JP3365020B2 - Magnetic field modulation head of magneto-optical disk - Google Patents

Magnetic field modulation head of magneto-optical disk

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JP3365020B2
JP3365020B2 JP34796093A JP34796093A JP3365020B2 JP 3365020 B2 JP3365020 B2 JP 3365020B2 JP 34796093 A JP34796093 A JP 34796093A JP 34796093 A JP34796093 A JP 34796093A JP 3365020 B2 JP3365020 B2 JP 3365020B2
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coil
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気効果を用いて情
報を記録、再生する光学式情報記録再生装置に係り、特
に、光磁気ディスク(以下、単にディスクとも言う)に
対する情報記録時に変調磁界を印加する磁界変調ヘッド
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical information recording / reproducing apparatus which records and reproduces information by utilizing a magneto-optical effect, and more particularly, it is modulated at the time of recording information on a magneto-optical disk (hereinafter, also simply referred to as a disk). about the magnetic field modulation head <br/> for applying a magnetic field.

【0002】[0002]

【従来の技術】ミニディスク(MD)等の光磁気ディス
クは、その基板上に磁性薄膜が形成されており、この磁
性薄膜の磁化方向を変化させることによって情報が記録
される。この記録の方法の一つに、バイアス磁界を変調
して記録する方法がある。この方法は、レーザビームを
直流的に発光させて記録媒体に照射し、その温度をキュ
リー点付近まで上昇させることにより保磁力が低下した
レーザビーム照射部分に、情報信号に応じてデジタル的
に変調した磁界を印加して、情報に応じた磁化パターン
を形成するものである。
2. Description of the Related Art A magneto-optical disk such as a mini disk (MD) has a magnetic thin film formed on its substrate, and information is recorded by changing the magnetization direction of this magnetic thin film. As one of the recording methods, there is a method of recording by modulating a bias magnetic field. In this method, a laser beam is emitted as a direct current to irradiate the recording medium, and the temperature is raised to near the Curie point, whereupon the laser beam irradiated part where the coercive force has decreased is digitally modulated according to the information signal. The magnetic field is applied to form a magnetization pattern according to information.

【0003】このようにして記録された情報は、記録時
より低出力で直流的に発光させたレーザビームを記録媒
体に照射することによりその戻り光から磁気光学効果を
用いて再生(読出し)することができる。ところで、か
かる情報の記録方法ではレーザビームを照射して記録媒
体を加熱しているため、レーザ光の出力が最適値からず
れると、記録状態が良好にならないことがある。その対
策として、磁界変調ヘツドの内部または近傍に温度セン
サを配置し、このセンサの出力に基づいてレーザビーム
のパワーを最適に制御することが提案されている。
The information thus recorded is reproduced (read) from the returning light by irradiating the recording medium with a laser beam which is emitted at a direct current and has a lower output than that at the time of recording using the magneto-optical effect. be able to. By the way, in such an information recording method, since the recording medium is heated by irradiating the laser beam, if the output of the laser beam deviates from the optimum value, the recording state may not be good. As a countermeasure, it has been proposed to dispose a temperature sensor inside or near the magnetic field modulation head and optimally control the power of the laser beam based on the output of this sensor.

【0004】図11(a),(b),(c) は特開平3−1527
48号公報に示されたこの種の磁界変調ヘッドを示した
ものである。このうち(a) に示したものでは、磁界発生
部の光磁気ディスク1に対向する側、すなわち、1対の
電磁石11を支持するヨーク12の下面に、断熱材13を介し
て、温度センサ14が取り付けられており、(b) に示した
ものでは、電磁石11を支持するヨーク12の隙間に、断熱
材13を介して、温度センサ14が取り付けられており、さ
らに、(c) に示したものでは、コア15にコイル16を巻装
してオーバライト用磁気ヘッドを形成し、その側面に温
度センサ14のリード線を接着したものである。
11 (a), 11 (b) and 11 (c) are disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 3-1527.
This figure shows a magnetic field modulation head of this type disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 48. In the case shown in (a), the temperature sensor 14 is provided on the side of the magnetic field generator facing the magneto-optical disk 1, that is, on the lower surface of the yoke 12 supporting the pair of electromagnets 11 via the heat insulating material 13. In the case shown in (b), the temperature sensor 14 is installed in the gap of the yoke 12 supporting the electromagnet 11 via the heat insulating material 13, and further shown in (c). In this case, a coil 16 is wound around a core 15 to form an overwrite magnetic head, and a lead wire of a temperature sensor 14 is bonded to the side surface of the magnetic head.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した、磁界変調ヘ
ッドは、これに付帯せしめた温度センサの出力に基づき
レーザビームのパワーを制御することによって光磁気デ
ィスクの温度を安定的にキュリー点に到達させるように
したものである。しかしながら、これらの磁界変調ヘッ
ドはいずれもディスク面とは空間で隔てられた位置に温
度センサが配置され、しかも、ディスク自体がカートリ
ッジに収納されていたり、その回転中に温度検出をしな
ければならないことから、ディスクの温度よりも、むし
ろ周囲温度を検出するものになっていた。
In the magnetic field modulation head described above, the temperature of the magneto-optical disk reaches the Curie point stably by controlling the power of the laser beam based on the output of the temperature sensor attached to the magnetic field modulation head. It was made to let. However, in all of these magnetic field modulation heads, the temperature sensor is arranged at a position separated from the disk surface by a space, and moreover, the disk itself is housed in a cartridge or the temperature must be detected during its rotation. Therefore, the ambient temperature is detected rather than the temperature of the disk.

【0006】自動車用や携帯用の光学式情報記録再生装
置においては、ディスクを挿入してその直後に記録(以
下、書込みとも言う)をするとき、装置自体は暖かいけ
れどもディスクは冷たいことがある。この場合、上述し
た磁界変調ヘッドの温度センサの検出値に基づいてレー
ザビームのパワーを制御したのでは、ディスクの温度が
キュリー点に到達せず、うまく書込みができないことが
あった。また、データ用の光磁気記録再生装置におい
て、これと同様な条件で書込みをした場合、データの書
込みはできても書込みレベルが低く、エラーレートが増
大することがあった。
In an automobile or portable optical information recording / reproducing apparatus, when a disc is inserted and recording (hereinafter also referred to as writing) immediately after the disc is inserted, the disc itself may be warm but the disc may be cold. In this case, if the power of the laser beam is controlled based on the detection value of the temperature sensor of the magnetic field modulation head described above, the temperature of the disk may not reach the Curie point and writing may not be successful. Further, in the magneto-optical recording / reproducing apparatus for data, when writing was performed under the same condition as this, although the data could be written, the writing level was low and the error rate sometimes increased.

【0007】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたもので、ディスクの温度を正確に検出すると共
に、装置若しくは装置内温度とこれに挿入されるディス
クの温度とが異なる場合でも、このディスクの温度を高
精度でキュリー点に到達させることのできる光磁気ディ
スクの磁界変調ヘッドを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and accurately detects the temperature of a disk, and even when the temperature of the apparatus or the apparatus is different from the temperature of the disk inserted therein, the magnetic field modulation heads of the magneto-optical disk that can be made to reach the temperature of the disk to the Curie point with high accuracy for the purpose.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明に係る光磁気ディ
スクの磁界変調ヘッドは、磁界発生部より光磁気ディス
クの方向に僅かに突出して光磁気ディスクのディスク面
に接触せしめられる摺動部の内部で、その接触面よりわ
ずかに離れた位置に、光磁気ディスクの温度を制御する
ための温度センサを備えたものか、あるいは、光磁気デ
ィスクのディスク面に接触せしめられる摺動部と一体的
に形成された磁界発生部の磁界発生用コイルが巻装され
たコアに、光磁気ディスクの温度を検出するための温度
検出用コイルを巻装したものである
A magnetic field modulation head for a magneto-optical disk according to the present invention comprises a sliding portion which slightly protrudes in the direction of the magneto-optical disk from a magnetic field generating portion and is brought into contact with the disk surface of the magneto-optical disk. Inside,
A device equipped with a temperature sensor to control the temperature of the magneto-optical disk at a slightly distant position , or a magnetic field generated integrally with the sliding part that is brought into contact with the disk surface of the magneto-optical disk The temperature detection coil for detecting the temperature of the magneto-optical disk is wound around the core on which the magnetic field generation coil of the other part is wound .

