JP3371305B2 - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

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JP3371305B2
JP3371305B2 JP21803494A JP21803494A JP3371305B2 JP 3371305 B2 JP3371305 B2 JP 3371305B2 JP 21803494 A JP21803494 A JP 21803494A JP 21803494 A JP21803494 A JP 21803494A JP 3371305 B2 JP3371305 B2 JP 3371305B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクなどの光学
的な記録担体に記録された情報をその反射光を利用して
再生したりする光ピックアップに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup for reproducing information recorded on an optical record carrier such as an optical disk by utilizing its reflected light.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、光ディスクなどの光学的な記録担
体に記録された情報をその反射光を利用して再生したり
する光ピックアップが知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, there is known an optical pickup which reproduces information recorded on an optical record carrier such as an optical disk by utilizing its reflected light.

【0003】この種の光ピックアップにはフォーカスサ
ーボ方式が使用されており、フォーカスサーボ方式とし
ては、非点収差法,臨界角法,イフエッジ法などがあ
る。中でも非点収差法(尾上守夫監修 光ディスク技術
ラジオ技術社 p99)は磁気ディスク用光学ヘッドの
ほか、コンパクトディスク,レーザーディスクを含めて
光ディスク全般にも良く用いられている。
A focus servo system is used in this kind of optical pickup, and as the focus servo system, there are an astigmatism method, a critical angle method, an if edge method and the like. Among them, the astigmatism method (optical disc technology supervised by Morio Onoue
Radio Technology Co., Ltd. (p99) is widely used for optical discs including compact discs and laser discs as well as optical heads for magnetic discs.

【0004】その原理は、受光手段(光検出器)が4分割
受光面(各出力をA,B,C,Dとする)となっていると
すると、入射光の焦点がディスクに合っているとき、そ
の反射光の像は光検出器の4分割受光面で円形となり、
このとき、フォーカス誤差出力である対角の受光面間の
差動出力(A+C)−(B+D)は零となる。一方、ディス
クが対物レンズから遠くなったり近くなったりすると、
光検出器の4分割受光面の像が円形から長円形状にな
る。そのため、フォーカス誤差出力は正(遠い)あるいは
負(近い)になるので、この出力が零になるように対物レ
ンズの位置を調整して焦点を合わせる。
The principle is that if the light receiving means (photodetector) is a four-division light receiving surface (each output is A, B, C, D), the incident light is focused on the disk. At that time, the image of the reflected light becomes circular on the 4-division light receiving surface of the photodetector,
At this time, the differential output (A + C)-(B + D) between the diagonal light receiving surfaces, which is the focus error output, becomes zero. On the other hand, if the disc becomes far or near from the objective lens,
The image of the four-division light receiving surface of the photodetector changes from a circular shape to an elliptical shape. Therefore, the focus error output becomes positive (far) or negative (close), so the position of the objective lens is adjusted so that this output becomes zero.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、一般に、こ
のような光ピックアップにおいて、アクセスタイムを速
めるためには、光ピックアップの小型軽量化が重要であ
る。しかしながら、従来の非点収差法のようなフォーカ
ス検出法ではビームの形状の変化を検出するため受光手
段(受光素子)までの距離(検出長)をある程度大きく(数
cm)し検出しなければ十分な感度を得ることができ
ず、従って、小型化には限界がある。また、受光素子上
のスポットは数ミクロンから数十ミクロンとかなり小さ
く、調整が難しく、環境によってオフセットが生じるの
で不安定である。
By the way, generally, in such an optical pickup, in order to shorten the access time, it is important to reduce the size and weight of the optical pickup. However, in the focus detection method such as the conventional astigmatism method, a change in the shape of the beam is detected, so it is sufficient if the distance (detection length) to the light receiving means (light receiving element) is increased to some extent (several cm). Sensitivity cannot be obtained, and therefore there is a limit to miniaturization. In addition, the spot on the light receiving element is quite small, from several microns to several tens of microns, adjustment is difficult, and an offset occurs depending on the environment, which is unstable.

【0006】本発明は、小型化等に適した光ピックアッ
プを提供することを目的としている。
An object of the present invention is to provide an optical pickup suitable for miniaturization and the like.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段および作用】上記目的を達
成するために、本願出願人は、例えば図1に示すような
変位測定装置(光ピックアップ)を案出した。図1を参照
すると、この変位測定装置は、光源1からの光をコリメ
ートレンズ2,ビームスプリッタ3を介し対物レンズ4
によって被測定物(例えば光ディスク)5に集光照射し、
該被測定物5からの反射光を対物レンズ4,ビームスプ
リッタ3を介して2つの回折格子6a,6bからなる二
重回折格子6に平行光として入射させ、二重回折格子6
に平行光を入射させることで、回折光の間での干渉によ
り生ずる干渉縞の位相とピッチをフォトダイオードなど
の受光手段(受光素子)7で受光させるようになってお
り、被測定物5の変位,例えば被測定物5の光軸方向
(被測定物への入射光の光軸方向;対物レンズ4の光軸
方向)xへの変位(フォーカスエラー)やz軸方向への変
位(トラックエラー)を検知し、また、被測定物5からの
記録信号を検知するようになっている。
In order to achieve the above object, the applicant of the present invention has devised a displacement measuring device (optical pickup) as shown in FIG. 1, for example. Referring to FIG. 1, this displacement measuring apparatus is configured such that light from a light source 1 passes through a collimating lens 2 and a beam splitter 3 and an objective lens 4
Concentrate and irradiate the object to be measured (for example, an optical disc) 5 with
The reflected light from the DUT 5 is made incident on the double diffraction grating 6 including the two diffraction gratings 6a and 6b as parallel light through the objective lens 4 and the beam splitter 3, and the double diffraction grating 6
By making parallel light incident on the light receiving means (light receiving element) 7 such as a photodiode, the phase and pitch of the interference fringes generated by the interference between the diffracted light are received. Displacement, eg optical axis direction of DUT 5
(Optical axis direction of incident light to DUT; optical axis direction of objective lens 4) Detects displacement in x (focus error) and displacement in z-axis direction (track error), and DUT 5 The recording signal from is detected.

【0008】ここで、第1の回折格子6aと第2の回折
格子6bとからなる二重回折格子6を用いた干渉縞発生
原理について、図2乃至図4を用いて説明する。いま、
二重回折格子6の第1の回折格子6a,第2の回折格子
6bが、それぞれピッチΛ1,Λ2を有し、第1の回折格
子6aに波長λの光が垂直に入射するとする。なお、垂
直入射でなくとも本発明の一般性は失われない。
The principle of interference fringe generation using the double diffraction grating 6 consisting of the first diffraction grating 6a and the second diffraction grating 6b will be described with reference to FIGS. Now
It is assumed that the first diffraction grating 6a and the second diffraction grating 6b of the double diffraction grating 6 have pitches Λ 1 and Λ 2 , respectively, and light of the wavelength λ is vertically incident on the first diffraction grating 6a. . Note that the generality of the present invention is not lost even if the incidence is not normal.

【0009】この二重回折格子6においては、第1の回
折格子6aで±n次光(nは正とする)を発生させ、第2
の回折格子6bではその+n次光の−m次光(mは正と
する)とその−n次光の+m次光(mは正とする)を発生
させる。そして、第2の回折格子6aにより発生した±
m次光同士を干渉させて干渉縞を発生させる。なお、+
は入射光に対し進行方向左に回折する場合、−はその反
対の場合を表わす。
In the double diffraction grating 6, the first diffraction grating 6a generates ± n-order light (n is positive), and
In the diffraction grating 6b, the + m-order light of the + n-order light (m is positive) and the + m-order light of the -n-order light (m is positive) are generated. Then, the ± generated by the second diffraction grating 6a
The m-th order lights are caused to interfere with each other to generate interference fringes. In addition, +
Indicates that the incident light is diffracted to the left in the traveling direction, and-represents the opposite case.

【0010】ここで、+n次光の第1の回折格子6aで
の回折条件は次式で表わされる。なお、−n次の場合は
nを−nに替えれば良いので以下省略する。
Here, the diffraction condition of the + nth order light in the first diffraction grating 6a is expressed by the following equation. In the case of -nth order, n may be replaced with -n, and therefore the description thereof is omitted below.

【0011】[0011]

【数1】sinθ1=nλ/Λ1 ## EQU1 ## sin θ 1 = nλ / Λ 1

【0012】また、第2の回折格子6bでの回折条件は
次式で表わされる。
The diffraction condition of the second diffraction grating 6b is expressed by the following equation.

【0013】[0013]

【数2】−sinθ2+sinθ1=mλ/Λ2 2 −sin θ 2 + sin θ 1 = mλ / Λ 2

【0014】数1と数2よりθ2について次式が導かれ
る。
From the equations 1 and 2 , the following equation is derived for θ 2 .

【0015】[0015]

【数3】sinθ2=λ(n/Λ1−m/Λ2)(3) sin θ 2 = λ (n / Λ 1 −m / Λ 2 )

【0016】図4(a)に示すように、θ2の入射角の2
つの光(平面波)BM1,BM2による干渉縞のピッチΛ0
は数4で表わされ、相対的な位相による干渉縞の位相は
数5で表わされる。
As shown in FIG. 4 (a), when the incident angle of θ 2 is 2
Pitch Λ 0 of interference fringes by two lights (plane waves) BM 1 and BM 2
Is expressed by Expression 4, and the phase of the interference fringes due to the relative phase is expressed by Expression 5.

