JP3324028B2 - Processing equipment - Google Patents

Processing equipment

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JP3324028B2
JP3324028B2 JP8461096A JP8461096A JP3324028B2 JP 3324028 B2 JP3324028 B2 JP 3324028B2 JP 8461096 A JP8461096 A JP 8461096A JP 8461096 A JP8461096 A JP 8461096A JP 3324028 B2 JP3324028 B2 JP 3324028B2
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清久 立山
義治 太田
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Tokyo Electron Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、例えば、LCD
基板等の被処理体に処理液を供給して処理する処理装置
に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention
The present invention relates to a processing apparatus that supplies a processing liquid to a processing target such as a substrate to perform processing.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、液晶表示ディスプレイ(LC
D)装置の塗布・現像システムにおいては、LCD基板
(ガラス基板)上に、例えば、ITO(Indium
TinOxide)の薄膜や電極パターンを形成するた
めに、半導体製造工程に用いられるものと同様なフォト
リソグラフィ技術を用いて回路パターン等を縮小してフ
ォトレジストに転写しこれを現像処理するための処理装
置が備えられている。一般に、この処理装置は、LCD
基板の洗浄装置、洗浄後にLCD基板に疎水化処理を施
すアドヒージョン処理装置、LCD基板に冷却処理を施
す冷却処理装置、フォトレジスト膜(感光膜)を塗布形
成するレジスト処理装置、フォトレジスト膜を加熱して
ベーキング処理する加熱処理装置、ベーキング処理後、
所定のパターンを露光する露光装置、露光後に所定の現
像液を塗布してLCD基板の現像を行う現像装置、現像
後にリンス液により現像液を洗い流す液洗浄装置、及
び、これら各種処理装置との間でLCD基板の受渡しを
行う搬送装置を備えている。そして、LCD基板の洗浄
→LCD基板の疎水化処理→LCD基板の冷却→フォト
レジスト膜の形成→フォトレジスト膜のベーキング→フ
ォトパターンの露光→LCD基板の現像→洗浄を順に行
うことにより、LCD基板の塗布・現像を完了するよう
になっている。
2. Description of the Related Art Generally, a liquid crystal display (LC) is used.
D) In a coating / developing system of an apparatus, for example, ITO (Indium) is formed on an LCD substrate (glass substrate).
In order to form a thin film of TinOxide or an electrode pattern, a processing apparatus for reducing a circuit pattern or the like using a photolithography technique similar to that used in a semiconductor manufacturing process, transferring the circuit pattern to a photoresist, and developing the same. Is provided. Generally, the processing device is an LCD
Cleaning device for substrate, adhesion processing device for performing hydrophobic treatment on LCD substrate after cleaning, cooling processing device for performing cooling process on LCD substrate, resist processing device for applying and forming photoresist film (photosensitive film), heating photoresist film Heat treatment equipment to perform baking processing, after baking processing,
An exposure device for exposing a predetermined pattern, a developing device for applying a predetermined developing solution after the exposure to develop the LCD substrate, a liquid cleaning device for washing the developing solution with a rinsing solution after the development, and between these various processing devices. And a transfer device for transferring the LCD substrate. Then, cleaning of the LCD substrate, hydrophobic treatment of the LCD substrate, cooling of the LCD substrate, formation of a photoresist film, baking of a photoresist film, exposure of a photo pattern, development of the LCD substrate, and cleaning are performed in this order. Is completed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記塗布・現
像システムのレイアウトをある特定の塗布・現像工程に
対してのみ有利なように制限してしまうと、それ以外の
塗布・現像工程に対応することができないという不都合
があり、また、システムを設置する場所に対してシステ
ム全体のレイアウトを最適に決定することができないと
いう不都合がある。また、このように処理効率を優先さ
せてシステムのレイアウトを決定してしまうと、現像、
洗浄等の処理液供給系、排液出系、給・排気系、及び電
源供給系のレイアウトが繁雑になり、これによって保守
・点検がし難くなると共に、システム全体コストが上昇
してしまうという問題がある。
However, if the layout of the coating / developing system is limited so as to be advantageous only for a specific coating / developing process, it will be necessary to cope with other coating / developing processes. There is a disadvantage that the layout of the entire system cannot be optimally determined for a place where the system is installed. Also, if the system layout is determined by giving priority to the processing efficiency, development,
The layout of the processing liquid supply system such as cleaning, drainage system, supply / exhaust system, and power supply system becomes complicated, which makes maintenance and inspection difficult and increases the overall system cost. There is.

