JP3264096B2 - Horizontal vapor phase growth apparatus and horizontal heat treatment apparatus - Google Patents

Horizontal vapor phase growth apparatus and horizontal heat treatment apparatus

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JP3264096B2
JP3264096B2 JP13137494A JP13137494A JP3264096B2 JP 3264096 B2 JP3264096 B2 JP 3264096B2 JP 13137494 A JP13137494 A JP 13137494A JP 13137494 A JP13137494 A JP 13137494A JP 3264096 B2 JP3264096 B2 JP 3264096B2
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susceptor
substrate
horizontal
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tube
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弘治 河合
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、横型気相成長装置
よび横型熱処理装置に関し、例えば、横型MOCVD
(有機金属化学気相成長)装置に適用して好適なもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a horizontal vapor phase growth apparatus and
And horizontal heat treatment apparatus , for example , horizontal MOCVD
It is suitable for use in (organic metal chemical vapor deposition) apparatuses.

【0002】[0002]

【従来の技術】MOCVD装置には種々の構成のものが
あるが、そのうち横型MOCVD装置は、横型反応管内
に高流速でガス原料を流すことができることなどによ
り、高品質の化合物半導体素子の製造に適している。
2. Description of the Related Art There are various types of MOCVD apparatuses. Among them, a horizontal MOCVD apparatus is used for producing a high-quality compound semiconductor device by, for example, being able to flow a gas source at a high flow rate in a horizontal reaction tube. Are suitable.

【0003】図18は横型MOCVD装置の一例を示
し、実験室規模のものである。この図18に示す横型M
OCVD装置においては、サセプタ101のみ反応管1
02から基板交換室103に移動させて基板104を交
換する。ここで、反応管102から基板交換室103へ
のサセプタ101の移動の際には、ゲートバルブ105
を開ける。なお、図18において、符号106は高周波
加熱コイル、107は熱電対を示す。
FIG. 18 shows an example of a horizontal MOCVD apparatus, which is of a laboratory scale. The horizontal M shown in FIG.
In the OCVD apparatus, only the susceptor 101 has a reaction tube 1
The substrate 104 is moved from 02 to the substrate exchange chamber 103 to exchange the substrate 104. Here, when the susceptor 101 is moved from the reaction tube 102 to the substrate exchange chamber 103, the gate valve 105
Open. In FIG. 18, reference numeral 106 denotes a high-frequency heating coil, and 107 denotes a thermocouple.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上述の図18に示す横
型MOCVD装置を生産に用いるためには、その大型化
が必要であるが、この大型化の問題以前に次のような問
題の解決が必須である。すなわち、基板104を交換す
る際には、大量の析出物が存在する反応管102内の下
流を基板104が通るので、その表面が汚染されるおそ
れがある。
In order to use the above-mentioned horizontal MOCVD apparatus shown in FIG. 18 for production, it is necessary to increase the size of the apparatus. Required. That is, when replacing the substrate 104, the surface of the substrate 104 may be contaminated because the substrate 104 passes downstream in the reaction tube 102 where a large amount of precipitates exist.

【0005】したがって、この発明の目的は、基板を交
換する際に基板の表面が汚染されるのを防止することが
できる横型MOCVD装置などの横型気相成長装置を提
供することにある。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a horizontal vapor phase growth apparatus such as a horizontal MOCVD apparatus capable of preventing the surface of a substrate from being contaminated when the substrate is replaced.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明は、横型の反応管(21)と、基板(S)
を載せるためのサセプタ(23)と、サセプタ(23)
を加熱するための加熱手段(29)とを有する横型気相
成長装置において、反応管(21)の管壁に設けられた
開口(21a)にサセプタ(23)を着脱可能に構成さ
サセプタ(23)は固定部およびこの固定部に対し
て回転する回転部(24、25)から成り、回転部(2
4、25)上に基板(S)が載せられることを特徴とす
るものである。
In order to achieve the above object, the present invention provides a horizontal reaction tube (21) and a substrate (S).
Susceptor (23) for mounting a susceptor and susceptor (23)
In horizontal vapor phase growth apparatus having a heating means (29) for heating the, it is detachably attached to the susceptor (23) into the reaction tube (21) of the tube wall provided with an opening (21a), a susceptor ( 23) is for the fixed part and this fixed part
Rotating part (24, 25),
4, 25) on which the substrate (S) is mounted .

【0007】この発明において、サセプタ(23)は、
開口(21a)にはめ込まれたときに反応管(21)の
管壁の一部を構成する。また、サセプタ(23)は、反
応管(21)に対して垂直な方向に移動可能に構成され
る。加熱手段(29)は、サセプタ(23)に関して反
応管(21)と反対側の部分にサセプタ(23)と一体
的に設けられる。ここで、加熱手段(29)としては、
例えば、熱効率が高くて低消費電力の抵抗加熱源が好適
に用いられる。
In the present invention, the susceptor (23)
When fitted into the opening (21a), it forms part of the tube wall of the reaction tube (21). The susceptor (23) is configured to be movable in a direction perpendicular to the reaction tube (21). The heating means (29) is provided integrally with the susceptor (23) at a portion opposite to the reaction tube (21) with respect to the susceptor (23). Here, as the heating means (29),
For example, a resistance heating source with high thermal efficiency and low power consumption is preferably used.

【0008】この発明の一実施形態においては、サセプ
タ(23)および加熱手段(29)は、反応管(21)
に対して垂直な方向に移動可能な台(33)に取り付け
られる。これらのサセプタ(23)および加熱手段(2
9)は、支持ばね(32)を介して台(33)に取り付
けられる。この支持ばね(32)としては、一方向にの
み自由度を有するものが好適に用いられ、具体的には例
えば板ばねが用いられる。
[0008] In one embodiment of the present invention, the susceptor (23) and the heating means (29) include a reaction tube (21).
Mounted on a platform (33) movable in a direction perpendicular to the table. These susceptors (23) and heating means (2
9) is attached to the base (33) via a support spring (32). As the support spring (32), one having a degree of freedom in only one direction is suitably used, and specifically, for example, a leaf spring is used.

【0009】この発明の一実施形態において、サセプタ
(23)は固定部およびこの固定部に対して回転する回
転部(24、25)から成り、回転部(24、25)上
に基板(S)が載せられる。ここで、回転部(24、2
5)は第1の歯車から成り、第1の歯車は第2の歯車
(26)により回転可能に構成される。この第2の歯車
(26)には、モータ(27)の軸(27a)に接続さ
れたワイヤ(28)を介してモータ(27)の回転力が
伝達される。
In one embodiment of the present invention, the susceptor (23) comprises a fixed portion and rotating portions (24, 25) rotating with respect to the fixed portion, and the substrate (S) is mounted on the rotating portions (24, 25). Is placed. Here, the rotating parts (24, 2
5) consists of a first gear, the first gear being rotatable by a second gear (26). The rotational force of the motor (27) is transmitted to the second gear (26) via a wire (28) connected to a shaft (27a) of the motor (27).

【0010】この発明の典型的な一実施形態において
は、サセプタ(23)上の基板(S)を交換するための
基板交換室(22)をさらに有する。この場合、サセプ
タ(23)および加熱手段(29)は反応管(21)に
対して垂直な方向に移動可能な台(33)に取り付けら
れ、基板(S)を交換するときに反応管(21)に対し
て垂直な方向に台(33)を移動することにより基板交
換室(22)内にサセプタ(23)および加熱手段(2
9)を導入するように構成される。
[0010] In a typical embodiment of the present invention, there is further provided a substrate exchange chamber (22) for exchanging the substrate (S) on the susceptor (23). In this case, the susceptor (23) and the heating means (29) are mounted on a table (33) movable in a direction perpendicular to the reaction tube (21), and when exchanging the substrate (S), the reaction tube (21) is changed. The susceptor (23) and the heating means (2) are moved into the substrate exchange chamber (22) by moving the table (33) in a direction perpendicular to
9).

【0011】また、基板交換室(22)内に設けられた
回転軸(35)に沿って移動可能なアクチュエータ(3
4)が台(33)に取り付けられる。ここで、このアク
チュエータ(34)は、ベアリング(BB)と回転軸
(35)との間の摩擦力により回転軸(35)の軸方向
の駆動力が生じるように構成されたリニアアクチュエー
タである。
An actuator (3) movable along a rotation axis (35) provided in the substrate exchange chamber (22).
4) is attached to the table (33). Here, the actuator (34) is a linear actuator configured to generate a driving force in the axial direction of the rotating shaft (35) by a frictional force between the bearing (BB) and the rotating shaft (35).

