JP3329237B2 - Distance measuring device - Google Patents

Distance measuring device

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JP3329237B2
JP3329237B2 JP19736597A JP19736597A JP3329237B2 JP 3329237 B2 JP3329237 B2 JP 3329237B2 JP 19736597 A JP19736597 A JP 19736597A JP 19736597 A JP19736597 A JP 19736597A JP 3329237 B2 JP3329237 B2 JP 3329237B2
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善明 帆足
浩 新美
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パルス状の測定光
を出射し、その反射光が戻ってくるまでの時間を計測す
ることにより、外部の物標までの距離を測定する距離測
定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a distance measuring device for measuring a distance to an external target by measuring a time until a pulsed measuring light is emitted and a reflected light returns. .

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、距離測定装置として、例えば
特開平7−71957号公報に開示されているように、
レーザダイオードをパルス状の駆動信号で駆動して、発
光部からレーザ光(測定光)を出射させ、その測定光が
外部の物標に当たって反射してくる反射光を、フォトダ
イオード等からなる受光部で受光することにより、発光
部の発光時刻から受光部による反射光の受光時刻までの
時間△T(図9(a)参照)を測定し、その時間△Tに
基づき、物標までの距離を算出するように構成された装
置が知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a distance measuring device, for example, as disclosed in JP-A-7-71957,
The laser diode is driven by a pulse-like drive signal to emit laser light (measurement light) from the light emitting unit, and the reflected light, which is reflected by the measurement light hitting an external target, is received by a light receiving unit such as a photodiode. , The time ΔT (see FIG. 9A) from the light emission time of the light emitting unit to the light reception time of the reflected light by the light receiving unit is measured, and the distance to the target is determined based on the time ΔT. Devices configured to calculate are known.

【0003】そしてこの種の装置では、受光部からの受
光信号を処理する信号処理系に、通常、図9(b)に示
すように、受光部からの受光信号を増幅する増幅器5
2、増幅器52からの出力を更に増幅するSTC(Sens
itivity Time Control)回路54、及び、STC回路5
4からの出力が予め設定された受光判定レベルVth以上
か否かによって、受光部による反射光の受光を判定する
コンパレータ56が設けられ、このコンパレータ56に
よる判定結果に基づき、受光部における反射光の受光タ
イミングを検出するようにされている。
In this type of apparatus, an amplifier 5 for amplifying a light receiving signal from the light receiving unit is usually provided in a signal processing system for processing a light receiving signal from the light receiving unit, as shown in FIG.
2. STC (Sens) that further amplifies the output from the amplifier 52
itivity Time Control) circuit 54 and STC circuit 5
4 is provided with a comparator 56 for determining whether or not the reflected light is received by the light receiving unit based on whether or not the output from the light receiving unit 4 is equal to or higher than a preset light receiving determination level Vth. The light receiving timing is detected.

【0004】尚、増幅器52及びSTC回路54は、夫
々、受光部から出力される受光信号の内、物標から反射
してくる反射光の信号成分(つまり発光部から測定光を
出射させるのに用いたパルス状の駆動信号の周波数に対
応した交流信号成分)のみを増幅して、後段のSTC回
路54及びコンパレータ56に出力するためのものであ
り、上記各回路は、通常、直流信号成分カット用のカッ
プリングコンデンサにて接続される。
The amplifier 52 and the STC circuit 54 respectively provide a signal component of the reflected light reflected from the target (that is, a signal component for emitting the measuring light from the light emitting unit) in the light receiving signal output from the light receiving unit. This is for amplifying only the AC signal component corresponding to the frequency of the pulsed drive signal used, and outputting the amplified signal to the STC circuit 54 and the comparator 56 at the subsequent stage. Connected by a coupling capacitor.

【0005】また、STC回路54は、図示しない制御
回路から出力されるSTC信号(図9(a)参照)によ
り、発光部を発光させて測定光を出射してからの時間の
経過に伴い信号の出力レベルが大きくなるように、増幅
率が制御されるものである。つまり、受光部からの受光
信号は、図9(a)に示すように、測定光を反射する物
標との距離が短い程(換言すれば、測定光の出射後、反
射光が受光部に入射するまでの時間が短い程)、信号レ
ベルが高くなる。このため、受光部からの受光信号を常
に一定の増幅率で増幅するようにしていると、例えば、
発光部から出射した測定光が物標を測定すべき方向とは
異なる方向に漏れ出し、その方向に位置する測定装置付
近の物体で反射された微弱な光が受光部に入射した場合
であっても、或いは、測定光が雨等で反射した微弱な光
が受光部に入射した場合であっても、コンパレータ56
には受光判定レベルVth以上の高レベルの信号が入力さ
れることになり、本来検出すべき物標からの反射光を検
出できず、物標までの距離を正確に測定することができ
なくなってしまう。
[0005] In addition, the STC circuit 54 receives an STC signal (see FIG. 9 (a)) output from a control circuit (not shown), and emits a measuring light as a signal from the light emitting section to emit a measuring light. The amplification factor is controlled so that the output level becomes higher. In other words, as shown in FIG. 9A, the light receiving signal from the light receiving unit is, as shown in FIG. The shorter the time until incidence), the higher the signal level. Therefore, if the light receiving signal from the light receiving unit is always amplified at a constant amplification factor, for example,
The measurement light emitted from the light emitting unit leaks in a direction different from the direction in which the target is to be measured, and weak light reflected by an object near the measuring device located in that direction enters the light receiving unit. Alternatively, even if the measurement light is reflected by rain or the like and weak light is incident on the light receiving unit, the comparator 56
Will receive a high-level signal equal to or higher than the light reception determination level Vth, and will not be able to detect reflected light from the target that should be originally detected, making it impossible to accurately measure the distance to the target. I will.

【0006】そこで、距離測定装置では、通常、受光信
号の信号処理系にSTC回路54を設けることにより、
測定光出射後の経過時間が短い領域での受光信号の増幅
率を抑え、近距離領域での微弱な反射光を、距離測定す
べき物標からの反射光として検出してしまうのを防止し
ているのである。
Therefore, in a distance measuring device, usually, an STC circuit 54 is provided in a signal processing system of a received light signal,
Suppresses the amplification factor of the received light signal in the area where the elapsed time after the measurement light emission is short, and prevents the weak reflected light in the short distance area from being detected as the reflected light from the target whose distance is to be measured. -ing

【0007】また、STC回路54の前段に設けられる
増幅器52は、コンパレータ56による反射光の検出感
度を調整して、受光信号の信号処理系を流れるノイズ信
号成分が反射光として誤検出されない範囲内で、測定可
能距離を最大にするためのものである。
An amplifier 52 provided before the STC circuit 54 adjusts the detection sensitivity of the reflected light by the comparator 56 so that the noise signal component flowing through the signal processing system of the received light signal is not erroneously detected as the reflected light. This is for maximizing the measurable distance.

【0008】つまり、受光部からの受光信号は、物標と
の距離が長い程信号レベルが低くなることから、測定可
能距離を長くするには、受光信号の増幅率を大きくし
て、コンパレータ56による反射光の検出感度を高くす
ればよいが、受光信号の信号処理系では、ノイズ信号成
分も増幅されるので、受光信号の増幅率を大きくしすぎ
ると、そのノイズ信号成分が受光判定レベルVthを越え
て、コンパレータ56により反射光の受光が誤検出され
ることになる。
That is, the signal level of the light-receiving signal from the light-receiving section becomes lower as the distance from the target becomes longer. Therefore, to increase the measurable distance, the amplification factor of the light-receiving signal is increased and the comparator 56 However, in the signal processing system of the received light signal, the noise signal component is also amplified. Therefore, if the amplification factor of the received light signal is excessively increased, the noise signal component is reduced to the light reception determination level Vth. , The reception of the reflected light is erroneously detected by the comparator 56.

【0009】そこで、距離測定装置では、通常、上記S
TC回路54とは別に、増幅率を調整可能な増幅器(所
謂可変利得増幅器)52を設け、この増幅器52の増幅
率を、図示しない制御回路からのゲインコントロール信
号にて調整することにより、コンパレータ56による反
射光の検出感度を、ノイズ信号成分を反射光として誤検
出しない範囲内で、最大感度に設定できるようにしてい
るのである。
Therefore, in the distance measuring device, usually, the S
An amplifier (a so-called variable gain amplifier) 52 whose gain can be adjusted is provided separately from the TC circuit 54, and the gain of the amplifier 52 is adjusted by a gain control signal from a control circuit (not shown), so that a comparator 56 is provided. Is set to the maximum sensitivity within a range in which a noise signal component is not erroneously detected as reflected light.

【0010】また次に、コンパレータ56は、上記のよ
うにSTC回路54からの出力と受光判定レベルVthと
を比較し、STC回路54からの出力が受光判定レベル
Vth以上であるときに、受光部による反射光の受光を判
定するものであるが、距離の算出に必要な反射光の受光
タイミングは、その判定結果から、例えば、次のように
検出される。
Next, the comparator 56 compares the output from the STC circuit 54 with the light reception determination level Vth as described above, and when the output from the STC circuit 54 is higher than the light reception determination level Vth, the light receiving section The light reception timing of the reflected light required for calculating the distance is detected from the result of the determination as follows, for example.

【0011】即ち、受光信号は、物標との距離によって
信号レベルが異なることから、STC回路54からの出
力が受光判定レベルVth以上となって、コンパレータ5
6からの出力が変化した時刻を、受光タイミングとして
検出すると、受光信号のレベルの違いによって、検出し
た受光タイミングがずれてしまう。そこで、図9(a)
に示す如く、STC回路54からの出力が受光判定レベ
ルVthを越えた時刻T1から、その後、STC回路54
からの出力が受光判定れべるVthを下回る時刻T2まで
の時間を受光信号のパルス幅Wとして検出し、そのパル
ス幅Wから、受光信号の中心時刻T3 を算出し、これを
反射光の受光タイミングとする。
That is, since the signal level of the light receiving signal varies depending on the distance from the target, the output from the STC circuit 54 becomes equal to or higher than the light receiving determination level Vth.
If the time at which the output from 6 changes is detected as the light receiving timing, the detected light receiving timing is shifted due to the difference in the level of the light receiving signal. Therefore, FIG.
As shown in the figure, from the time T1 when the output from the STC circuit 54 exceeds the light receiving determination level Vth, the STC circuit 54
Is detected as the pulse width W of the received light signal, and the center time T3 of the received light signal is calculated from the pulse width W, and this time is used to receive the reflected light. Timing.

【0012】そして、物標までの距離を算出する際に
は、発光部から出射させた測定光の中心時刻T0 から、
上記のように求めた反射光の受光タイミング(時刻T3
)までの時間を求め、この時間を距離に換算する。
When calculating the distance to the target, the distance from the center time T0 of the measurement light emitted from the light emitting unit is calculated as follows:
The light receiving timing of the reflected light obtained as described above (time T3
), And convert this time to distance.

【0013】[0013]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
に構成された従来の距離測定装置においては、STC回
路54によって、受光信号の信号処理系での増幅率を、
測定光を出射してからの時間の経過に伴い増加させるこ
とから、この増幅率変化によって、コンパレータ56へ
の信号入力レベルが変化し、反射光の受光タイミングを
正確に検出できなくなることがあった。
By the way, in the conventional distance measuring device configured as described above, the STC circuit 54 determines the amplification factor in the signal processing system of the received light signal.
Since the gain increases with the lapse of time after the measurement light is emitted, the change in the amplification factor changes the signal input level to the comparator 56, and sometimes the light reception timing of the reflected light cannot be accurately detected. .

【0014】つまり、STC回路54には、通常、例え
ば図10(a)に示すようなダブル・バランスト・ミキ
サ(二重平衡変調器)からなる所謂乗算器が使用され、
受光部側からの入力信号に、STC信号を乗じることに
より、入力信号をSTC信号に対応した増幅率にて増幅
した信号を出力することから、上記のようにSTC信号
が変化すると、その変化分が出力側に漏れ出す(フィー
ドスルー)ことがある。
That is, in the STC circuit 54, a so-called multiplier composed of, for example, a double balanced mixer (double balanced modulator) as shown in FIG.
By multiplying the input signal from the light receiving section by the STC signal, a signal obtained by amplifying the input signal at an amplification factor corresponding to the STC signal is output. May leak to the output side (feedthrough).

【0015】そして、STC信号の変化が、反射光の周
波数領域とは大きく異なる場合には、上述のカップリン
グコンデンサ等によって、そのフィードスルー成分をカ
ットし、コンパレータ56への信号入力レベルが、フィ
ードスルーの影響を受けるのを防止できるが、上記のよ
うに近距離からの反射光の誤検出を防止するためにST
C回路56を設けた装置では、STC信号と受光信号と
が極近い周波数領域にて変化するため、フィードスルー
が生じると、図10(b)に示すように、本来コンパレ
ータ56に入力されるべき受光信号Aが、フィードスル
ーの影響を受けて、STC信号の変化に応じて正電位
(+)方向に変化する受光信号Bになったり、逆にST
C信号の変化に応じて負電位(−)方向に変化する受光
信号Cになったりする。
If the change in the STC signal is significantly different from the frequency range of the reflected light, the feedthrough component is cut off by the above-described coupling capacitor or the like, and the signal input level to the comparator 56 is reduced Although it is possible to prevent the influence of the through light, as described above, in order to prevent erroneous detection of reflected light from a short distance, ST
In the device provided with the C circuit 56, since the STC signal and the light receiving signal change in a frequency region extremely close to each other, when feedthrough occurs, the signal should be originally input to the comparator 56 as shown in FIG. The light receiving signal A becomes the light receiving signal B which changes in the positive potential (+) direction in response to the change of the STC signal under the influence of the feedthrough, and
The light receiving signal C changes in the negative potential (-) direction according to the change of the C signal.

【0016】そして、受光信号Bでは、コンパレータ5
6への入力信号が通常よりも高くなるので、コンパレー
タ56にて反射光が測定光の出射直後に誤検出され、逆
に、受光信号Cでは、コンパレータ56への入力信号が
通常よりも低くなるので、コンパレータ56にて反射光
が検出されなくなってしまう。
In the light receiving signal B, the comparator 5
6 is higher than normal, the reflected light is erroneously detected by the comparator 56 immediately after the measurement light is emitted. Conversely, the input signal to the comparator 56 is lower than normal in the received light signal C. Therefore, the reflected light is not detected by the comparator 56.

【0017】尚、図10(a)に示すダブル・バランス
ト・ミキサは、夫々、一対のトランジスタ(Q1とQ
2、Q3とQ4、Q5とQ6)からなる3つの差動回路
62,64,66と定電流源68とから構成され、対称
に配置された差動回路62,64から差動回路66の各
トランジスタQ5,Q6を介して定電流源68側に定電
流が流れるようになっている。そして、このダブル・バ
ランスト・ミキサでは、差動回路62,64の各トラン
ジスタQ1,Q2及びQ4,Q3間に、夫々、STC信
号を印加し、差動回路66のトランジスタQ5,Q6間
に受光部側からの信号を印加すれば、差動回路62,6
4側の出力端子から、各信号を乗じた乗算信号が出力さ
れるが、こうしたダブル・バランスト・ミキサの構成及
び動作は、従来より周知(例えば、CQ出版社,トラン
ジスタ技術,1994,2月号等参照)であるので、詳細な
説明は省略する。
The double balanced mixer shown in FIG. 10A has a pair of transistors (Q1 and Q1).
2, Q3 and Q4, Q5 and Q6) and a constant current source 68, and each of the symmetrically arranged differential circuits 62 and 64 to the differential circuit 66 A constant current flows to the constant current source 68 via the transistors Q5 and Q6. In this double balanced mixer, an STC signal is applied between the transistors Q1, Q2 and Q4, Q3 of the differential circuits 62, 64, respectively, and light is received between the transistors Q5, Q6 of the differential circuit 66. When signals from the unit side are applied, the differential circuits 62, 6
A multiplied signal obtained by multiplying each signal is output from the output terminal on the fourth side. The configuration and operation of such a double balanced mixer are well known in the art (for example, CQ Publishing Co., Transistor Technology, February 1994, February). , Etc.), and a detailed description thereof will be omitted.

