JP3257879B2 - Bonding wire short circuit detection device - Google Patents

Bonding wire short circuit detection device

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JP3257879B2
JP3257879B2 JP25737393A JP25737393A JP3257879B2 JP 3257879 B2 JP3257879 B2 JP 3257879B2 JP 25737393 A JP25737393 A JP 25737393A JP 25737393 A JP25737393 A JP 25737393A JP 3257879 B2 JP3257879 B2 JP 3257879B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は基板に搭載した各種チッ
プの電極と基板上の電極がワイヤで接続されてなる電子
デバイスの検査装置に係り、特に、基板上に形成された
他の導体パターンとワイヤの短絡を検出するボンディン
グワイヤの短絡検出装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection apparatus for an electronic device in which electrodes of various chips mounted on a substrate and electrodes on the substrate are connected by wires, and more particularly to another conductor pattern formed on the substrate. The present invention relates to a bonding wire short-circuit detecting device that detects a short circuit between a wire and a wire.

【0002】例えば、表面弾性波デバイスは絶縁体から
なる基板と基板に搭載された表面弾性波素子のチップと
で構成されており、チップ上の電極と基板のチップ搭載
面に形成されてなる電極との間は通常ボンディングワイ
ヤを介して接続されている。
For example, a surface acoustic wave device is composed of a substrate made of an insulator and a chip of a surface acoustic wave element mounted on the substrate, and an electrode on the chip and an electrode formed on a chip mounting surface of the substrate. Are usually connected via a bonding wire.

【0003】前記基板はチップ搭載面にワイヤをボンデ
ィングする複数個の電極の他に電極の間を接続する導体
パターン等を有し、ボンディングされたワイヤと他の電
極間を接続する導体パターンとが空間を隔てて交差する
よう形成される場合が多い。
[0003] The substrate has a plurality of electrodes for bonding wires to the chip mounting surface and a conductor pattern for connecting between the electrodes, and the bonded wire and the conductor pattern for connecting between the other electrodes. It is often formed so as to intersect with a space.

【0004】しかし、高密度実装が要求されるデバイス
はその上に搭載するチップの大きさに関係なく基板の外
径寸法が制約され、電極の近傍を横切る導体パターンと
その電極にボンディングされたワイヤとの間に十分な間
隙を設けることができない。
However, in devices requiring high-density mounting, the outer diameter of the substrate is restricted irrespective of the size of a chip mounted thereon, and a conductor pattern crossing the vicinity of an electrode and a wire bonded to the electrode are provided. Cannot be provided with a sufficient gap.

【0005】また、表面弾性波デバイスは樹脂がチップ
に付着すると特性の劣化を招くため樹脂を塗布してワイ
ヤを固定できない。その結果、接続されていないワイヤ
と導体パターンとの間に瞬間的な短絡から恒久的な短絡
まで各種の短絡が発生する。
[0005] In addition, the characteristics of the surface acoustic wave device are deteriorated when the resin adheres to the chip, so that the wire cannot be fixed by applying the resin. As a result, various short circuits occur from an instantaneous short circuit to a permanent short circuit between the unconnected wire and the conductor pattern.

【0006】そこで、瞬間的な短絡から恒久的な短絡ま
で検出可能なボンディングワイヤの短絡検出装置の開発
が要望されている。
Therefore, there is a demand for the development of a bonding wire short-circuit detecting device capable of detecting a short circuit from a momentary short circuit to a permanent short circuit.

【0007】[0007]

【従来の技術】図3は対象とする表面弾性波デバイスの
外観を示す斜視図、図4は従来のボンディングワイヤ短
絡検出方法を示す原理図である。
2. Description of the Related Art FIG. 3 is a perspective view showing an appearance of a target surface acoustic wave device, and FIG. 4 is a principle view showing a conventional bonding wire short-circuit detecting method.

【0008】図3に示す如く表面弾性波デバイス1は絶
縁性の基板11と基板11に搭載された表面弾性波素子のチ
ップ12で構成され、チップ12の電極13と基板11のチップ
搭載面に形成された電極14との間はボンディングワイヤ
15を介して接続されている。
As shown in FIG. 3, the surface acoustic wave device 1 comprises an insulating substrate 11 and a chip 12 of a surface acoustic wave device mounted on the substrate 11, and the electrode 13 of the chip 12 and the chip mounting surface of the substrate 11 are provided. Bonding wire between the formed electrode 14
Connected via 15.