【0009】[0009]

【作用】本発明の磁界変調ヘッドにおいては、光磁気デ
ィスクのディスク面に摺動部が接触せしめられることを
利用して、この摺動部自体の温度またはこの摺動部と一
体的に形成された磁界発生部の温度を検出するように
、かつ接触面からわずかに離れた位置で温度を検出す
るようにしたので接触部の摩擦熱の影響を受けることな
く、装置若しくは装置内温度とこれに挿入されるディス
クの温度とが異なる場合でも、このディスクの温度を正
確に検出することができ、これをレーザビームのパワー
の制御に利用することによってディスクの温度を正確に
キュリー点に到達させることができる。
In the magnetic field modulation head of the present invention, the temperature of the sliding portion itself or the sliding portion is integrally formed by utilizing the fact that the sliding portion is brought into contact with the disk surface of the magneto-optical disk. The temperature of the magnetic field generator is detected , and the temperature is detected at a position slightly away from the contact surface.
Since it has been designed so that it will not be affected by the friction heat of the contact part.
In addition, even if the temperature of the device or the device is different from the temperature of the disc inserted therein, the temperature of this disc can be accurately detected, and by utilizing this for controlling the power of the laser beam, the disc The temperature can be exactly reached to the Curie point.

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例によって詳
細に説明する。図1は本発明の磁界変調ヘッドの第1実
施例の構成を示す断面図である。図1において、ヘッド
アーム21はその基端部、すなわち、図示を省略した図面
の左端部が光学式情報記録再生装置のヘッド駆動部に結
合されている。このヘッドアーム21の中間部と先端部と
の間にサスペンション22が、その先端部の上下動可能に
支持されている。サスペンション21の先端部の下面に
は、摺動部23と磁界発生部24のフレーム24Aとを一体
化したものが接合されている。摺動部23は磁界発生部24
より僅かにディスク1の方向(図中下方向)に突出する
ようにこれらの底面が二段になっている。このため、摺
動部23が光磁気ディスク1のディスク面に接触せしめら
れたとき、磁界発生部24は一定の間隙を保ってディスク
1と対向することになり、これによって、ディスク面に
印加される変調磁界の強度を一定にすることができる。
また、磁界発生部24には、「E」型のコア25が装着され
ると共に、その中央脚に図示省略のボビンを介してコイ
ル26が巻装されている。また、摺動部23の内部には、好
ましくは、接触面から0.5mmの位置にサーミスタ又は
ダイオードからなる温度センサ27が装着されている。サ
スペンション22の上面に、FPC(Flexible Print Cir
cuit)からなる配線28が載置され、その先端部の引出し
線をコイル26及び温度センサ27に接続することによっ
て、励磁電流の供給と、温度検出とを可能にしている。
The present invention will be described in detail below with reference to the embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing the configuration of the first embodiment of the magnetic field modulation head of the present invention. In FIG. 1, the head arm 21 has its base end portion, that is, the left end portion in the drawing (not shown) connected to the head drive portion of the optical information recording / reproducing apparatus. A suspension 22 is supported between an intermediate portion and a tip portion of the head arm 21 so that the tip portion can move up and down. On the lower surface of the front end portion of the suspension 21, an integrated one of the sliding portion 23 and the frame 24A of the magnetic field generating portion 24 is joined. The sliding part 23 is the magnetic field generating part 24.
These bottom surfaces are in two steps so as to slightly project in the direction of the disk 1 (downward in the figure). Therefore, when the sliding portion 23 is brought into contact with the disk surface of the magneto-optical disk 1, the magnetic field generating portion 24 is opposed to the disk 1 with a constant gap, and thereby the magnetic field is applied to the disk surface. The intensity of the modulating magnetic field can be constant.
Further, an "E" -shaped core 25 is mounted on the magnetic field generation unit 24, and a coil 26 is wound around a central leg of the core 25 via a bobbin (not shown). A temperature sensor 27, which is preferably a thermistor or a diode, is mounted inside the sliding portion 23 preferably at a position 0.5 mm from the contact surface. FPC (Flexible Print Cir
A wiring 28 made of cuit) is placed, and by connecting a lead wire at its tip to the coil 26 and the temperature sensor 27, it is possible to supply an exciting current and detect the temperature.

【0012】かかる構成の磁界変調ヘッドは、ディスク
1との接触面の近傍に温度センサ27が装着されているの
で、この温度センサ27の摺動部23を光磁気ディスクに接
触させ、かつ、光磁気ディスクの回転停止状態では、デ
ィスク1と殆ど差のない温度を検出することができる。
なお、温度センサ27を接触面に接近させすぎると、摺動
部23の磨耗により温度センサ27が破壊される虞れがある
ため、図示のように接触面から0.5mmの位置が好適で
ある。
In the magnetic field modulation head having such a structure, since the temperature sensor 27 is mounted near the contact surface with the disk 1, the sliding portion 23 of this temperature sensor 27 is brought into contact with the magneto-optical disk and When the rotation of the magnetic disk is stopped, it is possible to detect a temperature that is almost the same as that of the disk 1.
If the temperature sensor 27 is brought too close to the contact surface, the temperature sensor 27 may be damaged due to wear of the sliding portion 23. Therefore, the position 0.5 mm from the contact surface is preferable as shown in the figure. .

【0013】図2は本発明の磁界変調ヘッドの第2実施
例の構成を示す断面図である。図中、図1と同一の要素
には同一の符号を付してその説明を省略する。第2実施
例は、温度センサとして、コア25の中央脚に温度検出用
コイル29を巻装したものである。すなわち、コア25の中
央脚には、軸方向に二つの巻付け部を有する樹脂製のボ
ビン(図示を省略)を用いて、ディスク1に近い側に磁
界発生用コイル26が、その奥に温度検出用コイル29がそ
れぞれ装着されている。この場合、磁界発生用コイル26
のターン数は33で、抵抗値は5オームであり、温度検
出用コイル29のターン数は33で、抵抗値は50オーム
(25℃)である。
FIG. 2 is a sectional view showing the construction of the second embodiment of the magnetic field modulation head of the present invention. In the figure, the same elements as those of FIG. 1 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. In the second embodiment, a temperature detecting coil 29 is wound around the center leg of the core 25 as a temperature sensor. That is, a resin bobbin (not shown) having two winding portions in the axial direction is used for the central leg of the core 25, and the magnetic field generating coil 26 is provided on the side closer to the disk 1 and the temperature is provided at the back thereof. Detection coils 29 are mounted respectively. In this case, the magnetic field generating coil 26
The number of turns is 33 and the resistance value is 5 ohms. The number of turns of the temperature detecting coil 29 is 33 and the resistance value is 50 ohms (25 ° C.).

【0014】図1に示した磁界変調ヘッドはディスク1
との接触面の近傍に温度センサ27があるため、その摺
動部23を光磁気ディスクに接触させ、かつ、光磁気ディ
スク1の停止状態では、ディスク1と殆ど差のない温度
を検出することができるが、ディスク1が回転すると摩
擦熱の影響を受けて検出精度の低下を余儀なくされる。
この点、図2に示した磁界変調ヘッドは、光磁気ディス
ク1の停止状態での検出精度は若干劣るが、デイスク1
の回転による摩擦熱の影響を受け難いという利点があ
る。また、磁界発生用コイル26と同じコアに、温度検
出用のもう一つのコイル29を巻装するだけで済むこと
から、サーミスタ又はダイオードを装着することに比べ
て容易、かつ、安価に製作できるという利点もある。
The magnetic field modulation head shown in FIG.
Since there is a temperature sensor 27 in the vicinity of the contact surface with, the sliding portion 23 is brought into contact with the magneto-optical disk, and when the magneto-optical disk 1 is in a stopped state, it is possible to detect a temperature having almost no difference from that of the disk 1. However, when the disc 1 rotates, the detection accuracy is inevitably lowered due to the influence of frictional heat.
In this respect, the magnetic field modulation head shown in FIG. 2 is slightly inferior in detection accuracy when the magneto-optical disk 1 is in a stopped state.
There is an advantage that it is less likely to be affected by frictional heat due to the rotation of. Further, since another coil 29 for temperature detection only needs to be wound around the same core as the magnetic field generating coil 26, it can be manufactured more easily and cheaper than mounting a thermistor or a diode. There are also advantages.

【0015】次に、図3は本発明の光磁気ディスクの温
度制御方法を実施する光学式情報記録再生装置の全体構
成を示すブロック図である。図3において、光磁気ディ
スク1は複数の渦巻状のトラックを有し、これらのトラ
ックにはCLV(線速度一定)で情報が記録されていた
り、あるいは、情報を書込むようになっている。スピン
ドルモータ2は光磁気ディスク1を回転駆動するもので
ある。ピックアップ装置3は、主に、レーザビームを収
束してその焦点を光磁気ディスク1のディスク面に合致
させる機能と、その反射光をセンサで検出し、得られた
信号の再生及び再生信号をトラックに対する位置制御に
供する機能と、読出しに際して高周波信号を重畳させる
機能とを有している。磁界変調ヘッド4は図1又は図2
を用いて説明したもので、情報の書込みに際して、その
摺動部をディスク面に所定の圧力で接触させるローディ
ング手段を付帯し、しかも、ピックアップ装置3と一体
的にトラックに追従するように位置制御されるようにな
っている。
Next, FIG. 3 is a block diagram showing the overall construction of an optical information recording / reproducing apparatus for carrying out the temperature control method for a magneto-optical disk according to the present invention. In FIG. 3, the magneto-optical disk 1 has a plurality of spiral tracks, and information is recorded in or written on these tracks at CLV (constant linear velocity). The spindle motor 2 drives the magneto-optical disk 1 to rotate. The pickup device 3 mainly has a function of converging a laser beam so that its focal point coincides with the disk surface of the magneto-optical disk 1, and detecting the reflected light with a sensor to reproduce the obtained signal and track the reproduced signal. It has a function for position control with respect to, and a function for superimposing a high frequency signal upon reading. The magnetic field modulation head 4 is shown in FIG.
When writing information, a loading means for bringing the sliding portion into contact with the disk surface at a predetermined pressure is attached, and the position control is performed so as to follow the track integrally with the pickup device 3. It is supposed to be done.