【0017】[0017]

【数4】Λ0=λ/(2sinθ2)[Formula 4] Λ 0 = λ / (2sin θ 2 )

【0018】[0018]

【数5】β0=β1 [Formula 5] β 0 = β 1

【0019】ここで、β0は干渉縞の位相、β1は平面波
BM1,BM2間の位相である。従って、干渉縞のピッチ
と二重回折格子のピッチとの関係は数3,数4を用いて
数6で表わされる。
Here, β 0 is the phase of the interference fringe, and β 1 is the phase between the plane waves BM 1 and BM 2 . Therefore, the relationship between the pitch of the interference fringes and the pitch of the double diffraction grating is expressed by Equation 6 using Equations 3 and 4.

【0020】[0020]

【数6】1/(2Λ0)=n/Λ1−m/Λ2 ## EQU6 ## 1 / (2Λ 0 ) = n / Λ 1 −m / Λ 2

【0021】また、二重回折格子6の場合(図4(b)参
照)の位相関係については、正負の次数の回折光の干渉
についてのみ問題とすると、回折格子直後での位相関係
が逆になることから干渉縞の位相は数7で表わされる。
Regarding the phase relationship in the case of the double diffraction grating 6 (see FIG. 4B), if the problem is only interference of diffracted light of positive and negative orders, the phase relationship immediately after the diffraction grating is reversed. Therefore, the phase of the interference fringe is expressed by the equation 7.

【0022】[0022]

【数7】β0=2β2 (7) β 0 = 2β 2

【0023】これより、干渉縞のピッチは二重回折格子
6のピッチ(すなわち、第1の回折格子6aのピッチΛ1
と第2の回折格子6bのピッチΛ2)のみに依存し、入射
光の波長λに全く無関係となることがわかる。光の径を
0とし、式6の右辺と左辺に掛けると数8が得られ
る。
From this, the pitch of the interference fringes is the pitch of the double diffraction grating 6 (that is, the pitch Λ 1 of the first diffraction grating 6a).
And the pitch Λ 2 ) of the second diffraction grating 6b, it is completely independent of the wavelength λ of the incident light. When the light diameter is W 0 and the right side and the left side of Expression 6 are multiplied, Equation 8 is obtained.

【0024】[0024]

【数8】(W0/Λ0)/2=nW0/Λ1−mW0/Λ2 [Equation 8] (W 0 / Λ 0) / 2 = nW 0 / Λ 1 -mW 0 / Λ 2

【0025】ここで、W0/Λ0は光径内に生じる干渉縞
の本数であり、nW0/Λ1とmW0/Λ2は第1の回折格
子6aと第2の回折格子6bにおける光径内の回折格子
本数にそれぞれの次数を掛けたものである。すなわち、
次式となる。
Here, W 0 / Λ 0 is the number of interference fringes generated within the light diameter, and nW 0 / Λ 1 and mW 0 / Λ 2 are in the first diffraction grating 6a and the second diffraction grating 6b. It is obtained by multiplying the number of diffraction gratings within the light diameter by each order. That is,
It becomes the following formula.

【0026】[0026]

【数9】《干渉縞の本数》/2=次数×《第1の回折格
子の本数》−次数×《第2の回折格子の本数》
## EQU9 ## << Number of interference fringes >> / 2 = Order * << Number of first diffraction grating >>-Order * << Number of second diffraction grating >>

【0027】このように干渉縞の本数と第1及び第2の
回折格子6a,6bの本数、さらにはそれぞれの次数の
関係が明らかになった。どの次数を用いても干渉縞は発
生するが、±1次光は回折効率が高いので、高次回折光
よりも優れている。すなわち、第1の回折格子6aで発
生する+1次光であって第2の回折格子6bの−1次光
(図3中E)及び、第1の回折格子6aで発生する−1次
光であって第2の回折格子6bの+1次光(図3中F)を
用いる場合が最も効率が良い。
As described above, the relationship between the number of interference fringes, the number of the first and second diffraction gratings 6a and 6b, and the order of each was clarified. Although interference fringes are generated regardless of which order is used, ± 1st order light is superior to high order diffracted light because it has high diffraction efficiency. That is, the + 1st-order light generated by the first diffraction grating 6a and the -1st-order light of the second diffraction grating 6b.
(E in FIG. 3) and the −1st order light generated by the first diffraction grating 6a and the + 1st order light (F in FIG. 3) of the second diffraction grating 6b are most effective.

【0028】干渉縞本数の例としては±1次光のみ用い
た場合、高分解能化を目指し、Λ1=0.948μmと
非常に高密度な回折格子を用いるとき、Λ0=1mmと
大きくとるためには、Λ2=0.94768μmとな
る。
As an example of the number of interference fringes, when only ± 1st-order light is used, when a diffraction grating having a very high density of Λ 1 = 0.948 μm is used in order to achieve high resolution, Λ 0 = 1 mm is set large. Therefore, Λ 2 = 0.94768 μm.

【0029】Λ1とΛ2の違いは約0.03%と非常に小
さいものとなるが作成は可能である。コリメート光の光
径を2mm程度とすると干渉縞が1,2本観測されるこ
ととなる。
The difference between Λ 1 and Λ 2 is about 0.03%, which is very small, but can be created. If the diameter of the collimated light is set to about 2 mm, one or two interference fringes will be observed.

【0030】以上が二重回折格子6を用いた干渉縞発生
原理である。
The above is the principle of interference fringe generation using the double diffraction grating 6.

【0031】この二重回折格子を用いて被測定物(記録
担体)5の変位を測定する仕方を図5に従って以下に述
べる。
A method of measuring the displacement of the DUT (record carrier) 5 using this double diffraction grating will be described below with reference to FIG.

【0032】図5を参照すると、被測定物5の面上に略
焦点を結ぶようにしたレンズ101を設定し、また、こ
のレンズ101の光軸上に二重回折格子6を設定する。
Referring to FIG. 5, a lens 101 is set on the surface of the object to be measured 5 so as to be substantially in focus, and a double diffraction grating 6 is set on the optical axis of the lens 101.

【0033】なお、図5において、レンズ101の焦点
距離をf、レンズと被測定物の面までの距離をb1、二
重回折格子側の集光位置をb2、レンズ開口をAとして
いる。また、レンズ焦点位置と被測定物の面との間の距
離(デフォーカス量)をdとし、二重回折格子6(6a,
6b)へ入射する角をθ(光軸の上の角をθ1、下の角を
θ2)としている。この場合、二重回折格子6の第1,第
2の回折格子6a,6b間の間隔をTとし、d<<fと
すると、次式が成立する。
In FIG. 5, the focal length of the lens 101 is f, the distance between the lens and the surface of the object to be measured is b 1 , the focusing position on the double diffraction grating side is b 2 , and the lens aperture is A. There is. Further, the distance (defocus amount) between the lens focus position and the surface of the object to be measured is set to d, and the double diffraction grating 6 (6a, 6a,
The angle of incidence on 6b) is θ (the upper angle of the optical axis is θ 1 and the lower angle is θ 2 ). In this case, when the distance between the first and second diffraction gratings 6a and 6b of the double diffraction grating 6 is T and d << f, the following formula is established.

【0034】[0034]

【数10】1/f=1/b1+1/b2 θ=A/b21=f+d## EQU10 ## 1 / f = 1 / b 1 + 1 / b 2 θ = A / b 2 b 1 = f + d

【0035】数10よりb2は次式で表わされる。From Equation 10, b 2 is expressed by the following equation.

【0036】[0036]

【数11】b2=fb1/(b1−f)B 2 = fb 1 / (b 1 −f)

【0037】数10,数11からθは次式で表わされ
る。
From equations 10 and 11 θ is expressed by

【0038】[0038]

【数12】θ=A(b1−f)/fb1=Ad/f(f+d)
≒Ad/f2
[Equation 12] θ = A (b 1 −f) / fb 1 = Ad / f (f + d)
≒ Ad / f 2

【0039】ここで、デフォーカス量dが微小すなわ
ち、d<<fであるとした。この場合には、レンズ10
1からの出射光はコリメート状態に近く、レンズ101
と二重回折格子6とが接近しているとすると、図6のよ
うに第1の回折格子6aに沿ってx軸(光軸上でx=0)
をとり、また、第2の回折格子6bに沿って、X軸(光
軸上でX=0)をとるとき、A=xとできるから数12
は次式となる。
Here, it is assumed that the defocus amount d is minute, that is, d << f. In this case, the lens 10
The light emitted from the lens 1 is close to the collimated state,
And the double diffraction grating 6 are close to each other, the x-axis (x = 0 on the optical axis) along the first diffraction grating 6a as shown in FIG.
, And when taking the X axis (X = 0 on the optical axis) along the second diffraction grating 6b, A = x can be obtained, so
Is given by

【0040】[0040]

【数13】θ=xd/f2 [Equation 13] θ = xd / f 2

【0041】このように、位置(x)によって光線の入射
角が異なる。光軸に対して両側から二重回折格子6に入
射してきた光であって、二重回折格子6を2回とも回折
した光は図5に示すように出射面(干渉縞発生面)で交わ
る。この2つの光BM3,BM4は出射角が異なるので、
これらの間で干渉が生じ干渉縞が発生する。
As described above, the incident angle of the light beam differs depending on the position (x). The light which has entered the double diffraction grating 6 from both sides with respect to the optical axis and which has been diffracted twice by the double diffraction grating 6 is, as shown in FIG. 5, an emission surface (interference fringe generation surface). Meet at. Since these two lights BM 3 and BM 4 have different emission angles,
Interference occurs between these and interference fringes occur.