【0004】この発明の目的は、上記事情に鑑みてなさ
れたものであり、その目的は、被処理体の搬送路に対し
て被処理体に処理を施す各種処理手段を自在に入れ替え
ることができるようにした新規な処理装置を提供するこ
とにある。
An object of the present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to be able to freely replace various processing means for performing processing on an object with respect to a transport path of the object. It is another object of the present invention to provide a novel processing device.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】請求項記載の発明は、
被処理体の搬送路の左右に、被処理体を処理すると共
に、給・排気系及び処理用の駆動電気系を具備する各種
処理手段をそれぞれ配設してなる処理装置において、
上記各種処理手段に、それぞれ移動のための走行手段を
設けると共に、 上記搬送路と上記各種処理手段とに互
いを着脱自在に連結するジョイント手段を設け、 上記
搬送路に、上記各種処理手段の排液排出口部と着脱自在
に連結する排液回収管と、上記各種処理手段の排気排出
口部と着脱自在に連結する排気回収管及び上記各種処理
手段の駆動電気系の電気配線部と着脱自在に連結する電
源供給配線部を設け、 上記電源供給配線部を、上記排
液回収管及び排気回収管より上方に配線してなること、
を特徴とする。
According to the first aspect of the present invention,
In the processing apparatus, on the left and right sides of the transport path of the processing object, while processing the processing object, various processing means provided with a supply and exhaust system and a driving electric system for processing, respectively,
Each of the various processing means is provided with a traveling means for movement, and a joint means for detachably connecting the transport path and the various processing means to each other is provided. The discharge path of the various processing means is provided in the transport path. Removable with liquid outlet
A drain collection pipe connected to the exhaust pipe, an exhaust collection pipe detachably connected to the exhaust discharge port of the above-mentioned various processing means, and the above-mentioned various treatments
Means for detachably connecting to the electric wiring section of the drive electric system of the means.
A power supply wiring section is provided, and the power supply wiring section is
Wiring above the liquid recovery pipe and the exhaust recovery pipe,
It is characterized by.

【0006】請求項2記載の発明は、被処理体の搬送路
の左右に、被処理体を処理すると共に、給・排気系及び
処理用の駆動電気系を具備する各種処理手段をそれぞれ
配設してなる処理装置において、 上記搬送路に、上記
各種処理手段の排液排出口部と着脱自在に連結する排液
回収管と、 上記各種処理手段の排気排出口部と着脱自
在に連結する排気回収管及び上記各種処理手段の駆動電
気系の電気配線部と着脱自在に連結する電源供給配線部
を設け、 上記電源供給配線部を、上記排液回収管及び
排気回収管より上方に配線してなること、を特徴とす
According to a second aspect of the present invention, there is provided a transfer path for an object to be processed.
Process the object to be processed, and supply / exhaust system and
Various processing means equipped with a driving electric system for processing
In the processing apparatus provided,
Drainage removably connected to the drainage outlet of various processing means
The collection pipe, the exhaust outlet of the above-mentioned various processing means, and the detachable
Exhaust recovery pipe connected to the
Power supply wiring section detachably connected to pneumatic electric wiring section
The power supply wiring section, the drainage collection pipe and
Wiring above the exhaust recovery pipe.
You .

【0007】請求項記載の発明において、上記各種処
理手段は、熱処理部を少なくとも1つ備えた加熱装置
と、被処理体を回転させつつ処理を行う現像装置にて形
成可能である(請求項)。また、上記搬送路と各種処
理手段とを各々移動可能に形成する方が好ましい(請求
)。
In the invention described in claim 2 , the various processing means can be formed by a heating device having at least one heat treatment section and a developing device that performs processing while rotating the object to be processed. 3 ). Further, it is preferable that the transport path and the various processing means are formed so as to be movable (claim 4 ).

【0008】この発明によれば、例えばジョイント手段
及び上記各種処理手段の排液排出口部と排液回収管、ま
たは、排気排出口部と排気回収管、あるいは、駆動電気
系の配線部と電源供給配線部との連結を解除して搬送路
に対する各種処理手段の位置を簡単に組み替えることが
でき、搬送路を基準として所望の処理手段を自由に組み
込むことができ、各種処理手段における処理時間を短縮
することができる。また、排液、排気系等の配管、電気
配線等をスッキリさせることができ、装置の構造の簡素
化を図ることができる。
According to the present invention, for example, the drainage discharge port and the drainage recovery pipe of the joint means and the various processing means, or the exhaust discharge port and the exhaust recovery pipe, or the wiring part of the driving electric system and the power supply By disconnecting the connection with the supply wiring section, it is possible to easily rearrange the positions of the various processing means with respect to the transport path, freely incorporate desired processing means based on the transport path, and reduce the processing time in the various processing means. Can be shortened. Further, the drainage, the piping of the exhaust system and the like, the electrical wiring, and the like can be refreshed, and the structure of the device can be simplified.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下に、この発明の実施の形態を
添付図面に基づいて詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0010】ここでは、この発明に係る塗布薄膜形成の
ための処理装置をLCD(液晶表示)基板(ガラス基
板)の塗布・現像処理システムに適用した場合について
説明する。
Here, a case will be described in which the processing apparatus for forming a coating thin film according to the present invention is applied to a coating and developing processing system for an LCD (liquid crystal display) substrate (glass substrate).

【0011】上記塗布・現像処理システムは、例えば図
2に示すように、被処理体としてのLCD基板G(以下
に基板という)を搬入・搬出するローダ部1と、基板G
の第1の処理部2と、中継部3を介して上記第1の処理
部2に連接される第2の処理部4とで主に構成され、第
2の処理部4には受渡し部5を介してレジスト膜に所定
の微細パターンを露光するための露光装置6が連接可能
となっている。
As shown in FIG. 2, for example, the coating / developing processing system includes a loader unit 1 for loading / unloading an LCD substrate G (hereinafter, referred to as a substrate) as an object to be processed, and a substrate G
, And a second processing unit 4 connected to the first processing unit 2 via the relay unit 3. The second processing unit 4 includes a delivery unit 5. An exposure device 6 for exposing a predetermined fine pattern to the resist film via the resist film can be connected.