【0009】基板11はチップ搭載面にワイヤ15をボンデ
ィングする複数の電極14と電極14間を内部接続する導体
パターン16を有し、ボンディングされたワイヤ15と電極
間を内部接続する導体パターン16が空間を介し交差する
よう形成される場合が多い。
The substrate 11 has a plurality of electrodes 14 for bonding wires 15 to the chip mounting surface and a conductor pattern 16 for internally connecting the electrodes 14, and the conductor pattern 16 for internally connecting the bonded wires 15 to the electrodes. It is often formed to intersect via a space.

【0010】しかし、高密度実装が要求されるデバイス
では上に搭載するチップ12の寸法に関係なく基板11の外
径寸法が制約され、電極14の近傍を横切る導体パターン
16と電極14にボンディングされたワイヤ15の間に設ける
間隙が不十分な場合がある。
However, in a device requiring high-density mounting, the outer diameter of the substrate 11 is restricted irrespective of the size of the chip 12 mounted thereon, and the conductor pattern crossing the vicinity of the electrode 14.
The gap provided between the wire 16 and the wire 15 bonded to the electrode 14 may be insufficient.

【0011】また、チップ12の表面に弾性波を発生させ
ることにより所定の特性が得られるよう構成された表面
弾性波デバイス1は、例えば、チップ12に硬化性の樹脂
等が付着すると共振特性等が阻害されるため樹脂を塗布
してワイヤを固定できない。
The surface acoustic wave device 1 configured to obtain predetermined characteristics by generating an elastic wave on the surface of the chip 12 has, for example, resonance characteristics and the like when a hardening resin or the like adheres to the chip 12. Therefore, the wire cannot be fixed by applying the resin.

【0012】かかる表面弾性波デバイス1においてワイ
ヤ15が移動すると近接した導体パターン16に接触し短絡
を生じる場合がある。そこで、組立が完了した全ての表
面弾性波デバイスについてワイヤ15と導体パターン16と
の短絡の有無が検査される。
In such a surface acoustic wave device 1, when the wire 15 moves, it may come into contact with an adjacent conductor pattern 16 to cause a short circuit. Therefore, the presence or absence of a short circuit between the wire 15 and the conductor pattern 16 is inspected for all the surface acoustic wave devices that have been assembled.

【0013】ボンディングワイヤの短絡を検出する従来
の検出方法は図4(a) に示す如く内部接続されていない
2個の電極14間に、試験電源21、電流計22、電圧計23等
で構成されてなる短絡検出装置2を接続し電流値の変化
から短絡の有無を検知する。
A conventional detection method for detecting a short-circuit of a bonding wire comprises a test power supply 21, an ammeter 22, a voltmeter 23, etc., between two electrodes 14 which are not internally connected as shown in FIG. The detected short circuit detecting device 2 is connected, and the presence or absence of a short circuit is detected from a change in the current value.

【0014】即ち、表面弾性波素子のチップ12はそれぞ
れ独立した複数の各種導体パターンが絶縁性の基板上に
形成されており、各導体パターンがそれぞれ別の電極13
に接続されているため内部接続されていない場合は電極
14間が導通することはない。
That is, the chip 12 of the surface acoustic wave element has a plurality of independent conductive patterns formed on an insulating substrate, and each conductive pattern is provided with a separate electrode 13.
When not connected internally because it is connected to the electrode
There is no conduction between the fourteen.

【0015】言い換えれば、ワイヤ15と導体パターン16
の短絡が無ければ短絡検出装置2を接続すると図4(b)
に実線で示す如く、当初、容量性の負荷に充電するため
の電流が流れたあと絶縁抵抗等を介し流れる極く微弱な
電流値まで急激に減衰する。
In other words, the wire 15 and the conductor pattern 16
If there is no short circuit, connect the short-circuit detection device 2 as shown in FIG.
As shown by the solid line, a current for charging a capacitive load initially flows, and then rapidly attenuates to an extremely weak current value flowing through an insulation resistance or the like.

