JP3312704B2 - Information recording method and apparatus - Google Patents

Information recording method and apparatus

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JP3312704B2
JP3312704B2 JP22007493A JP22007493A JP3312704B2 JP 3312704 B2 JP3312704 B2 JP 3312704B2 JP 22007493 A JP22007493 A JP 22007493A JP 22007493 A JP22007493 A JP 22007493A JP 3312704 B2 JP3312704 B2 JP 3312704B2
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【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶記録媒体の配向を
変化させて画像記録を行う情報記録方法および装置に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information recording method and apparatus for recording an image by changing the orientation of a liquid crystal recording medium.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、液晶を樹脂中に分散固定した液晶
層を電極上に形成した高分子分散型液晶記録媒体と、電
極層上に光導電層が形成された光センサとを対向配置
し、電圧印加露光により画像記録するものが知られてい
る。図1はこのような高分子分散型液晶記録媒体を用い
た画像記録装置の構成を示すものである。図中、10は
光センサ、20は液晶記録媒体をそれぞれ示している。
光センサ10は透明支持体11上に透明電極12、光導
電層13が順次積層され、液晶記録媒体20は透明支持
体21上に透明電極22、高分子分散型液晶層23が順
次積層されている。光導電層13は、無機光導電層とし
てアモルファスセレン、アモルファスシリコン等、有機
光導電層としてポリビニルカルバゾールにトリニトロフ
ルオレノンを添加した単層構造のものや、電荷発生層と
してアゾ系の顔料をポリビニルブチラール等の樹脂中に
分散したものと電荷移動層としてヒドラゾン誘導体をポ
リカーボネート等の樹脂と混合したものを積層したもの
等が使用可能である。
2. Description of the Related Art Conventionally, a polymer-dispersed liquid crystal recording medium in which a liquid crystal layer in which liquid crystal is dispersed and fixed in a resin is formed on an electrode, and an optical sensor in which a photoconductive layer is formed on the electrode layer are opposed to each other. A device that records an image by voltage application exposure is known. FIG. 1 shows the configuration of an image recording apparatus using such a polymer-dispersed liquid crystal recording medium. In the figure, reference numeral 10 denotes an optical sensor, and reference numeral 20 denotes a liquid crystal recording medium.
In the optical sensor 10, a transparent electrode 12 and a photoconductive layer 13 are sequentially laminated on a transparent support 11, and in a liquid crystal recording medium 20, a transparent electrode 22 and a polymer dispersed liquid crystal layer 23 are sequentially laminated on a transparent support 21. I have. The photoconductive layer 13 has a single layer structure in which trinitrofluorenone is added to polyvinyl carbazole as an organic photoconductive layer, or an azo pigment as polyvinyl butyral as a charge generation layer. And the like, and a layer obtained by laminating a material in which a hydrazone derivative is mixed with a resin such as polycarbonate as a charge transfer layer can be used.

【0003】図1に示すような光センサと液晶記録媒体
とを、ポリエチレンやポリイミド等のスペーサを用い
て、10μm程度の空隙を解して対向配置して電圧印加
露光するタイプのものと、図2(a)、図2(b)に示
すように、光センサ及び液晶記録媒体を積層した構造の
ものも提案されており、積層型記録媒体では、図2
(a)に示すように光センサ上に液晶記録層を直接積層
するものと、図2(b)に示すように、透明な誘電体の
中間層24を介在させるものとがある。
A photosensor and a liquid crystal recording medium as shown in FIG. 1 are opposed to each other through a gap of about 10 μm using a spacer such as polyethylene or polyimide, and a voltage application exposure is performed. As shown in FIGS. 2A and 2B, a structure in which an optical sensor and a liquid crystal recording medium are laminated has been proposed.
As shown in FIG. 2A, there are a type in which a liquid crystal recording layer is directly laminated on an optical sensor, and a type in which a transparent dielectric intermediate layer 24 is interposed as shown in FIG. 2B.

【0004】このような光センサ10と液晶記録媒体2
0を対向配置し、図3に示すように、電源30により両
電極12、22間に電圧を印加し、書き込み光として可
視光を照射すると、露光強度に応じて光導電層13の導
電性が変化し、液晶層23にかかる電界が変化して液晶
層の配向状態が変化し、印加電圧をOFFして電界を取
り除いた後もその状態が維持され、画像情報の記録が行
われる。
[0004] Such an optical sensor 10 and the liquid crystal recording medium 2
0 are arranged opposite to each other, and as shown in FIG. 3, when a voltage is applied between the two electrodes 12 and 22 by the power supply 30 and visible light is irradiated as writing light, the conductivity of the photoconductive layer 13 is changed according to the exposure intensity. Then, the electric field applied to the liquid crystal layer 23 changes, and the orientation state of the liquid crystal layer changes. This state is maintained even after the applied voltage is turned off and the electric field is removed, and image information is recorded.

【0005】記録された画像情報の読み取りは、例え
ば、図4に示すように、光源40によって液晶記録媒体
20に読み取り光を照射し、その透過光を光電変換装置
60で読み取って電気信号に変換することにより行われ
る。光源40としては、キセノンランプ、ハロゲンラン
プ等の白色光源やレーザー光が用いられ、液晶記録媒体
に照射される読み出し光としては、フィルタ50により
適当な波長光を選択して照射することが望ましい。入射
した光は液晶記録媒体の液晶層の配向により変調され、
透過光はフォトダイオード等からなる光電変換装置60
で電気信号に変換され、変換された電気信号は必要に応
じてプリンタやCRTに出力される。
In order to read recorded image information, for example, as shown in FIG. 4, a liquid crystal recording medium 20 is irradiated with reading light by a light source 40, and the transmitted light is read by a photoelectric conversion device 60 and converted into an electric signal. It is done by doing. As the light source 40, a white light source such as a xenon lamp or a halogen lamp or a laser beam is used, and as the readout light to be applied to the liquid crystal recording medium, it is desirable to select and irradiate an appropriate wavelength light by the filter 50. The incident light is modulated by the orientation of the liquid crystal layer of the liquid crystal recording medium,
The transmitted light is a photoelectric conversion device 60 such as a photodiode.
Is converted into an electric signal, and the converted electric signal is output to a printer or a CRT as needed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】図5は横軸に時間、縦
軸に変調度をとり、露光部(明部)と未露光部(暗部)
についての変調度を示したものであり、明部と暗部の変
調度の差がコントラストであり、これにより画像の記録
が行われる。光の当たった部分は、感光体の光導電層の
導電性が増し、液晶部分に余計に電圧がかかり、光の当
たらない部分よりも速く液晶が動作する。従って、この
動作速度の差を利用して画像を記録することができる。
例えば、ある時間で電圧をOFFすると、その瞬間に液
晶記録媒体の動作は停止し、画像情報が記憶される。図
5から分かるように、電圧をOFFする時間には最適値
があり、もし電圧をOFFする時間が、例えばt1のよ
うに早すぎると、液晶記録媒体の明部が充分に変調しな
いため、充分なコントラストが得られない。一方、例え
ばt3のように電圧印加時間が長すぎると、液晶記録媒
体の暗部が変調しすぎてしまい、やはり充分なコントラ
ストが得られず、良質な画像にならない。このように、
良質な画像を得るためには、最適な電圧印加時間(図の
t2)を設定する必要があるが、電圧印加前に正確に予
測することは非常に困難である。
FIG. 5 shows time on the horizontal axis and the degree of modulation on the vertical axis, and shows an exposed portion (bright portion) and an unexposed portion (dark portion).
, And the difference between the modulation degrees of the bright part and the dark part is the contrast, whereby the image is recorded. In the part exposed to light, the conductivity of the photoconductive layer of the photoreceptor increases, an extra voltage is applied to the liquid crystal part, and the liquid crystal operates faster than the part not exposed to light. Therefore, an image can be recorded using the difference in the operation speed.
For example, when the voltage is turned off for a certain time, the operation of the liquid crystal recording medium stops at that moment, and the image information is stored. As can be seen from FIG. 5, the time for turning off the voltage has an optimum value. If the time for turning off the voltage is too early, for example, t1, the bright portion of the liquid crystal recording medium will not be sufficiently modulated. High contrast cannot be obtained. On the other hand, if the voltage application time is too long, for example, as at t3, the dark portion of the liquid crystal recording medium will be modulated too much, so that sufficient contrast will not be obtained and a high quality image will not be obtained. in this way,
In order to obtain a high-quality image, it is necessary to set an optimal voltage application time (t2 in the figure), but it is very difficult to accurately predict before applying a voltage.

