JP3361629B2 - Comb-like spectrum signal generator - Google Patents

Comb-like spectrum signal generator

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JP3361629B2 JP24711594A JP24711594A JP3361629B2 JP 3361629 B2 JP3361629 B2 JP 3361629B2 JP 24711594 A JP24711594 A JP 24711594A JP 24711594 A JP24711594 A JP 24711594A JP 3361629 B2 JP3361629 B2 JP 3361629B2
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、くし状のスペクトルを
発生する信号発生器に関し、特に移動体通信機のキャリ
アセンスを測定するための多チャンネルの信号を発生す
るくし状スペクトル信号発生器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a signal generator for generating a comb-shaped spectrum, and more particularly to a comb-shaped spectrum signal generator for generating a multi-channel signal for measuring carrier sense of a mobile communication device. .

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

(移動体通信の説明)自動車・携帯電話、コードレス電
話などの移動体通信の分野では、多重化方式の手段とし
て、周波数分割多重(FDM:Frequency D
ivision Multiplex)、および時分割
多重(TDM:Time Division Mult
iplex)がある。
(Explanation of Mobile Communication) In the field of mobile communication such as automobiles, mobile phones and cordless phones, frequency division multiplexing (FDM) is used as a means of multiplexing.
Ivision Multiplex) and Time Division Multiplex (TDM)
iplex).

【0003】例えば、PHS(Personal Ha
ndyphone System)では、周波数分割多
重は、周波数帯1.9GHz(24MHz幅)、チャン
ネルセパレート300KHz、チャンネル数77CHs
となっている。また、時分割多重は、上り4スロット、
下り4スロットとなっている。PHSが通信をする場
合、空き周波数チャンネルを検出し、そのチャンネルを
使用しなければならない。PHSの品質試験の一つに、
そのキャリアセンス機能を満足しているかを試験する必
要がある。図9はキャリアセンス試験装置のブロック図
である。
For example, PHS (Personal Ha)
In the ndyphone System), frequency division multiplexing uses frequency band 1.9 GHz (24 MHz width), channel separation 300 KHz, number of channels 77 CHs.
Has become. In addition, time division multiplexing has four uplink slots,
It has 4 slots downstream. When the PHS communicates, it must detect a free frequency channel and use that channel. One of the PHS quality tests,
It is necessary to test whether the carrier sense function is satisfied. FIG. 9 is a block diagram of the carrier sense test apparatus.

【0004】キャリアセンス機能とは、試験周波数が空
いている場合、受験機器10がその試験周波数で送信
し、試験周波数が空いていない場合、受験機器10が送
信をしないことをいう。そのため、その試験に使用する
多チャンネル信号発生器は、制御用周波数の1波、およ
び試験周波数以外の全てのキャリアを無変調で連続に発
生する必要がある。
The carrier sense function means that the test equipment 10 transmits at the test frequency when the test frequency is idle, and the test equipment 10 does not transmit when the test frequency is not available. Therefore, the multi-channel signal generator used for the test needs to continuously generate one carrier of the control frequency and all carriers other than the test frequency without modulation.