【0018】また、こうした問題は、STC回路54に
ダブル・バランスト・ミキサを使用した場合だけでな
く、例えば、STC回路54にオペアンプからなる乗算
器や、可変利得増幅器を用いた場合にも同様に発生す
る。一方、上記のような問題は、STC回路54から出
力される直流信号成分が、STC信号によって変化する
ことにより生じることから、STC回路54への信号入
力端子に直流電圧を印加して、STC回路54内の直流
信号成分をオフセットさせれば解消できる。
Such a problem occurs not only when a double balanced mixer is used for the STC circuit 54 but also when, for example, a multiplier including an operational amplifier or a variable gain amplifier is used for the STC circuit 54. Occurs. On the other hand, since the above-described problem occurs when the DC signal component output from the STC circuit 54 is changed by the STC signal, a DC voltage is applied to the signal input terminal of the STC circuit 54, and the STC circuit 54 This can be solved by offsetting the DC signal component in 54.

【0019】しかし、STC回路54から出力されるS
TC信号の変化分は、温度等の環境変化によっても変化
することから、STC回路54への信号入力端子に単に
直流電圧を印加しただけでは、距離測定装置の使用環境
が変化すると、STC回路54のフィードスルーの影響
を受けて、物標までの距離を正確に測定することができ
なくなる。
However, S output from the STC circuit 54
Since the amount of change in the TC signal also changes due to environmental changes such as temperature, simply applying a DC voltage to the signal input terminal of the STC circuit 54 changes the STC circuit 54 when the use environment of the distance measuring device changes. As a result, the distance to the target cannot be measured accurately.

【0020】本発明は、こうした問題に鑑みなされたも
のであり、上記のようなSTC回路を備えた距離測定装
置において、STC回路のフィードスルーの影響を受け
ることなく、常に正確に距離を測定できるようにするこ
とを目的とする。
The present invention has been made in view of such a problem, and in a distance measuring apparatus having the above-described STC circuit, a distance can always be accurately measured without being affected by feedthrough of the STC circuit. The purpose is to be.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】かかる目的を達成するた
めになされた請求項1に記載の距離測定装置において
は、距離算出手段が動作しているときには、まず、発光
手段が、距離算出手段からのパルス状の駆動信号を受け
て、測定光を出射する。そして、受光手段が、測定光が
外部の物標に当たって反射してくる反射光を受光し、受
光信号を出力すると、増幅手段が、その受光信号を増幅
する。そして、受光検出手段が、増幅手段から出力され
る交流信号成分を取り込み、その信号から受光手段によ
る反射光の受光を検出する。
In order to achieve the above object, in the distance measuring device according to the first aspect, when the distance calculating means is operating, first, the light emitting means is turned on by the distance calculating means. , And emits the measurement light. Then, when the light receiving means receives the reflected light from which the measuring light is reflected by hitting the external target and outputs a light receiving signal, the amplifying means amplifies the light receiving signal. Then, the light receiving detecting means takes in the AC signal component output from the amplifying means and detects the reception of the reflected light by the light receiving means from the signal.

【0022】また、距離算出手段は、発光手段にパルス
状の駆動信号を出力すると同時に、増幅率制御手段を起
動する。この結果、増幅手段の増幅率は、発光手段が測
定光を出射してからの時間の経過に伴い大きくなる。つ
まり、増幅手段は、前述のSTC回路として働き、受光
検出手段にて、近距離からの不要な反射光の受光が検出
されるのを防止する。
Further, the distance calculating means outputs a pulse-like driving signal to the light emitting means and simultaneously activates the amplification factor controlling means. As a result, the amplification factor of the amplifying unit increases as time elapses after the light emitting unit emits the measurement light. In other words, the amplifying unit functions as the above-described STC circuit, and prevents the light reception detection unit from detecting unnecessary reception of reflected light from a short distance.

【0023】そして、距離算出手段は、発光手段から測
定光を出射させてから、受光検出手段にて反射光の受光
が検出されるまでの時間を計時し、その計時時間から物
標までの距離を算出する。即ち、本発明の距離測定装置
では、前述した従来装置と同様の動作で、物標までの距
離を測定する。
The distance calculating means measures the time from the emission of the measuring light from the light emitting means to the detection of the reflected light by the light receiving detecting means, and the distance from the measured time to the target. Is calculated. That is, the distance measuring device of the present invention measures the distance to the target by the same operation as the above-described conventional device.

【0024】一方、本発明では、基準レベル測定手段,
動作レベル測定手段及び直流電圧設定手段が、増幅率制
御手段による増幅率制御に起因して前記増幅手段から出
力される交流信号成分を抑制するために直流電圧印加手
段が増幅手段の信号入力端子に印加する直流電圧を、以
下のように設定する。
On the other hand, in the present invention, the reference level measuring means,
The operating level measuring means and the DC voltage setting means are arranged such that the DC voltage applying means is connected to the signal input terminal of the amplifying means in order to suppress the AC signal component output from the amplifying means due to the gain control by the gain controlling means. The DC voltage to be applied is set as follows.

【0025】即ち、まず基準レベル測定手段が、増幅手
段への信号入力がないときに、レベル検出手段にて検出
される増幅手段からの交流信号成分のレベルを、基準レ
ベルとして測定する。また、動作レベル測定手段が、増
幅率制御手段を起動することにより、増幅手段の増幅率
を変化させ、そのときレベル検出手段にて検出される交
流信号成分のレベルを、増幅率制御手段動作時の動作レ
ベルとして測定する。そして、このように基準レベル及
び動作レベルが夫々測定されると、直流電圧設定手段
が、その測定した動作レベルが基準レベルとなるよう
に、上記直流電圧を設定する。
That is, first, when there is no signal input to the amplifying means, the reference level measuring means measures the level of the AC signal component from the amplifying means detected by the level detecting means as a reference level. Further, the operating level measuring means changes the gain of the amplifying means by activating the gain controlling means, and changes the level of the AC signal component detected by the level detecting means at the time of operating the gain controlling means. It is measured as an operation level. When the reference level and the operation level are respectively measured in this way, the DC voltage setting means sets the DC voltage so that the measured operation level becomes the reference level.

【0026】つまり、距離算出手段の動作によって物標
までの距離を測定しているときに、増幅手段からの出力
が増幅率制御手段により制御される増幅率に応じて変化
する、前述のフィードスルーが発生すると、受光検出手
段に入力される信号レベルが変化することから、受光検
出手段にて、受光手段における反射光の受光を正確に検
出できず、距離算出手段の算出結果(距離)に誤差が生
じてしまう。
That is, when the distance to the target is measured by the operation of the distance calculating means, the output from the amplifying means changes in accordance with the gain controlled by the gain controlling means. Occurs, the signal level input to the light receiving detecting means changes, so that the light receiving detecting means cannot accurately detect the reception of the reflected light from the light receiving means, and the calculation result (distance) of the distance calculating means has an error. Will occur.

【0027】そこで、本発明では、増幅手段への信号入
力がなく、その増幅率が変化していないときに増幅手段
から出力される交流信号成分のレベル(基準レベル)
と、増幅率制御手段を動作させて増幅手段の増幅率を変
化させた際に増幅手段から出力される交流信号成分のレ
ベル(動作レベル)とを測定し、動作レベルが基準レベ
ルとなるように、増幅手段の信号入力端子に印加する直
流電圧を設定することにより、増幅手段において増幅率
の変化によって生じるフィードスルーを確実に防止でき
るようにしているのである。
Therefore, in the present invention, the level (reference level) of the AC signal component output from the amplifying means when there is no signal input to the amplifying means and the amplification factor does not change.
And measuring the level (operation level) of the AC signal component output from the amplification means when the amplification rate of the amplification means is changed by operating the amplification rate control means so that the operation level becomes the reference level. By setting a DC voltage to be applied to the signal input terminal of the amplifying means, it is possible to reliably prevent feedthrough caused by a change in amplification factor in the amplifying means.

【0028】従って、本発明によれば、距離測定時に増
幅手段の増幅率が変化することによって生じるフィード
スルーを確実に防止し、物標までの距離を高精度に測定
することが可能になる。また、特に、本発明では、フィ
ードスルーをキャンセルするために直流電圧印加手段が
増幅手段の信号入力端子に印加する直流電圧を、レベル
検出手段,基準レベル測定手段,動作レベル測定手段及
び直流電圧設定手段の動作によっていつでも設定できる
ことから、基準レベル測定手段,動作レベル測定手段及
び直流電圧設定手段を、例えば、当該装置の周囲温度変
化よりも短い周期で周期的に動作させるようにすれば、
周囲温度変化に伴うフィードスルー変化をも確実に防止
し、物標までの距離を常に高精度に測定することが可能
になる。
Therefore, according to the present invention, it is possible to reliably prevent feedthrough caused by a change in the amplification factor of the amplifying means during distance measurement, and to measure the distance to the target with high accuracy. Also, in particular, in the present invention, the DC voltage applying means applies the DC voltage applied to the signal input terminal of the amplifying means to cancel the feedthrough to the level detecting means, the reference level measuring means, the operation level measuring means, and the DC voltage setting. Since it can be set at any time by the operation of the means, if the reference level measuring means, the operating level measuring means and the DC voltage setting means are operated periodically, for example, in a cycle shorter than the ambient temperature change of the device,
It is also possible to reliably prevent a change in feedthrough due to a change in ambient temperature, and to constantly measure the distance to a target with high accuracy.

【0029】ここで、増幅手段のフィードスルーを測定
するためには、STC回路として機能する増幅手段から
の出力を、上記のように基準レベル,動作レベルとし
て、夫々、測定するだけでよいが、フィードスルーは交
流信号成分であるので、その信号レベルを測定するため
のレベル検出手段としては、ピークホールド回路等、増
幅手段からの出力の最大レベルを検出可能なものを使用
することが望ましい。
Here, in order to measure the feedthrough of the amplifying means, it is only necessary to measure the output from the amplifying means functioning as the STC circuit as the reference level and the operation level, respectively, as described above. Since the feedthrough is an AC signal component, it is desirable to use, as a level detecting means for measuring the signal level, a means capable of detecting the maximum level of the output from the amplifying means, such as a peak hold circuit.

【0030】しかし、レベル検出手段に、ピークホール
ド回路等の最大値検出手段を用いた場合、図10(c)
に示したようにフィードスルーが負側に出た場合には、
フィードスルーが「0」であるのか、負であるのか区別
が付かなくなってしまう。そこで、請求項1に記載の装
置においては、更に、請求項2に記載のように、増幅手
段への受光信号の入力を遮断して、前記増幅手段にパル
ス状の疑似受光信号を入力する疑似受光信号入力手段を
設けると共に、レベル検出手段を、増幅手段から出力さ
れる交流信号成分の最大レベルを検出するように構成し
(つまり最大値検出手段にて構成し)、基準レベル測定
手段が、基準レベルを測定する際には、増幅手段の増幅
率を前記増幅率制御手段が制御する最大増幅率に設定し
て、疑似信号入力手段を動作させ、動作レベル測定手段
が、動作レベルを測定する際には、増幅率制御手段を起
動して増幅手段の増幅率を変化させ、その増幅手段の増
幅率が最大増幅率になる所定タイミングで、疑似信号入
力手段を動作させるように構成することが望ましい。
However, when the maximum value detecting means such as a peak hold circuit is used as the level detecting means, FIG.
If the feedthrough goes negative as shown in
It becomes impossible to distinguish whether the feedthrough is “0” or negative. Therefore, in the apparatus according to the first aspect, as in the second aspect, the input of the light receiving signal to the amplifying means is cut off, and the pseudo light receiving signal in the form of a pulse is input to the amplifying means. The light receiving signal input means is provided, and the level detecting means is configured to detect the maximum level of the AC signal component output from the amplifying means (that is, configured by the maximum value detecting means). When measuring the reference level, the amplification factor of the amplification unit is set to the maximum amplification ratio controlled by the amplification ratio control unit, the pseudo signal input unit is operated, and the operation level measurement unit measures the operation level. In this case, the amplification factor control means may be activated to change the amplification rate of the amplification means, and the pseudo signal input means may be operated at a predetermined timing at which the amplification rate of the amplification means becomes the maximum amplification rate. Hope Arbitrariness.

【0031】つまり、このように基準レベル及び動作レ
ベルの測定時には、増幅手段に疑似受光信号を入力し
て、増幅手段が疑似受光信号を同じ増幅率(最大増幅
率)で増幅したときに得られる、増幅手段からの出力の
最大レベルを測定するようにすれば、増幅手段の出力を
フィードスルーの有無に関係なく常に正側に変化させる
ことが可能になり、増幅手段のフィードスルーを正確に
検出できることになる。そしてこのように、請求項2に
記載の装置によれば、フィードスルーを常に正確に検出
できるため、これをキャンセルするための直流電圧も正
確に設定でき、増幅手段のフィードスルーによる距離測
定誤差を、より確実に低減できる。
That is, when the reference level and the operation level are measured as described above, the pseudo light receiving signal is input to the amplifying means, and the signal is obtained when the amplifying means amplifies the pseudo light receiving signal at the same amplification factor (maximum amplification factor). By measuring the maximum level of the output from the amplifying means, it is possible to always change the output of the amplifying means to the positive side irrespective of the presence or absence of feedthrough, and accurately detect the feedthrough of the amplifying means You can do it. In this way, according to the apparatus of the second aspect, since the feedthrough can always be detected accurately, the DC voltage for canceling the feedthrough can be set accurately, and the distance measurement error due to the feedthrough of the amplifying means can be reduced. , Can be reduced more reliably.

【0032】また、このようにレベル検出手段に、ピー
クホールド回路等の最大値検出手段を用いた場合、ピー
クホールド回路等の最大値検出手段では、通常、最大レ
ベルの測定に最適な電圧範囲(所謂ダイナミックレン
ジ)が設定されており、入力電圧がこの電圧範囲から外
れると、最大レベルを正確に測定できないことがある。
When the maximum value detecting means such as a peak hold circuit is used as the level detecting means as described above, the maximum value detecting means such as the peak hold circuit usually uses an optimum voltage range (maximum level) for measuring the maximum level. (A so-called dynamic range) is set, and if the input voltage is out of this voltage range, the maximum level may not be measured accurately.

【0033】このため、より好ましくは、請求項3に記
載のように、受光手段から増幅手段に至る信号経路に、
入力信号を増幅して出力する第2増幅手段を設け、基準
レベル測定手段が基準レベルを測定する際には、基準レ
ベルがレベル検出手段の動作に最適な所定レベルとなる
ように、第2増幅手段の増幅率を設定するように構成す
るとよい。
For this reason, it is more preferable that the signal path from the light receiving means to the amplifying means is provided in the signal path as described in claim 3.
Second amplification means for amplifying and outputting the input signal is provided, and when the reference level measurement means measures the reference level, the second amplification means sets the reference level to a predetermined level optimal for the operation of the level detection means. It is preferable to set the amplification factor of the means.