【0012】上記ローダ部1は、未処理の基板Gを収容
するカセット7及び処理済みの基板Gを収容するカセッ
ト7aを載置するカセット載置台8と、このカセット載
置台8上の処理、未処理のカセット7,7aとの間で基
板Gの搬出入を行うべく水平(X,Y)方向、垂直方向
(Z)方向への移動及び回転(θ)可能な基板搬出入ピ
ンセット9とで構成されている。
The loader unit 1 includes a cassette mounting table 8 for mounting a cassette 7 for storing an unprocessed substrate G and a cassette 7a for storing a processed substrate G; A substrate loading / unloading pin set 9 that can be moved and rotated (θ) in the horizontal (X, Y) direction and the vertical direction (Z) so that the substrate G can be loaded and unloaded to and from the processing cassettes 7 and 7a. Have been.

【0013】また、上記第1の処理部2は、X、Y、Z
方向の移動及びθ回転可能なメインアーム10の搬送路
11の一方側に、基板Gをブラシ洗浄するブラシ洗浄装
置12と、基板Gを高圧ジェット水で洗浄するジェット
水洗浄装置13と、基板Gの表面を疎水化処理するアド
ヒージョン処理装置14と、基板Gを所定温度に冷却す
る冷却処理装置15とを配置し、搬送路11の他方側
に、レジスト塗布装置16及び塗布膜除去装置17を配
置して構成されている。
The first processing unit 2 includes X, Y, Z
A brush cleaning device 12 for brush cleaning the substrate G, a jet water cleaning device 13 for cleaning the substrate G with high-pressure jet water, and a substrate G An adhesion treatment device 14 for hydrophobizing the surface of the substrate G and a cooling treatment device 15 for cooling the substrate G to a predetermined temperature are arranged. It is configured.

【0014】上記第2の処理部4は、第1の処理部2と
同様にX、Y、Z方向の移動及びθ回転可能なメインア
ーム10aの搬送路11a側の一方側に、レジスト液塗
布の前後で基板Gを加熱してプリベークまたはポストベ
ークを行う加熱装置18を配置し、搬送路11aの他方
側に、現像装置20を配置している。なお、上記中継部
3は、必要に応じてこの中継部3を第1の処理部2及び
第2の処理部4から引出して、第1の処理部2または第
2の処理部4内に作業員が入って補修や点検等を容易に
行うことができるようになっている。
The second processing unit 4 applies a resist solution to one side of the transfer path 11a of the main arm 10a that can move in the X, Y, and Z directions and rotate by θ similarly to the first processing unit 2. A heating device 18 for heating the substrate G before and after the pre-baking or post-baking is disposed, and a developing device 20 is disposed on the other side of the transport path 11a. The relay unit 3 pulls out the relay unit 3 from the first processing unit 2 and the second processing unit 4 as necessary, and stores the work in the first processing unit 2 or the second processing unit 4. Repairs and inspections can be easily performed by staff members.

【0015】なお、上記受渡し部5には、基板Gを一時
待機させるためのカセット19aとこのカセット19a
との間で基板Gの出し入れを行う搬送用ピンセット19
bと、基板Gの受渡し台19cが設けられている。
The transfer unit 5 includes a cassette 19a for temporarily holding the substrate G and a cassette 19a for temporarily holding the substrate G.
Tweezers 19 for transferring the substrate G in and out thereof
b and a transfer table 19c for the substrate G are provided.

【0016】上記の構成の塗布・現像処理システムにお
いては、カセット7内に収容された未処理の基板Gは、
ローダ部1の搬出入ピンセット9によって取り出された
後、第1の処理部2のメインアーム10に受け渡され、
そして、ブラシ洗浄装置12またはジェット水洗浄装置
13内に搬送され、この洗浄装置12,13内にて洗浄
される。この後、基板Gは、アドヒージョン処理装置1
4による疎水化処理が施され、冷却処理装置15にて冷
却された後、レジスト塗布装置16にてフォトレジスト
膜、すなわち、感光膜が塗布形成され、これに引続いて
塗布膜除去装置17によって基板Gの周辺部の不要なレ
ジスト膜が除去される。そして、このフォトレジスト膜
が加熱処理装置18にて加熱されてベーキング処理が施
された後、露光装置6にて所定のパターンが露光され
る。そして、露光後の基板Gは現像装置20内に搬送さ
れ、所定の現像液により現像された後にリンス液により
現像液が洗い出され現像処理を完了する。そして、現像
処理された処理済みの基板Gはローダ部1のカセット7
a内に収容された後に、搬出されて次の処理工程へ向け
て移送される。
In the coating / developing processing system having the above configuration, the unprocessed substrate G stored in the cassette 7 is
After being taken out by the loading / unloading tweezers 9 of the loader unit 1, it is delivered to the main arm 10 of the first processing unit 2,
Then, it is transported into the brush cleaning device 12 or the jet water cleaning device 13 and is cleaned in the cleaning devices 12 and 13. Thereafter, the substrate G is placed on the adhesion processing apparatus 1.
After a hydrophobizing treatment by 4 and cooling by a cooling treatment device 15, a photoresist film, that is, a photosensitive film is coated and formed by a resist coating device 16, and subsequently, by a coating film removing device 17. Unnecessary resist film on the peripheral portion of the substrate G is removed. Then, the photoresist film is heated by the heat treatment device 18 and subjected to a baking process, and then a predetermined pattern is exposed by the exposure device 6. Then, the exposed substrate G is transported into the developing device 20, and after being developed with a predetermined developing solution, the developing solution is washed out with a rinsing solution to complete the developing process. Then, the processed substrate G that has been subjected to the development processing is loaded into the cassette 7 of the loader unit 1.
After being accommodated in a, it is carried out and transported to the next processing step.