【0012】さらに、基板交換室(22)内には基板
(S)を交換するための可動なアームが設けられる。こ
のアームは、第1のアーム(40)およびその先端に取
り付けられ、かつ基板(S)を真空吸着するための穴
(41a、41b)を有する第2のアーム(41)から
成り、第2のアーム(41)は第1のアーム(40)の
先端側の一端を中心として回転可能でかつその中心軸の
周りに回転可能に構成される。この発明はまた、横型の
反応管と、基板を載せるためのサセプタと、サセプタを
加熱するための加熱手段とを有する横型気相成長装置に
おいて、 反応管の管壁に設けられた開口にサセプタを着
脱可能に構成され、 加熱手段はサセプタに関して反応管
と反対側の部分にサセプタと一体的に設けられ、 サセプ
タおよび加熱手段は反応管に対して垂直な方向に移動可
能な台に支持ばねを介して取り付けられている ことを特
徴とするものである。 この発明はまた、横型の反応管
と、基板を載せるためのサセプタと、サセプタを加熱す
るための加熱手段とを有する横型気相成長装置におい
て、 反応管の管壁に設けられた開口にサセプタを着脱可
能に構成され、 サセプタは固定部およびこの固定部に対
して回転する回転部から成り、回転部上に基板が載せら
れ、 回転部は第1の歯車から成り、第1の歯車は第2の
歯車により回転可能に構成され、 モータの軸に接続され
たワイヤを介して第2の歯車にモータの回転力が伝達さ
れるように構成されている ことを特徴とするものであ
る。 この発明はまた、横型の反応管と、基板を載せるた
めのサセプタと、サセプタを加熱するための加熱手段
と、サセプタ上の基板を交換するための基板交換室とを
有する横型気相成長装置において、 反応管の管壁に設け
られた開口にサセプタを着脱可能に構成され、 サセプタ
および加熱手段は反応管に対して垂直な方向に移動可能
な台に取り付けられ、基板を交換するときに反応管に対
して垂直な方向に台を移動することにより基板交換室内
にサセプタおよび加熱手段を導入するように構成され、
基板交換室内において反応管に対して垂直な方向に台を
移動する手段として無潤滑のリニアアクチュエータを用
いた ことを特徴とするものである。 この発明はまた、横
型の反応管と、基板を載せるためのサセプタと、サセプ
タを加熱するための加熱手段と、サセプタ上の基板を交
換するための基板交換室とを有する横型気相成長装置に
おいて、 反応管の管壁に設けられた開口にサセプタを着
脱可能に構成され、 サセプタおよび加熱手段は反応管に
対して垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、基板
を交換するときに反応管に対して垂直な方向に台を移動
することにより基板交換室内にサセプタおよび加熱手段
を導入するように構成され、 基板交換室内に設けられた
回転軸に沿って移動可能なアクチュエータが台に取り付
けられ、アクチュエータはベアリングと回転軸との間の
摩擦力により回転軸の軸方向の駆動力が生じるように構
成されている ことを特徴とするものである。 この発明は
また、横型の反応管と、基板を載せるためのサセプタ
と、サセプタを加熱するための加熱手段と、サセプタ上
の基板を交換するための基板交換室とを有する横型気相
成長装置において、 反応管の管壁に設けられた開口にサ
セプタを着脱可能に構成され、 サセプタおよび加熱手段
は反応管に対して垂直な方向に移動可能な台に取り付け
られ、基板を交換するときに反応管に対して垂直な方向
に台を移動することにより基板交換室内にサセプタおよ
び加熱手段を導入するように構成され、 基板交換室内に
は基板を交換するための可動なアームが設けられ、アー
ムは第1のアームおよびその先端に取り付けられ、かつ
基板を真空吸着するための穴を有する第2のアームから
成り、第2のアームは第1のアームの先端側の一端を中
心として回転可能でかつその中心軸の周りに回転可能に
構成されている ことを特徴とするものである。 この発明
はまた、横型の反応管と、基板を載せるためのサセプタ
と、サセプタを加熱するための加熱手段と、サセプタ上
の基板を交換するための基板交換室とを有する横型気相
成長装置において、 反応管の管壁に設けられた開口にサ
セプタを着脱可能に構成され、 サセプタおよび加熱手段
は反応管に対して垂直な方向に移動可能な台に取り付け
られ、基板を交換するときに反応管に対して垂直な方向
に台を移動することにより基板交換室内にサセプタおよ
び加熱手段を導入するように構成され、 開口にサセプタ
がはめ込まれているときに、少なくともサセプタおよび
台を含む仕切り壁により仕切られた空間が形成され、こ
の空間と反応管の内部とが連通している ことを特徴とす
るものである。 この発明はさらに、横型の処理管と、基
板を載せるためのサセプタと、サセプタを加熱するため
の加熱手段とを有する横型熱処理装置において、 処理管
の管壁に設けられた開口にサセプタを着脱可能に構成さ
れ、 サセプタは固定部およびこの固定部に対して回転す
る回転部から成り、回転部上に基板が載せられる ことを
特徴とするものである。 この発明はさらに、横型の処理
管と、基板を載せるためのサセプタと、サセプタを加熱
するための加熱手段とを有する横型熱処理装置におい
て、 処理管の管壁に設けられた開口にサセプタを着脱可
能に構成され、 加熱手段はサセプタに関して処理管と反
対側の部分にサセプタと一体的に設けられ、 サセプタお
よび加熱手段は処理管に対して垂直な方向に移動可能な
台に支持ばねを介して取り付けられている ことを特徴と
するものである。 この発明はさらに、横型の処理管と、
基板を載せるためのサセプタと、サセプタを加熱するた
めの加熱手段とを有する横型熱処理装置において、 処理
管の管壁に設けられた開口にサセプタを着脱可能に構成
され、 サセプタは固定部およびこの固定部に対して回転
する回転部から成り、回転部 上に基板が載せられ、 回転
部は第1の歯車から成り、第1の歯車は第2の歯車によ
り回転可能に構成され、 モータの軸に接続されたワイヤ
を介して第2の歯車にモータの回転力が伝達されるよう
に構成されている ことを特徴とするものである。 この発
明はさらに、横型の処理管と、基板を載せるためのサセ
プタと、サセプタを加熱するための加熱手段と、サセプ
タ上の基板を交換するための基板交換室とを有する横型
熱処理装置において、 処理管の管壁に設けられた開口に
サセプタを着脱可能に構成され、 サセプタおよび加熱手
段は処理管に対して垂直な方向に移動可能な台に取り付
けられ、基板を交換するときに処理管に対して垂直な方
向に台を移動することにより基板交換室内にサセプタお
よび加熱手段を導入するように構成され、 基板交換室内
において処理管に対して垂直な方向に台を移動する手段
として無潤滑のリニアアクチュエータを用いた ことを特
徴とするものである。 この発明はさらに、横型の処理管
と、基板を載せるためのサセプタと、サセプタを加熱す
るための加熱手段と、サセプタ上の基板を交換するため
の基板交換室とを有する横型熱処理装置において、 処理
管の管壁に設けられた開口にサセプタを着脱可能に構成
され、 サセプタおよび加熱手段は処理管に対して垂直な
方向に移動可能な台に取り付けられ、基板を交換すると
きに処理管に対して垂直な方向に台を移動することによ
り基板交換室内にサセプタおよび加熱手段を導入するよ
うに構成され、 基板交換室内に設けられた回転軸に沿っ
て移動可能なアクチュエータが台に取り付けられ、アク
チュエータはベアリングと回転軸との間の摩擦力により
回転軸の軸方向の駆動力が生じるように構成されている
ことを特徴とするものである。 この発明はさらに、横型
の処理管と、基板を載せるためのサセプタと、サセプタ
を加熱するための加熱手段と、サセプタ上の基板を交換
するための基板交換室 とを有する横型熱処理装置におい
て、 処理管の管壁に設けられた開口にサセプタを着脱可
能に構成され、 サセプタおよび加熱手段は処理管に対し
て垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、基板を交
換するときに処理管に対して垂直な方向に台を移動する
ことにより基板交換室内にサセプタおよび加熱手段を導
入するように構成され、 基板交換室内には基板を交換す
るための可動なアームが設けられ、アームは第1のアー
ムおよびその先端に取り付けられ、かつ基板を真空吸着
するための穴を有する第2のアームから成り、第2のア
ームは第1のアームの先端側の一端を中心として回転可
能でかつその中心軸の周りに回転可能に構成されている
ことを特徴とするものである。 この発明はさらに、横型
の処理管と、基板を載せるためのサセプタと、サセプタ
を加熱するための加熱手段と、サセプタ上の基板を交換
するための基板交換室とを有する横型熱処理装置におい
て、 処理管の管壁に設けられた開口にサセプタを着脱可
能に構成され、 サセプタおよび加熱手段は処理管に対し
て垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、基板を交
換するときに処理管に対して垂直な方向に台を移動する
ことにより基板交換室内にサセプタおよび加熱手段を導
入するように構成され、 開口にサセプタがはめ込まれて
いるときに、少なくともサセプタおよび台を含む仕切り
壁により仕切られた空間が形成され、この空間と処理管
の内部とが連通している ことを特徴とするものである。
Further, a movable arm for exchanging the substrate (S) is provided in the substrate exchange chamber (22). This arm comprises a first arm (40) and a second arm (41) attached to the tip thereof and having holes (41a, 41b) for sucking the substrate (S) by vacuum. The arm (41) is configured to be rotatable around one end on the distal end side of the first arm (40) and rotatable around its central axis. The invention also provides a horizontal
A reaction tube, a susceptor for mounting the substrate, and a susceptor
A horizontal vapor phase growth apparatus having a heating means for heating
Attach a susceptor to the opening provided in the tube wall of the reaction tube.
It is configured to be removable, and the heating means is connected to the reaction tube with respect to the susceptor.
Is provided integrally with the susceptor on the side opposite to
Heater and heating means can be moved in a direction perpendicular to the reaction tube
That it is attached to a
It is a sign. The present invention also provides a horizontal reaction tube.
And a susceptor for mounting the substrate, and heating the susceptor.
Vapor deposition apparatus having heating means for heating
Te, Removable susceptor in an opening provided in the tube wall of the reaction tube
The susceptor is fixed to the fixed part and this fixed part.
The substrate is placed on the rotating part.
The rotating part comprises a first gear, and the first gear is a second gear.
It is configured to be rotatable by gears and connected to the motor shaft.
The torque of the motor is transmitted to the second gear via the wire
It is characterized in that it is configured to
You. The present invention also provides a horizontal reaction tube and a substrate.
For heating the susceptor and a heating means for heating the susceptor
And a substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor.
Provided on the tube wall of a reaction tube in a horizontal type vapor phase growth apparatus having
Is detachably attached to the susceptor was opened, the susceptor
And heating means can be moved perpendicular to the reaction tube
To the reaction tube when exchanging substrates.
And move the table in the vertical direction to move the board
Configured to introduce a susceptor and heating means to the
Place the table in a direction perpendicular to the reaction tube in the substrate exchange chamber.
Uses an unlubricated linear actuator as a moving means
It is characterized in that had. The invention also provides
Mold-type reaction tube, susceptor for mounting substrate, and susceptor
The heating means for heating the heater and the substrate on the susceptor.
To a horizontal type vapor phase growth apparatus having a substrate exchange chamber for exchanging
Attach a susceptor to the opening provided in the tube wall of the reaction tube.
The susceptor and the heating means are attached to the reaction tube.
Mounted on a table that can be moved in a direction perpendicular to the
Move table in direction perpendicular to reaction tube when replacing
The susceptor and the heating means in the substrate exchange chamber.
And installed in the substrate exchange chamber.
An actuator that can move along the rotation axis is attached to the table
The actuator moves between the bearing and the axis of rotation.
It is structured so that the frictional force generates the driving force in the axial direction of the rotating shaft.
It is characterized by having been done . This invention
In addition, a horizontal reaction tube and a susceptor for mounting the substrate
Heating means for heating the susceptor; and on the susceptor
Horizontal gas phase having a substrate exchange chamber for exchanging substrates
In the growth equipment, the opening provided in the tube wall of the reaction tube
A susceptor and a heating means
Is mounted on a table that can be moved in a direction perpendicular to the reaction tube.
When replacing the substrate, the direction perpendicular to the reaction tube
The susceptor and the susceptor
And a heating means are introduced into the substrate exchange chamber.
Is provided with a movable arm for exchanging substrates.
The arm is attached to the first arm and its tip, and
From the second arm with a hole for vacuum suction of the substrate
The second arm has one end on the distal end side of the first arm.
Rotatable as a center and rotatable around its central axis
That it is configured in which the features. The invention
In addition, a horizontal reaction tube and a susceptor
Heating means for heating the susceptor; and on the susceptor
Horizontal gas phase having a substrate exchange chamber for exchanging substrates
In the growth equipment, the opening provided in the tube wall of the reaction tube
A susceptor and a heating means
Is mounted on a table that can be moved in a direction perpendicular to the reaction tube.
When replacing the substrate, the direction perpendicular to the reaction tube
The susceptor and the susceptor
And a susceptor at the opening.
At least the susceptor and
A space partitioned by the partition wall including the base is formed.
And the inside of the reaction tube communicates with
Things. The present invention further provides a horizontal processing tube,
Susceptor for placing the board and for heating the susceptor
In horizontal heat treatment apparatus having a heating means, the processing tube
The susceptor is configured to be detachable from the opening provided in the
The susceptor rotates with respect to the fixed part.
That the substrate is placed on the rotating part.
It is a feature. The invention further provides for horizontal processing.
Heating tube, susceptor for mounting substrate, and susceptor
Horizontal heat treatment apparatus having a heating means for heating
Te, Removable susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube
The heating means is opposite to the processing tube with respect to the susceptor.
The susceptor is provided integrally with the susceptor on the opposite side .
And heating means can move in the direction perpendicular to the processing tube
It is characterized by being attached to the base via a support spring
Is what you do. The invention further comprises a horizontal processing tube;
A susceptor for mounting the substrate and a heater for heating the susceptor
In horizontal heat treatment apparatus and a fit of the heating means, treatment
A susceptor can be attached to and detached from the opening provided in the pipe wall.
And the susceptor rotates with respect to the fixed part
It consists rotating unit that, the substrate is placed on a rotating portion, the rotation
The part comprises a first gear, and the first gear comprises a second gear.
Ri rotatably constructed, connected to the shaft of the motor wire
Through which the torque of the motor is transmitted to the second gear
It is characterized by being constituted . This departure
Akira also added a horizontal processing tube and a support for loading substrates.
Susceptor, heating means for heating the susceptor, and susceptor.
Horizontal type having a substrate exchange chamber for exchanging substrates on a substrate
In the heat treatment equipment, the opening provided in the pipe wall of the processing pipe
The susceptor is configured to be detachable, and the susceptor and the heating
The stage is mounted on a table that can be moved in a direction perpendicular to the processing tube
When the substrate is changed,
The susceptor and the susceptor
And a heating means are introduced in the substrate exchange chamber.
For moving the table in a direction perpendicular to the processing tube at
Japanese for using unlubricated linear actuator as
It is a sign. The present invention further provides a horizontal processing tube.
And a susceptor for mounting the substrate, and heating the susceptor.
Heating means for replacing the substrate on the susceptor
Processing in a horizontal heat treatment apparatus having a substrate exchange chamber
A susceptor can be attached to and detached from the opening provided in the pipe wall.
And the susceptor and the heating means are perpendicular to the processing tube.
Mounted on a table that can move in the direction
By moving the table in a direction perpendicular to the
The susceptor and heating means
Configured urchin, along the axis of rotation provided on the substrate exchange chamber
The movable actuator is attached to the base,
Due to the friction between the bearing and the rotating shaft
It is configured to generate a driving force in the axial direction of the rotating shaft
It is characterized by the following. The invention further provides a horizontal
Processing tube, a susceptor for mounting a substrate, and a susceptor
Replace the substrate on the susceptor with heating means for heating the
In a horizontal heat treatment apparatus having a substrate exchange chamber for performing
Te, Removable susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube
Configured ability susceptor and heating means to process pipe
Mounted on a platform that can be moved vertically
Move the table in the direction perpendicular to the processing tube when changing
Guides the susceptor and heating means into the substrate exchange chamber.
Into the substrate exchange chamber.
Arm is provided for the first arm.
Attached to the system and its tip and vacuum-adsorbs the substrate
A second arm having a hole for
The arm can rotate around one end on the tip side of the first arm
And is configured to be rotatable around its central axis
It is characterized by the following. The invention further provides a horizontal
Processing tube, a susceptor for mounting a substrate, and a susceptor
Replace the substrate on the susceptor with heating means for heating the
In a horizontal heat treatment apparatus having a substrate exchange chamber for performing
Te, Removable susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube
Configured ability susceptor and heating means to process pipe
Mounted on a platform that can be moved vertically
Move the table in the direction perpendicular to the processing tube when changing
Guides the susceptor and heating means into the substrate exchange chamber.
With the susceptor fitted into the opening
When at least a partition containing the susceptor and platform
A space separated by walls is formed, and this space and the processing pipe
Is connected to the inside .