【0042】次に各位置での干渉縞のピッチを求める。
y=0でxの所に光軸より上の光が入射してきた光が出
射面で出射する角θ3は次式で表わされる(図7参照)。
Next, the pitch of the interference fringes at each position is obtained.
The angle θ 3 at which light above the optical axis is incident on x at y = 0 and exits at the exit surface is represented by the following equation (see FIG. 7).

【0043】[0043]

【数14】 sinθ1−sinθ3=λ(1/Λ2−1/Λ1)(14) sin θ 1 −sin θ 3 = λ (1 / Λ 2 −1 / Λ 1 )

【0044】θ1〜0、θ3〜0なのでθ3は次式とな
る。
Since θ 1 to 0 and θ 3 to 0, θ 3 is given by the following equation.

【0045】[0045]

【数15】θ3=θ1+λ(1/Λ1−1/Λ2)[Equation 15] θ 3 = θ 1 + λ (1 / Λ 1 −1 / Λ 2 )

【0046】数13を数15に代入すると次式を得る。Substituting equation 13 into equation 15, the following equation is obtained.

【0047】[0047]

【数16】θ3=xd/f2+λ(1/Λ1−1/Λ2)[Equation 16] θ 3 = xd / f 2 + λ (1 / Λ 1 −1 / Λ 2 )

【0048】二重回折格子6の第2の回折格子6bの出
射面(y=T)での光の位置Xを規定したいが、簡単のた
め、第1回折光の回折角を45°とすると、次式が得ら
れる。
It is desired to define the position X of the light on the emission surface (y = T) of the second diffraction grating 6b of the double diffraction grating 6, but for the sake of simplicity, the diffraction angle of the first diffraction light is 45 °. Then, the following equation is obtained.

【0049】[0049]

【数17】X=x−TX = x−T

【0050】数17を数16に代入すると次式を得る。Substituting equation 17 into equation 16, the following equation is obtained.

【0051】[0051]

【数18】 θ3=d(X+T)/f2+λ(1/Λ1−1/Λ2)[Equation 18] θ 3 = d (X + T) / f 2 + λ (1 / Λ 1 −1 / Λ 2 )

【0052】同様に、y=0でxの所に光軸より下の光
が入射してきた光が出射面で出射する角θ4は次式で表
わされる。
Similarly, the angle θ 4 at which light below the optical axis is incident on x at y = 0 and exits at the exit surface is expressed by the following equation.

【0053】[0053]

【数19】 θ4=d(X−T)/f2+λ(1/Λ1−1/Λ2)Θ 4 = d (X−T) / f 2 + λ (1 / Λ 1 −1 / Λ 2 )

【0054】二光束の入射角がそれぞれθ3とθ4であっ
て、θ3〜0、θ4〜0のときの干渉縞のピッチΛ0は次
式で表わされる。
The pitch Λ 0 of the interference fringes when the incident angles of the two light beams are θ 3 and θ 4 and θ 3 ˜0 and θ 4 = 0 are expressed by the following equation.

【0055】[0055]

【数20】Λ0=λ/(|sinθ3+sinθ4|)=λ/
(|θ3+θ4|)
[Formula 20] Λ 0 = λ / (| sin θ 3 + sin θ 4 |) = λ /
(| Θ 3 + θ 4 |)

【0056】数20に数18,数19を代入すると、次
式が得られる。
By substituting the equations 18 and 19 into the equation 20, the following equation is obtained.

【0057】[0057]

【数21】Λ0(d)=λ/〔|2dT/f2+2λ(1/
Λ1−1/Λ2)|〕
Λ 0 (d) = λ / [| 2dT / f 2 + 2λ (1 /
Λ 1 -1 / Λ 2) |]

【0058】ここで、前述のように、λは波長、Tは2
つの回折格子6a,6b間の距離、fは対物レンズ4の
焦点距離、Λ1は第1の回折格子6aのピッチ、Λ2は第
2の回折格子6bのピッチである。この式から、二重回
折格子6によって発生する干渉縞は、位置Xに関わら
ず、デフォーカス量dに依存する等ピッチΛ0(d)の干
渉縞であることがわかる。なお、回折格子6aと回折格
子6bのピッチが同じ場合(Λ1=Λ2)には、干渉縞のピ
ッチΛ0(d)は次式で表される。
Here, as described above, λ is the wavelength and T is 2
The distance between the two diffraction gratings 6a and 6b, f is the focal length of the objective lens 4, Λ 1 is the pitch of the first diffraction grating 6a, and Λ 2 is the pitch of the second diffraction grating 6b. From this equation, it can be seen that the interference fringes generated by the double diffraction grating 6 are fringes of equal pitch Λ 0 (d) that depend on the defocus amount d regardless of the position X. When the diffraction grating 6a and the diffraction grating 6b have the same pitch (Λ 1 = Λ 2 ), the pitch Λ 0 (d) of the interference fringes is expressed by the following equation.

【0059】[0059]

【数22】Λ0(d)=f2/〔|(d/λ)|2T〕[Formula 22] Λ 0 (d) = f 2 / [| (d / λ) | 2T]

【0060】デフォーカスのないとき(d=0のとき)
は、数22よりΛ0→∞となるが、デフォーカスの生じ
たときに干渉縞が発生する。従って、干渉縞のピッチや
位相のデフォーカスによる変化を読み取って、被測定物
の変位(より正確には、微小変位)dを得たり、フォーカ
スエラー信号Foを得ることができる。
When there is no defocus (when d = 0)
From Equation 22, Λ 0 → ∞, but interference fringes occur when defocus occurs. Therefore, it is possible to obtain the displacement (more accurately, a minute displacement) d of the object to be measured or the focus error signal Fo by reading the change due to the defocus of the pitch or phase of the interference fringes.

【0061】例えば、ピッチの同じ2つの回折格子6
a,6bからなる二重回折格子6に平行光を入射させ
て、第1の回折格子6aでの+1次光であって第2の回
折格子6bでの−1次光(E光とよぶ)と、第1の回折格
子6aでの−1次光であって第2の回折格子での+1次
光(F光とよぶ)とを干渉させて、数22のピッチΛ
0(d)の干渉縞を発生させることができる。
For example, two diffraction gratings 6 having the same pitch
Parallel light is incident on the double diffraction grating 6 composed of a and 6b, and the + 1st order light at the first diffraction grating 6a and the −1st order light at the second diffraction grating 6b (referred to as E light) ) And the −1st-order light at the first diffraction grating 6a and the + 1st-order light (referred to as F light) at the second diffraction grating 6 are caused to interfere with each other, and the pitch Λ
An interference fringe of 0 (d) can be generated.

【0062】ここで、2つの回折格子6a,6bの位相
(回折格子の山と山の間隔)を故意にずらす。図8乃至図
10には、2つの回折格子6a,6bの位相をずらした
状態が示されている。すなわち、図8乃至図10には、
第1の回折格子6aと第2の回折格子6bのピッチをΛ
(=Λ1=Λ2)としたときに、第1の回折格子6aの山と
第2の回折格子6bの谷との位相差がΛ/8となるよう
にし、回折光として±1次光(前述のE光とF光)を用い
るとした場合が示されており、この場合、第2の回折格
子6bからの2つの回折光(E光,F光)の位相は90°
(1/4ピッチ=λ/4)ずれる。より詳しくは、デフォ
ーカスでないとき、E光とF光は波面が互いに平行であ
り、その等位相面は互いに櫛のように入り込む状態にな
る。なお、このときには、E光とF光の等位相面が交わ
らないので、干渉縞は発生しない。
Here, the phases of the two diffraction gratings 6a and 6b are
Intentionally shift (the distance between the peaks of the diffraction grating). 8 to 10 show a state where the phases of the two diffraction gratings 6a and 6b are shifted. That is, in FIG. 8 to FIG.
The pitch of the first diffraction grating 6a and the second diffraction grating 6b is Λ
When (= Λ 1 = Λ 2 ), the phase difference between the peaks of the first diffraction grating 6a and the valleys of the second diffraction grating 6b is set to Λ / 8, and the ± 1st order light is diffracted light. The case where (the above-mentioned E light and F light) is used is shown, and in this case, the phases of the two diffracted lights (E light and F light) from the second diffraction grating 6b are 90 °.
(1/4 pitch = λ / 4) More specifically, when not in defocus, the E light and the F light have wavefronts parallel to each other, and their equiphase surfaces enter into each other like a comb. At this time, since the E-phase and F-light equiphase surfaces do not intersect, no interference fringes occur.