【0016】また、ワイヤ15と導体パターン16の間が短
絡している場合は短絡検出装置2を接続すると図4(b)
に破線で示す如く、ワイヤ15と導体パターン16を介して
大きい電流が流れるためその間が短絡していることを容
易に検知することができる。
When a short circuit occurs between the wire 15 and the conductor pattern 16, a short circuit detecting device 2 is connected to the circuit shown in FIG.
As shown by a broken line, a large current flows through the wire 15 and the conductor pattern 16, so that a short circuit therebetween can be easily detected.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】しかし、ワイヤ15が極
めて細く動きやすいためワイヤ15が導体パターン16に僅
か接触している程度の短絡の場合は、短絡検出装置2を
接続した直後は電流が流れるが通電の衝撃でワイヤ15が
一時的に導体パターン16から離れる場合がある。
However, in the case of a short circuit in which the wire 15 is slightly in contact with the conductor pattern 16 because the wire 15 is extremely thin and easily movable, a current flows immediately after the short circuit detecting device 2 is connected. However, there is a case where the wire 15 is temporarily separated from the conductor pattern 16 due to the impact of energization.

【0018】即ち、瞬間的な短絡であり図4(b) に一点
破線で示す如く短絡検出装置2を接続した直後に瞬間的
に電流が流れる。かかる電流の変化は実線で示す短絡が
無い場合に類似しており従来の短絡検出方法では見逃し
易いという問題があった。
That is, an instantaneous short-circuit occurs, and a current flows instantaneously immediately after the short-circuit detecting device 2 is connected, as indicated by a dashed line in FIG. 4 (b). Such a change in current is similar to a case where there is no short circuit indicated by a solid line, and there is a problem that it is easy to overlook in the conventional short circuit detection method.

【0019】本発明の目的は瞬間的な短絡から恒久的な
短絡まで検出可能なボンディングワイヤの短絡検出装置
を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a bonding wire short-circuit detecting device capable of detecting a short circuit from a momentary short circuit to a permanent short circuit.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】図1は本発明になる短絡
検出装置を示すブロック図である。なお全図を通し同じ
対象物は同一記号で表している。
FIG. 1 is a block diagram showing a short-circuit detecting device according to the present invention. The same object is denoted by the same symbol throughout the drawings.

【0021】上記課題はチップ上の電極と基板上の電極
がボンディングワイヤで接続された被検査部品の、ボン
ディングワイヤと基板上の他の導体パターンとの間の短
絡を検出する装置であって、被検査部品のボンディング
ワイヤ導体パターンとの間に試験電圧を印加する電圧
印加回路と、少なくともボンディングワイヤと導体パタ
ーンに流れる電流の変化を電圧変化に変換する変換回路
と、変換回路の出力電圧が基準電圧値を越えると出力信
号レベルが反転するよう構成されたコンパレータと、リ
セット信号が入力されるまでコンパレータの出力信号レ
ベルを記憶するよう構成された保持回路とを具え、基準
電圧値は、ボンディングワイヤと導体パターンとが短絡
していない場合に試験電圧印加直後に容量性の負荷に充
電するためにボンディングワイヤと導体パターンとの間
に流れる電流値を電圧値に変換した値よりも高い値であ
って、且つボンディングワイヤと導体パターンとが瞬間
的に短絡した場合にボンディングワイヤと導体パターン
との間に流れる電流値を電圧値に変換した値よりも低い
値に設定され、被検査部品の検査に際して、保持回路に
記憶されるコンパレータの出力信号レベルがコンパレー
タにより反転された出力レベルであるとき、ボンディン
グワイヤと導体パターン間とが瞬間的に、または恒久的
に短絡していると判定することを特徴とするボンディン
グワイヤの短絡検出装置によって達成される。
An object of the present invention is to detect a short circuit between a bonding wire and another conductor pattern on a substrate of a component to be inspected in which an electrode on a chip and an electrode on a substrate are connected by a bonding wire. A voltage application circuit that applies a test voltage between the bonding wire and the conductor pattern of the device under test, a conversion circuit that converts at least a change in current flowing through the bonding wire and the conductor pattern into a voltage change, and an output voltage of the conversion circuit. a comparator configured to output signal level exceeds the reference voltage value is inverted, and a holding circuit configured to store an output signal level of the comparator until a reset signal is input comprises a reference
The voltage value indicates that the bonding wire and the conductor pattern are short-circuited
If not, apply a capacitive load immediately after applying the test voltage.
Between the bonding wire and the conductor pattern to
Is higher than the value obtained by converting the current flowing through
And the bonding wire and the conductor pattern are instantaneous
Bonding wire and conductor pattern in case of short circuit
Is lower than the value obtained by converting the current flowing between
Is set to a value, when inspection of the inspected part, the holding circuit
The stored comparator output signal level is
When the output level is inverted by the
Momentary or permanent gap between wire and conductor pattern
It is attained by a bonding wire short-circuit detecting device, characterized in that it is determined that a short-circuit has occurred .