【0005】(従来の試験装置)従来の試験装置では、
複数の発振器からの信号を組み合わせて、多周波数のく
し状信号を発生させ、多チャンネル信号発生器としてい
た。そして、チャンネルの発振器の出力を除いた信号
で、キャリアセンスを試験する。
(Conventional Test Apparatus) In the conventional test apparatus,
The signals from a plurality of oscillators were combined to generate a multi-frequency comb-shaped signal, which was used as a multi-channel signal generator. Then, the carrier sense is tested by the signal excluding the output of the oscillator of the channel.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】つまり、従来の技術で
は欲しいチャンネル数だけ、発振器が必要となる。さら
に、それを計算機(パソコン)等で制御しているため、
回路規模が大きくなる。また、周波数、または周波数間
隔の変更には、全ての発振器の発振周波数を変更しなけ
ればならない。本発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであり、小型化、チャンネル数の拡大、および
任意の周波数の設定を可能とするくし状スペクトル信号
発生器、およびキャリアセンス試験装置を提供すること
を課題とする。
That is, in the conventional technology, as many oscillators as necessary are required. Furthermore, because it is controlled by a computer (personal computer),
The circuit scale becomes large. Moreover, in order to change the frequency or the frequency interval, the oscillation frequencies of all the oscillators must be changed. The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a comb-shaped spectrum signal generator and a carrier sense test apparatus capable of downsizing, increasing the number of channels, and setting an arbitrary frequency. This is an issue.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】「スペクトル拡散通信シ
ステム」(横山光雄著・科学技術出版社発行)の406
頁によると、PN(Pseudorandom No
ise:擬似ランダム)波形の電力スペクトルは線スペ
クトルで構成され、その周波数間隔は、1/T(PN波
形の一周期)となる。f=0における電力は、1/n
2 である。図8に示すように、例としてn=15の場合
のPN波形の電力スペクトルが記載されている。
[Means for Solving the Problem] 406 of "Spread spectrum communication system" (written by Mitsuo Yokoyama, published by Science and Technology Publishing Company)
According to the page, PN (Pseudorandom No.
The power spectrum of the “ise: pseudo random” waveform is composed of a line spectrum, and the frequency interval is 1 / T (one period of the PN waveform). The power at f = 0 is 1 / n
Is 2 . As shown in FIG. 8, the power spectrum of the PN waveform when n = 15 is described as an example.

【0008】本発明は、従来の課題を解決するために請
求項1のくし状スペクトル信号発生器においては、擬似
ランダム符号である拡散系列でスペクトル拡散するPN
信号発生器を、コムジェネレータとして使用できること
に着目した。さらにf=0における電力を、直交変調器
を用いて低減する手段を実現した。また、請求項2のキ
ャリアセンス試験装置においては、そのくし状スペクト
ル信号発生器の出力信号をさらに処理し、キャリアセン
ス試験用の多チャンネル信号発生器とした。
According to the present invention, in order to solve the conventional problems, in the comb-shaped spectrum signal generator according to claim 1, a PN that spreads a spectrum with a spreading sequence which is a pseudo-random code.
We paid attention to the fact that the signal generator can be used as a comb generator. Furthermore, a means for reducing the power at f = 0 by using a quadrature modulator has been realized. Further, in the carrier sense test apparatus of the second aspect, the output signal of the comb-shaped spectrum signal generator is further processed to be a multi-channel signal generator for carrier sense test.

【0009】具体的に請求項1では、所定の周波数間
隔で線スペクトルを発生するPN信号発生器と、PN
信号発生器の出力波形を成形する波形成形回路と、
波形成形回路の出力の直流成分をカットするコンデンサ
と、任意の周波数の信号を出力する発振器と、平衡
形の交互結合差動段で構成された2個の乗算器と、そ
の乗算器のそれぞれ接続し、バイアス電流をかけてキャ
リアリークを除去するために同相成分(I成分)を調整
するバイアス回路および直交成分を調整するバイアス回
路とを有することにより、前記発振器の出力する任意の
周波数の信号を入力し、前記コンデンサを介して入力さ
れた前記波形成形回路の出力する複数の線スペクトルの
中心周波数を、前記任意の周波数に設定する。
Specifically, in claim 1, a PN signal generator for generating a line spectrum at a predetermined frequency interval;
A waveform shaping circuit for shaping the output waveform of the signal generator, a capacitor for cutting a direct current component of the output of the <br/> waveform shaping circuit, an oscillator for outputting a signal of any frequency, alternating binding difference the balanced Two multipliers each including a moving stage are connected to each of the multipliers, and a bias circuit that adjusts an in-phase component (I component) to remove a carrier leak by applying a bias current and a quadrature component are adjusted. By having a bias circuit, a signal of an arbitrary frequency output from the oscillator is input, and the center frequency of the plurality of line spectra output from the waveform shaping circuit input via the capacitor is set to the arbitrary frequency. Set to.