【0063】このように、図8は、上述のようにデフォ
ーカスのない場合を示しているが、デフォーカスdが発
生すると、E光,F光の波面は、ミクロ的には図9,図
10に示すように各々湾曲する。この湾曲によって等位
相面が交わり、数22で表されるピッチΛ0(d)の干渉
縞が発生する。干渉縞はE光,F光の波面が交わってで
きるが、その交点は図中CLSで示すようにデフォーカ
スの正負によって移動する。これは左右の位相が反転す
ることを表す。干渉縞の光量分布は定性的には図11に
示すようにデフォーカスによって変化し、干渉面内の左
側LT,右側RTがd=0を境にして反転することとな
る。従って、これを受光手段で読み取ることで、デフォ
ーカスdを知ることができる。
As described above, FIG. 8 shows the case where there is no defocus as described above. However, when defocus d occurs, the wavefronts of E light and F light are microscopically as shown in FIGS. Each is curved as shown in FIG. Due to this curvature, the equal phase planes intersect, and interference fringes of the pitch Λ 0 (d) expressed by Formula 22 are generated. The interference fringe is formed by the intersection of the E and F light wavefronts, and the intersection moves depending on whether the defocus is positive or negative, as indicated by CLS in the figure. This means that the left and right phases are reversed. The light amount distribution of the interference fringes qualitatively changes due to defocusing as shown in FIG. 11, and the left side LT and the right side RT in the interference plane are inverted at the boundary of d = 0. Therefore, the defocus d can be known by reading this with the light receiving means.

【0064】具体的には、干渉面内の左側LTと右側R
Tのところに、それぞれ受光素子(例えばフォトダイオ
ード)を設置して、左側の受光素子の検知光量(出力)
A’と右側の受光素子の検知光量(出力)B’との差DI
F(=A’−B’)を検出すると図12に示すようないわ
ゆるS字カーブが得られる。
Specifically, the left side LT and the right side R in the interference plane
A light receiving element (eg, photodiode) is installed at each T, and the amount of light detected by the light receiving element on the left side (output)
The difference DI between A'and the detected light amount (output) B'of the light receiving element on the right side
When F (= A'-B ') is detected, a so-called S-shaped curve as shown in FIG. 12 is obtained.

【0065】図13は上記原理を適用した光ピックアッ
プの構成例を示す図である。ここで、光源1には一般に
半導体レーザ(LD)が用いられる。この光ピックアップ
は、光源からの光を記録担体に集光照射して情報の記録
または再生を行なう光記録再生装置に用いられるもので
あり、図13の構成では、光源1からの光をコリメート
レンズ2でコリメートしてビームスプリッタ3を介して
対物レンズ4に入射させ、対物レンズ4で集光させて被
測定物5としての記録担体に照射する。記録担体5から
の反射光は再び対物レンズ4,ビームスプリッタ3を介
して二重回折格子6に入射する。二重回折格子6におい
ては、これに入射した反射光により前述の原理で干渉縞
を発生させ、発生した干渉縞を受光手段(例えば図14
(a)に示すような2分割の受光素子)7で受光し、2分
割受光素子の出力差DIF(=A’−B’)に基づき記
録担体5のデフォーカス量dを検出し、検出されたデフ
ォーカス量dに基づいてフォーカスエラー信号Foを得
て、フォーカスサーボを施す。
FIG. 13 is a diagram showing a configuration example of an optical pickup to which the above principle is applied. Here, a semiconductor laser (LD) is generally used as the light source 1. This optical pickup is used in an optical recording / reproducing apparatus that records and reproduces information by condensing and irradiating light from a light source onto a record carrier. In the configuration of FIG. 13, the light from the light source 1 is collimated by a collimating lens. The light is collimated by 2 and is incident on the objective lens 4 through the beam splitter 3, and is condensed by the objective lens 4 to irradiate the record carrier as the DUT 5. The reflected light from the record carrier 5 again enters the double diffraction grating 6 via the objective lens 4 and the beam splitter 3. In the double diffraction grating 6, the reflected light incident on the double diffraction grating 6 causes interference fringes according to the above-described principle, and the generated interference fringes are received by the light receiving means (for example, FIG. 14).
Light is received by the two-divided light receiving element (7) as shown in (a), and the defocus amount d of the record carrier 5 is detected based on the output difference DIF (= A'-B ') of the two-divided light receiving element. The focus error signal Fo is obtained based on the defocus amount d and the focus servo is performed.

【0066】フォーカスエラー信号Foのみならず、ト
ラックエラー信号Trをも検知するには、フォーカス検
出法を用いつつ、受光手段7として図14(b)のように
4分割の受光素子(出力が各々A,B,C,D)を用いれ
ばよい。こうすると、フォーカスエラー信号Foは数2
3で求められ、またプッシュプル法を用いてトラックエ
ラー信号Trは数24で求められる。
In order to detect not only the focus error signal Fo but also the track error signal Tr, the focus detection method is used and the light receiving means 7 is divided into four light receiving elements (each output is as shown in FIG. 14B). A, B, C, D) may be used. Then, the focus error signal Fo is given by
3 and the track error signal Tr is calculated by using the push-pull method.

【0067】[0067]

【数23】Fo=(A+B)−(C+D)(23) Fo = (A + B)-(C + D)

【0068】[0068]

【数24】Tr=(A+D)−(B+C)[Equation 24] Tr = (A + D)-(B + C)

【0069】さらに、記録信号は、4分割の受光素子の
各出力A,B,C,Dの総和(A+B+C+D)をとるこ
とで、検出することができる。
Further, the recording signal can be detected by taking the total sum (A + B + C + D) of the outputs A, B, C and D of the four-division light receiving element.

【0070】このように、二重回折格子6による干渉縞
を用いることで、小型化等に適した光ピックアップを提
供できる。
As described above, by using the interference fringes of the double diffraction grating 6, it is possible to provide an optical pickup suitable for miniaturization and the like.

【0071】ところで、二重回折格子6からの光を受光
手段7で全て受光するには、受光手段7の面積として
(すなわち、2分割受光素子全体の面積,あるいは4分
割受光素子全体の面積,…として)、ビーム径よりやや
大きい面積が必要であり、受光手段7の面積が大きくな
ると応答速度がやや遅くなる。フォーカスエラー信号や
トラックエラー信号を検出する場合には、応答速度が多
少遅くなっても特に問題はないが、記録担体5から記録
信号を読取る場合には高速性が要求される。従って、こ
れに対応するには高速対応の受光素子用の材料が必要と
なり、通常の受光素子材料に比べて2割程度、コストが
上昇する。
By the way, in order to receive all the light from the double diffraction grating 6 by the light receiving means 7, the area of the light receiving means 7 is set.
An area which is slightly larger than the beam diameter is required (that is, the area of the entire 2-division light receiving element or the area of the 4-division light receiving element, ...). In the case of detecting the focus error signal or the track error signal, there is no particular problem even if the response speed is a little slow, but when reading the record signal from the record carrier 5, high speed is required. Therefore, in order to cope with this, a material for a high-speed compatible light receiving element is required, and the cost is increased by about 20% as compared with a normal light receiving element material.

【0072】本発明は、さらにこのような問題を改善す
ることを意図している。すなわち、記録担体5からの記
録信号を検知する際、小さな面積の受光手段を用いるこ
とができ、従って、受光手段に通常の受光素子材料を用
いる場合にも、高速性を犠牲にせずに、記録信号等を精
度良く検出することの可能な光ピックアップを提供する
ことを意図している。
The present invention is intended to alleviate such problems. That is, when the recording signal from the record carrier 5 is detected, the light receiving means having a small area can be used. Therefore, even when the ordinary light receiving element material is used for the light receiving means, the recording is performed without sacrificing the high speed. It is intended to provide an optical pickup capable of accurately detecting a signal or the like.

【0073】このため、請求項1記載の発明は、光源か
らの光を記録担体に集光照射し、記録担体からの反射光
に基づき、記録信号とフォーカスエラー信号および/ま
たはトラックエラー信号とを検知する光ピックアップに
おいて、記録担体からの反射光の一部を透過し、他の一
部を集光する透過/集光手段と、透過/集光手段からの
透過光と集束光とが入射する二重回折格子と、二重回折
格子からの光を受光する受光手段とを有し、透過/集光
手段の集束光であって二重回折格子を経験した光を受光
手段によって受光して記録信号を検出し、透過/集光手
段の透過光であって二重回折格子によって発生する干渉
縞を受光手段によって受光してフォーカスエラー信号お
よび/またはトラックエラー信号を検出する。これによ
り、透過/集光手段からの平行光を二重回折格子に入射
させることでフォーカスエラー信号および/またはトラ
ックエラー信号を検出できる一方、透過/集光手段から
の集束光により記録信号を検出できるので、その集束位
置には小さな受光面積の受光素子を用いることができ、
通常の受光素子材料で形成された受光素子により、記録
信号を高速かつ精度良く検出することができる。また、
請求項1記載の発明は、透過/集光手段からの集束光が
二重回折格子において回折しないように、二重回折格子
を形成する2つの回折格子の少なくとも一方の回折格子
の一部に、格子を設けない領域が形成されている。これ
により、透過/集光手段からの集束光が二重回折格子に
おいて回折しないようにするので、集束光が二重回折格
子において複数の光束に分かれることが無く、従って、
集束光のスポット径をより小さくできる。これによっ
て、より小さな受光面積の受光素子を用いることがで
き、より低コスト,より高速化に対応できる。
Therefore, according to the first aspect of the present invention, the light from the light source is condensed and irradiated to the record carrier, and the recording signal and the focus error signal and / or the track error signal are generated based on the reflected light from the record carrier. In an optical pickup for detection, a transmission / condensing means for transmitting a part of the reflected light from the record carrier and condensing the other part, and a transmitted light from the transmission / collecting means and a focused light are incident. It has a double diffraction grating and a light receiving means for receiving light from the double diffraction grating, and receives the light that is the converged light of the transmitting / focusing means and that has undergone the double diffraction grating by the light receiving means. Then, the recording signal is detected, and the interference fringes which are the transmitted light of the transmitting / focusing means and are generated by the double diffraction grating are received by the light receiving means to detect the focus error signal and / or the track error signal. With this, the focus error signal and / or the track error signal can be detected by making the parallel light from the transmitting / focusing means incident on the double diffraction grating, while the recording signal is generated by the focused light from the transmitting / focusing means. Since it can be detected, a light receiving element with a small light receiving area can be used at the focusing position,
The recording signal can be detected at high speed and with high accuracy by the light receiving element formed of a normal light receiving element material. Also,
In the invention according to claim 1, the focused light from the transmitting / focusing means is
Double diffraction grating, so as not to diffract in the double diffraction grating
Of at least one of the two diffraction gratings forming the
An area where no grid is provided is formed in a part of. this
Allows the focused light from the transmitting / focusing means to form a double diffraction grating.
The focused light is double diffracted so that it is not diffracted.
There is no splitting into multiple beams in the child, therefore
The spot diameter of the focused light can be made smaller. By this
Therefore, it is possible to use a light receiving element with a smaller light receiving area.
It can support lower cost and higher speed.