【0013】この発明において、横型気相成長装置は、
典型的には横型MOCVD装置であるが、例えば横型C
VD装置であってもよい。
[0013] In the present invention, the horizontal vapor phase epitaxy apparatus comprises:
Typically, a horizontal MOCVD apparatus is used.
It may be a VD device.

【0014】[0014]

【作用】上述のように構成されたこの発明による横型気
相成長装置によれば、サセプタ(23)を反応管(2
1)に対して垂直な方向に移動することにより反応管
(21)の開口(21a)に対するサセプタ(23)の
着脱を容易に行うことができるので、大量の析出物が存
在する反応管(21)内の下流を基板(S)を通さず
に、基板を交換することができる。このため、基板を交
換する際に基板の表面が汚染されるのを防止することが
できる。
According to the horizontal vapor phase epitaxy apparatus of the present invention constructed as described above, the susceptor (23) is connected to the reaction tube (2).
Since the susceptor (23) can be easily attached to and detached from the opening (21a) of the reaction tube (21) by moving in a direction perpendicular to 1), the reaction tube (21) in which a large amount of precipitates exists The substrate can be exchanged without passing the substrate (S) downstream in the parentheses. Therefore, it is possible to prevent the surface of the substrate from being contaminated when replacing the substrate.

【0015】[0015]

【実施例】この発明の一実施例について説明する前に、
一般的なMOCVD装置の構成について説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Before describing one embodiment of the present invention,
The configuration of a general MOCVD apparatus will be described.

【0016】図15に示すように、MOCVD装置は一
般に、ガス供給系1、反応容器(反応管)2、減圧系
3、除害系4、基板交換系5および基板格納室6を有す
る。ガス供給系1はガス供給コントローラ7により制御
される。反応容器2内にはヒータによって加熱可能なサ
セプタが設けられており、このサセプタの上に基板が載
せられる。ヒータによるサセプタの加熱は加熱コントロ
ーラ8によって制御される。減圧系3は減圧コントロー
ラ9によって制御される。これらのガス供給コントロー
ラ7、加熱コントローラ8および減圧コントローラ9
は、結晶成長シーケンスコントローラ10によって制御
される。一方、基板交換系5は基板交換コントローラ1
1によって制御される。
As shown in FIG. 15, the MOCVD apparatus generally has a gas supply system 1, a reaction vessel (reaction tube) 2, a pressure reduction system 3, a harm removal system 4, a substrate exchange system 5, and a substrate storage room 6. The gas supply system 1 is controlled by a gas supply controller 7. A susceptor that can be heated by a heater is provided in the reaction vessel 2, and a substrate is placed on the susceptor. The heating of the susceptor by the heater is controlled by the heating controller 8. The pressure reduction system 3 is controlled by a pressure reduction controller 9. These gas supply controller 7, heating controller 8 and pressure reducing controller 9
Is controlled by the crystal growth sequence controller 10. On the other hand, the board exchange system 5 is
1 is controlled.

【0017】ガス供給系1は、結晶成長に用いるガス原
料を所定量だけ反応容器2に供給するためのものであ
り、例えば図16に示すように構成される。ガス供給系
1は複数の原料供給チャネルを有し、各原料供給チャネ
ルに流量コントローラおよびバルブ(通常はエア駆動)
が取り付けられている。すなわち、図16においては、
バブラ12内に液体原料が入れられており、図示省略し
た水素純化装置によって高純度化された水素ガスがキャ
リアガスとしてこのバブラ12内に供給されることによ
り、この液体原料の蒸気圧分のガス原料が反応容器2に
供給される。バブラ12内に供給される水素ガスの流量
は流量コントローラ13によって制御される。一方、ガ
スボンベ14内のガス原料は、減圧バルブ15および流
量コントローラ16を介して反応容器2に供給される。
1 〜V7 はバルブを示す。ガス供給コントローラ7
は、結晶成長シーケンスコントローラ10からの命令に
基づいて、ガス供給系1の各原料供給チャネルを通るガ
ス原料の流量とバルブの開閉時間とを制御する。
The gas supply system 1 is for supplying a predetermined amount of a gas source used for crystal growth to the reaction vessel 2, and is configured, for example, as shown in FIG. The gas supply system 1 has a plurality of material supply channels, and each material supply channel has a flow controller and a valve (usually air-driven).
Is attached. That is, in FIG.
A liquid material is put in the bubbler 12, and a highly purified hydrogen gas is supplied as a carrier gas into the bubbler 12 by a hydrogen purifier (not shown). Raw materials are supplied to the reaction vessel 2. The flow rate of the hydrogen gas supplied into the bubbler 12 is controlled by a flow rate controller 13. On the other hand, the gas source in the gas cylinder 14 is supplied to the reaction vessel 2 via the pressure reducing valve 15 and the flow rate controller 16.
V 1 ~V 7 shows the valve. Gas supply controller 7
Controls the flow rate of the gas source passing through each source supply channel of the gas supply system 1 and the opening / closing time of the valve based on a command from the crystal growth sequence controller 10.

【0018】減圧系3は、反応容器2内のガス原料を一
定の圧力に制御しながら排気するためのものであり、例
えば図17に示すように構成される。図17において、
減圧コントローラ9は、結晶成長シーケンスコントロー
ラ10(図15)からある圧力の排気命令を受け取る
と、まず大気圧ラインのバイパスバルブV8 を閉じ、次
に減圧ラインのストップバルブV9 を開ける。次に、反
応容器2内の圧力を圧力計17で測定し、この測定圧力
と設定圧力との差に応じた出力をコントロールバルブ
(例えば、バタフライバルブ)V10に与え、制御ループ
に入る。反応容器2を大気圧に戻すには、ストップバル
ブV9 を閉じ、容器内圧力が大気圧になった信号を受け
取ったときにバイパスバルブV8 を開ける。なお、図1
7において、符号18はフィルタ、19は真空ポンプを
示す。
The pressure reducing system 3 is for exhausting the gaseous raw material in the reaction vessel 2 while controlling it at a constant pressure, and is constituted, for example, as shown in FIG. In FIG.
Decompression controller 9, upon receiving the exhaust instruction of pressure from crystal growth sequence controller 10 (FIG. 15), closing the bypass valve V 8 atmospheric pressure line first, and then open the stop valve V 9 of the vacuum line. Then, the pressure in the reaction vessel 2 was measured by the pressure gauge 17, control an output corresponding to the difference between the measured pressure and the set pressure valve (e.g., butterfly valve) applied to the V 10, enters the control loop. The reaction vessel 2 to return to atmospheric pressure, closing the stop valve V 9, opening the bypass valve V 8 when it receives a signal container pressure becomes atmospheric pressure. FIG.
In 7, reference numeral 18 denotes a filter, and 19 denotes a vacuum pump.

【0019】基板交換系5は、サセプタ上に基板を載せ
たり、結晶成長後の基板を取ったりするためのものであ
る。基板交換を行うときには、この基板交換系5の基板
交換室が反応容器2と接続されるので、この基板交換室
は不活性ガスで満たされており、反応容器2の汚染を防
いでいる。
The substrate exchange system 5 is for placing a substrate on a susceptor or removing a substrate after crystal growth. When the substrate is exchanged, the substrate exchange chamber of the substrate exchange system 5 is connected to the reaction vessel 2, so that the substrate exchange chamber is filled with an inert gas, thereby preventing the reaction vessel 2 from being contaminated.

【0020】反応容器2は、反応ガスを加熱した基板に
接触させ、それによる生成物を基板上に堆積させるため
のものである。この反応容器2は、一般に、サセプタ、
サセプタを囲む容器、ガス入口、排気口および加熱源か
ら成っている。加熱方法としては、赤外線ランプによる
加熱、抵抗加熱、高周波加熱などが用いられる。
The reaction vessel 2 is for bringing the reaction gas into contact with the heated substrate and depositing the resulting product on the substrate. This reaction vessel 2 generally comprises a susceptor,
It consists of a vessel surrounding the susceptor, a gas inlet, an outlet and a heating source. As a heating method, heating by an infrared lamp, resistance heating, high-frequency heating, or the like is used.