【0010】また、請求項2では、受験機器の所定の
チャンネルにおける送信・受信機能を試験するキャリア
センス試験装置であって、受験機器と回線接続する試
験器と、試験するチャンネルに中心周波数を設定した
前記請求項1記載のくし状スペクトル信号発生器と、
くし状スペクトル信号発生器の出力とセンタ装置の信号
を混合し受験機器に出力する混合器と、試験器からの
信号を受信しフレーム信号を検出するフレーム信号検出
部と、フレーム信号を検出したとき受験機器をくし状
スペクトル信号発生器から切り離なす切替部とを備え
た。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a carrier sense test apparatus for testing a transmission / reception function of a predetermined channel of an EUT, wherein a tester connected to the EUT by a line and a center frequency are set for a channel to be tested. A comb-shaped spectrum signal generator according to claim 1,
When the output of the comb-shaped spectrum signal generator and the signal of the center device are mixed and output to the equipment under test, the frame signal detector that receives the signal from the tester and detects the frame signal, and when the frame signal is detected And a switching unit for disconnecting the device under test from the comb-shaped spectrum signal generator.

【0011】[0011]

【作用】このように構成された請求項1のくし状スペク
トル信号発生器によれば、PN信号発生器で発生した複
数の線スペクトルの中心周波数を、発振器の発振周波数
に設定でき、その周波数設定された出力信号のレベルを
さらに低減することができる。また、発振器の発振周波
数を可変することにより、出力信号の中心周波数を任意
の周波数に設定できる。
According to the comb-shaped spectrum signal generator of the present invention having the above-mentioned structure, the center frequency of the plurality of line spectra generated by the PN signal generator can be set to the oscillation frequency of the oscillator. The level of the output signal thus generated can be further reduced. Further, the center frequency of the output signal can be set to an arbitrary frequency by changing the oscillation frequency of the oscillator.

【0012】また、請求項2のキャリアセンス試験装置
では、請求項1のくし状スペクトル信号発生器を利用す
ることにより、出力レベルが低くなる中心周波数を、任
意に設定できる。つまり、任意のチャンネルにおけるキ
ャリアセンスの試験が可能となる。
Further, in the carrier sense test apparatus of the second aspect, by using the comb spectrum signal generator of the first aspect, the center frequency at which the output level becomes low can be set arbitrarily. That is, it becomes possible to test carrier sense in an arbitrary channel.

【0013】[0013]

〔第1の実施例〕[First Embodiment]

【0014】(構成)図1は、くし状スペクトル信号発
生器のブロック図である。PN信号発生器1は、所定の
周波数間隔(第1の実施例では、300KHz)で線ス
ペクトルを発生する。その線スペクトルの波形を波形成
形回路2でクランプする。コンデンサ3は波形成形回路
2の出力の直流成分をカットする。直交変調器4は波形
成形回路2の出力を任意の周波数に設定する。その任意
の周波数(第1の実施例では、160MHz)は発振器
5で発生し、直交変調器4に出力する。直交変調器4の
出力信号は、減衰器6を介して乗算器7に入力され発振
回路9の周波数(第1の実施例では、1.74GHz)
の信号と乗算し、中心周波数を1.9GHzの使用帯域
の信号とする。その信号を、バンドパスフィルタ8で帯
域制限し、出力する。
(Structure) FIG. 1 is a block diagram of a comb-shaped spectrum signal generator. The PN signal generator 1 generates a line spectrum at a predetermined frequency interval (300 KHz in the first embodiment). The waveform of the line spectrum is clamped by the waveform shaping circuit 2. The capacitor 3 cuts the DC component of the output of the waveform shaping circuit 2. The quadrature modulator 4 sets the output of the waveform shaping circuit 2 to an arbitrary frequency. The arbitrary frequency (160 MHz in the first embodiment) is generated by the oscillator 5 and output to the quadrature modulator 4. The output signal of the quadrature modulator 4 is input to the multiplier 7 via the attenuator 6 and the frequency of the oscillation circuit 9 (1.74 GHz in the first embodiment).
And the center frequency is a signal in the use band of 1.9 GHz. The signal is band-limited by the bandpass filter 8 and output.

