JP3367487B2 - Manufacturing method of optical disk substrate - Google Patents

Manufacturing method of optical disk substrate

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JP3367487B2 JP31502999A JP31502999A JP3367487B2 JP 3367487 B2 JP3367487 B2 JP 3367487B2 JP 31502999 A JP31502999 A JP 31502999A JP 31502999 A JP31502999 A JP 31502999A JP 3367487 B2 JP3367487 B2 JP 3367487B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク基板の
製造方法に関し、特にポリカーボネート樹脂を用いて光
ディスク基板を成形する際に、光ディスク基板の溝形状
を要求される寸法に成形するための光ディスク基板の製
造方法である。
The present invention relates to relates to a method for manufacturing an optical disc substrate, when forming the optical disk substrate in particular by using a polycarbonate resin, an optical disc for forming the size required for the groove shape of the optical disc substrate It is a method of manufacturing a substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】CDやMOに代表される光ディスクは、
生産性が高く、低コストであるポリカーボネート等の光
学特性に優れた有機樹脂を用いて射出成形(射出圧縮成
形を含む)された基板を使用している。そしてこの基板
の上に、記録層、反射層、光干渉の誘電体層、有機膜な
どを、蒸着、スパッタリング、コーティング等の手法を
用いることにより積層し製造される。
2. Description of the Related Art Optical discs represented by CDs and MOs are
A substrate that is injection-molded (including injection-compression-molded) using an organic resin having high optical properties such as polycarbonate that has high productivity and low cost is used. Then, a recording layer, a reflective layer, a dielectric layer for optical interference, an organic film, and the like are laminated on this substrate by using a technique such as vapor deposition, sputtering, and coating to manufacture.

【0003】光ディスク基板は、金型に装着した光ディ
スク原盤にポリカーボネート樹脂を射出充填することに
より、得ることができる。基板成形時、樹脂は光ディス
ク原盤に向かって充填され、一定時間の冷却後に離型さ
れる。光ディスク原盤のランドにあたる部分は、基板の
グルーブとして転写され、逆に光ディスク原盤のグルー
ブは、基板のランドとして転写される。したがって、理
想的には基板のグルーブ幅は光ディスク原盤のランド幅
と等しくなり、基板のランド幅は光ディスク原盤のグル
ーブ幅と等しくなることになる。そこで、従来はランド
半値幅L’、グルーブ半値幅G’の基板を得るために、
光ディスク原盤のグルーブ半値幅G=L’、ランド半値
幅L=G’となるように、設計していた。
The optical disk substrate can be obtained by injection-packing a polycarbonate resin onto an optical disk master mounted on a mold. At the time of molding the substrate, the resin is filled toward the optical disc master and is released after cooling for a certain period of time. The portion corresponding to the land of the optical disk master is transferred as the groove of the substrate, and conversely, the groove of the optical disk master is transferred as the land of the substrate. Therefore, ideally, the groove width of the substrate is equal to the land width of the optical disc master, and the land width of the substrate is equal to the groove width of the optical disc master. Therefore, conventionally, in order to obtain a substrate having a land half width L ′ and a groove half width G ′,
The optical disk master was designed so that the groove half-value width G = L 'and the land half-value width L = G'.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、実際に上記
の光ディスク原盤によって基板を成形し、それを用いて
ランド・グルーブ記録用の光記録媒体を作成した場合に
は、ランド部に記録する場合とグルーブ部に記録する場
合で感度やC/Nが異なっており、良好な電気特性を有
する光記録媒体を得ることができなかった。それに用い
た光ディスク基板の溝形状をAFMにて測定した結果、
想定していたよりも、基板のランド幅がグルーブ幅に対
して広くなっていることがわかった。一方、該光ディス
ク原盤の測定をAFMにて測定したところ、ランドとグ
ルーブの幅は、ほぼ等しくなっていた。他の光ディスク
原盤と、それを用いた成形基板の溝形状を同様に測定し
た結果、これらの間には一定の相関があり、成形基板の
ランド幅は、光ディスク原盤のグルーブ幅よりも広くな
り、かつ成形基板のグルーブ幅は、光ディスク原盤のラ
ンド幅よりも狭くなることを見出した。このことから、
想定した基板の溝形状が得られないため、それを用いて
ディスクを構成したときに、C/N、反射率、信号強
度、クロストーク等に影響すると考えられる。
However, when a substrate is actually formed by the above-mentioned optical disc master and an optical recording medium for land / groove recording is produced using the substrate, the case of recording on the land portion is When recording in the groove portion, the sensitivity and C / N were different, and an optical recording medium having good electric characteristics could not be obtained. As a result of measuring the groove shape of the optical disk substrate used for that with AFM,
It was found that the land width of the substrate was wider than the groove width than expected. On the other hand, when the optical disk master was measured by AFM, the widths of the land and the groove were almost equal. As a result of similarly measuring the groove shape of another optical disk master and a molded substrate using the same, there is a certain correlation between them, and the land width of the molded substrate becomes wider than the groove width of the optical disk master. Moreover, it was found that the groove width of the molded substrate is narrower than the land width of the optical disc master. From this,
Since the expected groove shape of the substrate cannot be obtained, it is considered that when the disk is formed by using the groove shape, C / N, reflectance, signal strength, crosstalk, etc. are affected.