【0034】尚、第2増幅手段としては、従来装置にお
いて、通常、増幅手段としてのSTC回路の前段に設け
られる可変利得増幅器(図9(b)に示した増幅器5
2)を使用すればよい。また、ピークホールド回路等の
最大値検出手段は、信号無入力時でもオフセット電圧を
出力し、このオフセット電圧は、回路の個体差や温度等
によって変化する。従って、請求項3に記載のように、
レベル検出手段を用いて測定した基準レベルがレベル検
出手段の動作に最適なレベルとなるように第2増幅手段
の増幅率を設定するようにしても、測定した基準レベル
にはオフセット電圧が含まれるため、そのオフセット電
圧がレベル検出手段の最適入力レベルに対して無視でき
ない程変動する場合には、レベル検出手段を用いて増幅
手段からの出力信号レベル(延いては、増幅手段のフィ
ードスルー)を良好に測定できなくなってしまう。
As the second amplifying means, a variable gain amplifier (an amplifier 5 shown in FIG. 9 (b)) usually provided in a stage prior to the STC circuit as the amplifying means in the conventional device.
2) may be used. Further, the maximum value detecting means such as a peak hold circuit outputs an offset voltage even when there is no signal input, and this offset voltage changes depending on individual differences of circuits, temperature, and the like. Therefore, as described in claim 3,
Even if the amplification factor of the second amplifying unit is set so that the reference level measured by using the level detecting unit becomes an optimal level for the operation of the level detecting unit, the measured reference level includes the offset voltage. Therefore, when the offset voltage fluctuates so as not to be ignored with respect to the optimum input level of the level detecting means, the level of the output signal from the amplifying means (and the feedthrough of the amplifying means) is reduced by using the level detecting means. Measurement cannot be performed well.

【0035】そこで、請求項3に記載の装置において、
増幅手段のフィードスルーをより確実にキャンセルする
には、請求項4に記載のように、基準レベル測定手段に
よる基準レベルの測定前に、レベル検出手段を信号無入
力状態で動作させ、そのときレベル検出手段にて検出さ
れた最大レベルを、レベル検出手段のオフセット値とし
て測定するオフセット値測定手段を設け、基準レベル測
定手段及び動作レベル測定手段を、レベル検出手段にて
検出された最大レベルからそのオフセット値を引いた値
を、基準レベル及び動作レベルとして夫々測定するよう
構成することが望ましい。
Therefore, in the apparatus according to the third aspect,
In order to more reliably cancel the feedthrough of the amplifying means, the level detecting means is operated without a signal before the reference level is measured by the reference level measuring means. Providing an offset value measuring means for measuring the maximum level detected by the detecting means as an offset value of the level detecting means, and setting the reference level measuring means and the operation level measuring means from the maximum level detected by the level detecting means. It is desirable that the value obtained by subtracting the offset value be measured as the reference level and the operation level, respectively.

【0036】また、距離測定装置を請求項3又は請求項
4に記載のように構成した場合、基準レベル測定手段に
て、基準レベルを所定レベルに設定できれば、その所定
レベルを基準レベルとすればよいが、基準レベルを所定
レベルに設定できるとは限らないので、更に、請求項5
に記載のように、基準レベル測定手段を、第2増幅手段
の増幅率を設定した後、基準レベルの測定を再度行うよ
うに構成し、直流電圧設定手段では、基準レベル測定手
段にて第2増幅手段の増幅率設定後に測定された基準レ
ベルを用いて、直流電圧を設定することが望ましい。
In the case where the distance measuring device is configured as described in claim 3 or 4, if the reference level can be set to a predetermined level by the reference level measuring means, the predetermined level is set as the reference level. Although it is preferable, the reference level cannot always be set to a predetermined level.
The reference level measuring means is configured to set the amplification factor of the second amplifying means and then perform the measurement of the reference level again, and the DC voltage setting means sets the second level by the reference level measuring means. It is desirable to set the DC voltage using the reference level measured after setting the amplification factor of the amplification means.

【0037】また、直流電圧設定手段において、直流電
圧が既に設定されているときに、周期的な動作によっ
て、直流電圧を更新する際には、請求項6に記載のよう
に、動作レベルと基準レベルとの偏差を求め、その偏差
が所定レベル以上であれば、現在直流電圧として設定さ
れている現在電圧値を偏差が小さくなる方向に所定電圧
分だけ変化させた変更電圧値を、新たな直流電圧として
設定し、偏差が所定レベルよりも小さければ、現在電圧
値と変更電圧値とを現在電圧値に重み付けして平均化し
た加重平均電圧値を、新たな直流電圧として設定するよ
うにするとよい。
In the DC voltage setting means, when the DC voltage is updated by a periodic operation when the DC voltage has already been set, the operation level and the reference level are set as described in claim 6. A deviation from the current level is obtained, and if the deviation is equal to or more than a predetermined level, a changed voltage value obtained by changing the current voltage value set as the current DC voltage by a predetermined voltage in a direction in which the deviation decreases becomes a new DC voltage. If the deviation is smaller than a predetermined level, a weighted average voltage value obtained by weighting the current voltage value and the changed voltage value to the current voltage value and averaging them may be set as a new DC voltage. .

【0038】つまり、フィードスルーは温度によって変
化するものの、温度は、急変するものではなく、直流電
圧は、一旦設定すれば、最適値から大きくずれることは
ない。従って、直流電圧の更新時には、外乱ノイズ等の
影響を受けて大きく変化することのないよう、その変化
量を小さくすることが望ましい。しかし、装置の動作電
圧等が変化した場合には、直流電圧の最適値も急変する
ことがあり、このような場合には、それに応じて、直流
電圧を大きく変化させる必要がある。
That is, although the feedthrough changes depending on the temperature, the temperature does not change suddenly, and the DC voltage does not greatly deviate from the optimum value once it is set. Therefore, when the DC voltage is updated, it is desirable to reduce the amount of change so that the DC voltage does not greatly change under the influence of disturbance noise or the like. However, when the operating voltage or the like of the device changes, the optimum value of the DC voltage may also change suddenly. In such a case, the DC voltage needs to be largely changed accordingly.

【0039】そこで、請求項6に記載の距離測定装置で
は、動作レベルと基準レベルとの偏差が所定レベル以上
である場合には、動作電圧等が急変したものと判定し
て、現在の直流電圧に所定電圧を加算(又は減算)した
変更電圧値を、新たな直流電圧として設定することによ
り、直流電圧を各信号レベルの偏差がなくなる方向に大
きく変化させ、動作レベルと基準レベルとの偏差が所定
レベルよりも小さい場合には、現在電圧値と変更電圧値
とを加重平均した電圧値を新たな直流電圧として設定す
ることにより、直流電圧を各信号レベルの偏差がなくな
る方向に少ない変化量で除々に変化させるようにしてい
るのである。このため、請求項6に記載の距離測定装置
によれば、直流電圧を各信号レベルの偏差の程度に応じ
て更新でき、直流電圧を最適値に制御できる。
Therefore, in the distance measuring device according to the present invention, when the deviation between the operating level and the reference level is equal to or more than a predetermined level, it is determined that the operating voltage or the like has suddenly changed, and the current DC voltage is determined. By setting a changed voltage value obtained by adding (or subtracting) a predetermined voltage to a new DC voltage, the DC voltage is largely changed in a direction in which the deviation of each signal level is eliminated, and the deviation between the operation level and the reference level is reduced. When the voltage is smaller than the predetermined level, a voltage value obtained by weighting and averaging the current voltage value and the changed voltage value is set as a new DC voltage. They change it gradually. Therefore, according to the distance measuring device of the sixth aspect, the DC voltage can be updated according to the degree of deviation of each signal level, and the DC voltage can be controlled to an optimum value.

【0040】また、本発明(請求項1〜請求項6)の距
離測定装置は、温度によるフィードスルーの変化の影響
を受けることなく、物標までの距離を高精度に測定でき
ることから、あらゆる分野に適用できるが、特に、請求
項7に記載のように、使用温度環境が大きく変化する自
動車等の車両に搭載して、車両の進行方向前方に位置す
る物標までの距離を測定する車両用距離測定装置として
使用すれば、より効果を発揮できる。
Further, the distance measuring device of the present invention (claims 1 to 6) can measure the distance to the target with high accuracy without being affected by a change in feedthrough due to temperature. In particular, as described in claim 7, for a vehicle that is mounted on a vehicle such as an automobile whose use temperature environment greatly changes and measures the distance to a target located in front of the vehicle in the traveling direction. If used as a distance measuring device, more effects can be exhibited.

【0041】[0041]

【発明の実施の形態】以下に本発明の一実施例を図面と
共に説明する。まず図1は、本発明が適用された自動車
用距離測定装置の構成を表すブロック図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. First, FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a vehicle distance measuring apparatus to which the present invention is applied.

【0042】図1に示す如く、本実施例の自動車用距離
測定装置は、駆動回路2により通電されてレーザ光(測
定光)を車両前方に出射するレーザダイオードからなる
発光部(発光手段)4、及び、発光部4が出射したレー
ザ光が先行車両6等の車両前方の物標に当たって反射し
てくる反射光を受光するフォトダイオードからなる受光
部(受光手段)8を備える。
As shown in FIG. 1, the vehicle distance measuring device of this embodiment is a light emitting section (light emitting means) 4 composed of a laser diode which is energized by the drive circuit 2 and emits laser light (measuring light) forward of the vehicle. And a light receiving section (light receiving means) 8 composed of a photodiode for receiving reflected light in which the laser light emitted from the light emitting section 4 strikes a target ahead of the vehicle such as the preceding vehicle 6 and is reflected.

【0043】そして、受光部8からの受光信号は、増幅
器10で増幅され、信号切換回路12を介して、第2増
幅手段としての可変利得増幅器(以下、単に増幅器とい
う)14に入力される。尚、この増幅器14は、図9
(b)に示した増幅器52と同様のものであり、CP
U,ROM,RAM等を中心に構成された周知のマイク
ロコンピュータ(以下、単にCPUという)30から出
力されるゲインコントロール電圧VGCにより増幅率が制
御される。
The light receiving signal from the light receiving section 8 is amplified by the amplifier 10 and input to the variable gain amplifier (hereinafter simply referred to as an amplifier) 14 as the second amplifying means via the signal switching circuit 12. Note that this amplifier 14 has the configuration shown in FIG.
This is similar to the amplifier 52 shown in FIG.
The gain is controlled by a gain control voltage VGC output from a well-known microcomputer (hereinafter, simply referred to as CPU) 30 mainly composed of U, ROM, RAM and the like.

【0044】また、信号切換回路12は、増幅器14の
入力を受光部8側の受光信号入力経路に接続するか、或
いはフィルタ16に接続するかを切り換えるためのもの
であり、CPU30からの切換信号により、その内のい
ずれかに切り換えられる。尚、信号切換回路12は、通
常は、受光部8側に切り換えられており、後述のフィー
ドスルーキャンセル処理実行時等に一時的にフィルタ1
6側に切り換えられる。また、フィルタ16は、抵抗・
コンデンサ等からなる微分回路にて構成されており、C
PU30から制御信号(Highレベル)が入力されると、
これを微分して、パルス状の疑似受光信号(以下、単に
疑似信号という)を発生する。そして、本実施例では、
このフィルタ16と信号切換回路12とが、本発明の疑
似受光信号入力手段として機能する。
The signal switching circuit 12 is for switching whether the input of the amplifier 14 is connected to the light receiving signal input path of the light receiving section 8 or to the filter 16. Is switched to one of them. Note that the signal switching circuit 12 is normally switched to the light receiving unit 8 side, and the filter 1 is temporarily turned off when performing a feed-through canceling process described later.
6 is switched. The filter 16 includes a resistor
It consists of a differentiation circuit consisting of a capacitor, etc.
When a control signal (High level) is input from the PU 30,
This is differentiated to generate a pulsed pseudo light receiving signal (hereinafter simply referred to as a pseudo signal). And in this embodiment,
The filter 16 and the signal switching circuit 12 function as a pseudo light receiving signal input unit of the present invention.

【0045】次に、増幅器14からの出力信号はSTC
回路(増幅手段)18に入力されるが、STC回路18
の信号入力端子には、直流電圧VDCを印加するための電
圧重畳回路(直流電圧印加手段)20が設けられてお
り、STC回路18には、増幅器14からの出力信号
(交流信号成分)に直流電圧VDCが重畳された信号が入
力される。尚、この直流電圧VDCは、STC回路18の
フィードスルーをキャンセルするためのものである。
Next, the output signal from the amplifier 14 is STC
Circuit (amplifying means) 18, but the STC circuit 18
Is provided with a voltage superimposing circuit (DC voltage applying means) 20 for applying a DC voltage VDC, and an STC circuit 18 applies a DC signal to an output signal (AC signal component) from the amplifier 14. A signal on which the voltage VDC is superimposed is input. This DC voltage VDC is for canceling the feedthrough of the STC circuit 18.

【0046】また、STC回路18は、図10(a)に
示したダブル・バランスト・ミキサから構成され、その
増幅率(換言すれば入力信号に対する乗算値)は、ST
C電圧発生回路22が発生するSTC電圧Vstc によ
り、時間の経過と共に増大するよう制御される。
The STC circuit 18 is composed of the double balanced mixer shown in FIG. 10A, and its amplification factor (in other words, the multiplication value for the input signal) is
The voltage is controlled so as to increase with time by the STC voltage Vstc generated by the C voltage generation circuit 22.

【0047】つまり、STC電圧発生回路22は、発光
部4からのレーザ光の出射時等、CPU30から所定タ
イミングで出力される制御信号を受けたときに、最小レ
ベルから最大レベルにまで時間の経過と共に増大するS
TC電圧Vstc を発生するように構成されており、ST
C回路18は、このSTC電圧Vstc の変化に応じて変
化(増大)する増幅率にて入力信号を増幅・出力する。
That is, when the STC voltage generation circuit 22 receives a control signal output from the CPU 30 at a predetermined timing, such as when a laser beam is emitted from the light-emitting unit 4, the time elapses from the minimum level to the maximum level. S increases with
It is configured to generate a TC voltage Vstc.
The C circuit 18 amplifies and outputs an input signal at an amplification factor that changes (increases) according to the change of the STC voltage Vstc.

【0048】尚、STC電圧発生回路22は、CPU3
0から制御信号を受けると、STC電圧Vstc を最小レ
ベルから最大レベルにまで変化させるが、STC電圧V
stcが最大レベルに達した後(換言すればSTC回路1
8の増幅率が最大増幅率に達した後)は、CPU30か
ら次に制御信号が入力されるまで、その状態を保持す
る。
Note that the STC voltage generation circuit 22
When the control signal is received from 0, the STC voltage Vstc is changed from the minimum level to the maximum level.
After stc reaches the maximum level (in other words, STC circuit 1
8) (after the gain reaches the maximum gain), the state is maintained until the next control signal is input from the CPU 30.