【0074】また、請求項2記載の発明は、透過/集光
手段は、グレーティングレンズ、あるいは、一部がレン
ズ作用を有し他の一部がレンズ作用を有しないレンズ部
材により形成される。
According to the second aspect of the present invention, the transmitting / focusing means is formed of a grating lens or a lens member of which one part has a lens function and the other part does not have a lens function.

【0075】[0075]

【0076】また、請求項3記載の発明は、光源からの
光を記録担体に集光照射し、記録担体からの反射光に基
づき、記録信号とフォーカスエラー信号および/または
トラックエラー信号とを検知する光ピックアップにおい
て、記録担体からの反射光の一部を透過し、他の一部を
集光する透過/集光手段と、透過/集光手段からの透過
光と集束光とが入射する二重回折格子と、二重回折格子
からの光を受光する受光手段とを有し、透過/集光手段
の集束光であって二重回折格子を経験した光を受光手段
によって受光して記録信号を検出し、透過/集光手段の
透過光であって二重回折格子によって発生する干渉縞を
受光手段によって受光してフォーカスエラー信号および
/またはトラックエラー信号を検出する。これにより、
透過/集光手段からの平行光を二重回折格子に入射させ
ることでフォーカスエラー信号および/またはトラック
エラー信号を検出できる一方、透過/集光手段からの集
束光により記録信号を検出できるので、その集束位置に
は小さな受光面積の受光素子を用いることができ、通常
の受光素子材料で形成された受光素子により、記録信号
を高速かつ精度良く検出することができる。また、請求
項3記載の発明は、二重回折格子の一部の領域に、透過
/集光手段が配置されている。これにより、二重回折格
子の領域の一部に透過/集光手段を配置するので、光ピ
ックアップをより小型化することができる。また、請求
項4記載の発明では、透過/集光手段は、グレーティン
グレンズ、あるいは、一部がレンズ作用を有し他の一部
がレンズ作用を有しないレンズ部材により形成される。
The invention according to claim 3 is a light source
Light is focused on the record carrier, and the reflected light from the record carrier is used as the basis.
Therefore, the recording signal and the focus error signal and / or
Optical pickups that detect track error signals
Part of the reflected light from the record carrier and the other part.
Transmission / collection means for collecting light and transmission from transmission / collection means
Double diffraction grating on which light and focused light are incident, and double diffraction grating
And light receiving means for receiving light from the
Receiving means for the focused light of the light which has undergone the double diffraction grating
To detect the recording signal by receiving light by the
Interference fringes that are transmitted light and are generated by the double diffraction grating
Focusing error signal and
/ Or detect a track error signal. This allows
The parallel light from the transmitting / collecting means is incident on the double diffraction grating.
Focus error signal and / or track
Error signal can be detected, while collecting from transmission / collection means
Since the recording signal can be detected by the bundled light,
Can use a light receiving element with a small light receiving area,
The recording signal is generated by the light receiving element formed of the light receiving element material of
Can be detected at high speed and with high accuracy. Also bill
According to the invention of Item 3 , the transmission / focusing means is arranged in a partial region of the double diffraction grating. With this, the transmission / focusing means is arranged in a part of the region of the double diffraction grating, so that the optical pickup can be further downsized. Also bill
In the invention of item 4, the transmitting / collecting means is a grating.
Glens, or some have lens effects and some others
Is formed by a lens member having no lens action.

【0077】また、請求項5記載の発明は、透過/集光
手段は、二重回折格子の記録担体からの反射光が入射す
る側に設けられ、二重回折格子の受光手段側の回折格子
の一部に、格子を設けない領域が形成されている。これ
により、透過/集光手段は、二重回折格子の記録担体か
らの反射光が入射する側に設けられ、二重回折格子の受
光手段側の回折格子には、一部に回折格子を設けない領
域が形成されているので、装置を小型化しかつ受光素子
をより小型なものにすることができる。
According to the invention of claim 5, the transmitting / collecting means is provided on the side of the double diffraction grating on which the reflected light from the record carrier is incident, and on the side of the light receiving means of the double diffraction grating. A region where no grating is provided is formed in a part of the diffraction grating. As a result, the transmission / focusing means is provided on the side of the double diffraction grating on which the reflected light from the record carrier is incident, and the diffraction grating on the side of the light receiving means of the double diffraction grating has a partial diffraction grating. Since the region not provided is formed, the device can be downsized and the light receiving element can be downsized.

【0078】[0078]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図15は本発明に係る光ピックアップの一実施例
の構成図である。図15を参照すると、この光ピックア
ップは、光源(例えば半導体レーザ)1と、光源1からの
光をコリメ−トするコリメ−トレンズ2と、ビームスプ
リッタ3と、コリメ−トレンズ2からのコリメ−ト光を
記録担体(例えば光ディスク)5に集光照射する対物レ
ンズ4と、記録担体5からの反射光が対物レンズ4,ビ
ームスプリッタ3を介して入射し、入射した光の一部を
そのまま透過させ、他の一部を集光して集束光にする透
過/集光手段10と、透過/集光手段10によって一部
が透過し、一部が集光された状態の反射光が入射する回
折手段6と、回折手段6からの回折光の間での干渉によ
って生ずる干渉縞が投影され、該干渉縞を受光し、該干
渉縞に基づいて、記録担体5の変位に関する情報(対物
レンズ4の光軸方向への被測定物の変位(デフォーカス
量)および/または対物レンズの光軸方向と直交するト
ラック方向(記録担体の放射方向)への被測定物の変位)
や記録担体5の記録信号を検出する受光手段(例えばフ
ォトダイオードなどの受光素子)7とを有している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 15 is a block diagram of an embodiment of the optical pickup according to the present invention. Referring to FIG. 15, this optical pickup includes a light source (for example, a semiconductor laser) 1, a collimating lens 2 for collimating the light from the light source 1, a beam splitter 3, and a collimating lens 2. The objective lens 4 for converging and irradiating the light on the record carrier (for example, an optical disk) 5, the reflected light from the record carrier 5 enters through the objective lens 4 and the beam splitter 3, and part of the incident light is transmitted as it is. , Diffraction in which the transmissive / condensing unit 10 that condenses the other part into focused light and the reflected light that is partially transmitted by the transmissive / condensing unit 10 and is partly condensed The interference fringes generated by the interference between the means 6 and the diffracted light from the diffracting means 6 are projected, the interference fringes are received, and information on the displacement of the record carrier 5 (on the objective lens 4 Displacement of the measured object in the optical axis direction (Defocus amount) and / or displacement of the DUT in the track direction (radiation direction of the record carrier) orthogonal to the optical axis direction of the objective lens)
And a light receiving means (for example, a light receiving element such as a photodiode) 7 for detecting a recording signal of the record carrier 5.

【0079】ここで、透過/集光手段10には、例えば
グレーティングレンズが用いられる。図16(a),
(b)は透過/集光手段10に用いられるグレーティング
レンズの平面図,側面図である。図16(a),(b)に
示すように、このグレーティングレンズは、格子パター
ンが同心円状や同心楕円状をしている回折格子であっ
て、中心から離れるに従って、格子ピッチが密になって
いる。このグレーティングレンズに光が入射するとき、
入射光の一部は、中心から離れるに従って格子ピッチが
密になっている回折格子であるグレーティングレンズに
より回折して集束するが、入射光の全てが回折すること
は殆ど無く、入射光の一部は透過光として透過する。従
って、このグレーティングレンズにより透過/集光手段
10を実現できる。また、回折手段6には、前述した図
1,図13の装置と同様に、2つの回折格子6a,6b
からなる二重回折格子が用いられる。
Here, for the transmitting / collecting means 10, for example, a grating lens is used. 16 (a),
(b) is a plan view and a side view of a grating lens used in the transmitting / focusing means 10. As shown in FIGS. 16 (a) and 16 (b), this grating lens is a diffraction grating having a concentric circle pattern or a concentric ellipse pattern, and the grating pitch becomes denser as it goes away from the center. There is. When light enters this grating lens,
Part of the incident light is diffracted and focused by the grating lens, which is a diffraction grating in which the grating pitch becomes denser away from the center, but almost all of the incident light is hardly diffracted, and part of the incident light Is transmitted as transmitted light. Therefore, the transmission / focusing means 10 can be realized by this grating lens. In addition, the diffracting means 6 has two diffraction gratings 6a and 6b, as in the device shown in FIGS.
A double diffraction grating consisting of

【0080】このような構成の光ピックアップでは、光
源1からの光を対物レンズ4によって記録担体(光ディ
スク)5に集光照射し、記録担体5からの反射光をグレ
ーティングレンズ10を介して二重回折格子6に入射さ
せる。
In the optical pickup having such a structure, the light from the light source 1 is condensed and irradiated onto the record carrier (optical disk) 5 by the objective lens 4, and the reflected light from the record carrier 5 is doubled via the grating lens 10. It is incident on the diffraction grating 6.

