JP3328188B2 - Integrated circuit device and IC card using the same - Google Patents
Integrated circuit device and IC card using the sameInfo
- Publication number
- JP3328188B2 JP3328188B2 JP09152098A JP9152098A JP3328188B2 JP 3328188 B2 JP3328188 B2 JP 3328188B2 JP 09152098 A JP09152098 A JP 09152098A JP 9152098 A JP9152098 A JP 9152098A JP 3328188 B2 JP3328188 B2 JP 3328188B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- pad
- circuit device
- card
- dummy pad
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/02—Bonding areas ; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L24/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のパッドを介
して、内蔵するメモリ素子に対する情報のやり取りを行
う集積回路装置及びこれを用いたＩＣカードに関する。The present invention relates to an integrated circuit device for exchanging information with a built-in memory element through a plurality of pads, and an IC card using the same.
【０００２】[0002]
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】現在日
本で大量に消費されているカードとして、主として銀行
のキャッシュカードやクレジットカードなどの磁気スト
ライプを利用したタイプや、テレフォンカードや鉄道用
のプリペイドカードなどプラスチック素材に磁気ストラ
イプを埋め込んだタイプなどがあり、これらを常時携帯
し利用している。しかるに、この種のカードは不正使用
やデータの改ざんなどの犯罪の発生率が高いために時代
遅れのものになりつつある。2. Description of the Related Art Cards currently consumed in large quantities in Japan are mainly those using magnetic stripes such as bank cash cards and credit cards, and prepaid cards for telephone cards and railways. There is a type in which a magnetic stripe is embedded in a plastic material such as a card, and these are always carried and used. However, this type of card is becoming obsolete due to the high incidence of crimes such as unauthorized use and data tampering.
【０００３】そこで、近年はカード中にＩＣやメモリＩ
Ｃを内蔵するＩＣカードが普及し始めている。このＩＣ
カードは、ＩＣが持つ機能によって複雑な処理ができる
ため、情報量が飛躍的に向上するほか、暗号処理や、複
雑なプロトコルにより不正使用や改ざんを防ぐことがで
きる点に大きな特色がある。In recent years, ICs and memory I
IC cards incorporating C have begun to spread. This IC
The card has a significant feature in that the card can perform complicated processing by the function of the IC, so that the amount of information is remarkably improved, and that encryption processing and a complicated protocol can prevent unauthorized use and tampering.
【０００４】しかしながら、銀行のＡＴＭから現金を直
接チャージできる現金の電子化や、高度なセキュリティ
が組み込まれたＩＣカードに対しては、その解析、偽造
を試みるアタッカー（攻撃者）も後を断たないのが実情
である。そこで、不正使用や改ざんを防ぐ耐タンパー技
術と、アタッカーによる解析、偽造技術とが追いつ追わ
れつの関係にあり、常に、これで充分とは言いきれない
状況にある。[0004] However, an attacker who attempts to analyze and counterfeit an IC card in which cash can be directly charged from a bank ATM and which incorporates a high level of security and an IC card with a high level of security has been cut off. There is no fact. Therefore, the tamper-resistant technology for preventing unauthorized use and falsification, the analysis by an attacker and the forgery technology are in a chased relationship, and this is not always enough.