【0049】次に、STC回路18からの出力信号は、
コンパレータ24に入力される。コンパレータ24は、
STC回路18からの出力信号と受光判定レベルVthと
を大小比較し、STC回路18からの出力が受光判定レ
ベルVthよりも大きいときに出力端子からHighレベルの
信号を出力し、反転出力端子からLow レベルの信号を出
力する。そして、コンパレータ24の各出力端子は、時
間計測IC26に接続されており、時間計測IC26
は、コンパレータ24の各出力端子からの出力信号の立
上がりを監視し、図9(a)に示した時刻T1 ,T2 を
測定する。
Next, the output signal from the STC circuit 18 is
It is input to the comparator 24. The comparator 24
The output signal from the STC circuit 18 and the light reception determination level Vth are compared in magnitude, and when the output from the STC circuit 18 is higher than the light reception determination level Vth, a High level signal is output from the output terminal, and the inverted output terminal outputs a Low level signal. Output level signal. Each output terminal of the comparator 24 is connected to the time measurement IC 26.
Monitors the rise of the output signal from each output terminal of the comparator 24, and measures the times T1 and T2 shown in FIG. 9A.

【0050】つまり、時間計測IC26は、コンパレー
タ24への入力信号が受光判定レベルVth以上となって
出力端子からの出力が立上がる時刻T1 、及び、コンパ
レータ24への入力信号が受光判定レベルVthよりも小
さくなって反転出力端子からの出力が立ち上がる時刻T
2 を、夫々検出する。
That is, the time measurement IC 26 determines that the input signal to the comparator 24 is higher than the light reception determination level Vth and the output from the output terminal rises at T1, and that the input signal to the comparator 24 is higher than the light reception determination level Vth. Time T at which the output from the inverted output terminal rises and becomes smaller
2 are detected respectively.

【0051】尚、CPU30は、駆動回路2にパルス状
の駆動信号を出力して、発光部4から車両前方にレーザ
光を出射させると同時に、時間計測IC26を起動する
ことから、時間計測IC26では、実際には、レーザ光
を出射した時刻(図9(a)に示した時刻T0 )からの
経過時間が測定される。
The CPU 30 outputs a pulse-like drive signal to the drive circuit 2 to emit a laser beam from the light emitting section 4 to the front of the vehicle and activates the time measurement IC 26 at the same time. Actually, the elapsed time from the time when the laser light is emitted (time T0 shown in FIG. 9A) is measured.

【0052】そして、CPU30は、従来技術の項で説
明したように、時間計測IC26で測定された時刻T1
,T2 (経過時間)に基づき、受光信号のパルス幅W
を測定して、受光中心時刻T3 を求め、レーザ光の出射
時刻(中心時刻)T0 からその受光中心時刻T3 までの
時間を算出して、その時間から車両前方の物標までの距
離を求める。つまり、本実施例では、CPU30と時間
計測IC26とにより距離算出手段としての機能が実現
される。
Then, the CPU 30 determines the time T1 measured by the time measurement IC 26 as described in the section of the prior art.
, T2 (elapsed time), the pulse width W of the received light signal
Is measured to determine the light receiving center time T3, the time from the laser light emission time (center time) T0 to the light receiving center time T3 is calculated, and the distance to the target ahead of the vehicle is calculated from the time. That is, in the present embodiment, the function as the distance calculation unit is realized by the CPU 30 and the time measurement IC 26.

【0053】また、STC回路18の出力端子には、レ
ベル検出手段としてのピークホールド回路28が接続さ
れ、このピークホールド回路28にて、STC回路18
から出力された信号の最大レベルを検出できるようにな
っている。そして、このピークホールド回路28にて検
出された最大レベル(ピークホールド電圧VPH)は、C
PU30に入力される。
An output terminal of the STC circuit 18 is connected to a peak hold circuit 28 as a level detecting means.
The maximum level of the signal output from the device can be detected. The maximum level (peak hold voltage VPH) detected by the peak hold circuit 28 is equal to C
It is input to PU30.

【0054】また、受光部8からコンパレータ24及び
ピークホールド回路28に至る信号処理系の各部は、電
圧重畳回路20とSTC回路18との間の信号経路を除
き、全て直流信号成分カット用のカップリングコンデン
サにて接続されており、受光部8からの受光信号等、距
離測定に必要な交流信号成分のみを伝送できるようにさ
れている。
All the components of the signal processing system from the light receiving section 8 to the comparator 24 and the peak hold circuit 28 except for the signal path between the voltage superposition circuit 20 and the STC circuit 18 are all cups for cutting DC signal components. They are connected by a ring capacitor, and can transmit only an AC signal component necessary for distance measurement, such as a light receiving signal from the light receiving unit 8.

【0055】このように構成された本実施例の距離測定
装置は、CPU30が予め設定された制御プログラムに
従い動作することにより、上述の距離測定や、距離測定
を最適に行うための各種制御(例えば、従来技術の項で
説明した増幅器14の増幅率調整等)を実行するのであ
るが、次に、CPU30において実行される本発明に係
わる主要な処理である、フィードスルーキャンセル処理
について説明する。
In the distance measuring apparatus of the present embodiment configured as described above, the CPU 30 operates according to a preset control program to execute the above-described distance measurement and various controls for optimally performing the distance measurement (for example, In this case, a feed-through canceling process, which is a main process according to the present invention and executed by the CPU 30, will be described.

【0056】図2はフィードスルーキャンセル処理の全
体の流れを表すフローチャートである。図2に示す如
く、この処理は、CPU30の起動直後に一回だけ実行
される初期オフセット値取得処理(S110;Sはステ
ップを表す)、初期基準値取得処理(S120)、及び
初期電圧設定処理(S130)と、その後、所定時間が
経過する度(S140;YES)に実行される通常オフ
セット値取得処理(S150)、通常基準値取得処理
(S160)、及び通常電圧設定処理(S170)とに
より実現される。
FIG. 2 is a flowchart showing the entire flow of the feed-through cancel process. As shown in FIG. 2, this processing is performed only once immediately after the CPU 30 is started, an initial offset value obtaining processing (S110; S represents a step), an initial reference value obtaining processing (S120), and an initial voltage setting processing. (S130), and thereafter, a normal offset value obtaining process (S150), a normal reference value obtaining process (S160), and a normal voltage setting process (S170) executed each time a predetermined time elapses (S140; YES). Is achieved.

【0057】そして、オフセット値取得処理(S11
0,S120)では、STC回路18のフィードスルー
を検出するのに用いるピークホールド回路28のオフセ
ット値を測定する、オフセット値測定手段としての処理
を実行し、基準値取得処理(S120,S160)で
は、STC回路18の増幅率を一定(最大増幅率)にし
た状態で、増幅器14に疑似信号を入力し、そのときピ
ークホールド回路28で検出された疑似信号の信号レベ
ル(最大レベル)を読み込み、その値を基準レベルとし
て設定する、基準レベル測定手段としての処理を実行
し、電圧設定処理(S130,S170)では、STC
回路18の増幅率を距離測定時と同様に変化させ、その
増幅率が最大になった直後に増幅器14に疑似信号を入
力し、そのときピークホールド回路28で検出された疑
似信号の信号レベル(最大レベル)を動作レベルとして
読み込み、この動作レベルを上記基準レベルにするため
の直流電圧値を求めて、STC回路18の信号入力端子
に印加する直流電圧VDCを設定する、動作レベル測定手
段及び直流電圧設定手段としての処理を実行する。ま
た、基準値取得処理(S120,S160)では、ピー
クホールド回路28に入力される疑似信号の信号レベル
が、ピークホールド回路28が動作するのに最適な値と
なるように、増幅器14の増幅率(具体的にはゲインコ
ントロール電圧VGC )を設定する処理も併せて実行す
る。
Then, the offset value acquisition processing (S11)
0, S120), a process as an offset value measuring means for measuring the offset value of the peak hold circuit 28 used for detecting the feedthrough of the STC circuit 18 is executed. In the reference value acquisition process (S120, S160), In a state where the amplification factor of the STC circuit 18 is kept constant (maximum amplification factor), a pseudo signal is input to the amplifier 14, and the signal level (maximum level) of the pseudo signal detected by the peak hold circuit 28 at that time is read. A process as a reference level measuring means for setting the value as a reference level is executed. In the voltage setting process (S130, S170), the STC is set.
The amplification factor of the circuit 18 is changed in the same manner as in the distance measurement, and a pseudo signal is input to the amplifier 14 immediately after the amplification factor reaches the maximum, and the signal level of the pseudo signal detected by the peak hold circuit 28 at that time ( Operating level measuring means for determining a DC voltage value for setting the operating level to the reference level and setting a DC voltage VDC to be applied to a signal input terminal of the STC circuit 18. Executes processing as voltage setting means. Further, in the reference value acquisition processing (S120, S160), the amplification factor of the amplifier 14 is set so that the signal level of the pseudo signal input to the peak hold circuit 28 becomes an optimum value for the operation of the peak hold circuit 28. (Specifically, a process of setting the gain control voltage VGC) is also executed.

【0058】以下、上記各処理(S110〜S130,
S150〜S170)の流れを、図3〜図8に示すフロ
ーチャートを用いて詳しく説明する。図3は初期オフセ
ット値取得処理(S110)を表すフローチャートであ
る。図3に示すように、初期オフセット値取得処理で
は、まずS210にて、信号切換回路12をフィルタ1
6側に切り換えて、増幅器14への信号入力を遮断し、
ゲインコントロール電圧VGC(延いては増幅器14の増
幅率)を零にすることで、ピークホールド回路28を信
号無入力状態にして、ピークホールド電圧VPHを読み込
む。
Hereinafter, each of the above processes (S110 to S130,
The flow of S150 to S170) will be described in detail with reference to the flowcharts shown in FIGS. FIG. 3 is a flowchart showing the initial offset value acquisition processing (S110). As shown in FIG. 3, in the initial offset value acquisition processing, first, in S210, the signal switching circuit 12
6 to cut off the signal input to the amplifier 14,
By setting the gain control voltage VGC (and hence the amplification factor of the amplifier 14) to zero, the peak hold circuit 28 is set to a state where no signal is input, and the peak hold voltage VPH is read.

【0059】そして、続くS220では、S210にて
ピークホールド電圧VPHをn回(例えば8回)取得した
か否かを判断し、n回取得していなければ再度S210
を実行させることにより、S210の処理により、ピー
クホールド電圧VPHをn回取得させる。そして、ピーク
ホールド電圧VPHをn回取得できると、続くS230に
移行する。
Then, in S220, it is determined whether or not the peak hold voltage VPH has been acquired n times (for example, 8 times) in S210.
Is performed, the peak hold voltage VPH is acquired n times by the process of S210. Then, when the peak hold voltage VPH can be acquired n times, the process proceeds to subsequent S230.

【0060】S230では、上記のように取得したn個
のピークホールド電圧VPHからその平均値VPHAV(n) を
算出し、続くS240にて、今回取得したn個のピーク
ホールド電圧VPHの内、平均値VPHAV±α(α;例えば
20mV)の範囲内にあるピークホールド電圧VPHは、
m個(例えば5個)以上あるか否かを判断する。
In S230, the average value VPAV (n) is calculated from the n peak hold voltages VPH obtained as described above, and in S240, the average value of the n peak hold voltages VPH obtained this time is calculated. The peak hold voltage VPH in the range of the value VPAV ± α (α; for example, 20 mV) is
It is determined whether there are m (for example, 5) or more.

【0061】そして、平均値VPHAV±αの範囲内にある
ピークホールド電圧VPHがm個以上であれば、ピークホ
ールド電圧VPHを正常に取得できたと判断して、S25
0に移行し、平均値VPHAV±α(α;例えば20mV)
の範囲内にあるm個以上のピークホールド電圧VPHか
ら、平均値VPHAV(α)を算出し、続くS260にて、
その算出した平均値VPHAV(α)を、ピークホールド回
路28のオフセット値(初期値)として設定する。
If the number of the peak hold voltages VPH within the range of the average value VPAV ± α is equal to or more than m, it is determined that the peak hold voltage VPH has been normally obtained, and S25
0, and the average value V PHAV ± α (α; for example, 20 mV)
The average value V PHAV (α) is calculated from the m or more peak hold voltages V PH within the range of
The calculated average value VPAV (α) is set as an offset value (initial value) of the peak hold circuit 28.

【0062】また、S240にて、平均値VPHAV±αの
範囲内にあるピークホールド電圧VPHがm個以上存在し
ないと判断されると、S270に移行して、S210及
びS220によるn個のピークホールド電圧VPHの取得
動作をX回(例えば5回)行ったか否かを判断する。そ
して、その取得動作をx回行っていなければ、S210
に移行して、n個のピークホールド電圧VPHの取得動作
を再度実行する。
If it is determined in step S240 that there are no more than m peak hold voltages VPH within the range of the average value VPHAV ± α, the flow shifts to step S270, and the n peak hold voltages in steps S210 and S220 are performed. It is determined whether or not the voltage VPH acquisition operation has been performed X times (for example, 5 times). If the acquisition operation has not been performed x times, S210
And the operation of acquiring the n peak hold voltages VPH is executed again.

【0063】一方、S210及びS220によるn個の
ピークホールド電圧VPHの取得動作を既にX回行ってい
れば、今回取得したn個のピークホールド電圧VPHは正
常であるとして、S260に移行し、S230で算出し
た平均値VPHAV(n) を、ピークホールド回路28のオフ
セット値(初期値)として設定する。
On the other hand, if the operation of acquiring the n peak hold voltages VPH in S210 and S220 has already been performed X times, it is determined that the n peak hold voltages VPH acquired this time are normal and the process proceeds to S260. Is set as the offset value (initial value) of the peak hold circuit 28.

【0064】そして、このようにS260にて、ピーク
ホールド回路28のオフセット値(初期値)を設定する
と、CPU30は、この初期オフセット取得処理を終了
し、次の初期基準値設定処理を開始する。次に、図4
は、初期オフセット値取得処理(S110)でピークホ
ールド回路28のオフセット値を一旦取得した後、オフ
セット値更新のために周期的に実行される通常オフセッ
ト値取得処理(S150)を表すフローチャートであ
る。
When the offset value (initial value) of the peak hold circuit 28 is set in S260, the CPU 30 terminates the initial offset acquisition processing and starts the next initial reference value setting processing. Next, FIG.
Is a flowchart showing a normal offset value acquisition process (S150) that is periodically executed to update the offset value after the offset value of the peak hold circuit 28 is once acquired in the initial offset value acquisition process (S110).

【0065】図4に示す如く、通常オフセット値取得処
理では、初期オフセット値取得処理(S110)と同様
に、ピークホールド回路28を信号無入力状態にしてピ
ークホールド電圧VPHをn回読み込み(S310,32
0)、その読み込んだn個のピークホールド電圧VPHか
ら平均値VPHAV(n) を算出し(330)、平均値VPHAV
±αの範囲内にあるピークホールド電圧VPHはm個以上
あるか否かを判断し(S340)、平均値VPHAV±αの
範囲内にあるピークホールド電圧VPHがm個以上であれ
ば、その範囲内にあるm個以上のピークホールド電圧V
PHから平均値VPHAV(α)を算出し(350)、オフセ
ット値更新のためのS360に移行する。
As shown in FIG. 4, in the normal offset value acquiring process, the peak hold voltage VPH is read n times by setting the peak hold circuit 28 to the signal non-input state similarly to the initial offset value acquiring process (S110) (S310, S310). 32
0), an average value VPAV (n) is calculated from the read n peak hold voltages VPH (330), and the average value VPAVAV is calculated.
It is determined whether there are m or more peak hold voltages VPH within the range of ± α (S340). If the peak hold voltage VPH within the range of the average value VPAV ± α is m or more, the range is determined. M or more peak hold voltages V
The average value VPAV (α) is calculated from the PH (350), and the flow shifts to S360 for updating the offset value.

