JP3357703B2 - sensor - Google Patents

sensor

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JP3357703B2
JP3357703B2 JP6643293A JP6643293A JP3357703B2 JP 3357703 B2 JP3357703 B2 JP 3357703B2 JP 6643293 A JP6643293 A JP 6643293A JP 6643293 A JP6643293 A JP 6643293A JP 3357703 B2 JP3357703 B2 JP 3357703B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、遮光物の有無を確認す
るためのセンサーおよびこれに用いるスリットの製造方
法に係り、特に、X線診断装置や核医学診断装置などに
用いられる非接触型センサーに好適なセンサーに関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sensor for confirming the presence or absence of a light-shielding material and a method of manufacturing a slit used in the sensor, and more particularly, to a non-contact type used in an X-ray diagnostic apparatus or a nuclear medicine diagnostic apparatus. The present invention relates to a sensor suitable for a sensor.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、同一平面上に所定の間隔を設け
て、一方に発光センサーをN個並べ、それと対向した位
置に受光センサーをそれぞれ並べて、発光センサー側か
らの光を受光センサーでキャッチできた場合は両センサ
ー間に遮光物は無しと判断し、また、キャッチできなか
った場合は遮光物有りと判断する産業用センサーが一般
的に利用されている。その概略を図11に示す。図11
において、同一平面上に発光センサー(1、2、…N)
を配置し、これと所定の間隔を設けて受光センサー
(1、2、…N)を設置する。発光センサー1からの光
を受光センサー1で受光し、発光センサーMの光を受光
センサーMで受光し、発光センサーNの光を受光センサ
ーNで受光する。従って、光軸は破線で示すようにそれ
ぞれ平行になる。そして、このセンサー内に遮光物1が
存在するとその部分に対応する受光センサーMが発光セ
ンサーMの光を受光しないので、遮光物1の有無が判断
できる。発光センサーおよび受光センサーは制御器2に
よって動作し、得られた遮光物有無の信号は用途に応じ
てそれぞれの分野で利用される。発光センサーおよび受
光センサーの設置される平面は、鉛直方向の平面の場
合、水平方向面の場合のいずれも利用分野に応じて存在
する。
2. Description of the Related Art Conventionally, a predetermined interval is provided on the same plane, N light-emitting sensors are arranged on one side, and light-receiving sensors are arranged at positions opposing each other, so that light from the light-emitting sensor side can be caught by the light-receiving sensor. In general, an industrial sensor is used in which it is determined that there is no light-shielding material between the two sensors when there is no light-shielding object. The outline is shown in FIG. FIG.
, Light emitting sensors (1, 2,... N) on the same plane
Are arranged, and a light receiving sensor (1, 2,... N) is installed at a predetermined distance from this. The light from the light emitting sensor 1 is received by the light receiving sensor 1, the light from the light emitting sensor M is received by the light receiving sensor M, and the light from the light emitting sensor N is received by the light receiving sensor N. Therefore, the optical axes are respectively parallel as shown by the broken lines. When the light shielding material 1 exists in the sensor, the light receiving sensor M corresponding to the portion does not receive the light of the light emitting sensor M, so that the presence or absence of the light shielding material 1 can be determined. The light-emitting sensor and the light-receiving sensor are operated by the controller 2, and the obtained signal indicating the presence or absence of a light blocking object is used in each field according to the application. The plane on which the light-emitting sensor and the light-receiving sensor are installed is either a vertical plane or a horizontal plane, depending on the field of use.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
この種の産業用センサーでは、図12に示すように、発
光センサーおよび受光センサーの隣接した部所に光を反
射する平面体が存在すると、その平面体からの反射光や
散乱光により遮光物を正確に検知できない場合がある。
このような反射体に隣接した環境下では、危険予知や非
接触型センサーなどにこれらのセンサーを使用できない
という問題がある。図13は発光センサーおよび受光セ
ンサーの設置方向と垂直方向に床や壁などの反射体が存
在する場合を示すものであり、床や壁などに反射・散乱
した光によって主に反射体に近接するセンサーが異常を
きたす。これに対し、医療用のガンマカメラなどのよう
に、ガンマカメラの両端に発光センサーおよび受光セン
サーを取り付け、患者(遮光物)を検知するものにあっ
ては、センサーの設置方向と平行にガンマカメラ(反射
体)が存在するので、反射光や散乱光による影響は全セ
ンサーに及び、誤動作により患者に突き当たってしまっ
たり、装置が停止してしまったりする問題点がある。
However, in a conventional industrial sensor of this type, as shown in FIG. 12, when a light-reflecting plane and a light-reflecting sensor are located adjacent to each other, as shown in FIG. In some cases, a light-shielding object cannot be accurately detected due to reflected light or scattered light from a flat body.
In an environment adjacent to such a reflector, there is a problem that these sensors cannot be used for danger prediction or non-contact type sensors. FIG. 13 illustrates a case where a reflector such as a floor or a wall is present in a direction perpendicular to the installation direction of the light-emitting sensor and the light-receiving sensor. Abnormal. On the other hand, such as medical gamma cameras, which have a light-emitting sensor and a light-receiving sensor attached to both ends of the gamma camera to detect a patient (shade), the gamma camera is parallel to the sensor installation direction. Because of the presence of the (reflector), the influence of the reflected light or the scattered light affects all the sensors, and there is a problem in that the sensor hits the patient due to a malfunction or the device stops.