【0016】一方、スピンドルモータ制御回路31は、後
述する信号処理回路38の出力信号によりCLVを維持す
るようにスピンドルモータ2の回転速度を制御するもの
で、ピックアップ駆動回路32はピックアップ装置3及び
磁界変調ヘッド4を一体的に駆動すると共に、トラック
に対する位置決め制御をするものである。また、電圧検
出回路33は、その詳細を後述するように、磁界変調ヘッ
ド4に装着された温度センサ若しくは温度検出コイルに
発生した電圧を増幅して出力する。
On the other hand, the spindle motor control circuit 31 controls the rotational speed of the spindle motor 2 so as to maintain CLV by the output signal of the signal processing circuit 38 described later, and the pickup drive circuit 32 controls the pickup device 3 and the magnetic field. The modulation head 4 is driven integrally and the positioning control for the track is performed. Further, the voltage detection circuit 33 amplifies and outputs the voltage generated in the temperature sensor or the temperature detection coil mounted on the magnetic field modulation head 4, as will be described later in detail.

【0017】また、プリアンプ34はピックアップ装置3
中のセンサで検出されたレーザ戻り光に対応する信号を
入力してこれを増幅した後、信号処理回路38に加える一
方、コントローラ35の出力指令に対応してピックアップ
装置3中のレーザ出力を制御する。コントローラ35はキ
ー36からの指令に応じて、信号処理回路38、メモリ40に
対するメモリコントローラ39、変換回路41等の一連のデ
ジタル信号処理系を用いて次の制御を行う。 再生時に、プリアンプ34を介してRF信号が信号処理
回路38に入力されると、オーディオ信号に変換して出力
する。 再生時及び書込み時に、スピンドルモータ2の速度を
検出してCLVとなる速度信号をスピンドルモータ制御
回路31に加える。 再生時及び書込み時に、レーザビームの正確なトレー
スに必要なトラッキングエラー及びフォーカスエラーを
検出し、これらのエラーを補正する信号をピックアップ
駆動回路32に加える。 書込み時に、オーディオ信号を量子化し、書込み回路
37を介して、磁界変調ヘッド4に加えると共に、レーザ
ビームのパワーの制御信号を、プリアンプ34を介して、
ピックアップ装置3に加える。 書込み開始時に、磁界変調ヘッド4の摺動部を光磁気
ディスク1に接触させるよりも前の時点と、摺動部を光
磁気ディスクに接触させてから所定の時間を経過した時
点とでそれぞれ電圧検出回路33の出力信号に基づいて温
度検出し、得られた検出温度に基づき経過時間に対応し
た記録層の温度変化を予測し、少なくとも記録を開始し
た初期は、所定の記録温度との偏差を零に近付けるよう
にレーザビームのパワーを制御する信号を、プリアンプ
34を介して、ピックアップ装置3に加える。
Further, the preamplifier 34 is the pickup device 3
The signal corresponding to the laser return light detected by the sensor inside is input, amplified, and then applied to the signal processing circuit 38, while controlling the laser output in the pickup device 3 in response to the output command from the controller 35. To do. In response to a command from the key 36, the controller 35 performs the following control using a series of digital signal processing systems such as the signal processing circuit 38, the memory controller 39 for the memory 40, and the conversion circuit 41. When an RF signal is input to the signal processing circuit 38 via the preamplifier 34 during reproduction, the RF signal is converted into an audio signal and output. During reproduction and writing, the speed of the spindle motor 2 is detected and a speed signal that becomes CLV is applied to the spindle motor control circuit 31. At the time of reproduction and writing, a tracking error and a focus error necessary for accurate tracing of the laser beam are detected, and signals for correcting these errors are applied to the pickup drive circuit 32. When writing, quantize the audio signal and write circuit
The signal is applied to the magnetic field modulation head 4 via 37, and the control signal of the power of the laser beam is passed via the preamplifier 34.
Add to pickup device 3. At the start of writing, the voltage is applied before the sliding portion of the magnetic field modulation head 4 is brought into contact with the magneto-optical disk 1 and when a predetermined time has elapsed after the sliding portion was brought into contact with the magneto-optical disk. The temperature is detected based on the output signal of the detection circuit 33, the temperature change of the recording layer corresponding to the elapsed time is predicted based on the detected temperature obtained, and at least in the initial stage of starting recording, the deviation from the predetermined recording temperature is calculated. A signal that controls the power of the laser beam so as to approach zero is supplied to the preamplifier.
Add to pickup device 3 via 34.

【0018】次に、本発明の光磁気ディスクの温度制御
方法について説明する。磁界変調ヘッド4として図1に
示すものを用い、かつ、温度センサとしてサーミスタを
用いた場合、温度測定のために図4に示す回路が設けら
れている。すなわち、コントローラ35のテスト信号TE
STによって接点が閉じるスイッチSW1 と、抵抗器R
1 、ダイオードD及び抵抗器R2 が高電位電源Vccと低
電位電源としての接地点との間に直列接続されている。
一方、ダイオードDのアノードに抵抗器R3 の一端が接
続され、その他端が演算増幅器OPの反転入力端子
(−)に接続され、さらに、ダイオードDのカソードに
抵抗器R4 の一端が接続され、その他端が演算増幅器O
Pの非反転入力端子(+)に接続されている。また、演
算増幅器OPの反転入力端子と出力端子との間にフィー
ドバック用の抵抗器R5が接続され、演算増幅器OPの
非反転入力端子と接地点との間に抵抗器R6 が接続され
ている。
Next, the temperature control method of the magneto-optical disk of the present invention will be described. When the magnetic field modulation head 4 shown in FIG. 1 is used and the thermistor is used as the temperature sensor, the circuit shown in FIG. 4 is provided for temperature measurement. That is, the test signal TE of the controller 35
Switch SW1 whose contacts are closed by ST and resistor R
1, a diode D and a resistor R2 are connected in series between the high potential power source Vcc and the ground point as the low potential power source.
On the other hand, one end of the resistor R3 is connected to the anode of the diode D, the other end is connected to the inverting input terminal (-) of the operational amplifier OP, and one end of the resistor R4 is connected to the cathode of the diode D. Operational amplifier O at the end
It is connected to the non-inverting input terminal (+) of P. A feedback resistor R5 is connected between the inverting input terminal and the output terminal of the operational amplifier OP, and a resistor R6 is connected between the non-inverting input terminal of the operational amplifier OP and the ground point.

【0019】ここで、テスト信号TESTが印加される
とスイッチSW1 が閉じられ、そのときの温度に応じた
電圧がサーミスタTHの両端に発生する。この電圧は演
算増幅器OPを含む増幅回路で増幅された後、コントロ
ーラ35のA/D変換器35Aによりデジタルデータに変換
されてレーザビームのパワーの制御に供される。温度セ
ンサとしてダイオードを用いた場合には、図5に示すよ
うに、サーミスタTHの代わりにダイオードDを接続し
た回路構成となる。図5の他の構成は図4と同一である
ので説明を省略する。
When the test signal TEST is applied, the switch SW1 is closed, and a voltage corresponding to the temperature at that time is generated across the thermistor TH. This voltage is amplified by an amplifier circuit including an operational amplifier OP, then converted into digital data by an A / D converter 35A of the controller 35, and used for controlling the power of the laser beam. When a diode is used as the temperature sensor, the circuit configuration is such that the diode D is connected instead of the thermistor TH, as shown in FIG. The other configuration of FIG. 5 is the same as that of FIG.