【0017】次に、塗布・現像処理システムの各種処理
手段の構造について、現像装置20を代表して説明す
る。
Next, the structure of various processing means of the coating / developing processing system will be described with the developing device 20 as a representative.

【0018】上記現像装置20は、例えば、図3及び図
4に示すように、基板Gを真空吸着によって保持し水平
方向に回転するスピンチャック21と、このスピンチャ
ック21及び基板Gとを包囲する容器30と、基板Gの
表面のレジスト膜面に処理液として所定の現像液を供給
する現像液供給ノズル22(処理液供給手段)と、基板
Gの現像液を吸引により回収する吸引ノズル23(回収
手段)と、現像後の基板G表面の回路パターンにリンス
液(洗浄液)を供給する洗浄液供給ノズル24(洗浄液
供給手段)と、これら現像液供給ノズル22、吸引ノズ
ル23をそれぞれ側方に設けた待機位置及び基板Gより
上方の処理位置に移動する移動機構25とを具備してな
る。
The developing device 20, for example, as shown in FIGS. 3 and 4, holds a substrate G by vacuum suction and rotates in a horizontal direction, and surrounds the spin chuck 21 and the substrate G. The container 30, a developer supply nozzle 22 (processing solution supply means) for supplying a predetermined developing solution as a processing solution to the resist film surface on the surface of the substrate G, and a suction nozzle 23 for collecting the developer of the substrate G by suction ( (Recovery means), a cleaning liquid supply nozzle 24 (cleaning liquid supply means) for supplying a rinsing liquid (cleaning liquid) to the circuit pattern on the surface of the substrate G after development, and a developing liquid supply nozzle 22 and a suction nozzle 23 are provided on the sides. And a moving mechanism 25 for moving to a processing position above the substrate G.

【0019】この場合、上記現像液供給ノズル22は、
現像液供給管26を介して現像液収容タンク27に接続
され、現像液供給管26に介設されるポンプ28の駆動
及びバルブ29の開閉操作によって現像液が供給される
ように構成されている。また、吸引ノズル23は、吸引
機構40を有する排液排出管41を介して後述する排液
回収管53に接続されている。
In this case, the developer supply nozzle 22 is
The developing solution is connected to a developing solution storage tank 27 via a developing solution supply tube 26, and the developing solution is supplied by driving a pump 28 provided in the developing solution supply tube 26 and opening and closing a valve 29. . Further, the suction nozzle 23 is connected to a drain collection pipe 53 described later via a drain discharge pipe 41 having a suction mechanism 40.

【0020】上記のように構成される現像装置におい
て、まず、メインアーム10aで基板Gを現像装置20
内に搬入し、スピンチャック21上に基板Gを真空吸着
によって保持した状態で、図5(a)に示すように、現
像液供給ノズル22を基板Gの短辺または長辺方向にス
キャンさせて、基板G表面に例えば液の深さ(厚さ)が
所定の厚さ例えば約2mm程度になるように現像液Lを供
給する。次に、現像液供給ノズル22を待機位置に後退
させ所定時間、現像処理を行った後、図示しない吸引機
構によって吸引ノズル23を負圧状態にさせて、図5
(b)に示すように、吸引ノズル23をその先端部が基
板Gに接触しない状態程度の間隔、例えば0.5mm程度
に近付けた状態に設定し、スキャンさせて現像液Lの上
澄み部分の余剰となった現像液Laを吸引し、これを排
液排出管及び排液回収管を介して処理設備へ送り再生す
る。次に、吸引ノズル23によって現像液Laがほぼ回
収された後、図5(c)に示すように、洗浄液供給ノズ
ル24を基板Gの上方に移動し、リンス液(洗浄液)を
供給すると共に、スピンチャック21を回転させること
により、リンス液で基板G上に残っている現像液Lを洗
い流す。そして、洗浄液供給ノズル24の供給を停止し
た洗浄液供給ノズルを待機位置に後退させた後、図5
(d)に示すように、スピンチャック21を高速に回転
させて基板G上に付着する現像液、リンス液を遠心力で
吹き飛ばして乾燥を行って、処理が終了する。
In the developing device configured as described above, first, the substrate G is attached to the developing device 20 by the main arm 10a.
In a state where the substrate G is held on the spin chuck 21 by vacuum suction, the developer supply nozzle 22 is scanned in the short side or long side direction of the substrate G as shown in FIG. Then, the developing solution L is supplied to the surface of the substrate G such that the depth (thickness) of the solution becomes a predetermined thickness, for example, about 2 mm. Next, after the developing solution supply nozzle 22 is retracted to the standby position and the developing process is performed for a predetermined period of time, the suction nozzle 23 is brought into a negative pressure state by a suction mechanism (not shown).
As shown in (b), the suction nozzle 23 is set at such an interval that the tip of the suction nozzle 23 does not come into contact with the substrate G, for example, close to about 0.5 mm, and scanning is performed. The developing solution La is sucked and sent to the processing equipment through the drainage discharge pipe and the drainage recovery pipe for regeneration. Next, after the developer La is almost recovered by the suction nozzle 23, as shown in FIG. 5C, the cleaning liquid supply nozzle 24 is moved above the substrate G to supply a rinsing liquid (cleaning liquid). By rotating the spin chuck 21, the developing solution L remaining on the substrate G is washed away with the rinsing solution. Then, after the cleaning liquid supply nozzle whose supply of the cleaning liquid supply nozzle 24 has been stopped is retracted to the standby position, FIG.
As shown in (d), the spin chuck 21 is rotated at a high speed to blow off the developing solution and the rinsing solution adhering to the substrate G by centrifugal force to perform drying, thereby completing the process.

