JP3333469B2 - False image detection method and apparatus, and radiation tomography apparatus - Google Patents

False image detection method and apparatus, and radiation tomography apparatus

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JP3333469B2 JP15972699A JP15972699A JP3333469B2 JP 3333469 B2 JP3333469 B2 JP 3333469B2 JP 15972699 A JP15972699 A JP 15972699A JP 15972699 A JP15972699 A JP 15972699A JP 3333469 B2 JP3333469 B2 JP 3333469B2
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誠 郷野
正健 貫井
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ジーイー横河メディカルシステム株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、偽像検出方法およ
び装置並びに放射線断層撮影装置に関し、特に、再構成
画像に含まれる偽像を検出する方法および装置、並び
に、再構成画像に含まれる偽像を検出する手段を備えた
放射線断層撮影装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and apparatus for detecting a false image and a radiation tomography apparatus, and more particularly to a method and apparatus for detecting a false image contained in a reconstructed image, and a false image contained in the reconstructed image. The present invention relates to a radiation tomography apparatus having a means for detecting an image.

【0002】[0002]

【従来の技術】放射線断層撮影装置の一例として、例え
ば、X線CT(computed tomograph
y)装置がある。X線CT装置においては、放射線とし
てはX線が利用される。X線発生にはX線管が使用され
る。X線管を含むX線照射装置は、撮影範囲を包含する
幅を持ちそれに垂直な方向に所定の厚みを持つX線ビー
ム(beam)を照射する。X線ビームの厚みはコリメ
ータ(collimator)のX線通過開口(アパー
チャ(aperture))の開度を調節することによ
り変更できるようになっており、これによって撮影のス
ライス(slice)厚が調節される。X線は、X線ビ
ームの幅の方向に多数(例えば1000個程度)のX線
検出素子をアレイ(array)状に配列した多チャン
ネル(channel)のX線検出器により検出され
る。
2. Description of the Related Art As an example of a radiation tomography apparatus, for example, an X-ray computed tomography (CT) is used.
y) There is a device. In an X-ray CT apparatus, X-rays are used as radiation. An X-ray tube is used for X-ray generation. An X-ray irradiator including an X-ray tube irradiates an X-ray beam having a width encompassing an imaging range and having a predetermined thickness in a direction perpendicular thereto. The thickness of the X-ray beam can be changed by adjusting the opening of the X-ray passing aperture (aperture) of the collimator, thereby adjusting the thickness of the slice for imaging. . X-rays are detected by a multi-channel X-ray detector in which a large number (for example, about 1000) of X-ray detection elements are arranged in an array in the direction of the width of the X-ray beam.

【0003】X線照射・検出系を撮影対象の周りで回転
(スキャン:scan)させ、撮影対象の周囲の複数の
ビュー(view)方向で、X線による撮影対象のプロ
ジェクションデータ(projection dat
a)をデータ収集装置で収集する。データ収集装置が収
集した複数ビューのプロジェクションデータに基づい
て、データ処理装置により断層像が再構成される。
An X-ray irradiation / detection system is rotated (scanned) around an object to be photographed, and projection data of the object to be photographed by X-rays is projected in a plurality of directions around the object to be photographed.
a) is collected by a data collection device. A tomographic image is reconstructed by the data processing device based on the projection data of a plurality of views collected by the data collection device.

【0004】データ収集装置におけるプロジェクション
データの測定感度はチャンネルごとに異なるので、予め
キャリブレーション(calibration)を行っ
て個々のチャンネルの感度を補正し、再構成画像には感
度不均一による偽像が生じないようにしている。データ
収集装置のキャリブレーションは、X線CT装置の使用
開始後も定期点検時期等に合わせて行い、チャンネル感
度の経時的な変化に対処するようになっている。
[0004] Since the measurement sensitivity of the projection data in the data collection apparatus differs for each channel, calibration is performed in advance to correct the sensitivity of each channel, and a false image due to uneven sensitivity is generated in the reconstructed image. I try not to. Calibration of the data acquisition device is performed even after the start of use of the X-ray CT device at the time of periodic inspection or the like, so as to cope with a temporal change in channel sensitivity.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上記において、次の定
期点検まではキャリブレーションが行われないので、そ
の間にチャンネル感度が変化してもそのまま使用が続け
られ、再構成画像に例えばリングアーチファクト(ri
ng artifact)等の偽像が含まれるようにな
る。その場合、偽像が比較的軽度なうちは発見しにくい
ので、気づかないまま使用を続け、品質劣った撮影を続
けるおそれがあるという問題があった。
In the above, since calibration is not performed until the next periodic inspection, even if the channel sensitivity changes during that period, the use is continued as it is, and for example, a ring artifact (ri) is added to the reconstructed image.
NG artifacts and the like are included. In such a case, it is difficult to detect the false image while the image is relatively mild, so that there is a problem that the photographer may continue to use the camera without noticing it and continue shooting with poor quality.

【0006】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたもので、その目的は、偽像を効果的に検出する方
法および装置、並びに、そのような偽像検出手段を備え
た放射線断層撮影装置を実現することである。
The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide a method and apparatus for effectively detecting a false image, and a radiation tomography provided with such false image detecting means. That is, to realize a photographing device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】(1)上記の課題を解決
する第1の観点での発明は、再構成画像のマトリクス中
心から実質的に等距離のピクセル位置にある画素値の平
均値と前記ピクセル位置を含む帯状領域の画素値の標準
偏差との比に基づいて偽像を検出することを特徴とする
偽像検出方法である。
Means for Solving the Problems (1) According to a first aspect of the invention for solving the above-mentioned problems, an average value of pixel values at pixel positions substantially equidistant from the center of a matrix of a reconstructed image is calculated. A false image detection method, wherein a false image is detected based on a ratio of a pixel value of a band-like region including the pixel position to a standard deviation.

【0008】(2)上記の課題を解決する第2の観点で
の発明は、再構成画像のマトリクス中心から実質的に等
距離のピクセルを外周とする第1の範囲に属する画素値
の平均値を求め、前記再構成画像のマトリクス中心から
実質的に等距離のピクセルを外周とし前記第1の範囲よ
り大きい第2の範囲に属する画素値の平均値を求め、前
記第2の範囲から前記第1の範囲を除いた残りの範囲に
属する画素値の標準偏差を求め、前記第1の画素値の平
均値と前記第2の画素値の平均値の差と前記標準偏差と
の比を求め、前記比に基づいて偽像を検出することを特
徴とする偽像検出方法である。
(2) According to a second aspect of the invention for solving the above-mentioned problems, an average value of pixel values belonging to a first range having pixels substantially equidistant from the center of a matrix of a reconstructed image as an outer periphery is provided. And the average value of pixel values belonging to a second range larger than the first range with pixels substantially equidistant from the center of the matrix of the reconstructed image being determined as an outer periphery, and calculating the second value from the second range. The standard deviation of the pixel values belonging to the remaining range excluding the range of 1 is obtained, and the ratio of the difference between the average value of the first pixel value and the average value of the second pixel value and the standard deviation is obtained. A false image detection method characterized by detecting a false image based on the ratio.

【0009】(3)上記の課題を解決する第3の観点で
の発明は、再構成画像のマトリクス中心から実質的に等
距離のピクセル位置にある画素値の平均値を求める平均
値算出手段と、前記ピクセル位置を含む帯状領域の画素
値の標準偏差を求める標準偏差算出手段と、前記平均値
と前記標準偏差との比に基づいて偽像を検出する偽像検
出手段とを具備することを特徴とする偽像検出装置であ
る。
(3) The invention according to a third aspect for solving the above-mentioned problem is characterized in that an average value calculating means for obtaining an average value of pixel values at pixel positions substantially equidistant from the center of a matrix of a reconstructed image; A standard deviation calculating unit that calculates a standard deviation of a pixel value of a band-like region including the pixel position, and a false image detecting unit that detects a false image based on a ratio between the average value and the standard deviation. This is a false image detection device that is a feature.

【0010】(4)上記の課題を解決する第4の観点で
の発明は、再構成画像のマトリクス中心から実質的に等
距離のピクセルを外周とする第1の範囲に属する画素値
の平均値を求める第1の平均値算出手段と、前記再構成
画像のマトリクス中心から実質的に等距離のピクセルを
外周とし前記第1の範囲より大きい第2の範囲に属する
画素値の平均値を求める第2の平均値算出手段と、前記
第2の範囲から前記第1の範囲を除いた残りの範囲に属
する画素値の標準偏差を求める標準偏差算出手段と、前
記第1の画素値の平均値と前記第2の画素値の平均値の
差と前記標準偏差との比を求める比算出手段と、前記比
に基づいて偽像を検出する偽像検出手段とを具備するこ
とを特徴とする偽像検出装置である。
(4) According to a fourth aspect of the invention for solving the above-mentioned problem, an average value of pixel values belonging to a first range having pixels substantially equidistant from the center of a matrix of a reconstructed image as an outer periphery. A first average value calculating means for calculating the average value of pixel values belonging to a second range larger than the first range and having pixels substantially equidistant from the center of the matrix of the reconstructed image as an outer periphery. 2, an average value calculating means, a standard deviation calculating means for calculating a standard deviation of pixel values belonging to the remaining range excluding the first range from the second range, and an average value of the first pixel values. A false image, comprising: a ratio calculating unit that calculates a ratio between the difference between the average value of the second pixel values and the standard deviation; and a false image detecting unit that detects a false image based on the ratio. It is a detection device.