【0020】図6は図4に示した演算増幅器OPの出力
に基づいてコントローラ35がレーザビームのパワーを制
御する場合の動作説明図である。周囲温度が0℃の環境
に置かれた光学式情報記録再生装置に電源を投入したと
き、装置内温度は曲線Aに示すように25℃まで上昇す
るものとする。そこで、電源投入から10分以上、例え
ば、16分を経過した時刻t1 にて、それ自体の温度が
0℃の光磁気ディスクを挿入したとする。この光磁気デ
ィスクの温度は曲線Bに示すように0℃から25℃まで
急速に上昇する。光磁気ディスクへの書込みは、これに
磁界変調ヘッドをローディングして行うが、本実施例で
はローディングする以前に25℃になっている周囲温度
を演算増幅器OPの出力に基づいて検出する。次に、光
磁気ディスク上に磁界変調ヘッドをローディングし、所
定の時間、例えば、200msecを経過したときに光磁気
ディスクの温度を同じく演算増幅器OPの出力に基いて
検出する。ここまでの温度検出はスピンドルモータ2の
回転を停止させた状態で行う。これら二つの検出値から
時間の変化に対応した光磁気ディスクの温度変化を予測
することができる。つまり、装置全体の熱容量とディス
クの熱容量から決まる温度変化を予めROMに記憶さ
せ、光磁気ディスク上に磁界変調ヘッドをローディング
したときの温度検出値からその後の時間に対応した温度
変化が分かる。そこで、時刻t2 で書込みを開始する場
合、この時刻t2 以降の光磁気ディスクの温度を全て予
測することができる。従って、この予測値に対して予め
設定した温度値に近付くようにレーザビームのパワーを
制御する。
FIG. 6 is an operation explanatory diagram when the controller 35 controls the power of the laser beam based on the output of the operational amplifier OP shown in FIG. When the optical information recording / reproducing apparatus placed in an environment where the ambient temperature is 0 ° C. is turned on, the internal temperature of the apparatus rises to 25 ° C. as shown by the curve A. Therefore, it is assumed that a magneto-optical disk having its own temperature of 0 ° C. is inserted at time t1 which is 10 minutes or more, for example, 16 minutes after the power is turned on. The temperature of this magneto-optical disk rises rapidly from 0 ° C. to 25 ° C. as shown by the curve B. Writing on the magneto-optical disk is performed by loading a magnetic field modulation head on the magneto-optical disk. In this embodiment, the ambient temperature of 25 ° C. before loading is detected based on the output of the operational amplifier OP. Next, the magnetic field modulation head is loaded on the magneto-optical disk, and the temperature of the magneto-optical disk is detected based on the output of the operational amplifier OP when a predetermined time, for example, 200 msec has elapsed. The temperature detection up to this point is performed while the rotation of the spindle motor 2 is stopped. From these two detected values, the temperature change of the magneto-optical disk corresponding to the time change can be predicted. That is, the temperature change determined by the heat capacity of the entire device and the heat capacity of the disk is stored in the ROM in advance, and the temperature change corresponding to the subsequent time can be known from the temperature detection value when the magnetic field modulation head is loaded on the magneto-optical disk. Therefore, when writing is started at time t2, all temperatures of the magneto-optical disk after this time t2 can be predicted. Therefore, the power of the laser beam is controlled so as to approach the preset temperature value with respect to this predicted value.

【0021】因みに、図4に示した回路構成にあって
は、温度センサとしてのサーミスタTHが、0℃にて抵
抗値が1.1kΩで、25℃にて抵抗値が1kΩであっ
たとする。抵抗値が1kΩである状態でスイッチSW1
を閉じてこれに高電位電源Vccを接続したとき、ちょう
ど1Vの電圧が発生するように抵抗器R1 ,R2 の抵抗
値を決定する。従って、0℃では1.1Vの電圧が演算
増幅器OPに加えられ、25℃では1.0Vの電圧が演
算増幅器OPに加えられる。ここで、増幅率が1になる
ように抵抗器R3 ,R5 の抵抗値を決定したとすれば、
これらの電圧がそのままA/D変換器35Aに加えられ
る。もし、A/D変換器35Aとして電源電圧が3Vで
8ビット出力のものを用いると、3Vの電圧でデジタル
データが「256」になることから、1Vの電圧に対し
てはデジタルデータ「85」が得られ、1.1Vの電圧
に対してデジタルデータ「94」が得られる。磁界変調
ヘッドを光磁気ディスクにローディングしないとき、A
/D変換器からデジタルデータ「85」が出力され、光
磁気ディスク上に磁界変調ヘッドをローディングしたと
きにA/D変換器からデジタルデータ「94」が出力さ
れたとすれば、この差がディスクと周囲の温度差を表す
ことになる。また、これらのデジタルデータと、前述し
たROMに書込まれたテーブルと対照することより、以
降の光磁気ディスクの温度を予測することができる。こ
れらの処理を含めた書込み時の処理手順は、図7のステ
ップ101〜116の処理として示すことができる。
Incidentally, in the circuit configuration shown in FIG. 4, it is assumed that the thermistor TH as a temperature sensor has a resistance value of 1.1 kΩ at 0 ° C. and a resistance value of 1 kΩ at 25 ° C. Switch SW1 with resistance of 1kΩ
Is closed and the high potential power supply Vcc is connected thereto, the resistance values of the resistors R1 and R2 are determined so that a voltage of exactly 1 V is generated. Therefore, at 0 ° C., a voltage of 1.1 V is applied to the operational amplifier OP, and at 25 ° C., a voltage of 1.0 V is applied to the operational amplifier OP. If the resistance values of the resistors R3 and R5 are determined so that the amplification factor becomes 1,
These voltages are directly applied to the A / D converter 35A. If an A / D converter 35A having a power supply voltage of 3V and an 8-bit output is used, the digital data becomes "256" at the voltage of 3V, and therefore the digital data "85" at the voltage of 1V. Is obtained, and digital data “94” is obtained for a voltage of 1.1V. When the magnetic field modulation head is not loaded on the magneto-optical disk, A
If the digital data "85" is output from the A / D converter, and the digital data "94" is output from the A / D converter when the magnetic field modulation head is loaded on the magneto-optical disk, this difference results in a disc difference. It represents the ambient temperature difference. Further, by comparing these digital data with the table written in the ROM described above, the temperature of the magneto-optical disk thereafter can be predicted. The processing procedure at the time of writing including these processings can be shown as the processing of steps 101 to 116 in FIG.

【0022】次に、図8は図2に示した磁界変調ヘッド
に対応する電圧検出回路33及び書込み回路37の構成例で
あり、磁界発生部24に並設された磁界発生用のコイル26
及び温度検出用コイル29が直列接続されている。一方、
高電位電源Vccと接地点との間に、PチャネルMOSF
ETQ1 及びNチャネルMOSFETQ3 (以下、Pチ
ャネルMOSFETを単にPMOSFETと称し、Nチ
ャネルMOSFETを単にNMOSFETと称す)の直
列接続回路と、PMOSFETQ2 及びNMOSFET
Q4 の直列接続回路とが接続されている。PMOSFE
TQ1 及びNMOSFETQ3 の接続点、つまり、ドレ
インどうしの接続点に磁界発生用のコイル26の一端が接
続され、PMOSFETQ2 及びNMOSFETQ4 の
接続点、つまり、ドレインどうしの接続点に磁界発生用
のコイル26の他端と、温度検出用コイル29の一端とが接
続されている。この温度検出用コイル29の他端にはNM
OSFETQ5 のドレインが接続され、このNMOSF
ETQ5 のソースが接地点に接続されている。スイッチ
SW1 は書込みデータW.DATAと、接地電圧とをテ
スト信号TESTによって切り替えて入力するようにな
っており、このスイッチSW1 の出力端は、インバータ
INを介して、PMOSFETQ1 及びNMOSFET
Q3 の各ゲートに接続されると共に、バッファBUを介
して、それぞれ切替えスイッチSW2 の常閉側の入力
端、及びNMOSFETQ4 のゲートに接続されてい
る。なお、切替えスイッチSW2 の常開側の入力端は接
地点に接続され、その出力端はPMOSFETQ2 のゲ
ートに接続されている。もう一つの切替えスイッチSW
3 の常閉側の入力端は接地され、常開側の入力端には高
電位電源Vccが接続され、その出力端はNMOSFET
Q5 のゲートに接続されている。また、温度検出用コイ
ル29の両端間に発生した電圧は、前述した演算増幅器O
P及び抵抗器R3,R4,R5からなる増幅器で増幅され
てA/D変換器35Aに加えられる。
Next, FIG. 8 shows an example of the configuration of the voltage detecting circuit 33 and the writing circuit 37 corresponding to the magnetic field modulation head shown in FIG. 2, and the magnetic field generating coil 26 arranged in parallel in the magnetic field generating section 24.
And the temperature detecting coil 29 are connected in series. on the other hand,
A P channel MOSF is connected between the high potential power supply Vcc and the ground point.
A series connection circuit of ETQ1 and N-channel MOSFET Q3 (hereinafter, P-channel MOSFET is simply referred to as PMOSFET and N-channel MOSFET is simply referred to as NMOSFET), PMOSFET Q2 and NMOSFET
It is connected to the series connection circuit of Q4. PMOS FE
One end of a magnetic field generating coil 26 is connected to a connection point of TQ1 and NMOSFET Q3, that is, a connection point between drains, and a coil 26 for magnetic field generation is connected to a connection point between PMOSFET Q2 and NMOSFET Q4, that is, a connection point between drains. The end is connected to one end of the temperature detecting coil 29. The other end of the temperature detecting coil 29 has an NM
The drain of OSFET Q5 is connected to this NMOSF
The source of ETQ5 is connected to ground. The switch SW1 is a write data W. DATA and ground voltage are switched by the test signal TEST and input. The output end of the switch SW1 is connected to the PMOSFET Q1 and NMOSFET via the inverter IN.
It is connected to the respective gates of Q3, and is also connected to the normally closed input end of the changeover switch SW2 and the gate of the NMOSFET Q4 via the buffer BU. The normally open side input end of the changeover switch SW2 is connected to the ground point, and the output end thereof is connected to the gate of the PMOSFET Q2. Another switch SW
The input end on the normally closed side of 3 is grounded, the high potential power supply Vcc is connected to the input end on the normally open side, and its output end is NMOSFET.
It is connected to the gate of Q5. In addition, the voltage generated across the temperature detecting coil 29 is applied to the operational amplifier O described above.
It is amplified by an amplifier composed of P and resistors R3, R4, R5 and added to the A / D converter 35A.