【0015】(動作説明)図2は、図1のくし状スペク
トル信号発生器の、、の各ポイントの波形を示
す。はPN信号発生器1の出力波形のアイパーン(左
側)とスペクトル(右側)、は波形成形回路2の出力
波形アイパーン(左側)とスペクトル(右側)である。
PN信号発生器1の出力段は理想的でないため、波形歪
が生じる。それを波形成形回路2に入力することにより
理想的な波形となる。は直交変調器4の出力波形の出
力波形であり、CENTER(中心周波数)=160.
000MHz、SPAN(画面の周波数幅)=3.00
MHzに設定されている。つまり、300KHz間隔に
スペクトル信号が発生し、中心周波数160.000M
Hzの出力レベルが低いことが判る。
(Explanation of Operation) FIG. 2 shows waveforms at points of and in the comb-shaped spectrum signal generator of FIG. Is the output waveform eyepan (left side) and spectrum (right side) of the PN signal generator 1, and is the output waveform eyepan (left side) and spectrum (right side) of the waveform shaping circuit 2.
Since the output stage of the PN signal generator 1 is not ideal, waveform distortion occurs. By inputting it into the waveform shaping circuit 2, an ideal waveform is obtained. Is an output waveform of the output waveform of the quadrature modulator 4, and CENTER (center frequency) = 160.
000MHz, SPAN (screen frequency width) = 3.00
It is set to MHz. That is, a spectrum signal is generated at 300 KHz intervals, and the center frequency is 160.000M.
It can be seen that the output level of Hz is low.

【0016】図3は、PN信号発生器1のブロック図を
示す。シフトレジスタ1aへのクロックFckによってコ
ムジェネレータのスペクトル間隔が決まる。本実施例の
シフトレジスタ1aは、7段PNで構成し、そのクロッ
クを38.1MHzとした。そのためスペクトル間隔
は、38.1MHz/127=300KHzとなる。ま
た、38.1MHzのクロック発生器を、PLL(Ph
ase LockedLoop:位相同期ループ)回路
で構成しているため、周波数安定が図れる。
FIG. 3 shows a block diagram of the PN signal generator 1. The spectral interval of the comb generator is determined by the clock F ck to the shift register 1a. The shift register 1a of the present embodiment is composed of 7-stage PN and its clock is 38.1 MHz. Therefore, the spectrum interval is 38.1 MHz / 127 = 300 KHz. Also, a 38.1 MHz clock generator is used for the PLL (Ph
Since it is composed of an as Locked Loop (phase locked loop) circuit, frequency stability can be achieved.

【0017】そのPLL回路の位相比較器1bの一方の
入力は、周波数9.6MHzの発振器1cの出力を分周
器1dで分周した300KHz信号とする。他方の入力
は、M系列に周期はn=2k −1なので全てが1になる
のも127回に一回となる。よって、1検出器1eの出
力の周波数は38.1MHz/127=300KHzと
なる。その300KHz信号の位相差信号を、ローパス
フィルタ1fを介して、電圧制御発振器(VCO)1g
に入力する。そのVCO1gの出力波形を、波形成形器
1hで成形し、シフトレジスタ1aへのクロックFck
する。
One input of the phase comparator 1b of the PLL circuit is a 300 KHz signal obtained by dividing the output of the oscillator 1c having a frequency of 9.6 MHz by the frequency divider 1d. The other input has a period of n = 2 k −1 for the M sequence, so that all of them become 1 once in 127 times. Therefore, the frequency of the output of the one detector 1e is 38.1 MHz / 127 = 300 KHz. The phase difference signal of the 300 KHz signal is passed through the low-pass filter 1f and the voltage controlled oscillator (VCO) 1g.
To enter. The output waveform of the VCO 1g is shaped by the waveform shaper 1h and used as the clock F ck to the shift register 1a.