【0011】(5)上記の課題を解決する第5の観点で
の発明は、放射線による撮影対象の複数ビューのプロジ
ェクションデータを収集するデータ収集手段と、前記プ
ロジェクションデータに基づいて断層像を再構成する画
像再構成手段とを有する放射線断層撮影装置であって、
前記断層像のマトリクス中心から実質的に等距離のピク
セル位置にある画素値の平均値を求める平均値算出手段
と、前記ピクセル位置を含む帯状領域の画素値の標準偏
差を求める標準偏差算出手段と、前記平均値と前記標準
偏差との比に基づいて偽像を検出する偽像検出手段とを
具備することを特徴とする放射線断層撮影装置である。
(5) According to a fifth aspect of the invention for solving the above-mentioned problems, a data collection means for collecting projection data of a plurality of views of an imaging target by radiation, and reconstructing a tomographic image based on the projection data Radiation tomography apparatus having image reconstruction means to perform,
Mean value calculation means for calculating an average value of pixel values at pixel positions substantially equidistant from the matrix center of the tomographic image, and standard deviation calculation means for calculating a standard deviation of pixel values of a band-like region including the pixel position And a false image detecting means for detecting a false image based on a ratio between the average value and the standard deviation.

【0012】(6)上記の課題を解決する第6の観点で
の発明は、放射線による撮影対象の複数ビューのプロジ
ェクションデータを収集するデータ収集手段と、前記プ
ロジェクションデータに基づいて断層像を再構成する画
像再構成手段とを有する放射線断層撮影装置であって、
前記断層像のマトリクス中心から実質的に等距離のピク
セルを外周とする第1の範囲に属する画素値の平均値を
求める第1の平均値算出手段と、前記断層像のマトリク
ス中心から実質的に等距離のピクセルを外周とし前記第
1の範囲より大きい第2の範囲に属する画素値の平均値
を求める第2の平均値算出手段と、前記第2の範囲から
前記第1の範囲を除いた残りの範囲に属する画素値の標
準偏差を求める標準偏差算出手段と、前記第1の画素値
の平均値および前記第2の画素値の平均値の差と前記標
準偏差との比を求める比算出手段と、前記比に基づいて
偽像を検出する偽像検出手段とを具備することを特徴と
する放射線断層撮影装置である。
(6) The invention according to a sixth aspect that solves the above-mentioned problems is a data collection unit that collects projection data of a plurality of views of an imaging target by radiation, and reconstructs a tomographic image based on the projection data. Radiation tomography apparatus having image reconstruction means to perform,
First average value calculation means for calculating an average value of pixel values belonging to a first range having pixels substantially equidistant from the center of the tomographic image as an outer periphery; Second average value calculating means for calculating an average value of pixel values belonging to a second range larger than the first range with pixels at the same distance as an outer periphery, and excluding the first range from the second range. A standard deviation calculating means for calculating a standard deviation of pixel values belonging to the remaining range; and a ratio calculating for calculating a ratio between a difference between an average value of the first pixel value and an average value of the second pixel value and the standard deviation. And a false image detecting means for detecting a false image based on the ratio.

【0013】(7)上記の課題を解決する第7の観点で
の発明は、前記偽像検出手段の偽像検出信号に基づいて
前記データ収集手段のキャリブレーションを行うキャリ
ブレーション手段を具備することを特徴とする(5)ま
たは(6)に記載の放射線断層撮影装置である。
(7) The invention according to a seventh aspect for solving the above-mentioned problem comprises a calibration means for calibrating the data collection means based on a false image detection signal of the false image detection means. (5) or (6).

【0014】(8)上記の課題を解決する第8の観点で
の発明は、前記断層像としてファントムの断層像を用い
ることを特徴とする(5)ないし(7)のうちのいずれ
か1つに記載の放射線断層撮影装置である。
(8) The invention according to an eighth aspect for solving the above-mentioned problems is characterized in that a tomographic image of a phantom is used as the tomographic image. A radiation tomography apparatus according to item 1.

【0015】(9)上記の課題を解決する第9の観点で
の発明は、前記放射線としてX線を用いことを特徴とす
る(5)ないし(8)のうちのいずれか1つに記載の放
射線断層撮影装置である。
(9) The invention according to a ninth aspect for solving the above-mentioned problems is characterized in that X-rays are used as the radiation, as described in any one of (5) to (8). It is a radiation tomography apparatus.

【0016】(作用)本発明では、再構成画像のマトリ
クス中心から実質的に等距離のピクセル位置にある画素
値の平均値とこのピクセル位置を含む帯状領域の画素値
の標準偏差との比に基づいて偽像を検出する。また、再
構成画像のマトリクス中心とその周辺との間の平均画素
値の差と周辺領域の画素値標準偏差との比に基づいて偽
像を検出する。また、偽像検出に伴ってデータ収集装置
のキャリブレーションを行う。
(Operation) In the present invention, the ratio between the average value of the pixel values at pixel positions substantially equidistant from the center of the matrix of the reconstructed image and the standard deviation of the pixel values of the band-like region including this pixel position is calculated. A false image is detected based on this. Further, a false image is detected based on the ratio of the difference between the average pixel value between the center of the matrix of the reconstructed image and the periphery thereof and the pixel value standard deviation of the peripheral region. In addition, the data collection device is calibrated with the detection of the false image.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は実施の形態
に限定されるものではない。図1に放射線断層撮影装置
のブロック(block)図を示す。本装置は本発明の
実施の形態の一例である。本装置の構成によって、本発
明の装置に関する実施の形態の一例が示される。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. Note that the present invention is not limited to the embodiment. FIG. 1 shows a block diagram of the radiation tomography apparatus. This device is an example of an embodiment of the present invention. The configuration of the present apparatus shows an example of an embodiment relating to the apparatus of the present invention.

【0018】図1に示すように、本装置は、走査ガント
リ(gantry)2、撮影テーブル(table)4
および操作コンソール(console)6を備えてい
る。走査ガントリ2は、本発明におけるデータ収集手段
の実施の形態の一例である。走査ガントリ2は、放射線
源としてのX線管20を有する。X線管20から放射さ
れた図示しないX線は、コリメータ22により例えば扇
状のX線ビームすなわちファンビーム(fan bea
m)となるように成形され、検出器アレイ24に照射さ
れる。X線は本発明における放射線の実施の形態の一例
である。検出器アレイ24は、扇状のX線ビームの幅の
方向にアレイ状に配列された複数のX線検出素子を有す
る。検出器アレイ24の構成については後にあらためて
説明する。
As shown in FIG. 1, this apparatus comprises a scanning gantry 2 and a photographing table 4.
And an operation console (console) 6. The scanning gantry 2 is an example of an embodiment of a data collection unit according to the present invention. The scanning gantry 2 has an X-ray tube 20 as a radiation source. The X-rays (not shown) emitted from the X-ray tube 20 are, for example, fan-shaped X-ray beams, that is, fan beams by the collimator 22.
m) and irradiates the detector array 24. X-rays are an example of a radiation embodiment in the present invention. The detector array 24 has a plurality of X-ray detection elements arranged in an array in the direction of the width of the fan-shaped X-ray beam. The configuration of the detector array 24 will be described later.

【0019】X線管20、コリメータ22および検出器
アレイ24は、X線照射・検出装置を構成する。X線照
射・検出装置については後にあらためて説明する。検出
器アレイ24にはデータ収集部26が接続されている。
データ収集部26は検出器アレイ24の個々のX線検出
素子の検出データを収集する。
The X-ray tube 20, collimator 22 and detector array 24 constitute an X-ray irradiation / detection device. The X-ray irradiation / detection device will be described later. A data collection unit 26 is connected to the detector array 24.
The data collection unit 26 collects detection data of the individual X-ray detection elements of the detector array 24.

