JP3311896B2 - Feedback processing condition correction device - Google Patents

Feedback processing condition correction device

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JP3311896B2
JP3311896B2 JP10259895A JP10259895A JP3311896B2 JP 3311896 B2 JP3311896 B2 JP 3311896B2 JP 10259895 A JP10259895 A JP 10259895A JP 10259895 A JP10259895 A JP 10259895A JP 3311896 B2 JP3311896 B2 JP 3311896B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、加工されたワークの寸
法をフィードバックすることによって次に加工されるべ
きワークの加工条件を補正するフィードバック式加工条
件補正装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a feedback-type processing condition correction device for correcting the processing conditions of a work to be processed next by feeding back the dimensions of the processed work.

【0002】[0002]

【従来の技術】上記フィードバック式加工条件補正装置
は例えば、本出願人の特開平6−198542号公報に
記載されているように、(a) 複数のワークを順に加工す
る加工機と、(b) 外部から供給された補正値に基づいて
前記加工機の加工条件を補正し、その補正した加工条件
に従って前記加工機を制御する加工機制御装置と、(c)
前記加工機により加工された複数のワークの寸法を順に
測定する測定機とを備え、それら加工機と測定機との間
にその測定機による測定を待つワークが少なくとも1個
存在する加工システムにおいて使用するために、前記測
定機により複数の測定値が取得されたときにその複数の
測定値に基づいて前記加工条件の補正値を決定し、その
決定した補正値を前記加工機制御装置に供給する補正値
決定手段を含むように構成される。
2. Description of the Related Art As described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 6-198542 of the present applicant, the above-mentioned feedback-type processing condition correction apparatus includes: (a) a processing machine for processing a plurality of workpieces in order; A) a processing machine control device for correcting the processing conditions of the processing machine based on a correction value supplied from the outside, and controlling the processing machine according to the corrected processing conditions;
A measuring machine for sequentially measuring the dimensions of a plurality of workpieces machined by the machining machine, wherein the machining system has at least one workpiece between the machining machines and the measuring machine that waits for measurement by the measuring machine. A plurality of measurement values obtained by the measuring machine, a correction value of the processing condition is determined based on the plurality of measurement values, and the determined correction value is supplied to the processing machine control device. It is configured to include a correction value determining unit.

【0003】加工機と測定機との間にその測定機による
測定を待つ待機ワークが全く存在せず、加工機により加
工されたワークが直ちに測定機によって測定される形式
の加工システムにおいては、最新の補正値の影響を受け
た加工条件に従って加工されたワークが直ちに測定機に
よって測定され、最新の補正値の影響が直ちに測定値に
反映される。したがって、この形式の加工システムにお
いては、加工条件の補正精度を比較的簡単に向上させる
ことができる。しかし、上記公報に記載されているよう
に、加工機と測定機との間にその測定機による測定を待
つワークが少なくとも1個存在する形式の加工システム
も存在し、この形式の加工システムにおいては、最新の
補正値の影響を受けたワークが直ちに測定機によって測
定されず、最新の補正値の影響がむだ時間の経過後には
じめて測定値に反映されるため、加工条件の補正精度を
向上させることが比較的困難である。なお、ここに「む
だ時間」は本来「時間」の概念であり、「待機ワーク
数」と厳密には一致しないが、制御システムの特性を定
義するパラメータとしては等価であるため、以下、「む
だ時間」と「待機ワーク数」とをそれぞれ互いに対応す
る概念として使用することとする。
[0003] In a machining system of the type in which there is no standby work between the processing machine and the measuring machine waiting for the measurement by the measuring machine, and the work processed by the processing machine is immediately measured by the measuring machine, The workpiece processed according to the processing conditions affected by the correction value is immediately measured by the measuring machine, and the effect of the latest correction value is immediately reflected on the measured value. Therefore, in this type of processing system, the correction accuracy of the processing conditions can be relatively easily improved. However, as described in the above publication, there is also a processing system of a type in which at least one workpiece waiting for measurement by the measuring device exists between the processing machine and the measuring device, and in this type of processing system, Improve the accuracy of machining condition correction because the workpiece affected by the latest correction value is not immediately measured by the measuring device, and the effect of the latest correction value is reflected in the measurement value only after the elapse of dead time. Is relatively difficult. Note that “dead time” is originally a concept of “time” and does not exactly match the “number of standby works”, but since it is equivalent as a parameter that defines the characteristics of the control system, “Time” and “the number of waiting works” are used as concepts corresponding to each other.

【0004】そのため、このむだ時間存在式の加工シス
テムと共に使用されるべきフィードバック式加工条件補
正装置は、上記公報に記載されているように、順に加工
された複数のワークの各々について測定された複数の測
定値に基づいて1個の補正値が決定され、これにより、
1個の補正値が例えば、過去の複数の測定値から過去の
測定値の変化傾向を取得し、その過去の測定値の変化傾
向から将来の測定値の変化傾向を予測した上で決定され
ることとなる。したがって、この公報に記載されたフィ
ードバック式加工条件補正装置には、むだ時間が存在す
る加工システムにおいて使用されるにもかかわらず、加
工条件を比較的高精度で補正することができるという利
点がある。
Therefore, as described in the above-mentioned publication, a feedback type machining condition correcting apparatus to be used together with the machining system of the dead time type employs a plurality of workpieces which are measured for each of a plurality of workpieces sequentially processed. A correction value is determined based on the measured values of
One correction value is determined, for example, by acquiring a change tendency of a past measurement value from a plurality of past measurement values and predicting a change tendency of a future measurement value from the change tendency of the past measurement value. It will be. Therefore, the feedback-type processing condition correction device described in this publication has an advantage that the processing conditions can be corrected with relatively high accuracy despite being used in a processing system having a dead time. .

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来のフィードバック式加工条件補正装置(以下「従来装
置」という)には、加工条件の補正精度を優先し、1個
の補正値を決定するのに比較的多数の測定値を使用する
ため、加工条件を迅速に補正することが必要である時期
に加工条件を迅速に補正することができないという欠点
がある。以下、この欠点を具体的に説明する。
However, this conventional feedback-type processing condition correction apparatus (hereinafter referred to as "conventional apparatus") has a problem in that one correction value is determined by giving priority to the correction accuracy of processing conditions. Since a relatively large number of measured values are used, there is a disadvantage that the processing conditions cannot be corrected quickly when it is necessary to correct the processing conditions quickly. Hereinafter, this disadvantage will be specifically described.

【0006】図37には、この従来装置において一連の
加工が開始された後に測定値が取得される様子の一例が
グラフで示されている。この従来装置が使用される加工
システムにはむだ時間が存在するため、加工開始直後に
は測定値が存在せず、むだ時間の経過後にはじめて測定
値が取得されることになる。このときから測定値の蓄積
が開始され、蓄積された測定値の数が設定複数個となっ
たときに、その設定複数個の測定値に基づいて最初の補
正値が決定される。この補正値は加工条件制御装置に供
給され、そこで加工条件が補正されるが、その補正後の
加工条件に従って加工されたワークが直ちに測定機によ
って測定されるわけではないから、その最初の補正値の
影響は、むだ時間の経過後にはじめて測定値に反映され
ることとなる。そのため、この従来装置では、一連の加
工の開始時期から最初の補正値が決定されてそれが測定
値に反映されるまでに、最初のむだ時間,測定値の蓄積
段階および二回目のむだ時間を経過しなければならな
い。このように、この従来装置では、一連の加工の開始
時期から最初の補正値が決定されてそれが測定値に反映
されるまでに時間がかかる。
FIG. 37 is a graph showing an example of how measured values are obtained after a series of processing is started in the conventional apparatus. Since a processing system using this conventional apparatus has a dead time, a measured value does not exist immediately after the start of processing, and a measured value is obtained only after the elapse of the dead time. At this time, the accumulation of the measured values is started, and when the number of accumulated measured values reaches a set number, the first correction value is determined based on the set measured values. This correction value is supplied to the processing condition control device, where the processing condition is corrected. However, since the workpiece processed according to the corrected processing condition is not immediately measured by the measuring machine, the first correction value is set. Will be reflected in the measured values only after the elapse of the dead time. Therefore, in this conventional apparatus, the first dead time, the accumulation stage of the measured values, and the second dead time are determined from the start time of a series of processing to the time when the first correction value is determined and reflected on the measured value. It must pass. As described above, in this conventional apparatus, it takes time until the first correction value is determined from the start time of a series of processing and is reflected on the measured value.

【0007】一方、一連の加工開始当初にあっては、加
工機の状態,測定機の状態等が変化し易いため、比較的
頻繁に加工条件を補正しないと、最初の補正値が測定値
に反映されるまでの間に精度不良ワーク、すなわち、寸
法誤差がワークに対して予め設定された公差範囲を超え
るワークが多発してしまうおそれがある。
On the other hand, at the beginning of a series of machining, the state of the machining machine, the state of the measuring machine, and the like are apt to change. Therefore, unless the machining conditions are corrected relatively frequently, the first correction value becomes the measured value. There is a possibility that before the reflection, the work with poor accuracy, that is, a work whose dimensional error exceeds a preset tolerance range with respect to the work may occur frequently.

【0008】したがって、この従来装置には、加工条件
を迅速に補正することが必要である時期に加工条件を迅
速に補正することができないという欠点があるのであ
る。
Therefore, this conventional apparatus has a drawback in that it is not possible to quickly correct the processing conditions when it is necessary to correct the processing conditions quickly.

【0009】そのため、作業者は、少なくとも加工条件
が最初に自動的に補正されるまでの間は、精度不良ワー
クが多発することを防止するため、測定値を監視し、適
宜加工条件を手動で補正しなければならない場合もあ
り、作業者にかかる負担が大きかった。
For this reason, the operator monitors the measured values and manually adjusts the machining conditions as appropriate, at least until the machining conditions are automatically corrected for the first time, in order to prevent the occurrence of inaccurate workpieces. In some cases, corrections had to be made, and the burden on the operator was great.

【0010】図38には、作業者が手動で補正を行う場
合の一例がグラフで表されている。作業者は、一般に、
ワークの加工誤差が公差範囲を超えた場合に、加工条件
を早急に補正する必要であると判断し、そのときの測定
値に基づき、作業者の勘と経験によって補正値を決定す
る。しかし、作業者は、測定値の変化傾向を前記補正値
決定手段によるほどには正確に予測することができない
のが普通であるため、作業者による補正値すなわち手動
補正値の影響が測定値に反映されても、その測定値が十
分に目標値に一致しない場合もある。そして、この場合
には、作業者による手動補正後、前記補正値決定手段に
よる自動補正が行われ、その自動補正によって先の手動
補正が是正されることになるが、前記のように、手動補
正後から早期に自動補正値を決定することができないた
め、手動補正の是正を迅速に行うことができない。その
ため、加工条件が最初に自動的に補正されるまでの間に
たとえ作業者が手動で加工条件を補正しても、精度不良
ワークの発生を十分に抑制することができない場合もあ
った。
FIG. 38 is a graph showing an example of a case where the operator performs the correction manually. Workers generally
When the processing error of the workpiece exceeds the tolerance range, it is determined that the processing condition needs to be corrected immediately, and the correction value is determined based on the measured value at that time based on the intuition and experience of the operator. However, since the operator cannot usually predict the change tendency of the measured value as accurately as the correction value determining means, the influence of the correction value by the operator, that is, the manual correction value, affects the measured value. Even if reflected, the measured value may not sufficiently match the target value. In this case, after the manual correction by the operator, the automatic correction is performed by the correction value determining means, and the manual correction is corrected by the automatic correction. Since the automatic correction value cannot be determined early afterwards, the correction of the manual correction cannot be quickly performed. Therefore, even if the operator manually corrects the processing conditions before the processing conditions are automatically corrected for the first time, the occurrence of a workpiece with inaccurate accuracy may not be sufficiently suppressed.

【0011】以上要するに、この従来装置には、精度を
優先した補正規則しか採用しないため、迅速な補正が必
要である時期に迅速な補正ができないという問題がある
のであり、このような事情に鑑み、本発明は、補正値決
定所要時間が長いが補正精度が高い補正規則と補正精度
が低いが補正値決定所要時間が短い補正規則とを併用す
ることにより、加工条件の補正に対する要求により柔軟
に対応し得るフィードバック式加工条件補正装置を提供
することを課題としてなされたものである。
In short, the conventional apparatus employs only a correction rule that gives priority to accuracy, and therefore has a problem that a quick correction cannot be performed when a quick correction is required. According to the present invention, a correction rule with a long correction value determination time but a high correction accuracy and a correction rule with a low correction accuracy but a short correction value determination time are used in combination to more flexibly meet a demand for correction of machining conditions. An object of the present invention is to provide a feedback-type processing condition correction device that can respond.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段,作用および効果】そし
て、本発明に従えば、以下の各態様のフィードバック式
加工条件補正装置が得られる。 (1)(a) 複数のワークを順に加工する 加工機と、(b) 外
部から供給された補正値に基づいて前記加工機の加工条
件を補正し、その補正した加工条件に従って前記加工機
を制御する加工機制御装置と、(c) 前記加工機により加
工された複数のワークの寸法を順に測定する測定機
備え、それら加工機と測定機との間にその測定機による
測定を待つワークが少なくとも1個存在する加工システ
ムと共に使用され、前記測定機により複数の測定値が取
得されたときにその複数の測定値に基づいて前記加工条
件の第1補正値を決定し、その決定した第1補正値を前
記加工機制御装置に供給する第1補正値決定手段を含む
フィードバック式加工条件補正装置において、前記測定
機により前記第1補正値決定手段が1個の前記第1補正
値を決定するのに必要な測定値の数より少数の測定値が
取得され、かつ、予め設定された第2補正実行条件が成
立した場合に、前記少数の測定値に基づいて前記加工条
件の第2補正値を決定し、その決定した第2補正値を前
記加工機制御装置に供給する第2補正値決定手段を設け
るとともに、前記第2補正実行条件を、少なくともワー
クの加工誤差がそれに対して設定された設定範囲を超え
る場合に成立するものとしたことを特徴とするフィード
バック式加工条件補正装置(請求項1)。
Means for Solving the Problems, functions and effects] And
Therefore, according to the present invention, the feedback expression of each of the following aspects
A processing condition correction device is obtained. (1) (a) a processing machine for processing a plurality of workpieces in order, and (b)
Processing section of the processing machine based on the correction value supplied from the
The processing machine according to the corrected processing conditions.
(C) a processing machine control device for controlling
And a measuring instrument for measuring the size of the factory is more work in the order, the work waiting for measurement by the measuring device between them machines and measuring machines are used in conjunction with at least one machining system exists, the measurement Machine takes multiple measurements.
When obtained, the processing strip based on the plurality of measured values
The first correction value of the case is determined, and the determined first correction value is
In the feedback type processing condition correction device including a first correction value determining means for supplying serial machine control device, wherein the said measuring first correction value determining means is necessary to determine one of the first correction value Measurement values smaller than the number of proper measurement values , and the preset second correction execution condition is satisfied.
A second correction value determining unit that determines a second correction value of the processing condition based on the small number of measured values and supplies the determined second correction value to the processing machine control device when standing
And at least the second correction execution condition
Machining error exceeds the setting range set for it.
Feed that is established when
Back type processing condition correction device (Claim 1).

【0013】なお、ここに「第1補正値決定手段」は例
えば、設定数個の測定値が取得されて補正値を決定した
後、改めて測定値の取得を開始し、再度、設定数個の測
定値が取得されたときに新たな補正値を決定する態様と
したり、設定数個の測定値が取得されて補正値を決定し
た後、新たな測定値が1個ずつ取得される毎に、最新の
設定数個の測定値に基づいて新たな補正値を決定する態
様とすることができる。このことは「第2補正値決定手
段」についても同様である。また、「ワークの加工誤
差」はワークの測定機による測定値の目標値からの誤差
値である。
Here, the " first correction value determining means", for example, after obtaining a set of measured values and determining a correction value, starts acquiring the measured values again, and again sets the measured values. When a new correction value is determined when a measurement value is obtained, or after a set number of measurement values are obtained and a correction value is determined, each time a new measurement value is obtained one by one, A mode in which a new correction value is determined based on the latest set several measured values may be adopted. This is the same for the “ second correction value determining unit”. In addition, "Work machining error
"Difference" is the difference between the measured value of the workpiece and the target value.
Value.

【0014】本項のフィードバック式加工条件補正装置
においては、第1補正値決定手段が1個の前記第1補正
値を決定するのに必要な測定値の数より少数の測定値が
測定機により取得され、かつ、予め設定された第2補正
実行条件が成立した場合に、第2補正値決定手段が実質
的に作動する。上記少数の測定値に基づいて加工条件の
第2補正値を決定し、その決定した第2補正値を加工機
制御装置に供給するのである。そして、上記第2補正実
行条件は、少なくともワークの加工誤差がそれに対して
設定された設定範囲を超える場合に成立する。ここにお
いて、「少なくとも」とは、例えば、請求項3に係る発
明におけるように、ワークの加工誤差が設定範囲を超え
るのみでは、第2補正実行条件が成立せず、さらに、一
連の加工の開始後であって作業者が手動補正をした時期
から一定個数のワークについての測定が終了する前であ
る等、別の条件が満たされた場合に、はじめて第2補正
実行条件が成立する態様もあり得ることを意味する。い
ずれにしても、補正後の請求項1の発明に係るフィード
バック式加工条件補正装置においては、ワークの加工誤
差が設定範囲を超え、加工機の加工条件を補正した方が
よい場合には、第2補正値が決定され、加工機の加工条
件が補正される。したがって、第2補正値決定手段が実
質的に作動すれば、それと同時に第1補正値決定手段の
作動を開始させた場合のその第1補正値決定手段より先
に新たな補正値を決定するから、補正において精度より
迅速さを優先すべき時期に第2補正値決定手段が実質的
に作動するように設計すれば、補正の迅速さが要求され
る時期に迅速な補正が行われることとなる。
[0014] The feedback-type machining condition correction device according to this item.
In the above, the first correction value determination means may include one first correction value.
Fewer measurements than the number of measurements needed to determine the value
Second correction acquired by the measuring instrument and set in advance
When the execution condition is satisfied, the second correction value determining means
Works. Based on the above few measurements,
A second correction value is determined, and the determined second correction value is
It is supplied to the control device. Then, the second correction actual
The line condition is that at least the machining error of the workpiece
It is satisfied when the set range is exceeded. Here
Thus, “at least” means, for example,
As described above, the machining error of the workpiece exceeds the set range.
Is not satisfied, the second correction execution condition is not satisfied.
After the start of continuous machining and when the operator manually compensates
Before the measurement for a certain number of workpieces is completed.
For the first time if another condition is met, such as
This means that the execution condition may be satisfied. I
The feed according to the invention of claim 1 after the correction even if it is shifted.
In the back-type processing condition correction device, there is
If the difference exceeds the setting range and the processing conditions of the processing machine are corrected,
If so, the second correction value is determined, and
The case is corrected. Therefore, since the second correction value determining means if substantially operate therewith to determine a new correction value prior to the first correction value determining means when to start the operation of the first correction value determining means simultaneously If the second correction value determining means is designed to operate substantially at a time when quickness should be given priority over accuracy in correction, quick correction is performed at a time when quick correction is required. .

【0015】このように、本発明によれば、精度を優先
した補正規則と迅速さを優先した補正規則とが併用さ
れ、後者の補正規則によれば加工条件に対して迅速な補
正が要求される時期に迅速な補正が可能となる。したが
って、本発明によれば、精度を優先した補正規則により
新たな補正値が決定されるまでの間において、作業者の
手動補正の頻度が減少し、作業者にかかる負担が軽減さ
たり、ワークの加工品質が向上し、精度不良ワークの
発生が抑制されたりする効果が得られる。
As described above, according to the present invention, the correction rule giving priority to accuracy and the correction rule giving priority to speed are used together.
Is a rapid correction to the processing conditions according to the latter of the correction rule is possible to quickly correct the time required. Therefore, according to the present invention, the frequency of manual correction by the operator is reduced until a new correction value is determined by the correction rule giving priority to accuracy, so that the burden on the operator is reduced , In this case, the effect of improving the processing quality and suppressing the occurrence of workpieces with poor precision can be obtained.