【0005】本発明の課題は上述した問題点を改良し、
基板の溝形状を、想定した寸法に成形することが可能
ディスク基板の製造方法を提供することにある。
The object of the present invention is to improve the above-mentioned problems,
The groove shape of the substrate, which can be molded into the assumed dimensions
It is to provide a manufacturing method for an optical disk substrate.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明は下記の構成からなる。すなわち、本発明の
光ディスク基板の製造方法は、グルーブを有する光ディ
スク基板の製造方法において、射出成形に用いる光ディ
スク原盤のグルーブの半値幅およびランドの半値幅をそ
れぞれGおよびLとし、所望の光ディスク基板のランド
の半値幅およびグルーブの半値幅をそれぞれL’および
G’とした時に、L’/Gが1.02〜1.08で、か
つG’/Lが0.92〜0.98であるように補正した
光ディスク原盤を用いたことを特徴とするものである。
In order to solve the above problems, the present invention has the following constitution. That is, the manufacturing method of the optical disk substrate of the present invention is the manufacturing method of the optical disc substrate with grooves, the half width of the half-width and the land of the groove of the optical disc master to be used for injection molding and G and L each, the desired optical L '/ G is 1.02 to 1.08 and G' / L is 0.92 to 0.98 when the half width of the land and the half width of the groove of the substrate are L'and G ', respectively. It is characterized in that an optical disc master corrected in a certain manner is used.

【0007】[0007]

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】以下、本発明についてさらに詳述
する。上述したように、基板のランド幅は、それに用い
た光ディスク原盤のグルーブ幅よりも広くなり、かつ基
板のグルーブ幅は、それに用いた光ディスク原盤のラン
ド幅よりも広くなってしまう。したがって、光ディスク
原盤の設計の際には、あらかじめ上記寸法のズレを見込
む必要がある。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in more detail below. As described above, the land width of the substrate becomes wider than the groove width of the optical disc master used for it, and the groove width of the substrate becomes wider than the land width of the optical disc master used for it. Therefore, when designing an optical disc master, it is necessary to allow for the above-mentioned dimensional deviation.

【0009】十数種類の光ディスク原盤と、それを用い
た基板の溝形状をそれぞれAFMにて測定を重ねた結
果、図1に示す光ディスク原盤のグルーブ半値幅および
ランド半値幅をそれぞれG、Lとし、図2に示す成形さ
れた基板ランド半値幅及びグルーブ半値幅をそれぞれ
L’、G’とした時、表1に示すように、L’/Gは
1.02〜1.08に収まった。また、G’/Lは表2
に示すように、0.92〜0.98の範囲に収まった。
このように溝形状が変化する割合が異なるのは、光ディ
スク原盤の離型性や、溝の形状等が寄与しているためと
考えられる。
As a result of repeatedly measuring the groove shapes of a dozen or more kinds of optical disk masters and a substrate using the same with AFM, the groove half width and land half width of the optical disk master shown in FIG. When the molded substrate land half-width and groove half-width shown in FIG. 2 are L ′ and G ′, respectively, as shown in Table 1, L ′ / G falls within 1.02 to 1.08. G '/ L is shown in Table 2
As shown in, the value was within the range of 0.92 to 0.98.
It is considered that the reason why the groove shape changes at different rates is that the releasability of the optical disk master, the groove shape, and the like contribute.