【0020】X線管20からのX線の照射は、X線コン
トローラ(controller)28によって制御さ
れる。なお、X線管20とX線コントローラ28との接
続関係については図示を省略する。コリメータ22は、
コリメータコントローラ30によって制御される。な
お、コリメータ22とコリメータコントローラ30との
接続関係については図示を省略する。
The irradiation of X-rays from the X-ray tube 20 is controlled by an X-ray controller (controller) 28. The illustration of the connection relationship between the X-ray tube 20 and the X-ray controller 28 is omitted. The collimator 22
It is controlled by the collimator controller 30. The illustration of the connection relationship between the collimator 22 and the collimator controller 30 is omitted.

【0021】以上のX線管20からコリメータコントロ
ーラ30までのものが、走査ガントリ2の回転部32に
搭載されている。回転部32の回転は、回転コントロー
ラ34によって制御される。なお、回転部32と回転コ
ントローラ34との接続関係については図示を省略す
る。
The components from the X-ray tube 20 to the collimator controller 30 are mounted on the rotating unit 32 of the scanning gantry 2. The rotation of the rotation unit 32 is controlled by a rotation controller 34. The illustration of the connection relationship between the rotation unit 32 and the rotation controller 34 is omitted.

【0022】撮影テーブル4は、図示しない撮影対象を
走査ガントリ2のX線照射空間に搬入および搬出するよ
うになっている。撮影対象とX線照射空間との関係につ
いては後にあらためて説明する。
The photographing table 4 is adapted to carry a photographing object (not shown) into and out of the X-ray irradiation space of the scanning gantry 2. The relationship between the imaging target and the X-ray irradiation space will be described later.

【0023】操作コンソール6は、中央処理装置60を
有する。中央処理装置60は、例えばコンピュータ(c
omputer)等によって構成される。中央処理装置
60は、本発明の偽像検出装置の実施の形態の一例であ
る。本偽像検出装置の構成によって、本発明の装置に関
する実施の形態の一例が示される。本偽像検出装置の動
作によって、本発明の方法に関する実施の形態の一例が
示される。
The operation console 6 has a central processing unit 60. The central processing unit 60 is, for example, a computer (c)
and the like. The central processing unit 60 is an example of an embodiment of the false image detection device of the present invention. The configuration of the present false image detecting apparatus shows an example of an embodiment relating to the apparatus of the present invention. The operation of the false image detection apparatus shows an example of an embodiment of the method of the present invention.

【0024】中央処理装置60は、例えばコンピュータ
プログラム(computer program)等に
よって実現される平均値算出手段、第1の平均値算出手
段、第2の平均値算出手段、標準偏差算出手段、比算出
手段、偽像検出手段、画像再構成手段およびキャリブレ
ーション手段を有する。
The central processing unit 60 includes, for example, an average value calculating means, a first average value calculating means, a second average value calculating means, a standard deviation calculating means, and a ratio calculating means which are realized by a computer program or the like. , A false image detecting unit, an image reconstructing unit, and a calibration unit.

【0025】平均値算出手段は、本発明における平均値
算出手段の実施の形態の一例である。第1の平均値算出
手段は、本発明における第1の平均値算出手段の実施の
形態の一例である。第2の平均値算出手段は、本発明に
おける第2の平均値算出手段の実施の形態の一例であ
る。
The average value calculating means is an example of an embodiment of the average value calculating means in the present invention. The first average value calculating means is an example of an embodiment of the first average value calculating means in the present invention. The second average value calculating means is an example of an embodiment of the second average value calculating means in the present invention.

【0026】標準偏差算出手段は、本発明における標準
偏差算出手段の実施の形態の一例である。比算出手段
は、本発明における比算出手段の実施の形態の一例であ
る。偽像検出手段は、本発明における偽像検出手段の実
施の形態の一例である。画像再構成手段は、本発明にお
ける画像再構成手段の実施の形態の一例である。キャリ
ブレーション手段は、本発明におけるキャリブレーショ
ン手段の実施の形態の一例である。
The standard deviation calculating means is an example of an embodiment of the standard deviation calculating means in the present invention. The ratio calculating means is an example of an embodiment of the ratio calculating means in the present invention. The false image detecting means is an example of an embodiment of the false image detecting means in the present invention. The image reconstructing means is an example of an embodiment of the image reconstructing means in the present invention. The calibration means is an example of an embodiment of the calibration means in the present invention.

【0027】中央処理装置60には制御インタフェース
(interface)62が接続されている。制御イ
ンタフェース62には、走査ガントリ2と撮影テーブル
4が接続されている。中央処理装置60は制御インタフ
ェース62を通じて走査ガントリ2および撮影テーブル
4を制御する。
A control interface 62 is connected to the central processing unit 60. The scanning gantry 2 and the imaging table 4 are connected to the control interface 62. The central processing unit 60 controls the scanning gantry 2 and the imaging table 4 through the control interface 62.

【0028】走査ガントリ2内のデータ収集部26、X
線コントローラ28、コリメータコントローラ30およ
び回転コントローラ34が制御インタフェース62を通
じて制御される。なお、それら各部と制御インタフェー
ス62との個別の接続については図示を省略する。
The data collection unit 26 in the scanning gantry 2, X
The line controller 28, collimator controller 30 and rotation controller 34 are controlled through a control interface 62. It should be noted that illustration of individual connections between these units and the control interface 62 is omitted.

【0029】中央処理装置60には、また、データ収集
バッファ64が接続されている。データ収集バッファ6
4には、走査ガントリ2のデータ収集部26が接続され
ている。データ収集部26で収集されたデータがデータ
収集バッファ64に入力される。データ収集バッファ6
4は、入力データを一時的に記憶する。
A data collection buffer 64 is also connected to the central processing unit 60. Data collection buffer 6
4 is connected to the data collection unit 26 of the scanning gantry 2. The data collected by the data collection unit 26 is input to the data collection buffer 64. Data collection buffer 6
4 temporarily stores the input data.

【0030】中央処理装置60は、データ収集バッファ
64を通じて収集した複数ビューのプロジェクションデ
ータに基づいて画像再構成を行う。画像再構成には、例
えばフィルタード・バックプロジェクション(filt
ered back projection)法等が用
いられる。中央処理装置60には、また、記憶装置66
が接続されている。記憶装置66は、各種のデータや再
構成画像およびプログラム等を記憶する。
The central processing unit 60 performs image reconstruction based on the projection data of a plurality of views collected through the data collection buffer 64. Image reconstruction includes, for example, filtered back projection (filt).
For example, an erased back projection method is used. The central processing unit 60 also has a storage device 66.
Is connected. The storage device 66 stores various data, reconstructed images, programs, and the like.

【0031】中央処理装置60には、また、表示装置6
8と操作装置70がそれぞれ接続されている。表示装置
68は、中央処理装置60から出力される再構成画像や
その他の情報を表示する。操作装置70は、操作者によ
って操作され、各種の指示や情報等を中央処理装置60
に入力する。
The central processing unit 60 also includes a display device 6
8 and the operating device 70 are connected to each other. The display device 68 displays a reconstructed image output from the central processing unit 60 and other information. The operation device 70 is operated by an operator and transmits various instructions and information to the central processing unit 60.
To enter.

【0032】図2に、検出器アレイ24の模式的構成を
示す。検出器アレイ24は、多数のX線検出素子24
(i)を配列した、多チャンネルのX線検出器となって
いる。多数のX線検出素子24(i)は、全体として、
円筒凹面状に湾曲したX線入射面を形成する。iはチャ
ンネル番号であり例えばi=1〜1000である。
FIG. 2 shows a schematic configuration of the detector array 24. The detector array 24 includes a large number of X-ray detection elements 24.
This is a multi-channel X-ray detector in which (i) is arranged. The large number of X-ray detection elements 24 (i)
An X-ray incident surface curved in a cylindrical concave shape is formed. i is a channel number, for example, i = 1 to 1000.

【0033】X線検出素子24(i)は、例えばシンチ
レータ(scintillator)とフォトダイオー
ド(photo diode)の組み合わせによって構
成される。なお、これに限るものではなく、例えばカド
ミウム・テルル(CdTe)等を利用した半導体X線検
出素子、あるいは、キセノンガス(Xe gas)を利
用した電離箱型のX線検出素子であって良い。
The X-ray detecting element 24 (i) is constituted by, for example, a combination of a scintillator and a photodiode (photodiode). The present invention is not limited to this, and may be, for example, a semiconductor X-ray detection element using cadmium tellurium (CdTe) or the like, or an ionization box type X-ray detection element using xenon gas (Xe gas).

