6. The inflection point calculation means extracts a straight line portion from the shape information of the measured disk stored in the storage means, and each minute portion of the outer peripheral edge portion with respect to the straight line portion.
6. The information disk shape measuring device according to claim 5, wherein a point at which the inclination angle of the range is equal to or more than a predetermined value is set as an inflection point.
【請求項7】 前記変曲点算出手段は、前記外周縁部の
各微小範囲の傾斜角度の変化率が予め指定した値以上に
なった点を変曲点とすることを特徴とする請求項5記載
の情報ディスクの形状測定装置。
7. The inflection point calculating means is configured to measure the outer peripheral edge portion.
6. The information disk shape measuring device according to claim 5, wherein a point at which the rate of change of the tilt angle in each minute range is equal to or more than a value designated in advance is set as an inflection point.
【請求項8】 曲率中心が前記被測定ディスクの軸心上
に位置するように前記保持手段に配置された基準球と、 この基準球のほぼ中心位置を前記測定子でトレースする
ことにより前記測定子の移動方向における前記基準球の
頂点位置を求め、この頂点位置を前記変曲点の半径方向
の位置を求める際の前記被測定ディスクの中心位置とし
て求めるディスク中心算出手段とを更に備えたことを特
徴とする請求項5乃至7のいずれか1項記載の情報ディ
スクの形状測定装置。
8. A reference sphere arranged in the holding means such that the center of curvature is located on the axial center of the disk to be measured, and the measuring element is traced to approximately the center position of the reference sphere. The apex position of the reference sphere in the moving direction of the child is obtained, and this apex position is set in the radial direction of the inflection point.
8. The information disk shape measuring device according to claim 5, further comprising a disk center calculating unit that calculates a center position of the measured disk when determining the position of .
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