【0010】[0010]

【表1】 [Table 1]

【0011】[0011]

【表2】 [Table 2]

【0012】したがって、L’/Gが1.02〜1.0
8かつG’/Lが0.92〜0.98であるように光デ
ィスク原盤の溝形状を補正することが望ましい。より望
ましくはL’/Gが1.04〜1.06かつG’/Lが
0.94〜0.96であるように光ディスク原盤の溝形
状を補正する。
Therefore, L '/ G is 1.02 to 1.0
It is desirable to correct the groove shape of the optical disc master so that the value of 8 and G '/ L are 0.92 to 0.98. More preferably, the groove shape of the optical disc master is corrected so that L '/ G is 1.04 to 1.06 and G' / L is 0.94 to 0.96.

【0013】本発明の光ディスク基板を射出圧縮成形す
る場合、光ディスク原盤の溝形状をできるだけ忠実に転
写する必要がある。そのために、金型温度は130℃前
後、樹脂温度は360℃前後に設定することによって、
転写性を良好にしている。
When the optical disk substrate of the present invention is injection compression molded, it is necessary to transfer the groove shape of the optical disk master as faithfully as possible. Therefore, by setting the mold temperature around 130 ° C and the resin temperature around 360 ° C,
Good transferability.

【0014】なお、本発明で述べた光ディスク原盤のト
ラックピッチ半値全幅(図1のT)は、1.0μm〜
1.5μm程度であることが望ましい。これは、光記録
媒体の駆動装置のビームスポット径と同程度が好ましい
からである。
The full width at half maximum of the track pitch (T in FIG. 1) of the optical disk master described in the present invention is 1.0 μm to
It is preferably about 1.5 μm. This is because it is preferable that the beam spot diameter is approximately the same as the beam spot diameter of the drive unit for the optical recording medium.

【0015】また、光ディスク原盤の溝深さは、60n
m〜80nm程度であることが望ましい。溝深さは、一
般に光記録媒体駆動装置のレーザ波長λによって最適値
が求められ、基板に用いる樹脂材料の屈折率をnとした
時、最適な溝深さはλ/8n〜λ/3nであり、ランド
グルーブ記録においては、およそλ/6nである。基板
材料にポリカーボネート樹脂(n=1.58)を用い
て、駆動装置のレーザ波長が650nmであるとすれ
ば、最適な溝深さは約69nmである。
The groove depth of the optical disk master is 60 n.
It is preferably about m to 80 nm. The optimum groove depth is generally determined by the laser wavelength λ of the optical recording medium driving device. When the refractive index of the resin material used for the substrate is n, the optimum groove depth is λ / 8n to λ / 3n. There is about λ / 6n in the land groove recording. If polycarbonate resin (n = 1.58) is used as the substrate material and the laser wavelength of the driving device is 650 nm, the optimum groove depth is approximately 69 nm.

【0016】基板材料としては、基板側から記録再生を
行うために、レーザー光が良好に透過する材料を用いる
ことが好ましく、例えばポリメチルメタクリレート樹
脂、ポリカーボネート樹脂、ポリオレフィン樹脂、エポ
キシ樹脂などの有機高分子樹脂、それらの混合物、共重
合体物などを用いることができる。中でも、ポリカーボ
ネート樹脂を光学特性と耐熱性の観点から最も好ましく
用いることができる。また、流動性の高いグレードのも
のを使用することによって、良好な転写性や光学特性を
満たすことができる。
As the substrate material, it is preferable to use a material through which laser light can be satisfactorily transmitted in order to perform recording / reproduction from the substrate side. For example, an organic resin such as polymethylmethacrylate resin, polycarbonate resin, polyolefin resin or epoxy resin can be used. A molecular resin, a mixture thereof, a copolymer, or the like can be used. Among them, the polycarbonate resin can be most preferably used from the viewpoint of optical characteristics and heat resistance. Further, by using a grade having high fluidity, good transferability and optical characteristics can be satisfied.

【0017】基板の大きさは光記録媒体ドライブ装置か
らの要求規格に合わせる必要がある。例えば、直径とし
ては80mm、90mm、120mmまたは130mm
の基板等が規定されており、厚さとしては0.6mm,
1.2mm等が規定されている。
The size of the substrate needs to conform to the standard required by the optical recording medium drive device. For example, the diameter is 80mm, 90mm, 120mm or 130mm.
Substrate, etc. are specified, and the thickness is 0.6 mm,
1.2 mm or the like is specified.