【0018】もしシフトレジスタ1aの出力が全て零に
なってしまうと、そのままの状態で保持されてしまい、
誤動作となる。そのため、零検出器1iで、オール零を
検出し、シフトレジスタ1aを強制リセットする。
If all the outputs of the shift register 1a become zero, they are held as they are,
It will malfunction. Therefore, the zero detector 1i detects all zeros and forcibly resets the shift register 1a.

【0019】(直交変調器の説明)また、直交変調器4
への入力を交流結合にしているため、DC成分の影響が
ない。直交変調器4によりI成分とQ成分に分離する。
そのため、I成分とQ成分を独立して制御しキャリアリ
ークの除去を行うことができる。この乗算器4a、4b
は、通常平衡形の交叉結合差動段で構成され、各素子の
バランスがとれていると、キャリアを抑圧するように作
用する。しかし、各素子のバラツキ等があるため、バイ
アス回路4c、バイアス回路4dでバイアス電流をかけ
キャリアリークを除去している。図4を用いて、この原
理を説明する。I成分のみの制御だと、+bが残ってし
まう。しかし、I成分とQ成分を独立に制御することに
よりAベクトルを零にすることができる。つまり、I成
分とQ成分を制御し、−a、−b成分をつくりだすこと
により、Aベクトルが零となる。
(Description of Quadrature Modulator) Further, the quadrature modulator 4
Since the input to is AC coupled, there is no influence of the DC component. The quadrature modulator 4 separates the I component and the Q component.
Therefore, the carrier leak can be removed by controlling the I component and the Q component independently. This multiplier 4a, 4b
Is normally composed of a balanced cross-coupled differential stage, and acts to suppress carriers when each element is balanced. However, since there are variations in each element, a bias current is applied by the bias circuits 4c and 4d to remove carrier leak. This principle will be described with reference to FIG. If only the I component is controlled, + b will remain. However, the A vector can be made zero by controlling the I and Q components independently. That is, the A vector becomes zero by controlling the I and Q components and creating the -a and -b components.

【0020】(第1の実施例の効果)PN信号発生器1
はPLL回路を構成しているため、周波数の安定化が図
られている。直交変調器4への入力を交流結合としてい
るため、DC成分の影響がない。また直交変調器4によ
りI成分とQ成分に分離しているため、I成分とQ成分
を独立して制御することによりキャリアリークを除去で
きる。また、発振器5の周波数を可変することにより、
中心周波数を任意の周波数に設定ができる。また、周波
数間隔を変更するには、PN信号発生器1内のシフトレ
ジスタ1aの段数、またはPLL回路の周波数Fckを変
更することにより可能となる。
(Effect of First Embodiment) PN signal generator 1
Since the PLL circuit constitutes a PLL circuit, the frequency is stabilized. Since the input to the quadrature modulator 4 is AC coupled, there is no influence of the DC component. Further, since the I component and the Q component are separated by the quadrature modulator 4, the carrier leak can be removed by controlling the I component and the Q component independently. Also, by changing the frequency of the oscillator 5,
The center frequency can be set to any frequency. Further, the frequency interval can be changed by changing the number of stages of the shift register 1a in the PN signal generator 1 or the frequency F ck of the PLL circuit.