【0021】以下、この発明の一実施例について図面を
参照しながら説明する。なお、実施例の全図において、
同一または対応する部分には同一の符号を付す。図1は
この発明の一実施例による横型MOCVD装置を示し、
特に、その反応管および基板交換室の部分を示すもので
ある。この一実施例による横型MOCVD装置のその他
の構成、すなわちガス供給系、減圧系、除害系などは、
一般的なMOCVD装置、特に、横型MOCVD装置と
同様である。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. In all the drawings of the embodiment,
The same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals. FIG. 1 shows a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention,
In particular, it shows the reaction tube and the substrate exchange chamber. Other components of the horizontal MOCVD apparatus according to this embodiment, that is, a gas supply system, a decompression system, an abatement system, etc.
This is the same as a general MOCVD apparatus, particularly a horizontal MOCVD apparatus.

【0022】図1において、符号21は例えば長方形の
断面形状を有する石英製の横型の反応管、22は例えば
ステンレス鋼製の基板交換室を示す。この場合、反応管
21の下部には、後述のサセプタがはめ込まれる開口2
1aが設けられている。この開口21aの形状は例えば
長方形である。さらに、反応管21の下部には、この開
口21aを囲むように反応管固定用の突出部21bが設
けられている。一方、開口21aに対応する部分におけ
る基板交換室22の上板には、突出部21bとほぼ相似
な形状を有するが、大きさは少し小さい開口22aが設
けられている。そして、突出部21bの下部がO−リン
グO1 を介して開口22aの周囲の部分に固定されるこ
とによって、反応管21と基板交換室22とが互いに固
定されている。
In FIG. 1, reference numeral 21 denotes a horizontal reaction tube made of, for example, quartz having a rectangular cross section, and reference numeral 22 denotes a substrate exchange chamber made of, for example, stainless steel. In this case, the lower part of the reaction tube 21 has an opening 2 into which a susceptor described later is fitted.
1a is provided. The shape of the opening 21a is, for example, a rectangle. Further, a projection 21b for fixing the reaction tube is provided below the reaction tube 21 so as to surround the opening 21a. On the other hand, the upper plate of the substrate exchange chamber 22 at a portion corresponding to the opening 21a is provided with an opening 22a having a shape substantially similar to the protrusion 21b, but having a slightly smaller size. Then, by being fixed to a portion of the periphery of the opening 22a the lower portion of the protruding portion 21b via the O- ring O 1, and the reaction tube 21 and the substrate replacement chamber 22 are fixed to each other.

【0023】反応管21の下部に設けられた開口21a
には、例えばカーボン製のサセプタ23がはめ込まれる
ようになっている。このサセプタ23は、開口21aに
はめ込まれたときに、反応管21の管壁の一部を構成す
る。ここで、サセプタ23がこの開口21aにはめ込ま
れるときには、このサセプタ23の上部の外周部に設け
られた段部23aが開口21aの周囲の部分における反
応管21の外壁面に接触することにより、その位置決め
が行われる。
An opening 21a provided at the lower part of the reaction tube 21
, A susceptor 23 made of, for example, carbon is fitted therein. The susceptor 23 forms a part of the tube wall of the reaction tube 21 when fitted in the opening 21a. Here, when the susceptor 23 is fitted into the opening 21a, the step 23a provided on the outer peripheral portion of the upper part of the susceptor 23 comes into contact with the outer wall surface of the reaction tube 21 in a portion around the opening 21a. Positioning is performed.

【0024】図2は反応管21の下部の開口21aには
め込まれるサセプタ23の上部の平面図である。図2に
おいて、サセプタ23の上部に浅い円形の穴23b、2
3cが互いに隣接して設けられており、これらの穴23
b、23cに例えばカーボン製の基板回転用歯車24、
25がそれぞれ回転可能に収納されている。これらの基
板回転用歯車4、5上に、結晶成長を行うべき基板Sが
載せられる。ここで、これらの基板回転用歯車24、2
5もサセプタの一部を構成する。この場合、サセプタ2
3が反応管21の開口21aにはめ込まれたときのこれ
らの基板回転用歯車24、25の上面は、反応管21の
下部の内壁面とほぼ一致するようになっている。ただ
し、この場合、サセプタ23が反応管21の開口21a
にはめ込まれたとき、基板回転用歯車24、25上の基
板Sは、反応管21の実効的な断面積がその下流に向か
って減少する方向に所定角度傾斜している。
FIG. 2 is a plan view of the upper part of the susceptor 23 to be inserted into the lower opening 21a of the reaction tube 21. In FIG. 2, a shallow circular hole 23b, 2
3c are provided adjacent to each other, and these holes 23
b, 23c, for example, carbon substrate rotation gear 24,
25 are rotatably stored. A substrate S on which crystal growth is to be performed is mounted on these substrate rotation gears 4 and 5. Here, these substrate rotation gears 24, 2
5 also constitutes a part of the susceptor. In this case, susceptor 2
The upper surfaces of the substrate rotating gears 24 and 25 when the fitting 3 is fitted into the opening 21 a of the reaction tube 21 almost coincide with the lower inner wall surface of the reaction tube 21. However, in this case, the susceptor 23 is connected to the opening 21 a of the reaction tube 21.
When the substrate S is fitted, the substrate S on the substrate rotating gears 24 and 25 is inclined at a predetermined angle in a direction in which the effective sectional area of the reaction tube 21 decreases toward the downstream side.

【0025】サセプタ23の上部にはもう一つの穴23
dが設けられており、この穴23dに、図3に示すよう
なモータ歯車26が回転可能に収納されている。このモ
ータ歯車26は基板回転用歯車24、25とそれぞれ噛
み合っており、このモータ歯車26の回転により基板回
転用歯車24、25がそれぞれ回転し、それによってそ
れらの上の基板Sがその中心軸の周りに回転するように
なっている。ここで、このように基板Sを回転させるの
は、基板S上に均一な結晶成長を行うためである。
Another hole 23 is provided on the susceptor 23.
The motor gear 26 as shown in FIG. 3 is rotatably housed in the hole 23d. The motor gear 26 meshes with the substrate rotation gears 24 and 25, respectively, and the rotation of the motor gear 26 rotates the substrate rotation gears 24 and 25, respectively, so that the substrate S on them rotates with its central axis. It is designed to rotate around. Here, the reason why the substrate S is rotated is to perform uniform crystal growth on the substrate S.

【0026】モータ歯車26は、後述のサセプタ台座に
取り付けられたモータ27の軸27aの回転を例えばモ
リブデン製のL字型ワイヤ28を介してこのモータ歯車
26に伝達することにより回転するようになっている。
ここで、図3に示すように、このL字型ワイヤ28によ
る回転の伝達は、このL字型ワイヤ28のL字型に折り
曲げられた先端部を、モータ歯車26の上部に設けられ
た、L字型ワイヤ28の径よりも少し大きい幅の穴26
aに係合させることにより行われる。
The motor gear 26 rotates by transmitting the rotation of a shaft 27a of a motor 27 mounted on a susceptor pedestal to be described later to the motor gear 26 via, for example, an L-shaped wire 28 made of molybdenum. ing.
Here, as shown in FIG. 3, the transmission of the rotation by the L-shaped wire 28 is performed by providing the L-shaped bent end of the L-shaped wire 28 on the upper part of the motor gear 26. Hole 26 having a width slightly larger than the diameter of L-shaped wire 28
a.

【0027】図1において、サセプタ23の下部には、
ヒータ29および赤外反射板30が収納固定されてい
る。ヒータ29としては、例えばモリブデン製の薄膜ヒ
ータが用いられる。また、赤外反射板30としては、例
えばチタン蒸着膜上にアルミナ膜を設けものが用いられ
る。なお、サセプタ23が反応管21の開口21aには
め込まれたときには、ヒータ29は、反応管21内に流
される反応ガスには全く触れないようになっていること
に注意すべきである。
In FIG. 1, below the susceptor 23,
The heater 29 and the infrared reflection plate 30 are stored and fixed. As the heater 29, for example, a thin film heater made of molybdenum is used. Further, as the infrared reflecting plate 30, for example, a member provided with an alumina film on a titanium vapor-deposited film is used. It should be noted that when the susceptor 23 is inserted into the opening 21a of the reaction tube 21, the heater 29 does not touch the reaction gas flowing into the reaction tube 21 at all.

【0028】この一実施例においては、サセプタ23の
下部に、断熱支柱31を介して支持ばね32の上端が固
定されている。この場合、この支持ばね32はサセプタ
23の下部の四隅にそれぞれ取り付けられている。この
支持ばね32の下端は、例えばステンレス鋼製のサセプ
タ台座33の上板に固定されている。そして、この支持
ばね32の伸縮により、サセプタ23、ヒータ29およ
び赤外反射板30の全体がサセプタ台座33に対して上
下方向に移動可能になっている。この支持ばね32とし
ては、一方向(この場合は図1の上下方向)にのみ自由
度を有するものが好適に用いられる。具体的には、この
支持ばね32としては例えばモリブデン製の板ばねが用
いられる。
In this embodiment, an upper end of a support spring 32 is fixed to a lower portion of the susceptor 23 via a heat insulating support 31. In this case, the support springs 32 are attached to the lower four corners of the susceptor 23, respectively. The lower end of the support spring 32 is fixed to an upper plate of a susceptor pedestal 33 made of, for example, stainless steel. The expansion and contraction of the support spring 32 allows the entire susceptor 23, heater 29 and infrared reflection plate 30 to move vertically with respect to the susceptor pedestal 33. As the support spring 32, one having a degree of freedom only in one direction (in this case, the vertical direction in FIG. 1) is preferably used. Specifically, for example, a leaf spring made of molybdenum is used as the support spring 32.

【0029】サセプタ台座33の上板には穴33a、3
3bが設けられている。そして、穴33aに図示省略し
た軸シールを介してモータ27の軸27aが通されてい
る。また、穴33bにはハーメチックシールHが取り付
けられており、このハーメチックシールHにより、ヒー
タ29の一端に接続されたリード線Lが、サセプタ台座
33の上板の下部に取り出されている。なお、サセプタ
23の温度測定用の熱電対Tの一端もこのサセプタ台座
33の上板に設けられた穴(図示せず)を介してその下
部に取り出されている。
The upper plate of the susceptor base 33 has holes 33a, 3
3b is provided. The shaft 27a of the motor 27 is passed through the hole 33a via a shaft seal not shown. Further, a hermetic seal H is attached to the hole 33b, and the lead wire L connected to one end of the heater 29 is led out to the lower part of the upper plate of the susceptor pedestal 33 by the hermetic seal H. In addition, one end of the thermocouple T for measuring the temperature of the susceptor 23 is also drawn out through a hole (not shown) provided in the upper plate of the susceptor base 33.