【0066】一方、平均値VPHAV±αの範囲内にあるピ
ークホールド電圧VPHがm個以上存在しないと判断され
た場合(S340:NO)には、S370にて、初期又
は通常のオフセット値取得処理で前回取得したオフセッ
ト値(前回値;即ち現在のオフセット値)を、ピークホ
ールド電圧VPHの平均値VPHAVとして設定し、S360
に移行する。
On the other hand, if it is determined that there are no more than m peak hold voltages VPH within the range of the average value VPHAV ± α (S340: NO), in S370, an initial or normal offset value acquisition process is performed. In step S360, the offset value acquired last time (previous value; that is, the current offset value) is set as the average value VPAV of the peak hold voltage VPH.
Move to

【0067】そして、S360では、S350又はS3
70で設定した平均値VPHAVと前回値とから、前回値に
重み付けをした平均値を算出(所謂加重平均)し、その
値を、新たなオフセット値として設定する。尚、この算
出は、例えば、次式(1) に従い行われる。
Then, in S360, S350 or S3
From the average value VPAV set at 70 and the previous value, an average value obtained by weighting the previous value is calculated (so-called weighted average), and the value is set as a new offset value. This calculation is performed, for example, according to the following equation (1).

【0068】 オフセット値=(前回値×9+平均値VPHAV)/10 …(1) このように、通常オフセット値取得処理では、既にオフ
セット値(前回値)が設定されているので、このオフセ
ット値と今回求めた平均値との加重平均値をオフセット
値として設定することにより、オフセット値が外乱ノイ
ズ等によって大きく変動するのを防止している。
Offset value = (previous value × 9 + average value V PHAV) / 10 (1) As described above, in the normal offset value acquisition processing, the offset value (previous value) has already been set. By setting a weighted average value with the average value obtained this time as an offset value, it is possible to prevent the offset value from largely fluctuating due to disturbance noise or the like.

【0069】次に図5は、初期基準値取得処理(S12
0)を表すフローチャートである。図5に示すように、
初期基準値取得処理では、まずS410にて、下記の一
連のレベル測定動作を、ゲインコントロール電圧VGC
を変化させつつ繰り返し実行することで、ピークホール
ド電圧VPHからオフセット値を減じた疑似信号の信号レ
ベルVGJが、ピークホールド回路28の動作に最適な設
定値(例えば500mV)となるゲインコントロール電
圧VGCを探索する。
FIG. 5 shows an initial reference value acquisition process (S12).
It is a flowchart showing 0). As shown in FIG.
In the initial reference value acquisition process, first, in S410, a series of level measurement operations described below are performed with the gain control voltage VGC.
Is repeated while changing the peak hold voltage VPH, the signal level VGJ of the pseudo signal obtained by subtracting the offset value from the peak hold voltage VPH becomes the gain control voltage VGC at which the optimal value (for example, 500 mV) for the operation of the peak hold circuit 28 is obtained. Explore.

【0070】レベル測定動作:STC回路18の増幅
率を最大増幅率に固定し、信号切換回路12をフィルタ
16側に切り換えた状態で、フィルタ16に制御信号を
出力することにより、増幅器14に疑似信号を入力し、
そのときピークホールド回路28で得られるピークホー
ルド電圧VPHを読み込み、その値VPHからピークホール
ド回路28のオフセット値を減じることで、疑似信号の
信号レベルVGJを測定する。
Level measurement operation: The amplification factor of the STC circuit 18 is fixed to the maximum amplification factor, and a control signal is output to the filter 16 while the signal switching circuit 12 is switched to the filter 16 side. Input the signal,
At this time, the peak hold voltage VP obtained by the peak hold circuit 28 is read, and the signal level VGJ of the pseudo signal is measured by subtracting the offset value of the peak hold circuit 28 from the value VPH.

【0071】尚、この探索には、CPU30がゲインコ
ントロール電圧VGCを制御するのに使用するデータ(例
えば8ビット)を上位ビットから順に変化させて、上記
レベル測定動作により得られる疑似信号の信号レベルV
GJが設定値となる点を探索する、所謂二分探索の手法が
用いられる。
In this search, the CPU 30 changes the data (for example, 8 bits) used to control the gain control voltage VGC in order from the upper bit, and sets the signal level of the pseudo signal obtained by the level measurement operation. V
A so-called binary search technique of searching for a point at which GJ becomes a set value is used.

【0072】そして、この探索動作によって、疑似信号
の信号レベルVGJが設定値となるゲインコントロール電
圧VGCが探索されると、続くS420にて、その探索
は、j回(例えば8回)実行されたか否かを判断し、j
回実行されていなければ、再度S410に移行する、と
いった手順で、S410の探索動作をj回実行する。
When the gain control voltage VGC at which the signal level VGJ of the pseudo signal reaches the set value is searched by this search operation, in subsequent S420, the search has been performed j times (for example, 8 times). Judge whether or not
If the search operation has not been performed a number of times, the search operation in S410 is performed j times in a procedure such as shifting to S410 again.

【0073】そして、S410による探索動作がj回実
行されると、続くS430に移行し、上記探索動作によ
って得られたj個のゲインコントロール電圧VGCから、
その平均値VGCAV(j) を算出し、続くS435にて、今
回取得したj個のゲインコントロール電圧VGCの内、平
均値VGCAV(j) ±β(β;例えば20mV)の範囲内に
あるゲインコントロール電圧VGCは、k個(例えば5
個)以上あるか否かを判断する。
When the search operation in S410 is executed j times, the flow shifts to S430, where the j gain control voltages VGC obtained by the search operation are
The average value VGCAV (j) is calculated, and in S435, the gain control voltage within the range of the average value VGCAV (j) ± β (β; for example, 20 mV) is obtained from the j gain control voltages VGC obtained this time. The voltage VG is k (for example, 5
Number) or not.

【0074】そして、平均値VGCAV±βの範囲内にある
ゲインコントロール電圧VGCがk個以上であれば、ゲイ
ンコントロール電圧VGCの探索を正常に実行できたと判
断して、S440に移行し、平均値VGCAV±βの範囲内
にあるk個以上のゲインコントロール電圧VGCから、そ
の平均値VGCAV(β)を算出し、続くS450にて、そ
の算出した平均値VGCAV(β)を、基準ゲインコントロ
ール値(初期値;例えば10ビットのデータ)として設
定する。
If the number of the gain control voltages VGC within the range of the average value VGCAV ± β is equal to or more than k, it is determined that the search for the gain control voltage VGC has been normally performed, and the process shifts to S440. The average value VGCAV (β) is calculated from the k or more gain control voltages VG in the range of VGCAV ± β, and in S450, the calculated average value VGCAV (β) is used as the reference gain control value ( (Initial value; for example, 10-bit data).

【0075】また、S435にて、平均値VGCAV±βの
範囲内にあるゲインコントロール電圧VGCがk個以上存
在しないと判断されると、S460に移行して、S41
0及びS420による一連(j回)の探索動作を、y回
(例えば5回)行ったか否かを判断する。そして、その
一連の探索動作をy回行っていなければ、S410に移
行して、上記一連の探索動作を再度実行する。
If it is determined in step S435 that there are no more than k gain control voltages VGC within the range of the average value VGCAV ± β, the flow shifts to step S460 to execute step S41.
It is determined whether or not the series (j times) of the search operation by 0 and S420 has been performed y times (for example, 5 times). If the series of search operations has not been performed y times, the flow shifts to S410 to execute the above series of search operations again.

【0076】一方、S410及びS420による一連の
探索動作を既にy回行っていれば、今回の探索動作によ
って得られたj個のゲインコントロール電圧VGCは正常
であるとして、S450に移行し、S430で算出した
平均値VGCAV(j) を、基準ゲインコントロール値(初期
値)として設定する。
On the other hand, if the series of search operations in S410 and S420 have already been performed y times, it is determined that the j gain control voltages VGC obtained by the current search operation are normal, and the flow shifts to S450, and in S430. The calculated average value VGCAV (j) is set as a reference gain control value (initial value).

【0077】そして、このようにS450にて基準ゲイ
ンコントロール値が設定されると、CPU30は、その
後、増幅器14に出力するゲインコントロール電圧VGC
を、この基準ゲインコントロール値で制御する。尚、ゲ
インコントロール電圧VGCの制御には、上記設定した基
準ゲインコントロール値の内、CPU30がD/A変換
器を用いてゲインコントロール電圧VGCを制御可能な上
位数ビット(例えば8ビット)のデータが用いられ、こ
のデータをD/A変換器に出力することにより、D/A
変換器を介してゲインコントロール電圧VGCを制御す
る。
Then, when the reference gain control value is set in S450, the CPU 30 then sets the gain control voltage VGC output to the amplifier 14
Is controlled by the reference gain control value. The control of the gain control voltage VGC is performed by using upper-order several bits (for example, 8 bits) of the reference gain control value that can be used by the CPU 30 to control the gain control voltage VGC using the D / A converter. And output this data to a D / A converter to obtain a D / A
The gain control voltage VGC is controlled via the converter.

【0078】つまり、CPU30がゲインコントロール
電圧VGCを制御する際にはD/A変換器を使用するが、
基準ゲインコントロール値は、このD/A変換器を介し
て制御したゲインコントロール電圧VGCの平均値であ
り、D/A変換器を介して制御可能なゲインコントロー
ル電圧VGCに対しては、小数点以下の値も含むことか
ら、その後、基準ゲインコントロール値でゲインコント
ロール電圧VGCを制御する際には、ゲインコントロール
値からその小数点以下の値を除いた(四捨五入,切り捨
て,或いは切り上げ)値をD/A変換器に出力すること
により、ゲインコントロール電圧VGCを制御する。
That is, when the CPU 30 controls the gain control voltage VGC, the D / A converter is used.
The reference gain control value is the average value of the gain control voltage VGC controlled via the D / A converter, and the gain control voltage VGC controllable via the D / A converter is represented by a value after the decimal point. When the gain control voltage VGC is subsequently controlled by the reference gain control value, the value obtained by removing the value after the decimal point from the gain control value (rounding, rounding down, or rounding up) is D / A converted. The gain control voltage VGC is controlled by outputting the gain control voltage VGC.

【0079】このようにS450にて基準ゲインコント
ロール値が設定されると、今度は、ゲインコントロール
電圧VGCをこの基準ゲインコントロール値で制御した際
に実際に得られる疑似信号の信号レベルVGJを測定し、
これを疑似信号の基準レベルとして設定する。
When the reference gain control value is set in S450, the signal level VGJ of the pseudo signal actually obtained when the gain control voltage VG is controlled by the reference gain control value is measured. ,
This is set as the reference level of the pseudo signal.

【0080】即ち、まずS470にて、上記一連のレベ
ル測定動作をj回(例えば8回)繰り返すことによ
り、STC回路18の増幅率を最大増幅率に固定したと
きの疑似信号の信号レベルVGJをj個取得し、続くS4
80にて、その取得したj個の信号レベルVGJから平均
値VGJAV(j) を算出し、続くS490にて、今回取得し
たj個の信号レベルVGJの内、平均値VGJAV±γ(γ;
例えば50mV)の範囲内にある信号レベルVGJは、k
個(例えば5個)以上あるか否かを判断する。
That is, first, in S470, the above-described series of level measurement operations is repeated j times (for example, 8 times), so that the signal level VGJ of the pseudo signal when the gain of the STC circuit 18 is fixed to the maximum gain is obtained. j is acquired, and the following S4
At 80, an average value VGJAV (j) is calculated from the obtained j signal levels VGJ, and at S490, the average value VGJAV ± γ (γ; of the j signal levels VGJ obtained this time is calculated.
For example, the signal level VGJ in the range of 50 mV) is k
It is determined whether there are more than five (for example, five).

【0081】そして、平均値VGJAV±γの範囲内にある
信号レベルVGJがk個以上であれば、疑似信号の信号レ
ベルVGJを正常に取得できたと判断して、S500に移
行し、平均値VGJAV±γの範囲内にあるk個以上の信号
レベルVGJから、平均値VGJAV(γ)を算出し、続くS
510にて、その算出した平均値VGJAV(γ)を、ST
C回路18から出力される疑似信号の基準レベル(初期
値)として設定する。
If the number of signal levels VGJ within the range of the average value VGJAV ± γ is k or more, it is determined that the signal level VGJ of the pseudo signal has been normally obtained, and the flow shifts to S500, where the average value VGJAV An average value VGJAV (γ) is calculated from k or more signal levels VGJ in the range of ± γ, and the following S
At 510, the calculated average value VGJAV (γ) is
This is set as the reference level (initial value) of the pseudo signal output from the C circuit 18.

【0082】また、S490にて、平均値VGJAV±γの
範囲内にある信号レベルVGJがk個以上存在しないと判
断されると、S520に移行して、S470によるj個
の信号レベルVGJの取得動作をy回(例えば5回)行っ
たか否かを判断する。そして、その取得動作をy回行っ
ていなければ、S470に移行して、j個の信号レベル
VGJの取得動作を再度実行する。
If it is determined in step S490 that there are no more than k signal levels VGJ within the range of the average value VGJAV ± γ, the flow shifts to step S520 to obtain j signal levels VGJ in step S470. It is determined whether the operation has been performed y times (for example, 5 times). If the obtaining operation has not been performed y times, the process proceeds to S470, and the obtaining operation of the j signal levels VGJ is performed again.

【0083】一方、S470によるj個の信号レベルV
GJの取得動作を既にy回行っていれば、今回の取得動作
は正常に実行できたものとして、S510に移行し、S
480で算出した平均値VGJAV(n) を、疑似信号の基準
レベル(初期値)として設定する。
On the other hand, j signal levels V in S470
If the GJ acquisition operation has already been performed y times, it is determined that the current acquisition operation has been successfully performed, and the process proceeds to S510.
The average value VGJAV (n) calculated in 480 is set as the reference level (initial value) of the pseudo signal.

【0084】そして、このようにS510にて、疑似信
号の基準レベル(初期値)を設定すると、CPU30
は、この初期基準値取得処理を終了し、次の初期電圧設
定処理を開始する。次に、図6は、初期基準値取得処理
(S120)で基準ゲインコントロール値及び疑似信号
の基準レベルを一旦取得した後、これら各基準値の更新
のために周期的に実行される通常基準値取得処理(S1
60)を表すフローチャートである。
When the reference level (initial value) of the pseudo signal is set in S510, the CPU 30
Ends the initial reference value acquisition processing and starts the next initial voltage setting processing. Next, FIG. 6 shows a case where the reference gain control value and the reference level of the pseudo signal are once acquired in the initial reference value acquisition processing (S120), and then the normal reference value periodically executed for updating these reference values is obtained. Acquisition processing (S1
It is a flowchart showing 60).

【0085】図6に示すように、通常基準値取得処理で
は、まずS610にて、上記S470と同様、上記一連
のレベル測定動作をj回(例えば8回)繰り返すこと
により、STC回路18の増幅率を最大増幅率に固定し
たときの疑似信号の信号レベルVGJをj個取得する。
As shown in FIG. 6, in the normal reference value acquisition processing, first, in S610, the series of level measurement operations is repeated j times (for example, 8 times) in the same manner as in S470, whereby the amplification of the STC circuit 18 is performed. The j signal levels VGJ of the pseudo signal when the rate is fixed to the maximum amplification rate are obtained.