【0021】上記のように構成される現像装置20は、
図2に示すように、箱状体に形成され、その下面部に走
行移動のためにキャスタ50(走行手段)が備えられて
いる。また、図6に示すように、現像装置20の搬送路
11a側の接合面及び搬送路11aを構成するフレーム
11cには、このフレーム11cに対する現像装置20
の取付け位置を塗布・現像工程あるいは工場の設置場所
の規制に対して任意に変更するためのジョイント手段5
2が備えられている。
The developing device 20 configured as described above
As shown in FIG. 2, it is formed in a box-like body, and a caster 50 (running means) is provided on the lower surface for running movement. Further, as shown in FIG. 6, a bonding surface of the developing device 20 on the side of the transport path 11a and a frame 11c constituting the transport path 11a are provided with the developing device 20 with respect to the frame 11c.
Means 5 for arbitrarily changing the mounting position of the device with respect to the coating / developing process or the regulation of the installation location of the factory
2 are provided.

【0022】現像装置20を塗布・現像処理システムに
組み込むには、現像装置20を所定の位置のフレーム1
1cに移動して、ジョイント手段52をもって連結す
る。この際、後述するように、現像装置20の処理液の
排液部、給・排気部及び電気配線部を、それぞれフレー
ム11c側に設けられた排液回収管、排気回収管及び電
源供給配線部に連結する。
In order to incorporate the developing device 20 into the coating / developing processing system, the developing device 20 must be mounted on the frame 1 at a predetermined position.
1c, and are connected by the joint means 52. At this time, as will be described later, a drainage portion, a supply / exhaust portion, and an electric wiring portion of the processing liquid of the developing device 20 are respectively connected to a drainage collection tube, an exhaust collection tube, and a power supply wiring portion provided on the frame 11c side. Connect to

【0023】上記のような箱状体の下面部にキャスタ5
0を備えること、及びジョイント手段52を備えるよう
にすることは、現像装置20以外に、上記ローダ部1の
カセット載置台8、中継部3、受渡し部5、露光装置
6、ブラシ洗浄装置12、ジェット水洗浄装置13、ア
ドヒージョン処理装置14、冷却処理装置15、レジス
ト塗布装置16及び塗布膜除去装置17、加熱装置18
及び中継部3等の各種装置にも同様に設けられている。
A caster 5 is provided on the lower surface of the box-like body as described above.
0, and the provision of the joint means 52 means that, in addition to the developing device 20, the cassette mounting table 8, the relay portion 3, the transfer portion 5, the exposure device 6, the brush cleaning device 12, Jet water cleaning device 13, adhesion treatment device 14, cooling treatment device 15, resist coating device 16, coating film removing device 17, heating device 18
Also, various devices such as the relay unit 3 are similarly provided.

【0024】一方、図1,図7,図8に示すように、搬
送路11,11aの床下下方には、レジスト塗布装置1
6、塗布膜除去装置17、ブラシ洗浄装置12、現像装
置20の処理済みの洗浄水、現像液等の排液を外部の処
理設備に搬送すべく排液回収管53が敷設され、また、
窒素ガスや塗布・現像処理システム内雰囲気を排気する
ための排気回収管54が敷設されている。そして搬送路
11,11aの床面には、上記各種装置に電源を供給す
るためのリード線55(電源供給配線)が配線されてい
る。なお、上記排液回収管53及び排気回収管54に
は、それぞれ排液、排気の吸引のためのポンプ56が備
えられている。
On the other hand, as shown in FIG. 1, FIG. 7, and FIG.
6. A drainage collection pipe 53 is laid to convey wastewater, such as processed washing water and developer, of the coating film removing device 17, the brush cleaning device 12, and the developing device 20 to an external processing facility.
Exhaust collection pipe 54 for exhausting the nitrogen gas or the coating and developing system in the atmosphere is laid. And the floor of the transport path 11,11a is, lead 55 for supplying power to the various devices (power supply wiring) are wired. The drain collection pipe 53 and the exhaust collection pipe 54 are provided with a pump 56 for sucking drain and exhaust, respectively.