【0016】(2) (1)の発明であって、前記第2補正値
決定手段が、予め設定された第2補正実行条件が成立す
るか否かを問わず、設定数個の測定値に基づいて第2補
正値を決定するが、第2補正実行条件が成立した場合に
限り、その決定した第2補正値を前記加工機制御装置に
供給するもの。 (3) (1) または(2) の発明であって、前記第2補正実行
条件が、加工時期に関するもの。 (4) (3) の発明であって、前記第2補正実行条件が、一
連の加工の開始時期から一定個数のワークについての測
定が終了するまで(または一定時間が経過するまで)の
期間に該当するか、または、一連の加工の開始時期から
第1補正値決定手段により最初に補正値(以下「第1補
正値」という)が決定されるまでの期間に該当する場合
に成立するもの(請求項2)。 (5) (3) の発明であって、前記第2補正実行条件が、一
連の加工の開始後であって作業者が手動補正をした時期
から一定個数のワークについての測定が終了するまで
(または、一定時間が経過するまで)の期間に該当する
か、または、その手動補正時期から第1補正値決定手段
により最初に第1補正値が決定されるまでの期間に該当
する場合に成立するもの。なお、作業者による手動補正
後に第2補正値を加工機制御装置に供給する理由は、作
業者による手動補正値の精度が十分に高くない場合があ
り、このような場合にはその後早期に自動補正を行うこ
とが望ましいからである。また、後に実施例の項におい
て説明するように、本項の条件のみならず、ワークの加
工誤差が設定範囲を超えるという条件も成立した場合
に、はじめて第2補正実行条件が成立したとすることも
可能である(請求項3)。 (6) (3) の発明であって、前記第2補正実行条件が、一
連の加工の開始後であって前記第1補正値決定手段の内
部パラメータの設定が変更された後から一定時間が経過
するまでの期間に該当するか、または、その設定変更時
期から第1補正値決定手段により最初に第1補正値が決
定されるまでの期間に該当する場合に成立するもの。な
お、第1補正値決定手段の内部パラメータの設定が変更
された後に第2補正値を加工機制御装置に供給する理由
は、その設定変更に時間がかかり、その間に加工機の状
態,測定機の状態等が変化し、ワークの加工寸法のこれ
からの変化傾向がこれまでの変化傾向と異なってしまう
可能性があり、それにもかかわらず第1補正値決定手段
が第1補正値を決定するのを待ってその決定した第1補
正値を加工機制御装置に供給するときには、その第1補
正値が決定されてそれが測定値に反映されるまでに時間
がかかり、その間に精度不良ワークが多発するおそれが
あるからである。また、後に実施例の項において説明す
るように、本項の条件のみならず、ワークの加工誤差が
設定範囲を超えるという条件も成立した場合に、はじめ
て第2補正実行条件が成立したとすることも可能である
(請求項4)。 (7) (1) または(2) の発明であって、前記第2補正実行
条件が、ワークの加工誤差に関するもの。 (8) (7) の発明であって、前記第2補正実行条件が、ワ
ークの加工誤差がそれに対して設定された設定範囲を超
えた場合に成立するもの。なお、ここに「設定範囲」
は、例えば、ワークの公差範囲と同じに設定することが
できるが、例えば、公差範囲内に設定すれば、ワークの
加工誤差が公差範囲から外れる事態を未然に防止するこ
とが容易となるという効果が得られる。また、ここに
「ワークの公差範囲」とは例えば、ワークの寸法に関
し、製品としてのワークの寸法精度の合否を判断する際
に基準となるものをいう。 (9) (1) 〜(8) の発明であって、前記第2補正実行条件
が、加工時期に関する第1部分条件とワークの加工誤差
に関する第2部分条件との組合せで構成されているも
の。 (10)(9) の発明であって、前記第2補正実行条件が、前
記第1部分条件が成立する場合には、前記第2部分条件
の成否を問わず、成立するものであり、第1部分条件が
成立しない場合には、第2部分条件が成立する場合にの
み、成立するもの。なお、第2補正実行条件が、第1部
分条件が満たされる場合には第2部分条件の成否を問わ
ず成立するとした理由は、一連の加工当初にあっては、
加工機の状態,測定機の状態等が変化し易いのが一般的
であり、たとえ測定値が現在公差範囲内にあってもその
後公差範囲から外れる傾向が強いと考えられるからであ
る。 (11)(1) 〜(10)の発明であって、前記第2補正値決定手
段が、前記第2補正実行条件が成立して1個の補正値を
決定したときに一回の作動を終了するもの。なお、この
実施態様は、視点をかえると、第2補正実行条件が、互
いに異なる成立条件と解除条件とを有し、かつ、成立条
件は、前述の加工時期またはワークの加工誤差に関する
条件が成立することであるのに対し、解除条件は、第2
補正値決定手段が1個の補正値を決定することである態
様であると考えることができる。 (12)(1) 〜(10)の発明であって、前記第2補正値決定手
段が、前記第2補正実行条件が成立して設定複数個の補
正値を決定したときに一回の作動を終了するもの。 (13)(1) 〜(10)の発明であって、前記第2補正値決定手
段が、前記第2補正実行条件が成立している間、補正値
を決定し続けるもの。 (14)(1) 〜(13)の発明であって、前記第1補正値決定手
段が、最新の加工条件(すなわち、最初の補正値決定前
にあっては、加工条件の初期値、最初の補正値決定後に
あっては、先に自身が決定した最新の補正値または先に
前記第2補正値決定手段が決定した最新の補正値の影響
を受けた加工条件)に従って最初に加工されたワークで
ある先頭補正ワークが前記測定機により測定されたとき
から、測定機による測定値を逐次蓄積し始め、蓄積した
測定値の数が設定数個となった場合に、それら設定数個
の測定値に基づいて新たな第1補正値を決定するもの。 (15)(1) 〜(13)の発明であって、前記第1補正値決定手
段が、測定機による測定値を逐次蓄積し、蓄積した複数
の測定値に基づき、前記第1補正値を逐次決定するとと
もに、各補正値の決定時期から、その各補正値の影響を
受けた加工条件に従って最初に加工されたワークである
先頭補正ワークが測定機によって測定される時期までの
間に測定機によって測定される複数の測定値を、その各
補正値と同じ量だけシフトさせて蓄積するもの。すなわ
ち、この実施態様は、先頭補正ワークが測定機によって
測定されることを待つことなく新たな補正値を決定可能
とするため、補正値はそのまま測定値に反映されると仮
定した上で、補正値の決定時期からその補正値に係る先
頭補正ワーク(以下「前回補正ワーク群」という)の複
数の測定値をそれぞれその補正値と同じ量だけずつシフ
トさせて蓄積することにより、前回補正ワーク群に属す
る各ワークがさらにその補正値の影響を受けた加工条件
にも従って加工され、かつ、直ちに測定機によって測定
されたと仮定した場合に取得されることとなる測定値を
予測し、その予測後の測定値に基づいて新たな補正値を
決定するのである。 (16)(1) 〜(15)の発明であって、前記第1補正値決定手
段が、設定数個の測定値に基づいて1個の移動平均値を
算出し、その算出した移動平均値を今回の測定値とみな
し、そのみなした今回の測定値の、目標値からの誤差値
とその誤差値の微分値または移動平均値の微分値との双
方に基づき、今回の補正値を決定するもの(請求項
5)。なお、微分値は例えば、互いに連続的に取得され
た複数個の生の測定値,移動平均値または誤差値を1本
の直線で近似した場合のその直線の勾配として決定する
ことができる。その1本の直線は例えば、1次回帰直線
とすることができる。 (17)(1) 〜(16)の発明であって、前記第1補正値決定手
段が、今回の誤差値と微分値とのうちの少なくとも誤差
値に基づき、ファジィルールに従って今回の補正値を決
定するファジィ演算型であるもの(請求項6)。 (18)(17)の発明であって、前記第2補正値決定手段が、
今回の誤差値と微分値とのうちの少なくとも誤差値に基
づき、ファジィルールに従って今回の補正値を決定する
ファジィ演算型であるとともに、第2補正値決定手段に
おけるファジィルールが、前記第1補正値決定手段にお
けるファジィルールとは異なるもの。 (19)(18)の発明であって、前記第2補正値決定手段が、
それのファジィルールが、前記第1補正値決定手段にお
けるファジィルールに対し、1補正値決定手段と第2
補正値決定手段とにそれぞれ同じ入力値を与えた場合
に、それら入力値が出力値である補正値に与える影響
が、第2補正値決定手段において第1補正値決定手段に
おけるより小さくなるように設定されているもの。第1
補正値決定手段においては、比較的多数の測定値に基づ
いて今回の誤差値と微分値とをそれぞれ決定することが
可能であり、それら誤差値および微分値の精度が比較的
高いのに対し、第2補正値決定手段においては、比較的
少数の測定値に基づいて今回の誤差値と微分値とをそれ
ぞれ決定しなければならず、それら誤差値および微分値
の精度が比較的低くなってしまい、第1補正値決定手段
におけるファジィルールと同じ特性としたのでは、第2
補正値決定手段により決定される補正値の精度も低くな
ってしまうからである。 (20)(1) 〜(17)の発明であって、前記第2補正値決定手
段が、今回の測定値の、目標値からの誤差値に比例した
大きさで今回の補正値を決定する比例制御型(P制御
型)であるもの(請求項7)。例えば、今回の測定値を
i 、目標値をA0 、今回の誤差値をRi 、今回の補正
値をUi として、 Ui =KP ・(Xi −A0 ) =KP ・Ri なる式を用いて今回の補正値Ui を算出することができ
る。ここに、「KP 」は比例ゲインである。比例ゲイン
P は1以上の値とすることは可能であるが、1より小
さい値とすることが望ましい。上記式を用いた補正値決
定は、測定値の変化傾向を考慮しないで行うものであ
り、比例ゲインKP を1以上の値としたのでは補正値が
急変する傾向があるからである。なお、この実施態様
は、第2補正値決定手段を、誤差値と微分値とに基づい
て補正値を決定する実施態様に比較し、1個の補正値を
決定するのに必要な測定値の数が少なくて済み、補正の
迅速性が向上するという効果が得られる。1個の誤差値
を取得するには少なくとも1個の測定値が存在すれば足
りるのに対し、1個の微分値を取得するには少なくとも
2個の測定値が存在しなければならないからである。ま
た、この実施態様では、「測定値」は必ずしも生の測定
値とする必要はなく、例えば、前記移動平均値とするこ
とができる。 (21)(1) 〜(17)の発明であって、前記第2補正値決定手
段が、今回の測定値の、目標値からの誤差値の時間積分
値に比例した大きさで今回の補正値を決定する積分制御
型(I制御型)であるもの(請求項8)。例えば、今回
の生の測定値をXi 、目標値をA0 、今回の誤差値をR
i 、今回の補正値をUi として、 Ui =KI ・(1/TI )・∫(Xi −A0 )dt =KI ・(1/TI )・∫Ri dt なる式を用いて今回の補正値Ui を算出することができ
る。ここに、「KI 」は積分ゲイン、「TI 」は積分時
間である。この積分ゲインKI の値も、前記比例ゲイン
P と同様にして決定することができる。なお、各測定
値Xが取得される時間間隔が一定であると仮定すれば、
上記式において、 (1/TI )・∫Xi dt なる項は、 (1/n)・ΣXi なる式で表される今回の平均値XMi を意味することに
なる。なお、ここに「n」は、1個の平均値XMを取得
するのに用いられる過去の測定値Xの数を意味する。し
たがって、今回の補正値Ui は例えば、 Ui =KI ・((1/n)・ΣXi −A0 ) =KI ・(XMi −A0 ) なる式を用いて算出することもできる。なお、この実施
態様も、第2補正値決定手段を、誤差値と微分値とに基
づいて補正値を決定する実施態様に比較し、1個の補正
値を決定するのに必要な測定値の数が少なくて済み、補
正の迅速性が向上するという効果が得られる。1個の積
分値を取得するには少なくとも2個の測定値が存在すれ
ば足りるのに対し、1個の微分値を十分に信頼性ある値
として取得するには比較的多数の測定値を使用しなけれ
ばならないからである。 (22)(1) 〜(21)の発明であって、前記第2補正値決定手
段が、(20)の比例制御型と(21)の積分制御型とを併用す
る比例−積分制御型(PI制御型)であるもの。この場
合、例えば、 Ui =KP ・Ri +KI ・(1/TI )∫Ri dt なる式を用いて補正値Uを決定することができる。ここ
に「KP 」は比例ゲイン、「KI 」は積分ゲインであ
る。それら各ゲインの値も、前記比例ゲインKP および
積分ゲインKI と同様にして決定することができる。な
お、 (1)の発明における「第2補正値決定手段」は、そ
の他にも、比例制御型と微分制御型とを併用する比例−
微分制御型(PD制御型)としたり、比例制御型と積分
制御型と微分制御型とを併用する比例−積分−微分制御
型(PID制御型)とすることもできる。また、第2
正値決定手段は、微分制御型のみを採用して実施するこ
とは可能である。この場合、微分制御型は、誤差の将来
を予見する効果を持つから、その点においては補正値の
精度を向上させ得る。しかし、微分値を精度よく取得す
るには比較的多数の測定値が必要であるのに対し、比較
的少数の測定値によって微分値を取得せざるを得ない場
合もあり、このような場合には、取得された微分値の信
頼性が低下し、ひいては、それを用いて決定された補正
値の信頼性も低下するおそれがある。 (23)(18)〜(22)の発明であって、前記第2補正値決定手
段が、最新の加工条件(すなわち、最初の補正値決定前
にあっては、加工条件の初期値、最初の補正値決定後に
あっては、先に自身が決定した最新の補正値または先に
前記第1補正値決定手段が決定した最新の補正値の影響
を受けた加工条件)に従って最初に加工されたワークで
ある先頭補正ワークが前記測定機により測定されたとき
から、測定機による測定値を逐次蓄積し始め、蓄積した
測定値の数が設定数個となった場合に、それら設定数個
の測定値に基づいて新たな第2補正値を決定するもの。 (24) (1)の発明であって、さらに、前記第1補正値決定
手段と前記第2補正値決定手段とが並行的に作動し、
(1) ないし(10)の第2補正実行条件が成立した場合に
は、第2補正値決定手段が第2補正値を決定し、その決
定した第2補正値を前記加工機制御装置に供給するも
の。 (25) (1)の発明であって、さらに、(1) ないし(10)の第
2補正実行条件が成立しない場合には、前記第1補正
決定手段と前記第2補正値決定手段とのうち第1補正
決定手段のみが作動し、第2補正実行条件が成立した場
合には、第2補正値決定手段のみが作動するもの。
(2) In the invention according to (1) , the second correction value determining means may generate a predetermined number of measurement values regardless of whether a preset second correction execution condition is satisfied. A second correction value is determined based on the second correction value, and the determined second correction value is supplied to the processing machine control device only when a second correction execution condition is satisfied. (3) The invention according to (1) or (2), wherein the second correction execution condition relates to a machining timing. (4) In the invention according to (3), the second correction execution condition is set such that the second correction execution condition is set in a period from the start of the series of machining to the end of the measurement for a certain number of workpieces (or until a certain time has elapsed). Applicable or from the start of the series
The present invention is established when the first correction value determining means corresponds to a period until a correction value (hereinafter, referred to as a “first correction value”) is first determined (claim 2) . (5) In the invention of (3), the second correction execution condition is set after the start of a series of machining and from the time when the operator performs the manual correction until the measurement of a certain number of workpieces is completed ( Or until the first correction value is first determined by the first correction value determination means from the manual correction timing . thing. The reason why the second correction value is supplied to the processing machine control device after the manual correction by the operator is that the accuracy of the manual correction value by the operator may not be sufficiently high. This is because it is desirable to perform the correction. Also, later in the Examples section
As described above, not only the conditions in this section, but also
When the condition that the engineering error exceeds the setting range is also satisfied
It is also possible that the second correction execution condition is satisfied for the first time.
It is possible (claim 3). (6) In the invention according to (3), the second correction execution condition is that a predetermined time has elapsed after the start of a series of machining and after the setting of the internal parameter of the first correction value determination means has been changed. This is true when the time period elapses or the time period elapses from the setting change time to the time when the first correction value is first determined by the first correction value determining means. Note that the reason why the second correction value is supplied to the processing machine control device after the setting of the internal parameter of the first correction value determination means is changed is that it takes time to change the setting, during which the state of the processing machine, the measuring machine May change, and the future change tendency of the work dimension of the work may be different from the previous change tendency. Nevertheless, the first correction value determining means determines the first correction value. When the first correction value determined is supplied to the processing machine control device after waiting for a while, it takes time for the first correction value to be determined and reflected on the measured value, during which a work with inaccurate precision occurs frequently. This is because there is a risk of doing so. It will be described later in the examples section.
In addition to the conditions in this section,
If the condition of exceeding the setting range is also satisfied,
It is also possible that the second correction execution condition is satisfied
(Claim 4). (7) The invention according to (1) or (2), wherein the second correction execution condition relates to a work error of the work. (8) The invention according to (7), wherein the second correction execution condition is satisfied when a machining error of the workpiece exceeds a set range set for the workpiece. Here, "Setting range"
Can be set, for example, to the same as the tolerance range of the work, but, for example, if it is set within the tolerance range, it is easy to prevent the machining error of the work from going out of the tolerance range beforehand. Is obtained. Here, the "work tolerance range" refers to, for example, a reference for determining the pass / fail of the dimensional accuracy of the work as a product with respect to the size of the work. (9) The invention according to (1) to (8), wherein the second correction execution condition is constituted by a combination of a first partial condition relating to a machining time and a second partial condition relating to a machining error of a workpiece. . (10) In the invention of (9), the second correction execution condition is satisfied regardless of whether the second partial condition is satisfied when the first partial condition is satisfied. When one partial condition is not satisfied, it is satisfied only when the second partial condition is satisfied. The reason that the second correction execution condition is satisfied regardless of whether the second partial condition is satisfied when the first partial condition is satisfied is that at the beginning of a series of machining,
This is because the state of the processing machine, the state of the measuring machine, and the like are generally easy to change. Even if the measured value is currently within the tolerance range, it is considered that there is a strong tendency that the measured value falls outside the tolerance range thereafter. (11) In the invention of (1) to (10), the second correction value determination means performs one operation when the second correction execution condition is satisfied and one correction value is determined. Things to end. In addition, in this embodiment, from a different viewpoint, the second correction execution condition has different establishment conditions and cancellation conditions, and the established conditions are such that the above-mentioned condition regarding the machining time or the machining error of the workpiece is satisfied. While the cancellation condition is the second
This can be considered as a mode in which the correction value determining means determines one correction value. (12) The invention according to any one of (1) to (10), wherein the second correction value determination means operates once when the second correction execution condition is satisfied and a plurality of set correction values are determined. Things to end. (13) The invention according to any one of (1) to (10), wherein the second correction value determining means continues to determine the correction value while the second correction execution condition is satisfied. (14) In the inventions of (1) to (13) , the first correction value determining means may determine the latest processing condition (that is, before the first correction value is determined, an initial value of the processing condition, After the correction value is determined, the first processing is performed in accordance with the latest correction value determined by itself or the processing condition affected by the latest correction value previously determined by the second correction value determining means). From the time when the head correction work, which is the work, is measured by the measuring machine, the measurement values measured by the measuring machine start to be sequentially accumulated, and when the number of accumulated measurement values reaches a set number, the measurement of the set number is performed. A new first correction value is determined based on the value. (15) In the invention of (1) to (13) , the first correction value determination means sequentially accumulates the measurement values obtained by the measuring device, and calculates the first correction value based on the accumulated plurality of measurement values. In addition to the determination of each correction value, the measuring machine measures the time between the time when each correction value is determined and the time when the top correction work, which is the first workpiece processed according to the processing conditions affected by each correction value, is measured by the measuring machine. That accumulates multiple measured values measured by the same method by shifting them by the same amount as their respective correction values. That is, in this embodiment, since it is possible to determine a new correction value without waiting for the head correction work to be measured by the measuring machine, it is assumed that the correction value is directly reflected in the measurement value, and By shifting a plurality of measured values of the head correction work (hereinafter referred to as “previous correction work group”) related to the correction value from the timing of determining the value by the same amount as the correction value, and accumulating the same, the previous correction work group Predicts the measured values that would be obtained if it were assumed that each of the workpieces were further processed in accordance with the processing conditions affected by the correction value and that they were immediately measured by the measuring machine. Then, a new correction value is determined based on the measured value. (16) The invention according to any one of (1) to (15) , wherein the first correction value determining means calculates one moving average value based on several set measurement values, and calculates the calculated moving average value. Is regarded as the current measurement value, and the current correction value is determined based on both the error value of the considered current measurement value from the target value and the differential value of the error value or the differential value of the moving average value. Things (claims
5) . Note that the differential value can be determined, for example, as a gradient of a plurality of raw measurement values, moving average values, or error values that are successively acquired from each other when one straight line is approximated. The one straight line can be, for example, a linear regression line. (17) In the invention of (1) to (16) , the first correction value determining means determines a current correction value according to a fuzzy rule based on at least an error value of the current error value and the differential value. A fuzzy operation type to be determined (claim 6) . (18) In the invention according to (17), the second correction value determining means includes:
A fuzzy operation type for determining a current correction value in accordance with a fuzzy rule based on at least an error value between the current error value and the differential value, and the fuzzy rule in the second correction value determination means is a function of the first correction value Different from the fuzzy rules in the decision means. (19) The invention according to (18), wherein the second correction value determining means includes:
The fuzzy rule is different from the fuzzy rule in the first correction value determining means by the first correction value determining means and the second correction value determining means .
When the same input value is given to the correction value determining means, the influence of the input value on the correction value as the output value is made smaller in the second correction value determining means than in the first correction value determining means. What is set. First
In the correction value determination means, it is possible to determine the current error value and the differential value based on a relatively large number of measured values, respectively, while the accuracy of the error value and the differential value is relatively high, In the second correction value determining means, the current error value and the differential value must be determined based on a relatively small number of measured values, and the accuracy of the error value and the differential value becomes relatively low. , than were the same characteristics as the fuzzy rules in the first correction value determining means, second
This is because the accuracy of the correction value determined by the correction value determining means also decreases. (20) The invention according to any one of (1) to (17) , wherein the second correction value determining means determines the current correction value with a magnitude proportional to an error value of a current measurement value from a target value. A proportional control type (P control type) (Claim 7 ). For example, assuming that the current measurement value is X i , the target value is A 0 , the current error value is R i , and the current correction value is U i , U i = K P · (X i −A 0 ) = K P · The current correction value U i can be calculated using the equation R i . Here, “K P ” is a proportional gain. The proportional gain K P can be set to a value of 1 or more, but is preferably set to a value smaller than 1. The determination of the correction value using the above equation is performed without considering the change tendency of the measured value, and if the proportional gain K P is set to a value of 1 or more, the correction value tends to change abruptly. In this embodiment, the second correction value determining means is compared with an embodiment in which a correction value is determined based on an error value and a differential value, and a measurement value required for determining one correction value is determined. The effect is obtained that the number is small and the speed of correction is improved. This is because at least one measured value is required to obtain one error value, while at least two measured values must be present to obtain one differential value. . In this embodiment, the “measured value” does not necessarily need to be a raw measured value, but may be, for example, the moving average value. (21) The invention according to (1) to (17) , wherein the second correction value determining means corrects the current correction value by a magnitude proportional to a time integral value of an error value of a current measurement value from a target value. An integral control type (I control type) for determining a value (claim 8) . For example, the current raw measurement value is X i , the target value is A 0 , and the current error value is R
i , where U i is the current correction value, and U i = K I (1 / T I ) ∫ (X i -A 0 ) dt = K I (1 / T I ) ∫R i dt it is possible to calculate the current correction value U i with. Here, "K I" is the integral gain, "T I" is the integration time. The value of the integral gain K I can also be determined in the same manner as the proportional gain K P. Assuming that the time interval at which each measurement X is obtained is constant,
In the above equation, the term (1 / T I ) · ∫X i dt means the current average value XM i represented by the equation (1 / n) · iX i . Here, “n” means the number of past measurement values X used to obtain one average value XM. Therefore, the current correction value U i can be calculated by using, for example, the following equation: U i = K I · ((1 / n) ΣX i -A 0 ) = K I · (XM i -A 0 ). it can. Also in this embodiment, the second correction value determining means is compared with an embodiment in which a correction value is determined based on an error value and a differential value, and a second correction value determining means determines a correction value required to determine one correction value. The effect is obtained that the number is small and the speed of correction is improved. To obtain one integral value, it is sufficient to have at least two measured values, but to obtain one differential value as a sufficiently reliable value, use a relatively large number of measured values. Because you have to do it. (22) The invention according to (1) to ( 21) , wherein the second correction value determining means uses a proportional-integral control type (20) and an integral control type (21) in combination. (PI control type). In this case, for example, the correction value U can be determined by using the following equation: U i = K P · R i + K I · (1 / T I ) ∫R i dt. Here, “K P ” is a proportional gain, and “K I ” is an integral gain. These values of the gain can also be determined in the same manner as the proportional gain K P and the integral gain K I. In addition, the “ second correction value determining means” in the invention of (1) also includes a proportional control type using both a proportional control type and a differential control type.
A differential control type (PD control type) or a proportional-integral-differential control type (PID control type) in which a proportional control type, an integral control type, and a differential control type are used in combination can also be used. The second correction value determining means can be implemented by adopting only the differential control type. In this case, since the differential control type has the effect of predicting the future of the error, the accuracy of the correction value can be improved in that respect. However, a relatively large number of measured values are required to obtain a differential value with high accuracy, but in some cases, a relatively small number of measured values must be used to obtain a differential value. For example, the reliability of the obtained differential value may be reduced, and the reliability of the correction value determined using the obtained differential value may also be reduced. (23) The invention according to (18) to (22) , wherein the second correction value determining means sets the latest processing condition (that is, the initial value of the processing condition, After the correction value is determined, the first processing is performed according to the latest correction value determined by itself or the processing condition affected by the latest correction value previously determined by the first correction value determining unit. When the head correction work, which is a work, is measured by the measuring machine, the measurement values of the measuring machine start to be sequentially accumulated, and when the number of accumulated measurement values reaches a set number, the measurement of the set number is performed. A new second correction value is determined based on the value. (24) The invention according to (1) , wherein the first correction value determination means and the second correction value determination means operate in parallel,
When the second correction execution condition of (1) to (10) is satisfied, the second correction value determination means determines the second correction value, and supplies the determined second correction value to the processing machine control device. What to do. (25) In the invention of (1), when the second correction execution condition of (1) to (10) is not satisfied, the first correction value determining means and the second correction value determining means When only the first correction value determining means operates and the second correction execution condition is satisfied, only the second correction value determining means operates.

【0017】[0017]

【実施例】以下、本発明を図示の実施例であるフィード
バック式の定寸点補正装置に基づいて具体的に説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be specifically described below based on a feedback type fixed point correction device which is an embodiment shown in the drawings.

【0018】この定寸点補正装置は、自動車のエンジン
のクランクシャフトを加工すべきワークとし、それに予
め形成されている複数のジャーナル面の各々を加工部位
として円筒研削する加工システムと共に使用される。こ
こにクランクシャフトとは、図1に示すように、互いに
同軸的に並んだ7個の外周円筒面(以下単に「円筒面」
という)であるジャーナル面を有するワークである。
This fixed point correction device is used together with a machining system for machining a crankshaft of an automobile engine as a workpiece to be machined, and cylindrical grinding each of a plurality of journal surfaces formed in advance as machining areas. As used herein, the term “crankshaft” refers to, as shown in FIG.
This is a work having a journal surface.

【0019】加工システムは、図2に示すように、加工
ライン,加工機10,2個のインプロセス測定機12
(図には1個として示す),定寸装置14,モータコン
トローラ15,ポストプロセス測定機16,制御装置2
0,補助記憶装置22等から構成されている。すなわ
ち、加工機10が本発明における「加工機」の一例であ
り、定寸装置14およびモータコントローラ15が「加
工機制御装置」の一例であり、ポストプロセス測定機1
6が「測定機」の一例であり、制御装置20が「フィー
ドバック式加工条件補正装置」の一例なのである。以
下、それら各要素について具体的に説明する。
As shown in FIG. 2, the processing system includes a processing line, a processing machine 10 and two in-process measuring machines 12.
(Shown as one in the figure), sizing device 14, motor controller 15, post-process measuring machine 16, control device 2
0, an auxiliary storage device 22 and the like. That is, the processing machine 10 is an example of a “processing machine” in the present invention, the sizing device 14 and the motor controller 15 are an example of a “processing machine control device”, and the post-process measuring machine 1
6 is an example of a “measuring machine”, and the control device 20 is an example of a “feedback processing condition correction device”. Hereinafter, each of those elements will be specifically described.

【0020】加工ラインは、図において矢印付きの太い
実線で表されており、複数のワークが一列に並んで上流
側から下流側に向かって(図において左側から右側に向
かって)搬送されるものである。
The processing line is represented by a thick solid line with an arrow in the figure, and a plurality of works are arranged in a line and transported from upstream to downstream (from left to right in the figure). It is.

【0021】加工機10は、クランクシャフトの7個の
ジャーナル面の各々に対し、加工具としての円形状の砥
石により、円筒研削を行うものである。具体的には、図
3に示すように、複数の砥石が同軸的に並んだ砥石群3
0とクランクシャフトとを接触回転させることにより、
7個のジャーナル面すべてに対して同時に円筒研削を行
うマルチ研削盤である。以下、その構成を簡単に説明す
る。
The processing machine 10 performs cylindrical grinding on each of the seven journal surfaces of the crankshaft with a circular grindstone as a processing tool. Specifically, as shown in FIG. 3, a plurality of grinding wheels 3 are arranged coaxially.
By rotating contact 0 and the crankshaft,
This is a multi-grinding machine that simultaneously performs cylindrical grinding on all seven journal surfaces. Hereinafter, the configuration will be briefly described.

【0022】加工機10は、ワークのためのワークテー
ブル32を備えている。このワークテーブル32は加工
機10の図示しない主フレームに取り付けられている。
ワークテーブル32には、ワークをそれの軸線回りに回
転可能に保持する保持装置(図示しない)とその保持さ
れたワークを回転させるワークモータ34とが設けられ
ている。
The processing machine 10 has a work table 32 for a work. The work table 32 is attached to a main frame (not shown) of the processing machine 10.
The work table 32 is provided with a holding device (not shown) for holding the work rotatably around its axis and a work motor 34 for rotating the held work.

【0023】加工機10はさらに、砥石群30のための
前進・後退テーブル36とスイングテーブル38とを備
えている。前進・後退テーブル36は前記主フレーム
に、前記ワークテーブル32に保持されているワークに
対する直角な方向における往復運動が可能な状態で取り
付けられている。一方、スイングテーブル38は、その
前進・後退テーブル36に、砥石軸線(図において一点
鎖線で示す)上にそれに直交する状態で設定されたスイ
ング軸線(図において紙面に直角な方向に延びる直線)
を中心としたスイングが可能(右回転も左回転も可能)
な状態で取り付けられている。前進・後退テーブル36
の前進・後退は主フレームに固定の前進・後退モータ4
0により、スイングテーブル38のスイングは前進・後
退テーブル36に固定のスイングモータ42によりそれ
ぞれ実現される。すなわち、この加工機10において
は、砥石軸線とワークの回転軸線との成す角度(以下
「切込み角」という)がスイングモータ42により調整
可能なのである。
The processing machine 10 further includes a forward / backward table 36 for the grindstone group 30 and a swing table 38. The forward / backward table 36 is attached to the main frame so as to be capable of reciprocating in a direction perpendicular to the work held on the work table 32. On the other hand, the swing table 38 is provided with a swing axis (a straight line extending in a direction perpendicular to the plane of the paper in the figure) set on the grindstone axis (indicated by a dashed line in the figure) and orthogonal to the swing axis.
Swing around (possible right or left rotation)
It is attached in a state. Forward / retreat table 36
Forward / reverse motor 4 fixed to the main frame
Due to 0, the swing of the swing table 38 is realized by the swing motor 42 fixed to the forward / retreat table 36, respectively. That is, in the processing machine 10, the angle between the grinding wheel axis and the rotation axis of the workpiece (hereinafter referred to as “cutting angle”) can be adjusted by the swing motor 42.

【0024】前記2個のインプロセス測定機12はこの
加工機10に取り付けられている。それらインプロセス
測定機12はそれぞれ、図1に示すように、1個の円筒
面を外周両側から挟む一対の測定子を有し、電気マイク
ロメータ方式によりその円筒面の直径を測定するもので
ある。それらインプロセス測定機12は、7個のジャー
ナル面について個々に用意されているわけではなく、同
図に示すように、両端のジャーナル面、すなわち第1ジ
ャーナル面と第7ジャーナル面(以下「2個の端円筒
面」ともいう)についてのみ用意されている。
The two in-process measuring machines 12 are mounted on the processing machine 10. As shown in FIG. 1, each of these in-process measuring machines 12 has a pair of measuring elements sandwiching one cylindrical surface from both sides of the outer periphery, and measures the diameter of the cylindrical surface by an electric micrometer method. . These in-process measuring machines 12 are not individually prepared for the seven journal surfaces, but as shown in the figure, the journal surfaces at both ends, that is, the first journal surface and the seventh journal surface (hereinafter “2”). (Also referred to as “end cylindrical surface”).