【0086】そして、続くS615では、S610で取
得したj個の信号レベルVGJからその平均値VGJAV(j)
を算出し、続くS620にて、今回取得したj個の信号
レベルVGJの内、平均値VGJAV±δ(δ;例えば20m
V)の範囲内にある信号レベルVGJは、k個(例えば5
個)以上あるか否かを判断する。
Then, in S615, the average value VGJAV (j) is obtained from the j signal levels VGJ obtained in S610.
, And in S620, the average value VGJAV ± δ (δ; for example, 20 m) of the j signal levels VGJ acquired this time.
V), there are k signal levels VGJ (for example, 5
Number) or not.

【0087】そして、平均値VGJAV±δの範囲内にある
信号レベルVGJがk個以上であれば、疑似信号の信号レ
ベルVGJを正常に取得できたとして、S625に移行
し、平均値VGJAV±δの範囲内にあるk個以上の信号レ
ベルVGJから、その平均値VGJAVを算出する。またS6
20にて、平均値VGJAV±δの範囲内にある信号レベル
VGJがk個以上存在しないと判断されると、S630に
移行して、初期又は通常の基準値取得処理で前回取得し
た疑似信号の基準レベル(前回値;即ち現在の基準レベ
ル)をそのまま平均値VGJAVとして設定する。
If the number of signal levels VGJ within the range of the average value VGJAV ± δ is k or more, it is determined that the signal level VGJ of the pseudo signal has been normally obtained, and the flow shifts to S625, where the average value VGJAV ± δ VGJAV is calculated from k or more signal levels VGJ in the range. Also S6
At 20, when it is determined that there are no more than k signal levels VGJ within the range of the average value VGJAV ± δ, the flow shifts to S 630, where the pseudo signal obtained at the last time in the initial or normal reference value obtaining process is obtained. The reference level (previous value; that is, the current reference level) is set as it is as the average value VGJAV.

【0088】このようにS625又はS630にて疑似
信号の信号レベルVGJの平均値VGJAVが算出又は設定さ
れると、今度は、S635で、その算出又は設定された
平均値VGJAVと疑似信号の設定値(例えば500mV)
とを比較する。そして、平均値VGJAVが設定値と一致し
ていれば、そのままS650に移行し、平均値VGJAVが
設定値よりも低い場合には、疑似信号の信号レベルを上
昇させるべく、S640にて、現在、ゲインコントロー
ル電圧VGCを制御しているデータ値(基準ゲインコント
ロール値から制御可能電圧に対する小数点以下の値を除
いたデータ値であり、以下、VGC制御データ値という)
に「1」を加えたものを、新たなVGC制御データ値とし
て設定した後、S650に移行する。
When the average value VGJAV of the signal level VGJ of the pseudo signal is calculated or set in S625 or S630, the calculated or set average value VGJAV and the set value of the pseudo signal are set in S635. (For example, 500 mV)
Compare with Then, if the average value VGJAV matches the set value, the process directly proceeds to S650. If the average value VGJAV is lower than the set value, the current value is increased in S640 to increase the signal level of the pseudo signal. Data value controlling the gain control voltage VGC (data value obtained by removing the value below the decimal point for the controllable voltage from the reference gain control value, hereinafter referred to as the VGC control data value)
After adding “1” to the new value, a new VGC control data value is set, and then the flow shifts to S650.

【0089】また逆に、平均値VGJAVが設定値よりも高
い場合には、疑似信号の信号レベルを低下させるべく、
S645にて、VGC制御データ値から値「1」を減じた
ものを、新たなVGC制御データ値として設定した後、S
650に移行する。尚、S640,S645においてV
GC制御データ値が更新されると、ゲインコントロール電
圧VGCはD/A変換器の分解能で決まる最小可変電圧分
だけ上昇或いは低下することになる。
On the other hand, when the average value VGJAV is higher than the set value, in order to lower the signal level of the pseudo signal,
At S645, a value obtained by subtracting the value “1” from the VG control data value is set as a new VG control data value.
Move to 650. Note that V is determined in S640 and S645.
When the GC control data value is updated, the gain control voltage VG rises or falls by the minimum variable voltage determined by the resolution of the D / A converter.

【0090】次に、このようにゲインコントロール電圧
VGCが更新されると、今度は、その更新により、疑似信
号の信号レベルVGJを設定値に近付けることができたか
否かを判断するために、再度、疑似信号の信号レベルV
GJ(詳しくはその平均値VGJAV)を測定する。
Next, when the gain control voltage VGC is updated in this manner, this update is again performed in order to determine whether or not the signal level VGJ of the pseudo signal has been brought close to the set value by the update. , The signal level V of the pseudo signal
GJ (specifically, the average value VGJAV) is measured.

【0091】即ち、まずS650にて、上記一連のレベ
ル測定動作をj回(例えば8回)繰り返すことによ
り、疑似信号の信号レベルVGJをj個取得し、続くS6
55にて、その平均値VGJAV(j) を算出する。そして、
続くS660にて、前述のS490と同様、今回取得し
たj個の信号レベルVGJの内、平均値VGJAV±γ(γ;
例えば50mV)の範囲内にある信号レベルVGJは、k
個(例えば5個)以上あるか否かを判断し、平均値VGJ
AV±γの範囲内にある信号レベルVGJがk個以上であれ
ば、S665に移行して、平均値VGJAV±γの範囲内に
あるk個以上の信号レベルVGJから、その平均値VGJAV
を算出し、平均値VGJAV±γの範囲内にある信号レベル
VGJがk個以上存在しない場合には、S660に移行し
て、前回値をそのまま平均値VGJAVとして設定する。
That is, first, in S650, the above series of level measurement operations is repeated j times (for example, 8 times) to obtain j signal levels VGJ of the pseudo signal, and then in S6
At 55, the average value VGJAV (j) is calculated. And
In subsequent S660, similarly to the above-described S490, the average value VGJAV ± γ (γ;
For example, the signal level VGJ in the range of 50 mV) is k
Number (for example, 5) or more, and determine the average value VGJ
If the number of signal levels VGJ in the range of AV ± γ is k or more, the process proceeds to S665, and the average value VGJAV is calculated from the k or more signal levels VGJ in the range of average values VGJAV ± γ.
If there are not k or more signal levels VGJ within the range of the average value VGJAV ± γ, the flow shifts to S660, and the previous value is directly set as the average value VGJAV.

【0092】また、このようにゲインコントロール電圧
更新後の疑似信号の信号レベルVGJの平均値VGJAVが求
められると、今度は、この平均値VGJAVと、ゲインコン
トロール電圧変更前にS625(又はS630)で求め
た平均値VGJAVとを比較し、いずれの平均値が設定値
(例えば500mV)に近いかを判定する。
When the average value VGJAV of the signal level VGJ of the pseudo signal after updating the gain control voltage is obtained in this manner, this average value VGJAV and this average value VGJAV and S625 (or S630) before changing the gain control voltage are obtained. By comparing the calculated average value VGJAV, it is determined which average value is closer to the set value (for example, 500 mV).

【0093】そして、変更前の平均値VGJAVが設定値に
近い場合には、S680にて、変更前のゲインコントロ
ール電圧VGCに対応したVGC制御データ値(変更前値)
と初期又は通常の基準値取得処理で前回求めた基準ゲイ
ンコントロール値(前回値とから、前回値に重み付けを
した平均値を算出(所謂加重平均)し、その値を、新た
な基準ゲインコントロール値として設定する。また、逆
に、変更後の平均値VGJAVが設定値に近い場合には、S
685に移行して、変更後のゲインコントロール電圧に
対応したVGC制御データ値(変更後値)と前回値とを加
重平均し、その値を、新たな基準ゲインコントロール値
として設定する。
If the average value VGJAV before the change is close to the set value, in S680, the VGC control data value (the value before the change) corresponding to the gain control voltage VGC before the change
And a reference gain control value obtained last time in the initial or normal reference value acquisition processing (an average value obtained by weighting the previous value from the previous value is calculated (so-called weighted average), and that value is calculated as a new reference gain control value. Conversely, if the changed average value VGJAV is close to the set value, S
The flow shifts to 685, where a weighted average of the VGC control data value (changed value) corresponding to the changed gain control voltage and the previous value is set, and that value is set as a new reference gain control value.

【0094】尚、この加重平均は、前述のS360と同
様に行われる。また、変更前値又は変更後値(VGC制御
データ値)は、基準ゲインコントロール値を用いてゲイ
ンコントロール電圧VGCを制御可能な基準ゲインコント
ロール値の上位数ビット分のデータに対応していること
から、S680,S685で、これら各値の加重平均を
算出する際には、変更前値又は変更後値となるVGC制御
データ値の下位ビットに値「0」を付与して、これら各
値の桁数を合わせた上で、現在の基準ゲインコントロー
ル値に重み付けした加重平均値を算出する。
The weighted averaging is performed in the same manner as in S360 described above. Also, the value before change or the value after change (VGC control data value) corresponds to data of several upper bits of the reference gain control value that can control the gain control voltage VGC using the reference gain control value. , S680, and S685, when calculating the weighted average of these values, a value “0” is added to the lower bit of the VGC control data value that is the pre-change value or the post-change value, and the digits of these values are added. After adding the numbers, a weighted average value is calculated by weighting the current reference gain control value.

【0095】次に、このように基準ゲインコントロール
値が設定されると、再度、疑似信号の信号レベルVGJを
測定し、その値から、基準レベルを更新する。即ち、ま
ずS690にて、上記一連のレベル測定動作をj回(例
えば8回)繰り返すことにより、疑似信号の信号レベル
VGJをj個取得し、続くS695にて、その平均値VGJ
AV(j) を算出する。そして、続くS700にて、今回取
得したj個の信号レベルVGJの内、平均値VGJAV±γ
(γ;例えば50mV)の範囲内にある信号レベルVGJ
は、k個(例えば5個)以上あるか否かを判断し、平均
値VGJAV±γの範囲内にある信号レベルVGJがk個以上
であれば、S705に移行して、平均値VGJAV±γの範
囲内にあるk個以上の信号レベルVGJから、その平均値
VGJAVを算出し、平均値VGJAV±γの範囲内にある信号
レベルVGJがk個以上存在しない場合には、S710に
移行して、前回値をそのまま平均値VGJAVとして設定す
る。そして、このように疑似信号の信号レベルVGJの平
均値VGJAVが求められると、S715に移行して、その
平均値VGJAVを基準レベルとして設定し、当該処理を終
了する。
Next, when the reference gain control value is set as described above, the signal level VGJ of the pseudo signal is measured again, and the reference level is updated from the value. That is, first, in S690, the above series of level measurement operations is repeated j times (for example, 8 times) to obtain j signal levels VGJ of the pseudo signal, and in S695, the average value VGJ is obtained.
Calculate AV (j). Then, in S700, the average value VGJAV ± γ of the j signal levels VGJ obtained this time is obtained.
(Γ; for example, 50 mV).
Is determined if there are k or more (for example, 5) or more, and if the number of signal levels VGJ within the range of the average value VGJAV ± γ is k or more, the flow shifts to S705, where the average value VGJAV ± γ The average value VGJAV is calculated from the k or more signal levels VGJ in the range. If the k or more signal levels VGJ in the average value VGJAV ± γ do not exist, the process proceeds to S710. , The previous value is set as the average value VGJAV. Then, when the average value VGJAV of the signal level VGJ of the pseudo signal is obtained in this manner, the flow shifts to S715, where the average value VGJAV is set as the reference level, and the process ends.

【0096】次に図7は、初期電圧設定処理(S13
0)を表すフローチャートである。図7に示すように、
初期電圧設定処理では、まずS810にて、下記の一連
のレベル測定動作を、STC回路18に入力する直流
電圧VDCを変化させつつ繰り返し実行することで、ピー
クホールド電圧VPHからオフセット値を減じた疑似信号
の信号レベルVGJが基準レベルとなる直流電圧VDCを探
索する。
FIG. 7 shows an initial voltage setting process (S13).
It is a flowchart showing 0). As shown in FIG.
In the initial voltage setting process, first, in S810, the following series of level measurement operations are repeatedly performed while changing the DC voltage VDC input to the STC circuit 18 to thereby reduce the pseudo value obtained by subtracting the offset value from the peak hold voltage VPH. A search is made for a DC voltage VDC at which the signal level VGJ of the signal becomes the reference level.

【0097】レベル測定動作:信号切換回路12をフ
ィルタ16側に切り換え、STC電圧発生回路22に制
御信号を出力して、STC回路18の増幅率を変化さ
せ、その増幅率が最大となる所定タイミングでフィルタ
16に制御信号を出力することにより、増幅器14に疑
似信号を入力し、そのときピークホールド回路28で得
られるピークホールド電圧VPHを読み込み、その値VPH
からピークホールド回路28のオフセット値を減じるこ
とで、疑似信号の信号レベル(動作レベル)VGJを測定
する。
Level measurement operation: The signal switching circuit 12 is switched to the filter 16 side, a control signal is output to the STC voltage generation circuit 22, and the amplification factor of the STC circuit 18 is changed, and a predetermined timing at which the amplification factor is maximized Outputs a control signal to the filter 16 to input a pseudo signal to the amplifier 14. At this time, the peak hold voltage VPH obtained by the peak hold circuit 28 is read, and the value VPH is read.
Then, the signal level (operation level) VGJ of the pseudo signal is measured by subtracting the offset value of the peak hold circuit 28 from.

【0098】尚、この探索には、直流電圧VDCを制御す
るのに使用するデータ(例えば8ビット)を上位ビット
から順に変化させて、上記レベル測定動作により得られ
る疑似信号の信号レベルVGJが基準レベルとなる点を探
索する、所謂二分探索の手法が用いられる。
In this search, data (for example, 8 bits) used to control the DC voltage VDC is changed in order from the most significant bit, and the signal level VGJ of the pseudo signal obtained by the above level measurement operation is used as a reference. A so-called binary search method of searching for a point serving as a level is used.

【0099】そして、この探索動作によって、疑似信号
の信号レベルVGJが基準レベルとなる直流電圧VDCが探
索されると、続く820にて、その探索は、i回(例え
ば8回)実行されたか否かを判断し、i回実行されてい
なければ、再度S810に移行する、といった手順で、
S810の探索動作をi回実行する。
When the DC voltage VDC at which the signal level VGJ of the pseudo signal becomes the reference level is searched by this search operation, at 820, whether or not the search has been performed i times (for example, 8 times) And if it has not been executed i times, the process returns to S810 again.
The search operation of S810 is executed i times.

【0100】そして、S810による探索動作がi回実
行されると、続くS830に移行し、上記探索動作によ
って得られたi個の直流電圧VDCから、その平均値VDC
AV(i) を算出し、続くS840にて、今回取得したi個
の直流電圧VDCの内、平均値VDCAV(i) ±ε(ε;例え
ば50mV)の範囲内にある直流電圧VDCは、s個(例
えば5個)以上あるか否かを判断する。
When the search operation in S810 is executed i times, the flow shifts to S830, and the average value VDC is obtained from the i DC voltages VDC obtained by the search operation.
AV (i) is calculated, and in S840, the DC voltage VDC within the range of the average value VDCAV (i) ± ε (ε; for example, 50 mV) of the i DC voltages VDC obtained this time is s. It is determined whether there are more than five (for example, five).