【0004】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、隣接した位置に反射体が存在しても
その影響を受けることなく遮光物の検知が可能なセンサ
ーを提供することにある。本発明の別の目的は、このセ
ンサーに用いられ簡便かつ有効に反射光や散乱光の影響
を除去し得るスリットの製造方法を提供することにあ
る。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a sensor capable of detecting a light-shielding object without being affected by a reflector even if an adjacent reflector is present. It is in. Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing a slit which can be used for this sensor and can easily and effectively remove the influence of reflected light and scattered light.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の発明は、複数の発光素子と前記発光素子
と同数の受光素子を同一平面上に所定の間隔を設けてそ
れぞれ対向して配置したセンサーにおいて、前記発光素
子のうち1の発光素子に対向する位置にある対向受光素
で受光した信号及び前記受光素子に隣接する位置にあ
隣接受光素子で受光した信号の両信号に基づいて、前
記発光素子及び前記対向受光素子の故障をそれぞれ区別
して検出可能な故障検出手段を備えたことを特徴とす
る。
In order to achieve the above object, according to a first aspect of the present invention, a plurality of light emitting elements and the same number of light receiving elements as the light emitting elements are opposed to each other at a predetermined interval on the same plane. in the sensor placed in, the two signals of the signal received by the adjacent receiving element in a position adjacent to the light receiving signal and the light receiving element in the opposing light receiving element in a position facing the first light emitting element of the light emitting element And a failure detecting means capable of separately detecting a failure of the light emitting element and a failure of the opposite light receiving element based on the failure.

【0006】また、請求項2の発明は、n個の発光素子
(L1〜Ln)とこれと同数の受光素子(D1〜Dn)
を同一平面上に所定の間隔を設けてそれぞれ対向して配
置したセンサーにおいて、L1が発光すると、D1、D
2で受光し、L2が発光すると、D1、D2、D3で受
光し、Lmが発光すると、D(m−1)、Dm、D(m
+1)で受光し、Lnが発光すると、D(n−1)、D
nで受光するようにしておいて、遮光物が存在しない状
態で発光素子(L1〜Ln)を特定のタイミングで1ス
キャン分発光させた場合と1スキャン分発光させない場
合を組み合わせることによって各受光素子および各発光
素子の故障をそれぞれ区別して検出できるようにしたこ
とを特徴とする。
Further, according to the present invention, the n light emitting elements (L1 to Ln) and the same number of light receiving elements (D1 to Dn) are provided.
Are disposed on the same plane at predetermined intervals, and are opposed to each other. When L1 emits light, D1, D
2, when L2 emits light, D1, D2, and D3 receive light. When Lm emits light, D (m-1), Dm, and D (m
+1), and when Ln emits light, D (n-1), D (n-1)
n, and the light emitting elements (L1 to Ln) emit light for one scan at a specific timing and light emission for one scan are combined in a state where no light-shielding object is present. In addition, a failure of each light emitting element can be detected separately.

【0007】[0007]

【0008】[0008]

【0009】[0009]

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【0012】[0012]

【0013】[0013]

【0014】[0014]

【実施例】以下に、本発明の実施例を図面に基づいて説
明する。なお各実施例において、同一の部材には同一符
号を付してある。図1は、本発明のセンサーの第一実施
例である。図1において、符号3は発光素子であり、こ
の発光素子3は発光制御回路基板4に設置されている。
また、符号5は受光素子であり、この受光素子5は受光
制御回路基板6に設置されている。これら発光素子3お
よび受光素子5は、同一平面上に所定の間隔を設けて対
向して一対または多対配置され、この間に存在する光を
さえぎる物体(遮光物)の有無を検知する。そして、こ
れら発光素子3および受光素子5の前面には、外乱光お
よびセンサーに隣接する平面体(反射体)からの反射光
や散乱光を除去する目的でスリット7がスリット固定部
材8に支持されて配設されている。このスリット7は発
光素子3および受光素子5の少なくとも一方の前面にあ
ればよいが、両方の前面に設けるとより有効である。ま
た、スリットとしては板状のものに多数の穴を開けたも
の、スペーサを介して複数の薄板を重ね合わせたもの、
いずれも用いることができるが、種々検討した結果、図
2に示すようなハニカム状の薄板を用いるのが最適であ
る。なお、図2に示すハニカム状の薄板は、アルミ箔製
でその箔厚は0.04mm、対向する面間距離は約5mm、スリ
ット幅方向の長さは15mmである。箔厚および面間距離
は必要に応じて適宜決め得るが、スリット幅方向の長さ
は5mmから30mm程度、好ましくは10mmから20mmに
するのがよい。このスリット幅方向の長さが短すぎると
上記目的が達成されず、長すぎると装置が大型化して不
適当である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In each embodiment, the same members are denoted by the same reference numerals. FIG. 1 shows a first embodiment of the sensor of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 3 denotes a light emitting element, and the light emitting element 3 is provided on a light emission control circuit board 4.
Reference numeral 5 denotes a light receiving element, which is provided on a light receiving control circuit board 6. The light-emitting element 3 and the light-receiving element 5 are arranged in pairs or in multiple pairs facing each other at a predetermined interval on the same plane, and detect the presence or absence of an object (light-shielding object) that intercepts the light existing between them. On the front surfaces of the light emitting element 3 and the light receiving element 5, a slit 7 is supported by a slit fixing member 8 for the purpose of removing disturbance light and reflected light and scattered light from a flat body (reflector) adjacent to the sensor. It is arranged. The slit 7 may be provided on at least one of the front surfaces of the light emitting element 3 and the light receiving element 5, but it is more effective to provide the slit 7 on both front faces. In addition, as the slit, a plate-shaped one having a large number of holes, a plurality of thin plates laminated via a spacer,
Any of them can be used, but as a result of various studies, it is optimal to use a honeycomb-shaped thin plate as shown in FIG. The honeycomb-shaped thin plate shown in FIG. 2 is made of aluminum foil, the thickness of which is 0.04 mm, the distance between opposing surfaces is about 5 mm, and the length in the slit width direction is 15 mm. The thickness of the foil and the distance between the surfaces can be determined as required, but the length in the slit width direction is preferably about 5 mm to 30 mm, and more preferably 10 mm to 20 mm. If the length in the slit width direction is too short, the above-mentioned object is not achieved, and if it is too long, the apparatus becomes large and unsuitable.