【0021】なお、PN信号発生器1は、くし状スペク
トル信号発生器を使用する装置の特性に応じた安定性が
あれば、LC発振回路、RC発振回路、水晶発振回路で
もよい。
The PN signal generator 1 may be an LC oscillating circuit, an RC oscillating circuit, or a crystal oscillating circuit as long as it is stable according to the characteristics of the device using the comb-shaped spectrum signal generator.

【0022】〔試験装置への適用〕図5は、請求項1の
発明を利用した、受験機器10の所定のチャンネルのお
ける送信・受信機能を試験するキャリアセンス試験装置
を示す概念図である。移動体通信のTDMの通信フォー
マットを図6(a)に示す。5msecを1フレームと
して、1フレームを下り4スロット、上り4スロット分
割している。制御用スロットは、下りの1スロット目に
割り当てられている。その制御用スロットにくし状スペ
クトル信号発生器の出力を受験機器10に出力しない手
段が必要となる。
[Application to Testing Device] FIG. 5 is a conceptual diagram showing a carrier sense testing device for testing the transmitting / receiving function of a predetermined channel of the device under test 10 utilizing the invention of claim 1. The communication format of TDM for mobile communication is shown in FIG. One frame is made up of 5 msec, and one frame is divided into four downlink slots and four uplink slots. The control slot is assigned to the first downlink slot. A means for not outputting the output of the comb-shaped spectrum signal generator to the device under test 10 is required in the control slot.

【0023】試験器11からのフレーム信号に同期し
て、図6(b)に示す1スロット(625μsec)
間、受験機器10の入力端をくし状スペクトル信号発生
器12の出力端から切離し、試験器11側に接続する。
フレーム信号を検出することにより、制御用周波数の1
波を除くことができる。また、くし状スペクトル信号発
生器12の出力は、試験周波数が除かれているので、キ
ャリアセンスの試験に使用可能となる。
One slot (625 μsec) shown in FIG. 6B is synchronized with the frame signal from the tester 11.
During this period, the input end of the device under test 10 is separated from the output end of the comb-shaped spectrum signal generator 12 and connected to the tester 11 side.
By detecting the frame signal, the control frequency of 1
You can remove the waves. Further, the output of the comb-shaped spectrum signal generator 12 can be used for the carrier sense test because the test frequency is removed.

【0024】図7は、従来のキャリアセンス試験装置の
多チャンネル信号発生器に請求項2の発明を取り入れた
ブロック図である。受験機器10と回線接続する試験器
11と、試験するチャンネルに中心周波数を設定した前
記請求項1記載のくし状スペクトル信号発生器12と、
該くし状スペクトル信号発生器12の出力と試験器11
の信号を混合し受験機器10に出力する混合器13と、
試験器11からの信号を受信しフレーム信号を検出する
フレーム信号検出部14と、該フレーム信号を検出した
とき受験機器10をくし状スペクトル信号発生器12か
ら切り離なす切替部15とを備えた。
FIG. 7 is a block diagram in which the invention of claim 2 is incorporated into a multi-channel signal generator of a conventional carrier sense test apparatus. A tester 11 for line-connecting with the device under test 10, a comb-shaped spectrum signal generator 12 according to claim 1, wherein a center frequency is set for a channel to be tested.
Output of the comb-shaped spectrum signal generator 12 and tester 11
A mixer 13 that mixes the signals of and outputs to the test device 10,
A frame signal detection unit 14 that receives a signal from the tester 11 and detects a frame signal, and a switching unit 15 that disconnects the device under test 10 from the comb-shaped spectrum signal generator 12 when the frame signal is detected are provided. .