【０００５】図４は接触型ＩＣカードに用いられる従来
の集積回路装置の構成を示す部分平面図及びその断面図
である。同図において、全体が参照符号１０で示される
集積回路装置は、シリコン基板１上にＳi Ｏ2 でなる第
１絶縁膜２が形成され、その表面にＡｌでなる第１層配
線３が施され、さらに、この第１層配線３に対して図示
省略のメモリ素子ＭＥＭが接続されている。この第１絶
縁膜２上にＳi Ｏ2 でなる第２絶縁膜４が形成され、こ
の第２絶縁膜４上に針を接触させるパッド６が形成され
ている、このパッド６はＡｌをベースとした矩形の平面
形状をなし、これからＡｌでなる第２層配線７が導出さ
れている。この第２層配線７は、層間接続線５を介し
て、第１層配線３に接続されている。パッド６の表面部
には接触抵抗の低減及び耐摩耗性を考慮して金メッキ等
が施される。また、第２絶縁膜４の表面に耐摩耗性に優
れた、例えば、ガラス、ポリイミド等でなる保護膜８が
形成され、ちょうど、パッド６に対応する部位が開口さ
れ、このパッド６に図示省略の針の先端を当接させるこ
とにより、メモリ素子ＭＥＭに対するデータの入出力が
行われる。FIG. 4 is a partial plan view and a sectional view showing the structure of a conventional integrated circuit device used for a contact type IC card. In the figure, the integrated circuit device, generally indicated by reference numeral 10, the first insulating film 2 is formed consisting of Si O 2 on the silicon substrate 1, the first layer wiring 3 formed of Al is subjected to the surface Further, a memory element MEM (not shown) is connected to the first layer wiring 3. The first second insulating film 4 made of Si O 2 on the insulating film 2 is formed, the pad 6 is brought into contact with the needle on the second insulating film 4 is formed, the pad 6 and the base of Al A second layer wiring 7 made of Al is led out from the rectangular planar shape described above. The second layer wiring 7 is connected to the first layer wiring 3 via the interlayer connection line 5. The surface of the pad 6 is plated with gold in consideration of reduction of contact resistance and wear resistance. Further, a protective film 8 made of, for example, glass, polyimide, or the like having excellent wear resistance is formed on the surface of the second insulating film 4, and a portion corresponding to the pad 6 is opened. The input and output of data to and from the memory element MEM are performed by bringing the tips of the needles into contact.
【０００６】この集積回路装置を用いたＩＣカードに対
する主要な耐タンパ技術を挙げると以下のようなものが
ある。 ａ．外部から加えられる電源電圧を監視して正規の電圧
レベル以外の電圧では動作しないようにする。 ｂ．正規に入力されるべき信号の入力周波数が極端に高
いもの、あるいは、極端に低いものに対しては動作を停
止する。 ｃ．温度を検知して極端な低温や高温での動作を停止す
る。 ｄ．光を検知して、明るいときには解析、偽造のために
光が照射されているものと判断して動作を停止する。The following are the main tamper-resistant technologies for an IC card using this integrated circuit device. a. The power supply voltage applied from the outside is monitored to prevent operation at a voltage other than the normal voltage level. b. The operation is stopped when the input frequency of the signal to be properly input is extremely high or extremely low. c. Detects temperature and stops operation at extremely low or high temperatures. d. The light is detected, and when it is bright, it is determined that light has been irradiated for analysis and counterfeiting, and the operation is stopped.
【０００７】前述したとおり、これらａ〜ｄ項に示す耐
タンパー技術を駆使しても、十分に安全性が確保される
とは言えず、さらに、新たな耐タンパー技術の出現が望
まれていた。As described above, even if the tamper-resistant techniques described in the above items a to d are used, it cannot be said that sufficient safety can be ensured, and further, the emergence of a new tamper-resistant technique has been desired. .
【０００８】本発明は上記の事情を考慮してなされたも
ので、その目的は耐タンパー性能を高めると共に、アタ
ッカーによる解析を難しくすることのできる集積回路装
置及びこれを用いたＩＣカードを提供するにある。The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide an integrated circuit device capable of improving tamper resistance and making analysis by an attacker difficult, and an IC card using the same. It is in.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】請求項１に係る発明は、
表面部に露呈させてなる複数のパッドを介して、内蔵す
るメモリ素子に対する情報のやり取りを行う集積回路装
置において、複数のパッドに混在して形成されたダミー
パッドと、ダミーパッドに所定の接触圧力が加えられた
とき、ダミーパッドと電気的に接続する短絡電極と、ダ
ミーパッドを制御電源の一端に接続する第１の配線と、
短絡電極を制御電源の他端に接続する第２の配線と、を
備えたことを特徴とするものである。The invention according to claim 1 is
In an integrated circuit device for exchanging information with a built-in memory element through a plurality of pads exposed on a surface portion, a dummy pad formed mixed with a plurality of pads and a predetermined contact pressure applied to the dummy pad A short-circuit electrode electrically connected to the dummy pad, a first wiring connecting the dummy pad to one end of the control power supply,
And a second wiring for connecting the short-circuit electrode to the other end of the control power supply.