【0025】前記定寸装置14は、図3に示すように、
それらインプロセス測定機12にそれぞれ接続されてい
る。定寸装置14は、CPU,ROM,RAMおよびバ
スを含むコンピュータを主体として構成されていて、図
4に機能ブロック図で概念的に示すように、加工機10
による研削中、2個の端円筒面のそれぞれの直径を各イ
ンプロセス測定機12を介して監視し、それら各端円筒
面における残存切込み量(最終寸法に到達するまでに切
り込むことが必要な量)が各設定量(各端円筒面ごとに
存在する)に到達したときにはその旨の信号(以下「設
定量到達信号」という)を、各最終寸法すなわち各定寸
点(各端円筒面ごとに存在する)に到達したときにはそ
の旨の信号(以下「定寸点到達信号」という)を前記モ
ータコントローラ15に各端円筒面に関連付けてそれぞ
れ出力する。
The sizing device 14 is, as shown in FIG.
Each of these in-process measuring machines 12 is connected. The sizing device 14 is mainly configured by a computer including a CPU, a ROM, a RAM, and a bus. As shown conceptually in FIG.
During grinding by, the respective diameters of the two end cylindrical surfaces are monitored via the respective in-process measuring devices 12 and the remaining depth of cut at each of these end cylindrical surfaces (the amount required to cut until reaching the final dimension) ) Reaches each set amount (existing for each end cylindrical surface), a signal to that effect (hereinafter referred to as “set amount reaching signal”) is sent to each final dimension, that is, each fixed point (for each end cylindrical surface). When it arrives, a signal to that effect (hereinafter referred to as a "fixed point arrival signal") is output to the motor controller 15 in association with each end cylindrical surface.

【0026】定寸装置14はまた、各定寸点の補正が可
能に設計されている。具体的には、前記制御装置20か
ら各補正値U(各端円筒面ごとに存在する)が供給され
れば、現在の各定寸点にその各補正値Uを加算すること
によって現在の各定寸点を変更し、供給されなければ現
在の各定寸点をそのままに維持するように設計されてい
る。すなわち、定寸装置14は、制御装置20により定
寸点が自動補正されるようになっているのである。定寸
装置14はまた、図2に示すように、キーボード50に
より作業者からの指令,情報等が入力されるようにも設
計されている。
The sizing device 14 is also designed so that each sizing point can be corrected. Specifically, when each correction value U (existing for each end cylindrical surface) is supplied from the control device 20, the current correction value U is added to the current fixed size point to thereby obtain the current correction value U. It is designed to change the sizing points and keep each current sizing point intact if not supplied. That is, the sizing device 14 is configured so that the sizing point is automatically corrected by the control device 20. The sizing device 14 is also designed so that commands, information, and the like from an operator are input by a keyboard 50 as shown in FIG.

【0027】前記モータコントローラ15は図3に示す
ように、それら定寸装置14,前進・後退モータ40等
に接続されている。モータコントローラ15は、作業者
からの指令や定寸装置14からの信号等に基づき、前進
・後退モータ40等を制御する。
As shown in FIG. 3, the motor controller 15 is connected to the sizing device 14, the forward / backward motor 40, and the like. The motor controller 15 controls the forward / backward motor 40 and the like based on a command from an operator, a signal from the sizing device 14, and the like.

【0028】ところで、加工機10は、粗研,精研,ス
パークアウト等のいくつかの段階を順に経て一回の円筒
研削を終了する。粗研は、前記残存切込み量が前記設定
量に達するまで実行され、精研は、直径が前記定寸点に
達するまで実行される。定寸装置14から各端円筒面ご
とに供給されるべき2個の設定量到達信号はその供給時
期が一致しないのが普通であり、モータコントローラ1
5は、粗研段階では、信号供給時期の不一致量に応じて
前進・後退モータ40およびスイングモータ42を制御
し、これにより、前記切込み角を適正に制御する。ま
た、精研においては、それに先立つ粗研において切込み
角が適正となっているはずであるから、モータコントロ
ーラ15は、前進・後退モータ40のみを運転させるこ
とにより、砥石群30のワークへの切込みを続行し、2
個の端円筒面のいずれかについてでも定寸点到達信号が
供給されれば、前進・後退モータ40を停止させ、スパ
ークアウトを行った後に、前進・後退モータ40を逆回
転させることにより砥石群30をワークから後退させ
る。
By the way, the processing machine 10 completes one round of cylindrical grinding through several stages such as rough grinding, fine grinding, spark-out, and the like. The rough grinding is performed until the remaining depth of cut reaches the set amount, and the fine grinding is performed until the diameter reaches the fixed size point. Generally, the two set amount reaching signals to be supplied from the sizing device 14 for each end cylindrical surface have different supply timings, and the motor controller 1
5 controls the forward / backward motor 40 and the swing motor 42 in accordance with the amount of mismatch of the signal supply timing in the rough grinding stage, thereby appropriately controlling the cutting angle. In the fine grinding, the cutting angle should be appropriate in the rough grinding preceding the fine grinding. Therefore, the motor controller 15 drives only the forward / reverse motor 40 to cut the grinding wheel group 30 into the workpiece. Continue, 2
If a fixed point arrival signal is supplied to any of the end cylindrical surfaces, the forward / reverse motor 40 is stopped, and after performing spark-out, the forward / reverse motor 40 is rotated in the reverse direction. 30 is retracted from the work.

【0029】前記ポストプロセス測定機16は、図2に
示すように、加工ラインの、加工機10の下流側に配置
されている。ポストプロセス測定機16は、1個のワー
クにおける円筒面の数と同数設けられており、前記イン
プロセス測定機12と同じ方式により、加工機10から
搬出されたワークすべてについて順に、円筒面すべてに
ついて個々に直径を測定する。このポストプロセス測定
機16が前記制御装置20の入力側に接続されている。
As shown in FIG. 2, the post-process measuring machine 16 is disposed on the processing line downstream of the processing machine 10. The post-process measuring machines 16 are provided in the same number as the number of cylindrical surfaces in one work. In the same manner as the in-process measuring machine 12, all the works carried out from the processing machine 10 are sequentially processed, and all the cylindrical surfaces are processed. Measure the diameter individually. This post-process measuring device 16 is connected to the input side of the control device 20.

【0030】前記制御装置20は、CPU,ROM,R
AMおよびバスを含むコンピュータを主体として構成さ
れており、そのROMにおいて定寸点補正ルーチンおよ
び手動補正ルーチンを始めとする各種プログラムを予め
記憶させられている。定寸点補正ルーチンは図5〜10
にフローチャートで表されており、測定値Xに基づいて
定寸点を自動的に補正するルーチンであり、これに対
し、手動補正ルーチンは図示を省略されているが、作業
者からの手動補正指令に応じて起動する割込みルーチで
あって、作業者の操作に基づいて定寸点を補正するルー
チンである。また、制御装置20は、前記補助記憶装置
22にも接続されていて、ポストプロセス測定機16か
ら入力された測定値X,それに基づいて決定した補正値
U等をすべて保存するように設計されている。一連の加
工の終了後に作業者がその加工状況を診断する際などに
使用するためである。なお、RAMには、後述の補正値
演算用メモリ,補正反映情報演算用メモリ,積分制御用
メモリ等の各種メモリや、後述の補正反映前フラグ等の
各種フラグが設けられている。
The control device 20 includes a CPU, a ROM, an R
The computer mainly includes an AM and a bus, and various programs including a fixed point correction routine and a manual correction routine are stored in the ROM in advance. The fixed point correction routine is shown in FIGS.
Is a routine for automatically correcting the fixed point based on the measured value X. On the other hand, although a manual correction routine is not shown, a manual correction command from an operator is provided. This is a routine that is started in accordance with the routine, and is a routine for correcting the fixed size point based on the operation of the operator. The control device 20 is also connected to the auxiliary storage device 22 and is designed to store all of the measured value X input from the post-process measuring device 16 and the correction value U determined based on the measured value X. I have. This is for use when the operator diagnoses the processing status after a series of processing is completed. The RAM is provided with various memories such as a memory for correction value calculation, a memory for correction reflection information calculation, and a memory for integration control, and various flags such as a flag before correction reflection described later.

【0031】制御装置20は、定寸点補正ルーチンの実
行により、図4に機能ブロック図で概念的に示すよう
に、ポストプロセス測定機16による測定値Xをフィー
ドバックすることにより、加工機10により次に加工さ
れるべきワークについての定寸点の補正値Uを決定す
る。補正値Uは、定寸点の変更量を表す相対的な物理量
であって、現在の定寸点との和によって次の定寸点を表
す。前記加工システムにおいては、加工機10とポスト
プロセス測定機16との間にそのポストプロセス測定機
16による寸法測定を待つワークが少なくとも1個存在
する。そのため、制御装置20は、補正値Uが入力信
号、寸法情報が出力信号であるとともにそれら入力信号
と出力信号との間にむだ時間MSが存在する制御システ
ムを想定し、フィードバック式で定寸点を補正する。す
なわち、本実施例においては、定寸点が本発明における
「加工条件」の一態様なのである。
By executing the fixed point correction routine, the control device 20 feeds back the measured value X by the post-process measuring device 16 as conceptually shown in a functional block diagram in FIG. Next, the correction value U of the fixed point for the work to be processed is determined. The correction value U is a relative physical quantity representing a change amount of the fixed size point, and represents the next fixed size point by the sum with the current fixed size point. In the processing system, there is at least one workpiece between the processing machine 10 and the post-process measuring machine 16 which waits for dimension measurement by the post-process measuring machine 16. Therefore, the control device 20 assumes a control system in which the correction value U is an input signal, the dimension information is an output signal, and a dead time MS exists between the input signal and the output signal. Is corrected. That is, in the present embodiment, the fixed size point is one aspect of the “processing condition” in the present invention.

【0032】この制御装置20における処理の流れを簡
単に説明すれば、図11に示すようになる。
The flow of processing in the control device 20 will be briefly described as shown in FIG.

【0033】まず、第1ステップST1として、ポスト
プロセス測定機16から測定値Xが入力され、続いて、
第2ステップST2として、その入力された測定値Xに
基づいて補正値Uが決定され、さらに、第3ステップS
T3として、その決定された補正値Uが定寸装置14に
対して送信される。
First, as a first step ST1, a measured value X is inputted from the post-process measuring machine 16, and subsequently,
As a second step ST2, a correction value U is determined based on the input measurement value X, and further a third step S2 is performed.
As T3, the determined correction value U is transmitted to the sizing device 14.

【0034】なお、この制御装置20には、ワークの7
個のジャーナル面すべてについて個々に測定値Xが入力
されるが、基本的には、第1ジャーナル面および第7ジ
ャーナル面のそれぞれの測定値X、すなわち、各端円筒
面の測定値Xに基づいて、前記定寸装置14における各
端円筒面に対応する補正値Uがそれぞれ決定される。
It should be noted that the control device 20 includes a work 7
The measurement values X are individually input for all the journal surfaces, but basically, based on the measurement values X of the first and seventh journal surfaces, that is, the measurement values X of the end cylindrical surfaces. Thus, a correction value U corresponding to each cylindrical surface of the sizing device 14 is determined.

【0035】第2ステップST2においては、補正値U
を決定するための制御方式として主制御としてのファジ
ィ制御FCと補助制御としての積分制御ICとが併用さ
れ、原則的には主制御としてのファジィ制御FCによっ
て補正値Uが決定され、積分制御実行条件が成立した場
合に限り、積分制御ICによって補正値Uが決定され
る。以下、それらファジィ制御FCおよび積分制御IC
の内容を説明する。
In the second step ST2, the correction value U
The fuzzy control FC as the main control and the integral control IC as the auxiliary control are used together as a control method for determining the control value. In principle, the correction value U is determined by the fuzzy control FC as the main control, and the integral control is executed. Only when the condition is satisfied, the correction value U is determined by the integral control IC. Hereinafter, the fuzzy control FC and the integral control IC will be described.
Will be described.

【0036】まず、ファジィ制御FCについて説明す
る。ファジィ制御FCは、図11に示すように、隣接間
ばらつき除去FC1,両端直径補正FC2,寸法情報取
得FC3,ファジィ演算FC4および連続性考慮FC5
を含む複数の処理を順に実行することによって行われ
る。以下、それら各処理の内容を説明する。まず、隣接
間ばらつき除去FC1について説明する。この隣接間ば
らつき除去FC1においては、入力された測定値Xから
隣接間ばらつきを除去するために、今回までに取得され
た測定値Xに対して移動平均値Pが算出される。測定値
Xからポストプロセス測定機16から出力される毎に測
定値Xが前記補正値演算用メモリに蓄積され、それに蓄
積された複数の測定値Xに基づいて移動平均値Pが算出
されるのである。移動平均値Pも補正値演算用メモリに
蓄積される。
First, the fuzzy control FC will be described. As shown in FIG. 11, the fuzzy control FC includes an inter-adjacent variation removal FC1, a diameter correction FC2 at both ends, a dimension information acquisition FC3, a fuzzy operation FC4, and a continuity consideration FC5.
Is performed by sequentially executing a plurality of processes including Hereinafter, the contents of each of these processes will be described. First, the inter-adjacent variation removal FC1 will be described. In the inter-adjacent variation removal FC1, a moving average value P is calculated with respect to the measured values X acquired so far in order to remove inter-adjacent variations from the input measured value X. Each time the measured value X is output from the post-process measuring device 16, the measured value X is stored in the correction value calculation memory, and the moving average value P is calculated based on the plurality of measured values X stored therein. is there. The moving average value P is also stored in the correction value calculation memory.

【0037】具体的に説明すれば、測定値Xはポストプ
ロセス測定機16により時系列データとして取得され、
多くの隣接間ばらつきを含んでいる。そこで、本実施例
においては、隣接間ばらつきを除去してワークの真の寸
法を推定するために、今回の測定値Xおよび前回までに
取得された最新の少なくとも1個の測定値Xにつき、重
み付きの移動平均値Pが算出され、それが測定値Xの真
の値として使用される。
More specifically, the measured value X is obtained as time-series data by the post-process measuring device 16,
Many inter-adjacent variations are included. Therefore, in the present embodiment, in order to estimate the true dimension of the workpiece by removing the variation between the adjacent portions, the weight is applied to the current measurement value X and the latest at least one measurement value X obtained up to the previous time. A moving average value P with a mark is calculated and used as a true value of the measured value X.

【0038】この移動平均値Pは、次のようにして算出
される。すなわち、今回までに取得された最新のK(2
以上の固定値)個の測定値Xに基づき、次式(K=5の
場合)で表される如き計算式を用いて今回の移動平均値
i が算出されるのである。
The moving average value P is calculated as follows. That is, the latest K (2
Based on the (fixed value) measured values X described above, the current moving average value Pi is calculated using a calculation formula represented by the following formula (when K = 5).

【0039】[0039]

【数1】 (Equation 1)

【0040】ここに「i」は、ポストプロセス測定機1
6により測定されたワークの数(以下「測定ワーク数」
という)を表す。
Here, “i” indicates the post-process measuring machine 1
6 (hereinafter referred to as "number of workpieces")
).

【0041】また、「bi-4 」〜「bi 」が、今回の移
動平均値Pi の算出に必要な測定値Xの数(=K)と同
数の重み係数である。
Further, “b i−4 ” to “b i ” are the same number of weighting factors as the number (= K) of the measured values X necessary for calculating the current moving average value P i .

【0042】次に、両端直径補正FC2について説明す
る。この制御装置20が接続される加工システムにおい
ては、前述のように、ワークの全円筒面のうちの2個の
端円筒面の直径にのみ基づいて砥石群30が作動させら
れる。そのため、2個の端円筒面の測定値Xのみを考慮
し、それ以外の円筒面の測定値Xを考慮しないで定寸点
を補正する場合には、各円筒面の加工精度がそれの全体
において十分に均一にならない場合がある。
Next, the end diameter correction FC2 will be described. In the machining system to which the control device 20 is connected, as described above, the grindstone group 30 is operated based only on the diameter of two end cylindrical surfaces of the entire cylindrical surface of the work. Therefore, when the fixed point is corrected without considering the measured values X of the two end cylindrical surfaces and without considering the measured values X of the other cylindrical surfaces, the processing accuracy of each cylindrical surface is determined by the overall accuracy. May not be sufficiently uniform.

【0043】そこで、本実施例においては、この問題を
解決するために次のような技術が採用されている。すな
わち、図12にグラフで概念的に示すように、ワークに
おける各円筒面の軸方向位置(図に「1J」〜「7J」
で表す)と各円筒面の直径(すなわち、移動平均値P)
とが比例関係にあると仮定し、2個の端円筒面の測定値
Xをそれぞれ補正するという両端直径補正FC2という
処理が採用されているのである。
Therefore, in the present embodiment, the following technique is adopted to solve this problem. That is, as conceptually shown in the graph of FIG. 12, the positions of the cylindrical surfaces of the workpiece in the axial direction ("1J" to "7J"
) And the diameter of each cylindrical surface (ie, moving average value P)
Is assumed to be in a proportional relationship, and a process called a both-ends diameter correction FC2 of correcting the measured values X of the two end cylindrical surfaces, respectively, is adopted.

【0044】この両端直径補正FC2の一具体例は、次
のようである。すなわち、両端直径補正計算式として、
A specific example of the end diameter correction FC2 is as follows. That is, as a formula for correcting the diameter at both ends,

【0045】[0045]

【数2】 (Equation 2)

【0046】なる式、すなわち、1次回帰線を表す式が
採用され、これを用いることにより、各端円筒面の移動
平均値Pi の修正値P’i が算出されるのである。ただ
し、 j :ジャーナル面の番号(第1ジャーナル面から第
7ジャーナル面に向かって1から7まで付されている) jM :7個のjの値の平均値 P’ij:i番目のワークのj番目のジャーナル面の移動
平均値Pの修正値 P ij:i番目のワークのj番目のジャーナル面の移動
平均値Pの計算値 PMi :i番目のワークの、7個の移動平均値Pの計算
値の平均値
The following equation, that is, an equation representing the first-order regression line, is used, and by using this equation, the correction value P ′ i of the moving average value P i of each end cylindrical surface is calculated. Here, j: number of the journal surface (numbered from 1 to 7 from the first journal surface to the seventh journal surface) jM: average value of seven j values P ′ ij : of the i-th work Corrected value P ij of the moving average value P of the j-th journal surface: Calculated value of the moving average value P of the j-th journal surface of the ith work PM i : Seven moving average values P of the ith work Of calculated values of

【0047】具体的には、第1ジャーナル面について
は、上記式の「j」に1を代入することによって、移動
平均値Pi1の修正値P’i1が取得され、また、第7ジャ
ーナル面については、「j」に7を代入することによっ
て、移動平均値Pi7の修正値P’i7が取得される。
[0047] Specifically, for the first journal surface, by substituting 1 into "j" in the above formula, corrected value P 'i1 of moving average P i1 is obtained, The seventh journal surface for, by substituting the 7 to "j", the correction value P 'i7 of moving average P i7 is obtained.

【0048】なお、本実施例においては、この両端直径
補正FC2の実行の許否が作業者によって指令されるよ
うになっている。
In this embodiment, whether or not to execute the end-to-end diameter correction FC2 is instructed by an operator.

【0049】次に、寸法情報取得FC3について説明す
る。この寸法情報取得FC3においては、1個の補正値
Uを決定する際に用いられる寸法情報として、移動平均
値Pとワークの加工寸法の目標値A0 との差である誤差
値Rとその誤差値Rの微分値Tとがそれぞれ算出され
る。なお、正確には、微分値Tは移動平均値Pの微分値
として算出される。このように誤差値R以外のパラメー
タにも基づいて補正値Uを決定することとしたのは、誤
差値Rのみに基づいて補正値Uを決定する場合より、そ
れの微分値Tにも基づいて補正値Uを決定する場合の方
が、加工機10,測定値12,16等の実際の状態をよ
り正確に推定することができ、定寸点の補正精度が向上
するからである。
Next, the dimension information acquisition FC3 will be described. In this dimension information acquisition FC3, 1 pieces of the dimensional information used in determining the correction value U, the error value R and the error is the difference between the target value A 0 of the working dimension of the moving average P and the workpiece A differential value T of the value R is calculated. Note that, more accurately, the differential value T is calculated as a differential value of the moving average value P. The reason for determining the correction value U based on parameters other than the error value R in this way is that the correction value U is determined based on the differential value T of the correction value U rather than when the correction value U is determined based only on the error value R. This is because when the correction value U is determined, the actual state of the processing machine 10, the measured values 12, 16 and the like can be more accurately estimated, and the correction accuracy of the fixed size point is improved.

【0050】微分値Tは次のようにして算出される。微
分値Tは、図13にグラフで概念的に示すように、原則
として、今回取得された移動平均値Pおよび前回までに
取得された最新の少なくとも1個の移動平均値P(ただ
し、両端直径補正指令が出されている場合には両端直径
補正の影響が加えられたもの)から成るL(2以上の固
定値)個の移動平均値Pが測定ワーク数iの増加に対し
てほぼ比例すると仮定し、それらL個の移動平均値Pが
適合する1次回帰線を特定し、それの勾配を微分値T
(1次回帰線の傾きをθラジアンとした場合のtan θに
一致する)として取得される。具体的には、1次回帰線
の式として、例えば、
The differential value T is calculated as follows. As shown conceptually in the graph of FIG. 13, the differential value T is, in principle, the moving average value P acquired this time and at least one latest moving average value P acquired up to the previous time (however, When the correction command is issued, the moving average value P of L (fixed value of 2 or more) composed of those to which the influence of the diameter correction at both ends is added is almost proportional to the increase of the number i of the measured workpieces. Assuming that a linear regression line to which the L moving average values P fit is specified, the gradient thereof is calculated by the differential value T
(Equivalent to tan θ when the inclination of the primary regression line is θ radian). Specifically, as an equation of the linear regression line, for example,

【0051】[0051]

【数3】 (Equation 3)

【0052】なる式が採用される。ただし、 iM :L個のiの値の平均値 P’i :i番目のワークの移動平均値Pの修正値 Pi :i番目のワークの移動平均値Pの計算値(ただ
し、両端直径補正指令が出されている場合には両端直径
補正の影響が加えられたもの) PMi :L個の移動平均値Pの計算値の平均値 そして、
The following equation is adopted. Here, iM: average value of L i values P ′ i : corrected value of moving average value P of i-th work P i : calculated value of moving average value P of i-th work (however, both ends diameter correction If a command has been issued, the influence of the diameter correction at both ends is added.) PM i : average value of the calculated values of L moving average values P and

【0053】[0053]

【数4】 (Equation 4)

【0054】の値が、微分値Tとなる。Is the differential value T.

【0055】次に、ファジィ演算FC4について説明す
る。このファジィ演算FC4においては、上記の寸法情
報に基づき、ファジィ推論を用いて補正値Uを演算する
ファジィ演算が行われる。本実施例においては、誤差値
Rおよび微分値Tをそれぞれ入力変数としたファジィ推
論が採用されている。そのため、制御装置20のROM
にはファジィ推論のためのデータも予め記憶させられて
いる。ファジィ推論のためのデータとは具体的に、(a)
推論プログラム,(b) 誤差値R,微分値Tおよび補正値
Uの各々に関する複数のメンバーシップ関数,(c) それ
ら誤差値R,微分値Tおよび補正値U相互の関係を規定
する複数のファジィルール等である。
Next, the fuzzy operation FC4 will be described. In the fuzzy calculation FC4, a fuzzy calculation for calculating the correction value U using fuzzy inference is performed based on the above-mentioned dimensional information. In this embodiment, fuzzy inference using the error value R and the differential value T as input variables is adopted. Therefore, the ROM of the control device 20
Also stores data for fuzzy inference in advance. Specifically, the data for fuzzy inference are (a)
An inference program, (b) a plurality of membership functions for each of the error value R, the differential value T, and the correction value U; Rules.

【0056】誤差値Rについては、それが負から正に向
かって増加するにつれて『NB』,『NM』,『N
S』,『ZO』,『PS』,『PM』および『PB』に
順に変化する7個のファジィラベルが用意されており、
それぞれのメンバーシップ関数は図14にグラフで表さ
れるようになっている。
As for the error value R, as it increases from negative to positive, "NB", "NM", "N
There are seven fuzzy labels that change in the order of "S", "ZO", "PS", "PM" and "PB".
Each membership function is represented by a graph in FIG.

【0057】微分値Tについては、それが負から正に向
かって増加するにつれて『NB』,『NS』,『Z
O』,『PS』および『PB』に順に変化する5個のフ
ァジィラベルが用意されており、それぞれのメンバーシ
ップ関数は図15にグラフで表されるようになってい
る。
As for the differential value T, as it increases from negative to positive, “NB”, “NS”, “Z”
Five fuzzy labels which sequentially change to "O", "PS" and "PB" are prepared, and their membership functions are represented by a graph in FIG.

【0058】補正値Uについては、それが負から正に向
かって増加するにつれて『NB』,『NM』,『N
S』,『ZO』,『PS』,『PM』および『PB』に
順に変化する7個のファジィラベルが用意されており、
それぞれのメンバーシップ関数は図16にグラフで表さ
れるようになっている。なお、補正値Uが増加すれば定
寸点が高くなってクランクシャフトのジャーナル部が大
径化され、逆に、補正値Uが減少すれば定寸点が低くな
ってジャーナル部が小径化されることになる。ファジィ
ルール群の内容を表1に示す。
As for the correction value U, as it increases from negative to positive, "NB", "NM", "N
There are seven fuzzy labels that change in the order of "S", "ZO", "PS", "PM" and "PB".
Each membership function is represented by a graph in FIG. When the correction value U increases, the sizing point increases and the journal portion of the crankshaft increases in diameter. Conversely, when the correction value U decreases, the sizing point decreases and the journal portion decreases in diameter. Will be. Table 1 shows the contents of the fuzzy rule group.