【0023】この図8に示した回路中、演算増幅器O
P、抵抗器R3 ,R4,R5が図3の電圧検出回路33の構
成要素とすれば、これらの要素と磁界発生部24とを除い
たものが、図3の書込み回路37の構成要素になってい
る。また、これらの回路は、書込みを開始する以前の温
度検出中に温度検出用コイル29にテスト電圧を印加し、
書込み中に磁界発生用のコイル26に正方向及び負方向に
切り替わる電流を流すものである。ここで、温度検出に
際しては、テスト信号TESTによって切替えスイッチ
SW2 ,SW3 ,SW4 は全て、図示の方向とは反対側
に切り替えられる。これによって、PMOSFETQ2
,NMOSFETQ3,Q5 はオン状態に、PMOSF
ETQ1 ,NMOSFETQ4 はオフ状態になって、磁
界発生用のコイル26及び温度検出用コイル29の両方に電
流が流れる。このとき、温度検出用コイル29の両端に発
生した電圧を演算増幅器OPを中心とする増幅回路で増
幅する。
In the circuit shown in FIG. 8, the operational amplifier O
If P and the resistors R3, R4 and R5 are the constituent elements of the voltage detection circuit 33 of FIG. 3, those elements and the magnetic field generator 24 are the constituent elements of the write circuit 37 of FIG. ing. In addition, these circuits apply a test voltage to the temperature detection coil 29 during temperature detection before starting writing,
During writing, a current for switching between the positive direction and the negative direction is passed through the magnetic field generating coil 26. Here, at the time of temperature detection, the changeover switches SW2, SW3, and SW4 are all switched to the side opposite to the illustrated direction by the test signal TEST. As a result, PMOSFET Q2
, NMOSFET Q3 and Q5 are turned on, and the PMOSF
The ETQ1 and NMOSFET Q4 are turned off, and a current flows through both the magnetic field generating coil 26 and the temperature detecting coil 29. At this time, the voltage generated at both ends of the temperature detecting coil 29 is amplified by an amplifier circuit centered on the operational amplifier OP.

【0024】いま、書込み指令が加えられた時、スピン
ドルモータ2を停止させたまま、温度検出用コイル29に
テスト電圧を印加して周囲温度を検出する。続いて、ス
ピンドルモータ2を停止させたまま磁界変調ヘッド4を
光磁気ディスク1上にローディングし、摺動部をディス
ク面に接触させる。そして、周囲温度と光磁気ディスク
1の温度との差で抵抗値が変化するまで、例えば、20
0msecを経過するまで待つ。なお、磁界変調ヘッドの温
度が完全に光磁気ディスクの温度に一致するまで待つ必
要はない。その後、再度温度検出用コイル29にテスト電
圧を印加してその時の磁界変調ヘッドの温度を検出す
る。これら温度の差から光磁気ディスク1の現在温度を
検出し、これによってレーザビームのパワーの制御を行
う。
When a write command is applied, a test voltage is applied to the temperature detecting coil 29 while the spindle motor 2 is stopped to detect the ambient temperature. Then, the magnetic field modulation head 4 is loaded onto the magneto-optical disk 1 while the spindle motor 2 is stopped, and the sliding portion is brought into contact with the disk surface. Then, until the resistance value changes due to the difference between the ambient temperature and the temperature of the magneto-optical disk 1, for example, 20
Wait until 0 msec has passed. It is not necessary to wait until the temperature of the magnetic field modulation head completely matches the temperature of the magneto-optical disk. After that, a test voltage is applied to the temperature detecting coil 29 again to detect the temperature of the magnetic field modulation head at that time. The current temperature of the magneto-optical disk 1 is detected from the difference between these temperatures, and the power of the laser beam is controlled by this.

【0025】因みに、温度検出用コイル29としては、デ
ィスクの温度が0℃で45Ω、25℃で50Ωになるも
のを用いる。そして、40mAの電流を流すことによっ
て0℃では温度検出用コイル29の両端に1.8Vの電圧
を発生させる。この電圧を演算増幅器OPで1/2倍に
増幅すると0.9Vが得られる。そして、電源電圧が3
Vで8ビットのA/D変換器35Aに入力することによ
ってデジタルデータ「75」が得られる。一方、書込み
中は、切替えスイッチSW1 ,SW2 ,SW3 はいずれ
も図示した状態に保持される。そして、書込みデータ
W.DATAとして「H」レベルの信号が加えられたと
き、PMOSFETQ1 及びNMOSFETQ4 をオン
状態に、PMOSFETQ2 及びNMOSFETQ3 を
オフ状態にして磁界発生用のコイル26に正方向(図面の
右から左方向)の電流を流し、反対に、書込みデータ
W.DATAとして「L」レベルの信号が加えられたと
き、PMOSFETQ1及びNMOSFETQ4 をオフ
状態に、PMOSFETQ2 及びNMOSFETQ3 を
オン状態にして磁界発生用のコイル26に負方向(図面の
左から右方向)の電流を流す。
As the temperature detecting coil 29, one having a disk temperature of 45Ω at 0 ° C. and 50Ω at 25 ° C. is used. Then, by applying a current of 40 mA, a voltage of 1.8 V is generated across the temperature detecting coil 29 at 0 ° C. When this voltage is amplified by 1/2 with the operational amplifier OP, 0.9 V is obtained. And the power supply voltage is 3
By inputting V to the 8-bit A / D converter 35A, digital data "75" is obtained. On the other hand, during writing, all the changeover switches SW1, SW2, SW3 are held in the illustrated state. Then, the write data W. When an "H" level signal is applied as DATA, PMOSFET Q1 and NMOSFET Q4 are turned on, PMOSFET Q2 and NMOSFET Q3 are turned off, and a current in the positive direction (from right to left in the drawing) is applied to the magnetic field generating coil 26. And write data W.S. When an "L" level signal is applied as DATA, PMOSFET Q1 and NMOSFET Q4 are turned off, PMOSFET Q2 and NMOSFET Q3 are turned on, and a current in the negative direction (from left to right in the drawing) is applied to the coil 26 for magnetic field generation. Shed.

【0026】なお、この実施例では、磁界発生用のコイ
ル26及び温度検出用コイル29を接続して、いわば、セン
タータップ型にしたが、これらのコイルは互いに切り離
して、温度検出用コイル29には専用の測定回路を付加し
てもよい。ところで、上記実施例はそれぞれ磁界発生用
のコイル26の他に温度センサ又は温度検出用のコイルを
設けた磁界変調ヘッドを対象にしたが、摺動部がディス
ク面に接触せしめられることを前提にすれば、磁界発生
用のコイル26そのものを温度センサとして、ディスクの
温度を検出することができる。
In this embodiment, the magnetic field generating coil 26 and the temperature detecting coil 29 are connected to each other to form a so-called center tap type coil. However, these coils are separated from each other to form the temperature detecting coil 29. May add a dedicated measuring circuit. By the way, the above-mentioned embodiments are intended for the magnetic field modulation head provided with a temperature sensor or a coil for temperature detection in addition to the coil 26 for generating a magnetic field, but it is premised that the sliding portion is brought into contact with the disk surface. Then, the temperature of the disk can be detected by using the magnetic field generating coil 26 itself as a temperature sensor.