【0022】[0022]

【作用】図4(b)に実線で示す電流の変化は一点鎖線
で示す電流の変化のパターンと類似しているが電流のピ
ークが異なる。そこで、図1に示す如く被検査部品のボ
ンディングワイヤ導体パターンとの間に試験電圧を印
加する電圧印加回路と、少なくともボンディングワイヤ
と導体パターンに流れる電流の変化を電圧変化に変換す
る変換回路と、変換回路の出力電圧が基準電圧値を越え
ると出力信号レベルが反転するよう構成されたコンパレ
ータと、リセット信号が入力されるまでコンパレータの
出力信号レベルを記憶するよう構成された保持回路とを
具え、基準電圧値は、ボンディングワイヤと導体パター
ンとが短絡していない場合に試験電圧印加直後に容量性
の負荷に充電するためにボンディングワイヤと導体パタ
ーンとの間に流れる電流値を電圧値に変換した値よりも
高い値であって、且つボンディングワイヤと導体パター
ンとが瞬間的に短絡した場合にボンディングワイヤと導
体パターンとの間に流れる電流値を電圧値に変換した値
よりも低い値に設定され、被検査部品の検査に際して
保持回路に記憶されるコンパレータの出力信号レベルが
コンパレータにより反転された出力レベルであるとき、
ボンディングワイヤと導体パターン間とが瞬間的に、ま
たは恒久的に短絡していると判定する。即ち、瞬間的な
短絡から恒久的な短絡まで検出可能なボンディングワイ
ヤの短絡検出装置を実現することができる。
The change of the current indicated by the solid line in FIG. 4B is similar to the pattern of the change of the current indicated by the alternate long and short dash line, but the peak of the current is different. Therefore, as shown in FIG. 1, a voltage application circuit for applying a test voltage between a bonding wire and a conductor pattern of a component to be inspected, and a conversion circuit for converting at least a change in current flowing through the bonding wire and the conductor pattern into a voltage change. A comparator configured to invert an output signal level when an output voltage of the conversion circuit exceeds a reference voltage value, and a holding circuit configured to store the output signal level of the comparator until a reset signal is input. The reference voltage value is determined by the bonding wire and conductor pattern.
Capacitor immediately after the test voltage is applied if the
Wire and conductor pattern to charge the load
The value of the current flowing between the
High value, bonding wire and conductor pattern
Connection with the bonding wire when the
The value obtained by converting the current flowing between the body pattern and the body to a voltage
Is set to a value lower than, when inspection of the inspected part,
If the output signal level of the comparator stored in the holding circuit is
When the output level is inverted by the comparator,
The gap between the bonding wire and the conductor pattern is instantaneous or
Or it is determined that there is a permanent short circuit. That is, it is possible to realize a bonding wire short-circuit detecting device capable of detecting a short circuit from a momentary short circuit to a permanent short circuit.

【0023】[0023]

【実施例】以下添付図により本発明の実施例について説
明する。なお、図2は本発明になる短絡検出装置の一実
施例を示すブロック図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 2 is a block diagram showing one embodiment of the short-circuit detection device according to the present invention.

【0024】本発明になる短絡検出装置は図1に示す如
く検査に際して被検査部品1に接続される電圧印加回路
3を具えており、スイッチ32を投入すると試験電源31が
接続されてボンディングワイヤ15または導体パターン16
に所定の電圧が印加される。
As shown in FIG. 1, the short-circuit detecting device according to the present invention comprises a voltage application circuit 3 connected to the component 1 to be inspected at the time of inspection. When a switch 32 is turned on, a test power supply 31 is connected and the bonding wire 15 is connected. Or conductor pattern 16
Is applied with a predetermined voltage.