【0030】サセプタ台座33の側面には、回転運動を
直線運動に変換するリニアアクチュエータ34が取り付
けられている。そして、基板交換室22の底板に設けら
れた穴22bを通されたリニアシャフト35に沿ってこ
のリニアアクチュエータ34が直線的に移動することに
より、サセプタ台座33、したがってサセプタ23が昇
降自在になっている。この場合、リニアシャフト35の
下端が軸継手36によってモータ37の軸37aと接続
されており、この軸37aの回転によってリニアシャフ
ト35が回転し、それによってこのリニアシャフト35
に沿ってリニアアクチュエータ34が直線的に移動する
ようになっている。なお、リニアシャフト35は、図示
省略した支持部材により基板交換室22に回転可能に支
持されている。また、基板交換室22の底板の穴22b
とリニアシャフト35との間は、例えば、図示省略した
電磁流体シールにより真空シールされている。さらに、
この場合、リニアアクチュエータ34の昇降に伴うサセ
プタ台座33の昇降が高精度かつ円滑に行われるように
するため、このサセプタ台座33の側面の上部および下
部に取り付けられたガイドホイール38が、基板交換室
22の上板および底板の間に取り付けられたガイドレー
ル39上を移動し、それによって案内されるようになっ
ている。
On the side of the susceptor pedestal 33, a linear actuator 34 for converting a rotary motion into a linear motion is attached. The linear actuator 34 moves linearly along the linear shaft 35 passing through the hole 22b provided in the bottom plate of the substrate exchange chamber 22, so that the susceptor pedestal 33, and thus the susceptor 23, can be moved up and down. I have. In this case, the lower end of the linear shaft 35 is connected to the shaft 37a of the motor 37 by a shaft coupling 36, and the rotation of the shaft 37a causes the linear shaft 35 to rotate.
, The linear actuator 34 moves linearly. The linear shaft 35 is rotatably supported in the substrate exchange chamber 22 by a support member (not shown). Also, a hole 22b in the bottom plate of the substrate exchange chamber 22
The space between the shaft and the linear shaft 35 is vacuum-sealed by, for example, an electromagnetic fluid seal (not shown). further,
In this case, the guide wheels 38 attached to the upper and lower sides of the susceptor pedestal 33 are mounted on the substrate exchange chamber so that the susceptor pedestal 33 can be raised and lowered with the linear actuator 34 with high accuracy and smoothly. It moves on a guide rail 39 mounted between the top plate and the bottom plate 22 and is guided thereby.

【0031】図4および図5に示すように、リニアアク
チュエータ34は、例えばアルミニウム製の一対のブロ
ックハーフ34a、34bの両端面にそれぞれ3個ずつ
特殊なボールベアリングBBを取り付けたものである。
ここで、これらのボールベアリングBBは、それらのリ
ード角に相当する傾斜角度でリニアシャフト35を包む
ように取り付けられている。符号Bはブロックハーフ3
4a、34bを相互に締結するための、コイルスプリン
グが取り付けられた六角穴付きボルトを示す。なお、こ
のリニアアクチュエータ34は「ローリックス」という
商品名で市販されている。
As shown in FIGS. 4 and 5, the linear actuator 34 has, for example, three special ball bearings BB attached to both end surfaces of a pair of block halves 34a and 34b made of aluminum, for example.
Here, these ball bearings BB are attached so as to wrap the linear shaft 35 at an inclination angle corresponding to their lead angle. Symbol B is block half 3
4 shows a hexagon socket head cap screw with a coil spring for fastening 4a, 34b to each other. The linear actuator 34 is commercially available under the trade name "Rollix".

【0032】このリニアアクチュエータ34において
は、そのボールベアリングBBとリニアシャフト35と
の間の摩擦力により軸方向の駆動力が生じ、それによっ
てリニアシャフト15に沿ってこのリニアアクチュエー
タ34が直線的に移動する。
In the linear actuator 34, an axial driving force is generated due to a frictional force between the ball bearing BB and the linear shaft 35, whereby the linear actuator 34 moves linearly along the linear shaft 15. I do.

【0033】再び図1を参照すると、図示省略した機構
により水平方向の移動が可能なロボットアーム40の先
端に基板吸着用のフィンガーアーム41が取り付けられ
ている。図6はこのフィンガーアーム41およびその近
傍の詳細を示す。図6に示すように、フィンガーアーム
41の根元の部分は、軸42により、ロボットアーム4
0の内部に通された軸43に取り付けられている。ロボ
ットアーム40の先端にはその中心軸の周りに対称配置
で3本の軸40aが固定されており、そのうちの1本の
先端にコイルスプリング44を介してボールベアリング
BB´が取り付けられ、残りの2本の先端には同様なボ
ールベアリングBB´が直接取り付けられている。これ
らのボールベアリングBB´は、フィンガーアーム41
の根元の部分を包むように設けられている。そして、こ
れらのボールベアリングBB´によりロボットアーム4
0に対するフィンガーアーム41の回転が可能となって
いるとともに、これらのボールベアリングBB´のうち
の一つがコイルスプリング44に取り付けられているこ
とにより軸42の周りのフィンガーアーム41の回転が
可能となっている。
Referring again to FIG. 1, a finger arm 41 for adsorbing a substrate is attached to the tip of a robot arm 40 which can be moved in the horizontal direction by a mechanism not shown. FIG. 6 shows details of the finger arm 41 and its vicinity. As shown in FIG. 6, the root of the finger arm 41 is
0 is attached to a shaft 43 passed through the inside of the shaft. At the tip of the robot arm 40, three shafts 40a are fixed symmetrically around the central axis, and one of them is provided with a ball bearing BB 'via a coil spring 44 at the tip, and the other is fixed. Similar ball bearings BB 'are directly attached to the two tips. These ball bearings BB 'are
Is provided so as to wrap around the root portion of the. Then, the robot arm 4 is formed by these ball bearings BB '.
0, and one of these ball bearings BB 'is attached to the coil spring 44, so that the finger arm 41 around the shaft 42 can be rotated. ing.

【0034】フィンガーアーム41の下面には、真空吸
着用の円形の穴41a、41bが設けられている。図7
にこれらの穴41a、41bの平面形状を示す。これら
の穴41a、41bは、フィンガーアーム41の内部に
その軸方向に沿って設けられた真空吸引用の穴41c
(図6)と連通しており、この穴41cはさらに、ロボ
ットアーム40の内部に通された軸43の内部にその軸
方向に沿って設けられた真空吸引用の穴(図示せず)と
連通している。この軸43の内部に設けられた真空吸引
用の穴は、基板交換室22の外部に設けられた真空ポン
プ(図示せず)に接続されている。そして、この真空ポ
ンプにより、ロボットアーム40の内部に通された軸4
3の内部に設けられた真空吸引用の穴およびフィンガー
アーム41の内部に設けられた真空吸引用の穴41cを
真空排気することにより、フィンガーアーム41の下面
の穴41a、41bに基板Sを真空吸着することができ
るようになっている。フィンガーアーム41で基板Sを
真空吸着したときのそれらの相対的な位置関係は図7に
示す通りである。
On the lower surface of the finger arm 41, circular holes 41a and 41b for vacuum suction are provided. FIG.
FIG. 3 shows the planar shape of these holes 41a and 41b. These holes 41a and 41b are formed in the finger arm 41 along the axial direction thereof for vacuum suction holes 41c.
(FIG. 6), and the hole 41c is further provided with a vacuum suction hole (not shown) provided along the axial direction inside the shaft 43 passed through the robot arm 40. Communicating. The hole for vacuum suction provided inside the shaft 43 is connected to a vacuum pump (not shown) provided outside the substrate exchange chamber 22. The shaft 4 passed through the inside of the robot arm 40 by this vacuum pump
The substrate S is evacuated to the holes 41 a and 41 b on the lower surface of the finger arm 41 by evacuating the vacuum suction hole provided inside the finger arm 41 and the vacuum suction hole 41 c provided inside the finger arm 41. It can be adsorbed. FIG. 7 shows the relative positional relationship between the substrates S when vacuum suction is performed on the substrates S by the finger arms 41.

【0035】次に、上述のように構成されたこの一実施
例による横型MOCVD装置において基板交換を行う方
法について説明する。
Next, a description will be given of a method of exchanging substrates in the horizontal MOCVD apparatus according to this embodiment having the above-described structure.

【0036】いま、基板S上への結晶成長が終了して反
応管21内へのガス原料の供給が停止された後、基板交
換が行われる直前の状態を考える。この状態では、図1
に示すように、結晶成長が終了した基板Sが載せられた
サセプタ23が反応管21の下部の開口21aにはめ込
まれている。また、サセプタ台座33の上板と基板交換
室22の上部の内壁との間は、O−リングO2 により真
空シールされている。このとき、サセプタ23、反応管
21の外壁の一部や突出部21b、サセプタ台座33の
上板などにより囲まれた空間には、基板交換室22の上
板に設けられた穴22cを通して不活性ガス、例えば窒
素(N2 )ガスが導入されており、このN2 ガスは反応
管21の下部の管壁に設けられた穴21cを通って反応
管21内に流れ出ている。これによって、この空間と反
応管21の内部とは実質的に同一圧力となっている。な
お、反応管21の下部の管壁に穴21cを設ける代わり
にサセプタ23の下流側の部分に穴を設け、この穴を通
して反応管21内にN2 ガスを流し出すようにしてもよ
い。一方、基板交換室22の側壁の下部には穴22d、
22eが設けられており、穴22dを通してN2 ガスが
基板交換室22内に導入され、穴22eを通して基板交
換室22からN2 ガスが外部に排出されるようになって
いる。このように基板交換室22内にN2 ガスを導入し
ておくのは、基板交換を行う際の反応管21の汚染を防
止するためである。
Now, let us consider a state immediately after the substrate exchange is performed after the crystal growth on the substrate S is completed and the supply of the gaseous raw material into the reaction tube 21 is stopped. In this state, FIG.
As shown in (1), the susceptor 23 on which the substrate S on which the crystal growth has been completed is placed is fitted into the opening 21a at the lower part of the reaction tube 21. Further, between the upper inner wall of the upper and the substrate replacement chamber 22 of susceptor pedestal 33 is vacuum sealed by O- ring O 2. At this time, the space surrounded by the susceptor 23, a part of the outer wall of the reaction tube 21, the protrusion 21 b, the upper plate of the susceptor pedestal 33, and the like is inactive through a hole 22 c provided in the upper plate of the substrate exchange chamber 22. A gas, for example, a nitrogen (N 2 ) gas is introduced, and the N 2 gas flows out into the reaction tube 21 through a hole 21 c provided in a lower tube wall of the reaction tube 21. Thereby, this space and the inside of the reaction tube 21 have substantially the same pressure. Instead of providing the hole 21c in the lower tube wall of the reaction tube 21, a hole may be provided in a portion on the downstream side of the susceptor 23, and the N 2 gas may flow out into the reaction tube 21 through this hole. On the other hand, a hole 22d is formed in a lower portion of the side wall of the substrate exchange chamber 22,
22e are provided, the N 2 gas is introduced into the substrate replacement chamber 22 through the holes 22 d, which is a substrate replacement chamber 22 through the holes 22e to N 2 gas is discharged to the outside. The reason why the N 2 gas is introduced into the substrate exchange chamber 22 in this way is to prevent the reaction tube 21 from being contaminated when the substrate is exchanged.