【0027】図9は磁界発生用のコイル26を温度センサ
としても利用する場合の構成例である。ここでは、高電
位電源Vccにソースが接続されたPMOSFETQ1 の
ドレインにNMOSFETQ3 のドレインが接続され、
このNMOSFETQ3 のソースがスイッチSW5 の入
力端に接続されている。また、高電位電源Vccにソース
が接続されたPMOSFETQ2 のドレインにNMOS
FETQ4 のドレインが接続され、このNMOSFET
Q4 のソースがスイッチSW5 の入力端に接続されてい
る。スイッチSW5 の常閉側出力端子は接地され、常開
側出力端子は定電流源Jを介して低電位電源Vssに接続
されている。PMOSFETQ1 及びNMOSFETQ
3 の接続点と、PMOSFETQ2 及びNMOSFET
Q4 の接続点との間に、抵抗器R1 、磁界発生用のコイ
ル26及び抵抗器R2 の直列接続回路が接続されている。
スイッチSW3 は常閉側の入力端子に書込みデータW.
DATAが加えらけれ、常開側入力端子は接地され、こ
の切替えスイッチSW3 の出力端は、インバータINを
介して、PMOSFETQ1 及びNMOSFETQ3 の
各ゲートに接続されると共に、バッファBUを介して、
PMOSFETQ2及びNMOSFETQ4 のゲートに
接続されている。また、磁界発生用のコイル26の両端に
発生した電圧を、前述の演算増幅器OP及び抵抗器R3
,R4 ,R5,R6 からなる増幅器で増幅してA/D変
換器に加えるようになっている。
FIG. 9 shows a configuration example in which the magnetic field generating coil 26 is also used as a temperature sensor. Here, the drain of the NMOSFET Q3 is connected to the drain of the PMOSFET Q1 whose source is connected to the high potential power supply Vcc,
The source of the NMOSFET Q3 is connected to the input end of the switch SW5. In addition, an NMOS is connected to the drain of PMOSFET Q2 whose source is connected to the high potential power supply Vcc.
The drain of FET Q4 is connected to this NMOSFET
The source of Q4 is connected to the input end of switch SW5. The normally closed output terminal of the switch SW5 is grounded, and the normally open output terminal is connected to the low potential power supply Vss via the constant current source J. PMOSFET Q1 and NMOSFET Q
3 connection point, PMOSFET Q2 and NMOSFET
A series connection circuit of a resistor R1, a coil 26 for generating a magnetic field, and a resistor R2 is connected to the connection point of Q4.
The switch SW3 has a write data W.V.
When DATA is added and the normally open side input terminal is grounded, the output terminal of the changeover switch SW3 is connected to each gate of the PMOSFET Q1 and the NMOSFET Q3 via the inverter IN, and also via the buffer BU.
It is connected to the gates of PMOSFET Q2 and NMOSFET Q4. Further, the voltage generated across the coil 26 for magnetic field generation is applied to the operational amplifier OP and the resistor R3 described above.
, R4, R5, R6 are amplified and added to the A / D converter.

【0028】ここで、温度検出に際しては、テスト信号
TESTによって切替えスイッチSW3 ,SW5 は全
て、図示の方向とは反対側に切替えられる。これによっ
て、PMOSFETQ2 ,NMOSFETQ3 はオン状
態に、PMOSFETQ1 ,NMOSFETQ4 はオフ
状態になって、磁界発生用のコイル26に電流が流れると
共に、定電流源Jによって電流が一定に制御される。こ
のとき、磁界発生用のコイル26の両端に発生した電圧が
演算増幅器OPを中心とする増幅回路で増幅される。そ
こで、書込み指令が加えられた時、スピンドルモータ2
を停止させたまま、磁界変調ヘッドをアンローディング
の状態にして温度検出用コイル29にテスト電流を流して
周囲温度を検出する。この場合、磁界発生用のコイル26
は温度が25℃において5.0Ω、0℃において4.5
Ωになるものを用いる。したがって、25℃において
5.0Ωの温度検出用コイル29に200mAの電流を流
すことによって1.0Vの電圧が発生する。この電圧を
演算増幅器OPで1倍に増幅すると1.0Vが得られ
る。また、電源電圧が3Vで8ビットのA/D変換器に
入力することによってデジタルデータ「85」が得られ
る。ここで、テスト電流を遮断すると共に、予めROM
又はEEPROMに書込んであるデジタルデータと温度
との関係を示すテーブルを用いてその時点の温度、すな
わち、周囲温度を求める。
Here, at the time of temperature detection, all the changeover switches SW3 and SW5 are changed over to the side opposite to the illustrated direction by the test signal TEST. As a result, the PMOSFET Q2 and NMOSFET Q3 are turned on, the PMOSFET Q1 and NMOSFET Q4 are turned off, and a current flows through the coil 26 for magnetic field generation, and the constant current source J controls the current to be constant. At this time, the voltage generated at both ends of the magnetic field generating coil 26 is amplified by an amplifier circuit centered on the operational amplifier OP. Therefore, when a write command is applied, the spindle motor 2
With the magnetic field modulation head kept unloading, a test current is passed through the temperature detecting coil 29 to detect the ambient temperature. In this case, the coil 26 for magnetic field generation
Is 5.0Ω at 25 ℃ and 4.5 at 0 ℃
Use the one that becomes Ω. Therefore, a voltage of 1.0 V is generated by passing a current of 200 mA through the temperature detecting coil 29 of 5.0Ω at 25 ° C. If this voltage is amplified by the operational amplifier OP by a factor of 1.0, 1.0 V is obtained. Also, the digital data "85" is obtained by inputting it to the 8-bit A / D converter with the power supply voltage of 3V. Here, the test current is cut off and the ROM
Alternatively, the temperature at that time, that is, the ambient temperature is obtained using a table showing the relationship between the digital data written in the EEPROM and the temperature.

【0029】続いて、スピンドルモータ2を停止させた
まま磁界変調ヘッド4を光磁気ディスク1上にローディ
ングし、摺動部をディスク面に接触させる。そして、周
囲温度と光磁気ディスク1の温度との差で抵抗値が変化
するまで、例えば、200msecを経過するまで待つ。な
お、磁界変調ヘッドの温度が完全に光磁気ディスクの温
度に一致するまで待つ必要はない。その後、再度温度検
出用コイル29にテスト電圧を印加してその時の磁気変調
ヘッドの温度を検出する。その時、0℃であったとすれ
ば、磁界発生用のコイル26の両端に0.9Vが発生す
る。この電圧を演算増幅器OPで1倍に増幅すると0.
9Vが得られる。この電圧をA/D変換器に入力するこ
とによってデジタルデータ「76」が得られる。またこ
こで、テスト電流を遮断すると共に、前記のデジタルデ
ータ「85」との差「9」より予めROM又はEEPR
OMに書込んであるデジタルデータと温度との関係を示
すテーブルを用いてその時点の温度を求める。
Then, the magnetic field modulation head 4 is loaded onto the magneto-optical disk 1 while the spindle motor 2 is stopped, and the sliding portion is brought into contact with the disk surface. Then, it waits until the resistance value changes due to the difference between the ambient temperature and the temperature of the magneto-optical disk 1, for example, until 200 msec elapses. It is not necessary to wait until the temperature of the magnetic field modulation head completely matches the temperature of the magneto-optical disk. After that, a test voltage is applied to the temperature detecting coil 29 again to detect the temperature of the magnetic modulation head at that time. At that time, if the temperature is 0 ° C., 0.9 V is generated at both ends of the coil 26 for magnetic field generation. If this voltage is amplified by 1 times by the operational amplifier OP, it becomes 0.
9V is obtained. By inputting this voltage to the A / D converter, digital data "76" is obtained. At this time, the test current is cut off, and the ROM or EEPR is preliminarily calculated from the difference "9" from the digital data "85".
The temperature at that time is obtained using a table indicating the relationship between the digital data written in the OM and the temperature.

【0030】このように、光磁気ディスク1に磁界変調
ヘッド4をローディングする前と、ローディングしてか
ら一定時間を経過した時点の温度との差が周囲温度とデ
ィスクとの温度差である。時間の経過に応じて、ディス
クの温度は周囲温度に近付こうとするから、装置全体の
熱容量及びディスクの熱容量に基づいて予めROMに設
定した温度漸近線のテーブルと、光磁気ディスク1に磁
界変調ヘッド4をローディングしてからの時間を計測す
るタイマの値とにより、書込み指示のあった時点の記録
ディスク温度を予測する。そして、ROMに書込んでお
いた予測温度と電圧との関係に従ってレーザビーム出力
を制御する。もちろん、書込みの直前に磁界変調ヘッド
4を光磁気ディスク1にローディングするので、この時
点で温度を測定しても構わない。
As described above, the difference between the temperature before the magnetic field modulation head 4 is loaded on the magneto-optical disk 1 and the temperature at the time when a certain time has elapsed after the loading is the temperature difference between the ambient temperature and the disk. Since the temperature of the disk tends to approach the ambient temperature with the passage of time, a table of temperature asymptotes preset in the ROM based on the heat capacity of the entire apparatus and the heat capacity of the disk and the magnetic field on the magneto-optical disk 1 are set. The temperature of the recording disk at the time when the write instruction is issued is predicted by the value of the timer that measures the time after loading the modulation head 4. Then, the laser beam output is controlled according to the relationship between the predicted temperature and the voltage written in the ROM. Of course, since the magnetic field modulation head 4 is loaded on the magneto-optical disk 1 immediately before writing, the temperature may be measured at this point.