【0025】ワイヤ15と導体パターン16の短絡が無けれ
ば試験電源31を接続すると従来の装置と同様に図4(b)
に実線で示す如く、当初、容量性の負荷に充電するため
の電流が流れたあと絶縁抵抗等を介し流れる極く微弱な
電流値まで急激に減衰する。
If there is no short circuit between the wire 15 and the conductor pattern 16, when the test power supply 31 is connected, as in the case of the conventional apparatus, as shown in FIG.
As shown by the solid line, a current for charging a capacitive load initially flows, and then rapidly attenuates to an extremely weak current value flowing through an insulation resistance or the like.

【0026】また、ワイヤ15と導体パターン16の間に瞬
間的または恒久的な短絡が生じている場合は試験電源31
が接続されると、図4(b) に破線または一点鎖線で示す
如くワイヤ15と導体パターン16を介して検出装置の回路
に大きい電流が流入する。
If an instantaneous or permanent short circuit occurs between the wire 15 and the conductor pattern 16, the test power supply 31
Is connected, a large current flows into the circuit of the detecting device via the wire 15 and the conductor pattern 16 as shown by a broken line or a dashed line in FIG.

【0027】短絡検出装置はまた被検査部品1のボンデ
ィングワイヤ15または導体パターン16に接続される変換
回路4を具えており、ボンディングワイヤ15と導体パタ
ーン16を介して流入した電流の変化は変換回路4におい
て電圧の変化に変換される。
The short-circuit detecting device also includes a conversion circuit 4 connected to the bonding wire 15 or the conductor pattern 16 of the component 1 to be inspected. At 4 it is converted to a change in voltage.

【0028】図4(b) に示す如く短絡が無い場合の電流
変化と短絡がある場合の電流変化はそれぞれのピーク値
が異なっており、それぞれの電流変化のピーク値を両方
のピーク値の中間レベルに当たる基準値と比較すれば短
絡の有無が判定可能である。
As shown in FIG. 4 (b), the current change when there is no short circuit and the current change when there is a short circuit have different peak values, and the peak value of each current change is the middle of both peak values. By comparing with a reference value corresponding to the level, it is possible to determine the presence or absence of a short circuit.

【0029】そこで短絡の有無を判定する基準電圧を入
力する基準電源51と変換回路4がコンパレータ5の入力
側に接続されており、変換回路4の出力電圧が基準電圧
値を超えるとコンパレータ5の出力信号レベルが反転す
るように構成されている。
Therefore, a reference power supply 51 for inputting a reference voltage for judging the presence or absence of a short circuit and the conversion circuit 4 are connected to the input side of the comparator 5, and when the output voltage of the conversion circuit 4 exceeds the reference voltage value, the conversion of the comparator 5 is started. The output signal level is configured to be inverted.

【0030】コンパレータ5はリセットされるまでコン
パレータ5の出力信号レベルを記憶保持する保持回路6
に接続されており、例えば、瞬間的な短絡のように試験
電源31を接続すると瞬間的に流れ後は遮断される電流も
検知することが可能である。
The comparator 5 has a holding circuit 6 for storing and holding the output signal level of the comparator 5 until reset.
For example, when the test power supply 31 is connected as in the case of an instantaneous short circuit, it is also possible to detect a current that flows instantaneously and then shuts off.

【0031】図2において本発明の一実施例は電圧印加
回路3が試験電源31とスイッチ32の他にフィルタ33と電
磁リレー34とを有し、スイッチ32を投入すると電磁リレ
ー34の接点35が閉塞して試験電源31が保護抵抗36を介し
被検査部品1に接続される。
Referring to FIG. 2, in one embodiment of the present invention, the voltage application circuit 3 has a filter 33 and an electromagnetic relay 34 in addition to the test power supply 31 and the switch 32. When the switch 32 is turned on, the contact 35 of the electromagnetic relay 34 is turned on. The test power supply 31 is closed and the test power supply 31 is connected to the component under test 1 via the protection resistor 36.