【0037】次に、モータ37の軸37aを回転させる
ことによりリニアアクチュエータ34をリニアシャフト
35に沿って下降させ、これによってサセプタ台座33
を図1において一点鎖線で示す基板交換位置まで下降さ
せる。この基板交換位置までサセプタ台座33が下降し
た状態を図8に示す。
Next, by rotating the shaft 37a of the motor 37, the linear actuator 34 is lowered along the linear shaft 35, whereby the susceptor pedestal 33
Is lowered to a substrate exchange position indicated by a dashed line in FIG. FIG. 8 shows a state where the susceptor pedestal 33 has been lowered to the substrate exchange position.

【0038】ここで、最初、サセプタ23が反応管21
の下部の開口21aにはめ込まれていたときには、サセ
プタ23は支持ばね32の弾性力により反応管21の開
口21aの周囲の部分の外壁に押しつけられていたが、
上述のようにサセプタ台座33が下降するにつれてサセ
プタ23が反応管21の外壁から離れ始めると、支持ば
ね32は徐々に伸び、サセプタ23が反応管21の外壁
から完全に離れた状態(例えば、図9に示す状態)で
は、この支持ばね12はそれが支持しているサセプタ2
3などの重さ、そのばね定数や自然長などによって決ま
る長さに伸びている。
Here, first, the susceptor 23 is connected to the reaction tube 21.
When the susceptor 23 was fitted in the lower opening 21a of the reaction tube 21, the susceptor 23 was pressed against the outer wall around the opening 21a of the reaction tube 21 by the elastic force of the support spring 32.
As described above, when the susceptor 23 starts to separate from the outer wall of the reaction tube 21 as the susceptor pedestal 33 descends, the support spring 32 gradually expands, and the susceptor 23 is completely separated from the outer wall of the reaction tube 21 (for example, FIG. In the state shown in FIG. 9, the support spring 12 is
3 and the length determined by its spring constant and natural length.

【0039】上述のようにサセプタ台座33を図8に示
す基板交換位置まで下降させた後、ロボットアーム40
を水平方向に移動させてフィンガーアーム41がサセプ
タ23上の基板Sに対して図7に示すような相対位置と
なるようにする。この状態におけるフィンガーアーム4
1およびサセプタ23の近傍の部分を図10に拡大して
示す。ここで、サセプタ23が支持ばね32によりサセ
プタ台座33上に支持されているため、サセプタ23が
反応管21の外壁から完全に離れてフリーとなった状態
におけるサセプタ台座33の上板に対するサセプタ23
の傾斜は、サセプタ23が反応管21の開口21aには
め込まれていたときと比べて、一般には異なっている。
After lowering the susceptor pedestal 33 to the substrate exchange position shown in FIG.
Is moved in the horizontal direction so that the finger arm 41 is positioned relative to the substrate S on the susceptor 23 as shown in FIG. Finger arm 4 in this state
FIG. 10 is an enlarged view of a portion 1 and the vicinity of the susceptor 23. Here, since the susceptor 23 is supported on the susceptor pedestal 33 by the support spring 32, the susceptor 23 with respect to the upper plate of the susceptor pedestal 33 in a state where the susceptor 23 is completely separated from the outer wall of the reaction tube 21 and becomes free.
Is generally different from that when the susceptor 23 is fitted in the opening 21a of the reaction tube 21.

【0040】次に、サセプタ台座33を少し上昇させて
フィンガーアーム41がサセプタ23上の基板Sに接触
するようにする。このとき、通常は、図11に示すよう
に、フィンガーアーム41の先端が基板Sと接触し、フ
ィンガーアーム41の先端の穴41a、41bからの真
空吸引が開始するが、この時点では、これらの穴41
a、41bは完全にはふさがっていないので、吸引圧力
はあまり高くない。
Next, the susceptor pedestal 33 is slightly raised so that the finger arm 41 comes into contact with the substrate S on the susceptor 23. At this time, normally, as shown in FIG. 11, the tip of the finger arm 41 comes into contact with the substrate S, and vacuum suction starts from the holes 41a and 41b at the tip of the finger arm 41. Hole 41
Since a and 41b are not completely closed, the suction pressure is not so high.

【0041】次に、サセプタ台座33をさらに上昇させ
ると、フィンガーアーム41の先端が基板Sで押される
ことにより、このフィンガーアーム41はその根元の軸
42の周りに回転し、ついには基板Sの表面に平行にな
る(図12)。この時点でフィンガーアーム41の穴4
1a、41bは完全にふさがり、吸引圧力は急上昇す
る。そこで、この圧力上昇を検出して信号を発生し、こ
の信号によりサセプタ台座33を下降させると、図13
に示すように、基板Sはフィンガーアーム41により真
空吸着されたまま保持される。また、このとき、コイル
スプリング44の復元力により、フィンガーアーム41
はその根元の軸42の周りに回転し、基板Sに接触する
前の位置に戻る。
Next, when the susceptor pedestal 33 is further raised, the tip of the finger arm 41 is pushed by the substrate S, whereby the finger arm 41 rotates around the axis 42 at the base thereof, and finally the substrate S It becomes parallel to the surface (FIG. 12). At this time, the hole 4 of the finger arm 41
1a and 41b are completely closed, and the suction pressure rises sharply. Therefore, when this pressure rise is detected and a signal is generated, and the susceptor pedestal 33 is lowered by this signal, FIG.
As shown in (2), the substrate S is held by the finger arm 41 while being vacuum-sucked. At this time, the restoring force of the coil spring 44 causes the finger arm 41
Rotates about its base axis 42 and returns to its position before contacting the substrate S.

【0042】上述のようにフィンガーアーム41により
基板Sを真空吸着したまま、ロボットアーム40を図1
中左側に移動させた後、基板交換室22に取り付けられ
た基板格納室(図示せず)内のキャリア内に基板Sを収
納する。この後、結晶成長を行うべき新たな基板Sが収
納された別のキャリア内の基板Sをフィンガーアーム4
1により真空吸着し、この基板Sを上述と同様な手順で
サセプタ23上に載せる。
As described above, the robot arm 40 is moved to the position shown in FIG.
After being moved to the middle left side, the substrate S is stored in a carrier in a substrate storage chamber (not shown) attached to the substrate exchange chamber 22. Thereafter, the substrate S in another carrier in which a new substrate S to be subjected to crystal growth is stored is moved to the finger arm 4.
Then, the substrate S is placed on the susceptor 23 in the same procedure as described above.

【0043】次に、サセプタ台座33を、O−リングO
2 が基板交換室22の上部の内壁に当たるまで上昇させ
る。このとき、サセプタ23が反応管21の開口21a
にはめ込まれる。以上により、基板交換が終了する。
Next, the susceptor pedestal 33 is
2 is raised until it hits the upper inner wall of the substrate exchange chamber 22. At this time, the susceptor 23 is connected to the opening 21 a of the reaction tube 21.
Fit into. Thus, the board replacement is completed.

【0044】この一実施例によれば、次のような種々の
利点を得ることができる。すなわち、反応管21の下部
の開口21aに、反応管21に対して垂直な方向からサ
セプタ23の着脱を行うことにより基板交換を行うよう
にしているので、基板交換を行う際に基板を反応管内の
下流を移動させる必要のある図18に示す従来の横型M
OCVD装置におけるような基板表面の汚染の問題がな
い。また、基板交換が容易である。
According to this embodiment, the following various advantages can be obtained. That is, since the substrate is exchanged by attaching and detaching the susceptor 23 from the direction perpendicular to the reaction tube 21 to the opening 21a at the lower part of the reaction tube 21, the substrate is inserted into the reaction tube when the substrate is exchanged. The conventional horizontal type M shown in FIG.
There is no problem of contamination of the substrate surface as in the OCVD apparatus. In addition, substrate exchange is easy.

【0045】また、サセプタ台座33の昇降にそれ自身
無潤滑で清浄なリニアアクチュエータ34を用いている
ので、このリニアアクチュエータ34は基板交換室22
内で不純物の発生源とならず、このリニアアクチュエー
タ34による基板Sの表面の汚染の問題がない。さら
に、リニアシャフト35の回転用のモータ37を基板交
換室22の外部に設置することができることにより、こ
のモータ37を発生源とする不純物による基板Sの汚染
の問題もない。また、基板交換室22の下部に必要なス
ペースはモータ37によるものだけであるので、省スペ
ース化を図ることができる。さらにまた、何らかの原因
でリニアアクチュエータ34に過剰な力が加わっても、
このリニアアクチュエータ34はリニアシャフト35上
をスリップするだけであり、安全である。
Since the susceptor pedestal 33 is moved up and down by using the clean linear actuator 34 without lubrication itself, the linear actuator 34
The linear actuator 34 does not become a source of impurities, and there is no problem of the linear actuator 34 contaminating the surface of the substrate S. Furthermore, since the motor 37 for rotating the linear shaft 35 can be installed outside the substrate exchange chamber 22, there is no problem of contamination of the substrate S by impurities generated by the motor 37 as a source. Further, since only the space required for the motor 37 is required below the substrate exchange chamber 22, the space can be saved. Furthermore, even if an excessive force is applied to the linear actuator 34 for some reason,
The linear actuator 34 only slips on the linear shaft 35 and is safe.

【0046】さらに、サセプタ23とサセプタ台座33
との間の距離は、サセプタ23が反応管21の下部の開
口21aにはめ込まれているときと、図9に示すように
サセプタ23が反応管21の下部の外壁から完全に離れ
たときとで異なり、それに応じてモータ歯車26に対す
るL字型ワイヤ28の先端の相対位置が異なるが、これ
とは無関係に、常に、L字型ワイヤ28の回転をモータ
歯車26に伝達することができる。すなわち、サセプタ
23が反応管21の下部の開口21aにはめ込まれてい
たときには、L字型ワイヤ28の先端は図14Aに示す
ようにモータ歯車26の穴26aの上部に位置し、サセ
プタ23が反応管21の外壁から完全に離れた状態で
は、L字型ワイヤ28の先端は図14Bに示すようにモ
ータ歯車26の穴26aの下部に位置するようになって
いる。言い換えれば、サセプタ23とサセプタ台座33
との間の距離が変化しても、L字型ワイヤ28の先端は
常にモータ歯車26の穴26aの中にあり、したがって
L字型ワイヤ28の回転を常にモータ歯車26に伝達す
ることができるのである。
Further, the susceptor 23 and the susceptor pedestal 33
The distance between when the susceptor 23 is fitted into the lower opening 21a of the reaction tube 21 and when the susceptor 23 is completely separated from the lower outer wall of the reaction tube 21 as shown in FIG. Differently, the relative position of the tip of the L-shaped wire 28 with respect to the motor gear 26 is different, but regardless of this, the rotation of the L-shaped wire 28 can always be transmitted to the motor gear 26. That is, when the susceptor 23 is fitted into the lower opening 21a of the reaction tube 21, the tip of the L-shaped wire 28 is located above the hole 26a of the motor gear 26 as shown in FIG. When completely separated from the outer wall of the tube 21, the tip of the L-shaped wire 28 is located below the hole 26a of the motor gear 26 as shown in FIG. 14B. In other words, the susceptor 23 and the susceptor pedestal 33
The tip of the L-shaped wire 28 is always in the hole 26a of the motor gear 26 even if the distance between the L-shaped wire 28 changes, so that the rotation of the L-shaped wire 28 can always be transmitted to the motor gear 26. It is.