【0059】[0059]

【表1】 [Table 1]

【0060】ファジィルールの一例は、表1から明らか
なように、 If R=NB and T=NS then U=PB である。このファジィルール群の設計思想について説明
する。このファジィルール群は、誤差値Rのファジィラ
ベルが増加する(以下「誤差値Rが増加する」という。
他のファジィ変数についても同じとする)につれて補正
値Uが減少するのは勿論、微分値Tが増加するにつれて
補正値Uが減少するように設計されている。
One example of the fuzzy rule is, as apparent from Table 1, If R = NB and T = NS then U = PB. The design concept of this fuzzy rule group will be described. In this fuzzy rule group, the fuzzy label of the error value R increases (hereinafter referred to as “the error value R increases”).
It is designed such that the correction value U decreases as the differential value T increases, as well as the correction value U decreases as the same applies to other fuzzy variables.

【0061】そして、このことは具体的に、例えば表1
のファジィルール表において次のように現れている。す
なわち、例えば、微分値Tが『NS』である場合には、
誤差値Rが増加するにつれて補正値Uが『PB』,『P
M』,『PS』,『ZO』,『ZO』,『NS』および
『NM』の順に減少し、また、誤差値Rが『NM』であ
る場合には、微分値Tが『NS』,『ZO』および『P
S』の順に増加するにつれて補正値Uが『PM』,『P
M』,『PS』と減少するのである。
This is specifically described in, for example, Table 1.
Appears in the fuzzy rule table as follows. That is, for example, when the differential value T is “NS”,
As the error value R increases, the correction value U becomes “PB”, “PB”.
M ”,“ PS ”,“ ZO ”,“ ZO ”,“ NS ”, and“ NM ”, and when the error value R is“ NM ”, the differential value T becomes“ NS ”, "ZO" and "P
S, the correction value U increases as “PM” and “P”
M ”and“ PS ”.

【0062】インプロセス測定機12は何らかの事情で
故障することがあり、この場合にはそれの測定精度が急
にかつ大きく低下し、ワークの寸法精度も急に大きく低
下することになる。それにもかかわらずインプロセス測
定機12が正常であるとして補正値Uを決定すると、ワ
ークの実際の寸法精度が許容公差範囲から逸脱してしま
う恐れがある。
The in-process measuring device 12 may fail for some reason. In this case, the measurement accuracy of the in-process measuring device 12 is suddenly and greatly reduced, and the dimensional accuracy of the work is also greatly reduced. Nevertheless, if the in-process measuring device 12 determines that the correction value U is normal, the actual dimensional accuracy of the work may deviate from the allowable tolerance range.

【0063】このような事情に鑑み、各ファジィルール
群は、ポストプロセス測定機16による測定値Xが急に
減少してかなり小さくなった場合と、急に増加してかな
り大きくなった場合とにはそれぞれ、補正量Uが十分に
0に近づくようにも設計されている。このようにすれ
ば、インプロセス測定機12が故障した場合には、それ
からの出力信号が無視されて前回までの定寸点が今回も
適当であるとして加工が行われるから、インプロセス測
定機12の故障の影響をそれほど強く受けることなくワ
ークの寸法精度を高く維持することが可能となる。
In view of such circumstances, each fuzzy rule group is divided into a case where the measured value X measured by the post-process measuring device 16 suddenly decreases and becomes considerably small, and a case where the measured value X suddenly increases and becomes considerably large. Are designed such that the correction amount U approaches 0 sufficiently. In this way, if the in-process measuring device 12 breaks down, the output signal from the in-process measuring device 12 is ignored, and the machining is performed on the assumption that the fixed point up to the previous time is appropriate this time. It is possible to maintain a high dimensional accuracy of the work without being strongly affected by the failure of the work.

【0064】このことは具体的に、例えば表1のファジ
ィルール表において次のように現れている。すなわち、
誤差値Rが『NB』または『NM』であり、かつ、微分
値Tが『NB』である場合と、誤差値Rが『PM』また
は『PB』であり、かつ、微分値Tが『PB』である場
合とにはそれぞれ、補正値Uが『ZO』となっているの
である。
This is specifically shown as follows in the fuzzy rule table of Table 1, for example. That is,
When the error value R is “NB” or “NM” and the differential value T is “NB”, the error value R is “PM” or “PB” and the differential value T is “PB”. ], The correction value U is "ZO".

【0065】また、このファジィ演算FC4において
は、むだ時間MSの存在にもかかわらず補正値Uを精度
よく決定するために、補正値決定の方式として第1の補
正値決定方式と第2の補正値決定方式とが採用されてい
る。
In the fuzzy calculation FC4, the first correction value determination method and the second correction value determination method are used to determine the correction value U with high accuracy despite the presence of the dead time MS. A value determination method is adopted.

【0066】第1の補正値決定方式においては、図17
に示すように、ポストプロセス測定機16による測定値
Xが逐次蓄積され、蓄積された測定値Xの数が設定数個
以上になったときに、それら蓄積された設定数個の測定
値Xに基づき、加工機10により次に加工されるべきワ
ークの定寸点の補正値Uが決定される。さらに、この方
式においては、決定された最新の補正値Uの影響を受け
た定寸点に従って最初に加工されたワークである先頭補
正ワークがポストプロセス測定機16により測定される
毎に、その測定開始時から測定値Xの蓄積が無蓄積状態
から再開され、蓄積された設定数個の測定値Xに基づい
て新たな補正値Uが決定される。
In the first correction value determination method, FIG.
As shown in the figure, the measured values X by the post-process measuring device 16 are sequentially accumulated, and when the number of accumulated measured values X becomes equal to or more than a set number, the stored set measured values X are Based on this, the correction value U of the fixed size point of the work to be processed next by the processing machine 10 is determined. Further, in this method, every time the post-process measuring machine 16 measures the head correction work, which is the work first processed according to the fixed size point affected by the determined latest correction value U, the measurement is performed. From the start, the accumulation of the measured values X is restarted from the non-accumulated state, and a new correction value U is determined based on the stored set several measured values X.

【0067】また、本実施例においては、作業者からの
指令に応じ、上記の補正である主補正に後続して補助補
正を行うことが可能とされている。本来であれば互いに
隣接した2回の主補正の間には全く補正が行われないは
ずであるが、主補正の精度を向上させる意味において、
ある回の主補正の直後に一定期間に限り、補正値演算用
メモリをクリアすることなく補正値決定が続行されるの
である。
In this embodiment, it is possible to perform an auxiliary correction following the main correction, which is the above correction, in response to a command from an operator. Originally, no correction should be performed between two main corrections adjacent to each other, but in the sense of improving the accuracy of the main correction,
The correction value determination is continued without clearing the correction value calculation memory only for a certain period immediately after the main correction of a certain time.

【0068】ここにおいて、「主補正」は、測定値Xを
逐次蓄積し、蓄積された測定値Xの数が設定数個となっ
たときに、蓄積された設定数個の測定値Xに基づいて今
回の暫定補正値UP を決定し、それをそのまま最終補正
値UF とするものである。
Here, the "main correction" is to sequentially accumulate the measured values X and, when the number of the accumulated measured values X reaches the set number, based on the accumulated set measured values X. Thus, the current provisional correction value UP is determined, and is used as it is as the final correction value U F.

【0069】これに対し、「補助補正」は、その主補正
の終了後にも測定値Xの蓄積を続行し、新たな測定値X
が取得される毎に、補正値演算用メモリに蓄積されてい
る複数の測定値Xのうち最新の設定数個の測定値Xに基
づき、主補正におけると同じ規則に従って各回の暫定補
正値UP を決定し、その決定した各回の暫定補正値U P
から前回の暫定補正値UP を引いたものを各回の最終補
正値UF に決定するものである。この補助補正において
は、主補正におけると同様な規則に従って決定された補
正値Uである暫定補正値UP がそのまま定寸装置14に
送信されず、前回の暫定補正値UP からの差として供給
されるようになっているが、以下、この理由を説明す
る。
On the other hand, the “auxiliary correction” is the main correction.
The accumulation of the measured value X is continued even after the end of
Each time is acquired, the data stored in the correction value calculation memory
Out of a plurality of measured values X
Therefore, each provisional supplement is made according to the same rules as in the main amendment.
Positive value UPIs determined, and the provisional correction value U for each determined time is determined. P
From the previous provisional correction value UPMinus the final supplement for each round
Positive value UFIt is decided to. In this auxiliary correction
Is the compensation determined according to the same rules as in the main amendment.
Provisional correction value U that is positive value UPDirectly to the sizing device 14
Not transmitted, the previous provisional correction value UPSupply as difference from
The reason is explained below.
You.

【0070】補助補正においては、本来であれば、それ
に先立って行われる主補正の影響を受けたワークの測定
値Xに基づいて最終補正値UF が決定されるべきであ
る。しかし、主補正の影響を受けたワークが、加工直後
にポストプロセス測定機16により測定されるとは限ら
ず、いくつか別のワークの測定を経た後にはじめて測定
される場合もある。そこで、本実施例においては、主補
正の影響が重複して、次に加工されるべきワークに対応
する定寸点に反映されてしまわないように、主補正に係
る先頭補正ワークより1回だけ先に加工されたワークに
ついて測定が終了する時期以前まで、各回の測定値Xに
基づいて主補正におけると同じ規則に従って決定した補
正値Uが暫定補正値UP とされ、それから主補正の最終
補正値UFの影響が除去されたものが最終補正値UF
されている。以上、主補正と補助補正との関係について
説明したが、補助補正におけるある回とその次の回との
関係についても同様である。
In the auxiliary correction, the final correction value U F should be determined based on the measured value X of the work affected by the main correction performed prior to the auxiliary correction. However, the work affected by the main correction is not always measured by the post-process measuring device 16 immediately after processing, and may be measured only after measuring some other work. Therefore, in the present embodiment, the effect of the main correction is performed only once from the head correction work related to the main correction so that the influence of the main correction does not overlap and be reflected on the fixed size point corresponding to the work to be processed next. for processed into previously workpiece until such time prior to end measurement, correction values U determined according to the same rules as in the main correction based on each time of measurement X is a provisional correction value U P, then the final correction in the main correction The value from which the influence of the value U F has been removed is defined as the final correction value U F. The relationship between the main correction and the auxiliary correction has been described above, but the same applies to the relationship between one round and the next round in the auxiliary correction.

【0071】また、本実施例においては、ある回の主補
正に後続する補助補正の実行回数が制限されている。す
なわち、一連の補助補正における最終補正値UF の決定
回数が測定され、その測定された決定回数が設定値に達
したときにその一連の補助補正が終了するようにされて
いるのである。
Further, in the present embodiment, the number of executions of the auxiliary correction subsequent to a certain main correction is limited. That is, the number of determinations of the final correction value U F in a series of auxiliary compensation is measured, the series of auxiliary compensation is what is to be terminated when the measured determined count has reached the set value.

【0072】しかし、このようにしただけでは、主補正
および補助補正の実行時期が測定値Xの変動時期に十分
には合致せず、主補正および補助補正が本当に必要な時
期に実行されないことがある。このような事態を回避す
るため、本実施例においては、作業者からの指令に応
じ、一連の補助補正における最終補正値UF の決定回数
が設定値に達したときに、主補正およびその一連の補助
補正のうち少なくともその一連の補助補正において決定
された複数の最終補正値UF の和が実質的に0でない場
合には、その一連の補助補正を終了するが、実質的に0
である場合には、少なくとも今回の補助補正の実行時期
が適当ではなかったと推定されるから、今回の補助補正
を続行するとともに最終補正値UF の決定回数の測定を
0から再開するようにされている。
However, only by doing so, the execution time of the main correction and the auxiliary correction does not sufficiently coincide with the fluctuation time of the measured value X, and the main correction and the auxiliary correction are not executed at the time when they are really needed. is there. To avoid such a situation, in the present embodiment, according to a command from the operator, when the number of determinations of the final correction value U F in a series of auxiliary compensation has reached the set value, the main correction and the series when at least the sum of the plurality of final correction value U F determined in the series of auxiliary compensation of the auxiliary compensation is not substantially zero, but terminates the series of auxiliary compensation, substantially 0
If it is because it is estimated that execution timing of at least current additional correction was not adequate, the measurement of the number of determinations of the final correction value U F with continuing the current additional correction to resume from 0 ing.

【0073】そして、本実施例においては、補正値決定
の方式として、主補正のみで補助補正を行わない方式と
主補正のみならず補助補正をも行う方式とのいずれかが
作業者の指令に応じて選択されるようになっている。す
なわち、補助補正指令が出されれば後者の方式が選択さ
れ、出されなければ前者の方式が選択されるようになっ
ているのである。また、その補助補正の方式として、補
助補正の続行を行う方式と行わない方式とのいずれかが
作業者の指令に応じて選択されるようにもなっている。
In this embodiment, either one of the main correction only and no auxiliary correction and the auxiliary correction as well as the main correction can be selected by the operator as a method of determining the correction value. It is selected according to. That is, if the auxiliary correction command is issued, the latter method is selected, and if not, the former method is selected. Further, as a method of the auxiliary correction, one of a method of continuing the auxiliary correction and a method of not performing the auxiliary correction is selected according to a command of the operator.

【0074】次に、第2の補正値決定方式について説明
する。この第2の補正値決定方式においては、第1の方
式におけると同様に、測定値Xが逐次蓄積され、蓄積さ
れた測定値Xの数が設定数個となったときに、それら蓄
積された設定数個の測定値Xに基づいて新たな補正値が
決定される。ただし、この方式においては、各補正値U
の決定時期から、測定値Xの蓄積が無蓄積状態から再開
され、その再開時期から、各補正値Uの影響を受けた先
頭補正ワークがポストプロセス測定機16により測定さ
れる時期までの間は、新たな測定値Xが取得される毎
に、各測定値Xと各補正値Uとに基づき、それら各ワー
クがその各補正値Uの影響を受けた定点寸に従って加工
されたと仮定した場合にそれら各ワークについて測定さ
れる値が予測され、その予測後の測定値Xを実際の測定
値Xとみなして蓄積され、蓄積された設定数個の測定値
Xに基づいて今回の補正値が決定される。
Next, a second correction value determination method will be described. In the second correction value determination method, as in the first method, the measured values X are sequentially accumulated, and when the number of accumulated measured values X reaches a set number, the accumulated measured values X are accumulated. A new correction value is determined based on the set several measurement values X. However, in this method, each correction value U
From the time of determination, the accumulation of the measurement value X is resumed from the non-accumulation state, and from the time of the restart until the time when the head correction work affected by each correction value U is measured by the post-process measuring device 16. Each time a new measurement value X is obtained, based on each measurement value X and each correction value U, it is assumed that each of the workpieces is processed according to the fixed point size affected by each correction value U. The value measured for each of the workpieces is predicted, the measured value X after the prediction is regarded as the actual measured value X, and accumulated, and the correction value of the present time is determined based on the accumulated set measured values X Is done.

【0075】具体的には、図18にグラフで示すよう
に、むだ時間の経過中にもデータ蓄積が行われ、そのデ
ータ蓄積段階においては、測定値Xがそのまま蓄積され
るのではなく、グラフにおいて破線で示すようにシフト
させられて蓄積される。データシフト処理が行われるの
である。そのシフト量は、それ以前に決定された補正値
Uのうち未だ測定値Xに反映されていないものの和に暫
定的に決定される。図の例では、補正値Uの決定時期か
らその補正値Uが測定値Xに反映される時期までに別の
補正値Uが決定されないため、その暫定的なシフト量は
補正値Uに一致する。しかし、図23や図24に示すよ
うに、ある補正値U1 が決定されてからそれが測定値X
に現れるまでの間に別の補正値U2 が決定される場合に
は、その別の補正値U2 の決定時期以後にあっては、補
正値U1 とU2 との和が暫定的なシフト量とされる。
More specifically, as shown in the graph of FIG. 18, data is accumulated even during the elapse of the dead time. In the data accumulation stage, the measured value X is not accumulated as it is, Are shifted and accumulated as indicated by the broken line. Data shift processing is performed. The shift amount is provisionally determined to be the sum of the correction values U determined before that, which have not yet been reflected in the measured value X. In the example of the figure, since another correction value U is not determined from the time when the correction value U is determined to the time when the correction value U is reflected on the measured value X, the provisional shift amount matches the correction value U. . However, as shown in FIG. 23 and FIG. 24, after a certain correction value U 1 is determined,
If another correction value U 2 is determined between the time appearing in the, in the that other correction values U 2 of the decision timing after the sum of the correction values U 1 and U 2 is provisionally The shift amount.

【0076】さらに、この第2の補正値決定方式におい
ては、各補正値Uの影響を受けた先頭補正ワークがポス
トプロセス測定機16によって測定される時期が判明し
た後には、以前に予測された測定値Xの各々から前記暫
定的なシフト量を引くことにより、もとの測定値Xに復
元され、さらに、その復元されたもとの各測定値Xに最
終的なシフト量を加算することにより、測定値予測の修
正が行われる。すなわち、実質的には、予測前の測定値
Xすなわちもとの測定値Xに直ちに最終的なシフト量を
加算したのと同じになるのである。最終的なシフト量の
決定については後に詳述する。
Further, in the second correction value determination method, after the timing at which the head correction work affected by each correction value U is measured by the post-process measuring device 16 is known, it is previously predicted. By subtracting the tentative shift amount from each of the measured values X, the original measured value X is restored, and further, by adding the final shift amount to each of the restored original measured values X, Correction of the measurement value prediction is performed. That is, it is substantially the same as the measured value X before prediction, that is, the original measured value X immediately added with the final shift amount. The determination of the final shift amount will be described later in detail.

【0077】なお、この第2の補正値決定方式もまた、
前記第1の補正値決定方式の場合と同様に、作業者から
の指令に応じて各種の方式が選択可能とされている。
Note that this second correction value determination method also
As in the case of the first correction value determination method, various methods can be selected according to a command from an operator.

【0078】次に、連続性考慮FC5について説明す
る。この連続性考慮FC5においては、演算された補正
値Uが、それの連続性が考慮されることによって補正さ
れる。前述のように、測定ワーク数iの増加につれてワ
ークの寸法誤差がほぼ比例的に増加するのが一般的であ
るため、定寸点の補正値Uに連続性を持たせること、す
なわち、加工の進行につれて滑らかに変化させることが
ワークの寸法ばらつきを抑制するのに望ましい。
Next, the continuity consideration FC5 will be described. In the continuity consideration FC5, the calculated correction value U is corrected by considering its continuity. As described above, since the dimensional error of the work generally increases almost proportionally as the number i of the measured works increases, the correction value U of the fixed size point has continuity, that is, the processing value of the processing. It is desirable to make the change smoothly as it progresses in order to suppress the dimensional variation of the work.

【0079】そこで、本実施例においては、その事実に
着目し、図19にグラフで概念的に示すように、まず、
連続性を無視して補正値Uが決定され、それが暫定値
(以下「暫定補正値U」という。なお、後述の暫定補正
値UP とは異なる)とされ、今回までに取得された最新
のM(2以上の固定値)個の暫定補正値Uが測定ワーク
数iの増加に対してほぼ比例すると仮定され、それらM
個の暫定補正値Uについて前記の場合と同様な1次回帰
線の式が特定される。そして、その式を用いて現在の補
正値Uの真の値が推定され、それが補正値Uの最終値
(以下「最終補正値U* 」という。なお、後述の最終補
正値UF とは異なる)とされる。具体的には、1次回帰
線の式として、例えば、
Therefore, in this embodiment, focusing on the fact, as shown conceptually in a graph in FIG.
Correction value U ignoring continuity is determined and the provisional value (hereinafter referred to as "provisional correction value U". In addition, different from the provisional correction value U P below) are and have been obtained until the current date It is assumed that the M (fixed value of 2 or more) provisional correction values U are substantially proportional to the increase in the number i of the measured workpieces.
The same primary regression line equation as in the above case is specified for the number of provisional correction values U. Then, the true value of the current correction value U using equation is estimated, it is the final value of the correction value U (hereinafter referred to as "final correction value U *". Note that the final correction value U F below Different). Specifically, as an equation of the linear regression line, for example,

【0080】[0080]

【数5】 (Equation 5)

【0081】なる式が採用される。ただし、 iM :M個のiの値の平均値 U* i :i番目のワークの暫定補正値Uの修正値である
最終補正値U*i :i番目のワークの暫定補正値Uの計算値 UMi :M個の暫定補正値Uの計算値の平均値 そして、上記式の「i」に今回の測定ワーク数iの値を
代入すれば、今回の最終補正値U* i が取得されること
になる。
The following equation is adopted. However, iM: average of the values of M i U * i: i-th workpiece provisional correction value U which is the correction value final correction value U * U i: i-th calculation of the provisional correction value U of the workpiece Value UM i : Average value of the calculated values of the M provisional correction values U. Then, by substituting the value of the current measurement work number i into “i” in the above equation, the current final correction value U * i is obtained. Will be.

【0082】なお、本実施例においては、この連続性考
慮FC5の実行の許否も作業者によって指令されるよう
になっている。
In this embodiment, whether or not to execute the continuity consideration FC5 is also instructed by the operator.

【0083】また、作業者からその連続性考慮型補正指
令が出された場合に測定値Xから最終補正値U* が取得
されるまでの過程を代表的に、図19に概念的に図示す
る。この図は、それの左側から右側に向かうにつれて、
測定ワーク数iの値が増加することとして表されてい
る。図から明らかなように、補正値演算用メモリへの測
定値Xの蓄積を無蓄積状態から開始する場合には、(K
+L+M−2)個の測定値Xが蓄積されたときに初めて
1個の最終補正値U* が取得される。本実施例において
は、最終補正値U* が本発明における「第1の補正値決
定手段」により決定された補正値に該当するから、結
局、第1の補正値決定手段が1個の補正値を決定するの
に必要な測定値Xの数は、(K+L+M−2)個となる
のである。
FIG. 19 conceptually shows a typical process until the final correction value U * is obtained from the measured value X when the continuity-consideration type correction command is issued from the operator. . This figure shows that from left to right,
This is expressed as an increase in the value of the number i of measured workpieces. As is clear from the figure, when the accumulation of the measurement value X in the correction value calculation memory is started from the non-accumulation state, (K
One final correction value U * is obtained only when (+ L + M-2) measurement values X are accumulated. In the present embodiment, since the final correction value U * corresponds to the correction value determined by the “first correction value determining means” in the present invention, the first correction value determining means ends up with one correction value. Is (K + L + M-2).

【0084】以上、ファジィ制御FCについて説明した
が、次に、積分制御ICについて説明する。積分制御I
Cとは、ファジィ制御FCによって1個の補正値Uを決
定するのに必要な測定値Xの数より少数の測定値Xによ
って1個の補正値Uを迅速に決定することにより、ファ
ジィ制御FCを補助する制御である。ファジィ制御FC
による補正値Uは精度は高いがその決定に長い時間がか
かり、常に次の補正値Uが決定されるのを待っていると
その間に加工誤差が公差範囲を超えた精度不良ワークが
多発するおそれがあるから、積分制御実行条件が成立し
た場合には積分制御ICを実行し、精度は高くはないが
迅速に補正値Uを決定することにより、精度不良ワーク
の多発を防止するものである。
The fuzzy control FC has been described above. Next, the integral control IC will be described. Integral control I
C is a fuzzy control FC by quickly determining one correction value U with a smaller number of measurement values X than the number of measurement values X required to determine one correction value U by the fuzzy control FC. This is a control that assists. Fuzzy control FC
Correction value U is highly accurate but takes a long time to determine, and if there is always waiting for the next correction value U to be determined, there may be many inaccurate workpieces whose machining errors exceed the tolerance range during that time. Therefore, when the integral control execution condition is satisfied, the integral control IC is executed, and although the accuracy is not high, the correction value U is promptly determined, thereby preventing the occurrence of frequent inaccuracies.

【0085】この積分制御ICにおいては、図27に示
すように、むだ時間が経過した直後から、測定値Xが蓄
積され、その蓄積数が設定数nに達したときに、その設
定数nの測定値Xに基づいて今回の補正値Uが決定され
る。その補正値Uの影響は直ちに測定値Xに現れず、む
だ時間の経過後にはじめて測定値Xに現れ、測定値Xが
公差範囲内に収められる。
In this integration control IC, as shown in FIG. 27, immediately after the dead time has elapsed, the measured values X are accumulated, and when the accumulated number reaches the set number n, the set number n is reduced. The current correction value U is determined based on the measurement value X. The influence of the correction value U does not appear immediately on the measured value X, but appears on the measured value X only after a lapse of the dead time, and the measured value X falls within the tolerance range.

【0086】この積分制御ICは、ファジィ制御FCに
よって1個の補正値Uを決定するのに必要な測定値Xの
数より少数nの測定値Xによって1個の補正値Uを迅速
に決定するものであるため、ファジィ制御FCに比較す
れば、過去の測定値Xの変化傾向をより正確に考慮して
新たな補正値Uを決定することや、過去の複数の測定値
X間におけるばらつきをより完全に除去して新たな補正
値Uを決定することは困難である。例えば、積分制御I
Cを連続して何回も行い、測定値Xが公差範囲内に収ま
った後にも積分制御ICを続行すると、例えば図28に
グラフで示すように、ワークの加工寸法が大きく変動
し、不安定となり、精度不良ワークが発生する可能性が
増加するおそれがある。そのため、積分制御ICは特に
必要なときに限って実行させるべきである。
This integral control IC quickly determines one correction value U with n smaller measured values X than the number of measured values X required for determining one corrected value U by fuzzy control FC. Therefore, when compared with the fuzzy control FC, it is possible to determine a new correction value U in consideration of the change tendency of the past measured value X more accurately, and to reduce the variation among the plurality of past measured values X. It is difficult to determine a new correction value U by completely removing it. For example, the integral control I
If C is performed many times continuously and the integration control IC is continued even after the measured value X falls within the tolerance range, the work dimensions of the work greatly fluctuate and become unstable as shown in the graph of FIG. 28, for example. Therefore, there is a possibility that the possibility of occurrence of a workpiece with poor accuracy may increase. Therefore, the integration control IC should be executed only when necessary.