【0007】電圧印加時間の正確な設定方法としては、
液晶記録層の透過率をモニタすることにより、透過率に
応じて電圧を停止する方法をすでに提案しているが、透
過率をモニタする方法では、透過率を測定する機能を情
報記録装置に付与すると、装置が大がかりになり、ま
た、液晶記録層の透過率はモニタ光の波長依存性が大き
いために、補正が必要である等の問題がある。本発明は
かかる点に鑑みてなされたもので、最適な電圧印加時間
で電圧印加を停止し、十分なコントラストの情報記録が
できるようにした情報記録方法及び装置を提供すること
を目的とする。
As an accurate setting method of the voltage application time,
A method of monitoring the transmittance of the liquid crystal recording layer to stop the voltage according to the transmittance has already been proposed. However, in the method of monitoring the transmittance, a function of measuring the transmittance is added to the information recording apparatus. Then, there is a problem that the device becomes large-scale, and the transmittance of the liquid crystal recording layer needs to be corrected because the wavelength dependency of the monitor light is large. The present invention has been made in view of the above point, and an object of the present invention is to provide an information recording method and an information recording apparatus in which voltage application is stopped at an optimal voltage application time and information with sufficient contrast can be recorded.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】そのために本発明は、高
分子分散型液晶記録媒体を用いて電圧印加する際、暗部
における電流を測定し、液晶記録層の動作の様子をモニ
タし、コントラストが最大になる瞬間を検出して電圧を
OFFするようにしたことを特徴とする。
For this purpose, the present invention measures the current in a dark part when applying a voltage using a polymer-dispersed liquid crystal recording medium, monitors the operation of the liquid crystal recording layer, and adjusts the contrast. It is characterized in that the voltage is turned off by detecting the moment when it becomes maximum.

【0009】[0009]

【作用】本発明は液晶記録媒体に流れる電流を測定する
ことにより液晶記録層の動作の様子をモニタする。例え
ば、電流測定により未露光部の電圧が液晶記録媒体のし
きい値に達したこと、露光部の電流の時間変化から、あ
るいは露光部と未露光部の電流の差の時間変化から明部
と暗部のコントラストが最大になったこと、光照射領域
の電流の積分値と未露光部の電流の積分値の差が液晶記
録媒体の容量変化に相当する量に達したことをモニタ
し、その瞬間に、電圧印加を停止することにより最大コ
ントラストでの画像情報記録を行うことが可能となる。
According to the present invention, the operation of the liquid crystal recording layer is monitored by measuring the current flowing through the liquid crystal recording medium. For example, when the voltage of the unexposed portion reaches the threshold value of the liquid crystal recording medium by current measurement, the time change of the current of the exposed portion, or the time change of the current difference between the exposed portion and the unexposed portion, It is monitored that the contrast in the dark area is maximized and that the difference between the integrated value of the current in the light-irradiated area and the integrated value of the current in the unexposed area has reached an amount corresponding to the change in the capacity of the liquid crystal recording medium. By stopping the voltage application, it is possible to perform image information recording with the maximum contrast.

【0010】[0010]

【実施例】まず、本発明の情報記録媒体に電圧印加露光
により、情報記録する際の電流値の測定方法および媒
体、測定装置について示す。図6に、未露光部の電流の
測定方法を示す。図のように感光体10の、透明支持体
表面の一部に、この領域の光導電層に光が当たらないよ
うにマスク14が形成されている。マスク14として
は、光を遮蔽するものであれば特に制限はなく、黒色の
塗料を塗布したり、Al蒸着膜が用いられる。この場
合、感光体の透明電極は図の12a、12bのように、
画像情報記録部分と電流値モニタ部分で分離してある。
この図では、感光体側の電極が分離して形成してある
が、液晶記録媒体の電極を分離しても良い。電源は図の
ように、画像情報記録部分と電流値モニタ部分で別々の
ものを使用してもよいし、共通のものでも使用可能であ
る。モニタ部分の電極12bと電源の間には、電流モニ
タ用の抵抗40が接続されていて、抵抗40の電圧をモ
ニタすることにより、電流を測定することができる。抵
抗40は、モニタ部分の面積や感光体の導電率により異
なるが、1k〜1MΩ程度のものが使用可能である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, a method, a medium, and a measuring apparatus for measuring a current value when information is recorded on an information recording medium by voltage application exposure will be described. FIG. 6 shows a method for measuring the current in the unexposed portion. As shown in the figure, a mask 14 is formed on a part of the surface of the transparent support of the photoreceptor 10 so that light does not reach the photoconductive layer in this region. There is no particular limitation on the mask 14 as long as it blocks light, and a black paint is applied or an Al deposited film is used. In this case, the transparent electrode of the photoreceptor is, as shown in FIGS.
The image information recording part and the current value monitoring part are separated.
In this figure, the electrodes on the photoreceptor side are formed separately, but the electrodes of the liquid crystal recording medium may be separated. As shown in the figure, different power supplies may be used for the image information recording portion and the current value monitor portion, or a common power source may be used. A current monitoring resistor 40 is connected between the electrode 12b of the monitor portion and the power supply, and the current can be measured by monitoring the voltage of the resistor 40. The resistor 40 varies depending on the area of the monitor portion and the conductivity of the photoconductor, but a resistor of about 1 kΩ to 1 MΩ can be used.

【0011】図7(a)、図7(b)は、露光部および
未露光部の電流値を同時に測定する方法を示している。
感光体の透明電極は図の12a、12b、12cのよう
に3つの領域に分離して形成されていて、それぞれ独立
に電圧印加できるようになっている。未露光部および露
光部の電流モニタ用の電極12b、12cにはそれぞれ
抵抗40b、40cが接続されていて、それぞれの抵抗
の電圧を測定することにより、電流をモニタすることが
できる。図6と同様に、未露光部電流モニタ領域に相当
する感光体の支持体表面には遮蔽用マスク14が形成さ
れている。
FIGS. 7 (a) and 7 (b) show a method for simultaneously measuring the current values of an exposed portion and an unexposed portion.
The transparent electrodes of the photoreceptor are formed separately in three regions as shown in FIG. 12a, 12b and 12c, so that a voltage can be applied independently of each other. Resistors 40b and 40c are connected to the current monitoring electrodes 12b and 12c in the unexposed and exposed portions, respectively, and the current can be monitored by measuring the voltage of each resistor. As in FIG. 6, a shielding mask 14 is formed on the surface of the support of the photoconductor corresponding to the unexposed portion current monitor area.