【0031】その後、スピンドルモータ2を起動し、レ
ーザビームのトラックに対するフォーカスエラーと、ト
ラッキングエラーを検知し、これらのエラーを零に近付
けるようにピックアップ装置3を制御すると共に、CL
Vにて回転駆動することによりピックアップ部をディス
クの最内周付近TOC(Table Of Contents)又はUT
OC(User Table Of Contents)に移動し、必要な情報
を読出し、そこで書込みを行う。なお、光磁気ディスク
1に磁界変調ヘッド4をローディングしてからの時間を
計時するタイマは、光磁気ディスク1の温度が周囲温度
と実質的に一致したと判断した段階でクリアされる。
After that, the spindle motor 2 is started to detect a focus error and a tracking error with respect to the track of the laser beam, and the pickup device 3 is controlled so as to bring these errors close to zero.
By rotating at V, the pickup unit near the innermost circumference of the disc TOC (Table Of Contents) or UT
Move to OC (User Table Of Contents), read out necessary information, and write there. The timer that measures the time after loading the magnetic field modulation head 4 on the magneto-optical disk 1 is cleared when it is determined that the temperature of the magneto-optical disk 1 substantially matches the ambient temperature.

【0032】書込み中は、切替えスイッチSW3 ,SW
5 はいずれも図示した状態に保持される。書込みデータ
W.DATAとして「H」レベルの信号が加えられたと
き、PMOSFETQ1 及びNMOSFETQ4 をオン
状態に、PMOSFETQ2及びNMOSFETQ3 を
オフ状態にして磁界発生用のコイル26に正方向(図面の
右から左方向)の電流を流し、反対に、書込みデータ
W.DATAとして「L」レベルの信号が加えられたと
き、PMOSFETQ1 及びNMOSFETQ4をオフ
状態に、PMOSFETQ2 及びNMOSFETQ3 を
オン状態にして磁界発生用のコイル26に負方向(図面の
左から右方向)の電流を流す。
During writing, the changeover switches SW3, SW
All of 5 are held in the illustrated state. Write data W. When an "H" level signal is applied as DATA, PMOSFET Q1 and NMOSFET Q4 are turned on, PMOSFET Q2 and NMOSFET Q3 are turned off, and a current in the forward direction (from right to left in the drawing) is applied to the coil 26 for magnetic field generation. And write data W.S. When an "L" level signal is applied as DATA, PMOSFET Q1 and NMOSFET Q4 are turned off, PMOSFET Q2 and NMOSFET Q3 are turned on, and a current in the negative direction (from left to right in the drawing) is applied to the coil 26 for magnetic field generation. Shed.

【0033】図10は磁界発生用のコイル26を温度セン
サとしても利用するもう一つの構成例である。ここで
は、高電位電源Vccにソースが接続されたPMOSFE
TQ1のドレインにNMOSFETQ3 のドレインが接
続され、このNMOSFETQ3 のソースが接地されて
いる。また、高電位電源Vccにソースが接続されたPM
OSFETQ2 のドレインにNMOSFETQ4 のドレ
インが接続され、このNMOSFETQ4 のソースが接
地されている。PMOSFETQ1 及びNMOSFET
Q3 の接続点と、PMOSFETQ2 及びNMOSFE
TQ4 の接続点との間に、抵抗器R1 、磁界発生用のコ
イル26及び抵抗器R2 の直列接続回路が接続されてい
る。スイッチSW3 は常閉側の入力端子に書込みデータ
W.DATAが加えらけれ、常開側入力端子は接地さ
れ、この切替えスイッチSW3 の出力端は、インバータ
INを介して、PMOSFETQ1 及びNMOSFET
Q3 の各ゲートに接続されると共に、バッファBUを介
して、PMOSFETQ2 及びNMOSFETQ4 のゲ
ートに接続されている。また、磁界発生用のコイル26の
両端に発生した電圧を、前述の演算増幅器OP及び抵抗
器R3 ,R4 ,R5 ,R6からなる増幅器で増幅してA
/D変換器に加えるようになっている。
FIG. 10 shows another configuration example in which the coil 26 for generating a magnetic field is also used as a temperature sensor. Here, the PMOS FE whose source is connected to the high potential power supply Vcc
The drain of TQ1 is connected to the drain of NMOSFET Q3, and the source of this NMOSFET Q3 is grounded. Also, PM whose source is connected to the high potential power supply Vcc
The drain of the NMOSFET Q4 is connected to the drain of the OSFET Q2, and the source of the NMOSFET Q4 is grounded. PMOSFET Q1 and NMOSFET
Connection point of Q3, PMOSFET Q2 and NMOSFE
Between the connection point of TQ4, a series connection circuit of a resistor R1, a coil 26 for generating a magnetic field and a resistor R2 is connected. The switch SW3 has a write data W.V. DATA is added, the normally open side input terminal is grounded, and the output end of this changeover switch SW3 is connected to the PMOSFET Q1 and NMOSFET via the inverter IN.
It is connected to the gates of Q3 and also to the gates of PMOSFET Q2 and NMOSFET Q4 via a buffer BU. Further, the voltage generated across the coil 26 for generating a magnetic field is amplified by the amplifier composed of the operational amplifier OP and the resistors R3, R4, R5 and R6 described above, and
It is designed to be added to the / D converter.

【0034】ここで、温度検出に際しては、テスト信号
TESTによって切替えスイッチSW3 は図示の方向と
は反対側に切替えられる。これによって、PMOSFE
TQ2 ,NMOSFETQ3 はオン状態に、PMOSF
ETQ1 ,NMOSFETQ4 はオフ状態になって、磁
界発生用のコイル26にテスト電圧が印加される。このと
き、磁界発生用のコイル26の両端に発生した電圧が演算
増幅器OPを中心とする増幅回路で増幅される。
Here, at the time of temperature detection, the changeover switch SW3 is changed over to the side opposite to the illustrated direction by the test signal TEST. This allows the PMOS FE
TQ2 and NMOSFET Q3 are turned on and PMOSF
ETQ1 and NMOSFET Q4 are turned off, and a test voltage is applied to the magnetic field generating coil 26. At this time, the voltage generated at both ends of the magnetic field generating coil 26 is amplified by an amplifier circuit centered on the operational amplifier OP.

【0035】いま、書込み指令が加えられた時、スピン
ドルモータ2を停止させたまま磁界変調ヘッド4を光磁
気ディスク1上にローディングし、摺動部をディスク面
に接触させる。そして、周囲温度と光磁気ディスク1の
温度との差で抵抗値が変化するまで、例えば、200ms
ecを経過するまで待つ。なお、磁界変調ヘッドの温度が
完全に光磁気ディスクの温度に一致するまで待つ必要は
ない。その後、再度温度検出用コイル29にテスト電圧を
印加してその時の磁気変調ヘッドの温度を検出する。そ
の時、0℃において4.5Ωであったとすれば、400
mAの電流を流すことによって磁界発生用のコイル26の
両端に1.8Vの電圧が発生する。この電圧を演算増幅
器OPで1/2倍に増幅すると0.9Vが得られる。こ
の電圧をA/D変換器に入力することによってデジタル
データ「76」が得られる。またここで、テスト電流を
遮断すると共に、予めROM又はEEPROMに書込ん
であるデジタルデータと温度の絶対値との関係を示すテ
ーブルを用いてその時点の温度を求める。次に、この温
度に対応してレーザビームのパワーを設定し、所定の書
込みを行う。
When a write command is applied, the magnetic field modulation head 4 is loaded onto the magneto-optical disk 1 while the spindle motor 2 is stopped, and the sliding portion is brought into contact with the disk surface. Then, until the resistance value changes due to the difference between the ambient temperature and the temperature of the magneto-optical disk 1, for example, 200 ms
Wait until ec has passed. It is not necessary to wait until the temperature of the magnetic field modulation head completely matches the temperature of the magneto-optical disk. After that, a test voltage is applied to the temperature detecting coil 29 again to detect the temperature of the magnetic modulation head at that time. At that time, if it was 4.5Ω at 0 ° C., 400
By passing a current of mA, a voltage of 1.8 V is generated across the magnetic field generating coil 26. When this voltage is amplified by 1/2 with the operational amplifier OP, 0.9 V is obtained. By inputting this voltage to the A / D converter, digital data "76" is obtained. At this time, the test current is cut off, and the temperature at that time is obtained by using the table showing the relationship between the digital data and the absolute value of the temperature which is written in the ROM or the EEPROM in advance. Next, the power of the laser beam is set corresponding to this temperature, and predetermined writing is performed.