【００１０】請求項２に係る発明は、請求項１に記載の
集積回路装置を内蔵させたことを特徴とするＩＣカード
である。According to a second aspect of the present invention, there is provided an IC card including the integrated circuit device according to the first aspect.
【００１１】[0011]
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に示す好適な
実施形態に基づいて詳細に説明する。図１は本発明に係
る集積回路装置の一実施形態の構成を示す平面図であ
る。同図において、全体が参照符号２０で示された集積
回路装置はその表面の一方の縁端部に入出力用のパッド
６Ａ、ダミーパッド１３Ａ及び接地用のパッド６Ｂが配
置され、他方の縁端部にクロック用のパッド６Ｃ、ダミ
ーパッド１３Ｂ、リセット用のパッド６Ｄ、ダミーパッ
ド１３Ｃ及び電源接続用のパッド６Ｅが配置されてい
る。このうち、入出力用のパッド６Ａ、接地用のパッド
６Ｂ、クロック用のパッド６Ｃ、リセット用のパッド６
Ｄ及び電源接続用のパッド６Ｅは業界の規格によって配
置すべき位置が決められており、それぞれ保護膜８から
露呈する状態に形成されている。本実施形態は規格によ
って機能及びその位置が決められたパッド６Ａ，６Ｂの
中間にダミーパッド１３Ａを、パッド６Ｃ，６Ｄの中間
にダミーパッド１３Ｂを、パッド６Ｄ，６Ｅの中間にダ
ミーパッド１３Ｃをそれぞれ保護膜８から露呈する状態
に形成している。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a plan view showing a configuration of an embodiment of an integrated circuit device according to the present invention. In the figure, an integrated circuit device indicated generally by reference numeral 20 has an input / output pad 6A, a dummy pad 13A, and a ground pad 6B arranged at one edge of the surface, and the other edge. A pad 6C for clock, a dummy pad 13B, a pad 6D for reset, a dummy pad 13C, and a pad 6E for power supply connection are arranged in the section. Among them, the input / output pad 6A, the ground pad 6B, the clock pad 6C, and the reset pad 6
The positions where D and power supply connection pads 6E are to be arranged are determined according to industry standards, and are formed so as to be exposed from the protective film 8, respectively. In this embodiment, a dummy pad 13A is provided between the pads 6A and 6B whose functions and positions are determined by the standard, a dummy pad 13B is provided between the pads 6C and 6D, and a dummy pad 13C is provided between the pads 6D and 6E. It is formed so as to be exposed from the protective film 8.
【００１２】また、集積回路装置２０の中央部には例え
ばＥＥＰＲＯＭでなるメモリ素子１５、ＣＰＵ１６及び
ランダム回路１７が保護膜８から見てその内側に並べて
形成されている。このうち、ランダム回路１７は規則性
の無い情報を必要に応じて記憶させたものである。At the center of the integrated circuit device 20, a memory element 15, such as an EEPROM, a CPU 16, and a random circuit 17 are formed side by side on the inner side as viewed from the protective film 8. Among them, the random circuit 17 stores information having no regularity as necessary.