【0015】ここで、ハニカム状の薄板を用いたスリッ
トの製造方法を説明する。図3は、これを説明するため
のもので、まず第一に図2に示すハニカム状のアルミ箔
を用意する。この実施例では図3(a)に示すように、
長さ700mm、高さ(段数)方向の長さ100mm、そし
て、幅方向の長さは15mmのものを用いる。そして、内
部での光の反射や散乱を抑えるために艶消し暗黒色など
に塗装する。次に、図3(b)に示すように、ハニカム
状のアルミ箔の両端を引っ張りながら平板で押し付けて
圧縮する。この時、両端を引っ張りながら圧縮しないと
内部のハニカムが均等に圧縮されないことがあるので注
意を要する。圧縮した結果を図3(c)に示す。この時
点で、図3(d)に示すように、スリットの高さ(段
数)方向の長さを任意の段数にするため必要に応じて適
宜ハニカム状のアルミ箔をはがす。更に、両端を引っ張
りながらスリット固定用の2本の棒板の間にこのハニカ
ム状のアルミ箔を嵌め込む。そして、引っ張りを弛める
とハニカム状のアルミ箔自身のばね力により固定用棒板
に押し付けられて固定する。この状態を図3(e)に示
す。最後に、必要な長さにするために両端を切断してハ
ニカム状のスリットができ上がる。このようなハニカム
状のスリットの製造方法によれば、図4に示す(X2+
X3)とH1およびスリット幅方向の長さX1やX4か
ら発光素子のスリット径Y1や受光素子のスリット径Y
2即ちハニカムの面間距離を決めるが、スリット幅方向
の長さX1やX4およびスリット径Y1やY2は任意に
設計可能である。また、艶消し塗装もやりやすくハニカ
ム状のスリットの段数も任意に決め得る。
Here, a method for manufacturing a slit using a honeycomb-shaped thin plate will be described. FIG. 3 illustrates this, and first, a honeycomb-shaped aluminum foil shown in FIG. 2 is prepared. In this embodiment, as shown in FIG.
The length used is 700 mm, the length in the height (number of steps) is 100 mm, and the length in the width direction is 15 mm. Then, in order to suppress reflection and scattering of light inside, it is painted in matte dark black or the like. Next, as shown in FIG. 3B, the both ends of the honeycomb-shaped aluminum foil are pressed and compressed by a flat plate while pulling both ends. At this time, care must be taken because the internal honeycomb may not be evenly compressed unless both ends are compressed while being pulled. The result of compression is shown in FIG. At this time, as shown in FIG. 3D, the honeycomb-shaped aluminum foil is appropriately peeled off as necessary to make the length in the height (number of steps) direction of the slit an arbitrary number of steps. Further, this honeycomb-shaped aluminum foil is fitted between two slit fixing bars while pulling both ends. Then, when the tension is released, the honeycomb-shaped aluminum foil itself is pressed against and fixed to the fixing bar plate by the spring force of the aluminum foil itself. This state is shown in FIG. Finally, both ends are cut to obtain the required length to form a honeycomb-shaped slit. According to the method for manufacturing such a honeycomb-shaped slit, (X2 +
X3) and H1, and the slit diameter Y1 of the light emitting element and the slit diameter Y of the light receiving element from the lengths X1 and X4 in the slit width direction.
2, that is, the distance between the surfaces of the honeycomb is determined. The lengths X1 and X4 in the slit width direction and the slit diameters Y1 and Y2 can be arbitrarily designed. In addition, the matte coating can be easily performed, and the number of honeycomb-shaped slits can be arbitrarily determined.