【0032】かかる検出装置ではチャタリングが誤判定
の要因になるためスイッチ32のチャタリングをフィルタ
33によって吸収し、更に電磁リレー34として例えばマー
キュリーリレー等を用いることで接点35におけるチャタ
リング発生を防止している。
In such a detection device, the chattering of the switch 32 is filtered out because chattering is
Absorption by 33 and chattering at the contact 35 are prevented by using, for example, a Mercury relay as the electromagnetic relay 34.

【0033】また、信号へのノイズの重畳を防止する手
段としてシールド線7を介し被検査部品1と接続されて
なる変換回路4は、保護抵抗41を介して入力された電流
を増幅する増幅回路42と、電流の変化を電圧の変化に変
換する抵抗43を具えている。
As a means for preventing noise from being superimposed on the signal, the conversion circuit 4 connected to the component under test 1 via the shield line 7 is an amplifying circuit for amplifying the current input through the protection resistor 41. 42 and a resistor 43 for converting a change in current into a change in voltage.

【0034】コンパレータ5の入力側には短絡の有無を
判定する基準電圧を任意に設定できる基準電源51と変換
回路4が接続され、変換回路4の出力電圧値が基準電圧
値を超えるとコンパレータ5の出力信号レベルが反転す
るように構成されている。
The input side of the comparator 5 is connected to a reference power supply 51 which can arbitrarily set a reference voltage for judging the presence or absence of a short circuit and the conversion circuit 4. When the output voltage value of the conversion circuit 4 exceeds the reference voltage value, the comparator 5 Is configured to invert the output signal level of.

【0035】保持回路6はコンパレータ5の出力信号レ
ベルが反転し立ち上がる際に信号を出力するFF回路で
構成されており、検査に際して電圧印加回路3のスイッ
チ32を投入すると電磁リレー34が動作して接点35が閉塞
される前にリセットされる。
The holding circuit 6 is composed of an FF circuit which outputs a signal when the output signal level of the comparator 5 is inverted and rises. When the switch 32 of the voltage applying circuit 3 is turned on at the time of inspection, the electromagnetic relay 34 operates. It is reset before the contact 35 is closed.

【0036】即ち、スイッチ32を投入すると抵抗61とコ
ンデンサ62からなる微分回路と2個のインバータ63によ
ってパルスが生じ、FF回路からなる保持回路6にそれ
まで記憶保持されていた前回のコンパレータ5の出力信
号レベルがリセットされる。
That is, when the switch 32 is turned on, a pulse is generated by the differentiating circuit composed of the resistor 61 and the capacitor 62 and the two inverters 63, and the pulse of the comparator 5 previously stored and retained in the retaining circuit 6 composed of the FF circuit is obtained. The output signal level is reset.

【0037】スイッチ32を投入すると電磁リレー34が動
作し接点35が閉塞されるが保持回路6の動作との間にタ
イムラグがあり、前回のコンパレータ5の出力信号レベ
ルがリセットされる前に次の出力信号レベルが保持回路
6に入力されることはない。
When the switch 32 is turned on, the electromagnetic relay 34 operates and the contact 35 is closed, but there is a time lag between the operation of the holding circuit 6 and the next time before the output signal level of the previous comparator 5 is reset. The output signal level is not input to the holding circuit 6.

【0038】信号へのノイズの重畳を防止する手段とし
て変換回路4はシールド線7を介して被検査部品1に接
続されているが、芯線71とシールド72からなるシールド
線7は容量成分を有し被検査部品1に発生したパルス信
号は容量成分に吸収される。
As a means for preventing noise from being superimposed on the signal, the conversion circuit 4 is connected to the component 1 to be inspected via the shield wire 7, but the shield wire 7 composed of the core wire 71 and the shield 72 has a capacitance component. Then, the pulse signal generated in the component under test 1 is absorbed by the capacitance component.

【0039】そこで変換回路4に芯線71とシールド72の
電位を等しくしシールド線7の容量成分を打ち消す補償
回路8が付加され、補償回路8はドライビングガード用
の増幅回路81と抵抗値がそれぞれ前記抵抗41、43と等し
い抵抗82、83を具えている。
Therefore, a compensating circuit 8 for equalizing the potentials of the core wire 71 and the shield 72 and canceling out the capacitance component of the shielded wire 7 is added to the conversion circuit 4. It has resistors 82 and 83 equal to resistors 41 and 43.