【0018】このような基板上に例えば第1層/第2層
/第3層/第4層がスパッタにより積層される。この層
の上には有機樹脂保護層を設けても良い。有機樹脂保護
層としては、重合性モノマーおよびオリゴマーを主成分
とする光硬化性樹脂組成物や、熱硬化性樹脂組成物が用
いられ、スピンコート法によって一般に形成される。ま
た、同様な有機樹脂組成物からなる保護層を光の入射面
側の基板上に、耐磨耗性、耐刷性向上などの基板保護の
目的や、ホコリ付着防止のための制電性付与の目的で設
けることもできる。
On such a substrate, for example, the first layer / second layer / third layer / fourth layer is laminated by sputtering. An organic resin protective layer may be provided on this layer. As the organic resin protective layer, a photocurable resin composition containing a polymerizable monomer and an oligomer as a main component or a thermosetting resin composition is used and is generally formed by a spin coating method. In addition, a protective layer made of the same organic resin composition is provided on the substrate on the light incident surface side for the purpose of protecting the substrate such as improving abrasion resistance and printing durability, and imparting antistatic property to prevent dust adhesion. It can also be provided for the purpose of.

【0019】光ディスク原盤の作成プロセスについて
は、ガラス板を基板とし、この上にフォトレジストを塗
布し、これにレーザ光で所定の信号を記録し、その後フ
ォトレジストを除去して凹凸パターンを形成する。そし
て、この凹凸パターンをニッケル電鋳処理によって金属
原盤に転写して光ディスク原盤を作成するという一般的
な方法を適用できる。また、その後に光ディスク原盤に
プラズマ処理などの表面処理を施すことによって、光デ
ィスク原盤と光ディスク基板の離型性をあげることが好
ましい。
Regarding the process for producing an optical disk master, a glass plate is used as a substrate, a photoresist is applied on the substrate, a predetermined signal is recorded on this with a laser beam, and then the photoresist is removed to form an uneven pattern. . Then, it is possible to apply a general method in which the concavo-convex pattern is transferred to a metal master by nickel electroforming to prepare an optical disk master. Further, it is preferable that the mold release property between the optical disc master and the optical disc substrate is improved by subsequently performing a surface treatment such as plasma treatment on the optical disc master.

【0020】本発明に係る光記録媒体は、基板上に少な
くとも記録層と保護層を有するものである。好ましく
は、複数の積層構造に構成されており、たとえば基板上
に第1層(第1保護層)/第2層(記録層)/第3層
(第2保護層)/第4層(反射層)をこの順に設けた積
層構成、または第1層(第1保護層)/第2層(境界
層)/第3層(記録層)/第4層(第2保護層)/第5
層(反射層)などが挙げられる。
The optical recording medium according to the present invention has at least a recording layer and a protective layer on a substrate. Preferably, it has a plurality of laminated structures, for example, a first layer (first protective layer) / second layer (recording layer) / third layer (second protective layer) / fourth layer (reflection) on a substrate. Layers provided in this order, or first layer (first protective layer) / second layer (boundary layer) / third layer (recording layer) / fourth layer (second protective layer) / fifth layer
A layer (reflection layer) etc. are mentioned.

【0021】第1および第2保護層の効果は、記録層の
腐食防止、記録時に基板、記録層などの熱による変形で
生じる記録特性の劣化防止、光学的な干渉効果により再
生時の信号コントラストを改善する効果がある。この場
合の第1保護層の厚さは、通常50nm〜400nmと
される。第2保護層の厚みは20nm程度に薄く構成し
た「急冷構造」では、誘電体層を200nm程度に厚く
した「徐冷構造」に比べ、書き換えの繰り返しによる記
録特性の劣化が少なく、また消去パワーのパワー・マー
ジンが広い点で優れている。従って、第2保護層の厚さ
は10nm〜100nmであることが好ましい。
The effects of the first and second protective layers are: prevention of corrosion of the recording layer, prevention of deterioration of recording characteristics caused by deformation of the substrate, recording layer, etc. during recording, and signal contrast during reproduction due to optical interference effect. Has the effect of improving. In this case, the thickness of the first protective layer is usually 50 nm to 400 nm. The "quench cooling structure" in which the second protective layer has a thin thickness of about 20 nm has less deterioration in recording characteristics due to repeated rewriting, and the erasing power is smaller than the "slow cooling structure" in which the dielectric layer has a thickness of about 200 nm. Is excellent in that it has a wide power margin. Therefore, the thickness of the second protective layer is preferably 10 nm to 100 nm.