【0016】図5は、本発明のセンサーの第二実施例で
ある。図5(a)はその概略断面図であり、図5(b)
はその概略斜視図である。図5(a)において、この実
施例では自然光による影響を少なくするために940nm
の近赤外線用の発光素子3および受光素子5を800mm
離して10mm間隔にn対紙面と垂直方向に直線的に配置
する。発光素子3および受光素子5は、それぞれ発光制
御回路基板4および受光制御回路基板6に設置されてい
る。各素子列の前面にハニカム状のスリット7を配設す
ることによって各素子列と平行に存在する反射体10か
らの反射光や散乱光を除去するようにしている。なお、
符号9は光軸である。これを斜視図で見ると図5(b)
のようになっている。X−Y−Zの座標系でみると、X
−Y平面上に発光素子列11がX軸方向にn対設置さ
れ、これと対向して受光素子列12が設置されている。
それぞれの前面にハニカム状のスリット7とその押さえ
棒板8からなるスリット部13が配設されている。する
と光軸9は、X−Y平面上でY軸方向にn本できること
になる。この場合、反射体10は−Z方向のX−Y平面
に存在し、発光素子3および受光素子5は、X−Y平面
上にあるか、またはX−Y平面上に入ってくる遮光物を
検知することになる。なお、この実施例では上記ハニカ
ム状のスリット製造方法によれば、各受発光素子のスリ
ットを図中のスリット部13のように一体加工が可能で
あり製造が容易であるというメリットがある。
FIG. 5 shows a second embodiment of the sensor according to the present invention. FIG. 5A is a schematic cross-sectional view thereof, and FIG.
Is a schematic perspective view thereof. In FIG. 5A, in this embodiment, 940 nm is used to reduce the influence of natural light.
Light emitting element 3 and light receiving element 5 for near infrared
It is linearly arranged at a distance of 10 mm apart from each other in a direction perpendicular to the paper surface with respect to n. The light emitting element 3 and the light receiving element 5 are provided on a light emitting control circuit board 4 and a light receiving control circuit board 6, respectively. By disposing a honeycomb-shaped slit 7 on the front surface of each element row, reflected light and scattered light from the reflector 10 existing in parallel with each element row are removed. In addition,
Reference numeral 9 denotes an optical axis. FIG. 5B is a perspective view of this.
It is like. In the XYZ coordinate system, X
On the −Y plane, n pairs of light emitting element rows 11 are provided in the X-axis direction, and light receiving element rows 12 are provided opposite to the light emitting element rows 11.
On each front surface, a slit portion 13 composed of a honeycomb-shaped slit 7 and a holding rod plate 8 is provided. Then, n optical axes 9 can be formed in the Y-axis direction on the XY plane. In this case, the reflector 10 exists on the XY plane in the -Z direction, and the light-emitting element 3 and the light-receiving element 5 are arranged on the XY plane or a light-shielding object entering the XY plane. Will be detected. In this embodiment, according to the above-mentioned honeycomb-shaped slit manufacturing method, there is an advantage that the slits of the respective light receiving and emitting elements can be integrally processed like the slit portion 13 in the drawing, and the manufacturing is easy.

【0017】図6は、本発明のセンサーの第三実施例で
ある。この実施例では自然光による影響を少なくするた
めに940nmの近赤外線用の発光素子3および受光素子
5を800mm離して15mm間隔にn対紙面と平行な方向
に直線的に配置する。発光素子3および受光素子5は、
それぞれ発光制御回路基板4および受光制御回路基板6
に設置されている。各素子列の前面にハニカム状のスリ
ット7を短く切断したものを重ねて配設することによっ
て紙面と平行な方向に存在する反射体10からの反射光
や散乱光を除去するようにしている。なお、符号8はス
リット押さえ棒板であり、符号9は光軸である。第二お
よび第三実施例を組み合わせることによってあらゆる方
向からの反射光や散乱光を除去することができる。
FIG. 6 shows a third embodiment of the sensor according to the present invention. In this embodiment, in order to reduce the influence of natural light, the light emitting element 3 and the light receiving element 5 for 940 nm near-infrared light are arranged linearly in a direction parallel to the plane of n at 15 mm intervals at a distance of 800 mm. The light emitting element 3 and the light receiving element 5
Light emission control circuit board 4 and light reception control circuit board 6 respectively
It is installed in. A short cut of a honeycomb-shaped slit 7 is superimposed on the front surface of each element row so as to remove reflected light and scattered light from the reflector 10 existing in a direction parallel to the paper surface. Note that reference numeral 8 denotes a slit pressing bar plate, and reference numeral 9 denotes an optical axis. By combining the second and third embodiments, reflected light and scattered light from all directions can be removed.

【0018】図7は、本発明のセンサーの第四実施例で
ある。この実施例では各受発光素子の前面に必ずしもス
リット7を配設しなくても反射体10からの反射光や散
乱光に影響されることなく遮光物を検知することができ
る。第二実施例を示す図5(b)と同様、図7に示すよ
うに、X−Y平面上に発光素子(L1、L2、…Ln)
列11が設置され、これと対向して受光素子(D1、D
2、…Dn)列12が設置されている。そして、 a)L1が発光すると、破線14で示すようにD1、D2
で受光し、遮光物の有無を検知する。 b)L2が発光すると、実線15で示すようにD1、D
2、D3で受光し、遮光物の有無を検知する。 c)Lmが発光すると、D(m−1)、Dm、D(m+
1)で受光し、遮光物の有無を検知する。 d)L(n−1)が発光すると、D(n−2)、D(n−
1)、Dnで受光し、遮光物の有無を検知する。 e)Lnが発光すると、D(n−1)、Dnで受光し、遮
光物の有無を検知する。 f) a) にもどる。 このa)からf)の動作を高速に繰り返すことで隣り合う受
発光素子の光軸が交差する形で遮光物の検出が可能とな
る。この場合、各発光素子の間隔以下の遮光物の検出も
可能となる。また、第二実施例のように、ハニカム状ス
リット7を併用して反射光や散乱光を除去するようにし
てもよい。
FIG. 7 shows a fourth embodiment of the sensor according to the present invention. In this embodiment, even if the slit 7 is not necessarily provided on the front surface of each light emitting / receiving element, a light shielding object can be detected without being affected by the reflected light or the scattered light from the reflector 10. As in FIG. 5B showing the second embodiment, as shown in FIG. 7, the light emitting elements (L1, L2,... Ln) are arranged on the XY plane.
A row 11 is provided, and light receiving elements (D1, D
2,... Dn) column 12 is provided. A) When L1 emits light, D1 and D2 as shown by the broken line 14
To detect the presence or absence of a light blocking object. b) When L2 emits light, D1, D
2. Light is received by D3, and the presence or absence of a light-shielding object is detected. c) When Lm emits light, D (m-1), Dm, D (m +
The light is received in 1), and the presence or absence of a light blocking object is detected. d) When L (n-1) emits light, D (n-2) and D (n-
1) The light is received by Dn, and the presence or absence of a light shielding object is detected. e) When Ln emits light, it receives light at D (n-1) and Dn, and detects the presence or absence of a light blocking object. f) Return to a). By repeating the operations a) to f) at a high speed, it is possible to detect a light-shielding object in such a manner that the optical axes of the adjacent light emitting and receiving elements cross each other. In this case, it is possible to detect a light-shielding object having a distance equal to or less than the distance between the light-emitting elements. Further, as in the second embodiment, the honeycomb-shaped slit 7 may be used in combination to remove reflected light and scattered light.