【0034】図3に、X線照射・検出装置におけるX線
管20、コリメータ22および検出器アレイ24の相互
関係を示す。なお、図3の(a)は正面から見た状態を
示す図、(b)は側面から見た状態を示す図である。同
図に示すように、X線管20から放射されたX線は、コ
リメータ22により扇状のX線ビーム40となるように
成形され、検出器アレイ24に照射されるようになって
いる。
FIG. 3 shows the mutual relationship between the X-ray tube 20, the collimator 22, and the detector array 24 in the X-ray irradiation / detection device. 3A is a diagram illustrating a state viewed from the front, and FIG. 3B is a diagram illustrating a state viewed from the side. As shown in the figure, the X-rays radiated from the X-ray tube 20 are shaped into a fan-shaped X-ray beam 40 by a collimator 22 and irradiated to a detector array 24.

【0035】図3の(a)では、扇状のX線ビーム40
の広がりすなわちX線ビーム40の幅を示す。X線ビー
ム40の幅方向は、検出器アレイ24におけるチャンネ
ルの配列方向に一致する。(b)ではX線ビーム40の
厚みを示す。
FIG. 3A shows a fan-shaped X-ray beam 40.
, Ie, the width of the X-ray beam 40. The width direction of the X-ray beam 40 matches the arrangement direction of the channels in the detector array 24. (B) shows the thickness of the X-ray beam 40.

【0036】このようなX線ビーム40の扇面に体軸を
交差させて、例えば図4に示すように、撮影テーブル4
に載置された撮影対象8がX線照射空間に搬入される。
走査ガントリ2は、内部にX線照射・検出装置を包含す
る筒状の構造になっている。
With the body axis intersecting the fan surface of the X-ray beam 40, for example, as shown in FIG.
Is loaded into the X-ray irradiation space.
The scanning gantry 2 has a cylindrical structure including an X-ray irradiation / detection device inside.

【0037】X線照射空間は、走査ガントリ2の筒状構
造の内側空間に形成される。X線ビーム40によってス
ライスされた撮影対象8の像が検出器アレイ24に投影
される。検出器アレイ24によって撮影対象8のプロジ
ェクションの測定値が得られる。撮影対象8に照射する
X線ビーム40の厚みtは、コリメータ22のアパーチ
ャの開度調節により設定される。
The X-ray irradiation space is formed inside the cylindrical structure of the scanning gantry 2. An image of the imaging target 8 sliced by the X-ray beam 40 is projected on the detector array 24. The detector array 24 provides a measurement of the projection of the object 8 to be imaged. The thickness t of the X-ray beam 40 irradiating the imaging target 8 is set by adjusting the aperture of the aperture of the collimator 22.

【0038】本装置の動作を説明する。図5に、本装置
の動作のフロー(flow)図を示す。同図に示すよう
に、ステップ(step)602で、操作者が操作装置
70を通じてスキャン計画を入力する。スキャン計画に
は、X線照射条件、スライス厚、スライス位置等が含ま
れる。以下、本装置は、入力されたスキャン計画に従
い、操作者の操作および中央処理装置60による制御の
下で動作する。
The operation of the present apparatus will be described. FIG. 5 shows a flow chart of the operation of the present apparatus. As shown in the figure, at step 602, the operator inputs a scan plan through the operation device 70. The scan plan includes X-ray irradiation conditions, slice thickness, slice position, and the like. Hereinafter, the present apparatus operates under the operation of the operator and the control by the central processing unit 60 in accordance with the input scan plan.

【0039】次に、ステップ604でスキャン位置決め
を行う。すなわち、操作者が操作装置70の図示しない
テーブル送りスイッチを押して撮影テーブル4を移動さ
せ、撮影対象8の撮影部位の中心をX線照射・検出装置
の回転の中心(アイソセンタ:isocenter)に
一致させる。
Next, in step 604, scan positioning is performed. That is, the operator presses a table feed switch (not shown) of the operation device 70 to move the imaging table 4 so that the center of the imaging region of the imaging target 8 coincides with the rotation center (isocenter) of the X-ray irradiation / detection device. .

【0040】このようなスキャン位置決めを行った後に
ステップ606でスキャンを行う。すなわち、X線を照
射しながらX線照射・検出装置を撮影対象8の周囲で回
転させて、例えば1024ビューのプロジェクションデ
ータを収集しデータ収集バッファ64に転送する。
After performing such scan positioning, scanning is performed in step 606. That is, the X-ray irradiating / detecting device is rotated around the imaging target 8 while irradiating X-rays, and, for example, 1024 views of projection data are collected and transferred to the data collection buffer 64.

【0041】次に、ステップ608で、プロジェクショ
ンデータを用いて、例えばフィルタード・バックプロジ
ェクション法等により画像再構成を行う。再構成した断
層像はステップ610で表示装置68に表示する。
Next, in step 608, an image is reconstructed using the projection data by, for example, a filtered back projection method. The reconstructed tomographic image is displayed on the display device 68 in step 610.

【0042】次に、ステップ612で偽像チェック(c
heck)の要否を判定する。偽像チェックの要否は、
予め操作者によって指定されている。操作者が偽像チェ
ックを指定していないときは本装置の動作を終了する。
Next, at step 612, a false image check (c
Heck) is determined. Whether a false image check is required
It is specified in advance by the operator. If the operator has not designated the false image check, the operation of the present apparatus ends.

【0043】偽像チェックが指定されているときは、ス
テップ614,616でそれぞれリングアーチファクト
検出およびセンターアーチファクト(center a
rtifact)検出を行う。リングアーチファクト検
出およびセンターアーチファクト検出については後述す
る。
When the false image check is designated, in steps 614 and 616, the ring artifact detection and the center artifact (center a) are performed, respectively.
(rtifact) detection. The ring artifact detection and the center artifact detection will be described later.

【0044】ステップ614,616でいずれのアーチ
ファクトも検出されないときは、本装置の動作を終了す
る。いずれかのアーチファクトが検出された場合は、ス
テップ618でデータ収集部(DAS)26のキャリブ
レーションを行う。キャリブレーションは、例えば定期
点検時等に実施するキャリブレーションに準じて行う。
これにより、検出器アレイ24の感度の経時変化等によ
るデータ収集部26のチャンネルごと感度変化が補正さ
れる。キャリブレーション後にステップ602に戻り、
必要に応じて撮影をやり直す。データ収集部26がキャ
リブレーション済みであることにより、次からは偽像の
ない品質の良い撮影を行うことができる。
If no artifact is detected in steps 614 and 616, the operation of the apparatus ends. If any of the artifacts is detected, calibration of the data acquisition unit (DAS) 26 is performed in step 618. The calibration is performed according to, for example, the calibration performed at the time of periodic inspection or the like.
As a result, a change in sensitivity of each channel of the data collection unit 26 due to a change in sensitivity of the detector array 24 with time or the like is corrected. After the calibration, return to step 602,
Retake the picture if necessary. Since the data collection unit 26 has been calibrated, high-quality shooting without a false image can be performed subsequently.

【0045】図6に、リングアーチファクト検出のフロ
ー図を示す。同図に示すように、ステップ642で、再
構成画像のマトリクス(matrix)を区画する。マ
トリクスの区画は、例えば図7に示すように、マトリク
ス中心Oを通る複数の放射線でマトリクスを等分するこ
とにより行う。マトリクスサイズは、x方向にXピクセ
ル(pixel)、y方向にYピクセルである。図7で
は区画A〜Dに4等分した例を示すが、区画は4等分に
限るものではなく任意のn等分に区画して良い。nの値
を大きくするのは、部分的なリングアーチファクトない
し幅を持つバンド(band)アーチファクトを検出し
やすくする点で好ましい。以下、バンドアーチファクト
もリングアーチファクトで代表する。なお、nの値は1
すなわち全体を1区画としても良いのはもちろんであ
る。
FIG. 6 shows a flowchart of ring artifact detection. As shown in the figure, in step 642, a matrix of a reconstructed image is partitioned. The division of the matrix is performed, for example, by equally dividing the matrix with a plurality of radiations passing through the center O of the matrix as shown in FIG. The matrix size is X pixels (pixels) in the x direction and Y pixels in the y direction. Although FIG. 7 shows an example in which the sections A to D are divided into four equal parts, the sections are not limited to four equal parts, and may be divided into arbitrary n equal parts. It is preferable to increase the value of n because it is easy to detect a partial ring artifact or a band artifact having a width. Hereinafter, a band artifact is also represented by a ring artifact. The value of n is 1
That is, it is a matter of course that the whole may be defined as one section.