【0101】そして、平均値VDCAV±εの範囲内にある
直流電圧VDCがs個以上であれば、直流電圧VDCの探索
を正常に実行できたと判断して、S850に移行し、平
均値VDCAV±εの範囲内にあるs個以上の直流電圧VDC
から、その平均値VDCAV(ε)を算出し、続くS870
にて、その算出した平均値VDCAV(ε)を、フィードス
ルーキャンセルのための直流電圧値(初期値)として設
定する。
If the number of DC voltages VDC within the range of the average value VDCAV ± ε is s or more, it is determined that the search for the DC voltage VDC has been performed normally, and the flow shifts to S850, where the average value VDCAV ± ε is determined. s or more DC voltages VDC within the range of ε
, The average value VDCAV (ε) is calculated from
, The calculated average value VDCAV (ε) is set as a DC voltage value (initial value) for feedthrough cancellation.

【0102】また、S840にて、平均値VDCAV±εの
範囲内にある直流電圧VDCがs個以上存在しないと判断
されると、S860に移行して、S810及びS820
による一連(i回)の探索動作を、z回(例えば5回)
行ったか否かを判断する。そして、その一連の探索動作
をz回行っていなければ、S810に移行して、上記一
連の探索動作を再度実行する。
If it is determined in S840 that there are no more than s DC voltages VDC within the range of the average value VDCAV ± ε, the flow shifts to S860, where S810 and S820 are executed.
(I times) by z times (for example, 5 times)
It is determined whether or not it has been performed. If the series of search operations has not been performed z times, the flow shifts to S810 to execute the above series of search operations again.

【0103】一方、S810及びS820による一連の
探索動作を既にz回行っていれば、今回の探索動作によ
って得られたi個の直流電圧VDCは正常であるとして、
S870に移行し、S830で算出した平均値VDCAV
(i) を、直流電圧値(初期値)として設定する。
On the other hand, if a series of search operations in S810 and S820 have already been performed z times, it is determined that the i DC voltages VDC obtained by the current search operation are normal.
Proceeding to S870, the average value VDCAV calculated in S830 is obtained.
(i) is set as the DC voltage value (initial value).

【0104】そして、このようにS870にて直流電圧
値が設定されると、CPU30は、その後、電圧重畳回
路20を介してSTC回路18の信号入力端子に印加す
る直流電圧VDCを、その設定された直流電圧値で制御す
る。尚、この直流電圧VDCの制御には、ゲインコントロ
ール電圧VGCの制御と同様、直流電圧値の内、CPU3
0がD/A変換器を用いて直流電圧VDCを制御可能な上
位数ビットのデータ(以下、VDC制御データ値という)
が用いられ、このVDC制御データ値をD/A変換器に出
力することにより、D/A変換器を介して直流電圧VDC
を制御する。
When the DC voltage value is set in S870 as described above, the CPU 30 then sets the DC voltage VDC applied to the signal input terminal of the STC circuit 18 via the voltage superposition circuit 20 to the set value. Control with the applied DC voltage value. Note that the control of the DC voltage VDC includes the CPU 3 of the DC voltage values in the same manner as the control of the gain control voltage VGC.
0 is data of several upper bits that can control the DC voltage VDC using the D / A converter (hereinafter referred to as VDC control data value)
Is used to output the VDC control data value to the D / A converter, so that the DC voltage VDC is output through the D / A converter.
Control.

【0105】次に、図8は、初期電圧設定処理(S13
0)でフィードスルーキャンセル用の直流電圧を設定し
た後、温度変化等によってこの直流電圧が最適値からず
れるのを防止するために周期的に実行される通常電圧設
定処理(S170)を表すフローチャートである。
FIG. 8 shows an initial voltage setting process (S13).
0) is a flowchart showing a normal voltage setting process (S170) that is periodically executed after setting a DC voltage for feedthrough cancellation in order to prevent the DC voltage from deviating from an optimum value due to a temperature change or the like. is there.

【0106】図8に示すように、通常電圧設定処理で
は、まずS905にて、上記S810と同様の一連のレ
ベル測定動作をi回(例えば8回)繰り返し、ピークホ
ールド回路28を介して疑似信号の信号レベル(動作レ
ベル)VGJをi個取得する。そして、続くS910で
は、S905で取得したi個の信号レベルVGJからその
平均値VGJAV(i) を算出し、続くS915にて、その平
均値VGJAV(i) と基準レベルとを大小比較し、平均値V
GJAV(i) が基準レベルと一致していれば、S920に移
行して、現在直流電圧VDCを実際に制御しているVDC制
御データ値(直流電圧値の上位数ビット(例えば8ビッ
ト)のデータ値)と、直流電圧値(VDC制御データ値よ
りもビット数が多く(例えば10ビット)、D/A変換
器にてVDCを制御可能な最小可変電圧に対する小数点以
下の値を含むデータ値)とから、直流電圧値に重み付け
をした平均値を算出(所謂加重平均)し、続くS925
にて、その平均値を直流電圧値として設定した後、当該
処理を終了する。尚、この加重平均は、前述のS68
0,S685と同様に行われる。
As shown in FIG. 8, in the normal voltage setting process, first, in S905, a series of level measurement operations similar to the above S810 is repeated i times (for example, 8 times). I of the signal level (operation level) VGJ are obtained. Then, in S910, the average value VGJAV (i) is calculated from the i signal levels VGJ obtained in S905, and in S915, the average value VGJAV (i) is compared with the reference level, and the average is compared. Value V
If GJAV (i) matches the reference level, the flow shifts to step S920, where the VDC control data value (the upper few bits (for example, 8 bits) of the DC voltage value) which is actually controlling the DC voltage VDC. Value) and a DC voltage value (a data value that has a larger number of bits than the VDC control data value (for example, 10 bits) and includes a value after the decimal point with respect to a minimum variable voltage that can control VDC by the D / A converter). , An average value obtained by weighting the DC voltage value is calculated (a so-called weighted average), and the subsequent S925
After setting the average value as a DC voltage value, the process ends. Note that this weighted average is calculated in S68 described above.
0, S685.

【0107】一方、S915にて平均値VGJAV(i) が基
準レベルよりも大きいと判断された場合には、S930
に移行して、その差は所定電圧κ(例えば25mV)以
上であるか否かを判断する。そして、その差が所定電圧
κ以上で、平均値VGJAV(i)が基準レベルに対して所定
電圧κ以上大きい場合には、S935に移行して、現在
制御している直流電圧VDCに対応したVDC制御データ値
に値「1」を加えたデータ値を、新たな直流電圧値とし
て設定することにより、直流電圧VDCをD/A変換器の
分解能で決まる最小可変電圧分だけ速やかに上昇させ、
当該処理を終了する。
On the other hand, if it is determined in S915 that the average value VGJAV (i) is larger than the reference level, the process proceeds to S930.
Then, it is determined whether or not the difference is equal to or higher than a predetermined voltage κ (for example, 25 mV). If the difference is equal to or higher than the predetermined voltage κ and the average value VGJAV (i) is larger than the reference level by the predetermined voltage κ or more, the process proceeds to S935, and the VDC corresponding to the DC voltage VDC currently controlled. By setting a data value obtained by adding the value "1" to the control data value as a new DC voltage value, the DC voltage VDC is quickly increased by the minimum variable voltage determined by the resolution of the D / A converter,
The process ends.

【0108】また逆に、S930にて平均値VGJAV(i)
と基準レベルとの差が所定電圧κ未満であると判断され
た場合には、S940に移行して、VDC制御データ値に
値「1」を加えたデータ値と直流電圧値とから、直流電
圧値に重み付けした平均値を算出(加重平均)し、続く
S945にて、その平均値を直流電圧値として設定した
後、当該処理を終了する。尚、この加重平均はS920
と同様に行われる。
On the contrary, in S930, the average value VGJAV (i)
When it is determined that the difference between the DC voltage and the reference level is less than the predetermined voltage κ, the process proceeds to S940, where the DC voltage value is obtained by adding the value “1” to the VDC control data value and the DC voltage value. An average value weighted to the value is calculated (weighted average), and in S945, the average value is set as a DC voltage value, and then the process ends. The weighted average is S920
Is performed in the same manner as described above.

【0109】また次に、S915にて平均値VGJAV(i)
が基準レベルよりも小さいと判断された場合には、S9
50に移行して、その差は所定電圧κ(例えば25m
V)以上であるか否かを判断する。そして、その差が所
定電圧κ以上で、平均値VGJAV(i) が基準レベルに対し
て所定電圧κ以上小さい場合には、S955に移行し
て、現在制御している直流電圧VDCに対応したVDC制御
データ値から値「1」を減じたデータ値を、新たな直流
電圧値として設定することにより、直流電圧VDCをD/
A変換器の分解能で決まる最小可変電圧分だけ速やかに
減少させ、当該処理を終了する。
Next, in S915, the average value VGJAV (i)
Is determined to be smaller than the reference level, S9
50, the difference is a predetermined voltage κ (for example, 25 m
V) It is determined whether or not it is not less than. If the difference is equal to or more than the predetermined voltage κ and the average value VGJAV (i) is smaller than the reference level by the predetermined voltage κ or more, the process proceeds to S955, and the VDC corresponding to the DC voltage VDC currently controlled. By setting a data value obtained by subtracting the value “1” from the control data value as a new DC voltage value, the DC voltage VDC is changed to D /
The voltage is immediately reduced by the minimum variable voltage determined by the resolution of the A-converter, and the process ends.

【0110】また逆に、S950にて平均値VGJAV(i)
と基準レベルとの差が所定電圧κ未満であると判断され
た場合には、S960に移行して、VDC制御データ値か
ら値「1」を減じたデータ値と直流電圧値とから、直流
電圧値に重み付けした平均値を算出(加重平均)し、続
くS965にて、その平均値を直流電圧値として設定し
た後、当該処理を終了する。尚、この加重平均はS92
0と同様に行われる。
Conversely, in S950, the average value VGJAV (i)
If it is determined that the difference between the reference voltage and the reference level is less than the predetermined voltage κ, the process proceeds to S960, and the DC voltage value is obtained by subtracting the value “1” from the VDC control data value and the DC voltage value. An average value weighted to the value is calculated (weighted average), and in S965, the average value is set as a DC voltage value, and the process ends. The weighted average is S92
Performed in the same way as 0.

【0111】尚、S940,S945、及びS960,
965の処理は、夫々、直流電圧VDCが実際に変化する
頻度を抑えて、受信信号の信号処理系の動作を安定化さ
せるための処理である。つまり、これら各処理では、直
流電圧値を加重平均により更新するので、疑似信号の信
号レベルVGJの平均値VGJAV(i) と基準レベルとに偏差
があっても、その差が所定電圧κ未満であるときには、
直流電圧値はゆっくりと変化することになり、実際に制
御される直流電圧VDCは、上記各処理が複数回連続して
実行されることにより初めて変化する。従って、外乱ノ
イズ等によってSTC回路18やピークホールド回路2
8内の直流電圧が一時的に変動したような場合に、直流
電圧VDCを変化させてしまい、その後の距離測定精度を
却って悪化させてしまうといったことを防止できる。
Note that S940, S945, and S960,
The process 965 is a process for stabilizing the operation of the signal processing system of the received signal by suppressing the frequency of the DC voltage VDC actually changing. That is, in each of these processes, the DC voltage value is updated by the weighted average, so that even if there is a deviation between the average value VGJAV (i) of the signal level VGJ of the pseudo signal and the reference level, the difference is less than the predetermined voltage κ. Sometimes,
The DC voltage value changes slowly, and the DC voltage VDC actually controlled changes only when each of the above-described processes is continuously performed a plurality of times. Therefore, the STC circuit 18 and the peak hold circuit 2
In the case where the DC voltage in 8 has temporarily fluctuated, it is possible to prevent the DC voltage VDC from being changed, and the subsequent accuracy of distance measurement to be deteriorated.

【0112】以上説明したように、本実施例では、基準
値取得処理(S120,S160)により、STC回路
18の増幅率を一定(最大増幅率)にした状態で、増幅
器14に疑似信号を入力し、そのときピークホールド回
路28で検出された疑似信号の信号レベル(最大レベ
ル)を読み込み、その値を基準レベルとして設定し、電
圧設定処理(S130,S170)にて、STC回路1
8の増幅率を距離測定時と同様に変化させ、その増幅率
が最大になった直後に増幅器14に疑似信号を入力し
て、そのときピークホールド回路28で検出された疑似
信号の信号レベル(最大レベル)を読み込み、この信号
レベル(動作レベル)を基準レベルに制御するための直
流電圧値を求めて、STC回路18の信号入力端子に印
加する直流電圧VDCを設定する。
As described above, in this embodiment, the pseudo signal is input to the amplifier 14 while the gain of the STC circuit 18 is kept constant (maximum gain) by the reference value acquisition processing (S120, S160). Then, the signal level (maximum level) of the pseudo signal detected by the peak hold circuit 28 is read, the value is set as the reference level, and the voltage setting process (S130, S170) performs the STC circuit 1
8, the pseudo signal is input to the amplifier 14 immediately after the amplification factor reaches the maximum, and the signal level of the pseudo signal detected by the peak hold circuit 28 at that time ( The maximum level is read, a DC voltage value for controlling the signal level (operation level) to the reference level is obtained, and a DC voltage VDC applied to the signal input terminal of the STC circuit 18 is set.

【0113】このため、本実施例によれば、距離測定時
にSTC回路18の増幅率変化に起因して出力される交
流信号成分(フィードスルー)を、STC回路18の信
号入力端子に印加する直流電圧VDCによって、正確にキ
ャンセルすることができ、距離測定時には、STC回路
18のフィードスルーの影響を受けることなく、車両前
方に位置する物標までの距離を測定できることになる。
従って、本実施例によれば、車両前方を走行する先行車
両までの距離や障害物までの距離を極めて正確に測定で
き、車両走行時の安全性を高めることができると共に、
自車両を先行車両に対して所定車間距離で追従させる車
間距離制御を行う装置においては、車間距離制御を極め
て高精度に実行することが可能になる。
For this reason, according to the present embodiment, the AC signal component (feedthrough) output due to the change in the amplification factor of the STC circuit 18 at the time of distance measurement is applied to the DC signal applied to the signal input terminal of the STC circuit 18. With the voltage VDC, cancellation can be performed accurately, and at the time of distance measurement, the distance to the target located in front of the vehicle can be measured without being affected by feedthrough of the STC circuit 18.
Therefore, according to the present embodiment, it is possible to extremely accurately measure the distance to the preceding vehicle traveling in front of the vehicle and the distance to the obstacle, and it is possible to improve the safety during traveling of the vehicle,
In a device that performs inter-vehicle distance control that causes the own vehicle to follow a preceding vehicle at a predetermined inter-vehicle distance, the inter-vehicle distance control can be performed with extremely high accuracy.