【0025】図7を用いて、測定操作手順を説明する。 (1)受験機器10を、試験器11との間で回線接続
し、受信状態にする。 (2)多チャンネル信号発生器16の出力を、受験機器
10の入力電圧にして200μV程度になるように設定
し、制御用周波数の1波および試験周波数以外の周波数
で電波の発射ができないようにする。 (3)試験周波数でπ/4シフトQPSK変調の標準符
号化試験信号を送信する、標準信号発生器17の出力を
最低限にする。 (4)受験機器10と試験器11との間で回線接続し、
試験周波数の電波が発射されることをスペクトラムアナ
ライザ18で確認する。この場合、発射された電波の周
波数が試験周波数であることをスペクトラムアナライザ
18のピークサーチ機能で確認する。 (5)受験機器10を受信状態にする。 (6)標準信号発生器17の出力を、受験機器10の入
力電圧にして110μVに設定し、受験機器10から電
波が発射されないことをスペクトラムアナライザ18で
確認する。
The measurement operation procedure will be described with reference to FIG. (1) The device under test 10 is connected to the tester 11 by a line and put in a receiving state. (2) The output of the multi-channel signal generator 16 is set to about 200 μV as the input voltage of the device under test 10 so that radio waves cannot be emitted at frequencies other than one control frequency and the test frequency. To do. (3) Minimize the output of the standard signal generator 17, which transmits the standard encoded test signal of π / 4 shift QPSK modulation at the test frequency. (4) Connect a line between the device under test 10 and the tester 11,
It is confirmed by the spectrum analyzer 18 that radio waves of the test frequency are emitted. In this case, the peak search function of the spectrum analyzer 18 confirms that the frequency of the emitted radio wave is the test frequency. (5) Put the device under test 10 in the receiving state. (6) The output of the standard signal generator 17 is set to 110 μV as the input voltage of the device under test 10 and the spectrum analyzer 18 confirms that no radio wave is emitted from the device under test 10.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように請求項1のくし状ス
ペクトル信号発生器によれば、PN信号発生器1で発生
した線スペクトルを直交変調器4に入力する。そのた
め、その中心周波数を発振器5の周波数に設定でき、そ
の設定周波数のレベルをさらに低減することができる。
また、発振器5の周波数を可変することにより、出力信
号の中心周波数を任意の周波数に設定できる。
As described above, according to the comb spectrum signal generator of the first aspect, the line spectrum generated by the PN signal generator 1 is input to the quadrature modulator 4. Therefore, the center frequency can be set to the frequency of the oscillator 5, and the level of the set frequency can be further reduced.
Further, the center frequency of the output signal can be set to an arbitrary frequency by changing the frequency of the oscillator 5.

【0027】また、請求項2のキャリアセンス試験装置
によれば、請求項1のくし状スペクトル信号発生器を利
用することにより、出力レベルが低くなる中心周波数
を、任意に設定できる。つまり、任意のチャンネルにお
けるキャリアセンスの試験が可能となる。
According to the carrier sense test apparatus of the second aspect, by using the comb spectrum signal generator of the first aspect, the center frequency at which the output level becomes low can be arbitrarily set. That is, it becomes possible to test carrier sense in an arbitrary channel.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】請求項1の第1の実施例を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of claim 1. FIG.

【図2】第1の実施例を示すブロック図の各出力信号の
波形図である。
FIG. 2 is a waveform diagram of each output signal of the block diagram showing the first embodiment.

【図3】第1の実施例のPN信号発生器の詳細を示すブ
ロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing details of the PN signal generator of the first embodiment.

【図4】第1の実施例の直交変調器でキャリアリークを
低減する動作を説明する図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating an operation for reducing carrier leak in the quadrature modulator according to the first embodiment.

【図5】請求項2のキャリアセンス試験装置の制御用周
波数を除く制御手段の説明するための概念図である。
FIG. 5 is a conceptual diagram for explaining control means of the carrier sense test apparatus of claim 2 excluding the control frequency.

【図6】移動体通信のTDMの通信フォーマット図であ
る。
FIG. 6 is a communication format diagram of TDM for mobile communication.

【図7】請求項2のキャリアセンス試験装置のブロック
図である。
FIG. 7 is a block diagram of the carrier sense test apparatus of claim 2;

【図8】PN波形の電力スペクトルを示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a power spectrum of a PN waveform.