【0025】上記ジョイント手段52は、図6に示すよ
うに、例えば、フレーム11cに沿って所定間隔を隔て
て固定された第1のブラケット57及びこの第1のブラ
ケット57から搬送路11,11aの外側へ外向き水平
に張り出されたボルト58と、上記各種装置のフレーム
11cの着脱面に固着され上記ボルト58の挿通を許容
するためのボルト挿通孔59を有する第2のブラケット
60及び上記ボルト58のねじに螺合して第1のブラケ
ット57に対して第2のブラケット60を固定するナッ
ト61とで構成されている。この場合、上記各種装置の
ボルト挿通孔59の孔ピッチは、互いに等しく、また、
フレーム11cのボルトピッチに対して等しく設定され
ている。そしてこれら各ジョイント手段52にあって、
ボルト挿通孔59の孔径は、上記ボルト58の外径より
も径大か、または長孔状に形成されて着脱の際の自由度
が得られるようになっている。
As shown in FIG. 6, the joint means 52 includes, for example, a first bracket 57 fixed at a predetermined interval along the frame 11c and the transport path 11, 11a from the first bracket 57. A bolt 58 extending horizontally outward and a second bracket 60 having a bolt insertion hole 59 fixed to a mounting / dismounting surface of the frame 11c of the various devices and having a bolt insertion hole 59 for allowing the insertion of the bolt 58; A nut 61 is screwed into the screw 58 to fix the second bracket 60 to the first bracket 57. In this case, the hole pitches of the bolt insertion holes 59 of the various devices are equal to each other, and
It is set equal to the bolt pitch of the frame 11c. And in each of these joint means 52,
The hole diameter of the bolt insertion hole 59 is larger than the outer diameter of the bolt 58 or is formed in a long hole shape, so that the degree of freedom at the time of attachment and detachment can be obtained.

【0026】一方、上記排液回収管53及び上記排気回
収管54には、図1,図7,図8に示したように、長手
方向において所定間隔を隔ててそれぞれ排液回収口部6
2、排気回収口部63が設けられ、上記ブラシ洗浄装置
12、上記ジェット水洗浄装置13、上記レジスト塗布
装置16、塗布膜除去装置17、現像装置20等の上記
各種装置には、図1に示すように、排液回収管53の排
液回収口部62あるいは排気回収口部63と着脱自在に
接続する上記排液排出管41、及び排気排出管64が備
えられている。また、図1に示すように、各種装置の駆
動電気系の配線65と、上記リード線55とが例えばコ
ネクタ,プラグ等の電気接続具66を介して着脱自在に
接続されている。
On the other hand, as shown in FIG. 1, FIG. 7, and FIG. 8, the drain recovery pipe 53 and the exhaust recovery pipe 54 are respectively provided at predetermined intervals in the longitudinal direction.
2. An exhaust recovery port 63 is provided, and the above various devices such as the brush cleaning device 12, the jet water cleaning device 13, the resist coating device 16, the coating film removing device 17, and the developing device 20 are provided in FIG. As shown, the drainage discharge pipe 41 and the exhaust discharge pipe 64 which are detachably connected to the drainage recovery port 62 or the exhaust recovery port 63 of the drainage recovery pipe 53 are provided. Further, as shown in FIG. 1, the wiring 65 of the driving electric system of various devices and the above-mentioned lead wire 55 are detachably connected via an electric connector 66 such as a connector or a plug.

【0027】なお、図6の説明にあって、第1のブラケ
ット57を上記各種装置のフレーム側着脱面側に取り付
け、第2のブラケット60をフレーム11cに取り付け
ることも勿論可能であり、また、上記ジョイント手段5
2の構成は、フレーム11cに対して各種装置を着脱し
得るものであればよく、必ずしも上記ボルト58・ナッ
ト61の構成に限定されるものではない。また、上記ジ
ョイント手段52は各種装置同士の連結にも用いられ
る。
In the description of FIG. 6, it is of course possible to attach the first bracket 57 to the frame-side attachment / detachment side of the above-mentioned various devices and attach the second bracket 60 to the frame 11c. The above joint means 5
The configuration of 2 is not limited to the configuration of the bolts 58 and the nuts 61 as long as various devices can be attached to and detached from the frame 11c. The joint means 52 is also used for connecting various devices.