【0022】このような保護層としては、ZnS、Si
2、Ta25、ITO、ZrC、TiC、MgF2など
の無機膜やそれらの混合膜が使用できる。特に、ZnS
とSiO2およびZnSとMgF2の混合膜は耐湿熱性に
優れており、さらに記録消去時の劣化を抑制するので好
ましい。また、これらに炭素を混合したものも膜の残留
応力が小さいことから好ましい。特に、ZnSとSiO
2の混合膜あるいは、ZnSとSiO2と炭素の混合膜
は、記録、消去の繰り返しによっても、記録感度、C/
N、消去率などの劣化が起きにくいことから好ましく、
特にZnSとSiO2と炭素の混合膜が好ましい。
As such a protective layer, ZnS, Si
An inorganic film such as O 2 , Ta 2 O 5 , ITO, ZrC, TiC, MgF 2 or a mixed film thereof can be used. In particular, ZnS
A mixed film of SiO 2 and ZnS and MgF 2 is excellent in moist heat resistance, preferable to suppress the further recording and erasing deterioration during. A mixture of these with carbon is also preferable because the residual stress of the film is small. In particular, ZnS and SiO
The mixed film of 2 or the mixed film of ZnS, SiO 2 and carbon can improve the recording sensitivity, C /
It is preferable because deterioration of N, erasing rate, etc. does not easily occur,
A mixed film of ZnS, SiO 2 and carbon is particularly preferable.

【0023】記録層としては、構成元素として少なくと
もGe、Sb、Teの3元素を少なくとも含む合金を用
いることが高速でオーバーライトが可能である点から好
ましい。さらに、その組成は次式で表される範囲にある
ことが熱安定性と繰り返し安定性に優れている点から好
ましい。
For the recording layer, it is preferable to use an alloy containing at least three elements of Ge, Sb, and Te as constituent elements from the viewpoint of overwriting at high speed. Further, the composition is preferably in the range represented by the following formula from the viewpoint of excellent thermal stability and repeated stability.

【0024】 Mz(SbxTe1-x1-y-z(Ge0.5Te0.5y 0.35≦x≦0.5 0.2≦y≦0.5 0.0005≦z≦0.01 ここで、Mはパラジウム、ニオブ、白金、銀、金、コバ
ルトから選ばれる少なくとも一種の金属、Sbはアンチ
モン、Teはテルル、Geはゲルマニウムを表す。ま
た、x、y、z、及び数字は、各元素の原子の数(各元
素のモル数)を表す。特に、パラジウム、ニオブについ
ては少なくとも一種を含むことが好ましい。
M z (Sb x Te 1-x ) 1-yz (Ge 0.5 Te 0.5 ) y 0.35 ≦ x ≦ 0.5 0.2 ≦ y ≦ 0.5 0.0005 ≦ z ≦ 0.01 Here, M is at least one metal selected from palladium, niobium, platinum, silver, gold, and cobalt, Sb is antimony, Te is tellurium, and Ge is germanium. Further, x, y, z, and numbers represent the number of atoms of each element (the number of moles of each element). Particularly, it is preferable that at least one of palladium and niobium is contained.

【0025】第2保護層または光吸収層の上に形成され
た光反射層は、光学的な干渉効果により、再生時の信号
コントラストを改善すると共に、冷却効果により、非晶
状態の記録マークの形成を容易にし、かつ消去特性、繰
り返し特性を改善する技術が知られている。この記録層
膜厚としては、10〜100nmであることが好まし
い。
The light-reflecting layer formed on the second protective layer or the light-absorbing layer improves the signal contrast at the time of reproduction due to the optical interference effect, and at the same time, due to the cooling effect, the amorphous recording mark Techniques for facilitating formation and improving erasing characteristics and repeating characteristics are known. The thickness of this recording layer is preferably 10 to 100 nm.