【００１３】図２は図１に示した集積回路装置２０の電
気配線図であり、特に、本発明に関係する部分を表した
もので、図１と同一の符号を付したものはそれぞれ同一
の要素を示している。ここで、電源接続用のパッド６Ｅ
に電源配線１４が接続され、接地用のパッド６Ｂに接地
配線１２が接続されている。これら電源配線１４及び接
地配線１２間にメモリ素子１５、ＣＰＵ１６及びランダ
ム回路１７が接続され、さらに、ダミーパッド１３Ａ、
抵抗Ｒ及び短絡用電極１１Ａが直列に接続され、同様
に、ダミーパッド１３Ｂ、抵抗Ｒ及び短絡用電極１１Ｂ
が直列に接続されている。なお、もう一つのダミーパッ
ド１３Ｃ及びこれに接続される要素はダミーパッド１３
Ａ，１３Ｂと接続状態が同様であるので、図面の簡単化
のために省略してある。FIG. 2 is an electrical wiring diagram of the integrated circuit device 20 shown in FIG. 1. In particular, FIG. 2 shows a portion related to the present invention. Indicates an element. Here, the power supply connection pad 6E
Are connected to the power supply wiring 14, and the ground wiring 12 is connected to the ground pad 6B. A memory element 15, a CPU 16 and a random circuit 17 are connected between the power supply wiring 14 and the ground wiring 12, and furthermore, a dummy pad 13A,
The resistor R and the short-circuit electrode 11A are connected in series, and similarly, the dummy pad 13B, the resistor R and the short-circuit electrode 11B
Are connected in series. The other dummy pad 13C and the elements connected thereto are the dummy pad 13C.
Since the connection states are the same as A and 13B, they are omitted for simplification of the drawing.
【００１４】短絡用電極１１Ａ，１１Ｂ及び１１Ｃは図
１に示したダミーパッド１３Ａ，１３Ｂ及び１３Ｃの裏
面部に、それぞれ極めて薄い絶縁膜を介して形成された
もので、この絶縁膜が抵抗Ｒとして示され、ダミーパッ
ド１３Ａ，１３Ｂ及び１３Ｃのうちの少なくとも一つ
に、パッド６Ａ〜６Ｅに加えられる必要最小限度の接触
圧力が加えられたとき、抵抗Ｒの抵抗値が減少してダミ
ーパッド１３Ａ，１３Ｂ及び１３Ｃと対応する短絡用電
極１１Ａ，１１Ｂ及び１１Ｃとが実質的に短絡状態に陥
る構成になっている。このように、ダミーパッドと短絡
用電極１１とが短絡、すなわち、電気的に接続されると
メモリ素子１５に対する書込み、読出しはできなくな
る。The short-circuit electrodes 11A, 11B, and 11C are formed on the back surfaces of the dummy pads 13A, 13B, and 13C shown in FIG. 1 with an extremely thin insulating film interposed therebetween. When at least one of the dummy pads 13A, 13B and 13C is applied with the minimum necessary contact pressure applied to the pads 6A to 6E, the resistance value of the resistor R decreases and the dummy pads 13A, 13B and 13C and the corresponding short-circuit electrodes 11A, 11B and 11C are substantially in a short-circuit state. As described above, when the dummy pad and the short-circuit electrode 11 are short-circuited, that is, electrically connected, writing and reading to and from the memory element 15 cannot be performed.
【００１５】図３は上記実施形態に係る集積回路装置の
詳細な構成を、従来装置を示す図４に対応付けて示した
部分平面図及びその断面図である。図中、従来装置を示
す図２と同一の要素には同一の符号を付してその説明を
省略する。また、参照符号６は図１に示したパッド６Ａ
〜６Ｅを総称したものであり、参照符号１３は図１及び
図２に示したダミーパッド１３Ａ，１３Ｂ及び１３Ｃを
総称したもので、参照符号１１は図１及び図２に示した
短絡用電極１１Ａ，１１Ｂ及び１１Ｃを総称したもので
ある。この集積回路装置２０は、図４に示したと全く同
様にしてメモリ素子ＭＥＭに対するデータの入出力を行
うためのパッド６及びその接続系統の他に、短絡用電極
１１、接地配線１２、ダミーパッド１３及び電源配線１
４を備えている。FIG. 3 is a partial plan view and a sectional view showing a detailed configuration of the integrated circuit device according to the above embodiment in association with FIG. 4 showing a conventional device. In the figure, the same elements as those in FIG. 2 showing the conventional apparatus are denoted by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted. Reference numeral 6 denotes a pad 6A shown in FIG.