【0040】このように被検査部品のボンディングワイ
導体パターンとの間に試験電圧を印加する電圧印加
回路と、少なくともボンディングワイヤと導体パターン
に流れる電流の変化を電圧変化に変換する変換回路と、
変換回路の出力電圧が基準電圧値を越えると出力信号レ
ベルが反転するよう構成されたコンパレータと、リセッ
ト信号が入力されるまでコンパレータの出力信号レベル
を記憶するよう構成された保持回路とを具え、基準電圧
値は、ボンディングワイヤと導体パターンとが短絡して
いない場合に試験電圧印加直後に容量性の負荷に充電す
るためにボンディングワイヤと導体パターンとの間に流
れる電流値を電圧値に変換した値よりも高い値であっ
て、且つボンディングワイヤと導体パターンとが瞬間的
に短絡した場合にボンディングワイヤと導体パターンと
の間に流れる電流値を電圧値に変換した値よりも低い値
に設定され、被検査部品の検査に際して、保持回路に記
憶されるコンパレータの出力信号レベルがコンパレータ
により反転された出力レベルであるとき、ボンディング
ワイヤと導体パターン間とが瞬間的に、または恒久的に
短絡していると判定する。即ち、瞬間的な短絡から恒久
的な短絡まで検出可能なボンディングワイヤの短絡検出
装置を実現することができる。
[0040] and converting circuit for converting a voltage application circuit for applying a test voltage between the bonding wire and the conductor pattern of the thus parts for inspection, a change in the current flowing through the at least bonding wires and the conductor pattern to the change in voltage,
A comparator configured to invert an output signal level when an output voltage of the conversion circuit exceeds a reference voltage value, and a holding circuit configured to store the output signal level of the comparator until a reset signal is input, Reference voltage
The value indicates that the bonding wire and the conductor pattern
If not, charge the capacitive load immediately after applying the test voltage.
Flow between the bonding wire and the conductor pattern
Is higher than the value obtained by converting the current value
And the bonding wire and conductor pattern are instantaneous
Bonding wire and conductor pattern
Value that is lower than the value obtained by converting the current flowing between
Is set in the holding circuit when inspecting the part to be inspected.
The output signal level of the comparator
When the output level is inverted by
Momentary or permanent gap between wire and conductor pattern
It is determined that a short circuit has occurred. That is, it is possible to realize a bonding wire short-circuit detecting device capable of detecting a short circuit from a momentary short circuit to a permanent short circuit.

【0041】[0041]

【発明の効果】上述の如く本発明によれば瞬間的な短絡
から恒久的な短絡まで検出可能なボンディングワイヤの
短絡検出装置を提供することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a bonding wire short-circuit detecting device capable of detecting an instantaneous short-circuit to a permanent short-circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明になる短絡検出装置を示すブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram showing a short-circuit detection device according to the present invention.

【図2】 本発明になる短絡検出装置の一実施例を示す
ブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing one embodiment of a short-circuit detection device according to the present invention.

【図3】 対象とする表面弾性波デバイスの外観を示す
斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing an appearance of a target surface acoustic wave device.

【図4】 従来のボンディングワイヤ短絡検出方法を示
す原理図である。
FIG. 4 is a principle view showing a conventional bonding wire short-circuit detection method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 被検査部品 3 電圧印加回路 4 変換回路 5 コンパレータ 6 保持回路 7 シールド線 8 補償回路 11 基板 12 チップ 13、14 電極 15 ボンディングワイヤ 16 導体パターン 31 試験電源 32 スイッチ 33 フィルタ 34 電磁リレー 35 接点 36、41 保護抵抗 42 増幅回路 43、61、82、83 抵
抗、 51 基準電源 62 コンデンサ 63 インバータ 71 芯線 72 シールド 81 増幅回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Component to be inspected 3 Voltage application circuit 4 Conversion circuit 5 Comparator 6 Holding circuit 7 Shield wire 8 Compensation circuit 11 Board 12 Chip 13, 14 Electrode 15 Bonding wire 16 Conductor pattern 31 Test power supply 32 Switch 33 Filter 34 Electromagnetic relay 35 Contact 36, 41 Protection resistor 42 Amplification circuit 43, 61, 82, 83 Resistance, 51 Reference power supply 62 Capacitor 63 Inverter 71 Core wire 72 Shield 81 Amplification circuit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/66 H01L 21/60 321 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/66 H01L 21/60 321