【0114】また、本実施例では、基準値取得処理(S
120,S160)及び電圧設定処理(S130,S1
70)を実行する前に、オフセット値取得処理(S11
0,S150)を実行し、STC回路18からの出力信
号レベル(最大レベル)を検出するのに使用するピーク
ホールド回路28のオフセット値を検出し、基準値取得
処理(S120,S160)では、疑似信号入力時にピ
ークホールド回路28で得られたピークホールド電圧か
らそのオフセット値を減じた疑似信号に対応した電圧値
(信号レベルVGJ)が、ピークホールド回路28の動作
に最適な設定値となるように増幅率14の増幅率(詳し
くはゲインコントロール電圧VGC)を設定している。こ
のため、STC回路18のフィードスルーを、ピークホ
ールド回路28を用いて常に正確に検出することが可能
になり、ピークホールド回路28の動作特性に影響され
ることなく、直流電圧VDCを常に最適に設定することが
できる。
In this embodiment, the reference value acquisition processing (S
120, S160) and voltage setting processing (S130, S1)
Before executing (70), the offset value acquisition processing (S11)
0, S150), the offset value of the peak hold circuit 28 used for detecting the output signal level (maximum level) from the STC circuit 18 is detected, and in the reference value acquisition processing (S120, S160), the pseudo value is detected. The voltage value (signal level VGJ) corresponding to the pseudo signal obtained by subtracting the offset value from the peak hold voltage obtained by the peak hold circuit 28 at the time of signal input is set to an optimal set value for the operation of the peak hold circuit 28. The amplification factor of the amplification factor 14 (specifically, the gain control voltage VGC) is set. For this reason, the feedthrough of the STC circuit 18 can always be accurately detected using the peak hold circuit 28, and the DC voltage VDC is always optimized without being affected by the operation characteristics of the peak hold circuit 28. Can be set.

【0115】また、直流電圧VDCを更新する通常電圧設
定処理(S170)では、STC回路18の増幅率を変
化させたときに得られる疑似信号の信号レベルVGCの平
均値VGJAV(つまり、本発明の動作レベル)と、基準レ
ベルとの偏差が所定電圧κ以上である場合には、直流電
圧VDCを、CPU30が直流電圧VDCを出力するのに使
用するD/A変換器の分解能で決まる最小可変電圧分だ
け速やかに変化させ、その偏差が所定電圧κ未満であれ
ば、直流電圧VDCがゆっくりと変化するように、直流電
圧VDCの制御に用いる動作電圧値を、偏差が少なくなる
方向に更新する。このため、上記偏差が小さい場合には
直流電圧VDCの変化を抑制して、制御の安定性を向上で
き、偏差が大きい場合にだけ、直流電圧VDCを大きく変
化させて、制御の応答性を向上する、といったことが可
能になる。
In the normal voltage setting process (S170) for updating the DC voltage VDC, the average value VGJAV of the signal level VGC of the pseudo signal obtained when the amplification factor of the STC circuit 18 is changed (that is, the present invention) When the deviation between the operating level) and the reference level is equal to or greater than the predetermined voltage κ, the DC voltage VDC is used as the minimum variable voltage determined by the resolution of the D / A converter used by the CPU 30 to output the DC voltage VDC. If the deviation is less than the predetermined voltage κ, the operating voltage value used for controlling the DC voltage VDC is updated in a direction in which the deviation decreases so that the DC voltage VDC changes slowly. Therefore, when the deviation is small, the change in the DC voltage VDC can be suppressed, and the stability of the control can be improved. Only when the deviation is large, the DC voltage VDC can be largely changed to improve the responsiveness of the control. And so on.

【0116】以上本発明の一実施例について説明した
が、本発明は、上記実施例に限定されるものではなく、
種々の態様を採ることができる。例えば、上記実施例で
は、本発明を自動車用距離測定装置に適用した場合につ
いて説明したが、本発明は、航空機等、他の移動体用の
距離測定装置であっても、或いは、固定局から測定光を
出射して周囲の移動体等を監視する固定局用の距離測定
装置であっても適用できる。
Although the embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment.
Various embodiments can be adopted. For example, in the above embodiment, the case where the present invention is applied to an automobile distance measuring device has been described.However, the present invention is applicable to a distance measuring device for other moving objects such as an aircraft, or from a fixed station. The present invention can also be applied to a distance measuring device for a fixed station that emits measurement light and monitors surrounding moving objects and the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 実施例の距離測定装置全体の構成を表すブロ
ック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of an entire distance measuring apparatus according to an embodiment.

【図2】 実施例のCPUにて実行されるフィードスル
ーキャンセル処理の流れを説明するフローチャートであ
る。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a flow of a feed-through cancellation process executed by a CPU according to the embodiment.

【図3】 図2のS110にて実行される初期オフセッ
ト値取得処理を表すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating an initial offset value acquisition process executed in S110 of FIG. 2;

【図4】 図2のS150で実行される通常オフセット
値取得処理を表すフローチャートである。
FIG. 4 is a flowchart illustrating a normal offset value acquisition process executed in S150 of FIG. 2;

【図5】 図2のS120で実行される初期基準値取得
処理を表すフローチャートである。
FIG. 5 is a flowchart illustrating an initial reference value acquisition process executed in S120 of FIG. 2;

【図6】 図2のS160にて実行される通常基準値取
得処理を表すフローチャートである。
FIG. 6 is a flowchart illustrating a normal reference value acquisition process executed in S160 of FIG. 2;

【図7】 図2のS130で実行される初期電圧設定処
理を表すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart illustrating an initial voltage setting process executed in S130 of FIG. 2;

【図8】 図2のS170で実行される通常電圧設定処
理を表すフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart showing a normal voltage setting process executed in S170 of FIG. 2;

【図9】 従来の距離測定装置の構成及び動作を説明す
る説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram illustrating the configuration and operation of a conventional distance measuring device.

【図10】 従来の距離測定装置の問題点を説明する説
明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram for explaining a problem of a conventional distance measuring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4…発光部 8…受光部 12…信号切換回路
14…増幅器 16…フィルタ 18…STC回路 20…電圧重
畳回路 22…STC電圧発生回路 24…コンパレータ
26…時間計測IC 30…CPU(マイクロコンピュータ)
4 light emitting section 8 light receiving section 12 signal switching circuit
DESCRIPTION OF SYMBOLS 14 ... Amplifier 16 ... Filter 18 ... STC circuit 20 ... Voltage superposition circuit 22 ... STC voltage generation circuit 24 ... Comparator
26: time measurement IC 30: CPU (microcomputer)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平4−318483(JP,A) 特開 平5−188136(JP,A) 特開 平7−71957(JP,A) 特開 平9−236661(JP,A) 特開 昭54−161290(JP,A) 実開 昭57−29875(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01S 7/00 - 7/64 G01S 13/00 - 17/95 G01B 11/00 - 11/30 G01C 3/00 - 3/32 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-4-318483 (JP, A) JP-A-5-188136 (JP, A) JP-A-7-71957 (JP, A) JP-A-9-97 236661 (JP, A) JP-A-54-161290 (JP, A) JP-A-57-29875 (JP, U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G01S 7/00-7 / 64 G01S 13/00-17/95 G01B 11/00-11/30 G01C 3/00-3/32

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 測定光を出射する発光手段と、 該発光手段が出射した測定光が外部の物標に当たって反
射してくる反射光を受光し、受光信号を出力する受光手
段と、 該受光手段からの受光信号を増幅する増幅手段と、 該増幅手段の増幅率を、該増幅率が時間の経過に伴い大
きくなるように制御する増幅率制御手段と、 前記増幅手段から出力される交流信号成分を取り込み、
該信号から前記受光手段による反射光の受光を検出する
受光検出手段と、 前記発光手段にパルス状の駆動信号を出力して測定光を
出射させ、前記増幅率制御手段を起動すると共に、その
後、前記受光検出手段にて前記受光手段による反射光の
受光が検出されるまでの時間を計時し、該計時時間から
前記物標までの距離を算出する距離算出手段と、 を備えた距離測定装置において、 前記増幅率制御手段による増幅率制御に起因して前記増
幅手段から出力される交流信号成分を抑制するため、前
記増幅手段の信号入力端子に直流電圧を印加する直流電
圧印加手段と、 前記増幅手段から出力される交流信号成分を取り込み、
該信号のレベルを検出するレベル検出手段と、 前記増幅手段への信号入力がないときに前記レベル検出
手段にて検出される前記交流信号成分のレベルを、基準
レベルとして測定する基準レベル測定手段と、 前記増幅率制御手段を起動して前記増幅手段の増幅率を
変化させ、そのとき前記レベル検出手段にて検出される
前記交流信号成分のレベルを、前記増幅率制御手段動作
時の動作レベルとして測定する動作レベル測定手段と、 該動作レベル測定手段にて測定された動作レベルが、前
記基準レベル測定手段にて測定された基準レベルとなる
よう、前記直流電圧印加手段が前記増幅手段の信号入力
端子に印加する直流電圧を設定する直流電圧設定手段
と、 を設けたことを特徴とする距離測定装置。
A light-emitting means for emitting measurement light; a light-receiving means for receiving reflected light in which the measurement light emitted by the light-emitting means hits an external target and reflecting the light; and outputting a light-receiving signal; Amplifying means for amplifying the received light signal from the amplifying means, an amplifying rate controlling means for controlling the amplifying rate of the amplifying means so as to increase with time, and an AC signal component outputted from the amplifying means. Capture
Light-receiving detection means for detecting the reception of the reflected light by the light-receiving means from the signal; and outputting a pulse-like drive signal to the light-emitting means to emit the measurement light, activating the amplification factor control means, and thereafter, A distance measuring unit that measures a time until the reception of the reflected light by the light receiving unit is detected by the light receiving detection unit, and calculates a distance from the measured time to the target. A DC voltage application unit that applies a DC voltage to a signal input terminal of the amplification unit in order to suppress an AC signal component output from the amplification unit due to amplification ratio control by the amplification ratio control unit; Take in the AC signal component output from the means,
Level detection means for detecting the level of the signal; reference level measurement means for measuring, as a reference level, the level of the AC signal component detected by the level detection means when there is no signal input to the amplification means; Activating the amplification factor control means to change the amplification factor of the amplification means, and the level of the AC signal component detected by the level detection means at that time is set as an operation level at the time of operation of the amplification rate control means. Operating level measuring means for measuring; and a DC voltage applying means for inputting a signal to the amplifying means such that an operating level measured by the operating level measuring means becomes a reference level measured by the reference level measuring means. A distance measuring device comprising: a DC voltage setting means for setting a DC voltage applied to a terminal.
【請求項2】 前記増幅手段への受光信号の入力を遮断
して、前記増幅手段にパルス状の疑似受光信号を入力す
る疑似受光信号入力手段を備え、 前記レベル検出手段が、前記増幅手段から出力される交
流信号成分の最大レベルを検出し、 前記基準レベル測定手段が、前記基準レベルを測定する
際には、前記増幅手段の増幅率を前記増幅率制御手段が
制御する最大増幅率に設定して、前記疑似信号入力手段
を動作させ、 前記動作レベル測定手段が、前記動作レベルを測定する
際には、前記増幅率制御手段を起動して前記増幅手段の
増幅率を変化させ、該増幅手段の増幅率が最大増幅率に
なる所定タイミングで、前記疑似信号入力手段を動作さ
せること、 を特徴とする請求項1に記載の距離測定装置。
2. A pseudo light receiving signal inputting means for interrupting the input of a light receiving signal to said amplifying means and inputting a pulsed pseudo light receiving signal to said amplifying means, wherein said level detecting means comprises: Detecting the maximum level of the output AC signal component, and when the reference level measuring means measures the reference level, sets the amplification factor of the amplification means to the maximum amplification factor controlled by the amplification factor control means. Then, the pseudo signal input means is operated, and when the operation level measuring means measures the operation level, the amplification rate control means is activated to change the amplification rate of the amplification means, The distance measuring apparatus according to claim 1, wherein the pseudo signal input means is operated at a predetermined timing when the amplification factor of the means becomes a maximum amplification factor.
【請求項3】 前記受光手段から前記増幅手段に至る信
号経路に、入力信号を増幅して出力する第2増幅手段を
備え、 前記基準レベル測定手段は、前記基準レベルが、前記レ
ベル検出手段の動作に最適な所定レベルとなるよう、前
記第2増幅手段の増幅率を設定することを特徴とする請
求項2に記載の距離測定装置。
3. A signal path from the light receiving means to the amplifying means, comprising: a second amplifying means for amplifying and outputting an input signal, wherein the reference level measuring means is configured to determine whether the reference level is equal to the level of the level detecting means. The distance measuring apparatus according to claim 2, wherein an amplification factor of the second amplification unit is set so as to be a predetermined level optimal for operation.
【請求項4】 前記基準レベル測定手段による基準レベ
ルの測定前に、前記レベル検出手段を信号無入力状態で
動作させ、そのとき前記レベル検出手段にて検出された
最大レベルを、前記レベル検出手段のオフセット値とし
て測定するオフセット値測定手段を設け、 前記基準レベル測定手段及び動作レベル測定手段を、前
記レベル検出手段にて検出された最大レベルから前記オ
フセット値を引いた値を、前記基準レベル及び動作レベ
ルとして、夫々測定するよう構成してなることを特徴と
する請求項3に記載の距離測定装置。
4. The level detecting means is operated without a signal before the reference level is measured by the reference level measuring means, and the maximum level detected by the level detecting means at that time is used as the level detecting means. Providing an offset value measuring means for measuring as an offset value of the reference level measuring means and the operation level measuring means, a value obtained by subtracting the offset value from the maximum level detected by the level detecting means, the reference level and 4. The distance measuring apparatus according to claim 3, wherein each of the operation levels is measured.
【請求項5】 前記基準レベル測定手段は、前記第2増
幅手段の増幅率を設定した後、前記基準レベルの測定を
再度行い、前記直流電圧設定手段は、該基準レベル測定
手段にて前記第2増幅手段の増幅率設定後に測定された
基準レベルを用いて前記直流電圧を設定することを特徴
とする請求項3又は請求項4に記載の距離測定装置。
5. The reference level measuring means sets the amplification factor of the second amplifying means and then measures the reference level again, and the DC voltage setting means sets the amplification factor of the second amplifying means. 5. The distance measuring apparatus according to claim 3, wherein the DC voltage is set using a reference level measured after setting the amplification factor of the two amplifying units.
【請求項6】 前記直流電圧設定手段は、前記動作レベ
ルと前記基準レベルとの偏差を求め、該偏差が所定レベ
ル以上であれば、現在直流電圧として設定されている現
在電圧値を偏差が小さくなる方向に所定電圧分だけ変化
させた変更電圧値を、新たな直流電圧として設定し、該
偏差が所定レベルよりも小さければ、前記現在電圧値と
前記変更電圧値とを前記現在電圧値に重み付けして平均
化した加重平均電圧値を、新たな直流電圧として設定す
ることを特徴とする請求項1〜請求項5いずれか記載の
距離測定装置。
6. The DC voltage setting means obtains a deviation between the operation level and the reference level, and if the deviation is equal to or more than a predetermined level, reduces the current voltage value currently set as the DC voltage with a small deviation. A changed voltage value changed by a predetermined voltage in a direction is set as a new DC voltage, and if the deviation is smaller than a predetermined level, the current voltage value and the changed voltage value are weighted to the current voltage value. The distance measuring apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the weighted average voltage value averaged is set as a new DC voltage.
【請求項7】 前記距離測定装置は、車両に搭載され、
車両の進行方向前方に位置する物標までの距離を測定す
る車両用距離測定装置であることを特徴とする請求項1
〜請求項6いずれか記載の距離測定装置。
7. The distance measuring device is mounted on a vehicle,
2. A vehicle distance measuring device for measuring a distance to a target located in front of a traveling direction of a vehicle.
The distance measuring device according to claim 6.
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