【0019】この第四実施例において、上記a)からf)の
動作を繰り返し、各受発光素子の出力を記憶して、実際
の受発光素子の位置と照らし合わせることによって各発
光素子の間隔の精度で遮光物の所在位置を検知すること
ができる。
In the fourth embodiment, the above operations a) to f) are repeated, the output of each light emitting / receiving element is stored, and the position of each light emitting element is compared with the actual position of the light emitting / receiving element. The location of the light-shielding object can be detected with high accuracy.

【0020】また、この第四実施例において、上記a)
からe)の動作をするようにしておいて、遮光物が存在
しない状態で発光素子(L1〜Ln)を特定のタイミン
グで1スキャン分発光させた場合と1スキャン分発光さ
せない場合を組み合わせることによって、各受光素子お
よび各発光素子の故障をそれぞれ区別して検出すること
ができる。例えば、何も受発光素子間に遮光物がない状
態で上記a)からe)の動作を実行して各受発光素子の
遮光物の有無の出力(Pon1〜Ponn)を記憶す
る。次に、 g)L1を発光させないで、D1、D2で受光し遮光物
の有無(Poff1)を検知する。 h)L2を発光させないで、D1、D2、D3で受光し
遮光物の有無(Poff2)を検知する。 i)Lmを発光させないで、D(m−1)、Dm、D
(m+1)で受光し遮光物の有無(Poffm)を検知
する。 j)L(n−1)を発光させないで、D(n−2)、D
(n−1)、Dnで受光し遮光物の有無(Poffn−
1)を検知する。 k)Lnを発光させないで、D(n−1)、Dnで受光
し遮光物の有無(Poffn)を検知する。 同様に、何も受発光素子間に遮光物がない状態で上記
g)からk)の動作を実行して各受発光素子の遮光物の
有無の出力(Poff1〜Poffn)を記憶する。こ
こで、Pon1〜Ponnがすべて遮光物無し出力で、
Poff1〜Poffnが遮光物有り出力であれば、各
素子はすべて正常と判断できる。Pon1〜Ponnが
すべて遮光物無し出力で、Poffm−1・Poffm
・Poffm+1だけが遮光物無し出力であれば、m番
目の受光素子の出力不良と判断できる。Ponmだけが
遮光物有り出力で、Poff1〜Poffnが遮光物有
り出力であれば、m番目の発光素子の発光不良と判断で
きる。Ponm−1・Ponm・Ponm+1だけが遮
光物有り出力で、Poff1〜Poffnが遮光物有り
出力であれば、m番目の受光素子の出力不良と判断でき
る。
In the fourth embodiment, the above a)
To e), the case where the light-emitting elements (L1 to Ln) emit light for one scan at a specific timing and the case where no light is emitted for one scan in a state where no light-shielding object is present are combined. The failure of each light receiving element and each light emitting element can be detected separately. For example, the operations (a) to (e) are executed in a state where there is no light blocking member between the light receiving and emitting elements, and the outputs (Pon1 to Ponn) of the presence or absence of the light blocking member of each light receiving and emitting element are stored. Next, g) light is received by D1 and D2 without detecting light from L1, and the presence or absence of a light shielding object (Poff1) is detected. h) Without emitting light from L2, light is received at D1, D2, and D3 to detect the presence or absence of a light-shielding object (Poff2). i) D (m-1), Dm, D
At (m + 1), light is received and the presence or absence of a light-shielding object (Poffm) is detected. j) D (n-2), D (n-1)
(N-1), presence or absence of a light-shielding object received at Dn (Poffn-
1) is detected. k) While not emitting light from Ln, light is received at D (n-1) and Dn, and the presence or absence of a light shielding object (Poffn) is detected. Similarly, the operations of g) to k) described above are executed in the state where there is no light blocking element between the light receiving and emitting elements, and the outputs (Poff1 to Poffn) of the presence or absence of the light blocking element of each light receiving and emitting element are stored. Here, all of Pon1 to Ponn are outputs without shading,
If Poff1 to Poffn are outputs with a light-shielding material, all the elements can be determined to be normal. Pon1 to Ponn are all outputs without light blocking material, and Poffm-1 · Poffm
If only Poffm + 1 is an output without a light-shielding object, it can be determined that the output of the m-th light receiving element is defective. If only Ponm is a light-blocking output and Poff1 to Poffn is a light-blocking output, it can be determined that the m-th light emitting element is defective. If only Ponm−1, Ponm, and Ponm + 1 are outputs with a light-shielding material, and Poff1 to Poffn are outputs with a light-shielding material, it can be determined that the output of the m-th light receiving element is defective.