【0047】また、フィンガーアーム41はその根元の
軸42の周りに回転可能でかつロボットアーム40の軸
43の周りにも回転可能であるので、サセプタ台座33
の上板に対するサセプタ23の傾斜角度によらずに、サ
セプタ23上の基板Sをこのフィンガーアーム41によ
り容易に真空吸着することができる。
Since the finger arm 41 is rotatable around the shaft 42 at the root thereof and also around the shaft 43 of the robot arm 40, the susceptor pedestal 33
The substrate S on the susceptor 23 can be easily vacuum-sucked by the finger arm 41 regardless of the inclination angle of the susceptor 23 with respect to the upper plate.

【0048】以上、この発明の一実施例について具体的
に説明したが、この発明は、上述の実施例に限定される
ものではなく、この発明の技術的思想に基づく各種の変
形が可能である。
As described above, one embodiment of the present invention has been specifically described. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications based on the technical idea of the present invention are possible. .

【0049】例えば、上述の一実施例による横型MOC
VD装置を構成する各部の形状や材質は、必要に応じて
適宜変更することが可能である。
For example, the horizontal MOC according to the above-described embodiment is
The shape and material of each part constituting the VD device can be appropriately changed as needed.

【0050】なお、この発明と同一の技術的思想は、横
型熱処理装置、具体的には横型拡散装置や横型アニール
装置にも適用することが可能である。
The same technical idea as that of the present invention can be applied to a horizontal heat treatment apparatus, specifically, a horizontal diffusion apparatus or a horizontal annealing apparatus.

【0051】[0051]

【発明の効果】以上説明したように、この発明による横
型気相成長装置によれば、基板を交換する際に基板を反
応管内の下流を移動させないで済むことにより、基板を
交換する際に基板の表面が汚染されるのを防止すること
ができる。
As described above, according to the horizontal vapor phase epitaxy apparatus of the present invention, the substrate does not have to be moved downstream in the reaction tube when the substrate is replaced, so that the substrate can be replaced when the substrate is replaced. Can be prevented from being contaminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
の要部を示す略線図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a main part of a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図2】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
において用いるサセプタを示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a susceptor used in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図3】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
において用いる基板回転用のモータ歯車を示す断面図お
よび平面図である。
FIG. 3 is a sectional view and a plan view showing a motor gear for rotating a substrate used in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図4】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
においてサセプタ台座の昇降に用いられるリニアアクチ
ュエータを示す正面図である。
FIG. 4 is a front view showing a linear actuator used for lifting and lowering a susceptor pedestal in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図5】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
においてサセプタ台座の昇降に用いられるリニアアクチ
ュエータを示す側面図である。
FIG. 5 is a side view showing a linear actuator used for lifting and lowering a susceptor pedestal in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図6】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
において基板交換に用いるフィンガーアームおよびその
近傍を示す略線図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing a finger arm used for substrate exchange in the horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention and the vicinity thereof;

【図7】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
において基板交換に用いるフィンガーアームの要部を示
す平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing a main part of a finger arm used for substrate exchange in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図8】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
においてサセプタ台座を基板交換位置に下降させた状態
を示す略線図である。
FIG. 8 is a schematic diagram showing a state in which a susceptor pedestal is lowered to a substrate exchange position in the horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図9】この発明の一実施例による横型MOCVD装置
においてサセプタ台座を下降させてサセプタが反応管の
外壁から完全に離れた状態を示す略線図である。
FIG. 9 is a schematic diagram showing a state in which the susceptor pedestal is lowered and the susceptor is completely separated from the outer wall of the reaction tube in the horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図10】この発明の一実施例による横型MOCVD装
置において基板交換の際にフィンガーアームにより基板
を真空吸着する方法を説明するための略線図である。
FIG. 10 is a schematic diagram for explaining a method of vacuum-sucking a substrate with a finger arm at the time of substrate exchange in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図11】この発明の一実施例による横型MOCVD装
置において基板交換の際にフィンガーアームにより基板
を真空吸着する方法を説明するための略線図である。
FIG. 11 is a schematic diagram for explaining a method of vacuum-sucking a substrate with a finger arm at the time of substrate exchange in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図12】この発明の一実施例による横型MOCVD装
置において基板交換の際にフィンガーアームにより基板
を真空吸着する方法を説明するための略線図である。
FIG. 12 is a schematic diagram for explaining a method of vacuum-adsorbing a substrate by a finger arm at the time of substrate exchange in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図13】この発明の一実施例による横型MOCVD装
置において基板交換の際にフィンガーアームにより基板
を真空吸着する方法を説明するための略線図である。
FIG. 13 is a schematic diagram for explaining a method of vacuum-adsorbing a substrate by a finger arm at the time of substrate exchange in a horizontal MOCVD apparatus according to one embodiment of the present invention.

【図14】この発明の一実施例による横型MOCVD装
置において用いる基板回転用のモータ歯車を示す断面図
である。
FIG. 14 is a sectional view showing a motor gear for rotating a substrate used in a horizontal MOCVD apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図15】一般的なMOCVD装置の構成を示す略線図
である。
FIG. 15 is a schematic diagram illustrating a configuration of a general MOCVD apparatus.

【図16】一般的なMOCVD装置におけるガス供給系
の構成例を示す略線図である。
FIG. 16 is a schematic diagram illustrating a configuration example of a gas supply system in a general MOCVD apparatus.

【図17】一般的なMOCVD装置における減圧系の構
成例を示す略線図である。
FIG. 17 is a schematic diagram illustrating a configuration example of a reduced pressure system in a general MOCVD apparatus.

【図18】従来の横型MOCVD装置の一例を示す略線
図である。
FIG. 18 is a schematic diagram illustrating an example of a conventional horizontal MOCVD apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 反応管 21a 開口 22 基板交換室 22a 開口 23 サセプタ 24、25 基板回転用歯車 26 モータ歯車 28 L字型ワイヤ 29 ヒータ 30 赤外反射板 32 支持ばね 33 サセプタ台座 34 リニアアクチュエータ 35 リニアシャフト 40 ロボットアーム 41 フィンガーアーム S 基板 Reference Signs List 21 reaction tube 21a opening 22 substrate exchange chamber 22a opening 23 susceptor 24, 25 substrate rotation gear 26 motor gear 28 L-shaped wire 29 heater 30 infrared reflector 32 support spring 33 susceptor pedestal 34 linear actuator 35 linear shaft 40 robot arm 41 finger arm S substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−74712(JP,A) 特開 平3−76112(JP,A) 特開 平5−21421(JP,A) 特開 平3−173774(JP,A) 特開 平3−240954(JP,A) 実開 昭63−136337(JP,U) 実開 平1−153368(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/205 C23C 16/44 H01L 21/68 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-5-74712 (JP, A) JP-A-3-76112 (JP, A) JP-A-5-21421 (JP, A) 173774 (JP, A) JP-A-3-240954 (JP, A) JP-A-63-136337 (JP, U) JP-A-1-153368 (JP, U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01L 21/205 C23C 16/44 H01L 21/68