【0028】したがって、このような構成によって搬送
路11,11bに対する上記各種装置のレイアウトを、
例えば、図9に示すように設定することができる。ま
た、搬送路11aを構成するフレーム11c(図1,図
6参照)の下面部にも走行移動のためにキャスタ50
(走行手段)を備えておき、そして、図10に示すよう
に、上記各種装置をサブアッセイとして工場、または設
置場所の周辺で予め組立てておき、組立てられたサブア
ッセイを敷地に搬入して所定のシステムを構築したり、
また、同様にして各種装置のレイアウトのためのサブア
ッセイを組み直し、これを搬入することによって所望の
ラインを構築することが自在となり、塗布・現像の工程
変更、システムの設置スペースの規制に対して十分対応
したシステムを構築することができる。
Therefore, the layout of the above-mentioned various devices with respect to the transport paths 11 and 11b is
For example, it can be set as shown in FIG. Also, a frame 11c constituting the transport path 11a (see FIGS.
6) also on the lower surface of the caster 50 for traveling movement.
(Running means), and as shown in FIG. 10, the above-described various devices are pre-assembled as sub-assays in the vicinity of a factory or an installation place, and the assembled sub-assay is carried to the site and is prescribed. To build a system for
Similarly, by reassembling the sub-assays for the layout of various devices and loading them in, it becomes possible to construct the desired line freely. A sufficiently compatible system can be constructed.

【0029】上記実施形態では、この発明の処理装置を
LCD基板の塗布・現像処理システムに適用した場合に
ついて説明したが、この発明の処理装置は、LCD基板
以外の被処理体例えば半導体ウエハの塗布・現像処理シ
ステムやその他の各種処理手段を具備する処理装置にも
適用できることは勿論である。
In the above embodiment, the case where the processing apparatus of the present invention is applied to an LCD substrate coating / developing processing system has been described. However, the processing apparatus of the present invention is applied to a processing object other than the LCD substrate such as a semiconductor wafer. -It is needless to say that the present invention can be applied to a processing apparatus having a development processing system or other various processing means.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上に説明したように、この発明によれ
ば、例えばジョイント手段及び各種処理手段の排液排出
口部と排液回収管、または、排気排出口部と排気回収
管、あるいは、駆動電気系の配線部と電源供給配線部と
の連結を解除して搬送路に対する各種処理手段の位置を
簡単に組み替えることができるので、所望の処理工程に
応じて処理手段を組み込んだ処理システムを構築するこ
とができ、各種処理液による処理時間を短縮することが
でき、スループットの向上を図ることができる。
As described above, according to the present invention, for example, the drain discharge port and the drain recovery pipe of the joint means and various processing means, or the exhaust discharge port and the exhaust recovery pipe, or Since the connection between the wiring section of the drive electric system and the power supply wiring section can be released and the positions of various processing means with respect to the transport path can be easily rearranged, a processing system incorporating processing means according to a desired processing step can be used. It can be constructed, the processing time with various processing solutions can be shortened, and the throughput can be improved.

【0031】また、排液、排気系等の配管、電気配線等
をスッキリさせることができ、装置の構造の簡素化を図
ることができると共に、コストの低廉化を図ることがで
きる。
Also, piping for drainage and exhaust systems, electric wiring, etc.
Can be refreshed , the structure of the device can be simplified, and the cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の処理装置を説明するための要部詳細
断面図である。
FIG. 1 is a detailed sectional view of a main part for describing a processing apparatus of the present invention.

【図2】この発明の処理装置を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing a processing apparatus of the present invention.

【図3】この発明における現像装置の構成を示す概略図
である。
FIG. 3 is a schematic diagram illustrating a configuration of a developing device according to the present invention.

【図4】上記現像装置の概略平面図である。FIG. 4 is a schematic plan view of the developing device.

【図5】現像装置の処理工程を示す工程図である。FIG. 5 is a process chart showing processing steps of the developing device.

【図6】この発明におけるジョイント手段を示す構成図
である。
FIG. 6 is a configuration diagram showing a joint means in the present invention.

【図7】この発明における排液回収管を示す平面図であ
る。
FIG. 7 is a plan view showing a drainage collection pipe according to the present invention.

【図8】この発明における排液回収管を示す側面図であ
る。
FIG. 8 is a side view showing a drainage collection pipe according to the present invention.

【図9】この発明の処理装置のシステムレイアウトの一
例を示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing an example of a system layout of the processing apparatus of the present invention.

【図10】この発明の処理装置の組立工程の一例を示す
工程図である。
FIG. 10 is a process chart showing an example of an assembling process of the processing apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

G LCD基板(被処理体) 1 ローダ部 3 中継部 6 露光装置 8 カセット載置台 11,11a 搬送路 12 ブラシ洗浄装置 13 ジェット水洗浄装置 14 アドヒージョン処理装置 15 冷却処理装置 16 レジスト塗布装置 17 塗布膜除去装置 18 加熱装置 20 現像装置 41 排液排出管 50 キャスタ(走行装置) 52 ジョイント手段 53 排液回収管 54 排気回収管 55 リード線 62 排液回収口部 63 排気回収口部 64 排気排出管 65 電気配線 66 電源接続具 G LCD substrate (object to be processed) 1 Loader unit 3 Relay unit 6 Exposure device 8 Cassette mounting table 11, 11a Transport path 12 Brush cleaning device 13 Jet water cleaning device 14 Adhesion processing device 15 Cooling processing device 16 Resist coating device 17 Coating film 17 Removal device 18 Heating device 20 Developing device 41 Drainage discharge pipe 50 Caster (traveling device) 52 Joint means 53 Drainage recovery pipe 54 Exhaust recovery pipe 55 Lead wire 62 Drainage recovery port 63 Exhaust recovery port 64 Exhaust discharge pipe 65 Electrical wiring 66 Power supply connector