【0046】次に、ステップ644で再構成画像の1つ
の区画(例えば区画A)について、画素値の平均値を計
算する。平均値の計算を図8によって説明する。同図に
示すように、マトリクス中心O(以下中心Oという)か
らの距離irが等しい位置にあるピクセル群について画
素値の平均値を計算する。なお、距離irはピクセルを
単位とする整数である。距離irが離散的な値であるか
ら、ピクセルは実質的に等距離なものが選ばれる。この
ような平均値を距離irを順次変更しながら区画内の最
遠距離まで順次に求め、距離irごとの画素平均値P
(ir)を得る。
Next, in step 644, an average pixel value is calculated for one section (eg, section A) of the reconstructed image. The calculation of the average value will be described with reference to FIG. As shown in the figure, an average value of pixel values is calculated for a pixel group located at a position where the distance ir from the center O of the matrix (hereinafter referred to as the center O) is equal. Note that the distance ir is an integer in units of pixels. Since the distance ir is a discrete value, pixels having substantially the same distance are selected. Such an average value is sequentially obtained up to the farthest distance in the section while sequentially changing the distance ir, and the pixel average value P for each distance ir is obtained.
(Ir) is obtained.

【0047】リングアーチファクトすなわち円環状の縞
模様がある場合、その半径と同一距離にある全画素値
は、他の部分からかけ離れたほぼ同一の値を持つ。この
ため、リングアーチファクトがある部分の画素平均値
は、その他の部分の画素値平均値に対して有意の差を持
つ。このため、画素平均値P(ir)の絶対値をリング
アーチファクトの有無の判定に使用することが可能であ
る。
When there is a ring artifact, that is, an annular stripe pattern, all pixel values at the same distance as the radius have substantially the same value far from other parts. For this reason, the pixel average value of the portion having the ring artifact has a significant difference from the pixel value average value of the other portions. Therefore, it is possible to use the absolute value of the pixel average value P (ir) for determining the presence or absence of a ring artifact.

【0048】次に、ステップ646で画素値の標準偏差
を求める。すなわち、図8に示すように、上記のように
平均値を求めたピクセル群を含む幅wの帯領域にあるピ
クセル群について、画素値の標準偏差を求める。このよ
うな標準偏差を、距離irを順次変更しながら区画内の
最遠距離に相当するものまで順次に求め、距離irごと
の画素値標準偏差S(ir)を得る。
Next, at step 646, the standard deviation of the pixel value is determined. That is, as shown in FIG. 8, the standard deviation of the pixel values is determined for the pixels in the band region having the width w including the pixel group for which the average value has been determined as described above. Such a standard deviation is sequentially obtained up to the one corresponding to the longest distance in the section while sequentially changing the distance ir to obtain a pixel value standard deviation S (ir) for each distance ir.

【0049】画素値標準偏差S(ir)は帯領域w(i
r)における画素値のばらつきの程度を表し、画素値標
準偏差S(ir)の大小が画素値のばらつきの大小に対
応する。帯領域w(ir)は、そこに生じるリングアー
チファクトに対していわばバックグラウンド(back
ground)となるので、画素値標準偏差S(i
r)が小さいということは、バックグラウンド画像の濃
度の均一性が良いことを示す。これに対して、画素値標
準偏差S(ir)が大きいということは、バックグラウ
ンド画像の濃度の均一性が悪いことを示す。
The pixel value standard deviation S (ir) is determined by the band region w (i
r) represents the degree of variation of the pixel value, and the magnitude of the pixel value standard deviation S (ir) corresponds to the magnitude of the variation of the pixel value. The band region w (ir) is, as it were, a background (back) against ring artifacts occurring therein.
ground), the pixel value standard deviation S (i
The fact that r) is small indicates that the uniformity of the density of the background image is good. On the other hand, a large pixel value standard deviation S (ir) indicates that the uniformity of the density of the background image is poor.

【0050】次に、ステップ648で、画素平均値P
(ir)と画素値標準偏差S(ir)につき、距離ir
が同一なもの同士で比P(ir)/S(ir)を求め、
これをQ(ir)とする。比Q(ir)は、画素平均値
P(ir)を画素値標準偏差S(ir)で割った値なの
で、同じ画素平均値P(ir)に対して、比Q(i)
は、画素値標準偏差S(ir)が小さいほど大きくな
り、画素値標準偏差S(ir)が大きいほど小さくな
る。
Next, at step 648, the pixel average value P
(Ir) and the pixel value standard deviation S (ir), the distance ir
Are determined and the ratio P (ir) / S (ir) is calculated for
This is defined as Q (ir). Since the ratio Q (ir) is a value obtained by dividing the pixel average value P (ir) by the pixel value standard deviation S (ir), the ratio Q (i) for the same pixel average value P (ir)
Becomes larger as the pixel value standard deviation S (ir) becomes smaller, and becomes smaller as the pixel value standard deviation S (ir) becomes larger.

【0051】言い換えれば、画素平均値P(ir)が同
じでも、バックグラウンド画像濃度の均一性が良いほど
Q(ir)が大きくなり、バックグラウンド画像濃度の
均一性が悪いほどQ(ir)が小さくなる。これは、バ
ックグラウンド画像濃度の均一が良いほどリングアーチ
ファクトが目立ちやすくなり、バックグラウンド画像濃
度の均一が悪いほどリングアーチファクトが目立ちにく
くなる傾向と合致しており、リングアーチファクトの実
効的な信号強度を表す数値として極めて都合がよい。
In other words, even if the pixel average value P (ir) is the same, Q (ir) increases as the uniformity of the background image density increases, and Q (ir) increases as the uniformity of the background image density decreases. Become smaller. This is consistent with the tendency that ring artifacts are more noticeable as the background image density is more uniform, and that ring artifacts are less noticeable as the background image density is less uniform. It is very convenient as a numerical value to represent.

【0052】次に、ステップ650で、Q(ir)に関
する閾値処理を行う。閾値処理を図9によって説明す
る。同図は距離irに沿ったQ(ir)の分布、すなわ
ち、距離ir方向のQ(ir)のプロファイル(pro
file)を示す。なお、画素値はCTナンバーであり
負の値となり得るので、Q(ir)のプロファイルは負
になる部分があり得る。そこで、閾値±Qtを設定し、
それに基づいて閾値処理を行う。
Next, at step 650, threshold processing is performed on Q (ir). The threshold processing will be described with reference to FIG. The figure shows the distribution of Q (ir) along the distance ir, that is, the profile (pro) of Q (ir) in the direction of the distance ir.
file). Since the pixel value is a CT number and may be a negative value, the profile of Q (ir) may have a negative portion. Therefore, a threshold value ± Qt is set,
Based on this, threshold processing is performed.

【0053】閾値処理は図10に示すフロー図に沿って
行われる。同図に示すように、ステップ702で計数値
irを0にする。irは後述するようにプロファイル上
のデータQ(ir)を読み出すのに用いる。次にステッ
プ704で計数値kを0にする。後述のように、閾値を
超えるQ(ir)が連続する場合はそれらQ(ir)を
積算するが、そのときの積算回数がkである。
The threshold processing is performed according to the flowchart shown in FIG. As shown in the figure, in step 702, the count value ir is set to 0. ir is used to read data Q (ir) on the profile as described later. Next, in step 704, the count value k is set to 0. As described later, when Q (ir) exceeding the threshold value is continuous, the Q (ir) is integrated, and the number of integrations at that time is k.

【0054】次にステップ706でirに1を加算し、
ステップ708でirがirm−1を越えているか否か
を判定する。irmは区画Aの画像の最外縁までの距離
であり、irm−1を越えた場合は閾値処理を終了する
ようにしている。irmの値は予めわかっている。
Next, at step 706, 1 is added to ir,
In step 708, it is determined whether or not ir exceeds irm-1. irm is a distance to the outermost edge of the image of the section A, and when irm-1 is exceeded, the threshold processing is terminated. The value of irm is known in advance.

【0055】いまはirが1であるからNoであり、ス
テップ710でir=1におけるQ(ir)の絶対値が
閾値Qtを越えているか否かを判定する。図9に示した
ように、ir=1においてはQ(ir)の絶対値が閾値
Qtを越えていないのでNoであり、ステップ706に
戻ってirに1を加え、ステップ708で処理の終了点
に達したか否かを判定し、Noであることによりステッ
プ710でir=2におけるQ(ir)の絶対値が閾値
Qtを越えているか否かを判定する。ここでもNoであ
ることによりステップ706に戻る。以下同様にしてi
r方向に順次Q(ir)の値を閾値Qtを基準として判
定してゆく。
Now, since ir is 1, it is No, and it is determined in step 710 whether or not the absolute value of Q (ir) at ir = 1 exceeds the threshold value Qt. As shown in FIG. 9, when ir = 1, the absolute value of Q (ir) does not exceed the threshold value Qt, and thus the result is No, and the process returns to step 706 to add 1 to ir. Is determined, and if No, it is determined in step 710 whether or not the absolute value of Q (ir) at ir = 2 exceeds the threshold value Qt. Here, No is returned to step 706. Similarly, i
The value of Q (ir) is sequentially determined in the r direction based on the threshold value Qt.