【0036】図10に示した回路構成を採用した場合、
切替えスイッチSW3を追加して、これをテスト信号T
ESTによって切替えるだけで済むが、書込み時にに実
際に供している大きめの電流(400mA)が流れてし
まうので、コイルが発熱しないように短時間にて測定を
行う必要性がある。なお、上述の実施例のうち、温度検
出用コイル29又は磁界発生用のコイル26を用いるもの
は、抵抗値の変化を利用して光磁気ディスクの温度を検
出したが、磁界発生部の温度が変化すると、コアを構成
するフェライトの透磁率も変化してインダクタンスも変
化するため、抵抗値及びインダクタンスを含むインピー
ダンスの変化を利用して光磁気ディスクの温度を検出す
ることができる。
When the circuit configuration shown in FIG. 10 is adopted,
Changeover switch SW3 is added and this is used as test signal T
Although it is only necessary to switch by EST, a large current (400 mA) actually supplied at the time of writing flows, so it is necessary to perform measurement in a short time so that the coil does not generate heat. Incidentally, among the above-mentioned embodiments, the one using the temperature detecting coil 29 or the magnetic field generating coil 26 detects the temperature of the magneto-optical disk by utilizing the change of the resistance value, but the temperature of the magnetic field generating portion is When it changes, the magnetic permeability of the ferrite forming the core also changes, and the inductance also changes. Therefore, the temperature of the magneto-optical disk can be detected by utilizing the change in the resistance value and the impedance including the inductance.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上の説明によって明らかなように、本
発明の光磁気ディスクの磁界変調ヘッドによれば、光磁
気ディスクのディスク面に摺動部が接触せしめられるこ
とを利用してディスクの温度を正確に検出することがで
きるため、ディスクの温度を正確にキュリー点に到達さ
せることができる。
As is clear from the above description, according to the magnetic field modulation head of the magneto-optical disk of the present invention, the temperature of the disk is utilized by utilizing the fact that the sliding portion is brought into contact with the disk surface of the magneto-optical disk. Can be accurately detected, so that the temperature of the disk can accurately reach the Curie point.

【0038】[0038]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る光磁気デスクの磁界変調ヘッド
の第1実施例の構成を示す断面図である。
1 is a cross-sectional view showing a configuration of a first embodiment of a magnetic field modulation head of a magneto-optical to Disk according to the present invention.

【図2】本発明に係る光磁気デスクの磁界変調ヘッド
の第2実施例の構成を示す断面図である。
2 is a sectional view showing a configuration of a second embodiment of a magnetic field modulation head of a magneto-optical to Disk according to the present invention.

【図3】本発明に係る光磁気ディスクの磁界変調ヘッド
を用いた光磁気ディスクの温度制御方法を実施するため
の情報記録再生装置の構成例を示すブロック図である。
FIG. 3 is a magnetic field modulation head for a magneto-optical disk according to the present invention.
It is a block diagram showing a configuration example of an information recording and reproducing apparatus for carrying out the temperature control method of the magneto-optical disk using.

【図4】図3に示した情報記録再生装置の主要素の詳細
な構成を示す回路図である。
4 is a circuit diagram showing a detailed configuration of main elements of the information recording / reproducing apparatus shown in FIG.

【図5】図3に示した情報記録再生装置の主要素の詳細
な構成を示す回路図である。
5 is a circuit diagram showing a detailed configuration of main elements of the information recording / reproducing apparatus shown in FIG.

【図6】本発明に係る光磁気ディスクの磁界変調ヘッド
を用いた光磁気ディスクの温度制御方法を説明するため
に、時間と温度との関係を示した線図である。
FIG. 6 is a magnetic field modulation head for a magneto-optical disk according to the present invention.
FIG. 6 is a diagram showing a relationship between time and temperature in order to explain a method for controlling the temperature of a magneto-optical disk using the .

【図7】本発明に係る光磁気ディスクの磁界変調ヘッド
を用いた光磁気ディスクの温度制御方法を説明するため
に、図3に示した情報記録再生装置の処理手順を示すフ
ローチャートである。
FIG. 7 is a magnetic field modulation head for a magneto-optical disk according to the present invention.
4 is a flowchart showing a processing procedure of the information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 3 in order to explain a temperature control method of a magneto-optical disk using the .

【図8】本発明に係る光磁気ディスクの磁界変調ヘッド
を用いた光磁気ディスクの温度制御方法を実施する装置
の他の構成例を示す回路図である。
FIG. 8 is a magnetic field modulation head for a magneto-optical disk according to the present invention.
FIG. 9 is a circuit diagram showing another configuration example of an apparatus for carrying out the method of controlling the temperature of the magneto-optical disk using the above.

【図9】本発明に係る光磁気ディスクの磁界変調ヘッド
を用いた光磁気ディスクの温度制御方法を実施する装置
のもう一つ他の構成例を示す回路図である。
FIG. 9 is a magnetic field modulation head for a magneto-optical disk according to the present invention.
FIG. 9 is a circuit diagram showing another example of the configuration of an apparatus for implementing the temperature control method for a magneto-optical disk using the above.

【図10】本発明に係る光磁気ディスクの温度制御方法
を実施する装置のさらに他の構成例を示す回路図であ
る。
FIG. 10 is a circuit diagram showing still another configuration example of an apparatus for implementing the temperature control method for a magneto-optical disk according to the present invention.

【図11】従来の光磁気デスクの磁界変調ヘッドの構
成例を示した断面図及び側面図である。
11 is a cross-sectional view and a side view showing a configuration example of a magnetic field modulation head of a conventional magneto-optical to Disk.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光磁気ィスク 3 ピックアップ装置 4 磁界変調ヘッド 23 摺動部 24 磁界発生部 24A 磁界発生部のフレーム 25 コア 26 磁界発生用コイル 27 温度センサ 29 温度検出用コイル 31 スピンドルモータ制御回路 32 ピックアップ駆動回路 33 電圧検出回路 35 コントローラ 37 書込み回路1 magneto-optical disk 3 pickup device 4 magnetic field modulation head 23 sliding portion 24 magnetic field generator 24A magnetic field generator of the frame 25 core 26 magnetic field generating coil 27 Temperature sensor 29 Temperature sensing coil 31 a spindle motor control circuit 32 the pickup driving circuit 33 voltage detection circuit 35 controller 37 writing circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平1−191330(JP,A) 特開 平2−68748(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 11/105 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (56) Reference JP-A-1-191330 (JP, A) JP-A-2-68748 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G11B 11/105

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光磁気ディスクに磁界を与えるための磁
界発生部と、前記磁界発生部と一体的に結合され、前記
磁界発生部より前記光磁気ディスクの方向に僅かに突出
して前記光磁気ディスクのディスク面に接触せしめられ
る摺動部と、前記光磁気ディスクの温度を検出するため
に、前記摺動部の内部で、その接触面よりわずかに離れ
た位置に設けられた温度センサとを有する光磁気ディス
クの磁界変調ヘッド。
1. A magneto-optical disk, which is integrally coupled to the magnetic-field generating section for applying a magnetic field to the magneto-optical disk, and slightly protrudes in the direction of the magneto-optical disk from the magnetic field generating section. Of the sliding part to be brought into contact with the disk surface of the disk, and in order to detect the temperature of the magneto-optical disk, the sliding part is slightly separated from the contact surface inside the sliding part.
A magnetic field modulation head for a magneto-optical disk having a temperature sensor provided at a different position .
【請求項2】 光磁気ディスクに磁界を与えるための磁
界発生用コイルを有する磁界発生部と、前記光磁気ディ
スクのディスク面に接触せしめられ、前記磁界発生部と
一体的に形成された摺動部と、前記磁界発生用コイルが
巻装されているコアに巻装され、前記光磁気ディスクの
温度を検出するための温度検出用コイルとを有する光磁
気ディスクの磁界変調ヘッド。
2. A magnetic field generating section having a magnetic field generating coil for applying a magnetic field to the magneto-optical disk, and a slide which is brought into contact with the disk surface of the magneto-optical disk and formed integrally with the magnetic field generating section. A magnetic field modulation head for a magneto-optical disk, comprising: a magnetic field generating coil; and a temperature detecting coil for detecting the temperature of the magneto-optical disk, the magnetic field modulating coil being wound around a core around which the magnetic field generating coil is wound.
【請求項3】 光磁気ディスクに磁界を与えるためのコ
アに巻装された磁界発生用コイルを有する磁界発生部
と、前記光磁気ディスクのディスク面に接触せしめら
れ、前記磁界発生部と一体的に形成された摺動部と、前
記磁界発生用コイルと一端が共通に巻装されている前記
光磁気ディスクの温度を検出するための温度検出用コイ
ルとを有する光磁気ディスクの磁界変調ヘッド。
3. A coil for applying a magnetic field to a magneto-optical disk.
Magnetic field generating section having magnetic field generating coil wound around
And contact the disc surface of the magneto-optical disc.
And a sliding part formed integrally with the magnetic field generating part,
The magnetic field generating coil and one end thereof are commonly wound.
A temperature detecting coil for detecting the temperature of the magneto-optical disk
And a magnetic field modulation head for a magneto-optical disk having a magnetic field.
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