6E, the reference numeral 13 is a generic name for the dummy pads 13A, 13B and 13C shown in FIGS. 1 and 2, and the reference numeral 11 is the short-circuit electrode 11A shown in FIGS. , 11B and 11C. The integrated circuit device 20 includes a pad 6 for inputting / outputting data to / from the memory element MEM and a connection system thereof, a short-circuit electrode 11, a ground wiring 12, and a dummy pad 13 in exactly the same manner as shown in FIG. And power supply wiring 1
4 is provided.
【００１６】ここで、短絡用電極１１は第１絶縁膜２の
表面に形成され、ダミーパッド１３は第２絶縁膜４の表
面に形成されると共に、第２絶縁膜４のうちの厚さが極
めて薄い領域４ａを挟むように形成されている。第２絶
縁膜４の厚みの薄い領域４ａの厚さは、ダミーパッド１
３に必要最小限の接触圧力にて針を当てた状態で、ダミ
ーパッド１３と短絡用電極１１とが電気的に接続する程
度に定められる。また、接地配線１２からはＡｌでなる
接地配線１２が導出され、その先端が接地用のパッド６
Ｂ（図１又は図２参照）に接続される。一方、ダミーパ
ッド１３から電源配線１４が導出され、その先端が制御
電源電圧ＶDDが印加されるパッド６Ｅ（図１又は図２参
照）に接続される。なお、メモリ素子ＭＥＭに対してデ
ータの入出力に使用するパッド６は前述した如く５個形
成され、ダミーパッド１３は表面上、パッド６とは見分
けられないように同じ大きさに形成され、かつ、カード
リーダの針が当接しない位置に複数個設けられる。Here, the short-circuit electrode 11 is formed on the surface of the first insulating film 2, the dummy pad 13 is formed on the surface of the second insulating film 4, and the thickness of the second insulating film 4 is reduced. It is formed so as to sandwich the extremely thin region 4a. The thickness of the thin region 4a of the second insulating film 4 depends on the thickness of the dummy pad 1.
3 is set to such an extent that the dummy pad 13 and the short-circuit electrode 11 are electrically connected in a state where the needle is contacted with the minimum necessary contact pressure. A ground wiring 12 made of Al is led out of the ground wiring 12, and its tip is connected to a ground pad 6.
B (see FIG. 1 or FIG. 2). On the other hand, the power supply wiring 14 is led out from the dummy pad 13 and its tip is connected to the pad 6E (see FIG. 1 or 2) to which the control power supply voltage V DD is applied. Note that five pads 6 used for inputting / outputting data to / from the memory element MEM are formed as described above, and the dummy pads 13 are formed on the surface of the same size so as to be indistinguishable from the pads 6, and , Are provided at positions where the needles of the card reader do not abut.
【００１７】かかる構成により、メモリ素子ＭＥＭに対
する正規のデータ入出力が、所定の位置に配置された針
によって、それぞれパッド６を介して行われる。一方、
アタッカーがメモリ素子ＭＥＭの改変及び解読を行うべ
く、ダミーパッド１３に針を押し当てると、その接触圧
力によって短絡用電極１１とダミーパッド１３とが電気
的に接続され、メモリ素子ＭＥＭに対するデータの入出
力処理に必要な電源電圧が遮断される。With such a configuration, normal data input / output to / from the memory element MEM is performed via the pads 6 by the needles arranged at predetermined positions. on the other hand,
When an attacker presses a needle against the dummy pad 13 in order to modify and decode the memory element MEM, the short-circuit electrode 11 and the dummy pad 13 are electrically connected by the contact pressure, and data is input to the memory element MEM. The power supply voltage required for output processing is cut off.