Claims (14)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 横型の反応管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段とを
有する横型気相成長装置において、 上記反応管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され 上記サセプタは固定部およびこの固定部に対して回転す
る回転部から成り、上記回転部上に上記基板が載せられ
ことを特徴とする横型気相成長装置。
In a horizontal vapor phase growth apparatus having a horizontal reaction tube, a susceptor for mounting a substrate, and a heating means for heating the susceptor, an opening provided in a tube wall of the reaction tube is provided. The susceptor is configured to be detachable , and the susceptor rotates with respect to the fixed portion and the fixed portion.
The substrate is placed on the rotating part.
Horizontal vapor phase growth apparatus, characterized in that that.
【請求項2】 横型の反応管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段とを
有する横型気相成長装置において、 上記反応管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記加熱手段は上記サセプタに関して上記反応管と反対
側の部分に上記サセプタと一体的に設けられ、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記反応管に対して
垂直な方向に移動可能な台に支持ばねを介して取り付け
られている ことを特徴とする横型気相成長装置。
2. A horizontal reaction tube and a support for mounting a substrate.
A sceptor and heating means for heating the susceptor.
In horizontal vapor deposition apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the reaction tube wear have
Detachably configured, the heating means is opposed to the reaction tube with respect to the susceptor
The susceptor and the heating means are provided integrally with the susceptor at
Mounted on a vertically movable table via a support spring
Horizontal vapor phase growth apparatus characterized by being.
【請求項3】 横型の反応管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段とを
有する横型気相成長装置において、 上記反応管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタは固定部およびこの固定部に対して回転す
る回転部から成り、上記回転部上に上記基板が載せら
れ、 上記回転部は第1の歯車から成り、上記第1の歯車は第
2の歯車により回転可能に構成され、 モータの軸に接続されたワイヤを介して上記第2の歯車
に上記モータの回転力が伝達されるように構成されてい
ことを特徴とする横型気相成長装置。
3. A horizontal reaction tube and a support for mounting a substrate.
A sceptor and heating means for heating the susceptor.
In horizontal vapor deposition apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the reaction tube wear have
The susceptor is configured to be detachable, and the susceptor rotates with respect to the fixed portion.
The substrate is placed on the rotating unit.
Is, the rotating part consists of a first gear, the first gear first
The second gear is configured to be rotatable by a second gear and connected to a shaft of a motor via a wire.
The torque of the motor is transmitted to the
Horizontal vapor phase growth apparatus, characterized in that that.
【請求項4】 横型の反応管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段と、
上記サセプタ上の基板を交換するための基板交換室とを
有する横型気相成長装置において、 上記反応管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記反応管に対して
垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、上記基板を
交換するときに上記反応管に対して垂直な方向に上記台
を移動することにより上記基板交換室内に上記サセプタ
および上記加熱手段を導入するように構成され、 上記基板交換室内において上記反応管に対して垂直な方
向に上記台を移動する手段として無潤滑のリニアアクチ
ュエータを用いた ことを特徴とする横型気相成長装置。
4. A horizontal reaction tube and a support for mounting a substrate.
A sceptor, and heating means for heating the susceptor,
A substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor;
In horizontal vapor deposition apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the reaction tube wear have
The susceptor and the heating means are configured to be detachable,
Mounted on a vertically movable table,
When replacing, set the table in a direction perpendicular to the reaction tube.
By moving the susceptor into the substrate exchange chamber.
And the heating means are introduced, and a direction perpendicular to the reaction tube in the substrate exchange chamber is provided.
Lubrication-free linear actuator
A horizontal vapor phase growth apparatus characterized by using a heater .
【請求項5】 横型の反応管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段と、
上記サセプタ上の基板を交換するための基板交換室とを
有する横型気相成長装置において、 上記反応管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記反応管に対して
垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、上記基板を
交換するときに上記反応管に対して垂直な方向に上記台
を移動することにより上記基板交換室内に上記サセプタ
および上記加熱手段を導入するように構成され、 上記基板交換室内に設けられた回転軸に沿って移動可能
なアクチュエータが上記台に取り付けられ、上記アクチ
ュエータはベアリングと上記回転軸との間の摩擦力によ
り上記回転軸の軸方向の駆動力が生じるように構成され
ている ことを特徴とする横型気相成長装置。
5. A horizontal reaction tube and a support for mounting a substrate.
A sceptor, and heating means for heating the susceptor,
A substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor;
In horizontal vapor deposition apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the reaction tube wear have
The susceptor and the heating means are configured to be detachable,
Mounted on a vertically movable table,
When replacing, set the table in a direction perpendicular to the reaction tube.
By moving the susceptor into the substrate exchange chamber.
And the heating means are introduced, and can be moved along a rotation axis provided in the substrate exchange chamber.
A simple actuator is attached to the base,
The frictional force between the bearing and the rotating shaft
Is configured to generate an axial driving force of the rotating shaft.
And horizontal vapor phase growth apparatus characterized in that is.
【請求項6】 横型の反応管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段と、
上記サセプタ上の基板を交換するための基板交換室とを
有する横型気相成長装置において、 上記反応管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記反応管に対して
垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、上記基板を
交換するときに上記反応管に対して垂直な方向に上記台
を移動することにより上記基板交換室内に上記サセプタ
および上記加熱手段を導入するように構成され、 上記基板交換室内には上記基板を交換するための可動な
アームが設けられ、上記アームは第1のアームおよびそ
の先端に取り付けられ、かつ上記基板を真空吸 着するた
めの穴を有する第2のアームから成り、上記第2のアー
ムは上記第1のアームの上記先端側の一端を中心として
回転可能でかつその中心軸の周りに回転可能に構成され
ている ことを特徴とする横型気相成長装置。
6. A horizontal reaction tube and a support for mounting a substrate.
A sceptor, and heating means for heating the susceptor,
A substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor;
In horizontal vapor deposition apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the reaction tube wear have
The susceptor and the heating means are configured to be detachable,
Mounted on a vertically movable table,
When replacing, set the table in a direction perpendicular to the reaction tube.
By moving the susceptor into the substrate exchange chamber.
And configured to introduce said heating means, in the substrate exchange chamber movable for exchanging the substrate
An arm is provided, the arm comprising a first arm and the arm;
Attached to the tip, and was vacuum adsorb the substrate
A second arm having a hole for the second arm.
Centering on one end of the first arm on the tip side.
Rotatable and rotatable about its central axis
And horizontal vapor phase growth apparatus characterized in that is.
【請求項7】 横型の反応管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段と、
上記サセプタ上の基板を交換するための基板交換室とを
有する横型気相成長装置において、 上記反応管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記反応管に対して
垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、上記基板を
交換するときに上記反応管に対して垂直な方向に上記台
を移動することにより上記基板交換室内に上記サセプタ
および上記加熱手段を導入するように構成され、 上記開口に上記サセプタがはめ込まれているときに、少
なくとも上記サセプタおよび上記台を含む仕切り壁によ
り仕切られた空間が形成され、この空間と上記反応管の
内部とが連通している ことを特徴とする横型気相成長装
置。
7. A horizontal reaction tube and a support for mounting a substrate.
A sceptor, and heating means for heating the susceptor,
A substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor;
In horizontal vapor deposition apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the reaction tube wear have
The susceptor and the heating means are configured to be detachable,
Mounted on a vertically movable table,
When replacing, set the table in a direction perpendicular to the reaction tube.
By moving the susceptor into the substrate exchange chamber.
And introducing the heating means, and when the susceptor is fitted in the opening,
At least by the partition wall including the susceptor and the base.
A partitioned space is formed, and this space is
Horizontal vapor phase epitaxy characterized by communication with the inside
Place.
【請求項8】 横型の処理管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段とを
有する横型熱処理装置において、 上記処理管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタは固定部およびこの固定部に対して回転す
る回転部から成り、上記回転部上に上記基板が載せられ
ことを特徴とする横型熱処理装置。
8. A horizontal processing tube and a support for mounting a substrate.
A sceptor and heating means for heating the susceptor.
In horizontal heat treatment apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube wear have
The susceptor is configured to be detachable, and the susceptor rotates with respect to the fixed portion.
The substrate is placed on the rotating part.
Horizontal heat treatment apparatus, characterized in that that.
【請求項9】 横型の処理管と、基板を載せるためのサ
セプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段とを
有する横型熱処理装置において、 上記処理管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記加熱手段は上記サセプタに関して上記処理管と反対
側の部分に上記サセプタと一体的に設けられ、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記処理管に対して
垂直な方向に移動可能な台に支持ばねを介して取り付け
られている ことを特徴とする横型熱処理装置。
9. A horizontal processing tube and a support for mounting a substrate.
A sceptor and heating means for heating the susceptor.
In horizontal heat treatment apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube wear have
Detachably configured, the heating means is opposed to the process pipe with respect to the susceptor
The susceptor and the heating means are provided integrally with the susceptor on the side of the processing tube.
Mounted on a vertically movable table via a support spring
Horizontal thermal processing apparatus characterized by being.
【請求項10】 横型の処理管と、基板を載せるための
サセプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段と
を有する横型熱処理装置において、 上記処理管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタは固定部およびこの固定部に対して回転す
る回転部から成り、上記回転部上に上記基板が載せら
れ、 上記回転部は第1の歯車から成り、上記第1の歯車は第
2の歯車により回転可能に構成され、 モータの軸に接続されたワイヤを介して上記第2の歯車
に上記モータの回転力が伝達されるように構成されてい
ことを特徴とする横型熱処理装置。
10. A horizontal processing tube for mounting a substrate.
A susceptor, and heating means for heating the susceptor
Wearing the lateral heat treatment apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube having a
The susceptor is configured to be detachable, and the susceptor rotates with respect to the fixed portion.
The substrate is placed on the rotating unit.
Is, the rotating part consists of a first gear, the first gear first
The second gear is configured to be rotatable by a second gear and connected to a shaft of a motor via a wire.
The torque of the motor is transmitted to the
Horizontal heat treatment apparatus, characterized in that that.
【請求項11】 横型の処理管と、基板を載せるための
サセプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段
と、上記サセプタ上の基板を交換するための基板交換室
とを有する横型熱処理装置において、 上記処理管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記処理管に対して
垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、上記基板を
交換するときに上記処理管に対して垂直な方向に上記台
を移動することにより上記基板交換室内に上記サセプタ
および上記加熱手段を導入するように構成され、 上記基板交換室内において上記処理管に対して垂直な方
向に上記台を移動する手段として無潤滑のリニアアクチ
ュエータを用いた ことを特徴とする横型熱処理装置。
11. A horizontal processing tube for mounting a substrate.
Susceptor and heating means for heating the susceptor
And a substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor
Wearing the lateral heat treatment apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube having bets
The susceptor and the heating means are configured to be detachable,
Mounted on a vertically movable table,
When replacing the table, set the table in a direction perpendicular to the processing tube.
By moving the susceptor into the substrate exchange chamber.
And the heating means is arranged to be introduced into the substrate exchange chamber in a direction perpendicular to the processing tube.
Lubrication-free linear actuator
A horizontal heat treatment apparatus using a heater .
【請求項12】 横型の処理管と、基板を載せるための
サセプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段
と、上記サセプタ上の基板を交換するための基板交換室
とを有する横型熱処理装置において、 上記処理管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記処理管に対して
垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、上記基板を
交換するときに上記処理管に対して垂直な方向に上記台
を移動することにより上記基板交換室内に上記サセプタ
および上記加熱 手段を導入するように構成され、 上記基板交換室内に設けられた回転軸に沿って移動可能
なアクチュエータが上記台に取り付けられ、上記アクチ
ュエータはベアリングと上記回転軸との間の摩擦力によ
り上記回転軸の軸方向の駆動力が生じるように構成され
ている ことを特徴とする横型熱処理装置。
12. A horizontal processing tube for mounting a substrate.
Susceptor and heating means for heating the susceptor
And a substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor
Wearing the lateral heat treatment apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube having bets
The susceptor and the heating means are configured to be detachable,
Mounted on a vertically movable table,
When replacing the table, set the table in a direction perpendicular to the processing tube.
By moving the susceptor into the substrate exchange chamber.
And the heating means are introduced, and can be moved along a rotation axis provided in the substrate exchange chamber.
A simple actuator is attached to the base,
The frictional force between the bearing and the rotating shaft
Is configured to generate an axial driving force of the rotating shaft.
Horizontal heat treatment apparatus, characterized by that.
【請求項13】 横型の処理管と、基板を載せるための
サセプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段
と、上記サセプタ上の基板を交換するための基板交換室
とを有する横型熱処理装置において、 上記処理管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着
脱可能に構成され、 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記処理管に対して
垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、上記基板を
交換するときに上記処理管に対して垂直な方向に上記台
を移動することにより上記基板交換室内に上記サセプタ
および上記加熱手段を導入するように構成され、 上記基板交換室内には上記基板を交換するための可動な
アームが設けられ、上記アームは第1のアームおよびそ
の先端に取り付けられ、かつ上記基板を真空吸着するた
めの穴を有する第2のアームから成り、上記第2のアー
ムは上記第1のアームの上記先端側の一端を中心として
回転可能でかつその中心軸の周りに回転可能に構成され
ている ことを特徴とする横型熱処理装置。
13. A horizontal processing tube for mounting a substrate.
Susceptor and heating means for heating the susceptor
And a substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor
Wearing the lateral heat treatment apparatus, the susceptor in an opening provided in the tube wall of the process tube having bets
The susceptor and the heating means are configured to be detachable,
Mounted on a vertically movable table,
When replacing the table, set the table in a direction perpendicular to the processing tube.
By moving the susceptor into the substrate exchange chamber.
And configured to introduce said heating means, in the substrate exchange chamber movable for exchanging the substrate
An arm is provided, the arm comprising a first arm and the arm;
Is attached to the tip of the
A second arm having a hole for the second arm.
Centering on one end of the first arm on the tip side.
Rotatable and rotatable about its central axis
Horizontal heat treatment apparatus, characterized by that.
【請求項14】 横型の処理管と、基板を載せるための14. A horizontal processing tube for mounting a substrate.
サセプタと、上記サセプタを加熱するための加熱手段Susceptor and heating means for heating the susceptor
と、上記サセプタ上の基板を交換するための基板交換室And a substrate exchange chamber for exchanging substrates on the susceptor
とを有する横型熱処理装置において、In a horizontal heat treatment apparatus having 上記処理管の管壁に設けられた開口に上記サセプタを着The susceptor is attached to an opening provided in the tube wall of the processing tube.
脱可能に構成され、It is configured to be removable, 上記サセプタおよび上記加熱手段は上記処理管に対してThe susceptor and the heating means are provided with respect to the processing tube.
垂直な方向に移動可能な台に取り付けられ、上記基板をMounted on a vertically movable table,
交換するときに上記処理管に対して垂直な方向に上記台When replacing the table, set the table in a direction perpendicular to the processing tube.
を移動することにより上記基板交換室内に上記サセプタBy moving the susceptor into the substrate exchange chamber.
および上記加熱手段を導入するように構成され、And configured to introduce the heating means, 上記開口に上記サセプタがはめ込まれているときに、少When the susceptor is inserted into the opening,
なくとも上記サセプタおよび上記台を含む仕切り壁によAt least by the partition wall including the susceptor and the base.
り仕切られた空間が形成され、この空間と上記A partitioned space is formed, and this space and the above 処理管のProcessing pipe
内部とが連通しているInternal communication ことを特徴とする横型熱処理装Horizontal heat treatment equipment characterized by the following:
置。Place.
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