【0021】図8は、本発明のセンサーの第五実施例で
ある。この実施例でも各受発光素子の前面に必ずしもス
リット7を配設しなくても反射体10からの反射光や散
乱光に影響されることなく遮光物を検知することができ
る。図7と同様、図8に示すように、X−Y平面上に素
子列16が設置され、これと対向して素子列17が設置
されている。そして、素子列16の両端に発光素子L1
およびL2が配置されその間に受光素子D1〜Dmが配
置されいる。また、対向する素子列17の両端に発光素
子L3およびL4が配置されその間に受光素子d1〜d
mが配置されいる。これらの各素子は次のように動作す
る。 a)L1が発光すると、破線18で示すようにd1〜dm
で同時に受光し遮光物の有無を検知する。 b)L2が発光すると、破線19で示すようにd1〜dm
で同時に受光し遮光物の有無を検知する。 c)L3が発光すると、実線20で示すようにD1〜Dm
で同時に受光し遮光物の有無を検知する。 d)L4が発光すると、実線21で示すようにD1〜Dm
で同時に受光し遮光物の有無を検知する。 e) a) にもどる。 この a) からe)の動作を高速に繰り返すことで遮光物の
検出が可能となる。この場合、各素子の間隔以下の遮光
物の検出も可能となる。また、第二実施例のように、ハ
ニカム状スリット7を併用して反射光や散乱光を除去す
るようにしてもよい。この実施例では第二実施例のよう
なハニカム状スリット7は、素子列方向の光の指向角度
が広くなるので好都合である。なお、この実施例では発
光素子の数が4個の例で説明したが、4つに限らずに実
施可能である。
FIG. 8 shows a fifth embodiment of the sensor according to the present invention. Also in this embodiment, even if the slit 7 is not necessarily provided on the front surface of each light receiving / emitting element, a light shielding object can be detected without being affected by the reflected light or scattered light from the reflector 10. As in FIG. 7, as shown in FIG. 8, an element row 16 is provided on the XY plane, and an element row 17 is provided opposite thereto. The light emitting elements L1 are provided at both ends of the element row 16.
And L2 are arranged, and light receiving elements D1 to Dm are arranged between them. Light emitting elements L3 and L4 are arranged at both ends of the opposing element row 17, and light receiving elements d1 to d
m is arranged. Each of these elements operates as follows. a) When L1 emits light, d1 to dm as shown by the broken line 18
At the same time to detect the presence or absence of a light blocking object. b) When L2 emits light, d1 to dm as shown by the broken line 19
At the same time to detect the presence or absence of a light blocking object. c) When L3 emits light, D1 to Dm as shown by the solid line 20
At the same time to detect the presence or absence of a light blocking object. d) When L4 emits light, as indicated by the solid line 21, D1 to Dm
At the same time to detect the presence or absence of a light blocking object. e) Return to a). By repeating the operations a) to e) at a high speed, it is possible to detect a light-shielding object. In this case, it is possible to detect a light-shielding object having a distance equal to or less than the distance between the elements. Further, as in the second embodiment, the honeycomb-shaped slit 7 may be used in combination to remove reflected light and scattered light. In this embodiment, the honeycomb-shaped slit 7 as in the second embodiment is advantageous because the directivity angle of light in the element row direction is widened. In this embodiment, the example in which the number of light emitting elements is four has been described, but the present invention is not limited to four and can be implemented.

【0022】図9は、本発明のセンサーの第六実施例で
ある。この実施例でも各受発光素子の前面に必ずしもス
リット7を配設しなくても反射体10からの反射光や散
乱光に影響されることなく遮光物を検知することができ
る。この実施例は第五実施例の逆のケースである。図7
と同様、図9に示すように、X−Y平面上に素子列22
が設置され、これと対向して素子列23が設置されてい
る。そして、素子列22の両端に受光素子D1およびD
2が配置されその間に発光素子L1〜Lmが配置されい
る。また、対向する素子列23の両端に受光素子D3お
よびD4が配置されその間に発光素子l1〜lmが配置
されいる。これらの各素子は次のように動作する。 a)L1〜Lmが順次発光し、これを実線24で示すよう
にD3、D4で同時に受光し遮光物の有無を検知する。 b)l1〜lmが順次発光し、これを破線25で示すよう
にD1、D2で同時に受光し遮光物の有無を検知する。 c) a) にもどる。 この a) からc)の動作を高速に繰り返すことで遮光物の
検出が可能となる。この場合、各素子の間隔以下の遮光
物の検出も可能となる。また、第二実施例のように、ハ
ニカム状スリット7を併用して反射光や散乱光を除去す
るようにしてもよい。この実施例でも第二実施例のよう
なハニカム状スリット7は、素子列方向の光の指向角度
が広くなるので好都合である。なお、この実施例では受
光素子の数が4個の例で説明したが、4つに限らずに実
施可能である。
FIG. 9 shows a sixth embodiment of the sensor of the present invention. Also in this embodiment, even if the slit 7 is not necessarily provided on the front surface of each light receiving / emitting element, a light shielding object can be detected without being affected by the reflected light or scattered light from the reflector 10. This embodiment is the reverse case of the fifth embodiment. FIG.
Similarly, as shown in FIG. 9, the element row 22 is placed on the XY plane.
Are provided, and an element row 23 is provided to face this. The light receiving elements D1 and D1 are provided at both ends of the element row 22.
2, light emitting elements L1 to Lm are arranged between them. Light receiving elements D3 and D4 are arranged at both ends of the opposing element row 23, and light emitting elements 11 to lm are arranged between them. Each of these elements operates as follows. a) L1 to Lm sequentially emit light, which are simultaneously received by D3 and D4 as indicated by the solid line 24, and the presence or absence of a light shielding object is detected. b) Il to lm sequentially emit light, and this is simultaneously received at D1 and D2 as indicated by the broken line 25 to detect the presence or absence of a light shielding object. c) Return to a). By repeating the operations a) to c) at a high speed, it is possible to detect a light-shielding object. In this case, it is possible to detect a light-shielding object having a distance equal to or less than the distance between the elements. Further, as in the second embodiment, the honeycomb-shaped slit 7 may be used in combination to remove reflected light and scattered light. Also in this embodiment, the honeycomb-shaped slit 7 as in the second embodiment is advantageous because the directivity angle of light in the element row direction is widened. In this embodiment, an example in which the number of light receiving elements is four has been described, but the present invention is not limited to four and can be implemented.