【００１８】しかして、この実施形態によれば、耐タン
パー性能を高めると共に、アタッカーによる解析を難し
くすることのできる集積回路装置が得られると共に、こ
れを内蔵させることによって、同様な効果を有するＩＣ
カードが得られる。According to this embodiment, an integrated circuit device which can improve tamper resistance and make analysis by an attacker difficult can be obtained. By incorporating the integrated circuit device, an IC having the same effect can be obtained.
You get a card.
【００１９】[0019]
【発明の効果】以上の説明によって明らかなように、請
求項１に係る発明によれば、内蔵するメモリ素子に対す
る情報のやり取りを行うパッドに混在させてダミーパッ
ドを形成し、このダミーパッドに所定の接触圧力が加え
られたとき、ダミーパッドと短絡電極とを電気的に接続
させて制御電源を短絡させるため、メモリ素子ＭＥＭに
対するデータの入出力処理が不能となり、これによっ
て、耐タンパー性能が高められると共に、アタッカーに
よる解析を難しくすることのできる集積回路装置が得ら
れる。As is apparent from the above description, according to the first aspect of the present invention, a dummy pad is formed by mixing with a pad for exchanging information with a built-in memory element. When the contact pressure is applied, the dummy pad and the short-circuit electrode are electrically connected to short-circuit the control power supply, so that data input / output processing with respect to the memory element MEM becomes impossible, thereby improving the tamper resistance. In addition, an integrated circuit device that can make analysis by an attacker difficult can be obtained.
【００２０】また、請求項２に係る発明によれば、請求
項１に記載の集積回路装置を内蔵させたので、耐タンパ
ー性能を高めると共に、アタッカーによる解析を難しく
することのできるＩＣカードが得られる。According to the second aspect of the present invention, since the integrated circuit device according to the first aspect is built in, an IC card which can improve tamper resistance and make analysis by an attacker difficult can be obtained. Can be
【図１】本発明に係る集積回路装置の一実施形態の構成
を示す平面図。FIG. 1 is a plan view showing the configuration of an embodiment of an integrated circuit device according to the present invention.
【図２】図１に示した実施形態の全体構成を示す電気配
線図。FIG. 2 is an electrical wiring diagram showing the overall configuration of the embodiment shown in FIG.
【図３】図１に示した実施形態の詳細な構成を示す部分
平面図及びその断面図。FIG. 3 is a partial plan view showing a detailed configuration of the embodiment shown in FIG. 1 and a sectional view thereof.
【図４】ＩＣカードに用いられる従来の集積回路装置の
構成を示す部分平面図及びその断面図。FIG. 4 is a partial plan view and a cross-sectional view showing a configuration of a conventional integrated circuit device used for an IC card.
１ シリコン基板 ２ 第１絶縁膜 ３ 第１層配線 ４ 第２絶縁膜 ５ 層間接続線 ６，６Ａ〜６Ｅ パッド ７ 第２層配線 ８ 保護膜 １０ 集積回路装置 １１ 短絡用電極 １２ 接地配線 １３，１３Ａ，１３Ｂ，１３Ｃ ダミーパッド １４ 電源配線 １５ メモリ素子 １６ ＣＰＵ １７ ランダム回路 ２０ 集積回路装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Silicon substrate 2 1st insulating film 3 1st layer wiring 4 2nd insulating film 5 Interlayer connection line 6, 6A-6E pad 7 2nd layer wiring 8 Protective film 10 Integrated circuit device 11 Short circuit electrode 12 Ground wiring 13, 13A , 13B, 13C Dummy pad 14 Power supply wiring 15 Memory element 16 CPU 17 Random circuit 20 Integrated circuit device
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−158800（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−48555（ＪＰ，Ａ) 特開 平10−105669（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−150648（ＪＰ，Ａ) 特開 平７−89280（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−59593（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G06K 19/00 - 19/18 G06F 12/14 H01L 27/04 H01L 21/822 Continuation of front page (56) References JP-A-5-158800 (JP, A) JP-A-60-48555 (JP, A) JP-A-10-105669 (JP, A) JP-A-3-150648 (JP) , A) JP-A-7-89280 (JP, A) JP-A-63-59593 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G06K 19/00-19/18 G06F 12/14 H01L 27/04 H01L 21/822
Claims (2)
して、内蔵するメモリ素子に対する情報のやり取りを行
う集積回路装置において、 前記複数のパッドに混在して形成されたダミーパッド
と、 前記ダミーパッドに所定の接触圧力が加えられたとき、
前記ダミーパッドと電気的に接続するように形成された
短絡電極と、 前記ダミーパッドを制御電源の一端に接続する第１の配
線と、 前記短絡電極を前記制御電源の他端に接続する第２の配