【0012】露光部分の電流モニタ領域への光の照射方
法は、図8(a)に示すように、画像露光の光の一部を
シャッタ52、レンズ系70、半反射ミラー53、ミラ
ー54を含む光学系で、電流モニタ部分に照射する方法
と、図8(b)に示すように、像露光系とは別のシャッ
タ53、レンズ系71からなる光学系により照射する方
法のいずれで行っても良い。モニタ部分に照射する光量
は、レンズ系71で適当な光量に調節する。
As shown in FIG. 8A, a method of irradiating light to a current monitor area of an exposed portion is to use a shutter 52, a lens system 70, a semi-reflective mirror 53, and a mirror 54 for part of image exposure light. The optical system includes a method of irradiating the current monitor portion and a method of irradiating with an optical system including a shutter 53 and a lens system 71 different from the image exposure system as shown in FIG. Is also good. The amount of light applied to the monitor is adjusted to an appropriate amount by the lens system 71.

【0013】以上、画像記録部分と別の領域に電流モニ
タ領域を形成し、電流をモニタする方法を示したが、画
像記録部分の電流をモニタすることにより、電圧印加時
間を制御することもできる。この場合、記録画像の平均
的な光量を照射したときの電流値を測定していると考え
られる。感光体と液晶記録媒体を空気層を介して対向配
置して電圧印加する方法では、空気ギャップを均一に保
つために、画像記録部分の周囲にスペーサーフィルムを
配置してあるが、画像記録部分の電流値を測定すると
き、スペーサー部分に電圧がかかると正確な電流測定が
できないため、例えば、図9に示すように、スペーサ1
5配置部分と電極12の形成部分を分離する必要があ
る。図9において、スペーサ15は感光体10と液晶記
録媒体20の周辺部分に矩形状に配置され、画像記録は
スペーサ15がかからない中央部分で行う。
The method of monitoring the current by forming a current monitor area in an area different from the image recording portion has been described above. However, the voltage application time can be controlled by monitoring the current of the image recording portion. . In this case, it is considered that the current value when the average light amount of the recorded image is irradiated is measured. In the method in which the photoconductor and the liquid crystal recording medium are arranged opposite to each other via an air layer and a voltage is applied, a spacer film is arranged around the image recording portion in order to keep the air gap uniform. When measuring the current value, if a voltage is applied to the spacer portion, accurate current measurement cannot be performed. For example, as shown in FIG.
5 It is necessary to separate the arrangement portion and the formation portion of the electrode 12. In FIG. 9, a spacer 15 is arranged in a rectangular shape around the photosensitive member 10 and the liquid crystal recording medium 20, and image recording is performed at a central portion where the spacer 15 does not cover.

【0014】また、画像記録部分の電流値と未露光部分
の電流値の両方をモニタし、電圧印加時間を制御する時
には、必ずしも両者の面積を等しくする必要はなく、こ
の場合は面積の差を考慮した抵抗を使用することによ
り、制御用の演算を簡易にすることができる。例えば、
画像記録部分の電極面積をSa、未露光部分の電流モニ
タ部分の電極面積をSf、モニタ用の抵抗をそれぞれR
a、Rfとすると、 SaRa=SfRf のように抵抗を選び、各抵抗の電圧を比較することによ
り、直接単位面積当たりの電流を比較することができ
る。
When both the current value of the image recording portion and the current value of the unexposed portion are monitored and the voltage application time is controlled, it is not always necessary to make the areas of the two equal, and in this case, the difference between the areas is reduced. By using the considered resistor, the calculation for control can be simplified. For example,
The electrode area of the image recording portion is Sa, the electrode area of the current monitor portion of the unexposed portion is Sf, and the resistance for monitoring is R.
Assuming that a and Rf, a resistor is selected as SaRa = SfRf, and the current per unit area can be directly compared by comparing the voltage of each resistor.

【0015】また、電流測定から電圧OFF時間を制御
するには、液晶記録層の電気物性を測定する必要があ
る。液晶記録層の電気物性の測定方法を図10に示す。
液晶記録層表面に電極24を形成し、電流測定用の抵抗
41を接続し、電源31により液晶記録媒体のしきい値
より低いパルス電圧を印加し、電流値をモニタすること
により液晶記録層の抵抗値を求めることができる。
To control the voltage OFF time from the current measurement, it is necessary to measure the electrical properties of the liquid crystal recording layer. FIG. 10 shows a method for measuring the electrical properties of the liquid crystal recording layer.
An electrode 24 is formed on the surface of the liquid crystal recording layer, a resistance 41 for measuring current is connected, a pulse voltage lower than the threshold value of the liquid crystal recording medium is applied by the power supply 31, and the current value is monitored to monitor the liquid crystal recording layer. The resistance value can be determined.

【0016】次に、電圧印加時間の制御方法について、
分離型の記録媒体を例にして図を用いて説明する。分離
型の記録媒体のシステムは図11に示す等価回路で表さ
れる。印加電圧初期には、感光体、液晶記録媒体それぞ
れに容量の比に応じた電圧がかかる。 VOPC (0) =VAP×(CLC /(COPC +CLC)) ……(1−1) VLC (0) =VAP×(COPC /(COPC +CLC)) ……(1−2) 液晶記録層は、抵抗とコンデンサの並列回路で表され、
次の微分方程式が成り立つ。 I=d(CLCLC)/dt+(VLC/RLC) ……(1−3) VLCが液晶記録媒体のしきい値以下では、液晶記録媒体
は動作しないため、液晶記録層の容量は変化せず、 CLC= const ……(1−4) I=CLC(dVLC/dt)+(VLC/RLC) ……(1−5) VLC(t+Δt)=VLC(t) +(dVLC/dt)・Δt ……(1−6) (1−3)、(1−6)式より VLC(t+Δt)=VLC(t) +(I(t) −VLC(t) /RLC)Δt/CLC ……(1−7) (1−7)式に(1−2)式の初期条件を代入して、液
晶記録層にかかる電圧を計算により求めることができ
る。式(1−2)、(1−7)で、液晶記録層、光導電
層の容量は予め測定可能でり、液晶記録層の抵抗RLC
予め測定しておくか、あるいは図10に示した方法で画
像記録する直前に測定することができる。画像記録時
に、暗部における電流I(t)は図6に示した方法で測
定することができる。
Next, a method of controlling the voltage application time will be described.
This will be described with reference to the drawings by taking a separation type recording medium as an example. The system of the separation type recording medium is represented by an equivalent circuit shown in FIG. At the initial stage of the applied voltage, a voltage is applied to each of the photoconductor and the liquid crystal recording medium according to the ratio of the capacity. V OPC (0) = V AP × (C LC / (C OPC + C LC )) (1-1) V LC (0) = V AP × (C OPC / (C OPC + C LC )). 1-2) The liquid crystal recording layer is represented by a parallel circuit of a resistor and a capacitor,
The following differential equation holds. I = d (C LC V LC ) / dt + (V LC / R LC ) (1-3) When V LC is lower than the threshold value of the liquid crystal recording medium, the liquid crystal recording medium does not operate. capacitance does not change, C LC = const ...... (1-4 ) I = C LC (dV LC / dt) + (V LC / R LC) ...... (1-5) V LC (t + Δt) = V LC (t) + (dV LC / dt) · Δt (1-6) From equations (1-3) and (1-6), V LC (t + Δt) = V LC (t) + (I (t) − V LC (t) / R LC ) Δt / C LC (1-7) The voltage applied to the liquid crystal recording layer is calculated by substituting the initial condition of the expression (1-2) into the expression (1-7). You can ask. Equation (1-2), in (1-7), the liquid crystal recording layer, the capacity previously measurable deli photoconductive layer, or the resistance R LC of the liquid crystal recording layer measured beforehand, or shown in FIG. 10 Can be measured immediately before recording an image by the above method. At the time of image recording, the current I (t) in the dark part can be measured by the method shown in FIG.