【0023】図10は、本発明のセンサーの応用例を示
す図である。この応用例では、図5に示す第二実施例
を、図10に示すように、核医学診断装置で用いられる
ガンマカメラに応用した例で説明する。図10におい
て、反射体10であるガンマカメラ26の検出器面27
の両端に発光素子列11が装着され、これと対向して受
光素子列12が装着されている。また、図10には図示
されてないが、それぞれの前面にハニカム状のスリット
7とその押さえ棒板8からなるスリット部13が配設さ
れている。そして、各受発光素子3および5の光軸9が
検出器面27から20mmの高さになるように装着する。
すると光軸9は、検出器面27上でこの面と平行方向に
n本できることになる。よって、検出器面27からの反
射光や散乱光に影響されることなく検出器面27に対し
20mm以内に近づいた物体(患者の体表)の検出ができ
るようになる。この応用によってSPECT(Single P
h0tonEmission C T)の収集時に、前もって軌道を記憶
させておくことなく、患者の体表からガンマカメラ26
を一定の距離に保ちながら画像の収集をすることができ
る。また、全身画像(Whole Body)の収集時にも前もっ
て軌道を記憶させておくことなく、患者の体表に沿うよ
うにガンマカメラ26を移動させながら画像収集をする
ことができる。このように本発明のセンサーを非接触型
センサーとして用いると、前もって軌道を記憶させてお
く必要がなく画像収集動作の中断が減るので、患者一人
当たりの画像収集時間が短くなり、スループットの速度
が早くなり、オペレータの負担を軽減し、装置の信頼性
が向上するメリットがある。また、患者の体表に合わせ
てガンマカメラ26が接近したり離れたりして所定の距
離を保って画像収集できるようになるので、画像の分解
能や解像度が向上するメリットがある。さらに、SPE
CTの収集時に、この非接触型センサーを患者を挟んで
2個設置することにより、患者の体軸の抽出が可能とな
り、良い断層像が得られるというメリットもある。この
応用例では、核医学診断装置で用いられるガンマカメラ
の例で説明したが、これに限らずX線診断装置の非接触
型センサーとしても使用できる。
FIG. 10 is a diagram showing an application example of the sensor of the present invention. In this application example, an example in which the second embodiment shown in FIG. 5 is applied to a gamma camera used in a nuclear medicine diagnostic apparatus as shown in FIG. 10 will be described. In FIG. 10, a detector surface 27 of a gamma camera 26 which is a reflector 10 is shown.
Are mounted at both ends, and light receiving element rows 12 are mounted opposite to the light emitting element rows 11. Further, although not shown in FIG. 10, a honeycomb-shaped slit 7 and a slit portion 13 composed of a holding rod plate 8 are provided on each front face. The light receiving and emitting elements 3 and 5 are mounted so that the optical axis 9 is at a height of 20 mm from the detector surface 27.
Then, n optical axes 9 can be formed on the detector surface 27 in a direction parallel to this surface. Accordingly, an object (body surface of a patient) approaching within 20 mm from the detector surface 27 can be detected without being affected by reflected light or scattered light from the detector surface 27. With this application, SPECT (Single P
When collecting h0tonEmission CT), the gamma camera 26 can be obtained from the patient's body surface without storing the trajectory in advance.
Images can be collected while maintaining a constant distance. In addition, even when the whole body image (Whole Body) is acquired, the image acquisition can be performed while moving the gamma camera 26 along the patient's body surface without storing the trajectory in advance. As described above, when the sensor of the present invention is used as a non-contact type sensor, it is not necessary to memorize the trajectory in advance and the interruption of the image acquisition operation is reduced, so that the image acquisition time per patient is shortened, and the throughput speed is reduced. There is an advantage that the operation speed is reduced, the burden on the operator is reduced, and the reliability of the apparatus is improved. In addition, since the gamma camera 26 can approach and separate according to the patient's body surface and acquire images while maintaining a predetermined distance, there is an advantage that the resolution and resolution of images are improved. In addition, SPE
By installing two non-contact type sensors across the patient during CT acquisition, the patient's body axis can be extracted and a good tomographic image can be obtained. In this application example, an example of a gamma camera used in a nuclear medicine diagnostic apparatus has been described. However, the present invention is not limited to this, and may be used as a non-contact sensor of an X-ray diagnostic apparatus.

【0024】以上、本発明の実施例、応用例について説
明したが本発明は上記実施例、応用例に限定されるもの
ではなく、本発明の要旨の範囲内で適宜変形実施可能で
あることは言うまでもない。
Although the embodiments and application examples of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments and application examples, and it can be appropriately modified and implemented within the scope of the present invention. Needless to say.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、発
光素子および受光素子の故障を特定して検出することに
より、故障に対してスムーズに対応することができる。
As described above, according to the present invention, the failure of the light emitting element and the light receiving element is specified and detected, so that the failure can be dealt with smoothly.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のセンサーの第一実施例である。FIG. 1 is a first embodiment of the sensor of the present invention.