【0081】この際、図17(a)に示すように、グレ
ーティングレンズ10からの透過光はあたかもグレーテ
ィングレンズ10を経験しなかったかのごとく二重回折
格子6に平行光として入射するので、前述したと同様の
方法で、数23,数24により、フォーカスエラー信号
Foやトラックエラー信号Trを検出できる。
At this time, as shown in FIG. 17A, since the transmitted light from the grating lens 10 is incident on the double diffraction grating 6 as parallel light as if the grating lens 10 was not experienced, the above-mentioned is described. The focus error signal Fo and the track error signal Tr can be detected by the same method as the equations (23) and (24).

【0082】また、グレーティングレンズ10からの集
束光は、二重回折格子6に入射すると、一部は回折光と
なり残りは透過光となって受光手段7に向かうが、二重
回折格子6で回折または透過されて多数のビームとなっ
ても集束位置付近ではそれぞれのスポットは小さいもの
となる。従って、集束位置付近に受光手段7を配置すれ
ば、この小さなスポットを1個の小さい受光素子で受光
して、これを記録信号として検知することができる。
When the focused light from the grating lens 10 enters the double diffraction grating 6, part of it becomes diffracted light and the rest becomes transmitted light, which goes to the light receiving means 7. Even if a large number of beams are diffracted or transmitted by, each spot becomes small near the focal position. Therefore, if the light receiving means 7 is disposed near the focusing position, this small spot can be received by one small light receiving element and detected as a recording signal.

【0083】図17(b)には、受光手段7の構成例が
示されている。図17(b)の例では、受光手段7には
5分割の受光素子(4つの受光素子7a,7b,7c,
7dと、その中心部に位置する1つの小さな受光面積の
受光素子7e)が用いられている。
FIG. 17B shows a structural example of the light receiving means 7. In the example of FIG. 17 (b), the light receiving means 7 has five light receiving elements (four light receiving elements 7a, 7b, 7c,
7d and a light receiving element 7e) having a small light receiving area located in the center thereof are used.

【0084】受光手段7として図17(b)に示すような
5分割の受光素子7a,7b,7c,7d,7eを用い
るとき、グレーティングレンズ10からの平行光は、二
重回折格子6を経験した後、主に、受光素子7a,7
b,7c,7dに入射する。
When the five-divided light receiving elements 7a, 7b, 7c, 7d and 7e as shown in FIG. 17 (b) are used as the light receiving means 7, parallel light from the grating lens 10 passes through the double diffraction grating 6. After experiencing, mainly the light receiving elements 7a, 7
It is incident on b, 7c and 7d.

【0085】従って、2つの受光素子7a,7bの出力
和(A+B)と2つの受光素子7c,7dの出力和(C+
D)との差〔(A+B)−(C+D)〕を求めることで、記
録担体(光ディスク)5の光軸方向xへのデフォーカス
量,すなわちフォーカスエラーを検出することができ
る。
Therefore, the output sum (A + B) of the two light receiving elements 7a and 7b and the output sum (C +) of the two light receiving elements 7c and 7d.
By obtaining the difference [(A + B) − (C + D)] from D), it is possible to detect the defocus amount in the optical axis direction x of the record carrier (optical disc) 5, that is, the focus error.

【0086】また、2つの受光素子7a,7dの出力和
(A+D)と2つの受光素子7b,7cの出力和(B+C)
との差〔(A+D)−(B+C)〕を求めることで、記録担
体(光ディスク)5のトラックエラーを検出することがで
きる。
Further, the sum of outputs of the two light receiving elements 7a and 7d
(A + D) and output sum of two light receiving elements 7b and 7c (B + C)
By obtaining the difference [(A + D)-(B + C)] from the difference, the track error of the record carrier (optical disk) 5 can be detected.

【0087】なお、本発明では、受光手段7への投影像
として、二重回折格子6からの2つの回折光の干渉縞の
変化方向とトラックパターン像の変化方向とが直交した
ものとなるので、これらが干渉し合うという事態をなく
し、これらを別個独立に信頼性良く検出できる。すなわ
ち、フォーカスエラーとトラックエラーとを互い独立に
精度良く検出できる。
In the present invention, the projected image on the light receiving means 7 is such that the changing direction of the interference fringes of the two diffracted lights from the double diffraction grating 6 and the changing direction of the track pattern image are orthogonal to each other. Therefore, the situation in which they interfere with each other is eliminated, and they can be independently and reliably detected. That is, the focus error and the track error can be accurately detected independently of each other.

【0088】また、グレーティングレンズ10からの集
束光は、二重回折格子6を経験した後、主に、中心部に
位置する1つの受光素子7eに入射する。従って、この
受光素子7eの出力によって、記録担体(光ディスク)5
の記録信号を検出することができる。
The focused light from the grating lens 10 is mainly incident on one light receiving element 7e located at the central portion after experiencing the double diffraction grating 6. Therefore, by the output of the light receiving element 7e, the record carrier (optical disk) 5
It is possible to detect the recording signal of.

【0089】このように、本実施例では、記録担体5か
らの反射光(平行光)を二重回折格子6に入射させるに
先立って、透過/集光手段10に経験させ、一部の透過
光を平行光として二重回折格子6に入射させるととも
に、他の一部の集束光を二重回折格子6に入射させるこ
とで、受光手段7(受光素子7a〜7e)に高速の材料を
用いずとも、小さな受光面積の受光素子7eにより記録
信号を高速にかつ精度良く検出できる。
As described above, in this embodiment, before the reflected light (parallel light) from the record carrier 5 is made incident on the double diffraction grating 6, the transmitting / focusing means 10 is made to experience a part of the light. The transmitted light is incident on the double diffraction grating 6 as parallel light, and a part of the other focused light is incident on the double diffraction grating 6, so that the light receiving means 7 (light receiving elements 7a to 7e) can operate at high speed. The recording signal can be detected at high speed and with high accuracy by the light receiving element 7e having a small light receiving area without using a material.

【0090】上述の例では、一部の光を入射光のまま透
過し、他の一部を集光して小さいスポットにする機能を
有する透過/集光手段10に、グレーティングレンズを
用いたが、図18に示すように、グレーティングレンズ
のかわりに、平面基板20の一部に(中央部に)レンズ2
1が形成されたレンズ部材22を用いることもできる。
なお、レンズ21が形成されていない平面基板20の部
分は、レンズ作用を有していない。
In the above-mentioned example, the grating lens is used as the transmitting / collecting means 10 having the function of transmitting a part of the light as it is as the incident light and condensing the other part into a small spot. As shown in FIG. 18, instead of the grating lens, the lens 2 is provided on a part of the flat substrate 20 (at the center).
It is also possible to use the lens member 22 formed with 1.
The portion of the flat substrate 20 where the lens 21 is not formed does not have a lens function.

【0091】図19(a),(b)には、レンズ部材22
の例が示されている。図19(a),(b)のいずれの例
においても、このレンズ部材22のレンズ21が設けら
れていない部分,すなわちレンズ作用を有しない部分に
入射する平行光は、平行光のままの状態でレンズ部材2
2を透過し、また、レンズ21が形成されている部分に
入射する平行光は、レンズ21によって集光される。従
って、このようなレンズ部材22を用いる場合にも、グ
レーティングレンズを用いる場合と同様に、入射光の一
部を集光して小さい受光面積の受光素子7eに入射させ
ることができ、小さい受光面積の受光素子7eによって
記録信号を高速にかつ精度良く検出することができる。
19A and 19B, the lens member 22 is shown.
An example of is shown. 19 (a) and 19 (b), the parallel light that is incident on the portion of the lens member 22 where the lens 21 is not provided, that is, the portion that does not have the lens action, remains parallel light. Lens member 2
The parallel light that passes through 2 and is incident on the portion where the lens 21 is formed is condensed by the lens 21. Therefore, even when such a lens member 22 is used, as in the case of using the grating lens, a part of the incident light can be condensed and incident on the light receiving element 7e having a small light receiving area, and the small light receiving area can be obtained. The recording signal can be detected at high speed and with high accuracy by the light receiving element 7e.

【0092】なお、レンズ21としては、レンズ作用を
有しているものであれば良く、従って、図19(a),
(b)に示したような曲面状に加工された通常の凸レン
ズに限らず、セルフォックレンズのような分布屈折率レ
ンズを用いることもできる。
Any lens having a lens function may be used as the lens 21. Therefore, as shown in FIG.
The present invention is not limited to the normal convex lens processed into a curved surface as shown in (b), but a distributed index lens such as a SELFOC lens can be used.