【0017】図5からわかるように、コントラストの大
きな良質な画像を得るには、液晶記録媒体の電圧がしき
い値に達し、少しだけ(10〜20%程度)配向したと
きに電圧をOFFする必要がある。電圧OFFするまで
に暗部の液晶はほとんど配向しないため、液晶記録層の
容量はほぼ一定と考えられ、式(1−7)が成り立ち、
暗電流値を測定することにより求めた液晶記録層の電圧
が、しきい値電圧に達した後に電圧をOFFすること
で、高コントラストの画像を得ることができる。暗部の
液晶記録層は、全く配向しないよりも、ある程度配向し
て(完全に配向した状態の10〜20%程度)電圧をO
FFした方が良好な画像が得られるため、しきい値電圧
に達して、少し時間が経過してから電圧をOFFするよ
うにした方がよい。
As can be seen from FIG. 5, in order to obtain a high-quality image having a large contrast, the voltage is turned off when the voltage of the liquid crystal recording medium reaches a threshold value and is slightly aligned (about 10 to 20%). There is a need. Since the liquid crystal in the dark part hardly aligns before the voltage is turned off, the capacity of the liquid crystal recording layer is considered to be substantially constant, and the equation (1-7) is satisfied.
By turning off the voltage after the voltage of the liquid crystal recording layer obtained by measuring the dark current value reaches the threshold voltage, a high-contrast image can be obtained. The liquid crystal recording layer in the dark part is oriented to some extent (about 10 to 20% of the state in which the liquid crystal is completely oriented) rather than not being oriented at all.
Since a better image can be obtained by performing FF, it is better to turn off the voltage after a certain time has elapsed after reaching the threshold voltage.

【0018】電圧印加時間を制御する他の方法として
は、暗電流値から液晶記録層の容量変化を検出する方法
がある。液晶記録層はしきい値電圧以下では液晶が配向
せず、容量は変化しないため、式(1−5)が成り立
ち、電圧印加中は、液晶記録層の電圧は単調増加し、測
定される電流値は単調減少する。しきい値電圧以上の電
圧がかかると、液晶が電界方向に配向して液晶記録層の
容量が変化するため、式(1−3)は次式のように表さ
れ、容量変化を考慮する必要がある。 I=CLC(dVLC/dt)+VLC(dCLC/dt)+(VLC/RLC)…(1-8) 液晶記録層の容量が変化する場合には、式(1−8)の
第2項の、容量変化に伴う電流が流れる。液晶の誘電率
は無配向状態に比べて、配向状態の方が大きいため、液
晶が配向すると液晶記録層の容量は増加する。このこと
を利用して、容量変化に伴う電流値の変化を検出するこ
とにより、液晶の容量変化(配向)を検出することがで
きる。
As another method of controlling the voltage application time, there is a method of detecting a change in capacitance of the liquid crystal recording layer from a dark current value. In the liquid crystal recording layer, the liquid crystal does not align below the threshold voltage, and the capacitance does not change. Therefore, the equation (1-5) is satisfied. During the voltage application, the voltage of the liquid crystal recording layer monotonically increases, and the measured current The value decreases monotonically. When a voltage equal to or higher than the threshold voltage is applied, the liquid crystal is oriented in the direction of the electric field, and the capacity of the liquid crystal recording layer changes. Therefore, the equation (1-3) is expressed as There is. I = C LC (dV LC / dt) + V LC in the case where the capacity of the (dC LC / dt) + ( V LC / R LC) ... (1-8) liquid crystal recording layer is changed, the formula (1-8) The current according to the capacitance change of the second term flows. Since the liquid crystal has a higher dielectric constant in the aligned state than in the non-aligned state, the capacity of the liquid crystal recording layer increases when the liquid crystal is aligned. By utilizing this fact, by detecting a change in current value due to a change in capacitance, a change in capacitance (alignment) of the liquid crystal can be detected.

【0019】図12は本発明における液晶記録層の容量
変化および電流値の測定方法を示す図である。光センサ
10の透明支持体上に、マスク14を形成するか、ある
いは測定を暗所で行うかいずれかの方法で、光導電層に
光が照射されないようにする。液晶記録層表面か、ある
いは光センサの光導電層表面に反射膜16を形成する。
反射膜は、当システムの記録特性に影響を与えないよう
に、ごく薄く(1000Å以下)形成する必要がある。
光センサと液晶記録媒体を図のように対向配置し、フォ
トダイオード80および光電変換素子81を、フォトダ
イオードの光が反射膜16で反射して光電変換素子81
に照射されるように設置する。光導電層上に反射膜を形
成しない場合には、フォトダイオードの光で光センサが
感光しないように注意する必要がある。光センサと液晶
記録層は、空気ギャップを介して配置され、電源30に
より電圧印加される。電流は抵抗40の電圧をモニタす
ることにより、測定することができる。また、液晶が配
向し、液晶層の透過率が変化すると、光電変換素子81
に照射される光量が変化し、電気信号に変換されモニタ
することができる。光電変換素子の信号と液晶記録層の
容量の関係の測定方法は後に詳しく示すが、図13にこ
のようにして測定した液晶記録層の容量の変化を示す。
また、このとき測定した電流値を図14に示す。値はい
ずれも単位面積(cm2 )当たりに直してある。
FIG. 12 is a diagram showing a method of measuring a change in capacitance and a current value of the liquid crystal recording layer in the present invention. The photoconductive layer is prevented from being irradiated with light either by forming a mask 14 on the transparent support of the optical sensor 10 or performing the measurement in a dark place. The reflection film 16 is formed on the liquid crystal recording layer surface or the photoconductive layer surface of the optical sensor.
The reflective film needs to be formed very thin (1000 ° or less) so as not to affect the recording characteristics of the system.
The optical sensor and the liquid crystal recording medium are arranged to face each other as shown in the figure, and the photodiode 80 and the photoelectric conversion element 81 are changed by the light from the photodiode reflected by the reflection film 16.
It is installed so that it is irradiated. When a reflective film is not formed on the photoconductive layer, care must be taken so that the light from the photodiode is not exposed to the light sensor. The optical sensor and the liquid crystal recording layer are arranged via an air gap, and a voltage is applied by a power supply 30. The current can be measured by monitoring the voltage of the resistor 40. When the liquid crystal is aligned and the transmittance of the liquid crystal layer changes, the photoelectric conversion element 81
The amount of light applied to the light source changes and is converted into an electric signal for monitoring. A method for measuring the relationship between the signal of the photoelectric conversion element and the capacity of the liquid crystal recording layer will be described later in detail. FIG. 13 shows the change in the capacity of the liquid crystal recording layer measured in this manner.
FIG. 14 shows the current values measured at this time. All values are converted per unit area (cm 2 ).