【0026】反射層の材質としては、光反射性を有する
Al、Auなどの金属、及びこれらを主成分とし、T
i、Cr、Hfなどの添加元素を含む合金及びAl、A
uなどの金属にAl、Siなどの金属窒化物、金属酸化
物、金属カルコゲン化物などの金属化合物を混合したも
のなどが挙げられる。Al、Auなどの金属、及びこれ
らを主成分とする合金は、光反射性が高く、かつ熱伝導
率を高くできることから好ましい。前述の合金の例とし
て、AlにSi、Mg、Cu、Pd、Ti、Cr、H
f、Ta、Nb、Mnなどの少なくとも1種の元素を合
計で5原子%以下、1原子%以上加えたもの、あるい
は、AuにCr、Ag、Cu、Pd、Pt、Niなどの
少なくとも1種の元素を合計で20原子%以下1原子%
以上加えたものなどがある。特に、材料の価格が安くで
きることから、Alを主成分とする合金が好ましく、と
りわけ、耐腐食性が良好なことから、AlにTi、C
r、Ta、Hf、Zr、Mn、Pdから選ばれる少なく
とも1種以上の金属を合計で5原子%以下0.5原子%
以上添加した合金が好ましい。とりわけ、耐腐食性が良
好でかつヒロックなどの発生が起こりにくいことから、
添加元素を合計で0.5原子%以上3原子%未満含む、
Al−Hf−Pd合金、Al−Hf合金、Al−Ti合
金、Al−Ti−Hf合金、Al−Cr合金、Al−T
a合金、Al−Ti−Cr合金、Al−Si−Mn合金
のいずれかのAl合金を主成分とする合金が反射層材料
として好ましい。
As the material of the reflective layer, metals such as Al and Au having light reflectivity, and those containing these as the main components, T
Alloys containing additional elements such as i, Cr and Hf, and Al and A
Examples thereof include a metal such as u mixed with a metal nitride such as Al and Si, a metal oxide, a metal compound such as a metal chalcogenide. Metals such as Al and Au, and alloys containing these as the main components are preferable because they have high light reflectivity and high thermal conductivity. As an example of the above alloy, Al, Si, Mg, Cu, Pd, Ti, Cr, H
At least one element such as f, Ta, Nb, and Mn added in a total amount of 5 atomic% or less and 1 atomic% or more, or at least one of Au, Cr, Ag, Cu, Pd, Pt, and Ni. 20 atomic% or less and 1 atomic% in total
There are things added above. In particular, an alloy containing Al as a main component is preferable because the price of the material can be reduced. Above all, Al and Ti and C are preferable because of good corrosion resistance.
5 atom% or less and 0.5 atom% or less in total of at least one metal selected from r, Ta, Hf, Zr, Mn, and Pd.
The alloys added above are preferable. Above all, because it has good corrosion resistance and hillocks are less likely to occur,
Including at least 0.5 atomic% and less than 3 atomic% in total of additional elements,
Al-Hf-Pd alloy, Al-Hf alloy, Al-Ti alloy, Al-Ti-Hf alloy, Al-Cr alloy, Al-T
An alloy containing Al alloy as a main component, such as a-alloy, Al-Ti-Cr alloy, or Al-Si-Mn alloy, is preferable as the reflective layer material.

【0027】光ディスク原盤及び、光ディスク基板の溝
形状をAFMで測定する際には、先端曲率半径の小さ
い、かつハーフコーンアングルの小さいプローブを用い
ることが好ましい。プローブの形状がなまっていると、
凸部の幅の測定値が、実際よりも大きくなることがあ
る。
When the groove shapes of the optical disk master and the optical disk substrate are measured by AFM, it is preferable to use a probe having a small tip radius of curvature and a small half cone angle. If the probe is bent,
The measured width of the protrusion may be larger than it actually is.

【0028】[0028]

【実施例】実施例1 G=0.55μm、L=0.61μm、溝深さ67nm
を有する光ディスク原盤と、ポリカーボネート樹脂(帝
人化成(株)製パンライトAD−5503H)を用い
て、成形機(住友重機械工業(株)製DISK5A M
III)により、射出圧縮成形を行い、 光ディスク基板を
得た。
EXAMPLES Example 1 G = 0.55 μm, L = 0.61 μm, groove depth 67 nm
A molding machine (Sumitomo Heavy Industries, Ltd. DISK5A M) using an optical disk master having the above and a polycarbonate resin (Panlite AD-5503H, Teijin Chemicals Ltd.)
According to III), injection compression molding was performed to obtain an optical disk substrate.