【0087】そこで、本実施例においては、積分制御I
Cは、図29に表で表す積分制御実行条件が成立した場
合にのみ実行される。その積分制御実行条件は、加工時
期に関する条件と測定値Xに関する条件との組合せによ
って構成されている。具体的には、一連の加工が開始さ
れた直後には、測定値Xが設定範囲の内側にあるか外側
にあるかを問わず、積分制御ICが実行される。また、
一連の加工が開始された後においては、作業者によって
補正値Uが手動で補正された後と、作業者によってファ
ジィ制御FCが使用する内部パラメータの設定が変更さ
れた後とのそれぞれにおいて、測定値Xが設定範囲外と
なることを条件に、積分制御ICが実行される。そし
て、それ以外のときには、積分制御ICは実行されず、
原則通り、ファジィ制御FCが実行される。なお、本実
施例においては、設定範囲が公差範囲とほぼ等しく設定
されているが、例えば、公差範囲より狭く決定し、加工
誤差が公差範囲を超えないうちに事前に積分制御ICが
行われるようにすることも可能である。すなわち、本実
施例においては、「積分制御実行条件」が前記「第2補
正実行条件」の一例なのである。
Therefore, in this embodiment, the integral control I
C is executed only when the integration control execution conditions shown in the table of FIG. 29 are satisfied. The integration control execution condition is constituted by a combination of a condition relating to the machining time and a condition relating to the measured value X. Specifically, immediately after a series of processing is started, the integration control IC is executed regardless of whether the measured value X is inside or outside the set range. Also,
After a series of machining starts, the measurement is performed after the correction value U is manually corrected by the operator and after the setting of the internal parameter used by the fuzzy control FC is changed by the operator. The integration control IC is executed on condition that the value X is out of the set range. At other times, the integral control IC is not executed,
In principle, the fuzzy control FC is executed. In the present embodiment, the setting range is set to be substantially equal to the tolerance range. However, for example, the setting range is determined to be narrower than the tolerance range, and the integral control IC is performed in advance before the machining error does not exceed the tolerance range. It is also possible to That is, in the present embodiment, the “integration control execution condition” is an example of the “second correction execution condition”.

【0088】したがって、例えば、一連の加工が開始さ
れた当初においては、図30に示すように、最初に加工
されたワークが測定されるまでは測定値Xが存在せず、
むだ時間となり、最初に加工されたワークが測定されて
最初の測定値Xが取得されたときから、積分制御ICの
ための蓄積が開始される。そして、その蓄積された測定
値Xの数が設定数nとなったときに、最初の補正値Uが
決定され、定寸装置14に送信される。その最初の補正
値Uの影響はむだ時間の経過後に測定値Xに現れ、測定
値Xが急変し、ワークの加工誤差が公差範囲内に収めら
れる。
Therefore, for example, at the beginning of a series of machining, as shown in FIG. 30, the measured value X does not exist until the first machined workpiece is measured.
The dead time is reached, and the accumulation for the integration control IC is started from when the first processed work is measured and the first measured value X is obtained. Then, when the number of the accumulated measurement values X reaches the set number n, the first correction value U is determined and transmitted to the sizing device 14. The influence of the first correction value U appears on the measured value X after a lapse of dead time, the measured value X changes suddenly, and the processing error of the work falls within the tolerance range.

【0089】また、図31にグラフで示すように、一連
の加工が開始された後に、測定値Xが公差範囲を超えた
ため、作業者が補正値Uを早急に手動で補正すべきと判
断した場合には、作業者が加工を一時的に中断し、補正
値Uを手動で補正する。その後、作業者は加工を再開す
るが、手動補正値の影響はむだ時間の経過後に測定値X
に現れ、測定値Xが公差範囲内に収められる。その後、
積分制御ICのために測定値Xが蓄積され、その蓄積数
が設定数nとなったときに新たな補正値Uが決定され、
その補正値Uの影響はむだ時間の経過後に測定値Xに現
れることになる。
Further, as shown by the graph in FIG. 31, after a series of machining starts, since the measured value X has exceeded the tolerance range, the operator has determined that the correction value U should be corrected manually immediately. In this case, the operator temporarily suspends the processing and manually corrects the correction value U. After that, the operator resumes the machining, but the effect of the manual correction value is changed after the elapse of the dead time.
And the measured value X falls within the tolerance range. afterwards,
The measured value X is accumulated for the integration control IC, and when the accumulated number reaches the set number n, a new correction value U is determined,
The effect of the correction value U will appear on the measured value X after a lapse of dead time.

【0090】なお、本実施例においては、積分制御IC
において、今回までに取得された設定数nの測定値Xの
各々の目標値A0 からの誤差値Rの和を積分時間TI
割り算した値、すなわち、過去の設定数nの測定値Xの
平均値XMi の目標値A0 からの差に比例した量で今回
の補正値Ui が決定され、具体的には、 Ui =KI ・(XMi −A0 ) なる式を用いて補正値Ui が決定される。ここに、「K
I 」は積分ゲインを表す。本実施例においては、積分制
御ICにおいて1個の補正値Uを決定するのに必要な測
定値Xの数である設定数nすなわち所要測定値数が、フ
ァジィ制御FCにおいて1個の補正値Uを決定するのに
必要な測定値Xの数(K+L+M−2)より少なく設定
されている。したがって、本実施例においては、積分制
御ICにおいて1個の補正値Uを決定するのに必要な時
間が前記ファジィ制御FCにおけるより短縮される。
In this embodiment, the integral control IC
, The value obtained by dividing the sum of the error values R of the measured values X of the set number n obtained so far from the respective target values A 0 by the integration time T I , that is, the measured value X of the past set number n The correction value U i of this time is determined by an amount proportional to the difference between the average value XM i of the target value A 0 and the target value A 0 , and specifically, the equation U i = K I · (XM i -A 0 ) Thus, the correction value U i is determined. Here, "K
" I " represents an integral gain. In the present embodiment, the set number n, which is the number of measured values X required to determine one correction value U in the integration control IC, that is, the required number of measured values is one correction value U in the fuzzy control FC. Is set to be smaller than the number (K + L + M-2) of the measured values X necessary to determine Therefore, in the present embodiment, the time required to determine one correction value U in the integral control IC is shorter than in the fuzzy control FC.

【0091】なお、積分制御ICにおいて所要測定値数
nの値が1である場合には比例制御となり、狭義の積分
制御というためには、所要測定値数nの値が2以上であ
ることが必要であるが、本実施例においては、nの値が
1である場合も含め、比例制御も広義の積分制御に含め
て扱うことにする。
When the value of the required measurement value n is 1 in the integral control IC, proportional control is performed. In order to perform the integration control in a narrow sense, the value of the required measurement value n may be 2 or more. Although it is necessary, in the present embodiment, the proportional control, including the case where the value of n is 1, is also included in the integration control in a broad sense.

【0092】また、積分ゲインKI は、補正値Uを測定
値Xの変化に対して敏感に変化させたい場合には、例え
ば1以上の値とすることは可能である。しかし、前述の
ように、積分制御ICは、ファジィ制御FCほどには正
確に補正値Uを決定することができない。したがって、
本実施例においては、積分ゲインKI の値が1より小さ
い値に設定され、これにより、補正値Uが測定値Xの変
化に対して敏感に変化することを抑制し、精度不良ワー
クの発生を未然に防止する。
[0092] Further, the integral gain K I, if desired sensitively to change the correction value U with respect to changes in the measured values X, for example it is possible to a value of 1 or more. However, as described above, the integration control IC cannot determine the correction value U as accurately as the fuzzy control FC. Therefore,
In the present embodiment, is set to a value smaller than 1 value of the integral gain K I, thereby, to prevent the correction value U is sensitively changes with respect to changes in the measured values X, poor accuracy workpiece occurs Is prevented beforehand.

【0093】なお、本実施例においては、作業者からの
指令に応じて積分制御ICの許否が決定され、かつ、作
業者から積分制御指令が1回出された場合には、その後
に積分制御ICにより決定された1個の補正値Uが定寸
装置14に送信されたときに、積分制御指令が自動的に
解除されるようになっている。積分制御ICはあくまで
暫定的な制御であり、実行回数を極力少数に抑えること
が定寸点制御の安定性を向上させるために望ましいと考
えられるからであるが、そのようにすることは不可欠で
はなく、作業者が積分制御指令を解除しない限り、積分
制御実行条件が成立する毎に積分制御ICが行われるよ
うに変更することは可能である。
In the present embodiment, if the integration control IC is permitted or rejected in accordance with a command from the operator, and if the operator issues an integration control command once, the integration control is thereafter performed. When one correction value U determined by the IC is transmitted to the sizing device 14, the integral control command is automatically canceled. This is because the integral control IC is only a provisional control, and it is considered that it is desirable to reduce the number of executions to a minimum as much as possible in order to improve the stability of the fixed point control. However, unless the operator cancels the integral control command, the integral control IC can be changed so that the integral control IC is performed every time the integral control execution condition is satisfied.

【0094】ここで、積分制御ICとファジィ制御FC
との関係を図32および図33に基づいて概念的に説明
する。ファジィ制御FCの方式は、前記のように、第1
の補正値決定方式、すなわち、測定値Xをそのまま蓄積
してデータシフト処理を行わない単純蓄積方式(図17
参照)と、第2の補正値決定方式、すなわち、測定値X
をシフト量でシフトさせて蓄積するデータシフト方式
(図18参照)とに大別することができる。ファジィ制
御FCと積分制御ICとの関係は、ファジィ制御FCが
単純蓄積方式をとる場合とデータシフト方式をとる場合
とで異なるため、場合に分けて説明する。
Here, the integral control IC and the fuzzy control FC
Is conceptually described with reference to FIGS. 32 and 33. As described above, the fuzzy control FC method is the first type.
17, that is, a simple storage method in which the measured value X is stored as it is and the data shift process is not performed (FIG. 17).
And the second correction value determination method, that is, the measurement value X
Can be roughly divided into a data shift method (see FIG. 18) in which the data is shifted by a shift amount and accumulated. The relationship between the fuzzy control FC and the integral control IC is different between the case where the fuzzy control FC uses the simple accumulation method and the case where the fuzzy control FC uses the data shift method.

【0095】まず、ファジィ制御FCが単純蓄積方式を
とる場合を説明する。この場合、図32にグラフで示す
ように、むだ時間が経過した直後から、ファジィ制御F
Cと積分制御ICとにそれぞれにおいて、測定値Xが逐
次蓄積される。測定値Xの蓄積がファジィ制御FCと積
分制御ICとについて並行的に実行されるのである。前
記のように、1個の補正値Uを決定するのに必要な測定
値Xの数はファジィ制御FCにおいて積分制御ICおけ
るより多数であるから、最初に積分制御ICにおいて1
個の補正値Uが決定される。このとき、その補正値Uを
定寸装置14に送信すべきか否か、すなわち、積分制御
実行条件が成立するか否かが判定される。今回は成立す
ると仮定すれば、積分制御ICにより決定された補正値
Uが定寸装置14に送信され、むだ時間の経過後に、そ
の補正値Uの影響が測定値Xに反映されることになる。
ファジィ制御FCにより補正値Uが決定されるより先に
暫定的な補正値Uを決定して定寸点を補正することが可
能とされているのである。積分制御ICにより決定され
た補正値Uが定寸装置14に送信されると、ファジィ制
御FCにおいてそれまでに蓄積された測定値Xがすべて
クリアされ、新たに測定値Xの蓄積が再開され、その蓄
積数が設定数に達したときに、ファジィ制御FCによっ
て1個の補正値が決定される。これに対し、積分制御実
行条件が成立しないと仮定すれば、積分制御ICによる
補正値Uの決定は行われず、ファジィ制御FCにより補
正値Uが決定されるのを待つことになる。
First, a case where the fuzzy control FC adopts the simple accumulation method will be described. In this case, as shown by the graph in FIG. 32, the fuzzy control F
Measurement values X are sequentially stored in C and the integration control IC, respectively. The accumulation of the measured value X is executed in parallel for the fuzzy control FC and the integral control IC. As described above, since the number of measured values X required to determine one correction value U is larger in the fuzzy control FC than in the integration control IC, first, the number of measurement values X is 1 in the integration control IC.
Correction values U are determined. At this time, it is determined whether or not the correction value U should be transmitted to the sizing device 14, that is, whether or not the integration control execution condition is satisfied. Assuming that this time is established, the correction value U determined by the integration control IC is transmitted to the sizing device 14, and the influence of the correction value U is reflected on the measured value X after a lapse of dead time. .
The provisional correction value U is determined before the correction value U is determined by the fuzzy control FC, and the fixed size point can be corrected. When the correction value U determined by the integration control IC is transmitted to the sizing device 14, all the measurement values X accumulated so far in the fuzzy control FC are cleared, and the accumulation of the measurement value X is restarted. When the accumulated number reaches the set number, one correction value is determined by the fuzzy control FC. On the other hand, assuming that the condition for executing the integral control is not satisfied, the correction value U is not determined by the integral control IC, but waits until the correction value U is determined by the fuzzy control FC.

【0096】次に、ファジィ制御FCがデータシフト方
式をとる場合を説明する。この場合、図33にグラフで
示すように、むだ時間が経過した直後から、積分制御I
Cとファジィ制御FC(図の例では「ファジィ制御
1」)とにおいてそれぞれ、測定値Xが逐次蓄積され、
最初に積分制御ICにおいて1個の補正値Uが決定され
る。このとき、積分制御実行条件が成立するか否かが判
定され、今回は成立すると仮定すれば、積分制御ICに
より決定された補正値Uが定寸装置14に送信され、む
だ時間の経過後に、その補正値Uの影響が測定値Xに反
映されることになる。一方、ファジィ制御FCにおいて
は、上記のように、積分制御ICと並行的に測定値Xが
逐次蓄積されるが、積分制御実行条件が成立したとき
に、測定値Xを蓄積する補正値演算用メモリがクリアさ
れるとともに、新たなファジィ制御(図の例では「ファ
ジィ制御2」)が開始され、測定値Xの蓄積が無蓄積状
態から再開される。ただし、取得された測定値X(また
は移動平均値P)がそのまま蓄積されるのではなく、積
分制御ICにより決定された補正値Uが直ちに測定値X
に反映されたと仮定した場合に取得されることとなる測
定値Xが予測され、その予測された測定値Xが蓄積され
る。具体的には、積分制御ICにより決定された補正値
Uがそのまま測定値Xに反映されると仮定し、測定値X
にその補正値Uを加えた値が予測値として蓄積される。
そして、ファジィ制御FCにおいては、測定値Xの蓄積
数が設定数(=K+L+M−2)に達したときに、補正
値Uが決定され、定寸装置14に送信される。その送信
後、補正値演算用メモリがクリアされるとともに、新た
なファジィ制御FC(図の例では「ファジィ制御3」)
が開始され、無蓄積状態から測定値Xの蓄積が再開され
る。
Next, the case where the fuzzy control FC adopts the data shift method will be described. In this case, as shown by the graph in FIG. 33, the integral control I
C and the fuzzy control FC (“fuzzy control 1” in the example of the figure) sequentially accumulate the measured values X, respectively,
First, one correction value U is determined in the integration control IC. At this time, it is determined whether or not the integration control execution condition is satisfied. If it is assumed that the integration control execution condition is satisfied this time, the correction value U determined by the integration control IC is transmitted to the sizing device 14, and after a lapse of dead time, The effect of the correction value U is reflected on the measurement value X. On the other hand, in the fuzzy control FC, as described above, the measurement values X are sequentially accumulated in parallel with the integration control IC, but when the integration control execution condition is satisfied, the correction value calculation for accumulating the measurement values X is performed. The memory is cleared, a new fuzzy control ("fuzzy control 2" in the example in the figure) is started, and the accumulation of the measured value X is restarted from the non-accumulated state. However, the acquired measurement value X (or moving average value P) is not stored as it is, but the correction value U determined by the integration control IC is immediately measured value X.
Is predicted, and the predicted measured value X is accumulated. Specifically, it is assumed that the correction value U determined by the integration control IC is directly reflected on the measurement value X, and the measurement value X
Is added as the predicted value.
Then, in the fuzzy control FC, when the accumulated number of the measured values X reaches the set number (= K + L + M−2), the correction value U is determined and transmitted to the sizing device 14. After the transmission, the correction value calculation memory is cleared and a new fuzzy control FC (“fuzzy control 3” in the example in the figure) is performed.
Is started, and the accumulation of the measured value X is restarted from the non-accumulation state.

【0097】以上、制御装置20による自動補正の内容
を概略的に説明したが、以下、定寸点補正ルーチンを表
す図5〜10のフローチャートに基づき、具体的に説明
する。
The details of the automatic correction performed by the control device 20 have been described briefly above. Hereinafter, the details will be specifically described with reference to the flowcharts of FIGS.

【0098】まず、図5のステップS1(以下単に「S
1」で表す。他のステップについても同じとする)にお
いて、キーボード50や補助記憶装置22から数値や指
令がパラメータとして入力される。次に、S2におい
て、ポストプロセス測定機16から新たな測定値Xが入
力される。測定値Xは、7個のジャーナル面すべてにつ
いて個々に入力される。測定値Xは、積分制御用メモリ
と補正値演算用メモリと補正反映情報演算用メモリとに
それぞれ蓄積される。
First, in step S1 of FIG.
1 ". In other steps, the same is applied), numerical values and instructions are input as parameters from the keyboard 50 and the auxiliary storage device 22. Next, in S2, a new measured value X is input from the post-process measuring device 16. The measurement values X are entered individually for all seven journal surfaces. The measured value X is stored in the integral control memory, the correction value calculation memory, and the correction reflection information calculation memory, respectively.

【0099】次に、S2aにおいて、作業者から積分制
御指令が出されているか否かが判定される。作業者は例
えば、一連の加工を開始する時や、ファジィ制御用のパ
ラメータ等の設定変更を行って本ルーチンを再起動させ
る時や、前記手動補正ルーチンの割込みによって手動補
正をした時などに、積分制御指令を制御装置20に対し
て出す。作業者から積分制御指令が出された場合には、
積分制御指令フラグがONとなり、S2aの判定がYE
Sとなり、S2bないしS2jが実行されて図6のS3
に移行するが、出されていない場合には判定がNOとな
り、直ちにS3に移行する。以下、積分制御指令が出さ
れていると仮定して本ルーチンの内容を説明する。
Next, in S2a, it is determined whether or not an integration control command has been issued from the operator. For example, when starting a series of machining, when changing the setting of fuzzy control parameters and the like and restarting this routine, and when performing manual correction by interruption of the manual correction routine, An integration control command is issued to the control device 20. When the operator issues an integral control command,
The integration control command flag is turned on, and the determination in S2a is YE
S, S2b through S2j are executed, and S3 in FIG.
However, if not issued, the determination is NO, and the process immediately proceeds to S3. Hereinafter, the contents of this routine will be described assuming that an integral control command has been issued.

【0100】上記仮定から、S2aの判定がYESとな
り、まず、S2bにおいて、補正反映前フラグがOFF
であるか否かが判定される。補正反映前フラグは、最新
の定寸点に従って加工された少なくとも1個のワークの
うち先頭のものである先頭補正ワークがポストプロセス
測定機16により測定され、その測定値Xに定寸点の最
新値が反映されたか否かを示すフラグである。最新の定
寸点とは、最初の補正値Uの決定前にあっては、定寸点
の初期値であり、これに対し、最初の補正値Uの決定後
にあっては、補正値Uの影響を受けた定寸点である。こ
の補正反映前フラグは、OFFでその先頭補正ワークが
測定を終了したこと、すなわち補正反映後であることを
示し、一方、ONで先頭補正ワークが測定を終了しない
こと、すなわち補正反映前であることを示す。したがっ
て、このS2bにおいては、最新の定寸点に従って最初
に加工されたワークがポストプロセス測定機16により
測定されたか否かが判定されることになる。今回は一連
の加工の開始当初であって、未だ最新の定寸点すなわち
定寸点の初期値に従って最初に加工されたワークがポス
トプロセス測定機16に到達しておらず、補正反映前フ
ラグがONであると仮定すれば、判定がNOとなり、直
ちに図6のS3に移行する。
Based on the above assumption, the determination in S2a becomes YES, and in S2b, the flag before correction reflection is turned off.
Is determined. The pre-correction reflection flag indicates that the top correction work, which is the top one of at least one work processed according to the latest sizing point, is measured by the post-process measuring machine 16 and the measured value X is the latest of the sizing point. This is a flag indicating whether or not the value has been reflected. The latest fixed point is the initial value of the fixed point before the first correction value U is determined, whereas the newest fixed point is the initial value of the fixed value U after the first correction value U is determined. It is the fixed size point affected. This flag before correction reflection is OFF to indicate that the head correction work has finished measurement, that is, after correction correction, while ON indicates that the head correction work does not end measurement, that is, before correction reflection. Indicates that Therefore, in S2b, it is determined whether or not the work processed first according to the latest fixed point is measured by the post-process measuring machine 16. This time is the beginning of a series of processing, the work which has been processed first according to the latest fixed point, that is, the initial value of the fixed point has not yet reached the post-process measuring machine 16 and the flag before correction reflection is set. If it is assumed to be ON, the determination is NO, and the process immediately proceeds to S3 in FIG.

【0101】その後、本ルーチンの実行が何回か繰り返
されるうちに、最新の定寸点に従って最初に加工された
ワークがポストプロセス測定機16に到達したため、補
正反映前フラグがOFFとなったと仮定すれば、S2c
において、前記積分制御用メモリに蓄積されている測定
値Xの数が設定数nに達したか否かが判定される。今回
は設定数nに達しないと仮定すれば、判定がNOとな
り、直ちに図6のS3に移行する。
Thereafter, while the execution of this routine is repeated several times, it is assumed that the pre-correction reflection flag is turned off because the work first processed in accordance with the latest fixed point arrives at the post-process measuring machine 16. Then, S2c
In, it is determined whether or not the number of measured values X stored in the integration control memory has reached a set number n. Assuming that the set number n is not reached this time, the determination is NO, and the process immediately proceeds to S3 in FIG.

【0102】その後、本ルーチンの実行が何回か繰り返
されるうちに、積分制御用メモリに蓄積されている測定
値Xの数が設定数nに達したと仮定すれば、S2cの判
定がYESとなり、S2dにおいて、それらn個の測定
値Xの平均値XMが算出される。その算出された平均値
XMも積分制御用メモリに蓄積される。ただし、積分制
御用メモリには測定値Xがn個以上蓄積される場合があ
り、この場合には、それらn個以上の測定値Xのうち最
新のn個の測定値Xについて平均値XMが算出される。
Thereafter, if it is assumed that the number of measured values X stored in the integration control memory has reached the set number n while the execution of this routine is repeated several times, the determination in S2c becomes YES. , S2d, an average value XM of the n measured values X is calculated. The calculated average value XM is also stored in the integration control memory. However, the integral control memory may store n or more measured values X. In this case, the average value XM of the latest n measured values X among the n or more measured values X is stored. Is calculated.

【0103】続いて、S2eにおいて、積分制御実行条
件が成立するか否かが判定される。今回は一連の加工の
開始直後であると仮定されているから、積分制御実行条
件が成立し、判定がYESとなる。なお、これに対し、
積分制御実行条件が成立しない場合には、判定がNOと
なり、直ちに図6のS3に移行する。
Subsequently, in S2e, it is determined whether or not the condition for executing the integral control is satisfied. Since it is assumed that this time is immediately after the start of a series of machining, the integration control execution condition is satisfied, and the determination is YES. In addition,
If the integration control execution condition is not satisfied, the determination is NO, and the process immediately proceeds to S3 in FIG.

【0104】その後、S2fにおいて、積分制御によっ
て補正値Uが算出される。すなわち、 U=KI ・(XM−A0 ) なる式を用いて今回の補正値Uが算出されるのである。
その後、S2g において、算出された補正値Uが定寸装
置14に送信される。これにより、ファジィ制御による
補正値算出を待つことなく、早期に自動補正値Uを算出
して定寸点を補正することができる。
Thereafter, in S2f, a correction value U is calculated by integral control. That is, the present correction value U is calculated by using the U = K I · (XM- A 0) becomes equation.
Thereafter, in S2g, the calculated correction value U is transmitted to the sizing device 14. This makes it possible to calculate the automatic correction value U and correct the fixed point at an early stage without waiting for the correction value calculation by the fuzzy control.

【0105】なお、算出した補正値Uを必ず送信するの
ではなく、不感帯を設定し、その不感帯内にある場合に
は、補正値Uの送信を禁止して直ちにS3に移行し、不
感帯を逸脱した場合にはじめて補正値Uの送信を行うよ
うにすることができる。
Note that the calculated correction value U is not always transmitted, but a dead zone is set. If the correction value U is within the dead zone, the transmission of the correction value U is prohibited and the process immediately proceeds to S3 to deviate from the dead zone. The transmission of the correction value U can be performed only when this is done.

【0106】その後、S2h において、積分制御指令フ
ラグがOFFされることにより、積分制御指令が解除さ
れる。本実施例においては、積分制御によって1個の補
正値Uが定寸装置14に送信されたならば、積分制御指
令が自動的に解除され、再び作業者による積分制御指令
を待つことになるのである。続いて、S2i において、
補正値演算用メモリがクリアされる。すなわち、作業者
からデータシフト処理指令が出されているか否かを問わ
ず、次のファジィ制御によって補正値Uを算出する際に
使用されるデータがクリアされるのである。その後、S
2jにおいて、補正反映前フラグがONされる。積分制
御による補正値Uが測定値Xに反映されるのを待つ状態
となったからである。その後、図6のS3に移行する。
Thereafter, at S2h, the integral control command is canceled by turning off the integral control command flag. In the present embodiment, if one correction value U is transmitted to the sizing device 14 by the integral control, the integral control command is automatically released, and the operator waits again for the integral control command by the operator. is there. Subsequently, in S2i,
The correction value calculation memory is cleared. That is, regardless of whether or not a data shift processing command is issued from the operator, the data used when calculating the correction value U by the next fuzzy control is cleared. Then, S
At 2j, the pre-correction reflection flag is turned on. This is because it is in a state of waiting for the correction value U by the integration control to be reflected on the measured value X. Thereafter, the process proceeds to S3 in FIG.

【0107】S3においては、補正反映前フラグがON
であるか否かが判定される。現在補正反映前フラグがO
Nであるから、S3の判定がYESとなり、S4以下の
ステップに移行する。S4〜6のステップ群において
は、先頭補正ワークがポストプロセス測定機16によっ
て測定されたか否かが判定される。
At S3, the flag before correction reflection is turned on.
Is determined. Current correction before reflection flag is O
Since it is N, the determination in S3 is YES, and the process proceeds to S4 and subsequent steps. In steps S4 to S6, it is determined whether or not the head correction work has been measured by the post-process measuring machine 16.

【0108】先頭補正ワークがポストプロセス測定機1
6によって測定されたか否かの判定は、新たな測定値X
が測定されるごとに測定値前後差変動状態判定を行うこ
とによって行われる。
The head correction work is a post-process measuring machine 1
The determination as to whether or not the measurement has been performed by using the new measurement value X
Each time is measured, the measurement value front-back difference fluctuation state determination is performed.