【0093】上述の例では、回折手段6として、図1,
図13に示したと同様の二重回折格子を用いたが、透過
/集光手段(グレーティングレンズあるいはレンズ部材)
10からの集束光がこのような二重回折格子において回
折すると図17(a)に示したように複数の回折光とな
り、集光スポットの径がやや大きくなってしまう。すな
わち、集束光が回折を受けて、その径が大きくなること
に伴ない、受光素子7eの受光面積を集束光が回折を受
けないとした場合に比べてやや大きくする必要がある。
集光スポット径をより小さくし、受光素子7eをより小
さな受光面積のものにするため、図20に示すように、
2つの回折格子6a,6bの一部に(すなわち、透過/
集光手段10からの集束光の光路部分に)、格子を設け
ない領域NLを形成した二重回折格子を回折手段6とし
て用いることができる。この場合には、透過/集光手段
10からの集束光は、二重回折格子6の回折を受けずに
そのまま受光手段7に入光するので、受光手段7がこの
透過/集光手段10からの集束光の焦点距離付近に配置
されるとき、受光手段7に入光する集束光の径は、極め
て小さくなり、集束光をより小さな受光面積の受光素子
7eで受光することができる。
In the above example, the diffracting means 6 is shown in FIG.
A double diffraction grating similar to that shown in FIG. 13 was used, but the transmitting / focusing means (grating lens or lens member)
When the focused light from 10 is diffracted by such a double diffraction grating, it becomes a plurality of diffracted lights as shown in FIG. 17A, and the diameter of the focused spot becomes slightly large. That is, as the focused light is diffracted and its diameter increases, the light receiving area of the light receiving element 7e needs to be made slightly larger than in the case where the focused light is not diffracted.
In order to make the focused spot diameter smaller and the light receiving element 7e to have a smaller light receiving area, as shown in FIG.
A part of the two diffraction gratings 6a and 6b (that is, transmission /
A double diffraction grating in which a region NL where no grating is provided is formed can be used as the diffracting means 6 in the optical path portion of the focused light from the condensing means 10). In this case, the focused light from the transmitting / collecting means 10 enters the light receiving means 7 as it is without being diffracted by the double diffraction grating 6, so that the light receiving means 7 receives the transmitting / collecting means 10. When it is arranged near the focal length of the focused light from, the diameter of the focused light entering the light receiving means 7 becomes extremely small, and the focused light can be received by the light receiving element 7e having a smaller light receiving area.

【0094】なお、図20の例では、両方の回折格子6
a,6bに、格子を設けない領域NLを形成したが、受
光手段7側の回折格子7bにはこのような領域NLを設
けなくともよい。例えば、受光手段7側の回折格子6b
の近傍に受光手段7を置けば、回折格子6bに格子を設
けずとも良い。すなわち、この場合には、回折格子6b
から複数の回折が発生しても、発生する複数の回折光は
差程拡散せず、従って、小さいスポット径を維持でき
る。
In the example of FIG. 20, both diffraction gratings 6 are
Although the regions NL in which the grating is not provided are formed in a and 6b, such regions NL may not be provided in the diffraction grating 7b on the light receiving means 7 side. For example, the diffraction grating 6b on the light receiving means 7 side
If the light receiving means 7 is placed in the vicinity of, the diffraction grating 6b need not be provided with a grating. That is, in this case, the diffraction grating 6b
Therefore, even if a plurality of diffractions occur, the plurality of diffracted lights that are generated do not diffuse so much, so that a small spot diameter can be maintained.

【0095】また、上述の実施例では、ビームスプリッ
タ3と回折手段(二重回折格子)6との間に透過/集光手
段10を配置したが、図21に示すように、透過/集光
手段10,すなわちグレーティングレンズやレンズ部材
を二重回折格子6の一部の領域(例えば、回折格子6a
の表面上)に配設してもよい。また、回折格子6aの表
面上に透過/集光手段10を設ける場合、他方の回折格
子6bに回折格子を設けない領域NLを設けると、前述
のように、集束光のスポット径をより小さなものにする
ことができる。
Further, in the above-mentioned embodiment, the transmitting / collecting means 10 is arranged between the beam splitter 3 and the diffracting means (double diffraction grating) 6, but as shown in FIG. The light means 10, that is, the grating lens or the lens member is provided in a partial region of the double diffraction grating 6 (for example, the diffraction grating 6a).
(On the surface of). Further, when the transmission / focusing means 10 is provided on the surface of the diffraction grating 6a, if the other diffraction grating 6b is provided with the area NL where the diffraction grating is not provided, as described above, the spot diameter of the focused light becomes smaller. Can be

【0096】なお、上記例では、透過/集光手段10を
回折格子6aに設けるとしたが、これを回折格子6bに
設けることもできる。
In the above example, the transmission / condensing means 10 is provided on the diffraction grating 6a, but it may be provided on the diffraction grating 6b.

【0097】また、上述の例では、受光手段7として、
図17(b)に示すような5分割の受光素子7a,7b,
7c,7d,7eを用い、これにより、フォーカスエラ
ー信号,トラックエラー信号,記録信号を検出するよう
にしているが、例えばトラックエラー信号を検出する必
要がない場合には、受光手段7に図22に示すような3
分割の受光素子7a’,7b’,7eを用いることもで
きる。この場合、フォーカスエラー信号は、2つの受光
手段7a’,7b’の各出力A’,B’の差(A’−
B’)として検出でき、記録信号は、中心部に配置され
た小さな受光面積の受光素子7eで検出することができ
る。
In the above example, the light receiving means 7 is
As shown in FIG. 17B, five-divided light receiving elements 7a, 7b,
7c, 7d, and 7e are used to detect the focus error signal, the track error signal, and the recording signal. However, for example, when it is not necessary to detect the track error signal, the light receiving means 7 has 3 as shown in
It is also possible to use the divided light receiving elements 7a ', 7b', 7e. In this case, the focus error signal is the difference (A'- between the outputs A'and B'of the two light receiving means 7a 'and 7b'.
B ′), and the recording signal can be detected by the light receiving element 7e having a small light receiving area arranged in the central portion.

【0098】また、上述の実施例では、ビームスプリッ
タ3は、光源1,コリメートレンズ2からの光を透過
し、記録担体5からの反射光を反射するようになってい
るが、これとは逆に、光源1,コリメートレンズ2から
の光を反射して記録担体5に入射させ、記録担体5から
の反射光を透過するように構成されても良い。
In the above embodiment, the beam splitter 3 transmits the light from the light source 1 and the collimator lens 2 and reflects the reflected light from the record carrier 5, but the opposite is true. In addition, the light from the light source 1 and the collimator lens 2 may be reflected to enter the record carrier 5, and the light reflected from the record carrier 5 may be transmitted.

【0099】[0099]

【発明の効果】以上に説明したように、請求項1,請求
項2記載の発明によれば、透過/集光手段からの平行光
を二重回折格子に入射させることでフォーカスエラー信
号および/またはトラックエラー信号を検出できる一
方、透過/集光手段からの集束光により記録信号を検出
できるので、その集束位置には小さな受光面積の受光素
子を用いることができ、通常の受光素子材料で形成され
た受光素子により、記録信号を高速かつ精度良く検出す
ることができる。
As described above, according to the first and second aspects of the present invention, the focus error signal and the focus error signal are generated by making the parallel light from the transmitting / collecting means incident on the double diffraction grating. Since the recording signal can be detected by the focused light from the transmitting / focusing means while the track error signal can be detected, it is possible to use a light receiving element having a small light receiving area at the focusing position. The formed light receiving element can detect a recording signal at high speed and with high accuracy.

【0100】また、請求項1記載の発明によれば、透過
/集光手段からの集束光が二重回折格子において回折し
ないようにするので、集束光が二重回折格子において複
数の光束に分かれることが無く、従って、集束光のスポ
ット径をより小さくできる。これによって、より小さな
受光面積の受光素子を用いることができ、より低コス
ト,より高速化に対応できる。
According to the first aspect of the present invention, the focused light from the transmitting / focusing means is prevented from diffracting in the double diffraction grating, so that the focused light has a plurality of luminous fluxes in the double diffraction grating. Therefore, the spot diameter of the focused light can be made smaller. As a result, it is possible to use a light receiving element having a smaller light receiving area, and it is possible to cope with lower cost and higher speed.

【0101】また、請求項3,請求項4記載の発明によ
れば、透過/集光手段からの平行光を二重回折格子に入
射させることでフォーカスエラー信号および/またはト
ラックエラー信号を検出できる一方、透過/集光手段か
らの集束光により記録信号を検出できるので、その集束
位置には小さな受光面積の受光素子を用いることがで
き、通常の受光素子材料で形成された受光素子により、
記録信号を高速かつ精度良く検出することができる。ま
た、二重回折格子の領域の一部に透過/集光手段を配置
するので、光ピックアップをより小型化することができ
る。
According to the third and fourth aspects of the invention, the parallel light from the transmitting / collecting means is input to the double diffraction grating.
Focus error signal and / or
A rack error signal can be detected, but a transmission / collection means
Since the recording signal can be detected by the focused light from the
A light receiving element with a small light receiving area can be used for the position.
The light receiving element made of normal light receiving element material,
The recording signal can be detected at high speed and with high accuracy. Well
In addition, since the transmission / condensing means is arranged in a part of the area of the double diffraction grating, the optical pickup can be further downsized.