【0056】ir=ir1になったとき、図9に示すよ
うに、Q(ir)の絶対値が閾値Qtを越える。そこ
で、ステップ710からステップ712に分岐する。そ
して、ステップ712でR(ir)の値をQ(ir)と
する。次に、ステップ714でirに1を加算し、ステ
ップ716でirがirm−1を越えているか否かを判
定する。irがirm−1を越えた場合は閾値処理を終
了するが、いまはNoであるから、ステップ718でi
r=ir1+1におけるQ(ir)の絶対値が閾値Qt
を越えているか否かを判定する。図9に示すように、i
r1からir2まではQ(ir)の絶対値が閾値Qtを
越えているから、いまはYesであり、ステップ720
に分岐する。
When ir = ir1, the absolute value of Q (ir) exceeds the threshold Qt, as shown in FIG. Therefore, the process branches from step 710 to step 712. Then, in step 712, the value of R (ir) is set to Q (ir). Next, in step 714, 1 is added to ir, and in step 716, it is determined whether or not ir exceeds irm-1. If ir exceeds irm-1, the threshold processing ends, but since it is No, i
The absolute value of Q (ir) at r = ir1 + 1 is the threshold Qt
Is determined. As shown in FIG.
From r1 to ir2, since the absolute value of Q (ir) exceeds the threshold value Qt, it is now Yes and step 720
Branch to

【0057】ステップ720では、R(ir−1−k)
にQ(ir)を加算してそれを新たなR(ir−1−
k)とする。この処理の意味は次の通りである。いまi
r=ir1+1,k=0であるから、ir−1−k=i
r1である。したがって、ステップ720での処理によ
り、R(ir1)にQ(ir1+1)が加算され、これ
が新たなR(ir1)の値となる。R(ir1)の元の
値はQ(ir1)であったから、結局、R(ir1)の
値はQ(ir1)+Q(ir1+1)となる。すなわ
ち、閾値を超えるQ(ir)の積算が行われる。
In step 720, R (ir-1-k)
Is added to Q (ir), and is added to a new R (ir-1−
k). The meaning of this processing is as follows. Now i
Since r = ir1 + 1 and k = 0, ir-1-k = i
r1. Therefore, by the processing in step 720, Q (ir1 + 1) is added to R (ir1), and this becomes a new value of R (ir1). Since the original value of R (ir1) was Q (ir1), the value of R (ir1) is eventually Q (ir1) + Q (ir1 + 1). That is, integration of Q (ir) exceeding the threshold is performed.

【0058】この積算を行った後に、ステップ722で
kに1を加算する。これによってk=1となり、Q(i
r)を1回積算したことを計数する。そして、ステップ
714に戻る。ステップ714でirに1を加算する。
これによりirはir1+2となる。
After this integration, 1 is added to k in step 722. This results in k = 1 and Q (i
r) is counted once. Then, the process returns to step 714. In step 714, 1 is added to ir.
Thus, ir becomes ir1 + 2.

【0059】ステップ714でのirの値のチェックを
経て、ステップ718でir=ir1+2におけるQ
(ir)の絶対値が閾値Qtを越えているか否かを判定
する。ir1からir2まではQ(ir)の絶対値が閾
値Qtを越えているから、Yesであり、ステップ72
0でR(ir−1−k)にQ(ir)を加算してそれを
新たなR(ir−1−k)とする。
After checking the value of ir in step 714, in step 718, the Q in ir = ir1 + 2
It is determined whether or not the absolute value of (ir) exceeds the threshold value Qt. Since the absolute value of Q (ir) exceeds the threshold value Qt from ir1 to ir2, the answer is Yes, and step 72
At 0, Q (ir) is added to R (ir-1-k) to make it new R (ir-1-k).

【0060】いまir=ir1+2,k=1であるか
ら、ir−1−k=ir1である。したがって、ステッ
プ720での処理により、R(ir1)にQ(ir1+
2)が加算され、これが新たなR(ir1)の値とな
る。R(ir1)の加算前の値はQ(ir1)+Q(i
r1+1)であったから、R(ir1)の値はQ(ir
1)+Q(ir1+1)+Q(ir1+2)となる。す
なわち、ir方向に連続する閾値を超えるQ(ir)の
積算が行われる。その後、ステップ722でkに1を加
算する。これによってk=2となり、Q(ir)を2回
積算したことを計数する。そして、ステップ714に戻
る。
Since ir = ir1 + 2 and k = 1, ir-1-k = ir1. Therefore, by the processing in step 720, R (ir1) is added to Q (ir1 +
2) is added, and this becomes a new value of R (ir1). The value before addition of R (ir1) is Q (ir1) + Q (i
r1 + 1), the value of R (ir1) is Q (ir
1) + Q (ir1 + 1) + Q (ir1 + 2). That is, integration of Q (ir) exceeding a threshold value that is continuous in the ir direction is performed. Then, at step 722, 1 is added to k. As a result, k = 2, and counting that Q (ir) has been integrated twice is counted. Then, the process returns to step 714.

【0061】以下、irがir2を越えるまで上記の処
理が繰り返される。これによって、ir1からir2ま
でのQ(ir)の積算値すなわち斜線を伏した部分の面
積に相当する値がR(ir1)の値として得られる。こ
のようにir方向に連続する閾値を超えるQ(ir)を
積算することは、リングアーチファクトの検出感度を高
める点で好ましい。なお、リングアーチファクトの検出
感度を高める必要がない場合は、上記のような積算をせ
ずに閾値を超えるQ(ir)を個々にR(ir)の値と
するようにしても良い。
Thereafter, the above processing is repeated until ir exceeds ir2. As a result, an integrated value of Q (ir) from ir1 to ir2, that is, a value corresponding to the area of the portion where the oblique line is lowered is obtained as the value of R (ir1). It is preferable to integrate Q (ir) exceeding a threshold value that is continuous in the ir direction in order to increase the detection sensitivity of the ring artifact. When it is not necessary to increase the detection sensitivity of the ring artifact, Q (ir) exceeding the threshold may be individually set to the value of R (ir) without performing the above-described integration.

【0062】irがir2を越えると、Q(ir)の絶
対値が閾値以下となることにより、ステップ718から
ステップ724に分岐する。ステップ724ではk=0
とする。これによって積算回数がリセット(rese
t)される。以後、ステップ706に戻って、これまで
述べてきたのと同様な動作を繰り返す。
When ir exceeds ir2, the process branches from step 718 to step 724 because the absolute value of Q (ir) becomes equal to or smaller than the threshold value. In step 724, k = 0
And This resets the integration count (rese
t). Thereafter, returning to step 706, the same operation as described above is repeated.

【0063】このような閾値処理によって、R(ir
3)の値としてir3からir4までのQ(ir)の積
算値が得られ、R(ir5)の値としてir5からir
6までのQ(ir)の積算値が得られる。
By such threshold processing, R (ir
As the value of 3), the integrated value of Q (ir) from ir3 to ir4 is obtained, and as the value of R (ir5), ir5 to ir
An integrated value of Q (ir) up to 6 is obtained.

【0064】ir>irm−1となったとき上記の閾値
処理は終了し、ステップ708または716から図6に
示したフロー図のステップ652に分岐する。ステップ
652ではリング値Rの計算を行う。リング値Rは、ス
テップ650での閾値処理で求めたR(ir)を用い、
次式によって計算される。
When ir> irm-1, the above threshold processing ends, and the flow branches from step 708 or 716 to step 652 in the flowchart shown in FIG. In step 652, the ring value R is calculated. As the ring value R, R (ir) obtained by the threshold processing in step 650 is used,
It is calculated by the following equation.

【0065】[0065]

【数1】 (Equation 1)

【0066】すなわち、R(ir)の2乗平均をリング
値Rとする。なお、2乗平均の代わりにR(ir)の2
乗の和をリング値Rとしても良い。ここまでの処理によ
って、区画Aについてのリング値Rが求められた。
That is, the mean square of R (ir) is set as the ring value R. In addition, instead of the mean square, R (ir) is 2
The sum of the powers may be used as the ring value R. By the processing up to this point, the ring value R for the section A is obtained.

【0067】次に、ステップ654で、リング値Rの計
算を全区画について終了したか否かを判定する。いまは
区画Aを終了した段階なのでNoであり、ステップ64
4に戻って次の区画Bについて同様の処理を行い、区画
Bのリング値Rを求める。同様に、区画C,Dについて
もリング値Rをそれぞれ求める。このようにリング値を
区画ごとに求めることにより、完全なリングアーチファ
クトに加えて、不完全なリングないしバンド状となる部
分的なアーチファクト等をも効果的に検出することがで
きる。
Next, at step 654, it is determined whether the calculation of the ring value R has been completed for all the partitions. Since it is the stage at which the section A has been completed, the answer is No.
4, the same processing is performed for the next section B, and the ring value R of the section B is obtained. Similarly, ring values R are obtained for sections C and D, respectively. By determining the ring value for each section in this way, in addition to complete ring artifacts, incomplete ring or band-like partial artifacts can be effectively detected.