【0109】各回の測定値前後差変動状態判定において
は、そのとき以前に順に取得された複数の測定値Xが、
先に取得された設定個数の測定値Xから成る先の測定値
群と後に取得された設定個数の測定値Xから成る後の測
定値群であって最新の測定値Xを含むものとに分けられ
る。次に、先の測定値群を代表する代表値として移動平
均値HF 、後の測定値群を代表する代表値として移動平
均値HR がそれぞれ算出される。各移動平均値HF ,H
R の算出は、各測定値群に属する複数の測定値Xに対
し、前記移動平均値Pの算出と同様にして行われる。
In each of the measurement value front-back difference fluctuation state determinations, a plurality of measurement values X obtained in that order in advance at that time are:
It is divided into an earlier measurement value group consisting of the set number of measurement values X obtained earlier and a later measurement value group consisting of the set number of measurement values X acquired later and containing the latest measurement value X. Can be Then, the moving average value H F as a representative value representing the previous measurement value group, the moving average value H R measured value group as a representative value representing a later are calculated. Each moving average value H F , H
The calculation of R is performed for a plurality of measurement values X belonging to each measurement value group in the same manner as the calculation of the moving average value P.

【0110】さらに、各回の測定値前後差変動状態判定
においては、先の移動平均値HF から後の移動平均値H
R を差し引いた値が測定値前後差ΔHとして算出され
る。続いて、今回の測定値前後差ΔHi の絶対値が前回
の測定値前後差ΔHi-1 の絶対値より小さく、かつ、そ
の前回の測定値前後差ΔHi-1 の絶対値が前々回の測定
値前後差ΔHi-2 の絶対値より大きいか否か、すなわ
ち、前回の測定値前後差ΔHi-1 が測定ワーク数iの増
加に対して極値を示すか否かが判定される(図34の
(b) 参照)。極値を示すと判定した場合には、さらに、
極値を示す前回の測定値前後差ΔHi-1 の絶対値が設定
値以上であるか否かが判定される。すなわち、測定値前
後差ΔHが一時的に大きく変動したか否かが判定される
のであり、一時的に大きく変動した場合には、測定値前
後差ΔHの変動状態が設定状態を超えたと判定される。
Further, in the determination of the fluctuation state before and after the measured value before and after each measurement, the moving average value H F from the previous moving average value HF is used.
The value obtained by subtracting R is calculated as the difference ΔH before and after the measured value. Subsequently, the absolute value of the current measurements the differential [Delta] H i is smaller than the absolute value of the previous measurements the differential [Delta] H i-1, and the measured value the differential of the previous [Delta] H i-1 the absolute value of the second previous It is determined whether or not the difference before and after the measured value ΔHi -2 is larger than the absolute value, that is, whether or not the difference before and after the measured value ΔHi -1 shows an extreme value with respect to the increase in the number i of the measured workpieces. (FIG. 34
(b)). If it is determined to exhibit an extreme value,
It is determined whether or not the absolute value of the difference ΔH i−1 before and after the previous measurement value indicating the extreme value is equal to or larger than the set value. That is, it is determined whether the difference ΔH before and after the measured value temporarily fluctuates greatly. If the fluctuation ΔH temporarily fluctuates temporarily, it is determined that the fluctuation state of the difference ΔH before and after the measured value exceeds the set state. You.

【0111】また、本実施例においては、図25にグラ
フで示すように、加工機10とポストプロセス測定機1
6との間に存在する待機ワークの数について最大値と最
小値とが予め設定されている。そして、例えば図35に
示すように、待機ワーク数が最小値であると仮定した場
合の先頭補正ワークがポストプロセス測定機16によっ
て測定された測定値Xが後の測定値群に最初に含まれる
こととなった時期に一連の測定値前後差変動状態判定が
開始され、また、例えば図36に示すように、待機ワー
ク数が最大値であると仮定した場合の先頭補正ワークが
ポストプロセス測定機16によって測定された測定値X
が先の測定値群に最後に含まれることとなったときに一
連の測定値前後差変動状態判定が終了するように設計さ
れている。
In the present embodiment, as shown in the graph of FIG.
A maximum value and a minimum value are set in advance for the number of standby works existing between 6 and 6. Then, as shown in FIG. 35, for example, assuming that the number of standby works is the minimum value, the measurement value X of the head correction work measured by the post-process measuring machine 16 is first included in the subsequent measurement value group. At this time, a series of measurement value front-back difference fluctuation state determination is started, and, as shown in FIG. 36, for example, assuming that the number of standby workpieces is the maximum value, the head correction workpiece is a post-process 16 measured value X
Is designed to end a series of before-and-after measurement value difference fluctuation state determination when is finally included in the previous measurement value group.

【0112】さらに、本実施例においては、一連の測定
前後値差変動状態判定において一度も、測定値前後差Δ
Hの変動状態が設定状態を超えたと判定されなかった場
合には、待機ワーク数が最大値であると仮定した場合の
先頭補正ワークがポストプロセス測定機16によって測
定されることとなる時期が先頭補正ワークが実際にポス
トプロセス測定機16によって測定された時期であると
判定されるようにも設計されている。
Further, in the present embodiment, the difference before and after the measured value Δ Δ
If it is not determined that the fluctuation state of H has exceeded the set state, the time when the post-correction work is to be measured by the post-process measuring device 16 when the number of standby works is assumed to be the maximum value is the top. It is also designed so that it is determined that it is time that the correction work is actually measured by the post-process measuring machine 16.

【0113】なお、この測定値前後差変動状態判定につ
いて付言すれば、各測定値群に属する測定値Xの数が多
いほど、すなわち、移動平均値Hの算出範囲が広いほ
ど、例えば図26にグラフで表すように、測定値前後差
ΔHが測定値Xの変化に対して敏感に変化しなくなる。
しかし、各測定値群に属する測定値Xの数を余りに少な
くしたのでは、移動平均値Hの精度が低下し、ひいては
変動状態判定の信頼性も低下する。したがって、各測定
値群に属する測定値Xの数は、応答性と正確性とができ
る限り両立するように設定すべきであり、場合によって
は、可変値とすることが望ましい。
It should be noted that the determination of the before and after measurement value difference fluctuation state determination is as follows. As the number of measurement values X belonging to each measurement value group increases, that is, as the calculation range of the moving average value H increases, for example, FIG. As shown in the graph, the difference ΔH before and after the measured value does not change sensitively to a change in the measured value X.
However, if the number of measured values X belonging to each measured value group is too small, the accuracy of the moving average value H decreases, and the reliability of the fluctuation state determination also decreases. Therefore, the number of the measurement values X belonging to each measurement value group should be set so that the responsiveness and the accuracy are compatible as much as possible.

【0114】測定値前後差変動状態判定は具体的には、
まず、図6のS4において、補正反映情報演算用メモリ
から、先の測定値群に属する複数の測定値Xが読み出さ
れ、それら測定値Xについて先の移動平均値HF が算出
される。算出された先の移動平均値HF は補正反映情報
用演算メモリに保存される。次に、S5において、S4
におけると同様にして、後の測定値群についての後の移
動平均値HR が算出される。算出された後の移動平均値
R も補正反映情報演算用メモリに保存される。
The determination of the state of the fluctuation before and after the measured value is specifically as follows.
First, in S4 of FIG. 6, the correction reflects the information operation memory, a plurality of measurement X belonging to the previous measurement value group is read, the previous moving average value H F of are calculated for their measurement X. Moving average value H F of the calculated previously is stored in the arithmetic memory for correction reflection information. Next, in S5, S4
Definitive when similarly, the moving average value H R after the measurement value group after is calculated. The calculated moving average value H R is also stored in the correction reflection information calculation memory.

【0115】その後、S6において、それら移動平均値
F と移動平均値HR との測定値前後差ΔHが算出され
る。さらに、同ステップにおいて、補正反映情報演算用
メモリから前回の測定値前後差ΔHi-1 と前々回の測定
値前後差ΔHi-2 とがそれぞれ読み出され、前回の測定
値前後差ΔHi-1 が極値を示し、かつ、そのときの値が
設定値以上であるか否か、すなわち、測定値前後差ΔH
が大きく変動したか否かが判定される。今回は、測定値
前後差ΔHが大きく変動しなかったと仮定すれば、この
S6の判定がNOとなり、今回は、先頭補正ワークがポ
ストプロセス測定機16に到達した後ではないと判定さ
れる。続いて、S11aにおいて、待機ワーク数が最大
値であると仮定した場合の先頭補正ワークがポストプロ
セス測定機16に到達した時期以後であるか否かが判定
され、今回はその時期より前であると仮定すれば、判定
がNOとなり、図7のS7に移行する。
[0115] Then, in S6, the measured values before and after difference ΔH between them moving average value H F moving average value H R is calculated. Further, in the same step, the difference ΔH i−1 before and after the previous measurement value and the difference ΔH i−2 before and after the previous measurement value are read from the correction reflection information calculation memory, and the difference ΔH i− before and after the previous measurement value is read. 1 indicates an extreme value, and whether the value at that time is equal to or greater than a set value, that is, a difference ΔH
Is greatly changed. In this case, if it is assumed that the difference ΔH before and after the measured value has not fluctuated significantly, the determination in S6 is NO. Subsequently, in S11a, it is determined whether or not the head correction work has arrived at the post-process measuring device 16 or later, assuming that the number of standby works has reached the maximum value, and this time is before that time. If it is assumed that the determination is NO, the process proceeds to S7 in FIG.

【0116】このS7においては、作業者からデータシ
フト処理指令が出されているか否かが判定される。今回
は出されていないと仮定すれば、判定がNOとなり、S
8において、補正反映前フラグがONであるか否かが判
定される。今回はONであるから判定がYESとなり、
S9において、補正値演算用メモリのみがクリアされ
る。その後、S2に戻る。
In S7, it is determined whether or not a data shift processing command has been issued from the operator. Assuming that it has not been issued this time, the determination is NO and S
At 8, it is determined whether the pre-correction reflection flag is ON. This time it is ON, so the judgment is YES,
In S9, only the correction value calculation memory is cleared. Then, the process returns to S2.

【0117】その後、S2〜9のステップ群が何回も繰
り返されるうちに、測定値前後差ΔHが大きく変動する
に至ったと仮定すれば、図6のS6の判定がYESとな
り、今回は、先頭補正ワークがポストプロセス測定機1
6に到達した後であると判定され、S10において、補
正反映前フラグがOFFされる。その後、S11におい
て、測定値前後差ΔHの前回値ΔHi-1 が補正値Uが測
定値Xに反映された補正反映量ΔUとして補正反映情報
演算用メモリに記憶される。その後、図7のS7に移行
する。
Thereafter, if it is assumed that the difference ΔH before and after the measured value greatly fluctuates while the steps S2 to S9 are repeated many times, the determination in S6 in FIG. Correction work is post-process measuring machine 1
6, and it is determined in S10 that the before-reflection reflection flag is turned off. Thereafter, in S11, the previous value ΔH i−1 of the difference ΔH before and after the measured value is stored in the correction reflection information calculation memory as the correction reflection amount ΔU in which the correction value U is reflected on the measurement value X. Thereafter, the process proceeds to S7 in FIG.

【0118】なお、S6の判定がYESとならなくて
も、待機ワーク数が最大値であると仮定した場合の先頭
補正ワークがポストプロセス測定機16に到達した時期
以後となり、S11aの判定がYESとなった場合に
は、S10に移行し、補正反映前フラグがOFFされ
る。すなわち、この場合には、待機ワーク数が最大値で
あると仮定した場合の先頭補正ワークがポストプロセス
測定機16に到達した時期が先頭補正ワークが実際にポ
ストプロセス測定機16に到達した時期であると判定さ
れるのである。
Even if the determination in S6 does not become YES, it is after the time when the leading correction work reaches the post-process measuring machine 16 when the number of standby works is assumed to be the maximum value, and the determination in S11a is YES. If it has become, the process moves to S10, and the correction reflection flag is turned off. In other words, in this case, when the number of standby works is assumed to be the maximum value, the time when the top corrected work reaches the post-process measuring machine 16 is the time when the top corrected work actually reaches the post-process measuring machine 16. It is determined that there is.

【0119】図7のS7の判定がNOとなり、S8にお
いて、補正反映前フラグがONであるか否かが判定され
れば、今回はOFFであるから、判定がNOとなり、S
12に移行する。したがって、今回は、S9において補
正値演算用メモリがクリアされることはなく、今回の測
定値Xが蓄積されたままとなる。
If the determination in S7 in FIG. 7 is NO, and if it is determined in S8 whether the pre-reflection reflection flag is ON, it is OFF this time, so the determination is NO and S
It moves to 12. Therefore, this time, the correction value calculation memory is not cleared in S9, and the current measurement value X is kept accumulated.

【0120】S12においては、その補正値演算用メモ
リから過去の測定値X(すなわち、既に蓄積されている
測定値X)が入力され、S13において、移動平均値P
を算出することができるか否か、すなわち、補正値演算
用メモリに蓄積されている測定値Xの数がK個以上であ
るか否かが判定される。今回は、蓄積されている測定値
Xの数がK個以上ではないと仮定すれば、判定がNOと
なり、S2に戻る。
In S12, the past measurement value X (that is, the measurement value X already stored) is input from the correction value calculation memory, and in S13, the moving average value P
Is determined, that is, whether or not the number of measured values X stored in the correction value calculation memory is K or more. In this case, if it is assumed that the number of accumulated measurement values X is not K or more, the determination is NO and the process returns to S2.

【0121】その後、このS2において新たな測定値X
が入力され、S3において補正反映前フラグがONであ
るか否かが判定される。今回はOFFであるから判定が
NOとなり、直ちに図7のS7に移行する。S7の判定
はNOとなり、S8の判定もNOとなり、S12におい
て、再び補正値演算用メモリから過去の測定値Xが入力
され、S13において、移動平均値Pを算出することが
できるか否かが判定される。今回は算出することができ
ると仮定すれば判定がYESとなり、S14において、
前述のようにして移動平均値Pが算出され、補正値演算
用メモリに蓄積される。
Thereafter, in this S2, a new measured value X
Is input, and it is determined in S3 whether or not the pre-correction reflection flag is ON. This time is OFF, so the determination is NO, and the process immediately proceeds to S7 in FIG. The determination in S7 is NO, and the determination in S8 is NO. In S12, the past measurement value X is input again from the correction value calculation memory, and in S13, it is determined whether the moving average value P can be calculated. Is determined. If it is assumed that it can be calculated this time, the determination is YES, and in S14,
The moving average value P is calculated as described above, and is stored in the correction value calculation memory.

【0122】その後、S15において、作業者から両端
直径補正指令が出されているか否かが判定され、出され
ていなければ判定がNOとなり、直ちにS16に移行す
るが、出されていれば判定がYESとなり、S17にお
いて、前記2個の端円筒面の移動平均値Pについて前記
両端直径補正が行われ、その結果に応じて、補正値演算
用メモリの内容が変更される。その後、S16に移行す
る。
Thereafter, in S15, it is determined whether or not a both-ends diameter correction command has been issued from the operator. YES, in S17, the diameter correction of both ends is performed on the moving average value P of the two end cylindrical surfaces, and the contents of the correction value calculation memory are changed according to the result. Then, the process proceeds to S16.

【0123】S16においては、今回の移動平均値Pか
らワークの寸法の目標値A0 を引いた値が今回の誤差値
Rとされ、補正値演算用メモリに蓄積される。その後、
S18において、微分値Tを算出することができるか否
かが判定される。補正値演算用メモリに蓄積されている
移動平均値Pの数がL個以上であるか否かが判定される
のである。今回は、移動平均値Pの数が不足していると
仮定すれば、判定がNOとなり、図5のS2に移行す
る。その後、S2,3,7,8,12〜18のステップ
群の実行が何回も繰り返された結果、補正値演算用メモ
リに蓄積されている移動平均値Pの数がL個以上となっ
たと仮定すれば、S18の判定がYESとなり、S19
において、前述のようにして微分値Tが算出され、補正
値演算用メモリに蓄積される。その後、図8のS20に
移行する。
[0123] In S16, the value obtained by subtracting the target value A 0 of the workpiece dimensions from this moving average P is the current error value R, are stored in the correction value calculation memory. afterwards,
In S18, it is determined whether the differential value T can be calculated. It is determined whether the number of moving average values P stored in the correction value calculation memory is L or more. In this case, if it is assumed that the number of the moving average values P is insufficient, the determination is NO, and the process shifts to S2 in FIG. After that, the execution of the steps S2, 3, 7, 8, 12 to 18 was repeated many times, and as a result, the number of moving average values P stored in the correction value calculation memory became L or more. Assuming that the determination in S18 is YES, S19
In the above, the differential value T is calculated as described above, and is stored in the correction value calculation memory. Thereafter, the process proceeds to S20 of FIG.

【0124】このS20においては、誤差値Rと微分値
Tとに基づき、前述のファジィ推定によって暫定補正値
Uが算出される。続いて、S21において、作業者から
連続性考慮型補正指令が出されているか否かが判定さ
れ、出されていなければ判定がNOとなり、S22にお
いて、暫定暫定値Uがそのまま最終補正値U* とされ、
その後、S25に移行する。これに対して、作業者から
連続性考慮型補正指令が出されていれば、S21の判定
がYESとなり、S23において、連続性考慮型補正を
考慮することができるか否かが判定される。補正値演算
用メモリに蓄積されている暫定補正値Uの数がM個以上
であるか否かが判定されるのである。今回は、蓄積され
ている暫定補正値Uの数がM個以上ではないと仮定すれ
ば、判定がNOとなり、直ちにS2に戻る。その後、本
ルーチンの実行が何回も繰り返されるうちに、補正値演
算用メモリに蓄積されている暫定補正値Uの数がM個以
上となったと仮定すれば、S23の判定がYESとな
り、S24において、補正値演算用メモリに蓄積されて
いるM個の暫定補正値Uに基づき、前述のようにして最
終補正値U* が算出され、補正値演算用メモリに蓄積さ
れる。その後、図9のS25に移行する。
In S20, the provisional correction value U is calculated by the fuzzy estimation based on the error value R and the differential value T. Subsequently, in S21, it is determined whether or not a continuity-consideration-type correction command has been issued from the operator. If not, the determination is NO, and in S22, the provisional provisional value U is directly used as the final correction value U *. And
Then, the process proceeds to S25. On the other hand, if a continuity-consideration-type correction command is issued from the operator, the determination in S21 is YES, and in S23, it is determined whether continuity-consideration-type correction can be considered. It is determined whether the number of provisional correction values U stored in the correction value calculation memory is M or more. In this case, if it is assumed that the number of accumulated provisional correction values U is not M or more, the determination is NO, and the process immediately returns to S2. Thereafter, if it is assumed that the number of provisional correction values U stored in the correction value calculation memory becomes M or more while the execution of this routine is repeated many times, the determination in S23 becomes YES, and the determination in S24 is made. In, the final correction value U * is calculated based on the M provisional correction values U stored in the correction value calculation memory as described above, and is stored in the correction value calculation memory. Thereafter, the process proceeds to S25 in FIG.

【0125】このS25においては、作業者から補助補
正指令が出されているか否かが判定される。今回は出さ
れていないと仮定すれば判定がNOとなり、S27にお
いて、今回の最終補正値U* が定寸装置14に送信され
る。その後、S28において、作業者から補助補正指令
が出されているか否かが判定され、今回は出されていな
いと仮定されているから、判定がNOとなり、S29に
移行する。
In S25, it is determined whether or not an auxiliary correction command has been issued from the operator. If it is assumed that no correction has been made this time, the determination is NO, and the final correction value U * of this time is transmitted to the sizing device 14 in S27. Thereafter, in S28, it is determined whether or not an auxiliary correction command has been issued from the operator. Since it is assumed that no auxiliary correction command has been issued this time, the determination is NO, and the process proceeds to S29.

【0126】このS29においては、再び、作業者から
補助補正指令が出されているか否かが判定されるが、今
回は出されていないと仮定されているため、判定がNO
となり、S30に移行する。このS30において、補正
反映前フラグがONされる。補正値Uが定寸装置14に
送信され、その補正値Uの影響を受けた先頭補正ワーク
がポストプロセス測定機16に到達してその補正値Uが
測定値Xに反映されることを待つ状態に移行したからで
ある。その後、S31において、補正値演算用メモリが
クリアされる。その後、S2に戻る。
In this step S29, it is determined again whether or not an auxiliary correction command has been issued from the operator. However, it is assumed that no auxiliary correction command has been issued this time.
And the process proceeds to S30. In this S30, the correction reflection flag is turned ON. A state in which the correction value U is transmitted to the sizing device 14 and the head correction work affected by the correction value U reaches the post-process measuring machine 16 and waits for the correction value U to be reflected in the measurement value X. This is because it has shifted to. Thereafter, in S31, the correction value calculation memory is cleared. Then, the process returns to S2.

【0127】以上、データシフト処理指令も補助補正指
令も出されていない場合について説明したが、次に、デ
ータシフト処理指令は出されないが補助補正指令は出さ
れた場合について説明する。
The case where neither the data shift processing instruction nor the auxiliary correction instruction is issued has been described above. Next, the case where the data shift processing instruction is not issued but the auxiliary correction instruction is issued will be described.

【0128】この場合、図9のS25において、作業者
から補助補正指令が出されているか否かが判定されれ
ば、判定がYESとなり、S50において、補助補正の
実行中であるか否かが判定される。補助補正の実行回数
を表す補助補正カウンタの値が1以上であるか否かが判
定されるのである。今回は0であると仮定すれば、判定
がNOとなり、前記S27以下のステップ群に移行して
前記主補正が行われる。このステップ群のうちS28に
おいては、作業者から補助補正指令が出されているか否
かが判定され、今回は出されていると仮定されているか
ら、判定がYESとなり、S51において、補助補正カ
ウンタの値が1だけインクリメントされる。その後、S
29以下のステップに移行する。
In this case, if it is determined in S25 of FIG. 9 whether or not an auxiliary correction command has been issued from the operator, the determination becomes YES, and in S50, it is determined whether or not the auxiliary correction is being executed. Is determined. It is determined whether the value of the auxiliary correction counter indicating the number of times of performing the auxiliary correction is 1 or more. If it is assumed to be 0 this time, the determination is NO, and the process proceeds to the step group from S27 onward, where the main correction is performed. In step S28 of this group of steps, it is determined whether or not an auxiliary correction command has been issued from the operator. Since it is assumed that the auxiliary correction command has been issued this time, the determination is YES. Is incremented by one. Then, S
The process proceeds to step 29 or lower.

【0129】その後、再び同図のS50が実行されれ
ば、今回は補助補正カウンタの値が0ではないから、判
定がYESとなり、S52以下のステップ群に移行して
補助補正が行われる。まず、S52において、最終補正
値U* の今回値から前回値を引くことにより、今回の送
信値が算出される。
Thereafter, if S50 in the figure is executed again, since the value of the auxiliary correction counter is not 0 this time, the determination becomes YES, and the process proceeds to the step group from S52 to perform the auxiliary correction. First, in S52, the current transmission value is calculated by subtracting the previous value from the current value of the final correction value U * .

【0130】なお、ここにおいて「最終補正値U* の今
回値」は前記今回の暫定補正値UPに、「最終補正値U
* の前回値」は前記前回の暫定補正値UP に、「今回の
送信値」は前記今回の最終補正値UF にそれぞれ相当す
る。また、「今回の送信値」は、最終補正値U* の今回
値から、主補正から前回までに定寸装置14に対して送
信した少なくとも1個の送信値の合計値(以下「前回ま
での合計値」という)を引くことによって算出すること
もできる。なお、本実施例においては、決定された送信
値の大小にかかわらず、決定された送信値が必ず定寸装
置14に送信されるようになっているため、この手法に
よって今回の送信値を算出しても、上記のように、最終
補正値U* の今回値から前回値を引くことによって算出
しても、同じ値となる。しかし、送信値に対して不感帯
が設定され、決定された送信値が必ずしも定寸装置14
に送信されるとは限らない場合には、同じ値とならず、
この場合には、最終補正値U* の今回値から前回値まで
の合計値を引くことによってのみ、今回の送信値を算出
することが望ましい。
[0130] It should be noted that, "the final correction value U * of the current value" in the provisional correction value U P of the time in here, "the final correction value U
* Previous value "means the provisional correction value U P of the previous" current transmission value "corresponds respectively to a final correction value U F of the time. The “current transmission value” is a total value of at least one transmission value transmitted to the sizing device 14 from the main correction to the previous time from the current value of the final correction value U * (hereinafter “the previous transmission value”). (Total value)). In this embodiment, since the determined transmission value is always transmitted to the sizing device 14 regardless of the magnitude of the determined transmission value, the current transmission value is calculated by this method. However, as described above, the same value is obtained by subtracting the previous value from the current value of the final correction value U * . However, a dead band is set for the transmission value, and the determined transmission value is not necessarily the sizing device 14.
Will not be the same,
In this case, it is desirable to calculate the current transmission value only by subtracting the total value of the final correction value U * from the current value to the previous value.

【0131】その後、S53において、その算出された
送信値が定寸装置14に送信され、補助補正が行われ
る。その後、S54において、補助補正カウンタが1だ
けインクリメントされ、その後、S29に移行する。こ
のS29においては、作業者から補助補正指令が出され
ているか否かが判定され、今回は出されているから、判
定がYESとなり、図10のS55に移行する。
Thereafter, in S53, the calculated transmission value is transmitted to the sizing device 14, and auxiliary correction is performed. Thereafter, in S54, the auxiliary correction counter is incremented by one, and thereafter, the flow proceeds to S29. In S29, it is determined whether or not an auxiliary correction command has been issued from the operator. Since it has been issued this time, the determination is YES, and the process shifts to S55 in FIG.

【0132】このS55においては、今回の補助補正を
終了させるべきであるか否かが判定される。具体的に
は、補助補正カウンタの現在値が設定値(図5のS1に
おいて補助記憶装置22から入力される)以上となった
か否かが判定される。今回はそうではないと仮定すれ
ば、判定がNOとなり、直ちにS2に戻る。
In S55, it is determined whether or not the current auxiliary correction should be terminated. Specifically, it is determined whether or not the current value of the auxiliary correction counter has become equal to or greater than a set value (input from the auxiliary storage device 22 in S1 of FIG. 5). Assuming that this time is not the case this time, the determination is NO, and the process immediately returns to S2.