線と、 を備えたことを特徴とする集積回路装置。1. An integrated circuit device for exchanging information with a built-in memory element via a plurality of pads exposed on a surface portion, wherein: a dummy pad formed mixed with the plurality of pads; When a predetermined contact pressure is applied to the dummy pad,
A short-circuit electrode formed so as to be electrically connected to the dummy pad; a first wiring connecting the dummy pad to one end of a control power supply; and a second wiring connecting the short-circuit electrode to the other end of the control power supply. An integrated circuit device comprising: a wiring;
たことを特徴とするＩＣカード。2. An IC card comprising the integrated circuit device according to claim 1.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09152098A JP3328188B2 (en) | 1998-04-03 | 1998-04-03 | Integrated circuit device and IC card using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09152098A JP3328188B2 (en) | 1998-04-03 | 1998-04-03 | Integrated circuit device and IC card using the same |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11288450A JPH11288450A (en) | 1999-10-19 |
| JP3328188B2 true JP3328188B2 (en) | 2002-09-24 |
Family
ID=14028698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09152098A Expired - Lifetime JP3328188B2 (en) | 1998-04-03 | 1998-04-03 | Integrated circuit device and IC card using the same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3328188B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10349517B2 (en) | 2015-06-29 | 2019-07-09 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Pad patterns |
-
1998
- 1998-04-03 JP JP09152098A patent/JP3328188B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11288450A (en) | 1999-10-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Jurgensen et al. | Smart cards: the developer's toolkit | |
| EP0905657B1 (en) | Currency note comprising an integrated circuit | |
| US4845351A (en) | IC card | |
| US6921988B2 (en) | Anti-spoofing elastomer membrane for secure electronic modules | |
| US8950680B2 (en) | Multifunction removable cover for portable payment device | |
| TW381057B (en) | Semiconductor device | |
| WO2009097604A1 (en) | System and method for self-authenticating token | |
| RU2285291C2 (en) | Chip-card with display | |
| JPH02501961A (en) | Reliability testing method for data carriers with integrated circuits | |
| EP1646972B1 (en) | Chip card including tamper-proof security features | |
| KR20040040827A (en) | Card provided with a password input key and activating method of the same | |
| JP3328188B2 (en) | Integrated circuit device and IC card using the same | |
| US20060108416A1 (en) | Unauthorized access prevention method | |
| US20090064340A1 (en) | Apparatus and Method to Prevent the Illegal Reading of Smart Cards | |
| CN105930747A (en) | Electronic device and protection method for electronic device | |
| US8356756B2 (en) | Smart card module and substrate for a smart card module | |
| JP2003233790A (en) | Method and structure for protecting digital circuit component | |
| JP2001067444A (en) | Ic card | |
| JP3670449B2 (en) | Semiconductor device | |
| KR100794275B1 (en) | System and method for issuing intergrated circuit chip card | |
| JP2004021977A (en) | Prize exchange card and forgery preventing method therefor | |
| AU728517B2 (en) | Cryptographic medium | |
| JP2005134947A (en) | Semiconductor device for ic card, and ic card module | |
| KR20040028104A (en) | Layout method of ic-chip-board in contact 2chip card | |
| JP3594672B2 (en) | IC card |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080712 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090712 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090712 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100712 Year of fee payment: 8 |