【0029】この溝形状を、AFM(digital instrume
nt社製NanoscopeIIIタッピングモードAFM)にて、鋭
い先端形状を持つプローブ(digital instrument社製S
SS−NCH 先端曲率半径:2〜5nm ハーフコー
ンアングル:10度以下)を用いて測定を行った。その
結果、G’=0.58μm、L’=0.58μmとな
り、G=0.95G’、L=1.05L’であった。こ
の基板を用いて、以下に示す構成の薄膜をスパッタリン
グ装置を用いて成膜し、光ディスクを作製した。
This groove shape is referred to as AFM (digital instrument
nt Nanoscope III tapping mode AFM) probe with a sharp tip (digital instrument S
The measurement was performed using SS-NCH tip curvature radius: 2-5 nm and half cone angle: 10 degrees or less. As a result, G ′ = 0.58 μm, L ′ = 0.58 μm, and G = 0.95 G ′ and L = 1.05 L ′. Using this substrate, a thin film having the structure shown below was formed by using a sputtering apparatus to produce an optical disc.

【0030】得られたディスクの成膜面にスピンコート
法によってアクリル酸エステル系紫外線硬化樹脂を8μ
m形成し、光記録媒体を得た。さらに、この光記録媒体
に波長820nmの半導体レーザーのビームを照射し
て、ディスク全面の記録層を結晶化させ、初期化した。
On the film-forming surface of the obtained disk, 8 μm of an acrylic acid ester-based ultraviolet curable resin was applied by spin coating.
m to form an optical recording medium. Further, this optical recording medium was irradiated with a semiconductor laser beam having a wavelength of 820 nm to crystallize the recording layer on the entire surface of the disk and initialize it.

【0031】 第1層 第1保護層 80ZnS−20SiO2(mol%) 98nm 第2層 境界層 C 2nm 第3層 記録層 55Te19Ge26Sb (at%) 19nm 第4層 第2保護層 80ZnS−20SiO2(mol%) 27nm 第5層 反射層 95Al−5Cr(at%) 220nm この光記録媒体のC/Nを、パルステック(株)製DD
U−1000(波長638nm、NA0.60)にて測
定した。測定結果を表3に示す。 比較例1 G=0.58μm、L=0.58μmである以外は、実
施例1と同様な方法で光ディスク基板を成形し、実施例
1と同様にAFMにて溝形状の測定を行った。その結
果、G’=0.61μm、L’=0.55μmとなり、
G=0.95L’、L=1.05G’であった。この基
板を用いて、実施例1と同様な方法で光記録媒体を作成
し、同様の測定機器にてC/Nを測定した。測定結果を
表4に示す。
First layer First protective layer 80 ZnS-20SiO 2 (mol%) 98 nm Second layer Boundary layer C 2 nm Third layer Recording layer 55 Te 19 Ge 26 Sb (at%) 19 nm Fourth layer Second protective layer 80 ZnS-20SiO 2 (mol %) 27 nm Fifth layer Reflective layer 95Al-5Cr (at%) 220 nm The C / N ratio of this optical recording medium was measured by DD manufactured by Pulstec Co., Ltd.
It measured in U-1000 (wavelength 638nm, NA0.60). The measurement results are shown in Table 3. Comparative Example 1 An optical disk substrate was molded by the same method as in Example 1 except that G = 0.58 μm and L = 0.58 μm, and the groove shape was measured by the AFM as in Example 1. As a result, G ′ = 0.61 μm and L ′ = 0.55 μm,
It was G = 0.95L 'and L = 1.05G'. Using this substrate, an optical recording medium was prepared in the same manner as in Example 1, and C / N was measured with the same measuring equipment. The measurement results are shown in Table 4.

【0032】なお、ここに示す感度とは、(1,7)変
調の8T信号(約1.87MHz)を書いたときに、そ
の2次高調波(約3.75MHz)の8T信号に対する
比が最小となるパワーを指す。
The sensitivity shown here is the ratio of the second harmonic (about 3.75 MHz) to the 8T signal when a (1,7) -modulated 8T signal (about 1.87 MHz) is written. Refers to the minimum power.

【0033】実施例1の光記録媒体のC/Nが、ランド
・グルーブともに56dB程度とほぼ同等であるのに対
して、比較例1の光記録媒体のC/Nは、グルーブにつ
いては下がっている。また、感度についても、実施例1
の光記録媒体の感度がランド・グルーブ間であまり差が
ないのに対して、比較例1の光記録媒体の感度は、ラン
ド・グルーブ間で差が大きい。
The C / N of the optical recording medium of Example 1 is about 56 dB for both the land and the groove, while the C / N of the optical recording medium of Comparative Example 1 is lower for the groove. There is. In addition, regarding the sensitivity,
The sensitivity of the optical recording medium of No. 1 does not differ much between the land and the groove, whereas the sensitivity of the optical recording medium of Comparative Example 1 has a large difference between the land and the groove.