【0133】その後、本ルーチンの実行が何回も繰り返
されるうちに、補助補正カウンタの現在値が設定値以上
となったと仮定すれば、S55の判定がYESとなり、
S56において、今回の補助補正において定寸装置14
に送信された補正値すべての和(以下「合計補正値」と
いう)が算出される。その後、S57において、その合
計補正値が0であるか否か、すなわち、今回の補助補正
が本当に必要な時期に行われなかったと推定されるから
今回の補助補正を続行する必要があるか否かが判定され
る。今回はその必要がないと仮定すれば、判定がNOと
なり、S58において、補正反映前フラグがONされ、
S59において、補正値演算用メモリがクリアされ、そ
の後、S2に戻る。これに対して、今回の補助補正を続
行する必要があると仮定すれば、S57の判定がYES
となり、直ちにS2に戻る。
Thereafter, if it is assumed that the current value of the auxiliary correction counter has become equal to or greater than the set value while the execution of this routine is repeated many times, the determination in S55 becomes YES, and
In S56, the sizing device 14 is used in the current auxiliary correction.
Is calculated (hereinafter referred to as “total correction value”). Thereafter, in S57, it is determined whether or not the total correction value is 0, that is, whether or not it is necessary to continue the current auxiliary correction because it is estimated that the current auxiliary correction was not performed at a really necessary time. Is determined. Assuming that it is not necessary this time, the determination is NO, and in S58, the flag before correction reflection is turned ON,
In S59, the correction value calculation memory is cleared, and thereafter, the flow returns to S2. On the other hand, if it is assumed that the current auxiliary correction needs to be continued, the determination in S57 is YES.
And immediately returns to S2.

【0134】以上、データシフト処理指令が出されてい
ない場合について説明したが、次に、データシフト処理
指令が出された場合について説明する。ただし、データ
シフト処理の内容は、ある補正値U1 が決定されてから
その補正値U1 が測定値Xに反映されるまでの間に別の
補正値U2 が決定されない場合と決定される場合とで異
なる。しかも、ある補正値U1 が決定されてからその補
正値U1 が測定値Xに反映されるまでの間に別の補正値
2 が決定される場合におけるデータシフト処理の内容
は、作業者から補助補正指令が出されている場合と出さ
れていない場合とで異なる。したがって、それぞれの場
合に分けて説明する。
The case where the data shift processing command has not been issued has been described above. Next, the case where the data shift processing command has been issued will be described. However, the contents of the data shift processing is determined to when another correction value U 2 until the correction value U 1 from a certain correction value U 1 is determined is reflected in the measured value X has not been determined It depends on the case. Moreover, the contents of the data shift processing in the case where there correction value U 1 is another correction value U 2 is determined during a period from the determined to the correction value U 1 is reflected to the measured value X, the worker Are different depending on whether or not the auxiliary correction command is issued. Therefore, each case will be described separately.

【0135】まず、ある補正値U1 が決定されてからそ
の補正値U1 が測定値Xに反映されるまでの間に別の補
正値U2 が決定されず、補正値U1 が測定値Xに反映さ
れた後に補正値U2 が決定される場合を図22の例を参
照して説明する。
[0135] First, there correction value U 1 is not different correction values U 2 is determined during a period from the determined to the correction value U 1 is reflected to the measured value X, the correction value U 1 is measured It will be described with reference to the example of FIG. 22 when the correction value U 2 is determined after being reflected in the X.

【0136】現在、補正反映前フラグがON、すなわ
ち、最新の補正値U1 を定寸装置14に送信した後、そ
の補正値U1 の影響を受けた先頭補正ワークがポストプ
ロセス測定機16に到達するのを待っている状態にある
と仮定する。したがって、図5のS3の判定がYESと
なり、前記の場合と同様にして、S4〜6が実行され
る。今回は測定値前後差ΔHが大きく変動しなかったと
仮定すれば、S6の判定がNOとなり、図6のS7に移
行する。このS7においては、データシフト処理指令が
出されているか否かが判定され、今回は出されているか
ら、判定がYESとなり、S70において、データシフ
ト処理が行われる。
At present, the flag before correction reflection is ON, that is, after transmitting the latest correction value U 1 to the sizing device 14, the head correction work affected by the correction value U 1 is sent to the post-process measuring machine 16. Assume that you are waiting to arrive. Therefore, the determination in S3 in FIG. 5 is YES, and S4 to S6 are executed in the same manner as in the above case. If it is assumed that the difference ΔH before and after the measurement value does not fluctuate greatly this time, the determination in S6 is NO, and the process proceeds to S7 in FIG. In S7, it is determined whether or not a data shift processing command has been issued. Since it has been issued this time, the determination is YES, and in S70, data shift processing is performed.

【0137】データシフト処理の詳細は図21にフロー
チャートで表されている。まず、S200において、補
正反映前フラグがONであるか否かが判定される。今回
はONであるから、判定がYESとなり、S201にお
いて、補正値演算用メモリから今回の測定値Xが読み込
まれ、その測定値Xに暫定的なシフト量が加算されるこ
とにより、測定値予測が行われる。暫定的なシフト量
は、現時点までに決定された補正値Uであって未だ測定
値Xに現れていないものの和(=ΣUi )に決定され
る。図22の例では、未だ測定値Xに現れていない補正
値UはU1 のみであるため、結局、暫定的なシフト量は
1 とされることになる。その後、S202において、
RAMに設けられている修正済フラグがOFFされる。
修正済フラグの機能については後に説明する。以上でS
70の一回の実行が終了する。
Details of the data shift processing are shown in the flowchart of FIG. First, in S200, it is determined whether the pre-correction reflection flag is ON. Since it is ON this time, the determination becomes YES, and in S201, the current measured value X is read from the correction value calculation memory, and the provisional shift amount is added to the measured value X, so that the measured value prediction is performed. Is performed. The provisional shift amount is determined to be the sum (= ΣU i ) of the correction values U determined so far and not yet appearing in the measured value X. In the example of FIG. 22, the correction value U not yet appeared on the measured value X since only U 1, after all, preliminary shift will be a U 1. Then, in S202,
The corrected flag provided in the RAM is turned off.
The function of the corrected flag will be described later. S
One execution of 70 is completed.

【0138】その後、このS70は測定値Xが取得され
るごとに実行され、その結果、図22において破線で示
すように、データシフト処理すなわち測定値予測が行わ
れることになる。
Thereafter, this S70 is executed every time the measured value X is acquired. As a result, as shown by the broken line in FIG. 22, the data shift process, that is, the measured value prediction is performed.

【0139】その後、図6のS10において補正反映前
フラグがOFFされれば、図21のS200の判定がN
Oとなり、S203において修正済フラグがONである
か否かが判定される。今回はOFFであるから、判定が
NOとなり、S204に移行する。このS204におい
ては、補正反映情報演算用メモリから補正反映量ΔUが
読み込まれ、その補正反映量ΔUと先に決定した補正値
Uとの関係に基づき、前記測定値予測が十分に正確では
なかったか否かが判定される。具体的には、補正反映前
フラグがOFFにされたときの測定値Xに対応する補正
値Uとその補正値Uが測定値Xに反映された補正反映量
ΔUとが設定値以上異なっているか否かが判定される。
測定値予測は、前記のように、補正値Uがそのまま測定
値Xに現れると仮定し、補正値Uそのものを暫定的なシ
フト量に決定して行われるからである。
Thereafter, if the flag before correction reflection is turned off in S10 of FIG. 6, the determination in S200 of FIG.
The result is O, and it is determined in S203 whether or not the corrected flag is ON. Since it is OFF this time, the determination is NO and the process moves to S204. In this S204, the correction reflection amount ΔU is read from the correction reflection information calculation memory, and based on the relationship between the correction reflection amount ΔU and the correction value U determined beforehand, is the measurement value prediction not sufficiently accurate? It is determined whether or not. Specifically, whether the correction value U corresponding to the measurement value X when the pre-reflection reflection flag is turned off and the correction reflection amount ΔU in which the correction value U is reflected in the measurement value X are different from each other by a set value or more. It is determined whether or not.
This is because, as described above, the measurement value prediction is performed by assuming that the correction value U appears as it is in the measurement value X and determining the correction value U itself as a temporary shift amount.

【0140】なお、ここにおいて「補正反映前フラグが
OFFにされたときの測定値Xに対応する補正値U」
は、必ずしも最新の補正値Uには一致しない。ある補正
値U1の決定時期からその補正値U1 が測定値Xに反映
される時期までの間に別の補正値U2 が決定される場合
があるからである。したがって、「補正反映前フラグが
OFFにされたときの測定値Xに対応する補正値U」と
は、補正反映前フラグがOFFにされる前に未だ測定値
Xに反映されていなかった補正値Uのうち最も先に決定
されたものを意味することとなる。
Here, the "correction value U corresponding to the measured value X when the pre-reflection reflection flag is turned off" is set here.
Does not always match the latest correction value U. This is because there may be a correction value the correction value U 1 from the determined timing of U 1 is different correction values U 2 until the time that are reflected in the measured value X is determined. Therefore, the “correction value U corresponding to the measured value X when the pre-correction reflection flag is turned off” is a correction value that has not yet been reflected in the measurement value X before the pre-correction reflection flag was turned off. U means the one determined first.

【0141】今回は測定値予測が十分に正確であったと
仮定すれば、このS204の判定がNOとなり、直ちに
S70の実行が終了するが、十分に正確ではなかったと
仮定すれば、S204の判定がYESとなり、S205
に移行する。このS205においては、補正反映情報演
算用メモリから補正反映量ΔUが読み込まれ、また、補
正値演算用メモリからそれに蓄積されている測定値X
(予測後の値)がすべて読み込まれる。さらに、同ステ
ップにおいては、それら各測定値Xから前記暫定的なシ
フト量が減算されてもとの測定値X(予測前の値)に復
元された後、そのもとの測定値Xに最終的なシフト量と
しての補正反映量ΔUが加算される。これにより、図2
2において二点鎖線で示すように、測定値予測の修正が
行われることになる。その後、S206において修正済
フラグがONされる。すなわち、修正済フラグはONで
測定値予測の修正が行われたことを示し、OFFで行わ
れていないことを示すフラグなのである。
In this case, if it is assumed that the measurement value prediction is sufficiently accurate, the determination in S204 is NO, and the execution of S70 is immediately terminated. YES, S205
Move to In S205, the correction reflection amount ΔU is read from the correction reflection information calculation memory, and the measurement value X stored in the correction reflection information calculation memory is stored.
(Predicted values) are all read. Further, in the same step, after the provisional shift amount is subtracted from each of the measured values X, the original measured value X is restored to the original measured value X (the value before prediction), and then the final measured value X is added to the original measured value X. The correction reflection amount ΔU is added as the actual shift amount. As a result, FIG.
As shown by the two-dot chain line in FIG. 2, the measurement value prediction is corrected. After that, the corrected flag is turned on in S206. That is, the corrected flag is a flag that indicates that the measurement value prediction has been corrected when it is ON, and that the correction has not been performed when it is OFF.

【0142】その後、新たに測定値Xが取得され、再び
S70が実行されれば、現在補正反映前フラグがOFF
であるから、S200の判定がNOとなり、S203に
おいて、修正済フラグがONであるか否かが判定されれ
ば、現在ONであるから、判定がYESとなり、S20
4〜206がスキップされて直ちにS70の実行が終了
する。したがって、補正反映前フラグがOFFである間
は、測定値Xがそのまま補正値演算用メモリに蓄積さ
れ、図22に示すように、測定値予測もそれの修正も行
われない。
Thereafter, if a new measured value X is acquired and S70 is executed again, the current correction reflection flag is turned off.
Therefore, the determination in S200 is NO, and if it is determined in S203 whether or not the corrected flag is ON, the determination is YES because the flag is currently ON, and S20
Steps S4 to S206 are skipped and the execution of S70 ends immediately. Therefore, while the pre-correction reflection flag is OFF, the measured value X is directly stored in the memory for calculating the corrected value, and neither the predicted value nor the correction of the measured value X is performed as shown in FIG.

【0143】その後、補正値演算用メモリに蓄積されて
いる測定値Xの数が設定数個になったならば、S20に
おいて別の補正値U2 が決定される。補正値U2 は結
局、図22にハッチングした領域で示すように、過去の
複数の測定値Xに基づいて決定されることとなる。
Thereafter, if the number of measured values X stored in the correction value calculation memory has reached the set number, another correction value U 2 is determined in S20. Eventually correction value U 2, as shown in the area hatched in FIG. 22, it will be determined based on a plurality of past measurements X.

【0144】次に、ある補正値U1 が決定されてからそ
れが測定値Xに反映されるまでの間に別の補正値U2
決定される場合について説明する。ただし、補助補正指
令が出されていない場合と出されている場合とに分けて
それぞれ説明する。
Next, a case where another correction value U 2 is determined after a certain correction value U 1 is determined and before it is reflected on the measured value X will be described. However, the case where the auxiliary correction command is not issued and the case where the auxiliary correction command is issued will be described separately.

【0145】まず、補助補正指令が出されていない場合
を図23の例を参照して説明する。この場合、補正値U
1 が決定されて定寸装置14に送信された後、図9のS
29の判定が行われれば、今回は補助補正指令が出され
ていないから、判定がNOとなり、S30において、補
正反映前フラグがONされ、S31において、補正値演
算用メモリがクリアされる。その後、図5のS2に戻
る。
First, the case where the auxiliary correction command is not issued will be described with reference to the example of FIG. In this case, the correction value U
After 1 is determined and transmitted to the sizing device 14, S in FIG.
If the determination at 29 is made, the auxiliary correction command has not been issued this time, so the determination is NO, the flag before correction reflection is turned on at S30, and the memory for correction value calculation is cleared at S31. Thereafter, the process returns to S2 of FIG.

【0146】その後、S2において、新たな測定値Xが
補正値演算用メモリに蓄積され、続いて、S7におい
て、データシフト処理指令が出されているか否かが判定
される。今回は出されているから、判定がYESとな
り、S9がスキップされる。すなわち、データシフト処
理指令が出されていない場合と異なり、補正反映前フラ
グがONであっても補正値演算用メモリがクリアされ
ず、測定値Xが順に蓄積されることになる。
Thereafter, in S2, a new measured value X is stored in the correction value calculation memory, and subsequently, in S7, it is determined whether or not a data shift processing command has been issued. Since it has been issued this time, the determination is YES and S9 is skipped. That is, unlike the case where the data shift processing command is not issued, the correction value calculation memory is not cleared even if the correction pre-reflection flag is ON, and the measured values X are sequentially accumulated.

【0147】各測定値Xが蓄積される毎に図7のS7の
判定がYESとなり、S70が実行される。S70にお
いてはまず、図21のS200において、補正反映前フ
ラグがONであるか否かが判定され、現在ONであるか
ら、判定がYESとなり、S201において、補正値演
算用メモリから今回の測定値Xが読み込まれ、その今回
の測定値Xに暫定的なシフト量が加算される。今回は、
未だ測定値Xに現れていない補正値UとしてU1 のみ存
在するから、結局、今回の暫定的なシフト量はU1 とさ
れる。これにより、図23の(a) に破線で示すように、
測定値予測が行われることになる。その後、S202に
おいて修正済フラグがOFFされる。以上でS70の実
行が終了する。
Each time the measured values X are accumulated, the determination in S7 of FIG. 7 becomes YES, and S70 is executed. In S70, first, in S200 of FIG. 21, it is determined whether or not the before-reflection reflection flag is ON. Since the flag is currently ON, the determination becomes YES. In S201, the current measurement value is stored in the correction value calculation memory. X is read, and a provisional shift amount is added to the current measured value X. This time,
Since there only U 1 as a correction value U not yet appeared on the measured value X, after all, preliminary shift of this time are U 1. As a result, as shown by a broken line in FIG.
A measurement prediction will be made. Thereafter, the corrected flag is turned off in S202. Thus, the execution of S70 ends.

【0148】その後、ポストプロセス測定機16からの
測定値Xの入力と測定値予測とがそれぞれ繰り返され、
その結果、補正値演算用メモリに蓄積されている測定値
Xの数が設定数個に達したときに、図23の(b) に示す
ように、S20において補正値U2 が決定される。図に
おいてハッチングした領域は、補正値U2 を決定するた
めに利用された予測後の測定値Xを示している。
Thereafter, the input of the measured value X from the post-process measuring device 16 and the predicted value of the measured value are repeated, respectively.
As a result, when the number of measured values X stored in the correction value calculation memory has reached several settings, as shown in (b) of FIG. 23, the correction value U 2 step S20 is determined. Regions hatched in the figure shows the measured values X after prediction is utilized to determine a correction value U 2.

【0149】補正値U2 が決定されれば、今回は補助補
正指令が出されていないから、図9のS29の判定がN
Oとなり、S30において補正反映前フラグがONにさ
れ(ただし、現在ONであるから、補正反映前フラグに
変化はない)、S31において、補正値演算用メモリが
クリアされる。したがって、その後、測定値Xが入力さ
れれば、無蓄積状態で補正値演算用メモリに蓄積される
こととなる。
If the correction value U 2 is determined, no auxiliary correction command has been issued this time, so the determination in S29 in FIG.
The result is O, the pre-reflection reflection flag is turned ON in S30 (however, the pre-reflection reflection flag does not change because it is currently ON), and the correction value calculation memory is cleared in S31. Therefore, if the measured value X is subsequently input, it will be stored in the correction value calculation memory in a non-accumulated state.

【0150】その後、S70が実行されれば、現在補正
反映前フラグがONであるから、図21のS200の判
定がYESとなり、S201において、補正値演算用メ
モリから今回の測定値Xが読み込まれ、その今回の測定
値Xに暫定的なシフト量が加算される。今回は、未だ測
定値Xに現れていない補正値UとしてU1 とU2 とが存
在するから、結局、今回の暫定的なシフト量は(U1
2 )とされる。これにより、図23の(c) に破線で示
すように、測定値予測が行われることになる。その後、
S202において修正済フラグがOFFされる。以上で
S70の実行が終了する。
Thereafter, if S70 is executed, the flag before correction correction is currently ON, so the determination in S200 in FIG. 21 is YES, and in S201, the current measured value X is read from the correction value calculation memory. , The provisional shift amount is added to the current measurement value X. Since this time, there is a U 1 and U 2 as a correction value U not yet appeared on the measured value X, after all, the preliminary shift amount of current (U 1 +
U 2 ). As a result, as shown by the broken line in FIG. 23C, the measurement value is predicted. afterwards,
In S202, the corrected flag is turned off. Thus, the execution of S70 ends.

【0151】その後、補正値U1 が測定値Xに反映さ
れ、補正反映前フラグがOFFされたと仮定すれば、S
200の判定がNOとなり、S203において、修正済
フラグがONであるか否かが判定される。今回はOFF
であるから、判定がNOとなり、S204において、測
定値予測が十分に正確ではなかった否かが判定される。
今回は十分に正確ではなかったと判定すれば、判定がY
ESとなり、S205において、前記の場合と同様にし
て測定値予測の修正が行われる。その結果、予測後の測
定値Xは、図23の(d) に太い実線で示すように、修正
されることになる。
Thereafter, assuming that the correction value U 1 is reflected on the measured value X and the pre-correction reflection flag is turned off, S
The determination at 200 is NO, and at S203, it is determined whether the corrected flag is ON. This time is OFF
Therefore, the determination is NO, and in S204, it is determined whether the measurement value prediction is not sufficiently accurate.
If it is determined that this time was not sufficiently accurate, the determination is Y
It becomes ES, and in S205, the measurement value prediction is corrected in the same manner as in the above case. As a result, the measured value X after the prediction is corrected as shown by the thick solid line in FIG.

【0152】その後、新たに測定値Xが取得され、S7
0が実行されれば、現在補正反映前フラグがONである
から、S200の判定がYESとなり、S201におい
て、図23の(e) に破線で示すように、測定値予測が行
われる。測定値Xに暫定的なシフト量として補正値U2
が加算されるのである。その後、補正値演算用メモリに
蓄積されている測定値Xの数が設定数個に達したとき
に、図23の(f) に示すように、S20において補正値
3 が決定される。図においてハッチングした領域は、
補正値U3 を決定するために利用された予測後の測定値
Xを示している。
Thereafter, a new measured value X is obtained, and S7
If 0 is executed, the flag before correction reflection is currently ON, so the determination in S200 is YES, and in S201, a measurement value prediction is performed as indicated by a broken line in (e) of FIG. The correction value U 2 is used as a provisional shift amount for the measurement value X.
Is added. Thereafter, when the number of measured values X stored in the correction value calculation memory has reached several settings, as shown in (f) of FIG. 23, the correction value U 3 is determined in S20. The hatched area in the figure is
Shows the measured values X after prediction is utilized to determine a correction value U 3.

【0153】次に、補助補正指令が出されている場合を
図24の例を参照して説明する。補正値U1 についても
補助補正(図において補助補正用の補正値を「USB」
で表す)が行われ、現在その補助補正が図24の(a) に
示すように終了したと仮定する。したがって、図10の
S55の判定がYESとなり、S57の判定もYESと
なり、S58において、補正反映前フラグがONされ
(直前にONであるから、変化なし)、S59におい
て、補正値演算用メモリがクリアされ、S2に戻る。
Next, the case where the auxiliary correction command is issued will be described with reference to the example of FIG. Auxiliary correction is also performed for the correction value U 1 (in the figure, the correction value for the auxiliary correction is “USB”
It is assumed that the auxiliary correction has been completed as shown in FIG. Therefore, the determination in S55 of FIG. 10 is YES, the determination in S57 is also YES, and in S58, the before-reflection reflection flag is turned on (there is no change since it was ON immediately before), and in S59, the correction value calculation memory is It is cleared and returns to S2.

【0154】その後、新たに測定値Xが取得され、図7
のS7の判定が実行されれば、今回はデータシフト処理
指令が出されているから、判定がYESとなり、S70
が実行される。S70においては、現在補正反映前フラ
グがONであるから、図21のS200の判定がYES
となり、S201において、補正値演算用メモリから今
回の測定値Xが読み込まれ、その今回の測定値Xに暫定
的なシフト量が加算される。今回は、未だ測定値Xに現
れていない補正値UとしてU1 のみが存在するから、結
局、今回の暫定的なシフト量はU1 とされる。これによ
り、図24の(b) に破線で示すように、測定値予測が行
われることになる。その後、S202において修正済フ
ラグがOFFされる。以上でS70の実行が終了する。
Thereafter, a new measured value X is obtained, and FIG.
If the determination in S7 is executed, the data shift processing command has been issued this time, so the determination is YES, and S70
Is executed. In S70, since the flag before correction reflection is currently ON, the determination in S200 in FIG. 21 is YES.
In step S201, the current measurement value X is read from the correction value calculation memory, and the provisional shift amount is added to the current measurement value X. This time, because only U 1 is present as a correction value U not yet appeared on the measured value X, after all, preliminary shift of this time are U 1. As a result, the measured value is predicted as shown by the broken line in FIG. Thereafter, the corrected flag is turned off in S202. Thus, the execution of S70 ends.

【0155】その後、ポストプロセス測定機16からの
測定値Xの入力と測定値予測とがそれぞれ繰り返され、
その結果、補正値演算用メモリに蓄積されている測定値
Xの数が設定数個に達したときに、図24の(c) に示す
ように、S20において補正値U2 が決定される。図に
おいてハッチングした領域は、補正値U2 を決定するた
めに利用された予測後の測定値Xを示している。
Thereafter, the input of the measured value X from the post-process measuring device 16 and the predicted value of the measured value are repeated, respectively.
As a result, when the number of measured values X stored in the correction value calculation memory has reached several settings, as shown in (c) of FIG. 24, the correction value U 2 step S20 is determined. Regions hatched in the figure shows the measured values X after prediction is utilized to determine a correction value U 2.

【0156】補正値U2 が決定されれば、今回は補助補
正指令が出されているから、図9のS29の判定がYE
Sとなり、図9のS55において、補助補正を終了させ
るべきであるか否かが判定される。今回は終了させるべ
きではと仮定すれば、判定がNOとなり、直ちにS2に
戻る。
If the correction value U 2 is determined, since the auxiliary correction command has been issued this time, the determination in S29 in FIG.
In S, it is determined in S55 of FIG. 9 whether the auxiliary correction should be terminated. If it is assumed that the process should be terminated this time, the determination is NO, and the process immediately returns to S2.

【0157】その後、S2において、新たな測定値Xが
取得され、続いて、S70が実行されれば、現在補正反
映前フラグがONであるから、図21のS200の判定
がNOとなり、S201において、測定値予測が行われ
る。今回は、未だ測定値Xに現れていない補正値Uとし
てU1 とU2 があるため、今回の暫定的なシフト量は
(U1 +U2 )とされる。その後、S20が実行されれ
ば、図24の(d) に示すように、補助補正用の補正値U
SBが決定される。今回もその補助補正を終了させるべ
きではないと仮定すれば、図10のS55の判定がNO
となり、直ちにS2に戻り、新たな測定値Xが取得され
る。その後、S70が実行されれば、現在補正反映前フ
ラグがONであるから、S200の判定がNOとなり、
S201において、前回の場合と同様に、測定値予測が
行われる。
Thereafter, in S2, a new measured value X is obtained, and subsequently, if S70 is executed, the flag before correction reflection is currently ON, so that the determination in S200 in FIG. 21 is NO, and in S201 , A measurement prediction is made. This time, because of the U 1 and U 2 as a correction value U not yet appeared in the measured values X, provisional shift of this time are (U 1 + U 2). After that, if S20 is executed, as shown in FIG.
SB is determined. Assuming that the auxiliary correction should not be ended again this time, the determination in S55 of FIG.
And immediately returns to S2 to acquire a new measurement value X. After that, if S70 is executed, the flag before correction reflection is currently ON, so the determination in S200 is NO, and
In S201, measurement value prediction is performed as in the previous case.

【0158】その後、補助補正が終了しないうちに、先
頭補正ワークがポストプロセス測定機16に到達し、補
正反映前フラグがOFFになったと仮定する。この場
合、S70においては、現在補正反映前フラグがOFF
であるから、S200の判定がNOとなり、S203に
おいて、修正済フラグがONであるか否かが判定され
る。現在OFFであるから、判定がNOとなり、S20
4において、測定値予測が十分に正確ではなかったか否
かが判定される。今回は十分に正確ではなかったと仮定
すれば判定がYESとなり、S205において、測定値
予測の修正が行われる。図24の(e) に示すように、前
回の補助補正の終了時から補正値U2 の決定時までに取
得された測定値Xと、補正値U2 の決定時から補正反映
前フラグがOFFになるまでに取得された測定値Xとの
それぞれが、図において太い実線で示すように、修正さ
れる。
After that, it is assumed that before the auxiliary correction is completed, the head correction work reaches the post-process measuring machine 16 and the correction reflection flag is turned off. In this case, in S70, the current correction reflection flag is turned off.
Therefore, the determination in S200 is NO, and in S203, it is determined whether the corrected flag is ON. Since it is currently OFF, the determination is NO and S20
At 4, it is determined whether the measurement prediction was not sufficiently accurate. Assuming that this time is not sufficiently accurate, the determination is YES, and in S205, the measurement value prediction is corrected. As shown in (e) of FIG. 24, the measured values X obtained by the time the determination of the correction values U 2 from the end of the preceding additional correction, correction reflects previous flag from the time of the determination of the correction values U 2 OFF Each of the measured values X acquired until the time is changed as shown by the thick solid line in the figure.