【0068】ステップ656で各区画のリング値Rの総
和を求める。そして、ステップ658でリング値Rの総
和が閾値R0を越えているか否かを判定する。閾値R0
はリングアーチファクトの許容限度値として予め設定さ
れている。判定結果がYesの場合は図5に示したフロ
ー図のステップ618に分岐してキャリブレーションを
行い、Noの場合は、ステップ616に分岐してセンタ
ーアーチファクト検出を行う。
In step 656, the sum of the ring values R of each section is determined. Then, at step 658, it is determined whether or not the sum of the ring values R exceeds the threshold value R0. Threshold value R0
Is preset as an allowable limit value of the ring artifact. If the determination result is Yes, the flow branches to step 618 in the flowchart shown in FIG. 5 to perform the calibration. If the determination result is No, the flow branches to step 616 to detect the center artifact.

【0069】図11に、センターアーチファクト検出の
フロー図を示す。同図に示すように、ステップ662で
ROIaの画素値の平均値Maを計算する。ROIa
は、例えば図12に示すように、マトリクス中心Oを含
む半径iraの領域であり、この領域に属する画素値の
平均値を求める。ROIaは、本発明における第1の範
囲の実施の形態の一例である。
FIG. 11 is a flowchart showing the detection of the center artifact. As shown in the figure, in step 662, the average value Ma of the pixel values of ROIa is calculated. ROIa
Is an area having a radius ira including the center O of the matrix as shown in FIG. 12, for example, and an average value of pixel values belonging to this area is obtained. ROIa is an example of the first embodiment of the present invention.

【0070】次に、ステップ664でROIbの画素値
の平均値Mbを計算する。ROIbは、例えば図12に
示すように、マトリクス中心Oを含む半径irb(>i
ra)の領域であり、この領域に属する画素値の平均値
を求める。ROIbは、本発明における第2範囲の実施
の形態の一例である。
Next, at step 664, the average value Mb of the pixel values of ROIb is calculated. The ROIb has a radius irb (> i) including the center O of the matrix as shown in FIG.
The average value of the pixel values belonging to this area is obtained. ROIb is an example of a second embodiment of the present invention.

【0071】次に、ステップ666で、ROIbからR
OIaを除いた差領域の画素値の標準偏差Sを計算す
る。次に、ステップ668でセンター値Cを計算する。
センター値Cは次式によって計算する。
Next, at step 666, ROIb
The standard deviation S of the pixel value of the difference area excluding OIa is calculated. Next, at step 668, the center value C is calculated.
The center value C is calculated by the following equation.

【0072】[0072]

【数2】 (Equation 2)

【0073】(2)式に示すように、センター値Cは2
つの領域の平均画素値の差の絶対値と差領域の画素値標
準偏差との比である。平均画素値の差の絶対値は、マト
リクス中心Oの付近におけるピクセルの画素値とその周
辺の画素値との濃度差を表す。これを周辺の画素値の標
準偏差で割ることにより、前述のリングアーチファクト
の場合と同様に、偽像の目立ち安さを表す数値を得るこ
とができる。
As shown in the equation (2), the center value C is 2
It is the ratio between the absolute value of the difference between the average pixel values of two regions and the pixel value standard deviation of the difference region. The absolute value of the difference between the average pixel values represents the density difference between the pixel value of the pixel near the matrix center O and the pixel values around the pixel value. By dividing this by the standard deviation of the surrounding pixel values, it is possible to obtain a numerical value representing the conspicuousness of the false image, as in the case of the ring artifact described above.

【0074】次に、ステップ670で、予め定められた
複数のROIの全てについてセンター値Cを求めたか否
かを判定する。ROIa,ROIbは半径ira,ir
bを順次増加させた複数のものが予め設定されているの
で、ステップ662に戻り、半径ira,irbの次の
組み合わせについて上記と同様な計算を行う。これを全
てのROIのセンター値Cを求めるまで繰り返す。
Next, at step 670, it is determined whether or not the center value C has been obtained for all of a plurality of predetermined ROIs. ROIa and ROIb are radiuses ira and ir
Since a plurality of values in which b is sequentially increased are set in advance, the flow returns to step 662, and the same calculation as above is performed for the next combination of the radii ira and irb. This is repeated until the center values C of all ROIs are obtained.

【0075】全てのROIのセンター値Cを求めた後
に、ステップ672でセンター値Cの最大値Cmaxを
抽出する。そして、ステップ674でCmaxが閾値C
0を越えているが否かを判定する。閾値C0はセンター
アーチファクトの許容限度値として予め設定されてい
る。判定結果がYesの場合は図5に示したステップ6
18に分岐してキャリブレーションを行い、Noの場合
は動作を終了する。
After obtaining the center values C of all the ROIs, the maximum value Cmax of the center values C is extracted in step 672. Then, in step 674, Cmax is equal to the threshold C
It is determined whether or not it exceeds 0. The threshold value C0 is set in advance as an allowable limit value of the center artifact. If the determination result is Yes, step 6 shown in FIG.
Calibration is performed by branching to 18, and in the case of No, the operation is terminated.

【0076】以上のように、再構成画像を解析すること
により、それに含まれる偽像を効果的に検出することが
できる。解析に用いる再構成画像として撮影対象8を実
際に撮影して得た断層像を用いることにより、現実に即
した偽像検出を行うことができる。また、解析に用いる
再構成画像として均一なファントム(phantom)
を撮影した断層像を用いることにより、精密な偽像検出
を行うことができる。
As described above, by analyzing the reconstructed image, a false image included in the reconstructed image can be effectively detected. By using a tomographic image obtained by actually photographing the imaging target 8 as a reconstructed image used for analysis, it is possible to detect a false image that is realistic. Also, a uniform phantom as a reconstructed image used for analysis
By using the tomographic image obtained by capturing the image, accurate false image detection can be performed.

【0077】以上、放射線としてX線を用いた例につい
て説明したが、放射線はX線に限るものではなく、例え
ばγ線等の他の種類の放射線であっても良い。ただし、
現時点では、X線がその発生、検出および制御等に関し
実用的な手段が最も充実している点で好ましい。
The above description has been made of the example in which X-rays are used as radiation. However, the radiation is not limited to X-rays, but may be other types of radiation such as γ-rays. However,
At present, X-rays are preferred because practical means for generating, detecting, controlling, and the like are the most substantial.

【0078】[0078]

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、偽像を効果的に検出する方法および装置、並び
に、そのような偽像検出手段を備えた放射線断層撮影装
置を実現することができる。
As described above in detail, according to the present invention, a method and an apparatus for effectively detecting a false image and a radiation tomography apparatus having such a false image detecting means are realized. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態の一例の装置のブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram of a device according to an example of an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示した装置における検出器アレイの模式
的構成図である。
FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a detector array in the device shown in FIG.

【図3】図1に示した装置におけるX線照射・検出装置
の模式的構成図である。
FIG. 3 is a schematic configuration diagram of an X-ray irradiation / detection device in the device shown in FIG.

【図4】図1に示した装置におけるX線照射・検出装置
の模式的構成図である。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of an X-ray irradiation / detection device in the device shown in FIG.

【図5】図1に示した装置の動作のフロー図である。FIG. 5 is a flowchart of the operation of the apparatus shown in FIG. 1;

【図6】図5に示したフロー図の一部の詳細を示すフロ
ー図である。
FIG. 6 is a flowchart showing details of a part of the flowchart shown in FIG. 5;

【図7】再構成画像のマトリクスの概念図である。FIG. 7 is a conceptual diagram of a matrix of a reconstructed image.

【図8】図7に示したマトリクスの一部の概念図であ
る。
FIG. 8 is a conceptual diagram of a part of the matrix shown in FIG.