【0020】図15は、暗部における電流の測定値を時
間微分し、時間変化を示したものである。液晶のしきい
値電圧以下で液晶が配向しないときには、電流値は単調
減少するため、その微分値は負の値である。液晶が配向
し始めると、容量が変化するため、変化量が大きいとき
には式(1−8)の第2項が大きくなり、電流が増加し
て微分値が零より大きくなる。液晶記録層は、20ms
ec付近でしきい値電圧に達して動作を始める。60m
sec付近から液晶記録層の変化量が大きくなるため、
(1−8)式の第2項の容量変化に相当する部分が大き
くなり、電流が増加し始めるため、その微分値は負から
正に変化する。このように、電流値をモニタすることに
より、その微分値から、液晶記録層の容量の変化の様子
をモニタすることができる。このときの電圧印加時間の
制御方法としては、暗部における電流が減少から増加に
転ずる(微分が負から正になる)タイミングで電圧をO
FFすることにより、高コントラストの画像を得ること
ができる。
FIG. 15 shows the time change of the measured value of the current in the dark part with respect to time. When the liquid crystal does not align below the threshold voltage of the liquid crystal, the current value monotonously decreases, and the differential value is a negative value. When the liquid crystal starts to be aligned, the capacitance changes, so when the change amount is large, the second term of the expression (1-8) increases, the current increases, and the differential value becomes larger than zero. The liquid crystal recording layer is 20 ms
The threshold voltage is reached near ec and the operation starts. 60m
Since the change amount of the liquid crystal recording layer increases from around sec,
Since the portion corresponding to the capacitance change in the second term of the equation (1-8) becomes large and the current starts to increase, the differential value changes from negative to positive. In this way, by monitoring the current value, it is possible to monitor the change in the capacity of the liquid crystal recording layer from the differential value. As a method of controlling the voltage application time at this time, the voltage is changed to O at the timing when the current in the dark part changes from decreasing to increasing (the differential changes from negative to positive).
By performing FF, a high-contrast image can be obtained.

【0021】次に、露光部の電流測定による、電圧印加
時間の制御方法について示す。まず、露光部の電流およ
び液晶媒体の変調(容量変化)の測定方法を図16に示
す。基本的な測定方法は図12と同じであり、ただ図1
6においては光源50と光学シャッター51により、一
定時間、光センサに光を照射する点が付加されている。
図17(a)、図17(b)に光を1/60sec照射
したとき(露光部)の電流特性Aと、光を照射しないと
き(未露光部)の電流特性Bの測定結果と、露光部と未
露光部の電流値の差(A−B)を示す。また図18
(a)、18(b)にこのときの液晶媒体の変調(容量
変化:未露光部C1、露光部C2)と、未露光部と露光
部の容量の差(C1−C2)を示す。いずれも、値は単
位面積当たりに直してある。露光部では未露光部に比べ
て電流が多く流れ、液晶部分に余計に電圧がかかるため
速く変調する。図17(b)に示す露光部と未露光部の
電流値の差は、図から分かるように、電圧印加開始から
光照射終了(時間t1)まで増加する。光照射終了後も
継続して光電流は流れ続けるが、光照射停止後は、露光
部と未露光部の電流差は減少する。その後、露光部では
液晶記録層が変調すると、式(1−8)の第2項で示さ
れる容量変化に相当する電流が流れるため、再び露光部
と未露光部の電流差は増加に転じる(時間t2)。さら
に、未露光部の液晶記録層が変調し始めると、容量変化
に伴う電流が流れるため電流差は減少し始める(時間t
3)。
Next, a method of controlling the voltage application time by measuring the current of the exposed portion will be described. First, FIG. 16 shows a method for measuring the current (exposure change) and the modulation (capacity change) of the liquid crystal medium in the exposure unit. The basic measurement method is the same as that of FIG.
In FIG. 6, a point for irradiating the optical sensor with light for a certain period of time is added by the light source 50 and the optical shutter 51.
FIGS. 17A and 17B show measurement results of current characteristics A when light was irradiated for 1/60 sec (exposed portion) and current characteristics B when light was not irradiated (unexposed portion). The difference (A-B) between the current value of the portion and the unexposed portion is shown. FIG.
(A) and 18 (b) show the modulation of the liquid crystal medium (capacity change: unexposed portion C1, exposed portion C2) and the difference (C1-C2) between the capacity of the unexposed portion and the exposed portion at this time. In each case, the values are converted per unit area. In the exposed portion, a larger amount of current flows than in the unexposed portion, and an extra voltage is applied to the liquid crystal portion, so that the light is modulated faster. As can be seen from the figure, the difference between the current values of the exposed part and the unexposed part shown in FIG. 17B increases from the start of voltage application to the end of light irradiation (time t1). Although the photocurrent continues to flow even after the end of the light irradiation, the current difference between the exposed part and the unexposed part decreases after the light irradiation is stopped. Thereafter, when the liquid crystal recording layer is modulated in the exposed portion, a current corresponding to the capacitance change expressed by the second term of the equation (1-8) flows, so that the current difference between the exposed portion and the unexposed portion starts increasing again ( Time t2). Further, when the liquid crystal recording layer in the unexposed portion starts to be modulated, a current due to the capacitance change flows, and the current difference starts to decrease (time t).
3).

【0022】次に、露光部と未露光部の電流差の微分値
を図19に示す。図18(b)から未露光部と露光部の
変調の差(容量の差)は、55〜70msecで電圧O
FFしたとき最も大きくなるが、図19の電流差の微分
値が極小にる時間と一致する。露光部の電流値の微分の
時間変化を図20に示すが、図19の極小値と図20の
極小値がほぼ一致することから、露光部の液晶記録層の
動作に依存することがわかる。すなわち、露光部の液晶
記録層の変調の変化量は一定ではなく、ある程度までは
急激に変調するが、それ以上では変調速度が低下するた
めこのような電流特性を示すものと考えられる。
Next, FIG. 19 shows the differential value of the current difference between the exposed part and the unexposed part. From FIG. 18B, the difference in modulation (difference in capacitance) between the unexposed portion and the exposed portion is 55 to 70 msec and the voltage O
It becomes the largest when the FF is performed, but coincides with the time when the differential value of the current difference in FIG. 19 is minimum. FIG. 20 shows the change over time of the derivative of the current value of the exposed portion. Since the minimum value in FIG. 19 substantially matches the minimum value in FIG. 20, it can be seen that the current value depends on the operation of the liquid crystal recording layer in the exposed portion. That is, it is considered that the amount of change in the modulation of the liquid crystal recording layer in the exposed portion is not constant, but sharply modulates to a certain extent, but the modulation speed is decreased at a rate higher than this, so that such current characteristics are considered to be exhibited.

【0023】以上示したように、露光部と未露光部の電
流差または、露光部の電流の微分値が、露光終了後、極
小値をとるタイミングで電圧をOFFすることにより、
露光部の変調速度が低下する状態、すなわち完全に配向
した状態に近いところで電圧印加を停止することがで
き、高コントラスト画像が得られる条件で画像記録を行
うことができる。このとき、露光部の露光強度として
は、あまり強度の低い光量は好ましくなく、画像の最大
露光量に相当する光量の80%以上の強度に対して、電
流値を測定する方が好ましい。
As described above, by turning off the voltage at the timing when the current difference between the exposed part and the unexposed part or the differential value of the current in the exposed part takes a minimum value after the end of the exposure,
The voltage application can be stopped in a state where the modulation speed of the exposed portion is reduced, that is, in a state close to a state where the alignment is completely performed, and image recording can be performed under a condition where a high-contrast image can be obtained. At this time, as the exposure intensity of the exposure unit, a light amount with an extremely low intensity is not preferable, and it is preferable to measure a current value for an intensity of 80% or more of the light amount corresponding to the maximum exposure amount of an image.