【0102】また、請求項5記載の発明によれば、請求
項1または請求項2記載の光ピックアップにおいて、前
記透過/集光手段は、前記二重回折格子の前記記録担体
からの反射光が入射する側に設けられ、前記二重回折格
子の受光手段側の回折格子には、一部に回折格子を設け
ない領域が形成されているので、装置を小型化しかつ受
光素子をより小型なものにすることができる。
[0102] According to the invention described in claim 5, wherein
3. The optical pickup according to claim 1 or 2 , wherein the transmitting / collecting means is provided on a side of the double diffraction grating on which reflected light from the record carrier is incident, and the double diffraction grating receives light. The diffraction grating on the side of the means has a region in which the diffraction grating is not provided, so that the device can be downsized and the light receiving element can be downsized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】変位測定装置の一構成例を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration example of a displacement measuring device.

【図2】干渉縞の発生を説明するための図である。FIG. 2 is a diagram for explaining generation of interference fringes.

【図3】干渉縞の発生を説明するための図である。FIG. 3 is a diagram for explaining generation of interference fringes.

【図4】干渉縞の発生を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining generation of interference fringes.

【図5】微小変位の測定方法を説明するための図であ
る。
FIG. 5 is a diagram for explaining a method of measuring a minute displacement.

【図6】微小変位の測定方法を説明するための図であ
る。
FIG. 6 is a diagram for explaining a method of measuring a minute displacement.

【図7】微小変位の測定方法を説明するための図であ
る。
FIG. 7 is a diagram for explaining a method of measuring a minute displacement.

【図8】図1の変位測定装置による被測定物のデフォー
カス量の検出を説明するための図である。
8A and 8B are views for explaining detection of a defocus amount of an object to be measured by the displacement measuring device of FIG.

【図9】図1の変位測定装置による被測定物のデフォー
カス量の検出を説明するための図である。
9A and 9B are views for explaining detection of a defocus amount of an object to be measured by the displacement measuring device of FIG.

【図10】図1の変位測定装置による被測定物のデフォ
ーカス量の検出を説明するための図である。
10 is a diagram for explaining detection of a defocus amount of the object to be measured by the displacement measuring device of FIG.

【図11】デフォーカス量による干渉光の光量分布を示
す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a light amount distribution of interference light depending on a defocus amount.

【図12】デフォーカス量の変化に応じた2つの受光素
子の出力差の変化を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a change in output difference between two light receiving elements according to a change in defocus amount.

【図13】光ピックアップの構成例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing a configuration example of an optical pickup.

【図14】受光手段の構成例を示す図である。FIG. 14 is a diagram showing a configuration example of a light receiving unit.

【図15】本発明に係る光ピックアップの一実施例の構
成図である。
FIG. 15 is a configuration diagram of an embodiment of an optical pickup according to the present invention.

【図16】図15の光ピックアップに用いられるグレー
ティングレンズの構成例を示す図である。
16 is a diagram showing a configuration example of a grating lens used in the optical pickup of FIG.

【図17】本発明に係る光ピックアップの動作原理を説
明するための図である。
FIG. 17 is a diagram for explaining the operation principle of the optical pickup according to the present invention.

【図18】本発明に係る光ピックアップの変形例を示す
図である。
FIG. 18 is a diagram showing a modified example of the optical pickup according to the present invention.

【図19】図18の光ピックアップに用いられるレンズ
部材の構成例を示す図である。
19 is a diagram showing a configuration example of a lens member used in the optical pickup of FIG.

【図20】本発明に係る光ピックアップの変形例を示す
図である。
FIG. 20 is a diagram showing a modified example of the optical pickup according to the present invention.

【図21】本発明に係る光ピックアップの変形例を示す
図である。
FIG. 21 is a diagram showing a modification of the optical pickup according to the present invention.

【図22】受光手段の構成例を示す図である。FIG. 22 is a diagram showing a configuration example of a light receiving unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 2 コリメートレンズ 3 ビームスプリッタ 4 対物レンズ 5 記録担体 6 回折手段 7 受光手段 10 透過/集光手段 1 light source 2 Collimating lens 3 beam splitter 4 Objective lens 5 record carrier 6 Diffraction means 7 Light receiving means 10 Transmission / condensing means

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/09 - 7/22 Continuation of front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G11B 7/ 09-7/22

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光源からの光を記録担体に集光照射し、
前記記録担体からの反射光に基づき、記録信号とフォー
カスエラー信号および/またはトラックエラー信号とを
検知する光ピックアップにおいて、前記記録担体からの
反射光の一部を透過し、他の一部を集光する透過/集光
手段と、透過/集光手段からの透過光と集束光とが入射
する二重回折格子と、二重回折格子からの光を受光する
受光手段とを有し、前記透過/集光手段の集束光であっ
て前記二重回折格子を経験した光を受光手段によって受
光して記録信号を検出し、前記透過/集光手段の透過光
であって前記二重回折格子によって発生する干渉縞を受
光手段によって受光してフォーカスエラー信号および/
またはトラックエラー信号を検出するようになってお
り、前記透過/集光手段からの集束光が前記二重回折格
子において回折しないように、前記二重回折格子を形成
する2つの回折格子の少なくとも一方の回折格子の一部
に、格子を設けない領域が形成されていることを特徴と
する光ピックアップ。
1. A record carrier is focused and irradiated with light from a light source,
In an optical pickup that detects a recording signal and a focus error signal and / or a track error signal based on the reflected light from the record carrier, a part of the reflected light from the record carrier is transmitted and the other part is collected. And a light-transmitting / collecting means, a double diffraction grating on which the transmitted light from the transmitting / collecting means and the focused light are incident, and a light receiving means for receiving light from the double diffraction grating. The converged light of the transmitting / focusing means, which has undergone the double diffraction grating, is received by the light receiving means to detect a recording signal, and the transmitted light of the transmitting / focusing means is the dual light. The interference fringes generated by the diffraction grating are received by the light receiving means and the focus error signal and / or
Or it is designed to detect track error signals .
The focused light from the transmitting / focusing means is
Form the double diffraction grating to prevent diffraction at the child
Part of at least one of the two diffraction gratings
The optical pickup is characterized in that a region where no grating is provided is formed in .
【請求項2】 請求項1記載の光ピックアップにおい
て、前記透過/集光手段は、グレーティングレンズ、あ
るいは、一部がレンズ作用を有し他の一部がレンズ作用
を有しないレンズ部材により形成されることを特徴とす
る光ピックアップ。
2. The optical pickup according to claim 1, wherein the transmitting / collecting means is formed of a grating lens or a lens member having a part having a lens function and another part having no lens function. An optical pickup characterized in that
【請求項3】 光源からの光を記録担体に集光照射し、
前記記録担体からの反射光に基づき、記録信号とフォー
カスエラー信号および/またはトラックエラー信号とを
検知する光ピックアップにおいて、前記記録担体からの
反射光の一部を透過し、他の一部を集光する透過/集光
手段と、透過/集光手段からの透過光と集束光とが入射
する二重回折格子と、二重回折格子からの光を受光する
受光手段とを有し、前記透過/集光手段の集束光であっ
て前記二重回折格子を経験した光を受光手段によって受
光して記録信号を検出し、前記透過/集光手段の透過光
であって前記二重回折格子によって発生する干渉縞を受
光手段によって受光してフォーカスエラー信号および/
またはトラックエラー信号を検出するようになってお
、前記二重回折格子の一部の領域に、前記透過/集光
手段が配置されていることを特徴とする光ピックアッ
プ。
3. A record carrier is focused and irradiated with light from a light source,
Based on the reflected light from the record carrier, a recording signal and a focus signal are generated.
The dust error signal and / or the track error signal
In the optical pickup for detecting,
Transmission / condensation of transmitting part of the reflected light and condensing the other part
Means, and the transmitted light and the focused light from the transmitting / collecting means are incident.
To receive light from the double diffraction grating and
A light receiving means, which is the focused light of the transmitting / focusing means.
The light received by the double diffraction grating is received by the light receiving means.
The transmitted light of the transmitting / focusing means is detected by illuminating the recording signal.
And receive the interference fringes generated by the double diffraction grating.
Focus error signal and / or light received by the optical means
Or it is designed to detect track error signals.
Ri, in a partial region of the double diffraction grating, the optical pickup, wherein the transmission / converging means is disposed.
【請求項4】 請求項3記載の光ピックアップにおい4. The optical pickup according to claim 3.
て、前記透過/集光手段は、グレーティングレンズ、あThe transmitting / collecting means is a grating lens,
るいは、一部がレンズ作用を有し他の一部がレンズ作用Rui partly has a lens effect and the other part has a lens effect
を有しないレンズ部材により形成されることを特徴とすIt is formed by a lens member having no
る光ピックアップ。Optical pickup.
【請求項5】 請求項1または請求項2記載の光ピック
アップにおいて、前記透過/集光手段は、前記二重回折
格子の前記記録担体からの反射光が入射する側に設けら
れ、前記二重回折格子の受光手段側の回折格子の一部
に、格子を設けない領域が形成されていることを特徴と
する光ピックアップ。
5. The optical pickup according to claim 1 or 2 , wherein the transmitting / focusing means is provided on a side of the double diffraction grating on which reflected light from the record carrier enters. An optical pickup characterized in that a region where no grating is provided is formed in a part of the diffraction grating on the light receiving means side of the multiple diffraction grating.
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