【0034】以上の結果から、本発明のような光ディス
ク原盤を用いることによって、良好な溝形状を有する光
ディスク基板を成形できることがわかった。
From the above results, it was found that an optical disk substrate having a good groove shape can be formed by using the optical disk master according to the present invention.

【0035】[0035]

【表3】 [Table 3]

【0036】[0036]

【表4】 [Table 4]

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明によれば、光ディスク基板の成形
において、簡易なプロセスで、要求通りの溝形状を有す
る基板を得ることができる。
According to the present invention, in molding an optical disk substrate, a substrate having a desired groove shape can be obtained by a simple process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】光ディスク原盤の溝形状の一例を示す断面図で
ある。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an example of a groove shape of an optical disc master.

【図2】光ディスク基板の溝形状の一例を示す断面図で
ある。
FIG. 2 is a sectional view showing an example of a groove shape of an optical disc substrate.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ・・・光ディスク原盤ランド 2 ・・・光ディスク原盤グルーブ 1’・・・光ディスク基板ランド 2’・・・光ディスク基板グルーブ L ・・・光ディスク原盤ランド半値幅 G ・・・光ディスク原盤グルーブ半値幅 L’・・・光ディスク基板ランド半値幅 G’・・・光ディスク基板グルーブ半値幅 1 ・ ・ ・ Optical disc master land 2 ... Optical disc master groove 1 '... optical disk substrate land 2 '... Optical disk substrate groove L ・ ・ ・ Half width of optical disc master land G: Optical disc master groove half width L '... Half width of optical disk substrate land G '... Half width of optical disk substrate groove

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平9−180271(JP,A) 特開 平11−283284(JP,A) 特開 平6−4787(JP,A) 特開 平8−194970(JP,A) 西独国特許出願公開2410740(DE, A1) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/26 G11B 7/24 Continuation of the front page (56) Reference JP-A-9-180271 (JP, A) JP-A-11-283284 (JP, A) JP-A-6-4787 (JP, A) JP-A-8-194970 (JP , A) West German Patent Application Publication 2410740 (DE, A1) (58) Fields searched (Int.Cl. 7 , DB name) G11B 7/26 G11B 7/24

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】グルーブを有する光ディスク基板の製造方
法において、射出成形に用いる光ディスク原盤のグルー
ブの半値幅およびランドの半値幅をそれぞれGおよびL
とし、所望の光ディスク基板のランドの半値幅およびグ
ルーブの半値幅をそれぞれL’およびG’とした時に、
L’/Gが1.02〜1.08で、かつG’/Lが0.
92〜0.98であるように補正した光ディスク原盤を
用いたことを特徴とする光ディスク基板の製造方法。
1. A method of manufacturing an optical disc substrate having a groove, G the half width of the half-width and the land of the groove of the optical disc master to be used for injection molding, respectively, and L
And when the half width of the land and the half width of the groove of the desired optical disk substrate are L ′ and G ′, respectively,
L '/ G is 1.02 to 1.08, and G' / L is 0.
A method for manufacturing an optical disk substrate, characterized by using an optical disk master corrected to be 92 to 0.98.
【請求項2】L’/Gが1.04〜1.06で、かつ
G’/Lが0.94〜0.96であるように補正した光
ディスク原盤を用いたことを特徴とする請求項1に記載
の光ディスク基板の製造方法。
2. An optical disk master corrected so that L '/ G is 1.04 to 1.06 and G' / L is 0.94 to 0.96. 1. The method for manufacturing an optical disc substrate described in 1.
【請求項3】光ディスク原盤のトラックピッチ半値全幅
Tが、1.0μm〜1.5μmであることを特徴とする
請求項1または2に記載の光ディスク基板の製造方法。
3. The method for manufacturing an optical disc substrate according to claim 1, wherein the full width at half maximum T of the track pitch of the optical disc master is 1.0 μm to 1.5 μm.
【請求項4】光ディスク原盤の溝深さが、60nm〜8
0nmであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか
に記載の光ディスク基板の製造方法。
4. The groove depth of the optical disk master is 60 nm to 8 nm.
It is 0 nm, The manufacturing method of the optical disk substrate in any one of Claims 1-3.
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