【0024】次に、電流値を測定して電圧印加時間を制
御する他の方法として、露光部と未露光部の電流値の差
を積分する方法について示す。図21(a)に、図1
7、図18の測定結果から、液晶記録層にかかる電圧を
(1−8)式から計算した結果を、図21(b)に露光
部と未露光部の電位差の時間変化を示す。図21(b)
から分かるように、液晶媒体の露光部と未露光部の電位
差は始めは増加するが、露光部の液晶層が速く変調して
容量が変化するため、これにともない電位差は減少し、
露光部、未露光部の容量差が最大になる時間付近ではほ
ぼ零になる。このとき、露光部と未露光部の液晶記録層
の電圧はほぼそのしきい値電圧に等しく、露光部と未露
光部の液晶記録層に帯電する電荷量の差は次式で表され
る。
Next, as another method of controlling the voltage application time by measuring the current value, a method of integrating the difference between the current values of the exposed portion and the unexposed portion will be described. FIG.
7, the result of calculating the voltage applied to the liquid crystal recording layer from the measurement results of FIG. 18 from the equation (1-8), and FIG. 21B shows the time change of the potential difference between the exposed part and the unexposed part. FIG. 21 (b)
As can be seen, the potential difference between the exposed portion and the unexposed portion of the liquid crystal medium initially increases, but the liquid crystal layer in the exposed portion modulates quickly and the capacitance changes, so the potential difference decreases with this,
It becomes almost zero near the time when the capacity difference between the exposed part and the unexposed part becomes maximum. At this time, the voltage of the liquid crystal recording layer in the exposed part and the unexposed part is substantially equal to the threshold voltage, and the difference between the amounts of charges charged in the liquid crystal recording layer in the exposed part and the unexposed part is expressed by the following equation.

【0025】 ΔQ=VTHΔC ……(1−9) ΔCは露光部と未露光部の容量差、VTHは液晶記録層の
しきい値電圧であり、また、露光部と未露光部の電流値
と(1−9)式の関係は次式で表される。 ∫(Iphoto −Idark)dt−∫(ΔV/RLC)dt=ΔQ…(1−10) ここで、RLCは液晶記録層の抵抗、ΔVは露光部と未露
光部の電位差である。(1−10)式で、右辺のΔQの
値は、例えば露光強度がある値のときには、露光部と未
露光部の変調度がどの程度であるかは予測でき、しきい
値電圧も分かるため、光強度を測定することにより(1
−9)式より見積もることができる。また、(1−1
0)式の第2項の、液晶記録層の抵抗成分からリークす
る部分についても予め見積もることができるため、露光
部の電流と未露光部の電流の差を累積し、その値(電荷
量)が露光部、未露光部の容量差が最大の時の帯電量の
差に相当する量になった時点で電圧印加を停止すれば、
高コントラスト画像を得ることができる。この場合、露
光部分の光強度としては、特に制限はなく、例えば最大
光量の50%の光量を照射した部分の電流値を測定する
場合には、完全に配向したときの液晶層の容量と、無配
向状態の液晶記録層の容量の差の50%にしきい値電圧
をかけた値を基準にすればよい。また、電流測定部分の
光強度は、測定領域の全域で均一である必要はなく、電
流値はその平均的な値が測定されるため、平均的な光量
が見積もることができればよい。また、電流測定部分と
しては、露光部に関しては、必ずしも画像記録部分と別
に設ける必要はなく、平均的な光強度が測光できれば、
画像記録部分全域に対して測定してもよい。
ΔQ = V TH ΔC (1-9) ΔC is the capacitance difference between the exposed part and the unexposed part, V TH is the threshold voltage of the liquid crystal recording layer. The relationship between the current value and the expression (1-9) is represented by the following expression. ∫ (I photo −I dark ) dt−∫ (ΔV / R LC ) dt = ΔQ (1-10) where R LC is the resistance of the liquid crystal recording layer, and ΔV is the potential difference between the exposed part and the unexposed part. . In the expression (1-10), the value of ΔQ on the right side is, for example, when the exposure intensity is a certain value, it is possible to predict the degree of modulation between the exposed portion and the unexposed portion, and the threshold voltage is also known. , By measuring the light intensity (1
-9) can be estimated. Also, (1-1)
The part leaking from the resistance component of the liquid crystal recording layer in the second term of the equation (0) can also be estimated in advance. Therefore, the difference between the current in the exposed part and the current in the unexposed part is accumulated, and the value (charge amount) is calculated. If the voltage application is stopped at the time when the capacity difference between the exposed portion and the unexposed portion becomes the amount corresponding to the difference in the charge amount when the maximum is obtained,
High contrast images can be obtained. In this case, the light intensity of the exposed portion is not particularly limited. For example, when measuring the current value of a portion irradiated with a light amount of 50% of the maximum light amount, the capacity of the liquid crystal layer when completely aligned, The threshold voltage may be multiplied by 50% of the difference between the capacities of the liquid crystal recording layers in the non-aligned state. In addition, the light intensity of the current measurement portion does not need to be uniform over the entire measurement area, and the average value of the current value is measured, so that the average light amount can be estimated. In addition, as the current measurement portion, the exposure portion does not necessarily need to be provided separately from the image recording portion, and if the average light intensity can be measured,
The measurement may be performed for the entire image recording portion.

【0026】以上示してきたように、露光部、未露光部
の電流をモニタすることにより、液晶記録層の動作の様
子をモニタすることができ、適切な電圧印加時間で電圧
をOFFし、良好な画像を得ることができる。なお、電
流を測定して液晶記録層の動作の様子をモニタし、最適
電圧印加時間を求める処理はマイクロコンピュータ等の
制御装置を使用することにより行ない、最適印加時間に
なったときにマイクロコンピュータにって電圧をOFF
するようにする。
As described above, the operation of the liquid crystal recording layer can be monitored by monitoring the current in the exposed portion and the unexposed portion, and the voltage is turned off with an appropriate voltage application time. Image can be obtained. The process of measuring the current to monitor the operation of the liquid crystal recording layer and obtaining the optimum voltage application time is performed by using a control device such as a microcomputer. To turn off the voltage
To do it.

【0027】次に、液晶記録層の容量変化と透過率変化
の関係の測定方法を説明する。図22に測定方法を示
す。液晶記録媒体の液晶記録層表面に、金電極24を形
成し、透明電極22との間にパルス発生装置(図の電
源)とアンプにより電圧を印加する。図12と同様に、
LED80と光電変換素子81が、図のようにLEDの
光が金電極で反射され、光電変換素子の入射するように
設置され、液晶記録層の透過率変化をモニタする。液晶
記録層には、次式のようなスロープ状の電圧を印加し、 V(t)=αt ……(1−11) 電流値を測定した結果、図23に示すような電流が測定
される。液晶記録層は容量と抵抗の並列回路と考えられ
るので、電流は次式で与えられる。 I(t)=CLC(dVLC/dt)+VLC(dCLC/dt)+VLC/RLC ……(1−12) (1−11)式より、 dVLC/dt= α ……(1−13) であり、また、液晶記録層の抵抗RLCも電流の傾きから
見積もることができるため、電流測定結果と、光電変換
素子の信号を比較することにより、透過率変化と容量変
化の関係を見積もることができる。図24にこのときモ
ニタされた、光電変換素子の信号を示す。測定電流と比
較すると、光電変換素子の信号が変化(透過率変化に対
応)する電圧で、電流測定でピーク電流が観測される。
このことは、液晶記録層の透過率変化と容量変化が対応
していることを示しており、両者を比較することによ
り、容量変化と透過率モニタ信号の相関関係が得られ
る。
Next, a method for measuring the relationship between the change in capacitance and the change in transmittance of the liquid crystal recording layer will be described. FIG. 22 shows a measuring method. A gold electrode 24 is formed on the surface of the liquid crystal recording layer of the liquid crystal recording medium, and a voltage is applied between the gold electrode 24 and the transparent electrode 22 by a pulse generator (power supply in the figure) and an amplifier. As in FIG.
The LED 80 and the photoelectric conversion element 81 are installed so that the light of the LED is reflected by the gold electrode and is incident on the photoelectric conversion element as shown in the figure, and the change in the transmittance of the liquid crystal recording layer is monitored. A voltage as shown in the following equation is applied to the liquid crystal recording layer, and V (t) = αt (1-11) As a result of measuring a current value, a current as shown in FIG. 23 is measured. . Since the liquid crystal recording layer is considered as a parallel circuit of a capacitor and a resistor, the current is given by the following equation. I (t) = C LC ( dV LC / dt) + V LC (dC LC / dt) + V LC / R LC ...... (1-12) (1-11) from equation, dV LC / dt = α ...... ( 1-13) In addition, since the resistance R LC of the liquid crystal recording layer can also be estimated from the gradient of the current, the result of the current measurement is compared with the signal of the photoelectric conversion element to determine the change in transmittance and the change in capacitance. You can estimate the relationship. FIG. 24 shows the signal of the photoelectric conversion element monitored at this time. Compared with the measurement current, a peak current is observed in the current measurement at a voltage at which the signal of the photoelectric conversion element changes (corresponding to a change in transmittance).
This indicates that the change in the transmittance of the liquid crystal recording layer and the change in the capacitance correspond to each other. By comparing the two, the correlation between the change in the capacitance and the transmittance monitor signal can be obtained.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、露光部、
未露光部の電流をモニタすることにより、液晶記録層の
動作の様子をモニタして適切な電圧印加時間で電圧をO
FFし、高コントラストな良好な画像を得ることができ
る。
As described above, according to the present invention, the exposure section,
By monitoring the current in the unexposed area, the state of operation of the liquid crystal recording layer is monitored, and the voltage is changed to O with an appropriate voltage application time.
By performing FF, a good image with high contrast can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 液晶記録媒体の構造を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a structure of a liquid crystal recording medium.