【0159】なお、本実施例においては、補助補正の実
行時には、図24の(e) に示すように、測定値予測の修
正が行われるべき複数の測定値Xの中に、補正値U2
決定前であって暫定的なシフト量が補正値U1 であるも
のと、補正値U2 の決定後であって暫定的なシフト量が
(U1 +U2 )であるものとが混在し、その結果、測定
値予測の修正が行われても、次の補正値U3 の決定に際
して使用される予測後の測定値Xが十分に一様なものと
ならない。そこで、それら測定値Xを十分に一様なもの
とする必要がある場合には、例えば、同図の(f) に示す
ように、補正値U2 が測定値Xに現れた時点で、その補
正値U2 の決定前に既に補正値演算用メモリに蓄積され
ていた測定値Xであって既に暫定的なシフト量U1 でシ
フトされているものを、さらに、暫定的なシフト量U2
でシフトさせることにより、再度測定値予測を行えばよ
い。
In the present embodiment, when the auxiliary correction is executed, as shown in FIG. 24E, the correction value U 2 is included in the plurality of measurement values X for which the correction of the measurement value prediction is to be performed. a provisional shift amount even before the decision is a correction value U 1, provisional shift amount (U 1 + U 2) as a are mixed even after the determination of the correction values U 2 As a result, even if the measurement value prediction is corrected, the predicted measurement value X used in determining the next correction value U 3 is not sufficiently uniform. Therefore, when it is necessary to make the measured values X sufficiently uniform, for example, when the correction value U 2 appears in the measured value X as shown in FIG. The measured value X, which has already been stored in the correction value calculation memory before the correction value U 2 is determined and which has been shifted by the provisional shift amount U 1 , is further replaced by the provisional shift amount U 2
, The measured value may be predicted again.

【0160】また、本実施例においては、ファジィ制御
がデータシフト方式をとる場合には、図33にグラフで
示すように、積分制御実行条件が成立し、積分制御によ
り補正値Uが決定されたときに、補正値演算用メモリが
クリアされるとともに、測定値Xの蓄積が無蓄積状態か
ら再開され、かつ、そのまま蓄積されるのではなく、積
分制御ICにより決定された補正値Uが直ちに測定値X
に反映されたと仮定した場合に取得されることとなる測
定値Xを予測し、その予測した測定値Xが蓄積されるよ
うになっている。すなわち、データシフトは、積分制御
において測定値Xが蓄積された時期と同じ時期にファジ
ィ制御において蓄積された測定値Xは対象とせず、それ
以後に蓄積された測定値Xのみを対象として行われるよ
うになっているのである。しかし、データシフトは例え
ば、図40に示すように、積分制御において測定値Xが
蓄積された時期と同じ時期にファジィ制御において蓄積
された測定値Xをも対象として行うことが可能である。
例えば、積分制御の開始から終了までは測定値Xをその
まま補正値演算用メモリに蓄積するが、積分制御により
補正値Uが決定されたときに、それまでに蓄積された測
定値Xにつき、積分制御による補正値Uを加算すること
により、過去に遡ってデータシフトを行うことが可能な
のである。
In this embodiment, when the fuzzy control employs the data shift method, the integral control execution condition is satisfied as shown by the graph in FIG. 33, and the correction value U is determined by the integral control. Sometimes, the memory for correction value calculation is cleared, and the accumulation of the measurement value X is restarted from the non-accumulation state, and the correction value U determined by the integration control IC is immediately measured instead of being accumulated as it is. Value X
Is predicted, and the measured value X that is to be obtained when it is assumed to be reflected is predicted, and the predicted measured value X is accumulated. That is, the data shift is performed not on the measured values X accumulated in the fuzzy control at the same time as the accumulated values of the measured values X in the integral control, but on only the measured values X accumulated thereafter. It is like that. However, for example, as shown in FIG. 40, the data shift can be performed on the measured value X accumulated in the fuzzy control at the same time as the measured value X is accumulated in the integral control.
For example, from the start to the end of the integration control, the measured value X is stored in the correction value calculation memory as it is, but when the correction value U is determined by the integration control, the measured value X stored up to that point is integrated. The data shift can be performed retroactively by adding the correction value U by the control.

【0161】このようなデータシフト処理を実行するた
めの定寸点補正ルーチンの一部が図39にフローチャー
トで表されている。なお、このフローチャートは、図5
のフローチャートと共通する部分が多いため、異なる部
分についてのみ説明し、共通する部分については同一の
符号を使用することによって説明を省略する。
FIG. 39 is a flow chart showing a part of the fixed point correction routine for executing such data shift processing. This flowchart is shown in FIG.
Since there are many parts common to the flowcharts in FIG. 5, only different parts will be described, and description of common parts will be omitted by using the same reference numerals.

【0162】積分制御実行条件が成立したと仮定する
と、S2eの判定がYESとなり、S2fにおいて、積
分制御によって補正値Uが算出され、S2gにおいて、
その算出された補正値Uが定寸装置14に送信される。
その後、S2hにおいて、積分制御指令フラグがOFF
される。続いて、S2iにおいて、データシフト処理指
令があるか否かが判定される。今回はその指令があると
仮定すれば、判定がYESとなり、S2jにおいて、補
正値演算用メモリに蓄積された測定値Xのうち、積分制
御において測定値Xが蓄積された時期と同じ時期に蓄積
された測定値Xの各々に対し、積分制御による補正値U
をシフト量としてデータシフト処理が行われる。その
後、図6のS3に移行する。これにより、図40に示す
ように、積分制御による補正値Uに基づくデータシフト
処理が、積分制御の開始時期まで遡って行われることに
なる。その後、S2kにおいて、補正反映前フラグがO
Nされ、図6のS3に移行する。これに対し、今回はデ
ータシフト処理指令がないと仮定すれば、S2iの判定
がNOとなり、直ちにS2kに移行する。
Assuming that the condition for executing the integral control is satisfied, the judgment in S2e is YES, the correction value U is calculated by the integral control in S2f, and the correction value U is calculated in S2g.
The calculated correction value U is transmitted to the sizing device 14.
Thereafter, in S2h, the integration control command flag is turned off.
Is done. Subsequently, in S2i, it is determined whether or not there is a data shift processing command. Assuming that this command is present, the determination is YES, and in S2j, of the measured values X stored in the correction value calculation memory, the measured values are stored at the same time as the measured values X were stored in the integral control. For each of the measured values X, a correction value U
Is used as a shift amount to perform data shift processing. Thereafter, the process proceeds to S3 in FIG. Thus, as shown in FIG. 40, the data shift processing based on the correction value U by the integral control is performed retroactively to the start time of the integral control. After that, in S2k, the flag before correction reflection is set to O
N, and the process moves to S3 in FIG. On the other hand, assuming that there is no data shift processing command this time, the determination in S2i is NO, and the process immediately proceeds to S2k.

【0163】以上の説明から明らかなように、本実施例
においては、制御装置20のうち図20のファジィ制御
FCを実行する部分が本発明における「第1の補正値決
定手段」の一例を構成し、制御装置20のうち同図の積
分制御ICを実行する部分が本発明における「第2の補
正値決定手段」の一例を構成しているのである。
As is apparent from the above description, in the present embodiment, the part of the control device 20 which executes the fuzzy control FC of FIG. 20 constitutes an example of the "first correction value determining means" in the present invention. The part of the control device 20 that executes the integral control IC shown in FIG. 3 constitutes an example of the “second correction value determining means” in the present invention.

【0164】なお、本実施例は、クランクシャフトをワ
ークとし、それの複数のジャーナル面(外周円筒面)を
それぞれ加工部位として円筒研削する加工システムと共
に使用される定寸点補正装置に本発明を適用した場合の
一例であったが、他の加工システムと共に使用される定
寸点補正装置に本発明を適用することができるのはもち
ろんである。他の加工システムには例えば、自動車のエ
ンジンのシリンダブロックを加工すべきワークとし、そ
れに予め形成された複数のシリンダボア(内周円筒面)
をそれぞれ加工部位としてホーニングする加工システム
を選ぶことができる。
In this embodiment, the present invention is applied to a fixed point correction apparatus used together with a machining system that uses a crankshaft as a workpiece, and uses a plurality of journal surfaces (outer peripheral cylindrical surfaces) thereof as machining portions, and a cylindrical grinding system. Although this is an example of the case where the present invention is applied, it is a matter of course that the present invention can be applied to a fixed point correction device used together with another processing system. Other processing systems include, for example, a cylinder block of an automobile engine as a work to be processed, and a plurality of cylinder bores (inner cylindrical surface) formed in advance.
Can be selected as a machining part.

【0165】以上、本発明を図示の実施例に基づいて具
体的に説明したが、この他にも特許請求の範囲を逸脱す
ることなく、当業者の知識に基づいて種々の変形,改良
を施した態様で本発明を実施することができる。
Although the present invention has been described in detail with reference to the illustrated embodiments, various modifications and improvements may be made based on the knowledge of those skilled in the art without departing from the scope of the claims. The present invention can be carried out in such a manner.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例であるフィードバック式の定
寸点補正装置が使用される加工システムにおいてクラン
クシャフトが砥石により研削される状態を示す斜視図で
ある。
FIG. 1 is a perspective view showing a state in which a crankshaft is ground by a grindstone in a processing system using a feedback type fixed point correction device according to one embodiment of the present invention.

【図2】上記加工システム全体を示すシステム図であ
る。
FIG. 2 is a system diagram showing the entire processing system.

【図3】上記加工システムにおける加工機の構成を示す
図である。
FIG. 3 is a diagram showing a configuration of a processing machine in the processing system.

【図4】上記定寸点補正装置を概念的に示す機能ブロッ
ク図である。
FIG. 4 is a functional block diagram conceptually showing the fixed point correction device.

【図5】図2における制御装置20のコンピュータによ
り実行される定寸点補正ルーチンの一部を示すフローチ
ャートである。
FIG. 5 is a flowchart showing a part of a fixed point correction routine executed by the computer of the control device 20 in FIG. 2;

【図6】その定寸点補正ルーチンの別の一部を示すフロ
ーチャートである。
FIG. 6 is a flowchart showing another part of the fixed point correction routine.

【図7】その定寸点補正ルーチンのさらに別の一部を示
すフローチャートである。
FIG. 7 is a flowchart showing yet another part of the fixed point correction routine.

【図8】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一部
を示すフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart showing yet another part of the fixed point correction routine.

【図9】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一部
を示すフローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing yet another part of the fixed point correction routine.

【図10】その定寸点補正ルーチンのさらにまた別の一
部を示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing yet another part of the fixed point correction routine.

【図11】その定寸点補正ルーチンの処理全体の流れを
概念的に示す図である。
FIG. 11 is a diagram conceptually showing the flow of the entire process of the fixed point correction routine.

【図12】図11における両端直径補正の原理を概念的
に示すグラフである。
FIG. 12 is a graph conceptually showing the principle of correcting both end diameters in FIG. 11;

【図13】図11における寸法情報取得において誤差値
Rから微分値Tが算出される過程を概念的に示すグラフ
である。
13 is a graph conceptually showing a process of calculating a differential value T from an error value R in obtaining dimension information in FIG.

【図14】図11におけるファジィ演算において誤差値
Rについて用いられるメンバーシップ関数を示すグラフ
である。
14 is a graph showing a membership function used for an error value R in the fuzzy operation in FIG.

【図15】そのファジィ演算において微分値Tについて
用いられるメンバーシップ関数を示すグラフである。
FIG. 15 is a graph showing a membership function used for a differential value T in the fuzzy operation.

【図16】そのファジィ演算において補正値Uについて
用いられるメンバーシップ関数を示すグラフである。
FIG. 16 is a graph showing a membership function used for a correction value U in the fuzzy operation.

【図17】上記実施例において、補正値が測定値に反映
される毎に新たな補正値が決定される様子を概念的に説
明するためのグラフである。
FIG. 17 is a graph conceptually illustrating how a new correction value is determined each time a correction value is reflected on a measured value in the embodiment.

【図18】上記実施例において、補正値が測定値に反映
されるまでの間にそれ以前に存在する測定値をその補正
値の分だけシフトさせるデータシフト処理の内容を概念
的に説明するためのグラフである。
FIG. 18 is a diagram conceptually illustrating the contents of a data shift process in which a measured value existing before the correction value is shifted by the correction value before the correction value is reflected on the measured value in the embodiment. It is a graph of.

【図19】図11における連続性考慮の内容を概念的に
示すグラフである。
FIG. 19 is a graph conceptually showing the content of continuity consideration in FIG. 11;

【図20】図5〜10の定寸点補正ルーチンにおいて測
定値Xから最終補正値U* が誘導される過程の一例を説
明するための図である。
20 is a diagram for explaining an example of a process in which a final correction value U * is derived from a measured value X in the fixed point correction routine of FIGS.

【図21】図7のS70の詳細を示すフローチャートで
ある。
FIG. 21 is a flowchart showing details of S70 in FIG. 7;

【図22】上記実施例において、ある回の補正値U1
測定値Xに現れた後に次の補正値U2 が決定される場合
に、データシフト処理により予測された測定値Xが修正
される様子を概念的に説明するためのグラフである。
[22] In the above embodiment, when the correction value U 1 of a round following the correction value U 2 is determined after appearing in the measured value X, the measurement value X, which is predicted by the data shift processing is corrected 6 is a graph for conceptually explaining the state of the operation.

【図23】上記実施例において、ある回の補正値U1
測定値Xに現れる前に別の補正値U2 が決定される場合
であって補助補正が行われない場合に、データシフト処
理により予測された測定値Xが修正される様子を概念的
に説明するためのグラフである。
FIG. 23 shows a data shift process in a case where another correction value U 2 is determined before a certain correction value U 1 appears in the measurement value X and no auxiliary correction is performed in the above embodiment. 5 is a graph for conceptually explaining how the measured value X predicted by the above is corrected.

【図24】上記実施例において、ある回の補正値U1
測定値Xに現れる前に別の補正値U2 が決定される場合
であって補助補正が行われる場合に、データシフト処理
により予測された測定値Xが修正される様子を概念的に
説明するためのグラフである。
FIG. 24 is a diagram showing a case where another correction value U 2 is determined before a certain correction value U 1 appears in the measurement value X and auxiliary correction is performed in the above embodiment. 5 is a graph for conceptually explaining how a predicted measurement value X is corrected.

【図25】上記実施例における測定値前後差変動状態判
定の実行期間と待機ワーク数の最小値および最大値との
関係を説明するためのグラフである。
FIG. 25 is a graph for explaining the relationship between the execution period of the measurement value front-back difference fluctuation state determination and the minimum and maximum values of the number of standby works in the embodiment.

【図26】上記実施例における測定ワーク数と測定値前
後差とその測定値前後差の算出に用いたサンプル値の数
との関係を概念的に説明するためのグラフである。
FIG. 26 is a graph for conceptually explaining the relationship between the number of workpieces, the difference before and after the measured value, and the number of sample values used for calculating the difference before and after the measured value in the embodiment.

【図27】図11における積分制御ICの内容を概念的
に示すグラフである。
FIG. 27 is a graph conceptually showing the contents of the integration control IC in FIG. 11;

【図28】積分制御を何回も連続して行った場合におけ
る問題を説明するためのグラフである。
FIG. 28 is a graph for explaining a problem in the case where integration control is performed many times continuously.

【図29】前記定寸点補正ルーチンにおける積分制御実
行条件を表形式で示す図である。
FIG. 29 is a diagram showing, in a table form, integration control execution conditions in the fixed point correction routine.

【図30】前記定寸点補正ルーチンが一連の加工の開始
当初において実行される様子を説明するためのグラフで
ある。
FIG. 30 is a graph for explaining how the fixed point correction routine is executed at the beginning of a series of machining.

【図31】前記定寸点補正ルーチンが作業者による手動
補正後に実行される様子を説明するためのグラフであ
る。
FIG. 31 is a graph for explaining how the fixed point correction routine is executed after manual correction by an operator.

【図32】前記定寸点補正ルーチンにおける積分制御と
単純蓄積方式のファジィ制御相互の関係を説明するため
のグラフである。
FIG. 32 is a graph for explaining the relationship between the integral control and the fuzzy control of the simple accumulation method in the fixed point correction routine.

【図33】前記定寸点補正ルーチンにおける積分制御と
シフト蓄積方式のファジィ制御相互の関係を説明するた
めのグラフである。
FIG. 33 is a graph for explaining the relationship between the integral control and the fuzzy control of the shift accumulation method in the fixed point correction routine.

【図34】前記加工システムにおいて測定値Xが測定値
数iの増加に対して変化する様子を概念的に説明するた
めのグラフである。
FIG. 34 is a graph conceptually illustrating how a measured value X changes with an increase in the number of measured values i in the processing system.

【図35】前記定寸点補正ルーチンにおける測定値前後
差変動状態判定の開始条件の内容を概念的に説明するた
めの図である。
FIG. 35 is a diagram for conceptually explaining the contents of a start condition of a measurement value front-back difference fluctuation state determination in the fixed point correction routine.

【図36】前記定寸点補正ルーチンにおける測定値前後
差変動状態判定の終了条件の内容を概念的に説明するた
めの図である。
FIG. 36 is a diagram for conceptually explaining the contents of an ending condition of the measurement value front-back difference fluctuation state determination in the fixed point correction routine.

【図37】本出願人が本発明に先立って開発したフィー
ドバック式加工条件補正装置において補正値が自動的に
決定される様子を説明するためのグラフである。
FIG. 37 is a graph for explaining how a correction value is automatically determined in a feedback-type processing condition correction device developed prior to the present invention by the present applicant.

【図38】本出願人が本発明に先立って開発したフィー
ドバック式加工条件補正装置において最初の補正値が自
動的に決定されのに先立って作業者により加工条件が手
動で補正される様子を説明するためのグラフである。
FIG. 38 illustrates how a machining condition is manually corrected by an operator before an initial correction value is automatically determined in a feedback processing condition correction device developed prior to the present invention by the present applicant. It is a graph for performing.

【図39】本発明の別の実施例であるフィードバック式
の定寸点補正装置における制御装置20のコンピュータ
により実行される定寸点補正ルーチンの一部を示すフロ
ーチャートである。
FIG. 39 is a flowchart showing a part of a fixed point correction routine executed by a computer of the control device 20 in a feedback type fixed point correction apparatus according to another embodiment of the present invention.

【図40】図39のフローチャートにより実行される定
寸点補正の様子を説明するためのグラフである。
40 is a graph for explaining a state of fixed size point correction executed according to the flowchart of FIG. 39.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 加工機 12 インプロセス測定機 14 定寸装置 15 モータコントローラ 16 ポストプロセス測定機 20 制御装置 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Processing machine 12 In-process measuring machine 14 Sizing device 15 Motor controller 16 Post-process measuring machine 20 Control device

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平6−198543(JP,A) 特開 平6−106455(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G05B 19/18 - 19/46 B23Q 15/00 - 15/28 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) References JP-A-6-198543 (JP, A) JP-A-6-106455 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) G05B 19/18-19/46 B23Q 15/00-15/28

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】(a) 複数のワークを順に加工する加工機
と、(b) 外部から供給された補正値に基づいて前記加工
機の加工条件を補正し、その補正した加工条件に従って
前記加工機を制御する加工機制御装置と、(c) 前記加工
機により加工された複数のワークの寸法を順に測定する
測定機とを備え、それら加工機と測定機との間にその測
定機による測定を待つワークが少なくとも1個存在する
加工システムと共に使用され、前記測定機により複数の
測定値が取得されたときにその複数の測定値に基づいて
前記加工条件の第1補正値を決定し、その決定した第1
補正値を前記加工機制御装置に供給する第1補正値決定
手段を含むフィードバック式加工条件補正装置におい
て、 前記測定機により前記第1補正値決定手段が1個の前記
第1補正値を決定するのに必要な測定値の数より少数の
測定値が取得され、かつ、予め設定された第2補正実行
条件が成立した場合に、前記少数の測定値に基づいて前
記加工条件の第2補正値を決定し、その決定した第2
正値を前記加工機制御装置に供給する第2補正値決定手
段を設けるとともに、前記第2補正実行条件を、少なく
ともワークの加工誤差がそれに対して設定された設定範
囲を超える場合に成立するものとしたことを特徴とする
フィードバック式加工条件補正装置。
(A) a processing machine for processing a plurality of workpieces in order; and (b) a processing condition of the processing device is corrected based on a correction value supplied from outside, and the processing is performed in accordance with the corrected processing condition. A processing machine control device that controls the machine, and (c) a measuring machine that sequentially measures the dimensions of a plurality of workpieces processed by the processing machine, and a measurement performed by the measuring machine between the processing machine and the measuring machine. Is used together with a processing system having at least one workpiece waiting for, and when a plurality of measurement values are obtained by the measuring device, a first correction value of the processing condition is determined based on the plurality of measurement values. The first decided
In the feedback type processing condition correction device including a first correction value determining means for providing a correction value to said machine control device, wherein the said measuring first correction value determining means one of the
A smaller number of measured values than the number of measured values required to determine the first correction value are obtained , and the second correction is performed in advance.
When the condition is satisfied, a second correction value determining means for determining a second correction value of the processing condition based on the small number of measurement values and supplying the determined second correction value to the processing machine control device. provided Rutotomoni, the second correction execution condition, less
In both cases, the work error of the workpiece
A feedback-type processing condition correction device, which is established when the distance exceeds the range .
【請求項2】前記第2補正実行条件が、一連の加工の開2. The method according to claim 1, wherein the second correction execution condition is a condition in which
始時期から一定個数のワークについての測定が終了するMeasurement of a certain number of workpieces ends from the beginning
かまたは一定時間が経過するまでの期間であること、あOr until a certain period of time elapses,
るいは、一連の加工の開始時期から前記第1補正値決定Alternatively, the first correction value is determined from the start time of a series of machining.
手段により最初に前記第1補正値が決定されるまでの期A period until the first correction value is first determined by the means.
間であることによっても成立する請求項1に記載のフィ2. The filter according to claim 1, wherein
ードバック式加工条件補正装置。Feedback type processing condition correction device.
【請求項3】前記第2補正実行条件が、一連の加工の開3. The method according to claim 2, wherein the second correction execution condition is a condition in which
始後であって作業者が手動補正をした時期から一定個数A certain number after the start and when the operator manually compensated
のワークについての測定が終了するかまたは一定時間がMeasurement for a given workpiece is completed or
経過するまでの期間、あるいは、前記手動補正時期からFrom the time until the elapse or from the manual correction time
前記第1補正値決定手段により最初に前記第1補正値がFirst, the first correction value is determined by the first correction value determining means.
決定されるまでの期間において、前記ワークの加工誤差In the period until it is determined, the processing error of the work
が前記設定範囲を超える場合に成立する請求項1またはIs satisfied when the value exceeds the set range.
2に記載のフィードバック式加工条件補正装置。3. The feedback-type processing condition correction device according to 2.
【請求項4】前記第2補正実行条件が、一連の加工の開4. The method according to claim 1, wherein the second correction execution condition is a condition in which
始後であって前記第1The first and the first 補正値決定手段の内部パラメータInternal parameter of correction value determination means
の設定が変更された後一定時間が経過するまでの期間、Until a certain amount of time elapses after the setting is changed,
あるいは、前記設定変更時期から前記第1補正値決定手Alternatively, the first correction value determining step is performed based on the setting change time.
段により最初に前記第1補正値が決定されるまでの期間A period until the first correction value is first determined by a step
において、前記ワークの加工誤差が前記設定範囲を超えThe machining error of the work exceeds the set range
る場合に成立する請求項1ないし3のいずれかに記載の4. The method according to claim 1, wherein
フィードバック式加工条件補正装置。Feedback processing condition correction device.
【請求項5】前記第1補正値決定手段が、前記複数の測5. The method according to claim 1, wherein the first correction value determining means is configured to determine the plurality of measurement values.
定値に基づいて1個の移動平均値を算出し、その算出しCalculate one moving average value based on the fixed value, and calculate
た移動平均値を今回の測定値とみなし、そのみなした今The moving average value considered as the current measurement value
回の測定値の目標値からの誤差値と、その誤差値の微分Error of the measured value from the target value and the derivative of the error value
値または前記移動平均値の微分値との双方に基づき、今Based on both the value and the derivative of the moving average.
回の補正値を決定する手段を含む請求項1ないし4のい5. A method according to claim 1, further comprising means for determining a correction value for each time.
ずれかに記載のフィードバック式加工条件補正装置。A feedback-type processing condition correction device described in any of the above.
【請求項6】前記第1補正値決定手段が、今回の誤差値6. The apparatus according to claim 1, wherein said first correction value determining means determines a current error value.
と微分値とのうちの少なくとも誤差値に基づき、ファジFuzzy based on at least the error value of
ィルールに従って今回の前記第1補正値を決定するファFile for determining the first correction value this time according to the
ジィ演算型補正値決定手段を含む請求項1ないし4のい5. A method as claimed in claim 1, further comprising means for determining a correction value for the operation type.
ずれかに記載のフィードバック式加工条件補正装置。A feedback-type processing condition correction device described in any of the above.
【請求項7】前記第2補正値決定手段が、今回の測定値7. The apparatus according to claim 7, wherein said second correction value determining means determines a current measured value.
の目標値からの誤差値に比例した大きさで今回の前記第This time, the magnitude is proportional to the error value from the target value.
2補正値を決定する比例制御型補正値決定手段を含む請(2) A contract including a proportional control type correction value determining means for determining a correction value
求項1ないし6のいずれかに記載のフィードバック式加The feedback equation according to any one of claims 1 to 6,
工条件補正装置。Construction condition correction device.
【請求項8】前記第2補正値決定手段が、今回の測定値8. The apparatus according to claim 7, wherein said second correction value determining means determines a current measured value.
の目標値からの誤差値の時間積分値に比例した大きさでWith a magnitude proportional to the time integral of the error value from the target value of
今回の前記第2補正値を決定する積分制御型補正値決定Integral control type correction value determination for determining the second correction value this time
手段を含む請求項1ないし6のいずれかに記載のフィーA fee according to any one of claims 1 to 6, including means.
ドバック式加工条件補正装置。Deback type processing condition correction device.
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