【図9】図1に示した装置で求めたデータのプロファイ
ルを示すグラフである。
FIG. 9 is a graph showing a profile of data obtained by the apparatus shown in FIG. 1;

【図10】図6に示したフロー図の一部の詳細を示すフ
ロー図である。
FIG. 10 is a flowchart showing details of a part of the flowchart shown in FIG. 6;

【図11】図5に示したフロー図の一部の詳細を示すフ
ロー図である。
FIG. 11 is a flowchart showing details of a part of the flowchart shown in FIG. 5;

【図12】図7に示したマトリクスの一部の概念図であ
る。
FIG. 12 is a conceptual diagram of a part of the matrix shown in FIG. 7;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 走査ガントリ 4 撮影テーブル 6 操作コンソール 8 撮影対象 20 X線管 22 コリメータ 24 検出器アレイ 26 データ収集部 28 X線コントローラ 30 コリメータコントローラ 32 回転部 34 回転コントローラ 40 X線ビーム 60 中央処理装置 62 制御インタフェース 64 データ収集バッファ 66 記憶装置 68 表示装置 70 操作装置 2 scanning gantry 4 imaging table 6 operation console 8 imaging target 20 X-ray tube 22 collimator 24 detector array 26 data collection unit 28 X-ray controller 30 collimator controller 32 rotation unit 34 rotation controller 40 X-ray beam 60 central processing unit 62 control interface 64 data collection buffer 66 storage device 68 display device 70 operating device

フロントページの続き (56)参考文献 特開 平11−128218(JP,A) 特開 昭61−231476(JP,A) 特開 平8−266530(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) A61B 6/00 - 6/14 G06T 1/00 Continuation of the front page (56) References JP-A-11-128218 (JP, A) JP-A-61-231476 (JP, A) JP-A-8-266530 (JP, A) (58) Fields studied (Int .Cl. 7 , DB name) A61B 6/00-6/14 G06T 1/00

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 再構成画像のマトリクス中心から実質的
に等距離のピクセル位置にある画素値の平均値と前記ピ
クセル位置を含む帯状領域の画素値の標準偏差との比に
基づいて偽像を検出する、ことを特徴とする偽像検出方
法。
1. A false image is formed based on a ratio between an average value of pixel values at pixel positions substantially equidistant from a matrix center of a reconstructed image and a standard deviation of pixel values of a band-like region including the pixel position. Detecting a false image.
【請求項2】 再構成画像のマトリクス中心から実質的
に等距離のピクセルを外周とする第1の範囲に属する画
素値の平均値を求め、 前記再構成画像のマトリクス中心から実質的に等距離の
ピクセルを外周とし前記第1の範囲より大きい第2の範
囲に属する画素値の平均値を求め、 前記第2の範囲から前記第1の範囲を除いた残りの範囲
に属する画素値の標準偏差を求め、 前記第1の画素値の平均値と前記第2の画素値の平均値
の差と前記標準偏差との比を求め、 前記比に基づいて偽像を検出する、ことを特徴とする偽
像検出方法。
2. An average value of pixel values belonging to a first range having pixels substantially equidistant from the center of the matrix of the reconstructed image as an outer periphery, and substantially equal distance from the center of the matrix of the reconstructed image. The average value of the pixel values belonging to a second range larger than the first range with the pixel as the outer periphery is obtained, and the standard deviation of the pixel values belonging to the remaining range excluding the first range from the second range Calculating a ratio of a difference between the average value of the first pixel value and the average value of the second pixel value and the standard deviation, and detecting a false image based on the ratio. False image detection method.
【請求項3】 再構成画像のマトリクス中心から実質的
に等距離のピクセル位置にある画素値の平均値を求める
平均値算出手段と、 前記ピクセル位置を含む帯状領域の画素値の標準偏差を
求める標準偏差算出手段と、 前記平均値と前記標準偏差との比に基づいて偽像を検出
する偽像検出手段と、を具備することを特徴とする偽像
検出装置。
3. An average value calculating means for calculating an average value of pixel values at pixel positions substantially equidistant from a center of a matrix of a reconstructed image; and a standard deviation of pixel values of a band-like region including the pixel position. A fake image detection device comprising: a standard deviation calculation means; and a fake image detection means for detecting a fake image based on a ratio between the average value and the standard deviation.
【請求項4】 再構成画像のマトリクス中心から実質的
に等距離のピクセルを外周とする第1の範囲に属する画
素値の平均値を求める第1の平均値算出手段と、 前記再構成画像のマトリクス中心から実質的に等距離の
ピクセルを外周とし前記第1の範囲より大きい第2の範
囲に属する画素値の平均値を求める第2の平均値算出手
段と、 前記第2の範囲から前記第1の範囲を除いた残りの範囲
に属する画素値の標準偏差を求める標準偏差算出手段
と、 前記第1の画素値の平均値と前記第2の画素値の平均値
の差と前記標準偏差との比を求める比算出手段と、 前記比に基づいて偽像を検出する偽像検出手段と、を具
備することを特徴とする偽像検出装置。
4. A first average value calculating means for calculating an average value of pixel values belonging to a first range having pixels substantially equidistant from a center of a matrix of the reconstructed image as an outer periphery; A second average value calculating means for calculating an average value of pixel values belonging to a second range larger than the first range with pixels substantially equidistant from the center of the matrix as an outer periphery; A standard deviation calculating means for calculating a standard deviation of pixel values belonging to a range excluding the range of 1; a difference between an average value of the first pixel values and an average value of the second pixel values; And a false image detecting means for detecting a false image based on the ratio.
【請求項5】 放射線による撮影対象の複数ビューのプ
ロジェクションデータを収集するデータ収集手段と、 前記プロジェクションデータに基づいて断層像を再構成
する画像再構成手段と、を有する放射線断層撮影装置で
あって、 前記断層像のマトリクス中心から実質的に等距離のピク
セル位置にある画素値の平均値を求める平均値算出手段
と、 前記ピクセル位置を含む帯状領域の画素値の標準偏差を
求める標準偏差算出手段と、 前記平均値と前記標準偏差との比に基づいて偽像を検出
する偽像検出手段と、を具備することを特徴とする放射
線断層撮影装置。
5. A radiation tomography apparatus comprising: a data collection unit that collects projection data of a plurality of views of a target to be imaged by radiation; and an image reconstruction unit that reconstructs a tomographic image based on the projection data. Average value calculating means for calculating an average value of pixel values at pixel positions substantially equidistant from the center of the matrix of the tomographic image; and standard deviation calculating means for calculating a standard deviation of pixel values of a band-like area including the pixel position. A radiation tomography apparatus, comprising: a false image detecting unit configured to detect a false image based on a ratio between the average value and the standard deviation.
【請求項6】 放射線による撮影対象の複数ビューのプ
ロジェクションデータを収集するデータ収集手段と、 前記プロジェクションデータに基づいて断層像を再構成
する画像再構成手段と、を有する放射線断層撮影装置で
あって、 前記断層像のマトリクス中心から実質的に等距離のピク
セルを外周とする第1の範囲に属する画素値の平均値を
求める第1の平均値算出手段と、 前記断層像のマトリクス中心から実質的に等距離のピク
セルを外周とし前記第1の範囲より大きい第2の範囲に
属する画素値の平均値を求める第2の平均値算出手段
と、 前記第2の範囲から前記第1の範囲を除いた残りの範囲
に属する画素値の標準偏差を求める標準偏差算出手段
と、 前記第1の画素値の平均値および前記第2の画素値の平
均値の差と前記標準偏差との比を求める比算出手段と、 前記比に基づいて偽像を検出する偽像検出手段と、を具
備することを特徴とする放射線断層撮影装置。
6. A radiation tomography apparatus comprising: a data collection unit that collects projection data of a plurality of views of an imaging target by radiation; and an image reconstruction unit that reconstructs a tomographic image based on the projection data. First average value calculating means for obtaining an average value of pixel values belonging to a first range having pixels substantially equidistant from the center of the matrix of the tomographic image, and substantially from the center of the matrix of the tomographic image A second average value calculating means for calculating an average value of pixel values belonging to a second range larger than the first range with pixels at the same distance as an outer periphery, and excluding the first range from the second range. A standard deviation calculating means for calculating a standard deviation of pixel values belonging to the remaining range; a difference between an average of the first pixel values and an average of the second pixel values; Radiation tomography apparatus characterized by comprising a ratio calculating means for calculating the ratio, and artifact detection means for detecting an artifact based on the ratio, a.
【請求項7】 前記偽像検出手段の偽像検出信号に基づ
いて前記データ収集手段のキャリブレーションを行うキ
ャリブレーション手段、を具備することを特徴とする請
求項5または請求項6に記載の放射線断層撮影装置。
7. The radiation according to claim 5, further comprising: a calibration unit configured to calibrate the data collection unit based on a false image detection signal of the false image detection unit. Tomography equipment.
【請求項8】 前記断層像としてファントムの断層像を
用いる、ことを特徴とする請求項5ないし請求項7のう
ちのいずれか1つに記載の放射線断層撮影装置。
8. The radiation tomography apparatus according to claim 5, wherein a tomographic image of a phantom is used as the tomographic image.
【請求項9】 前記放射線としてX線を用いる、ことを
特徴とする請求項5ないし請求項8のうちのいずれか1
つに記載の放射線断層撮影装置。
9. The method according to claim 5, wherein X-rays are used as the radiation.
A radiation tomography apparatus according to any one of the above.
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