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H01L 21/30 567 569C (72)発明者 田上 公一 熊本県菊池郡大津町大字高尾野字平成 272の4 東京エレクトロン九州株式会 社 大津事業所内 (56)参考文献 特開 昭60−84819(JP,A) 特開 平8−17891(JP,A) 特開 平7−326571(JP,A) 特開 平7−326565(JP,A) 特開 平7−283099(JP,A) 特開 平7−193115(JP,A) 特開 平7−185444(JP,A) 特開 平7−142339(JP,A) 特開 平5−259059(JP,A) 特開 平5−178416(JP,A) 特開 平4−244252(JP,A) 特開 平4−38817(JP,A) 特開 平2−119929(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/027 H01L 21/68 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification code FI H01L 21/30 567 569C (72) Inventor Koichi Tagami Oomachi, Kikuchi-gun, Kumamoto Prefecture (56) References JP-A-60-84819 (JP, A) JP-A-8-17891 (JP, A) JP-A-7-326571 (JP, A) JP-A-7-326565 (JP) JP-A-7-283099 (JP, A) JP-A-7-193115 (JP, A) JP-A-7-185444 (JP, A) JP-A-7-142339 (JP, A) 5-259059 (JP, A) JP-A-5-178416 (JP, A) JP-A-4-244252 (JP, A) JP-A-4-38817 (JP, A) JP-A-2-119929 (JP, A A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/027 H0 1L 21/68

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 被処理体の搬送路の左右に、被処理体を
処理すると共に、給・排気系及び処理用の駆動電気系
具備する各種処理手段をそれぞれ配設してなる処理装置
において、 上記各種処理手段に、それぞれ移動のための走行手段を
設けると共に、 上記搬送路と上記各種処理手段とに互いを着脱自在に連
結するジョイント手段を設け、 上記搬送路に、上記各種処理手段の排液排出口部と着脱
自在に連結する排液回収管と、上記各種処理手段の排気
排出口部と着脱自在に連結する排気回収管及び上記各種
処理手段の駆動電気系の電気配線部と着脱自在に連結す
る電源供給配線部を設け、上記電源供給配線部を、上記排液回収管及び排気回収管
より上方に配線してなること を特徴とする処理装置。
1. A processing apparatus comprising: a processing unit configured to process an object to be processed and a supply / exhaust system and a driving electric system for processing to be disposed on left and right sides of a conveyance path of the object. , to the various processing means, with each providing a driving means for moving, provided the joint means for removably connecting each other and the transport path and the various processing means, in the transport path, the various processing means Drainage outlet and detachable
A drain collection pipe that is freely connected, an exhaust collection pipe that is detachably connected to an exhaust outlet of the above-described various processing means, and the above various types.
It is detachably connected to the electric wiring section of the drive electric system of the processing means.
Power supply wiring section , and the power supply wiring section is connected to the drain collection pipe and the exhaust collection pipe.
A processing device characterized by being wired above .
【請求項2】 被処理体の搬送路の左右に、被処理体を
処理すると共に、給・排気系及び処理用の駆動電気系を
具備する各種処理手段をそれぞれ配設してなる処理装置
において、 上記搬送路に、上記各種処理手段の排液排出口部と着脱
自在に連結する排液回収管と、上記各種処理手段の排気
排出口部と着脱自在に連結する排気回収管及び上記各種
処理手段の駆動電気系の電気配線部と着脱自在に連結す
る電源供給配線部を設け、 上記電源供給配線部を、上記排液回収管及び排気回収管
より上方に配線してなることを特徴とする処理装置。
2. The object to be processed is provided on the left and right of the conveyance path of the object.
Process and supply / exhaust system and drive electric system for processing.
A processing apparatus in which various processing means are provided.
In the above-mentioned conveyance path, the drainage outlet of the above-mentioned various processing means is attached and detached.
Drainage collection pipes that are freely connected, and exhaust from the above various processing means
Exhaust recovery pipe detachably connected to the discharge port and the above various types
It is detachably connected to the electric wiring section of the drive electric system of the processing means.
Power supply wiring section, and the power supply wiring section is connected to the drain collection pipe and the exhaust collection pipe.
A processing device characterized by being wired above.
【請求項3】 請求項記載の処理装置において、 上記各種処理手段は、熱処理部を少なくとも1つ備えた
加熱装置と、被処理体を回転させつつ処理を行う現像装
置とを含む、ことを特徴とする処理装置。
3. The processing apparatus according to claim 2, wherein the various processing units include a heating device having at least one heat treatment section, and a developing device that performs processing while rotating the object to be processed. Characteristic processing device.
【請求項4】 請求項2又は3記載の処理装置におい
て、 上記搬送路と各種処理手段とを各々移動可能に形成して
なる、ことを特徴とする処理装置。
4. The processing apparatus according to claim 2 , wherein said transport path and said various processing means are respectively formed so as to be movable.
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