【図2】ハニカム状の薄板の例を示す図である。FIG. 2 is a view showing an example of a honeycomb-shaped thin plate.

【図3】ハニカム状の薄板を用いたスリットの製造方法
を説明するための図である。
FIG. 3 is a diagram for explaining a method for manufacturing a slit using a honeycomb-shaped thin plate.

【図4】ハニカム状スリットの製造方法による効果を説
明するための図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining the effect of the method for manufacturing a honeycomb-shaped slit.

【図5】本発明のセンサーの第二実施例である。FIG. 5 is a second embodiment of the sensor of the present invention.

【図6】本発明のセンサーの第三実施例である。FIG. 6 is a third embodiment of the sensor of the present invention.

【図7】本発明のセンサーの第四実施例である。FIG. 7 is a fourth embodiment of the sensor of the present invention.

【図8】本発明のセンサーの第五実施例である。FIG. 8 is a fifth embodiment of the sensor of the present invention.

【図9】本発明のセンサーの第六実施例である。FIG. 9 is a sixth embodiment of the sensor of the present invention.

【図10】本発明のセンサーの応用例を示す図である。FIG. 10 is a diagram showing an application example of the sensor of the present invention.

【図11】従来技術を説明するための図である。FIG. 11 is a diagram for explaining a conventional technique.

【図12】従来技術の欠点を説明するための図である。FIG. 12 is a diagram for explaining a drawback of the related art.

【図13】従来技術の欠点を説明するための図である。FIG. 13 is a diagram for explaining a drawback of the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 遮光物 2 制御器 3 発光素子 4 発光制御回路基板 5 受光素子 6 受光制御回路基板 7 スリット 8 固定部材 9 光軸 10反射体 11 発光素子列11 12 受光素子列 13 スリット部 14、15、18、19、20、21、24、25 光
軸 16、17、22、23 素子列 26 ガンマカメラ 27 ガンマカメラの検出器面
REFERENCE SIGNS LIST 1 light shielding object 2 controller 3 light emitting element 4 light emitting control circuit board 5 light receiving element 6 light receiving control circuit board 7 slit 8 fixing member 9 optical axis 10 reflector 11 light emitting element row 11 12 light receiving element row 13 slit section 14, 15, 18 , 19, 20, 21, 24, 25 Optical axis 16, 17, 22, 23 Element array 26 Gamma camera 27 Detector surface of gamma camera

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭59−37446(JP,A) 特開 平5−20555(JP,A) 特開 平3−2591(JP,A) 特開 昭57−186186(JP,A) 特開 昭56−98667(JP,A) 特開 昭59−163587(JP,A) 特開 昭54−14079(JP,A) 実開 昭55−105173(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01J 1/00 - 1/60 G01V 9/04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-59-37446 (JP, A) JP-A-5-20555 (JP, A) JP-A-3-2591 (JP, A) JP-A 57-37 186186 (JP, A) JP-A-56-98667 (JP, A) JP-A-59-163587 (JP, A) JP-A-54-14079 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G01J 1/00-1/60 G01V 9/04

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数の発光素子と前記発光素子と同数の
受光素子を同一平面上に所定の間隔を設けてそれぞれ対
向して配置したセンサーにおいて、 前記発光素子のうち1の発光素子に対向する位置にある
対向受光素子で受光した信号及び前記受光素子に隣接す
る位置にある隣接受光素子で受光した信号の両信号に基
づいて、前記発光素子及び前記対向受光素子の故障をそ
れぞれ区別して検出可能な故障検出手段を備えたことを
特徴とするセンサー。
1. A sensor in which a plurality of light emitting elements and the same number of light receiving elements as the light emitting elements are arranged facing each other at a predetermined interval on the same plane, wherein the light emitting element faces one of the light emitting elements. In position
Based on the two signals of the signal received by the adjacent receiving element in a position adjacent to the signal and the light receiving element which is received in the opposing light receiving element, detectable fault detection by the failure of the light emitting element and the facing light receiving elements individually distinguished A sensor comprising means.
【請求項2】 n個の発光素子(L1〜Ln)とこれと
同数の受光素子(D1〜Dn)を同一平面上に所定の間
隔を設けてそれぞれ対向して配置したセンサーにおい
て、 L1が発光すると、D1、D2で受光し、L2が発光す
ると、D1、D2、D3で受光し、Lmが発光すると、
D(m−1)、Dm、D(m+1)で受光し、Lnが発
光すると、D(n−1)、Dnで受光するようにしてお
いて、遮光物が存在しない状態で発光素子(L1〜L
n)を特定のタイミングで1スキャン分発光させた場合
と1スキャン分発光させない場合を組み合わせることに
よって各受光素子および各発光素子の故障をそれぞれ区
別して検出できるようにしたことを特徴とするセンサ
ー。
2. A sensor in which n light-emitting elements (L1 to Ln) and the same number of light-receiving elements (D1 to Dn) are arranged facing each other at a predetermined interval on the same plane, wherein L1 emits light. Then, when light is received at D1, D2 and L2 emits light, light is received at D1, D2, D3, and when Lm emits light,
When light is received by D (m-1), Dm, and D (m + 1), and when Ln emits light, light is received by D (n-1) and Dn. ~ L
A sensor characterized in that a failure of each light-receiving element and each light-emitting element can be detected separately by combining a case where n) is caused to emit light for one scan and a case where light is not emitted for one scan at a specific timing.
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