【図2】 液晶記録媒体の構造を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a structure of a liquid crystal recording medium.

【図3】 本発明の画像記録方法を説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating an image recording method of the present invention.

【図4】 画像読み取り方法を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an image reading method.

【図5】 露光部と未露光部における変調度の時間変化
を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a temporal change of a modulation degree in an exposed portion and an unexposed portion.

【図6】 分離型情報記録媒体における電流の測定方法
を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a method of measuring a current in a separation type information recording medium.

【図7】 画像記録部、電流モニタ部における電流を同
時測定する方法を示す図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a method for simultaneously measuring currents in an image recording unit and a current monitoring unit.

【図8】 露光部分の電流モニタ領域への光の照射方法
を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a method of irradiating light to a current monitor area of an exposed portion.

【図9】 スペーサ部分から分離して画像記録部分の電
流値を測定する方法を示す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating a method of measuring a current value of an image recording portion separately from a spacer portion.

【図10】 液晶記録層の電気物性の測定方法を示す図
である。
FIG. 10 is a diagram showing a method for measuring the electrical properties of a liquid crystal recording layer.

【図11】 分離型液晶記録媒体の場合の等価回路をを
示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing an equivalent circuit in the case of a separation type liquid crystal recording medium.

【図12】 液晶記録層の容量変化・電流値の測定方法
を示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing a method of measuring a change in capacitance and a current value of a liquid crystal recording layer.

【図13】 液晶記録層の容量の変化を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing a change in capacitance of a liquid crystal recording layer.

【図14】 液晶記録層の容量変化時の電流値の変化を
示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing a change in a current value when a capacitance of a liquid crystal recording layer changes.

【図15】 暗部における電流測定値の時間微分特性を
示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing a time differential characteristic of a current measurement value in a dark part.

【図16】 露光部の電流、液晶媒体の容量変化測定法
を示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing a method of measuring a current of an exposed portion and a change in capacitance of a liquid crystal medium.

【図17】 露光部と未露光部電流測定結果を示す図で
ある。
FIG. 17 is a diagram showing the results of current measurement on exposed and unexposed areas.

【図18】 露光部と未露光部の液晶媒体の変調(容量
変化)を示す図である。
FIG. 18 is a diagram showing modulation (capacity change) of a liquid crystal medium in an exposed portion and an unexposed portion.

【図19】 露光部と未露光部の電流差の微分値を示す
図である。
FIG. 19 is a diagram showing a differential value of a current difference between an exposed portion and an unexposed portion.

【図20】 露光部の電流微分値の時間変化を示す図で
ある。
FIG. 20 is a diagram showing a time change of a current differential value of an exposure unit.

【図21】 露光部と未露光部の電流測定結果及び容量
変化から求めた液晶層にかかる電圧を示す図である。
FIG. 21 is a diagram showing a voltage applied to a liquid crystal layer obtained from a current measurement result of an exposed portion and an unexposed portion and a change in capacitance.

【図22】 液晶記録層の容量変化と透過率変化の関係
の測定方法を説明する図である。
FIG. 22 is a diagram illustrating a method for measuring the relationship between a change in capacitance and a change in transmittance of a liquid crystal recording layer.

【図23】 液晶記録層の電圧−電流特性を示す図であ
る。
FIG. 23 is a diagram showing voltage-current characteristics of a liquid crystal recording layer.

【図24】 電圧変化に対する透過率特性を示す図であ
る。
FIG. 24 is a diagram illustrating transmittance characteristics with respect to a voltage change.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…光センサ、11…透明支持体、12…透明電極、
12a…画像記録用電極、12b,12c…電流測定用
電極、13…光導電層、14…マスク、15…スペー
サ、20…液晶記録媒体、21…透明支持体、22…透
明電極、23…高分子分散液晶層、24…電極、30…
電源、40,40a,40b,41…電流測定用抵抗、
80…LED、81…光電変換素子。
10 optical sensor, 11 transparent support, 12 transparent electrode
12a: Image recording electrode, 12b, 12c: Current measuring electrode, 13: Photoconductive layer, 14: Mask, 15: Spacer, 20: Liquid crystal recording medium, 21: Transparent support, 22: Transparent electrode, 23: High Molecular dispersed liquid crystal layer, 24 ... electrode, 30 ...
Power supply, 40, 40a, 40b, 41 ... resistance for current measurement,
80 ... LED, 81 ... Photoelectric conversion element.