【図9】従来のキャリアセンス試験装置のブロック図で
ある。
FIG. 9 is a block diagram of a conventional carrier sense test apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…PN信号発生器、2…波形成形回路、4…直交変調
器、4c…バイアス回路、4d…バイアス回路、5…発
振器、10…受験機器、11…試験器、12…くし状ス
ペクトル信号発生器、13…混合器、14…フレーム信
号検出部、15…切替部。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... PN signal generator, 2 ... Waveform shaping circuit, 4 ... Quadrature modulator, 4c ... Bias circuit, 4d ... Bias circuit, 5 ... Oscillator, 10 ... Test equipment, 11 ... Tester, 12 ... Comb spectrum signal generation Container, 13 ... Mixer, 14 ... Frame signal detection unit, 15 ... Switching unit.

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 所定の周波数間隔で線スペクトルを発生
するPN信号発生器(1)と、 該PN信号発生器の出力波形を成形する波形成形回路
(2)と、該波形成形回路の出力の直流成分をカットするコンデン
サ(3)と、 任意の周波数の信号を出力する発振器(5)と、平衡形の交互結合差動段で構成された2個の乗算器(4
a、4b)と、その乗算器のそれぞれ接続し、バイアス
電流をかけてキャリアリークを除去するために 同相成分
(I成分)を調整するバイアス回路(4c)および直交
成分(Q成分)を調整するバイアス回路(4d)を有
し、かつ前記発振器の出力する任意の周波数の信号を入
力し、前記コンデンサを介して入力された前記波形成形
回路の出力する複数の線スペクトルの中心周波数を、前
記任意の周波数に設定する直交変調器(4)とを備えた
くし状スペクトル信号発生器。
1. A PN signal generator (1) for generating a line spectrum at a predetermined frequency interval, a waveform shaping circuit (2) for shaping an output waveform of the PN signal generator, and an output of the waveform shaping circuit . Condenser that cuts DC component
(3), an oscillator (5) for outputting a signal of an arbitrary frequency, and two multipliers (4) composed of a balanced type alternating coupling differential stage.
a, 4b) and their multipliers, respectively, and bias
And a bias circuit for adjusting the bias circuit for adjusting the phase component (I component) in order to remove the carrier leak (4c) and quadrature component (Q component) (4d) over the current, and the output of said oscillator Input signal of any frequency
Force and the waveform shaping input through the capacitor
The center frequencies of the multiple line spectra output by the circuit are
And a quadrature modulator (4) for setting an arbitrary frequency
Comb spectrum signal generator.
【請求項2】受験機器(10)の所定のチャンネルにお
ける送信・受信機能を試験するキャリアセンス試験装置
であって、前記受験機器と回線接続する試験器(11)
と、試験するチャンネルに中心周波数を設定した前記請
求項1記載のくし状スペクトル信号発生器(12)と、
該くし状スペクトル信号発生器の出力と前記試験器の信
号を混合し前記受験機器に出力する混合器(13)と、
前記試験器からの信号を受信しフレーム信号を検出する
フレーム信号検出部(14)と、該フレーム信号を検出
したとき前記受験機器を前記くし状スペクトル信号発生
器から切り離なす切替部(15)とを備えたキャリアセ
ンス試験装置。
Wherein examination apparatus (10) of a carrier sense test apparatus for testing a transmission and receiving function in a given channel, the examination device and tester for line connection (11)
A comb-shaped spectrum signal generator (12) according to claim 1, wherein a center frequency is set for the channel to be tested,
Mixer for output to the examination device by mixing a signal output to the tester of the comb-shaped spectrum signal generator (13),
Frame signal detector for detecting a frame signal to receive a signal from the tester (14) and, the said examination device when detecting the frame signal comb spectrum signal generator from cut away form the switching unit (15) And a carrier sense test device provided with.
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