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 チップ(12)上の電極(13)と基板
(11)上の電極(14)がボンディングワイヤ(1
5)で接続された被検査部品(1)の、該ボンディング
ワイヤ(15)と該基板(11)上の他の導体パターン
(16)との間の短絡を検出する装置であって、 該被検査部品(1)の該ボンディングワイヤ(15)
該導体パターン(16)との間に試験電圧を印加する電
圧印加回路(3)と、 少なくとも該ボンディングワイヤ(15)と該導体パタ
ーン(16)に流れる電流の変化を電圧変化に変換する
変換回路(4)と、 該変換回路(4)の出力電圧が基準電圧値を越えると出
力信号レベルが反転するよう構成されたコンパレータ
(5)と、 リセット信号が入力されるまで該コンパレータ(5)の
出力信号レベルを記憶するよう構成された保持回路
(6)とを具え、該基準電圧値は、該ボンディングワイヤ(15)と該導
体パターン(16)とが短絡していない場合に試験電圧
印加直後に容量性の負荷に充電するために該ボンディン
グワイヤ(15)と該導体パターン(16)との間に流
れる電流値を電圧値に変換した値よりも高い値であっ
て、且つ該ボンディングワイヤ(15)と該導体パター
ン(16)とが瞬間的に短絡した場合に該ボンディング
ワイヤ(15)と該導体パターン(16)との間に流れ
る電流値を電圧値に変換した値よりも低い値に設定さ
れ、 該被検査部品(1)の検査に際して、該保持回路に記憶
されるコンパレータの出力信号レベルが該コンパレータ
(5)により反転された出力レベルであるとき、該ボン
ディングワイヤ(15)と該導体パターン(16)間と
が瞬間的に、または恒久的に短絡していると判定する
とを特徴とするボンディングワイヤの短絡検出装置。
An electrode (13) on a chip (12) and an electrode (14) on a substrate (11) are connected to a bonding wire (1).
5) A device for detecting a short circuit between the bonding wire (15) and another conductor pattern (16) on the substrate (11) of the component under test (1) connected by 5), a voltage applying circuit for applying a test voltage between said bonding wires (15) and <br/> conductor pattern of the inspection part (1) (16) (3), at least said bonding wire (15) and the conductor A conversion circuit (4) for converting a change in current flowing through the pattern (16) into a voltage change, and a comparator (4) configured to invert the output signal level when the output voltage of the conversion circuit (4) exceeds a reference voltage value. 5); and a holding circuit (6) configured to store the output signal level of the comparator (5) until a reset signal is input, wherein the reference voltage value is determined by the bonding wire (15) and the bonding wire (15). Guidance
Test voltage when body pattern (16) is not short-circuited
The bond is used to charge a capacitive load immediately after application.
Between the wire (15) and the conductor pattern (16).
Is higher than the value obtained by converting the current value
And the bonding wire (15) and the conductor pattern
Bonding (16) is short-circuited momentarily
Flow between the wire (15) and the conductor pattern (16)
Current value is set to a value lower than the converted value.
In the inspection of the part (1) to be inspected, it is stored in the holding circuit.
The output signal level of the comparator
When the output level is inverted by (5),
Between the wiring wire (15) and the conductor pattern (16).
Is determined to be short-circuited momentarily or permanently .
【請求項2】 芯線(71)とシールド(72)からなるシール
ド線(7) で被検査部品(1) と変換回路(4) を接続すると
共に、該芯線(71)と該シールド(72)の電位を等しくし該
シールド線(7) の容量成分を打ち消す補償回路(8) を具
え、該容量成分による微小電流パルスの消滅を防止する
請求項1記載のボンディングワイヤの短絡検出装置。
2. A component (1) to be inspected and a conversion circuit (4) are connected by a shield wire (7) comprising a core wire (71) and a shield (72), and the core wire (71) and the shield (72) are connected. 2. The bonding wire short-circuit detecting device according to claim 1, further comprising a compensating circuit for equalizing the potential of the shield wire and canceling out the capacitance component of the shield wire, thereby preventing the extinction of the minute current pulse due to the capacitance component.
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