Claims (18)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 透明支持体上に透明電極、光導電層が順
次積層された感光体と、透明支持体上に透明電極、高分
子分散型液晶層が順次積層された液晶記録媒体とを対向
配置し、両電極間に電圧を印加して画像露光し、液晶を
配向させて情報を記録する方法において、該液晶記録媒
体に流れる電流を測定することにより液晶記録層の動作
の様子をモニタし、電圧印加時間を制御することを特徴
とする情報記録方法。
1. A photoconductor in which a transparent electrode and a photoconductive layer are sequentially laminated on a transparent support, and a liquid crystal recording medium in which a transparent electrode and a polymer dispersed liquid crystal layer are sequentially laminated on the transparent support are opposed to each other. In the method of arranging and exposing an image by applying a voltage between both electrodes and orienting the liquid crystal to record information, the operation of the liquid crystal recording layer is monitored by measuring a current flowing through the liquid crystal recording medium. And controlling the voltage application time.
【請求項2】 請求項1記載の方法において、未露光部
の電圧が液晶記録媒体のしきい値に達したと推定される
時間で電圧印加を停止することを特徴とする情報記録方
法。
2. The information recording method according to claim 1, wherein the application of the voltage is stopped at a time when it is estimated that the voltage of the unexposed portion has reached the threshold value of the liquid crystal recording medium.
【請求項3】 請求項1記載の方法において、露光部の
電流の時間変化から、明部と暗部のコントラストが最大
になる時間をモニタし、電圧印加を停止することを特徴
とする情報記録方法。
3. The information recording method according to claim 1, wherein the time when the contrast between the bright part and the dark part becomes maximum is monitored from the time change of the current in the exposed part, and the voltage application is stopped. .
【請求項4】 請求項1記載の方法において、露光部と
未露光部の電流の差の時間変化から、明部と暗部のコン
トラストが最大になる時間をモニタし、電圧印加を停止
することを特徴とする情報記録方法。
4. The method according to claim 1, wherein the time when the contrast between the bright portion and the dark portion is maximized is monitored from the time change of the current difference between the exposed portion and the unexposed portion, and the voltage application is stopped. Characteristic information recording method.
【請求項5】 請求項1記載の方法において、所定露光
強度の光を電流測定領域に照射し、光照射領域の電流の
積分値と未露光部の電流の積分値の差が液晶記録媒体の
容量変化に相当する量に達した時間で、電圧印加を停止
することを特徴とする情報記録方法。
5. The method according to claim 1, wherein a light having a predetermined exposure intensity is irradiated to the current measurement area, and a difference between an integrated value of the current in the light irradiation area and an integrated value of the current in the unexposed area is determined. An information recording method, comprising: stopping voltage application at a time when an amount corresponding to a change in capacitance is reached.
【請求項6】 請求項1記載の方法において、未露光部
の電流値の微分から、未露光部の液晶記録媒体の動作を
モニタし、電圧印加を制御することを特徴とする情報記
録方法。
6. The information recording method according to claim 1, wherein the operation of the liquid crystal recording medium in the unexposed portion is monitored from the differentiation of the current value in the unexposed portion to control the voltage application.
【請求項7】 請求項1記載の情報記録方法において、
液晶記録媒体の液晶記録層表面に電極が形成し、情報記
録を行う前に液晶記録媒体に電圧を印加して電流値から
液晶記録媒体の抵抗値を測定することを特徴とする情報
記録方法。
7. The information recording method according to claim 1, wherein
An information recording method, comprising forming an electrode on the surface of a liquid crystal recording layer of a liquid crystal recording medium, applying a voltage to the liquid crystal recording medium before measuring information, and measuring a resistance value of the liquid crystal recording medium from a current value.
【請求項8】 請求項1記載の情報記録方法において、
感光体の光導電層表面に電極を形成し、情報記録を行う
前に感光体に電圧を印加して電流値を測定することを特
徴とする情報記録方法。
8. The information recording method according to claim 1, wherein
An information recording method, comprising: forming an electrode on the surface of a photoconductive layer of a photoreceptor, and applying a voltage to the photoreceptor to measure a current value before recording information.
【請求項9】 透明支持体上に透明電極、光導電層が順
次積層された感光体と、透明支持体上に透明電極、高分
子分散型液晶層が順次積層された液晶記録媒体とを対向
配置し、両電極間に電圧を印加して画像露光し、液晶を
配向させて情報を記録する装置において、電源と感光体
との間に接続された電流モニタ用抵抗と、電流モニタ用
抵抗にかかる電圧から回路に流れる電流値を測定し、測
定結果から液晶記録層の動作の様子をモニタし、電圧印
加時間を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする
情報記録装置。
9. A photoconductor in which a transparent electrode and a photoconductive layer are sequentially laminated on a transparent support, and a liquid crystal recording medium in which a transparent electrode and a polymer dispersed liquid crystal layer are sequentially laminated on the transparent support are opposed to each other. In a device that arranges, applies voltage between both electrodes, performs image exposure, aligns liquid crystal, and records information, a current monitoring resistor connected between the power supply and the photoconductor and a current monitoring resistor An information recording device comprising: a control unit for measuring a current value flowing through a circuit from the voltage, monitoring an operation state of the liquid crystal recording layer from the measurement result, and controlling a voltage application time.
【請求項10】 請求項9記載の装置において、感光体
の露光側の面の一部にマスクを形成し、マスクによる遮
蔽領域の電流値を測定するようにしたことを特徴とする
情報記録装置。
10. The information recording apparatus according to claim 9, wherein a mask is formed on a part of the surface of the photosensitive member on the exposure side, and a current value in a region shielded by the mask is measured. .
【請求項11】 請求項10記載の装置において、マス
クが形成された領域の感光体または液晶記録媒体の電極
が、画像露光部分と分離して形成されていることを特徴
とする情報記録装置。
11. The information recording apparatus according to claim 10, wherein an electrode of a photoconductor or a liquid crystal recording medium in a region where the mask is formed is formed separately from an image exposed portion.
【請求項12】 請求項9または10記載の装置におい
て、画像露光部分に電流モニタ領域を形成し、マスクを
形成した部分と画像露光部分の電流モニタ領域とにそれ
ぞれ電流モニタ用抵抗を接続したことを特徴とする情報
記録装置。
12. The apparatus according to claim 9, wherein a current monitor region is formed in the image exposed portion, and a current monitor resistor is connected to each of the portion where the mask is formed and the current monitor region of the image exposed portion. An information recording device characterized by the above-mentioned.
【請求項13】 請求項12記載の装置において、マス
クを形成した部分及び画像露光部分の電流モニタ領域に
接続された電流モニタ用の抵抗の抵抗値を、電極面積の
違いを補正する値に設定したことを特徴とする情報記録
装置。
13. The apparatus according to claim 12, wherein a resistance value of a current monitoring resistor connected to a current monitor region of a portion where a mask is formed and an image exposure portion is set to a value for correcting a difference in electrode area. An information recording device, comprising:
【請求項14】 請求項13記載の装置において、感光
体の画像露光部分の電流モニタ領域に、所定光量の光を
照射する光学系を備えたことを特徴とする情報記録装
置。
14. An information recording apparatus according to claim 13, further comprising an optical system for irradiating a predetermined amount of light to a current monitor area of an image exposed portion of the photosensitive member.
【請求項15】 請求項14記載の装置において、感光
体の画像露光部分の電流モニタ領域の感光体または液晶
記録媒体に形成される電極が、画像露光部分と分離して
形成されていることを特徴とする情報記録装置。
15. The apparatus according to claim 14, wherein an electrode formed on the photoconductor or the liquid crystal recording medium in the current monitor area of the image exposure portion of the photoconductor is formed separately from the image exposure portion. Characteristic information recording device.
【請求項16】 請求項14記載の装置において、前記
光学系は、像露光の一部を分離する半反射ミラーと、半
反射ミラーからの光を集光するレンズ系からなることを
特徴とする情報記録装置。
16. The apparatus according to claim 14, wherein said optical system comprises a semi-reflective mirror for separating a part of the image exposure, and a lens system for condensing light from the semi-reflective mirror. Information recording device.
【請求項17】 請求項14記載の装置において、前記
光学系は、被写体の光量に相当する光を照射する像露光
系とは別の光学系からなることを特徴とする情報記録装
置。
17. An information recording apparatus according to claim 14, wherein said optical system comprises an optical system different from an image exposure system for irradiating light corresponding to a light amount of a subject.
【請求項18】 請求項9記載の装置において、感光体
と液晶記録媒体間には空気ギャップを保つためのスペー
サが配置され、電流検出用の電極をスペーサ部分に相当
しない部分の感光体または液晶記録媒体に形成するよう
にしたことを特徴とする情報記録装置。
18. The apparatus according to claim 9, wherein a spacer for keeping an air gap is disposed between the photoconductor and the liquid crystal recording medium, and the electrode for current detection does not correspond to the spacer portion. An information recording device formed on a recording medium.
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